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DE3313449C2 - Vorrichtung zum Prüfen von Flachbaugruppen - Google Patents

Vorrichtung zum Prüfen von Flachbaugruppen

Info

Publication number
DE3313449C2
DE3313449C2 DE19833313449 DE3313449A DE3313449C2 DE 3313449 C2 DE3313449 C2 DE 3313449C2 DE 19833313449 DE19833313449 DE 19833313449 DE 3313449 A DE3313449 A DE 3313449A DE 3313449 C2 DE3313449 C2 DE 3313449C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
plug
printed circuit
circuit board
adapter
connections
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DE19833313449
Other languages
English (en)
Other versions
DE3313449A1 (de
Inventor
Helmut Dipl.-Ing. 7750 Konstanz Mittelbach
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Oce Document Technologies GmbH
Original Assignee
Computer Gesellschaft Konstanz mbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Computer Gesellschaft Konstanz mbH filed Critical Computer Gesellschaft Konstanz mbH
Priority to DE19833313449 priority Critical patent/DE3313449C2/de
Publication of DE3313449A1 publication Critical patent/DE3313449A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3313449C2 publication Critical patent/DE3313449C2/de
Expired legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/319Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G01R31/31903Tester hardware, i.e. output processing circuits tester configuration
    • G01R31/31905Interface with the device under test [DUT], e.g. arrangements between the test head and the DUT, mechanical aspects, fixture
    • GPHYSICS
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    • G01R31/2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2806Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
    • G01R31/2808Holding, conveying or contacting devices, e.g. test adapters, edge connectors, extender boards

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Abstract

Die Prüfvorrichtung enthält einen mit Betriebsspannung versorgten Prüfadapter (SPE, SPA) zur Aufnahme einer Flachbaugruppe (F), bei dem die Steckeranschlüsse (E1, 2, 3...A1, 2, 3...) intern in der Weise geschaltet sind, daß für jede beliebige Flachbaugruppe der Gesamtschaltung alle Ausgangssignale auf Signaleingänge der gleichen Flachbaugruppe zurückkoppelbar sind.

Description

  • Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Prüfen von Flachbaugruppen nach dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.
  • Die Prüfung von Flachbaugruppen mit ihren durch fortschreitende Integration immer komplexer werdenden Schaltungsaufbauten gewinnt insbesondere im Wartungsbereich immer mehr an Bedeutung. Dies gilt insbesondere für sogenannte Selbsttest- und Selbstdiagnose-Verfahren, die sich immer dann anbieten, wenn die jeweiligen Flachbaugruppen einen Mikroprozessor oder einen ähnlichen signalerzeugenden Baustein enthalten. Die Wirkung derartiger Selbsttests ist jedoch begrenzt, weil beim Test vielfach die Ein- und Ausgangsstufen der Flach -baugruppen ungetestet bleiben und deshalb nicht alle Funktionen erfaßt werden. Auch eine an sich wünschenswerte isolierte Prüfung einzelner Flachbaugruppen ist in vielen Fällen nicht möglich, weil die jeweilige Flachbaugruppe im Test über Ein- und Ausgangsschnittstellen mit Nachbar-Flachbaugruppen verbunden ist. Dies hat dann nicht selten zur Folge, daß Fehler von außen eingeschleust werden, wodurch die Diagnose zwangsläufig unscharf wird.
  • Ein aus der DE-OS 25 11 923 bekanntes Verfahren zur Funktionsprüfung und Fehlerlokalisierung auf fehlerhaften Flachbaugruppen in einer Anlage arbeitet z. B. in der Weise, daß eine als Normal dienende ordnungsgemäß arbeitende Flachbaugruppe anstelle der zu prüfenden Flachbaugruppe in die Anlage eingeschaltet wird, während die zu prüfende Flachbaugruppe - entkoppelt von der Anlage - parallel geschaltet wird, so daß die elektrischen Werte der beiden Flachbaugruppen miteinander verglichen werden können. Abgesehen von dem erheblichen Aufwand, da für jede Art von Flachbaugruppen eine eigene "Normal"-Flachbaugruppe bereitgestellt werden muß, kann auch hier eine Fehlerüberkopplung von Nachbar-Baugruppen vorkommen, so daß eine scheinbar defekte, in Wirklichkeit ordnungsgemäße Baugruppe unnötigerweise ausgewechselt wird mit der Folge, daß diese an sich intakte Baugruppe anschließend zur Behebung des vermeintlichen Fehlers einer völlig überflüssigen und kostenaufwendigeren Reparatur- und Prüfprozedur unterzogen wird.
  • Der vorliegenden Erfindung liegt nun die Aufgabe zugrunde, einen für den Selbsttest von Flachbaugruppen möglichst kostengünstigen und einfachen Weg aufzuzeigen, der eine die gesamte Flachbaugruppe umfassende und von Fremdeinflüssen freie Fehlerdiagnose gewährleistet.
  • Die Lösung dieser Aufgabe ergibt sich bei einer gattungsgemäßen Vorrichtung zum Prüfen von Flachbaugruppen durch die kennzeichnenden Merkmale des Patentanspruchs 1. Vorteilhafte Weiterbildungen sind in den Unteransprüchen angegeben. Die Vorteile der erfindungsgemäßen Prüfvorrichtung bestehen vor allem darin, daß die Flachbaugruppe vollständig isoliert von ihrer Umgebung getestet werden kann und daß, da sich die Flachbaugruppe die nötigen Simulationssignale für die Eingangsstufen selbst erzeugt, durch Senden eines Signals und Kontrolle des zugehörigen Empfängers sowohl die Ausgangsstufe als auch die korrespondierende Eingangsstufe automatisch mitgetestet werden.
  • Im folgenden wird ein Ausführungsbeispiel der Erfindung anhand einer in der Zeichnung schematisch dargestellten Prüfvorrichtung näher erläutert.
  • Die in der Figur im Prinzip dargestellte Prüfvorrichtung zeigt einen aus zwei Steckvorrichtungen SPE und SPA bestehenden Prüfadapter, auf den eine Flachbaugruppe F über entsprechend zugeordnete Steckvorrichtungen SFE und SFA aufsteckbar ist. Die Flachbaugruppe F enthält wenigstens einen signalerzeugenden Baustein, der durch einen Logik-Baustein L symbolisiert ist, sowie zugehörige Eingangs- und Ausgangsstufen EGS, AGS. Die Steckeranschlüsse der beiden adapterseitigen Steckvorrichtungen SPE und SPA sind intern in der Weise miteinander verknüpft, daß für jede Flachbaugruppe alle Ausgangssignale auf Eingangsanschlüsse derselben Flachbaugruppe zurückgekoppelt werden. Für die in der Figur dargestellte Flachbaugruppe F bedeutet dies zum Beispiel, daß die Ausgangsstufe AGS über die Steckeranschlüsse A 1, A 2 und E 1, E 2 mit der Eingangsstufe EGS verknüpft ist. Für zwei weitere Flachbaugruppen sind beispielsweise die Eingangs- und Ausgangsstufen über die Steckeranschlüsse E 3, E4 und A 3, A4 bzw. über die Steckeranschlüsse E 5, E 6 und A 5, A 6 miteinander verknüpft.
  • Der Prüfadapter ist zweckmäßig in den die verschiedenen Flachbaugruppen eines Gerätes aufnehmenden Geräterahmen eingebaut, so daß die zu prüfende Flachbaugrupe lediglich aus ihrem Einschubplatz herausgezogen und in den nahegelegenen Prüfadapter eingesteckt werden muß. Es ist deshalb für Wartungszwecke nicht erforderlich, ein eigenes Testgerät mitzubringen, weil dieses Testgerät als Prüfadapter bereits im Geräterahmen fest installiert ist. Dieser Prüfadapter hat, wie bereits erwähnt, bis auf die Betriebsspannungen keinerlei Signalverbindung zur Logik der Flachbaugruppen.

Claims (4)

1. Vorrichtung zum Prüfen von Flachbaugruppen, die jeweils wenigstens einen signalerzeugenden Baustein aufweisen, die ein- und ausgangsseitig über mehrpolige Steckvorrichtungen anschließbar und über externe Verbindungen zu anderen Steckvorrichtungen mit weiteren Flachbaugruppen zusammengeschaltet sind und bei denen mit Hilfe des signalerzeugenden Bausteins ein Selbsttest durchführbar ist, unter Verwendung eines mit Betriebsspannungen versorgten Steckadapters zur Aufnahme je einer Flachbaugruppe, dadurch gekennzeichnet, daß die auf jeder in Betracht kommenden Flachbaugruppe (F) vorgesehene Zuordnung der jeweiligen Ein- und Ausgangsanschlüsse zu einzelnen Anschlußklemmen der mit der Flachbaugruppe verbundenen Steckvorrichtungen (SFE, SFA) einerseits und die an den Steckvorrichtungen (SPE, SPA) des Steckadapters vorgesehenen internen Verbindungen andererseits so gewählt sind, daß bei jeder in Betracht kommenden Flachbaugruppe mit dem Einsetzen in den Steckadapter jeder Ausgangsanschluß (A 1 . . . A 8) mit je einem zugehörigen Eingangsanschluß (E 1 . . . E 8) derselben Flachbaugruppe kurzgeschlossen ist.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Steckadapter in einem die Flachbaugruppen eines Gerätes aufnehmenden Gehäuserahmen eingebaut ist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Steckadapter aus einer Steckerleiste mit paarig angeordneten Steckkontakten besteht, bei der auf einer Seite die Eingangsanschlüsse und auf der anderen Seite die Ausgangsanschlüsse vorgesehen sind.
4. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Steckadapter aus zwei Steckerleisten besteht, von denen eine den Eingängen und die andere den Ausgängen der Flachbaugruppe zugeordnet ist.
DE19833313449 1983-04-13 1983-04-13 Vorrichtung zum Prüfen von Flachbaugruppen Expired DE3313449C2 (de)

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DE3313449A1 DE3313449A1 (de) 1984-10-25
DE3313449C2 true DE3313449C2 (de) 1987-01-02

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