DE3045335C2 - - Google Patents

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Korrektur der durch seitliche Teilchenverschiebung auftretenden Meßfehler in radiometrischen Sortiersystemen, in denen zu sortierende Teilchen von einer Bezugslinie auf wenigstens einen Detektor seitlich abweichen können, wobei der Detektor auf eine gewünschte Eigenschaft im Teilchen anspricht und ein vom Ausmaß der im Teilchen vorhandenen gewünschten Eigenschaft abhängiges korrekturbedürftiges Ausgangssignal liefert.

Radiometrische Sortierverfahren sind in verschiedenen Aus­ führungen bekannt (US-PS 30 75 641, US-PS 30 52 353). Es sind auch Verfahren zur Korrektur von Meßgrößen durch Berücksichti­ gung anderer Meßgrößen bekannt (US-PS 39 87 391, US-PS 38 32 549).

Bei einem radiometrischen Teilchensortierer werden die Erz­ teilchen in mehreren in Abständen voneinander laufenden Reihen angeordnet, wobei die einzelnen Teilchen in jeder Reihe im Abstand voneinander liegen. Jede Teilchenreihe wird in einem Zählkanal über eine Reihe von hintereinander liegenden Detektoren geleitet, welche in einer Bleiabschirmung unter­ gebracht sind, und die radioaktive Zählungen, welche von den Detektoren für jedes Teilchen angezeigt werden, werden gesammelt, um ein Maß des radioaktiven Gehaltes des Teilchens zu erhalten.

Im Idealfall laufen die Teilchen in der Mittellinie des Kanals und werden infolgedessen unter identischen Bedingungen den Detektoren ausgesetzt. In der Praxis werden jedoch viele Teilchen, insbesondere die kleineren, infolge der Anforderungen an einen hohen Tonnage-Durchsatz und infolge der Grenzen des Zufuhrsystems für die Teilchen sowie infolge der Tatsache, daß der Sortierer imstande sein muß, Teilchen mit einem Größenbereich von 2:1 oder möglicherweise 3:1 zu behandeln, und infolge der Notwendigkeit, daß der Zählkanal eine Breite innerhalb der Bleiabschirmung von etwa dem zwei- bis dreifachen der maximalen Nenngröße des Teilchens haben muß, um eine Stapelung und ein Festklemmen der Teilchen innerhalb des Zählkanals zu verhindern, seitlich von der Mittellinie des Zählkanals verschoben und infolgedessen auch von der Mittel­ linie der Szintillationsdetektoren.

Die Szintillationsdetektoren besitzen normalerweise ein Szintillationskristall mit einem aus verschiedenen Gründen maximalen Durchmesser von 75 mm. U. a. soll dadurch die Aus­ wirkung der nachfolgenden und vorangehenden Teilchen bei zulässigen Teilchenabständen und die Hintergrundzählung niedrig gehalten werden, um die Empfindlichkeit und Selektivi­ tät für kleine minderwertige Teilchen aufrecht zu erhalten.

Viele Teilchen werden daher von der Mittellinie der Detektoren beträchtlich seitlich verschoben und ergeben eine beträcht­ lich reduzierte Zählung im Vergleich zu gleichen Teilchen, welche genau über die Mittellinie der Detektoren hinweglaufen, und zwar infolge des Gesetzes der umgekehrt quadratischen Dämpfung der Strahlung und auch infolge der Wirkung der Teilchen-Detektor-Geometrie.

Gewisse bereits beschriebene oder sogar hergestellte Sortier­ maschinen haben diese Wirkung ausgeglichen, indem eine be­ sondere Meßeinrichtung, welche als "single plane projected area volume measuring device" bekannt ist, verwendet wird, um den Einfluß der seitlichen Abweichung des Teilchens von der Mittellinie zu erfassen. Sie gleichen die Meßwerte der projizierten Fläche ab, um die Abweichung in einem Daten­ verarbeiter auszugleichen, um die Güte des Teilchens abzuleiten, d. h. die gemessene, projizierte Fläche oder das scheinbare Volumen werden reduziert, um die niedrigeren Zählungen aus­ zugleichen, welche das Teilchen infolge seiner Abweichung liefert. Während dieses Verfahren annehmbare Resultate liefert, wenn nur hochwertige Teilchen behandelt werden, welche Zählungen liefern, die beträchtlich über den Hintergrund­ zählungen liegen, so sind die Resultate keineswegs zufrieden­ stellend, wenn geringwertige Teilchen sortiert werden, deren Zählungen nur etwas über den Hintergrundzählungen liegen, da diese Korrektur der seitlichen Abweichung durch Reduzierung der scheinbaren Masse dazu führen kann, daß ein unergiebiges Teilchen, welches eine Hintergrundzählung sammelt, als Erz­ teilchen behandelt wird.

Aufgabe der Erfindung ist es, ein Verfahren anzugeben, mittels welchem durch seitliche Teilchenverschiebung auftretende Meßfehler, insbesondere auch beim Sortieren geringwertiger Teilchen, korrigiert werden können.

Die Aufgabe wird dadurch gelöst, daß das Maß der seitlichen Abweichung des Teilchens von der Bezugslinie bestimmt wird und an das Ausgangssignal des Detektors ein von dem Maß der seitlichen Abweichung abhängender Korrekturfaktor angelegt wird.

Um eine scheinbare Höherwertung eines unergiebigen oder sehr geringwertigen Teilchens zu vermeiden, wird der Korrekturfaktor lediglich dann angelegt, wenn das Ausgangssignal einen vor­ gegebenen Mindestwert überschreitet. Dieser Mindestwert kann statistisch bestimmt werden.

Es können mehrere Korrekturfaktoren experimentell vorbestimmt werden, wobei jeder Korrekturfaktor einer speziellen seitlichen Verschiebung oder einer seitlichen Verschiebung oder Abweichung innerhalb eines gegebenen Bereiches zugeordnet ist.

Erfindungsgemäß ist der Korrekturfaktor des weiteren zusätzlich abhängig von einem physikalischen Merkmal des Teilchens, wobei als physikalisches Merkmal zumindest die Form, die Höhe, das Volumen oder die Masse des Teilchens berücksichtigt werden.

Die Erfindung sieht außerdem ein Verfahren nach dem Patentanspruch 1 vor, bei welchem Teilchen in einer Reihe in Abständen hintereinander an mehreren in einer Reihe hintereinander angeordneter Detektoren vorbeigeführt werden, wobei diese Detektoren auf das Vorhandensein einer gewünschten Eigenschaft in den Teilchen ansprechen und für jedes Teilchen ein Ausgangssignal liefern, welches von dem Ausmaß der im Teilchen vorhandenen gewünschten Eigenschaft abhängt, welches dadurch gekennzeichnet ist, daß für jedes Teilchen die Ausgangssignale der Detektoren zusammen­ gefaßt werden, das Maß der Abweichung des Teilchens von der Mittellinie der Detektoren bestimmt wird und an die Zusammen­ fassung der Ausgangssignale ein Korrekturfaktor angelegt wird, welcher die durchschnittliche Abweichung des Teilchens von der Mittellinie ausgleicht.

Die Erfindung wird nachstehend anhand einiger in der Zeichnung wiedergegebener Ausführungsbeispiele im einzelnen erläutert; es zeigt

Fig. 1 in schematischer Darstellung ein außermittig über einen Szintillationszähler hinweggeführtes Teilchen;

Fig. 2 die vom Zähler angezeigte Zählungsreduzierung, wenn das Teilchen außermittig über ihn hinwegläuft, als Prozentsatz der für das in der Mittellinie des Detektors befindliche Teilchen gelieferten Maximal­ zählung;

Fig. 3 ein Schaltdiagramm einer elektronischen Schaltung zur Bestimmung der seitlichen Abweichung eines Teilchens;

Fig. 4 ein vereinfachtes Blockdiagramm eines Sortierungs­ systems zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens.

Fig. 1 zeigt einen Szintillationsdetektor in einer Erz-Sortier­ maschine, welcher ein von einer Bleiabschirmung 12 umgebenes Kristall 10 besitzt. Ein Förderband 14 führt Teilchen 16 über das Kristall hinweg, welche sortiert werden sollen.

Die Abschirmung 12 wird verwendet, um die Wirkungen von außen herkommender Strahlungen auf die vom Kristall angezeigte Zählung der Radioaktivität des gerade geprüften Teilchens zu reduzieren, ob es sich nun um Störstrahlung oder sonstige Strahlungen von benachbarten Teilchen handelt. Diese Ab­ schirmung macht allerdings gleichzeitig das Kristall richtungs­ empfindlicher, so daß, wenn das Teilchen von der Mittellinie 18 des Kristalls abweicht, die vom Kristall angezeigte Zählung verringert wird. Diese Verringerung kann in gewissem Maße dadurch bekämpft werden, daß die Oberkante 20 der Bleiab­ schirmung angefast wird, wodurch die Empfindlichkeit des Detektors auf außermittige Teilchen erhöht wird, doch wird dadurch der Detektor wieder anfälliger gegenüber Streu­ strahlungen.

Die Beziehung zwischen einer Verringerung der Zählung und einer Abweichung des Teilchens gegenüber der Mittellinie zeigt Fig. 2. Die Kurve in Fig. 2 hängt von der Form und Abmessung des geprüften Teilchens sowie von dem Abschrägungswinkel und der Größe der Abschrägung ab, zeigt jedoch unter praktisch allen Betriebsbedingungen eine scharfe Verringerung der an­ gezeigten Zählung bei zunehmender Außermittigkeit.

Die Erfindung beruht auf dem Abgleich der angezeigten Zählung für das Teilchen in Abhängigkeit von der seitlichen Abweichung eines Teilchens. Zur Bestimmung der seitlichen Abweichung eines Teilchens wird die in Fig. 3 dargestellte Schaltung verwendet.

Dieser Schaltplan ist durch eine gestrichtelte Linie in einen oberen und unteren Abschnitt unterteilt. Der obere Abschnitt bildet den Gegenstand des südafrikanischen Patentes 81/0253, und soll in seiner Wirkungsweise nachstehend kurz beschrieben werden. Der untere Abschnitt berechnet die seitliche Abweichung eines Teilchens von einer Bezugslinie unter Verwendung der im oberen Abschnitt gelieferten Daten.

Die im oberen Abschnitt dargestellte Anordnung dient zur volumetrischen Messung eines Teilchens 40, welches im freien Fluge vom Ende eines Förderbandes durch einen Rahmen 42 projiziert wird. Der Rahmen trägt Gruppierungen von LED′s und Fototransistoren, wobei die Bezugszeichen 44 und 46 waagerechte bzw. senkrechte Gruppen von LED′s bezeichnen und die Bezugs­ zeichen 48 und 50 entsprechende waagerechte und senkrechte Gruppen von Fototransistoren.

Die Schaltung des oberen Abschnittes enthält einen Takt­ oszillator 60, einen 4-Bit-Binärzähler 62, zwei 16-Kanal- Analog-Multiplexer 64 und 66, welche mit den waagerechten bzw. senkrechten Gruppen der Dioden verbunden sind, Hochleistungs- Treiberschaltungen 68, zwei entsprechende 16-Kanal-Demultiplexer 70 bzw. 72, astabile Multivibratoren 74, 76 und 78, UND-Gatter 80 und 81, 4-Bit-Binärzähler 82 und 84, einen Multiplikator 86, einen Parallel-Addierer 88, eine Sperre 90 und logische Glieder 92 bzw. 94. Das logische Glied 94 wird zum Gattern, zur Rückstellung zur Ermöglichung der Zählung benutzt, während das Glied 92 zur Feststellung der Länge des Teilchens in seiner Laufrichtung verwendet wird. Der Taktoszillator 60 treibt den 4-Bit-Binärzähler 62. Der 4-Bit-Ausgang des Binärzählers 62 wird durch den 16-Kanal-Analog-Multiplexer 66 decodiert, welcher die Dioden in der senkrechten Gruppe 46 einordnet und durch den Multiplexer 64, welcher die Dioden in der waagerechten Gruppe 44 einordnet. Die Ausgänge des Multiplexers werden in Hochleistungs-Treiberschaltungen 68 eingespeist, welche die LED′s treiben, um Lichtimpulse mit sehr hoher Intensität zu liefern.

Ein jeder Multiplexer soll daher sequentiell die LED′s in jeder Gruppe wie beschrieben mit Impulsen beaufschlagen. Die zuge­ ordneten, die Lichtsignale feststellenden Fototransistor- Ausgänge werden parallel dem 16-Kanal-Demultiplexer 72 in der senkrechten Ebene und 70 in der waagerechten Ebene eingespeist. Da diese Demultiplexer durch die Binärzähler 72 synchron angetrieben werden, entspricht die Impulsfolge seitens der Demultiplexer dem sequentiellen Impulsbetrieb der betreffenden Diodengruppen, so daß von jedem Fototransistor je nachdem, ob er verdeckt ist oder nicht, ein starker oder schwacher logischer Impuls erhalten wird.

Die Ausgänge der Demultiplexer werden an die astabilen Multi­ vibratoren 76 bzw. 74 weitergeleitet, welche die Breite und Höhe des Teilchens einstellen. Der Breitenimpuls wird ver­ wendet, um den Taktimpuls durch das UND-Gatter 80 durchzu­ lassen, und der Höhenimpuls läßt den Taktimpuls durch das UND-Gatter 81 durch. Die Ausgänge der Gatter werden dem Zähler 84 für die senkrechte Ebene und dem Zähler 82 für die waagerechte Ebene zugeleitet.

Das logische Glied 94 stellt die Binärzähler zu Beginn einer jeden Abtastperiode zurück und hält die Binärzähler am Ende einer jeden Abtastperiode an.

Infolgedessen wird am Ende einer jeden Abtastperiode eine der Anzahl der in der vertikalen Ebene abgedeckten Fototransistoren entsprechende Zählung in dem Binärzähler 82 gespeichert und eine der Anzahl der in der horizontalen Ebene abgedeckten Fototransistoren entsprechende Zählung im Binärzähler 84 gespeichert. Die binären Ausgänge dieser Zähler werden dem 4-Bitx4-Bit-Multiplikationssystem 86 eingespeist, und der 16-Bit-Ausgang dieses Multiplikators, welcher der projizierten Querschnittsfläche einer 5mm langen Scheibe des Teilchens entspricht, wird dem Zusatz-Parallel-Addiersystem 88 zuge­ leitet. Dieses Addiersystem wird durch das System 84 auf Null zurückgestellt, wenn ein eintreffendes Teilchen erstmals von den Fototransistoren festgestellt wird, und ein 16-Bit- Multiplikationsprodukt, welches die Querschnittsfläche einer 5mm-Scheibe darstellt, wird dann zusätzlich addiert oder gesammelt, und zwar am Ende einer jeden sequentiellen Abtastung des Teilchens, so daß die Gesamtsummierung über die Länge des Teilchens das projizierte Volumen des Teilchens darstellt. Sobald das logische Glied 92 das Ende des Teilchens fest­ gestellt hat, wird die Ausgangssperre 90 freigegeben und der das projizierte Teilchenvolumen darstellende Ausgang dieser Sperre steht dann bei Bedarf zur weiteren Verarbeitung zur Verfügung.

Der untere Abschnitt der Schaltung, d. h. der Abschnitt unter der gestrichelten Linie, weist ein Flip-Flop 100 mit einer Teilung im Verhältnis 1:2, ein UND-ODER-Gatter 102, einen AUF- AB-Zähler 104, eine Sperre 106, ein NOR-Gatter 108 und einen Monoflop 110 mit mehreren Eingängen auf.

Die Taktimpulse, von denen jeder einem 5mm-Abstand entsprechend dem Abstand zwischen den Paaren von LED′s und Fototransistoren im oberen Abschnitt, d. h. dem Abschnitt zur Größenbestimmung entspricht, werden dem Flip-Flop 100 zugeleitet. Die direkten Taktimpulse gehen auch zu einem Eingang B des Gatters 102 und die Halbtakt-Frequenzimpulse des Flip-Flop 100 gehen zu einem Eingang A des Gatters 102. Zu Beginn einer Größenabtastung ist der -Ausgang des astabilen Multivibrators 76, welcher die Teilchenlänge darstellt, niedrig, wenn kein Teilchen den Lichtstrahl abdeckt, und dieser niedrige Ausgang stellt das Gatter 102 dann derart ein, daß der Eingang B gewählt wird und die Größe dem Zähler 104 zugeleitet wird. Außerdem stellt zu Beginn einer Größenabtastung der Ausgang des logischen Gliedes 94 den Zähler auf 8 und die hintere negative Kante des vorher eingestellten Impulses löst die Rückwärtszählung aus. Der Zähler 104 zählt dann die Taktimpulse, bis ein Teilchen einen Lichtstrahl verdeckt. Der Ausgang des astabilen Multivibrators 76 steigt dann für die Breite des Teilchens an. Dieser hohe Eingang am Gatter 102 wählt dann den Eingang A mit einer Halbtakt-Frequenzeingabe, und der Zähler 104 zählt dann mit Halbtakt-Frequenz bezüglich der Breite des Teilchens. Dieser hohe Wert seitens des astabilen Multivibrators 76 gibt auch die Sperre 106 frei, so daß die Zählungen am Ausgang des Zählers 104 an den Ausgang der Sperre 106 übertragen werden. Der Multivibrator 76 fällt ab, wenn der Größenabtaster die Kante des Teilchens passiert hat, und dieser niedrige Wert sperrt dann den Ausgang der Sperre 106, um die Zählungen an der Kante des Teilchens festzuhalten. Da der Zähler 104 während der Teilchenbreite mit Halbtakt-Frequenz gezählt hat und da der Zähler auf eine Rückwärtszählung von 8 eingestellt war, stellt der Ausgang der Sperre 106 dann die seitliche Abweichung der Teilchenmitte von der Mitte des Größenfest­ stellers in Einheiten von 5mm dar.

Wenn das Teilchen über die Mitte des Größenfeststellers hinausragt oder vollkommen außerhalb der Mitte liegt, dann zählt der Zähler 104 weiter rückwärts bis zur binären Zählung 0, wenn die Zählerausgänge insgesamt niedrig sind und infolge­ dessen der Ausgang des Gatters 108 ansteigt. Dadurch wird der Monoflop 110 ausgelöst, und dessen Ausgang wird gesperrt, wenn der Zähler zu Beginn der Größenabtastung auf Rückwärtszählung eingestellt ist. Da ein 0-Ausgang am Zähler dann der Mittel­ linie des Größenfeststellers äquivalent ist, wird der Abstand des Ausgabeteilchens von der Mittellinie des Abtasters unge­ achtet der seitlichen Position des Teilchens gemessen.

Fig. 4 zeigt in vereinfachter schematischer Form ein Sortier­ system, bei welchem Korrekturen durchgeführt werden, um die seitlichen Abweichungen oder Verschiebungen oder Teilchen auszugleichen.

Die zu sortierenden Teilchen 202 werden in einer Reihe in Abständen hintereinander auf einem Förderband 200 an mehreren in einer Reihe angeordneten Detektoren 204 vorbeigeführt. Die Radioaktivitätszählungen der Detektoren für jedes Teilchen werden getrennt in einem Speicher 206 zusammengezählt. Das Volumen und die seitliche Abweichung eines jeden Teilchens werden in der beschriebenen Weise mittels des Gerätes 208 entsprechend der in Fig. 3 dargestellten Einrichtung gemessen. Die Daten des Speichers 206 und der Einrichtung 208 werden in einem Speicher 210 einer Verarbeitungseinrichtung 212 ge­ speichert. Ein Festwertspeicher 214, welcher eine Matrix empirisch bestimmter Korrekturfaktoren bezüglich einer seit­ lichen Abweichung enthält, ist für die Verarbeitungseinrichtung 212 zugänglich. Die Korrekturfaktoren beruhen auf Kurven der in Fig. 2 dargestellten Art und werden unter Laboratoriums­ bedingungen durch Messung der Merkmale von repräsentativen Erzproben bestimmt. Die Teilchen werden entsprechend relevanten Parametern wie beispielsweise ihrem Volumen oder ihrer Höhe, der Masse oder der Form kategorisiert. In dieser Beziehung bedient man sich des in dem südafrikanischen Patent 81/0253 beschriebenen Verfahrens.

Für jede Teilchenkategorie werden Messungen an repräsentativen Detektoren durchgeführt, um die Beziehung zwischen Zählungs­ reduzierung und außermittiger Verschiebung entsprechend Fig. 2 festzustellen. Diese Daten werden im Speicher 214 gespeichert.

Jedes Teilchen auf dem Förderband 200 wird aufgrund der im Speicher 210 festgehaltenen Daten kategorisiert und, wenn seine Abweichung bekannt ist, wird vom Verarbeitungsgerät ein Überprüfungsprogramm durchgeführt, um den geeigneten Korrektur­ faktor im Speicher 214 zu orten. Wenn die Korrekturfaktoren in der gleichen Weise wie die Kurve aus Fig. 2 ausgedrückt sind, d. h. als Prozentsatz der Maximalzählung eines Teilchens in Bezug auf seinen Abstand von der Mitte, dann muß der im Speicher 206 gespeicherte Zählungsausgang mit dem umgekehrten Wert der prozentualen Verringerung multipliziert werden. Dies wird ohne weiteres vom Verarbeitungsgerät durchgeführt. Nach weiteren an sich bekannten Berechnungen zur Feststellung der Güte des Teilchen unter Verwendung des korrigierten Zählungswertes wird vom Verarbeitungsgerät eine Entscheidung bezüglich Gut oder Schlecht getroffen und ein bekanntes Sortiergerät 216, beispielsweise eine Luftblasdüse, wird entsprechend betätigt.

Eine weitere Verfeinerung, welche durch die Erfindung erreicht wird, besteht darin, daß ein Korrekturfaktor nur dann an ein Ausgangssignal angelegt wird, wenn das Ausgangssignal über einem empirisch bestimmten Minimalwert liegt, der u. a. vom Störpegel abhängt. Dadurch wird eine Höherwertung von uner­ giebigen oder sehr geringwertigen Teilchen verhindert.

Auch die Schaltungselemente und arithmetischen und logischen Blöcke aus Fig. 3 sind als standardgemäße Schaltelemente jedem Fachmann der Elektronik bekannt, so daß die Schaltungseinzel­ heiten nicht wiedergegeben sind. Das in Fig. 3 dargestellte System besitzt ein Feld mit 16 Elementen mit einem ent­ sprechenden elektronischen System, doch kann dieses Feld naturgemäß auch mehr Elemente enthalten.

Claims (5)

1. Verfahren zur Korrektur der durch seitliche Teilchenver­ schiebung auftretenden Meßfehler in radiometrischen Sortier­ systemen, in denen zu sortierende Teilchen von einer Bezugs­ linie auf wenigstens einen Detektor seitlich abweichen können, wobei der Detektor auf eine gewünschte Eigenschaft im Teilchen anspricht und ein vom Ausmaß der im Teilchen vorhandenen gewünschten Eigenschaft abhängendes korrekturbedürftiges Ausgangssignal liefert, dadurch gekenn­ zeichnet, daß das Maß der seitlichen Abweichung des Teilchens (16) von der Bezugslinie (18) bestimmt wird und an das Ausgangssignal des Detektors (204) ein von dem Maß der seitlichen Abweichung abhängender Korrekturfaktor angelegt wird.

2. Verfahren nach Anspruch 1, bei welchem Teilchen in einer Linie in Abständen hintereinander an mehreren in einer Reihe hintereinander angeordneter Detektoren vorbeigeführt werden, wobei diese Detektoren auf das Vorhandensein einer gewünschten Eigenschaft in den Teilchen ansprechen und für jedes Teilchen ein Ausgangssignal liefern, welches von dem Ausmaß der im Teilchen vorhandenen gewünschten Eigenschaft abhängt, dadurch gekennzeichnet, daß für jedes Teilchen (16) die Ausgangssignale der Detektoren (204) zusammengefaßt werden, das Maß der Ab­ weichung des Teilchens von der Mittellinie (18) der Detektoren bestimmt wird und an die Zusammenfassung der Ausgangssignale ein Korrekturfaktor angelegt wird, welcher die durchschnitt­ liche Abweichung des Teilchens von der Mittellinie (18) ausgleicht.

3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Korrekturfaktor lediglich dann angelegt wird, wenn die Zusammenfassung der Ausgangssignale einen gegebenen Wert überschreitet.

4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Korrekturfaktor ferner von einem physikalischen Merkmal des Teilchens (16) abhängt.

5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß als physikalisches Merkmal zumindest die Form, die Höhe, das Volumen oder die Masse des Teilchens (16) berücksichtigt wird.