DE1917628C3 - Verfahren und Vorrichtung zur berührungslosen Messung der Feuchte oder der Konzentration anderer Substanzen in bewegten Meßgutbahnen - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zur berührungslosen Messung der Feuchte oder der Konzentration anderer Substanzen in bewegten MeßgutbahnenInfo
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- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/314—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths
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Description
ι 2
Die Erfindung bezieht sich im allgemeinen auf ein zu erfassenden Sub» ^nnt smd aber ihre
Verfahren und line Vorrichtung zur'berührungslosen Konzentration im J*5g£ «^^J™SsSm^S
Messung der Feuchte oder der Konzentration gemäß sind bei der ^^JjL™™^^*"*
anderer Substanzen in bewegten Meßgutbahnen drei monochromatische Stillungenganz bestimmter
durch Beaufschlagung des Meßgutes mit von der 5 Wellenlängen'Voraussetzuni^- wahrend be dem be-
Meßsubstanz absorbierbarer Lichtstrahlung (Meß- kannten Verfahren diese BedW ™"^ ^
strahlung) und nicht absorbierbarer Lichtstrahlung vielmehr Lichtstrahlungen an ^ b^eb'ger Wetlen-
(Vergleichsstrahlung). Eine nach diesem Verfahren längen verwendbar smd, die beispielsweise auch
arbeilende Einrichtung ist beispielsweise in dem Ge- durch Betreiben e.ner einzige« Ljhtquelle mit ver-
brauchsmuster 1 997 108 beschrieben. Im beson- io schiedener Spannung erzeugt werden konnten
deren bezieht sich die Erfindung auf ein Meß- Die Erfindung wird nachstehend an HandI eines
verfahren der genannten Art, bei dem eine Ab- in der Zeichnung schematisiert veranschaulichten
sorptionsbande einer Störsubstanz im Bereich der Ausführungsbeispiels erläutert, fcs zeigt
Meßstrahlung liegt. Fig. 1 die Meßmechanik dieser Vorrichtung
Als derartige Störsubstanzen wirken z. B. Phenole, 15 Fig. 2 den zugehörigen Auswerteteil der Vor-
Melamint oder fetthaltige Imprägnierstoffe. Diese richtung nach Fig. \.
Stoffe haben eine Absorptionsbande, die beispiels- Gemäß Fig.l ist dem Meßgut 1 gegenüber der
weise der Absorptionsbande von Wasser sehr eng Filterträger 2 angeordnet, der durch den Motor 3
benachbart ist, dieselbe teilweise überdeckt und eine angetrieben wird. Der Filtertrager 2 tragt die Schmalgenaue
Messung des Wassergehaltes stört, weil sie ao band-Interferenzfilter 4,5 und 6. Von diesen blendet
mit üblichen optischen Mitteln nicht von der eines eine für die Vergleichsstrahlung geeignete
Wasserbande zu trennen ist. Wellenlänge, das andere eine der zu messenden Ab-
Es ist Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein sorptionsbande entsprechende Wellenlange und das
Verfahren der eingangs genannten Art anzugeben, dritte eine für die weiter oben genannte Korrektur-
mit dem eine Eliminierung des Einflusses einer der- »5 strahlung geeignete Wellenlange aus dem Licht der
artigen Störsubstanz erzielt wird. Lampe 7 aus, welches noch von einem Kondensor 8
Erfindungsgemäß wird dies dadurch erreicht, daß gesammelt und parallel gerichtet wird,
das Meßgut zusätzlich von einer dritten und auf eine In Zwangskupplung zum Filterträger 2 befindet weitere Absorptionsbande der Störsubstanz abge- sich eine Synchronisierscheibe 9. Diese ist mit drei stimmten Lichtstrahlung (Korrekturstrahlung) beauf- 30 winklig versetzten kreisbogenförmigen Durchbrüchen schlagt wird und daß die empfangene Intensität 10,11 und 12 versehen. Letztere befinden sich ebendieser Korrekturstrahlung als Maß für den Einfluß falls im Strahlungsbereich der Lampe 7 und geben der Störsubstanz im Meßgut verwendet und der Aus- bei Drehung der Scheibe 9 den Strahlungsweg zu werteelektronik als Korrekturgröße zugeführt wird. drei lichtelektrischen Elementen 13,14 und 15 frei. Das erfindungsgemäße Verfahren zieht also nicht 35 Die von letzteren über die Leitungen a, b, c abnehmden von der Störbande bewirkten und als solchen baren Impulse sind in ihrer zeitlichen Folge bei 16 bei der Messung kaum erfaßbaren Intensrtätsanteil symbolisiert. Je nach Ausbildung der den lichtselbst zur Korrektur heran, sondern bedient sich elektrischen Elementen nachfolgenden und weiter einer anderen Absorptionsbande der Störsubstanz, unten angeführten Schaltlogik kann man auch mit welche sich mit Hilfe einer dritten Strahlung leicht 40 zwei Durchbrüchen auf der Scheibe 9 und zwei lichterfassen läßt und deren spezifische Absorption in elektrischen Elementen auskommen,
bestimmtem, materialbedingtem Verhältnis zur spezi- Dem Meßgut ebenfalls benachbart, aber in unterfischen Absorption der genannten Störbande steht, schiedlichem Winkel zu der vom Filter 4 durchgedie die Absorptionsbande der zu messenden Sub- lassenen Primärstrahlung ist der Strahlungsdetektor stanz überdeckt. 45 17 angeordnet, dessen Ausgangsleitung mit e be-
das Meßgut zusätzlich von einer dritten und auf eine In Zwangskupplung zum Filterträger 2 befindet weitere Absorptionsbande der Störsubstanz abge- sich eine Synchronisierscheibe 9. Diese ist mit drei stimmten Lichtstrahlung (Korrekturstrahlung) beauf- 30 winklig versetzten kreisbogenförmigen Durchbrüchen schlagt wird und daß die empfangene Intensität 10,11 und 12 versehen. Letztere befinden sich ebendieser Korrekturstrahlung als Maß für den Einfluß falls im Strahlungsbereich der Lampe 7 und geben der Störsubstanz im Meßgut verwendet und der Aus- bei Drehung der Scheibe 9 den Strahlungsweg zu werteelektronik als Korrekturgröße zugeführt wird. drei lichtelektrischen Elementen 13,14 und 15 frei. Das erfindungsgemäße Verfahren zieht also nicht 35 Die von letzteren über die Leitungen a, b, c abnehmden von der Störbande bewirkten und als solchen baren Impulse sind in ihrer zeitlichen Folge bei 16 bei der Messung kaum erfaßbaren Intensrtätsanteil symbolisiert. Je nach Ausbildung der den lichtselbst zur Korrektur heran, sondern bedient sich elektrischen Elementen nachfolgenden und weiter einer anderen Absorptionsbande der Störsubstanz, unten angeführten Schaltlogik kann man auch mit welche sich mit Hilfe einer dritten Strahlung leicht 40 zwei Durchbrüchen auf der Scheibe 9 und zwei lichterfassen läßt und deren spezifische Absorption in elektrischen Elementen auskommen,
bestimmtem, materialbedingtem Verhältnis zur spezi- Dem Meßgut ebenfalls benachbart, aber in unterfischen Absorption der genannten Störbande steht, schiedlichem Winkel zu der vom Filter 4 durchgedie die Absorptionsbande der zu messenden Sub- lassenen Primärstrahlung ist der Strahlungsdetektor stanz überdeckt. 45 17 angeordnet, dessen Ausgangsleitung mit e be-
Einc Vorrichtung zur Durchführung des er- zeichnet ist.
findungsgemäßen Verfahrens weist eine Lichtquelle Die Meßimpulse des Detektors 17 werden gemeinauf
zum Beaufschlagen des Meßgutes mit Meß- sam vom Verstärker 18 (Fig. 2) verstärkt. An
Strahlung und Vergleichsstrahlung sowie einen oder dessen Ausgang liegt ein elektronischer Umschalter
mehrere Detektoren für die vom Meßgut auseehende 50 ans den Widerständen 19, 20, 21 und den Trar.-Strahlung
und eine Auswerteclektronik und ist da- sistoren 22, 23 und 24. Der elektronische Umschalter
durch gekennzeichnet, daß die Lichtquelle auch zur wird von der Schaltlogik 25 angesteuert.
Beaufschlagung des Meßgutes mit Korrektur- Wie leicht ersichtlich, gibt der so gesteuerte elekstnihlung ausgebildet ist. Zur Erzeugung der Licht- ironische Umschalter jeweils einen der aus Längsstrahlen kann ein motorisch angetriebener rotieren- 55 widerstand und Transistor bestehenden Ausgänge der Filterträger mit drei verschiedenen Filtern vor- am Verstärker 18 frei. Einer derselben steht über gesehen sein, der über eine Synchronschaltung die eine Steuerleitung / mit zwei an sich bekannten drei Kanäle der Auswerteelektronik steuert. Die Quolientenbildnern Q1 und Q2 gemeinsam in VerFilter sind vorteilhafterweise sogenannte Schmal- bindung, während die beiden anderen Ausgänge über band-Interfercnzfilter. 60 Steuerlcitungen g, h jeweils mit einem dieser
Beaufschlagung des Meßgutes mit Korrektur- Wie leicht ersichtlich, gibt der so gesteuerte elekstnihlung ausgebildet ist. Zur Erzeugung der Licht- ironische Umschalter jeweils einen der aus Längsstrahlen kann ein motorisch angetriebener rotieren- 55 widerstand und Transistor bestehenden Ausgänge der Filterträger mit drei verschiedenen Filtern vor- am Verstärker 18 frei. Einer derselben steht über gesehen sein, der über eine Synchronschaltung die eine Steuerleitung / mit zwei an sich bekannten drei Kanäle der Auswerteelektronik steuert. Die Quolientenbildnern Q1 und Q2 gemeinsam in VerFilter sind vorteilhafterweise sogenannte Schmal- bindung, während die beiden anderen Ausgänge über band-Interfercnzfilter. 60 Steuerlcitungen g, h jeweils mit einem dieser
Die Beaufschlagung von Meßgut mit drei oder Quotientcnbildner verbunden sind. Die Steuermehr
Lichtstrahlen ist bereits aus der deutschen Aus- leitung / wird hier immer dann durchgeschaltet,
legeschrift 1 235 630 bekannt. Dort handelt es sich wenn das die Vergleichswellenlänge ausblendende
jedoch im Gegensatz zur vorliegenden Erfindung um Filter der Gruppe 4, 5,6 sich zwischen Lampe 7 und
die Identifizierung reiner Substanzen, d. h. von Sub- 65 Meßgut 1 befindet. Die beiden anderen Steuerleitunstanzen,
die in bekannter Anzahl, jedoch in an sich gen g, h werden dann durchgeschaltet, wenn sich das
unbekannter, aber reiner Art anfallen. Im Unter- die Korrekturstrahlung ausblendende Filter oder das
schied hierzu geht die Erfindung davon aus, daß die die Meßstrahlung ausblendende Filter des Trägers 2
im Strahlengang zum Meßgut befindet, wie die weiter oben angeführte Verfahrensbeschreibung !ehrt. Dementsprechend
werden die beiden zur verfahrensgerechten Arbeitsweise erforderlichen Quotienten in
den Stufen Q1 und Q3 gebildet.
Die Ausgänge der Quotientenbildner sind an einen Differenzbildner D geführt, wobei mit dem Korrekturglied
K eiAe einstellbare Korrekturgröße vorgegeben
werden kann, die den spezifischen Absorptionen der Fremdsubstanz bei der die Absorptions- ίο
bande der zu messenden Substanz überdeckenden Störbande einerseits und der von der Drittstrahlung
erfaßten anderen Absorptionsbande der Fremdsubstanz andererseits entspricht.
Am Ausgang des Differenzbildners D steht der Meßwert unmittelbar zur Verfügung und wird vom
Instrument 26 angezeigt.
Claims (4)
1. Verfahren zur berührungslosen Messung der Feuchte oder der Konzentration anderer Substanzen
in bewegten Meßgutbahnen durch Beaufschlagung des Meßgutes mit von der Meßsubstanz
absorbierbarer Lichtstrahlung (Meßstrahlung) und nicht absorbierbarer Lichtstrahlung
(Vergleichsstrahlung), wobei eine Absorptionsbande einer Störsubstanz im Bereich
der Meßstrahlung liegt, dadurch gekennzeichnet,
daß zur Eliminierung des Einflusses der Störsubstanz das Meßgut zusätzlich von einer dritten und auf eine weitere Absorptionsbande
der Störsubstanz abgestimmter Lichtstrahlung (Korrekturstrahlung) beaufschlagt wird und daß die empfangene Intensität dieser
Korrekturstrahlung als Maß für den Einfluß der Störsubstanz im Meßgut verwendet und der Auswerteelektronik
als Korrekturgröße zugeführt wird.
2. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1 mit einer Lichtquelle
zum Beaufschlagen des Meßgutes mit Meßstrahlung und Vergleichsstrahlung, einem oder
mehreren Detektoren für die vom Meßgut ausgehende Strahlung und einer Auswerteelektronik,
dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtquelle auch zur Beaufschlagung des Meßgutes mit
Korrekturstrahlung ausgebildet ist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß zur Erzeugung der Lichtstrahlen
ein motorisch angetriebener rotierender Filterträger (2) mit drei verschiedenen Filtern (4, 5, 6) vorgesehen ist, der über eine
Synchronschaltung (10,11,12) und einen Detektor (17) die drei Kanäle (/, g, A) der Auswerteelektronik
steuert.
4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Filter Schmalband-Interferenzfilter
sind.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19691917628 DE1917628C3 (de) | 1969-04-05 | 1969-04-05 | Verfahren und Vorrichtung zur berührungslosen Messung der Feuchte oder der Konzentration anderer Substanzen in bewegten Meßgutbahnen |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19691917628 DE1917628C3 (de) | 1969-04-05 | 1969-04-05 | Verfahren und Vorrichtung zur berührungslosen Messung der Feuchte oder der Konzentration anderer Substanzen in bewegten Meßgutbahnen |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1917628A1 DE1917628A1 (de) | 1970-10-08 |
DE1917628B2 DE1917628B2 (de) | 1971-02-11 |
DE1917628C3 true DE1917628C3 (de) | 1975-04-30 |
Family
ID=5730466
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19691917628 Expired DE1917628C3 (de) | 1969-04-05 | 1969-04-05 | Verfahren und Vorrichtung zur berührungslosen Messung der Feuchte oder der Konzentration anderer Substanzen in bewegten Meßgutbahnen |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE1917628C3 (de) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3851156A (en) * | 1972-09-05 | 1974-11-26 | Green James E | Analysis method and apparatus utilizing color algebra and image processing techniques |
JPS59779B2 (ja) * | 1977-01-20 | 1984-01-09 | 株式会社京都第一科学 | 尿等の分析方法 |
DE3024243A1 (de) * | 1979-10-09 | 1981-04-23 | VEB Forschung und Rationalisierung Betrieb des VEB Kombinat Süßwaren, DDR 7026 Leipzig | Verfahren und vorrichtung zum beruehrungslosen messen der stoffkonzentration |
FI824185L (fi) * | 1981-12-07 | 1983-06-08 | Valmet Oy | Optiskt foerfarande och optisk anordning foer maetning av konsistensen av massasuspension |
-
1969
- 1969-04-05 DE DE19691917628 patent/DE1917628C3/de not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE1917628B2 (de) | 1971-02-11 |
DE1917628A1 (de) | 1970-10-08 |
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---|---|---|---|
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
E77 | Valid patent as to the heymanns-index 1977 | ||
EHJ | Ceased/non-payment of the annual fee |