CN102096435B - 改进型带隙基准电压源及带隙基准电压产生电路 - Google Patents
改进型带隙基准电压源及带隙基准电压产生电路 Download PDFInfo
- Publication number
- CN102096435B CN102096435B CN201010618785.0A CN201010618785A CN102096435B CN 102096435 B CN102096435 B CN 102096435B CN 201010618785 A CN201010618785 A CN 201010618785A CN 102096435 B CN102096435 B CN 102096435B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- pmos transistor
- transistor
- grid
- source electrode
- nmos pass
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Landscapes
- Control Of Electrical Variables (AREA)
Abstract
本发明提供一种改进型带隙基准电压源及带隙基准电压产生电路,该带隙基准电压产生电路包含:改进型带隙基准电压源和级联的电流镜像电路,本发明带隙基准电压产生电路通过级联的电流镜像电路将电流反馈至该改进型带隙基准电压源的正向电源输入端,同时本发明改进型带隙基准电压源通过在电源端与传统的带隙基准电压源之间增加一P型MOSFET,使得电源输入端的阻抗近似为该MOSFET的跨导倒数,从而提高了电源的电源抑制比,并且本发明改进型带隙基准电压源在传统带隙基准电压源基础上增加了两个电阻,使得差分电路的两组对称管互相之间的漏端电压更接近,同时使得电流更匹配。
Description
技术领域
本发明关于一种带隙基准电压源及带隙基准电压产生电路,特别是关于一种高电源抑制比、MOS差分对管电流更为匹配的改进型带隙基准电压源及带隙基准电压产生电路。
背景技术
带隙基准电压源由于其低温度系数的特性,被广泛应用于各种模拟和混合信号电路系统中,相应地,带隙基准电压也成为模拟和混合信号电路系统中不可或缺的部分。图1为一种传统的带隙基准电压产生电路的电路结构图。如图所示,传统的带隙基准电压产生电路包括传统的带隙基准电压源101以及调节器102,其中,传统的带隙基准电压源101包括栅极相连的NMOS晶体管M1和NMOS晶体管M1、栅极相连的PMOS晶体管M3和PMOS晶体管M4及PMOS晶体管M5、栅漏短接用作二极管之用的双极性晶体管Q1、Q2、Q3以及电阻R1与R2,PMOS晶体管M3、M4及M5的源极连接至等效电源电压VDDL,电阻R1连接与NMOS晶体管M2漏极与双极性晶体管Q2源极之间,电阻R2连接于PMOS晶体管M5漏极与双极性晶体管Q3源极之间,双极性晶体管Q1源极与NMOS晶体管M1漏极相连,PMOS晶体管P5的漏极即为带隙基准电压输出端Vbg,为了得到对电源更好的电源抑制比,传统的带隙基准电压源101的电源电压往往由调节器102提供,调节器102包括比较器103以及电阻Rr1与电阻Rr2,其中比较器103的一个输入端连接传统的带隙基准电压源101的带隙基准电压输出端Vbg,输出端连接于PMOS晶体管M3、M4及M5源极,以提供等效电源电压VDDL,电阻Rr1、Rr2串联于比较器103的输出端,同时,其中间节点连接至比较器103的另一输入端。
传统的带隙基准电压产生电路通过加入调节器,虽然可以获得比较高的电源抑制比,但是,该电路却存在如下缺点:1、PMOS晶体管M3与M4、NMOS晶体管M1与M2的漏端电压不一致会导致经过他们的电流不能完全匹配;2、增加的调节器103会引入该电路的电压偏移,增加了设计难度。
综上所述,可知先前技术的带隙基准电压产生电路存在流经各晶体管的电i流不能完全匹配以及会产生电压偏移的问题,因此,实有必要提出改进的技术手段,来解决此一问题。
发明内容
为克服上述现有技术存在的电源抑制较低以及如需增大电源抑制比需要增加调节器电路引入电压偏移量的问题,本发明的主要目的在于提供一种改进型带隙基准电压源及带隙基准电压产生电路,其通过一个级联的电流镜像电路为改进带隙基准电压源电路提供反馈电流和等效电源电压,并在电源电压端和传统的带隙基准电压源电路间增加一P型MOS晶体管以增大电源电压端的阻抗,以提高整个带隙基准电压源电路对电源电压端的电源抑制比。
为达上述及其它目的,本发明提供一种改进型带隙基准电压源,包含栅极相连的第一NMOS晶体管和第二NMOS晶体管、栅极互连的第三PMOS晶体管和第四PMOS晶体管及第五PMOS晶体管、栅漏短接用作二极管之用的三个双极型晶体管Q1和Q2及Q3以及第一电阻与第二电阻,其特征在于:该改进型带隙基准电压源还包括一第十五PMOS晶体管,该第十五PMOS晶体管源极与该第三PMOS晶体管源极、该第四PMOS晶体管源极以及该第五PMOS晶体管源极共同接至等效电源电压,栅极接至该第一NMOS晶体管漏极,漏极与该三个双极性晶体管的栅漏端共同接地,该第十五PMOS晶体管用于提高该等效电源电压的阻抗。
进一步地,该改进型带隙基准电压源还包括第三电阻与第四电阻,其中该第三电阻一端与该第三PMOS晶体管漏极、该第一NMOS晶体管栅极以及该第二NMOS晶体管栅极相连,另一端与该第十五PMOS晶体管栅极及该第一NMOS晶体管漏极相连;该第四电阻一端与该第三PMOS晶体管栅极、该第四PMOS晶体管栅极以及该第二NMOS晶体管漏极相连,另一端与该第四PMOS晶体管漏极相连。
为达上述及其它目的,本发明还提供一种带隙基准电压产生电路,其至少包含一改进型带隙基准电压源与一级联的电流镜像电路,该级联的电流镜像电路连接于一电源电压,并与该改进型带隙基准电压源的第三PMOS晶体管源极、第四PMOS晶体管源极、第五PMOS晶体管源极以及第十五PMOS晶体管源极均连接,以为该改进型带隙基准电压源提供环路反馈电流及提供等效电源电压。
进一步地,该级联的电流镜像电路至少包含栅极相连的第七NMOS晶体管与第八NMOS晶体管、栅极相连的第九NMOS晶体管与第十NMOS晶体管、栅极相连的第十一PMOS晶体管与第十四PMOS晶体管、栅极相连的第十二PMOS晶体管与第十三PMOS晶体管、第五电阻、第六电阻以及第六PMOS晶体管,其中该第十三PMOS晶体管源极与该第十二PMOS晶体管源极与该电源电压相连,该第十四PMOS晶体管源极与该第十三PMOS晶体管漏极相连,漏极为该改进型带隙基准电压源提供该等效电源电压,并与该第六PMOS晶体管源极相连,该第十一PMOS晶体管源极与该第十二PMOS晶体管漏极相连,该第九NMOS晶体管漏极与该第七NMOS晶体管源极相连,源极与该第十NMOS晶体管源极共同接地,该第十NMOS晶体管漏极与该第八NMOS晶体管源极相连,该第六PMOS晶体管栅极与该第三PMOS晶体管、该第四PMOS晶体管以及该第五PMOS晶体管栅极共连,该第五电阻一端与该第六PMOS晶体管漏极以及该第七NMOS晶体管栅极、该第八NMOS晶体管M8栅极相连,另一端与该第七NMOS晶体管漏极以及该第九NMOS晶体管栅极、该第十NMOS晶体管栅极相连,该第六电阻一端与该第十一PMOS晶体管源极以及该第十二PMOS晶体管栅极、该第十三PMOS晶体管栅极相连,另一端与该第八NMOS晶体管漏极以及该第十一PMOS晶体管栅极、该第十四PMOS晶体管栅极相连。
相较于现有技术,本发明一种改进型带隙基准电压源通过在传统的带隙基准电压源电路与等效电源电压VDDL之间增加第十五PMOS晶体管M15以增大等效电源电压端的阻抗,并通过设置第三电阻与第四电阻使得第一MOS晶体管和第二MOS晶体管差分对之间以及第三MOS晶体管和第四MOS晶体管差分对之间的漏端电压更为接近,即使得其电流更为匹配,同时本发明带隙电压产生电路通过级联的电流镜像电路302将电流反馈至等效电源电压端以稳定改进型带隙基准电压源的电流,进一步减小了改进型带隙基准电压源电路的电流抖动,更好的提高对外部噪声的抑制作用,采用本发明改进型带隙基准电压源及带隙基准电压产生电路可以避免使用调节器(regulator)电路来达到对电源噪声的抑制作用,避免了引入调节器电路带来的电压偏移量问题
附图说明
图1为传统的带隙基准电压产生电路的电路结构示意图;
图2为本发明改进型带隙基准电压源较佳实施例的电路结构示意图;
图3为本发明带隙基准电压产生电路较佳实施例的电路结构示意图。
具体实施方式
以下通过特定的具体实例并结合附图说明本发明的实施方式,本领域技术人员可由本说明书所揭示的内容轻易地了解本发明的其它优点与功效。本发明亦可通过其它不同的具体实例加以施行或应用,本说明书中的各项细节亦可基于不同观点与应用,在不背离本发明的精神下进行各种修饰与变更。
图2为本发明一种改进型带隙基准电压源较佳实施例的电路结构示意图。如图2所示,本发明一种改进型带隙基准电压源至少包括栅极相连的第一NMOS晶体管M1和第二NMOS晶体管M2、栅极互连的第三PMOS晶体管M3和第四PMOS晶体管M4及第五PMOS晶体管M5、栅漏短接用作二极管之用的双极型晶体管Q1和Q2及Q3、电阻R1与R2以及第十五PMOS晶体管,其中第三PMOS晶体管M3、第四PMOS晶体管M4及第五PMOS晶体管漏极接等效电源电压VDDL,并与第十五PMOS晶体管源极相连,第三PMOS晶体管M3及第四PMOS晶体管M4与第一NMOS晶体管M1及第二NMOS晶体管M2形成两个串叠的电流镜,即第三PMOS晶体管漏极与第一NMOS晶体管M1漏极相连,第一NMOS晶体管M1栅漏短接,第四PMOS晶体管M4栅漏短接后与第二NMOS晶体管M2漏极相连,双极性晶体管Q1源极接至第一NMOS晶体管M1源极,极性晶体管Q2源极经电阻R1连接至第二NMOS晶体管M2源极,双极性晶体管Q3源极经电阻R2连接至第五PMOS晶体管M5漏极,同时,第五PMOS晶体管M5漏极为带隙基准电压输出端Vbg,第十五PMOS晶体管M15栅极接至第一NMOS晶体管M1的漏极,漏极与双极性晶体管Q1、Q2、Q3的栅漏相连并接地,于本发明较佳实施例中,第十五PMOS晶体管M15的作用在于提高等效电源电压VDDL阻抗,进而提高本发明带隙基准电压源对等效电源电压VDDL的电源抑制比,在此,阻抗近似为该第十五PMOS晶体管M15的跨导倒数。
同时,为解决现有技术的PMOS晶体管M3与M4以及NMOS晶体管M1与M2的漏端电压不一致会导致经过他们的电流不能完全匹配,本发明带隙基准电压源还包括第三电阻R3与第四电阻R4,其中,第三电阻R3的一端与第三PMOS晶体管M3的漏极以及第一NMOS晶体管M1、第二NMOS晶体管M2的栅极相连,另一端与第十五MOS晶体管M15的栅极以及第一NMOS晶体管M1的漏极相连;第四电阻R4的一端与第三PMOS晶体管M3、第四PMOS晶体管M4的栅极以及第二NMOS晶体管M2的漏极相连,另一端与第四PMOS晶体管M4的漏极相连,这里,第三电阻R3与第四电阻R4的作用在于使得第一NMOS晶体管M1和第二NMOS晶体管M2差分对之间以及第三PMOS晶体管和第四PMOS晶体管差分对之间的漏端电压更为接近,同时使得其电流更为匹配。
图3为本发明一种带隙基准电压产生电路较佳实施例的电路结构示意图。如图3所示,本发明一种带隙基准电压产生电路至少包括改进型带隙基准电压源301以及级联(cascade)的电流镜像电路302,其中改进型性带隙基准电压电路结构如图2所示,在此不再详述;级联的电流镜像电路302连接于电源电压VDD和改进型带隙基准电压源301之间,用于为改进型带隙基准电压源301提供环路反馈电流以及改进型带隙基准电压源301的等效电源电压VDDL。
进一步来说,级联的电流镜像电路302包含栅极相连的第七NMOS晶体管M7与第八NMOS晶体管M8、栅极相连的第九NMOS晶体管M9与第十NMOS晶体管M10、栅极相连的第十一PMOS晶体管M11与第十四PMOS晶体管M14、栅极相连的第十二PMOS晶体管M12与第十三PMOS晶体管M13、第五电阻R5与第六电阻R6以及第六PMOS晶体管,其中第十三PMOS晶体管M13与第十二PMOS晶体管M12的源极与电源电压端VDD相连,第十四PMOS晶体管M14的源极与第十三PMOS晶体管的漏极相连,漏极与第六PMOS晶体管M6源极相连,同时,该漏极还连接至改进型带隙基准电压源301的第三PMOS晶体管M3、第四PMOS晶体管M4、第五PMOS晶体管M5以及第十五PMOS晶体管的源极,以为改进型带隙基准电压源提供等效电源电压VDDL,第十一PMOS晶体管M11源极与第十二PMOS晶体管M12的漏极相连;第九NMOS晶体管M9的漏极与第七NMOS晶体管M7的源极相连,源极与第十NMOS晶体管M10的源极共同接地,第十NMOS晶体管M10的漏极与第八NMOS晶体管M8的源极相连,第六PMOS晶体管M6栅极与第三PMOS晶体管M3、第四PMOS晶体管M4以及第五PMOS晶体管M5栅极共连,第五电阻R5一端与第六PMOS晶体管M6的漏极以及第七NMOS晶体管M7、第八NMOS晶体管M8的栅极相连,另一端与第七NMOS晶体管M7的漏极以及第九NMOS晶体管M9、第十NMOS晶体管M10的栅极相连,第六电阻R6一端与第十一PMOS晶体管M11的源极以及第十二PMOS晶体管M12、第十三PMOS晶体管M13的栅极相连,另一端与第八NMOS晶体管M8的漏极以及第十一PMOS晶体管M11、第十四PMOS晶体管M14的栅极相连。
可见,本发明之带隙基准电压产生电路是利用在等效电源电压VDDL端和传统的带隙基准电压源电路间增加一P型MOS晶体管M15以增大等效电源电压VDDL端的阻抗,并通过级联的电流镜像电路302将电流反馈至等效电源电压VDDL端以稳定改进型带隙基准电压源的电流,进一步减小了带隙基准电压源电路的电流抖动,更好的提高对外部噪声的抑制作用,采用本发明带隙基准电压源及带隙基准电压产生电路可以避免使用调节器(regulator)电路来达到对电源噪声的抑制作用,避免了引入调节器电路带来的电压偏移量问题。
上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效,而非用于限制本发明。任何本领域技术人员均可在不违背本发明的精神及范畴下,对上述实施例进行修饰与改变。因此,本发明的权利保护范围,应如权利要求书所列。
Claims (2)
1.一种带隙基准电压产生电路,至少包含一改进型带隙基准电压源与一级联的电流镜像电路,所述改进型带隙基准电压源,包含栅极相连的第一NMOS晶体管和第二NMOS晶体管、栅极互连的第三PMOS晶体管和第四PMOS晶体管及第五PMOS晶体管、栅漏短接用作二极管之用的三个双极型晶体管Q1和Q2及Q3以及第一电阻与第二电阻,双极型晶体管Q1源极接至第一NMOS晶体管源极,双极型晶体管Q2源极经第一电阻连接至第二NMOS晶体管源极,双极型晶体管Q3源极经第二电阻连接至第五PMOS晶体管漏极,其特征在于:该改进型带隙基准电压源还包括一第十五PMOS晶体管,该第十五PMOS晶体管源极与该第三PMOS晶体管源极、该第四PMOS晶体管源极以及该第五PMOS晶体管源极共同接至第一电源电压,栅极接至该第一NMOS晶体管漏极,漏极与该三个双极型晶体管的栅漏端共同接地,该第十五PMOS晶体管用于提高该第一电源电压的阻抗;该改进型带隙基准电压源还包括第三电阻与第四电阻,其中该第三电阻一端与该第三PMOS晶体管漏极、该第一NMOS晶体管栅极以及该第二NMOS晶体管栅极相连,另一端与该第十五PMOS晶体管栅极及该第一NMOS晶体管漏极相连;该第四电阻一端与该第三PMOS晶体管栅极、该第四PMOS晶体管栅极以及该第二NMOS晶体管漏极相连,另一端与该第四PMOS晶体管漏极相连;该级联的电流镜像电路连接于一第二电源电压,并与该改进型带隙基准电压源的第三PMOS晶体管源极、第四PMOS晶体管源极、第五PMOS晶体管源极以及第十五PMOS晶体管源极均连接,以为该改进型带隙基准电压源提供环路反馈电流及提供第一电源电压。
2.如权利要求1所述的带隙基准电压产生电路,其特征在于:该级联的电流镜像电路至少包含栅极相连的第七NMOS晶体管与第八NMOS晶体管、栅极相连的第九NMOS晶体管与第十NMOS晶体管、栅极相连的第十一PMOS晶体管与第十四PMOS晶体管、栅极相连的第十二PMOS晶体管与第十三PMOS晶体管、第五电阻、第六电阻以及第六PMOS晶体管,其中该第十三PMOS晶体管源极与该第十二PMOS晶体管源极与该第二电源电压相连,该第十四PMOS晶体管源极与该第十三PMOS晶体管漏极相连,漏极为该改进型带隙基准电压源提供该第一电源电压,并与该第六PMOS晶体管源极相连,该第十一PMOS晶体管源极与该第十二PMOS晶体管漏极相连,该第九NMOS晶体管漏极与该第七NMOS晶体管源极相连,源极与该第十NMOS晶体管源极共同接地,该第十NMOS晶体管漏极与该第八NMOS晶体管源极相连,该第六PMOS晶体管栅极与该第三PMOS晶体管、该第四PMOS晶体管以及该第五PMOS晶体管栅极共连,该第五电阻一端与该第六PMOS晶体管漏极以及该第七NMOS晶体管栅极、该第八NMOS晶体管M8栅极相连,另一端与该第七NMOS晶体管漏极以及该第九NMOS晶体管栅极、该第十NMOS晶体管栅极相连,该第六电阻一端与该第十一PMOS晶体管源极以及该第十二PMOS晶体管栅极、该第十三PMOS晶体管栅极相连,另一端与该第八NMOS晶体管漏极以及该第十一PMOS晶体管栅极、该第十四PMOS晶体管栅极相连。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201010618785.0A CN102096435B (zh) | 2010-12-31 | 2010-12-31 | 改进型带隙基准电压源及带隙基准电压产生电路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201010618785.0A CN102096435B (zh) | 2010-12-31 | 2010-12-31 | 改进型带隙基准电压源及带隙基准电压产生电路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN102096435A CN102096435A (zh) | 2011-06-15 |
CN102096435B true CN102096435B (zh) | 2015-05-20 |
Family
ID=44129559
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201010618785.0A Active CN102096435B (zh) | 2010-12-31 | 2010-12-31 | 改进型带隙基准电压源及带隙基准电压产生电路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN102096435B (zh) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103412595A (zh) * | 2013-06-20 | 2013-11-27 | 中国矿业大学 | 一种基于ptat电流的低电源依赖性带隙基准电压电路设计 |
CN106155152A (zh) * | 2015-03-31 | 2016-11-23 | 成都锐成芯微科技有限责任公司 | 一种具有高电源抑制比特性的带隙基准电路 |
CN106155160B (zh) * | 2015-03-31 | 2018-01-19 | 成都锐成芯微科技有限责任公司 | 一种具有高电源抑制比特性和自启动电路的带隙基准电路 |
CN105912069B (zh) * | 2016-06-27 | 2018-05-01 | 无锡中感微电子股份有限公司 | 一种双极型晶体管和电流偏置电路 |
CN107168441B (zh) * | 2017-06-09 | 2018-10-16 | 电子科技大学 | 一种基于神经网络的带隙基准电路 |
CN108829169B (zh) * | 2018-06-29 | 2024-07-30 | 成都锐成芯微科技股份有限公司 | 一种高电源抑制比的带隙基准源 |
IT201900022518A1 (it) * | 2019-11-29 | 2021-05-29 | St Microelectronics Srl | Circuito di riferimento bandgap, dispositivo e uso corrispondenti |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1143451A1 (en) * | 2000-03-29 | 2001-10-10 | STMicroelectronics S.r.l. | Low-consumption charge pump for a nonvolatile memory |
CN101609344A (zh) * | 2009-07-07 | 2009-12-23 | 东南大学 | Cmos亚阈高阶温度补偿带隙基准电路 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20020046490A (ko) * | 2000-12-14 | 2002-06-21 | 박종섭 | 안정화된 기준전압 발생회로 |
JP2003273654A (ja) * | 2002-03-15 | 2003-09-26 | Seiko Epson Corp | 温度特性補償装置 |
TWI377462B (en) * | 2008-12-26 | 2012-11-21 | Novatek Microelectronics Corp | Low voltage bandgap reference circuit |
-
2010
- 2010-12-31 CN CN201010618785.0A patent/CN102096435B/zh active Active
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1143451A1 (en) * | 2000-03-29 | 2001-10-10 | STMicroelectronics S.r.l. | Low-consumption charge pump for a nonvolatile memory |
CN101609344A (zh) * | 2009-07-07 | 2009-12-23 | 东南大学 | Cmos亚阈高阶温度补偿带隙基准电路 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN102096435A (zh) | 2011-06-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN102096435B (zh) | 改进型带隙基准电压源及带隙基准电压产生电路 | |
CN106200732B (zh) | 生成输出电压的电路及低压降稳压器的输出电压的设置方法 | |
CN102270008B (zh) | 宽输入带曲率补偿的带隙基准电压源 | |
CN102176185B (zh) | 亚阈值cmos基准源 | |
CN106959723A (zh) | 一种宽输入范围高电源抑制比的带隙基准电压源 | |
CN103631306B (zh) | 具有低温度系数的电流源基准电路 | |
TWI542967B (zh) | 低偏移帶隙電路和校正器 | |
TW201336226A (zh) | 多重電源域運算放大器及使用其之電壓產生器 | |
CN106026975B (zh) | 自偏置电路 | |
CN104133519A (zh) | 一种应用于三维存储领域的低压带隙基准产生电路 | |
CN110320954A (zh) | 一种基于凹凸曲率补偿的低温漂带隙基准电路 | |
CN103324232B (zh) | 基准电压电路 | |
CN101464700A (zh) | 电流镜电路 | |
TWI710876B (zh) | 帶差參考電路 | |
CN102385413A (zh) | 低压带隙基准电压产生电路 | |
CN102063148A (zh) | 参考电压产生电路 | |
US8779853B2 (en) | Amplifier with multiple zero-pole pairs | |
CN202257343U (zh) | 低压带隙基准电压产生电路 | |
Lopez-Martin et al. | 1-V 15-μW 130-nm CMOS Super Class AB OTA | |
CN104133514B (zh) | 电压追踪电路 | |
CN107422777A (zh) | Ptat电流源 | |
TWI477944B (zh) | 電流鏡 | |
CN104035466A (zh) | 固定电压产生电路 | |
CN108319324A (zh) | 一种电源噪声非敏感的电流镜电路、芯片及通信终端 | |
TWI564692B (zh) | 能隙參考電路 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant |