CN108254395B - 扫描图像校正装置、方法和移动式扫描设备 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 82
- 238000003702 image correction Methods 0.000 title claims abstract description 42
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims abstract description 109
- 230000008569 process Effects 0.000 claims abstract description 53
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 37
- 230000008859 change Effects 0.000 claims abstract description 35
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims abstract description 11
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims description 102
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 claims description 61
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 33
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 9
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 claims description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 7
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 abstract description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 6
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 5
- 238000012886 linear function Methods 0.000 description 5
- 230000009471 action Effects 0.000 description 3
- 238000004846 x-ray emission Methods 0.000 description 3
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000007792 addition Methods 0.000 description 1
- 238000004422 calculation algorithm Methods 0.000 description 1
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
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- G—PHYSICS
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/03—Investigating materials by wave or particle radiation by transmission
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/03—Investigating materials by wave or particle radiation by transmission
- G01N2223/04—Investigating materials by wave or particle radiation by transmission and measuring absorption
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/30—Accessories, mechanical or electrical features
- G01N2223/303—Accessories, mechanical or electrical features calibrating, standardising
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/30—Accessories, mechanical or electrical features
- G01N2223/33—Accessories, mechanical or electrical features scanning, i.e. relative motion for measurement of successive object-parts
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/40—Imaging
- G01N2223/401—Imaging image processing
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Abstract
本发明公开了一种扫描图像校正装置、方法和移动式扫描设备。该装置包括:图像采集模块,被配置为在使用移动式图像扫描设备扫描受检物的扫描过程中,采集受检物的扫描图像,确定扫描图像的图像参数;臂摆检测模块,被配置为在扫描过程中,检测探测器臂在指定方向上的位移偏移量,并建立探测器臂的臂摆模型,以拟合探测器臂的位移偏移量与扫描过程中的时间的函数关系;图像参数校正模块,被配置为通过臂摆模型和扫描图像的图像参数,确定扫描图像的图像参数随探测器臂的位移偏移量的变化关系,并基于变化关系对扫描图像进行校正。根据本发明实施例提供的扫描图像校正装置,可以改善扫描图像的成像质量,获得较好的扫描图像校正效果。
Description
技术领域
本发明涉及成像技术领域,尤其涉及扫描图像校正装置、方法和移动式扫描设备。
背景技术
移动式扫描设备采用悬臂式结构,在扫描过程中探测器臂架不可避免会产生晃动,尤其是目前越来越多的大扫描通道类设备,在扫描通道加大的同时,同样加剧了臂架摆动的程度,臂架摆动会导致位于探测器臂架的探测器接收到的射线剂量产生波动,从而导致扫描图像会产生明暗相间的条纹,由于臂架摆动产生的条纹会降低图像扫描指标例如空间丝分辨力、反差丝分辨力和空间线对,影响成像质量。
现有技术中,通常可以通过安装锁紧装置限制探测器臂架的摆动,但是该方法对成像质量的改进效果精度较低,改进效果较差。
发明内容
本发明实施例提供一种扫描图像校正装置、方法和移动式扫描设备,可以改善扫描图像的成像质量,获得较好的扫描图像改进效果。
根据本发明实施例的一方面,提供一种扫描图像校正装置,包括图像采集模块、臂摆检测模块和图像参数校正模块,其中,
图像采集模块,被布置为位于移动式图像扫描设备的探测器臂上,图像采集模块被配置为在使用移动式图像扫描设备扫描受检物的扫描过程中,采集受检物的扫描图像,确定扫描图像的图像参数;
臂摆检测模块,被布置为位于探测器臂上的监测点,臂摆检测模块被配置为在扫描过程中,检测探测器臂在指定方向上的位移偏移量,并建立探测器臂的臂摆模型,臂摆模型用于拟合探测器臂的位移偏移量与扫描过程中的时间的函数关系;
图像参数校正模块,被配置为通过臂摆模型和扫描图像的图像参数,确定扫描图像的图像参数随探测器臂的位移偏移量的变化关系,并基于变化关系对扫描图像进行校正。
根据本发明实施例的另一方面,提供一种扫描图像校正方法,包括:在使用移动式扫描设备扫描受检物的扫描过程中,利用位于移动式扫描设备的探测器臂上的图像采集模块,采集受检物的扫描图像,确定扫描图像的图像参数;
在扫描过程中,通过位于探测器臂上的监测点的臂摆检测模块,检测探测器臂在指定方向上的位移偏移量,并建立探测器臂的臂摆模型,臂摆模型用于拟合探测器臂的位移偏移量与扫描过程中的时间的函数关系;
通过臂摆模型和扫描图像的图像参数,确定扫描图像的图像参数随探测器臂的位移偏移量的变化关系,并基于变化关系对扫描图像进行校正。
根据本发明实施例的再一方面,提供一种移动式扫描设备,包括:包括射线源、准直器、探测器臂、探测器以及上述实施例中的扫描图像校正装置;其中,探测器臂包括第一子探测器臂和第二子探测器臂,第一子探测器臂被配置为水平或垂直于第二子探测器臂,并且第一子探测器臂和第二子探测器臂上均布置有探测器;并且其中,
射线源,用于辐射射线以穿透受检物;
射线源辐射的射线经由准直器限制而射向探测器;
探测器,用于接收穿透受检物的射线,并根据接收到的射线生成受检物的扫描图像。
根据本发明实施例中的扫描图像校正装置、方法和移动式扫描设备,通过臂摆检测模块采集探测器臂在扫描过程中的偏摆数据,建立该探测器臂的摆动模型,并分析探测器臂的臂摆位移和扫描图像的图像参数的变化关系,从而计算得到扫描图像的扫描参数的补偿量,根据该扫描参数的补偿量对扫描图像进行校正,从而达到改善扫描图像的目的,获得精度较高的图像校正效果。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案,下面将对本发明实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是示出根据本发明实施例的扫描图像校正装置的结构示意图;
图2是示出根据本发明一些示例性实施例的扫描图像校正装置的详细的结构示意图;
图3是示出根据本发明实施例的扫描图像校正方法的流程图;
图4是示出根据本发明实施例的移动式扫描设备的结构示意图
图5是示出根据本发明一个示例性实施例的移动式图像扫描设备的结构示意图。
具体实施方式
下面将详细描述本发明的各个方面的特征和示例性实施例,为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细描述。应理解,此处所描述的具体实施例仅被配置为解释本发明,并不被配置为限定本发明。对于本领域技术人员来说,本发明可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对实施例的描述仅仅是为了通过示出本发明的示例来提供对本发明更好的理解。
需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括……”限定的要素,并不排除在包括要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
为了更好的理解本发明,下面将结合附图,详细描述根据本发明实施例的扫描图像校正装置、扫描图像校正方法和移动式扫描设备,应注意,这些实施例并不是用来限制本发明公开的范围。
图1是示出根据本发明实施例的扫描图像校正装置的结构示意图。如图1所示,本发明实施例的扫描图像校正装置100包括:图像采集模块110、臂摆检测模块120和图像参数校正模块130。
图像采集模块110,被布置为位于移动式图像扫描设备的探测器臂上,该图像采集模块110被配置为在使用移动式图像扫描设备扫描受检物的扫描过程中,采集受检物的扫描图像,确定扫描图像的图像参数。
臂摆检测模块120,被布置为位于探测器臂上的监测点,该臂摆检测模块120被配置为在该扫描过程中,检测探测器臂在指定方向上的位移偏移量,并建立探测器臂的臂摆模型,该臂摆模型用于拟合探测器臂的位移偏移量与扫描过程中的时间的函数关系。
图像参数校正模块130,被配置为通过该臂摆模型和扫描图像的图像参数,确定扫描图像的图像参数随探测器臂的位移偏移量的变化关系,并基于变化关系对扫描图像进行校正。
在本发明实施例中,可以在扫描设备的探测器臂上增加臂摆检测模块,通过臂摆检测模块采集探测器臂在扫描过程中的偏摆数据,根据扫描过程中探测器臂的偏摆数据,建立该探测器臂的摆动模型,确定该摆动模型和扫描图像的图像参数,确定探测器臂的臂摆位移和扫描图像的图像参数的变化关系,从而计算得到扫描图像的扫描参数的补偿量,根据该扫描参数的补偿量对扫描图像进行校正,从而达到改善扫描图像的目的。
图2是示出根据本发明一些示例性实施例的扫描图像校正装置的详细的结构示意图。图2与图1中相同或等同的结构使用相同的标号。
如图2所示,在一些实施例中,臂摆检测模块120具体可以包括:臂摆信号采集单元121、臂摆位移计算单元122和臂摆模型建立单元123,
具体地,臂摆信号采集单元121,被配置为在扫描过程中,采集探测器臂在指定方向上的加速度值。
臂摆位移计算单元122,被配置为根据采集到的加速度值,计算在指定方向上探测器臂在每个指定时刻的位移偏移量。
臂摆模型建立单元123,被配置为根据计算得到的位移偏移量,确定探测器臂的位移偏移量与扫描过程中的时间的对应关系曲线,拟合对应关系曲线,得到探测器臂的臂摆模型。
在一个实施例中,臂摆信号采集单元121可以包括多个加速度传感器,该多个加速度传感器被布置位于探测器臂的多个监测点。
在该实施例中,臂摆信号采集单元121还可以被配置为在扫描过程中,利用多个加速度传感器,在指定方向上采集探测器臂的每个监测点在指定时刻的加速度值。
在一个实施例中,指定方向可以是移动式扫描设备的行进方向,臂摆信号采集单元可以在移动式扫描设备的行进方向上,采集探测器臂上各监测点在扫描过程中每一时刻的加速度值。
在该实施例中,臂摆位移计算单元122还可以被配置为根据多个加速度传感器采集到的加速度值,计算探测器臂的每个监测点在每个指定时刻的位移偏移量。
在一个实施例中,加速度值可以用于衡量探测器臂在监测点的臂摆速度的变化速率,为了获得探测器臂的每个监测点在每个指定时刻的位移偏移量,可以利用加速度值求解对应的位移偏移量,例如通过对采集到的加速度进行二次积分的方法,计算探测器臂的每个监测点在每个指定时刻的位移偏移量。应理解,还可以利用其它方法根据采集到的加速度值,求解对应的位移偏移量,本发明对求解的过程和算法不做具体限定。
在该实施例中,臂摆模型建立单元123还可以被配置为根据计算得到的位移偏移量,确定探测器臂在每个监测点的位移偏移量和扫描过程中的时间的对应关系曲线,拟合该对应关系曲线,得到探测器臂的臂摆模型。
在该实施例中,为了更精确地监测探测器臂的位移情况,根据加速度传感器采集到的加速度值,计算出探测器臂上各监测点在扫描过程中每一时刻的位移量,从而拟合出描述探测器臂上各探测点的位移与时间的关系曲线,建立探测器臂的臂摆模型。
在本发明实施例中,移动式图像扫描设备的探测器臂可以包括两个子探测器臂中的至少一个,两个子探测器臂可以呈水平布置或垂直布置,子探测器臂包括至少一个监测区域;加速度传感器被布置位于至少一个监测区域的监测点。
在下面实施例的描述中,可以将该探测器臂的两个子探测器臂称为是第一子探测器臂和第二子探测器臂。作为一个示例,该第一探测器臂可以是移动式扫描设备的横探测器臂,该第二探测器臂可以是移动式扫描设备的竖探测器臂。
在一个实施例中,加速度传感器可以仅被布置在第一子探测器臂的至少一个检测区域的至少一个监测点上。也就是说,探测器臂可以包括第一子探测器臂,第一子探测器臂包括至少一个第一监测区域;多个加速度传感器可以被布置为位于至少一个第一监测区域的监测点。在该实施例中,臂摆模型包括第一臂摆子模型,该第一臂摆子模型用于拟合第一子探测器臂的位移偏移量和扫描过程中的时间的函数关系。
在该实施例中,可以通过该第一臂摆子模型和第一子探测器臂采集的扫描图像的扫描参数,确定扫描图像的图像参数随第一子探测器臂的位移偏移量的变化关系,并基于该变化关系对第一子探测器臂采集的扫描图像进行校正。
在一个实施例中,加速度传感器可以仅被布置在第二子探测器臂的至少一个检测区域的至少一个监测点上。也就是说,探测器臂可以包括第二子探测器臂,第二子探测器臂包括至少一个第二监测区域;多个加速度传感器可以被布置为位于至少一个第二监测区域上的监测点。在该实施例中,臂摆模型包括第二臂摆子模型,该第二臂摆子模型用于拟合第二子探测器臂的位移偏移量和扫描过程中的时间的函数关系。
在该实施例中,可以通过该第二臂摆子模型和第二子探测器臂采集的扫描图像的扫描参数,确定扫描图像的图像参数随第二子探测器臂的位移偏移量的变化关系,并基于该变化关系对第二子探测器臂采集的扫描图像进行校正。
为了更精确地检测探测器臂在扫描过程中的臂摆情况,可以将臂摆信号采集单元121中包括的多个加速度传感器同时布置在多个探测器臂上。
在一个实施例中,探测器臂可以包括第一子探测器臂和第二子探测器臂,第一子探测器臂包括至少一个第一监测区域,第二子探测器臂包括至少一个第二监测区域。多个加速度传感器的其中一部分可以被布置位于至少一个第一监测区域的监测点,多个加速度传感器的其中另一部分可以被布置位于至少一个第二监测区域的监测点。
在该实施例中,臂摆模型可以包括第一臂摆子模型和第二臂摆子模型,第一臂摆子模型可以用于拟合第一子探测器臂的位移偏移量和扫描过程中的时间的函数关系,第二臂摆子模型可以用于拟合第二子探测器臂的位移偏移量和扫描过程中的时间的函数关系。
作为一个示例,可以在移动式扫描设备的横探测器臂和/或竖探测器臂上分别均匀布置若干个臂摆信号采集单元,在移动式扫描设备开始扫描受检物时,在移动式扫描设备行进方向上,臂摆信号采集单元通过加速度传感器记录各监测点在每个指定时刻的加速度值;臂摆位移计算单元根据采集到的该加速度值,计算探测器臂的每个监测点在每个指定时刻的位移偏移量,根据计算得到的位移偏移量,确定探测器臂在每个监测点的位移偏移量和扫描过程中的时间的对应关系曲线,拟合对应关系曲线,得到探测器臂的臂摆模型。
继续参考图2,在一些实施例中,图像参数校正模块130具体可以包括:
参数变化关系确定单元131,被配置为利用扫描图像的图像参数和臂摆检测模块建立的臂摆模型,确定扫描图像的图像参数随探测器臂的位移偏移量的变化关系。
参数补偿函数确定单元132,被配置为分析图像参数随探测器臂的位移偏移量的变化关系,根据变化关系对探测器臂的位移偏移量与参数补偿量的函数关系进行线性拟合。
图像参数校正单元133,被配置为根据采集到的探测器臂的每个监测点在每个指定时刻的位移偏移量,和线性拟合得到的探测器臂的位移偏移量与参数补偿量的函数关系,计算得到扫描图像的参数补偿量,利用参数补偿量对扫描图像的图像参数进行校正。
在一个实施例中,该线性拟合得到的探测器臂的位移偏移量与参数补偿量的函数关系,可以表示为一个线性函数表达式,该线性函数表达式的自变量为采集到的探测器臂的各监测点在每个指定时刻的位移偏移量,该该线性函数表达式的因变量为参数补偿量,该线性函数表达式的拟合参数取决于臂架结构,不同的臂架结构,线性函数表达式的拟合参数可以不同。
在该实施例中,通过对比臂摆位移与扫描图像的扫描参数的变化关系,计算得到扫描参数的补偿值,根据扫描参数的补偿值对扫描图像的图像参数进行校正。
在一个实施例中,图像参数可以包括扫描图像的分辨率或灰度值。
在本发明实施例中,可以利用臂摆检测模块对移动式扫描设备在扫描过程中臂架摆动情况进行记录,建立臂架摆动的模型;并结合扫描时的图像数据,建立起臂摆与图像之间的对应关系,并根据每一次扫描中采集的各个监测点的臂摆偏移数据,对当前扫描图像进行校正。相比于改变机械结构,本发明实施例的扫描图像校正装置,不需要改变移动式扫描设备的机械结构,在不增加设备安装和维护成本的前提下,改善移动式扫描设备的图像质量,提高扫描设备的图像性能指标,获得精度较高的成像质量的改进效果。
下面结合附图,介绍根据本发明实施例的扫描图像校正方法。图3是示出根据本发明实施例的扫描图像校正方法的流程图。如图3所示,本发明实施例中的扫描图像校正方法300包括以下步骤:
步骤S310,在使用移动式扫描设备扫描受检物的扫描过程中,利用位于移动式扫描设备的探测器臂上的图像采集模块,采集受检物的扫描图像,确定扫描图像的图像参数。
步骤S320,在扫描过程中,通过位于探测器臂上的监测点的臂摆检测模块,检测探测器臂在指定方向上的位移偏移量,并建立探测器臂的臂摆模型,臂摆模型用于拟合探测器臂的位移偏移量与扫描过程中的时间的函数关系。
在一个实施例中,步骤S320具体可以包括:
在扫描过程中,采集探测器臂在指定方向上的加速度值;根据采集到的加速度值,计算在指定方向上探测器臂在每个指定时刻的位移偏移量;根据计算得到的位移偏移量,确定探测器臂的位移偏移量与扫描过程中的时间的对应关系曲线,拟合对应关系曲线,得到探测器臂的臂摆模型。
作为一个具体的实施例,步骤S320还可以包括:
步骤S321,在扫描过程中,通过位于探测器臂上的多个加速度传感器,在指定方向上采集探测器臂的每个监测点在指定时刻的加速度值。
步骤S322,根据多个加速度传感器采集到的加速度值,计算探测器臂的每个监测点在每个指定时刻的位移偏移量。
步骤S323,根据计算得到的位移偏移量,确定探测器臂在每个监测点的位移偏移量和扫描过程中的时间的对应关系曲线,拟合对应关系曲线,得到探测器臂的臂摆模型。
通过上述步骤S321-S323,可以根据加速度传感器采集到的加速度值,计算出探测器臂上各监测点在扫描过程中每一时刻的位移量,拟合出描述竖臂上探测器各监测点的位移与时间的函数关系曲线以建立探测臂的臂摆模型。
在一个实施例中,移动式扫描设备的探测器臂为两个子探测器臂中的至少一个,两个子探测器臂呈水平布置或垂直布置;子探测器臂包括至少一个监测区域;多个加速度传感器被布置位于至少一个监测区域的监测点。
在一个实施例中,探测器臂可以包括第一子探测器臂,第一子探测器臂包括至少一个第一监测区域;多个加速度传感器被布置位于至少一个第一监测区域的监测点。在该实施例中,臂摆模型包括第一臂摆子模型,第一臂摆子模型用于拟合第一子探测器臂的位移偏移量和扫描过程中的时间的函数关系。
在一个实施例中,探测器臂可以包括第二子探测器臂,第二子探测器臂包括至少一个第二监测区域;多个加速度传感器被布置为位于至少一个第二监测区域上的监测点;在该实施例中,臂摆模型包括第二臂摆子模型,第二臂摆子模型用于拟合第二子探测器臂的位移偏移量和扫描过程中的时间的函数关系。
在一个实施例中,探测器臂包括第一子探测器臂和第二子探测器臂,第一子探测器臂包括至少一个第一监测区域,第二子探测器臂包括至少一个第二监测区域。在该实施例中,多个加速度传感器的其中一部分被布置位于至少一个第一监测区域的监测点,多个加速度传感器的其中另一部分被布置位于至少一个第二监测区域的监测点;在该实施例中,臂摆模型包括第一臂摆子模型和第二臂摆子模型,第一臂摆子模型用于拟合第一子探测器臂的位移偏移量和指定时刻的函数关系,第二臂摆子模型用于拟合第二子探测器臂的位移偏移量和指定时刻的函数关系。
在本发明实施例中,移动式扫描设备可以包括多个探测器臂,臂摆检测模块可以被布置位于其中至少一个探测器臂上,在扫描过程中,臂摆检测模块可以基于加速度传感器采集的臂架摆动的加速度数据,计算得到探测器臂的臂摆位移,从而构建对应的探测器臂的臂摆模型,为后续评估扫描过程中探测器臂的臂摆位移对受检物成像的影响提供了精确的数据基础。
在该实施例中,步骤S320具体可以包括:
步骤S10,在扫描过程中,利用至少一个第一监测区域的监测点的加速度传感器,在指定方向上采集第一子探测器臂在第一监测区域的每个监测点在指定时刻的加速度值;
步骤S11,根据采集到的第一子探测器臂在第一监测区域的每个监测点在指定时刻的加速度值,计算第一子探测器臂在第一监测区域的每个监测点在指定时刻的位移偏移量,并建立第一臂摆子模型。
在该实施例中,步骤S320具体还可以包括:
步骤S20,在扫描过程中,利用至少一个第二监测区域的监测点的加速度传感器,在指定方向上采集第二子探测器臂在第二监测区域的每个监测点在指定时刻的加速度值;
步骤S21,根据采集到的第二子探测器臂在第一监测区域的每个监测点在指定时刻的加速度值,计算第二子探测器臂在第二监测区域的每个监测点在指定时刻的位移偏移量,并建立第二臂摆子模型。
在该实施例中,可以对第一臂摆子模型和第二臂摆子模型进行拟合,得到移动式扫描设备的探测器臂的臂摆模型。
步骤S330,通过臂摆模型和扫描图像的图像参数,确定扫描图像的图像参数随探测器臂的位移偏移量的变化关系,并基于变化关系对扫描图像进行校正。
在一个实施例中,步骤S330具体可以包括:
步骤S331,利用扫描图像的图像参数和臂摆检测模块建立的臂摆模型,确定扫描图像的图像参数随探测器臂的位移偏移量的变化关系。
步骤S332,分析图像参数随探测器臂的位移偏移量的变化关系,根据变化关系对探测器臂的位移偏移量与参数补偿量的函数关系进行线性拟合。
步骤S333,根据采集到的探测器臂的每个监测点在每个指定时刻的位移偏移量,和线性拟合得到的探测器臂的位移偏移量与参数补偿量的函数关系,计算得到扫描图像的参数补偿量,利用参数补偿量对扫描图像的图像参数进行校正。
在该实施例中,通过分析对比臂摆位移与扫描图像的扫描参数的变化关系,计算得到扫描参数的补偿值,根据扫描参数的补偿值对扫描图像的图像参数进行校正。
本发明实施例的扫描图像校正装置,不需要改变移动式扫描设备的机械结构且计算精度较高,改善移动式扫描设备的图像质量,提高扫描设备的图像性能指标,且计算精度较高,图像质量改进效果较好。
根据本发明实施例的扫描图像校正方法的其他细节与以上结合图1和图2描述的根据本发明实施例的扫描图像校正装置类似,在此不再赘述。
图4示出了根据本发明实施例的移动式扫描设备的结构示意图。如图4所示,在一个实施例中,移动式扫描设备400可以包括:
射线源410、准直器420、探测器臂430、探测器440以及本发明上述实施例描述的扫描图像校正装置100;其中,
探测器臂430包括第一子探测器臂和第二子探测器臂,第一子探测器臂被配置为水平或垂直于第二子探测器臂,并且探测器440可以被布置位于第一子探测器臂和第二子探测器臂中的至少一个;并且其中,
射线源410,用于辐射射线以穿透受检物;
射线源410辐射的射线经由准直器420限制而射向探测器440;
探测器440,用于接收穿透受检物的射线,并根据接收到的射线生成受检物的扫描图像。
在一个实施例中,射线源410为可以产生射线的加速器。
在一个实施例中,移动式扫描设备还可以包括:射线剂量监测模块450,用于监测射线的辐射剂量,以对射线源的辐射剂量进行校准。
在该实施例中,当射线源产生射线的辐射剂量发生波动时,也会对图像质量带来影响,为了增加扫描图像校正装置根据臂架摆动情况对图像参数进行补偿的准确性,排除射线源辐射剂量波动带来的影响,可以在准直器前增加剂量监测模块,采集加速器剂量波动数据,并在扫描图像中对加速器波动进行校正,过滤射线源的剂量波动带来的干扰。
下面结合图5描述根据本发明实施例的扫描图像校正装置、图像扫描方法。图5是示出根据本发明一个示例性实施例的移动式图像扫描设备的结构示意图。
如图5所示,该移动式图像扫描设备包括射线源410,横探测器臂431,竖探测器臂432,位于横探测器臂431和竖探测器臂432上的多个探测器440。
在一个实施例中,可以将位于横探测器臂431和竖探测器臂432上每个探测器作为一个臂摆监测点,每个臂摆监测点设置一个臂摆检测模块。
在另一个实施例中,可以将横探测器臂431和竖探测器臂432划分为多个监测区域,每个监测区域布置有臂摆检测模块。
作为一个示例,横探测器臂431可以被划分为三个监测区域,每个监测区域设置有臂摆检测模块121、臂摆检测模块122、臂摆检测模块123。
作为一个示例,竖探测器臂432可以被划分为五个监测区域,位于竖探测器臂上的臂摆检测模块124、臂摆检测模块125、臂摆检测模块126、臂摆检测模块127、臂摆检测模块128。
在该移动式图像扫描设备中,射线源410的加速器靶点作为X射线发射点,经由准直器420的限制而射向横探测器臂431和竖探测器臂432上的多个探测器440,当该X射线发射点与该两个探测器臂的臂架位于一个平面时,位于臂架上的探测器440采集到的射线剂量最大,此时生成受检物的扫描图像质量最佳。
当扫描过程中臂架发生摆动时,可以利用分别位于横探测器臂431和竖探测器臂432上的臂摆检测模块,检测移动式图像扫描设备在行进方向上的位移偏移量,建立探测器臂的臂摆模型,并通过臂摆模型和扫描图像的图像参数例如灰度值,确定扫描图像的灰度值随探测器臂的位移偏移量的变化关系,并基于变化关系对扫描图像进行校正,从而降低臂架摆动对扫描图像的影响,提高扫描设备的图像性能指标。
在上述实施例中,可以全部或部分地通过软件、硬件、固件或者其任意组合来实现。当使用软件实现时,可以全部或部分地以计算机程序产品或计算机可读存储介质的形式实现。所述计算机程序产品或计算机可读存储介质包括一个或多个计算机指令。在计算机上加载和执行所述计算机程序指令时,全部或部分地产生按照本发明实施例所述的流程或功能。所述计算机可以是通用计算机、专用计算机、计算机网络、或者其他可编程装置。所述计算机指令可以存储在计算机可读存储介质中,或者从一个计算机可读存储介质向另一个计算机可读存储介质传输,例如,所述计算机指令可以从一个网站站点、计算机、服务器或数据中心通过有线(例如同轴电缆、光纤、数字用户线(DSL))或无线(例如红外、无线、微波等)方式向另一个网站站点、计算机、服务器或数据中心进行传输。所述计算机可读存储介质可以是计算机能够存取的任何可用介质或者是包含一个或多个可用介质集成的服务器、数据中心等数据存储设备。所述可用介质可以是磁性介质,(例如,软盘、硬盘、磁带)、光介质(例如,DVD)、或者半导体介质(例如固态硬盘Solid State Disk(SSD))等。
需要明确的是,本发明并不局限于上文所描述并在图中示出的特定配置和处理。为了简明起见,这里省略了对已知方法的详细描述。在上述实施例中,描述和示出了若干具体的步骤作为示例。但是,本发明的方法过程并不限于所描述和示出的具体步骤,本领域的技术人员可以在领会本发明的精神后,作出各种改变、修改和添加,或者改变步骤之间的顺序。
以上所述,仅为本发明的具体实施方式,所属领域的技术人员可以清楚地了解到,为了描述的方便和简洁,上述描述的系统、模块和单元的具体工作过程,可以参考前述方法实施例中的对应过程,在此不再赘述。应理解,本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到各种等效的修改或替换,这些修改或替换都应涵盖在本发明的保护范围之内。
Claims (13)
1.一种扫描图像校正装置,其特征在于,所述图像校正装置包括图像采集模块、臂摆检测模块和图像参数校正模块,其中,
所述图像采集模块,被布置为位于移动式扫描设备的探测器臂上,所述图像采集模块被配置为在使用所述移动式扫描设备扫描受检物的扫描过程中,采集所述受检物的扫描图像,确定所述扫描图像的图像参数,所述图像参数包括扫描图像的分辨率或灰度值;
所述臂摆检测模块,被布置为位于所述探测器臂上的监测点,所述臂摆检测模块被配置为在所述扫描过程中,检测所述探测器臂在指定方向上的位移偏移量,并建立所述探测器臂的臂摆模型,所述臂摆模型用于拟合所述探测器臂的位移偏移量与所述扫描过程中的时间的函数关系;
所述图像参数校正模块,被配置为通过所述臂摆模型和所述扫描图像的图像参数,确定所述扫描图像的图像参数随所述探测器臂的位移偏移量的变化关系,并基于所述变化关系对所述扫描图像的图像参数进行校正。
2.根据权利要求1所述的扫描图像校正装置,其特征在于,
所述臂摆检测模块包括臂摆信号采集单元、臂摆位移计算单元和臂摆模型建立单元,其中,
所述臂摆信号采集单元,被配置为在所述扫描过程中,采集所述探测器臂在所述指定方向上的加速度值;
所述臂摆位移计算单元,被配置为根据采集到的所述加速度值,计算在所述指定方向上所述探测器臂在每个指定时刻的位移偏移量;
所述臂摆模型建立单元,被配置为根据计算得到的所述位移偏移量,确定所述探测器臂的位移偏移量与所述扫描过程中的时间的对应关系曲线,拟合所述对应关系曲线,得到所述探测器臂的臂摆模型。
3.根据权利要求2所述的扫描图像校正装置,其特征在于,
所述臂摆信号采集单元包括多个加速度传感器,所述多个加速度传感器位于所述探测器臂的多个监测点,其中,
所述臂摆信号采集单元,还被配置为在所述扫描过程中,利用所述多个加速度传感器,在指定方向上采集所述探测器臂的每个监测点在指定时刻的加速度值;
所述臂摆位移计算单元,还被配置为根据所述多个加速度传感器采集到的所述加速度值,计算所述探测器臂的每个监测点在每个指定时刻的位移偏移量;
所述臂摆模型建立单元,还被配置为根据计算得到的所述位移偏移量,确定所述探测器臂在每个监测点的位移偏移量和所述扫描过程中的时间的对应关系曲线,拟合所述对应关系曲线,得到所述探测器臂的臂摆模型。
4.根据权利要求3所述的扫描图像校正装置,其特征在于,
所述探测器臂包括两个子探测器臂中的至少一个,所述两个子探测器臂呈水平布置或垂直布置;
所述子探测器臂包括至少一个监测区域;
所述加速度传感器被布置位于所述至少一个监测区域的监测点。
5.根据权利要求1所述的扫描图像校正装置,其特征在于,所述图像参数校正模块,包括:
参数变化关系确定单元,被配置为利用所述扫描图像的图像参数和所述臂摆检测模块建立的臂摆模型,确定所述扫描图像的图像参数随所述探测器臂的位移偏移量的变化关系;
参数补偿函数确定单元,被配置为分析所述图像参数随所述探测器臂的位移偏移量的变化关系,根据所述变化关系对所述探测器臂的所述位移偏移量与参数补偿量的函数关系进行线性拟合;
图像参数校正单元,被配置为根据采集到的所述探测器臂的每个监测点在每个指定时刻的位移偏移量,和线性拟合得到的所述探测器臂的位移偏移量与所述参数补偿量的函数关系,计算得到所述扫描图像的参数补偿量,利用所述参数补偿量对所述扫描图像的图像参数进行校正。
6.根据权利要求1所述的扫描图像校正装置,其特征在于,
所述指定方向为所述移动式扫描设备的行进方向。
7.一种扫描图像校正方法,其特征在于,所述扫描图像校正方法包括:
在使用移动式扫描设备扫描受检物的扫描过程中,利用位于所述移动式扫描设备的探测器臂上的图像采集模块,采集所述受检物的扫描图像,确定所述扫描图像的图像参数,所述图像参数包括扫描图像的分辨率或灰度值;
在所述扫描过程中,通过位于所述探测器臂上的监测点的臂摆检测模块,检测所述探测器臂在指定方向上的位移偏移量,并建立所述探测器臂的臂摆模型,所述臂摆模型用于拟合所述探测器臂的位移偏移量与所述扫描过程中的时间的函数关系;
通过所述臂摆模型和所述扫描图像的图像参数,确定所述扫描图像的图像参数随所述探测器臂的位移偏移量的变化关系,并基于所述变化关系对所述扫描图像的图像参数进行校正。
8.根据权利要求7所述的扫描图像校正方法,其特征在于,所述在所述扫描过程中,通过位于所述探测器臂上的监测点的臂摆检测模块,检测所述探测器臂在指定方向上的位移偏移量,并建立所述探测器臂的臂摆模型,包括:
在所述扫描过程中,采集所述探测器臂在所述指定方向上的加速度值;
根据采集到的所述加速度值,计算在所述指定方向上所述探测器臂在每个指定时刻的位移偏移量;
根据计算得到的所述位移偏移量,确定所述探测器臂的位移偏移量与所述扫描过程中的时间的对应关系曲线,拟合所述对应关系曲线,得到所述探测器臂的臂摆模型。
9.根据权利要求7所述的扫描图像校正方法,其特征在于,所述在所述扫描过程中,通过位于所述探测器臂上的监测点的臂摆检测模块,检测所述探测器臂在指定方向上的位移偏移量,并建立所述探测器臂的臂摆模型,包括:
在所述扫描过程中,通过位于所述探测器臂上的多个加速度传感器,在所述指定方向上采集所述探测器臂的每个监测点在指定时刻的加速度值;
根据所述多个加速度传感器采集到的所述加速度值,计算所述探测器臂的每个监测点在每个指定时刻的位移偏移量;
根据计算得到的所述位移偏移量,确定所述探测器臂在每个监测点的位移偏移量和所述扫描过程中的时间的对应关系曲线,拟合所述对应关系曲线,得到所述探测器臂的臂摆模型。
10.根据权利要求9所述的扫描图像校正方法,其特征在于,
所述探测器臂为两个子探测器臂中的至少一个,所述两个子探测器臂呈水平布置或垂直布置;
所述子探测器臂包括至少一个监测区域;
所述多个加速度传感器被布置位于所述至少一个监测区域的监测点。
11.根据权利要求7所述的扫描图像校正方法,其特征在于,所述通过所述臂摆模型和所述扫描图像的图像参数,确定所述扫描图像的图像参数随所述探测器臂的位移偏移量的变化关系,并基于所述变化关系对所述扫描图像进行校正,包括:
利用所述扫描图像的图像参数和所述臂摆检测模块建立的臂摆模型,确定所述扫描图像的图像参数随所述探测器臂的位移偏移量的变化关系;
分析所述图像参数随所述探测器臂的位移偏移量的变化关系,根据所述变化关系对所述探测器臂的所述位移偏移量与参数补偿量的函数关系进行线性拟合;
根据采集到的所述探测器臂的每个监测点在每个指定时刻的位移偏移量,和线性拟合得到的所述探测器臂的位移偏移量与所述参数补偿量的函数关系,计算得到所述扫描图像的参数补偿量,利用所述参数补偿量对所述扫描图像的图像参数进行校正。
12.一种移动式扫描设备,其特征在于,所述移动式扫描设备包括射线源、准直器、探测器臂、探测器以及如权利要求1-6中任一项所述的扫描图像校正装置;其中,
所述探测器臂包括第一子探测器臂和第二子探测器臂,所述第一子探测器臂被配置为水平或垂直于所述第二子探测器臂,并且所述探测器被布置位于所述第一子探测器臂和所述第二子探测器臂中的至少一个;并且其中,
所述射线源,用于辐射射线以穿透受检物;
所述射线源辐射的射线经由所述准直器限制而射向所述探测器;
所述探测器,用于接收穿透所述受检物的射线,并根据接收到的射线生成所述受检物的扫描图像。
13.根据权利要求12所述的移动式扫描设备,其特征在于,所述移动式扫描设备还包括:
射线剂量监测模块,用于监测所述射线的辐射剂量,以对所述射线源的辐射剂量进行校准。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201711456583.9A CN108254395B (zh) | 2017-12-28 | 2017-12-28 | 扫描图像校正装置、方法和移动式扫描设备 |
PCT/CN2018/118468 WO2019128616A1 (zh) | 2017-12-28 | 2018-11-30 | 扫描图像校正装置、方法和移动式扫描设备 |
EP18211129.4A EP3505863B1 (en) | 2017-12-28 | 2018-12-07 | Scanned image correction apparatus, method and mobile scanning device |
US16/231,373 US10948427B2 (en) | 2017-12-28 | 2018-12-21 | Scanned image correction apparatus, method and mobile scanning device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201711456583.9A CN108254395B (zh) | 2017-12-28 | 2017-12-28 | 扫描图像校正装置、方法和移动式扫描设备 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN108254395A CN108254395A (zh) | 2018-07-06 |
CN108254395B true CN108254395B (zh) | 2023-10-13 |
Family
ID=62724198
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201711456583.9A Active CN108254395B (zh) | 2017-12-28 | 2017-12-28 | 扫描图像校正装置、方法和移动式扫描设备 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10948427B2 (zh) |
EP (1) | EP3505863B1 (zh) |
CN (1) | CN108254395B (zh) |
WO (1) | WO2019128616A1 (zh) |
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CN108254395A (zh) | 2018-07-06 |
US20190204240A1 (en) | 2019-07-04 |
WO2019128616A1 (zh) | 2019-07-04 |
EP3505863B1 (en) | 2022-08-31 |
EP3505863A1 (en) | 2019-07-03 |
US10948427B2 (en) | 2021-03-16 |
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PB01 | Publication | ||
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