CN101354673B - 内存之spd芯片错误信息仿真装置 - Google Patents
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Abstract
一种内存之SPD芯片错误信息仿真装置，其用以转接该内存至待测电脑主机板之内存插槽上，其包括若干存储器，该些存储器的时钟输入引脚皆与该内存之SPD时钟输入引脚电性连接；该仿真装置还包括多路切换开关及I2C接口，该多路切换开关一端分别连接该些存储器的数据输入/输出引脚以及该内存的SPD数据输入/输出引脚，该多路切换开关另一端皆电性连接至该内存插槽之SPD数据输入/输出引脚、以及该I2C接口之数据引脚；该仿真装置还包括信号转接电路，该信号转接电路一一电性接通该内存和该内存插槽所对应的除SPD数据输入/输出引脚之外的其它引脚。本发明无须从SPD芯片的引脚焊接信号线以进行数据的读取和修改，从而可防止造成对内存电路板以及SPD芯片的毁损。
Description
技术领域
本发明是有关于一种仿真装置，且特别是有关于一种内存之SPD芯片错误信息仿真装置。
背景技术
内存PCB(Printed Circuit Board，印刷电路板)边上还有一颗体积较小(大约为3mm×4mm×1.5mm)的芯片，这就是SPD(Serial Presence Detect，串行存在探测)芯片，其是一颗8针的EEPROM(Electrically ErasableProgrammable ROM，电可擦写可编程只读存储器)，里面主要保存了该内存的相关数据，如容量、芯片厂商、内存模块厂商、工作速度等。SPD的内容一般由内存模块制造商写入，支持SPD的主板在启动时自动检测SPD中的数据，并以此设定内存的工作参数。电脑启动后，主板BIOS就会直接去读取SPD中的信息，主板北桥芯片组就会根据这些参数信息来自动配置相应的内存工作时序与控制寄存器，从而可以充分发挥内存条的性能。当主板从内存中不能检测到SPD信息时，它就只能提供一个较为保守的配置。如果SPD内的参数值设置得不合理，不但不能起到优化内存的作用，反而还会引起系统工作不稳定，甚至死机。因此，很多普通内存或兼容内存厂商为了避免兼容性问题，一般都将SPD中的内存工作参数设置得较为保守，从而限制了内存性能的充分发挥。更有甚者，一些不法厂商通过专门的读写设备去更改SPD信息，以骗过电脑的检测，得出与实际不一致的数据，从而欺骗消费者。
因此，需要验证电脑主机板对内存的错误侦测与回复功能是否正常，然而进行该种验证需要对内存之SPD芯片进行如容量、速度等内存数据进行修改，使其数据与原始内存模块(DDR2)不同，再将内存模块(DDR2)插至主机板开机进行验证，而此动作，需从内存模块(DDR2)上之EEPROM焊接相关信号线出来以I2C(Inter-IC)接口进行数据读出，进行数据修改后再次写入，不但耗时、耗工、需反复焊接及解焊外接线路，且常因焊接不良或数据写入读出时突然的断电及其它不可预期的错误，而造成内存模块(DDR2)的本身毁损，非常不便利。
发明内容
有鉴于此，本发明的目的就是在提供一种内存之SPD芯片错误信息仿真装置，其可替代该SPD芯片提供给待测电脑主机板多种不同之错误信息，从而可避免修改SPD芯片存储的信息带来的种种弊端。
为达成上述目的，本发明采用如下技术方案：一种内存之SPD芯片错误信息仿真装置，用以转接该内存至待测电脑主机板之内存插槽上，该仿真装置包括若干存储器，该些存储器及该SPD芯片皆是相同的八针之电可擦写可编程只读存储器，该些存储器的时钟输入引脚皆与该内存之SPD时钟输入引脚电性连接；该仿真装置还包括一多路切换开关以及一I2C接口，该多路切换开关一端分别连接该些存储器的数据输入/输出引脚以及该内存的SPD数据输入/输出引脚，该多路切换开关另一端皆电性连接至该主机板内存插槽之SPD数据输入/输出引脚、以及该I2C接口之数据引脚；该仿真装置还包括一信号转接电路，除了该内存和该内存插槽的SPD数据输入/输出引脚，该信号转接电路一一电性接通该内存和该内存插槽所对应的其它引脚。
较之常规技术，本发明通过设置该内存之SPD芯片错误信息仿真装置，无须从SPD芯片的引脚焊接信号线以对该SPD芯片进行数据的读取和修改，从而可防止造成对内存电路板以及SPD芯片的毁损，并且该仿真装置可提供多组错误信息给待测电脑主机板以进行相应测试，无须重复对该SPD芯片进行数据的修改，大大节约了测试步骤与时间。
附图说明
图1为本发明内存之SPD芯片错误信息仿真装置的电路示意图。
具体实施方式
为详细说明本发明的技术内容、构造特征，以下结合实施方式并配合附图详细予以说明。
如图1所示，本发明内存之SPD芯片错误信息仿真装置1000用于替代内存之SPD芯片(图中未示)以提供给待测电脑主机板错误信息，从而测试该待测电脑主机板针对SPD芯片错误信息的侦测与回复功能，该仿真装置1000可转接该内存至待测电脑主机板之内存插槽上(图中未示)，该仿真装置1000包括四存储器1100，该四存储器1100以及该内存之SPD芯片皆为相同的八针之电可擦写可编程只读存储器，于本实施方式中，该些存储器1100皆选用AT34C02，该四存储器1100之时钟输入引脚SCL与该内存之SPD时钟输入引脚M_SCL电性连接。
该仿真装置1000还包括一多路切换开关1200以及一I2C接口1300，该多路切换开关1200是一五进五出之切换开关，该多路切换开关1200一端之五个接口分别连接该内存之SPD数据输入/输出引脚M_SDA12以及该四存储器1100之数据输入/输出引脚SDA，该多路切换开关1200另一端对应之五个接口皆电性连接至该内存插槽之SPD数据输入/输出引脚M_SDA11、以及该I2C接口之数据引脚，另外，该I2C接口之时钟引脚还连接该四存储器1100之时钟输入引脚SCL。
该仿真装置1000还包括一信号转接电路(图中未示)，除了该内存之SPD数据输入/输出引脚M_SDA12和该内存插槽之SPD数据输入/输出引脚M_SDA11外，该信号转接电路一一电性接通该内存和该内存插槽所对应的其它引脚。
如此，当需要测试待测电脑主机板针对该内存之SPD芯片提供错误信息的侦测与回复功能时，首先将该内存插在该仿真装置1000上；接着将该多路切换开关1200接通该I2C接口1300之数据引脚与该内存之SPD数据输入/输出引脚M_SDA12，通过该I2C接口1300与另一台电脑连接，从而通过该I2C接口1300，该台电脑可读取该内存之SPD芯片存储的信息码，该信息码主要是该内存的相关数据，如容量、芯片厂商、内存模块厂商、工作速度等，进而可在该台电脑上修改该些数据，例如，该内存容量256MByte、速度533MHz时，可改为容量为512M Byte或1G Byte、速度为667MHz等多笔数据；然后再在该多路切换开关1200上切断该I2C接口1300之数据引脚与该内存之SPD数据输入/输出引脚M_SDA12之间的连接，并接通该I2C接口1300之数据引脚与其中一存储器1100之数据输入/输出引脚SDA；再接下来，即可通过该I2C接口1300，将修改过的SPD芯片存储的信息码存储在其中之一存储器1100上；之后，断开该台电脑与该I2C接口1300的连接，并将该仿真装置1000插入该待测电脑主机板之内存插槽中，如此，该其中一存储器1100之数据输入/输出引脚SDA将连接该内存插槽之SPD数据输入/输出引脚M_SDA11，启动该待测电脑，该存储器1100存储的经修改过的内存之SPD芯片信息码将传送至该待测电脑主机板中，从而即可测试。
当然，于本实施方式中，还可以将另外三个存储器1100也存储不同的经过修改的SPD芯片信息码，从而在测试过程中，通过该多路切换开关1200的切换选择，共可提供该待测电脑主机板四组不同的错误信息，从而可以更好的测试该待测电脑主机板针对内存SPD芯片提供错误信息的侦测与回复功能。
以上所述仅为本发明的较佳可行实施例，并非因此即局限本发明的专利范围，故凡是运用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变化，均包含于本发明的保护范围内。
Claims (4)
1.一种内存之SPD芯片错误信息仿真装置，用以转接该内存至待测电脑主机板之内存插槽上，其特征是，该仿真装置包括：
四存储器，该些存储器的时钟输入引脚皆与该内存之SPD时钟输入引脚电性连接；
一多路切换开关，该多路切换开关一端分别连接该些存储器的数据输入/输出引脚以及该内存的SPD数据输入/输出引脚，该多路切换开关另一端皆电性连接至该主机板内存插槽之SPD数据输入/输出引脚；
一I2C接口，该多路切换开关之另一端还电性连接该I2C接口之数据引脚，该I2C接口之时钟引脚还连接该些存储器的时钟输入引脚；
一信号转接电路，该信号转接电路一一电性接通该内存和该内存插槽所对应的除SPD数据输入/输出引脚之外的其它引脚。
2.根据权利要求1所述的内存之SPD芯片错误信息仿真装置，其特征是，该些存储器及该SPD芯片皆是相同的八针之电可擦写可编程只读存储器。
3.根据权利要求1所述的内存之SPD芯片错误信息仿真装置，其特征是，所述存储器选用AT34CO2。
4.根据权利要求1所述的内存之SPD芯片错误信息仿真装置，其特征是，所述多路切换开关是一五进五出之切换开关。
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