DE10235669B4 - Positionsmesseinrichtung - Google Patents
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- 239000000835 fiber Substances 0.000 claims abstract description 46
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 38
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims abstract description 19
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims abstract description 19
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims abstract description 19
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 claims abstract description 12
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims abstract description 3
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 4
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 claims description 4
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 4
- 230000003993 interaction Effects 0.000 claims description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 5
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 5
- 230000003667 anti-reflective effect Effects 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 3
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 2
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 2
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 2
- 102100024061 Integrator complex subunit 1 Human genes 0.000 description 1
- 101710092857 Integrator complex subunit 1 Proteins 0.000 description 1
- 239000006117 anti-reflective coating Substances 0.000 description 1
- BJQHLKABXJIVAM-UHFFFAOYSA-N bis(2-ethylhexyl) phthalate Chemical compound CCCCC(CC)COC(=O)C1=CC=CC=C1C(=O)OCC(CC)CCCC BJQHLKABXJIVAM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 1
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 1
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/26—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
- G01D5/268—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light using optical fibres
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- G01D5/26—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
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- G01D5/26—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
- G01D5/266—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light by interferometric means
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/26—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
- G01D5/32—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
- G01D5/34—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells
- G01D5/347—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells using displacement encoding scales
- G01D5/34707—Scales; Discs, e.g. fixation, fabrication, compensation
- G01D5/34715—Scale reading or illumination devices
- G01D5/34723—Scale reading or illumination devices involving light-guides
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/26—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
- G01D5/32—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
- G01D5/34—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells
- G01D5/36—Forming the light into pulses
- G01D5/38—Forming the light into pulses by diffraction gratings
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B2290/00—Aspects of interferometers not specifically covered by any group under G01B9/02
- G01B2290/30—Grating as beam-splitter
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- G01B2290/00—Aspects of interferometers not specifically covered by any group under G01B9/02
- G01B2290/45—Multiple detectors for detecting interferometer signals
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- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
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Abstract
Positionsmesseinrichtung zur Bestimmung der Relativposition zweier Objekte, bestehend aus einer Lichtquelle (1) und Signalerzeugungsmitteln zur Erzeugung verschiebungsabhängiger Ausgangssignale (S–120°, S0°, S120°), – wobei die Lichtquelle (1) als Singlemode-Laserlichtquelle ausgebildet ist und mit Rückkopplungsmitteln derart wechselwirkt, dass in der Singlemode-Laserlichtquelle eine Anregung mehrerer Moden erfolgt und ein Multimode-Betrieb der Singlemode-Laserlichtquelle resultiert, und – wobei vor der Lichtquelle (1) mindestens eine lichtleitende Faser (2) angeordnet ist und über eine Faser-Einkoppelfläche (2.1) eine Einkopplung der von der Lichtquelle (1) emittierten Strahlung in die Faser (2) erfolgt und über eine Faser-Auskoppelfläche (2.2) eine Zuführung der emittierten Strahlung zu den Signalerzeugungsmitteln erfolgt, und – wobei als Rückkopplungsmittel ein zumindest teilreflektierendes Reflektorelement dient, auf das zumindest ein Teil der emittierten Strahlung der Singlemode-Laserlichtquelle auftrifft und über das eine Rückreflexion der Strahlung in die Singlemode-Laserlichtquelle resultiert, und – wobei zumindest entweder die Faser-Einkoppelfläche (2.1) oder die Faser-Auskoppelfläche (2.2) als teilreflektierendes Reflektorelement ausgebildet sind.
Description
- Die vorliegende Erfindung betrifft eine Positionsmesseinrichtung.
- Zur hochpräzisen Positionsmessung sind Positionsmesseinrichtungen auf optischer Basis bekannt, die zur Erzeugung verschiebungsabhängiger Ausgangssignale Interferenzerscheinungen zwischen verschiedenen zu überlagernden Teilstrahlenbündeln nutzen. In derartigen Positionsmesseinrichtungen werden oftmals Laser als Lichtquellen eingesetzt, die Strahlung mit hinreichenden Kohärenzeigenschaften liefern. Bei den verwendeten Lasern kann es sich z. B. um Gaslaser, Festkörperlaser oder aber um Halbleiterlaser bzw. Laserdioden handeln. Erstere werden etwa in als Interferometern ausgebildeten Positionsmesseinrichtungen eingesetzt, letztere in Positionsmesseinrichtungen, die zur Erzeugung verschiebungsabhängiger Ausgangssignale u. a. ein oder mehrere Gitter umfassen. In beiden Laser-Typen ist eine Stabilisierung der gelieferten Wellenlänge nötig, da im Fall von Schwankungen der jeweiligen Wellenlänge Fehlmessungen bei der Positionsbestimmung resultieren würden.
- Eine langsame Drift der gelieferten Wellenlänge hat insbesondere bei der Verwendung in Verbindung mit Interferometern eine Veränderung der gemessenen Position zur Folge; der entsprechende Einfluss bei Gitter-Positionsmesseinrichtungen ist diesbezüglich geringer.
- In vielen Mess-Situationen spielt eine langsame Drift der jeweiligen Wellenlänge eine geringe Rolle, wenn etwa nur Relativmessungen in sehr kurzer Zeit durchgeführt werden müssen. Kritisch ist hingegen auch in solchen Applikationen, wenn schnelle Änderungen in der jeweiligen Wellenlänge auftreten. Gerade dies kann aber bei Singlemode-Lasern verschiedensten Typs auftreten, also sowohl bei Gas-, Festkörper oder Halbleiter-Lasern. Der Grund hierfür liegt in den unterschiedlichen Abhängigkeiten des Verstärkungsprofiles und der Resonatormoden von der Temperatur oder anderen Einflussgrößen. Wenn sich das Maximum des Verstärkungsprofiles zu weit von einer Resonatormode verschoben hat springt die Laser-Wellenlänge zu einer benachbarten Resonatormode. In der Praxis ist hierfür i. w. die Temperatur maßgeblich.
- Eine erste Möglichkeit zur Lösung dieses Problems besteht darin, eine Wellenlängenstabilisierung auf Seiten des jeweiligen Lasers vorzunehmen, wie dies in der
US 5 161 165 A offenbart ist. In dieser Druckschrift wird vorgeschlagen, mit Hilfe eines externen Etalons den Multimode-Betrieb einer Laserdiode gezielt zu unterdrücken. Dieses Vorgehen erfordert jedoch einen relativ großen Aufwand. - Alternativ ist z. B. aus der
US 5 198 873 A bekannt, anstelle einer sog. Singlemode-Laserdiode eine Multimode-Laserdiode zu verwenden, die ein relativ dichtes Modenspektrum besitzt und bei der im Fall kleiner Temperaturschwankungen nur geringfügige Wellenlängenänderungen resultieren. Derartige Multimode-Laserdioden liefern jedoch nicht die benötigten Strahlungsleistungen, insbesondere wenn die Strahlung der Lichtquelle einem Abtastkopf mit den Signalerzeugungsmitteln über eine lichtleitende Faser zugeführt werden soll. Bei benötigten Strahlungsleistungen von 10 mW im Abtastkopf der Positionsmesseinrichtung kann eine solche Lichtquelle nicht verwendet werden. - Die
JP 61-240691 A - Aus der
DE 100 54 062 A1 ist bekannt, in einer optischen Positionsmesseinrichtung eine Lichtleitfaser vor der Lichtquelle anzuordnen, um darüber Lichtimpulse zur optischen Abtastung zu einem Maßstab zu übertragen. - Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, eine Positionsmesseinrichtung anzugeben, die eine Lichtquelle mit hinreichender Ausgangsleistung besitzt und welche auch bei eventuellen Temperaturänderungen möglichst keine sprunghaften Änderungen in der emittierten Wellenlänge zeigt.
- Diese Aufgabe wird gelöst durch eine Positionsmesseinrichtung mit den Merkmalen des Anspruches 1.
- Vorteilhafte Ausführungsformen der erfindungsgemäßen Positionsmesseinrichtung ergeben sich aus den Maßnahmen, die in den von Anspruch 1 abhängigen Patentansprüchen aufgeführt sind.
- Erfindungsgemäß wird nunmehr als Lichtquelle eine Singlemode-Laserlichtquelle mit hinreichender Ausgangsleistung verwendet, die mit Rückkopplungsmitteln derart wechselwirkt, dass in der Singlemode-Laserlichtquelle eine Anregung mehrerer eng benachbarter externer Moden erfolgt und so ein Quasi-Multimode-Betrieb der Singlemode-Laserlichtquelle resultiert. Nachfolgend sei in diesem Zusammenhang lediglich von einem Multimode-Betrieb die Rede.
- Vorzugsweise dient eine Singlemode-Laserdiode, d. h. ein Halbleiter-Laser, als Singlemode-Laserlichtquelle in der erfindungsgemäßen Positionsmesseinrichtung. Grundsätzlich können aber auch andere Lasertypen wie Gaslaser oder Festkörperlaser als Singlemode-Laserlichtquellen eingesetzt werden.
- Durch die gezielte Rückkopplung der emittierten Strahlung in den Resonator der Singlemode-Laserlichtquelle ergibt sich eine Störung des Laserbetriebes dergestalt, dass die Singlemode-Laser Singlemode-Laserlichtquelle in einen Multimode-Betrieb übergeht. Hierbei ist das resultierende Modenspektrum sehr dicht; gleichzeitig sind mehrere benachbarte Moden besetzt. Eine eventuelle Temperaturänderung hat dann keinen Modensprung mit den entsprechenden unerwünschten Konsequenzen zur Folge, sondern es erfolgt lediglich eine temperaturabhängige, langsame Umbesetzung der beteiligten, eng verteilten Moden. Entsprechend geringer sind die Auswirkungen einer eventuellen Temperaturänderung auf die Ausgangswellenlänge der Lichtquelle. Gleichzeitig liefert die Singlemode-Laserlichtquelle eine hinreichende Strahlungsleistung, um beispielsweise die erzeugte Strahlung einem Abtastkopf über eine lichtleitende Faser zuzuführen.
- In Bezug auf die Rückkopplungsmittel, mit denen die Singlemode-Laserlichtquelle wechselwirkt, existieren verschiedene Ausführungsmöglichkeiten, die je nach den vorliegenden Anforderungen realisierbar sind.
- Die erfindungsgemäßen Maßnahmen lassen sich in Verbindung mit Positionsmesseinrichtungen einsetzen, in denen ein oder mehrere Gitter zur Erzeugung verschiebungsabhängiger Ausgangssignale verwendet werden und in denen eine Teilungsperiode eines Maßstabgitters als Messnormal fungiert. Alternativ kann die erfindungsgemäße Positionsmesseinrichtung auch als Interferometer ausgebildet sein, bei dem die Wellenlänge der von der Lichtquelle erzeugten Strahlung als Messnormal dient.
- Weitere Vorteile sowie Einzelheiten der vorliegenden Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung von Ausführungsbeispielen anhand der beiliegenden Figuren.
- Dabei zeigt
-
1 eine schematisierte Darstellung des Abtaststrahlenganges einer Ausführungsform der erfindungsgemäßen Positionsmesseinrichtung; -
2 eine schematisierte räumliche Darstellung des Ausführungsbeispiels aus1 ; -
3 einen vergrößerten Ausschnitt der Darstellung aus1 mit einer als Singlemode-Laserdiode ausgebildeten Singlemode-Laserlichtquelle, der vorgeordneten lichtleitenden Faser sowie Rückkopplungsmitteln; -
4a ,4b je eine schematisierte Darstellung des resultierenden Modenspektrums einer erfindungsgemäß betriebenen Singlemode-Laserdiode aus1 vor und nach einer eventuellen Temperaturänderung; -
5a –5e je eine Darstellung mit weiteren Möglichkeiten zur Ausbildung der Rückkopplungsmittel. - In
1 ist in einer schematisierten Darstellung der vollständige, entfaltete Abtaststrahlengang eines Ausführungsbeispiels der erfindungsgemäßen Positionsmesseinrichtung dargestellt. Im Fall dieser Ausführungsform handelt es sich um eine Positionsmesseinrichtung basierend auf dem interferentziellen Prinzip, die u. a. mehrere Gitter zur Signalerzeugung verwendet. Nachfolgend sei kurz das Prinzip der Signalerzeugung erläutert, bevor anschließend im Detail auf die erfindungsgemäßen Maßnahmen im Zusammenhang mit der eingesetzten Lichtquelle eingegangen wird. - Die erfindungsgemäße Positionsmesseinrichtung umfasst eine Lichtquelle
1 in Form einer Singlemode-Laserlichtquelle; im dargestellten Ausführungsbeispiel ist die Singlemode-Laserlichtquelle hierbei als Singlemode-Laserdiode ausgebildet, deren emittierte Strahlung über eine lichtleitende Faser2 den nachfolgend angeordneten Elementen zugeführt wird; letztere seien im Verlauf der weiteren Beschreibung als Signalerzeugungsmittel bezeichnet und dienen zur Erzeugung der verschiebungsabhängigen Ausgangssignale. Wie bereits eingangs angedeutet, können alternativ zur dargestellten Ausführungsform die Signalerzeugungsmittel auch anderweitig ausgebildet werden, etwa in einem bekannten Interferometeraufbau usw.. Im Ausführungsbeispiel der1 gelangt die von der Faser2 zugeführte Strahlung über eine Kollimatoroptik3 und einen Polarisator4 auf ein Maßstabgitter5 . Dem Maßstabgitter5 nachgeordnet ist ein Abtastgitter6 , das an einem Rückreflexionselement7 in Form eines Dachkantprismas angeordnet ist. Am Dachkantprisma sind ferner zwei weitere polarisationsoptische Elemente8.1 ,8.2 , ausgebildet als λ/4-Plättchen, angeordnet. Detektionsseitig sind in der dargestellten Ausführungsform ein weiteres Gitter9 und mehrere Polarisatoren10.1 ,10.2 ,10.3 vorgesehen, denen wiederum lichtleitende Fasern11.1 ,11.2 ,11.3 und optoelektronische Detektorelemente12.1 ,12.2 ,12.3 nachgeordnet sind, an denen die verschiebungsabhängigen Ausgangssignale S–120°, S0°, S120° anliegen. - Eine räumliche Darstellung der Positionsmesseinrichtung aus
1 ist in2 gezeigt. Aus dieser Ansicht ist insbesondere die räumliche Anordnung der Signalerzeugungsmittel ersichtlich. - Die Strahlung der Lichtquelle
1 wird in der konkreten Ausführungsform über die lichtleitende Faser2 der Abtasteinheit10 zugeführt, d. h. die Faser-Auskoppelfläche2.2 ist mit der Abtasteinheit10 verbunden, einkoppelseitig ist die Lichtquelle1 in einer festen räumlichen Anordnung zur Einkoppelfläche2.1 angeordnet. Die Abtasteinheit10 enthält einen Teil der oben erläuterten Signalerzeugungsmittel. Hierzu gehören neben dem Rückreflexionselement7 ferner das Abtastgitter6 und die beiden polarisationsoptischen Elemente8.1 ,8.2 bzw. λ/4-Plättchen. - Wie ebenfalls aus
2 ersichtlich, ist die Abtasteinheit10 gegenüber dem Maßstabgitter5 in Richtung x verschiebbar angeordnet. Mit der Abtasteinheit10 einerseits und dem Maßstabgitter5 andererseits sind demzufolge die beiden Objekte verbunden, deren Relativposition mit Hilfe der erfindungsgemäßen Positionsmesseinrichtung zu bestimmen ist. - Ferner ist aus
2 ersichtlich, dass ähnlich wie die Lichtquelle1 auch die Detektorelemente12.1 ,12.2 ,12.3 räumlich entfernt von der Abtasteinheit10 angeordnet sind. Die zu detektierende Strahlung wird nach der resultierenden Wechselwirkung mit dem Maßstabgitter5 und dem Abtastgitter6 über die lichtleitenden Fasern11.1 ,11.2 ,11.3 von der Abtasteinheit10 den Detektorelementen12.1 ,12.2 ,12.3 zugeführt. Im Fall der Relativbewegung der beiden Objekte bzw. von Abtasteinheit10 und Maßstabgitter5 , sind dann über die Detektorelemente12.1 ,12.2 ,12.3 die verschiebungsabhängigen periodischen Ausgangssignale S–120°, S0°, S120° detektierbar. Von den Detektorelementen12.1 ,12.2 ,12.3 wiederum werden die detektierten Ausgangssignale S–120°, S0°, S120° zur Weiterverarbeitung einer – nicht dargestellten – Folgeelektronik zugeführt. - In Bezug auf die konkrete Signalerzeugung in der erfindungsgemäßen Positionsmesseinrichtung sei an dieser Stelle abschließend ergänzend auf die
WO 2002 023 131 A1 der Anmelderin verwiesen. - Anhand von
3 seien nachfolgend die erfindungsgemäßen Maßnahmen in Bezug auf die verwendete Lichtquelle anhand eines ersten Ausführungsbeispiels erläutert. Wie bereits oben erläutert, wird als Lichtquelle1 eine Singlemode-Laserdiode verwendet, wie sie beispielsweise von der Firma SANYO Semiconductor Corp. unter der Typenbezeichnung DL 7140-201 erhältlich ist. - Der Lichtquelle
1 vorgeordnet ist eine Einkoppeloptik1.1 in Form einer geeigneten Linse oder ggf. eines Mehrlinsensystems, über die die von der Lichtquelle1 emittierte Strahlung auf die Einkoppelfläche2.1 der lichtleitenden Faser2 fokussiert wird. Mittels der lichtleitenden Faser2 wird die Strahlung nach dem Austritt aus der Auskoppelfläche2.2 den vorher erläuterten Signalerzeugungsmitteln zugeführt; letztere sind in3 nicht dargestellt. - Sowohl im Beispiel der
3 wie auch in alternativen Ausführungsvarianten werden jeweils ergänzend zur Lichtquelle1 vorgesehene Rückkopplungsmittel dazu verwendet, die verwendete Singlemode-Laserlichtquelle bzw. im vorliegenden Beispiel die Singlemode-Laserdiode in einem Multimode-Betrieb zu betreiben, der Vorteile hinsichtlich der Temperaturabhängigkeit der emittierten Strahlungswellenlänge λ bietet. Über die Rückkopplungsmittel wird jeweils ein externer Resonator gebildet, dessen Resonatorlänge LEXT in definierter Art und Weise so gewählt wird, dass nicht mehr nur eine einzige Mode – wie durch die deutlich kleinere interne Resonatorlänge LINT der Laserdiode vorgegeben – angeregt wird, sondern eine gleichzeitige Anregung mehrerer Moden resultiert, die statistisch fluktuieren, jedoch immer gleichzeitig angeregt sind. Auf diese Art und Weise resultiert demzufolge ein (Quasi-)Multimode-Betrieb der eigentlichen Singlemode-Laserdiode, bei dem neben der guten Stabilität gegenüber temperaturbedingten Wellenlängenschwankungen auch eine hinreichende Strahlungs-Ausgangsleistung sichergestellt ist. Im Fall von – nicht zu verhindernden – Temperaturschwankungen treten somit insbesondere keine Modensprünge und damit Sprünge in der emittierten Strahlungswellenlänge λ mehr auf. Es resultieren demgegenüber lediglich kleine Änderungen der emittierten Strahlungswellenlänge λ aufgrund der temperaturbedingten langsamen und kontinuierlichen Umbesetzung aller beteiligten, eng verteilten Moden. - In
4a ist das das resultierende Modenspektrum einer erfindungsgemäß betriebenen Singlemode-Laserdiode vor einer Temperaturänderung in schematischer Form dargestellt. Deutlich erkennbar ist hierbei die enge Verteilung der resultierenden Moden, die nunmehr aufgrund der deutlich größeren externen Resonatorlänge LEXT ≈ 1–10 m nur noch einen gegenseitigen Wellenlängenabstand Δλ ≈ 2·10–4 nm aufweisen. Ohne die erfindungsgemäßen Maßnahmen liegt in Verbindung mit der deutlich kleineren internen Resonatorlänge LINT1 ≈ 1–2 mm der Singlemode-Laserdiode demgegenüber der gegenseitige Wellenlängenabstand Δλ benachbarter Moden etwa bei Δλ ≈ 0.2 nm–0.3 nm. - In
4b ist das nach einer eventuellen Temperaturänderung resultierende Modenspektum veranschaulicht. Durch die strichlinierten Verbindungslinien zwischen den einzelnen Moden in den4a und4b soll die Umbesetzung der verschiedenen Moden innerhalb des Verstärkungsprofiles veranschaulicht werden nach einer Temperaturänderung. Zur Ausbildung eines externen Resonators bzw. zur Ausbildung geeigneter Rückkopplungsmittel, über die dies bewerkstelligt wird, stehen verschiedene Ausführungsmöglichkeiten zur Verfügung. Im dargestellten Beispiel der3 ist als Rückkopplungsmittel ein teilreflektierendes Reflektorelement außerhalb der Singlemode-Laserdiode vorgesehen, das durch die Faser-Auskoppelfläche2.2 gebildet wird. Der externe Resonator umfasst in dieser Variante demzufolge einerseits die Faser-Auskoppelfläche2.2 , die einen Teil der emittierten Strahlung wieder in die Singlemode-Laserdiode zurückreflektiert. Andererseits umfasst der externe Resonator eine Reflektorfläche1.2 innerhalb der Singlemode-Laserdiode. Durch die Resonatorlänge LEXT ist dann wie oben erläutert der geringe Wellenlängenabstand Δλ der angeregten benachbarten Moden vorgegeben. - Die Faser-Auskoppelfläche
2.2 reflektiert in diesem Ausführungsbeispiel einen bestimmten Anteil der auftreffenden Strahlungsintensität in die Singlemode-Laserdiode zurück; ohne weitere Maßnahmen beträgt die rückreflektierte Intensität in etwa 4% der Strahlungsleistung. Dies ist für den erfindungsgemäßen Betrieb der Singlemode-Laserdiode ausreichend; ggf. reichen auch bereits geringere zurückreflektierte Strahlungsleistungen. Je nach Anforderung kann aber auch ein größerer Anteil der Strahlungsintensität zurückreflektiert werden. Um diese Rückreflexionseigenschaften der Faser-Auskoppelfläche2.2 zu erzielen, kann diese auch zusätzlich geeignet verspiegelt bzw. reflektierend ausgebildet sein; alternativ hierzu kann eine Teil-Entspiegelung derselben vorgesehen werden etc.. Es existieren demzufolge verschiedenste, dem Fachmann geläufige Möglichkeiten, wie die Rückreflexionseigenschaften der Faser-Auskoppelfläche2.2 entsprechend realisierbar sind, um derart den externen Resonator auszubilden. - Im Fall einer Ausführung gemäß
3 erweist sich ferner als vorteilhaft, wenn die Oberflächen der verwendeten Einkoppeloptik1.1 eine antireflektierende Beschichtung aufweisen. Damit wird sichergestellt, dass von diesen Oberflächen nicht bereits signifikante Strahlungsanteile in den Resonator der Singlemode-Laserdiode zurückgekoppelt werden. Wie oben diskutiert, ist der angestrebte kleine gegenseitige Wellenlängenabstand Δλ benachbarter Moden umso geringer, je länger die externe Resonatorlänge LEXT gewählt wird. - Alternativ zur Variante aus
3 kann als zumindest teilreflektierendes Reflektorelement bzw. Rückkopplungsmittel auch die Faser-Einkoppelfläche2.1 der verwendeten Faser2 fungieren. Die Faser-Auskoppelfläche2.2 wäre in diesem Fall dann vorzugsweise vollständig entspiegelt auszubilden, während die Faser-Einkoppelfläche2.1 zumindest einen Teil der Strahlung wieder in Richtung der Singlemode-Laserdiode zurückreflektiert. Der externe Resonator würde dann durch die Faser-Einkoppelfläche2.1 und die interne Reflektorfläche1.2 der Singlemode-Laserdiode gebildet. Im Vergleich zum vorherigen Beispiel ergäbe sich eine externe Resonatorlänge LEXT, die dann entsprechend um die Länge der lichtleitenden Faser2 verkleinert wäre. - Anhand der
5a –5e seien nachfolgend beispielhaft noch weitere – nicht-erfindungsgemäße – Möglichkeiten zur Ausbildung der Rückkopplungsmittel und damit zur Ausbildung eines externen Resonators erläutert, worüber ein Multimode-Betrieb der Singlemode-Laserlichtquelle bzw. der Singlemode-Laserdiode realisierbar ist. - In der Variante gemäß
5a ist der Lichtquelle11 und der Einkoppeloptik11.1 eine lichtleitende Faser nachgeordnet, die aus zwei Faserabschnitten12a ,12b zusammengesetzt ist. Die Endflächen12.3 ,12.4 der beiden Faserabschnitte12a ,12b befinden sich über eine geeignte – nicht dargestellte – Steckverbindung in Kontakt miteinander. Eine der beiden Endflächen12.3 oder12.4 ist jedoch teilverspiegelt und fungiert somit als externes, teilreflektierendes Reflektorelement zur Bildung des externen Resonators mit der Resonatorlänge LEXT. Die restlichen Planflächen, wie etwa auf Seiten der zweilinsigen Einkoppeloptik11.1 oder aber die Faser-Einkoppelfläche12.1 und die Faser-Auskoppelfläche12.2 sind nicht-reflektierend beschichtet. - In
5b ist eine weitere Möglichkeit zur Ausbildung der Rückkopplungsmittel schematisch dargestellt. Hier dient nunmehr eine Planfläche21.1a der zweilinsigen Einkoppeloptik21.1 als teilreflektierendes Reflektorelement. Zu diesem Zweck reicht es aus, diese Planfläche21.1a nicht antireflektierend zu beschichten. Es resultiert eine Rückreflexion in die als Singlemode-Laserdiode ausgebildete Lichtquelle21 , damit ein externer Resonator der Länge LEXT ausgebildet wird. Sonstige Maßnahmen auf Seiten der nachgeordneten lichtleitenden Faser22 sind nicht erforderlich. - Gemäß der Ausführung in
5c ist der Lichtquelle31 in Form einer Singlemode-Laserdiode eine antireflektierend beschichtete Einkoppeloptik31.1 und eine lichtleitende Faser32 nachgeordnet. Benachbart zur Auskoppelfläche32.2 der lichtleitenden Faser32 ist eine weitere Linse33 zur Strahlformung der Strahlung angeordnet, die aus der Auskoppelfläche32.2 ausgekoppelt wird. Die Linse33 besitzt eine Planfläche33.1 , die als teilreflektierendes Reflektorelement fungiert und eine teilweise Rückreflexion der auftreffenden Strahlung in den Resonator der Singlemode-Laserdiode bewirkt, so dass derart wiederum eine Ausbildung eines externen Resonators der Resonatorlänge LEXT resultiert. Es reicht zu diesem Zweck aus, die Planfläche33.1 der Linse33 nicht antireflektierend auszulegen. - Eine weitere Ausführungsmöglichkeit für die Rückkopplungsmittel in Form eines teilreflektierenden Reflektorelements ist in
5d veranschaulicht. - Der Lichtquelle
41 und der Einkoppeloptik41.1 ist eine zwei- oder ggf. mehrteilige lichtleitende Faser aus zwei oder ggf. mehr Faserabschnitten42a ,42b nachgeordnet. Im Unterschied zur Variante aus5a befinden sich die gegenüberliegenden Endflächen42.3 ,42.4 der Faserabschnitte42a ,42b nunmehr nicht über eine Steckverbindung in direktem Kontakt miteinander. Es ist vielmehr ein Luftspalt zwischen den Endflächen vorgesehen, so dass an der ersten Endfläche42.3 eine teilweise Rückreflexion der auftreffenden Strahlung in den Resonator erfolgt. Die resultierende externe Resonatorlänge LEXT ist in5d ebenfalls wieder veranschaulicht. - In der Variante gemäß
5e ist vorgesehen, zwischen der Lichtquelle51 und der Einkoppeloptik52.1 einen Strahlteiler54 anzuordnen, der einen Teil der einfallenden Strahlungsintensität auskoppelt und in Richtung eines Reflexionsgitters55 umlenkt; vom Reflexionsgitter55 erfolgt eine Rückreflexion der einfallenden Strahlung in Richtung des Resonators. - In einer weiteren – nicht dargestellten – Variante zur Ausbildung der Rückkopplungsmittel ist es möglich, einen teilreflektierenden Spiegel außerhalb des Resonators der Singlemode-Laserdiode anzuordnen und einen Teil der einfallenden Strahlung derart wieder rückzukoppeln.
- Neben den erläuterten Varianten existieren im Rahmen der vorliegenden Erfindung selbstverständlich noch weitere Möglichkeiten zur Ausbildung der Rückkopplungsmittel.
Claims (6)
- Positionsmesseinrichtung zur Bestimmung der Relativposition zweier Objekte, bestehend aus einer Lichtquelle (
1 ) und Signalerzeugungsmitteln zur Erzeugung verschiebungsabhängiger Ausgangssignale (S–120°, S0°, S120°), – wobei die Lichtquelle (1 ) als Singlemode-Laserlichtquelle ausgebildet ist und mit Rückkopplungsmitteln derart wechselwirkt, dass in der Singlemode-Laserlichtquelle eine Anregung mehrerer Moden erfolgt und ein Multimode-Betrieb der Singlemode-Laserlichtquelle resultiert, und – wobei vor der Lichtquelle (1 ) mindestens eine lichtleitende Faser (2 ) angeordnet ist und über eine Faser-Einkoppelfläche (2.1 ) eine Einkopplung der von der Lichtquelle (1 ) emittierten Strahlung in die Faser (2 ) erfolgt und über eine Faser-Auskoppelfläche (2.2 ) eine Zuführung der emittierten Strahlung zu den Signalerzeugungsmitteln erfolgt, und – wobei als Rückkopplungsmittel ein zumindest teilreflektierendes Reflektorelement dient, auf das zumindest ein Teil der emittierten Strahlung der Singlemode-Laserlichtquelle auftrifft und über das eine Rückreflexion der Strahlung in die Singlemode-Laserlichtquelle resultiert, und – wobei zumindest entweder die Faser-Einkoppelfläche (2.1 ) oder die Faser-Auskoppelfläche (2.2 ) als teilreflektierendes Reflektorelement ausgebildet sind. - Positionsmesseinrichtung nach Anspruch 1, wobei die Singlemode-Laserlichtquelle als Singlemode-Laserdiode ausgebildet ist.
- Positionsmesseinrichtung nach Anspruch 1, wobei die Signalerzeugungsmittel mindestens ein Abtastgitter (
6 ), ein Maßstabgitter (5 ) sowie ein oder mehrere optoelektronische Detektorelemente (12.1 ,12.2 ,12.3 ) umfassen. - Positionsmesseinrichtung nach Anspruch 3, wobei das Abtastgitter (
6 ) und das mindestens eine optoelektronische Detektorelement (12.1 ,12.2 ,12.3 ) in einer Abtasteinheit (10 ) angeordnet sind, die mit einem der beiden Objekte verbunden ist, während das Maßstabgitter (5 ) mit dem anderen der beiden Objekte verbunden ist. - Positionsmesseinrichtung nach Anspruch 4, wobei die Faser-Auskoppelfläche (
2.2 ) mit der Abtasteinheit (10 ) verbunden ist und die Strahlung der Lichtquelle (1 ) der Abtasteinheit (10 ) zuführt. - Positionsmesseinrichtung nach Anspruch 5, wobei die von der Faser-Auskoppelfläche (
2.1 ) ausgekoppelte Strahlung nach der Wechselwirkung mit dem Abtastgitter (6 ) und dem Maßstabgitter (5 ) auf das mindestens eine optoelektronische Detektorelement (12.1 ,12.2 ,12.3 ) trifft und über das Detektorelement (12.1 ,12.2 ,12.3 ) im Fall der Relativbewegung der beiden Objekte zueinander das verschiebungsabhängige mindestens eine Ausgangssignal (S–120°, S0°, S120°) detektierbar ist.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10235669.6A DE10235669B4 (de) | 2002-08-03 | 2002-08-03 | Positionsmesseinrichtung |
JP2003185349A JP4809578B2 (ja) | 2002-08-03 | 2003-06-27 | 位置測定装置 |
US10/632,536 US7046368B2 (en) | 2002-08-03 | 2003-08-01 | Position measuring arrangement |
CNB031525229A CN1285879C (zh) | 2002-08-03 | 2003-08-01 | 位置检测装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10235669.6A DE10235669B4 (de) | 2002-08-03 | 2002-08-03 | Positionsmesseinrichtung |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE10235669A1 DE10235669A1 (de) | 2004-02-12 |
DE10235669B4 true DE10235669B4 (de) | 2016-11-17 |
Family
ID=30128719
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE10235669.6A Expired - Fee Related DE10235669B4 (de) | 2002-08-03 | 2002-08-03 | Positionsmesseinrichtung |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7046368B2 (de) |
JP (1) | JP4809578B2 (de) |
CN (1) | CN1285879C (de) |
DE (1) | DE10235669B4 (de) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE50105554D1 (de) * | 2000-09-14 | 2005-04-14 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Positionsmesseinrichtung |
DE102004053082A1 (de) * | 2004-11-03 | 2006-05-04 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh | Positionsmesssystem |
DE102006041357A1 (de) | 2005-11-09 | 2007-05-10 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh | Positionsmesseinrichtung und Verfahren zum Betrieb einer Positionsmesseinrichtung |
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- 2003-08-01 CN CNB031525229A patent/CN1285879C/zh not_active Expired - Fee Related
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CN1285879C (zh) | 2006-11-22 |
US20040090636A1 (en) | 2004-05-13 |
JP4809578B2 (ja) | 2011-11-09 |
CN1479074A (zh) | 2004-03-03 |
DE10235669A1 (de) | 2004-02-12 |
JP2004101512A (ja) | 2004-04-02 |
US7046368B2 (en) | 2006-05-16 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
R016 | Response to examination communication | ||
R018 | Grant decision by examination section/examining division | ||
R020 | Patent grant now final | ||
R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee |