CN1277258C - 光学拾取装置 - Google Patents

Abstract

一种光学拾取装置(121)装备有两个光源(123，124)；一个物镜(125)，用于把来自于每个光源(123，124)的光聚焦到光记录介质(122)上；一个光分离光学元件(126)，用于传输或者反射来自于每个光源(123，124)的光；一个准直透镜(127)，用于把来自于每个光源的光转换为一个大致的平行光束；一个向上引导反射镜(128)，用于通过反射改变来自于每个光源的光的光路；被放置在光分离光学元件(126)和各自光源(123，124)之间的反射镜(129，130)，用于分别地传输从光源(123，124)发出的光束的一部分；光电检测器(131，132)，用于分别检测从反射镜(129，130)反射的光束；和一个APC电路(133)，用于根据每个光电检测器(131，132)的检测输出来控制从每个光源(123，124)发出的光的能量。

Description

光学拾取装置

技术领域

本发明涉及一种光学拾取装置，用于在光记录介质上记录信息或者从光记录介质上再现信息。

背景技术

高输出功率半导体激光器被用作光学拾取装置的光源，特别地是被用作能够写信息到一光记录媒介的光源。在此高输出功率半导体激光器中，半导体激光器的激光芯片前后平面的每一个减反射涂层的反射比通过其厚度的改变而改变。所以，从激光芯片的前后平面发出的大量光束彼此是不相同的。这使得不可能通过提供在半导体激光器组件内部的光检测装置来检测从后平面发出的光，并且根据检测结果来控制从前平面发出的光的功率。

因为上述理由，在装有具有高输出功率的半导体激光器的光学拾取装置中，必须通过提供在半导体激光器组件外部和光学拾取装置内部的用于监测半导体激光器的光输出功率的光检测装置来监测从激光芯片前平面发出的光的功率。

在传统的光学拾取装置之中，其中提供了在半导体激光器组件外部和光学拾取装置内部的用于监测从激光芯片的前平面发出的光的功率的光检测装置(前端监测)的光学拾取装置如下所述(例如，参见日本未经审查的专利公开JP-A8-102060(1996))。

图33表示一种传统光学拾取装置1的光输出功率监测的实例，此传统光学拾取装置装有具有不同波长的两个光源。

传统光学拾取装置1装有一个第一光源2和一个第二个光源3，它们发出具有不同波长的光束。从第一光源2发出的光束经过第一准直透镜4被转换为大致的平行光束，通过光束分离器5被反射，通过向上引导反射镜6被反射以致进入物镜7，并且通过物镜7被聚焦在光记录介质8的信息记录表面上。通过光记录介质8反射又穿过物镜7的光束通过向上引导反射镜6被反射，穿过光束分离器5和半反射镜9，并且经过定位透镜10通过光电检测器11被检测。从第二个光源3发出的光束经过第二个准直透镜12被转换为大致的平行光束，通过半反射镜9被反射，穿过光束分离器5，通过向上引导反射镜6被反射以致进入物镜7，并且通过物镜7被聚焦在光记录介质8的信息记录表面上。通过光记录介质8被反射的光束沿着与上述从第一光源发出的光束相同的路径传播，并且通过光电检测器11被检测。

用于监测第一光源2的光输出功率的第一前端监测器13被放置在对于第一光源2的光束分离器5的相对侧，并且检测从第一光源2发出，然后穿过第一个准直透镜4和光束分离器5的光束。第一前端监测器13输出一个检测结果到控制装置15，控制装置15控制从第一光源2发出的光束的功率，此功率与第一前端监测器13的检测输出一致。

另一方面，用于监测第二光源光输出功率的第二前端监测器14被放置在对于第二光源3的半反射镜9的相对侧，并且检测从第二光源3发出，然后穿过第二个准直透镜12和半反射镜9的光束。第二前端监测器14输出一个检测结果到控制装置15。控制装置15控制从第二个光源3发出的光束的功率，此功率与第二前端监测器14的检测输出一致。

在具有上述配置的传统光学拾取装置1中，第一前端监测器13和第二前端监测器14位于与第一光源2和第二光源3相对的光束分离器5和半反射镜9的另一侧，这就产生一个问题，就是装置1需要一个很大的安装能力和一个很大的尺寸。

图34表示另一个传统光学拾取装置20的光输出功率监测的实例。传统光学拾取装置20与上述传统光学拾取装置1相似，因此给予具有在光学拾取装置1中相应元件的光学拾取装置20的元件相同的参考数字。在光学拾取装置20中，全息激光被用在光束分离器5处，并且全息激光器5彼此分离具有不同波长的两个光束。

在另一个传统光学拾取装置20中，提供单一的前端监测13，并且监测第一光源2和第二光源3两者的光输出功率。从第一光源2发出的光束穿过全息激光器5，并且被第一前端监测器13检测。从第二光源3发出的光束被全息激光器5反射，并且被第一前端监测器13检测。第一前端监测器13输出一个检测结果到控制装置15。根据第一前端监测器13的检测输出，控制装置15控制第一光源2和第二光源3的光输出功率。

虽然另一个传统光学拾取装置20在部件数目上比传统光学拾取装置1要小，因此在装置的尺寸上也比传统光学拾取装置1要小，但是前者有一个问题，就是光强度控制的准确度低于后者。通常，在全息激光器5中的透射光数量和反射光数量的比率被设定，以便用于记录或者再现和用于光输出功率监测的光的数量分别变为大约90％和大约10％。用于光输出功率监测的光的数量，也就是说从第一光源2发出并且传输到全息激光器5的光的数量，或者从第二光源3发出并且被全息激光器5反射的光的数量依靠全息激光器5的特征从10％变为20％。实现具有不会引起光通量变化的光分离特征的光束分离器实际上是不可能的，这就导致一个问题，就是以上述方法很难高精度地控制从光源2或者3发出的光的输出功率。

半导体激光器，也就是说提供于一种光学拾取装置的一种光源，输出激光，它用于在光记录介质上记录或者从光记录介质上再现信息。由于周围温度的变化、使用期的变化等，提供于半导体激光器并且发射光的半导体激光器芯片在输出功率上发生变化。通过使用自动功率控制(APC)电路控制半导体激光器的激励电流，半导体激光器芯片的输出功率被保持恒定。在用于保持具有APC电路的半导体激光器芯片输出功率的方法中是后端监测方法和前端监测方法。

在后端监测方法中，从半导体激光器芯片以一个方向(以下简称″后端方向″)发出的少量的光被用于输出功率控制，其中此方向与从半导体激光器芯片发出的光到达光记录介质的方向相反。以后端方向发出的光通过提供于半导体激光器中的能量控制光检测装置被检测，并且根据能量控制光检测装置的检测输出，通过提供用于控制半导体激光器芯片的驱动电流的一个信号，APC电路控制半导体激光器的输出功率为一个恒定值。

然而，以后端方向发出的光的数量小于以一个方向(以下简称″前端方向″)发出的光的数量，其中以此方向发出的光到达光记录介质用于在光记录介质上记录或者从光记录介质上再现信息，并且不能够有效的控制半导体激光器芯片的输出功率。

以后端方向发出的光的数量与以前端方向发出的光的数量的比率没有必要固定。结果，后端监测方法存在一个问题，就是半导体激光器的光输出功率不能够高准确度地被控制。

另一方面，在前端监测方法中，以前端方向发出的光通过监测光电检测器被检测，并且根据光电检测器的检测输出，通过控制半导体激光器的驱动电流，APC电路控制半导体激光器的输出功率为一个恒定值。如上所述，由于以前端方向发出的光的数量大于以后端方向发出的光的数量，因此为了提高输出功率控制的准确度，通常主要使用前端监测方法。

图35是表示另一个传统光学拾取装置31的配置的简化系统图。从半导体激光器32的半导体激光器芯片33发出的光通过准直透镜34被转换为平行光，并且输入到光束分离器35。光束分离器35在棱镜接合面36处具有一个反射薄膜，它传输95％的入射光并且反射5％的入射光。所以，大部分入射光被传输到光记录介质40，并且剩余光被反射到能量控制光检测装置37。

已经通过光束分离器35的光通过四分之一波片38被偏振化，通过向上引导反射镜39被弯曲90°到达光记录介质40，并且通过物镜41被聚焦，因此具有规定尺寸的光点被形成在光记录介质40的信息记录表面上，并且执行信息记录或者再现。通过光记录介质40已经被反射的光穿过物镜41，通过向上引导反射镜39被弯曲90°，通过四分之一波片38被偏振化，并且被输入到光束分离器35。光束分离器35把从光记录介质40反射的光100％地反射到光检测装置42。结果，反射光通过聚焦透镜43被聚焦，通过柱面透镜44被象散，并且通过光检测装置42被检测，因此读取光记录介质40上的信息。

通过光束分离器35已经被反射到能量控制光检测装置37的光通过聚光透镜45被聚光，并且通过能量控制光检测装置37被检测。根据能量控制光检测装置37的检测输出，通过提供用于控制半导体激光器芯片33的驱动电流的一个信号，APC电路46控制半导体激光器32的输出功率为一个恒定值。

为了提供一个半导体激光器，其中半导体激光器芯片的加载和能量消耗被减少而且具有在光记录介质上记录信息所必需的高输出功率，用于半导体激光器中的输出功率控制，必须有效地利用从半导体激光器芯片发出的光。

图36是表示另一个传统光学拾取装置47的配置的简化系统图。光学拾取装置47是一种传统光学拾取装置，为了输出功率控制，它有效地利用从半导体激光器芯片发出的光。由于从半导体激光器芯片33发出的光是发散光，所以存在光48，它向前发送来代替输入到准直透镜34。送出的光48的一部分通过能量控制光检测装置37被检测。根据能量控制光检测装置37的检测输出，通过提供用于控制半导体激光器芯片33的驱动电流的一个信号，APC电路46控制半导体激光器32的输出功率为一个恒定值。

然而，此另一个传统光学拾取装置47具有下面的问题。由于能量控制光检测装置37利用从半导体激光器芯片33发出的光，并且向前发送来代替输入到准直透镜34，通过能量控制光检测装置37被检测的光的数量非常小。也就是说，对于APC电路46，检测光通量太小了以至不能够高准确度地控制半导体激光器芯片33的输出功率；输出功率控制的可靠性很低。

图37是表示使用前端控制方法的传统光学拾取装置51装配的简化侧视图。下面将描述传统光学拾取装置51的操作。从半导体激光器52发出的光通过准直透镜53被转换为平行光，并且输入到光束分离器54。光束分离器54被配置，以致传输例如从半导体激光器52发出并且经过准直透镜53被接收的光的95％，并且反射剩余的光(5％)。也就是说，所接收光的95％通过光束分离器54，然后向前传输到光记录介质61，并且剩余的光(5％)通过光束分离器54被反射到监测光检测装置56。

通过光束分离器54被反射的5％的光通过聚光透镜55被聚光，并且照射到监测光检测装置56。监测光检测装置56输出一个对应于检测光通量的电信号到APC控制电路57。根据从监测光检测装置56提供的电信号，通过提供半导体激光器52的驱动电流，APC电路57控制半导体激光器52的输出光的功率为一个恒定值。

另一方面，已经通过光束分离器54的95％的光以通过四分之一波片56的方式被偏振化，通过向上引导反射镜59被指引到光记录介质61，并且通过物镜60被聚焦到光记录介质61的信息记录表面，以便形成具有规定尺寸的光束点。被聚焦在光记录介质61的信息记录表面的光束通过光记录介质61被反射，再一次穿过物镜60，通过向上引导反射镜59被反射，穿过四分之一波片58，并且输入到光束分离器54。光束分离器54被配置，以致将近100％地反射从光记录介质61反射的光。从光束分离器54被反射的光通过聚焦透镜62被聚焦，通过柱面透镜63被散光，并且被应用于光检测装置64。基于来自光记录介质61的通过光检测装置64被检测的反射光，产生用于操作控制的跟踪误差信号和聚焦误差信号以及信息信号(RF信号)。

为了通过光学拾取装置记录或者再现信息(特别是为了信息记录)，需要高的光输出功率以便获得高准确度和品质。此外，为了减少半导体激光器的加载和能量消耗，必须有效地利用半导体激光器输出光的能量。然而，以前端方向发出用于信息记录或者再现的光的数量的5％用于输出功率控制。因而，传统光学拾取装置51具有一个问题，就是光的利用效率很低。

为了解决上述问题，其中从半导体激光器发出的光直接地被检测(前端监测)的传统光学拾取装置是可以利用的。图38是表示使用前端监测方法的传统光学拾取装置65装配的简化侧视图。传统光学拾取装置65与上述传统光学拾取装置51相似，因此给予具有在光学拾取装置51中相应元件的光学拾取装置65的元件相同的参考数字，并且将要描述。

在另一个传统光学拾取装置65中，从半导体激光器52发出并且离开光轴不穿过准直透镜53的光66，也就是说，不用于信息记录或者再现的光66，通过监测光检测装置56直接地被检测。监测光检测装置56输出一个对应于检测光通量的电信号到APC控制电路57。APC电路57根据从监测光检测装置56提供的电信号来控制半导体激光器52的输出功率为一个恒定值。在光学拾取装置65中，没有任何部份从半导体激光器52发出用于信息记录或者再现的光被分开，并且被用于输出功率控制，因此从半导体激光器52发出的光的使用效率就会很高。

然而，在传统光学拾取装置65中，由于监测光检测装置56直接地检测从准直透镜53的外周边的外面分离出的仅有一细小部分的光，所以检测光通量很小，并且能被用于控制半导体激光器52输出功率的电信号非常的微弱。所以，不能够以足够准确度或者稳定性通过APC电路57执行在半导体激光器52中的输出功率控制，同时引起一个问题就是输出功率控制的可靠性很低。

发明内容

本发明的一个目的是提供一种光学拾取装置，其中光源的光输出功率能够高准确度地被控制，而不增加装置的尺寸。

本发明的另一个目的是提供一种光学拾取装置，其中从半导体激光器芯片发出的光的使用效率很高，并且半导体激光器芯片的光输出功率能够高准确度地被控制。

本发明的另一个目的是提供一种光学拾取装置，其中从光源发出的光的使用效率很高，并且从光源发出的光能量的控制的可靠性得到提高。

本发明提供一种在光记录介质上记录或者从光记录介质再现信息的光学拾取装置，包括一个用于发射光的光源；与光记录介质相对的物镜，用于把发生于光源的光聚焦在光记录介质的信息记录表面上；放置在光源和物镜之间的光分离光学元件，用于传输或者反射发生于光源的光；放置在光分离光学元件和物镜之间的准直透镜，用于把发生于光源的光转换为大致的平行光；光反射装置，用于反射从光源发出的光的一部分；光输出功率检测装置，用于检测从光反射装置被反射的光；和光强度控制装置，用于根据光输出功率检测装置的检测输出控制从光源发出的光的能量。

根据本发明，提供用于反射从光源发出光的一部分的光反射装置。从光反射装置被反射的光通过光输出功率检测装置被检测，并且根据最后的检测输出控制光源的光输出功率。此配置使得高准确度地控制光源的光输出功率，而不改变用于在光记录介质上记录或者再现光记录介质上信息的光学系统成为可能。

在本发明中，更好的是光反射装置被放置在光源和光分离光学元件之间。

根据本发明，光反射装置被放置在光源和光分离光学元件之间。此配置使得设备容量小于在光反射装置被放置在对于光源的光分离光学元件的相对侧的情况下的设备容量成为可能，从而使装置小型化。由于光输出功率能够通过光反射装置对没有通过或者被光分离光学元件反射的光的反射而被监测，所以能够高准确度地控制光源的光输出功率。

在本发明中，更好的是光反射装置被放置在与扩散角中较大一个有关的轴上，这些扩散角与形成在一个平面上的两个各自正交轴有关，此平面垂直于从光源发出的光的光轴。

根据本发明，把光反射装置放置在轴上使得反射大量光成为可能，并且使用光用于监测，其中此轴与从光源发出的光的扩散角中的较大的一个有关。所以，光源的光输出功率能够被高准确度地控制。

在本发明中，更好的是光学拾取装置进一步包括被放置在准直透镜和物镜之间的光路变化反射镜，用于反射来自于光源的光，以便改变它们的光路，并且光反射装置被如此放置以致垂直于反射装置的反射面的平面不与光的光轴平行，此光从光路变化反射镜反射到光记录介质。

在本发明中，更好的是提供发出具有不同波长光束的两个光源，并且提供两个光反射装置以致与两个各自的光源相联系。

根据本发明，以此方式放置光反射装置以致垂直于反射装置的反射面的平面不平行于从光路变化反射镜反射到光记录介质的光的光轴，这使得有效地使用从光源发出的用于输出功率控制的光而不增加光学拾取装置的厚度成为可能。同样在通常所说的双波长光学拾取装置中，提供有发射具有不同波长光束的两个光源，以上述方法，通过放置与两个各自光源相关的两个光反射装置的每一个，能够获得相同的优点。

此外，在本发明中，更好的是光反射装置被附着到光分离光学元件上。

根据本发明，光反射装置被附着到光分离光学元件上。对于此配置，不需要一个大容量安装空间，因此装置能够被最小化。

在本发明中，更好的是光反射装置被附着到准直透镜上。

在本发明中，更好的是光学拾取装置进一步包括一个保持构件，用于保持准直透镜，光反射装置被附着到保持构件上。

根据本发明，其中光反射装置被附着到准直透镜上或者用于保持准直透镜的保持构件上，不需要一个大容量安装空间，因此装置能够被最小化。

在本发明中，更好的是光学拾取装置进一步包括一个被放置在准直透镜和物镜之间的光路变化反射镜，用于反射来自于光源的光，以便改变它的光路，和光反射装置被附着到光路变化反射镜上。

根据本发明，光反射装置被附着到光路变化反射镜上。对于此配置，不需要一个大容量安装空间，因此装置能够被最小化。

本发明提供一种在光记录介质上记录或者从光记录介质再现信息的光学拾取装置，包括一个用于发射光的光源；与光记录介质相对的物镜，用于把发生于光源的光聚焦在光记录介质的信息记录表面上；放置在光源和物镜之间的光分离光学元件，用于传输或者反射发生于光源的光；放置在光分离光学元件和物镜之间的准直透镜，用于把发生于光源的光转换为大致的平行光；一个光路变化反射镜，被放置在准直透镜和物镜之间，用于反射来自于光源的光，以便改变它的光路；光输出功率检测装置，用于检测从光源发出的光的一部分，穿过准直透镜，并且通过光路变化反射镜前进来代替照射在上面；和光强度控制装置，用于根据光输出功率检测装置的检测输出控制从光源发出的光的能量。

根据本发明，由于通过光路变化反射镜前进来代替照射在上面的光的一部分通过光输出功率检测装置被检测，所以光输出功率能够不必使用光反射装置而被监测。所以，不但装置能够被小型化，而且因为部件数目的减小所以能够增加装置的装配效率。

本发明提供一种通过使用光在光记录介质上记录或者从光记录介质再现信息的光学拾取装置，包括用于发射光的光源；光检测装置，用于检测从光源发出的光的一部分；光聚集装置，用于把从光源发出的不用于信息记录或者再现的光的一部分指引到光检测装置；和控制装置，用于根据光检测装置的输出控制从光源发出的光的能量。

根据本发明，基于通过光检测装置被检测的光通量，产生一个信号，并且根据所产生的信号，控制装置控制从光源发出的光的能量。光检测装置能够检测两种光，即从光源发出而不用于信息记录或者再现的直接入射光和经过光聚集装置照射在光检测装置上的光。所以，能够被用于光强度控制的所接收的光通量被增加，因此光强度控制的准确度能够被提高。

此外，由于从光源发出而不用于信息记录或者再现的光被用于光强度控制，所以从光源发出的并且被用于信息记录或者再现的光的数量不会被减少，因此光的使用效率能够被提高。

在本发明中，更好的是光聚集装置是一个反光镜，用于把从光源发出的光的一部分反射到光检测装置。

根据本发明，反光镜把从光源发出的光反射到光检测装置，并且以不同于朝着光检测装置方向的方向离开光轴。由于被用于在光源上的输出功率控制的光通量通过使用光检测装置接收来自反光镜反射的光而被增加，所以光源的输出功率能够高准确度地被控制。

在本发明中，更好的是反光镜是一个凹面反光镜。

根据本发明，凹面反光镜把从光源发出的光反射到光检测装置，并且以不同于朝着光检测装置方向的方向离开光轴，同时聚焦。由于通过凹面反光镜被反射和聚焦的光通过光检测装置被接收，所以由于发散所引起的光通量的减少就很小，因此被用于在光源上输出功率控制的光通量增加，于是光源的输出功率能够高准确度地被控制。

在本发明中，更好的是光聚集装置包括一个聚焦透镜，用于聚焦从光源发出的光，和一个反光镜用于把通过聚焦透镜所产生的会聚光反射到光检测装置。

根据本发明，聚焦透镜把从光源发出的光聚焦，并且以不同于朝着光检测装置方向的方向离开光轴，并且反光镜把所产生的会聚光反射到光检测装置。由于通过凹面反会聚光镜被反射和聚焦的会聚光通过会聚光检测装置被接收，所以由于发散所引起的会聚光通量的减少就很小，因此被用于在会聚光源上输出功率控制的会聚光通量增加，于是会聚光源的输出功率能够高准确度地被控制。

在本发明中，更好的是光聚集装置包括第一和第二反光镜，用于把从光源发出的光的各自部分反射到光检测装置。

根据本发明，第一和第二反光镜把从光源发出的各自光束反射到光检测装置，并且以不同于朝着光检测装置方向的方向离开光轴。由于从第一和第二反光镜反射的光束通过光检测装置被接收，从而被用于在光源上的输出功率控制的光通量被增加，所以光源的输出功率高准确度地被控制。

在本发明中，更好的是第一和第二反光镜的每一个都是凹面反光镜。

根据本发明，第一和第二凹面反光镜把从光源发出的各自光束反射到光检测装置，并且以不同于朝着光检测装置方向的方向离开光轴，同时聚焦光束。由于通过第一和第二凹面反光束镜被反射和聚焦的光束通过光束检测装置被接收，所以由于发散所引起的光束通量的减少就很小，因此被用于在光束源上输出功率控制的光束通量增加，于是光束源的输出功率能够高准确度地被控制。

在本发明中，更好的是光聚集装置包括第一聚焦透镜，用于把从光源发出的光的一部分聚焦，反光镜，用于把通过第一聚焦透镜所产生的会聚光聚焦到光检测装置，和第二个聚焦透镜，用于把从光源发出的光的另一部分光聚焦在光检测装置上。

根据本发明，第一聚焦透镜把从光源发出的光聚焦，并且以不同于朝着光检测装置方向的方向离开光轴，并且反光镜把所产生的会聚光反射到光检测装置。第二个聚焦透镜把从光源发出的另一光束聚焦并且离开光轴到光检测装置。由于通过反光镜被反射会聚光和通过第二聚焦透镜被聚焦的光通过光检测装置被接收，所以由于发散所引起的光通量的减少就很小，并且被用于在光源上输出功率控制的光通量增加，因此光源的输出功率能够高准确度地被控制。

在本发明中，更好的是光聚集装置包括第一和第二聚焦透镜，用于把从光源发出的光的各自部分聚焦到光检测装置，第一反光镜，用于把通过第一聚焦透镜所产生的会聚光反射到光检测装置，第二反光镜，用于把通过第二聚焦透镜所产生的会聚光反射到光检测装置。

根据本发明，第一和第二聚焦透镜把从光源发出的光束聚焦并且以不同于朝着光检测装置方向的方向离开光轴，以及第一和第二反光镜分别地把通过第一和第二聚焦透镜所产生的会聚光束反射到光检测装置。由于通过第一和第二反光镜被反射的会聚光束和通过第二聚焦透镜被聚焦的光通过光检测装置被接收，所以由于发散所引起的光通量的减少就很小，并且被用于在光源上输出功率控制的光通量增加，因此光源的输出功率能够高准确度地被控制。

本发明提供一种通过使用光在光记录介质上记录或者从光记录介质再现信息的光学拾取装置，包括用于发射光的光源；光检测装置，用于检测从光源发出的光的一部分；光分离装置，用于分离从光源发出的被用于信息记录或者再现的光的一部分，并且用于把光的一部分指引到光检测装置；和控制装置，用于根据光检测装置的输出控制从光源发出的光的能量。

根据本发明，基于通过光检测装置被检测的光通量，产生一个信号，并且根据所产生的信号，控制装置控制从光源发出的光的能量。光检测装置能检测从光源发出的不被用来信息记录或者再现的直接入射光，和被用于信息记录或者再现的部分光。所以，能够被用于光强度控制的所接收的光通量被增加，因此光强度控制的准确度能够被提高。此外，由于从光源发出的不被用来信息记录或者再现的光被用于输出功率控制，所以光的使用效率能够被增加。

在本发明中，更好的是光分离装置包括一个具有光分离面的光束分离器，其中光分离面的特定部分和其它部分具有不同的反射比。

根据本发明，光束分离器把从光源发出的光的一部分反射到光检测装置，并且被用于信息记录或者再现。由于从光束分离器反射的光通过光检测装置被接收，并且被用于在光源上的输出功率控制的光通量被增加，所以光源的输出功率高准确度地被控制。

在本发明中，更好的是其中特定部分与其它部分具有不同反射比的光束分离器的分离面通过涂上具有不同反射率值的涂层材料而形成。

根据本发明，光分离面是通过涂上具有不同反射率值的涂层材料而形成的，并且特定部分与其它部分具有不同的反射比。这使得很容易地提供其中特定部分与其它部分具有不同的反射比的光分离面成为可能。所以，被用于控制光源的输出功率的光能够以预期的比率从光源发出的光中被提取。

在本发明中，更好的是光分离装置进一步包括聚焦透镜，用于聚焦从光束分离器被反射的光。

根据本发明，由于光分离装置包括聚焦透镜，所以已经被反射并且通过光束分离器被分离的光被输入到光检测装置，同时被聚焦。所以，通过光束分离器被反射的光被输入到光检测装置而由于发散不减少光通量，因此被用于在光源上的输出功率控制的光通量能够进一步的被增加，所以光源的输出功率能够高准确度地被控制。

在本发明中，更好的是光检测装置包括光检测元件，用于检测光，把所检测的光转换为电流或电压信号，并且输出此信号，和信号放大装置，用于放大从光检测元件输出的信号，其中光检测元件和信号放大装置被集成为一个单一部分。

根据本发明，光检测装置和信号放大装置有助于光学拾取装置的小型化，其中光检测装置是通过集成光检测元件例如光电二极管而形成的单一部分。

根据本发明，光检测装置能够检测从光源发出的不被用于信息记录或者再现的直接入射光，和以不同于朝着光检测装置方向的方向离开光轴的光或者被用于信息记录或者再现的部分光。所以，能够被用于光强度控制的所接收的光通量被增加，因此光强度控制的准确度能够被提高。此外，由于光强度控制能够执行而不减少从光源发出的并且被用于信息记录或者再现的光的数量，所以光的使用效率能够被提高。

本发明提供一种通过使用光在光记录介质上记录或者从光记录介质再现信息的光学拾取装置，包括用于发射光的光源；光反射装置，用于反射从光源发出的不被用于信息记录或者再现的光的一部分；监测光检测装置，用于检测从光反射装置被反射的光；控制装置，用于根据监测光检测装置的检测输出控制从光源发出的光的能量；聚焦装置，用于把来自光源的光聚焦到光记录介质的信息记录表面，并且用于信息记录或者再现；和光检测装置，用于检测从光记录介质被反射的光。

根据本发明，光反射装置反射从光源发出的不用于信息记录或者再现的光的一部分，监测光检测装置检测被反射的光，并且控制装置根据监测光检测装置的检测输出控制从光源发出的光的能量。由于从光源发出的不被用于信息记录或者再现的光被用于输出功率控制，所以从光源发出的光能够高效率地被利用。光反射装置增加不用于信息记录或者再现的反射光的数量，因此监测光检测装置所接收的光通量被增加。因而，由于通过控制装置的光强度控制的强度被增加，所以光强度控制的准确性和稳定性能够被增加。

在本发明中，更好的是光反射装置包括多个光反射部分，并且每一个光反射部分根据从光源发出的光的光轴对称地被放置，和监测光检测装置，在与光反射部分等距的位置处被放置。

根据本发明，由于光反射装置包括多个光反射部分，所以从光源发出的不被用于信息记录或者再现的反射光的数量能够被增加。由于多个光反射部根据从光源发出的光的光轴对称地被放置，并且监测光检测装置在与光反射部分等距离的位置处被放置，所以监测光检测装置能够以一个均衡的方式接收来自各自光反射部分的反射光束。这就抑制了由于从光源发出的光束的扭曲强度分布而引起的在接收光通量上变化因此光强度控制的准确性能够得到改善。此外，上述布置实现了对于光反射装置和监测光检测装置设置的最有效率的空间应用(他们争夺空间)。

在本发明中，更好的是光反射装置是一个在纵向伸展的平行六面体形状，并且其中光反射层形成在纵向上的一个端面上。

根据本发明，光反射装置具有一个在纵向伸展的平行六面体形状，并且其中光反射层形成在纵向上的一个端面上。此结构有利于光反射装置的放置，并且防止操作工错误地认为另外一个面是在其上形成光反射层的面。在装置中光反射装置的错误装配能够被防止。

在本发明中，更好的是光反射装置是一个在纵向伸展的平行六面体形状，并且其中光反射层被形成在纵向上的两个彼此相对的各自端面上。

根据本发明，在光反射装置中，光反射层被形成在纵向上的两个彼此相对的各自端面上。此结构允许两个端面的任何一个被用作光反射面。所以，通过仅仅准备一种光反射装置，多个光反射装置能够被放置在根据光轴对称的位置处，并且允许监测光检测装置接收反射光束。部件的数量能够被减少，这有助于制造成本的减少。

在本发明中，更好的是光学拾取装置进一步包括光分支装置，用于传达和反射从光源发出的并且用于信息记录或者再现的光，并且与纵向平行的光反射装置的一个侧面被直接附着在与光源相对的光分支装置的一个面上。

根据本发明，与纵向平行的光反射装置的一个侧面直接被附着在与光源相对的光分支装置的一个面上。在装置的装配期间，此配置简单化光反射装置的位置调整，这有助于增加生产效率。

在本发明中，更好的是光反射装置是一个凹面镜。

根据本发明，光反射装置是一个凹面镜。具有聚焦功能的凹面镜反射聚焦从光源发出的不被用于信息记录或者再现的光，从而通过监测光检测装置使光被接收。这就允许监测光检测装置的光接收和检测部分更有效地接收反射光，这就增加了光强度控制的准确性和稳定性。

在本发明中，更好的是光反射装置包括与所装载的光记录介质的旋转轴垂直或者平行布置的两个光反射部分，以致面对着聚焦装置，并且被放置在根据从光源发出的光的光轴对称的位置处。

根据本发明，两个光反射部分可以与光记录介质的旋转轴垂直或者平行放置。这就提供某一边缘，用于光反射装置的设置(安装)，因此有利于其他光学部分的安装位置的设置(它们争夺空间)。

在本发明中，更好的是光源和光检测装置被集成为一个单一部分。

根据本发明，光源和光检测装置被集成为一个单一部分。这就减少了使用在装配装置中的部件的数量，因此增加了装配工作的效率。

在本发明中，更好的是包括多个光源。

根据本发明，装置装备有例如能够发射具有不同波长光束的多个光源。提供一种光学拾取装置，能够适应两种光记录介质例如具有不同波长的压缩光盘(CD)和数字万用盘(DVD)，用于信息记录和再现。

在本发明中，更好的是监测光检测装置包括一个光电二极管，用于把所检测的光转换为一个电流或电压信号。

在本发明中，更好的是监测光检测装置包括一个光电二极管，用于把所检测的光转换为电流或电压信号，和信号放大装置，用于放大通过光电二极管被转换的电流或电压信号，其中光电二极管和信号放大装置被集成为一个单一部分。

根据本发明，监测光检测装置包括一个光电二极管(PD)，用于把光转换为一个电流或电压信号。有选择的，监测光检测装置可以包含一个光电二极管集成电路(PDIC)，其中，PD用于把光转换为一个电流或电压信号，例如一个具有信号放大装置的集成电路(IC)，用于放大通过光电二极管所产生的电流或电压信号，它们彼此被集成在一起。对于此配置，通过PD例如监测光检测装置被接收的用于光强度控制的反射光被有效地转换为一个电信号。此外，作为例如监测光检测装置的PDIC，其是一个整体部件，的使用使得在装配装置中所使用的部件的数目减少成为可能，因此提高了装配工作的效率。

附图说明

通过下面参考附图的详细描述，本发明的目的、特征和优点将会更加明显，其中：

图1是表示根据本发明第一个具体实施方式的一种光学拾取装置配置的简化系统图；

图2表示相对于从光源发出的光，光反射装置怎么放置；

图3是表示根据本发明第二个具体实施方式的一种光学拾取装置配置的简化系统图；

图4是表示根据本发明第三个具体实施方式的一种光学拾取装置配置的简化系统图；

图5是表示根据本发明第四具体实施方式的一种光学拾取装置配置的简化系统图；

图6是表示根据本发明第五具体实施方式的一种光学拾取装置配置的简化系统图；

图7是表示根据本发明第六具体实施方式的一种光学拾取装置配置的简化系统图；

图8是表示根据本发明第七具体实施方式的一种光学拾取装置配置的简化系统图；

图9是表示根据本发明第六具体实施方式的一种光学拾取装置配置的简化系统图；

图10是表示根据本发明第九具体实施方式或者一种光学拾取装置配置或者简化系统图；

图11是表示根据本发明第十个具体实施方式的一种光学拾取装置配置的简化透视图；

图12是表示根据本发明第十一个具体实施方式的一种光学拾取装置的一个重要部分配置的简化系统图；

图13是表示根据本发明第十二个具体实施方式的一个光学拾取装置的一个重要部分配置的简化系统图；

图14是表示根据本发明第十三个具体实施方式的一个光学拾取装置的一个重要部分配置的简化系统图；

图15是表示根据本发明第十四个具体实施方式的一个光学拾取装置的一个重要部分配置的简化系统图；

图16是表示根据本发明第十五个具体实施方式的一个光学拾取装置的一个重要部分配置的简化系统图；

图17是表示根据本发明第十六个具体实施方式的一个光学拾取装置的一个重要部分配置的简化系统图；

图18是表示根据本发明第十七个具体实施方式的一个光学拾取装置的一个重要部分配置的简化系统图；

图19是表示根据本发明第十八个具体实施方式的一种光学拾取装置的一个重要部分配置的简化系统图；

图20是表示根据本发明第十九个具体实施方式的一个光学拾取装置的一个重要部分配置的简化系统图；

图21是表示根据本发明第二十个具体实施方式的一种光学拾取装置布置的简化侧视图；

图22和23是分别表示图21的光学拾取装置一个重要部分布置的一个侧视图和一个平面图；

图24是表示光反射部分结构的透视图；

图25A和25B是分别表示光反射部分结构的平面图和侧视图；

图26A和26B是表示其光反射层形成在两个各自端面上的光反射部分结构的平面图；

图27是表示根据本发明第二十一个具体实施方式的一种光学拾取装置重要部分布置的简化侧视图；

图28是表示根据本发明第二十二个具体实施方式的一种光学拾取装置重要部分布置的简化侧视图；

图29是表示图28的光学拾取装置重要部分布置的平面图；

图30是表示在图28的光学拾取装置中所提供的光束分离器、准直透镜和光反射部分布置的前视图；

图31是表示根据本发明第二十三个具体实施方式的一种光学拾取装置重要部分布置的简化侧视图；

图32是表示根据本发明第二十四个具体实施方式的一种光学拾取装置重要部分布置的简化侧视图；

图33是表示一种传统光学拾取装置的光输出功率监测的实例，此传统光学拾取装置装有具有不同波长的两个光源。

图34表示另一个传统光学拾取装置的光输出功率监测的实例。

图35是表示另一传统光学拾取装置配置的简化系统图；

图36是表示另一个传统光学拾取装置的配置的简化系统图。

图37是表示使用前端监测方法的一种传统光学拾取装置布置的简化侧视图；和

图38是表示使用前端监测方法的另一种传统光学拾取装置装配的简化侧视图。

具体实施方式

现在参考附图，在下面将描述本发明最佳实施方案。

图1是表示根据本发明第一个具体实施方式的一种光学拾取装置配置121的简化系统图。光学拾取装置121在光记录介质122上记录或者从光记录介质122上再现信息。光学拾取装置121装备有作为光源的第一光源123和第二个光源124；一物镜125；一个光分离光学元件126；一个准直透镜127；一个光路变化反射镜128；作为光反射装置的第一光反射装置129和第二光反射装置130；作为光强度检测装置的第一光输出功率检测装置131和第二光输出功率检测装置132；和作为光输出功率控制装置的一个光输出功率控制装置133。

第一光源123和第二光源124发出具有不同波长的光束。与光记录介质122相对的物镜125，用于把来自第一光源123或者第二光源124的光聚焦到光记录介质122的信息记录表面。被放置在物镜125与第一和第二光光源123和124之间的光分离光学元件126传输或者反射来自第一光源123或者第二光源124的光。被放置在光分离光学元件126和物镜125之间的准直透镜127，用于把来自于第一光源123或者第二光源124的光转换为大致的平行光。光路变化反射镜128被放置在准直透镜127和物镜125之间，并且反射来自于第一光源123或者第二光源124的光，以便改变它们的光路。

第一光反射装置129反射从第一光源123发出的部分光束。第二光反射装置130反射从第二光源124发出的部分光束。第一光输出功率检测装置131检测从第一光反射装置129反射的光。第二光输出功率检测装置132检测从第二光反射装置130反射的光。光输出功率控制装置133根据第一光输出功率检测装置131或者第二光输出功率检测装置132的检测输出控制从第一光源123或者第二光源124发出的光的能量。

例如，第一光源123是一个发出具有波长为780nm的红外线激光的半导体激光器，并且用于在一个压缩光盘(CD)上记录和从一个压缩光盘(CD)再现信息。例如，第二光源124是一个发出具有波长为650nm的红光激光的半导体激光器，并且用于在一个数字万用盘(DVD)上记录和从一个数字万用盘(DVD)再现信息。光分离光学元件126是一个光束分离器例如Clan-Thompson棱镜。光分离光学元件126反射来自于第一光源123的入射光，并且传输来自于第二光源124的入射光，从而使光进入准直透镜127。被称为″向上引导反射镜″的光路变化反射镜128把通过准直透镜127的光的光路经过反射弯曲90°，因此使反射光进入与光记录介质122相对的物镜125。

从第一光源123发出的光通过光分离光学元件126被反射，通过准直透镜127被转换为大致的平行光，并且通过光路变化反射镜129被反射，因此光的光路被弯曲90°。反射光进入物镜125，并且通过物镜125被聚焦在光记录介质122的信息记录表面上。从第二光源124发出的光穿过光分离光学元件126，并且进入准直透镜127。其后从准直透镜127输出的光以来自于第一光源123的光的相同的方法被聚焦在光记录介质122的信息记录表面上。如此，光学拾取装置121能够在光记录介质122上记录信息。

为了从光记录介质122再现信息，通过光记录介质122已经被反射的光沿着与在信息记录中的相反的方向相同的光路前进，并且通过没有表示出以及分别接近于第一光源123和第二光源124的光电检测器被检测。检测信号包括作为信息再现信号的RF信号，被用于光束点聚焦控制的聚焦误差信号，和被用于光束点跟踪控制的跟踪误差信号。

在上述每一个信息记录和再现中，从光源123或124发出的光的能量的稳定对于信号处理准确性的提高是必需的。通过监测从第一光源123或者第二光源124发出的光并且反馈监测结果，实现用于稳定光输出功率的控制。在光学拾取装置121中所提供的第一和第二光反射部分129和130、第一和第二光输出功率检测部分131和132、光强度控制部分133都是用于稳定从第一光源123或者第二光源124发出的光的能量的装置。

第一光反射部分129和第二光反射部分130是反射镜。第一光反射部分129和第二光反射部分130的每一个被放置在第一光源123或者第二光源124和光分离光学元件126之间，并且反射从第一光源123或者第二光源124发出的部分光，并且使它进入第一光输出功率检测部分131或者第二光输出功率检测部分132。图2表示光反射装置(特别是第一光反射部分129)相对于从光源(特别是第一光源123)发出的光如何放置。

从第一光源123发出的光具有与两个各自正交轴136和137相关联的扩散角，此两个各自正交轴136和137形成在垂直于从第一光源123发出的光的光轴134的虚平面135上。第一光反射部分129被放置在与两个扩散角中较大一个扩散角θ1相关联的轴137上。第二光反射部分130以第一光反射部分129相同的方法被放置。由于第一光反射部分129和第二光反射部分130以上述方法被放置，所以第一光反射部分129或者第二光反射部分130能够反射从第一光源123或者第二光源124发出的部分大量光，并且允许这些光被用于监测。所以，第一光源123和第二光源124的每一个的光输出功率能够高准确度地被控制。

作为光接收单元例如光电二极管的第一光输出功率检测部分131和第二光输出功率检测部分132检测通过第一光反射部分129或者第二光反射部分130被反射的光，并且提供一个检测输出到光强度控制部分133。作为控制电路的光强度控制部分133，根据第一光输出功率检测部分131或者第二光输出功率检测部分132的检测输出来控制从第一光源123或者第二光源124发出的光的能量。

上述配置的光学拾取装置121能够高准确度地控制光源123或者124的光输出功率而不改变用于在光记录介质122上记录和/或再现信息的光学系统。由于第一光反射部分129或者第二光反射部分130分别提供在光分离光学元件126以及第一和第二光源123和124之间，所以安装容量能够变得更小，并且装置还可以比在它们被放置在相对于光源123和124的光分离光学元件的相对侧的情况下还要小。此外，由于光输出功率能够通过第一光反射部分129或者第二光反射部分130反射的没有穿过或者没有通过光分离光学元件126被反射的光而被监测，所以123或者124的光输出功率能够高准确度地被控制。虽然上述具体实施方式被用于具有两个光源的光学拾取装置121，但是本发明还可以被用于具有单一光源、单一光反射装置、和单一光输出功率检测装置的光学拾取装置。

图3是表示根据本发明第二个具体实施方式的一种光学拾取装置140配置的简化系统图；根据此具体实施方式的光学拾取装置140相似于根据第一个具体实施方式的光学拾取装置121。与后者具有相应构件的前者的构件被给予与后者相同的参考数字，并且不再描述。在光学拾取装置140中，作为光反射装置的反射镜141经过附着构件142被附着在光分离光学元件126的准直仪透镜127一侧。

在光学拾取装置140中，从第一光源123发出的并且通过光分离光学元件126被反射的部分光和从第二光源124发出的并且传输到光分离光学元件126的部分光这两部分能够通过单一的光反射装置，也就是说反射镜141被反射，并且输入到第一光输出功率检测部分131。如此，对于单一的反射镜141和单一的第一光输出功率检测部分131，两个光源，也就是说第一光源123和第二光源124的每一个的光输出功率经过光强度控制部分133通过监测而被控制。所以，部件的数目被减少，并且装置的装配工作被简化，因此生产效率得到了提供。

图4是表示根据本发明第三个具体实施方式的一种光学拾取装置143配置的简化系统图。根据此具体实施方式的光学拾取装置143相似于根据第二个具体实施方式的光学拾取装置140。与后者具有相应构件的前者的构件被给予与后者相同的参考数字，并且不再描述。在光学拾取装置143中，作为光反射装置的反射镜141经过附着构件142被附着在光分离光学元件126的第二光源124一侧。在光学拾取装置143中，从第二光源124发出的部分光通过反射镜141被反射，并且输入到第二光输出功率检测部分132。如此，对于反射镜141，第二光源124的光输出功率能够经过光强度控制部分133通过监测而被控制。

图5是表示根据本发明第四具体实施方式的一种光学拾取装置144配置的简化系统图。根据此具体实施方式的光学拾取装置144相似于根据第二个具体实施方式的光学拾取装置140。与后者具有相应构件的前者的构件被给予与后者相同的参考数字，并且不再描述。在光学拾取装置144中，作为光反射装置的反射镜141被直接附着在光分离光学元件126的第二个光能源124的一侧。在光学拾取装置144中，从第二光源124发出的部分光通过反射镜141被反射，并且输入到第二光输出功率检测部分132。如此，对于反射镜141，第二光源124的光输出功率能够经过光强度控制部分133通过监测而被控制。

在上述根据第二个到第四个具体实施方式的光学拾取装置140、143、和144中，由于作为光反射装置的反射镜141被附着在光分离光学元件126上，所以不需要一个很大容量的空间用于设置反射镜141，这有助于装置的小型化。

图6是表示根据本发明第五具体实施方式的一种光学拾取装置145配置的简化系统图，并且图7是表示根据本发明第六具体实施方式的一种光学拾取装置146配置的简化系统图。根据第五个具体实施方式的光学拾取装置145和146相似于根据第一具体实施方式的光学拾取装置121。与后者具有相应构件的前者的构件被给予与后者相同的参考数字，并且不再描述。在根据那第五具体实施方式的光学拾取装置145中，作为光反射装置的反射镜147被附着在准直透镜127上。在根据那第六具体实施方式的光学拾取装置146中，作为光反射装置的反射镜147被附着在保持准直器透镜127的保持构件148上。

在根据第五个和第六个具体实施方式的光学拾取装置145和146中，从第一光源123发出的并且通过光分离光学元件126被反射的部分光和从第二光源124发出的并且穿过到光分离光学元件126的部分光这两部分光能够通过单一的光反射装置147被反射，并且输入到第一光输出功率检测部分131。如此，对于单一的反射镜147和单一的第一光输出功率检测部分131，两个光源，也就是说第一光源123和第二光源124的每一个的光输出功率经过光强度控制部分133通过监测而被控制。

所以，部件的数目被减少，并且装置的装配工作被简化，因此生产效率得到了提高。此外，由于反射镜147被附着在准直透镜127或者保持准直透镜127的保持构件148上，所以不需要一个大容量的空间用于设置反射镜147，这有助于装置的小型化。

图8是表示根据本发明第七具体实施方式的一种光学拾取装置149配置的简化系统图，并且图9是表示根据本发明第八具体实施方式的一种光学拾取装置配置150的简化系统图；根据第七个和第八个具体实施方式的光学拾取装置149和150相似于根据第一个具体实施方式的光学拾取装置121。与后者具有相应构件的前者的构件被给予与后者相同的参考数字，并且不再描述。在图8和9中，作为光路变化反射镜128的向上引导反射镜是从物镜125所在侧面观看的。为了防止图8和9的过分复杂，物镜125和光记录介质122在这些图中省略掉了。

在根据第七个和第八个具体实施方式的光学拾取装置149和150中，作为光反射装置的反射镜151被附着在向上引导反射镜128上。从第一光源123发出的并且通过光分离光学元件126被反射的部分光和从第二光源124发出的并且穿过光分离光学元件126的部分光穿过准直透镜127，通过反射镜151被反射，并且输入到第一光输出功率检测部分131。

如此，采用单一的反射镜151和单一的第一光输出功率检测部分131，两个光源，也就是说第一光源123和第二光源124的每一个的光输出功率经过光强度控制部分133通过监测而被控制。所以，部件的数目被减少，并且装置的装配工作被简化，因此生产效率得到了提高。此外，由于反射镜151被附着在向上引导反射镜128上，所以不需要一个大容量的空间用于设置反射镜151，这有助于装置的小型化。

图10是表示根据本发明第九个具体实施方式的一种光学拾取装置152配置的简化系统图；根据第九个具体实施方式的光学拾取装置152相似于根据第一个具体实施方式的光学拾取装置121。与后者具有相应构件的前者的构件被给予与后者相同的参考数字，并且不再描述。

根据第九个具体实施方式的光学拾取装置152不装备任何光反射装置。从第一光源123发出的并且通过光分离光学元件126被反射的部分光和从第二光源124发出的并且穿过光分离光学元件126的部分光穿过准直透镜127，并且输入到第一光输出功率检测部分131，而不照射到向上引导反射镜128(例如，它们经过(平行)向上引导反射镜128的侧面153)。

如此，没有采用任何光反射装置，两个光源，也就是第一光源123和第二光源124的每一个的光输出功率能够经过光强度控制部分133仅仅通过单一的第一光输出功率检测部分131监测而被控制。所以，部件的数目被减少，并且装置的装配工作被简化，因此生产效率得到了提高。此外，由于部件的数目被减少，用于设置部件的空间容量被减小，这有助于装置的小型化。

图11是表示根据本发明第十个具体实施方式的一种光学拾取装置155配置的简化透视图。根据第十个具体实施方式的光学拾取装置155相似于根据第一个具体实施方式的光学拾取装置121。与后者具有相应构件的前者的构件被给予与后者相同的参考数字，并且不再描述。根据此具体实施方式的光学拾取装置155的一个重要特征是垂直于第一光反射部分129的反射面129a的正交轴156不平行于从向上引导反射镜128反射到光记录介质122的光轴157。

为了满足小型化和厚度减小的需要，在光学拾取装置155中，布置独立构件以致减少光记录介质122的底面和向上引导反射镜123的底面之间的距离TH，也就是装置的厚度。通过设置不平行于光轴157，更好的是垂直于光轴157的第一光反射部分129的正交轴156，装置的厚度能够被减小。

由于光源123被取向以致从光源123发出的光的散布面158在装置厚度TH的方向上具有上述更大的散布角θ1，所以在准直透镜127的位置处，对应于更大扩散角θ1的发散光的直径大于准直透镜127的直径。所以，从光源123发出的部分光不输入到圆形准直透镜127。在光学拾取装置155中，第一光反射部分129被设置在轴上，在此轴上从光源123发出的光形成更大的扩散角θ1以致如上所述垂直于反射面129a的正交轴156不平行于光轴157。并且不输入到准直透镜127的光，也就是不被用于信息记录或者再现的光通过第一光反射部分129的反射而被用于光强度控制，以致照射到第一光输出功率检测部分131。如此，能够获得从光源123发出的光的有效使用和装置的厚度减小。

虽然图11表示提供了一种具有单一的第一光源123和单一的第一光反射部分129的配置，但是装有发出具有不同波长光束的第一和第二光源的光学拾取装置也能够提供与根据第十实施例的光学拾取装置155相同的优点，这通过以一种方式设置相对于各自光源的第一和第二光反射部分来实现，此方式为垂直于各自反射面的正交轴不平行于从向上引导反射镜被反射到光记录介质的光的光轴。

图12是表示根据本发明第十一个具体实施方式的一种光学拾取装置220的一个重要部分配置的简化系统图。光学拾取装置220是一种用于在光记录介质上记录或者从光记录介质再现信息的装置，它装备有用于发射光的光源221；光检测装置222，用于检测从光源221发出的部分光；光聚集装置223，用于把从光源221发出的不用于信息记录或者再现的光的一部分指引到光检测装置222；控制装置224，用于根据光检测装置222的输出控制从光源221发出的光的能量；光接收部分，用于通过接收来自光记录介质的反射光读取信息；和被放置在光记录介质和光源221之间的聚焦光学系统225，用于把来自于光源221的光聚焦到光记录介质，并且聚焦从光记录介质反射的光。

光源221是一个半导体激光器221，并且提供于半导体激光器221中的半导体激光器芯片226把光发射到光记录介质。从光源221发出的大部分光输入到聚焦光学系统225，并且用于在光记录介质上记录或者从光记录介质再现信息。不输入到聚焦光学系统225并且不被用于信息记录或者再现的剩余光向外发送。

光检测装置222具有一个光电二极管和作为信号放大装置的信号放大部分。作为光电检测元件的光电二极管接收并且检测从半导体激光器芯片226发出的光的一部分(为了方便起见，以下成为″支出光″)，并向外发送，代替输入到聚焦光学系统225，并且把所检测的光转换为电流或电压信号，以便输出信号。信号放大部分放大从光电二极管输出的信号。光电二极管和信号放大部分被集成为一个单一部分的结构有助于光学拾取装置220的小型化。换句话说，光电二极管和信号放大部分可以是独立的部分。

控制装置224是一个ARC电路224。基于分别用于在光记录介质上记录或者从光记录介质上再现信息所必需的光的数量，被用于控制半导体激光器芯片226输出功率的电流信号(或者电压信号)被设置并且被预先存储在APC电路224的存储器中。通过比较从光检测装置222输出的电流信号和依靠光学拾取装置220的工作状态用于控制的作为一个参考的电流信号，APC电路224判断半导体激光器芯片226的输出功率是否足够，并且通过向半导体激光器221提供用于控制半导体激光器芯片226的驱动电流的信号，控制半导体激光器芯片226的输出功率。作为反光镜223的光聚集装置223把支出光的一部分反射到光检测装置222，其中此支出光以不同于朝着光检测装置222方向的方向前进并且不输入到聚焦光学系统225以及不被用于信息记录或者再现。

光接收部分接收从光记录介质反射的光并且对应于接收光的数量把光转换为一个电流信号(例如反射光的检测信号)。聚焦光学系统225包括一个准直透镜227、一个向上引导反射镜、一个物镜，和一个聚焦透镜，并且把来自于半导体激光器芯片226的光聚焦到光记录介质上，并且把从光记录介质反射的光聚焦到光接收部分。光接收部分可以与半导体激光器221一起被集成为一个光发射/接收单元或者可以是从半导体激光器221分离出来的独立部分。

从半导体激光器芯片226发出的大部分光输入到聚焦光学系统225，并且用于在光记录介质上记录或者从光记录介质再现信息。以不同于朝着光检测装置222方向的方向前进的支出光的一部分通过反光镜223被反射到光检测装置222，并且通过光检测装置222与直接照射到光检测装置222的支出光的另一部分一起被接收。通过光检测装置222被接收的光通过光电二极管被检测，并且被转换为一个电流信号以便输出电流信号。因此从光电二极管输出的电流信号通过信号放大部分被放大，并且输出到APC电路224。

APC电路224从存储器读取预置电流信号来用作用于控制的参考，并且比较从光检测装置222输出的电流信号与读出电流信号。根据比较结果，APC电路224通过把用于控制半导体激光器芯片226驱动电流的信号提供给半导体激光器221来控制半导体激光器221的输出功率为一个恒定值。

图13是表示根据本发明第十二个具体实施方式的一个光学拾取装置228的一个重要部分配置的简化系统图。根据此具体实施方式的光学拾取装置228相似于根据第十一个具体实施方式的光学拾取装置220。与后者具有相应构件的前者的构件被给予与后者相同的参考数字，并且不再描述。光学拾取装置226的一个重要特征是光聚集装置229是一个凹面反光镜229。

凹面反光镜229是一个反射镜，它反射入射光同时使用它的凹面聚焦入射光。以不同于朝着光检测装置222方向的方向前进的支出光的一部分照射到凹面反光镜229的凹面上，并且通过凹面被反射到光检测装置222同时被聚焦。已经被反射和聚焦的光以及直接照射到光检测装置222的支出光的另一个部分通过光检测装置222被接收，并且导致的电流信号被用于在半导体激光器芯片226上的输出功率控制。

图14是表示根据本发明第十三个具体实施方式的一种光学拾取装置230的一个重要部分配置的简化系统图。根据此具体实施方式的光学拾取装置230相似于根据第十一个具体实施方式的光学拾取装置220。与后者具有相应构件的前者的构件被给予与后者相同的参考数字，并且不再描述。光学拾取装置230的一个重要特征是光聚集装置231由一个聚焦透镜232和一个反光镜233组成，其中聚焦透镜232用于聚焦从半导体激光器芯片226发出的支出光的一部分，反光镜233用于把通过聚焦透镜232产生的会聚光反射到光检测装置222。

以不同于朝着光检测装置222方向的方向前进的支出光的一部分通过聚焦透镜232被聚焦，并且通过反光镜233被反射到光检测装置222。在汇聚状态的反射光和直接地照射到光检测装置222的支出光的另一个部分通过光检测装置222被接收，并且导致的电流信号被用于在半导体激光器芯片226上的输出功率控制。

图15是表示根据本发明第十四个具体实施方式的一种光学拾取装置234的一个重要部分配置的简化系统图。根据此具体实施方式的光学拾取装置234相似于根据第十一个具体实施方式的光学拾取装置220。与后者具有相应构件的前者的构件被给予与后者相同的参考数字，并且不再描述。光学拾取装置234的一个重要的特征是光聚集装置235由第一反光镜236和第二反光镜237组成，其用于把从半导体激光器芯片226发出的光的一部分反射到光检测装置222。

支出光的一部分通过第一反光镜236和第二个反光镜237被反射到光检测装置222。反射光光束通过光检测装置222被接收，并且导致的电流信号被用于在半导体激光器芯片226上的输出功率控制。

图16是表示根据本发明第十五个具体实施方式的一种光学拾取装置238的一个重要部分配置的简化系统图。根据此具体实施方式的光学拾取装置238相似于根据第十四个具体实施方式的光学拾取装置224。与后者具有相应构件的前者的构件被给予与后者相同的参考数字，并且不再描述。光学拾取装置238的一个重要特征是光聚集装置239由第一凹面反光镜240和第二个凹面反光镜241组成。

支出光的一部分通过第一凹面反光镜240和第二个凹面反光镜241被反射和聚焦到光检测装置222。反射光光束处于汇聚状态，因此通过光检测装置222被接收而不减小光通量，并且导致的电流信号被用于在半导体激光器芯片226上的输出功率控制。

图17是表示根据本发明第十六个具体实施方式的一种光学拾取装置242的一个重要部分配置的简化系统图。光学拾取装置242相似于根据第十一个具体实施方式的光学拾取装置220。与后者具有相应构件的前者的构件被给予与后者相同的参考数字，并且不再描述。光学拾取装置242的一个重要特征是光聚集装置243由第一聚焦透镜244、反光镜245和第二聚焦透镜246组成，其中第一聚焦透镜244用于聚焦从半导体激光器芯片226发出的支出光的一部分，反光镜245用于把通过第一聚焦透镜244所产生的会聚光反射到光检测装置222，第二聚焦透镜246用于把从半导体激光器芯片226发出的支出光的一部分聚焦到光检测装置222。

以不同于朝着光检测装置222方向的方向前进的支出光的一部分通过第一聚焦透镜244被聚焦，并且通过反光镜245被反射到光检测装置222。向光检测装置222传送的支出光的另一部分通过第二聚焦透镜246被聚焦到光检测装置222上。从反光镜245反射的光和通过第二聚焦透镜246被聚焦的光通过光检测装置222被接收而不减小光通量，并且导致的电流信号被用于在半导体激光器芯片226上的输出功率控制。

图18是表示根据本发明第十七个具体实施方式的一个光学拾取装置247的一个重要部分配置的简化系统图。根据此具体实施方式的光学拾取装置247相似于根据第十一个具体实施方式的光学拾取装置220。与后者具有相应构件的前者的构件被给予与后者相同的参考数字，并且不再描述。光学拾取装置247的一个重要特征是光聚集装置248由第一聚焦透镜249、第二聚焦透镜250、第一反光镜251和第二反光镜252组成，其中第一聚焦透镜249和第二聚焦透镜250用于聚焦从半导体激光器芯片226发出的支出光的一部分，第一反光镜251用于把通过第一聚焦透镜249所产生的会聚光反射到光检测装置222，第二反光镜252用于把通过第二聚焦透镜250所产生的会聚光反射到光检测装置222。

支出光的一部分通过第一聚焦透镜249被聚焦，并且通过第一反光镜251被反射到光检测装置222。以不同于支出光的上述部分传输方向的方向传输的支出光的另一部分通过第二聚焦透镜250被聚焦，并且通过第二反光镜252被反射到光检测装置222。从第一反光镜251和第二反光镜252反射的光束通过光检测装置222被接收而不减小光通量，并且导致的电流信号被用于在半导体激光器芯片226上的输出功率控制。

如上所述，根据本发明的第十一个到第十七个具体实施方式，光检测装置222接收直接照射到其上并且不被用于信息记录或者再现的光和通过光聚集装置223、229、231 235 239、243或者248被指引到其上的光。所以，用于在半导体激光器芯片226上的输出功率控制的光的数量能够得到提高，这使得高准确度地控制半导体激光器芯片226的输出功率成为可能。此外，由于从半导体激光器芯片226发出而不用于信息记录或者再现的支出光被用于输出功率控制，所以从半导体激光器芯片226发出的并且被用于信息记录或者再现的光的数量不会被减少，因此光的使用效率能够被提高。

图19是表示根据本发明第十八个具体实施方式的一种光学拾取装置253的一个重要部分配置的简化系统图。根据此具体实施方式的光学拾取装置253相似于根据第十一个具体实施方式的光学拾取装置220与后者具有相应构件的前者的构件被给予与后者相同的参考数字，并且不再描述。光学拾取装置253的一个重要特征是它具有光分离装置254，用于分离从半导体激光器芯片226发出的并且输入到聚焦光学系统225以致被用于信息记录或者再现的光的一部分，并且被用于指引所分离的光到光检测装置222。

光分离装置254是具有光分离面255的光束分离器254，其中光分离面255的某一部分的反射比不同于其它部分的反射比。光分离面255的反射率分布被确定在一个范围内，以致穿过光分离面255的光的数量大于用于信息记录和再现所必需的一个值。在根据此具体实施方式的光束分离器254中，以致入射到光分离面255的中心部分256的光(大约2％)被反射，并且入射到除了中心部分256之外的部分的剩余光(大约98％)被传输，中心部分256表面镀有例如涂层材料比如氟化镁(MgFa)的单一层薄膜，并且其它部分镀有例如多层薄膜，其中多种具有各种折射率的涂层材料彼此叠放。此结构使光分离面255容易形成，其中光分离面的某一部分的反射比不同于其它部分的反射比。

如上所述，其中某一部分的反射比不同于其它部分反射比的光分离面255被具有不同反射率值的涂层材料覆盖。由于以此种方式，光分离面255能够容易地被形成，所以被用于控制半导体激光器芯片226的输出功率的光以预期的比率从半导体激光器芯片226发出的光中被提取。

入射到光束分离器254的光，也就是说从半导体激光器芯片226发出的部分光中，入射到光分离面255的中心部分256的光(大约2％)被反射到光检测装置222，并且入射到除了中心部分256之外的部分的剩余光被传输到光记录介质，并且被用于或者信息记录或者再现。朝着光检测装置222传送的支出光的一部分和从光束分离器254反射的光通过光检测装置222被接收，并且导致的电流信号被用于在半导体激光器芯片226上的输出功率控制。

图20是表示根据本发明第十九个具体实施方式的一个光学拾取装置257的一个重要部分配置的简化系统图。根据此具体实施方式的光学拾取装置257相似于根据第十八个具体实施方式的光学拾取装置253。与后者具有相应构件的前者的构件被给予与后者相同的参考数字，并且不再描述。光学拾取装置257的一个重要特征是光束分离器254装备有一个聚光透镜258。

聚光透镜258被放置在光检测装置222和光束分离器254之间，并且与光束分离器254一起被集成。从半导体激光器芯片256发出的光的一部分通过光束分离器254被反射，并且反射光通过聚光透镜256被聚集，并且通过光检测装置222与直接照射在光检测装置222上的支出光的一部分一起被接收，而不减少经过发散的光通量。导致的电流信号被用于在半导体激光器芯片226上的输出功率控制。

虽然在此具体实施方式中聚光透镜258与光束分离器254一起被集成，但是聚光透镜可以与光束分离器254分开。

根据本发明第十八和第十九具体实施方式，光检测装置222能够接收从半导体激光器226发出而不被用于信息记录或者再现的直接入射光和被用于信息记录或者再现的光的一部分。此增加了能够被用于光强度控制的所接收的数量，因此光强度控制的准确度能够被提高。此外，由于从半导体激光器226发出的不被用来信息记录或者再现的光也被用于输出功率控制，所以光的使用效率能够被增加。

图21是表示根据本发明第二十个具体实施方式的一种光学拾取装置320布置的简化侧视图。图22和23是分别表示图21的光学拾取装置320一个重要部分布置的一个侧视图和一个平面图。

光学拾取装置320装备有一个光源321；作为光反射装置的两个光反射部分322a和322b；作为监测光检测装置的一个监测光检测部分323；作为控制装置的一个APC电路324；一个准直透镜325；作为光分支装置的一个光束分离器326；四分之一波片327；一个向上引导反射镜328；作为聚焦装置的一个物镜329；一个聚焦透镜331；一个柱面透镜332；和作为光检测装置的一个光检测部分333。

光源321发射光线。两个光反射部分322a和322b反射从光源321发出的不被用于信息记录或者再现的光的一部分。监测光检测部分323检测各自从光反射装置322a和322b反射的光束。根据监测光检测装置323的检测输出，APC电路324控制从光源321发出的光的能量。

准直透镜325把来自于光源321的被用于信息记录或者再现的光转换为大致的平行光。光束分离器326传输和反射被用于信息记录或者再现的光。向上引导反射镜328反射被用于信息记录或者再现的光，以便改变它们的光路大约90°。物镜329把被用于信息记录或者再现的光聚焦到作为信息记录媒介的光记录介质330的信息记录表面上。聚焦透镜331聚焦从光记录介质330反射的光。柱面透镜332使通过聚焦透镜331所产生的会聚光发散。光检测检测部分333检测从光记录介质330反射的光。

光源321是由在周期表中的III元素群和V元素群的化合物半导体制成的半导体激光器321。从半导体激光器321发出的大部分光输入到准直透镜325，并且被用于信息记录或者再现(在后面描述)。然而，由于从半导体激光器321发出的发散光在准直透镜325处具有大于准直透镜325直径的直径，所以存在向准直透镜325的外圆周的外侧传输。支出光束334a和334b不被用于信息记录或者再现。所以，使用用于在半导体激光器321上的光强度控制的支出光束334a和334b能够使防止光的使用效率减少成为可能，其中此光输入到准直透镜325并且被用于信息记录或者再现。

图24是表示光反射部分322a结构的透视图。图25A和25B是分别表示光反射部分322a结构的平面图和侧视图。光反射部分322a是由例如玻璃组成，并且是一个具有在一个方向(纵向)上是长为平行六面体形状的微反射镜，并且其中光反射层被形成在纵向上的一个端部表面上。

下面将参考图24描述作为光反射部分322a的微反射镜。提供了例如由玻璃制成并且测量尺寸为0.9mm×0.9mm×2mm一个四角棱柱体。四角棱柱体的与纵向(用箭头335表示)平行的一个侧平面被称为一个基准面336(在图24中，底平面)。通过切开四角棱柱体而形成一个端平面338，以致通过箭头方向335和边缘337所形成的角θ11变为110°(补角为70°)，其中边缘337通过基准面336和末端平面338而形成，并且通过基准面336和末端平面338而形成的角θ12(倾斜角)变为45°。然后，通过切开与末端平面338相对的末端部分形成其它端平面339，以致末端平面339变为与末端平面338平行。光反射层340通过使用例如电介质多层薄膜覆盖末端平面339而形成。

如上所述，具有平行六面体形状的光反射装置322a能够通过切开四角棱柱体并且在一个末端平面338上形成光反射层340而形成，其中相互对立的平面是相同的平行四边形并且在箭头方向335上是长的。其它的光反射装置322b能够通过提供如上所述的相同的玻璃四角棱柱体并且切开四角棱柱体而获得，以致当最终的结构和光反射装置322a被并排设置时，根据垂直于基准面336的一个中间的中心平面，它们会变得对称，并且在一个末端平面上形成光反射层。回到图21，光反射装置322a和322b以平行于所安装的光记录介质330的旋转轴以面对物镜329的方向被放置，其位于根据从半导体激光器321发出的光的光轴所对称的位置。

向准直透镜325外周围的外侧面传输的支出光束334a和334b通过两个各自光反射部分322a和322b被反射到监测光检测部分323。结果，通过监测光检测部分323所接收的光的数量比在单一的监测光检测部分323直接接收来自于半导体激光器321的支出光束的情况下要大。由于通过监测光检测部分323被接收的光的数量被增加，所以在半导体激光器321上的光强度控制的准确性和稳定性能够得到提高。

光反射层可以形成在每一个光反射装置的两个末端平面上。图26A和26B是表示其光反射层形成在两个各自端面上的作为光反射装置的光反射部分342结构的平面图。光反射部分342以与如上所述的除了光反射层345和346形成在两个各自端平面343和344上之外的形成光反射部分322a的方法相同的方法而被形成。图26B(平面图)表示光反射部分342，它通过关于在图26B纸表面上的顶-底方向伸展的轴线旋转图26A所示的光反射部分342 180°而获得。

在光反射部分342的两个各自端平343和344面上形成光反射层345和346使得使用端平面343和344的任何一个作为光反射面用于反射支出光束334a或者334b成为可能。所以，仅仅提供一种类型的光反射部分342使得在位置处放置两个光反射部分342成为可能，其中此位置是根据从半导体激光器321发出的光的光轴347对称的，并且允许监测光检测部分323接收反射光束。因此部件种类的数目能够被减少。

把所检测的光转换为电流或电压信号的光电二极管(PD)被用作监测光检测部分323。监测光检测部分323可以是一个光电二极管集成电路(PDIC)，其中PD和具有用于放大由PD所产生的信号的信号放大装置的集成电路(IC)彼此被集成在一起。监测光检测部分323被放置在与光反射部分322a和322b等距离的位置处，并且接收通过光反射部分322a和322b分别反射支出光束344a和344b所产生的反射光束348a和348b，其中支出光束344a和344b向准直透镜325的外周围的外边传输。

作为控制装置的APC电路324根据从监测光检测部分323输出的检测信号(电流或电压信号)，通过提供一个驱动电流到半导体激光器321来控制半导体激光器321的光输出功率为一个恒定值。APC电路324比较从监测光检测部分323输出的检测信号与在APC电路324中预先设定的一个参考值，并且对应于检测信号和参考值直接的差别提供给半导体激光器321一个驱动电流。APC电路324执行一个反馈操作，以致检测信号和参考值之间的差值接近于零，因此半导体激光器321的光输出功率被控制为一个恒定值。

下面将描述光学拾取装置320的信息记录或者再现操作。已经从半导体激光器321发出并且通过准直透镜325被转换为大致平行光的被用于信息记录或者再现的光输入到光束分离器326。光束分离器326传输将近100％的入射光。已经通过光束分离器326的光通过四分之一波片327被偏振化，通过向上引导反射镜328被指引到光记录介质330，并且通过物镜329被聚焦到光记录介质330的信息记录表面。已经被聚焦在光记录介质330的信息记录表面的光通过光记录介质330被反射，再一次穿过物镜329，通过向上引导反射镜328被反射，穿过四分之一波片327，并且输入到光束分离器326。光束分离器326反射将近100％的来自于光记录介质330的反射光。从光束分离器326被反射的光通过聚焦透镜331被聚焦，通过柱面透镜332被散光，并且被应用于光检测部分333。基于来自光记录介质330的通过光检测部分333被检测的反射光，产生用于操作控制的跟踪误差信号和聚焦误差信号以及RF信号。

图27是表示根据本发明第二十一个具体实施方式的一种光学拾取装置350重要部分布置的简化侧视图。根据此具体实施方式的光学拾取装置350相似于根据第二十个具体实施方式的光学拾取装置320。与后者具有相应构件的前者的构件被给予与后者相同的参考数字，并且不再描述。光学拾取装置350的一个重要特征是作为光反射装置的、通过在光反射部分351a和351b的一个端平面上形成光反射层而获得的光反射面352a和352b分别是凹面镜。

由于光反射面352a和352b是凹面镜，所以光反射部分351a和351b具有聚焦功能。所以，从半导体激光器321发出的而不用于信息记录或者再现的光束在被反射和聚焦之后，能够通过监测光检测部分323被接收。这就允许监测光检测部分323的光接收和检测部分353更有效地接收反射光束348a和348b，并且提高接收光通量，这就增加了光强度控制的准确性和稳定性。

图28是表示根据本发明第二十二个具体实施方式的一种光学拾取装置355重要部分布置的简化侧视图。图29是表示图28的光学拾取装置355重要部分布置的平面图。图30是表示在图28的光学拾取装置355中所提供的光束分离器326、准直透镜325、和光反射部分322a和322b布置的前视图。根据此具体实施方式的光学拾取装置355相似于根据第二十个具体实施方式的光学拾取装置320。与后者具有相应构件的前者的构件被给予与后者相同的参考数字，并且不再描述。光学拾取装置355的一个重要特征是在纵向伸展的光反射部分322a和322b侧平面的基准面336直接地被附着在光束分离器326的半导体激光321侧面356上。

在光学拾取装置355中，如下是光束分离器326和准直透镜325的相关布置。光束分离器326的半导体激光321侧面356在前视图中具有一个正方形形状，并且平面356的重心和准直透镜325的中心部位于光轴347上。对于此布置，准直透镜325被直接地附着在光束分离器326的平面356上。

光反射部分322a和322b的基准面336是平面，并且光束分离器326的半导体激光器321侧面356也是平面。所以，在光反射部分322a和322b的基准面326与光束分离器326的平面356接触的状态下，通过在光反射部分322a和322b的末端平面338上形成光反射层340而获得的光反射面的位置能够被自由地改变，而不改变根据平面356的光反射面的倾斜角。

光反射部分322a和322b能够在光反射部分322a和322b的基准面与光束分离器326的平面356接触的状态下，执行一个简单的操作而被附着在光束分离器326的平面356上而不使用一个专门的测量仪器、调整夹具等等，其中简单的操作是设置垂直于基准面336的光反射部分322a和322b的侧平面与光束分离器326的关联侧面齐平，并且设置光反射部分322a和322b的光反射面的近似中心点在轴线357上，此轴线垂直于光轴347并且平行于被投射到光束分离器326的平面356上的光记录介质330的旋转轴。

以上述方式集成光反射部分322a和322b与光束分离器326大大地简化了在装配装置中光反射部分322a和322b与监测光检测部分323相互之间的定位所必需的距离/角度调整工作，因此生产的效率得到提高。

图31是表示根据本发明二十三个具体实施方式的一种光学拾取装置360布置的简化侧视图。根据此具体实施方式的光学拾取装置360相似于根据第二十个具体实施方式的光学拾取装置320。与后者具有相应构件的前者的构件被给予与后者相同的参考数字，并且不再描述。光学拾取装置360的一个重要特征是作为光源的半导体激光器和用于接收来自于光记录介质330的反射光的光检测装置被彼此集成为一个单一部分，即为一个光发射和接收部分361。

在光学拾取装置360中，从光发射和接收部分361发出的光通过准直透镜325被转换为大致的平行光，通过向上引导反射镜328被指引到光记录介质330，并且通过物镜329聚焦到光记录介质330的信息记录表面。由光记录介质330已经反射的光以相反的方向沿着与朝着光记录介质330前进的相同的光路传输，并且通过光发射和接收单元361被接收。所以，不需要用于指引来自光记录介质330的反射光到光检测部分的光束分离器。由于部件的数目通过把半导体激光器和光检测装置集成为单一部分的优点被减少，所以不但光强度控制的准确性和稳定性能够被提高，而且光学拾取装置360能够被压缩。此外，由于使用在装配装置中的部件的数目被减少，因此装配工作效率能够得到提高。

图32是表示根据本发明二十四个具体实施方式的一种光学拾取装置365布置的简化侧视图。根据此具体实施方式的光学拾取装置365相似于根据第二十三个具体实施方式的光学拾取装置360。与后者具有相应构件的前者的构件被给予与后者相同的参考数字，并且不再描述。光学拾取装置365的一个重要特征是装备有发射具有不同波长的光束的两个半导体激光器。

在根据此具体实施方式的光学拾取装置365中，两个半导体激光器与检测部分被集成为单一的部分，它们分别是两个光发射和接收部分361和361a。

例如，两个光发射和接收部分361和361a发射具有780nm波长的红外激光和具有650nm波长的红光激光。从光发射和接收单元361发出的光的能量以与在根据第二十三个具体实施方式的光学拾取装置360中的方法相同的方法被控制，并且被用于信息记录或者再现。

从其它的光发射和接收单元361a发出的并且向准直透镜325a的外周围的外侧传输因此不被用于信息记录或者再现的支出光束通过一对光反射部分322c被反射，并且通过其它其它光检测部分323a被接收。监测光检测部分323a提供对应于接收光通量的电信号给其它的APC电路324a。APC电路324a根据监测光检测部分323a的输出，提供用于半导体激光器的一个驱动电流给光发射和接收单元361a。驱动电流用来控制光发射和接收单元361a的半导体激光器的光输出功率为一个恒定值。

从光发射和接收单元361a发出的并且输入到准直透镜325a的光通过光束分离器366被反射到向上引导反射镜328。照射到向上引导反射镜328的光被指引到光记录介质330，并且通过物镜329被聚焦到光记录介质330的信息记录表面上。被聚焦在光记录介质330的信息记录表面的光通过光记录介质330被反射，再一次穿过物镜329，通过向上引导反射镜328被反射，并且输入到光束分离器366。光束分离器366反射将近100％的来自于光记录介质330的反射光到光发射和接收单元361a，以致通过具有光检测部分的光发射和接收单元361a被接收。

光学拾取装置365的光束分离器366被装配，以致传输从光发射和接收单元361的光和从光发射和接收单元361发出的光，通过光记录介质330被反射，并且输入到光束分离器366。

在上述装配的光学拾取装置365中，在压缩光盘(CD)上的信息记录或者再现通过使用发射具有780nm波长的红外激光的光发射和接收单元361被执行，并且在数字万用盘(DVD)的信息记录或者再现通过使用发射具有650nm波长的红光激光的光发射和接收单元361a被执行。也就是说，光学拾取装置365能够适应两种光记录介质，其中信息记录或者再现通过使用具有不同波长光束被执行。

如上所述，在此具体实施方式中，光反射部分322a和322b以平行于光记录介质330的旋转轴的方向被布置。然而，本发明不局限于此情况；光反射部分322a和322b可以以垂直于旋转轴的方向被布置。此外，虽然那两个光反射部分被放置在接近于准直透镜323的外周围，但是本发明不局限于此情况；可以提供三个或者更多个光反射装置。

本发明可以在不违背其精神或者主要特征的情况下包括其它的特殊的形成。所以本具体实施方式在各方面被认为是例证性的而不是限制性的，本发明的范围是通过所附的权利要来表示的，而不是通过上述描述，所以在权利要求相等的含义和范围内的所有改变被意为包含在其中。

Claims (17)

1.一种在光记录介质(122)上记录信息或者从光记录介质(122)上再现信息的光学拾取装置，包括：

光源(123，124)，用于发射光；

物镜(125)，它与光记录介质(122)相对，用于把来自光源(123，124)的光聚焦到光记录介质(122)的信息记录表面上；

准直透镜(127)，它位于所述光源(123，124)和所述物镜(125)之间，用于把来自于光源(123，124)的光转换为平行光；

光分离光学元件(126)，它位于所述光源(123，124)和所述准直透镜(127)之间的，用于透射或者反射来自于光源(123，124)的光；

光反射装置(129，130，141，147，151)，用于反射从光源(123，124)发出的光的一部分；

光输出功率检测装置(131，132)，用于检测从光反射装置(129，130，141，147，151)反射的光；和

光功率控制装置(133)，用于根据所述光输出功率检测装置(131，132)的检测输出，控制从光源(123，124)发出的光的功率，

其中，所述光反射装置被放置在与扩散角中较大一个有关的轴上，这些扩散角与形成在一个平面上的两个各自正交轴有关，此平面垂直于从光源发出的光的光轴。

2.根据权利要求1所述的光学拾取装置，其特征在于，光反射装置(129，130)被放置在光源(123，124)和光分离光学元件(126)之间。

3.根据权利要求1所述的光学拾取装置，其特征在于，进一步包括一个被放置在准直透镜(127)和物镜(125)之间的光路变化反射镜(128)，用于反射来自于光源(123，124)的光，以便改变它的光路，

并且其中光反射装置(129，130，141，147，151)以正交于光反射装置(129，130，141，147，151)的反射面的正交轴(156)不平行于从光路变化反射镜(128)反射到光记录介质(122)的光的光轴的方式被放置。

4.根据权利要求3所述的光学拾取装置，其特征在于，提供发射具有不同波长的光的两个光源(123，124)，并且提供两个光反射装置(129，130)，使其与两个各自光源(123，124)相联系。

5.根据权利要求1所述的光学拾取装置，其特征在于，光反射装置(141)被附着在光分离光学元件(126)上。

6.根据权利要求1所述的光学拾取装置，其特征在于，光反射装置(147)被附着在准直透镜(127)上。

7.根据权利要求1所述的光学拾取装置，其特征在于，进一步包括一个保持构件(148)，用于保持准直透镜(127)，并且其中光反射装置(147)被附着在保持构件(148)上。

8.根据权利要求1所述的光学拾取装置，其特征在于，进一步包括一个被放置在准直透镜(127)和物镜(125)之间的光路变化反射镜(128)，用于反射来自于光源(123，124)或者光，以便改变它的光路，

并且光反射装置(151)被附着在光路变化反射镜(128)上。

9.一种用光在光记录介质(330)上记录信息或者从光记录介质(330)再现信息的光学拾取装置，包括：

光源(321)，用于发射光；

光反射装置(322a，322b，322c，342，352a，352b)，用于反射从光源(321)发出的、不被用于信息记录或者信息再现的部分光；

监测光检测装置(323)，用于检测从光反射装置(322a，322b，322c，342，352a，352b)反射的光；

控制装置(324)，用于根据所述监测光检测装置(323)的检测输出，控制从光源(321)发出的光的功率；

聚焦装置(329)，用于把来自光源(321)的、用于信息记录或者信息再现的光聚焦到光记录介质(330)的信息记录表面上；和

光检测装置(333)，用于检测从光记录介质(330)反射的光，

其中，所述光反射装置(322a，322b，322c，342)是一个在纵向伸展的平行六面体形状，并且有一光反射层(340，345)形成在所述纵向上的一个末端平面(338，343)上。

10.根据权利要求9所述的光学拾取装置，其特征在于，光反射装置包括多个光反射部分(322a，322b)，并且每一个光反射部分(322a，322b)相对从光源(321)发出的光的光轴被对称地放置，

并且监测光检测装置(323)被放置在与光反射部分(332a，322b)等距离的位置处。

11.根据权利要求9所述的光学拾取装置，其特征在于，有另一光反射层(346)形成在所述纵向上与所述一个末端平面(343)相对的另一个末端平面上(344)。

12.根据权利要求11所述的光学拾取装置，其特征在于，进一步包括光分支装置(326，366)，用于传输并反射从光源(321)发出的并且被用于信息记录或者再现的光。

并且光反射装置(322a，322b)的与纵向平行的一个侧平面(338)被直接地附着在光分支装置(326，366)的与光源(321)相对的一个平面上。

13.根据权利要求10所述的光学拾取装置，其特征在于，光反射装置(322a，322b，322c)包括两个光反射部分(322a，322b，322c)，它们被垂直或者平行于被安装的光记录介质的旋转轴放置，使其面对聚焦装置(329)，并且被放置在根据从光源(321)发出的光的光轴对称的位置处。

14.根据权利要求9所述的光学拾取装置，其特征在于，光源和光检测装置被集成为一个单一部分。

15.根据权利要求9所述的光学拾取装置，其特征在于，包括多个光源(321)。

16.根据权利要求9所述的光学拾取装置，其特征在于，监测光检测装置(323)包括一个光电二极管，用于把所检测的光转换为一个电流或电压信号。

17.根据权利要求9所述的光学拾取装置，其特征在于，监测光检测装置(323)包括：

一个光电二极管，用于把所检测的光转换为一个电流或电压信号；和

信号放大装置，用于放大通过光电二极管被转换的电流或电压信号，

其中光电二极管和信号放大装置被集成为一个单一部分。

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