DE3309584C2 - - Google Patents
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- DE3309584C2 DE3309584C2 DE3309584A DE3309584A DE3309584C2 DE 3309584 C2 DE3309584 C2 DE 3309584C2 DE 3309584 A DE3309584 A DE 3309584A DE 3309584 A DE3309584 A DE 3309584A DE 3309584 C2 DE3309584 C2 DE 3309584C2
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Description
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum optischen Inspi
zieren der Oberfläche gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruches.
Eine solche Vorrichtung ist in der DE-OS 30 27 373 beschrie
ben. Bei der bekannten Vorrichtung ist die erste Beleuchtungsein
richtung zusammen mit einem Abbildungs-Fühlersystem Bestandteil ei
ner ersten Erfassungseinheit zur Erfassung von Oberflächenfehlern,
wie ungeschliffene Abschnitte und Metalleinschlüsse. Die erste Be
leuchtungseinrichtung umfaßt eine Lichtquelle, eine Beleuchtungslin
se, einen Spalt und eine Zylinderlinse. Das Abbildungs-Fühlersystem
umfaßt eine bilderzeugende Linse, einen Bildfühler, einen Verstärker
und einen Analog-Digital-Umsetzer sowie weiter eine Einrichtung zum
Verarbeiten der Digitalsignale. Die zweite Beleuchtungseinrichtung
ist zusammen mit einem weiteren Bestrahlungssystem Bestandteil einer
zweiten Erfassungseinheit zum Erfassen von Oberflächenfehlern, wie
Rissen oder Grübchen.
In der DE-OS 27 09 977 ist eine Prüfvorrichtung zur Qualitäts
kontrolle von Werkstückoberflächen beschrieben, bestehend aus einer
Abtast- und Umsetzervorrichtung, die elektrische Signale entspre
chend der Beschaffenheit von nacheinander abgetasteten Oberflächen
teilbereichen erzeugt. In der Abtasteinrichtung erfolgt ein Beleuch
ten mit gleichmäßiger Lichtintensität und ein Projizieren des Lich
tes auf Photodioden.
In der US-PS 42 98 285 ist eine Vorrichtung zum Messen der
Kontur von Gegenständen mit einem Drehtisch zur Aufnahme des zu mes
senden Gegenstandes, einem Detektor zum Erzeugen eines dem Drehwin
kel des Drehtisches entsprechenden Signals, einem Kantendetektor zum
Erzeugen eines der Position der Kante des Gegenstandes entsprechen
den Signals, einem Speicher und einer Verarbeitungsschaltung be
schrieben. Der Kantendetektor schließt Licht projizierende Glieder
und Licht empfangende Glieder ein.
In der US-PS 40 37 103 ist ein System zum Messen des Durchmes
sers von zylindrischen Gegenständen, wie Kernbrennstoffpellets, be
schrieben, bei dem eine IR-Diode Licht in Richtung auf eine Empfän
gereinrichtung abgibt, zwischen denen die zylindrischen Gegenstände
hindurchgeführt werden, so daß die Empfängereinrichtung ein der Ab
messung des hindurchgeführten Gegenstandes entsprechendes Signal er
zeugt.
Für gewisse Arten hergestellter Gegenstände ist es vorteil
haft, diesen Gegenstand hinsichtlich seiner Konformität im Hinblick
auf vorbestimmte Kriterien zu inspizieren, ohne daß man die inspi
zierten Gegenstände berührt. So müssen z. B. Kernbrennstoffpellets
für Brennstoffstäbe nach dem Schleifen auf die Anwesenheit von Ober
flächenfehlern, auf die Konformität bezüglich vorbestimmter Abmes
sungen und auf andere Anomalien untersucht werden, die die Lei
stungsfähigkeit der Pellets im Brennstoffstab beeinträchtigen kön
nen. Um eine Berührung mit den zylindrischen Pellets zu vermeiden,
kann eine optische Inspektion vorgenommen werden, vorzugsweise mit
tels eines Systems, bei dem der ganze Inspektionsprozeß automati
siert ist. Um die zylindrische Oberfläche des interessierenden Ge
genstandes zu inspizieren, wird ein Lichtstrahl auf die Oberfläche
projiziert und es werden lichtempfindliche Elemente benutzt, um das
Licht nachzuweisen, das von der Oberfläche des Gegenstandes reflek
tiert wird. Diese photoempfindlichen Elemente erzeugen Signale, die
abgegeben werden und die repräsentativ sind für die Menge des re
flektierten Lichtes, das auf sie auftrifft. Variationen in diesen
abgegebenen Signalen werden interpretiert als Variationen in den
Oberflächenmerkmalen des Gegenstandes entsprechend.
Eine Forderung zum richtigen Funktionieren einer solchen Vor
richtung ist die, daß die Variationen der Intensität des
reflektierten Lichtes nur durch Oberflächenmerkmale des Gegen
standes, nicht aber durch Variationen der Intensität des den
Gegenstand beleuchtenden Lichtes erzeugt werden. Licht
quellen, wie sie häufig für den beabsichtigten Zweck erhält
lich sind, erfüllen diese Forderung nicht, da die Intensitäts
verteilung des gelieferten Lichtes häufig Variationen über den
Querschnitt des Lichtstrahles sowie Variationen mit der Zeit
aufweist.
Ein anderes Problem im Zusammenhang mit dieser Art optischer
Inspektionstechnik ergibt sich aus Variationen der Intensität
des reflektierten Lichtes, die durch Variationen in den re
flektiven Eigenschaften des inspizierten Gegenstandes verur
sacht sind. Wird ein Lichtstrahl durch eine glatte Oberfläche
reflektiert, die glänzend ist, das heißt spiegelnd, dann
breitet sich der reflektierte Strahl von dem Reflektions
punkt oder -ort auf der Oberfläche im wesentlichen in einer
einzigen Richtung aus. Es gibt dann sehr wenig Lichtstreuung
in zufällige Richtungen und somit erreicht ein hoher Anteil
des reflektierten Lichtes, der üblicherweise als spiegel
artig reflektiertes Licht bezeichnet wird, die photoempfind
lichen Elemente. Wird jedoch ein Lichtstrahl durch eine glat
te Oberfläche reflektiert, die stumpf ist, das heißt diffus,
dann tritt eine stärkere Streuung des Lichtes in zufällige
Richtungen auf und ein geringerer Anteil des reflektierten
Lichtes, als diffus reflektiertes Licht bezeichnet, erreicht
die photoempfindlichen Elemente.
Wird dagegen ein Lichtstrahl von einer Oberfläche reflektiert,
die nicht glatt sondern rauh ist, das heißt von einer Ober
fläche, die Irregularitäten aufweist, wie Risse oder Löcher,
dann wird das Licht zu einem großen Ausmaß in zufällige
Richtungen reflektiert, und es kann spiegelförmig oder diffus
reflektiert sein. Die Reflektionsorte sind in diesem Falle
nicht länger auf der Oberfläche lokalisiert, sondern an den
Wandungen oder dem Boden der Risse oder Löcher. Diese Orte
sind zufällig orientiert, und deshalb wird das Licht auch in
zufällige Richtungen reflektiert. Damit erreicht weniger reflektier
tes Licht die photoempfindlichen Elemente als bei einer stumpfen
Oberfläche. Damit die zur Inspektion benutzte Vorrichtung jedoch
wirksam arbeiten kann, muß sie in der Lage sein, zwischen den ver
schiedenen vorbeschriebenen Bedingungen zu unterscheiden. Weiter muß
sie dies auf einer kontinuierlichen Grundlage tun, da unterschiedli
che Oberflächenbereiche inspiziert werden, während sich der Gegen
stand durch ein Gesichtsfeld fortbewegt.
Eine weitere Anforderung an eine Vorrichtung zum optischen In
spizieren, wie sie im vorliegenden diskutiert wird, ist die, daß das
Licht in einer wirksamen Weise benutzt wird. Es werden üblicherweise
zwei Arten von Lichtquellen benutzt, Quellen für Glühlicht und für
kohärentes Licht, die beide Licht relativ geringer Intensität lie
fern. Obwohl Quellen für Glühlicht mit hoher Intensität erhältlich
sind, erzeugen sie sehr viel Wärme, die im Zusammenhang mit dem In
spektionsverfahren unerwünscht sein mag. Andererseits sind Quellen
für kohärentes Licht hoher Intensität außerordentlich teuer. Da
praktische Betrachtungen den Einsatz von Lichtquellen geringer In
tensität diktieren, muß ein Lichtverlust durch wirksames Sammeln des
reflektierten oder durchgelassenen Lichtes und durch effektives
Richten dieses Lichtes zu den photoempfindlichen Elementen vermieden
werden. Außerdem muß der Lichtstrahl richtig fokussiert werden, um
nur den Bereich zu beleuchten, der von den photoempfindlichen Ele
menten betrachtet wird. Für eine lineare Anordnung solcher Elemente
muß der betrachtete Bereich daher ebenfalls linear sein.
Es ist daher Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Vorrich
tung zum optischen Inspizieren der Oberfläche von Pellets der eingangs genannten
Art zu schaffen, die im Beleuchtungsbereich eine im wesentlichen
gleichförmige Intensitätsverteilung aufweist. Dabei soll diese In
tensitätsverteilung im Beleuchtungsbereich unabhängig von der Ver
wendung einer räumlichen ungleichförmigen Lichtquelle erreicht wer
den, und sie soll auch erreicht werden unabhängig von der Verwendung
einer Lichtquelle, deren Intensitätsverteilung mit der Zeit variie
ren kann. Weiter soll die zu schaffende Vorrichtung der vor
genannten Art einen Beleuchtungsbereich mit einem großen Verhältnis
von Länge zu Breite erzeugen. Außerdem soll die zu schaffende Vor
richtung zusätzlich gestatten, den Durchmesser, die Rundheit und die
Abschrägung des Pellets zu inspizieren.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch den kennzeichnenden
Teil des Patentanspruches gelöst.
Die erfindungsgemäße Vorrichtung zur optischen Inspektion der
Oberfläche vermag zu unterscheiden zwischen Licht, das entwe
der von einer glatten Oberfläche, einer stumpfen Oberfläche oder ei
ner rauhen Oberfläche reflektiert wird. Außerdem fängt die erfin
dungsgemäße Vorrichtung die von dem zu untersuchenden Gegenstand re
flektierte Lichtmenge maximal ein.
Im folgenden wird die Erfindung unter Bezugnahme auf die
Zeichnung näher erläutert. Im einzelnen zeigt
Fig. 1 eine perspektivische schematische Ansicht eines Teiles der
Erfindung, die dazu benutzt wird, Gegenstände zu beleuch
ten und Oberflächenmerkmale nachzuweisen,
Fig. 2 eine schematische Querschnittsansicht der Intensitätsver
teilung des von einer ersten Beleuchtungseinrichtung er
zeugten Lichtstrahles,
Fig. 3 eine schematische Querschnittsansicht der Intensitätsver
teilung des Lichtstrahles der Fig. 2 nach einem Divergie
ren,
Fig. 4 eine schematische Querschnittsansicht der Intensitätsver
teilung des Lichtstrahles der Fig. 3 nach seinem Konver
gieren,
Fig. 5 eine graphische Darstellung der Intensität in Abhängigkeit
vom Abstand des Lichtstrahl-Querschnittes der Fig. 4,
Fig. 6 eine schematische Querschnittsansicht eines Lichtstrahles,
der von einer glatten glänzenden zylindrischen Oberfläche
spiegelnd reflektiert wird,
Fig. 7 eine schematische Querschnittsansicht eines Lichtstrahles,
der von einer glatten stumpfen zylindrischen Oberfläche
diffus reflektiert wird,
Fig. 8 eine schematische Querschnittsansicht eines Licht
strahles, der durch ein stark vergrößertes Loch bzw.
eine solche Vertiefung in einer zylindrischen Ober
fläche reflektiert wird,
Fig. 9 eine schematische Querschnittsansicht von Lichtstrah
len, die durch zwei verschiedene Oberflächen reflek
tiert und durch ein Linsensystem fokussiert werden,
Fig. 10 eine perspektivische schematische Ansicht eines Teiles
der Erfindung, die benutzt wird, Gegenstände zu be
leuchten und Querschnittsbildabmessungen zu messen,
Fig. 11 eine schematische Querschnittsansicht von zwei Trä
gerwalzen, die ein zylindrisches Pellet in einem
zweiten Beleuchtungsbereich tragen und
Fig. 12 eine Seitenansicht eines zylindrischen Pellets, das
an den Enden zweier anderer solcher Pellets anliegt.
Fig. 1 veranschaulicht eine bevorzugte Ausführungsform des
Teiles der erfindungsgemäßen Vorrichtung zur Oberflächeninspek
tion.
Eine erste Beleuchtungseinrichtung, für die vorzugsweise eine
Vieltyp-Laserquelle 3 benutzt wird, projiziert einen ersten
Lichtstrahl 6 in der Ausbreitungsrichtung, die durch den
Pfeil 9 bezeichnet ist. Der Begriff "Ausbreitungsrichtung",
wie er in der vorliegenden Anmeldung verwendet wird, bezieht
sich auf die Richtung, in der der Laserstrahl 6 in irgendei
nem gegebenen Abschnitt des Strahles projiziert wird. Der
Strahl kann durch Spiegel, Prismen oder ähnliche Vorrichtungen
in andere Richtungen gelenkt werden, und die Bezugszahl 6 wird
in der ganzen Fig. 1 zur Bezeichnung des Lichtstrahles be
nutzt, unabhängig davon, in welche Richtung er gelenkt ist
oder welche Form ihm gegeben worden ist.
Die Ausbreitung des Strahles 6 wird durch eine Reflektionsein
richtung 12, z. B. einen Spiegel, um 90° geändert. Der Strahl 6
wird durch eine zweite Reflektionseinrichtung, die in der veran
schaulichten Ausführungsform der Fig. 1 aus einem Prisma 15 be
steht, redirigiert. Dieses Prisma 15 redirigiert den Lichtstrahl 6
wiederum um 90°, so daß er sich nun in einer Richtung parallel dem
Pfeil 9 ausbreitet, bis er auf eine erste divergierende Einrichtung
in Form der Linse 18 trifft. Die anamorphotische Linse 18 bricht den
Lichtstrahl 6 und verursacht sein Divergieren in einer ersten Streu
ungsebene, die durch das Rechteck 21 veranschaulicht ist. Diese Ebe
ne liegt parallel der Ausbreitungsrichtung, die durch den Strahl 9
gegeben ist, und sie ist in der Ebene der Fig. 1 angeordnet. Die Li
nie 24, die schematisch den Ort zeigt, wo der Lichtstrahl 6 den
Spiegel 31 kreuzt, zeigt die vergrößerte Strahlbreite an diesem Ort.
Der Spiegel 31 reflektiert den nun divergierenden Lichtstrahl 6 zu
einer ersten Kollimierungseinrichtung in Form der Linse 33. Die Lin
se 33 bricht den Lichtstrahl 6 unter Verminderung des Divergierungs
grades, so daß sich alle Teile des Lichtstrahles nun in im allgemei
nen parallelen Richtungen ausbreiten. Dies ist schematisch durch die
Bezugszahlen 27 und 29 veranschaulicht, die die Kreuzungsstellen des
Strahles 6 mit den Linsen 33 bzw. 36 zeigen.
Die Linse 36 bricht den Lichtstrahl 6 unter Konvergieren aller
Teile des Strahles 6 in Richtungen parallel zu einer Konvergierungs
ebene, die schematisch durch das Rechteck 39 wiedergegeben ist. Das
Rechteck 39 liegt parallel zur Ausbreitungsrichtung des Strahles an
diesem Orte, und es steht senkrecht zur Divergierungsebene, die durch
das Rechteck 21 wiedergegeben ist. Die Rechtecke 21 und 39 sind an
zwei Orten der Fig. 1 gezeigt, um weiter die Bezugsrichtungen zu
veranschaulichen, die diese Rechtecke bilden. Es ist ersichtlich,
daß der relativ flache Lichtstrahl 6, der aus der zweiten anamorpho
tischen Linse 36 austritt, parallel zur Ebene des Rechteckes 21 ver
läuft, das heißt, er liegt nahezu parallel zur Zeichnungsebene. Die
Linse 36 richtet und fokussiert den Lichtstrahl 6
unter Bildung eines ersten langgestreckten Beleuchtungsbe
reiches 48, der ein großes Länge zu Breite-Verhältnis auf
weist. Dieser Beleuchtungsbereich 48, der einen Teil eines
größeren Betrachtungsfeldes einnimmt, ist detaillierter in
Fig. 4 gezeigt.
Der zur Erzeugung des Lichtstrahles 6 benutzte Multityp-
Laser 3 wird benutzt wegen seiner hohen Abgabeleistung bei
relativ geringen Kosten und wegen seines gleichförmigeren In
tensitätsprofils im Querschnitt, verglichen mit anderen
Lasern, die zu ähnlichen Kosten erhältlich sind.
Die momentane Intensitätsverteilung des Lichtstrahles 6 ist
durch den Querschnitt der Fig. 2 veranschaulicht. Die gezeig
te Verteilung kann wegen des Multityp-Betriebes der Laser
quelle in Abhängigkeit von der Zeit variieren. In Fig. 2
sind die Intensitätsmaxima schematisch durch die Kreise 115
veranschaulicht. Bereiche geringerer Intensität sind durch
die gestrichelten Kreise 118 wiedergegeben. Die Lichtintensi
tät ändert sich graduell zwischen den Kreisen 115 und 118.
Die Linse 18 verursacht eine Verbreiterung des Lichtstrahles.
Wie in Fig. 3 gezeigt, führt diese Verbreiterung schließlich
dazu, daß die Punkte maximaler Lichtintensität gleichmäßiger
zwischen den Punkten 121 und 122 verteilt sind, das heißt,
längs der horizontalen Abmessung des beleuchteten Bereiches
48. Die Linse 36 konvergiert den Beleuchtungsbereich längs
der Vertikaldimension, das heißt, sie vermindert die Höhe der
Querschnittsansicht, wie sich aus einem Vergleich der Fig.
3 und 4 ergibt. Das Ergebnis ist ein Beleuchtungsbereich 48
mit einem großen Länge-zu-Breite-Verhältnis.
Die Lichtintensitätsverteilung des Bereiches 48 ist weiter
in Fig. 5 veranschaulicht. Die Punkte 121 und 122 der Fig.
5 entsprechen den gleich bezeichneten Punkten in den Fig.
3 und 4. Wie gezeigt, ist die Lichtintensität durchgehend
relativ gleichmäßig. Eine solche Zeitveränderung der Inten
sitätsverteilung der Laserquelle 3 kann z. B. auf Grund des
Vieltyp-Betriebes auftreten, und er wird nur leichte Fluktu
ationen in der Verteilung des Lichtstrahles, der auf dem
Beleuchtungsbereich 48 konvergiert, verursachen. Dies ist
hauptsächlich der Tatsache zuzuschreiben, daß Änderungen in
der Laserintensitätsverteilung zur Verschiebung der Intensi
tätsmaxima, wie bei 123 in Fig. 5, zu neuen Positionen, wie
dem durch gestrichelte Linien veranschaulichten Maximum 124,
dienen. Da das vorherrschende Intensitätsniveau an allen Punk
ten zwischen den Punkten 121 und 122 das der gestrichelten
Linie 125 ist und da die Intensitätsmaxima 123 oder 124 nur
kleine Intensitätsbruchteile hinzufügen, wie die durch den
Abstand 126 angezeigte Zunahme, verändern die Positionsver
schiebungen des Intensitätsmaximums 123 das vorherrschende
Niveau der Grundlinie 125 nicht sehr.
Wie in Fig. 1 gezeigt ist, projiziert die Linse 36
den ersten Beleuchtungsbereich auf einen Stapel 51, der die
zylindrischen Pellets 53, 54, 55 und 57 einschließt. Obwohl
dieser Stapel normalerweise eine große Anzahl von Pellets
enthält, sind die gezeigten für die Erläuterung ausreichend.
Der Stapel 51 befindet sich auf einem Paar rotierender Walzen
56 und 59.
Im Betrieb läßt eine nicht gezeigte Stoßeinrichtung den Sta
pel 51 in Richtung des Pfeiles 62 fortschreiten. Die Rota
tionsbewegung der Walzen 56 und 59 wird auf den Stapel 51
übertragen und mit der Translationsbewegung, die durch die
Stoßeinrichtung übertragen wird, kombiniert und veranlaßt
so den Stapel, sich spiralförmig um seine eigene Achse zu be
wegen. Folglich bestreicht der Beleuchtungsbereich 48 die
Oberfläche des Stapels 51 auf einem spiralförmigen Pfad,
während der Stapel rotiert und in Richtung des Pfeiles 62
fortschreitet. Das von dem Oberflächenbereich des beleuchte
ten Stapels reflektierte Licht wird durch die Linse 65 ge
sammelt, die das Licht auf einen Lichtdetektor 68 in Form
einer linearen Anordnung photoempfindlicher Elemente fokus
siert. Jedes lichtempfindliche Element empfängt reflektiertes
Licht von einem entsprechenden Unterabschnitt des beleuchteten
Bereiches 48. Die Amplitude des von jedem Element des Licht
detektors 68 abgegebenen Signals entspricht der Lichtmenge,
die das Element zu irgendeinem gegebenen Augenblick erreicht.
Das auf die photoempfindlichen Elemente des Lichtdetektors 68
projizierte Licht enthält Informationen hinsichtlich der Ober
flächenmerkmale der Pellets des Stapels 51, die in den be
leuchteten Bereich 48 eingetreten sind. In der folgenden Dis
kussion wird der konvergierende Lichtstrahl 6 als viele ein
fallende Lichtstrahlen umfassend behandelt, die sich alle in
relativ parallelen Richtungen ausbreiten.
Die Fig. 6 veranschaulicht ein Pellet 53 a auf das ein Licht
strahl 74 a projiziert wird. Nimmt man an, das Pellet 53 a habe
eine glänzende Oberfläche, dann wird der einfallende Licht
strahl 74 a, wie dargestellt, spiegelartig reflektiert. Der
reflektierte Strahl 75 a in Fig. 6 bewegt sich in einem
Winkel 77 a hinsichtlich einer Bezugslinie 80 a. Die Bezugs
linie 80 a steht senkrecht auf der Pelletoberfläche, das heißt
senkrecht zu einer Tangente an der Pelletoberfläche am Re
flexionsort, der in Fig. 6 mit 83 a bezeichnet ist.
Die Fig. 7 ist ähnlich der Fig. 6, doch veranschaulicht
sie die Situation für ein Pellet 53 b mit einer stumpfen
Oberfläche. Das Pellet 53 b reflektiert weniger Licht in ei
nem Winkel 77 b, obwohl der einfallende Lichtstrahl 74 b iden
tisch dem einfallenden Strahl 74 a nach Fig. 6 ist. Neben dem
reflektierten Strahl 75 b wird weiteres Licht diffus in zu
fällige Richtungen reflektiert, die durch die Strahlen 86 b
veranschaulicht sind.
Die Fig. 8 zeigt ein Pellet 53 c, das eine rauhe Oberfläche
hat. In übertriebener Form bei 89 gezeigt, hat die Pellet
oberfläche eine Vertiefung bzw. ein Loch. Der einfallende
Lichtstrahl 74 c erzeugt den reflektierten Strahl 75 c an einem
zufälligen Reflexionsort 83 c. Spezifisch gibt es eine Viel
zahl von Reflexionsorten für die jeweiligen Lichtstrahlen,
die zusammen den einfallenden Strahl bilden, und diese
Reflexionsorte können sich irgendwo innerhalb der Vertiefung
89 befinden. Folglich hat auch der Reflexionswinkel 77 c eine
zufällige Größe, das heißt, er kann kleiner, größer oder gleich
dem Winkel 77 a oder 77 b sein. Der einfallende Lichtstrahl 74 c
wird daher in verschiedene zufällige Richtungen reflektiert.
Das Reflexionsmuster der Strahlen 75 b, die von einer stumpfen
Oberfläche ausgehen und das Reflexionsmuster der Strahlen 75 c,
die von einer unebenen Oberfläche ausgehen, kann daher ähn
lich sein. Beide Reflexionsmuster sind schematisch innerhalb
des Bereiches gezeigt, der von der gestrichelten Linie 95 in
Fig. 8 begrenzt ist. Da an der Stelle, an der ein Loch ist,
ein Teil der zylindrischen Oberfläche fehlt, wie in Fig. 8
gezeigt ist, befindet sich der Reflexionsort in einem sol
chen Falle nicht auf der idealen zylindrischen Oberfläche 95,
wie dies bei den Fig. 6 und 7 der Fall ist.
Die erste Beleuchtungseinrichtung der Fig. 1 umfaßt zusätz
lich zu dem Vieltyp-Laser 3 einen Vieltyp-Laser 227. Diese
beiden Laser können entweder abwechselnd oder gemeinsam be
trieben werden. Ein abwechselnder Betrieb kann zwischen den
Inspektionen für eine längere Gebrauchsdauer sorgen, indem
man einen Laser benutzt, bis er nicht mehr richtig funktio
niert und ihn dann durch den anderen ersetzt. Zusammen be
nutzt können die Laser einen ersten Beleuchtungsbereich er
geben, der eine größere Intensität hat als mit nur einem Laser.
Der zweite Laser ist symmetrisch zum ersten Laser angeordnet,
das heißt, daß er einen Lichtstrahl 228 in einer Ausbreitungs
richtung projiziert, die durch den Pfeil 230 wiedergegeben ist.
Eine reflektierende Einrichtung, wie der Spiegel 233, reflek
tiert den Lichtstrahl 228 zu einer weiteren reflektierenden
Einrichtung, wie einem Prisma 236. Das Prisma 236 projiziert
den Lichtstrahl zu der ersten divergierenden Einrichtung 18,
die das Licht divergieren läßt, so daß es in Richtungen
parallel zur Ebene 21 fächerförmig auseinandergeht. Der Spie
gel 31 reflektiert den Lichtstrahl 228 an Punkten, die durch
die gestrichelte Linie 238 wiedergegeben sind, zu der ersten
Kollimierungseinrichtung, das heißt der Linse 33. Der Licht
strahl 228 kreuzt die Linse 33 an Punkten, die durch die
gestrichelte Linie 33 B gezeigt sind. Die Linse 33 reduziert
den Divergenzgrad des Strahles. Die Strahlen des Lichtstrahles
228 breiten sich daher nach der Linse 33 alle in relativ paral
lelen Richtungen aus.
Der Lichtstrahl 228 tritt aus der Linse 33 aus und kreuzt die
Linse 36 an Punkten, die durch die Linse 36 B veranschaulicht
sind. Die Linse 36 konvergiert alle Teile des Lichtstrahles
228 in Richtungen parallel zur Ebene 39, die sowohl senk
recht zur Ausbreitungsrichtung des Lichtstrahles 228 als auch
senkrecht zur Divergenzrichtung steht. Folglich wird der
Lichtstrahl 228 in einer Richtung senkrecht zur Ausbreitungs
richtung divergiert und in einer Richtung konvergiert, die
senkrecht steht zur Divergenzrichtung als auch der Ausbrei
tungsrichtung, so daß man einen langgestreckten Beleuchtungs
bereich mit einem großen Länge-zu-Breite-Verhältnis erhält.
Dieser Beleuchtungsbereich, der vom Strahl 228 erzeugt wird,
fällt mit dem Beleuchtungsbereich zusammen, der vom Licht
strahl 6 erzeugt wird, und man erhält den ersten Beleuchtungs
bereich 48, der mehr im Detail in Fig. 3 gezeigt ist und der
eine im wesentlichen gleichförmige Verteilung der Lichtinten
sität aufweist.
Gemäß der vorliegenden Erfin
dung umfaßt die optische Einrichtung 65 ein Linsensystem,
das als eine Übertragungslinse mit einer großen Öffnung und
einem flachen Feld wirkt. Eine solche Linse dient dazu, viel
von dem Licht zu sammeln, das von einem Punkt, wie 83 b, reflek
tiert wird, unabhängig davon, ob das Licht im wesentlichen in
einer einzigen Richtung reflektiert wird, wie von einer glän
zenden Oberfläche, oder in viele zufällige Richtungen, wie
von einer stumpfen Oberfläche. Diese Art des Sammelns ist
schematisch im Querschnitt in Fig. 9 gezeigt, die auch aus
gewählte überlagerte Teile der Fig. 7 und 8 wiedergibt.
Das Linsensystem 65, das ein Linsenelement 101 einschließt,
sammelt die Strahlen 75 b und 75 c und fokussiert sie auf die Brenn
punktebene 104. Die Strahlen 75 b, die vom Reflexionsort 83 b
auf der Oberfläche 95 reflektiert werden, werden auf die
Reihe 68 der photoempfindlichen Elemente fokussiert, die in
der Brennpunktebene 104 angeordnet ist. Im Gegensatz dazu
werden die Strahlen 75 c, die vom Ort 83 c reflektiert werden,
der sich am Boden eines Loches befindet, auf den Punkt 107
fokussiert. Dieser Punkt 107 ist zwar auch in der Ebene des
Brennpunktes lokalisiert, doch von der Anordnung 68 aus ent
fernt. Das Linsensystem 65 unterscheidet zwischen zufällig
gerichteten Strahlen, wie einem Strahl 75 c, der von einem Ort
aus reflektiert wird, der entfernt ist von der idealen Ober
fläche 95 und zufällig gerichteten Strahlen, wie den Strahlen
75 b, die von einem Punkt auf der Oberfläche 95 reflektiert
werden. Der Abstand zwischen dem Punkt 107 und der Anordnung
68 ist ein Anzeichen für die Entfernung des Reflexionsortes
83 c von der Oberfläche 95. Die von den photoempfindlichen Ele
menten der Anordnung 68 erzeugten Abgabesignale geben daher
den Grad an, zu dem die Oberfläche der Pellets 53 einer vor
bestimmten Konfiguration entspricht, wie einer solchen der
Oberfläche 95.
Die Lichtmenge, die von der Linse 65 gesammelt wird, ist
relativ unabhängig davon, ob das das Licht reflektierende
Pellet wie in Fig. 6 glänzend oder wie in Fig. 7 stumpf ist.
In beiden Fällen werden die reflektierten Lichtstrahlen, die
Reflexionswinkel haben, die allgemein mit 77 b und 77 c be
zeichnet sind, so daß die reflektierten Strahlen das Linsen
element 101 innerhalb seiner Peripherie 110 treffen, gesam
melt. Die so gesammelten Strahlen werden dann mehr oder weni
ger genau auf die Anordnung 68 aus photoempfindlichen Elemen
ten fokussiert, wobei die Genauigkeit der Fokussierung vom
Grad der Entfernung des Reflexionsortes 83 c von der Ober
fläche 95 abhängt. Die auf ein einzelnes photoempfindliches
Element fokussierte Lichtmenge aus einer einzelnen Subregion
ist daher relativ unabhängig vom Grad der Zerstreuung und so
mit von der Reflektivität der Pelletoberfläche.
In einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung weist
die Anordnung 68 1024 photoempfindliche Elemente auf. Jedes
Element "betrachtet" einen kleinen Abschnitt (Subregion) des
von dem einfallenden Lichtstrahl beleuchteten Bereiches. Die
von den photoempfindlichen Elementen abgegebenen Signale wer
den einer datenverarbeitenden Schaltung (nicht gezeigt) zuge
führt, die in der Lage ist, die Merkmale der Pelletoberfläche
in dem Maße aufzuzeichnen, wie diese Pelletoberfläche spiral
förmig in der oben beschriebenen Weise abgetastet wird. Eine
solche Abbildung lokalisiert nicht nur isolierte Löcher, son
dern gestattet auch die Bestimmung, ob die abgegebenen Si
gnale das Vorhandensein eines längeren Risses in der Oberfläche
anzeigen. Das Verarbeiten der abgegebenen Signale kann auch
die Gesamtmenge der fehlenden Oberfläche bestimmen lassen,
z. B. als Prozent der gesamten Oberfläche der Pellets. Dies
mag dann als Wertzahl hinsichtlich der Annehmbarkeit eines
besonderen Pellets bei der Inspektion dienen.
Zusätzlich zu dem vorbeschriebenen ersten Beleuchtungsbereich,
der in den Fig. 1, 3 und 4 mit der Bezugsziffer 48 bezeich
net ist, enthält das Betrachtungsfeld einen zweiten Beleuch
tungsbereich, der in Fig. 10 veranschaulicht ist. Die Fig.
10 zeigt auch eine zweite Beleuchtungseinrichtung, die eine
Multityp-Laserquelle 130 einschließt, die einen zweiten
Lichtstrahl 131 projiziert. Die anfängliche Ausbreitungsrich
tung dieses Strahles ist durch den Pfeil 132 angezeigt, und
dieser Strahl kann eine Lichtintensitätsverteilung ähnlich
der in Fig. 2 haben. Reflektierende Einrichtungen, wie die
Spiegel 133 und 136, redirigieren den Strahl 131 und proji
zieren ihn zu einer Divergierungseirichtung in Form einer
Linse 139. Diese Linse 139 bricht den Lichtstrahl 131 und
zerstreut ihn in einer Ebene parallel seiner Ausbreitungs
richtung, wobei diese Ebene schematisch durch das Rechteck
141 veranschaulicht ist. Eine zweite Kollimierungseinrichtung
in Form einer Linse 150 reduziert den Divergenzgrad und
schaft einen Lichtstrahl, dessen Querschnittsabmessungen
im wesentlichen parallel bleiben. Eine weitere reflektierende Ein
richtung in Form eines Spiegels 153 reflektiert das Licht zu einem
zweiten Beleuchtungsbereich, der allgemein mit der Bezugszahl 156
bezeichnet ist, wobei auch dieser zweite Beleuchtungsbereich ein
großes Länge-zu-Breite-Verhältnis aufweist. Die Intensitätsvertei
lung des auf den zweiten Beleuchtungsbereich projizierten Lichtes
ähnelt der in Fig. 3 gezeigten.
Ein untersuchter Gegenstand, wie das zylindrische Pellet 53 in
Fig. 10 wird einen Teil des Strahles 131 abdunkeln bzw. blockieren.
Der abgedunkelte Teil des Strahles ist im Anschluß mit der Bezugs
ziffer 157 bezeichnet und er befindet sich zwischen einem Paar
durchgelassener Teile 159 und 162 des Strahles 131. Die durchgelas
senen Teile des Strahles 131 werden auf einen Spiegel 165 projiziert
und dort zu einem zweiten Linsensystem 168 reflektiert. In einer be
vorzugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung umfaßt die
letztgenannte optische Einrichtung 168 ein Linsensystem, das aus ei
ner Anzahl von Linsenelementen besteht. Die Walzen 56 und 59, die
das Pellet 53 tragen, weisen jeweils einen Schlitz 171 auf, der bei
der Walze 56 nicht erkennbar ist, um den unteren Teil des Licht
strahles 131, das heißt den Teil 162, unbeeinträchtigt unter dem
Pellet 53 durchzulassen.
Das Linsensystem 168 wirkt als eine Übertragungslinse mit ei
ner großen Öffnung und einem flachen Feld, ähnlich dem oben erläu
terten Linsensystem 65. Dieses Linsensystem ist auf die Ebene senk
recht zur Fig. 11 fokussiert und angedeutet durch die zentrale Li
nie, die durch die Punkte 221 und 221 A verläuft. Dieses Fokussieren
unterstützt das Einfangen von Licht, das an diesen Punkten gebrochen
wird und das sonst das Bild des verdunkelten Abschnittes 157, das
auf eine Anordnung 174 aus photoempfindlichen Elementen projiziert
ist, unscharf machen würde. Dieses Linsensystem dient zum Fokussie
ren der Teile 159 und 162 des Lichtstrahles 131 auf den Detektor
174. In einer bevorzugten Ausführungsform
nach der vorliegenden Erfindung umfaßt der Detektor 174
eine lineare Anordnung von tausendvierundzwanzig photo
empfindlichen Elementen. Jedes Element entspricht einem
Unterbereich des Beleuchtungsbereiches 156. Übertragenes
Licht von dem Bereich 156, das auf die Elemente der An
ordnung 174 projiziert ist, liefert Information hinsicht
lich der Abmessungen des blockierten Gegenstandes, der
quer zum Lichtstrahl liegt. Im Falle des Pellets 53 ist
der Abstand zwischen den Teilen 159 und 162 des Strahles
ein Maß für den Durchmesser des Pellets im Beleuchtungsbe
reich 156. Dieser Abstand wird durch die Bezugsziffer 177
bezeichnet und ist auf den photoempfindlichen Elementen als
ein Bereich 180 wiedergegeben, der nicht beleuchtet ist.
Eine nicht gezeichnete datenverarbeitende Schaltung kann
zum Verarbeiten der abgegebenen Signale, die von der Anord
nung 174 erzeugt werden, benutzt werden und automatisch den
Pelletdurchmesser errechnen. Weiter erhält man Information
hinsichtlich der Bestimmung, ob das Pellet 53 einem perfek
ten zylindrischen Körper entspricht, indem man die Durch
messerabweichung während des Rotierens des Pellets 53 um
seine eigene Achse mißt. Ein im wesentlichen konstanter
Durchmesser zeigt einen hohen Grad von Rundheit an, d. h.
das der erforderliche Standard erfüllt ist.
Fig. 11 zeigt schematisch einen Teil der Vorrichtung der Fig.
10 im Querschnitt durch die Schlitze 171 in den Walzen und
illustriert die Vorrichtung und das Verfahren zum Bestimmen
der Rundheit des Pellets weiter. Die Walzen 56 und 59 enthalten
Schlitze 171, die sich zwischen der Walzenoberfläche 183 und
einer Schaftoberfläche 186 erstrecken. Die Walzen 56
und 59 sind so angeordnet, daß sie das Pellet 53 an
Punkten 189 bzw. 192 abstützen. Ein Bezugsmarkierer, wie eine
Messerkante 204, ist zur Schaffung eines Bezugspunktes 207 an
geordnet. Das Pellet 53 rotiere in Richtung des Pfeiles 222.
Der Lichtstrahl 131 ist begrenzt zwischen der oberen Kante 208
und der unteren Kante 209. Es wird in Richtung des Pfeiles 240
auf den Beleuchtungsbereich 156 projiziert, der in der Zeich
nung schematisch dargestellt ist. Wie oben erwähnt, weisen die
Walzen 56 und 59 im Bereich 156 bis zu den zentralen Schäften 186
Schlitze 171 auf, um die volle Höhe des Strahles 131 durchzulassen.
Das Pellet 53 verdunkelt einen Teil des Strahles 131. Der verdunkel
te Querabstand 177, der sich zwischen den durchgelassenen Strahlab
schnitten 159 und 162 befindet, ist durch die obere Kante 214 und
die untere Kante 215 begrenzt. Ohne die Messerkante 204 würde der
Strahl 131 links von dem Pellet 53 in zwei Teilen auftreten, von de
nen der Teil 159 die Oberkante 208 und die Unterkante 214 hat, wäh
rend der Teil 162 die Oberkante 215 und die Unterkante 209 hätte.
Bei Anwesenheit der Messerkante 204 verdunkelt diese jedoch einen
Teil des Strahles 131 nahe der unteren Kante 209 und ergibt so eine
neue Unterkante 213 des durchgelassenen Strahlteils 162, die ohne
die Kante 204 bei 209 läge.
Die übertragenen Strahlteile 159 und 162 treffen nach der fol
genden Behandlung durch das Linsensystem 168 auf die photoempfindli
chen Elemente der Anordnung 174. Die Abgabesignale dieser Elemente
enthalten Information, aus der der Querabstand 177 bestimmt werden
kann. In ähnlicher Weise kann der Abstand 218, der durch die Kanten
213 und 214 begrenzt ist, bestimmt werden. Jede Veränderung in die
sen beiden Abständen während das Pellet 53 in Richtung des Pfeiles
222 rotiert, zeigt eine Abweichung in der Rundheit des Pellets an.
In einer bevorzugten Ausführungsform sind die gegenüberliegen
den Enden jedes Pellets vorzugsweise abgeschrägt. Dies ist in Fig.
12 veranschaulicht, in der das Pellet 54 in Seitenansicht mit seinen
abgeschrägten Facetten 225 und 226 gezeigt ist. Diese Abschrägung
begünstigt die Grenze zwischen dem Pellet 54 und den benachbarten
Pellets 53 und 55. Aufgrund der obigen Erläuterung der Fig. 11 ist
klar, daß die Querabmessung 177 sich vermindert, wenn der abge
schrägte Pelletabschnitt in den Beleuchtungsbereich 156 eintritt.
Dies geschieht, wenn sich der Pelletstapel in einer Richtung senk
recht zur Ebene der Fig. 11 bewegt und den verminderten Durchmesser
des abgeschrägten Abschnittes in das Gesichtsfeld bringt. Diese Ver
änderung wird durch die Signale der Anordnung 174 angezeigt, auf der
nun zusätzliche Elemente beleuchtet werden. Diese Signalvariation
kann dazu benutzt werden, den Beginn oder das Ende des Pellets anzu
zeigen und gestattet auch das Zählen der Zahl der Pellets, die den
Bereich 156 passieren und gestattet
das Messen der Pelletlänge, wenn die lineare Pelletgeschwin
digkeit bekannt ist.
Die Länge der Lichtpfade, die in den Fig. 1 und 10 gezeigt
ist, ist durch die optischen Eigenschaften der verschiedenen
eingesetzten Linsen bestimmt, die ihrerseits gemäß den opti
schen Wirkungen ausgewählt sind, die man wünscht. Um jeden
Lichtpfad in einem relativ geringen Volumen zu enthalten,
sind die verschiedenen Spiegel und Prismen gezeigt, die den
Lichtstrahl wie erforderlich umdirigieren. Der tatsächliche
Abstand zwischen der Lichtquelle und ihrem entsprechenden
Beleuchtungsbereich ist daher beträchtlich kürzer, als der
Pfad des umdirigierten Lichtstrahles, so daß die Vorrichtung
in einem Gehäuse relativ geringer Größe untergebracht werden
kann.
Die offenbarte Erfindung schafft einen ersten und einen zwei
ten Beleuchtungsbereich, in denen die Lichtintensität im
wesentlichen gleichmäßig ist, ungeachtet der Tatsache, daß
räumlich ungleichmäßige und im allgemeinen mit der Zeit
variierende Lichtquellen benutzt werden. Billigere Lichtquel
len, wie Multityp-Laser, können daher benutzt werden. Die
Lichtstrahlen werden zu dem ersten bzw. zweiten Beleuchtungs
bereich projiziert. In diesen Bereichen reflektieren die hin
sichtlich ihrer Oberflächenmerkmale zu untersuchenden Gegen
stände das Licht. Die hinsichtlich ihrer abmessungsmäßigen
Konformität untersuchten Gegenstände verdunkeln einen Teil
des Lichtstrahles. Der Einsatz von Linsen, die einen großen
Teil des Lichtes, der zu den Anordnungen von photoempfind
lichen Elementen gerichtet ist, sammeln, halten den Lichtver
lust minimal und gestatten den Einsatz billigerer Lichtquel
len geringer Intensität. Diese Linsen fokussieren das Licht
auf die Anordnungen von photoempfindlichen Elementen, die
ihrerseits Signale liefern, die Anzeichen für die Oberflächen
merkmale und Abmessungsmerkmale sind.
Es kann die Art und Weise, in der der
Lichtstrahl durch den Gebrauch von Spiegeln und Prismen um
geleitet wird, variiert werden, um sich einer besonderen
Situation anzupassen. Wo die Kompaktheit unwichtig ist und
ein im wesentlichen linearer Lichtpfad möglich ist, können
die Spiegel und Prismen völlig weggelassen werden.
Obwohl eine Anordnung aus photoempfindlichen Elementen offen
bart ist, die ein Detektor ist, kann doch ein abtastender
Elektronendetektor, wie eine Fernsehkamera, benutzt werden.
Der Einsatz von Übertragungslinsen mit großer Öffnung und
flachem Feld ergibt eine hohe Wirksamkeit beim Sammeln des
Lichtes sowie bei der genauen Fokussierung.
Claims (1)
- Vorrichtung zum optischen Inspizieren der Oberfläche des Durchmessers, der Rundheit und der Abschrägung eines je den einer Aufeinanderfolge im wesentlicher zylindrischer, koaxial aneinanderstoßender Pellets, die sich um eine gemeinsame Achse dre hen, während sie durch ein Gesichtsfeld vorwärts bewegt werden, wo bei die Vorrichtung die folgenden Bestandteile umfaßt:
eine erste Beleuchtungseinrichtung,
eine erste Linse,
eine erste Kollimatoreinrichtung sowie
eine erste Detektoreinrichtung und
eine zweite Beleuchtungseinrichtung,
eine dritte Linse,
eine zweite Kollimatoreinrichtung und
eine zweite Detektoreinrichtung,
dadurch gekennzeichnet, daß
die erste Beleuchtungseinrichtung (3, 227) mindestens einen ersten (6) und einen zweiten Laserstrahl (228) in einer ersten Ausbrei tungsrichtung (9, 230) projiziert;
die erste Linse (18) eine anamorphotische Linse ist, die den ersten und den zweiten Laserstrahl in einer ersten Streuungsebene (21), die im wesentlichen parallel zur ersten Ausbreitungsrichtung verläuft, divergieren läßt;
die erste Kollimatoreinrichtung (33) das Ausmaß der Streuung der ge nannten Laserstrahlen in der genannten ersten Streuungsebene vermin dert;
weiter eine zweite anamorphotische Linse (36) zum Konvergieren des ersten und des zweiten Laserstrahls in einer Richtung, die im we sentlichen senkrecht zur genannten ersten Streuungsebene verläuft, vorhanden ist, wobei die zweite anamorphotische Linse weiter die ge nannten Strahlen auf einen ersten langgestreckten Beleuchtungsbe reich (48) beschränkt, der ein großes Verhältnis von Länge zu Breite auf der Oberfläche der untersuchten Pellets aufweist;
die erste Detektoreinrichtung (68) eine lineare Reihe erster photo empfindlicher Elemente und eine Übertragungslinse (65) mit einer großen Öffnung und einem flachen Feld aufweist, die Licht zu den ge nannten ersten Elementen leitet, wobei jedes der ersten Elemente ein Ausgabesignal erzeugt, das repräsentativ ist für die Menge des zu diesem Element reflektierten Lichtes, wobei das von den ersten Ele menten empfangene Licht durch entsprechende Unterbereiche des ersten Beleuchtungsbereiches auf der Oberfläche des untersuchten Pellets reflektiert wird und die ersten Elemente so angeordnet sind, daß sie reflektiertes Licht nur empfangen, wenn der Winkel und der Ort der Reflektion in dem entsprechenden Unterbereich innerhalb vorbestimm ter Grenzen bleibt;
die zweite Beleuchtungseinrichtung (130) einen dritten Laserstrahl (131) in einer zweiten Ausbreitungsrichtung (132) projiziert;
die dritte Linse (139) eine anamorphotische Linse ist, die den drit ten Laserstrahl in einer zweiten Streuungsebene (141), die parallel zur zweiten Ausbreitungsrichtung liegt, diver giert;
die zweite Kollimatoreinrichtung (150) das Ausmaß der Divergenz in der zweiten Streuungsebene vermindert und den dritten Laserstrahl zu einem zweiten Beleuchtungsbereich (156) richtet, wobei dieser zweite Bereich ein langgestreckter Bereich mit einem großen Verhältnis von Höhe zu Breite ist, der den gesamten Durchmesser jedes der in der zeitlichen Aufeinanderfolge von Pellets schneidet;
die zweite Detektoreinrichtung (174) mit einer linearen Reihe zwei ter photoempfindlicher Elemente versehen ist, wobei jedes dieser Elemente ein Ausgabesignal erzeugt, das repräsentativ ist für die Menge des übertragenen Lichtes von dem auffallenden dritten Laser strahl, und das untersuchte Pellet (53) einen Teil des zweiten Be leuchtungsbereiches zwischen der zweiten Beleuchtungseinrichtung und der zweiten Detektoreinrichtung einnimmt, um einen Teil (157) des dritten Laserstrahls abzudunkeln, so daß zwei nicht miteinander ver bundene Teile (159, 162) des dritten Laserstrahls auf die zweiten Elemente gerichtet werden, wobei der erste, zweite und dritte Laser strahl jeweils eine im wesentlichen gleichförmige räumliche Intensi tätsverteilung aufweisen und
die ersten Ausgabesignale repräsentativ für den Zustand der Oberflä che des untersuchten Pellets und die zweiten Ausgabesignale reprä sentativ für zumindest den Durchmesser des untersuchten Pellets sind, die quer zu dem dritten Laserstrahl angeordnet ist.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US06/361,992 US4532723A (en) | 1982-03-25 | 1982-03-25 | Optical inspection system |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3309584A1 DE3309584A1 (de) | 1983-10-06 |
DE3309584C2 true DE3309584C2 (de) | 1988-11-10 |
Family
ID=23424254
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19833309584 Granted DE3309584A1 (de) | 1982-03-25 | 1983-03-17 | Optisches inspektionssystem |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4532723A (de) |
JP (1) | JPS58169013A (de) |
CA (1) | CA1210472A (de) |
DE (1) | DE3309584A1 (de) |
ES (1) | ES8402931A1 (de) |
IT (1) | IT1160841B (de) |
SE (1) | SE462768B (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4124278A1 (de) * | 1991-07-23 | 1993-01-28 | Advanced Nuclear Fuels Gmbh | Verfahren und vorrichtung zur inspektion von tabletten |
Families Citing this family (61)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6049209A (ja) * | 1983-08-27 | 1985-03-18 | O Ii M Syst:Kk | 平ドリルの刃部径測定装置 |
DE3337251A1 (de) * | 1983-10-13 | 1985-04-25 | Gerd Dipl.-Phys. Dr. 8520 Erlangen Häusler | Optisches abtastverfahren zur dreidimensionalen vermessung von objekten |
JPS60165853U (ja) * | 1984-04-11 | 1985-11-02 | 日立電子エンジニアリング株式会社 | 円筒物体表面検査装置における搬送装置 |
US4723659A (en) * | 1985-06-28 | 1988-02-09 | Supernova Systems, Inc. | Apparatus for detecting impurities in translucent bodies |
US4730116A (en) * | 1985-08-06 | 1988-03-08 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Sheet thickness measuring apparatus by optical scanning |
JPS62255806A (ja) * | 1986-04-29 | 1987-11-07 | Mitsubishi Electric Corp | 膜厚測定方法及び装置 |
DE3641862A1 (de) * | 1986-12-08 | 1988-06-09 | Bosch Gmbh Robert | Vorrichtung zur pruefung rotationssymmetrischer werkstuecke |
DE3641863A1 (de) * | 1986-12-08 | 1988-06-09 | Bosch Gmbh Robert | Oberflaechenpruefvorrichtung |
FR2610407B1 (fr) * | 1987-01-30 | 1989-05-12 | Peugeot | Appareil pour le controle de pieces cylindriques |
AU606679B2 (en) * | 1987-03-09 | 1991-02-14 | Battelle Memorial Institute | Optical inspection system for cylindrical objects |
JPH07111328B2 (ja) * | 1987-12-07 | 1995-11-29 | 日本たばこ産業株式会社 | 円柱状検体の直径測定装置 |
DE3806109A1 (de) * | 1987-12-16 | 1989-07-06 | Klaus Prof Dr Ing Baukhage | Verfahren zur feststellung wenigstens der oberflaechenstruktur von bewegten sphaerischen partikeln |
DE3843300A1 (de) * | 1987-12-23 | 1989-07-13 | Karl Veit Holger Dr Ing | Messvorrichtung zur bestimmung der dicke von folien |
US5089384A (en) * | 1988-11-04 | 1992-02-18 | Amoco Corporation | Method and apparatus for selective cell destruction using amplified immunofluorescence |
US4930872A (en) * | 1988-12-06 | 1990-06-05 | Convery Joseph J | Imaging with combined alignment fixturing, illumination and imaging optics |
JPH034110A (ja) * | 1989-06-01 | 1991-01-10 | Mitsubishi Nuclear Fuel Co Ltd | 棒状体の真直度検査装置 |
DE3920669A1 (de) * | 1989-06-23 | 1991-01-10 | Sick Optik Elektronik Erwin | Optische abtastvorrichtung |
US5254853A (en) * | 1990-02-14 | 1993-10-19 | Stefan Reich | Optical sensing device |
US5043588A (en) * | 1990-06-18 | 1991-08-27 | Westinghouse Electric Corp. | Pellet diameter measurement apparatus and method detecting non-orthogonally to the common axis of the pellets |
US5186887A (en) * | 1990-10-02 | 1993-02-16 | Mitsubishi Nuclear Fuel Co. | Apparatus for inspecting peripheral surfaces of nuclear fuel pellets |
US5147047A (en) * | 1991-01-14 | 1992-09-15 | Westinghouse Electric Corp. | Pellet inspection system |
EP0528197B1 (de) * | 1991-07-23 | 1995-07-19 | ADVANCED NUCLEAR FUELS GmbH | Verfahren und Vorrichtung zur Inspektion von Tabletten |
US5257325A (en) * | 1991-12-11 | 1993-10-26 | International Business Machines Corporation | Electronic parallel raster dual image registration device |
JPH0575656U (ja) * | 1992-03-17 | 1993-10-15 | 太陽誘電株式会社 | 電子部品の外観検査装置 |
GB9215832D0 (en) * | 1992-07-24 | 1992-09-09 | British Nuclear Fuels Plc | The inspection of cylindrical objects |
DE69317985T2 (de) * | 1992-11-20 | 1998-11-12 | Nordson Corp | Methode zum Überwachen und/oder abgeben von Material auf ein Substrat |
FR2700007B1 (fr) * | 1992-12-29 | 1995-03-10 | Fabrication Combustibles Ste Fra | Procédé et dispositif optiques de classification automatique de pastilles cylindriques de combustible nucléaire. |
JP3214942B2 (ja) * | 1993-02-25 | 2001-10-02 | 三菱原子燃料株式会社 | ペレット端面検査方法及び装置 |
GB9304966D0 (en) * | 1993-03-11 | 1993-04-28 | British Nucelar Fuels Plc | Optical measuring system |
US5383021A (en) * | 1993-04-19 | 1995-01-17 | Mectron Engineering Company | Optical part inspection system |
GB9309238D0 (en) * | 1993-05-05 | 1993-06-16 | British Nuclear Fuels Plc | Apparatus for detection of surface defects |
PT644417E (pt) * | 1993-09-16 | 2000-10-31 | Owens Brockway Glass Container | Inspeccao de recipientes translucidos |
US5666325A (en) * | 1995-07-31 | 1997-09-09 | Nordson Corporation | Method and apparatus for monitoring and controlling the dispensing of materials onto a substrate |
US7612870B2 (en) * | 1998-02-25 | 2009-11-03 | California Institute Of Technology | Single-lens aperture-coded camera for three dimensional imaging in small volumes |
US7006132B2 (en) * | 1998-02-25 | 2006-02-28 | California Institute Of Technology | Aperture coded camera for three dimensional imaging |
US6610953B1 (en) | 1998-03-23 | 2003-08-26 | University Of Arkansas | Item defect detection apparatus and method |
US6271520B1 (en) | 1998-03-23 | 2001-08-07 | University Of Arkansas | Item defect detection apparatus and method |
US6252623B1 (en) | 1998-05-15 | 2001-06-26 | 3Dmetrics, Incorporated | Three dimensional imaging system |
US6285034B1 (en) | 1998-11-04 | 2001-09-04 | James L. Hanna | Inspection system for flanged bolts |
US6313948B1 (en) | 1999-08-02 | 2001-11-06 | James I. Hanna | Optical beam shaper |
US6252661B1 (en) | 1999-08-02 | 2001-06-26 | James L. Hanna | Optical sub-pixel parts inspection system |
US6603542B1 (en) | 2000-06-14 | 2003-08-05 | Qc Optics, Inc. | High sensitivity optical inspection system and method for detecting flaws on a diffractive surface |
US7046353B2 (en) * | 2001-12-04 | 2006-05-16 | Kabushiki Kaisha Topcon | Surface inspection system |
DE10160297B4 (de) * | 2001-12-07 | 2007-06-21 | Robert Bosch Gmbh | Vorrichtung zur Untersuchung der Oberfläche eines rotationssystemmetrischen Körpers |
US20050174567A1 (en) * | 2004-02-09 | 2005-08-11 | Mectron Engineering Company | Crack detection system |
US7593501B2 (en) * | 2005-01-06 | 2009-09-22 | Areva Np Inc. | Segment make-up system and method for manufacturing nuclear fuel rods |
US7154080B1 (en) | 2005-01-13 | 2006-12-26 | Dick Rauth | System and method for detecting the efficacy of machined parts |
US7684054B2 (en) * | 2006-08-25 | 2010-03-23 | Gii Acquisition, Llc | Profile inspection system for threaded and axial components |
BE1017422A3 (nl) * | 2006-12-08 | 2008-09-02 | Visys Nv | Werkwijze en inrichting voor het inspecteren en sorteren van een productstroom. |
US7920278B2 (en) * | 2007-10-23 | 2011-04-05 | Gii Acquisition, Llc | Non-contact method and system for inspecting parts |
US7738088B2 (en) * | 2007-10-23 | 2010-06-15 | Gii Acquisition, Llc | Optical method and system for generating calibration data for use in calibrating a part inspection system |
US7812970B2 (en) * | 2007-10-23 | 2010-10-12 | Gii Acquisition, Llc | Method and system for inspecting parts utilizing triangulation |
US8132802B2 (en) * | 2007-10-23 | 2012-03-13 | Gii Acquisition, Llc | Apparatus for quickly retaining and releasing parts to be optically measured |
US7777900B2 (en) * | 2007-10-23 | 2010-08-17 | Gii Acquisition, Llc | Method and system for optically inspecting parts |
US8237935B2 (en) * | 2007-10-23 | 2012-08-07 | Gii Acquisition, Llc | Method and system for automatically inspecting parts and for automatically generating calibration data for use in inspecting parts |
US7738121B2 (en) * | 2007-10-23 | 2010-06-15 | Gii Acquisition, Llc | Method and inspection head apparatus for optically measuring geometric dimensions of a part |
US7796278B2 (en) * | 2008-09-19 | 2010-09-14 | Gii Acquisition, Llc | Method for precisely measuring position of a part to be inspected at a part inspection station |
US8004694B2 (en) * | 2009-03-27 | 2011-08-23 | Gll Acquistion LLC | System for indirectly measuring a geometric dimension related to an opening in an apertured exterior surface of a part based on direct measurements of the part when fixtured at a measurement station |
US9395309B2 (en) * | 2014-10-15 | 2016-07-19 | Exnodes Inc. | Multiple angle computational wafer inspection |
US10060861B2 (en) * | 2017-01-10 | 2018-08-28 | Sunspring America, Inc. | Technologies for identifying defects |
TWM594685U (zh) * | 2019-08-22 | 2020-05-01 | 盛雄科技股份有限公司 | 多自由度球體物件檢測裝置(二) |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
SE378302B (de) * | 1972-07-03 | 1975-08-25 | Aga Ab | |
US3826576A (en) * | 1972-12-20 | 1974-07-30 | Goodyear Aerospace Corp | Laser measuring or monitoring system |
JPS49115569A (de) * | 1973-02-22 | 1974-11-05 | ||
SE376966B (de) * | 1973-10-12 | 1975-06-16 | Aga Ab | |
JPS524266A (en) * | 1975-06-27 | 1977-01-13 | Nippon Steel Corp | Unit to measure the bend of long-size object with circular section |
US4037103A (en) * | 1975-08-07 | 1977-07-19 | Exxon Research And Engineering Company | Diameter measuring system for cylindrical objects |
NL7602468A (nl) * | 1976-03-09 | 1977-09-13 | Skf Ind Trading & Dev | Inrichting voor het controleren van de fabricage- kwaliteit van voorwerpen. |
US4074938A (en) * | 1976-09-27 | 1978-02-21 | Systems Research Laboratories, Inc. | Optical dimension measuring device employing an elongated focused beam |
JPS6055762B2 (ja) * | 1977-04-08 | 1985-12-06 | 株式会社日立製作所 | 円筒物体外観検査装置 |
US4197888A (en) * | 1978-02-21 | 1980-04-15 | The Coe Manufacturing Company | Log centering apparatus and method using transmitted light and reference edge log scanner |
US4253768A (en) * | 1978-08-09 | 1981-03-03 | Westinghouse Electric Corp. | Processing system for detection and the classification of flaws on metallic surfaces |
JPS5537919A (en) * | 1978-09-11 | 1980-03-17 | Ngk Insulators Ltd | Automatic outer configuration measurement device |
JPS56160645A (en) * | 1980-05-16 | 1981-12-10 | Hitachi Ltd | Detecting method for surface defect of body |
DE3027373A1 (de) * | 1979-07-20 | 1981-03-19 | Hitachi, Ltd., Tokyo | Verfahren und einrichtung zur oberflaechenpruefung |
US4349112A (en) * | 1980-03-31 | 1982-09-14 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Pellet inspection apparatus |
-
1982
- 1982-03-25 US US06/361,992 patent/US4532723A/en not_active Expired - Lifetime
-
1983
- 1983-03-11 CA CA000423367A patent/CA1210472A/en not_active Expired
- 1983-03-14 ES ES520558A patent/ES8402931A1/es not_active Expired
- 1983-03-14 JP JP58040846A patent/JPS58169013A/ja active Granted
- 1983-03-17 DE DE19833309584 patent/DE3309584A1/de active Granted
- 1983-03-22 SE SE8301574A patent/SE462768B/sv not_active IP Right Cessation
- 1983-03-25 IT IT20297/83A patent/IT1160841B/it active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4124278A1 (de) * | 1991-07-23 | 1993-01-28 | Advanced Nuclear Fuels Gmbh | Verfahren und vorrichtung zur inspektion von tabletten |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3309584A1 (de) | 1983-10-06 |
SE8301574L (sv) | 1983-09-26 |
SE8301574D0 (sv) | 1983-03-22 |
US4532723A (en) | 1985-08-06 |
JPH038483B2 (de) | 1991-02-06 |
ES520558A0 (es) | 1984-03-01 |
CA1210472A (en) | 1986-08-26 |
IT8320297A0 (it) | 1983-03-25 |
ES8402931A1 (es) | 1984-03-01 |
JPS58169013A (ja) | 1983-10-05 |
SE462768B (sv) | 1990-08-27 |
IT1160841B (it) | 1987-03-11 |
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