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DE2722757B2 - - Google Patents

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Publication number
DE2722757B2
DE2722757B2 DE2722757A DE2722757A DE2722757B2 DE 2722757 B2 DE2722757 B2 DE 2722757B2 DE 2722757 A DE2722757 A DE 2722757A DE 2722757 A DE2722757 A DE 2722757A DE 2722757 B2 DE2722757 B2 DE 2722757B2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
switching element
input
transistor
main electrode
terminal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE2722757A
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English (en)
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DE2722757A1 (de
Inventor
Dennis Robert Allentown Pa. Wilson (V.St.A.)
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
AT&T Corp
Original Assignee
Western Electric Co Inc
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Filing date
Publication date
Application filed by Western Electric Co Inc filed Critical Western Electric Co Inc
Publication of DE2722757A1 publication Critical patent/DE2722757A1/de
Publication of DE2722757B2 publication Critical patent/DE2722757B2/de
Withdrawn legal-status Critical Current

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Description

Die Erfindung betrifft einen Lese-Auffrischdetektor mit einem ersten und zweiten Schaltelement, die je eine Steuerelektrode und eine erste und zweite Hauptelektrode besitzen, mit einem ersten und zweiten Eingangs/ Ausgangsanschluß, wobei die erste Hauptelektrode des ersten Scnaltelements und die Steuerelektrode des zweiten Schaltelements mit dem ersten Eingangs/Ausgangsanschluß und die erste Hauptelektrode des zweiten Schaltelements und die Steuerelektrode des ersten Schaltelement mit dem zweiteir Eingangs/Ausgangsanschluß verbunden sind, mit einem Schaltelement, das mit der zweiten Hauptelektrode des ersten und zweiten Schaltelements verbunden ist und periodisch deren Potential durch Anschaltung an eine Spannungsquelle auf ein vorgewähltes Potential einstellt, mit einem an die zweite Hauptelektrode des ersten und zweiten Schaltelementes angeschlossenen Schaltelement, das periodisch die Stromleitung über das erste und/oder das zweite Schaltelement ermöglicht und mit einer ersten und einer im wesentlichen identischen zweiten Nachladeschaltung, die je einen Kondensator mit einem ersten und zweiten Anschluß sowie ein drittes, viertes und fünftes Schaltelement mit je einer Steuerelektrode und einer ersten und zweiten Hauptelektrode aufweisen.
Integrierte Siliziumspeicher mit dynamischem, wahlfreiem Zugriff (RAM-Speicher) weisen eine Matrixanordnung von Speicherzellen auf, die je mit sich rechtwinklig kreuzenden Wort- und Bitleitungen verbunden sind. Wenn eine Information auf einer der Bitleitungen gelesen wird, so muß sie festgestellt und normalerweise verstärkt werden. Ein Detektor für diesen Zweck ist im Prinzip ein Flip-Flop, bei dem ein Strom von einem Anschluß zum anderen in Abhängigkeit von der Feststellung des Eingangssignals wechselt Jeder Anschluß ist an einen MOS-Lasttransistor in Reihe mit einem MOS-Schalttransistor verbunden. Das Gate (Steuerelektrode) jedes Schalttransistors ist überkreuz mit dem Drainanschluß des anderen Schalttransistors gekoppelt. An die gemeinsamen Drain-Anschlüsse der Lasttransistoren ist eine Versorgungsgleichspannung gelegt und ein Eingangssignal ist mit einem der Gate-Anschlüsse der Schalttransistoren gekoppelt Eines der Hauptprobleme dieses Detektors besteht darin, daß der Leistungsverbrauch verhältnismäßig hoch ist da praktisch immer ein Gleichstrom fließt
Die Verwendung des MOS-Detektor-Flip-Flops in Verbindung mit einer impulsförmigen Versorgungsspannung verringert den Leistungsverbrauch. Bei einer bekannten Schaltungsanordnung (DE-OS 24 18 936) ist
dazu ein Zusatztransistor vorgesehen, der als Einschaltbetätigungseinrichtung arbeitet und das Flip-Flop zu möglichen Zeitpunkten ausschaltet
Ein Lese-Auffrischdetektor muß, da das Lesen zerstörend erfolgt, eine Regenerierung oder Auffrischung durchführen. Eine bekannte Schaltungsanordnung (DE-OS 24 30 690), von der die Erfindung ausgeht, weist dazu mit den Flip-Flop-Knotenpunkten verbundene Nachladeschaltungen auf.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, den Aufwand für einen Lese-Auffrischdetektor zu verringern find insbesondere die für die praktische Verwirkung der Nachladeschaltungen erforderliche Siliziumfläche klein zu halten.
Zur Lösung der Aufgabe geht die Erfindung aus von einem Lese-Auffrischdetektor der eingangs genannten Art und ist dadurch gekennzeichnet, daß die Steuerelektrode des dritten Schaltelements jeder Nachladeschaltung mit der ersten Hauptelektrode des vierten Schaltelements, der zweiten Hauptelektrode des fünften Schaltelements und einem Anschluß des Kondensators verbunden ist, daß die zweiten Hauptelektroden des dritten und vierten Schaltelements miteinander und mit einem Eingangs/Ausgangsanschluß verbunden sind, und daß der andere Anschluß des Kondensators und die Steuerelektrode des vierten Schaltelements an impulsförmige Spannungen und die erste Hauptelekt- 'e des dritten und fünften Schaltelements an Gleichspannungen anschaltbar sind.
Gegenüber der bekannten Schaltungsanordnung sind für die Nachladeschaltung entsprechend der Erfindung nur vier Schaltelemente erforderlich und außerdem wird nur eine Versorgungsspannungsqueile benötigt
Weiterbildungen der Erfindung sind Gegenstand der Unteransprüche.
Die Arbeitsweise eines Ausführungsbeispiels der Erfindung ist die folgende: Am Anfang eines Zyklus wird die Spannungsausgleichsschaltung aktiviert, derart, daß die beiden Eingangs/Ausgangsanschlüsse im wesentlichen m ihrem Potential ausgeglichen werden. Praktisch gleichzeitig werden die Source-Anschlüsse des kreuzgekoppelten Paares auf ein Potential eingestellt, das im wesentlichen gleich dem der Eingangs/Ausgangsanschlüsse ist Dann wird die zur Herstellung der Anfangsbedingungen benutzte Schaltung außer Tätigkeit gesetzt Anschließend wird eil Eingangssignal 1 oder 0, in typischer Weise das Lesesignal einer Speicherzwelle eines dynamischen Speichers mit wahlfreiem Zugriff (RAM) an einen Eingangs/Ausgangsanschluß gelegt, und ein Bezugssignal mit einem Potentialwert in der Mitte zwischen einem 1- und O-Signal wird an den anderen Eingangs/Ausgangsanschluß gegeben. Dadurch wird eine Unsymmetrie für die Potentiale der beiden Eingangs/Ausgangsanschlüsse bewirkt Danach wird ein leitender Weg hergestellt, derart, daß einer der Transistoren des kreuzgekoppelten Paares leiten kann und den angekoppelten Eingangs/Ausgangsanschluß entladen kann. Die Stromleitung Ober einen der Transistoren des kreuzgekoppelten Paares erhöht den Potentialunterschied zwischen den beiden Eingangs/Ausgangsanschlfissen wetter und führt damit zu einer Spannung oder eines Festhaltens des kreuzgekoppelten Paares. Anschließend wird ein Spannungsimpuls an den Kondensator jeder Nachladeschaltung angelegt Wenn der Eingangs/Ausgangsanschluß zu Anfang aui den 1-Pegel aufgeladen war, dann wird die an ihn gekoppelte Nachladeschaltung eingeschaltet und der Eingangs/Ausgangsanschluß auf den 1-Potentialpegel zuzüglich einer Schwellenwertspannung aufgeladen und nicht nur auf einen Wert im Bereich einer Schwellenwertspannung für den 1-Pegel. Dadurch wird sichergestellt, daß während des Nachladens ein voller 1-Pegel zurück in die Speicherzelle geschrieben wird. Wenn das Eingangssignal eine 0 ist, dann schaltet die zugeordnete Nachladeschaltung nicht ein und die 0 wird aufrechterhalten. Die Nachladeschaltungen könenn praktisch überall
in an den Bitleitungen eines RAM angeordnet werden, so daß sich ein großer Spielraum für die konstruktive Auslegung ergibt Darüberhinaus ist der für die praktische Verwirklichung des Lese-Auffrischdetektorverstärkers erforderliche Siliziumfläche verhältnismä-
n Big klein. Dadurch wird eine Verkleinerung von ÄAAf-Speichern bei Anwendung der Erfindung ermöglicht Schließlich besteht am Ende jedes Betriebszyklus des Lese-Auffrischdetektorverstärkers kein Gleichstromweg und während eines Zyklus tritt nur kurzzeitig
.hi eine Stromleitung auf. Demgemäß wird der Leistungsverbrauch verhältnismäßig niedrig gehalten.
Nachfolgend soll die Erfindung anhand der Zeichnung näher beschrieben werden. Es zeigt F i g. 1 einen Lese-Auffrischdetektorverstärker ent- > sprechend einem Ausführungsbeispiel der Erfindung;
F i g. 2 grafisch typische Kurvenformen, die bei dem Ausführungsbeispiel gemäß F i g. 1 benutzt werden.
In F i g. 1 ist ein dynamischer Lese-Auffrischdetektor 10 dargestellt der die Transistoren Q1 bis Q15 enthält
3ii Zur Erläuterung wird angenommen, daß alle Transistoren n-Kanal-MOS-Transistoren sind. Ein MOS-Transistor wird als betätigt oder eingeschaltet angegeben, wenn das Potential seines Gate-Anschlusses mit Bezug auf den Source-Anschluß eine solche Amplitude und
r, Polarität besitzt daß eine Stromleitung zwischen dem Source- und Drain-Anschluß stattfindet Dagegen ist ein MOS-Transistor abgeschaltet, wenn das Potential seines Gate-Anschlusses nicht ausreicht oder die falsche Polarität besitzt um eine Stromleitung zwischen seinem
-in Source- und Drain-Anschluß zu ermöglichen.
Die Drain-Anschlüsse der Transistoren Q 3, Q 4, Q 6, Qb, Q 9, Q12 und Q13 sind alle an eine Versorgungsspannung VDD (typisch +12V) angeschlossen. Der Source-Anschluß des Transistors Q 7 ist mit einer Versorgungsspannung V55 (typisch 0 V) verbunden. Die Gate-Anschlüsse der Transistoren Q 3, Q 4, Q 5, Q 6, Q 8 und Q13 sind alle mit einer Spannungsimpulsquelle PC verbunden. Der Gate-Anschluß des Transistors Q 7 ist mit einer Spannungsimpulsquelle 51
w gekoppelt Die Gate-Anschlüsse der Transistoren Q11 und Q14 sowie dii Drain- und Sourceanschlüsse der Transistoren QlO und Q15 sind alle mit eimr Spannungsimpulsquelle 52 verbunden. Die Source-Anschlüsse der Transistoren Q3, Q9 und QIl sowie die Drain-Anschlüsse der Transistoren QI, Q5 und der Gate-Anschluß des Transistors Q 2 liegen an einem Eingangs/Ausgangsanschluß A. Ein parasitärer Kondensator CA ist zwischen den Eingangs/Ausgangsanschluß A und die Versorgungsjpannung VBB (typisch
oü —5 V) geschaltet Die Source-Anschlüsse der Transistoren Q 4, Q 5 und Q12 sowie der Gate-Anschluß des Transistors Ql sind an den Eingang?/Ausgangsanschluß B angeschaltet Ein parasitärer Kondensator CB liegt zwischen dem Eingangs/Ausgangsanschluß B und
tv-, der Versorgungsspannung VBR Die Source-Anschlüüse der Transistoren Ql, Q2 und Q6 sowie der Drain-Anschluß des Transistors Q 7 sind mit dem Knotenpunkt C verbunden. Der Source-Anschluß des
Transistors QS, die Gate-Anschlüsse der Transistoren Q9, Q10 und der Drain-Anschluß des Transistors Q11 sind an den Knotenpunkt D angeschlossen. Der Transistor QlO ist als Kondensator geschaltet. Die Gate-Anschlüsse der Transistoren (?12, <?15, der Source-AnschluB des Transistors Q13 und der Drain-Anschluß des Transistors Q14 sind mit dem Knotenpunkt E verbunden. Der Transistor Q\5 ist als Kondensator geschaltet.
Eine Speicherzelle, beispielsweise die in dem strichpunktiert dargestellten Rechteck 12 enthaltene Speicherzelle ist eine von einer Anordnung von Speicherzellen eines RAM und ist über eine Bitleitung mit dem Eingangs/Ausgangsanschluß A verbunden. Eine Bezugszelle, beispielsweise die in dem strichpunktiert dargestellten Rechteck 14 enthaltene Zelle ist mit dem Eingangs/Ausgangsanschluß B gekoppelt. Die in dem strichpunktiert dargestellten Rechteck 12 enthaltende Speicherzelle wird üblicherweise als geschaltete Kondensfitor-Speicherzelle bezeichnet. Sie enthält den Transistor QXS und einen Kondensator CC. Der Gate-Anschluß des Transistors Q18 ist mit einer Wortleitung WL gekoppelt. Ein Anschluß des Kondensators CC liegt am Source-Anschluß des Transistors Q18 und der andere Anschluß des Kondensators ist mit der Versorgungsspannung VDD verbunden. Der Drain-Anschluß des Transistors Q 18 liegt am Eingangs/Ausgangsanschluß A. Die in dem strichpunktiert dargestellten Rechteck 14 enthaltene Bezugszelle weist die Transistoren Q 16, Q 17 und den Kondensator CD auf. Der Drain-Anschluß des Transistors Q16 liegt am Eingangs/Ausgangsanschluß B und sein Gate-Anschluß ist mit einer Bezugswortleitung WR einer RAM-Speicheranordnung (nicht dargestellt) verbunden. Der Source-Anschluß der Transistoren Q\%, Q\7 und ein Anschluß des Kondensators CD sind zusammengeschalteL Der zweite Anschluß des Kondensators CD ist mit der Versorgungsspannung VDD und der Gate-Anschluß des Transistors ζ) 17 ist mit der Versorgungsspannung PC verbunden. Der Drain-Anschluß des Transistors QX7 liegt an einer Impulsspannungsquelle VMR.
Die in dem Rechteck 12 gezeigte Zelle und ihre Betriebsweise sind bekannt. Wenn der Transistor Q 18 eingeschaltet wird, so wird das Potential des Eingangs/ Ausgangsanschlusses A an den Kondensator CC übertragen. Eine in der Speicherzelle gespeicherte 1 bewirkt, daß deren Kondensator auf ein Potential von etwa VOD abzüglich einer Schwellenwertspannung aufgeladen wird. Eine in der Speicherzelle gespeicherte 0 bewirkt, daß deren Kondensator auf ein Potential von etwa VSS geladen wird. Eine 1 wird in die Speicherzelle 12 durch Einschalten des Transistors Q18 und Anlegen eines Potentials von VDD zuzüglich einer Schwellenwertspannung an den Drain-Anschluß des Transistors Q18 (Eingangs/Ausgangsanschluß A) geschrieben. Das Auslesen von Informationen aus der Speicherzelle 12 wird dadurch erreicht, daß der Transistor ζ) 18 eingeschaltet wird, so daß dessen Drain-Anschluß (Eingangs/Ausgangsanschluß A) sein Potential in Abhängigkeit von der gespeicherten Information (der Spannung des Kondensators CC) ändern kann. Das Auslesen erfolgt zerstörend, so daß die ursprünglich gespeicherte Information aufgefrischt, (zurückgeschrieben) werden muß. Andernfalls geht sie verloren.
Die im strichpunktiert dargestellten Rechteck 14 enthaltene Bezugszelle beinhaltet im wesentlichen die gleiche Speicherzelle wie die im Rechteck IZ Es ist
jedoch der Knotenpunkt zwischen dem Transistor Q U und dem Kondensator CD ebenso wie über Her Transistor QX6 auch über den Transistor QW zugänglich. Eine Information wird in die Bezugszelle 1' in Abhängigkeit von der Spannung des Kondensator! CD geschrieben. In typischer Weise wird diese: Kondensator auf eine Spannung aufgeladen, deren Wen in der Mitte zwischen einer 1 iinri piner 0 lieg·, und zwei durch Abschalten des Transistors Q16 und Einschalter des Transistors ()17 sowie Anlegen des richtiger Potentials (VMR) an den Drain-Anschluß des Transi stors Q\7. Das Auslesen wird durch Einschalten de! Transistors Q16 bewirkt, so daß sich das Potential de! Drain-Anschlusses des Transistors Q16 (Eingangs/Aus gangsanschluß B) in Abhängigkeit von der in dei Bezugszelle 14 gespeicherten Information ändern kann Die Information in der Speicherzelle 14 wird beirr Auslesen zerstört und dadurch wieder hergestellt, daC der Transistor Q17 erneut eingeschaltet und eir geeignetes Potential angelegt wird. Dieses Potentia mittleren Wertes sorgt für eine symmetrische Störgren ze, d. h. die Differenzspannung zwischen einem an der Eingangs/Ausgangiianschluß A angelegten Signal 1 unc der an den Eingangs/Ausgangsanschluß D angelegter Bezugsspannung ist im wesentlichen die gleiche wie zwischen einem an den Eingangs/Ausgangsanschluß A angelegten Signal 0 und der an den Eingangs/Ausgangsanschluß B angelegten Bezugsspannung. CA und Ct stellen die parasitäre Kapazität der Schaltungsanordnung 10 zuzüglich der der gesamten zugeordneter Bitleitung eines RAM (nicht dargestellt) und der an sie angekoppelten Speicherzellen dar. In typischer Weise sind CA und CB wesentlich größer als CC und CD Demgemäß beträgt bei Einschalten des Transistors Q16 und QXH die Ände:rung der Potentialdifferenzen der Eingangs/Ausgangsdnschlüsse A und B in typischer Weise nur mehrere hundert Millivolt.
Die Schaltungsanordnung 10 arbeitet wie folgt: Zu Anfang wird PC auf dem Pegel 1 und WL, WR, SX und S2 werden auf dem Pegel 0 gehalten. Der Anschluß VMR wird auf einem Potential zwischen den Pegeln 1 und 0 gehalten. Dadurch werden die Transistoren Q 3, Q 4, Q 5, (?6 QS und Q 13 eingeschaltet. Unter diesem Umständen werden der Knotenpunkt D auf VDD abzüglich der Schwellenwertspannung des Transistors QS, der Knotenpunkt E auf VDD abzüglich der Schwellenwertspannung des Transistors QX3 und der Knotenpunkt Cauf VDD abzüglich der Schwellenwertspannung des Transistors Q 6 aufgeladen. In typischer Weise haben die Transistoren Q 3 und QA praktisch die gleiche Schwellenwertspannung, da sie so ausf.wählt werden, daß sie die gleiche Geometrie besitzen, und zusammen auf einem einzigen Halbleiterplättchen einer integrierten Schaltung erzeugt werden. Jeder Unterschied in der Schwellenwertspannung der Transistoren Q 3 und Q 4 kann bewirken, daß die Eingangs/Ausgangsanschlüsse A und B auf unterschiedliche Potentialwerte eingestellt werden. Der Transistor Q 5 stellt sicher, daß die Eingangs/Ausgangsanschlüsse A und B praktisch auf das gleiche Potential eingestellt werden, und zwar dadurch, daß die Eingangs/Ausgangsanschlüsse A und B direkt miteinander verbunden werden, wenn der Transistor QS eingeschaltet wird.
Bei einem bevorzugten Ausführungsbeispiel der Erfindung ist die Geometrie des Transistors Q5 so gewählt, daß seine Schwellenwertspannung kleiner als die der Transistoren Q 3 und QA ist Dadurch wird sichergestellt, daß der Transistor QS vor den Transisto-
ren Q3 und Q4 eingeschaltet wird und daß, seihst nachdem die Anschlüsse A und B das Potential VDD abzüglich der Schwellenwertspannung des Transistors Q3 bzw. Q4 erreicht haben, der Transistor Q5 eingeschaltet bleibt. Selbst kleine Unterschiede in der Schwellenwertspannung der Transistoren <?3 und (?4 werden also beseitigt, weil der Transistor Q 5 sicherstellt, daß die Eingangs/Ausgangsanschlüsse A uriu B in ihrem Potential angeglichen werden. Wenn demgemäß die Transistoren Q 3, QA und Q 5 eingeschaltet sind, werden die Eingangs/Auseangsanschlüsse A und B auf ein Potential von etwa VDD abzüglich der Schwellenwertspannung der Transistoren (J 3 oder Q 4 (welche von ihnen jeweils niedriger ist) eingestellt. Der Transistor ζ?5 erhöht demgemäß die Empfindlichkeit des I.ese-Auffrischdetektorverstärkers IO dadurch, daß die Eingangssignale etwas kleiner sein können als sie bei NichtVerwendung des Tr.insistors Q5 zulässig wären. Für viele Anwendungen ist jedoch der Transistor f>5 unnötig und kann weggelassen werden. ;u
Typische Spannungskurven zur Verwendung bei der Schaltung nach F-" i g. 1 sind in F-" i g. 2 gezeigt. Zu Anfang werden PC auf VDD und WL. WR. 51 und 5 2 auf VSS gehalten. Wie oben ani:egeben. beträgt VDD typische + 12 V und VSStypisch 0 V. /'C'wird dann impulsförmig auf VSS gebracht Dadurch verbleiben die Eingangs/ Ausgangsanschlüssc A und B sowie die Knotenpunkte C. D und F. schwimmend auf einem Potential von etwa VDD abzüglich einer Schwellenwertspannung. Wie oben bereits erläutert, ist der Wert der Schwellenwertspannung eine Funktion des bzw. der an den jeweiligen Eiiigangs/Ausgangsanschluß oder Schaltungsknoten angekoppelten Transistoren. Wenn PC auf VSS ist. werden die Potentiale WL und WR impulsförmig von V55auf VDDgebracht. Dadurch werden die Transisto· ren ζ) 16 und Q 18 eingeschaltet, so daß die Eingangs/ Ausgangsanschlüsse A und ßihr Potential entsprechend der in der Speicherzelle 12 bzw. der Bezugszelle 14 gespeicherten Information ändern.
Nimmt man an, daß die Speicherzelle eine 1 (VDD *a abzüglich einer Schwellenwertspannung) und die Bezugszellc ein Potential in der Mitte zwischen 1 und 0 gespeichert hat, so bleibt der Eingangs/Ausgangsanschiuß A auf im wesentlichen VDD abzüglich einer Schwellenwertspannung und der Eingangs/Ausgangs-Anschluß B wird entladen auf eine Spannung etwa unterhalb von VDD abzüglich einer Schwellenwertspannung. Demgemäß wird also eine Spannungsdifferenz zwischen den Eingangs/Ausgangsanschlüssen A und θ erzeugt.
51 wird dann impulsförmig von VSS auf VDD gebracht. Dadurch schaltet der Transistor Ql ein, wodurch der Knotenpunkt C sich von VDD abzüglich einer Schwellenwertspannung auf VSS entlädt. Wenn der Knotenpunkt C sich auf VDD abzüglich von zwei Schwellenwertspannungen entladen hat, wird der Transistor Q 2 eingeschaltet Dann beginnt der Eingangs/AusgangsanschiuB B sich in Richtung auf VSS zu entladen. Der Transistor Q1 bleibt abgeschaltet, so daß der Eingangs/Ausgangsanschluß A auf VDD abzüglich einer Schwellenwertspannung bleibt Zu diesem Zeitpunkt ist der Transistor Q 12 eingeschaltet, so daß ein Strom von VDD über die eingeschalteten Transistoren <?12 ,Q 2 und <?7 nach VSS fließt Das Verhältnis zwischen den geometrischen Abmessungen der Transistören Ο12 und O2 ist so gewählt, daß der Verstärkungsfaktor von Q 2 wesentlich größer als der von Qi2 ist Dadurch wird sichergestellt, daß der Eingangs/Ausgangsanschluß ßin seinem Potential etwa um eine Schwellenwertspannung oberhalb von VSS liegt. Diese Bedingung hält den Transistor Q\ abgeschaltet, so daß der Eingangs/Ausgangsanschluß A schwimmend auf einem Potential von VDD abzüglich einer Schwellenwertspannung bleibt.
Nach einer gewissen Verzögerung (typisch 15 ns) wird 52 impulsförmig von VSS auf VDD abzüglich einer Schwellenwertspannung gebracht. 52 ist mit den Transistoren ζ) 10, QW, ζ) 14 und Q 15 verbunden. Die Transistoren Q10 und Q15 sind beide vorher eingeschaltet worden und wirken demgemäß zu diesem Zeitpunkt als Kondensatoren. Wenn die Spannung am Gate-Anschluß des Transistors Q 14 einen Wert gleich dem Potential des Eingangs/Ausgangsanschlusses B zuzüglich einer Schwellenwertspannung erreicht, so wird der Transistor Q14 eingeschaltet, und das Potential des Gate-Anschlusses des Transistors Q 12 (Knotenpunkt E) beginnt in Richtung auf das Potential des Eingangs/Ausgangsanschlusses B abzusinken. Der Transistor Q12 wird ausgeschaltet und der Eingangs/ Ausgangsanschluß B entlädt sich vollständig auf VSS. Zu dem Zeitpunkt, zu dem 52 die Spannung VDD abzüglich einer Schwcllenwertspannung erreicht, befindet sich der Eingangs/Ausgangsanschluß A auf einer Spannung von etwa VDD abzüglich einer Schwellenwertspannung. Der Transistor QW. der abgeschaltet worden war. bleibt abgeschaltet, und das Potential des Knotenpunktes D wird auf einen Wert von wenigstens VDD zuzüglich einer Schwellenwertspannung erhöht. Wenn das Potential des Knotenpunktes D auf einen Wert von wenigstens einer Schwellenwertspannung oberhalb von VDD ansteigt, so erhöht sich das Potential des Eingangs/Ausgangsanschlusses A (Source-Anschluß des Transistors Q9) von einem anfänglichen Potential VDD abzüglich einer Schwellenwertspannung auf den Wert VDD. Die endgültigen Potentiale der Eingangs/ Ausgangsanschlüsse A und B betragen daher VDDbzw. VSS. Dadurch wird das Auslesen einer 1 aus der Speicherzelle 12 angegeben. Es werden jetzt die Potentiale der Eingangs/Ausgangsanschlüsse A unj/ oder B abgefühlt. Der Transistor Q 18 ist zu diesem Zeitpunkt bereits eingeschaltet und sein Drain-Anschluß liegt auf dem Potential VDD. Dadurch wird die Speicherzelle 12 aufgefrischt (rückgeschrieben), und zwar durch Aufladen des Kondensators CC auf VDD abzüglich einer Schwellenwertspannung, d. h., auf eine 1.
Es sei darauf hingewiesen, daß zu diesem Zeitpunkt keine Gleichstromwege zwischen VDD und VSS vorhanden sind. Demgemäß wird der Gleichstromverbrauch verhältnismäßig niedrig gehalten. Außerdem wird die Störgrenze hoch gehalten, da die Speicherzelle auf VDD abzüglich einer Schwellenwertspannung aufgefrischt wird, weil der Eingangs/Ausgangsanschluß A auf VDD aufgeladen wird, obwohl die aus der Speicherzelle zum Eingangs/Ausgangsanschluß A gelesene Information auf VDD abzüglich einer Schwellenwertspannung war.
Es werden jetzt PQ WL, WR, Si und 52 impulsförmig zurück auf die ursprünglichen Pegel gebracht und es kann ein neuer Zyklus der Schaltungsanordnung 10 beginnen.
Wenn die in der Speicherzelle 12 gespeicherte Information eine 0 statt eine 1 ist, so wird der Transistor Q1 eingeschaltet und der Eingangs/Ausgangsanschluß A entlädt sich in Richtung auf VSS Dadurch wird der Transistor QIl eingeschaltet und entlädt sich dann den Gate-Anschluß des Transistors Q9, wodurch dieser
Transistor ausschaltet. Dann kann sich der Eingangs/ AusgangsanschluD A auf VSS entladen. Der Transistor Q 18 ist zu diesem Zeitpunkt bereits eingeschaltet und sein Drain-Anschluß liegt auf dem Potential VSS. Auf diese Weise wird die Speicherzelle aufgefrischt, weil der Kondensator CC auf das ursprüngliche Potential VSS zurückgebracht wird, eine 0. Der Eingangs/Ausgangsanschluß B wird a'if VOD aufgeladen, da der Transistor (? 12 eingeschaltet bleibt und der Knotenpunkt E auf wenigstens VDD zuzüglich einer Schwellenwertspannung aufgeladen wird.
Wenn die Speicherzelle 12 eine 1 enthält, wird der Eingangs/AusgangsanschluO A auf VDD gebracht. Wenn eine 0 gespeichert ist, so wird der Eingangs/Ausgangsanschluß A auf VSSgebracht. In beiden Fällen ist die Arbeitsweise der Schaltungsanordnung 10 so, daß alle möglichen Gleichstromwege zwischen VDD und VSS am Anfang und Ende eines Zyklus unterbrochen werden. Ein Gleichstromweg zwischen VDD und VSS besteht praktisch nur während der vorübergehenden Stromleitung über den Transistor Q\ und/oder Q 2 sowie die angekoppelten Nachladeschaltungen.
Es wurden vierundsechzig der oben beschriebenden Lese-Auffrischdetektorverstärker 10 als Teil eines dynamischen n-Kanal-RAM-Speichersystems mit 4096 Bits hergestellt, das auf einem einzigen Siliziumplättchen einer integrierten Schaltung erzeugt wurde. Jeder Lese-Auffrischdetektor wurde auf einer Halbleiterfläche von etwa 0,017 mm2 (26 Quadratmil) hergestellt. Das Potential VDD (typisch -5 V) wird an das Halbleitersubstrat angelegt. Der Speicher ist in zwei Anordnungen von 32 χ 64 Speicherzellen unterteilt, die durch die 64 kreuzgekoppelten Paare der Transistoren Q 1 und Q 2 getrennt sind Die 64 Nachladeschaltungen mit den Transistoren Q8, Q9, Q10 und Q 11 sind oberhalb der ersten Anordnung von Speicherzellen gelegen und mit deren Bitleitungen gekoppelt. Die 64 Nachladeschaltungen mit den Transistoren Q\2, Q\3, QU und Q 15 befinden sich unterhalb der zweiten Anordnung von Speicherzellen und sind mit deren Bitleitungen gekoppelt. Die Spannungen PC. SX, 52, WL, WR und VMR
ίο werden von der Schaltungsanordnung des RAM geliefert. Die Spannung PC. die im allgemeinen als Vorauflade-Spannungsimpuls bezeichnet wird, wird benutzt, um die Potentiale der Schaltungen des RAM außer den des Lese-Auffrischdetektors 10 einzustellen.
Der Aufbau der Nachladeschaltungen und insbesondere das Fehlen einer direkten Kreuzkopplung zwischen ihnen erleichtert die oben erläuterte Auslegung des RAM. Dadurch wird wiederum die Verkleinerung des gesamten Plättchens ermöglicht.
Der Leistungsverbrauch des Lese-Auffrischdetektors von MOS-Speichern hoher Kapazität stellt gegenwärtig einen verhältnismäßig großen Teil des Gesamtleistungsverbrauches dar. Der dynamische Betrieb des vorgestellten Lese-Auffrischdetektors ermöglicht einen verhältnismäßig niedrigen Leistungsverbrauch des gesamten RAM.
Es sind zahlreiche Abänderungen im Rahmen der Erfindung möglich. Beispielsweise können p-Kanal-MOS-Transistoren für die n-Kanal-MOS-Transistoren eingesetzt werden, falls die Polarität der Versorgungsspannungen und der Spannungsimpulse entsprechend geändert wird.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen

Claims (5)

Patentansprüche;
1. Lese-Auffrischdetektor mit einem ersten und zweiten Schaltelement, die je eine Steuerelektrode und eine erste und zweite Hauptelektrode besitzen, mit einem ersten und zweiten Eingangs/Ausgangsanschluß, wobei die erste Hauptelektrode des ersten Schaltelements und die Steuerelektrode des zweiten Schaltelements mit dem ersten Eingangs/Ausgangsanschluß und die erste Hauptelektrode des zweiten Schaltelements und die Steuerelektrode des ersten Schaltelements mit dem zweiten Eingangs/Ausgangsanschluß verbunden sind, mit einem Schaltelement, das mit der zweiten Hauptelektrode des ersten und zweiten Schaltelements verbunden ist und periodisch deren Potential durch Anschaltung an eine Spannungsquelle auf ein vorgewähltes Potential einstellt, mit einem an die zweite Hauptelektrode des ersten und zweiten Schaltelements angeschlossenen Schaltelement, das periodisch die Stromleitung über das erste und/oder das zweite Schaltelement ermöglicht, und mit einer ersten und einer im wesentlichen identischen zweiten Nachladeschaltung, die je einen Kondensator mit einem ersten und zweiten Anschluß sowie ein drittes, viertes und fünftes Schaltelement mit je einer Steuerelektrode und einer ersten und zweiten Hauptelektrode aufweisen, dadurch gekennzeichnet, daß die Steuerelektrode des dritten Schaltelements (Qi), QU) jeder Nachladeschaltung (QS bis Q12; Q12 bis Q15) mit der ersten Hauptelektrode des vierten Schaltelement (Q 11, Q14), der zweiten Hauptelektrode des fünften Schalteten ,nts (Q 8, Q13) und einem Anschluß des Kondensators (Q 10, Q\S) verbunden ist, daß die zweiten V luptelektroden des dritten und vierten Schaltelements (Q9, Q12; Q11, <?14) miteinander und mit einem Eingangs/Ausgangsanschluß (A, Bj verbunden sind, und daß der andere Anschluß des Kondensators (Q 10, Q15) und die Steuerelektrode des vierten Schaltelement.·; (Q 11, Q14) an impulsförmige Spannungen (S 2) und die erste Hauptelektrode des dritten und fünften Schaltelements (Q 9, Q12; QB, Q13) an Gleichspan nungen (Vpo) anschaltbar sind.
2. Detektor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die erste Hauptelektrode des dritten und fünften Schaltelements (Q9, Q12; Q8, Q13) jeder Nachladeschaltung miteinander verbunden sind, und daß die Steuerelektrode des vierten Schaltelements (QU, Q14) mit dem anderen Anschluß des Kondensators (Q 10, Q15) verbunden ist
3. Detektor nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß eine Spannungsausgleichsschaltung vorgesehen ist, die periodisch die Potentiale der beiden Eingangs/Ausgangsanschlüsse (A, B) ausgleicht und ein sechstes, siebtes und achte» Schaltelement (Q 3, Q 4, QS) mit je einem Steueranschluß und zwei Hauptelektroden aufweist, daß die Steueranschlüsse des sechsten, siebten und achten Schaltelements (Q 3, Q 4, QS) miteinander verbunden und die ersten Hauptelektroden des sechsten und siebten Schaltelements (Q 3, QA) zusammengeschaltet sind, daß die zweite Hauptelektrode des sechsten Schaltelements (Q 3) mit dem ersten Eingangs/Ausgangsanschluß (A) und der ersten Hauptelektrode des achten Schaltelement* (Q 5) verbunden ist, und daß die zweite Hauptelek-
trade des siebten Schaltelements (Q 4) mit dem zweiten Eingangs/Ausgangsanschluß (B) und der zweiten Hauptelektrode des achsen Schaltelements (Q S) verbunden ist
4. Detektor nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß alle Schaltelemente MOS-Transistoren sind.
5. Detektor nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß der Kondensator jeder NachlHeschaltung ein MOS-Transistor (Q 10, Q15) ist, bei dem die Gate-Elektrode den einen Anschluß und die zusammengeschalteten Source- und Drain-Elektroden den anderen Anschluß des Kondensators bilden.
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