CN114070389A - 用于光模块的apd性能检测方法、装置、光网络及介质 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种用于光模块的雪崩光电二极管APD性能检测方法、装置、光网络及介质。该用于光模块的APD性能检测方法，适用于包括光模块和光网络单元ONU的光网络，所述方法包括：选取至少一个光网络单元标识ONU ID作为检测ONU ID；为所述检测ONU ID分配带宽并且所述带宽使能；获取所述光模块对于所述检测ONU ID的接收光功率；基于所述接收光功率判断所述光模块中APD的性能是否劣化，可以及时发现光模块的APD出现劣化，减小APD性能劣化对光网络正常运行的影响。

Description

用于光模块的APD性能检测方法、装置、光网络及介质

技术领域

本发明实施例涉及光模块技术领域，尤其涉及一种用于光模块的雪崩光电二极管APD（英文全称：Avalanche Photo Diode）性能检测方法、装置、光网络及介质。

背景技术

业界一直以为无源光网络PON是接入网未来发展的方向，一方面由于它提供的带宽可以满足现在和未来各种宽带业务的需要，所以在解决宽带接入问题上被普遍看好；另一方面无论在设备成本还是运维管理开销方面，其费用都相对较低。随着5G技术的推广，各种高带宽需求的APP如雨后春笋般不断涌现，这对光线路终端OLT（optical lineterminal）的局端设备的数据转发提出了更高的要求尤其是长距离通信。因此在OLT上采用具有发射光功率大、接收灵敏度高的光模块进行光信号的收发。

通常光模块的接收端采用雪崩光电二极管接收光信号，当光模块中的APD性能出现劣化后，APD接收光信号的灵敏度下降，导致与OLT的光模块进行光信号传输的光网络单元ONU正常工作的指标门限提高，甚至部分ONU或者全部ONU不上线，也有可能导致ONU反复上下线。维护人员不能第一时间发现光模块的APD性能出现了劣化，只有在用户投诉网络出现问题的情况后，维护人员介入更换故障的光模块，并且对故障的光模块进行材料失效分析才能确定光模块中的APD是否出现了劣化。因此，如何及时发现光模块的APD出现劣化，减小APD性能劣化对光网络正常运行的影响成为亟待解决的问题。

发明内容

本说明书一个或多个实施例的目的是提供一种用于光模块的APD性能检测方法、装置、光网络及介质，可以及时发现光模块的APD出现劣化，减小APD性能劣化对光网络正常运行的影响。

为解决上述技术问题，本说明书一个或多个实施例是这样实现的：

第一方面，提供了一种用于光模块的APD性能检测方法，适用于包括光模块的光网络，所述方法包括：选取至少一个光网络单元标识ONU ID作为检测ONU ID；为所述检测ONU ID分配带宽并且所述带宽使能；获取所述光模块对于所述检测ONU ID 的接收光功率；基于所述接收光功率判断所述光模块中APD的性能是否劣化。

第二方面，提出了一种用于光模块的APD性能检测装置，适用于包括光模块的光网络，所述装置包括：选取模块，用于选取至少一个光网络单元标识ONU ID作为检测ONU ID；分配模块，用于为所述检测ONU ID分配带宽并且所述带宽使能；获取模块，获取所述光模块对于所述检测ONU ID的接收光功率；判断模块，用于基于所述接收光功率判断所述光模块中APD的性能是否劣化。

第三方面，提出了一种光网络，所述光网络包括如上文所述的用于光模块的APD性能检测装置。

第四方面，提出了一种储存介质，用于计算机可读存储，所述存储介质存储有一个或者多个程序，所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行时，实现如上文所述的用于光模块的APD性能检测方法的步骤。

由以上本说明书一个或多个实施例提供的技术方案可见，本发明实施例提供的用于光模块的APD性能检测方法适用于包括光模块的光网络，光模块指的是OLT的光模块，至少一个光网络单元标识ONU ID可以是真实存在的ONU ID比如与光模块注册在同一PON口下的ONU ID，也可以为非真实存在的虚拟ONU比如未注册在该PON口下的ONU ID，没有实物只要OLT分配一个ONU ID即可。为了不影响光网络的正常运行，检测ONU ID可以是未注册在同一PON口下的ONU ID，为检测ONU ID分配带宽且使能后检测ONU ID占用上行的时隙检测时通过获取光模块对于检测ONU ID的接收光功率后基于该接收光功率判断光模块中APD的性能是否劣化。可以看出通过光网络本身的架构可以对光模块的APD性能实时检测，操作简单方便，并且可以及时发现并且更换出现APD性能劣化的光模块，减小APD性能劣化对光网络正常运行的影响。

附图说明

为了更清楚地说明本说明书一个或多个实施例或现有技术中的技术方案，下面将对一个或多个实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本说明书中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明实施例提供一种用于光模块的APD性能检测方法的步骤示意图。

图2是本发明实施例提供另一种用于光模块的APD性能检测方法的步骤示意图。

图3是本发明实施例提供又一种用于光模块的APD性能检测方法的步骤示意图。

图4是本发明实施例提供又一种用于光模块的APD性能检测方法的步骤示意图。

图5是本发明实施例提供又一种用于光模块的APD性能检测方法的步骤示意图。

图6是本发明实施例提供又一种用于光模块的APD性能检测方法的步骤示意图。

图7是本发明实施例提供又一种用于光模块的APD性能检测方法的步骤示意图。

图8是本发明实施例提供一种用于光模块的APD性能检测装置的结构示意图。

图9是本发明实施例提供另一种用于光模块的APD性能检测装置的结构示意图。

图10是本发明实施例提供一种光网络的结构示意图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本说明书中的技术方案，下面将结合本说明书一个或多个实施例中的附图，对本说明书一个或多个实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的一个或多个实施例仅仅是本说明书一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本说明书中的一个或多个实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本文件的保护范围。

本发明实施例提供的一种用于光模块的APD性能检测方法适用于包括光模块和光网络单元ONU的光网络，可以及时对光模块的APD性能进行检测，避免因为APD性能劣化后不能及时发现导致光网络出现故障，影响用户的正常使用，减小对光网络正常运行的影响。下面将详细地描述本说明书提供的用于光模块的APD性能检测方法及其各个步骤。

需要说明的是，本发明实施例提供的用于光模块的APD性能检测方法中使用的光网络可以是无源光网络PON，光模块指的是OLT的光模块，ONU ID可以是注册在同一PON口下的ONU ID，还可以是未注册在同一PON口下的ONU ID，还可以是非真实存在的虚拟单元仅需要OLT分配一个ONU ID即可，光模块可以利用雪崩光电二极管接收ONU ID发来的光信号。

实施例一

参照图1所示，为本发明实施例提供的一种用于光模块的APD性能检测方法的步骤示意图。可以理解的是，本发明实施例提供的用于光模块的APD性能检测方法适用于包括光模块的光网络，利用检测ONU ID对光模块的APD性能进行检测，操作简单方便。该用于光模块的APD性能检测方法，包括以下步骤：

步骤10：选取至少一个ONU ID作为检测ONU ID；

光网络中现成的ONU可以与OLT的光模块进行光通信比如PON中的ONU的数量可以是多个，而光线路终端OLT中的光模块可以是一个。选取光网络中现成的ONU作为检测ONU ID，可以选取一个或者多个ONU作为检测ONU ID，为了检测简便可以在每次检测的同一时间段使用光模块对一个检测ONU ID的接入光功率进行检测，可以采用光模块在不同的时间段分别对多个检测ONU ID的接入光功率进行检测，可以提高光模块的APD性能检测结果的准确性。

检测ONU ID是作为检测光模块的APD性能的检测工具，在APD性能是否劣化的判断步骤只需要简单的逻辑判断即可完成，并且检测操作简便。

为了简便起见，选取至少一个ONU ID作为检测ONU ID的选取原则可以是任意选取已经在PON口下注册的已使用或者未在PON口下注册的空置的ONU，还可以是非真实存在的虚拟单元由OLT分配一个ONU ID即可。

步骤20：为检测ONU ID分配带宽并且带宽使能；

给检测ONU ID配置对应的传输容器T-CONT，T-CONT的ALLOC ID也是在同一个PON口下未使用过的，然后基于T-CONT为检测ONU ID分配对应的带宽并且带宽使能，检测ONU ID占用上行的时隙进行后面的检测检测。比如OLT发送触发信号到光模块，光模块获取对应检测ONU ID的接收光功率，基于该接入光功率判断是否出现光模块的APD性能劣化的情况。

步骤30：获取光模块对于检测ONU ID的接收光功率；

光网络中光模块正常运行过程中存在暗电流，可以利用暗电流检测光模块对于检测ONU ID的接收光功率来识别光模块中APD的性能是否劣化。特别是当光模块的APD性能劣化时电阻会变大，电流会变小，光模块的接收光功率也会相应改变。

接收光功率的获取可以采用其他装置进行获取，也可以在光模块得出接收光功率后发送给OLT，在OLT完成后续APD性能是否劣化的判断步骤。

步骤40：基于接收光功率判断光模块中APD的性能是否劣化。

当然APD性能是否劣化的判断步骤可以放在光模块中完成，对于出现APD性能劣化的光模块可以产生报警等警告，为了避免对光模块的改进，基于接收光功率判断光模块中APD的性能是否劣化还可以在OLT完成，在此不作限定。

判断准则可以基于行业光模块规格书中对于APD性能劣化的标准。

本发明实施例提供的用于光模块的APD性能检测方法在光网络出现异常时，人为介入启动光模块的APD性能检测操作，存在的缺陷是发现问题的时机较晚，优点是不占用光网络资源。该检测方法还可以在光网络正常运行时自动启动进行实时检测发现出现APD性能劣化的光模块可以及时报警，可以做到及时发现及时解决，缺点是需要占用部分光网络资源。实际应用中可以根据不同的检测需求进行相应的配置。

参照图2所示，在一些实施例中，步骤20：获取光模块对于检测ONU ID的接收光功率之前，本发明实施例提供的APD性能检测方法，还包括：

步骤40：触发光模块获取对于检测ONU ID的接收光功率。

光网络中的光模块在执行正常工作时不需要获取对于检测ONU ID的接收光功率，因此在获取光模块对于检测ONU ID的接收光功率之前由OLT发送触发trig信号触发光模块自己来获取对于检测ONU ID的接收光功率，因此不需要借助于其他装置来获取光模块对于检测ONU ID的接收光功率。

参照图3所示，在一些实施例中，本发明实施例提供的APD性能检测方法，步骤30：基于接收光功率判断光模块中APD的性能是否劣化，具体包括：

步骤300：若接收光功率在预设的第一阈值范围内，则确定光模块的APD的性能劣化；

获取光模块对于检测ONU ID的接收光功率后基于该接收光功率判断光模块中的APD性能是否劣化。预设的第一阈值范围为大于等于-35dBm，小于等于-5 dBm，如果接收光功率落入预设的第一阈值范围内时，则确定光模块的APD性能劣化。

预设的第一阈值范围可以根据行业光模块规格书中提到的标准进行设定。

参照图4所示，在一些实施例中，本发明实施例提供的APD性能检测方法，步骤30：基于接收光功率判断光模块中APD的性能是否劣化，具体包括：

步骤310：若接收光功率在预设的第二阈值范围内，则确定光模块的APD的性能未劣化。

预设的第二阈值范围为小于-35dBm，如果接收光功率落入预设的第二阈值范围内时，则确定光模块的APD性能未出现劣化。

同样地，预设的第二阈值范围可以根据行业光模块规格书中提到的标准和实际应用进行设定。

参照图5所示，在一些实施例中，本发明实施例提供的APD性能检测方法，至少一个ONU ID包括空置的第一ONU ID，步骤10：选取至少一个ONU ID作为检测ONU ID，具体包括：

步骤100：在第一ONU ID中选取检测ONU ID；

第一ONU ID是空置的ONU ID，并未在光网络中注册也未在光网络中启动使用，如果从第一ONU ID选取至少一个ONU ID作为检测ONU ID的话，则需要对该检测ONU ID进行相应的带宽配置和带宽使能。

查找出一个未使用的ONU ID，比如同一PON口下已注册的ONU ID的个数为50个，但该PON口可以注册128个，那么可以使用空置的78个ONU ID中的至少一个作为检测ONU ID。

从空置的第一ONU ID中选取至少一个作为检测ONU ID的好处在于整个检测过程不会影响光网络正常的运行，因此优先选用空置的第一ONU作为检测ONU ID。

下面作为一个示例详细描述本发明实施例提供的用于光模块的APD性能检测方法的步骤流程。

1.1 选取一个未使用的ONU ID

假设同一个PON口支持注册128个ONU ID，其中已使用过64个，则从未使用的64个ONUID中任意选取一个作为检测ONU ID。

1.2 给检测ONU ID分配未使用过的T-CONT，分配带宽并带宽使能；

给此检测ONU ID分配一个未使用过的ALLOC ID，并且分配带宽，建议可以使用与检测ONU ID编号相同的默认ALLOC ID，也可以使用其他的业务ALLOC ID。

1.3 发送触发信号

OLT给光模块发送接收光功率的触发信号，让光模块获取对于检测ONU ID的接收光功率。

1.4 获取光模块接收光功率数据

光模块从光模块接收光功率寄存器中计算出检测ONU ID的接收光功率值。

1.5 对接收光功率值进行对比判断

将接收光功率值分别与预设的第一阈值范围和预设的第二阈值范围进行比较。

1.6 给出光模块的APD是否劣化的结论

当接收光功率值落在预设的第一阈值范围内时则认为光模块的APD性能出现劣化；当接收光功率值落在预设的第二阈值范围内时则认为光模块的APD性能未出现劣化。

参照图6所示，在一些实施例中，本发明实施例提供的APD性能检测方法，光网络还包括已使用的第二ONU ID，步骤10：选取至少一个ONU ID作为检测ONU ID，具体包括：

步骤120：在第二ONU ID中选取检测ONU ID；

从光网络中已经使用的ONU ID中至少选取一个作为检测ONU ID，该检测ONU ID在进行检测之前作为光网络单元正常工作，因此如果当采用该类型的检测ONU ID进行检测时会对光网络产生影响，但是由于检测时间段对光网络的影响也是非常小的。

比如同一PON口下已经注册的ONU ID个数为50个，则在这50个ONU ID中选取其中一个作为检测ONU ID来检测光模块的APD性能是否劣化。

步骤130：关闭检测ONU ID的上行光信号；

OLT发送关闭指令至检测ONU ID比如PLOAM消息中的disable serial number的状态为disable，使检测ONU ID的上行光信号关闭。

对检测ONU ID的T-CONT正常分配带宽和使能，发送触发信号到光模块，光模块根据触发信号获取对应检测ONU ID的接收光功率，根据该接收光功率判断是否光模块的APD是否劣化。完成检测后发送PLOAM消息至检测ONU ID，PLOAM消息中的disable serialnumber状态为enable，恢复检测ONU ID的发送激光器发送上行光信号。

下面作为另一个示例详细描述本发明实施例提供的用于光模块的APD性能检测方法的步骤流程。

使用光网络中已使用的ONU ID

1.1 选取光网络中正在使用中的某一个ONU ID作为检测ONU ID

假设同一PON口支持注册128个ONU ID，已经注册使用过64个ONU ID，则从这64个ONUID中任意选取一个ONU ID作为检测ONU ID。

1.2 关闭ONU ID的发送激光器

OLT发送PLOAM消息至检测ONU ID，PLOAM消息中的disable serial number状态为disable，以使检测ONU ID的发送激光器不再发送上行光信号。

1.3 对检测ONU ID进行带宽分配并且带宽使能

给检测ONU ID的其中一个ALLOC ID进行有效的带宽分配（建议使用默认ALLOC ID，该默认ALLOC ID与检测ONU的编号相同），也可以使用其他的业务ALLOC ID进行带宽分配，并且带宽使能。

1.4 发送触发信号

OLT给光模块发送触发信号，以使光模块启动获取光模块对于检测ONU ID的接收光功率。

1.5 获取光模块接收光功率

光模块从光模块接收光功率寄存器计算出检测ONU ID的接收光功率值。

1.5 对接收光功率值进行对比判断

将接收光功率值分别与预设的第一阈值范围和预设的第二阈值范围进行比较。

1.6 给出光模块的APD是否劣化的结论

当接收光功率值落在预设的第一阈值范围内时则认为光模块的APD性能出现劣化；当接收光功率值落在预设的第二阈值范围内时则认为光模块的APD性能未出现劣化。

参照图7所示，在一些实施例中，在第二ONU中选取检测ONU ID的情况下，步骤30：基于接收光功率判断光模块中APD的性能是否劣化之后，本发明实施例提供的APD性能检测方法，还包括：

步骤50：恢复检测ONU ID的上行光信号。

OLT开启检测ONU ID的发送激光器，恢复检测ONU ID的上行光信号，以使ONU在光网络中正常工作。比如OLT发送PLOAM消息，其中PLOAM消息中的disable serial number状态为enable，以使此检测ONU ID的发送激光器发光恢复正常工作。

可见OLT作为控制端实现各个控制指令的发送，还可以将APD性能是否劣化的判断步骤放在OLT上进行分析得到检测结果，因此对于光模块几乎没有改进，仅是在从软件层面做了较小的改进。但是却实现了对光模块的APD性能出现劣化的情况做到早发现早解决，避免光网络整体出现问题而招致用户的投诉等恶劣影响。

通过以上分析可以看出，本发明实施例提供的用于光模块的APD性能检测方法适用于包括光模块的光网络，光模块指的是OLT的光模块，至少一个光网络单元标识ONU ID可以是真实存在的ONU ID比如与光模块注册在同一PON口下的ONU ID，也可以为非真实存在的虚拟ONU比如未注册在该PON口下的ONU ID，没有实物只要OLT分配一个ONU ID即可。为了不影响光网络的正常运行，检测ONU ID可以是未注册在同一PON口下的ONU ID，为检测ONUID分配带宽且使能后检测ONU ID占用上行的时隙检测时通过获取光模块对于检测ONU ID的接收光功率后基于该接收光功率判断光模块中APD的性能是否劣化。可以看出通过光网络本身的架构可以对光模块的APD性能实时检测，操作简单方便，并且可以及时发现并且更换出现APD性能劣化的光模块，减小APD性能劣化对光网络正常运行的影响。

实施例二

参照图7所示，为本发明实施例提供的一种用于光模块的APD性能检测装置10，适用于包括光模块的光网络，该装置包括：选取模块100、分配模块110、获取模块120和判断模块130。其中：

选取模块100，用于选取至少一个ONU ID作为检测ONU ID；

光网络中现成的ONU可以与OLT的光模块进行光通信比如PON中的ONU的数量可以是多个，而光线路终端OLT中的光模块可以是一个。选取光网络中现成的ONU作为检测ONU ID，可以选取一个或者多个ONU作为检测ONU ID，为了检测简便可以在每次检测的同一时间段使用光模块对一个检测ONU ID的接入光功率进行检测，可以采用光模块在不同的时间段分别对多个检测ONU ID的接入光功率进行检测，可以提高光模块的APD性能检测结果的准确性。

检测ONU ID是作为检测光模块的APD性能的检测工具，不需要特意搭建新的检测装置，APD性能是否劣化的判断步骤只需要简单的逻辑判断可以在OLT端完成，并且检测操作简便。

为了简便起见，从ONU中至少选取一个作为检测ONU ID的选取原则可以是任意选取已经在PON口下注册的已使用或者空置的ONU，免去将新的ONU接入光网络的流程。

分配模块110，用于为所述检测ONU ID分配带宽并且所述带宽使能；

给检测ONU ID配置对应的传输容器T-CONT，T-CONT的ALLOC ID也是在同一个PON口下未使用过的，然后基于T-CONT为检测ONU ID分配对应的带宽并且带宽使能，检测ONU ID占用上行的时隙进行后面的检测检测。比如OLT发送触发信号到光模块，光模块获取对应检测ONU ID的接收光功率，基于该接入光功率判断是否出现光模块的APD性能劣化的情况。

获取模块120，获取光模块对于检测ONU ID的接收光功率；

光网络中光模块正常运行过程中存在暗电流，可以利用暗电流检测光模块对于检测ONU ID的接收光功率来识别光模块中APD的性能是否劣化。特别是当光模块的APD性能劣化时电阻会变大，电流会变小，光模块的接收光功率也会相应改变。

接收光功率的获取可以采用其他装置进行获取，也可以在光模块得出接收光功率后发送给OLT，在OLT完成后续APD性能是否劣化的判断步骤。

判断模块130，用于基于接收光功率判断光模块中APD的性能是否劣化。

当然APD性能是否劣化的判断步骤可以放在光模块中完成，对于出现APD性能劣化的光模块可以产生报警等警告，为了避免对光模块的改进，基于接收光功率判断光模块中APD的性能是否劣化还可以在OLT完成，在此不作限定。

判断准则可以是基于行业光模块规格书中对于APD性能劣化的标准。

本发明实施例提供的用于光模块的APD性能检测方法在光网络出现异常时，人为介入启动光模块的APD性能检测操作，存在的缺陷是发现问题的时机较晚，优点是不占用光网络资源。该检测方法还可以在光网络正常运行时自动启动进行实时检测发现出现APD性能劣化的光模块可以及时报警，可以做到及时发现及时解决，缺点是需要占用部分光网络资源。实际应用中可以根据不同的检测需求进行相应的配置。

参照图8所示，本发明实施例提供的APD性能检测装置还包括触发模块140，触发模块140用于：

在获取光模块对于检测ONU ID的接收光功率之前，触发光模块获取对于检测ONU ID的接收光功率。

光网络中的光模块在执行正常工作时不需要获取对于检测ONU ID的接收光功率，因此在获取光模块对于检测ONU ID的接收光功率之前由OLT发送触发trig信号触发光模块自己来获取对于检测ONU ID的接收光功率，因此不需要借助于其他装置来获取光模块对于检测ONU ID的接收光功率，检测装置简单完全取材于光网络中的部件。

通过以上分析可以看出，本发明实施例提供的用于光模块的APD性能检测方法适用于包括光模块的光网络，光模块指的是OLT的光模块，至少一个光网络单元标识ONU ID可以是真实存在的ONU ID比如与光模块注册在同一PON口下的ONU ID，也可以为非真实存在的虚拟ONU比如未注册在该PON口下的ONU ID，没有实物只要OLT分配一个ONU ID即可。为了不影响光网络的正常运行，检测ONU ID可以是未注册在同一PON口下的ONU ID，为检测ONUID分配带宽且使能后检测ONU ID占用上行的时隙检测时通过获取光模块对于检测ONU ID的接收光功率后基于该接收光功率判断光模块中APD的性能是否劣化。可以看出通过光网络本身的架构可以对光模块的APD性能实时检测，操作简单方便，并且可以及时发现并且更换出现APD性能劣化的光模块，减小APD性能劣化对光网络正常运行的影响。

实施例三

参见图9所示，为本发明实施例提供的一种光网络1，所述光网络包括如上文所述用于光模块的APD性能检测装置10。该用于光模块的APD性能检测装置10包括：选取模块100、分配模块110、获取模块120和判断模块130。其中：

选取模块100，用于选取至少一个ONU ID作为检测ONU ID；

光网络中现成的ONU可以与OLT的光模块进行光通信比如PON中的ONU的数量可以是多个，而光线路终端OLT中的光模块可以是一个。选取光网络中现成的ONU作为检测ONU ID，可以选取一个或者多个ONU作为检测ONU ID，为了检测简便可以在每次检测的同一时间段使用光模块对一个检测ONU ID的接入光功率进行检测，可以采用光模块在不同的时间段分别对多个检测ONU ID的接入光功率进行检测，可以提高光模块的APD性能检测结果的准确性。

检测ONU ID是作为检测光模块的APD性能的检测工具，不需要特意搭建新的检测装置，APD性能是否劣化的判断步骤只需要简单的逻辑判断可以在OLT端完成，并且检测操作简便。

为了简便起见，从ONU中至少选取一个作为检测ONU ID的选取原则可以是任意选取已经在PON口下注册的已使用或者空置的ONU，免去将新的ONU接入光网络的流程。

分配模块110，用于为所述检测ONU ID分配带宽并且所述带宽使能；

给检测ONU ID配置对应的传输容器T-CONT，T-CONT的ALLOC ID也是在同一个PON口下未使用过的，然后基于T-CONT为检测ONU ID分配对应的带宽并且带宽使能，检测ONU ID占用上行的时隙进行后面的检测检测。比如OLT发送触发信号到光模块，光模块获取对应检测ONU ID的接收光功率，基于该接入光功率判断是否出现光模块的APD性能劣化的情况。

获取模块120，获取光模块对于检测ONU ID的接收光功率；

光网络中光模块正常运行过程中存在暗电流，可以利用暗电流检测光模块对于检测ONU ID的接收光功率来识别光模块中APD的性能是否劣化。特别是当光模块的APD性能劣化时电阻会变大，电流会变小，光模块的接收光功率也会相应改变。

接收光功率的获取可以采用其他装置进行获取，也可以在光模块得出接收光功率后发送给OLT，在OLT完成后续APD性能是否劣化的判断步骤。

判断模块130，用于基于接收光功率判断光模块中APD的性能是否劣化。

当然APD性能是否劣化的判断步骤可以放在光模块中完成，对于出现APD性能劣化的光模块可以产生报警等警告，为了避免对光模块的改进，基于接收光功率判断光模块中APD的性能是否劣化还可以在OLT完成，在此不作限定。

判断准则可以是基于行业光模块规格书中对于APD性能劣化的标准。

本发明实施例提供的用于光模块的APD性能检测方法在光网络出现异常时，人为介入启动光模块的APD性能检测操作，存在的缺陷是发现问题的时机较晚，优点是不占用光网络资源。该检测方法还可以在光网络正常运行时自动启动进行实时检测发现出现APD性能劣化的光模块可以及时报警，可以做到及时发现及时解决，缺点是需要占用部分光网络资源。实际应用中可以根据不同的检测需求进行相应的配置。

通过以上分析可以看出，本发明实施例提供的用于光模块的APD性能检测方法适用于包括光模块的光网络，光模块指的是OLT的光模块，至少一个光网络单元标识ONU ID可以是真实存在的ONU ID比如与光模块注册在同一PON口下的ONU ID，也可以为非真实存在的虚拟ONU比如未注册在该PON口下的ONU ID，没有实物只要OLT分配一个ONU ID即可。为了不影响光网络的正常运行，检测ONU ID可以是未注册在同一PON口下的ONU ID，为检测ONUID分配带宽且使能后检测ONU ID占用上行的时隙检测时通过获取光模块对于检测ONU ID的接收光功率后基于该接收光功率判断光模块中APD的性能是否劣化。可以看出通过光网络本身的架构可以对光模块的APD性能实时检测，操作简单方便，并且可以及时发现并且更换出现APD性能劣化的光模块，减小APD性能劣化对光网络正常运行的影响。

实施例四

本发明实施例提供的一种储存介质，用于计算机可读存储，所述存储介质存储有一个或者多个程序，所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行，以实现如图1至图7所示用于光模块的APD性能检测方法的步骤，具体可以执行以下步骤：

步骤10：选取至少一个ONU ID作为检测ONU ID；

光网络中现成的ONU可以与OLT的光模块进行光通信比如PON中的ONU的数量可以是多个，而光线路终端OLT中的光模块可以是一个。选取光网络中现成的ONU作为检测ONU ID，可以选取一个或者多个ONU作为检测ONU ID，为了检测简便可以在每次检测的同一时间段使用光模块对一个检测ONU ID的接入光功率进行检测，可以采用光模块在不同的时间段分别对多个检测ONU ID的接入光功率进行检测，可以提高光模块的APD性能检测结果的准确性。

检测ONU ID是作为检测光模块的APD性能的检测工具，在APD性能是否劣化的判断步骤只需要简单的逻辑判断即可完成，并且检测操作简便。

为了简便起见，选取至少一个ONU ID作为检测ONU ID的选取原则可以是任意选取已经在PON口下注册的已使用或者未在PON口下注册的空置的ONU，还可以是非真实存在的虚拟单元仅给出ONU ID即可。

步骤20：为检测ONU ID分配带宽并且带宽使能；

给检测ONU ID配置对应的传输容器T-CONT，T-CONT的ALLOC ID也是在同一个PON口下未使用过的，然后基于T-CONT为检测ONU ID分配对应的带宽并且带宽使能，检测ONU ID占用上行的时隙进行后面的检测检测。比如OLT发送触发信号到光模块，光模块获取对应检测ONU ID的接收光功率，基于该接入光功率判断是否出现光模块的APD性能劣化的情况。

步骤30：获取光模块对于检测ONU ID的接收光功率；

光网络中光模块正常运行过程中存在暗电流，可以利用暗电流检测光模块对于检测ONU ID的接收光功率来识别光模块中APD的性能是否劣化。特别是当光模块的APD性能劣化时电阻会变大，电流会变小，光模块的接收光功率也会相应改变。

接收光功率的获取可以采用其他装置进行获取，也可以在光模块得出接收光功率后发送给OLT，在OLT完成后续APD性能是否劣化的判断步骤。

步骤40：基于接收光功率判断光模块中APD的性能是否劣化。

当然APD性能是否劣化的判断步骤可以放在光模块中完成，对于出现APD性能劣化的光模块可以产生报警等警告，为了避免对光模块的改进，基于接收光功率判断光模块中APD的性能是否劣化还可以在OLT完成，在此不作限定。

判断准则可以基于行业光模块规格书中对于APD性能劣化的标准。

本发明实施例提供的用于光模块的APD性能检测方法在光网络出现异常时，人为介入启动光模块的APD性能检测操作，存在的缺陷是发现问题的时机较晚，优点是不占用光网络资源。该检测方法还可以在光网络正常运行时自动启动进行实时检测发现出现APD性能劣化的光模块可以及时报警，可以做到及时发现及时解决，缺点是需要占用部分光网络资源。实际应用中可以根据不同的检测需求进行相应的配置。

通过以上分析可以看出，本发明实施例提供的用于光模块的APD性能检测方法适用于包括光模块的光网络，光模块指的是OLT的光模块，至少一个光网络单元标识ONU ID可以是真实存在的ONU ID比如与光模块注册在同一PON口下的ONU ID，也可以为非真实存在的虚拟ONU比如未注册在该PON口下的ONU ID，没有实物只要OLT分配一个ONU ID即可。为了不影响光网络的正常运行，检测ONU ID可以是未注册在同一PON口下的ONU ID，为检测ONUID分配带宽且使能后检测ONU ID占用上行的时隙检测时通过获取光模块对于检测ONU ID的接收光功率后基于该接收光功率判断光模块中APD的性能是否劣化。可以看出通过光网络本身的架构可以对光模块的APD性能实时检测，操作简单方便，并且可以及时发现并且更换出现APD性能劣化的光模块，减小APD性能劣化对光网络正常运行的影响。

总之，以上所述仅为本说明书的较佳实施例而已，并非用于限定本说明书的保护范围。凡在本说明书的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本说明书的保护范围之内。

上述一个或多个实施例阐明的系统、装置、模块或单元，具体可以由计算机芯片或实体实现，或者由具有某种功能的产品来实现。一种典型的实现设备为计算机。具体的，计算机例如可以为个人计算机、膝上型计算机、蜂窝电话、相机电话、智能电话、个人数字助理、媒体播放器、导航设备、电子邮件设备、游戏控制台、平板计算机、可穿戴设备或者这些设备中的任何设备的组合。

计算机可读存储介质包括永久性和非永久性、可移动和非可移动媒体可以由任何方法或技术来实现信息存储。信息可以是计算机可读指令、数据结构、程序的模块或其他数据。计算机的存储介质的例子包括，但不限于相变内存(PRAM)、静态随机存取存储器(SRAM)、动态随机存取存储器(DRAM)、其他类型的随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、快闪记忆体或其他内存技术、只读光盘只读存储器(CD-ROM)、数字多功能光盘(DVD)或其他光学存储、磁盒式磁带，磁带磁磁盘存储或其他磁性存储设备或任何其他非传输介质，可用于存储可以被计算设备访问的信息。按照本文中的界定，计算机可读介质不包括暂存电脑可读媒体(transitory media)，如调制的数据信号和载波。

还需要说明的是，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、商品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、商品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、商品或者设备中还存在另外的相同要素。

本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其，对于系统实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

上述对本说明书特定实施例进行了描述。其它实施例在所附权利要求书的范围内。在一些情况下，在权利要求书中记载的动作或步骤可以按照不同于实施例中的顺序来执行并且仍然可以实现期望的结果。另外，在附图中描绘的过程不一定要求示出的特定顺序或者连续顺序才能实现期望的结果。在某些实施方式中，多任务处理和并行处理也是可以的或者可能是有利的。

Claims (10)

1.一种用于光模块的APD性能检测方法，适用于包括光模块的光网络，所述方法包括：

选取至少一个光网络单元标识ONU ID作为检测ONU ID；

为所述检测ONU ID分配带宽并且所述带宽使能；

获取所述光模块对于所述检测ONU ID 的接收光功率；

基于所述接收光功率判断所述光模块中APD的性能是否劣化。

2.如权利要求1所述的APD性能检测方法，获取所述光模块对于所述检测ONU ID的接收光功率之前，所述方法，还包括：

触发所述光模块获取对于所述检测ONU ID的所述接收光功率。

3.如权利要求1所述的APD性能检测方法，基于所述接收光功率判断所述光模块中APD的性能是否劣化，具体包括：

若所述接收光功率在预设的第一阈值范围内，则确定所述光模块的所述APD的性能劣化；或者，

若所述接收光功率在预设的第二阈值范围内，则确定所述光模块的所述APD的性能未劣化。

4.如权利要求1至3中任一项所述的APD性能检测方法，所述至少一个ONU ID包括空置的第一ONU ID，选取至少一个ONU ID作为检测ONU ID，具体包括：

在所述第一ONU ID中选取所述检测ONU ID。

5.如权利要求1至3中任一项所述的APD性能检测方法，所述光网络还包括已使用的第二ONU ID，选取至少一个ONU ID作为检测ONU ID，具体包括：

在所述第二ONU ID中选取所述检测ONU ID；

关闭所述检测ONU ID的上行光信号。

6.如权利要求5所述的APD性能检测方法，在所述第二ONU ID中选取所述检测ONU ID的情况下，基于所述接收光功率判断所述光模块中APD的性能是否劣化之后，所述方法，还包括：

恢复所述检测ONU ID的上行光信号。

7.一种用于光模块的APD性能检测装置，适用于包括光模块的光网络，所述装置包括：

选取模块，用于选取至少一个光网络单元标识ONU ID作为检测ONU ID；

分配模块，用于为所述检测ONU ID分配带宽并且所述带宽使能；

获取模块，获取所述光模块对于所述检测ONU ID的接收光功率；

判断模块，用于基于所述接收光功率判断所述光模块中APD的性能是否劣化。

8.如权利要求7所述的APD性能检测装置，所述装置还包括触发模块，用于：

在获取所述光模块对于所述检测ONU ID的接收光功率之前，触发所述光模块获取对于所述检测ONU ID的所述接收光功率。

9.一种光网络，所述光网络包括如权利要求7或8所述的用于光模块的APD性能检测装置。

10.一种储存介质，用于计算机可读存储，所述存储介质存储有一个或者多个程序，所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行时，实现如权利要求1至6中任一项所述的用于光模块的APD性能检测方法的步骤。

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