PCBA睡眠功能检测电路
技术领域
本实用新型涉及PCBA检测技术领域,尤其涉及一种PCBA睡眠功能检测电路。
背景技术
PCBA是英文Printed Circuit Board+Assembly的简称。PCBA是PCB(PrintedCircuit Board,印制电路板)空板,将贴片电子零件,经过SMT(Surface MountTechnology,表面贴装技术)和回流炉,以及将插件元件插入线路板后,经回流炉或手焊工艺或浸锡工艺线路板组件。
目前在一些PCBA中,当其功能执行和检测完成后,其MCU会进入睡眠状态,睡眠状态的持续时间通常不少于30分钟。睡眠状态结束后,MCU自动重新唤醒进入工作状态,执行其它检测功能和控制功能。检测完成后,MCU重新进入睡眠状态,如此循环。
在现有技术中,为检测这个睡眠功能存在,需耗费至少30分钟的时间,严重拖慢了检测效率。
实用新型内容
本实用新型实施例所要解决的技术问题是如何提高PCBA睡眠功能的检测效率。
为了解决上述问题,本实用新型实施例提出一种PCBA睡眠功能检测电路,所述PCBA睡眠功能检测电路包括开关,所述开关包括固定端以及活动端,所述开关的固定端接地,所述开关的活动端与电压源连接,所述开关的活动端用于与PCBA的MCU的信号检测引脚连接,其中,所述开关闭合时,所述开关将所述PCBA的MCU的信号检测引脚接地,以使所述PCBA的MCU进入测试模式;所述PCBA的MCU的信号检测引脚悬空时,所述PCBA的MCU进入工作模式;所述PCBA的MCU在测试模式下的睡眠时间比所述PCBA的MCU在工作模式下的睡眠时间短。
其进一步的技术方案为,所述PCBA睡眠功能检测电路还包括电容,所述电容与所述开关并联连接。
其进一步的技术方案为,所述PCBA睡眠功能检测电路还包括上拉电阻,所述开关的活动端通过所述上拉电阻与电压源连接。
其进一步的技术方案为,所述PCBA睡眠功能检测电路还包括探针,所述开关的活动端与所述探针连接,所述开关的活动端用于通过所述探针与PCBA的MCU的信号检测引脚连接。
其进一步的技术方案为,所述电容的容值为0.01μF。
其进一步的技术方案为,所述上拉电阻的阻值为20KΩ。
其进一步的技术方案为,所述开关为拨动开关。
与现有技术相比,本实用新型实施例所能达到的技术效果包括:
在测试PCBA的MCU的睡眠功能时,将所述开关的活动端与PCBA的MCU的信号检测引脚连接。所述开关闭合时,所述开关将所述PCBA的MCU的信号检测引脚接地,使得所述PCBA的MCU进入模拟测试模式。在模拟测试模式下,所述PCBA的MCU的睡眠时间很短(4s),从而极大地提高了检测效率。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型实施例提出的一种PCBA睡眠功能检测电路的电路图。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,附图中类似的组件标号代表类似的组件。显然,以下将描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
应当理解,当在本说明书和所附权利要求书中使用时,术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在,但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
还应当理解,在此本实用新型实施例说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本实用新型实施例。如在本实用新型实施例说明书和所附权利要求书中所使用的那样,除非上下文清楚地指明其它情况,否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。
参见图1,本实用新型实施例提出一种PCBA睡眠功能检测电路。由图可知,该PCBA睡眠功能检测电路包括开关SW。该PCBA睡眠功能检测电路应用于PCBA检测夹具中。
所述开关SW包括固定端1以及活动端2,所述开关SW的固定端1接地,所述开关SW的活动端2与电压源连接,所述开关SW的活动端2用于与PCBA的MCU的信号检测引脚10连接。
本实用新型中,PCBA的MCU共有两种运行模式。若MCU的信号检测引脚10接地,MCU切换到测试模式。若MCU的信号检测引脚10悬空,MCU切换到工作模式。
PCBA的MCU在测试模式下的睡眠时间比所述PCBA的MCU在工作模式下的睡眠时间短。
例如,在这一实施例中,PCBA的MCU在测试模式下的睡眠时间为4s。PCBA的MCU在工作模式下的睡眠时间30min。
本实用新型中,在测试PCBA的MCU的睡眠功能时,将所述开关SW的活动端2与PCBA的MCU的信号检测引脚10连接。所述开关SW闭合时,所述开关SW将所述PCBA的MCU的信号检测引脚10接地,使得所述PCBA的MCU进入测试模式。在测试模式下,所述PCBA的MCU的睡眠时间很短(4s),从而极大地提高了检测效率。
需要说明的是,PCBA的MCU的睡眠方式为本领域技术人员所熟知,本实用新型不作具体限定。
继续参见图1,在某些实施例,例如本实施例中,所述PCBA睡眠功能检测电路还包括电容C,所述电容C与所述开关SW并联连接。
通过电容C可以滤除电路中的杂波,提高电路的稳定性。
进一步地,所述电容C的容值为0.01μF。
需要说明的是,本领域技术人员可根据电路的实际情况选定电容C的容值,以上电容C的容值仅仅是一个示例。本领域技术人员还可以选择其他容值的电容C,这并不会超出本实用新型的保护范围。
进一步地,所述PCBA睡眠功能检测电路还包括上拉电阻R,所述开关SW的活动端2通过所述上拉电阻R与电压源连接。
进一步地,所述上拉电阻R的阻值为20KΩ。
需要说明的是,本领域技术人员可根据电路的实际情况选定上拉电阻R的阻值,以上上拉电阻R的阻值仅仅是一个示例。本领域技术人员还可以选择其他阻值的上拉电阻R,这并不会超出本实用新型的保护范围。
进一步地,所述PCBA睡眠功能检测电路还包括探针T,所述开关SW的活动端2与所述探针T连接。
所述开关SW的活动端2用于通过所述探针T与PCBA的MCU的信号检测引脚10连接。
通过探针T,可实现与PCBA的MCU的信号检测引脚10的快速连接,提高连接的便捷性。
进一步地,所述开关SW为拨动开关。拨动开关可通过拨动拨杆来实现开关的切换,极大地提高了操作的便捷性。
在上述实施例中,对各个实施例的描述都各有侧重,某个实施例中没有详细描述的部分,可以参见其他实施例的相关描述。
显然,本领域的技术人员可以对本实用新型进行各种改动和变型而不脱离本实用新型的精神和范围。这样,尚且本实用新型的这些修改和变型属于本实用新型权利要求及其等同技术的范围之内,则本实用新型也意图包含这些改动和变型在内。
以上所述,为本实用新型的具体实施方式,但本实用新型的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内,可轻易想到各种等效的修改或替换,这些修改或替换都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此,本实用新型的保护范围应以权利要求的保护范围为准。