CN103809051A - 开关矩阵、自动测试系统及其中的开关矩阵的检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种开关矩阵、自动测试系统及其中的开关矩阵的检测方法,该开关矩阵包括一插有多个子板的插槽板,每个子板均包括一存储芯片、一判断模块以及一传输模块,该存储芯片用于记录该子板的功能信息,该判断模块用于判断该子板的继电器的线圈电压是否变化,若是,则调用该传输模块将该继电器执行操作成功的信息发送出去,若否,则调用该传输模块将该继电器执行操作失败的信息发送出去。本发明的开关矩阵中的每个子板的存储芯片均能记录子板的功能信息,并且子板能够反馈继电器的操作信息,满足了现代化测试仪器高速度、及时反馈的要求,本发明的自动测试系统还能够对开关矩阵进行检测,保证了子板输出数据的正确性。
Description
技术领域
本发明涉及一种开关矩阵、自动测试系统及其中的开关矩阵的检测方法,特别是涉及一种能够记录其中的子板的功能以及子板能够反馈继电器的操作信息的开关矩阵、一种包括该开关矩阵的自动测试系统以及一种该自动测试系统中的开关矩阵的检测方法。
背景技术
由于在目前的实际生产过程中,设备的测试效率远远低于设备的生产效率,再加上人力成本的提升,导致设备的自动测试很花费成本且效率偏低。而通过设计开关矩阵可以大大减少测试时间,同时也能很好的节省人力资源。开关矩阵主要能够实现自动化测试设备与被测电路单元之间的信息交换,由于被测单元种类繁多,被测通道数量大,导致传统的开关矩阵体积大、切换速度慢、电气性能差,并且传统的开关矩阵中的子板的功能都没有被一一记录,且子板无法及时反馈继电器的操作信息,导致信息反馈不及时,已经无法满足现代测试仪器高速、便携的要求。
发明内容
本发明要解决的技术问题是为了克服现有技术中开关矩阵切换速度慢、电气性能差,且其中的子板的功能没有被记录、子板无法及时反馈继电器的操作信息,导致信息反馈不及时的缺陷,提供一种能够记录其中的子板的功能以及子板能够反馈继电器的操作信息的开关矩阵、一种包括该开关矩阵的自动测试系统以及一种该自动测试系统中的开关矩阵的检测方法。
本发明是通过下述技术方案来解决上述技术问题的:
本发明提供了一种开关矩阵,其特点在于,其包括一插有多个子板的插槽板,每个子板均包括一存储芯片、一判断模块以及一传输模块,该存储芯片用于记录该子板的功能信息,该判断模块用于判断该子板的继电器的线圈电压是否变化,若是,则调用该传输模块将该继电器执行操作成功的信息发送出去,若否,则调用该传输模块将该继电器执行操作失败的信息发送出去。
本发明的开关矩阵中的每个子板的存储芯片均能记录子板的功能信息,如额定电压、额定电流的大小,触点类型是常开还是常闭以及子板的通道数,进而就能根据这些功能信息判断出每个子板的功能。
并且,当有外部指令控制子板中的继电器执行操作时,该判断模块还能够通过判断该子板的继电器的线圈电压是否变化,若变化,则说明该继电器执行操作成功,进而就调用该传输模块将该继电器执行操作成功的信息发送出去进行反馈,若不变化,则说明该继电器没有动作,即执行操作失败,此时就调用该传输模块将该继电器执行操作失败的信息发送出去进行反馈。从而能够及时反馈信息,满足了现代化测试仪器高速度、及时反馈的要求。
较佳地,该存储芯片为EEPROM(电可擦可编程只读存储器)芯片。
较佳地,该子板的功能信息包括该子板的额定电压、额定电流、继电器的触点类型以及该子板的通道数。
本发明还提供了一种自动测试系统,其特点在于,其包括一上位机以及一下位机,该下位机包括一个上述的开关矩阵以及一MCU(微控制单元)控制板,该上位机与该开关矩阵之间通过该MCU控制板进行通信,该上位机用于发送一地址获取指令至该开关矩阵中的每个子板,该开关矩阵中的每个子板均用于将各自的地址发送至该上位机,该上位机还用于在接收到地址后发送一功能确定指令至每个子板,每个子板均用于将各自的功能信息发送至该上位机,该上位机在接收到功能信息后将一设置信息发送至一目标子板,以将该目标子板设置为具有输入数据的功能或输出数据的功能,该上位机还用于接收该目标子板的传输模块发送的信息,以对该目标子板的继电器的执行操作进行检测。
其中的每个子板都具有一个唯一的地址,因此该上位机就能够发送特定的地址来选择对应的特定的子板。
其中上位机可以采用VC(一种开发工具,具有集成开发环境,可提供编程语言)编程,并发送数据控制该MCU控制板,该MCU控制板解析数据,进而传输给该开关矩阵,达到控制该开关矩阵的目的。
该开关矩阵则接收由该上位机发送的数据,并解析数据,然后控制其中的子板进行信息反馈的操作,以实现对该开关矩阵的检测。
较佳地,该上位机为一PC机(个人计算机)。
较佳地,该上位机与该MCU控制板之间通过RS232接口(个人计算机上的通讯接口之一,由电子工业协会制定的异步标准传输接口)进行通信,该MCU控制板与该开关矩阵之间通过I2C总线(一种两线式串行总线,用于连接微控制器及其外围设备)进行通信。
本发明还提供了一种上述的自动测试系统中的开关矩阵的检测方法,其特点在于,其包括以下步骤:
S1、该上位机发送该地址获取指令至该开关矩阵中的每个子板;
S2、该开关矩阵中的每个子板均将各自的地址发送至该上位机;
S3、该上位机发送该功能确定指令至每个子板;
S4、每个子板均将各自的功能信息发送至该上位机;
S5、该上位机将该设置信息发送至该目标子板,以将该目标子板设置为具有输入数据的功能或输出数据的功能;
S6、该上位机接收该目标子板的传输模块发送的信息,以对该目标子板的继电器的执行操作进行检测。
较佳地,该上位机为一PC机。
本发明的积极进步效果在于:本发明的开关矩阵中的每个子板的存储芯片均能记录子板的功能信息,并且子板能够反馈继电器的操作信息,满足了现代化测试仪器高速度、及时反馈的要求,本发明的自动测试系统还能够对开关矩阵进行检测,保证了子板输出数据的正确性。
附图说明
图1为本发明的一较佳实施例的开关矩阵的结构图。
图2为本发明的一较佳实施例的自动测试系统的结构图。
图3为本发明的一较佳实施例的自动测试系统中的开关矩阵的检测方法的流程图。
具体实施方式
下面结合附图给出本发明较佳实施例,以详细说明本发明的技术方案。
如图1所示,本发明的开关矩阵包括一插槽板1,该插槽板1中插有多个子板2,其中每个子板2均包括一EEPROM芯片21、一判断模块22以及一传输模块23。
该EEPROM芯片21能够记录该子板2的功能信息,具体包括额定电压、额定电流的大小,触点类型是常开还是常闭以及子板2的通道数,进而就能根据这些功能信息判断出每个子板2的功能。
并且,当有外部指令控制子板2中的继电器执行操作时,该判断模块22还能够通过判断该子板2的继电器的线圈电压是否变化,若变化,则说明该继电器执行操作成功,进而就调用该传输模块23将该继电器执行操作成功的信息发送出去进行反馈,若不变化,则说明该继电器没有动作,即执行操作失败,此时就调用该传输模块23将该继电器执行操作失败的信息发送出去进行反馈。从而能够及时反馈信息,满足了现代化测试仪器高速度、及时反馈的要求。
如图2所示,本发明的自动测试系统则包括一PC机3、一MCU控制板4以及该开关矩阵,其中该PC机3为该自动测试系统中的上位机,该MCU控制板4与该开关矩阵则组成该自动测试系统中的下位机。
该PC机3与该开关矩阵之间通过该MCU控制板4进行通信,该PC机3首先发送一地址获取指令至该开关矩阵中的每个子板2,该开关矩阵中的每个子板2在接收到该地址获取指令之后均将各自的地址发送至该PC机3,接着,该PC机3还在接收到地址后根据地址发送一功能确定指令至每个子板2,每个子板2在接收到该功能确定指令后均将各自的功能信息发送至该PC机3。
之后,该PC机3在接收到功能信息后根据地址将一设置信息发送至一目标子板2,以将该目标子板2设置为具有输入数据的功能或输出数据的功能,该PC机3最后还接收该目标子板2的传输模块23发送的信息,以对该目标子板2的继电器的执行操作进行检测。若接收到的是该继电器执行操作成功的信息,则表明该继电器正常工作,执行操作成功,若接收到的是该继电器执行操作失败的信息,则表明该继电器工作异常,执行操作失败。
其中,该PC机3与该MCU控制板4之间通过RS232接口进行通信,而该MCU控制板4与该开关矩阵之间则通过I2C总线进行通信。并且,该PC机3可以采用VC编程,并发送数据控制该MCU控制板4,该MCU控制板4解析数据,进而传输给该开关矩阵,达到控制该开关矩阵的目的。
该开关矩阵则接收由该PC机3发送的数据,并解析数据,然后控制其中的子板2进行信息反馈的操作,以实现对该开关矩阵的检测。而在具体检测时,每个子板2上的所有继电器检测完毕后,在进行下一个子板2的检测之间之前,都需要将检测完的子板2进行复位,同样在所有的子板2均检测完毕后,需要将整个开关矩阵复位。
如图3所示,本发明对自动测试系统中的开关矩阵的检测方法包括以下步骤:
步骤100、该PC机3发送该地址获取指令至该开关矩阵中的每个子板2。
步骤101、该开关矩阵中的每个子板2均将各自的地址发送至该PC机3。
步骤102、该PC机3发送该功能确定指令至每个子板2。
步骤103、每个子板2均将各自的功能信息发送至该PC机3。
步骤104、该PC机3将该设置信息发送至该目标子板2,以将该目标子板2设置为具有输入数据的功能或输出数据的功能。
步骤105、该PC机3接收该目标子板2的传输模块发送的信息,以对该目标子板2的继电器的执行操作进行检测。
而在具体的检测过程中,下位机的发送和接收数据的部分程序列出如下:
虽然以上描述了本发明的具体实施方式,但是本领域的技术人员应当理解,这些仅是举例说明,本发明的保护范围是由所附权利要求书限定的。本领域的技术人员在不背离本发明的原理和实质的前提下,可以对这些实施方式做出多种变更或修改,但这些变更和修改均落入本发明的保护范围。
Claims (8)
1.一种开关矩阵,其特征在于,其包括一插有多个子板的插槽板,每个子板均包括一存储芯片、一判断模块以及一传输模块,该存储芯片用于记录该子板的功能信息,该判断模块用于判断该子板的继电器的线圈电压是否变化,若是,则调用该传输模块将该继电器执行操作成功的信息发送出去,若否,则调用该传输模块将该继电器执行操作失败的信息发送出去。
2.如权利要求1所述的开关矩阵,其特征在于,该存储芯片为EEPROM芯片。
3.如权利要求2所述的开关矩阵,其特征在于,该子板的功能信息包括该子板的额定电压、额定电流、继电器的触点类型以及该子板的通道数。
4.一种自动测试系统,其特征在于,其包括一上位机以及一下位机,该下位机包括一个如权利要求1所述的开关矩阵以及一MCU控制板,该上位机与该开关矩阵之间通过该MCU控制板进行通信,该上位机用于发送一地址获取指令至该开关矩阵中的每个子板,该开关矩阵中的每个子板均用于将各自的地址发送至该上位机,该上位机还用于在接收到地址后发送一功能确定指令至每个子板,每个子板均用于将各自的功能信息发送至该上位机,该上位机在接收到功能信息后将一设置信息发送至一目标子板,以将该目标子板设置为具有输入数据的功能或输出数据的功能,该上位机还用于接收该目标子板的传输模块发送的信息,以对该目标子板的继电器的执行操作进行检测。
5.如权利要求4所述的自动测试系统,其特征在于,该上位机为一PC机。
6.如权利要求5所述的自动测试系统,其特征在于,该上位机与该MCU控制板之间通过RS232接口进行通信,该MCU控制板与该开关矩阵之间通过I2C总线进行通信。
7.一种如权利要求4所述的自动测试系统中的开关矩阵的检测方法,其特征在于,其包括以下步骤:
S1、该上位机发送该地址获取指令至该开关矩阵中的每个子板;
S2、该开关矩阵中的每个子板均将各自的地址发送至该上位机;
S3、该上位机发送该功能确定指令至每个子板;
S4、每个子板均将各自的功能信息发送至该上位机;
S5、该上位机将该设置信息发送至该目标子板,以将该目标子板设置为具有输入数据的功能或输出数据的功能;
S6、该上位机接收该目标子板的传输模块发送的信息,以对该目标子板的继电器的执行操作进行检测。
8.如权利要求7所述的检测方法,其特征在于,该上位机为一PC机。
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---|---|
CN (1) | CN103809051B (zh) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104502836A (zh) * | 2014-11-30 | 2015-04-08 | 中国计量学院 | 适用于扫描开关内部继电器的阵列式状态检测电路 |
CN106932714A (zh) * | 2017-02-28 | 2017-07-07 | 中国人民解放军空军工程大学 | 飞机电气盒综合检测系统及检测方法 |
CN108447525A (zh) * | 2018-03-27 | 2018-08-24 | 江苏卡欧万泓电子有限公司 | 一种eeprom写次数可靠检测方法 |
CN110456185A (zh) * | 2019-07-19 | 2019-11-15 | 成都承芯科技有限公司 | 电子钥匙测试系统及测试方法 |
CN110824279A (zh) * | 2019-11-15 | 2020-02-21 | 上海思源弘瑞自动化有限公司 | 继电保护装置自动测试系统和方法 |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61288436A (ja) * | 1985-06-17 | 1986-12-18 | Hitachi Ltd | スイツチング・マトリクス構造体 |
CN101281232A (zh) * | 2008-05-22 | 2008-10-08 | 株洲南车时代电气股份有限公司 | 机车通用电路板功能测试系统和方法 |
CN101373198A (zh) * | 2007-08-20 | 2009-02-25 | 电信科学技术第五研究所 | 电缆测试总线及开关矩阵电路 |
CN201812009U (zh) * | 2010-09-29 | 2011-04-27 | 美泰普斯光电科技(大连)有限公司 | 基于电磁继电器开关的功能测试仪 |
CN102096036A (zh) * | 2010-12-03 | 2011-06-15 | 华东光电集成器件研究所 | 一种集成三极管阵列电路测试装置 |
CN202041623U (zh) * | 2011-04-27 | 2011-11-16 | 北京航天光华电子技术有限公司 | 电磁继电器测试仪 |
US20110316544A1 (en) * | 2010-06-29 | 2011-12-29 | Marcos Kirsch | Relay test system and method |
CN202111685U (zh) * | 2011-05-23 | 2012-01-11 | 博世汽车部件(苏州)有限公司 | 可扩展的开关矩阵板 |
CN102495554A (zh) * | 2011-11-22 | 2012-06-13 | 苏州凌创电子科技有限公司 | 一种程控矩阵开关及其制造方法 |
-
2012
- 2012-11-13 CN CN201210455167.8A patent/CN103809051B/zh active Active
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61288436A (ja) * | 1985-06-17 | 1986-12-18 | Hitachi Ltd | スイツチング・マトリクス構造体 |
CN101373198A (zh) * | 2007-08-20 | 2009-02-25 | 电信科学技术第五研究所 | 电缆测试总线及开关矩阵电路 |
CN101281232A (zh) * | 2008-05-22 | 2008-10-08 | 株洲南车时代电气股份有限公司 | 机车通用电路板功能测试系统和方法 |
US20110316544A1 (en) * | 2010-06-29 | 2011-12-29 | Marcos Kirsch | Relay test system and method |
CN201812009U (zh) * | 2010-09-29 | 2011-04-27 | 美泰普斯光电科技(大连)有限公司 | 基于电磁继电器开关的功能测试仪 |
CN102096036A (zh) * | 2010-12-03 | 2011-06-15 | 华东光电集成器件研究所 | 一种集成三极管阵列电路测试装置 |
CN202041623U (zh) * | 2011-04-27 | 2011-11-16 | 北京航天光华电子技术有限公司 | 电磁继电器测试仪 |
CN202111685U (zh) * | 2011-05-23 | 2012-01-11 | 博世汽车部件(苏州)有限公司 | 可扩展的开关矩阵板 |
CN102495554A (zh) * | 2011-11-22 | 2012-06-13 | 苏州凌创电子科技有限公司 | 一种程控矩阵开关及其制造方法 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
李汉军等: "可自检的程控开关矩阵设计", 《测量与设备》 * |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104502836A (zh) * | 2014-11-30 | 2015-04-08 | 中国计量学院 | 适用于扫描开关内部继电器的阵列式状态检测电路 |
CN104502836B (zh) * | 2014-11-30 | 2017-04-19 | 中国计量学院 | 适用于扫描开关内部继电器的阵列式状态检测电路 |
CN106932714A (zh) * | 2017-02-28 | 2017-07-07 | 中国人民解放军空军工程大学 | 飞机电气盒综合检测系统及检测方法 |
CN106932714B (zh) * | 2017-02-28 | 2019-05-10 | 中国人民解放军空军工程大学 | 飞机电气盒综合检测系统及检测方法 |
CN108447525A (zh) * | 2018-03-27 | 2018-08-24 | 江苏卡欧万泓电子有限公司 | 一种eeprom写次数可靠检测方法 |
CN110456185A (zh) * | 2019-07-19 | 2019-11-15 | 成都承芯科技有限公司 | 电子钥匙测试系统及测试方法 |
CN110824279A (zh) * | 2019-11-15 | 2020-02-21 | 上海思源弘瑞自动化有限公司 | 继电保护装置自动测试系统和方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN103809051B (zh) | 2017-11-03 |
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