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CN101859330B - 验证集成电路效能模型的方法 - Google Patents

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Abstract

一种验证集成电路效能模型的方法，包含：取得存取存储器的请求的统计数目与其对应等待时间值；根据统计数目与对应的等待时间值产生等待时间的函数；将随机数代入等待时间的函数以取得等待时间值；根据所取得的等待时间值验证集成电路效能模型的逻辑。

Description

验证集成电路效能模型的方法
技术领域
本发明是关于集成电路的计算器辅助设计；特别是，关于在一存储器等待时间仿真环境中对集成电路效能模型进行验证。
背景技术
当处理器发送请求至存储器装置，例如动态随机存取存储器(DRAM)，处理器在一段时间之后，才能读取到存储器装置的响应，这种情况称为“等待时间(latency)”。举例来说，处理器发出读取请求到高速缓冲寄存器(Cache)系统，然后在一段时间后，高速缓冲寄存器系统产生响应，并将所请求的数据放在总线，而在等待时间结束后，处理器可从总线中取得所要的数据。如果处理器在等待时间结束前就试着要取得数据，则处理器可能取得不正确或是无效的数据。因此在设计处理器时，需要将存储器的等待时间一并考虑。
在先前技术中，处理器或是其它集成电路的计算器辅助设计需要许多的人力与物力，来验证集成电路模型是否是正确无误。举例来说，集成电路中定义功能需求的架构模型，一般是先由一个工程小组来负责编写。接着另一个工程小组负责集成电路的寄存器传输级(register transfer level)模型，并以架构模型来验证寄存器传输级模型的逻辑或是功能。在先前技术中，乃是利用“固定等待时间”模型(或称为仿真环境)来进行验证，其中存储器的等待时间被设定为固定值。但实际上，等待时间会因为种种的因素而变动，例如不同种类的请求会有不同的等待时间。因此以“固定等待时间”所进行的验证可能是不准确的。
根据以上所述，因此需要一种更准确且动态的等待时间模型，来进行集成电路的验证。
发明内容
本发明提供一种验证集成电路效能模型的方法、一种设计集成电路的方法、以及一种动态仿真存储器等待时间以设计集成电路的方法。
在一实施例中，本发明提出一种验证集成电路效能模型的方法，包含：取得存取存储器的请求的统计数目与其对应等待时间值；根据统计数目与对应的等待时间值产生等待时间的函数；将随机数代入等待时间的函数以取得一等待时间值；根据所取得的等待时间值验证集成电路效能模型的逻辑。
在另一实施例中，本发明提出一种设计集成电路的方法，包含编写集成电路的源编码；产生集成电路的效能模型；以及验证效能模型。验证效能模型的步骤还包含：取得存取存储器的请求的统计数目与其对应等待时间值；根据统计数目与对应的等待时间值产生等待时间的函数；将随机数代入等待时间的函数以取得一等待时间值；根据所取得的等待时间值验证效能模型的逻辑。
在又一实施例中，本发明提出一种动态仿真存储器等待时间以设计集成电路的方法，包含编写该集成电路的源编码；产生集成电路的效能模型；以及验证效能模型。验证效能模型的步骤还包含：取得存取存储器的请求的统计数目与其对应等待时间值；根据统计数目与对应的等待时间值产生等待时间的函数；将一随机数代入等待时间的函数以取得一等待时间值；将另一随机数代入等待时间的函数以取得另一等待时间值；根据所取得的等待时间值验证效能模型的逻辑。
通过以下的较佳实施例的叙述并配合图式说明，本发明的目的、特征与优点将更为清楚。
附图说明
图1为本发明实施例设计集成电路的方法流程图；
图2显示本发明实施例的统计数据；以及
图3a-3d显示本发明实施例的分段线形函数。
具体实施方式
图1显示本发明一实施例中设计集成电路(例如图形处理单元(GPU))的流程图。在步骤100，利用例如C++的编程语言编写集成电路的源编码，接着建立寄存器传输级(RTL)的效能模型。在集成电路的设计中，寄存器传输级的描述是一种描述同步数字电路运作的方式。在寄存器传输级的设计中，电路的行为是由硬件寄存器间的信号流动(或是数据搬移)来定义，而通过这些信号来进行逻辑操作。
在步骤102中，取得统计数据，例如存取存储器的请求的统计请求数目与其对应等待时间值，以建立一存储器等待时间分布模型。图2显示存储器等待时间分布模型的范例，其中X轴代表以频率(Clk)来表示的等待时间值，Y轴则代表请求数目。需说明的是，本发明中的统计请求数目与等待时间值可以从一真实系统的历史数据中取得，或是如同图2范例中，由计算器仿真来产生。此外需说明的是，统计请求数目可只针对某一种类的请求，例如读取请求或是写入请求，但在其它范例中，所取得的统计请求数目与请求的种类无关。
从图2范例中所显示的统计数据，假设全部共有2000个请求，而其等待时间值的范围从600Clks到900Clks。整个等待时间值的范围(也就是600-900Clks)可被细分为600-700Clks、700-800Clks、800-900Clks。而在600-700Clks这个范围中，累积有300个请求，占全部请求的15％；在700-800Clks这个范围中，累积有700个请求，占全部请求的35％；在800-900Clks这个范围中，累积有1000个请求，占全部请求的50％。需说明的是，在其它实施例中，因应不同的使用目的，整个等待时间值的范围可被细分为任何数目、相等或不等、的“子范围”，而在相应地，每个“子范围”中所累积的请求或其对应全部请求的比例也会跟着改变。
在步骤104中，根据在此细分范围(也就是600-700Clks、700-800Clks、800-900Clks其中之一)中所累积的请求，对每一个细分的范围(或称“子范围”)分别产生一预定函数。较佳地，此预定函数为分段线性函数(piecewiselinear function)，但本发明其它实施例亦可利用连续、不连续、线性、或非线性函数来描述等待时间的分布状况。
在此范例中，还用每一细分范围中所累积的请求相对于全部请求的比例，来决定分段线性函数的区段。举例来说，在600-700Clks这个范围中所累积的请求，占全部请求的15％，因此600-700Clks这个范围的分段线性函数便建立在0与0.15之间。依此，700-800Clks这个范围的分段线性函数便建立在0.15与0.5之间；800-900Clks这个范围的分段线性函数便建立在0.5与1之间。此范例的分段线性函数条列于下并显示于图3a，其中X轴代表相对于全部请求的累积比例，Y轴代表以频率(Clk)来表示的等待时间值。
Y＝X*(700-600)/(0.15-0.0)+600，其中X在0与0.15之间；
Y＝(X-0.15)*(800-700)/(0.5-0.15)+700，其中X在0.15与0.5之间；
Y＝(X-0.5)*(900-800)/(1.0-0.5)+800，其中X在0.5与1之间。
在步骤106中，从0到1之间选择一随机数，且将此随机数代入上述三个分段线性函数其中之一，以取得Y轴的等待时间值。举例来说，如果随机数为0.1，其位于0与0.15间的范围中，则此随机数0.1被代入第一个分段线性函数，而取得等待时间值为666.67Clks。如果随机数为0.75，其位于0.5与1间的范围中，则此随机数0.1被代入第三个分段线性函数，而取得等待时间值为850Clks。根据此方法，存储器存取的请求能够以动态的方式进行仿真，且更接近真实的状况。在步骤108中，一或多个等待时间值被用来验证集成电路效能模型的逻辑。
需说明的是，在上述步骤104中，并非一定要采用每一细分范围中所累积的请求相对于全部请求的比例。在其它实施例中，分段线性函数的区段可直接用统计请求数目来决定，而相应地，在步骤106中的随机数将从整个统计请求数目的范围中来挑选。
此外，需说明的是，上述步骤102至106可通过软件产品来实施，此软件产品可由编程语言例如“C++”来编写，且可在个人计算器或工作站上执行。执行步骤102至106的软件产品可以是独立的产品，或是仅为功能模块，而需与其它功能模块(例如用来分析排队行为的模块)结合为完整的用于验证的软件产品。
在另一实施例中，统计数据亦如图2所示，假设全部共有2000个请求，而其等待时间值的范围从600Clks到900Clks。整个等待时间值的范围(也就是600-900Clks)可被细分为600-750Clks与750-900Clks两个相等的范围。而在600-750Clks这个范围中，累积有650个请求，占全部请求的32.5％；在750-900Clks这个范围中，累积有1350个请求，占全部请求的67.4％。
在步骤104中，根据在600-750Clks与750-900Clks两个范围中所累积的请求，分别产生分段线性函数。如先前所述，还用每一细分范围中所累积的请求相对于全部请求的比例，来决定分段线性函数的区段。举例来说，在600-750Clks这个范围中所累积的请求，占全部请求的32.5％，因此600-750Clks这个范围的分段线性函数便建立在0与0.325之间。依此，750-900Clks这个范围的分段线性函数便建立在0.325与1之间。此范例的分段线性函数条列于下并显示于图3b。
Y＝X*(750-600)/(0.325-0.0)+600，其中X在0与0.325之间；
Y＝(X-0.325)*(900-750)/(1-0.325)+750，其中X在0.325与1之间。
在步骤106中，如果随机数为0.1，其位于0与0.325间的范围中，则此随机数0.1被代入第一个分段线性函数，而取得等待时间值为646.15Clks。如果随机数为0.75，其位于0.325与1间的范围中，则此随机数0.75被代入第二个分段线性函数，而取得等待时间值为844.44Clks。
在又一实施例中，统计数据亦如图2所示，假设全部共有2000个请求，而其等待时间值的范围从600Clks到900Clks。整个等待时间值的范围(也就是600-900Clks)可被细分为600-700Clks与700-900Clks两个不相等的范围。而在600-700Clks这个范围中，累积有300个请求，占全部请求的15％；在700-900Clks这个范围中，累积有1700个请求，占全部请求的85％。
在步骤104中，根据在600-700Clks与700-900Clks两个范围中所累积的请求，分别产生分段线性函数。如先前所述，还用每一细分范围中所累积的请求相对于全部请求的比例，来决定分段线性函数的区段。举例来说，在600-700Clks这个范围中所累积的请求，占全部请求的15％，因此600-700Clks这个范围的分段线性函数便建立在0与0.15之间。依此，700-900Clks这个范围的分段线性函数便建立在0.15与1之间。此范例的分段线性函数条列于下并显示于图3c。
Y＝X*(700-600)/(0.15-0.0)+600，其中X在0与0.15之间；
Y＝(X-0.15)*(900-700)/(1-0.15)+700，其中X在0.15与1之间。
在步骤106中，如果随机数为0.1，其位于0与0.15间的范围中，则此随机数0.1被代入第一个分段线性函数，而取得等待时间值为666.67Clks。如果随机数为0.75，其位于0.15与1间的范围中，则此随机数0.75被代入第二个分段线性函数，而取得等待时间值为841.18Clks。
在另一实施例中，统计数据亦如图2所示，但等待时间值落在700-800Clks范围内的请求被忽略不计，因此全部共有1300个请求，而其等待时间值的范围从600Clks到700Clks以及从800Clks到900Clks。而在600-700Clks这个范围中，累积有300个请求，占全部请求的23.1％；在800-900Clks这个范围中，累积有1000个请求，占全部请求的76.9％。
在步骤104中，根据在600-700Clks与800-900Clks两个范围中所累积的请求，分别产生分段线性函数。如先前所述，还用每一细分范围中所累积的请求相对于全部请求的比例，来决定分段线性函数的区段。举例来说，在600-700Clks这个范围中所累积的请求，占全部请求的23.1％，因此600-700Clks这个范围的分段线性函数便建立在0与0.231之间。依此，800-900Clks这个范围的分段线性函数便建立在0.231与1之间。此范例的分段线性函数条列于下并显示于图3d。
Y＝X*(700-600)/(0.231-0.0)+600，其中X在0与0.231之间；
Y＝(X-0.231)*(900-800)/(1-0.231)+800，其中X在0.231与1之间。
在步骤106中，如果随机数为0.1，其位于0与0.231间的范围中，则此随机数0.1被代入第一个分段线性函数，而取得等待时间值为643.29Clks。如果随机数为0.75，其位于0.231与1间的范围中，则此随机数0.75被代入第二个分段线性函数，而取得等待时间值为867.49Clks。
虽然本发明已以实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何具有本发明所属技术领域的通常知识者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作各种更动与润饰，并可思揣其它不同的实施例，因此本发明的保护范围当视所附权利要求范围所界定者为准。

Claims (20)

1.一种验证集成电路效能模型的方法，包含：
(a)取得存取存储器的请求的统计数目与其对应等待时间值；
(b)根据该统计数目与该对应等待时间值产生至少一等待时间的函数；
(c)将一随机数代入该等待时间的函数以取得一等待时间值；以及
(d)根据所取得的等待时间值验证该集成电路效能模型的逻辑。
2.根据权利要求1所述的方法，其中该等待时间的函数为分段线性函数。
3.根据权利要求2所述的方法，其中步骤(a)：在该对应等待时间值的范围内决定至少一第一范围与一第二范围，以及导出在该第一范围内所累积的请求的第一请求数目与在该第二范围内所累积的请求的第二请求数目。
4.根据权利要求3所述的方法，其中步骤(b)：根据该第一请求数目产生该第一范围的第一分段线性函数，以及根据该第二请求数目产生该第二范围的第二分段线性函数。
5.根据权利要求4所述的方法，其中该第一范围与该第二范围不相等。
6.根据权利要求4所述的方法，其中该第一范围与该第二范围不相邻。
7.根据权利要求4所述的方法，其中另有请求累积在该第一范围与该第二范围以外的第三范围。
8.根据权利要求4所述的方法，其中从该统计数目的范围中选择该随机数。
9.根据权利要求4所述的方法，其中该第一范围内所累积的请求与在该第二范围内所累积的请求合计为一总和，而步骤(a)：导出在该第一范围内所累积的请求相对于该总和的第一比例，以及导出在该第二范围内所累积的请求相对于该总和的第二比例；
其中步骤(b)还以该第一比例决定该第一分段线性函数的区段，以该第二比例决定该第二分段线性函数的区段。
10.根据权利要求9所述的方法，其中从0至1之间选择该随机数。
11.一种设计集成电路的方法，包含：
编写该集成电路的源编码；
产生该集成电路的效能模型；以及
验证该效能模型，该验证包含：
(a)取得存取存储器的请求的统计数目与其对应等待时间值；
(b)根据该统计数目与该对应等待时间值产生至少一等待时间的函数；
(c)将一随机数代入该等待时间的函数以取得一等待时间值；以及
(d)根据所取得的等待时间值验证该效能模型的逻辑。
12.根据权利要求11所述的方法，其中该等待时间的函数为分段线性函数。
13.根据权利要求12所述的方法，其中步骤(a)：在该对应等待时间值的范围内决定至少一第一范围与一第二范围，以及导出在该第一范围内所累积的请求的第一请求数目与在该第二范围内所累积的请求的第二请求数目。
14.根据权利要求13所述的方法，其中步骤(b)：根据该第一请求数目产生该第一范围的第一分段线性函数，以及根据该第二请求数目产生该第二范围的第二分段线性函数。
15.根据权利要求14所述的方法，其中该第一范围内所累积的请求与在该第二范围内所累积的请求合计为一总和，而步骤(a)：导出在该第一范围内所累积的请求相对于该总和的第一比例，以及导出在该第二范围内所累积的请求相对于该总和的第二比例；
其中步骤(b)还以该第一比例决定该第一分段线性函数的区段，以该第二比例决定该第二分段线性函数的区段。
16.一种动态仿真存储器等待时间以设计集成电路的方法，包含：
编写该集成电路的源编码；
产生该集成电路的效能模型；以及
验证该效能模型，该验证包含：
(a)取得存取存储器的请求的统计数目与其对应等待时间值；
(b)根据该统计数目与该对应等待时间值产生至少一等待时间的函数；
(c)将一随机数代入该等待时间的函数以取得一等待时间值；
(d)将另一随机数代入该等待时间的函数以取得另一等待时间值；以及
(e)根据所取得的等待时间值验证该效能模型的逻辑。
17.根据权利要求16所述的方法，其中该等待时间的函数为分段线性函数。
18.根据权利要求17所述的方法，其中步骤(a)：在该对应等待时间值的范围内决定至少一第一范围与一第二范围，以及导出在该第一范围内所累积的请求的第一请求数目与在该第二范围内所累积的请求的第二请求数目。
19.根据权利要求18所述的方法，其中步骤(b)：根据该第一请求数目产生该第一范围的第一分段线性函数，以及根据该第二请求数目产生该第二范围的第二分段线性函数。
20.根据权利要求19所述的方法，其中该第一范围内所累积的请求与在该第二范围内所累积的请求合计为一总和，而步骤(a)：导出在该第一范围内所累积的请求相对于该总和的第一比例，以及导出在该第二范围内所累积的请求相对于该总和的第二比例；
其中步骤(b)还以该第一比例决定该第一分段线性函数的区段，以该第二比例决定该第二分段线性函数的区段。
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