DE2806160C2 - Schaltungsanordnung zum Messen von auf Leiterplatten eingelöteten Kondensatoren - Google Patents
Schaltungsanordnung zum Messen von auf Leiterplatten eingelöteten KondensatorenInfo
- Publication number
- DE2806160C2 DE2806160C2 DE19782806160 DE2806160A DE2806160C2 DE 2806160 C2 DE2806160 C2 DE 2806160C2 DE 19782806160 DE19782806160 DE 19782806160 DE 2806160 A DE2806160 A DE 2806160A DE 2806160 C2 DE2806160 C2 DE 2806160C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- measuring
- time
- circuit arrangement
- measured
- digital voltmeter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
- G01R27/26—Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
- G01R27/2605—Measuring capacitance
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft eine Schaltungsanordnung zum Messen von auf Leiterplatten zusammen mit anderen
Bauteilen eingelöteten Kondensatoren, insbesondere von Stützkondensatoren.
Fertig bestückte Leiterplatten weisen eine gewisse Kapazität zwischen den einzelnen Leiterbahnen auf.
Insbesondere kommt diese Kapazität dadurch zustande, daß beispielsweise zwischen der spannungsführenden
Leitung und der Erdleitung je nach verwendeter Technik ein oder mehrere Stützkondensatoren eingebaut
sind. Diese Stützkondensatoren sind erforderlich, um beispielsweise bei schnellen Schaltern in der
Umschaltphase eine zusätzliche Energie an die Bauelemente der Leiterplatte zu liefern.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Schaltungsanordnung anzugeben, mit der schnell und
genau diese Kapazitäten gemessen werden können. Fehlströme, die beispielsweise durch die anderen
Bauelemente bedingt sind, dürfen das Meßergebnis nicht verfälschen.
Es sind schon zahlreiche Geräte bekannt, mit denen Kapazitäten gemessen werden, beispielsweise Meßbrücken.
Auf dem Umweg über eine Ladezeitmessung können sie auch berechnet werden. Alle diese
Meßmethoden haben den Nachteil, daß die Einflüsse der anderen sich auf der Leiterplatte befindenden Bauelemente
nicht ausgeschaltet werden können. Aus diesem Grunde beschränkte man sich bisher meistens auf eine
Sichtprüfung der Leiterplatten.
Die gestellte Aufgabe wird gemäß der Erfindung dadurch gelöst, daß die Kapazitätsmessung der Bauteile
in zwei Schritten vorgenommen wird, daß vor dem
ersten Meßschritt mit einem Kontakt durch Kurzschließen der Kapazitäten ein definierter Ausgangszustand
hergestellt ist, daß nach Beginn der Meßzeit ein anderer Kontakt eine Gleichspannungsquelle mit niedriger
Meßspannung, die unter der Ansprechschwelle von Halbleiter-Bauelementen liegt, für eine von einem
Zeitglied abgemessene Zeitspanne über ein integrierendes Digitalvoltmeter an die Kapazitäten anlegt, daß das
Digitalvoltmeter das Strom-Zeit-Integral der Ladung
der Kapazitäten beim ersten Meßschritt mißt, daß dieses Meßergebnis in einem ersten Speicher abgelegt
wird, daß in einem zweiten Meßschritt mit dem gleichen Zeitglied eine gleiche Zeitspanne abgemessen wird,
während der bei geladenen Kapazitäten das Digitalvolt-
meter ebenfalls das Strom-Zeit-Integral mißt, daß, gegebenenfalls nach einer Zwischenspeicherung des
zweiten Meßergebnisses, ein Subtrahierer den Differenzwert bildet, und daß dieser Differenzwert nach
einer Umrechnung in Kapazitätseinheiten digital ausgegeben wird.
Dadurch, daß die Messung in zwei Schritten vorgenommen wird, wobei im ersten Schritt sämtliche
Ströme in der abgemessenen Zeitspanne erfaßt werden, im zweiijn Schritt nur die Ströme bei geladenen
Kondensatoren, ist das Meßergebnis ein exakter Wert der vorhandenen Kapazitäten. Alle Leckströme, Parallelwiderstände
sowie sonstige Bauteile, die einen Dauerstrom zwischen den Leitern verursachen, sind
durch die Subtraktion der beiden Werte eliminiert.
Selbst Nullfehler des verwendeten Digitalvoltmeters fallen bei dieser Messung heraus.
Durch die Schaffung eines definierten Ausgangszustandes mit Hilfe des einen Koniaktes werden die
Kapazitäten zunächst entladen. Auf diese Weise kommt
man bei wiederholter Messung zu einem jederzeit reproduzierbaren Meßergebnis.
Dadurch, daß der die Kapazitäten kurzschließende Kontakt und der die Meßspannung anlegende Kontakt
nach Beginn der Meßzeit geschaltet werden, ist die
Erfassung des gesamten Strom-Zeit-Integrals gewährleistet.
Die Messung wird mit einer geringen Meßspannung durchgeführt, die unter der Ansprechschwelle von
Halbleiter-Bauelementen liegt. Dadurch ist der Einfluß von parallel zu den Kapazitäten liegenden Halbleiterbauelementen
so gering, daß ihr Einfluß vernachlässigt werden kann. Darüber hinaus braucht die Polung von
angeschalteten Elektroiytkondensatoren nicht berücksichtigt zu werden.
Eine weitere vorteilhafte Ausgestaltung der Erfindung ergibt sich aus den in den Unteransprüchen
genannten Merkmalen.
Ein Beispiel der Erfindung wird anhand der Zeichnung näher erläutert. Während in F i g. 1 eine
Schaltungsanordnung dargestellt ist, mit der die Kapazität eingebauter Kondensatoren, insbesondere
von Stützkondensatoren, gemessen werden kann, zeigt Fig.2 den Verlauf der Messung und das Spiel der
Kontakte in Abhängigkeit von der Zeit.
Die Gleichspannungsquelle U der F i g. 1 liefert eine
niedrige Meßspannung von beispielsweise 0,2 Volt. Diese Spannungsquelle ist über ein Digitalvoltmeter D
mit zwei Leiterbahnen verbunden, zwischen denen ein
oder mehrere Stützkondensatoren Or eingelötet sind.
Das Digital voltmeter D hat einen inneren Widerstand Ri, an dem der Spannungsabfall, verursacht durch den
durch die Schaltungsanordnung fließenden Strom, gemessen wird. Zusätzlich ist auch noch ein Parallelwiderstand
Rp vorgesehen, der, durch einen Kontakt 3 schaltbar, den Meßbereich des inicgrierenden Digitalvoltmeters
D erweitert. Bei mehreren Meßbereichen sind auch mehrere derartige Parallelwiderstände vorgesehen,
die je nach der Größe der zu messenden Kapazität wahlweise eingeschaltet werden.
Das Digitalvoltmeter D enthält auch noch eine Steuerung St die die Steuersignale zum Betätigen der
Kontakte 1 und 2 vom Einschaltezeitpunkt des Digitalvoltmeters ableitet. Der Arbeitskontakt 1 und
der Ruhekontakt 2 sind in der Regel mit Halbleiterschaltern
realisiert. Ein Zeitkreis Z steuert die Dauer der einzelnen Meßvorgänge.
Im Digitalvoltmeter D sind außerdem noch Speicher 51, S 2 vorgesehen, in denen die gemessenen Werte bis
zu ihrer weiteren Verwertung gespeichert werden. Außerdem ist in diesem Gerät auch noch ein
Subtrahierer Sr eingebaut, mit dem zwei in den Speichern Sl, 52 abgelegte Werte voneinander
subtrahiert werden können, um sie anschließend mit Hilfe einer Digitalanzeige sichtbar zu machen.
Die gesamte Messung setzt sich aus zwei Teilvorgängen zusammen, wie aus F i g. 2, Kurve m, ersichtlich ist.
Beim Starten der Messung wird im Digitalvoltmeter D ein Zeitkreis Z angeworfen, der den ersten Schritt der
Messung bestimmt. Zu diesem Zeitpunkt ist der Kontakt 2 noch geschlossen, so daß sich durch Entladen der
Kapazitäten Cx ein definierter Ausgangszustand einstellt. Erst wenn dieser Zustand erreicht ist, öffnet der
Kontakt 2 (Fig.2, Kurve 2). Etwa zur gleichen Zeit schließt der Kontakt 1 (Kurve 1) und vollendet damit
den Stromkreis, in dem die Kapazitäten Cx durch die Meßspannungsquelle U geladen werden. Der Kontakt 1
bleibt für eine Zeitdauer geschlossen, die ein Vielfaches der Ladezeitkonstante der Kapazitäten beträgt.
Nach Ablauf der vom Zeitglied Z im Digitalvoltmeter D abgemessenen Zeit öffnet wieder der Kontakt 1. Das
Strom-Zeit-Integral, das vom Digitalvoltmeter D festgestellt worden ist, wird nun in einem ersten
Speicher 51 abgelegt. In diesem Meßwert ist jedoch nicht nur der Wert der Ladungsmenge der Kapazitäten
Cx enthalten, sondern, weil auch noch andere Bauteile sich zwischen den Leiterhahnen befinden, auch noch der
Strom durch diese Bauelemente und eventuelle Leckströme. Diese zusätzlichen Größen werden nun in
einem zweiten Meßschritt festgestellt und eliminiert.
Zu diesem Zweck wird das Zeitglied Z ein zweites Mal für genau die gleiche Zeit betätigt Jetzt bleibt jedoch der Kontakt 2 geöffneL Wegen der kurzen Zeit zwischen den beiden Messungen können auch durch Leckströme die Kapazitäten Cx nicht entladen werden.
Zu diesem Zweck wird das Zeitglied Z ein zweites Mal für genau die gleiche Zeit betätigt Jetzt bleibt jedoch der Kontakt 2 geöffneL Wegen der kurzen Zeit zwischen den beiden Messungen können auch durch Leckströme die Kapazitäten Cx nicht entladen werden.
ίο Der nun während der abgemessenen Zeitdauer
festgestellte zweite Strom ist folglich nur der Fehlstrom, der durch die einzelnen Schaltelemente auf der
Leiterplatte bedingt ist
Dieser Wert wird nun, gegebenenfalls nach einer Zwischenspeicherung in einem zweiten Speicher 52,
von dem ersten gemessenen Wert mit Hilfe des enthaltenen Subtrahierers Srabgezogen. Das so erzielte
Ergebnis ist ein Maß der den Stützkondensatoren Cx zugeführten Ladung.
Diese Ladung wird daraufhin im Digitalvoltmeter D umgerechnet und über die digitale Anzeige ausgegeben.
Dabei ist die Meßwertausgabe so eingerichtet daß der angezeigte Wert gleich als Kapazitätswert der Stützkondensatoren
Cx abgelesen werden kann.
Es ist bisher beschrieben, daß die Speicher S1,52 der
Subtrahierer Sr, die Steuereinrichtung Si und das Zeitglied Z im Digitalvoltmeter D eingebaut sind. Diese
Zusatzgeräte können aber auch außerhalb des Digitalvoltmeters D, beispielsweise in einem Rechner, zusammengefaßt
sein und von dort aus mit einem unveränderten, handelsüblichen integrierenden Digitalvoltmeter
zusammenarbeiten.
Bei der Festlegung der Meßspannung ist darauf zu achten, daß diese unterhalb der Ansprechschwelle von
Halbleiter-Bauelementen liegt, damit diese nicht durchschalten und auf diese Weise zusätzliche Querströme
hervorrufen. Außerdem braucht bei der Anschaltung des beschriebenen Kapazitätsmessers nicht auf die
Polarität der angeschlossenen Kondensatoren geachtet zu werden, weil bei einer so geringen Spannung auch
Elektrolytkondensatoren weder zerstört noch sonstwie beeinträchtigt werden.
In besonderen Fällen kann auf die zweite Messung verzichtet werden. Außerdem ist durch die Dimensionierung
des Meßkreises eine direkte Anzeige der Kapazität sowohl im Ein- und Zweischritt-Meßverfahren
möglich.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (1)
- Patentansprüche:3. Schaltungsanordnung zum Messen von auf Leiterplatten zusammen mit anderen Bauteilen eingelöteten Kondensatoren, insbesondere von Stützkondensatoren, dadurch gekennzeichnet, daß die Kapazitätsmessung der Bauteile in zwei Schritten vorgenommen wird, daß vor dem ersten Meßschritt mit einem Kontakt (2) durch Kurzschließen der Kapazitäten (Cx) ein definierter Ausgangszustand hergestellt ist, daß nach Beginn der Meßzeit ein anderer Kontakt (1) eine Gleichspannungsquelle (U) mit niedriger Meßspannung (0,2 V), die unter der Ansprechschwelle von Halbleiter-Bauelementen liegt, für eine von einem Zeitglied ^abgemessene Zeitspanne über ein integrierendes Digitalvoltmeter (D) an die Kapazitäten (Cx) anlegt, daß das Digitalvoltmeter (D) das Stfom-Z«it-Integral der Ladung der Kapazitäten (Cx) beim ersten Meßschritt mißt, daß dieses Meßergebnis in einem ersten Speicher (Sl) abgelegt wird, daß in einem zweiten Meßschritt mit dem gleichen Zeitglied (Z) eine gleiche Zeitspanne abgemessen wird, während der bei geladenen Kapazitäten (Cx) das Digitalvoltmeter (D) ebenfalls das Strom-Zeit-Integral mißt, daß, gegebenenfalls nach einer Zwischenspeicherung (S2) des zweiten Meßergebnisses, ein Subtrahierer (Sr) den Differenzwert bildet, und das dieser Differenzwert nach einer Umrechnung in Kapazitätseinheiten digital ausgegeben wird.2. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die vom Zeitglied ^abgemessene Zeitspanne um ein Mehrfaches größer ist als die Ladezeitkonstante der Kapazitäten (Cx)3. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Kontakte (1, 2) mit Halbleiterschaltern realisiert sind.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19782806160 DE2806160C2 (de) | 1978-02-14 | 1978-02-14 | Schaltungsanordnung zum Messen von auf Leiterplatten eingelöteten Kondensatoren |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19782806160 DE2806160C2 (de) | 1978-02-14 | 1978-02-14 | Schaltungsanordnung zum Messen von auf Leiterplatten eingelöteten Kondensatoren |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2806160A1 DE2806160A1 (de) | 1979-08-23 |
DE2806160C2 true DE2806160C2 (de) | 1982-10-21 |
Family
ID=6031918
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19782806160 Expired DE2806160C2 (de) | 1978-02-14 | 1978-02-14 | Schaltungsanordnung zum Messen von auf Leiterplatten eingelöteten Kondensatoren |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE2806160C2 (de) |
-
1978
- 1978-02-14 DE DE19782806160 patent/DE2806160C2/de not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2806160A1 (de) | 1979-08-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2347450C3 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Messen der elektrostatischen Kapazität eines Kondensators | |
DE4032842A1 (de) | Batteriespannungsmessgeraet | |
EP1574847B1 (de) | Schaltungsanordnung zur kapazitiven Feuchtemessung und Verfahren zum Betrieb derselben | |
DE69416871T2 (de) | Überprüfung defekter erdung für speisespannungsvorrichtung eines elektrozauns | |
DE2545325C3 (de) | Schaltungsanordnung zur Messung des Isolationswiderstandes erdfreier Starkstromschaltungen | |
DE19641648C1 (de) | Widerstandsmeßschaltung und Widerstandsmeßverfahren | |
DE2806160C2 (de) | Schaltungsanordnung zum Messen von auf Leiterplatten eingelöteten Kondensatoren | |
DE2653598A1 (de) | Datenerfassungssystem | |
DE10313264A1 (de) | Verfahren zum Testen von Bauelementen einer Schaltungsplatine | |
DE3639070A1 (de) | Verfahren zur messung des verhaeltnisses einer messgroessenabhaengigen kapazitaet zu einer referenzkapazitaet und einrichtung zur durchfuehrung des verfahrens | |
DE19528454C1 (de) | Verfahren und Schaltungsanordnung zur Messung einer Kapazität | |
DE4137758A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur polaritaetspruefung von elektrolytkondensatoren | |
DE2822467C2 (de) | ||
DE2305204C3 (de) | Schaltungsanordnung zum Umwandeln eines Eingangssignals in einen logarithmischen Wert | |
EP1629257A2 (de) | Verfahren und schaltungsanordnung zur detektion eines füllstands einer flüssigkeit | |
DE2547746C3 (de) | Vorrichtung zur Bildung des arithmetischen Mittelwertes einer Meßgröße | |
DE3405844A1 (de) | Kontrollvorrichtung fuer eine veraenderliche groessen messende messeinrichtung | |
DE1960770C3 (de) | Vorrichtung zur Messung der Gleichstromkapazität von Elektrolytkondensatoren | |
DE4409286C1 (de) | Verfahren zum Erkennen der Ursache eines Reset-Vorgangs eines durch einen Mikroprozessor gesteuerten Systems sowie Schaltung zum Durchführen des Verfahrens | |
DE1924975C3 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Überprüfung der Oberfläche eines Werkstttcks oder dergleichen | |
DE4001274C2 (de) | ||
DE1911421B2 (de) | Durch einen Elektromotor ange triebene Filmkamera | |
DE2949941C2 (de) | ||
DE2627936C3 (de) | Schaltungsanordnung zum Verkürzen der Einschwingvorgänge beim Messen kapazitätsbehafteter Widerstandswerte | |
DE2914871C3 (de) | Schaltungsanordnung zur kontinuierlichen Erfassung statistischer Kenngrößen |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OD | Request for examination | ||
D2 | Grant after examination | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |