DE2025772A1 - Farbbildröhre - Google Patents

Description

ROA 61830A

Convention Bate:. .

May 26, 1969

ROA Corporation, New Toric, N,7«, Farbbildröhre

Di· Erfindung betrifft eine farbbildröhre alt «inen Mosaik·» leuchtschirm, einer dicht bei diesem angeordneten Vielloohmaske und einem Blektronenstrahlsyste*¹. sum Beaufschlagen des Leuchtsohirms mit mehreren Elektronenstrahl en durch die Lochmaske über konvergierende Strahlengänge, wobei der Leuchtschirm aus einer Matrizen— aohioht aus Iiohtundurchlässigem.Material mit einer Tielzahl von beabstandeten, mit kathodolumineszentem Leuchtstoff gefüllten Löchern, die sioh jeweils mit einem llektronenstrahlengang durch eines der feekenlöoher decken, besteht«.

Die herkömmlichen !»oohmaeken-Iarbbildr Öhren, wie sie derzeit: hergestellt und in den meisten larbfemsehempf ängern verwendet werden, bestehen aus einem Glaskolben »it einem großen gewölbten front plattenteil_tt in welchem ein gewölbter Mosaikleuchtschirm und eine gewölbte Lochmaske angebracht sind, sswie einem Trichter- oder Konuitell mit einem schmalen Halsteil, in dem drei im seitlichen Abstand voneinander an den drei lokem eines gleichseitigen Dreiecks angeordnete Slektronenstrahlsysteme untergebracht sind·· Die Rühre ist, mit inneren und äufieren linriohtungen zum Konvergieren der drei Strahlen-am Schirm oder in der Iahe desselben sowie mit äußeren Hinrichtungen zum rasterfSrmigen Ablenken der drei Strahlen über Ha Maske und den Schirm ausgerüstet· Der Schirm ist aus einer Viel zahl von kleinen, kreisförmigenLeuchtstoffpunkten aus rot-, blau»

009149/1400

und grünemittier ende« Leuchtetoffaaterial BusasuMngesetEt* die in einem hexagonalen Muster Ton Br©ie©kgruppe» oder Triaden mit je einem Rot«, einem Blatt- und einem drünpunkt ausgelegt sind· Die lochmaske oder Schattenmaske ißt ®in dünnes Blechteil mit einer Vielzahl von Rundlöchern, und »war je einem für jede Leuchtstoffpunkttriade, die ebenfalls in einem hexagonalen Muster ausgelegt sind·· Sie Lochmaske ist am Frontplattenteil in nächster Nähe des S chi rule β ζ «Β, mittels stiften und Blattfedern lösbar befestigt· Der Abstand zwischen Maske tmä SeMm₉ der in Mittel ungefähr 1/2 Zoll (1 Zoll * 2,54 en) betrigt, iet an jeder Radialstelle so gewählt, dafl sich im Betrieb der Rühre die gewünschte Gruppierung der Elektronenstrahls ecke auf dem Schirm in jedem radialen Abstand von der Schirmmitte ergibt«.

Sie einseinen leuchtstoffpunktmuster für die verschiedene farben des Mosaikschirms werden auf dis gläsena© Frontplatte mit» tele eines dlrektphotographischen Verfahrene aufgebracht, bei wel ohem ein photoempfindlicher Belag durch dl® Maskenlöcher mit aktl— nisohen Strahlen von einer Lichtquelle, iie am Ort der betreffenden Slektronenstrahlquelle oder eines <äi®s®2? «ugefrdneten Ort angeordnet ist, belichtet und dran durch Abwaschen der ungehärteten unbelichteten Seile entwickelt wird, so dad das gewünschte Muster von entwickelten gehärteten Punkten surüokbleibt» Sieses Verfahren

rf-

wird für jede* der drei Farbmuster wiederholt« Sas Farbleuchtstoff. pulrer kann mit dem Material jedes photoempfindllohen Belages vor Aessen Aufbringen auf dl· Frontplatte direkt vermischt oder aber nach der Belichtung aufgebracht werden«.

Bei der Belichtung de« Belages werden fertig· Funkte erhalten, die um mehrere Mil (1 Mil ^ O₉OO254 cm) größer sind als die MaskenlOoher«. Im Betrieb der Röhi"® sind dl· !lektronenstrahlflecke, dl· duroh dl« durch die MaskenlSoher hindiirehtreteiiden Strahlteile gebildet werden, ebenfalls größer als dl· entsprechenden MaskenlDoher, jedoch kleiner als die Leuchtstoffpunkte, auf welche sie auftreffen·. Ser gesamte Bewegun$sfe@^@i@k eines bestimmten Strahlflecke relativ su seinem Farbleuchietoifpunkt ohn@ Verringerung des Liohtbe»träges der betreffenden emittierten Farbe 1st als die

sogenannte "WeiflgleichmaBigkeitetoleranz", kurz ••Gleichmäßigkeitstoleranz¹· bekannt. Sie entspricht der Differenz der Durchmesser zwischen dem Strahlfleck und dem dazugehörigen Leuchtetoffpunkt_t minus zweimal die größte Überlappung (falls vorhanden) des Leuchtstoffpunktes mit den benachbarten Leuehtstoffpunkten auf seinen gegenüberliegenden Seiten· Bei einer herkömmlichen lochmaskenröhre, bei welcher der Strahlfleok kleiner ist ale der Leuchtstoffpunkt, wird diese Toleranz als eine "positive" Toleranz bezeichnet.

Eine weitere zu berücksichtigende Toleranz ist die sogenannte^HReinheitetolerane". Diese entspricht dem gesamten Bewegungsweich eines bestimmten Strahlflecks relativ zu seinem Farbleuchtstoffpunkt, ohne daß er den nächstbenachbarten Leuchtetoffpunkt einer anderen Färb· trifft· Sie ist gleich dem doppelten Abstand zwischen den Hittelpunkten zweier benachbarter Leuchtetoffpunkte minus dem Durchmesser dee Leuchtetoffpunktes minus dem Durchmesser des Strahl fleck-Halbschattene für Leuchtstoff punkte gleicher Größe und gleichen Abstand·· Beispielsweise haben im mittleren !«reich eimer 25*-90⁰-Rechteck-Lochiiaeken-Farbbildr8bx· (" « Zoll) vom Tjp tOA-25AJP22 die Masktnlöeher «inen Dttrehwsseer vom 12 Mil rad einen Abstand von 28,1 Mil und die Leuchtstoff punkte einen maximalen Durohmesser von 17,8 Mil und einen mittleren Mitte-Mitte~4betend von 16,95 Mil (überlappende Leuchtetoffpunkte)* In diesem Pail beträgt der Strahlfleckdurchmesser ungefähr 13,7 Mil, was eine minimale Gleichmäßigkeitetoleranz von 2,4 Mil und eine Reinheitstoleranz von 2,4 Mil ergibt· Da die Maskenlöcher nur einen Durchmesser von 12 Mil haben, beträgt der Strahldurchgang (der durch die Masken löcher hindurchtretende Anteil de· Strahles) in der Maskenmitte nur etwa. 16,5 £, so daß die verfügbare Lichtausbeute oder Helligkeit des Schirmes entsprechend beschränkt ist», ferner wird die Lichtaus— beute der Röhre zusätzlich dadurch verringert, daß man eine Frontplatte aus Grauglas mit einer Lichtdurchlässigkeit von nur 41Jt verwenden muß, um durch Minimalieieren innerer Lichthofbildungseffekte und Reflexionen des Umgebungsliohtes vom Schirm einen annehmbaren Kontrast zu erhalten. Der Kontrast bezieht sich auf das Terhältnis der Spitzenhelligkeit (hellster Teil) zur Hiedrigsthelligkeit (unerregter Teil) des Schirmes·

009849/nOO

025772 ·

lsi Suge. ihrer Ablenkung" g®g@a Stranden entsprechend etärktyen alelctsisohen

Kräften ausgeartet, die !Effekt® «entren mit OTn@to@ndea der AbIenk-Äus-

■von Änderungen dts KonrergesßfeMes ä©r Strahlen» sehe Fehler des Ablenkjoohea und durch' sehen Feldes hervorrufen» Lichtstrahlen werten etareli kein© äim@r K: der gedruckte Leiaehtrtoffpnakt fleck im Röhrenbetritb

etiisaee Yerwendetan 'besiaflmSts a© daß. Strahl-

Obwohl di@ neieten speziellen M®htbr@©iMiag®teile druok®n₉ z.B_e wis in oder in der

ben, konp®nei®rt wertem,d Se sind daher

der Mitte

diüs Mftiilceiilöelies¹ J,s

Rand gröB®r ids In die L8@her am

11^25" (Zoll) Ton des¹ einen Abstand von 27^ Messer T©m 16 KiI 16 Mil». D®r

daß .ii® 01eieh»äfiigkeif 4»4· Mil eliid· Ber beträgt nmr imgefite geringer int Eis i& Sohirm-

(v©a 12·5.1959);

als in

eacb,t man

-Mil taaä

wagefähr

ein«

wendet ₉ wm
sich ein®

ioneTeraOgen. des Schi»se@ keit des Glases ändert«

um die Lichtausbeute und den Kontrast zu erhöhen, so erniedrigen sioh sowohl die Glelchmäßigkeits- als auch die Reinheitstoleran», was bisher als untragbar angesehen wurde·

In der USA-Patentschrift 2 842 697 ist eine farbbildröhre vom Linienrastertyp, z.B« eine Index-Röhre mit Index-Streifen beschrieben, bei welcher die verschiedenen Farbleuchtatoffstreifen voneinander beabstandet sind, um die Farbreinheltstoleranis zu erhöhen und die Verwendung eines größeren Strahlfleoks, ohne daß der Strahlfleok jeweils immer nur mehr als einen (gewünschten) Färb— streifem überlappt oder überdeckt, zu ermöglichen und dadurch die Bildhelligkeit zu erhöhen« Ferner sind die Zwischenräume zwischen den Farbleuohtstoffstreifen mit opakes (lichtundurchlässigem) und nichtreflektierendem Material gefüllt, um Liehthofbildungen sowie das Reflexionsvermögen des Schirmes für Umgebungenoht zu verringern und dadurch den Bildkontrast zu erhöhen«. Ba der Strahlfleck breiter ist als jeder Farbleuohtstoffstreifen, ist diese bekannte Linienrasterröhrβ eine Röhre mit "negativer* loleranz.* In Spalte 8-10 dieser letztgenannten USA-Patentschrift sind deren Maßnahmen (ohne nähere Erläuterung) in Anwendung auf die übliche "Lochmasken-Farbbildröhre" beschrieben« Dabei wird vorgeschlagen, opakes und nichtreflektierendes Material auf die Frontplatte in einem Muster (Matrize) aufzubringen, das den Zwischenräumen oder Lücken des fertigen Schirme* entspricht, und die entsprechenden Sätze von Leuohtstoffpunkten in die Zwischenräume oder Leerräume des aufgebrachten Musters aus opakem Material einzubringen« Ss heißt, da£ die Leuchtstoffpunkte etwas größer sein können als die Löcher im opaken Muster, vorausgesetzt, daß sie nicht auf die benachbarten Löcher von Punkten anderer Farbe übergreifen, d«h«. die Löcher müssen voneinander beabstandet sein«. Die genannte USA-Patent schrift sagt niohts darüber, ob die Maskenlöoher größer oder kleiner sind als die Löcher ia opaken Muster« Eb kann jedooh vorausgesetzt werden, daß die Loohmaskenausführung wie der Zeilenrasterschirm eint Ausführung «it negativer Toleranz ist und folglich die Masken-18eher groß genug sind, um Strahlfleeke zu erzeugen, die größer JiM als die Löcher im opaken Muster« Die entsprechende Lochmaskeniuaf iüiruiig ist im einzelnen Im der USA-Pa tent schrift 3 146 368 be—

schrieben· Bei di®s©r latentseteifi; sind die Masfeesilöeher sowie die Strahlflecke gröies? ©le dl© ?a?bl@u@htetoffpmnlct©_p wie in Figur 2 und 4 gezeigt». Woge» il©ser negativen Soleraasbesiebung iet es schwierigg dl® lemehtitofipBifete rad äag raggteend® nichtre—-flektierende Matrissensiaterial auf Sie Frontpiatte aaek einem direktphotograpMseli®» ?erfate@m aufsntelagea, ©lua© daß die effektive CIrISSe der Masken! ifefeer wlte@ai ä©@ S@hlrates©keia® zeitweilig ▼erändert wird» da ils tem@latöt@ffp3akt@ üam. HmIgQM₉ imter bestimmten Beliehtuagsb@dingi!mgem

Der'Erfindung liegt Sie Auf gäbe gugnaadeg, eine Loehmasken-Farbbildröhre mit weseatlieö. Yerlaeseestes· H©ll±gls@it und aimehm™ barem Kontrast sowie an&@hmba?@& p@ßiti¥ea folersiBgen zu schaffen®. Zur Lösung dieser Aufgabe ist ©in® Earbbiliröhr® d@r eingangsgenannten Art erfiödung0gemä4 daiurch gekennzeichnet_p daß die MatrÄ»- zenlöcher größer sind ale die äazragehSrigen Meikenlocher, derart, daß auf dem Schirm im Betrieb der R5kr© £lektron©n@trahlflecke erzeugt werden» die kleiner sind ale äie MatrisemXSehery wobei das Verhältnis des Matriaendurehgaags sum M&skenäu^chgang in der Mitte des Schirms bzw.. der Maske im Bes?eicii vom 3$5 bis 4»7 beträgt und wobei die Maskenl5eher rad die Matris®nlodaer in ihrer Größe so abgestuft sind^ dad sie am AuSenrand der Maske bzw« des Schirms wesentlich kleiner als in.der Schimraitte sind und das Verhältnis der Matrizendmrchlässigkeit siir Maskendurchläseigkeit an den Außenrändern im Bereich -von 5,3 bis 6,4- beträgt«»

Dadurch wird eine üocheaeken-Parbbilteötee mit Matrizen-, schirm erhalten,, der sich YerhältnismäSig leicht nach einem direktphotographischen Druckverfahren, herstellen läßt»

Gemäß einer Ausführungsfora der Erfindung ist die übliche Leuchtstoffpunkt-LochmaskenrShre wie folgt abgewandelt;

1. Die Glasdurchlässigkeit der frontplatt« einschließlich eines etwa darauf angebrachten Sicherheitsfenster«- 1st erheblich erhöht, um die MeMauibeutt zu erhöhen.

2. Der effektive Durchmesser der farbleuchtstoffpunkte lot bis auf einen Wert etwas unterhalb der Berührung mLb den

0OÖÖA9/UOO

benachbarten Leuchte toff punkten» innerhalb dir Grenzen annehmbarer positiver $oler&nz, verkleinert imA der Zwischenraum «wischen den be&betandeten Leuehtetof fpuii&ten ist mit einer Matrize aus opakem und nichtreflektierendem Material beschichtet, um die Auswirkung der erhöhten G-Ia₁S durchlässigkeit eu kompensieren und dadurch ®in©m annehmbaren Kontrast zu erhalten«

3. Vorzugsweise ist außerdem der Durchmesser der M&skenlöcher unter Preisgabe eines großen Teils der Melier als wesentlich angesehenen ¥ei%leichmäßigkeit0tolerati» vergrößert, um die Lichtauebeute der Röhre weiter eu erhöhen«

Die Reinheitstoleranz wird durch die verkleinerte LeutihtstoffpunktgruBe vergrößert und dimta die vergrößerte Maekenlooii«»- gröfie-^erkleinert». Hieee Bffektt neigen somit daeti* sieh gegemieitig auf euheben, so daS eine EShre itsAaXtea wir<ä₉ deren ran« ungefähr die gleich« wie te·! u»tt
Hinsichtlich der Verringerung I®r WeiSf¹¹ addieren sich jedoch die Wiylnsai«» Isr ^erSclsi: tm* flor stoffpunktgröfle und' der TergröSeiroag A«r ϋοΑ^ΛΓοο im Stadium- des Farbfernsehens wurden die seilten noch in Schwareweift übertragen, so daß ein® WeiSgleielaäSiigitcit ; oder ein farbabgleioh erforderlich waren, van das luftretea Ton Farbfieoken in Schwarzweißbildern aufgrund τοη ?ehldeokung swiinben Strahlfleok und Leuchtstoffpunkt zu rersaeiden» Inzwischen kaan Jedoch aus zwei Gründen die Weißgleichmäßigkeitstolerasis erhet»ll«ii Terringert werden· Zunächst einmal werden jetzt die seiet en Prop» gramme in Farbe übertragen, no dai rergleichsweise wenig Schwarzweißbilder, die durch schlechten farbabgleioh beeinträchtigt werden können, in Farbempfängern auftreten· Sine geringfügige Fehldeokung macht sich in Farbbildern nicht sehr bemerkbar* Sodann kann man aufgrund der Besserung des Schirmdruekrerfahrens jetzt geringere Toleranzen in Sauf nehmen« Die Irfiniung lief@rt daher eine kleinere Weißgleichm&ßigkeitetoleranjs besonders in der Setiirm mitte sowie eine größere Lichtausbeute bei annehmbarem Kontrast und annehmbarer Heinheitetoleranz» -

009849/UOO

Die Erfindung let auoh auf andtei
beispielsweise eine solch® Mit !linienraster- oder Streifenschirm sowie Critter-'oder Langloehiaaske anwendbar«.

In der Zeichnung
Figur 1 eine teilweis© Im Isialaotoitt wiedergegebene Draufsicht einer DreistreM^ocnmaskefr-Farbbildruhre gemäß.

einer Ausfuhrungeform S@r SrfindUQgi:

Figur 2 ein® vordere Stixnaasloht der Hitae nach Figur Is Figur 5 einen vergrößerten Querschnitt entlang ä@r Solmittlinle p-p in Figur 1 mit f ©ransöhauliehung ein@r D®lta«*Strahl

anordnungg
Figur 4 eine Darstellung d@r El@lstr&n@n@trahlenginge ©Ines der drei Strahlen In ^®r Etlkre nach Figur 1 b@i Abtastung

Über ein Haskenlochg
Figur 5 eine in Eiohtmg der (feile 5-5 in Figur 4 gesehene

Daretellimgs
Figur 6 ein® der Plgiis¹ p öialiek© vergröiertd Darstellung

eines Fragaeitas äer Ifeteie© iee Sehlxneft nach Figur. Ir Figur 7 ein® perep©ktiviglsSi® BaMt©llung ©intr abgewandeltea.

Au@ftShrung0fem Ι®£> Loelmaete wiü Frontfiatt® naoh

Figmr I₉' geee&ea mn ©ben gegen die Strahleyet©meeitet Figur 8 eine

flchira«i8
Figur 9. einen Qnersolu&itt eatleag Äer Setoittliaie P-P in.

Figur 1 mit

Bio in Figur 1 geffi®igte fteM}litetUir# 1 OlfcBkolbeii. 3 »it «ines Fremtplmttsiiteil 5-_s tos en eimern 2?riehteiv oder Konueteil 7 angeechiieleeii let«. Bao Fromtfl&tteütslli. 5 hat eine verhaltniismuiig groiüi Fremtj§iatte 9 toh Ib veiemtliehen ®^ii> riech er ExrÜBBBung und ¥o^angew®le@ alig«fi©iB reohteokistr l&rm eo«- wie einen axialen umfiuQg®£lang®li 11» ®«i? lonmßteil 7 hat einen Kegeletuapfteil 13« d®r alt eeinte gr8B@r©]i 1kl« feel 15 au ien Flansch 11 angeschmolzen unS «it iseiiifa kleineren Ind® mit.de» einen Ende eines Hals teils 17 von kleines Durchmesser verbundem ·

009843/1400

ist«. An seinem anderen Ende ist der Halsteil 17 durch einen Röhren fuff 19 mit steifen Zuleitungen 21 und einem Sockel 23 abgeschlossen.

Auf der Innenfläche 25 der Frontplatte 9 ist ein Mosaikschirm 27 (im einzelnen in Figur 6 geseigt) angebracht, der aus einer Vielzahl von runden leuchtstoffpunkten aus rot-», grün- und blauliehtemittierendem Leuchtetoffaatorial besteht, die in einem hexagonalen Muster in Form von Dreiecksgruppen oder !Eripjsln von beabstandetem Rot—, Grün·· und Blau-leuehts to ffpunkten 33 ζ «JB.«. 33R, 33G und 33B in Figur β angeordnet sind». Eine im wesentlichen sphärisch gewölbte Yielloehmaske 35 ist im Abstand vom Schirm 27 lösbar im Frontplattenteil 5, a«B, durch übliche Stifte und Blattfedern (nicht geseigt) gehaltert«. Die Maske 35 besteht vorzugsweise aus dünnem (z.B.. 6 Mil dicken), kaltgewalztem Stahlblech« Die Maske 35 hat ein hexagonales Muster von Rundlöchern 37» und swar je eines für jedes Eeuchtstoffpunktwlripel 33V Die vergrdBerten Pro>~ jektionem von aw«i der MaskenloOher 37 sind durch gestrichelte Kreise in Figur 6 dargestellt«.

Im Halsteil 17 ist eine übliche Delta^Blektronenatrahlsysternanordnung 39 vorgesehen, die drei konvergierende Elektronenstrahlen 41 erzeugt und von den Ecken eines gleichseitigen Drei·» ecke gegen den Schirm 27 richtet«. Im Betrieb der Röhre werden die konvergierenden Strahlen 41 mittels eines die Röhre umgebende magnetischen Ablenkjoches 43 rasterförmig über die Oberfläche des Schirms 27 abgelenkt«. Die Ebene B-P in Figur 1 ist die Ablenkebtnt (oder der soheinbare Ursprung) der Strahlen bei Nullabienkung^ wobei die drei Strahlen: auf die Mitte des Schirms 27 konvergiert sind«. Figur 3 zeigt die Delta-Anordnung der drei Strahlen 41, wobei jeder Strahl in der Ebene P-P um eine Strecke S radial von der MLttelachse bei Nullablenkung beabstandet ist» Bei zunehmendem Ablenkwinkel wandert die Ablenkebene in Richtung gegen den Schirm Ms zu einer Bbtne FLP¹für maxiaalt Ablenkung. Der Abstand längs dar Mittelachse zwisohen der Ablenktbtnt P~P und der Maske 35 be— :rr-l.^t p_, mid der Abstand swlsohen dtr flask er 35 und dem 3ohlra 21 >5l:i/Hii*b i^, TJ-it' tfesamtabstand ρ + q ZtiLtuuimi »Iuc Kbtne "P-P und

1440/ UOO

BAD ORSQINAL

~ 10

dem Schirm beträgt L » Im allgemeinen werden p₉ q. und L entlang des Strahlenganges gem©§®@n_e Bas ferhältai® X » L/p wird als die Vergrößerung der RÖhrs beseletoe-fe®. Ba ρ mit dem Afelenkwinkel zu- nimmt, würden die drei Strahlen in unerwünschter Weis® konvergieren, ehe sie d©n Schirm erreichen® wenn te lonvergenswinkel konstant gehalten WiIrOe₈. um dies zu vormeiden und eine Konvergenz am Schirm zu ©ra?©ieiiGSä_e wsdLesa ile ^t^üKlöa während äeT Ablenkung einer dynamisches K©&v©:?gess dm^sii flMiöh© Eias'ichtiaagen- (nicht gezeigt) unterzogen, die Qia©-Äia@wärtsver8ehi©bung ©der -Versetzung drei Ablenkten ts?©» In i©r &bX©nk©b©ii@ f¹³-!" bei maximaler Ablenkung erzeugen«, Diejenigen Seil© des? fix¹©! Strahlest, di© durch ein bsstiriiimte» Mask©alö©k 3Ί Maa«i?©Iateet@»_e diTergi©r©si zwlaohen Maske rad üchint und treffea ©mf &@m Schirm 27 in for« eines Trios von beabstandeten S teahlil©elc©a 45 _f s«3*. 451» 45G und 45B in Figur 6 auf ₉ die vorzugsweise Bit' ä©B ©ütspreohenden-IieuGhtstoffpunkt·» Tripei genau zentriert slnü eäer sich

Eigur 4 und 5 ü@igem die Sauf weg© i©2? Elektronen eines Strahls 41t- der im Zuge äer Iblankaag durch, sia Maekenloch 37 hin— durchtritt und auf eia©s le^<ae]at©t©ffpiml£t 33 auf der Prontplatte % K₀B*. nahe der Sohirmmitt© auftrifft*. Ee eini Ä der Lochdurchmesser und II dtr Burchmeesar dts Strahle 41 in dtr Abl©nk@b@n@ P-P* Bio konische Projektion. d«s ftmkits O in der Kbene P-P durch das Iiooh 37. »uf den Iieuehtstoffpuakt 33 erseug-l ©Ιηβκ: Kreis 49 vom Durch«' messer Cl m AK Bein t?b«rstrelethen des Loohds 37 ©r^eugt der Strahl einem Schattenkrole 31 usi ©inen Halbechattenkreie 53 mit den Durchmessern 1 bew«. 1«. Ef=S » ß««® « E-J, s© daft B « C+mJ und D

β. Q.

Die Rühre_r soweit bights¹ beeelirieb@m, kann Is, ihrer Konstruktion der Standard 25^w«9O°«leohteck«»iiocfejpE0k®iiHFarbblldrohre z.B. vom Typ 25AJ£22 entspr©eli®n_f die eine (Jl&BfsOatglatte mife einer Lichtdurohlässigkeit- \ron ungefähr 419& hat«.

einer Ausführung«forii &©s Irflndiuig wLrd für JLe pL;ifc!ia 9 Bin (Has vjrwmdefe, lao entweder a.lL<«ln odar Lu Terbin ■ i ti,., üii. .j 1 UuPi et"«.:; iaxiiuf >ii'.ut>rL ΐ{#Μ·η ^ivUi;rhal,h?,;'α ifciH- «.tue

resultierende Lichtdurchlässigkeit hat, die erheblich größer ist als die Durchlässigkeit tob All· der StandardrShren-Irontplatte, um die Lichtauebeute beträchtlich zu erhöhen, und sind außirfiea die Farbleuchtstoffpunktt 33 durch eine Matrize 37 aus ausreichend opakem und niohtreflektierendem Material mit die Iituehtstof fpunkte 33 enthaltenden löchern 48 Tonelnander beabstandet» um unter Beibehaltung ungefähr des gleichen Kontrastes wit bei der Standard-» röhre annehmbare Strahlfleck-Leuchtstoffpunkt-iehldecloimgetoleran.— zen zu erhalten, wobei dit Masktnlushtr u» toritl klsintr sind als die Matrizenlöcher, daß eint positiTt Wtiegleichmäiiigktitetuleranz erhalten bleibt«.

In der nachstehenden Tabelle Σ sind dit betreffenden Konstruktionsdaten für eine Matrizen-LtiKthtstoffpunktruhr® mit eintr Qlasdurchlässigkeit (Lichtdurchlässigkeit des diätes) gtmäS einea beTorzugten Ausführungtbtispiel dtr Erfindung (l«t«tt iwti Spalten) den entsprechenden Daten der Standardruhrt tob Sjp 25AJ222 alt einer ulasdurchlässigktit το» 41# (erste «?·! Spelt®n) gegimffti*— gestellt*. Die beiden Rehren haben dtn gitieliem ik:-sk«iil®e!wist«Ji(l a - 28,1 Mil in der Mitte und 27₁7 Ul Mi-Am ä@kf>a₉ d«n Strahlfleckdurohmtster B * 54 MiI₉ d«m glticlieii AtotaaS E d§r Strahlen von der Ruhrenmittelachs» in der Ifbim« Έ*>9 bei i kung Ton 0,219", die gleichen Werte tob ρ gltioh 13 »113 "in d«r Mitte und 15,699" an dtn lcktn, τοη q » O_t584"' in dtr Mitte und 0,578* an den Boten, dit gleichen Werte τοη Ii gleich 13,697" im | der Mitte und 16 ₉ 277" an dtn Koken, und dtn gleichen Wert τοη λ gleich 1,0445 in dtr Mitte und 1,0368 an dtn loktn·

In der nachstehenden Tabelle X sindt JL der Durchmesser dtr Maskenlöcher in Hilf a der Mitte-Mittt-Abstand dtr Matktnlöehts in Mils C der Durchmesser des Strahlfltoks auf dem Schirm in Mil; B der Durchmesser des Strahlschatttns (Krtist 51) in Mil; S der Durchmesser des Strahlhalb8ohatttz&· (Kreist 53) in Mil; I der Durchmtsstr dtr MatrlstnlSchtr 48 oder der Leuchtstoff-

punkte 33 in Milj M der Durchmesser des Elektronenstrahls in der Ebene F-P in Mil;

009849/1400

CT die Reinheitstoleranz, gleich zweimal dem Abstand zwischen den Mittelpunkten zweier benachbartes? Leuchtstoffpunkte minus dem Durchmesser des Leuchtstoffpunktes minus dem Durchmesser des Strahlfleckhalbschattene^

LT die Weißgleichm&ßigkeitstoleranz, gleich der Differenz zwischen dem Durchmesser dee Leuchtstoffpunktee (F) und des entsprechenden Strahlhalbschattene (E) minus zweimal der Überlappung eines benachbarten Leuchtstoffpunktes mit den größten Überlappungen r

tg der Prozentsatz der Lichtdurchlässigkeit des Glases der Röhren frontplattej

Tm das Terhältnis der Gesamtfläche der Maskenlöcher zur Gesamtfläche des durchbrochenen oder gelochten Teils der Maske;

Tjj das Verhältnis der Fläche der Löcher 48 in der Matrize 47 zur gesamten durchbrochenen oder gelochten P2Läehe der Matrize;

rs der Dezimalbruchteil des von der Betrachterseite das Schirmes 27 der Röhre reflektierten Uatgebungslichtee;

SL das durch Streuelektronen in der Röhre bedingte Licht vom Schirm, gemessen in Pu§">ljambert;

CR wie nachstehend definiert|

RC wie nachstehend definiert«

00Ö849/UOO

Tabelle I Standardröhre	A (Mil)	41	Ecken	IL « O1	Matrizen-Punktröhre	Mitte	Ecken	10,4
	Maskendurchiässigkeit 5ffl	12,0	41	>9069(±-Γ	Beispiel I	69	69	11,6
	O (Mil)	0,1654	10,0	13,1	10,0	15,0
Mitte	B (Mil)	12,5	0,1182	0,1971 0,1182	0,742
	f (Mil)	13,7	10,4	13,7	6,3
Matrizendurchlässigkeit Ig	17,8	11,6	14,9	1,2
Verhältnis TM/Tm		16,0	16,0	0,284
Relative Liohtausbeute RLO	m	-	0,808	1,2
Schirmreflexionsvermöge» ra	1,0	-	4,1	34,3
Streulicht SL (JuB-Lambert)	0,1562	0,715	2,0	0,98
Kontrastverhältnis CR	1,0	0,1562	0,306	3,4
Relativer Kontrast RO	38,34	0,715	2,0	5,4
LT (Mil)	1,0	35,1	38,5	9069C|)2,
OT (Mil)	2,4	1,0	1,0	ζ 3 und das Reflex
2,4	4,4	1,1
	4,4	3,0
In Tabelle X sind die Maskendurchlässigkeit	OS * 0,
die Matrizendurohlässigkeit

die Matrizendurohläasigkeit T^- 0,9069() ζ 3 und das Re ionsvermögen der Röhre r_g · 0,04 + (0,96)* χ o,75 ζ (t )² ζ wobei 0,04 das Reflexionaveraögen. der Irontplattenoberflache, 0,96 der von der Frontplatte nicht reflektiert· Bruchteil des Umgebungsliohtes und 0,75 das Refltaioneveraögtn des Leuohtsohir» mas sind» Die relative Lichtausbeut« RIO beträgt «"*? ¹ "

Das KontrastTerhältnis OE ist gleich (Spitsenhelligkeit + Unge~ bungslloht ζ Röhrenreflexionsvermögen) / (Umgebungslloht χ Röhrenreflexionsveraögen + Lloht durch Streuung)» Der relative Kontrast ist gleich (Kontrastverhältnis der neuen Röhre) / (Kon— trastverhältnis der StandardrShre) bei gleicher Anodenenergie und gleichen Umgebungslioht. Sie angegebenen Daten gelten für 2 Fuß-Lambert üagebungslioht. Das dmroh Streuelektronen bedingte XiUht wurde als 1 ?uß-La»bert in der Mitte der Standardröhre und '^; ?u3-Lamb)rb In der Mltfce der Mabriaen-Punktröhre nach Tabelle I gdan,5aan* Das Hraulioht Ist der Glasdurchläislgkelt und der ■

.001849/1400

BAD öftÖfNAL

Fläche der Maskenlöcher proportional» Bei der Berechnung des Kontras tverhältnisses wird die Helligkeit in der Mitte der Standardröhre als 50 Fußt-lambert genommene Somit ergibt sich als Kontras_t verhältnis CR in der Mitte für die Standardföhre der Wert ⁶ * 58^34. Bi® ©leiehmäBigkeititoleranE LT beträgt F-E (minus der gesamten Punktüberlappung bei der Standardröhre), und die Reinheitstolerant CS beträgt «&- -?-*£» D@r Ausdruck ·=£- in der Reinheitstoleranss entspricht des zweifachen Durchmesser sich berührender Leuchtstoffpunkte» In den Schirmecken verringert eich dieser Ausdruok um 1,9 Mil, d.h«, 1» vorliegend gegebenen Beispiel vom errechneten Wert von 33« 9 Mil auf 32 Mil„ zwecks Korrektur der Tripelverzerrung«.

Wie aus !Tabelle I ersichtlich, wird durch Erhöhen der Front plmttendurchlässigkeit t von 41$ auf 69#» durch Erhöhen des MaskenlochdwrcnmesBers A von 12 auf 13®1 MiI₉ durch Verringern des effektiven Durchmessers der Leuchtetoffpunkta 33 von 17,8 auf 16,0 Mil (Matrizenlochdurchmesser F) und durch Hinzufügen der opaken, nichtreflektierenden Matrize 4? @in© Mstriaen-ieuchtstoffpunkt— Loohmask«nr5iir® mit positiver üüolerans erhalten, welche die doppelt· Liohtausbeut· der entsprechenden Standard-Lochmaskenröhre gleicher GröB· und Anodenleiatuag sowie im wesentlichen den gleiohtn Kontrast und ein· größer® Reinheitstoleranz (3,0 gegenüber 2,4 Mil) in der Mitte des Schirmes 27 aufweist*. Der für diese Verbesserung bezahlte !reis besteht in ätr Terrimgerung der WeIS-gleiohmlßigkeitstoleranz auf nus 1,1 MIl₀ Da die Toleranzen in Durchmeseern ausgedrückt werden^ beträgt al® tatsächlich zulässige radiale Fehld©ßkung i§wieoh,ea Strahlfl®ck und Leuchtstoffpunkt bezüglich der koneentrischen Lage nur 0,55 Mil· Erfolgreiche feste mit Matrizen-'Leuohtstoffpunkt-i'arbbildröhren gemäß dem vorliegenden Beispiel haben gezeigt,. daS diese ©leichmäSigkeitstoleraniE Ln der Schlraaiifcte, wo die Uraaehsa der Fefaldeetamg minimaX sind, durchaus ausreioht«. Ss wird sogar ang@n®mien, SaS diese Toleranz auf praktisch null reduziert werä@s koas» ohne daS d&s zufriedenstellend· Arbeiten der Farbbildröhre dadurch beeinträchtigt wird»

009SA9/HOO

Jedoch sind an den Ecken der Röhre, wo die Ursachen der Fehldeckung maximal sind, größere Gleichmäßigkeitstoleranzen erforderlich* Bei der Matrizen-Leuchtstoffpunktröhre nach Tabelle I sind die Haskenlöcher wie bei der wiedergegebenen Standardröhre in ihrem Durchmesser A bis auf 10,0 Mil an den Ecken abgestuft und haben die Hatrizenlöcher an den Ecken einen Durchmesser P von 15,0 Mil. Dadurch wird erreicht, daß in den Eckenbereichen die Lichtausbeute ungefähr 1,7 mal so groß ist wie bei der Standardröhre, der relative Kontrast 0,98 oder 98Jt des Kontrastes bei der Standardröhre beträgt, die Reinheitstoleranz (5,4 Mil) wesentlich größer ist als bei der Standardröhre (4,4 Mil) und die Gleichmäßigkeitstoleranz 3,4 Mil, gegenüber 4,4 Mil bei der Standard- | röhre, beträgt, was eich als ein zufriedenstellendes Resultat erwiesen hat.

Die Erfindung ist nicht auf das spezielle Beispiel gemäß den beiden letzten Spalten der Tabelle 1 beschränkt· Die praktischen Grenzen der Erfindung in Anwendung auf eine Matrizen-Leuchtstoff punktröhre sind ungefähr wie folgt: GlasdurehlässJgkeit 50$ bis 80ji und Maskendurchlässigkeit Im Bereich ?on 16,5Jt bis 22j£ in der Mitte, was einem Maakenlochdurchneseerbereich von 12 bis 13,8 Mil, bei dem Lochabstand a von 28,1 Mil gemäß obigen Beispiel, entspricht. Auf jeden Fall sollte der Matrizenlochdurchaesser ua 2 bia 4 HiI größer als der Maskenlochdurchaesser, der für die Erzielung annehmbarer Kontrast— und Toleranzbedingungen wie oben I erklärt gewählt iet, sein» An den Ecken sollte die Maskendurchlässigkeit im Bereich von 11,8£ bis 14Ji sein, was einem Maskenlochdurchmesserbereich von 10 bis 11 Mil, bei dem Lochabstand von 27,7 HiI, entspricht, und sollte der Matrizenlochdurchmesser um 4 bis 5 HIl größer als der Maskenlochdurchmeeser sein, um einen annehmbaren Kontrast und annehmbare Toleranzen zu erhalten« Für Röhren mit einem Maskenlochabstand von 28,1 Mil in der Mitte und 27,7 Mil an den Ecken und mit den gleichen Werten für ρ und q wie bei der Standardröhre 25AJf22 sind diese Grenzen anhand von drei Beispielen in der nachstehenden Tabelle 11 wiedergegeben:

009649/UOO

.- 16

	Beispiel 2	Ecken.	Tabelle IX	Ecken	Beispiel 4	Ecken
	Mitt«	60	Beispiel 5	50	Mitte	80
	60	10,0	Mitta		80	11,0
	12,0	0*1182	50	0,1303	13,8	0*1390
Ag	0,1654	10*4	13,4	10,9.	0,2187	11,4
	12,5	111,6	0*2062	12,1.	14*4	12,fi
α	13,7	15*0	14*0	15*6	15,6	15*4
1	• 15,5	0,742	15*2	0,802	15,8	0,782
7	0,739	6,3"	15#β	6,2	0*788	5,6
1M	ι 4»6	1,046	o,7©i	0,961	3*6	1,64
	1,463	0,2246	3,8»	0,17®7	2*575	0,3860
RIO	0,2288	1,04&	1*525	6,961	0,3886	1,64.
Γβ	1,463	35,2	0*176	36*8	2,575	34*1
SL	38,3	1,0	1fr§25	1*04	38*8	0*97
cot	1,0	3,4	40^9	3#$	1,01	2*8
RO	1,8	5,4	1,0?	4#y	0,2	4,0
IK	4,7/	0,6		2,5
Of	2,9

Bei den in den Tabellen X .und II wiede?gegeb«n@n Tier Beispielen der erfindungegemäßtn MEtrIäs@m««ä»®uch-festoffpmnktfarbröhreit liegt die lichtauBbeut© oder Helligkeit swieehen dem 1,46— und des 2,6-JaChIE der entsprechenden Mehtausfceute ©Iner Standardrühre in der Schimaitte und swi®eh«n dem 1,3—und dem 2,3*^aehen an den Ecken (gegenüber 0,THUs)» ^®r Kontrast liegt swisehen de» 1,0- und des 1,07-tfftehen d»e «ntipreehenden Eontrastes der StirndardrShre in der Mitte und std-selien de» 0,97·* tand dtat 1,04**i^>aehe2i des Kontrastes der StandardrlSk?® nn den Ecken* Beide fele&anzen sind fiber die gesaate Schirffiflä0ln§ annehmbar«.

Sie Auswirkungen äms fe^i^iSermig entw«d»i> 1Mbeigke.lt oder der MagkamloslifrSISe oder der allein bei einer Matriien-S^sliiaeken-iarbbildrekre folerans eind in der nächst«M*Mft«a Aufstellung

009849/U00-

Vergrößerung BIO RQ r_ EU OT * t Erhöhung Erniedrigung Erhöhung keine Wirkung keine Wirkung

A Erhöhung Erhöhung, keine Erniedrigung Erniedrigung

Wirkung

f keine Erniedrigung Erhöhung Erhöhung Erniedrigung Wirkung ,___*_.

Sex Wert von 6o£> für t in Beispiel II der Tabelle II wurde im Hinblick auf die Erzielung einer wesentlichen Erhöhung der Helligkeit ohne Erhöhung der Maskendurchlässigkeit (lochgröße) gewählt· Die obere Grenze Ton 80% für die Glasdurchlässigkeit t in Tabelle XI stellt annähernd den höchsten Wert dar, der bei Erzielung eines noch annehmbaren Kontrastes und noch annehmbarer Toleranzen, verwen— ä det werden kanmv Das Verhältnis ^Wl- der Matrizendurchlässigkeit; zur Maskendurchlässigkeit in Tabelle II beträgt minimal 3,6 in der Höhrenmitte bei t « 80% und minimal 5,6 an den Ecken bei t * 80%» Wenn durch Verkleinern der Matrizenlöcher diese Verhältnisse erheblich unter diewe Minimalwerte verkleinert werden, wird die sich ergebende Verringerung der Weißgl«ionmäSigkeitstolerani untragbar. Wenn diese Verhältnisse durch Vergrößern der Maskenlöcher erheblich, verkleinert werden, werden die sich ergebenden Verringerungen sowohl der WeiSgleichmäßigkeits- als auch der Reinheitatoleranu untragbar«. Andererseits beträgt 3?}j/*_m maximal 4,6 in der Mitte und 6,3 an den Ecken» Die Erfindung ist somit speziell auf Kombinationen von MaekenlSehern und Matriaenlöohem anwendbar, bei denen das Verhältnis von Tg zu T_ffl im Bereich von 3,5 bia 4,t in der Mit*» ' und im Bereich von 5,3 bis 6,4 an den Ecken der Maske und des Schlx mes liegt*

Beispielsweise kann, der Schirm 2? nach figur 6 Huf der Inntnfläoh· 25 der Irontplatt« 9 vor dem Versohaielzen des irontplattenttil· 5 mit d«m lonueteil 7 auf folgende Weise angebracht werden« Ils eritt· wird die Oberfläche 25 mit einem phototmpfindlichen Belag; a.B». einer mititooniuMhichroaat seneibilieierten wässrigen, Polyvinylalkohollöiung· beschichtet·. Der Belag wird getrocknet, die Maske 35 in das frontplatttnteil eingebaut und das Prontplattenteil in einem üblichen "Iiiohtgehäuse¹¹ , das eine Lichtquelle sowie ein oder mehrere Mnnn oder lidhtbreohende Elemente zum Korrigieren verschiedener

Deckungef#hlerurBiiohiii enthält, angeordnet« Der photo empfindliche

00S849/1AOO

Selag wird dann nacheinander durch die Maske mit einer lichtquelle, die nacheinander an jeder der drei den Quellen der drei Elektronen*· strahlen im Betrieb der Röhre entsprechenden Stellen angeordnet wird, belichtet, um leuchtetoffpunktteile dee Belages entsprechend dem Muster der löcher in der gewünschten Matrize auszuhärten· Die Sauer und Intensität der Belichtung werden sorgfältig so eingestellt, daß die gewünschte Matrizenöffnungsgröße entsteht· Nach der Belichtung wird die Maske entfernt und werden die unbelichteten und folglich unausgehärteten Seile des Belages durch Entwickeln in einem geeigneten Lösungsmittel wie Wasser entfernt. Nach dem Trocknen werden die blanken Bereiche der Oberfläche 25 zwischen den gehärteten Punkten mit einer Matrize 47 aus opakem, nichtreflektieren dem Material beschichtet« Dies kann dadurch geschehen, daß man die Oberfläche 25 und die funkte mit einer Aufschlämmung von ungefähr 4*0 Gewichtsprozent kolloidalem Graphit in Wasser beschichtet, den Belag trocknet, den getrockneten Belag mit einem Chemischen AufschlieSungsaittel, beispielsweise einer wässrigen lösung von ungefähr 35 Gewichtsprozent Wasserstoffsuperoxyd behandelt, wodurch der gehärtete Folyrinylalkohol der Punkte auffuillt und erweicht, und anschließend mit Wasser spült, so daß die erweichten funkte mit dem darauf befindlichen Graphitbelag entfernt werden und die löcher 31 in der Matrize 37 zurückbleiben* Als nächstes werden nacheinander die drei Huster von Rot», Grün- und Blau-Ieuchtetoffpunkten 33 in drei getrennten Belichtungavorgängta in lichtgehäust in die löcher 31 der Matrize 47 in üblicher Weise eingedruckt· Die einzelnen !•uchtstoffpunkte 33 können den Raum innerhalb der einzelnen Ma%-trieenlöcher 31 gerade ausfüllen oder auch etwas auf das benachbarte Matrizenmateriai übergreifen, vorausgesetzt, dad sie nicht bis auf die näohetbenachbarten Matrizenlöcher übergreifen· Der effektive Durchmesse? des Leuchtstoffpunkte» 33 ist der Matrizenloohdurohmesser I, da die Matrize opak, d»h. undurchlässig für lioht ist, das durch Elektronen erzeugt wla?&_# die auf die auf die Matrize übergreifenden Seile der leuchtstdffpunkte auftreffen·. Durch ein derartiges Übergreifen oder Überlappen wird daher die Reinheitstoleranis nicht beeinträchtigt· Fach dem Aufdrucken der leuchtstoffpunkte auf die- Matrix® 47 wird die üblich« elektronen-, fcransparanfce, reflsktlerends Aluini&iumsoliiohil· auf am Schirm 27 aufgebracht., OO08A9/UOO * "

Figur 7 und β Teranschauliehen die Anwendung der Erfindung auf eine Loehmasken-Farbbildröhre mit Linlenrastersohlrm, bei welcher die sphärische Frontplatte 8 nach Figur 1 durch eine zylindrisch konturierte Frontplatte 9¹ τοη allgemein rechteckiger Form und die sphärische Lochmaske 35 nach Figur 1 durch eine zylindrisch konturierte Lochmaske 35* τοη allgemein rechteckiger Form ersetzt sind». Pie Innenfläche 25* der Frontplatte 9* 1st mit einem Mosaikschirm 27* beschichtet, der aus einer Matrize 47' aus opakem, nicht reflektierendem Material mit einer Tielcahl τοη den Rundlöchern 43 in Figur 6 entsprechenden beabstandeten, parallelen Langlöohern oder Schlitzen 48* besteht« Mindestens die innerhalb der Schlitze 48* befindlichen Oberflächenteile der Frontplatte 9^r sind mit rot-, ä Grün- und blauliohtemittierenden Leuchtetoffmaterialien beschichtet, so dafi sich wiederholende Gruppen ron friaden aus beabstandeten parallelen Hot-, Grün- und Blau-Leuohtstofflinien oder -streifen 33* z.B.. 33'R, 33*9 und 33*B in Figur β, entstehen· Torzugewelse erstrecken sich die Schlitze 48* und die Streifen 33* Tertikai über im wesentlichen die gesamte Breite oder Mühe der Frontplatte, so dafl sie beim Horizontalhinlauf der drei Elektronenstrahlen im wesentlichen rechtwlnklich abgetastvt werden» Dl· Lochmaske oder Schattenmaske 35*, die aus dünnem kaltgewalztem Stahlblech bestehen kann, hat eine Vielzahl τοη Langluehern oder Schlitzen 37*, und zwar je einen für jede Triadengruppe τοη drei Farbleuohtstoffetreifen 33*, wie in Figur 7 gezeigt· Im übrigen kann die Rühre nach dieser Auzführungsform Im wesentlichen genauso aufgebaut sein wie die Matrizen A leuohtetoffpunkt-Lochmaskenröhre nach Figur X₉ mit Ausnahme der Satsaohe, daß die IKilta-ElektronenetrahlByitemanerdiiung 39 Torzugsweise durch eine ^N£inzellen^N~ oder "Llnien^-XLektroiienstrahlsystemanordnung ersetzt ist, bei welcher die drei Strahlen τοη drei Slektronest» strahlsystemen ausgehen, die im Abstand Tonelnander in einer Horizon talebene angeordnet sind, wie es i.B. in der tfSA-Fatentsohrift 2 849 647 (rom 26.8,1958) gezeigt lsi»;Figur 9 Teranschaulieht die Binzeilen- oder !»Inienanordnung der drei Strahlen 41' einer solchen Anordnung· Der Abstand «wischen jedem der beiden äußeren Strahlen und dem mittleren Strahl in der Afelenkebeae P-P kann der gleiche sein wie der Horizontalabstand jedes Strahl· τοη der Mittelachse bei der Selta^Anordnung, d.h. S*¹ « S cos 30°« 19Q¹V Die langgestreckte

αθ'9849/UOO

Fläche 41" dee Schirmes, auf dl® ein#r der Strahlen 4I^i: beim überstreichen eines Schlitze® 37" -auftrifft* ist in Figur 8 durch gestrichelte Linien angedeutet*

Beispielsweise bei ©in®r 25^90⁰-M&toiBen-4ainienra8terri$]pire Hit zylindrischer Prontplatt® mit einem RrilnoungBradiue von 33*©75% was der Krüamung der sphärisch®!! Froatp'latt® bei der Standardröhre und der Matrizen-funktrßhr® g@miS Ie» obigen Beispielen entspricht» sowie alt tinea horlssontaltE AbstenA ü swlielen den vertikal©n Mas« kenschlltzen 37" von 24 Mil imS unter ¥@rwtiadüng des gleichen Wertes Ton L₀(U©697*) wie bei des latriB®n»Panktr81ir© wird der Wert" Ton q. in der litte q._ft * *o* «b QSlT^₉ dtr Wert fön ρ " ■ L_ - q_ ■■

5
13|12Ο3", und der Wert τοη

an den Boktn des Schirmes umi am? Mask©

dynaaiflohen KonTff>gensdtgrappi©rung ier Strahlflteke ία trieb um 0^6}f (belepielsweis®) gegenüber dem Wert X₀ in der Mitte

Ttrringert wird, so wird X⁹ » 1*0377· Bei 45°~Abl®n3ra»g auf einen Punkt in einen diagonalen Abstend v@n ll_#77^a τοη der Mittelachse beträgt der Abstand X·' «wisehöE ä®m 7arb£@ntrum im'der Ibene I^ und der Scke der eylindrieoMen Front platte 16„645ⁿ»> Somit beträgt q· an den loken q» « L* (l-^r) « 0,605", und p^ir « L^v'^: -g." « 16,040»* Der Schlitiabstand a an den lcken ist der gleiche wi» ia der Sitte·

Sie Werte der Strahlfleekbreitest und folerans&n werden wie bei der MatrlBen^unktrShrenausfiliirtmg unter Yerwtniuzig der Maeken«·»- Bohlitsbreite A für den MaskeniooiidtiiirohKeeeer A, der Matrlsenschlltj breite f für den MatriienloeMurchaetser f und des Solilltsabetandes £ für den Loohabstand ji Terwendet« Bae heist» Qm 1^1« C+M | I« · 1-1 und öl « 2ψ> ^ff-S*. _Mt KÄBkeniurcsiaäeeigkaili S^ ist A/a,

ψ und die MatrisenduroliläBsigkeit A^ ist 3VA&» wegea der Konturen· Sie relatire MehtAiaet)(itE^3₉ dae RefleziostSTerattgea und. der relatiTe Kontrait werieü t$ü,® t$l£ die Matrixen-^ianktrehre erreok-» net» Analog «ur Matrigeai^tmttsitei nach figur 1*6 .wird die Breite 1 der Matrlsenieoher 48* erh&Mioli grader als die Breite der Maske»- schlitze 37^f< g«nacht _t us das Amfbringen des Leu@2tt«@fciraee naoh ei«*- nea photographlscheii Dlrektre^fahrsn zu erleicla't®^^. · „

009849/U00

Tabelle III Beispiel 1

Beispiel 2

&lasdurchlässigkeit t

Mitte.

Ecken

Mitte

Ecken

69 24

0,577

1*04395

5,0

0*2084 5,2 6,4 7,4

Maskensehliteabstand a Abstand q Maske-Schirm Röhrenvergrößerung X Maskensohlitzbreite A. Maskendurohlässigkeit Strahlfleokbreite Q Strahlfleckbreite M Matrizensohlisbreite : Matrizendurohlässigkeit Tg- 0,886 Verhältnis I_H/I_m 4,3 Relative Liohtausbeute RK) 0,212 Sohirmreflezionsvermögen 2j_ 0,3316 Streulicht SL 2*1

Kontrastverhältnis CR 38*3 Relativer Kontrast RO 1,0 &leiohmäßigkeit3toleran«LT 1,0 Reinheitstolerans OT 2,9

69 24

0,605

1*0377

3*6

0,150

3,7

4,9

0*843

5*6

1,526

0,3174 1*526

35*6 1*01

2*1 4*8

0,721 1,05556 6,5 0*2167 6*8 8,0 9*1 0,862 4*0 2*2 0*3237 2*2

38,7 1,01 1,1 4,0

69 30

0,781

1,04923

4,5

0,150

4,7

5,9

9*0

0,858

5*7

1*52

0,3224

1*5 35*3

1,01

3,1 6*1

Tabelle III veranechaulicht iwoi Ausführungsbeispiele einer erfindungsgemäßen Matriitn-Linienraeter-Lochmaskenröhre.. Beide Beide Beispiele verwenden 69J*-Glae für die frontplatte 9¹, wie in den letzten beiden Spalten der Tabelle I. Der Lochabatand «.beträgt 24MiI in Beispiel 1 und 30 Mil in Beispiel 2, indem die Werte von q, L und β für die beiden Abstände verschieden sind· Wie nan sieht, ist bei beiden Beispielen dl« Lichtausbeute mehr als doppelt so große Wie bei der Standard-Lochmaektnröhrt (Spalten 1 und 2 in Tabelle I) bei gleiche» Kontrast und annehsbaren positiven Soleransen in der Mitte und an den Bändern der Röhr·»

009849/1400

	Bei8T>iel 3	Ecken	Tabelle IV	Ecken	Beispiel 5	Ecken
	Mitte	60	BeiSDiel 4	50	Mitte	80
	60	30	Mitte	30	80	30
t	30	3,6	50	4,8	30	4,8
a	5,0	0,120	30	0,160	7,0	0,160
	0,1667	3,8	7,0	5,0	0,2333	5,0
Tm	5,3	5,0	0,2333	6,2	7,4	6,2
O	6,5	8,0	7,4	9.1	8,6	9,1
E	8,0	O ,,762	8,6	0,867	9,1	0,867
I	0*759	6,3	9,1	5,*	0,862	5,4
«k	4,55	1*06	0,862	1,18	3$Ί	1,89
	1,48	0,2295	3,7	0,190	2,75t	0,4236
RLO	0,2288	1,06	1,72	1,18	0,4213	1,89
re	1,48	35,2	0,1890	38,2	2,75	34,7
SL	38,5	1,01	1,72	1*09	38,4	1,0
OR	1,0	3,0	41,2	2,9	1,0	2,9
RO	1,5	8,0	1,08	5,7	0*5	5,7
Ll	6,6	0,5		' 3,4
CI	3,4

Wie in Tabelle IY geneigt, sind die praktischen Bemessungsgrenzen: bei Anwendung der Erfindung auf eine Matrizen-Linienraster-Loohmaskenröhre ungefähr wie folgt t Glasdurehlässigkeit 50% bis 805t (wie bei der Matrizen~£unktrasterröhr®) und Maskendurchlässigkeit 16Jt bis 24% in der Mitte. Sie Matrizenschlitzbreite in der Mitte sollte um 1,5 bis 3 Mil größer sein als die Maskenschlitzbreite zwecks Brzielung eines annehmbaren Kontrastes und annehmbarer ToIeranzent In den Selten sollte die Maskendurehlässlgkeit im Bereich Ton 12% bis 16% betragen und die Matrisenachlitstoreite um 4 bis 5 Mil größer Seim als die Maskenschlitsebrelte*.

Bei den fünf Beispielen einer Matrisen-LinienrasterrÖhre gealfl fabeilen III und IV beträgt die relativ· Lichtausbeute das 1,48- bis 2,75-ffsehe der entsprechenden Xdchtawsfeeute der Standard*» Lochmaskenröhre in der Mitte des Schirmes und das 1,06» bis 1,89— Taohe an den Soken (gegenüber 0,715)► Der relativ» Kontrast beträgt das 1,0- bis 1,08--faohe des entsprechenden Kontrastes bei der

009849/1400

«· 23 -

Standardröhre in der Mitte und das 1,0- bit 1,09-iache des Stan&ardröhrenkontrastes an den Eoken· Die Reinheitstoleranz ist nahezu se groß wie oder größer ale die der StandardrShr·, und die WeißgltiohaäSigkeitetoleranz ist annehmbar, und zwar über die gesamte Schirm··· fläche·.

Bei jedem der obenangegebenen Beispiel· wurde das Kontrast-Verhältnis für ein Umgebungslloht von 2 Vufr&ambert errechnet₉ das in einen durchschnittliohen Zimmerraum unter miniaalen Lichtverhältnissen herrscht» Benutzt man stattdessen einen Vert τοη 10 fufi-Lam-btrt, so beträgt das Kontrastrerhältnis für dl· Standardruhre ,20,13 in der Mitte und 16,4 an den Ecken und bei dw in fabelle I wieder» | gegebenen Beispiel der Matriaen-Punktrasterröhre 20,37 in der Kitte und 15,55 an den Sck«n· Der relative Eontrast der Matrisen-SunktrasterrShre ist soMit 1,01 in der Mitte und 0_ti5 an den* Seken»

Wie in der voratohendta BesohrAibuiig erläutert, ergibt ti· Erfindung einen optimalen V«rteb«r#ioh fUr Aft» Verhältnis Röhrtn sdt poiitivtr Toleranz unter T«rw«n&eng »iaer lässigen. Matrize für die Ausbildung mad gegenseitig· trennung der einzelnen Leuohtstoffpunkte des MosaiksoMm···. Als Verbesserung ergibt sich eine mehr als zweimal ao große Helligkeit in der Sohl mitte wie bei StandardrQhren· Das lontrastrerhältnie wird gegenüber dem der Standardröhre nicht verkleinert, und der Verlust an Weißgl«lohmäeigkeltstolerans 1st nicht kritiiüh^

009849/nOO

Claims (1)

1. Λ I I

   « £♦■* ■ . . ■ .

   Patentaneprüoht

   farbbildröhre Hit einen Mosaikleuchtschirm, einer dicht bein Schirm angeordneten VielloehmaBke und einem Elektronenstränierst em, das mehrere Elektronenstrahl« länge entsprechend konvergierender Laufwege duroh die Maske sum Schirm schickt, wobei der Sohl na aus einer Matrizenschicht aus liohtundurohlässigem Material Hit einer Vielzahl von beabstandeten, mit tethodolumineszenteH Leuohtstoffmaterial gefüllten LÖohern besteht, deren jedes sich jeweils mit einem ilektronenstrahlengang durch eines der Maskenlöcher deckt, dadurch gekennzeichnet, dal die Matrisenlöoher (48, 48') größer sind als die dazugehörigen Maskenlöcher (37, 37*), derart, daft im Betrieb der Röhre auf dem Schirm Blektronenetrahlflecke erzeugt werden, die kleiner Bind als die Ma-* trizenlöeher»

   2* Farbbildröhre nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet» da· das Verhältnis der Matriiendurohläs— sigkeit eur Maskendurohläseigkeit in der Mitte des Schirme« (27, 27*) beziehungsweise der Maske (35, 35·) inBereich von 3,5 bis 4,7 beträgt,

   3· farbbildröhre nach Anspruch 2, dadurch g β — kennieioh.net , das" die Maskenlöoher und die Matrizen** löcher in der Gröse abgestuft Bind, derart, daft sie an den Aufienrändern der maske besiehungeweise dei Sohirmee weBentlioh kleiner ale in. der Mitte Bind, wobei fia« T.erhältnie der Mstrieendurohläe-* sigkeit eur Maekendurchläseigkeit an den Aufienrändem in Bereich τακ 5,3 bie 6,4 beträgt*.

   4» farbbildröhre nach Anspielt 1, dadurch gekennzeichnet, dal der Moeaikeohlrm auf Abv Innenfläche (25* 25*) einer ölasfroniplatt» (9, 9¹) eit einer liohtdurohläseigkeit τοη mindestens 50Ji ausgebildet ist«.

   009849/nOO

   ORIGINAL INSPECTED

   : ; ■■ .·.23 .·-■ ; ; ■ -V.;-- ■■■■

   5. farbbildröhre naoh einem der Anaprüohe 2-4, dadurch

   gekenneeioh.net _v da· der Durchmesser und der Abstand der Haskenlöcher so beatsstn sind, dal dit Masks tint Durchlässig?» ktit τοη mindestens 16,51^ in ihrtr Mitt· hat«.

   6». farbbildröhre nach Anspruch 5» dadurch g e -kennzeichnet* da» die Haskenlöoher und die Matrizenlöcher in dtr Größe abgestuft sind_r derart, dal sit an den Hindern der Hacke bsv« dta Sohirats erheblioh kleinere Durchmesser haben als in dtr Mitte, und daß dit Durchlässigkeit der Maike mindestens H.jBJl an Rand beträgt«.

   7/· farbbildröhre nach eines dtr Ansprüche 1-3, daduroh gtktnns eiohnet*, daft dit Lochmaske tint Tieliahl τοη btabstandtttn parallelen Langlöohern(37') oder 0ohlltitn aufweist; und dit Hatrisenschioht aus einer Yitlsahl τοη btabstandtttn parallelen langgestreckttn liohtundurohlässigtn Siebenten (47"), dit swisohtn tion langlöoher (48») oder IvieohtnräwM bilden, dit slt kathodoluBintsstntta Leuohtitoffeaterial gefüllt sind und «ich wiederholende Gruppen τοη Ttrsohitdtnfarbigts Lioht emittierenden !lementen (33*) bilden, wobei jede Gruppe tint« dtr Maektnsohlitse »ugeordnet 1st«.

   8«. farbbildröhre naeh Ansprmeh 1 alt frontplatt·, Sohirm und Haaike τοη allgemein reohteokiger form, daduroh g e k «η η -

   ■ eiohntt, tau sit la ve· entliehen dit AWessmngea und !igensohaften gemM itn lttittn ttidtn Spalten τοη Tabelle I aufweist·

   9·· farbbildröhre naeh Ansprmoh 7 mit frentplatte, Sohir» und Maske ren allgemeim reohttokiger Ton, d a λ u r ο h g e k t η η -

   ■ t i ο Ii a e t , daS sit la wesentlichen dis Abmessungen und llgtmsohaften gemli Beispiel 1 in Tabelle III aufweist«.

   ΙΟ. farbbildröhre naoh Anspruoh 7 alt frontplatt«, Sonlra und Masks τοη allgemein reohteokiger form, daduroh gekenns t i ο h η β t , daA sie la wesentlichen dit Abmessungen und Elgtitr sohaften gtaäA Beispiel 2 τοη Tabelle III aufweist».

   009849/ UOO

   BAD ORIGINAL

   TI« Farbbildröhre naoh Anspruch 7 ait f rontpla-fcte, Schirm und Maake τοη mllgtmein r*oht#okig*r for», d a d u r ο h g · -k · η η ■ ti ohne % , daß ei· la westntliohtn dl· Aba«*iung«n und Blgtniohafttn gtmäi Beispiel 5 von Tabtllt IY aufweist«.

   009 849/1400