[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

CN103674496B - 光源发光特性检测装置 - Google Patents

光源发光特性检测装置 Download PDF

Info

Publication number
CN103674496B
CN103674496B CN201310718047.7A CN201310718047A CN103674496B CN 103674496 B CN103674496 B CN 103674496B CN 201310718047 A CN201310718047 A CN 201310718047A CN 103674496 B CN103674496 B CN 103674496B
Authority
CN
China
Prior art keywords
light source
coverboard
detent mechanism
detection device
reflector plate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201310718047.7A
Other languages
English (en)
Other versions
CN103674496A (zh
Inventor
吕金库
唐蓉
郭俊杰
王丹
邹斌
浩育涛
赵洪宇
张乾
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
BOE Technology Group Co Ltd
Beijing BOE Display Technology Co Ltd
Original Assignee
BOE Technology Group Co Ltd
Beijing BOE Display Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by BOE Technology Group Co Ltd, Beijing BOE Display Technology Co Ltd filed Critical BOE Technology Group Co Ltd
Priority to CN201310718047.7A priority Critical patent/CN103674496B/zh
Publication of CN103674496A publication Critical patent/CN103674496A/zh
Priority to US14/412,915 priority patent/US10274761B2/en
Priority to PCT/CN2014/078572 priority patent/WO2015096383A1/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN103674496B publication Critical patent/CN103674496B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306Details
    • G02F1/1309Repairing; Testing
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02Details
    • G01J1/0223Sample holders for photometry
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J2001/4247Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors for testing lamps or other light sources
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J2001/4247Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors for testing lamps or other light sources
    • G01J2001/4252Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors for testing lamps or other light sources for testing LED's
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/46Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters
    • G01J3/50Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters using electric radiation detectors
    • G01J3/505Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters using electric radiation detectors measuring the colour produced by lighting fixtures other than screens, monitors, displays or CRTs
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2320/00Control of display operating conditions
    • G09G2320/06Adjustment of display parameters
    • G09G2320/0693Calibration of display systems

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Planar Illumination Modules (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

本发明涉及显示技术领域,具体涉及一种光源发光特性检测装置。该光源发光特性检测装置包括:用于固定光源的定位机构;以及,用于采集所述光源出射光参数的检测设备。本发明所提供的光源发光特性检测装置,通过设置用于固定光源定位机构以及用于采集所述光源出射光参数的检测设备,从而能够针对光源进行发光特性检测,进而帮助选择出显示模组所需光源的色度以及亮度等级,实现了缩短液晶显示器研发制作周期的目的。

Description

光源发光特性检测装置
技术领域
本发明涉及显示技术领域,具体涉及一种光源发光特性检测装置。
背景技术
薄膜晶体管液晶显示器(ThinFilmTransistor-LiquidCrystalDisplay,TFT-LCD)由于具有画面稳定、图像逼真、消除辐射、节省空间以及节省能耗等优点,被广泛应用于电视、手机、显示器等电子产品中,已占据了平面显示领域的主导地位。
由于液晶显示面板本身不发光,需要背光模组为其提供光源。目前背光模组的主要构成组件包括灯条、反射片、导光板、光学膜材、胶框以及背板等;由于LED(Light-EmittingDiode,发光二极管)灯条具有体积小、工作电压低、工作电流小、发光均匀稳定、响应速度快、以及使用寿命长等优点,现有技术中背光模组通常选用LED灯条;LED灯条由多个LED光源排布成一定的图案形成。
在液晶显示器的生产过程中,在各个生产阶段要进行很多次测试,例如对于显示模组白平衡的测试就是其中一种。显示模组白平衡在很大程度上由背光模组中的光源的光谱决定。以LED灯条为例,每种类型LED灯条发出的不同的光谱,因此需要选择出所需类型的LED灯条。现有技术中通常利用制作完成的LED灯条进行测试,主要检测LED灯条的光谱特性,从而选取出所需色度以及亮度等级的LED灯条。
然而,现有技术中LED灯条的制作周期较长,通常为1~2周,而且由于需要选择不同的LED灯条进行重新测试,这样极易导致整个液晶显示器研发制作周期的延长;因此,如果可以利用LED光源进行白平衡测试,进而帮助选择出显示模组所需LED灯条的色度以及亮度等级,则可以在一定程度上缩短液晶显示器的研发制作周期。
发明内容
(一)要解决的技术问题
本发明的目的在于提供一种能够针对光源进行发光特性检测的检测装置。
(二)技术方案
本发明技术方案如下:
一种光源发光特性检测装置,包括:
用于固定光源的定位机构;
以及,
用于采集所述光源出射光参数的检测设备。
优选的,还包括壳板,所述定位机构设置在所述壳板上。
优选的,所述定位机构包括固定在所述壳板上的定位块。
优选的,所述定位机构还包括与所述定位块连接的缓冲单元。
优选的,所述缓冲单元包括一端与所述定位块连接的弹簧以及与所述弹簧另一端连接的挡块。
优选的,所述壳板上还覆盖有反射片;所述光源的发光部分位于所述反射片上方。
优选的,还包括设置在所述光源上方的光学膜材。
优选的,所述光学膜材包括棱镜膜和扩散膜中的一种或者多种。
优选的,所述光学膜材与所述壳板形成闭合空间,所述LED光源位于所述闭合空间内。
优选的,还包括位于所所述闭合空间外部的供电设备,所述供电设备通过引线与所述光源连接。
(三)有益效果
本发明实施方式所提供的光源发光特性检测装置,通过设置用于固定光源定位机构以及用于采集所述光源出射光参数的检测设备,从而能够针对光源进行发光特性检测,进而帮助选择出显示模组所需光源的色度以及亮度等级,实现了缩短液晶显示器研发制作周期的目的。
附图说明
图1是本发明实施例中光源发光特性检测装置的俯视结构示意图;
图2是本发明实施例中光源发光特性检测装置的侧视结构示意图。
图中:1:壳板;2:LED光源;21:基座;22:发光部分;3:定位块;4:弹簧;5:挡块;6:反射片;7:光学膜材。
具体实施方式
下面结合附图和实施例,对本发明的具体实施方式做进一步描述。以下实施例仅用于说明本发明,但不用来限制本发明的范围。
本发明实施方式所提供的光源发光特性检测装置主要包括:定位机构以及检测设备;当然,还可以包括诸如供电设备等部分;其中,定位机构主要用于固定光源,供电设备主要用于为光源提供电源,检测设备主要用于采集光源出射光参数;通过定位机构将光源固定,通过供电设备为光源提供电源,光源开始发光,通过检测设备采集光源出射光参数,从而实现了针对光源进行发光特性检测,并且,尤其适用于对少量光源,例如单颗光源进行发光特性检测,进而帮助选择出显示模组所需光源的色度以及亮度等级,达到了缩短液晶显示器研发制作周期的目的。下面结合图1以及图2对本发明所提供的光源发光特性检测装置加以详细说明。
本实施例中以现有技术中常用的LED光源作为光源为例说明;如图1以及图2中所示,本实施例中的LED光源2包括基座21以及设置在基座21上方的发光部分22;基座21主要包括PCB(PrintedCircuitBoard,印制电路板),发光部分22主要包括LED芯片,其直接形成在上述PCB上;光源发光特性检测装置还包括呈盒装的壳板1,用于对其他组件进行定位或者固定;壳板1的材质优选为高强度的金属材质,例如可以由优质不锈钢冲压形成。本实施例中的定位机构可以有多种实现方式,例如,可以在壳板1上设置两个相对的定位块3;利用两个定位块3直接对LED光源2进行定位;但是这样一方面可能会对LED光源2造成损伤,另一方面,也不能很好的同时适用于对各种大小不一的LED光源2进行定位;因此,本实施例中的定位机构还包括与定位块3连接的缓冲单元,通过缓冲单元的缓冲作用,避免了对LED光源2造成损伤的可能,同时,可以同时适用于对多种大小不一的LED光源2进行定位;本实施例中提供了一种具体的缓冲单元实现方式,如图1以及图2中所示,该缓冲单元包括弹簧4和挡块5,弹簧4的一端与定位块3连接,弹簧4的另一端与挡块5连接,利用弹簧4的伸缩特性,避免了对LED光源2造成损伤的可能,并且,可以同时适用于对多种大小不一的LED光源2进行定位。
本实施例中还在壳板1上还覆盖有反射片6,利用反射片6将从LED光源2出射的光线反射出去,从而避免LED光源2发光亮度的损失。反射片6可以直接设置在壳板1上,然后将整个LED光源2设置在反射片6上方,但是这样,由于LED光源2的基座21不能很好的对光线进行反射,因此仍然可能有部分亮度的损失;本实施例中,是在反射片6上开设与LED光源2发光部分22形状及位置适配的通孔,反射片6覆盖在壳板1以及LED光源2的基座21上,LED光源2的发光部分22露出上述通孔,从而在最大程度上避免了LED光源2亮度的损失。
为了使LED光源2出射的光线更加均匀以及亮度表现更好,本实施例中的光源发光特性检测装置还包括设置在LED光源2上方的光学膜材7,利用光学膜材7改变出射光线的方向以及增强出射光线的光强;优选的,上述光学膜材7与实际显示装置中背光模组的光学膜材设置相同。例如,本实施例中的光学膜材7包括棱镜膜(又称棱镜片)以及扩散膜(又称扩散片或者扩散板)中的一种或者多种;棱镜膜可将光线聚集在法线方向,从而提升正面亮度以及辉度表现,进而达到增亮、节能省电的目的;扩散膜主要功能是将出射的光线做散射处理以达到雾化的效果,使出射的光线更加均匀柔和;并且,可以利用两张棱镜膜或者两张扩散膜搭配使用,以达到对出射光线更好的优化效果。
如图2中所示,光学膜材7与壳板1形成闭合空间,LED光源2位于闭合空间内,这样可以最大程度上避免LED光源2出射光线的逸散;同时,闭合空间杜绝了外界环境光掺杂入LED光源2出射的光线中,减小了检测误差,使检测结果更加可靠;同时,在实际测试时,测试环境优选为暗室,这样可以在最大程度上减少环境光的影响,增强检测结果的准确性。
本实施例中的供电设备位于上述闭合空间外部,通过引线与LED光源连接,从而避免供电设备对LED光源出射光造成影响。
在显示模组白平衡测试中LED光源的光谱参数最为主要,光谱是复色光经过色散系统(如棱镜、光栅)分光后,被色散开的单色光按波长(或频率)大小而依次排列的图案;因此,本实施例中的检测设备优选使用平板光谱检测仪;当然,也可以利用其他类型的检测设备对LED光源的其他发光特性参数进行测定。
综上所述,本实施例中所提供的光源发光特性检测装置可以方便快捷的对光源进行发光特性检测,并且尤其适用于对单颗光源进行发光特性检测,进而帮助选择出显示模组所需光源的色度以及亮度等级,实现了缩短液晶显示器研发制作周期的目的。
以上实施方式仅用于说明本发明,而并非对本发明的限制,有关技术领域的普通技术人员,在不脱离本发明的精神和范围的情况下,还可以做出各种变化和变型,因此所有等同的技术方案也属于本发明的保护范畴。

Claims (5)

1.一种光源发光特性检测装置,其特征在于,包括:
用于固定光源的定位机构;
以及,
用于采集所述光源出射光参数的检测设备;
该装置还包括壳板,所述光源包括基座以及设置在基座上方的发光部分;
所述定位机构设置在所述壳板上,所述壳板上还覆盖有反射片,所述发光部分位于所述反射片上,所述反射片上开设与所述发光部分形状及位置适配的通孔,所述反射片覆盖在所述壳板以及所述基座上;
所述装置还包括设置在所述光源上方的光学膜材,所述光学膜材与所述壳板形成闭合空间,所述光源位于所述闭合空间内;
所述装置还包括位于所述闭合空间外部的供电设备,所述供电设备通过引线与所述光源连接。
2.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述定位机构包括固定在所述壳板上的定位块。
3.根据权利要求2所述的检测装置,其特征在于,所述定位机构还包括与所述定位块连接的缓冲单元。
4.根据权利要求3所述的检测装置,其特征在于,所述缓冲单元包括一端与所述定位块连接的弹簧以及与所述弹簧另一端连接的挡块。
5.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述光学膜材包括棱镜膜和扩散膜中的一种或者多种。
CN201310718047.7A 2013-12-23 2013-12-23 光源发光特性检测装置 Active CN103674496B (zh)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201310718047.7A CN103674496B (zh) 2013-12-23 2013-12-23 光源发光特性检测装置
US14/412,915 US10274761B2 (en) 2013-12-23 2014-05-27 Detecting device for light-emitting property of light source
PCT/CN2014/078572 WO2015096383A1 (zh) 2013-12-23 2014-05-27 光源发光特性检测装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201310718047.7A CN103674496B (zh) 2013-12-23 2013-12-23 光源发光特性检测装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN103674496A CN103674496A (zh) 2014-03-26
CN103674496B true CN103674496B (zh) 2016-05-25

Family

ID=50312723

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201310718047.7A Active CN103674496B (zh) 2013-12-23 2013-12-23 光源发光特性检测装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US10274761B2 (zh)
CN (1) CN103674496B (zh)
WO (1) WO2015096383A1 (zh)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103674496B (zh) 2013-12-23 2016-05-25 京东方科技集团股份有限公司 光源发光特性检测装置
CN109682577A (zh) * 2018-12-21 2019-04-26 江门市品而亮照明有限公司 一种led光源恒温测试装置
CN111067499A (zh) * 2019-12-20 2020-04-28 东莞华贝电子科技有限公司 Ppg器件测试设备
KR20220115730A (ko) * 2021-02-10 2022-08-18 삼성디스플레이 주식회사 표시모듈 검사 장치
WO2024021449A1 (zh) * 2022-07-29 2024-02-01 中国科学院光电技术研究所 照明场非均匀性检测系统、检测方法、校正方法及装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101358713A (zh) * 2007-08-01 2009-02-04 奇美电子股份有限公司 直下式背光模组与应用此直下式背光模组的液晶显示器
CN202511958U (zh) * 2011-12-08 2012-10-31 北京卓立汉光仪器有限公司 Led背光源检测系统
CN202793745U (zh) * 2012-09-03 2013-03-13 京东方科技集团股份有限公司 背光模拟治具
CN102980104A (zh) * 2012-11-30 2013-03-20 京东方科技集团股份有限公司 背光模组及使用该背光模组的显示装置
CN202886415U (zh) * 2012-11-01 2013-04-17 京东方科技集团股份有限公司 一种led单灯测试通用治具

Family Cites Families (43)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07117475B2 (ja) * 1990-07-25 1995-12-18 松下電器産業株式会社 光源ユニット用照明特性評価装置
US5801545A (en) * 1995-07-14 1998-09-01 Tokyo Electron Limited LCD testing apparatus
US6150833A (en) * 1999-02-03 2000-11-21 Industrial Technology Research Institute LCD panel power-up test fixture and method of using
JP2000232242A (ja) 1999-02-10 2000-08-22 Sharp Corp 発光素子測定装置
US6366350B1 (en) * 2000-08-22 2002-04-02 Rockwell Collins, Inc. Apparatus for transmitting light source to a light detector
US7314652B2 (en) * 2003-02-28 2008-01-01 General Electric Company Diffuser for flat panel display
US6974625B2 (en) * 2003-12-16 2005-12-13 Smith & Nephew, Inc. Oxidized zirconium on a porous structure for bone implant use
US7092081B2 (en) * 2003-12-30 2006-08-15 Ritdisplay Corporation Apparatus for measuring optoelectric properties of OLED and the measurement method thereof
JP4083142B2 (ja) 2004-06-02 2008-04-30 富士通株式会社 半導体装置
JP4543813B2 (ja) * 2004-08-04 2010-09-15 ソニー株式会社 バックライト装置及びこのバックライト装置を備えた液晶表示装置
US20060092644A1 (en) * 2004-10-28 2006-05-04 Mok Thye L Small package high efficiency illuminator design
KR20060098912A (ko) * 2005-03-09 2006-09-19 삼성전자주식회사 광효율이 우수한 백라이트 어셈블리 및 이를 구비한 표시장치
JP4318655B2 (ja) * 2005-03-15 2009-08-26 パナソニック株式会社 光学デバイスの試験装置
JP4513759B2 (ja) * 2005-04-27 2010-07-28 三菱電機株式会社 面状光源装置
JP2008270144A (ja) * 2007-03-22 2008-11-06 Furukawa Electric Co Ltd:The ライトボックス
TW200842782A (en) * 2007-04-19 2008-11-01 Univ Nat Central Direct-type backlight module with optical feedback
US8064058B2 (en) * 2007-07-18 2011-11-22 GE Lighting Solutions, LLC Light distribution measurement system
US7804589B2 (en) * 2008-06-13 2010-09-28 Chroma Ate Inc. System and method for testing light-emitting devices
DE102009021375A1 (de) * 2009-05-14 2010-11-18 Marc Leppla Sensor zum Messen einer Lichtgröße und Verfahren zum Kalibrieren eines Monitors
TWI408354B (zh) * 2009-07-24 2013-09-11 Wistron Corp 顯示器檢測輔助治具、顯示器檢測模組以及顯示器檢測方法
US8807805B2 (en) * 2009-09-16 2014-08-19 Sharp Kabushiki Kaisha Lighting device, display device and television receiver
TWI449884B (zh) * 2010-01-27 2014-08-21 Hon Hai Prec Ind Co Ltd 輝度測試裝置
TWI494553B (zh) * 2010-02-05 2015-08-01 Samsung Electronics Co Ltd 評估led光學性質之設備及方法以及製造led裝置之方法
US8322884B2 (en) * 2010-03-31 2012-12-04 Abl Ip Holding Llc Solid state lighting with selective matching of index of refraction
CN101922997B (zh) * 2010-04-30 2012-07-04 苏州京东方茶谷电子有限公司 一种背光源点灯测试治具及其使用方法
CN102933893B (zh) * 2010-06-15 2015-06-03 夏普株式会社 照明装置、显示装置以及电视接收装置
WO2012032998A1 (ja) * 2010-09-06 2012-03-15 シャープ株式会社 照明装置、表示装置およびテレビ受信装置
KR20120045880A (ko) * 2010-11-01 2012-05-09 삼성엘이디 주식회사 Led 패키지의 광특성 측정 장치
CN101984332B (zh) 2010-11-26 2012-07-25 台龙电子(昆山)有限公司 Led灯条发光色差检测治具
WO2012081187A1 (ja) * 2010-12-16 2012-06-21 パナソニック株式会社 バックライト装置および液晶表示装置
JPWO2012101715A1 (ja) * 2011-01-25 2014-06-30 パナソニック株式会社 バックライト装置および液晶表示装置
GB2488569A (en) * 2011-03-02 2012-09-05 Feasa Entpr Ltd Testing light emitting diode light sources in a climate controlled chamber
CN102213615B (zh) 2011-04-01 2013-05-08 中国兵器工业第二〇五研究所 Led光学参数综合测试装置
KR101332059B1 (ko) * 2011-08-24 2013-11-22 삼성전기주식회사 광측정기 교정 장치
US9176004B2 (en) * 2012-03-16 2015-11-03 Apple Inc. Imaging sensor array testing equipment
TWI588457B (zh) * 2012-09-26 2017-06-21 晶元光電股份有限公司 發光二極體光電特性量測裝置
CN102944826B (zh) 2012-11-23 2016-08-17 深圳清华大学研究院 Led测试装置、系统及方法
TWI459006B (zh) * 2012-12-10 2014-11-01 Genesis Photonics Inc Led檢測裝置
US8845380B2 (en) * 2012-12-17 2014-09-30 Xicato, Inc. Automated color tuning of an LED based illumination device
TWI512277B (zh) * 2013-01-04 2015-12-11 Taiwan Power Testing Technology Co Ltd 顯示器之檢測設備
CN103090274B (zh) 2013-01-29 2015-05-27 京东方科技集团股份有限公司 一种面光源组件及光学测试设备
CN203259626U (zh) * 2013-06-06 2013-10-30 歌尔声学股份有限公司 通用led测试夹具
CN103674496B (zh) 2013-12-23 2016-05-25 京东方科技集团股份有限公司 光源发光特性检测装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101358713A (zh) * 2007-08-01 2009-02-04 奇美电子股份有限公司 直下式背光模组与应用此直下式背光模组的液晶显示器
CN202511958U (zh) * 2011-12-08 2012-10-31 北京卓立汉光仪器有限公司 Led背光源检测系统
CN202793745U (zh) * 2012-09-03 2013-03-13 京东方科技集团股份有限公司 背光模拟治具
CN202886415U (zh) * 2012-11-01 2013-04-17 京东方科技集团股份有限公司 一种led单灯测试通用治具
CN102980104A (zh) * 2012-11-30 2013-03-20 京东方科技集团股份有限公司 背光模组及使用该背光模组的显示装置

Also Published As

Publication number Publication date
WO2015096383A1 (zh) 2015-07-02
US10274761B2 (en) 2019-04-30
CN103674496A (zh) 2014-03-26
US20160274386A1 (en) 2016-09-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103674496B (zh) 光源发光特性检测装置
CN102297369A (zh) 背光模块及使用其的显示装置
US20080037279A1 (en) Tapered prism illumination apparatus for LCD backlight
KR101808525B1 (ko) 액정표시장치
CN102022673A (zh) 背光单元和具有该背光单元的液晶显示设备
CN101852375B (zh) 背光模块及其液晶显示装置
CN103217218B (zh) 一种光谱测试装置及方法
US20060221632A1 (en) Signboard using LED light source
CN101886772A (zh) Led背光模组及液晶显示装置
CN203082706U (zh) 新型直下式led背光模组
CN101281321B (zh) 背光组件及具有此背光组件的液晶显示器
CN201852047U (zh) 一种背光模组中固定背光灯条的结构
CN102943985A (zh) 一种背光模组及其显示装置
US20200088934A1 (en) Led light source and edge type backlight module and liquid crystal display module comprising the same
CN103162161B (zh) 背光模组以及液晶显示装置
CN103542296B (zh) 一种led灯条及直下式led背光模组
US20170168219A1 (en) Backlight module, display module, and display device
CN205016160U (zh) 可实现面发光的led屏及其裸眼立体显示装置
CN202532309U (zh) 一种led背光模块和电视、手机、平板电脑
CN203658707U (zh) 液晶显示模组及液晶显示装置
CN102929011A (zh) 具有f型框架的液晶模块及其组装方法
US9316853B2 (en) Combination backboard and backlight module and liquid crystal display device using the backboard
CN203232658U (zh) 电子产品及其lcd
CN102981290A (zh) 一种用于液晶显示模组的膜片检测治具
CN105425465A (zh) 液晶显示器及其背光模组

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant