DE3241508A1 - Leistungstransistor-modul - Google Patents
Leistungstransistor-modulInfo
- Publication number
- DE3241508A1 DE3241508A1 DE19823241508 DE3241508A DE3241508A1 DE 3241508 A1 DE3241508 A1 DE 3241508A1 DE 19823241508 DE19823241508 DE 19823241508 DE 3241508 A DE3241508 A DE 3241508A DE 3241508 A1 DE3241508 A1 DE 3241508A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- housing
- power transistor
- ceramic plate
- metallization
- transistor module
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/16—Fillings or auxiliary members in containers or encapsulations, e.g. centering rings
- H01L23/18—Fillings characterised by the material, its physical or chemical properties, or its arrangement within the complete device
- H01L23/24—Fillings characterised by the material, its physical or chemical properties, or its arrangement within the complete device solid or gel at the normal operating temperature of the device
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/02—Containers; Seals
- H01L23/04—Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls
- H01L23/053—Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls the container being a hollow construction and having an insulating or insulated base as a mounting for the semiconductor body
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L25/00—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
- H01L25/03—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
- H01L25/04—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
- H01L25/07—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L29/00
- H01L25/072—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L29/00 the devices being arranged next to each other
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L2224/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/45001—Core members of the connector
- H01L2224/45099—Material
- H01L2224/451—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
- H01L2224/45117—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 400°C and less than 950°C
- H01L2224/45124—Aluminium (Al) as principal constituent
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/49—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
- H01L2224/491—Disposition
- H01L2224/4912—Layout
- H01L2224/49171—Fan-out arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73251—Location after the connecting process on different surfaces
- H01L2224/73265—Layer and wire connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L24/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L24/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L24/49—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/00011—Not relevant to the scope of the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01014—Silicon [Si]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01057—Lanthanum [La]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01079—Gold [Au]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/102—Material of the semiconductor or solid state bodies
- H01L2924/1025—Semiconducting materials
- H01L2924/10251—Elemental semiconductors, i.e. Group IV
- H01L2924/10253—Silicon [Si]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/181—Encapsulation
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
- Amplifiers (AREA)
- Bipolar Transistors (AREA)
Description
B R O WN , B O V E R I & CIE AKTIENGESELLSCHAFT
Mannheim 8. Nov. 1982
Mp.-Nr. 654/82 ZPT/P3-Pn/Bt 10
Leistungstransistor-Modul
Die Erfindung bezieht sich auf ein Leistungstransistor-Modul
gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 1.
Derartige Leistungstransistor-Module sind allgemein bekannt. Sie besitzen vielfach eine massive Kupferplatte
als Gehäuseboden, die mit der entsprechend vorbehandelten Keramikplatte verlötet oder verklebt ist. Auch die
strukturierten Metallisierungen auf der dem Gehäuseinne-
2g ren zugewandten Seite der Keramikplatte sind meist aufgelötet.
Derartig aufgebaute Leistungstransistor-Module sind aufwendig und teuer in der Herstellung und haben
wegen der drei notwendigen Lotschichten des Aufbaues Leistungs'transistor-Lotschicht-Metallisierung-Lot-'30
schicht-Keramikmetallisierung-Keramikplatte-Lotschicht-Kupferbodenplatte
einen-relativ hohen Wärmewiderstand. Hierdurch ist die thermische Belastbarkeit der
Module stark eingeschränkt.
3g Andere bekannte Aufbauten haben nur eins Dickschichtmetallisierung
direkt auf die Keramik aufgebracht; Dadurch
BADÖBIGINÄI
wird zwar...eine Lotschicht eingespart, jedoch ergeben
sich wegen der fehlenden Wärmespreizung ebenfalls sehr hohe Wärmewiderstände.
Der Erfindung liegt davon ausgehend die Aufgabe zugrun-
de, ein Leistungstransistor-Modul der eingangs genannten Art anzugeben, das einen sehr niedrigen Wärmewiderstand =
aufweist.
Diese Aufgabe wird durch die im Anspruch 1 gekennzeichneten Merkmale gelöst.
Die mit der Erfindung erzielbaren Vorteile liegen insbesondere darin, daß durch die direkte Verbindung von Me-
1g tallisierung und Keramikplatte, z.B. gemäß den Verfahren
nach Patentanmeldungen P 30 36 '128.5 oder P 32 04 167-5,
der Wärmewiderstand zwischen Leistungstransistor und Kühlkörper gegenüber bekannten Anordnungen wesentlich
verringert wird. Dies wird erreicht durch die Verbindung · der Metallisierung mit der Keramikplatte ohne Zwischenschicht
und durch Wärmespreizung in der Metallisierung. Die äußere ganzflächige Metallisierung erhöht die mechanische
Belastbarkeit des Keramiksubstrats, in dem sie die Bruchgefahr bei der Montage und im Betrieb verringert.
Die Leistungstransistoren, Dioden und Anschlußelemente sind so angeordnet, daß sie in einem Arbeitsgang
aufgelötet und anschließend über Verbindungsdrähte kontaktiert werden können, was eine preiswerte Herstellung
ermöglicht. Desweiteren ist es möglich, die Halbleiterbauelemente beim Lötvorgang mit Kontaktbügeln zu kontaktieren.
Zweckmäßige Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen gekennzeichnet.
Die Erfindung wird nachstehend anhand der in den Zeich-
Fig. | 1 |
Fig. | 2 |
Fig. | 3 |
Fig. | 4 |
Fig. | 5 |
Fig. | 6 |
O ■ -■' ■■'■■'■■■.:.-·
nungen dargestellten Ausführungsformen erläutert.
Es zeigen: .
einen Schnitt durch eine erste Variante eines Leistungstransistor-Moduls,
eine Aufsicht auf das aufgeschnittene Modul nach der ersten Variante,
einen Schnitt durch eine zweite Variante eines Leistungstransistor-Moduls,
eine Aufsicht auf das aufgeschnittene Modul nach der zweiten Variante
die interne Verschaltung der zweiten Variante, die interne Verschaltung einer dritten Variante.
In Fig. 1 ist ein Schnitt durch eine erste Variante eines Leistungstransistor-Moduls dargestellt. Das Modul
besitzt einen oben und unten offenen Kunststoff-Rahmen
1, der als Gehäusewandung dient. An zwei Seiten weist -
2Q der Jtahmen 1 in Höhe der Bodenfläche Befestigungslaschen
° nuf. Die eine der Befestigungslaschen 2" ist mit einer
Bohrung 3 und die andere der Laschen mit einer U-förmigen
Ausnehmung 4 versehen. Bohrung 3 und U-formige Ausnehmung
4 dienen zur Montage des Leistungstransistor-Mo-
duls auf einem Kühlkörper. ·'
Das Gehäuse des Leistungstransistor-Moduls wird zum einen durch den Rahmen 1, zum anderen durch eine in eine
umlaufende Vertiefung der Bodenfläche des offenen Rähmens 1 aufgesetzte, elektrisch isolierende Keramikplatte
5 (z.B. aus AI2O3, BeO, SiC) gebildet. Zur -Verbesserung.--.:
des Wärmedurchganges kann die Keramikplatte 5 sehr dünn ausgebildet werden (Dicke ab ca. 0,5mm). Sie weist elektrisch
gut leitende Metallisierungen 6a,b,c auf ihrer
dem Gehäuseinneren zugewandten Fläche auf (6a = Emitter-Metallisierung,
6b = Kollektor-Metallisierung,
654/82
6c = Basis-Metallisierung). Diese Metallisierungen werden beispielsweise durch Kupferfolien realisiert, die
gemäß den aus den Patentanmeldungen P 30 36 128.5 oder P 32 04 167.5 bekannten Verfahren direkt ohne Zwischenschichten
(Lot und Keraraikmetallisierung) auf die Keramikplatte 5 aufgebracht sind. Die Metallisierungen
6a,b,c dienen als Leiterbahnen und Kontaktflächen zum
Auflöten von extern zugänglichen Anschlußelementen, Leistungstransistoren und internen Verbindungen und als
Wärmespreizer für den Leistungstransistor. Um eine Wärmespreizung zu ermöglichen, weist insbesondere die Kollektor-Metallisierung
6b eine größere Fläche auf als die Fläche der aufzulötenden Leistungstransistoren.
Zur mechanischen Stabilisierung der Keramikplatte 5 ist
eine Metallisierung 7 ebenfalls gemäß dem Verfahren nach Patentanmeldung P 30 26 128.5 oder P 32 04 167.5 direkt
auf die dem Gehäuseinneren abgewandten Seite der Keramikplatte 5 aufgebracht. Die Stärke der Metallisierung
7, vorzugsweise ebenfalls eine Kupferfolie, entspricht der Stärke der Metallisierungen 6a,b,c. Dadurch werden
Verspannungen, die sich infolge der Herstellprozesse und der einseitigen Lötprozesse auf der dem Gehäuseinneren
zugewandten Seite der Keramikplatte 5 ergeben, wirksam verhindert. Desweiteren ermöglicht die Metallisierung 7
einen guten Wärmekontakt zu einem mit dem Modul verbundenen Kühlkörper. Auch ist die Gefahr von Keramikbrüchen
bei der Montage und während des Betriebes infolge unebener und verschmutzter Kühlkörper wesentlich geringer.
Der Rahmen 1 und die Keramikplatte 5 werden miteinander verklebt. Zur genauen Fixierung der Platte 5 weist der
Rahmen 1 die bereits erwähnte umlaufende Vertiefung in seiner Bodenfläche auf, deren Tiefe höchstens der
Gesamt-Dicke der Keramikplatte 5 und der Metallisierung 7 entspricht. Eine in dieser Vertiefung des Rahmens 1
vorgesehene umlaufende Nut 8 dient beispielsweise zur
Aufnahme von austretendem Klebstoff. Der überschüssige
Klebstoff wandert in die Nut 8 und quillt nicht über den Rand der Keramikplatte 5 auf die Kühlfläche, was den
Wärmeübergang zum Kühlkörper beeinträchtigen würde.
Mit der Emitter-Metallisierung 6a ist ein großflächiges Fußteil 9 eines Emitter-Flachsteckers 10 über eine Lotschicht 11 verbunden. Der mit Einkerbungen versehene
Flachstecker 10 ist auf der-Oberseite des Gehäuses frei
zugänglich. Das vergrößerte Fußteil' 9 dient zur mechanischen Stabilisierung der Lötstelle auf der Metallisierung
6a. An das Fußteil 9 schließt sich eine Abwinkelung und daran ein Dehnungsbogen 10 an (siehe hierzu Ausfüh-
· rungsbeispiel gemäß Fig. 3). Der Dehnungsbogen geht in
seinem oberen Ende in den eigentlichen Steckanschluß über. Der Dehnungsbogen ist in seinem Querschnitt kleiner
als die Querschnitte des oberen Steckanschlusses und
des unteren Fußteiles 9 und gleicht Zugspannungen auf
die Lötverbindung zwischen Fußteil 9 und Metallisierung
6a der Keramikplatte 5 aus.
Mit der Metallisierung 6c ist ein Basis-Flachstecker 12
sowie mit der Metallisierung 6b ein Kollektor-Flach-
2g stecker (in Fig. 2 mit 17 bezeichnet) verbunden. Der
Basis-Flachstecker 12 weist ebenfalls ein vergrößertes Fußteil 13 auf und ist zur Vermeidung von Anschlußfehlern
(Vertauschung der Anschlüsse) schmaler als der Emitter- und der Kollektor-Flachstecker ausgeführt. Ansonsten
sind die drei Anschlußstecker gleichartig aufgebaut. -.--.-"■
Mit der Metallisierung 6b ist (sind) ein (bzw. mehrere) Leistungstransistor(en) 14 verlötet. Im Ausführungsbei-3g
spiel sind zwei parallel geschaltete Transistoren 14 angeordnet, wie Fig. 2 zeigt. Dabei wird die Kollektor-.
* rf W
654/82 O β
elektrode der als Silizium-Chip gestalteten Transistoren 14 mit der Kollektor-Metallisierung 6b verlötet, während
die Emitter- bzw. Basis-Anschlüsse der Transistoren 14 über Aluminium- oder Kupferdrähte (in Fig. 2 mit 18 bezeichnet)
mit den Emitter- bzw. Basis-Metallisierungen 6a bzw. 6c verbunden werden.
. Das mit der Keramikplatte 5 verklebte und mit den Flachsteckern und Transistoren bestückte und verschaltete
Gehäuse wird in seinem unteren Teil "mit einer weichen
Vergußmasse 15 (z.B. Silikonkautschuk) zum Schutz der empfindlichen Aktivteile vergossen und zwar ist der erwähnte
Dehnungsbogen der Flachstecker voll-mit der weichen Vergußmasse 15 vergossen. Das Verschließen des Ge-
^g häuses erfolgt mit einer harten Vergußmasse 16 (z.B.
Epoxidharz). Durch die harte Vergußmasse 16 werden insbesondere die Flachstecker über ihre Einkerbungen mechanisch
stabilisiert.
In Fig. 2 ist eine Aufsicht auf das aufgeschnittene
Modul der ersten Variante dargestellt. Insbesondere sind die an den Rahmen 1 angeformten Befestigungslaschen 2
mit Bohrung 3 und U-förmiger Ausnehmung 4 erkennbar. Desweiteren sind die Strukturen der Metallisierungen
6a,b,c auf der Innenseite der Keramikplatte 5 mit den
aufgelöteten Flachsteckern 10,17,12 der beiden Leistungstransistoren
14 und den Drähten 18 zwischen Basis-Metallisierung 6b und Transistor-Basis sowie zwischen Emitter-Metallisierung 6a und Transistor-Emitter
ersichtlich.
Bei der Herstellung des Moduls werden die Flachstecker 10,12,17 und die Transistoren 14 in einem Arbeitsgang
auf die metallisierte Keramikplatte 5 aufgelötet. Für die Lötvorgänge sind die Metallisierungen 6a,b,c entsprechend
vorbehandelt, vorzugsweise vernickelt. Im
* Ι» ψ Λ
654/82 3 χ
nachfolgenden Schritt werden die Verbindungsdrähte 18 zwischen den Emitter- bzw. Basis-Elektroden der Transistoren
14 und den Metallisierungen 6a bzw. 6c auf der Keramikplatte 5 durch Ultraschallbonden, Löten oder
Punktschweißen angebracht. Es werden vorzugsweise Aluminiumdrähte mit 0,2 bis 0,5mm Durchmesser eingesetzt.
Alternativ hierzu können die Flachstecker-Anschlüsse
auch erst nach dem Ultraschallbonden der Drähte 18 angelötet
werden, falls dies aus Gründen des Platzes und der ZugängHchkeit für das Ultraschall-Bondwerkzeug erforderlich
ist. Falls notwendig, können danach weitere Hilfsverbindungen hergestellt werden.
Alle folgenden Fertigungsschritte fallen in den Bereich
der Kapselung. Zunächst wird die Keramikplatte 5 mit den
aufgelöteten Teilen in die untere Öffnung des Rahmens 1
eingeklebt. Anschließend wird das Innere des Gehäuses mit den Vergußmassen aufgefüllt.
In Fig. 3 ist ein Schnitt durch eine zweite Variante
eines Leistungstransistor-Moduls dargestellt. Bei diesem Modul sind als Hauptanschlüsse ein Emitter-Anschluß, ein
Kollektoranschluß sowie ein Freilaufdiodenanschluß und
als Hilfsanschlüsse ein Basisanschluß sowie ein Hilfsemitteranschluß
vorgesehen. Im Modul ist neben dem Transistor eine Freilaufdiode integriert, wobei die Kathode
der Diode intern mit dem Emitter des Transistors verbunden ist. Auch dieses Modul besitzt einen oben und unten
offenen Rahmen 19 mit seitlich angeformten Befestigungslaschen 20, die Bohrungen 21 zur Befestigung des Moduls
auf einem Kühlkörper aufweisen. Zur Verbesserung der mechanischen Stabilität des Moduls sind Versteifungskanten 22 zwischen Befestigungslaschen 20 und Rahmen 19
vorgesehen. In das Bodenteil des Rahmens 19 ist wiederum eine Keramikplatte 23 eingeklebt. Die Keramikplatte 23
SAD ORIGINAL
654/82 10 -β
weist eine Emitter-Metallisierung 24a, eine zu Zwecken
der Wärtnesprelzung verbreiterte Kollektor-Metallisierung 24b, eine Basis-Metallisierung 24c (siehe hierzu Fig. 4)
sowie eine Freilaufdioden-Metallisierung 24d auf ihrer dem Gehäuseinneren zugewandten Seite auf. Die dem Gehäuseinneren
abgewandte Seite der Keramikplatte 5 ist mit einer Metallisierung 25 versehen.
Die Hauptanschlüsse des Moduls, d.h. Emitter-, Kollektor- und Freilaufdiodenanschluß sind mit den Ziffern 26,
27 und 28 sowie die Hilfsanschlüsse, d.h. Hilfsemitter- und Basisanschluß mit den Ziffern 29 und 30 bezeichnet
(siehe Fig. 4). Jeder der Anschlüsse besitzt ein vergrößertes Fußteil 31 zur Verlötung mit den entsprechenden
Metallisierungen. Die Lotschicht ist dabei mit 32 bezeichnet.
An das verbreiterte Fußteil 31 schließen sich eine Abwinkelung mit Dehnungsbogen 33 an. Die Hauptanschlüsse weisen in Höhe der Gehäuseoberkante eine Abwinkelung
mit Gewindebohrung 34 zur Bildung von Schrauban-2Q Schlüssen auf. Die Hilfsanschlüsse sind im Unterschied
hierzu als Flachstecker 35 ausgebildet.
Das Modul besitzt drei parallelgeschaltete Leistungstransistoren 36, deren Kollektorelektroden jeweils mit
den Kollektormetallisierungen 24b verlötet sind. Desweiteren sind zwei parallelgeschaltete Freilaufdioden 37
vorgesehen, deren Kathoden mit der Emitter-Metallisierung 24a verlötet sind. Zum Anschluß der Anoden der Dioden
37 an die Freilaufdioden-Metallisierung 24d dienen Verbindungsdrähte 38 oder gelötete Kontaktbügel. Zum
Verschluß des Gehäuses werden wiederum eine weiche Vergußmasse 39 sowie eine harte Vergußmasse 40 verwendet.
In Fig. 4 ist eine Aufsicht auf das aufgeschnittene Modul der zweiten Variante dargestellt. Daraus sind insbesondere
der schmale, rechteckförmige Rahmen 19 mit den
ORIGIMÄL
654/82 ^ ■ tf
angeformten Befestigungsläschen 20 und den Versteifungskanten 22 ersichtlich. Desweiteren ist die Struktur der
Metallisierungen auf der dem Gehäuseinneren zugewandten Seite der Keramikplatte 23 zu erkennen. Zum Anschluß der
Emitter- bzw. Basiselektroden der Transistoren 36 an die schmale Emitter- bzw. Basis-Metallisierung 24a bzw. 24c
dienen die Verbindungsdrähte 38. Weitere Verbindungsdrähte 38 sind zwischen der Freilaufdioden-Metallisierung
24d und den Anoden der Dioden 37 vorgesehen.
Fig. 5 zeigt die interne Verschaltung der Variante gemäß
den Figuren 3 und 4.
Fig. 6 zeigt die interne Verschaltung einer dritten Variante. Diese Variante entspricht in ihrem konstruktiven
Aufbau der Variante gemäß den Figuren 3 und 4, bei der internen elektrischen Verschaltung sind jedoch die
Kathoden der Freilaufdioden 37 mit dem Anschluß 28 und die Anoden mit den Kollektoren der Leistungstransistoren
36 sowie mit dem Anschluß 27 verbunden.
Module mit den Schaltungen gemäß Fig. 5 und 6 werden
paarweise zum Aufbau von Transistor-Halbbrücken benötigt. Die gezeigte Reihenfolge der nach außen geführten
Anschlüsse ermöglicht eine einfache Zusammenschaltung durch Verschienen.
BAD QRIGINAU
.a
Leerseite
Claims (7)
- 654/82 >θA. η S ρ r ü c herl J Leistungstransistor-Modul mit einem oben undunten offenen Rahmen als Gehäusewandung und einer Keramikplatte als Gehäuseboden, wobei die Keramikplatte auf ihrer· dem Gehäuseinneren zugewandten Seite eine strukturierte Metallisierung aufweist, die zum Verlöten mitLeistungstransistoren, Dioden, internen Verbindungen und extern auf der Oberseite des Gehäuses zugänglichen Anschlußelementen dient, ge ennzeichnet durch folgende Merkmale:
•jg -. die dem Gehäuseinrieren zugewandte Metallisierung(6a,b,c,24a,b,c,d) ist direkt mit der Keramikplatte (5,23) verbunden und ist großflächiger als die Löt-. fläche der Halbleiterbauelemente, die dem Gehäuseinneren abgewandte Seite der Keramikplatte (5,23) ist ebenfalls mit einer Metallisierung (7,25) von gleicher Stärke wie die innere Metallisierung direkt verbunden, ein Hauptanschluß und der Steueranschluß der Leistungstransistoren (14,36) sind über Verbindungsdrähte (18,38) mit den entsprechenden inneren Metallisierungen (6a,c,24a,c) verbunden. - 2. Leistungstransistor-Modul nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Rahmen (1,19) mit Befestigungslaschen (2,20) zur Montage auf einem Kühlkörper versehen ist.
- 3. Leistungstransistor-Modul nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Keramikplatte (5,23) in eine umlaufende Vertiefung der Bodenseite des Rahmens (1,19) eingeklebt ist.BAD
- 4. Leistungstransistor-Modul nach Anspruch 3? dadurch gekennzeichnet, daß die Vertiefung in der Bodenseite des Rahmens (1,19) eine umlaufende Nut (8) zurAufnahme von Klebstoffresten aufweist. B
- 5. Leistungstransistor-Modul nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Anschlußelemente (10,12,17,26 bis 30) jeweils vergrößerte Fußteile (9,13,31) aufweisen.
- 6. Leistungstransistor-Modul nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Anschlußelemente (10,12,17,26 bis 30) jeweils Dehnungsbö-gen (33) mit verringertem Querschnitt aufweisen. 16
- 7. Leistungstransistor-Modul nach einem der vor stehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das Gehäuse in seinem unteren Teil mit einer weichen Vergußmasse (15,39) und in seinem mittleren Teil mit einer harten Vergußmasse (16,40) ausgefüllt ist.IAD ORIGINAL
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19823241508 DE3241508A1 (de) | 1982-11-10 | 1982-11-10 | Leistungstransistor-modul |
FR8317799A FR2535898A3 (fr) | 1982-11-10 | 1983-11-09 | Module de transistor de puissance |
JP58209260A JPS5999753A (ja) | 1982-11-10 | 1983-11-09 | 電力用トランジスタモジユ−ル |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19823241508 DE3241508A1 (de) | 1982-11-10 | 1982-11-10 | Leistungstransistor-modul |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3241508A1 true DE3241508A1 (de) | 1984-05-10 |
DE3241508C2 DE3241508C2 (de) | 1989-03-30 |
Family
ID=6177732
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19823241508 Granted DE3241508A1 (de) | 1982-11-10 | 1982-11-10 | Leistungstransistor-modul |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5999753A (de) |
DE (1) | DE3241508A1 (de) |
FR (1) | FR2535898A3 (de) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3516995A1 (de) * | 1984-05-11 | 1985-11-14 | Mitsubishi Denki K.K., Tokio/Tokyo | Halbleitereinrichtung |
DE3505086A1 (de) * | 1985-02-14 | 1986-08-28 | Brown, Boveri & Cie Ag, 6800 Mannheim | Leistungshalbleitermodul mit einem kunststoffgehaeuse |
DE3521572A1 (de) * | 1985-06-15 | 1986-12-18 | Brown, Boveri & Cie Ag, 6800 Mannheim | Leistungshalbleitermodul mit keramiksubstrat |
DE3528427A1 (de) * | 1985-08-08 | 1987-04-02 | Bbc Brown Boveri & Cie | Elektrische verbindungslasche fuer halbleiterbauelemente |
DE3610288A1 (de) * | 1986-03-26 | 1987-10-01 | Bbc Brown Boveri & Cie | Leistungshalbleitermodul |
DE3621994A1 (de) * | 1986-07-01 | 1988-01-14 | Bbc Brown Boveri & Cie | Leistungshalbleitermodul |
DE3717489A1 (de) * | 1987-05-23 | 1988-12-01 | Asea Brown Boveri | Leistungshalbleitermodul und verfahren zur herstellung des moduls |
DE4105155A1 (de) * | 1991-02-20 | 1992-09-03 | Export Contor Aussenhandel | Stromrichterschaltungsanordnung und ihre verwendung |
EP0660498A2 (de) * | 1993-12-23 | 1995-06-28 | IXYS Semiconductor GmbH | Vorrichtung und Verfahren zur Umformung von Drehstrom in Gleichstrom |
Families Citing this family (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3420535C2 (de) * | 1984-06-01 | 1986-04-30 | Anton Piller GmbH & Co KG, 3360 Osterode | Halbleiter-Modul für eine schnelle Schaltanordnung |
DE3604882A1 (de) * | 1986-02-15 | 1987-08-20 | Bbc Brown Boveri & Cie | Leistungshalbleitermodul und verfahren zur herstellung des moduls |
JPS6442160A (en) * | 1987-07-28 | 1989-02-14 | Sgs Thomson Microelectronics | Semiconductor device |
DE3915707A1 (de) * | 1989-05-13 | 1990-11-22 | Asea Brown Boveri | Kunststoffgehaeuse und leistungshalbleitermodul mit diesem gehaeuse |
US5202578A (en) * | 1989-09-11 | 1993-04-13 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Module-type semiconductor device of high power capacity |
JPH0671063B2 (ja) * | 1989-09-11 | 1994-09-07 | 株式会社東芝 | 大電力半導体装置 |
FR2660826A1 (fr) * | 1990-04-05 | 1991-10-11 | Mcb Sa | Boitier economique pour composants electroniques de puissance, a fixer sur dissipateur thermique et son procede de fabrication. |
GB2249869B (en) * | 1990-09-17 | 1994-10-12 | Fuji Electric Co Ltd | Semiconductor device |
US5243217A (en) * | 1990-11-03 | 1993-09-07 | Fuji Electric Co., Ltd. | Sealed semiconductor device with protruding portion |
EP0513410B1 (de) * | 1991-05-15 | 1993-12-15 | IXYS Semiconductor GmbH | Leistungshalbleitermodul und Verfahren zur Herstellung eines solchen Moduls |
JPH0521704A (ja) * | 1991-07-11 | 1993-01-29 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置およびその製造方法 |
JPH0515450U (ja) * | 1991-08-06 | 1993-02-26 | 株式会社三社電機製作所 | 電力用半導体モジユール |
JPH062714U (ja) * | 1992-06-03 | 1994-01-14 | 株式会社三社電機製作所 | 電力用半導体モジュール |
JP2838625B2 (ja) * | 1992-09-08 | 1998-12-16 | 株式会社日立製作所 | 半導体モジュール |
JP3316714B2 (ja) * | 1994-05-31 | 2002-08-19 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置 |
US5744861A (en) * | 1995-11-13 | 1998-04-28 | Asea Brown Boveri Ag | Power semiconductor module |
JP3168901B2 (ja) * | 1996-02-22 | 2001-05-21 | 株式会社日立製作所 | パワー半導体モジュール |
DE19719703C5 (de) * | 1997-05-09 | 2005-11-17 | eupec Europäische Gesellschaft für Leistungshalbleiter mbH & Co. KG | Leistungshalbleitermodul mit Keramiksubstrat |
US7994635B2 (en) * | 2007-05-18 | 2011-08-09 | Sansha Electric Manufacturing Co., Ltd. | Power semiconductor module |
Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3839660A (en) * | 1973-02-05 | 1974-10-01 | Gen Motors Corp | Power semiconductor device package |
DE2800304A1 (de) * | 1977-01-07 | 1978-07-13 | Varian Associates | Halbleiter-baugruppe |
DE2840514A1 (de) * | 1977-09-19 | 1979-03-22 | Gentron Corp | Leistungssteuergeraet und verfahren zum anbringen desselben |
DE2819327A1 (de) * | 1978-05-03 | 1979-12-13 | Semikron Gleichrichterbau | Halbleiterbaueinheit |
DE2939732A1 (de) * | 1978-10-23 | 1980-04-24 | Ford Werke Ag | Halbleiterdiodenanordnung und zweigweggleichrichter, insbesondere fuer wechselstromgeneratoren in kraftfahrzeugen |
DE3028178A1 (de) * | 1980-07-25 | 1982-02-25 | Brown, Boveri & Cie Ag, 6800 Mannheim | Leistungshalbleiter-modul |
DE8203300U1 (de) * | 1982-06-24 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Halbleiterbauelement mit Keramiksubstrat | |
DE8214214U1 (de) * | 1982-08-26 | Brown, Boveri & Cie Ag, 6800 Mannheim | Leistungshalbleiter mit einem quaderförmigen Gehäuse | |
DE3211975A1 (de) * | 1981-04-03 | 1982-10-21 | Le Silicium Semiconducteur SSC, 75008 Paris | Montagegehaeuse fuer halbleiterbauteile mittlerer leistung |
DE3204167A1 (de) * | 1982-02-06 | 1983-08-11 | Brown, Boveri & Cie Ag, 6800 Mannheim | Verfahren zum direkten verbinden von metallstuecken mit oxidkeramiksubstraten |
-
1982
- 1982-11-10 DE DE19823241508 patent/DE3241508A1/de active Granted
-
1983
- 1983-11-09 FR FR8317799A patent/FR2535898A3/fr active Granted
- 1983-11-09 JP JP58209260A patent/JPS5999753A/ja active Granted
Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE8203300U1 (de) * | 1982-06-24 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Halbleiterbauelement mit Keramiksubstrat | |
DE8214214U1 (de) * | 1982-08-26 | Brown, Boveri & Cie Ag, 6800 Mannheim | Leistungshalbleiter mit einem quaderförmigen Gehäuse | |
US3839660A (en) * | 1973-02-05 | 1974-10-01 | Gen Motors Corp | Power semiconductor device package |
DE2800304A1 (de) * | 1977-01-07 | 1978-07-13 | Varian Associates | Halbleiter-baugruppe |
DE2840514A1 (de) * | 1977-09-19 | 1979-03-22 | Gentron Corp | Leistungssteuergeraet und verfahren zum anbringen desselben |
DE2819327A1 (de) * | 1978-05-03 | 1979-12-13 | Semikron Gleichrichterbau | Halbleiterbaueinheit |
DE2939732A1 (de) * | 1978-10-23 | 1980-04-24 | Ford Werke Ag | Halbleiterdiodenanordnung und zweigweggleichrichter, insbesondere fuer wechselstromgeneratoren in kraftfahrzeugen |
DE3028178A1 (de) * | 1980-07-25 | 1982-02-25 | Brown, Boveri & Cie Ag, 6800 Mannheim | Leistungshalbleiter-modul |
DE3211975A1 (de) * | 1981-04-03 | 1982-10-21 | Le Silicium Semiconducteur SSC, 75008 Paris | Montagegehaeuse fuer halbleiterbauteile mittlerer leistung |
DE3204167A1 (de) * | 1982-02-06 | 1983-08-11 | Brown, Boveri & Cie Ag, 6800 Mannheim | Verfahren zum direkten verbinden von metallstuecken mit oxidkeramiksubstraten |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3516995A1 (de) * | 1984-05-11 | 1985-11-14 | Mitsubishi Denki K.K., Tokio/Tokyo | Halbleitereinrichtung |
DE3505086A1 (de) * | 1985-02-14 | 1986-08-28 | Brown, Boveri & Cie Ag, 6800 Mannheim | Leistungshalbleitermodul mit einem kunststoffgehaeuse |
DE3521572A1 (de) * | 1985-06-15 | 1986-12-18 | Brown, Boveri & Cie Ag, 6800 Mannheim | Leistungshalbleitermodul mit keramiksubstrat |
DE3528427A1 (de) * | 1985-08-08 | 1987-04-02 | Bbc Brown Boveri & Cie | Elektrische verbindungslasche fuer halbleiterbauelemente |
DE3610288A1 (de) * | 1986-03-26 | 1987-10-01 | Bbc Brown Boveri & Cie | Leistungshalbleitermodul |
DE3621994A1 (de) * | 1986-07-01 | 1988-01-14 | Bbc Brown Boveri & Cie | Leistungshalbleitermodul |
DE3717489A1 (de) * | 1987-05-23 | 1988-12-01 | Asea Brown Boveri | Leistungshalbleitermodul und verfahren zur herstellung des moduls |
DE4105155A1 (de) * | 1991-02-20 | 1992-09-03 | Export Contor Aussenhandel | Stromrichterschaltungsanordnung und ihre verwendung |
EP0660498A2 (de) * | 1993-12-23 | 1995-06-28 | IXYS Semiconductor GmbH | Vorrichtung und Verfahren zur Umformung von Drehstrom in Gleichstrom |
EP0660498A3 (de) * | 1993-12-23 | 1996-06-12 | Ixys Semiconductor Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Umformung von Drehstrom in Gleichstrom. |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5999753A (ja) | 1984-06-08 |
DE3241508C2 (de) | 1989-03-30 |
JPH0476212B2 (de) | 1992-12-03 |
FR2535898B3 (de) | 1984-10-12 |
FR2535898A3 (fr) | 1984-05-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3241508A1 (de) | Leistungstransistor-modul | |
EP0069901B1 (de) | Stromrichtermodul | |
DE102005050330B4 (de) | Leistungshalbleitervorrichtung und Herstellungsverfahren dafür | |
DE4430047C2 (de) | Leistungs-Halbleitermodul mit verbessertem Wärmehaushalt | |
EP0111659B1 (de) | Leistungstransistor-Modul | |
DE102006008632B4 (de) | Leistungshalbleiterbauteil und Verfahren zu dessen Herstellung | |
DE102013207804B4 (de) | Verfahren zum Herstellen eines Leistungsmoduls mit mittels Lichtbogenschweissen direkt verbundenen, wärmeleitenden Strukturen | |
DE69329501T2 (de) | Verpackung für elektronische Komponenten | |
DE69935628T2 (de) | Hybridmodul | |
DE102006037118B3 (de) | Halbleiterschaltmodul für Bordnetze mit mehreren Halbleiterchips, Verwendung eines solchen Halbleiterschaltmoduls und Verfahren zur Herstellung desselben | |
DE19601372A1 (de) | Halbleitermodul | |
DE19921109A1 (de) | Elektronikbauteil | |
DE10058446A1 (de) | Halbleitervorrichtung mit Abstrahlungsstruktur, sowie Verfahren zu ihrer Herstellung | |
EP0292848B1 (de) | Leistungshalbleitermodul und Verfahren zur Herstellung des Moduls | |
EP0118022B1 (de) | Stromrichtermodul mit Befestigungslaschen | |
DE102004060935B4 (de) | Leistungshalbleitervorrichtung | |
DE102019130778A1 (de) | Ein Package, welches ein Chip Kontaktelement aus zwei verschiedenen elektrisch leitfähigen Materialien aufweist | |
DE102004041088B4 (de) | Halbleiterbauteil in Flachleitertechnik mit einem Halbleiterchip und Verfahren zu seiner Herstellung | |
DE102017120747B4 (de) | SMD-Gehäuse mit Oberseitenkühlung und Verfahren zu seiner Bereitstellung | |
DE102016000264B4 (de) | Halbleiterchipgehäuse, das sich lateral erstreckende Anschlüsse umfasst, und Verfahren zur Herstellung desselben | |
DE102018212436A1 (de) | Halbleitergehäuse mit symmetrisch angeordneten leisungsanschlüssen und verfahren zu dessen herstellung | |
DE3432449C2 (de) | ||
DE102020202490B4 (de) | Halbleitervorrichtung und deren Herstellungsverfahren | |
DE102019135373B4 (de) | Halbleitervorrichtung und Verfahren zum Herstellen derselben | |
DE10303103B4 (de) | Halbleiterbauteil, insbesondere Leistungshalbleiterbauteil |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OM8 | Search report available as to paragraph 43 lit. 1 sentence 1 patent law | ||
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: BBC BROWN BOVERI AG, 6800 MANNHEIM, DE |
|
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: ASEA BROWN BOVERI AG, 6800 MANNHEIM, DE |
|
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8320 | Willingness to grant licences declared (paragraph 23) | ||
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: IXYS SEMICONDUCTOR GMBH, 68623 LAMPERTHEIM, DE |
|
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |