DE2537343C3 - Verfahren zur densitometrischen Messung einer auf einem Trägermaterial entwickelten Substanzzone und Densitometer zur Durchführung des Verfahrens - Google Patents

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur densitometrischen Messung einer auf einem Trägermaterial entwickelten Substanzzone, bei dem ein die Substanzzone enthaltender Bereich des Trägermaterials mit monochromatischem Licht abgetastet und das erhaltene intensitätsmodulierte Licht in ein entsprechendes elektrisches Signal umgesetzt werden, sowie ein Densitometer zur Durchführung des Verfahrens, mit einer Einrichtung zur Projektion monochromatischen Lichts auf einen eine Substanzzone enthaltenden Bereich eines Trägermaterials, einer Einrichtung zur Erzielung einer Relativbewegung zwischen der Substanzzone und dem monochromatischen Licht und Abtastung eines zumindest einen Teil der Substanzzone umfassenden vorgegebenen i> ■ ^;ches des Trägermaterials und einer fotoelektriscnen Wandlereinrichtung zur Umsetzung des von dem Abtastbereich erhaltenen intensitätsmodulierten Lichts in ein einsprechendes elektrisches Signal.

In der Dünnschichtchromatographie oder Papierchromatographie sind bereits verschiedene Verfahren zur quantitativen Messung von Substanzen bekannt, die auf einer Dünnschichtplatte oder einer Papierunterlage entwickelt sind. Zur Elimination von Meßfehlern oder Meßungenauigkeiten, die auf einer unregelmäßigen Form und Lage oder dem diffusen Zustand verschiedener Substanzzonen beruhen, ist bereits ein Verfahren bekannt, bei dem eine Substanzzone auf einem Trägermaterial in einem Zickzackmuster mit einem Lichtstrahl abgetastet und das Profil der Dichteverteilung der Substanz aus dem erhaltenen Meßsignal

ίο abgeleitet wird, wobei die Quantität der Substanz durch Integration des Meßsignals bestimmt wird. Durch eine solche Zickzackabtastung lassen sich zwar die auf Unregelmäßigkeiten von Größe, Form und Lage oder dem diffusen Zustand von Substanzzonen herrührenden Probleme lösen, jedoch nicht diejenigen, die durch den »Hintergrund«, d. h, das Trägermaterial selbst oder das zum Entwickeln der Substanzzonen verwendete Lösungsmittel, verursacht werden. Ist z. B. eine Verunreinigung in dem Trägermaterial enthalten oder wird das Entwicklungslösungsmittel während der Entwicklung ausgespült, um den Hintergrund der Substanzzonen zu färben, treten Schwankungen in der Grundlinie des Meßsignals auf, die zu entsprechenden Fehlern in den Meßwerten führen. Wenn keine spezielle Wellenlänge von der Meßsubstanz absorbiert wird, wird die Meßsubstanz darüber hinaus gewöhnlich mit einem geeigneten Farbmittel angefärbt das gelegentlich unnötigerweise außer der Substanzzone auch den Hintergrund anfärbt, so daß ein erheblicher Anteil des Meßsignals von dem verfärbten Hintergrund verursacht wird, was ebenfalls eine Ungenauigkeit in die Messung einführt.

Aus der Druckschrift »Arzneimittel-Forschung« (Drug Research) 19, 1969. Seiten 1756 bis 1759, ist z. B.

ein Verfahren zur quantitativen Auswertung von Dünnschichtchromatogrammen durch Remissionsmessungen bekannt, bei dem Licht über einen Monochromator und ein optisches System auf eine Dünnschichtchromatographieplatte gerichtet, das diffus zurür'· ge- worfene, nicht absorbierte Licht gemessen und die erhaltenen Meßwerte mittels eines Aufzeichnungsgerätes in Kurvenform aufgezeichnet werden. Zur Berücksichtigung einer inhomogenen Verteilung der Substanz innerhalb eines Chromatogrammfieckes wird die Substanzzone mit Hilfe eines Motors an einer spaltförmigen Meßfläche vorbeigeführt, wodurch eine Kurve aufgezeichnet wird, dii den Remissionsgrad als Maß für die Lichtabsorption in Abhängigkeit von der Bewegungsrichtung angeben soll. Die Fläche unter dieser angenäherten Gauß'schen Kurve wird als Maß für die Menge der absorbierenden Substanz im Chromatogrammfleck über Eichkurven unter Zuhilfenahme einer Näherungsmethode ausgewertet, bei der das Quadrat der Fläche zwischen der aufgezeichneten Kurve und der zugehörigen Grundlinie mit der vorliegenden Substanzmenge in Relation gesetzt wird, indem diese Fläche als Produkt aus Spitzenwert- und Halbwertsbreite ermittelt wird. Eine möglichst konstante Grundlinie ist somit bei dieser Art dar Auswertung von erheblicher Bedeutung. Das bekannte Verfahren bezieht sich jedoch im wesentlichen allein auf die Gewinnung von Eichkurven, während keine Maßnahmen zur Kompensation der vorstehend beschriebenen Schwankungen der Grundlinie des Meßsignals aufgrund von Fremdsubstanzen im Meßbereich vorgesehen sind. Darüber hinaus ist aus der Zeitschrift »Naturwissenschaften« Nr. 53, 1966, Seiten 600 bis 609, ein für die Praxis aufgrund des erforderlichen hohen Rechenauf-

wandes kaum geeignetes quantitatives Auswertungsverfahren von Reflexionsspektren mittels der Kubelka-Munk-Funktion bekannt, dem jedoch in diesem Zusammenhang lediglich zu entnehmen ist, daß ein gemessener Extinktionskoeffizient gegenüber einem Standard geeicht bzw. normiert wird, wobei hier BaSC>4 als Standard Verwendung findet. Maßnahmen zur Kompensation von Schwankungen der Grundlinie des Meßsignals aufgrund der erläuterten Verunreinigungen des Meßbereiches sind auch bei diesem bekannten Verfahren nicht vorgesehen.

Aufgabe der Erfindung ist es daher, ein Verfahren zur densitometrischen Messung einer auf einem Trägermaterial entwickelten Substanzzone sowie ein Densitometer zur Durchführung dieses Verfahrens zu schaffen, die eine Erhöhung der Meßgenauigkeit durch direkte Korrektur bzw. Kompensation von Schwankungen der Grundlinie des Meßsignals während der Messung ermöglichen.

Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß das bei der Abtastung des außerhalb der Substanzzone liegenden Bereiches des Trägermaterials erhaltene elektrische Signal periodisch abgefragt und der abgefragte Signalwert jeweils für eine bestimmte Zeitdauer als Grundlinienkorrekturwert zwischengespeichert wird und daß das bei der Abtastung der Substanzzone erhaltene elektrische Signal mittels des zwischengespeicherten Grundlinienkorrekturwertes vor dem jeweils darauffolgenden Abfragevorgang korrigiert wird.

Das Densitometer weist zur Lösung dieser Aufgabe erfindungsgemäß eine Schaltungsanordnung zum periodischen Abfragen des bei der Abtastung des vorgegebenen Bereichs außerhalb der Substanzzone erhaltenen Wertes des elektrischen Signals, eine Speichereinrichtung zur Zwischenspeicherung des abgefragten Signalwertes für eine vorgegebene Zeitdauer und eine Korrekturschaltung zur Subtraktion des zwischengespeicherten Signalwertes von dem bei der Abtastung der Substanzzone vor dem jeweils nächsten Abfragevorgang erhaltenen Wert des elektrischen Signals und Bildung eines dem Subtraktionsergebnis entsprechenden grundlinienkorrigierten weiteren elektrischen Signals auf.

Da durch diese Maßnahmen nicht nur die von Verunreinigungen der Substanzzone und des Trägermaterials herrührenden Schwankungen der Grundlinie des Meßsignals, sondern auch die Beeinflussungen des Meßsignals aufgrund der Bewegung des Abtastlichtstrahls über den Meßbereich sowie aufgrund der Wellenlängenänderung des Abtastlichtstrahls bei WeI-lenlängenabtastuing direkt bei der Messung kompensiert ■werden können, bleibt die Grundlinie des Meßsignals unabhängig von äußeren Einflüssen konstant, wodurch sich die Meßgenauigkeit wesentlich erhöht

Gemäß einer vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung erfolgt eine relative Zickzackbewegung zwischen dem Abtasdichtstrahl und der Substanzzone. An einem vorgegebenen Punkt außerhalb der Substanzzone wird bei jedem Abtasthub der Zickzackbewegung der von dem außerhalb der Substanzzone liegenden Bereich des Trägermaterials ermittelte Meßwert als Grundlinienkorrekturwert für diesen oder den nachfolgenden Abtasthub der Zickzackbewegung gespeichert. Das heißt, ein an einem Punkt außerhalb der Substanzzone in einem Abtasthub der Zickzackbewegung gemessener Lichtwert wird von dem innerhalb der Substanzzone bei diesem oder dem nachfolgenden Abtasthub der Zickzackbewegung gemessenen Lichtwert subtrahiert, so daß das Ausgangsmeßsignal bezüglich des von der Absorption des Hintergrundes bzw. Trägermaterials der gemessenen Substanzzone verursachten Fehlers kompensiert wird.

Die Erfindung wird nachstehend anhand von Ausführungsbeispielen unter Bezugnahme auf die Zeichnung näher beschrieben. Es zeigt

Fig. la eine schematische Darstellung des bereits vorgeschlagenen Verfahrens zur Zickzackabtastung einer Substanzzone auf einer Dünnschichtchromatographieplatte, die eine erhebliche Hintergrundsabsorption für das Abtastlicht aufweist,

Fig. Ib eine Profilkurve des Meßsignals, das bei der Zickzackabtastung gemäß F i g. 1 a erhalten wird,

Fig. Ic eine Integrationskurve des Meßsignals gemäßFig. Ib,

F i g. 2a eine schematische Darstellung des erfindungsgemäßen Zickzackabtastverfahrens mit Grundlinienkorrektur bei einer Substanzzone gemäß F i g. 1 a,

Fig. 2b eine Profilkurve des Meßsignals, das bei der Zickzackabtastung gemäß F i g. 2a erhalten wird,

Fig.2c eine Integrationskurve des Meßsignals gemäß F i g. 2b,

F i g. 3 ein schematisches Schaltbild eines Ausführungsbeispiels einer Schaltung zur Grundlinienkorrektur,

F i g. 4a eine schematische Darstellung eines Verfahrens zur hin- und hergehenden Abtastung einer Dünnschichtchromatographie-Substanzzone in y-Richtung, wobei die Wellenlänge des Abtastlichtstrahles in verschiedenen Abtasthüben der hin- und hergehenden Bewegung des Lichtstrahles geändert wird,

Fig.4b eine Kurve des Meßsignals, das bei dem Verfahren gemäß F i g. 4a mit hin- und hergehender Abtastung ohne Grundlinienkorrektur erhalten wird,

Fig.4c eine Kurve ähnlich Fig.4b, wobei die Grundlinie erfindungsgemäß korrigiert ist

F i g. 5 eine schematische Darstellung eines erfindungsgemäßen Densitometers,

Fig.6a eine Draufsicht auf eine Einrichtung zur Erzielung einer Zickzackbewegung der Dünnschichtchromatographieplatte gegenüber dem Abtastlichtstrahl mit einem Detektor für die Abtaststrahlposition, Fig.6b eine Draufsicht in Richtung des Pfeiles B gemäß F i g. 6a,

F i g. 6c eine Draufsicht in Richtung des Pfeiles C gemäß F i g. 6a,

F i g. 6d eine Seitenansicht in Richtung des Pfeiles D gemäß Fig.6c,

F i g. 7a einen vergrößerten vertikalen Schnitt entlang der Linie £-£gemäß F i g. 6a, wobei der Detektor für die Abtaststrahlpositior. detailliert dargestellt ist,

F i g. 7b einen Schnitt entlang der Linie F-F gemäß Fig.7a,

F i g. 7c eine Seitenansicht eines Teiles von F i g. 7a,
F i g. 8 ein schematisches Blockschaltbild eines weiteren Ausführungsbeispieles der Schaltung zur Grundlinienkorrektur,

Fig.9 Signalverläufe zur Erläuterung der Arbeitsweise der Schaltung gemäß F i g. 8,

Fig. 10a die Beziehung zwischen der Zickzackabtastung einer Dünnschichtchromatographie-Substanzzone, der Messung des Grundlinien-Ausgangssignals und des Integrationsbereiches des Ausgangs-Meßsignals bei dem Zickzack-Abtastverfahren,

Fig. 10b eine Profilkurve, die bei dem Verfahren gemäß F i g. 10a erhalten wird, und

Fi g. lOc eine Integrationskurve, die bei dem Verfahren gemäß F i g. 10a erhalten wird.

In den Fig. la und 2a ist schematisch eine Substanzzone 1 gezeigt, die auf einer Dünnschichtchromatographieplatte entwickelt ist Die Platte ist mit einer Verunreinigung, die als Staubpunkte IM gezeigt ist, verunreinigt, deren Dichteverteilung sich in der Richtung AT ändert, das heißt in der Richtung, in der der Meßfleck entwickelt wird, oder in der Richtung der Ganghöhe der Zickzackabtastung, die nachstehend beschrieben wird. Wenn die Substanzzone durch einen Lichtstrahl B entlang einer Zickzackbahn ZL abgetastet wird, wird eine Extinktionskurve erhalten, wie sie in F i g. 1 b gezeigt ist. Die Grundlinie der Extinktionskurve weist eine Fluktuation auf, die auf der ungleichen DJchteverteilung der Verunreinigung des Hintergrundes beruht.

Wenn die Kurve gemäß F i g. I b integriert wird, erhält man eine Integrationskurve, wie sie in Fig. Ic gezeigt ist Die Kurve zeigt jedoch weder die genaue quantitative Bestimmung der Substanzzone, noch kann aus der Kurve abgeleitet werden, wo die Integration des Meßfleckes endet In der Zeichnung sind der Querschnitt des Abtaststrahles und die Ganghöhe der Abtastbewegung zur besseren Darstellung vergrößert gezeigt In der Praxis ist der Querschnitt des Strahles beispielsweise 1 mm χ 1 mm, und die Ganghöhe beträgt 1 mm. Gemäß der Erfindung wird, wie in F i g. 2a gezeigt ist an dem durch einen kleinen Kreis gekennzeichneten Ende eines jeden Abtasthubes der Zickzackbewegung des Abtaststrahles ein Meßwert des Meßsignals abgefragt, der als Grundlinienkorrekturwert für day Ausgangsmeßsignal dient Das heißt der abgefragte Wert des Meßsignals wird während des Abtasthubes subtrahiert, bis der nächste Meßwert an dem gegenüberliegenden Ende des Abtasthubes abgeleitet wird. Beispielsweise wird der Meßwert an einem Punkt P als Grundlinie für das Ausgangsmeßsignal in dem Abtasthub ZLi verwendet, bis ein Punkt Q erreicht ist worauf ein neuer Meßwert abgefragt wird, der als neue Grundlinie für das Ausgangsmeßsignal in dem nächsten Abtasthub ZL₂ anstelle des an dem Punkt P abgeleiteten vorherigen Meßwerts dient

Jeder Meßpunkt, der durch einen kleinen Kreis gekennzeichnet ist, liegt an dem Ende eines Abtasthubes der Zickzackabtastung und außerhalb der Substanzzone 1, so daß der Meßwert an dem Meßpunkt der scheinbaren Extinktion an diesem Punkt der Platte, das heißt der Hintergrundsextinktion der Platte, entspricht Wenn dieser Meßwert daher als Grundlinie für das Ausgangsmeßsignal während des nachfolgenden Abtasthubes verwendet wird, kann die Extinktion des Hintergrundes kompensiert und die qualitative Bestimmung der in dem Meßfleck enthaltenen Substanz genauer durchgeführt werden.

Fig.2b zeigt eine Profilkurve und Fig.2c eine Integrationskurve, wobei beide Kurven mit der in bezug auf die Grundlinie korrigierten Zickzackabtastung gemäß Fig.2a abgeleitet sind. Die Höhe H der Integrationskurve zeigt genau die Quantität der in der abgetasteten Substanzzone enthaltenen Substanz.

Änderungen der Grundlinie aufgrund von Schwankungen oder Ungleichförmigkeiten der optischen Eigenschaften des Trägermaterials oder des Hintergrunds in Richtung der Entwicklung der auszumesseriden Substanz können daher korrigiert werden, indem an einem vorbestimmten Punkt außerhalb der Substanzzcine bei jedem Abtasthub wiederholt Werte des Meßsignals abgefragt werden und das Ausgangsmeßsignal während des Abtasthubes durch diese Werte korrigiert wird. Aus dem Ausgangssignal des Integrators kann ferner das Ende der Integration der Substanzzone abgeleitet werden.

Hierbei muß der Meßpunkt nicht notwendigerweise am Ende des Abtasthubes der Zickzackbewegung liegen, sondern kann sich auch innerhalb des Abtasthubes befinden, wenn er nur außerhalb der Substanzzone

ίο liegt, wie noch in Zusammenhang mit Fig. 10 beschrieben wird. Der Meßwert muß ferner nicht bei jedem Abtasthub der Abtastbewegung abgeleitet werden, sondern kann auch jeweils erst nach einigen Abtasthüben erzeugt werden, wenn die Ganghöhe der

Zickzackabtastung verhältnismäßig klein ist

In der folgenden Beschreibung ist der Begriff »das Licht von der Meßprobe bzw. Substanzzone oder das Licht von dem Trägermaterial oder der Platte« in einem allgemeinen Sinn so zu verstehen, daß nicht nur das von der Substanzzone oder dem Trägermaterial durchgelassene, reflektierte oder gestreute Licht sondern auch das Sekundärlicht beispielsweise Fluoreszenz- oder Phosphoreszenzlicht, gemeint ist das durch Anregung der Substanzzone oder des Trägermaterials abgestrahlt wird.

Gemäß F i g. 3 wird das Licht von der Platte durch

■ einen Photodetektor in ein entsprechendes elektrisches

Signal (das als Meßsignal bezeichnet wird) umgesetzt Dieses Meßsignal wird in ein Extinktionssignal umge-

setzt das an einen Anschluß / angelegt wird. Ein Schalter SWt ist so angeordnet daß er von einem Abtast-Befehlssignal geschlossen wird, das beispielsweise von einem anhand von Fig.8 beschriebenen Impulsformer H erzeugt wird, wenn ein Abtastkopf (nicht gezeigt) das Ende eines jeden Abtasthubes in seiner Zickzackabtastbewegung erreicht

Wenn der Schalter SWi geschlossen wird, wird ein Relais R erregt so daß der Schalter SWz geschlossen wird. Da sich der Abtastkopf am Ende des Abtasthubes nur während einer kurzen Zeitdauer befindet, wird der Schalter 5W₂ auch nur während einer kurzen Zeitdauer geschlossen, die vcmsch'.ässigbar klein im Vergleich zu dem Zyklus der Abtastbewegung ist Während dieser Zeitdauer wird das am Ende des Abtasthubes gcmesse ne Extinktionssignal in einem Kondensator C gespei chert Während der Abtaststrahl den Abtasthub durchführt, wird der Schalter SW₂ offengehalten, so daß der Kondensator das vorher gespeicherte Extinktionssignal festhält

so Das von dem Kondensator C gespeicherte Singal wird an einen Pufferverstärker A abgegeben, der eine hohe Eingangsimpedanz und eine niedrige Ausgangsimpedanz hat Das Ausgangssignal des Verstärkers A wird über einen Phaseninverter E an einen Verstärker F angelegt Der Verstärker Fund Wiederstände R_x, R₂ und Ri bilden eine Additionsschaltung und erzeugen an einem Ausgang Γ ein Ausgangssignal, das der Summe des Extinktionssignales, das direkt über den Eingang / eingegeben wird, und des in seiner Phase invertierten Extinktionssignals entspricht das am Ende des Abtasthubes gemessen wird und in dem Kondensator C gespeichert ist Das Ausgangssignal an dem Ausgang T entspricht daher dem während des Abtasthubes der Zickzackabtastbewegung gemessenen Extinktionswert minus dem am Ende des vorhergehenden Abtasthubes gemessenen Extinktionswert

Wenn das gegenüberliegende Ende eines jeweiligen Abtasthubes erreicht ist wird der Schalter SWt wieder

geschlossen, so daß ein neuer Abtastwert der Extinktion am Ende des Abtasthubes in dem Kondensator C gespeichert wird und als neuer Grundlinienkorrekturwert für den nachfolgenden Hub der Abtastbewegung dient

Das Ausgangssignal an dem Anschluß Γ ist in bezug auf die Grundlinie korrigiert, wie in F i g. 2b gezeigt ist Die Integration des Ausgangssignals ergibt eine richtige quantitative Bestimmung der Substanzzone.

Es ist zu beachten, daß der Begriff »Abtastung« in der Beschreibung nicht nur die Abtastung der gesamten Fläche der Substanzzone in einer Zickzackbewegung, sondern auch eine Wellenlängenabtastung einschließt, das heißt eine Abtastung, bei der ein Abtastlichtstrahl über dieselbe Fläche der Substanzzone geführt wird, während die Wellenlänge des Abtastlichtes bei jedem Äbtasthub der hin- und hergehenden Bewegung geändert wird. Das heißt die »Abtastung« ist nicht auf die hin- und hergehende Bewegung des Abtastlichtstrahles und die gleichzeitige Weiterführung des Lichtstrahls in der senkrechten Richtung zu der hin- und hergehenden Bewegung beschränkt Wenn die hin- und hergehende Bewegung des Abtaststrahles mit einer gleichzeitigen Weiterbewegung in der senkrechten Richtung zu der hin- und hergehenden Bewegung kombiniert ist, verfolgt der Ab'astlichtstrahl eine Zickzackbahn über die Substanzzone, wie sie in Fig. 2a gezeigt ist Wenn jedoch der Abtaststrahl nur hin- und herbewegt wirJ, ohne daß er gleichzeitig in der genannten Weise weiterbewegt wird, verfolgt der Abtaststrahl eine gerade Bahn quer über die Substanzzone, wie sie in Fig.4a gezeigt ist In diesem Fall wird bei Änderung der Wellenlänge des Abtastlichtes in verschiedenen Abtasthüben eine Extinktionskurve erhalten, wie sie in F i g. 4b gezeigt ist Bei dieser Kurve drückt eine Einhüllende EN, die die Spitzen miteinander verbindet das Extinktionsspektrum der Substanzzone aus. Da jedoch die Dünnschichtchromatographieplatte selbst oder Verunreinigungen derselben eine Extinktions- oder Reflexionschrakteristik haben, die mit der Wellenlänge des Abtastlichtes variiert, ergeben sich Schwankungen der Grundlinie bei der Kurve von F i g. 4b, so daß die Einhüllende EN nicht das richtige Extinktionsspektrum der Substanzzone zeigt Durch die Kompensation der Schwankungen der Grundlinie ist es jedoch möglich, das genaue Extinktionsspektrum der Substanzzone zu erhalten, wie durch die Einhüllende EN'm F i g. 4c gezeigt ist In F i g. 4b liegt die scheinbare maximale Extinktion bei Λ2, während die maximale Extinktion gemäß F i g. 4c tatsächlich bei Al liegt

Bei dem vorstehend beschriebenen Ausführungsbeispiel wird das Grundlinienniveau nach jedem einzelnen Abtasthub der Abtasibewegung gemessen. Diese Messung kann ji^ioch auch jeweils nach mehreren Abtasthüben durchgeführt werden, obwohl dazu eine kompliziertere Einrichtung erforderlich wäre.

Weiterhin wird bei dem vorstehend beschriebenen Ausführungsbeispiel die Abfrage des Meßsignals an den entgegengesetzten Enden eines jeden Abtasthubes durchgeführt Dies kann jedoch auch nur an einem Ende des Abtasthubes geschehen, wenn die Dünnschichtchromatographieplatte in ihrer Breitenausdehnung im wesentlichen gleichförmig ist, wobei allerdings ein gewisser Nachteil dahingehend auftreten kann, daß sich eine Ungleichförmigkeit in der Breitenrichtung der Platte nicht ausmitteln läßt

Fig.5 zeigt schematisch ein Densitometer für eine Zickzackabtastung mit Licht zweier Wellenlängen und Grundlinienkorrektur. Eine Lichtquelle L weist eine Wolframlampe W und eine Deuteriumlampe ΓΗ auf, wobei eine geeignete Umschalteinrichtung vorgesehen ist um eine der beiden Lampen wahlweise für den sichtbaren oder den ultravioletten Bereich einsetzen zu können. Das Licht von der Lichtquelle L wird von zwei Sammelspiegeln M\ und Aft reflektiert und auf zwei Monochromatoren MR und AiS gerichtet, wobei ein rotierender Unterbrecher 2 abwechselnd das in die

ίο Monochromatoren eintretende Licht unterbricht

Die Monochromatoren erzeugen zwei monochromatische Lichtstrahlen verschiedener Wellenlängen XR und XS, die durch Wellenlängen-Steuereinrichtungen JVCR und WCS respektive ausgewählt werden. Die beiden Lichtstrahlen werden von Konkavspiegeln mi bzw. nu reflektiert und durch einen Halbspiegel mt, abwechselnd auf einen Pianspiegei /n₅ gerichtet, so daS sie durch einen Schlitz 3 geführt und durch einen Planspiegel /777 senkrecht auf eine Dünnschichtchromatographieplatte 4 gerichtet werden.

Die Platte wird mit einer vorbestimmten, konstanten Geschwindigkeit relativ zu dem Strahl linear in der Richtung X bzw. in Längsrichtung der Platte bewegt das heißt in der Richtung, in der die Substanzzone entwickelt wird. Gleichzeitig mit dieser Bewegung wird die Platte linear mit einer konstanten Geschwindigkeit horizontal in der Richtung Y senkrecht zu der Bewegungsrichtung X hin- und herbewegt Wenn die Platte in dieser Weise bewegt wird, wird sie durch den Lichtstrahl in einem Zickzackmuster abgetastet Die relative Zickzackbewegung zwischen dem Strahl und der Platte kann auch anders bewirkt werden, beispielsweise dadurch, daß der Lichtstrahl entlang der V-Achse hin- und hergeführt wird, während die Platte linear entlang der Λ-Achse bewegt wird. Eine Einrichtung zur Erzielung einer solchen Relativbewegung der Platte gegenüber dem Abtastlichtstrahl wird nachstehend in Verbindung mit den F i g. 6a bis 6d beschrieben

Ein Photodetektor PMT, beispielsweise eine Photovervielfacherröhre, mißt das durch die Platte 4 hindurchtretende Licht während ein anderer Photodetektor PMR das von der Platte 4 reflektierte Licht mißt Die Ausgangsanschlüsse der Photovervielfacherröhren sind mit dem Eingang eines logarithmischen Verstärkers 5 verbunden, dessen Ausgang mit einer Signalweiche, beispielsweise mit zwei Schaltern SWS und SlVR, verbunden ist um die von den Meßproben- und Referenzstrahlen ASbzw. ÄRbewirkten Ausgangssignale des Verstärkers 5 getrennt weiterzuleiten.

Zu diesem Zweck sind die Schalter SWS und SlVR mit dem Unterbrecher 2 über eine geeignete Steuereinrichtung 12 gekoppelt so daß, wenn der Unterbrecher das Licht von der Lichtquelle in den f^onochroniäicr AfA eintreten läßt und gleichzeitig das Licht für den anderen Monochromator MS sperrt der Schalter SlVR geschlossen und der Schalter SlVS geöffnet ist während, wenn der Unterbrecher das Licht von der Lichtquelle in den Monochromator AiS eintreten läßt und das Licht zu dem Monochromator AiR unterbricht der Schalter SlVS geschlossen und der Schalter SJVR geöffnet ist

Ein Kondensator C₁ speichert das Referenzstrahlsignal VR, wenn der Schalter SWR geschlossen ist während ein Kondensator C7 das Meßprobenstrahlsignal VS speichert wenn der Schalter SlVS geschlossen ist Das Signal VR wird außerdem einem Differenzverstärker 7 zugeführt an dem über eine Spannungsquelle feine Bezugsspannung anliegt Das Ausgangssignal des

Verstärkers 7 steuert eine negative Hochspannungsquelle 6 derart, daß das Differenzeingangssignal (VR-E) an dem Verstärker 7 Null wird.

Ein Schalter 5WPiSt zur wahlweisen Betätigung einer der Photovervielfacherröhren PMTund PMR vorgesehen. Wenn der Kontaktarm des Schalters SWP mit einem Anschluß 7*verbunden ist, wird die Photovervielfacherröhre PMT zur Messung des durch die Platte 4 hindurchgetretenen Lichts erregt, während bei Umschaltung des Kontaktarms auf den Anschluß R die Photovervielfacherröhre PMR zur Messung des von der ΐ-Iatte reflektierten Lichts erregt wird.

Wenn der Schalter 5VVS geschlossen ist, wird das Extinktionssignal oder das Reflexions-Extinktionssignal von dem logarithmischen Verstärker 5 an die erwähnte Grundlinien-Korrekturschaltung 40 (Fig.5) angelegt Eine Steuereinrichtung i3 steuert in Abhängigkeit von der seitlich hin- und hergehenden Bewegung der Platte 4 den Betrieb der Grundlinien-Korrekturschaltung 40. Das in bezug auf die Grundlinie korrigierte Ausgangssignal der Korrekturschaltung 40 wird an eine Linearisierungsschaltung 8 angelegt

Bei der densitometrischen Messung der auf der Dünnschichtplatte oder einem Trägermaterial dieser Art entwickelten Substanzzone wird das Abtastlicht von dem Trägermaterial gestreut, so daß der gemessene Extinktionswert der Konzentration oder Quantität der in der Substanzzone enthaltenen Substanz nicht proportional ist. Die Linearisierungsschaltung 8 ist so ausgeführt, daß das Extinktions- oder Reflexions-Extinktionssignal kompensiert wird, so daß das Signal proportional zu der wahren Extinktion oder Reflexions-Extinktion der Substanzkomponente in der soeben gemessenen Substanzzone ist

Ein Torschaiter S"'/ wird in Abhängigkeit von der seitlich hin- und hergehenden Bewegung der Platte 4 derart betätigt, daß innerhalb eines vorbestimmten Bereiches der seitlich hin- und hergehenden Bewegung der Platte 4 der Schalter SWI geschlossen ist und das Ausgangssignal der Linearisierungsschaltung 8 einer Auswertungseinrichtung, beispielsweise einem Aufzeichnungsgerät R. einem Anzeigegerät oder einen Drucker, direkt ooer indirekt über einen Integrator 9 zuführt

Es sei nun angenommt, daß mehrere Substanzzonen auf der Platte Seite an Seite entlang der Richtung der seitlich hin- und hergehenden Bewegung bzw. Verschwenkung des Lichtstrahles gegenüber der Platte angeordnet sind. Die Betriebsweise des Schalters SWI wird dann von der Steuereinrichtung 13 so gesteuert, daß er geschlossen wird und das Ausgangssignal der Linearisierungsschaltung 8 nur für eine gewünschte Substanzzone weiterleitet Der Integrator 9 weist einer. Operationsverstärker 11 und eine Impedanz Cs zur Integration auf.

Das Aufzeichnungsgerät R zeichnet entweder den Ausgang der Linearisierungsschaltung 8 direkt (Fig. 2b oder F i g. 10b) oder das Ausgangssignal des Integrators 9 (Fig.2c oder 10c) oder beide Ausgangssignale gleichzeitig auf. Wenn es sich um ein Anzeigegerät handelt, werden die entsprechenden Werte nur angezeigt

Das Ausgangssignal des Integrators 9 wird außerdem einem Analog-Digital-Umsetzer 70 und einem Integrations-Enddetektor 71 zugeführt, der ein Differenzierglied und einen Schwellenwertdetektor aufweist Das Ausgangssignal des Analog-Digital-Umsetzers 70 wird einem Drucker 73 zugeführt Wenn der Detektor 71 das Ende der Integration festgestellt hat, das heißt wenn die Integrationskurve gemäß Fig.2c oder 10c einen horizontalen Verlauf angenommen hat erzeugt er ein Ausgangssignal zur Betätigung des Druckers 73, so daß dieser den integrierten Wert druckt, der dem Analog-Digital-Umsetzer zugeführt wird. Das Ausgangssignal des Detektors 71 wird ferner einer Rückstelleinrichtung 74 zugeführt, die den Integrator 9 für die nächste Integration zurückstellt

ίο Die F i g. 6a bis 6d zeigen Ausführungsbeispiele einer Einrichtung, die die Relativbewegung zwischen der Platte 4 und den Abtaststrahlen LR oder LS bewirkt Die Platte 4 ist auf einem Träger 10 angeordnet der seinerseits auf einem Wagen 23 montiert ist so daß er durch Rollen 28 in Richtung des Pfeiles Y relativ dazu gleitend bewegbar ist Zu diesem Zweck drückt ein exzentrischer Nocken 24, der an der Abiriebsweüe eines an dem Wagen 23 angebrachten Motors 26 befestigt ist gegen einen an dem Träger 10 befestigten Nockenfolger

25. Eine Feder 27 ist mit ihren Enden an dem Träger 10 und dem Wagen 23 befestigt so daß der Träger zu dem Nocken hingedrückt wird. Wenn der Motor 26 den Nocken 23 dreht wird der Träger 10 in V-Richtung auf dem Wagen 23 von der oder gegen die Kraft der Feder 27 bewegt

Außerdem ist der Wagen 23 auf zwei Führungsschienen 32 und 33 mit Hilfe von Rollen 29 gelagert und weist an einer Seite eine Hahnstange 34 auf, in die ein Ritzel 30 eingreift, das mit dem Abtriebszahnrad eines Motors 35 kämmt der an einem Maschinenrahmen (nicht gezeigt) befestigt ist Wenn sich der Motor 31 dreht wird der Wagen 23 auf den Schienen 32 und 33 in Richtung des Pfeiles X bewegt Wenn die Bewegungen in X- und V-Richtung gleichzeitig erfolgen, ergibt sich eine Zickzackbewegung des Strahles LA bzw. LS relativ zu der Platte 4, wie sie in den F i g. 2a oder 10a gezeigt ist Wenn die Bewegungen in der X- und V-Richtung abwechselnd erfolgen, ergibt sich eine modifizi· "te Zickzackbewegung des Strahles relativ zu der Pi^ite.

Wenn nur die Bewegung in Y- Richtung durchgeführt wird, tastet der Strahl den Meßfleck in einer hin- und hergehenden Bewegung entlang einer geraden Linie ab, wie es in F i g. 4a gezeigt ist.

Ein Detektor G für die Position des Abtaststrahles ist der vorstehend beschriebenen Einrichtung zugeordnet um die Relativbewegung zwischen dem Abtaststrahl und der Platte 4 zu bewirken. Der Detektor G stellt die Position des Abtastlichtstrahles entlang des Abtastweges fest und gibt ein entsprechendes elektrisches Signal

so ab.

F i g. 7 zeigt ein Beispiel für eine konkrete Anordnung des Detektors G. Ein Halter 41 ist an der Seitenwand

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von dieser Seitenwand ab. Der Halter 40 trägt eine Lichtquelle, beispielsweise eine Leuchtdiode 42, und einen Photodetektor, beispielsweise einen Phototransistor 43, wobei die beiden Bauteile unter Abstand einander gegenüberliegen. Die Diode 42 und der Transistor 43 sind von Abschirmgehäusen 44 bzw. 45 umgeben, die mit einem Fenster 47,48 an den einander gegenüberliegenden Endwänden versehen sind. Das Licht der Diode 42 wird durch eine Linse 46 konvergiert und tritt durch die Fenster 47 und 48 hindurch, so daß es auf den Transistor 43 trifft

Eine Torsteuereinrichtung 49 ist der Diode 42 und dem Transistor 43 derart zugeordnet, daß die Projektion des Lichtes der Diode auf den Transistor gesteuert wird. Die Torsteuereinrichtung 49 weist zwei Unter-

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brecherplatten 49.A und 49ß auf, die in einem variablen Abstand L in Y-Richtung zueinander angeordnet sind und mit ihren jev.-eiligen, oberen Seitenabschnitten gleitend bewegbar in eine Führungsnut 50 eingreifen, die in einer seitlichen Schürze 10' ausgebildet ist, die von dem Träger 10 der Einrichtung gemäß den F i g. 6a bis 6d nach unten verläuft

Auf der Oberkante der beiden Unterbrecherplatten 49Λ und 49ß ist jeweils eine Zahnreihe 53Λ bzw. 53ß ausgebildet, die mit einem Ritzel 5L4 bzw. 51B an der Schürze des Trägers 10 kämmt Ein Handgriff 52A bzw. 525 ist an dem Ritzel 51.A bzw. 515 befestigt um eines der beiden Ritzel oder beide Ritzel von Hand drehen zu können, wodurch die Unterbrecherplatten 49Λ und 49B entlang der Nut 50 in der Richtung senkrecht auf Zeichenebene in F i g. 7a oder in V-Richtung in F i g. 7b bewegt und die Positionen der Unterbrecherplatten relativ zu dem Träger 10 und der Abstand L zwischen den beiden Platten geändert werden.

Wenn der Träger 10 sich in y-Richtung entlang des Wagens 23 in der beschriebenen Weise hin- und herbewegt bewegen sich die Trennplatten 49Λ und 49ß auf dem Träger 10 in V-Richiung relativ zu der Leuchtdiode 42 und dem Phototransistor 43, die auf dem Wagen 23 befestigt sind. Wenn die Trennplatte 49/1 oder 49ß zwischen die Photodiode 42 und den Phototransistor 43 tritt unterbricht die Platte das Licht der Diode, das bis zu diesem Zeitpulnkt auf den Phototransistor 23 fällt. Wenn der Träger 10 am Ende des Abtasthubes der seitlich hin- und hergehenden Bewegung umkehrt und sich in der entgegengesetzten Richtung bewegt bewegt sich die Unterbrecherplatte 49i4 oder 49ß, die den Lichtstrahl von der Photodiode 42 unterbrochen hat, wieder aus dem Strahlengang heraus, so daß das Licht wieder auf den Transistor 43 auftrifft.

Durch Änderung der Position der Unterbrecherplatte 49Λ oder 49ß oder beider Platten und/oder des Abstandes L zwischen den Platten ist somit die Möglichkeit geggeben, die Länge und/oder Position des Bereiches in einem Abtasthub der Zickzack- oder hin- und hergehenden Bewegung des Abtaststrahles relativ zu der Dünnschichtchromatographieplatte zu ändern, indem der Phototransistor 43 das Licht von der Photodiode 42 mißt und ein A.usgangssignal erzeugt wie es in F i g. 9a gezeigt ist. Dieses Ausgangssignal wird in einer Weise verwendet, wie es in Verbindung mit den F i g. 8 und 9 nachstehend noch näher beschrieben ist.

Fig.8 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel d?r Grundlinienkorrektur. Ein Detektor G für die Abtast-Strahlposition, wie er in den F i g. 7a bis 7c gezeigt ist, arbeitet mit einer Abtasteinrichtung / zusammen, wie sie in den F i g. 6a bis 6c gezeigt ist, und erzeugt ein Rechtecksignal gemäß F ί g. 9a als Ausgangssignal für jeden Hub der Abtastbewegung des Strahls über die Substanzzone auf der Platte 4. Während die öffnung (oder der Meßbereich) zwischen den Unterbrecherplatten 49/1 und 49jB ermöglicht, daß das Licht der Photodiode 42 durch die Öffnung hindurchtritt und auf den Phototransistor 43 bei jedem einzelnen Abtasthub e>o der Abtastbewegung des Trägers 10 auftrifft, erzeugt der Phototransistor 43 einen Rechteckimpuls (F i g. 9a). Wenn gegen Ende des Abtasthubes die Unterbrecherplatte, beispielsweise die Unterbrecherplatte 49/1, den Lichtstrahl der Diode 42 unterbricht, endet der Rechteckimpuls P₁, bis die Unterbrecherplatte 49/4 am Ende des Hubes umkehrt und sich aus dem Lichtstrahl herausbewegt, so daß der Strahl wieder auf den Phototransistor 43 fällt der dann den nächsten Rechteckimpuls Pi erzeugt

Der Ausgang des Detektors G ist mit einem Differenzierglied D verbunden, das ein Ausgangssjgns! erzeugt wie es in Fi g. 9b gezeigt ist Ein Impulsformer H erzeugt in Abhängigkeit von entweder positivem oder negativen differenzierten Ausgangsimpulsen des Differenzgliedes D seinerseits Ausgangsimpulse, die eine vorgegebene Höhe und Breite haben, wie es in Fig.9c oder 9d gezeigt ist

Das Extinktionssignal, dessen Grundlinie korrigiert werden soll, wird an einen EingangsanschluB 55 angelegt Ein Abtastschalter 56, beispielsweise ein Feldeffekttransistor, der mit dem EingangsanschluB 55 verbunden ist wird in Abhängigkeit von dem Abtast-Befehlssignal (F i g. 9c oder 9d) des Impulsformers derart gesteuert, daß das Extinktionssignal während der Dauer des Befehlssignales einem Kondensator Czugeführt und von diesem als Grundlinienkorrekturwert für das im nachfolgenden Abtasthub gemessene Extinktionssignal gespeichert wird.

Die Ladezeitkonstante t = CRi des Kondensators C wird auf einen vernachlässigbar kleinen Wert im Vergleich zu der Zeit T eingestellt die für einen Abtasthub benötigt wird. Beispielsweise ist die Ladezeitkonstante t kleiner als einige ms, wenn die Zeit T gleich 100 ms ist

An den Kondensator C ist ein Impedanzumsetzer 57 angeschlossen, der eine hohe Eingangsimpedanz und eine kleine Ausgangsimpedanz hat und ein Source-Folgerverstärker mit einem MOS-Feldeffekttransistor sein kann. Ein Differenzverstärker 58 ist mit einem Eingang mit dem Ausgang des Verstärkers 57 und mit dem anderen Eingang mit einer Spannungsquelle 59 verbunden, um eine Versetzung zu kompensieren bzw. zu eliminieren. Die Spannungsquelle 59 ist derart einstellbar, daß ihre Ausgangsspannung von einem gewünschten positiven bis zu einem gewünschten negativen Wert variabel ist

Eine Funktionsschaltung 60 erhält das Extinktionssignal direkt von dem Anschluß 55 über eine Leitung 61 sowie von dem Kondensator C den gespeicherten Grundlinienkorrekturwert und führt die erforderliche Grundlinienkorrektur für das gemessene Extinktionssignal. In dem gezeigten Ausführungsbeispiel ist die Funktionsschaltung 60 als Addierschaltung ausgelegt Wenn jedoch die Beschallung der beiden Eingänge des Differenzverstärkers 58 umgekehrt wird, kann die Funktionsschaltung 60 auch als Subti ahierschaltung ausgelegt werden.

Das Ausgangssignal des Detektors G für die Abtaststrahlposition gemäß F i g. 9a kann dazu verwendet werden, den Torschalter SWI während der Dauer der Impulse P\, P2 für die Integration oder die direkte Aufzeichnung des Ausgangssignals der Linearisierungsschaltung 8 wiederholt zu schließen.

Wie bereits erwähnt kann der Impulsformer H auch so ausgelegt sein, daß er das in F i g. 9c oder 9d gezeigte und an den Abtast-Schalter 56 anzulegende Ausgangssignal erzeugt Wenn das in Fig.9c gezeigte Signal verwendet wird, wird das bei Beginn der Integration des Extinktionssignales gemessene Grundlinienniveau als Grundlinienkorrekturwert für die Dauer der Integration verwendet Wenn das in Fig.9c gezeigte Signal verwendet wird, wird das am Ende der vorhergehenden Integrationsperiode gemessene Grundlinienniveau als Grundlinienkorrektur während der nächsten Integrationsperiode verwendet Wenn die Ganghöhe der

Zickzackabtastung relativ groß ist, ist das Meßergebnis in dem ersten Fall besser als in dem letzteren.

Der Ausgangsimpuls des Impulsformers H, der entweder die in Fig.9b oder die in Fig.9c gezeigte Form hat, wird ferner an c"e Wellenlängen-Steuereinrichtung WCS für den Monochromator Λ/S angelegt, um die Wellenlänge des Abtaststrahles LS zu ändern, wenn der Strahl die Substanzzops in einer hin- und hergehenden Bewegung gemäß F i g. 4a abtastet

Gemäß Fig. 10awird die Substanzzone 1 durch einen Lichtstrahl Li? oder LS mit einem rechteckigen Querschnitt entlang einer Zickzacklinie ZL abgetastet Der Punkt d auf jedem Abtasthub des Abtastweges zeigt den Punkt an, bei dem das Grundlinienniveau für die Grundlinicnkorrektur während dieses Abtasthubes gemessen wird und die Integration und/oder direkte Aufzeichnung des Ausgangssignals der Linearisierungsschaltung 8 beginnt.

Wenn das über den Schalter SW während der Zickzackabtastungi der Substanzzone 1 erhaltene Ausgangssignal durch Schließen des Schalters Ss direkt

an das Aufzeichnungsgerät R angelegt wird, wird die in bezug auf die Grundlinie korrigierte Profilkurve gemäß Fig. 10b aufgezeichnet Wenn das über den Schalter SWI erhaltene Ausgangssignal durch Schließen des Schalters Sf, auf den Integrator 9 gegeben und dann aufgezeichnet wird, ergibt sich eine Integrationskurve, wie sie in Fig. 10c gezeigt ist Die Integrationskurve gibt die genaue Quantität der in der Substanzzone enthaltenen Substanz an, wobei ein Meßfehler aufgrund der Hintergrundsextinktion weitgehend eliminiert ist Durch Schließen eines der Schalter S₅ und S₆ oder beider Schalter können die beiden Kurven wahlweise oder auch gleichzeitig aufgezeichnet werden.

Wenn die Abtastung der Substanzzone abgeschlossen ist, erzeugt der Detektor 71 ein Ausgangssignal zur Betätigung des Druckers 73, so daß dieser das Resultat der Integration ausdruckt Der Detektor gibt ferner ein Ausgangssignal ab, durch das zu diesem Zeitpunkt auch die Rückstelleinrichtung 72 zum Zurückstellen des Integrators 9 betätigt wird.

Hierzu 6 Blatt Zeichnungen

030 249/190

Claims (21)

Patentansprüche:

1. Verfahren zur densitometrischen Messung einer auf einem Trägermaterial entwickelten Substanzzone, bei dem ein die Substanzzone enthaltender Bereich des Trägermaterials mit monochromatischem Licht abgetastet and das erhaltene intensitätsmodulierte Licht in ein entsprechendes elektrisches Signal umgesetzt werden, dadurch ge- ίο kennzeichnet, daß das bei der Abtastung des außerhalb der Substanzzone liegenden Bereiches des Trägermaterials erhaltene elektrische Signal periodisch abgefragt und der abgefragte Signalwert jeweils für eine bestimmte Zeitdauer als Grundlinienkorrekturwert zwischengespeichert wird und daß das bei der Abtastung der Subsianzzone erhaltene elektrische Signal mittels des zwischengespeicherten Grundlinienkorrekturwertes vor dem jeweils darauffolgenden Abfragevorgang korrigiert wird.

2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Abtastung über dem die Substanzxone enthaltenden Bereich des Trägermaterials in einem Zickzackmuster durchgeführt wird.

3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Bildung der Grundlinienkorrekturwerte in Verbindung mit der Abtastbewegung des Lichtes in R^htung der Ganghöhe der Zickzackabtastung wiederholt wird.

4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß bei jedem Abtasthub der Zickzackabtastung ein Grundlinienkorrekturwert gebildet wird.

5. Verfahren nach Anspruch 3. dadurch gekennzeichnet, daß jeweils ein Grundlinienkorrekturwert für eine vorgegebene Anzahl von Abtasthüben der Zickzackabtastung gebildet wird.

6. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Bildung des Grundlinienkorrekturwertes an einem vorgegebenen Punkt der Zickzackabtastung außerhalb der Substanzzone erfolgt.

7. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß der vorgegebene Punkt am Ende eines Abtasthubes der Zickzackabtastung liegt.

8. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Abtastung in einer hin- und hergehenden Bewegung entlang einer einzigen Bahn über die Substanzzone hinweg durchgeführt wird, wobei die Wellenlänge des Abtastlichtes bei jedem Abtasthub geändert wird und die Bildung des Grundlinienkorrekturwertes an einem vorgegebenen Punkt außerhalb der Substanzzone jeweils bei der Änderung der Wellenlänge erfolgt.

9. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß der vorgegebene Punkt am Ende des Abtasthubes durch die Abtastbahn liegt.

10. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Abtastung mit einem einen kleinen Querschnitt im Vergleich zu der Fläche der Substanzzone aufweisenden Lichtstrahl erfolgt.

11. Densitometer zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1, mit einer Einrichtung zur Projektion monochromatischen Lichts auf einen eine Substanzzone enthaltenden Bereich eines Trägermaterials, einer Einrichtung zur Erzielung einer Relativbewegung zwischen der Substanzzone und dem monochromatischen Licht und Abtastung eines zumindest einen Teil der Substanzzone umfassenden vorgegebenen Bereiches des Trägermaterials und einer photoeleklrischen Wandlereinrichtung zur Umsetzung des von dem Abtastbereich erhaltenen intensitätsmodulierten Lichts in ein entsprechendes erstes elektrisches Signal, gekennzeichnet durch eine Schaltungsanordnung (SW\, R₁ SW₂; 12, SWS, SWR) zum periodischen Abfragen des bei der Abtastung des vorgegebenen Bereiches außerhalb der Substanzzone erhaltenen Wertes des ersten elektrischen Signals, durch eine Speichereinrichtung (C; Cu C₂) zur Zwischenspeicherung des abgefragten Signalwertes für eine vorgegebene Zeitdauer und durch eine Korrekturschaltung (A, E, F, Rl bis A3; 13, 40) zur Subtraktion des zwischengespeicherten Signalwertes von dem bei der Abtastung der Substanzzone vor dem jeweils nächsten Abfragevorgang erhaltenen Wert des ersten elektrischen Signals und Bildung eines dem Subtraktionsergebnis entsprechenden grundlinienkorrigierten zweiten elektrischen Signals.

12. Densitometer zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein Integrator (9) mit dem Ausgang der Korrekturscnaltung verbunden ist

13. Densitometer nach Anspruch U oder 12, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung zur Projektion monochromatischen Lichts zwei Monojhromatoren (MR, MS), die zwei monochromatische Lichtstrahlen unterschiedlicher Wellenlänge erzeugen, und einen Unterbrecher (2) aufweist, durch den die beiden monochromatischen Lichtstrahlen abwechselnd erzeugt und entlang eines gemeinsamen Projektionsweges senkrecht auf den die Substanzzone enthaltenden Bereich des Trägermaterials projiziert werden.

14. Densitometer nach Anspruch 11 oder 12, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung zur Erzielung einer Relativbewegung zwischen der Substanzzone und dem monochromatischen Licht und Abtastung des die Substanzzone enthaltenden Bereich des Trägermaterials eine erste Antriebseinrichtung (31), die entweder das monochromatische Licht oder die Substanzzone relativ zueinander entlang einer ersten Achse bewegt, eine zweite Antriebseinrichtung (26), die die erste Antriebseinrichtung entlang einer zweiten Achse senkrecht zu der ersten Achse hin- und herbewegt, und einen Detektor (G) zur Ermittlung der Position der ersten Antriebseinrichtung bei ihrer hin- und hergehenden Bewegung entlang der zweiten Achse und Erzeugung eines Abtast-Befehlssignals bei einer vorgegebenen Position der ersten Antriebseinrichtung, mit dem die Speichereinrichtung zur Zwischenspeicherung des ersten elektrischen Signals angesteuert wird, aufweist.

15. Densitometer nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung zur Erzielung einer Relativbewegung zwischen der Substanzzone und dem monochromatischen Licht und Abtastung des die Substan?zone enthaltenden Bereichs des Trägermaterials einen das Trägermaterial (4) aufnehmenden und auf einem Wagen (23) bewegbar angeordneten Träger (10), die erste Antriebseinrichtung (31), die den Wagen (23) relativ zu dem monochromatischen Licht mit einer ersten konstanten Geschwindigkeit linear in einer Richtung auf einer ersten Ebene senkrecht zu dem Weg des

monochromatischen Lichts bewegt, die zweite Antriebseinrichtung (26), die den Träger (IDi) mit einer zweiten konstanten Geschwindigkeit linear hin- und herverlaufend in einer zweiten Ebene parallel zu der ersten Ebene bewegt eine Lichtquelle (42) und einen Fotodetektor (43) zur Aufnahme des von der Lichtquelle abgegebenen Lichtes, die auf dem Wagen (23) angeordnet sind, und eine Steuereinrichtung (49.A, 49B) aufweist, die auf dem Träger (10) derart angeordnet ist, daß sie sich zur Steuerung der Projektion des Lichtes der Lichtquelle (42) auf den Fotodetektor (43) simultan mit diesem bewegt

16. Densitometer nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet, daß die Abtasteinrichtung eine Vorrichtung (5iA bis 53A, 515 bis 535; zur Einstellung der Position der Steuereinrichtung (49Λ, 49.5; relativ zu dem Träger (10) aufweist

17. Densitometer nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß eine Umsetzerschaltung (5) zwischen die totoelektrische Wandlereinrichtung (PMT, PMR) und die Korrekturschaltung geschaltet ist, die das Ausgangssignal der fotoelektrischen Wandlereinrichtung in ein Extinktions- oder Reflexions-Extinktionssigna! umsetzt

18. Densitometer nach Anspruch 17, dadurch gekennzeichnet, daß die Umsetzerschaltung einen logarithmischen Verstärker (5) aufweist

19. Densitometer nach Anspruch 14, gekennzeichnet durch eine in Verbindung mit den Antriebseinrichtungen betätigbare Steuereinrichtung (12, SWS, SWR), die das Ausgangssignal der fotoelektrischen Wandlereinrichtung nur innerhalb eines vorgegebenen Bereiches der entlang der zweiten Achse erfolgenden hin- und hergehenden Bewegung des Lichtes oder der Substanzzone weiterleitet.

20. Densitometer nach Anspruch 12, gekennzeichnet durch eine Einrichtung (R, St) zum Auslesen des Ausgangssignals des Integrators.

21. Densitometer nach Anspruch 11, gekennzeichnet durch eine Einrichtung (R, Ss) zum Auslesen des Ausgangssignals der Korrekturschaltung.