CN110911299A - Igbt模块扫频测试台 - Google Patents
Igbt模块扫频测试台 Download PDFInfo
- Publication number
- CN110911299A CN110911299A CN201911198327.3A CN201911198327A CN110911299A CN 110911299 A CN110911299 A CN 110911299A CN 201911198327 A CN201911198327 A CN 201911198327A CN 110911299 A CN110911299 A CN 110911299A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- igbt module
- frequency sweep
- sweep test
- support frame
- test bench
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 97
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 25
- 238000009434 installation Methods 0.000 claims description 3
- 230000003028 elevating effect Effects 0.000 description 7
- 210000001503 joint Anatomy 0.000 description 6
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 238000010408 sweeping Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000001815 facial effect Effects 0.000 description 1
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L22/00—Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
- H01L22/30—Structural arrangements specially adapted for testing or measuring during manufacture or treatment, or specially adapted for reliability measurements
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
本发明公开了一种IGBT模块扫频测试台，包括支撑架、扫频测试组、IGBT模块定位台、升降台和升降驱动件，升降驱动件安装在支撑架的底部、且升降驱动件的顶部为输出端，升降台安装在升降驱动件的输出端上，IGBT模块定位台安装在升降台上，扫频测试组安装在支撑架上、且位于IGBT模块定位台的上方，IGBT模块定位在IGBT模块定位台上，升降驱动件通过IGBT模块定位台带动IGBT模块上升与扫频测试组对接进行扫频测试。该测试台具有安全性高、成本低廉、可降低测试难度、能提高测试准确性和测试效率的优点。
Description
技术领域
本发明主要涉及IGBT扫频测试技术，尤其涉及一种IGBT模块扫频测试台。
背景技术
IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)，绝缘栅双极型晶体管，是由BJT(双极型三极管)和MOS(绝缘栅型场效应管)组成的复合全控型电压驱动式功率半导体器件，兼有MOSFET的高输入阻抗和GTR的低导通压降两方面的优点。GTR饱和压降低，载流密度大，但驱动电流较大；MOSFET驱动功率很小，开关速度快，但导通压降大，载流密度小。IGBT综合了以上两种器件的优点，驱动功率小而饱和压降低。
在之前IGBT模块生产过程中，没有设计扫频测试这一工艺，故而造成了较高的产品不合格率，为了提高产品合格率等性能，目前逐渐有了扫频测试这一工艺过程，但是，在样件试验阶段没有成型的试验台，均是采用手工接线及连接方式进行试验，一方面降低了测试效率；另一方面提高了人力成本，并且测试难度高。
发明内容
本发明要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供一种安全性高、成本低廉、可降低测试难度、能提高测试准确性和测试效率的IGBT模块扫频测试台
结构简单紧凑、行动平稳舒适、可实现小半径转弯的转向架。
为解决上述技术问题，本发明采用以下技术方案：
一种IGBT模块扫频测试台，包括支撑架、扫频测试组、IGBT模块定位台、升降台和升降驱动件，所述升降驱动件安装在支撑架的底部、且升降驱动件的顶部为输出端，所述升降台安装在升降驱动件的输出端上，所述IGBT模块定位台安装在升降台上，所述扫频测试组安装在支撑架上、且位于IGBT模块定位台的上方，所述IGBT模块定位在IGBT模块定位台上，所述升降驱动件通过IGBT模块定位台带动IGBT模块上升与扫频测试组对接进行扫频测试。
作为上述技术方案的进一步改进：
所述升降台上设置有导轨，所述IGBT模块定位台滑装在所述导轨上。
所述IGBT模块定位台的端部设有便于推拉IGBT模块定位台的拉手。
所述升降台的端部设有用于防止IGBT模块定位台脱出的限位座。
所述限位座上装设有用于在测试时对IGBT模块定位台定位的定位按钮。
所述支撑架上装设有导向柱，所述升降台的两侧均套装在相应侧的导向柱上。
所述IGBT模块定位台上设置有多个用于安装IGBT模块的安装位。
所述升降驱动件设置为气缸，所述气缸设置为多组。
所述扫频测试组包括电容、电容母排、交流排、直流排和测试柱，所述电容、电容母排、交流排和直流排均安装在支撑架上，所述电容和电容母排形成连接，所述交流排和直流排均与电容母排形成连接，所述测试柱安装在交流排和直流排上。
所述支撑架顶部铰接有用于遮盖交流排和直流排的盖板。
所述支撑架底部设有万向轮。
所述支撑架的端部以及侧部均设有把手。
与现有技术相比，本发明的优点在于：
本发明的IGBT模块扫频测试台，包括支撑架、扫频测试组、IGBT模块定位台、升降台和升降驱动件，升降驱动件安装在支撑架的底部、且升降驱动件的顶部为输出端，升降台安装在升降驱动件的输出端上，IGBT模块定位台安装在升降台上，扫频测试组安装在支撑架上、且位于IGBT模块定位台的上方，IGBT模块定位在IGBT模块定位台上，升降驱动件通过IGBT模块定位台带动IGBT模块上升与扫频测试组对接进行扫频测试。使用时，升降驱动件位于初始位置，将IGBT模块定位在IGBT模块定位台上，然后启动升降驱动件，驱使升降台带动IGBT模块定位台和IGBT模块上升，使IGBT模块与扫频测试组形成对接，然后利用扫频测试组对IGBT模块进行扫频以检验其是否合格。较传统的手工接线而言，该测试台形成了一种乐针对IGBT模块的专用测试台，不再需要现场手工接线，一方面提高了安全性，另一方向降低了测试成本；而且，通过测试台实现了IGBT模块的自动测试，防止了人工误接现象，降低了测试难度，大大提高了测试的准确性和测试效率。
附图说明
图1是本发明IGBT模块扫频测试台的立体结构示意图。
图2是本发明IGBT模块扫频测试台的主视结构示意图。
图3是本发明IGBT模块扫频测试台的侧视结构示意图。
图4是本发明IGBT模块扫频测试台的俯视结构示意图。
图中各标号表示：
1、支撑架；11、导向柱；2、扫频测试组；21、电容；22、电容母排；23、交流排；24、直流排；25、测试柱；3、IGBT模块定位台；31、拉手；32、安装位；4、升降台；41、导轨；5、升降驱动件；6、限位座；61、定位按钮；7、盖板；8、万向轮；9、把手。
具体实施方式
以下将结合说明书附图和具体实施例对本发明做进一步详细说明。
图1至图4示出了本发明IGBT模块扫频测试台的一种实施例，包括支撑架1、扫频测试组2、IGBT模块定位台3、升降台4和升降驱动件5，升降驱动件5安装在支撑架1的底部、且升降驱动件5的顶部为输出端，升降台4安装在升降驱动件5的输出端上，IGBT模块定位台3安装在升降台4上，扫频测试组2安装在支撑架1上、且位于IGBT模块定位台3的上方，IGBT模块定位在IGBT模块定位台3上，升降驱动件5通过IGBT模块定位台3带动IGBT模块上升与扫频测试组2对接进行扫频测试。使用时，升降驱动件5位于初始位置，将IGBT模块定位在IGBT模块定位台3上，然后启动升降驱动件5，驱使升降台4带动IGBT模块定位台3和IGBT模块上升，使IGBT模块与扫频测试组2形成对接，然后利用扫频测试组2对IGBT模块进行扫频以检验其是否合格。较传统的手工接线而言，该测试台形成了一种乐针对IGBT模块的专用测试台，不再需要现场手工接线，一方面提高了安全性，另一方向降低了测试成本；而且，通过测试台实现了IGBT模块的自动测试，防止了人工误接现象，降低了测试难度，大大提高了测试的准确性和测试效率。
本实施例中，升降台4上设置有导轨41，IGBT模块定位台3滑装在导轨41上。该导轨41的设置，使得IGBT模块定位台3能沿导轨41在升降台4上水平拉出和推入，便于IGBT模块的安装和拆卸。
本实施例中，IGBT模块定位台3的端部设有便于推拉IGBT模块定位台3的拉手31。该拉手31则提高了IGBT模块定位台3水平拉出和推入的方便性。
本实施例中，升降台4的端部设有用于防止IGBT模块定位台3脱出的限位座6。该限位座6能防止IGBT模块定位台3拉出完全脱出升降台4，对其起到限位的效果。
本实施例中，限位座6上装设有用于在测试时对IGBT模块定位台3定位的定位按钮61。该结构中，当IGBT模块定位台3推入后，按下定位按钮61，定位按钮61会顶住IGBT模块定位台3，防止其再发生误动，保证后续测试的精准对接。
本实施例中，支撑架1上装设有导向柱11，升降台4的两侧均套装在相应侧的导向柱11上。该导向柱11一方面保证了升降台4升降运动的顺畅性和稳定性；另一方面进一步提高了IGBT模块与上方扫频测试组2对接的精准性。
本实施例中，IGBT模块定位台3上设置有多个用于安装IGBT模块的安装位32。这样设置使得一个IGBT模块定位台3上可以同时安装多个IGBT模块，即可以实现一次多测，大大提高了效率。
本实施例中，升降驱动件5设置为气缸，气缸设置为多组。由于一个IGBT模块定位台3上可以同时安装多个IGBT模块，故将气缸设置为多组，一方面使得整体IGBT模块定位台3受力更为均匀稳定；另一方面，提高了升降的平稳性。
本实施例中，扫频测试组2包括电容21、电容母排22、交流排23、直流排24和测试柱25，电容21、电容母排22、交流排23和直流排24均安装在支撑架1上，电容21和电容母排22形成连接，交流排23和直流排24均与电容母排22形成连接，测试柱25安装在交流排23和直流排24上。该结构中，通过电容21、电容母排22、交流排23、直流排24和测试柱25的配合实现扫频测试，其结构简单可靠，测试柱25设置为铜柱。
本实施例中，支撑架1顶部铰接有用于遮盖交流排23和直流排24的盖板7。该盖板7为可翻转结构，一方面用于遮盖交流排23和直流排24，防止积灰而影响测试；另一方面也便于交流排23和直流排24的检修工作。
本实施例中，支撑架1底部设有万向轮8。通过设置万向轮8使得支撑架1可以移动，便于转场测试。
本实施例中，支撑架1的端部以及侧部均设有把手9。该把手9进一步提高了支撑架1移动的方便性。
虽然本发明已以较佳实施例揭示如上，然而并非用以限定本发明。任何熟悉本领域的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围的情况下，都可利用上述揭示的技术内容对本发明技术方案做出许多可能的变动和修饰，或修改为等同变化的等效实施例。因此，凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明技术实质对以上实施例所做的任何简单修改、等同变化及修饰，均应落在本发明技术方案保护的范围内。
Claims (12)
1.一种IGBT模块扫频测试台，其特征在于：包括支撑架(1)、扫频测试组(2)、IGBT模块定位台(3)、升降台(4)和升降驱动件(5)，所述升降驱动件(5)安装在支撑架(1)的底部、且升降驱动件(5)的顶部为输出端，所述升降台(4)安装在升降驱动件(5)的输出端上，所述IGBT模块定位台(3)安装在升降台(4)上，所述扫频测试组(2)安装在支撑架(1)上、且位于IGBT模块定位台(3)的上方，所述IGBT模块定位在IGBT模块定位台(3)上，所述升降驱动件(5)通过IGBT模块定位台(3)带动IGBT模块上升与扫频测试组(2)对接进行扫频测试。
2.根据权利要求1所述的IGBT模块扫频测试台，其特征在于：所述升降台(4)上设置有导轨(41)，所述IGBT模块定位台(3)滑装在所述导轨(41)上。
3.根据权利要求2所述的IGBT模块扫频测试台，其特征在于：所述IGBT模块定位台(3)的端部设有便于推拉IGBT模块定位台(3)的拉手(31)。
4.根据权利要求3所述的IGBT模块扫频测试台，其特征在于：所述升降台(4)的端部设有用于防止IGBT模块定位台(3)脱出的限位座(6)。
5.根据权利要求4所述的IGBT模块扫频测试台，其特征在于：所述限位座(6)上装设有用于在测试时对IGBT模块定位台(3)定位的定位按钮(61)。
6.根据权利要求5所述的IGBT模块扫频测试台，其特征在于：所述支撑架(1)上装设有导向柱(11)，所述升降台(4)的两侧均套装在相应侧的导向柱(11)上。
7.根据权利要求6所述的IGBT模块扫频测试台，其特征在于：所述IGBT模块定位台(3)上设置有多个用于安装IGBT模块的安装位(32)。
8.根据权利要求7所述的IGBT模块扫频测试台，其特征在于：所述升降驱动件(5)设置为气缸，所述气缸设置为多组。
9.根据权利要求1至8中任一项所述的IGBT模块扫频测试台，其特征在于：所述扫频测试组(2)包括电容(21)、电容母排(22)、交流排(23)、直流排(24)和测试柱(25)，所述电容(21)、电容母排(22)、交流排(23)和直流排(24)均安装在支撑架(1)上，所述电容(21)和电容母排(22)形成连接，所述交流排(23)和直流排(24)均与电容母排(22)形成连接，所述测试柱(25)安装在交流排(23)和直流排(24)上。
10.根据权利要求9所述的所述的IGBT模块扫频测试台，其特征在于：所述支撑架(1)顶部铰接有用于遮盖交流排(23)和直流排(24)的盖板(7)。
11.根据权利要求1至8中任一项所述的IGBT模块扫频测试台，其特征在于：所述支撑架(1)底部设有万向轮(8)。
12.根据权利要求11所述的IGBT模块扫频测试台，其特征在于：所述支撑架(1)的端部以及侧部均设有把手(9)。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201911198327.3A CN110911299B (zh) | 2019-11-29 | 2019-11-29 | Igbt模块扫频测试台 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201911198327.3A CN110911299B (zh) | 2019-11-29 | 2019-11-29 | Igbt模块扫频测试台 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN110911299A true CN110911299A (zh) | 2020-03-24 |
| CN110911299B CN110911299B (zh) | 2022-07-29 |
Family
ID=69820576
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201911198327.3A Expired - Fee Related CN110911299B (zh) | 2019-11-29 | 2019-11-29 | Igbt模块扫频测试台 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN110911299B (zh) |
Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1860446A1 (fr) * | 2006-05-23 | 2007-11-28 | Converteam SAS | Procédé et dispositif de mesure de température de jonction d'un composant électronique. |
| CN203191512U (zh) * | 2013-04-18 | 2013-09-11 | 重庆大学 | 应用于有机薄膜场效应晶体管测试的装置 |
| CN207020281U (zh) * | 2017-07-27 | 2018-02-16 | 东莞市冠佳电子设备有限公司 | 一种功能测试设备 |
| JP2018179618A (ja) * | 2017-04-06 | 2018-11-15 | トヨタ自動車株式会社 | 半導体素子の検査装置 |
| CN208208718U (zh) * | 2018-05-29 | 2018-12-07 | 扬州乔恒电子有限公司 | 一种igbt模块特性老化设备壳体 |
| CN208672690U (zh) * | 2018-08-29 | 2019-03-29 | 烟台台芯电子科技有限公司 | 一种igbt模块内部的半桥dbc测试夹具 |
| CN208810592U (zh) * | 2018-07-12 | 2019-05-03 | 太仓市晨启电子精密机械有限公司 | 一种igbt模块全自动测试一贯机 |
-
2019
- 2019-11-29 CN CN201911198327.3A patent/CN110911299B/zh not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1860446A1 (fr) * | 2006-05-23 | 2007-11-28 | Converteam SAS | Procédé et dispositif de mesure de température de jonction d'un composant électronique. |
| CN203191512U (zh) * | 2013-04-18 | 2013-09-11 | 重庆大学 | 应用于有机薄膜场效应晶体管测试的装置 |
| JP2018179618A (ja) * | 2017-04-06 | 2018-11-15 | トヨタ自動車株式会社 | 半導体素子の検査装置 |
| CN207020281U (zh) * | 2017-07-27 | 2018-02-16 | 东莞市冠佳电子设备有限公司 | 一种功能测试设备 |
| CN208208718U (zh) * | 2018-05-29 | 2018-12-07 | 扬州乔恒电子有限公司 | 一种igbt模块特性老化设备壳体 |
| CN208810592U (zh) * | 2018-07-12 | 2019-05-03 | 太仓市晨启电子精密机械有限公司 | 一种igbt模块全自动测试一贯机 |
| CN208672690U (zh) * | 2018-08-29 | 2019-03-29 | 烟台台芯电子科技有限公司 | 一种igbt模块内部的半桥dbc测试夹具 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN110911299B (zh) | 2022-07-29 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN108706514A (zh) | 一种图书馆用书籍智能获取装置及其使用方法 | |
| CN106983283A (zh) | 一种用于动漫设计的多功能操作台 | |
| CN109366076A (zh) | 电动车配件焊接用夹持机构 | |
| CN110911299A (zh) | Igbt模块扫频测试台 | |
| CN110927550B (zh) | 一种igbt模块扫频测试台 | |
| CN205150363U (zh) | 一种双收板机输送机构 | |
| CN216721708U (zh) | 一种用于集成电路加工的贴片装置 | |
| CN214953934U (zh) | 一种用于芯片测试的工装 | |
| CN204243567U (zh) | 便携式手车开关检修架 | |
| CN211905542U (zh) | 门机变频器测试装置及系统 | |
| CN212905260U (zh) | 一种igbt模块扫频测试台 | |
| CN211741493U (zh) | 一种集成电路的测试装置 | |
| CN214622910U (zh) | 一种igbt多单元模块测试切换装置 | |
| CN103364216B (zh) | 一种风扇摇头测试仪 | |
| CN221686567U (zh) | 一种ecu烧录测试装置 | |
| CN221303345U (zh) | 一种便于调节的电子产品检测用载具 | |
| CN115951095B (zh) | 一种具有位置校正功能的集成电路测试夹具 | |
| CN214779215U (zh) | 一种多头吸料装置 | |
| CN204613356U (zh) | 一种晶体管测试装置 | |
| CN210024058U (zh) | 一种框架焊接装置 | |
| CN221561235U (zh) | 一种人工智能机械设计的测试工作平台 | |
| CN215663534U (zh) | 开关柜高效检修小车 | |
| CN216956262U (zh) | 一种电控板自动测试设备 | |
| CN221463373U (zh) | 一种耳机生产用耳机连接线检测装置 | |
| CN219016493U (zh) | 一种低频大功率晶体管自动测试装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20220729 |