DE19716945C2 - Test adapter for electrical printed circuit boards - Google Patents
Test adapter for electrical printed circuit boardsInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf einen Prüfadapter für elektri sche Flachbaugruppen nach dem Oberbegriff des An spruchs 1.The invention relates to a test adapter for electrical cal printed circuit boards according to the generic term of the An saying 1.
Ein derartiger Prüfadapter ist z. B. durch die DE 88 09 592 U1 bekannt geworden. Danach sind die Tastnadeln auf ihrer der Leiterplatte zugewandten Seite mit federnden Spitzen verse hen, die auf Kontaktflecken der Leiterplatte aufgesetzt sind. Auf der gegenüberliegenden Seite der Leiterplatte sind Kon taktstifte angeordnet, die zur Leiterplatte hin ebenfalls ge federte Spitzen aufweisen. Diese sind auf entsprechende Ge genkontaktstellen der Leiterplatte aufgesetzt. Die Kontakt stellen und die Gegenkontaktstellen sind über Leiterbahnen der Leiterplatte miteinander verbunden. Dabei wird die Ver bindung zwischen den beiden Leiterplattenseiten über durch kontaktierte Bohrungen hergestellt. Die stiftartigen Kontakte lemente sind über entsprechende Prüfleitungen mit einer elek trischen Prüfeinrichtung verbindbar.Such a test adapter is e.g. B. by DE 88 09 592 U1 known. After that, the styli are on your the PCB facing side with springy tips verse hen that are placed on contact patches of the circuit board. On the opposite side of the circuit board are Kon clock pins arranged, which also ge towards the circuit board have sprung tips. These are on corresponding Ge placed on the circuit board. The contact and the mating contact points are via conductor tracks the circuit board interconnected. The Ver bond between the two sides of the circuit board through contacted holes. The pin-like contacts elements are connected to an elec test facility can be connected.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, bei einem Prüfadapter für elektrische Flachbaugruppen den konstruktiven Aufwand zu verringern und die Kontaktsicherheit zu erhöhen. Diese Aufgabe wird den Prüfadapter gemäß Anspruch 1 ge löst. Die Einpreßverbindung stellt eine sehr sichere gas dichte Kontaktierung dar, die keine axialen Federelemente be nötigt. Derartige Federelemente erhöhen den konstruktiven Aufwand bei den Tastnadeln und bedingen zusätzliche Kon taktübergänge im Inneren der Tastnadeln, wobei die entspre chenden Gleitkontakte kontakttechnisch von geringer Güte als die Einpreßkontakte sind. The invention has for its object the constructive in a test adapter for electrical printed circuit boards Reduce effort and increase contact security. This task is the test adapter according to claim 1 ge solves. The press-fit connection provides a very safe gas tight contact represents that be no axial spring elements compelled. Such spring elements increase the constructive Effort with the stylus and additional con Clock transitions inside the stylus, the correspond contact contacts of low quality than the press-in contacts are.
Durch die Einpreßverbindung wird außerdem eine sichere mecha nische Verbindung hergestellt, die den Aufbau des Prüfadap ters stabilisiert. Durch die Einpreßzonen werden auf die Lei terplatte keine Drücke ausgeübt, die zu einer Verformung der Leiterplatte führen könnten.The press-in connection also ensures a safe mecha African connection established that the structure of the test adap stabilized. Through the press-in zones on the lei no pressure is exerted which leads to a deformation of the PCB could lead.
Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den Un teransprüchen gekennzeichnet:Advantageous developments of the invention are in the Un marked claims:
Durch die Weiterbildung nach Anspruch 2 kommt es zu einer un mittelbaren Kontaktierung der Tastnadel bzw. Kontaktelemente mit der Leiterplatte.The training according to claim 2 leads to a un indirect contacting of the stylus or contact elements with the circuit board.
Durch die Weiterbildung nach Anspruch 3 ist es möglich, stan dardmäßige Tastnadeln zu verwenden und mittels des Kontakt stückes an die metallisierten Bohrungen anzupassen.Through the training according to claim 3, it is possible to stan use standard styli and by means of contact piece to adapt to the metallized holes.
Die Weiterbildung nach Anspruch 4 ermöglicht es, die Kontakt stücke unabhängig von den Tastnadeln unter unmittelbarer Sichtkontrolle in die Leiterplatte einzusetzen. Die Tastna deln können in einem späteren Stadium des Zusammenbaus auf die Kontaktstücke aufgeschoben werden.The training according to claim 4 enables contact pieces regardless of the stylus under immediate Visual inspection in the circuit board. The Tastna may arise at a later stage of assembly the contact pieces are pushed on.
Durch die sichere Verankerung der abgehenden Kontaktelemente in der Leiterplatte, ist es möglich, diese nach Anspruch 5 unmittelbar als Steckerstifte auszubilden, auf die z. B. ein Kabelstecker aufgesteckt werden kann, der mit der elektri schen Prüfeinrichtung verbunden ist. Damit verringert sich die Anzahl der Kontaktübergänge auch auf der Steckerseite der Leiterplatte.By securely anchoring the outgoing contact elements in the circuit board, it is possible according to claim 5 train directly as connector pins on the z. B. a Cable connector can be plugged in with the electri is connected to the test facility. This reduces the number of contact transitions also on the connector side of the Circuit board.
Durch die Sacklöcher nach Anspruch 6 können die Bohrungen auf beiden Seiten der Leiterplatte unabhängig voneinander an geordnet werden, was eine hohe Dichte der Tastnadeln und Kon taktelemente ermöglicht.Through the blind holes according to claim 6, the holes on both sides of the circuit board independently be ordered, what a high density of the stylus and Kon clock elements enabled.
Im folgenden wird die Erfindung anhand eines in der Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispieles näher erläutert.In the following the invention with reference to one in the drawing illustrated embodiment explained in more detail.
Die dargestellte Figur zeigt schematisiert einen Querschnitt durch einen Prüfadapter 1 mit einer Halteplatte 2 für zu die ser senkrecht stehenden Tastnadeln 3, 4. Diese sind an einem Ende mit Tastspitzen 5 versehen, die auf Prüfpunkte 6 einer zu prüfenden elektrischen Flachbaugruppe 7 federnd aufgesetzt sind. An ihrem gegenüberliegenden Ende weisen die Tastnadeln 3 Einpreßkontakte 8 auf, die in der angegebenen Pfeilrichtung in metallisierte Bohrungen einer Leiterplatte 10 eingepreßt und darin verankert werden, wobei die Teile aus Gründen der besseren Darstellung unmittelbar vor dem Zusammensetzen in ihre Endstellung gezeigt sind.The figure shown schematically shows a cross section through a test adapter 1 with a holding plate 2 for perpendicular to the probe needles 3 , 4th These are provided at one end with probe tips 5 which are resiliently placed on test points 6 of an electrical printed circuit board 7 to be tested. At their opposite end, the probe needles 3 have press-in contacts 8 , which are pressed in the indicated direction of the arrow into metalized bores of a printed circuit board 10 and anchored therein, the parts being shown in their end position immediately before assembly for reasons of better illustration.
Bei der Tastnadel 4 ist der Einpreßkontakt 8 als separates Kontaktstück 11 ausgebildet, das bereits in die Leiterplatte 10 eingesetzt ist. Die Tastnadel 4 ist an diesem Ende hül senartig ausgebildet. Das Kontaktstück 11 weist einen zur Tastnadel 4 hin ragenden Zapfen 12 auf, der nach dem Absenken der Halteplatte 2 in der Pfeilrichtung in die Tastnadel 4 kontaktgebend hineinragt.In the stylus 4 , the press-in contact 8 is formed as a separate contact piece 11 which is already inserted in the printed circuit board 10 . The stylus 4 is sleeve-like at this end. The contact piece 11 has a pin 12 projecting towards the stylus 4 , which protrudes into the stylus 4 in the direction of the arrow after the holding plate 2 has been lowered.
Auf der den Tastnadeln 3, 4 gegenüberliegenden Seite der Lei terplatte 10 sind senkrecht abstehende stiftartige Kontakte lemente 13 angeordnet, auf die, z. B. ein Kabelstecker einer elektrischen Prüfeinrichtung aufsteckbar ist. Die Kontaktele mente sind ebenfalls in metallisierte Bohrungen 9 der Leiter platte 10 kontaktgebend eingesetzt und über Leiterbahnen 14 mit den Tastnadeln 3, 4 verbunden, wobei die Verbindung zwi schen den beiden Seiten der Leiterplatte über durch Kontak tierungen 15 erfolgt.On the probe needles 3 , 4 opposite side of Lei terplatte 10 vertically projecting pin-like contacts elements 13 are arranged, on which, for. B. a cable connector of an electrical test device can be plugged. The Kontaktele elements are also used in metallized holes 9 of the printed circuit board 10 contact and connected via conductor tracks 14 with the styli 3 , 4 , the connection between the two sides of the circuit board via contacts 15 takes place.
Die Bohrungen 9 sind als Sacklöcher ausgebildet, deren Tiefe geringer ist als die halbe Dicke der Leiterplatte 10. Dadurch ist es möglich, die Kontaktelemente 13 unabhängig von der Lage der Testnadeln 3, 4 auf der Leiterplatte 10 anzuordnen. The bores 9 are designed as blind holes, the depth of which is less than half the thickness of the printed circuit board 10 . This makes it possible to arrange the contact elements 13 on the printed circuit board 10 regardless of the position of the test needles 3 , 4 .
Dies ist insbesondere bei Adaptern mit meiner hohen Dichte der Tastnadeln 3, 4 von Vorteil. In Leiterplattenbereichen mit einer geringen Nadeldichte können die Bohrungen als Durchgangsbohrungen so gesetzt werden, daß sie sich gegensei tig nicht stören.This is particularly advantageous for adapters with my high density of styli 3 , 4 . In printed circuit board areas with a low needle density, the holes can be set as through holes so that they do not interfere with each other.
Claims (6)
wobei die Tastnadeln (3, 4) an ihrem, der Flachbaugruppe (7) abgewandten Ende mit einer internen Leiterplatte (10) kontak tiert sind,
wobei an die Leiterplatte (10) auf der den Tastnadeln (3, 4) gegenüberliegenden Seite stiftartige Kontaktelemente (13) zum Anschluß an eine elektrische Prüfeinrichtung angesetzt sind, wobei die Tastnadeln (3, 4) und die Kontaktelemente (13) über Leiterbahnen (14) der Leiterplatte (10) miteinander verbunden sind und
wobei die Leiterplatte (10) mit metallisierten Bohrungen (9) versehen ist,
dadurch gekennzeichnet, daß die Tastnadeln (3, 4) und/oder die Kontaktelemente (13) an ihrem der Leiterplatte (10) zugewandten Ende Einpreß kontakte (8) aufweisen, die in die metallisierten Bohrungen (9) eingepreßt sind. 1. test adapter ( 1 ) for electrical printed circuit boards ( 7 ) with probe needles ( 3 , 4 ) for placing on test points ( 6 ) of the printed circuit board assembly ( 7 ),
wherein the stylus needles ( 3 , 4 ) at their end facing away from the printed circuit board ( 7 ) are contacted with an internal printed circuit board ( 10 ),
pin-like contact elements ( 13 ) for connection to an electrical test device are attached to the printed circuit board ( 10 ) on the side opposite the feeler needles ( 3 , 4 ), the feeler needles ( 3 , 4 ) and the contact elements ( 13 ) being connected via conductor tracks ( 14 ) the circuit board ( 10 ) are interconnected and
the printed circuit board ( 10 ) being provided with metallized bores ( 9 ),
characterized in that the feeler needles ( 3 , 4 ) and / or the contact elements ( 13 ) have press-in contacts ( 8 ) on their end facing the printed circuit board ( 10 ) which are pressed into the metallized bores ( 9 ).
daß das Kontaktstück (11) an seinem der Tastnadel (4) zuge wandten Ende einen Zapfen (12) aufweist,
daß die Tastnadel (4) an ihren der Leiterplatte (10) zuge wandten Ende hülsenartig ausgebildet ist und
daß der Zapfen (12) in die Tastnadel (4) kontaktgebend hineinragt.4. Test adapter according to claim 3, characterized in
that the contact piece ( 11 ) has at its end facing the probe needle ( 4 ) a pin ( 12 ),
that the stylus ( 4 ) at its end facing the circuit board ( 10 ) is sleeve-shaped and
that the pin ( 12 ) protrudes into the stylus ( 4 ) in contact.
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| DE1997116945 DE19716945C2 (en) | 1997-04-22 | 1997-04-22 | Test adapter for electrical printed circuit boards |
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| DE1997116945 DE19716945C2 (en) | 1997-04-22 | 1997-04-22 | Test adapter for electrical printed circuit boards |
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| DE19716945A1 DE19716945A1 (en) | 1998-11-05 |
| DE19716945C2 true DE19716945C2 (en) | 1999-07-29 |
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ID=7827369
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Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0184619A2 (en) * | 1984-11-14 | 1986-06-18 | RIBA Prüftechnik GmbH | Printed circuit testing device |
| DE8809592U1 (en) * | 1987-08-26 | 1988-09-22 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Jumper board for a PCB testing machine |
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1997
- 1997-04-22 DE DE1997116945 patent/DE19716945C2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0184619A2 (en) * | 1984-11-14 | 1986-06-18 | RIBA Prüftechnik GmbH | Printed circuit testing device |
| DE8809592U1 (en) * | 1987-08-26 | 1988-09-22 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Jumper board for a PCB testing machine |
| DE9013643U1 (en) * | 1990-09-28 | 1991-02-07 | Siemens AG, 8000 München | Adapter device for electrical testing of printed circuit boards |
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