-
HINTERGRUND DER ERFINDUNG
-
1. Gebiet der Erfindung
-
Die
vorliegende Erfindung betrifft einen Hub eines Speichermoduls nach
dem Anspruch 1, sowie ein Verfahren zum Testen eines Speichermoduls nach
dem Anspruch 7.
-
2. Beschreibung des Standes
der Technik
-
Aus
der
DE 103 35 978
B4 ist ein älterer
Vorschlag bekannt, der die folgenden Schritte umfasst:
Liefern
von ersten Daten entsprechend einer ersten Adresse zu einem Hub
eines Speichermoduls;
Liefern der ersten Daten des Hubs des
Speichermoduls zu einer ersten Adresse eines Speichers;
Liefern
von ersten erwarteten Daten zu dem Hub des Speichermoduls;
Ausgeben
von zweiten Daten, die an der ersten Adresse des Speichers gespeichert
sind, an den Hub des Speichermoduls; und
Vergleichen der zweiten
Daten mit den ersten erwarteten Daten.
-
Aus
der
WO 2004/017162
A2 ist ein Verfahren zum Testen eines Speichermoduls bekannt,
bei dem ein Selbsttestmodul in einem Hub integriert ist und einen
Speichertest und eine Reparatur des Speichers durchführt.
-
Aus
der Literaturstelle JEDDELOH, Joe: "Fully buffered DIMM (FB-Dimm), JEDER,
San Jose, 15.–16.
April 2004 ist es bekannt, dass das Testen von FB-DIMMS mittels
eines sogenannten Transparent-Modus und mit Hilfe einer Testvorrichtung
(ATE) durchgeführt
werden kann.
-
Die
Erhöhung
der Geschwindigkeit und/oder Schaltungsintegration eines Hauptspeichers
kann in Korrelation zu der Erhöhung
der Betriebsgeschwindigkeiten von zentralen Verarbeitungsschaltungen stehen.
Eine Busarchitektur, die bei hohen Geschwindigkeiten Paketübertragungs-
und/oder Empfangsvorgänge
durchführen
kann, und zwar zwischen der zentralen Verarbeitungsschaltung und dem
Hauptspeicher, kann dafür
verwendet werden, um die Dateneingabe und/oder Datenausgabegeschwindigkeiten
des Hauptspeichers zu fördern.
Ferner kann ein Speichermodul mit einer Vielzahl an Speicherchips,
die auf einer gedruckten Schaltungsplatine (PCB) montiert sind,
dazu verwendet werden, um eine Speicherkapazität des Hauptspeichers zu fördern oder
zu erhöhen.
-
Der
Speichermodul kann als ein einzelner In-Line-Speichermodul (SIMM)
oder Dual-In-Line-Speichermodul (DIMM) klassifiziert werden. Ein
SIMM kann aus einem Speichermodul bestehen, der Speicherchips aufweist,
die lediglich auf einer Seite des PCB montiert sind, während ein DIMM
aus einem Speichermodul bestehen kann, bei dem Speicherchips auf
beiden Seiten des PCB montiert sind.
-
Es
können
mehrere Optionen zum Vergrößern der
Speicherkapazität
des Hauptspeichers gegeben sein. Die Verwendung von Speichermodulen kann
die Speicherkapazität
vergrößern. Auch
kann eine Erhöhung
der Speichertaktfrequenzen den Speicherdatenzugriff bzw. die Speicherdatenzugriffsraten
erhöhen,
die Datentransferraten herbeiführen können, um
eine Änderung
zu bewirken, was zu einer Vergrößerung der
Speicherkapazität
führt.
Zusätzlich kann
die Zahl der Speicherchips, die auf dem Speichermodul montiert sind
und/oder die Zahl der Schlitze des Motherboards erhöht werden,
um dadurch mehr Speicherkapazität
zu erreichen.
-
Unglücklicherweise
kann bei einer Erhöhung einer
Taktfrequenz des Speichers der Zeitsteuergrenzbereich des Speichers
reduziert werden. Auch wenn die Zahl der Schlitze des Motherboards
erhöht wird,
kann die Signalübertragung
einer Übertragungsleitung
durch die Erzeugung einer Lastimpedanz geschwächt werden. Es kann ein registrierter DIMM,
das heißt
ein spezieller Typ eines DIMM, dazu verwendet werden, um diese Signalübertragungsschwächen zu
kompensieren.
-
Die 1A und 1B veranschaulichen Blockschaltbilder,
die einen herkömmlichen
registrierten DIMM bzw. einen Puffer-DIMM darstellen.
-
Gemäß 1A kann
ein registrierter DIMM eine phasenstarre Schleife (PLL) 103,
ein Register 101 und eine Vielzahl an Speichern 105 aufweisen.
-
Wenn
ein registrierter DIMM auf einem Motherboard montiert wird, kann
der registrierte DIMM eine Kompensation hinsichtlich der Erzeugung
der Lastimpedanz bewirken. Wenn das Motherboard viele Schlitze aufweist
und/oder die Taktfrequenz hoch ist, kann eine reflektierte Welle
erzeugt werden, wodurch dann der Übertragungswirkungsgrad verschlechtert
wird. Um die Verschlechterung des Übertragungswirkungsgrades zu überwinden,
kann ein Puffer-DIMM verwendet werden. Der Puffer-DIMM kann einen
Hub aufweisen, um Pakete zu empfangen und um die Pakete in einen
Speicherbefehl zu transformieren.
-
Gemäß 1B kann
ein Puffer-DIMM einen Hub 107 aufweisen und auch eine Vielzahl
an Speichern 109 besitzen. Der Hub 107 kann Pakete
empfangen und kann die Pakete zu einer Vielzahl an Speicher 109 verteilen,
die an dem Speichermodul montiert sind, und zwar mit einem Speicherbefehl und
mit Daten. Ferner kann der Hub 107 Daten in Datenpakete
bringen, die von dem Speicher ausgegeben werden, und Daten einem
Speicher-Controller in Paketform zuzuführen.
-
2A ist
ein Blockschaltbild, welches ein Testverfahren eines herkömmlichen
Speichermoduls veranschaulicht.
-
Gemäß 2A kann
das Testverfahren eine Vielzahl an Speichermodulen 220-1, 220-2,
..., 220-N und eine Busstruktur verwenden, die für die Übertragung
eines Pakets von einem Speichermodul zu anderen Speichermodulen
geeignet sind. Ferner kann die Busstruktur zwischen einem Hub 222 und/oder
einem Speicher-Controller 210 positioniert sein, um die Übertragung
des Paketes in geeigneter Weise vorzunehmen. Ein Kanal eines Punkt-zu-Punkt-(P2P)-Typs
kann zwischen dem Speicher-Controller 210 und
jedem betreffenden Speichermodul 220-N ausgebildet sein
und es können
dann Signale zwischen dem Speicher-Controller 210 und den
Speichermodulen 220-1, 220-2, ..., 220-N in
einer Prioritätsverkettungsart übertragen werden.
Es kann daher die Lastimpedanz der Übertragungsleitungen reduziert
werden.
-
Das
Paket, welches von dem Speicher-Controller 210 empfangen
werden kann, kann einen Identifizierungskode aufweisen, der den
Speichermodul-Bestimmungsort angibt. Wenn der Identifizierungskode
des empfangenen Paketes zu einem bestimmten Speichermodul 220-i passt,
kann der bestimmte Speichermodul 220-i das empfangene Paket verarbeiten
und/oder kann die Daten zu dem entsprechenden Speicher 224 übertragen.
-
Es
können
zwei Verfahren verwendet werden, wenn ein Speichermodul unter Verwendung
einer automatischen Testausrüstung
getestet wird. Das erste Verfahren zum Testen kann aus einer eingebauten
Eigentesteinrichtung (Built-In Self Test) (BIST) bestehen. Dieses
Verfahren kann die Vorbereitung einer Testlogik in dem Hub umfassen,
um den Speicher zu testen, wenn ein spezifisches Moduswählsignal
an dem Speichermodul angelegt wird. Wenn jedoch die BIST verwendet
wird, kann jedoch der Testumfang verschlechtert werden, und zwar
auf Grund des Testvorganges des Speichers mit einem festgelegten
Testmuster.
-
Das
zweite Testverfahren kann einen Transparentmodus verwenden. Bei
dem Transparentmodustest kann ein Steuersignal an einen Speichermodul
angelegt werden und es können
Signale von einer automatischen Testausrüstung aus eingespeist werden.
Diese Signale können
dann direkt in den Speicher eingespeist werden. Da jedoch die Signale von
der Testausrüstung
direkt in den Speicher eingespeist werden, kann eine Differenz zwischen
einer Tab-Zahl in dem Speichermodul und einer Tab-Zahl auftreten,
die zum Testen des Speichermoduls erforderlich ist. Wenn ein Datenvergleich
in dem Hub vorgenommen wird, können
die in den Speicher eingegebenen Daten in einem Register gespeichert
werden. Die Verwendung eines Registers zur Durchführung des
Datenvergleichs kann eine komplexe Schaltung erfordern und/oder
kann Schwierigkeiten bei der Synchronisation der verglichenen Daten
mit sich bringen.
-
2B ist
eine Tabelle, in der eine Tab-Nummer des Puffer-DIMM mit einer Tab-Nummer
verglichen wird, die zum Testen des Puffer-DIMM in einem Transparentmodus
erforderlich ist.
-
In
einem normalen Modus bestehen die Signale, die in den Puffer-DIMM
eingespeist werden oder aus diesem ausgegeben werden, alle aus Differenzsignalen
(differential signals). Der Ausdruck "Northbound" in der Tabelle von 2B gibt
ein Paket an, welches von dem Speicher-Controller zur Einspeisung
in den Puffer-DIMM ausgegeben wird, und der Ausdruck "Southbound" gibt ein Paket an,
welches von dem Puffer-DIMM zur Einspeisung in den Speicher-Controller 210 ausgegeben
wird. Der Zusatz bei dem Ausdruck "primär" gibt ein Paket an, welches
in den Hub 222 eingespeist wird, und ein Ausdruck "sekundär" gibt ein Paket an,
welches von dem Hub 222 ausgegeben wird.
-
Gemäß 2B kann
ein Puffer-DIMM in dem normalen Modus 14 Tabs oder Pins ein primäres Northbound-Paket
(PN) aufweisen, 14 Tabs oder Pins für einen komplementären primären Northbound (/PN),
10 Tabs oder Pins für
einen primären
Northbound (PS), 10 Tabs oder Pins für einen komplementären primären Northbound
(/PS), 14 Tabs oder Pins für
einen sekundären
Northbound (SN), 14 Tabs oder Pins für einen komplementären sekundären Northbound
(/SN), 10 Tabs oder Pins für
einen sekundären Southbound
(SS) und 10 Tabs oder Pins für
einen komplementären
sekundären
Southbound (/SS). Beispielsweise kann der Puffer-DIMM eine Gesamtzahl von
96 Tabs oder Pins aufweisen. Um jedoch den Speicher in dem Transparentmodus
zu testen, können
mehrere Tabs oder Pins, beispielsweise 8 Tabs oder Pins, für Speichersteuersignale
erforderlich sein, wie beispielsweise /CS, /RAS, /CAS, /WE usw. Ferner
können
mehrere Tabs oder Pins, beispielsweise 18 Tabs oder Pins, für Adressensignale
erforderlich sein, mehrere Tabs oder Pins, wie 72 Tabs oder Pins,
können
für Datensignale
(DQ) erforderlich sein und mehrere Tabs oder Pins, beispielsweise
18 Tabs oder Pins, können
für Datenstrobesignale (DQS)
erforderlich sein. Beispielsweise sind mehr Tabs oder Pins erforderlich
als der Speichermodul besitzt. Bei dem zuvor angegebenen Beispiel
können wenigstens
116 Tabs oder Pins erforderlich sein, um den Speicher in dem Transparentmodus
zu testen und daher kann der Speichermodul in dem Transparentmodus
nicht ausreichend Tabs oder Pins besitzen.
-
ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG
-
Demzufolge
können
als Beispiel gewählte Ausführungsformen
der vorliegenden Erfindung im Wesentlichen die Probleme reduzieren,
und zwar aufgrund von Einschränkungen
und/oder Nachteilen, die beim Stand der Technik auftreten.
-
Die
der Erfindung zugrundeliegende Aufgabe besteht darin einen Hub eines
Speichermoduls zu schaffen, bei dem eine verbesserte Überprüfung der Funktionsfähigkeit
des Hubs realisiert ist, und ein Verfahren zum Testen eines Speichermoduls
unter Verwendung des Hubs anzugeben, welches eine hohe Testsicherheit
und Testgenauigkeit gewährleisten
kann.
-
In
Verbindung mit dem Hub eines Speichermoduls wird die genannte Aufgabe
durch die im Anspruch 1 aufgeführten
Merkmale gelöst.
-
Besonders
vorteilhafte Ausgestaltungen und Weiterbildungen des erfindungsgemäßen Hub
ergeben sich aus den Ansprüchen
2 bis 6.
-
In
Verbindung mit dem Verfahren zum Testen eines Speichermoduls unter
Verwendung des Hubs wird die genannte Aufgabe durch die im Anspruch
7 angegebenen Merkmale gelöst.
-
Vorteilhafte
Ausgestaltungen und Weiterbildungen des erfindungsgemäßen Verfahrens
ergeben sich aus den Ansprüchen
8 bis 13.
-
Beispielhafte
Ausführungsformen
der vorliegenden Erfindung betreffen ein Verfahren zum Testen eines
Speichermoduls, in dem Diskrepanzen hinsichtlich der Zahl der Tabs
oder Pins in einem Transparentmodus verhindert oder reduziert werden.
-
Bei
einigen Ausführungsformen
der vorliegenden Erfindung kann ein Verfahren zum Testen eines Speichermoduls
das Umwandeln eines Hubs eines Speichermoduls in einen Transparentmodus
umfassen, Vorsehen von ersten Daten entsprechend einer ersten Adresse
zu dem Hub des Speichermoduls, Vorsehen der ersten Daten zu dem
Hub des Speichermoduls zu einer ersten Adresse eines Speichers;
Vorsehen von ersten erwarteten Daten zu dem Hub des Speichermoduls,
Ausgeben von zweiten Daten, die an der ersten Adresse des Speichers
gespeichert sind, zu dem Hub des Speichermoduls, und Vergleichen
der zweiten Daten mit den ersten erwarteten Daten.
-
Bei
anderen Ausführungsformen
der vorliegenden Erfindung kann das Verfahren ein Testen eines Speichermoduls
das Empfangen von Eintakt-Eingangssignalen über Differenz-Eingangsanschlüsse umfassen, über welche
Differenzialpaare von Paketsignalen von einer Testausrüstung empfangen
werden, wobei eine Anzahl an Anschlüssen der Testausrüstung verschieden
ist von einer Zahl der Anschlüsse
des Speichermoduls und der testenden Speicherchips des Speichermoduls
basierend auf den Eintakt-Signalen.
-
Als
Beispiel gewählte
Ausführungsformen der
vorliegenden Erfindung schaffen auch einen Hub eines Speichermoduls,
um Unterschiede in der Zahl der Tabs oder Pins in einem Transparentmodus
zu verhindern oder zu reduzieren.
-
Bei
anderen beispielhaften Ausführungsformen
der vorliegenden Erfindung kann ein Hub eines Speichermoduls eine
Transparentmodus-Übergangsschaltung
aufweisen, die so konfiguriert ist, um ein Eingangssignal zu empfangen
und/oder so konfiguriert ist, um einen Betriebsmodus zwischen einem normalen
Modus und einem Transparentmodus im Ansprechen auf ein Transparentmodus-Freigabesignal
zu ändern,
eine Signalverarbeitungsschaltung enthalten, die so konfiguriert
ist, um ein Ausgangssignal der Transparentmodus-Übergangsschaltung zu verarbeiten,
wenn die Transparentmodus-Übertragungsschaltung
in dem normalen Modus arbeitet, und eine Datenvergleichsschaltung
enthält,
die so konfiguriert ist, um ein Datensignal von der Transparentmodus-Übergangsschaltung
zu empfangen, um eine Bestimmung vorzunehmen, ob eine Fehlfunktion
eines Speichers auftritt, und zwar unter Verwendung der empfangenen
Datensignale.
-
Beispielhafte
Ausführungsformen
der vorliegenden Erfindung können
auch einen Datenkomparator eines Hubs eines Speichermoduls umfassen, mit
einem Datenselektor, der ein Datenwählsignal empfängt und
auch ein Datensignal empfängt
und der das Datensignal zu einem Speicher des Speichermoduls liefert,
wenn das Datenwählsignal
angibt, dass das Datensignal aus einem Datenschreibsignal besteht,
und wobei ein Komparator das Datensignal von dem Datenselektor empfängt und
Daten empfängt,
die von dem Speicher des Speichermoduls ausgegeben werden, wenn
das Datenwählsignal
angibt, dass das Datensignal ein erwartetes Datensignal ist.
-
Beispielhafte
Ausführungsformen
der vorliegenden Erfindung schaffen auch ein Verfahren zum Vergleichen
von Daten in einem Hub eines Speichermoduls, wonach ein Datenwählsignal
und ein Datensignal empfangen werden, das Datensignal zu einem Speicher
des Speichermoduls geliefert wird, wenn das Datenwählsignal
angibt, dass das Datensignal aus einem Datenschreibsignal besteht,
ferner zum Empfangen des Datensignals von dem Datenselektor und
der Daten, die von dem Speicher des Speichermoduls ausgegeben werden,
wenn das Datenwählsignal
angibt, dass das Datensignal aus einem erwarteten Datensignal besteht,
und wobei das Datensignal von dem Datenselektor und die Daten verglichen
werden, die von dem Speicher des Speichermoduls ausgegeben werden.
-
Als
Beispiel gewählte
Ausführungsformen der
vorliegenden Erfindung betreffen auch einen Speichermodul mit p-Speicherchips,
einer Differenzeingabeschaltung, die so konfiguriert ist, um Differenzialpaare
von Paketsignalen zu empfangen, und zwar über Eingangsanschlüsse in einem
ersten Modus im Ansprechen auf ein Modussteuersignal, mit einer
unsymmetrischen Eingabeschaltung, die so konfiguriert ist, dass
sie Eintakt-Eingabesignale über Eingangsanschlüsse in einem
zweiten Modus empfängt,
und zwar im Ansprechen auf das Modussteuersignal, mit einer Signalverarbeitungsschaltung,
die so konfiguriert ist, um die Differenzialpaare der Paketsignale
zu dekodieren, die von der Differenzialeingabeschaltung zur Steuerung
der Speicherchips in dem ersten Modus ausgegeben werden, und mit
einer Testschaltung, die so konfiguriert ist, um die Speicherchips
basierend auf den Eintakt-Eingabesignalen zu testen, die an de unsymmetrischen
r Eingabeschaltung empfangen werden.
-
Als
Beispiel gewählte
Ausführungsformen der
vorliegenden Erfindung betreffen auch einen Halbleiterchipmodul
mit einem Paar von Differenzialeingabeanschlüssen, über die das Eingangssignal empfangen
wird, einer Differenzialeingabeschaltung, die so konfiguriert ist,
um ein Differenzialsignal in einem ersten Modus basierend auf den
Eingangssignalen zu erzeugen, die durch das Paar der Differenzialeingangsanschlüsse empfangen
werden, und mit einer unsymmetrischen Eingabeschaltung, die so konfiguriert
ist, um zwei Eintakt-Signale in einem zweiten Modus basierend auf
den Eingangssignalen zu erzeugen, die von dem Paar der Differenzialeingangsanschlüsse empfangen
werden.
-
KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
-
Die
vorliegende Erfindung ergibt sich klarer aus einer detaillierten
Beschreibung von als Beispiele gewählten Ausführungsformen unter Hinweis
auf die beigefügten
Zeichnungen. In den Zeichnungen zeigen:
-
1A und 1B Blockschaltbilder,
welche herkömmliche
registrierte DIMM und Puffer-DIMM veranschaulichen;
-
2A ein
Blockschaltbild, welches ein Testverfahren eines herkömmlichen
Speichermoduls veranschaulicht;
-
2B eine
Tabelle, welche eine Anzahl an Tabs in einem Puffer-DIMM und eine
Anzahl von Tabs veranschaulicht, die zum Testen des Speichers erforderlich
sind;
-
3 ein
Blockschaltbild, welches einen Speichermodul einer als Beispiel
gewählten
Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung veranschaulicht;
-
4 ein
Blockschaltbild, welches einen Speichermodul gemäß einer anderen beispielhaften Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung wiedergibt;
-
5 ein
Blockschaltbild, welches eine Transparentmodus-Übergangsschaltung zeigt, und zwar
einer beispielhaften Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung;
-
6 ein
Schaltungsdiagramm, welche eine Steuersignal-Übergangsschaltung wiedergibt,
und zwar entsprechend einer als Beispiel gewählten Ausführungsform der vorliegenden
Erfindung;
-
7 ein
Blockschaltbild, welches eine Datenvergleichsschaltung gemäß einer
beispielhaften Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung veranschaulicht;
-
8 ein
Blockschaltbild, welches eine Datenvergleichsschaltung gemäß einer
anderen als Beispiel gewählten
Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung wiedergibt;
-
9 ein
Zeitsteuerdiagramm, welches einen Betrieb der Datenvergleichsschaltung
von 7 gemäß einer
als Beispiel gewählten
Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung zeigt;
-
10 ein
Zeitsteuerdiagramm, welches einen Betrieb der Datenvergleichsschaltung
von 8 entsprechend einer anderen als Beispiel gewählten Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung veranschaulicht;
-
11 ein
Flussdiagramm, welches ein Testverfahren eines Speichermoduls gemäß einer als
Beispiel gewählten
Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung wiedergibt;
-
12 ein
Blockschaltbild, welches einen Testbetrieb eines Puffer-DIMM gemäß der vorliegenden
Erfindung mit Hilfe einer herkömmlichen
Testausrichtung gemäß einer
als Beispiel gewählten Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung veranschaulicht;
-
13 ein
Blockschaltbild, welches einen Puffer-DIMM gemäß einer beispielhaften Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung wiedergibt;
-
14 eine
schematische Ansicht, die eine Einschreiboperation von Testdaten
gemäß einer
als Beispiel gewählten
Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung veranschaulicht; und
-
15 eine
schematische Ansicht, die eine Vergleichsoperation des Speichermoduls
gemäß einer
als Beispiel gewählten
Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung zeigt.
-
BESCHREIBUNG VON BEISPIELHAFTEN
AUSFÜHRUNGSFORMEN
-
Im
Folgenden werden als Beispiel gewählte Ausführungsformen der vorliegenden
Erfindung in Einzelheiten unter Hinweis auf die beigefügten Zeichnungen
beschrieben.
-
Ein
Testspeichermodul einer beispielhaften Ausführungsform der vorliegenden
Erfindung kann einen Direkttestvorgang ausführen, und zwar unter Verwendung
einer Testausrüstung,
ohne ein Paket an einen Speichermodul anzulegen. Ein Hub des Speichermoduls
kann einen Befehl und/oder Daten generieren, die für den Speicher
erforderlich sind, um in dem Transparentmodus zu arbeiten, und zwar
anstelle einer Verarbeitung eines Pakets des Hubs, um einen Befehl
und Datensignale zu erhalten.
-
3 zeigt
ein Blockschaltbild, welches ein Speichermodul einer als Beispiel
gewählten
Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung veranschaulicht.
-
Gemäß 3 kann
der Hub 222 des Speichermoduls eine Transparentmodus-Übergangsschaltung 230,
eine Datenvergleichsschaltung 240 und eine Signalverarbeitungsschaltung 250 enthalten.
-
Die
Transparentmodus-Übergangsschaltung 230 kann
in einem Modus bzw. Betriebsart oder in einem Transparentmodus oder
-betriebsart entsprechend einem Transparentmodus-Freigabesignal (TPE)
arbeiten. Der normale Modus der als Bei spiel gewählten Ausführungsform kann anzeigen, dass das
Datenpaket in den Speichermodul eingeleitet worden ist und/oder
in ein Speichersteuersignal, ein Adressensignal und/oder ein Datensignal
transformiert worden ist, und zwar durch Verarbeiten eines Datenpaketes
der Signalverarbeitungsschaltung 230. Ferner kann der Transparentmodus
einer beispielhaften Ausführungsform
anzeigen, dass die Testausrüstung
das Speichersteuersignal, das Adressensignal und das Datensignal
anlegen kann, die zum Testen des Speichers erforderlich sind, und
zwar in direkter Form an den Speicher 370.
-
Demzufolge
kann ein Eingabedatenpaketsignal von der Transparentmodus-Übergangsschaltung 230 ausgegeben
werden und kann durch die Signalverarbeitungsschaltung 250 in
dem normalen Modus empfangen werden. In dem Transparentmodus kann
ein Eingangssignal von der Transparentmodus-Übergangsschaltung 230 an
den Speicher 230 ausgegeben werden und/oder an die Datenvergleichsschaltung 240 ausgegeben
werden. Die Signalverarbeitungsschaltung 250 arbeitet nicht
in dem Transparentmodus. In dem Transparentmodus kann ein Speichersteuersignal
CTRL und/oder das Adressensignal ADDR für den Speicher 370 vorgesehen werden
und das Datensignal DATA SIGNAL kann an die Datenvergleichsschaltung 240 geliefert
werden. In dem Transparentmodus kann der Speichermodul eine zu geringe
Zahl an Tabs oder Pins aufweisen, so dass der Betrag an Daten, der
der Datenvergleichsschaltung 240 von der Testausrüstung zugeführt wird,
kleiner sein kann als der Betrag an Daten, die in den Speicher 370 eingeschrieben
werden.
-
Die
Datenvergleichsschaltung 240 kann das Datensignal DATA
SIGNAL empfangen und kann das Datensignal DATA SIGNAL zu dem Speicher 370 in dem
Transparentmodus übertragen.
Ferner kann die Datenvergleichsschaltung 240 Ausgangsdaten
des Speichers 370 empfangen. Die Daten von dem Speicher 370 können dadurch
getestet werden, indem die Ausgangsdaten des Speichers 370 und/oder
die erwarteten Daten, die von der Testausrüstung eingespeist werden, verglichen
werden. Die Datenvergleichsschaltung 240 kann das Eingangssignal
zu dem Speicher 370 übertragen
und/oder kann den Datenvergleich entsprechend einem Datenwählsignal (DSS)
durchführen.
-
Wenn
das Datenwählsignal
DSS anzeigt, dass das eingespeiste Datensignal aus den Eingabedaten
bestehen kann, die dem Speicher 370 zugeführt werden,
kann das Eingabe-Datensignal zu dem Speicher 370 geliefert
werden. Umgekehrt, wenn das Datenwählsignal anzeigt, dass das
eingespeiste Datensignal aus den erwarteten Daten bestehen kann bzw.
besteht, kann das Datensignal mit den Ausgangsdaten des Speichers 370 verglichen
werden.
-
In
dem normalen Betriebsmodus können
die Transparentmodus-Übergangsschaltung 230 und
die Signalverarbeitungsschaltung 250 das Datenpaket empfangen
und können
das Speichersteuersignal CTRL, das Adressensignal ADDR und das Datensignal
zu dem Speicher 370 liefern.
-
4 zeigt
ein Blockschaltbild, welches einen Speichermodul gemäß einer
anderen als Beispiel gewählten
Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung veranschaulicht.
-
In 4 kann
die Datenvergleichsschaltung 330 das Datenpaket von der
Transparentmodus-Übergangsschaltung 310 in
dem normalen Modus empfangen.
-
Während einer
Einschreiboperation in dem normalen Modus transformiert die Signalverarbeitungsschaltung 350 ein
Datenpaket, welches von der Transparentmodus-Übergangsschaltung 310 ausgegeben
wird, in ein Speichersteuersignal CONTROL SIGNAL, ein Adressensignal
ADDRESS SIGNAL und/oder ein Datensignal DATA SIGNAL, um das Speichersteuersignal
CONTROL SIGNAL, das ADDRESS SIGNAL und/oder das Datensignal DATA SIGNAL
zu der Datenvergleichsschaltung 330 und dem Speicher 370 zu übertragen.
-
Während einer
Ausleseoperation in dem normalen Modus wird das Datenpaket, welches
von der Transparentmodus-Übergangsschaltung 310 ausgegeben
wird, in das Speichersteuersignal CONTROL SIGNAL und das Adressensignal
ADDRESS SIGNAL transformiert, um diese zu dem Speicher 370 zu liefern.
Die aus dem Speicher 370 ausgelesenen Daten werden durch
die Datenvergleichsschaltung 330 empfangen und werden in
Paketform gebracht, und zwar mit Hilfe der Signalverarbeitungsschaltung 320, und
werden dann zu der Transparentmodus-Übergangsschaltung 310 übertragen.
-
Die
Datenvergleichsschaltung 330 überträgt die Daten, die von der Signalverarbeitungsschaltung 320 ausgegeben
werden, zu dem Speicher 370, und zwar während der Einschreiboperation
in dem normalen Modus, und überträgt die Daten
aus dem Speicher 370 zu der Signalverarbeitungsschaltung 320 während der
Ausleseoperation im normalen Modus.
-
Während einer
Einschreiboperation in dem Transparentmodus kann die Datenvergleichsschaltung 330 das
Datensignal empfangen, welches von der Testausrüstung ausgegeben wird, und
zwar über die
Transparentmodus-Übergangsschaltung 310. Das
Datensignal kann multipliziert werden und zu dem Speicher 370 übertragen
werden, um in den Speicher 370 eingeschrieben zu werden.
-
Während einer
Ausleseoperation in dem Transparentmodus kann die Datenvergleichsschaltung 330 Daten
empfangen, die aus dem Speicher 370 ausgelesen werden,
und kann die gelesenen Daten mit erwarteten Daten vergleichen, die
von der Testausrüstung
geliefert werden. Die Datenvergleichsschaltung 330 arbeitet
unter der Steuerung des Datenwählsignals
(DSS) und des Transparentmodus-Freigabesignals (TPE). Der Betrag
der Daten, der zu der Datenvergleichsschaltung 330 von
der Testausrüstung
geliefert wird, kann geringer sein als der Betrag der Daten, die
aktuell in den Speicher 370 eingeschrieben wurden.
-
5 zeigt
ein Blockschaltbild, welches eine Transparentmodus-Übergangsschaltung
veranschaulicht, beispielsweise die Transparentmodus-Übergangsschaltung 310 von 4 entsprechend
einer als Beispiel gewählten
Ausführungsform der
vorliegenden Erfindung.
-
Gemäß 5 kann
die Transparentmodus-Übergangsschaltung 310 wenigstens
eine Steuersignal-Übergangsschaltung
aufweisen, wenigstens eine Adressensignal-Übergangsschaltung
und auch wenigstens eine Datensignal-Übergangsschaltung 550,
die auf das Transparentmodus-Freigabesignal (TPE) ansprechen.
-
Eine
erste Steuersignal-Übergangsschaltung 510 kann
das Eingangssignal INPUT SIGNAL empfangen und kann das Eingangssignal
INPUT SIGNAL, welches von der Testausrüstung ausgegeben wird, zu einem
Pin eines Tabs des Speichers 370 und/oder der Signalverarbeitungsschaltung 350 senden.
Wenn das Steuersignal CONTROL SIGNAL von der Testausrüstung eingespeist
wird, kann die erste Steuersignal-Übergangsschaltung 510 in
dem Transparentmodus arbeiten und/oder kann das Steuersignal CONTROL
SIGNAL an den Speicher 370 anlegen. Es kann beispielsweise
die Zahl der Steuersignal-Übergangsschaltungen 510-1, 510-2,
..., 510-N abhängig
von der Zahl der Steuersignale variiert werden.
-
Eine
erste Adressensignal-Übergangsschaltung 530 kann
das Eingangssignal INPUT SIGNAL empfangen und kann das Eingangssignal
INPUT SIGNAL, welches von der Testausrüstung ausgegeben wird, an einen
Tab in den Speicher 370 senden und/oder zu der Signalverarbeitungsschaltung 350. Wenn
das Speichersteuersignal CONTROL SIGNAL von der Testausrüstung eingespeist
wird, kann die erste Adressensignal-Übergangsschaltung 530 in dem
Transparentmodus arbeiten und kann das Adressensignal ADDRESS SIGNAL
an den Speicher 370 anlegen. Beispielsweise kann die Zahl
der Adressensignal-Übergangsschaltungen 530-1, 530-2,
..., 530-N durch die Zahl der Adressensignale gesteuert
werden.
-
Eine
erste Datensignal-Übergangsschaltung 550 kann
das Eingangssignal INPUT SIGNAL empfangen und/oder kann das Eingangssignal
INPUT SIGNAL, welches von der Testausrüstung eingespeist wird, an
den Tab in den Speicher 370 senden und/oder zu der Signalverarbeitungsschaltung 350. Wenn
das Datensignal DATA SIGNAL von der Testausrüstung eingespeist wird, kann
die erste Datensignal-Übergangsschaltung 550 in
dem Transparentmodus arbeiten und kann das Datensignal DATA SIGNAL
an die Datenvergleichsschaltung 330 anliegen. Beispielsweise
kann die Zahl der Datensignal-Übergangsschaltungen 550-1, 550-2,
..., 550-N durch die Zahl von Datensignalen gesteuert werden.
-
6 veranschaulicht
ein Schaltungsdiagramm einer Steuersignal-Übergangsschaltung, beispielsweise
der ersten Steuersignal-Übergangsschaltung 510 von 5,
gemäß einer
als Beispiel gewählten
Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung.
-
Gemäß 6 kann
die Steuersignal-Übergangsschaltung 510 einen
ersten Steuersignalpfad 601, einen zweiten Steuersignalpfad 603 und
einen Differenzverstärker 605 aufweisen.
In dem Transparentmodus kann ein Reihenadressenstrobesignal (/RAS) über einen
PS0-Pin eingespeist werden, der an dem Tab des Speichermoduls angeordnet
ist, und es kann ein Spaltenadressenstrobesignal (/CAS) über einen
/PS0-Pin eingespeist
werden. Das /RAS-Signal und das /CAS-Signal können direkt von der Testausrüstung eingespeist
werden. Ferner können
Transistoren Q1 und Q4 durch das Transparentmodus-Freigabesignal
(TPE) in dem Transparentmodus eingeschaltet werden. Die Steuersignal-Übergangsschaltung 510 kann
den Betrieb des Transparentmodus im Ansprechen auf die Aktivierung
der Transistoren Q1 und Q4 starten.
-
Das
/RAS-Signal kann an den Speicher 370 über den Transistor Q1 angelegt
werden und das /CAS-Signal kann an den Speicher 370 über den Transistor
Q4 angelegt werden. Das /RAS-Signal, welches das Steuersignal des
Speichers 370 sein kann, wird von der Testausrüstung aus
eingespeist und kann an den Speicher 370 über den
Transistor Q1 angelegt werden, welcher den ersten Steuersignalpfad 601 bildet.
Das /CAS-Signal, welches das andere Steuersignal des Speichers 370 sein
kann, wird von der Testausrüstung
aus eingespeist und kann an den Speicher 370 über den
Transistor Q4 angelegt werden, welcher den zweiten Steuersignalpfad 603 bildet.
-
Wenn
das Datenpaket an den PS0-Pin und den /PS0-Pin angelegt wird, kann
die Steuersignal-Übergangsschaltung 510 in
dem normalen Modus arbeiten. Der Differenzverstärker 605 kann seinen
Betrieb im Ansprechen auf das Einschalten der Transistoren Q2 und
Q3 starten und eine Ausgangsgröße des Differenzverstärkers 605 kann
zu der Signalverarbeitungsschaltung 350 geliefert werden.
-
Obwohl
in den Figuren nicht dargestellt, können als Beispiel gewählte Ausführungsformen
der vorliegenden Erfindung eine Adressensignal-Übergangsschaltung oder Adressensignal-Übergangsschaltungen 530 und/oder
eine Datensignal-Übergangsschaltung
oder Datensignal-Übergangsschaltungen 550 enthalten,
welche die gleiche oder ähnliche
Schaltungsanordnung besitzen wie die Schaltungsanordnung der Steuersignal-Übergangsschaltung 510,
die in 6 gezeigt ist. Jedoch kann eine Konfiguration
der Tabs oder Pins, die an die Eingangsanschlüsse der Adressensignal-Übergangsschaltung oder Adressensignal-Übergangsschaltungen 530 und
die Datensignal-Übergangsschaltung oder
die Datensignal-Übergangsschaltungen 550 angeschlossen
sind, verschieden sein von derjenigen des Steuersignal-Übergangsschaltung 510.
Auch kann eine Ausgangsgröße der Datensignal-Übergangsschaltung 550 zu
der Datenvergleichsschaltung 330 in dem Transparentmodus
geliefert werden und kann in dem normalen Modus zu der Signalverarbeitungsschaltung 350 geliefert
werden.
-
7 veranschaulicht
ein Blockschaltbild einer Datenvergleichsschaltung, beispielsweise
in Form der Datenvergleichsschaltung 330 von 4, entsprechend
einer als Beispiel gewählten
Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung.
-
Gemäß 7 kann
die Datenvergleichsschaltung 330 einen Datenselektor 710,
einen Schreibpuffer 730, einen Komparator 790 und
einen Multiplexer/Demultiplexer 750 enthalten.
-
Der
Datenselektor 710 kann das Datensignal DATA SIGNAL zu dem
Schreibpuffer 730 und/oder dem Komparator 790 im
Ansprechen auf ein Datenwählsignal
DSS schicken. Wenn das Datensignal DATA SIGNAL als ein Schreibdatensignal
bezeichnet ist, welches zu dem Speicher 370 im Ansprechen
auf das Datenwählsignal
DSS geliefert wird, kann der Datenselektor 710 das Schreibdatensignal
an den Schreibpuffer 730 ausgeben. Das Schreibdatensignal
kann für
den Schreibpuffer 730 nach einer Zeitverzögerung geliefert
werden, kann an den Multiplexer/Demultiplexer 750 ausgegeben
werden und/oder zu dem Multiplexer/Demultiplexer 750 zu
dem Speicher 370 geliefert werden.
-
Wenn
das Datensignal DATA SIGNAL als erwartetes Datensignal bestimmt
wird, welches mit Daten verglichen wird, die von dem Speicher 370 ausgegeben
werden, und zwar im Ansprechen auf das Datenwählsignal, kann der Datenselektor 710 das
erwartete Datensignal an den Komparator 790 ausgeben, es
kann nämlich
das erwartete Datensignal zu dem Komparator 790 über einen
zweiten Datenvergleichspfad geliefert werden, der aus dem Datenselektor 710 und/oder
dem Komparator 790 besteht.
-
Wenn
das erwartete Datensignal welches dem Datenselektor 710 zugeführt wird,
mit den Ausgangsdaten des Speichers 770 verglichen wird,
können
die Ausgangsdaten des Speichers 370 zu dem Komparator 790 über den
Multiplexer/Demultiplexer 750 geliefert werden. Beispielsweise
können
die Ausgangsdaten des Speichers 370 im Komparator 790 über einen
ersten Datenvergleichspfad zugeführt werden,
bestehend aus dem Multiplexer/Demultiplexer 750 und/oder
dem Komparator 790. Ein Vergleichsergebnis des Komparators 790 kann
an die Testausrüstung
ausgegeben werden.
-
Der
Komparator 790 kann die Testoperation ausführen, bei
der Daten durchgelassen werden oder fehlschlagen, was dadurch bestimmt
werden kann, indem die Ausgangsdaten des Speichers 370,
die an einer Speicheradresse gespeichert sind, mit den erwarteten
Daten verglichen werden.
-
8 ist
ein Blockschaltbild, welches eine Datenvergleichsschaltung veranschaulicht,
beispielsweise in Form der Datenvergleichsschaltung 330 von 4,
gemäß einer
anderen als Beispiel gewählten
Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung.
-
Gemäß 8 kann
die Datenvergleichsschaltung 330 einen normalen Datenpfad 810,
einen Datenselektor 820, einen Schreibpfad 830 und
einen Vergleichspfad 840 enthalten. Das Transparentmodus-Freigabesignal
(TPE) kann so ausgelegt sein, dass es einen Nicht-Aktiv-Zustand
aufweist (beispielsweise einen logischen niedrigen Pegel), und zwar
in dem normalen Modus, und einen aktiven Zustand (beispielsweise
einen logischen hohen Pegel) in dem Transparentmodus.
-
Der
normale Datenpfad 810 kann einen Schalter 811 enthalten,
der durch das TPE-Signal gesteuert wird, einen Schalter 813,
der durch ein Schreibsignal (WR) gesteuert wird, und einen Schalter 815,
der durch ein Lesesignal (RD) gesteuert wird. Während einer Einschreiboperation
des normalen Modus werden die Daten DATA, die von der Signalverarbeitungsschaltung 350 eingespeist
werden, zu dem Speicher 370 über den Schalter 811 und
den Schalter 813 übertragen.
Während
einer Ausleseoperation des normalen Modus werden Daten, die von dem
Speicher 370 ausgegeben werden, zu der Signalverarbeitungsschaltung 350 über den
Schalter 815 und über
den Schalter 811 übertragen.
In dem Transparentmodus kann das TPE-Signal einen logischen hohen
Pegel aufweisen, so dass die Daten nicht über den normalen Datenpfad 810 übertragen werden.
-
In
dem normalen Modus wird ein Schalter 817 im Ansprechen
auf einen Nicht-Aktiv-Status
des TPE-Signals ausgeschaltet, so dass die Daten nicht zu dem Datenselektor 820 übertragen
werden. In dem Transparentmodus wird der Schalter 817 im
Ansprechen auf den Aktivierungsstatus des TPE-Signals eingeschaltet
und es werden die Daten von der Transparentmodus-Übergangsschaltung 310 zu
dem Datenselektor 820 übertragen.
Die Daten werden dann zu dem Schreibpfad 830 oder dem Vergleichspfad 840 übertragen,
und zwar basierend auf dem Datenwählsignal (DSS). Der Datenselektor 820 überträgt nämlich die
Daten zu dem Schreibpfad 830 während einer Einschreiboperation
des Transparentmodus und überträgt die Daten
zu dem Vergleichspfad 840 während einer Ausleseoperation
des Transparentmodus, ansprechend auf das DSS-Signal.
-
Der
Schreibpfad 830 kann einen Puffer 831 und einen
Multiplizierer 833 enthalten. Der Puffer 831 puffert
die Daten, die von dem Datenselektor 820 aus übertragen
werden, um die Daten zu dem Multiplizierer 833 zu überführen. Der
Multiplizierer 833 multipliziert die Daten, um Vielfachdatengruppen
zu generieren, und überträgt die Vielfachdatengruppen
zu den jeweiligen Speichern, beispielsweise zu spezifischen DRAMs,
die den Speicher 370 ausmachen. Die Vielfachdatengruppen
enthalten eine erhöhte
Anzahl bzw. eine erhöhte
Menge an Daten, verglichen mit den Daten, die von dem Datenselektor 820 aus übertragen
werden. In dem Schreibpfad 830 kann ein kleiner Betrag
an Daten, die durch den Tab des Speichermoduls von der Testausrüstung empfangen
werden, multipliziert werden und in den Speicher 370 eingeschrieben
werden. Die Daten können
gleichlaufend in eine Vielzahl an Speicher eingeschrieben werden.
-
Der
Vergleichspfad 840 kann einen Komparator 841 und
einen Multiplexer 843 enthalten. Der Vergleichspfad 840 kann
in einem Auslesebetrieb des Transparentmodus aktiviert werden. Der
Komparator 841 empfängt
die erwarteten Daten von der Transparentmodus-Übergangsschaltung 310 über den
Datenselektor 820, basierend auf dem TPE-Signal und dem
DSS-Signal. Der Multiplexer 843 empfängt eine Anzahl der Daten,
die aus dem Speicher 370 ausgelesen werden, und zwar während der
Ausleseoperation des Transparentmodus, und sendet die gelesenen
Daten zu dem Komparator 481, so dass die Daten mit den
erwarteten Daten verglichen werden können. Der Komparator 841 vergleicht
die erwarteten Daten mit den Daten, die von dem Multiplexer 843 ausgegeben
werden, um das Vergleichsergebnis zu generieren, und liefert das
Vergleichsergebnis an die Testausrüstung.
-
Mit
anderen Worten kann eine kleine Menge der erwarteten Daten von der
Testausrüstung
an den Tab des Speichermoduls ausgegeben werden, um an dem Hub eingespeist
zu werden, und die erwarteten Daten können mit einer großen Menge
der Daten verglichen werden, die aus dem Speicher 370 ausgelesen
werden, was mit Hilfe des Komparators 841 erfolgt, um zu
ermitteln, ob der Speicher 370 einen Defekt aufweist. Somit
wird eine große
Menge der Daten des Speichers nicht direkt an dem Tab des Speichermoduls
eingespeist, wenn der Transparentmodus verwendet wird. Somit kann
ein Problem gelöst werden,
welches durch eine Kürze
der Tabs verursacht wird.
-
9 veranschaulicht
ein Zeitsteuerdiagramm, welches einen Betrieb einer Datenvergleichsschaltung,
beispielsweise der Datenvergleichsschaltung von 7,
veranschaulicht, und zwar entsprechend einer als Beispiel gewählten Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung.
-
Gemäß 9 kann
ein Speichertakt zu dem Speicher 370 über eine Taktzuführleitung
zugeführt werden
und es kann ein Eingangsbefehl, der mit dem Speichertakt synchronisiert
ist, an einen Hub geliefert werden. Der Eingangsbefehl, der an den
Hub geliefert wird und eine Zeitverzögerung aufweist, kann mit dem
Speichertakt synchronisiert werden und zu dem Speicher 370 geliefert
werden. Der Eingangsbefehl, der an den Speicher 370 angelegt
wird, kann um 1 Periode des Speichertaktes verzögert sein.
-
Es
können
Daten zu dem Hub im Ansprechen auf den Speicherbefehl geschickt
werden, der an den Speicher angelegt wird. Es können Daten D0, D1, D2 und D3
für den
Speicher 370 vorgesehen werden, indem ein Schreibbefehl
an den Speicher 370 angelegt wird. Nachdem die Daten D0,
D1, D2 und D3 in Daten D0, D1, D2 und D3 transformiert worden sind,
können
die Daten D0, D1, D2 und D3 dem Speicher 370 über den
Schreibpuffer 730 und/oder den Multiplexer/Demultiplexer 750 zugeführt werden.
Ferner werden Ausgangsdaten Q0, Q1, Q2 und Q3 in Adressen der Daten
D0, D1, D2 und D3 gespeichert und werden von dem Speicher 370 ausgegeben.
Die Daten Q0, Q1, Q2 und Q3 können
zu dem Komparator 790 über
den Multiple xer/Demultiplexer 750 zugeführt werden und die Daten D0,
D1, D2 und D3 können
dem Komparator 790 über
den Datenselektor 710 nach einer 1-Taktverzögerung zugeführt werden.
Der Komparator 790 kann die Daten D0, D1, D2 und D3 jeweils
mit Q0, Q1, Q2 und Q3 vergleichen. Das Vergleichsergebnis COMPARING RESULT
zwischen den Daten D0, D1, D2 und D3 und den Daten Q0, Q1, Q2 und
Q3 können
von dem Komparator 790 an die Testausrüstung ausgegeben werden.
-
10 zeigt
ein Zeitsteuerdiagramm, welches einen Betrieb der Datenvergleichsschaltung veranschaulicht,
beispielsweise der Datenvergleichsschaltung von 8,
entsprechend einer anderen als Beispiel gewählten Ausführungsform der vorliegenden
Erfindung.
-
In 10 ist
angenommen, dass der Speichermodul 370 neun "×8" Speicher enthält und dass die Burstlänge der
Speicher mit "zwei" in dem Transparentmodus
bezeichnet ist. Zusätzlich
wird der Speicherbefehl zwischen der Testausrüstung und dem Hub des Speichermoduls 370 in
dem Transparentmodus übertragen.
-
Gemäß den Figuren,
die oben beschrieben wurden, und gemäß 7 wird ein
Speichertakt an den Speicher 370 über eine Taktzufuhrleitung
des Speichermoduls angelegt.
-
Zuerst
wird ein Aktivbefehl an die Transparentmodus-Übergangsschaltung 310 des
Hubs angelegt. Der Aktivbefehl wird um 1 Taktzyklus verzögert, um
dann direkt an den Speicher 370 angelegt zu werden. Nach
einer Zeitverzögerung
wird der Schreibbefehl von der Testausrüstung an die Transparentmodus-Übergangsschaltung 310 eingespeist.
Der Schreibbefehl wird um 1 Taktzyklus verzögert und wird dann direkt an
den Speicher 370 angelegt. Im Ansprechen auf den Schreibbefehl
werden 16 Bit breite (×16)
Schreibdaten D0~D15 an die Transparentmodus-Übergangsschaltung 310 über 16 Tabs oder
Pins des Speichermoduls 370 angelegt. Die eingespeisten
Schreibdaten werden von dem Datenselektor 820 zu dem Multiplizierer 833 über die
Pufferstufe 831 basierend auf dem Datenwählsignal übertragen.
-
Die ×16-Schreibdaten
D0~D15 können
in X8-Daten (D0D1, D2D3, ... und D14D15) transformiert werden, von
denen jede Dateneinheit eine Burstlänge von 2 besitzt, und zwar
durch den Multiplizierer 833, und es werden die transformierten
Daten neunfach dupliziert, so dass die Schreibdaten erzeugt werden,
die 144 (= 16 × 9)
Bits aufweisen. Die 16-Bit-Daten werden als ursprüngliche
Schreibdaten an die jeweiligen Speicher, beispielsweise an jeweils neun
Speicher, angelegt.
-
Zusätzlich wird
ein Lesebefehl an die Transparentmodus-Übergangsschaltung 310 des
Hubs angelegt. Im Ansprechen auf den Lesebefehl werden erwartete
Daten R0~R15 von der Testausrüstung
an die Transparentmodus-Übergangsschaltung 310 über 16 Tabs
oder Pins des Speichermoduls eingespeist. Die erwarteten Daten R0~R15
werden zu dem Datenselektor 820 der Datenvergleichsschaltung 330 basierend
auf dem TPE-Signal übertragen
und werden zu dem Komparator 841 basierend auf dem DSS-Signal übertragen.
-
Zusätzlich wird
der Lesebefehl um 1 Taktzyklus verzögert, um dann direkt an den
Speicher 370 angelegt zu werden, und, nach einer Zeitverzögerung werden
8-Bit-(X8)-Daten
mit einer Burstlänge von
2 von den jeweiligen Speichern ausgegeben, nämlich insgesamt 144-Bit-Daten
werden dabei aus den Speichern ausgelesen. Die ausgelesenen Daten werden
in den Multiplexer 843 eingespeist und die gelesenen Daten
werden sequenziell durch den Multiplexer 843 ausgewählt und
zu dem Komparator 841 geliefert. Der Komparator 841 vergleicht
die gelesenen Daten mit den erwarteten Daten, um das Vergleichsergebnis
COMPARING RESULT zu generieren. Das Vergleichsergebnis COMPARING
RESULT wird an die Testausrüstung
ausgegeben.
-
11 zeigt
ein Flussdiagramm, welches ein Testverfahren für den Speichermodul gemäß einer
als Beispiel gewählten
Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung veranschaulicht.
-
Gemäß 11 kann
der Hub des Speichermoduls in den Transparentmodus konvertiert werden (S100).
Die Konvertierung in den Transparentmodus kann dadurch erfolgen,
indem ein Transparentmodus-Freigabesignal (TPE) an den Hub angelegt
wird. Wie in 5 und auch in 6 gezeigt
ist, kann eine Transparentmodus-Übergangsschaltung 310, 510 einen
Steuersignalpfad aufweisen, einen Adressenpfad und/oder einen Datensignalpfad
entsprechend dem Transparentmodus-Freigabesignal (TPE).
-
Ferner
kann ein erstes Datensignal entsprechend einer ersten Adresse an
den Hub in dem Transparentmodus angelegt werden (S200). Das Speichersteuersignal,
welches in dem Speicherbefehl enthalten sein kann, kann in den Steuersignalpfad
geliefert werden, das erste Adressensignal kann in den Adressensignalpfad
geliefert werden bzw. an diesen angelegt werden und/oder das erste
Datensignal kann an die Datenwählsignal
des Datensignalpfades angelegt werden. Ferner kann das erste Datensignal,
welches einer Datenwählsignal
zugeführt wird,
zu dem Schreibpuffer durch das Datenwählsignal übertragen werden.
-
Ferner
kann das erste Datensignal, welches an den Hub angelegt wird, zu
der ersten Adresse des Speichers eingespeist werden (S300). Demzufolge kann
das erste Datensignal des Schreibpfades in den Speicher eingegeben
werden. Das erste Datensignal kann eine geringere Menge an Daten
enthalten als eine Menge der Daten, die tatsächlich oder aktuell in den
Speicher eingeschrieben sind. Daher kann das erste Datensignal durch
einen Multiplizierer des Hubs multipliziert werden, beispielsweise
durch den Multiplexer 843, und es kann das multiplizierte
Datensignal in den Speicher eingegeben werden.
-
Ferner
kann das erste erwartete Datensignal dem Hub zugeführt werden
(S400). Das erste erwartete Datensignal kann das Gleiche sein wie
das erste Datensignal und kann direkt von der Testausrüstung ausgegeben
werden. Das erste erwartete Datensignal kann der Datenvergleichsschaltung über den
Datensignalpfad des Hubs in dem Transparentmodus zugeführt werden.
Die Datenvergleichsschaltung kann bestimmen, ob das erste erwartete
Datensignal an den Speicher geliefert worden ist. Demzufolge kann
das erste erwartete Datensignal zu einem zweiten Datenvergleichspfad übertragen
werden.
-
Ferner
können
Daten, die an der ersten Adresse des Speichers gespeichert sind,
an den Hub ausgegeben werden (S500). Eine Ausgabe der Daten, die
in dem Speicher gespeichert sind, kann dadurch erfolgen, indem das
Speichersteuersignal, welches für
die Speicherleseoperation erforderlich ist, an den Speicher angelegt
wird und/oder das erste Adressensignal an den Speicher angelegt
wird. Daten der ersten Adresse, die von dem Speicher ausgegeben
werden, können
in einen zweiten Datenwählpfad
der Datenvergleichsschaltung übertragen
oder gesendet werden.
-
Bis
zu diesem Ausmaß können die
Schritte S100–S600
möglicherweise
in irgendeiner Reihenfolge ausgeführt werden. Speziell bei den
als Beispiel gewählten
Ausführungsformen
kann das Anlegen des ersten erwarten Datensignals an den Hub (S400) und
die Ausgabe der Daten, die an der ersten Adresse des Speichers gespeichert
sind (S500) umgekehrt werden.
-
Die
Datenvergleichsschaltung kann die Daten, die von der ersten Adresse
des Speichers stammen, mit den ersten erwarteten Daten vergleichen (S600).
Ferner kann das Vergleichsergebnis der zwei Datensätze an die
Testausrüstung
ausgegeben werden.
-
12 zeigt
ein Blockschaltbild, welches eine Testoperation eines Puffer-DIMM mit einer herkömmlichen
Testausrüstung
gemäß einer
als Beispiel gewählten
Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung veranschaulicht.
-
Gemäß 12 kann
eine herkömmliche Testausrüstung 900 26
Tabs besitzen (8 Befehle und 16 Adressen) und 90 Tabs (72 DQ und
18 DQS), um ein Beispiel zu nennen, also insgesamt 116 unsymmetrischen
Eingangs- und -Ausgangsanschlüsse und
ebenso eine Gesamtzahl von 116 Tabs oder Pins.
-
Der
Speichermodul 1000 (z. B. Puffer-DIMM) einer als Beispiel
gewählten
Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung, die in 2B veranschaulicht
ist, kann 48 Paare an Anschlüssen
aufweisen, um Differenzeingangssignale zu empfangen, das heißt 96 Differenzeingangs-/-ausgangsanschlüsse (für eine Gesamtzahl
von 98 Eingangs- und Ausgangsanschlüssen).
-
Gemäß den als
Beispiel gewählten
Ausführungsformen
der vorliegenden Erfindung können 16-Bit-Testdaten
von der Testausrüstung 900 zu
dem Puffer-DIMM 1000 über
16 von 72 Datenleitungen transferiert werden. Die Steuersignale
und Adressensignale (C/A) können
dem Puffer-DIMM 1000 in einer Weise zugeführt werden, ähnlich derjenigen
gemäß dem Stand
der Technik.
-
Daher
können
8 Steuersignalleitungen beispielsweise /CS, /RAS, /CAS, /WE, CKE,
ODT usw. und 18 Adressenleitungen für eine Gesamtzahl von 26 C/A-Leitungen
verwendet werden und es können 16
Datenleitungen zum Testen des Speichermoduls 1000 verwendet
werden.
-
Der
Puffer-DIMM 1000 kann an die Testausrüstung 900 beispielsweise über 48,
das heißt
14 Paare, von binären
Northbound-Anschlüssen
und 10 Paaren von sekundären
Southbound-Anschlüssen angeschlossen
werden. 42 Anschlüsse
unter den 48 Anschlüssen,
können
mit 26 C/A-Leitungen und 16 Datenleitungen verbunden werden.
-
13 ist
ein Blockschaltbild, welches einen Puffer-DIMM gemäß einer
als Beispiel gewählten Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung veranschaulicht.
-
Gemäß 13 kann
der Puffer-DIMM eine Differenzeingangsschaltung 1100, eine
unsymmetrischen Eingangsschaltung 1200, eine Signalverarbeitungsschaltung 1300,
eine Testschaltung 1400 und eine Anzahl an Speicherchips 1500 enthalten.
-
Unter
den Anschlüssen
(beispielsweise 48, wie oben angegeben) des Puffer-DIMM 1000 können 14
Paare der primären
Northbound-Anschlüsse
(beispielsweise in der oben erläuterten
Art) und 10 Paare der zweiten Southbound-Anschlüsse (beispielsweise entsprechend
der obigen Erläuterung
für eine
Gesamtzahl von 24 Paaren der Anschlüsse oder 48 Anschlüssen insgesamt,
gemeinsam mit der Differenzeingabeschaltung 110 und der
unsymmetrischen Eingangsschaltung 1200 verbunden werden.
-
Die
Differenzeingangsschaltung 1100 und die unsymmetrischen
Eingangsschaltung 1200 können in Bereitschaft oder außer Bereitschaft
gesetzt, und zwar im Ansprechen auf das Transparentmodus-Freigabesignal
(TPE). Die Differenzeingangsschaltung 1100 kann im Ansprechen
auf einen Nicht-Aktiv-Zustand des TPE-Signals in Bereitschaft gesetzt
werden und kann im Ansprechen auf einen Aktiv-Zustand des TPE-Signals
außer
Bereitschaft gesetzt werden. Die Differenzeingangsschaltung 1100 kann
24 unterschiedliche Signale basierend auf 24 Paaren von Eingangssignalen
generieren, um die 24 Differenzsignale zu der Signalverarbeitungsschaltung 1300 zu
liefern (beispielsweise wie oben erläutert wurde). Die Signalverarbeitungsschaltung 1300 kann
ein Paketsignal des Puffer-DIMM verarbeiten.
-
Die
unsymmetrische Eingangsschaltung 1200 kann im Ansprechen
auf einen Aktiv-Zustand des TPE-Signals in Bereitschaft gesetzt
werden und kann im Ansprechen auf einen Nicht-Aktiv-Zustand des
TPE-Signals außer
Bereitschaft gesetzt werden.
-
Die
Struktur der Differenzeingangsschaltung 1100 und der unsymmetrischen
Eingangsschaltung 1200 kann die gleiche sein wie diejenige
der ersten Steuersignal-Übergangsschaltung 510,
die in 5 gezeigt ist.
-
Die
Testschaltung 1400 kann das Modussteuersignal (TPE) und
das Datenwählsignal
(DSS) empfangen. Die Testschaltung 1400 kann in einem normalen
Betriebsmodus zulassen, dass 72-Bit-Daten von der Signalverarbeitungsschaltung 1300 gelie fert
werden, um zwischen der Testschaltung 1400 und den Speicherchips 1500 über 72 Datenleitungen übertragen
zu werden.
-
In
einem Testmodus kann die Testschaltung 1400 16-Bit-Daten
von der unsymmetrischen Eingangsschaltung 1200 empfangen
und kann die 72-Bit-Daten in die Speicherchips 1500 einschreiben, um
die zugegriffenen 72-Bit-Daten aus den Speicherchips 1500 zu
lesen.
-
14 zeigt
eine schematische Ansicht, welche eine Einschreiboperation der Testschaltung 1400 eines
Puffer-DIMM gemäß einer
beispielhaften Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung veranschaulicht.
-
Gemäß 14 kann
die Testschaltung 1400 16-Bit-Schreibdaten empfangen und
kann die Schreibdaten duplizieren (beispielsweise 9-fach), um zusätzliche
Daten zu generieren (beispielsweise 144-Bit-Daten). 72-Bit-Daten
können
zweimal an die Speicherchips 1500 angelegt werden, so dass
eine Gesamtzahl von 144-Bit-Daten in die Speicherchips 1500 geschrieben
werden.
-
15 zeigt
eine schematische Ansicht, welche eine Vergleichsoperation der Testschaltung 1400 des
Puffer-DIMM gemäß einer
als Beispiel gewählten
Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung wiedergibt.
-
Gemäß 15 können bei
der Ausleseoperation der Testschaltung 1400 alle 16-Bit-Daten, die in
die Speicherchips 1500 eingeschrieben wurden, zugegriffen
werden, und zwar während
einer Burstleseoperation bei einer Burstlänge von zwei. Es können daher
eine Gesamtzahl von 144-Bit-Daten aus den neun Speicherchips 1500 zu
der Testschaltung 1400 geliefert werden.
-
Die
Testschaltung 1400 kann sequenziell die 16-Bit-Erwartungsdaten
mit den 16-Bit-Daten entsprechend den zugegriffenen 144-Bit-Daten
vergleichen. Es kann nämlich
die Vergleichsoperation zwischen den erwarteten Daten und den zugegriffe nen Daten
neunmal durchgeführt
werden. Die zugegriffenen Daten der Speicherchips können basierend
auf einem Vergleichsergebnis zwischen den aus den Speicherchips 1500 und
den erwarteten Daten getestet werden. Das Vergleichsergebnis der
Testschaltung 1400 kann die Testausrüstung 900 ausgegeben werden.
Die Konstruktion der Testschaltung 1400 kann die gleiche
sein wie diejenige der Datenvergleichsschaltung 330, die
in 8 gezeigt ist.
-
Gemäß den oben
erläuterten
beispielhaften Ausführungsformen
der vorliegenden Erfindung kann ein Hub eines Speichermoduls Daten
multiplizieren und kann Daten mit erwarteten Daten vergleichen. Daher
kann während
einer Speichertestoperation der Nachteil hinsichtlich der Zahl der
Tabs eines herkömmlichen
Speichermoduls überwunden
werden.
-
Da
darüber
hinaus vielfältige
Testmuster in den Speicher eingespeist werden können, kann die Speichertestüberspannung
oder -ausmaß erhöht werden.