BR112012031749B1

BR112012031749B1 - Dispositivo de medição de forma, método de medição de forma, e método de fabricação de placa de vidro

Info

Publication number: BR112012031749B1
Application number: BR112012031749-0A
Authority: BR
Inventors: Kimiaki OHTO
Original assignee: AGC Inc.
Priority date: 2010-06-15
Filing date: 2011-06-15
Publication date: 2020-02-18
Also published as: TW201144751A; KR20130090326A; CN102939513B; US20130098109A1; WO2011158869A1; JP5920216B2; US9086384B2; BR112012031749A2; JPWO2011158869A1; EP2584306A1; CN102939513A; EP2584306B1; EP2584306A4

Abstract

dispositivo de medição de forma, método de medição de forma, e método de fabricação de placa de vidro. a presente invenção refere-se a uma construção simplesé possibilitada para a obtenção de uma medição precisa da forma da superfície de uma placa transparente. um aparelho para a medição de forma que inclui: uma seção de captura de imagem (2) que está disposto de tal modo que um eixo geométrico óptico se torne perpendicular em uma direção de extensão de um padrão linear x disposto acima de uma placa plana transparente (3) que serve como um objeto de medição e que captura uma imagem dos dois grupos com local de reflexo do padrão x refletido em uma primeira superfície mi e uma superfície traseira m2 da placa plana transparente (3) e gera uma imagem que contém duas imagens de reflexo separadas em uma direção perpendicular em relação à direção de extensão; uma seção de estimativa de grupo do local de reflexo da primeira superfície que estima a partir da imagem de um grupo do local de reflexo da primeira superfície a do padrão x gerado pela primeira superfície mi da placa plana transparente (3) usando-se uma relação posicional da placa plana transparente (3), do padrão x, e da seção de captura de imagem (2); uma seção de cálculo do ângulo de inclinação que calcula um ângulo de inclinação da primeira superfície mi da placa plana transparente (3) em uma posição estimada do grupo do local de reflexo da primeira superfície a usando-se a relação posicional da placa plana transparente (3), do poadrão x, e da seção de captura de imagem (2), e uma seção de determinação da forma da superfície que determina uma forma da primeira superfície mi da placa plana transparente (3) com base na inclinação calculada.

Description

Relatório Descritivo da Patente de Invenção para DISPOSITIVO DE MEDIÇÃO DE FORMA, MÉTODO DE MEDIÇÃO DE FORMA, E MÉTODO DE FABRICAÇÃO DE PLACA DE VIDRO. CAMPO TÉCNICO [001] A presente invenção refere-se a um aparelho para a medição de forma, um método de medição de forma, e um método de fabricação de placas de vidro.

Antecedentes da técnica [002] Na técnica convencional, como um exemplo de um método para medir uma forma de superfície tal como uma fina ondulação na primeira superfície de uma placa plana transparente, a técnica descrita no JP-A-2009-128098 é conhecida. Neste método de medição, uma imagem gerada, quando um padrão disposto acima de uma placa plana transparente é refletido na primeira superfície da placa plana transparente, é capturada por um sensor linear. Em seguida, com base na imagem obtida, a forma da superfície da placa plana transparente é calculada.

SUMÁRIO DA INVENÇÃO

PROBLEMA A SER SOLUCIONADO PELA INVENÇÃO [003] No entanto, no método de medição do JP-A-2009-128098, para que a imagem de reflexo da primeira superfície e a imagem de reflexo da segunda superfície da placa plana transparente estejam separadas de tal modo que uma forma exata da superfície seja obtida, um padrão projetado em correspondência à espessura da placa da placa plana transparente e um meio de captura de imagem tal como uma câmera colorida do tipo com três linhas construído a partir de uma pluralidade de sensores lineares têm sido necessários.

[004] Além disso, quando o método de medição do JP-A-2009128098 é usado, a imagem de reflexo da primeira superfície e a imagem de reflexo da segunda superfície podem ser separadas. No en

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2/27 tanto, é difícil determinar qual delas é a imagem de reflexo da primeira superfície.

[005] A presente invenção foi concebida em vista de tais situações. E é objetivo da mesma permitir que uma simples construção obtenha uma medição precisa da forma da superfície de uma placa plana transparente.

MEIOS PARA SOLUCIONAR O PROBLEMA [006] De modo a resolver os problemas mencionados acima, o aparelho para a medição de forma de acordo com um aspecto da presente invenção inclui: uma seção de captura de imagem que está disposta de tal modo que um eixo geométrico óptico se torne perpendicular a uma direção de extensão de um padrão linear disposto acima de uma placa plana transparente que serve como um objeto de medição, a seção de captura de imagem estando configurada para capturar uma imagem de dois grupos com local de reflexo do padrão gerado por uma primeira superfície e uma segunda superfície da placa plana transparente e gerar uma imagem que contém duas imagens de reflexo separadas em uma direção perpendicular em relação à direção de extensão; uma seção de estimativa de grupo do local de reflexo da primeira superfície configurada para estimar um grupo do local de reflexo da primeira superfície do padrão gerado a partir da imagem criada pela primeira superfície da placa plana transparente usando-se uma relação posicional da placa plana transparente, do padrão e da seção de captura de imagem; uma seção de cálculo do ângulo de inclinação configurada para calcular um ângulo de inclinação da primeira superfície da placa plana transparente em uma posição estimada do grupo do local de reflexo da primeira superfície usando-se a relação posicional da placa plana transparente, do padrão e da seção de captura de imagem; e uma seção de determinação da forma da superfície configurada para determinar uma forma da primeira superfície da placa

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3/27 plana transparente com base no ângulo de inclinação calculado.

[007] No aparelho de medição de forma mencionado acima, a seção de cálculo do ângulo de inclinação pode calcular o ângulo de inclinação com base na condição que um ângulo incidente da luz incidente que viaja a partir do padrão em direção à posição do grupo do local de reflexo da primeira superfície é igual a um ângulo de reflexo da luz refletida que viaja a partir da posição do grupo do local de reflexo da primeira superfície em direção à seção de captura de imagem.

[008] No aparelho de medição de forma mencionado acima, o padrão pode ser um padrão construído de tal modo que uma pluralidade de pontos esta disposta de modo linear na direção que se estende. [009] No aparelho de medição de forma mencionado acima, a placa plana transparente pode ser transportada em uma direção perpendicular em relação à direção de extensão.

[0010] De modo a resolver os problemas mencionados acima, o método de medição de forma de acordo com um aspecto da presente invenção inclui as etapas para: usar uma seção de captura de imagem disposto de tal modo que um eixo geométrico óptico se torne perpendicular em uma direção de extensão de um padrão linear disposto acima de uma placa plana transparente que serve como um objeto de medição, capturar uma imagem dos dois grupos com local de reflexo do padrão gerado por uma primeira superfície e uma segunda superfície da placa plana transparente e desse modo gerar uma imagem que contém duas imagens de reflexo separadas em uma direção perpendicular em relação à direção de extensão; estimar a partir da imagem um grupo do local de reflexo da primeira superfície do padrão na primeira superfície da placa plana transparente usando-se uma relação posicional da placa plana transparente, do padrão e da seção de captura de imagem; calcular um ângulo de inclinação da primeira superfície da placa plana transparente em uma posição estimada do grupo do

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4/27 local de reflexo da primeira superfície usando-se a relação posicionai da placa plana transparente, do padrão e da seção de captura de imagem; e determinar uma forma da primeira superfície da placa plana transparente com base no ângulo de inclinação calculado.

[0011] No método de medição de forma mencionado acima, a etapa de cálculo do ângulo de inclinação pode calcular o ângulo de inclinação com base na condição que um ângulo incidente da luz incidente que viaja a partir do padrão em direção ao grupo do local de reflexo da primeira superfície é igual a um ângulo de reflexo da luz refletida que viaja a partir da posição do grupo do local de reflexo da primeira superfície em direção à seção de captura de imagem.

[0012] No método de medição de forma mencionado acima, o padrão pode ser um padrão construído de tal modo que uma pluralidade de pontos esta disposta de modo linear na direção que se estende.

[0013] No método de medição de forma mencionado acima, a placa plana transparente pode ser transportada em uma direção perpendicular em relação à direção de extensão.

[0014] De modo a resolver os problemas mencionados acima, o método de fabricação de placas de vidro de acordo com um aspecto da presente invenção inclui: uma etapa de derretimento para derreter matéria-prima de modo a obter vidro derretido; uma etapa de modelagem para modelar o vidro derretido na forma de uma lâmina de vidro contínua e em forma de placa; uma etapa de resfriamento lento para resfriar gradualmente a lâmina de vidro no decorrer do transporte de modo a remover a tensão; uma etapa de medição para medir a forma da superfície da lâmina de vidro; uma etapa de corte para cortar a lâmina de vidro; e uma etapa de controle para controlar as condições do resfriamento lento na etapa de resfriamento lento com base em um resultado de medição da etapa de medição, no qual a etapa de medição é a etapa na qual a medição é realizada sobre a lâmina de vidro

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5/27 usando-se o método de medição de forma mencionado acima. EFEITOS DA INVENÇÃO [0015] De acordo com a presente invenção, com uma construção simples é possível obter uma medição precisa da forma da superfície de uma placa plana transparente.

BREVE DESCRIÇÃO DOS DESENHOS [0016] A figura 1 é um diagrama que mostra um método de medição da forma da superfície de uma placa plana transparente de acordo com uma primeira modalidade.

[0017] A figura 2 é um diagrama que mostra um exemplo de uma imagem G capturada por uma câmera 2 de acordo com uma primeira modalidade.

[0018] A figura 3 é um diagrama que mostra uma trajetória de feixe de luz em um caso onde uma placa plana transparente 3 é a imagem capturada a partir de uma câmera 2.

[0019] A figura 4 é um diagrama que mostra a relação entre um grupo com local de reflexo A e a forma de uma primeira superfície M1 de uma placa plana transparente 3 de acordo com uma primeira modalidade.

[0020] A figura 5 é um diagrama que mostra a configuração de um aparelho para a medição de forma para implantar um método de medição da forma da superfície de uma placa plana transparente de acordo com uma primeira modalidade.

[0021] A figura 6 é um diagrama que mostra um padrão fornecido em um membro-padrão 4' e uma imagem G' capturada por uma câmera 2 de acordo com uma segunda modalidade.

[0022] A figura 7 é um diagrama que mostra um padrão fornecido em um membro-padrão 4 e uma imagem G capturada por uma câmera 2 de acordo com uma terceira modalidade.

[0023] A figura 8 é um diagrama que mostra um método de obten

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6/27 ção da altura H de uma placa plana transparente 3 primeira superfície de acordo com uma terceira modalidade.

[0024] A figura 9 é um diagrama que mostra um método de obtenção da altura H de uma placa plana transparente 3 primeira superfície de acordo com uma terceira modalidade.

[0025] A figura 10 é um diagrama com explicação esquemática sobre uma linha de fabricação de placas de vidro onde um aparelho para a medição de forma é empregado.

[0026] A figura 11 é um fluxograma que mostra as etapas para um método de fabricação de placas de vidro.

MODOS DE REALIZAR A INVENÇÃO

Primeira modalidade [0027] Uma primeira modalidade da presente invenção é descrita abaixo com referência aos desenhos.

[0028] A figura 1 é um diagrama que mostra um método de medição da forma da superfície de uma placa plana transparente de acordo com a primeira modalidade.

[0029] Uma placa plana transparente 3 que serve como um objeto de medição é, por exemplo, uma placa de vidro (a lâmina de vidro 204 na figura 10, descrita mais adiante). Na figura 1, a placa plana transparente 3 é transportada na direção y mostrada na figura por meio do aparelho de transporte não mostrado.

[0030] Acima da placa plana transparente 3 (na direção z na figura) , um membro-padrão 4 é fornecido. Sobre uma superfície do membro-padrão 4, um padrão X é fornecido o qual é construído a partir dos pontos Xi, X2, X3,... alinhados em linha. O membro-padrão 4 é disposto de tal modo que a direção de alinhamento dos pontos Xi, X2, X3, ... fica em paralelo com a direção x na figura (uma direção perpendicular à direção de transporte e paralela à primeira superfície da placa plana transparente 3) e que a superfície munida do padrão X esteja leve

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7/27 mente inclinada em direção ao lado da placa plana transparente 3. Consequentemente, sobre a primeira superfície M1 da placa plana transparente 3, um grupo com local de reflexo A do padrão X é formado de um modo que se estende em uma direção perpendicular à direção de transporte.

[0031] Além disso, uma câmera (câmera aérea) 2 é fornecida acima da placa plana transparente 3. A câmera 2 está disposta de tal modo que o seu eixo geométrico óptico fica orientado na direção perpendicular em relação à direção de extensão do grupo com local de reflexo A e que a imagem de reflexo do padrão está contida dentro da imagem capturada. Neste caso, as posições e as orientações do membro-padrão 4 e da câmera 2 são fixas.

[0032] Na presente modalidade, uma imagem que contém a imagem de reflexo do padrão X é capturada usando-se a câmera 2 disposta deste modo. Em seguida, com base na imagem obtida, a forma da primeira superfície M1 da placa plana transparente 3 é medida. Neste caso, na presente modalidade, assume-se que a altura H (a altura média) da primeira superfície da placa plana transparente 3 é conhecida e que a forma da superfície a ser medida é uma leve ondulação ou similar presente na primeira superfície M1 da placa plana transparente 3.

[0033] Neste caso, na relação posicional da placa plana transparente 3, do membro-padrão 4, e da câmera 2 mostrada na figura 1, o padrão X do membro-padrão 4 é refletido em um grupo com local de reflexo B na segunda superfície M2 da placa plana transparente 3, e em seguida capturado pela câmera 2. A figura 2 é um diagrama que mostra um exemplo da imagem G capturada pela câmera 2. A partir da relação posicional da câmera 2 na figura 1, a direção y na figura 1 corresponde à direção inferior na imagem G na figura 2, e a direção x na figura 1 corresponde à direção esquerda na imagem G na figura 2. No

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8/27 exemplo da figura 1, conforme mostrado na figura 2, na câmera 2, a imagem de reflexo b gerada pelo grupo com local de reflexo B é capturada no momento de ser separada da posição que se desvia na direção y do eixo geométrico positivo (em direção ao lado próximo da câmera 2) a partir da imagem de reflexo a gerada pelo grupo com local de reflexo A na primeira superfície M1 da placa plana transparente 3. A quantidade de desvio de posição é determinada pela posição de disposição do membro-padrão 4 e da espessura t da placa plana transparente 3. Em seguida, quando o tamanho de cada ponto que constitui o padrão X é pequeno o bastante, a linha da imagem de reflexo gerada pelo grupo com local de reflexo A é claramente separável da linha da imagem de reflexo gerada pelo grupo com local de reflexo B.

[0034] Por exemplo, a relação posicional da placa plana transparente 3, do membro-padrão 4, da câmera 2 e do tamanho de cada ponto do padrão X é determinada pela relação mostrada na figura 3. A figura 3 é um diagrama que mostra a trajetória de feixe de luz em um caso onde a placa plana transparente 3 é a imagem capturada a partir da câmera 2 na situação visualizada na direção horizontal (a direção x) da figura 1. A câmera 2 e o membro-padrão 4 fornecido com o padrão X estão dispostos acima da placa plana transparente 3 da espessura de placa t. O comprimento de cada ponto na direção perpendicular em relação à direção de extensão do padrão X é P.

[0035] A descrição a seguir é fornecida para um caso onde o traçado do raio inverso é realizado sobre o feixe de luz que chega à câmera 2, ou seja, para um caso onde a trajetória de feixe de luz é tracejada a partir do lado da câmera com uma linha de visão LX que visualiza a placa plana transparente 3 a partir da câmera 2. A figura 3 mostra um exemplo que a linha de visão da câmera 2 (a linha reta LX) é refletida na primeira superfície M1 da placa plana transparente 3 em

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9/27 um ângulo igual ao ângulo incidente <|>i e em seguida viaja na direção da trajetória de feixe de luz LY de modo a chegar a um limite do padrão X. Nesse momento, no local de reflexo da primeira superfície M1, a linha de visão LX da câmera 2 é refratada dentro da placa plana transparente em um ângulo de refração fa, e em seguida refletida na segunda superfície M2, e em seguida refratada na primeira superfície M1, e então viaja na direção da trajetória de feixe de luz LZ, e em seguida chega ao membro-padrão 4. Isso indica que a linha de visão LX da câmera chega aos dois locais separada por uma distância Q na superfície do membro-padrão 4. Ou seja, quando a situação na qual as imagens de reflexo do padrão X refletido nas primeira e segunda superfícies da placa plana transparente 3 são capturadas pela câmera 2 é considerada indica que a imagem de reflexo b gerada pelo reflexo na segunda superfície M2 do padrão X é gerada na posição que desviase através da distância Q a partir da imagem de reflexo a gerada pelo reflexo na primeira superfície M1. Neste caso, a distância Q é calculada de acordo com a seguinte Fórmula (1) Q=2t-cos01.tan02 (1) [0036] Neste caso, o ângulo incidente Φι e o ângulo de refração Φ2 estão na relação da seguinte Fórmula (2) , onde o índice de refração da placa plana transparente 3 é denotado por n.

s^1=n.s^2 [0037] Na figura 2, a condição necessária para atender à exigência de que as imagens de reflexo a e b geradas pelos grupos com local de reflexo A e B estejam separadas, ou seja, cada ponto da imagem de reflexo a gerado pelo reflexo na primeira superfície M1 não se sobrepõe a cada ponto da imagem de reflexo b gerado pelo reflexo na segunda superfície M2 is g>0. Quando esta situação é descrita quanto à relação na figura 3, a relação posicional da placa plana transparente 3, do membro-padrão 4, e da câmera 2 e do tamanho de cada ponto

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10/27 do padrão X é determinada de tal modo que o comprimento P de cada ponto é menor do que a distância Q (P<Q). Por exemplo, quando o comprimento P de cada ponto deve ser ajustado, já é o bastante que a configuração satisfaça a seguinte Fórmula (3).

P<2t.cos 01.tan Φ2 (3) [0038] Neste caso, o padrão X não está limitado a pontos, e o comprimento P na direção perpendicular em relação à direção de extensão do padrão X pode ser de maneira apropriada definido dentro de uma faixa onde a condição mencionada acima seja satisfeita.

[0039] A figura 4 é um diagrama que mostra a relação entre o grupo com local de reflexo A e a forma da primeira superfície M1 da placa plana transparente 3, e mostra a situação na qual a relação posicional dos componentes individuais da figura 1 é visualizada a partir da direção horizontal (a direção x). Um método para calcular a forma da primeira superfície M1 da placa plana transparente 3 com base na imagem G é descrito abaixo com referência às figuras 2 e 4.

[0040] Na figura 4, o grupo com local de reflexo A está localizado sobre a primeira superfície M1 da placa plana transparente 3. Em seguida, a sua posição (a posição nas direções direita e esquerda na figura) pode ser descoberta a partir da posição (a posição na direção y na figura 2) da imagem de reflexo a gerado pelo grupo com local de reflexo A na imagem G (figura 2).

[0041] Ou seja, quando uma imagem particular G que contém a imagem de reflexo a é obtida, o grupo com local de reflexo A sobre a primeira superfície M1 da placa plana transparente 3 fica localizado sobre a linha de visão (a linha reta LA na figura 4) visualizada a partir da câmera 2 no sentido da direção da imagem de reflexo a na imagem G. Desse modo, a posição onde a linha de visão (a linha reta LA) intercepta a primeira superfície M1 da placa plana transparente 3 indica a posição do grupo com local de reflexo A sobre a primeira superfíPetição 870190116261, de 11/11/2019, pág. 14/43

11/27 cie M1 da placa plana transparente 3. Quando se considera que a altura H medida a partir de um plano particular M (o chão ou similar) até a primeira superfície M1 da placa plana transparente 3 é constante, a posição do grupo com local de reflexo A sobre a primeira superfície M1 da placa plana transparente 3 pode ser identificada no método mencionado acima.

[0042] Neste caso, conforme mostrado na figura 2, a imagem G contém: a linha da imagem de reflexo a gerada pelo grupo com local de reflexo A na primeira superfície M1 da placa plana transparente 3; e a linha da imagem de reflexo b gerada pelo grupo com local de reflexo B na segunda superfície M2 da placa plana transparente 3. Em seguida, conforme descrito acima, com base na relação posicional dos componentes individuais mostrada na figura 1, a linha superior (no lado da direção negativa y do eixo geométrico da figura 2) nas duas linhas na imagem G é a linha que corresponde à imagem de reflexo a.

[0043] Em seguida, quando a posição do grupo com local de reflexo A sobre a primeira superfície M1 da placa plana transparente 3 tiver sido identificada conforme descrito acima, com base na relação posicional do padrão X, a câmera 2, e o grupo com local de reflexo A na figura 4, a forma da parte no grupo com local de reflexo A dentro da primeira superfície M1 da placa plana transparente 3 pode ser calculado conforme descrito abaixo.

[0044] Ou seja, conforme mostrado na figura 4, a luz (indicada por uma linha reta LC) emitida a partir do padrão X do membro-padrão 4 é refletida na primeira superfície M1 da placa plana transparente 3 na posição do grupo com local de reflexo A, e em seguida viaja em direção à câmera 2. A trajetória óptica da luz refletida é uma linha reta LA. Neste caso, quando a posição do grupo com local de reflexo A sobre a primeira superfície M1 da placa plana transparente 3 é determinada, a luz incidente LC e a luz refletida LA são determinadas. Além disso, a

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12/27 partir da condição na qual o ângulo incidente φ da luz incidente LC incidente na posição do grupo com local de reflexo A é igual ao ângulo de reflexo <|) da luz refletida LA refletida na posição do grupo com local de reflexo A, um plano de reflexo Si é determinado na posição do grupo com local de reflexo A.

[0045] O plano de reflexo SI é um plano exato que constitui a primeira superfície M1 da placa plana transparente 3 na posição do grupo com local de reflexo A. Em outras palavras, a superfície local da placa plana transparente 3 na posição do grupo com local de reflexo A possui o mesmo ângulo de inclinação que o plano de reflexo Si na figura 4. Desse modo, a forma (o ângulo de inclinação) da primeira superfície M1 da placa plana transparente 3 foi obtida na posição do grupo com local de reflexo A.

[0046] Quando um processamento similar é realizado em cada local da imagem de reflexo a gerada pelo grupo com local de reflexo A na figura 2, a forma da primeira superfície M1 da placa plana transparente 3 é obtida na posição de cada local no grupo com local de reflexo A. Além disso, quando um processamento similar é realizado sucessivamente em conjunto com a condução da placa plana transparente 3 no sentido da direção y, a forma de toda a superfície da primeira superfície M1 da placa plana transparente 3 pode ser obtida.

[0047] A figura 5 é um diagrama que mostra a configuração de um aparelho para a medição de forma para implantar um método de medição da forma da superfície de uma placa plana transparente de acordo com o mencionado acima modalidade.

[0048] Na figura 5, o aparelho para a medição de forma inclui uma seção de seleção de imagem 11 e um computador 10. A seção de seleção de imagem 11 é a câmera 2 mostrada nas as figuras 1 e 4 mencionadas acima. O computador 10 inclui uma seção de captura de imagem 12, uma seção de estimativa de grupo do local de reflexo da

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13/27 primeira superfície 13, uma seção de cálculo do ângulo de inclinação 14, uma seção de determinação da forma da superfície 15, e uma seção de armazenamento 16. Neste caso, para as seções individuais de 12 a 15 do computador 10 exceto para a seção de armazenamento 16, as suas funções são implantadas quando a CPU executa um programa de computador predeterminado e armazenado em uma ROM ou similar.

[0049] A seção de capturar imagem 12 captura uma imagem G (figura 2) a partir da seção de seleção de imagem 11. Uma única imagem G pode ser usada. De maneira alternativa, uma pluralidade de imagens G pode ser usada imagens essas que são capturadas sucessivamente em correspondência à condução da placa plana transparente 3. A partir de uma única imagem G, como um resultado do processamento das seções individuais descritas abaixo, a forma da primeira superfície M1 da placa plana transparente 3 pode ser obtida em uma seção transversal particular em paralelo ao eixo geométrico x (figura 1). Além disso, quando uma pluralidade de imagens consecutivas G é usada, a forma da superfície pode ser obtida de alguma forma em uma região dispersa da primeira superfície M1 da placa plana transparente

3.

[0050] A seção de estimativa de grupo do local de reflexo da primeira superfície 13 detecta a partir da imagem G a imagem de reflexo a contida na imagem G e gerada pelo grupo com local de reflexo A do padrão X na primeira superfície M1 da placa plana transparente 3. De maneira específica, primeiro, a seção de estimativa de grupo do local de reflexo da primeira superfície 13 detecta a imagem de reflexo a e a imagem de reflexo b (duas linhas) a partir da imagem G usando-se uma técnica amplamente conhecida de processamento de imagem tal como o reconhecimento de imagem. Conforme descrito acima, a determinação de qual das duas linhas é a imagem de reflexo a de

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14/27 pendendo da relação posicionai da placa plana transparente 3, do membro-padrão 4, e da câmera 2, e consequentemente é conhecida. A seção de armazenamento 16 já armazena a informação conhecida que indica qual é a imagem de reflexo a. Em seguida, usando-se essa informação, a seção de estimativa de grupo do local de reflexo da primeira superfície 13 detecta a imagem de reflexo a a partir das duas linhas detectadas que consistem na imagem de reflexo a e na imagem de reflexo b.

[0051] Com base na imagem de reflexo a detectada a partir da imagem G, a seção de cálculo do ângulo de inclinação 14 calcula o ângulo de inclinação da primeira superfície M1 da placa plana transparente 3 na posição do grupo com local de reflexo A sobre a primeira superfície Ml da placa plana transparente 3. O procedimento detalhado de cálculo é como se segue.

[0052] Primeiro, a seção de cálculo do ângulo de inclinação 14 calcula a posição da direção vertical (direção y) da imagem de reflexo a na imagem G. Em seguida, com base na posição da direção vertical, a seção de cálculo do ângulo de inclinação 14 calcula a posição do grupo com local de reflexo A localizado sobre a primeira superfície M1 da placa plana transparente 3. De tal modo que a posição do grupo com local de reflexo A sobre a primeira superfície M1 seja obtido, conforme descrito acima, já é o bastante o fato de que a posição onde a linha reta LA na figura 4 intercepta a primeira superfície M1 da placa plana transparente 3 por meio do cálculo geométrico. De maneira alternativa, a relação correspondência entre a posição da direção vertical na imagem G e a posição sobre a primeira superfície M1 da placa plana transparente 3 pode ser posta em tabela com antecedência com base na disposição relativa da câmera 2 e da placa plana transparente

3. Em seguida, usando-se a tabela, a posição sobre a primeira superfície M1 da placa plana transparente 3 pode ser calculada com base

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15/27 na posição da direção vertical na imagem G. A informação referente à disposição da câmera 2, a tabela mencionada acima, e similar necessário para o cálculo geométrico mencionado acima é armazenada na seção de armazenamento 16. Em seguida, usando essa informação, a seção de cálculo do ângulo de inclinação 14 executa o processamento mencionado acima.

[0053] Em seguida, a seção de cálculo do ângulo de inclinação 14 calcula as trajetórias ópticas individuais (vide a figura 4) da luz incidente LC a partir do padrão X e da luz refletida LA em direção à câmera 2 na posição do grupo com local de reflexo A sobre a primeira superfície M1 da placa plana transparente 3 obtida conforme descrito acima. Em seguida, a seção de cálculo do ângulo de inclinação 14 calcula o plano de reflexo Si que reflete a luz incidente LC na direção da luz refletida LA (um plano de reflexo que satisfaz a relação que o ângulo de reflexo φ) do ângulo incidente 0=a luz refletida LA da luz incidente LC) (vide a figura 4), e em seguida calcula o ângulo de inclinação do plano de reflexo obtido SI. Esse ângulo de inclinação é o ângulo de inclinação da primeira superfície M1 da placa plana transparente 3 na posição do grupo com local de reflexo A sobre a primeira superfície M1 da placa plana transparente 3, e é o resultado do cálculo da seção de cálculo do ângulo de inclinação 14.

[0054] Neste caso, de modo a calcular respectivamente a luz incidente LC, a luz refletida LA, e o plano de reflexo SI, já é o bastante o fato de que cálculo geométrico é realizado usando-se a relação posicional dos componentes individuais mostrada na figura 4. De maneira alternativa, a relação correspondência entre a posição do grupo com local de reflexo A sobre a primeira superfície M1 da placa plana transparente 3 e o ângulo de inclinação do plano de reflexo SI pode ser posta em tabela com antecedência com base na disposição relativa entre os três componentes que consistem na câmera 2, na placa plana

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16/27 transparente 3, e no membro-padrão 4 (o padrão X). Em seguida, os resultados individuais podem ser calculados usando-se a tabela. A informação referente à disposição da câmera 2, a tabela mencionada acima, e similar necessário para o cálculo geométrico mencionado acima é armazenada na seção de armazenamento 16. Em seguida, usando essa informação, a seção de cálculo do ângulo de inclinação executa o processamento mencionado acima.

[0055] A seção de cálculo do ângulo de inclinação 14 executa o processamento que consiste nesses procedimentos de cálculo individual, em cada lugar do grupo com local de reflexo A (por exemplo, nos lugares de reflexo que correspondem a todos pontos que constituem o padrão X).

[0056] Com base no ângulo de inclinação da primeira superfície

M1 da placa plana transparente 3 obtido pela seção de cálculo do ângulo de inclinação 14, a seção de determinação da forma da superfície determina a forma da primeira superfície M1 da placa plana transparente 3. Quando uma única imagem G capturada pela seção de captura de imagem 12 é usado sozinha, a forma da primeira superfície M1 da placa plana transparente 3 é determinada em uma seção transversal e paralela ao eixo geométrico x (figura 1). De maneira alternativa, uma pluralidade de imagens G é usada, imagens essas que são capturadas sucessivamente em correspondência à condução da placa plana transparente 3, a forma é determinada de alguma forma em uma região dispersa na primeira superfície M1 da placa plana transparente 3. Por exemplo, quando esta medição de forma é realizada de maneira contínua e permanente, a ondulação e similar na primeira superfície da lâmina de vidro 204 mostrada na figura 10 pode ser monitorada ao longo de toda a direção do comprimento da lâmina de vidro.

Segunda modalidade [0057] Uma segunda modalidade da presente invenção é descrita

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17/27 abaixo com referência aos desenhos. Neste caso, a segunda modalidade é igual à primeira modalidade, exceto pelos pontos descritos abaixo.

[0058] A figura 6 é um diagrama que mostra um padrão fornecido em um membro-padrão 4' e uma imagem G' capturada pela câmera 2.

[0059] O membro-padrão 4' inclui três séries de padrões X(l), X(2),

X(3) onde um grande número de pontos é alinhado em uma direção (as direções direita e esquerda da figura). Quando o membro-padrão 4' é usado assim, a imagem G¹ contém seis linhas no total as quais consistem: nas imagens de reflexo a (1) , a (2), a (3) do grupo com local de reflexo A dos padrões individuais X(l), X(2), X{3) gerados pela primeira superfície M1 da placa plana transparente 3; e nas imagens de reflexo b(l), b(2), b(3) do grupo com local de reflexo B dos padrões individuais X(l), X(2), X(3) gerados pela segunda superfície M2 da placa plana transparente 3. Quando os intervalos do padrão X das três séries (1), X(2), X(3) estão configurados de maneira apropriada, as imagens individuais de reflexo podem ser separadas dentro da imagem G¹. Além disso, a imagem que dentre essas seis linhas é a imagem de reflexo de um padrão particular (por exemplo, o padrão X(l)) gerado pela primeira superfície M1 da placa plana transparente 3 pode ser descoberta de maneira similar à primeira modalidade, a partir da relação posicional dos componentes individuais mostrada na figura 1.

[0060] De acordo com a presente configuração, mesmo quando uma imagem particular de reflexo na imagem G' torna-se indistinta, por exemplo, devido à poeira que aderiu a primeira superfície M1 da placa plana transparente 3, a forma da primeira superfície M1 da placa plana transparente 3 pode ser medida usando-se outras imagens nítidas de reflexo.

Terceira modalidade [0061] Uma terceira modalidade da presente invenção é descrita

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18/27 abaixo com referência aos desenhos. Neste caso, a terceira modalidade é igual à primeira modalidade, exceto pelos pontos descritos abaixo.

[0062] Na primeira modalidade, a altura H medida a partir do plano de referência M até a primeira superfície M1 da placa plana transparente 3 foi descoberta. Por outro lado, na terceira modalidade, a forma da primeira superfície M1 da placa plana transparente 3 pode ser medida mesmo quando a altura H da primeira superfície M1 da placa plana transparente 3 não é conhecida.

[0063] A figura 7 é um diagrama que mostra um padrão fornecido em um membro-padrão 4 e uma imagem G capturada pela câmera 2. [0064] O membro-padrão 4 inclui: um padrão X onde um grande número de pontos é alinhado em uma direção (as direções direita e esquerda da figura); e um marcador XM disposto perto de um ponto XS que constitui o padrão X. Quando o membro-padrão 4 como esse é empregado, na imagem G contém a imagem de reflexo do marcador XM, em adição às imagens de reflexo a e b do grupo com local de reflexo A e o grupo com local de reflexo B do padrão X gerado pela primeira superfície M1 e pela segunda superfície M2 da placa plana transparente 3.

[0065] Na presente modalidade, a altura desconhecida H da primeira superfície M1 da placa plana transparente 3 é obtida usando-se as imagens de reflexo do marcador XM e do ponto XS.Uma vez que a altura H da primeira superfície M1 da placa plana transparente 3 for obtida, de maneira similar à primeira modalidade, a forma da primeira superfície M1 da placa plana transparente 3 é obtida usando-se a imagem de reflexo do padrão X.

[0066] Um método de obtenção da altura H da primeira superfície

M1 da placa plana transparente 3 usando-se as imagens de reflexo do marcador XM e do ponto XS é descrita abaixo com referência às figuPetição 870190116261, de 11/11/2019, pág. 22/43

19/27 ras 8 e 9.

[0067] Primeiramente, atenção é dada ao ponto XS. A luz emitida a partir do ponto XS (vide a figura 8) sobre o membro-padrão 4 é refletida na primeira superfície M1 da placa plana transparente 3 e desse modo forma a imagem de reflexo AS (vide a figura 7) na imagem G. Nesse momento, visto que a altura H da primeira superfície M1 da placa plana transparente 3 é desconhecida, o verdadeiro local de reflexo sobre a primeira superfície M1 da placa plana transparente 3 não é exclusivamente identificado (o local de reflexo está localizado em algum lugar sobre uma linha reta LS que se estende a partir da câmera 2 em direção à imagem de reflexo AS na imagem G. A figura 8 mostra três candidatos a local de reflexo Ai(l), Ai(2), Ax(3) que possuem valores diferentes de altura H. Os valores de altura dos grupos com local de reflexo Ai(1), Ai (2), e Ai (3) são denotados por Hi, H2, H3 (Hi<H2<Hs), respectivamente.

[0068] Neste caso, quando o grupo com local de reflexo A1 (l) da altura Hi é adotado, espera-se que o plano tangencial (presumido) da placa plana transparente 3 no grupo com local de reflexo A1 (1) tenha um ângulo de inclinação , Θ1 (1) igual ao ângulo do plano de reflexo Si onde a luz emitida a partir do ponto XS sobre o membro-padrão 4 e, portanto, incidente sobre o grupo com local de reflexo Ai(1) é refletida em direção à câmera 2 ao longo da linha reta LS. Quando o grupo com local de reflexo A1 (2) ou A1 (3) é adotado, de maneira similar, o plano tangencial (presumido) da placa plana transparente 3 em cada local de reflexo possui um ângulo de inclinação , Θ1 (2) ou Θ1 (3) igual ao ângulo do plano de reflexo correspondente S2 ou S3.

[0069] Nesse momento, quando o local de reflexo está localizado em uma posição mais alta (ou seja, A1 (2) é maior do que A1 (1) , e A1 (3) do que A1 (2) ) , os ângulos incidentes a partir do ponto XS sobre o membro-padrão 4 em direção aos planos de reflexo individual Si, S2,

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S3 tornam-se mais rasos. Desse modo, a relação , θι (1) < θι (2) < θι (3) é realizada (neste caso, o ângulo de inclinação é definido como o ângulo contido pela direção negativa do eixo geométrico x na figura e a normal de cada plano de reflexo direcionada para cima na figura). Esta relação é mostrada por uma curva Ci no gráfico da figura 9. Sendo assim, o ângulo de inclinação, Θι (n) é a função da altura Hn do local de reflexo. Neste caso, conforme descrito acima, o ponto na curva Ci que corresponde ao local verdadeiro de reflexo não pode ser exclusivamente determinado.

[0070] A seguir, atenção é dada ao marcador XM. De maneira similar ao ponto XS, o local de reflexo sobre a primeira superfície M1 da placa plana transparente 3 onde a luz emitida a partir do marcador XM sobre o membro-padrão 4 é refletida em direção à câmera 2 está localizado em algum lugar sobre a linha reta LM direcionada a partir da câmera 2 em direção à imagem de reflexo AM na imagem G (não identificada exclusivamente).

[0071] A seguir, atenção é dada aos grupos de ponto de interseção A2(l), A2(2), A2(3),... onde os planos tangenciais (presumidos) mencionados acima ( (o plano de reflexos Si, S2, S3,...) que passam respectivamente pelos candidatos ao local de reflexo mencionados acima Ai (1) , Ai (2) , Ai (3) ,... interceptam a linha reta LM. O ponto XS e o marcador XM são pontos vizinhos no membro-padrão 4. Desse modo, cada grupo de ponto A1 (n) e grupo de ponto correspondente A2(n) são de maneira similar pontos vizinhos (n=1,2,...).

[0072] Neste caso, considera-se a premissa de que a mudança na forma da primeira superfície M1 da placa plana transparente 3 é bastante folgada. Em seguida, nos dois pontos vizinhos e mútuos sobre a primeira superfície M1 da placa plana transparente 3, os planos tangenciais individuais que passam por esses dois pontos respectivamente podem ser referidos como o mesmo plano.

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21/27 [0073] Desse modo, se um grupo de ponto particular Ai(k) dentre candidatos ao local de reflexo mencionados acima for o verdadeiro local de reflexo sobre a primeira superfície M1 da placa plana transparente 3, o grupo de ponto A2(k) localizado sobre o plano tangencial (o plano de reflexo Sk) da placa plana transparente 3 que passa pelo grupo de ponto A1 (k) é concluído como sendo de maneira similar a ponto sobre a primeira superfície M1 da placa plana transparente 3. Em seguida, quando um plano de reflexo Sk' é considerado, o qual usando o grupo de ponto A2(k) como um local de reflexo, reflete a luz a partir da parte superior do marcador XM sobre o membro-padrão 4 no sentido da direção da câmera 2 ao longo da linha reta LM, o plano de reflexo (ou seja, o plano tangencial da placa plana transparente 3 no grupo de ponto A2(k)) torna-se idêntico ao plano tangencial (o plano de reflexo Sk) da placa plana transparente 3 no grupo de ponto A1 (k). Desse modo, o ângulo de inclinação Θι (K) é concluído como sendo igual ao ângulo de inclinação Θι (K). A figura 8 mostra a situação que o grupo de ponto A1 (2) is o verdadeiro local de reflexo sobre a primeira superfície M1 da placa plana transparente 3.

[0074] Por outro lado, como para os grupos de ponto A1(j) (neste, j # k, e que corresponde aos grupos de ponto Ai(1) e Ai(3) na figura 8) o não é o verdadeiro local de reflexo sobre a primeira superfície M1 da placa plana transparente 3, o grupo de ponto A2(j) localizado sobre o plano tangencial (presumido) (o plano de reflexo Sj) da placa plana transparente 3 que passa pelo grupo de ponto A1 (j ) não é um ponto sobre a primeira superfície M1 da placa plana transparente 3. Desse modo, o ângulo de inclinação Θ2 (j) do plano de reflexo onde a luz a partir da parte superior do marcador XM sobre o membro-padrão 4 é refletida no grupo de ponto A2(j) no sentido da direção da câmera 2 ao longo da linha reta LM é concluído como sendo diferente do ângulo de inclinação Θι (j).

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22/27 [0075] Desse modo, como para os grupos de ponto de interseção mencionados acima A2 (1)/A2 (2), A2 (3) ,... entre os planos tangenciais individuais (presumidos) (os planos de reflexo Si, S2, S3,...) que passam pelos candidatos ao local de reflexo Ai(1), Ai(2), Ai(3), que correspondem ao ponto XS e à linha reta LM determinada pelo marcador XM, os ângulos de inclinação 02(1), 02(2), Θ2 ,(3),... dos planos tangenciais (presumidos) (os planos de reflexo Si’, S2', S3’,...) são obtidos . Em seguida ao obter-se um candidato ao local de reflexo A1 (k) que satisfaz 02(k) = 01(k) conclui-se que o ângulo de inclinação Θ1 (K) e a altura Hk no local de reflexo são obtidos porque o grupo com local de reflexo A1(k) é o verdadeiro local de reflexo.

[0076] Em adição à curva C1 descrita acima, o gráfico da figura 9 mostra uma curva C2 que indica a relação entre a altura H'n de cada grupo de ponto de interseção mencionado acima.

[0077] A2(n) e o ângulo de inclinação 02(n) do plano tangencial em cada grupo de ponto de interseção A2(n). Neste gráfico, o grupo de ponto Ai (2) onde o valor Θ1 (n) concorda com o valor Θ2 (n) é o verdadeiro local de reflexo sobre a primeira superfície M1 da placa plana transparente 3.

[0078] Conforme descrito acima, a altura H=Hk da primeira superfície M1 da placa plana transparente 3 foi calculada. Desse modo, de maneira similar à primeira modalidade, a forma da primeira superfície M1 da placa plana transparente 3 pode ser obtida usando-se a altura H.

Quarta modalidade [0079] Um exemplo de aplicação da presente invenção em uma linha de fabricação de placas de vidro é descrito abaixo. A figura 10 é um diagrama com explicação esquemática sobre uma linha de fabricação de placas de vidro à qual o aparelho para a medição de forma mostrada na figura 5 é aplicado. Um método de fabricação de placas

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23/27 de vidro na linha de fabricação mostrada na figura 10 inclui: uma etapa de derretimento para derreter a matéria-prima de vidro de modo a obter um vidro derretido; uma etapa de modelagem para modelar o vidro derretido na forma de uma lâmina de vidro contínua e em forma de placa; uma etapa de resfriamento lento para resfriar gradualmente a lâmina de vidro no decorrer do movimento; uma etapa de medição de forma para medir a forma da superfície da lâmina de vidro; uma etapa de corte para cortar a lâmina de vidro; uma etapa de controle, com base na forma da superfície da lâmina de vidro obtida pela etapa de medição, condições de controle do resfriamento lento na etapa de resfriamento lento. A figura 11 mostra as etapas para o método de fabricação de placas de vidro.

[0080] De maneira específica, durante as etapas de fabricação de placas de vidro, quando se concluiu a lâmina de vidro para possuir uma grande urdidura com base nos dados da forma da superfície da lâmina de vidro, obtidos no método de medição de forma da presente invenção, as condições do resfriamento lento na etapa de resfriamento lento, como as condições da taxa de resfriamento e as condições da temperatura de resfriamento, são mudadas levando-se em consideração a magnitude e a localização da urdidura. Isso evita o surgimento de um defeito na forma, o qual é causado pela urdidura ou uma rachadura causada pela urdidura, e desse modo permite a fabricação de placas de vidro com um rendimento satisfatório.

[0081] Exemplos da etapa de modelagem incluem um método de flutuação, um método de implantação, um método de retirada, e um método de fusão. A presente invenção pode empregar de maneira apropriada qualquer um desses ou de outros métodos. O exemplo na figura 10 é descrito para um onde o método de flutuação é empregado. [0082] Na etapa de derretimento (S1 na figura 11), uma fornada obtida por meio da preparação e mistura de matérias-primas tais como

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24/27 areia de sílica, pedra calcária, e carbonato de sódio de acordo com a composição da vidraria é fornecida para dentro de um alto forno, e em seguida aquecida e derretida em uma temperatura de aproximadamente 1400°C ou mais de acordo com o tipo do vidro, de tal modo que o vidro derretido seja obtido. Por exemplo, a fornada é fornecida para dentro do alto forno através de uma extremidade do alto forno. Em seguida, uma chama obtida pela combustão de óleo pesado ou uma chama obtida pela combustão da mistura de gás natural e ar é aplicada sobre a fornada, de tal modo que a fornada seja aquecida e derretida em uma temperatura de aproximadamente 1550°C ou mais. Como um resultado, o vidro derretido é obtido. Além disso, um forno elétrico de derretimento pode ser empregado para a obtenção do vidro derretido.

[0083] Na etapa de modelagem (S2 na figura 11), o vidro derretido obtido na etapa de derretimento é introduzido através de um alto forno da seção a jusante 201 em um banho de estanho derretido 203. Em seguida, o vidro derretido é sobrenadado no estanho derretido 202 e movido na direção de transporte na figura, de modo a ser moldado na forma de uma lâmina de vidro contínua e em forma de placa 204 (que corresponde à placa plana transparente 3). Nesse momento, visto que a lâmina de vidro 204 deve ser formada em uma espessura de placa predeterminada, cilindros giratórios (cilindro superior 205) são pressionados contra ambas as partes laterais da lâmina de vidro 204 de tal modo que a lâmina de vidro 204 seja expandida para fora na direção de largura (uma direção perpendicular à direção de transporte).

[0084] Na etapa de resfriamento lento (S3 na figura 11), a lâmina de vidro 204 formada conforme descrito acima é extraída do banho de estanho derretido 203 por cilindros de suspensão 208. Em seguida, a lâmina de vidro 204 é movida para dentro do forno lehr 210 na direção de transporte da figura por cilindros metálicos 209, de tal modo que a

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25/27 temperatura da lâmina de vidro 204 seja resfriada gradualmente. Subsequentemente, no decorrer da saída do forno lehr 210 até a etapa de corte, a lâmina de vidro 204 é resfriada ainda mais em uma temperatura próxima da temperatura comum. O forno lehr 210 inclui um mecanismo para fornecer uma quantidade controlada de calor usando-se gás de combustão ou um aquecedor elétrico, de modo a realizar um resfriamento lento, o qual está localizado em uma posição necessária no forno. A temperatura da lâmina de vidro 204 na saída do forno lehr 210 é igual ou menor do que o ponto de deformação do vidro da lâmina de vidro 204. Ou seja, dependendo de o tipo de vidro, a lâmina de vidro 204 é geralmente resfriada em 150 a 250°C. A etapa de resfriamento lento é empregada com o propósito de remover a tensão residual na parte interna da lâmina de vidro 204 e de reduzir a temperatura da lâmina de vidro 204. Na etapa de resfriamento lento, a lâmina de vidro 204 passa por uma seção de medição 211 (que corresponde ao aparelho para a medição de forma na figura 5), e é em seguida transportada para a seção de corte de lâmina de vidro 212. A seção de corte de lâmina de vidro 212 corta a lâmina de vidro 204 que passou por resfriamento lento em uma temperatura próxima da temperatura comum (a etapa de corte). Neste caso, a temperatura da lâmina de vidro na seção de corte de lâmina de vidro 212 está geralmente na faixa de uma temperatura ambiente no local até 50°C.

[0085] A posição de captura de imagem da lâmina de vidro 204 na etapa de medição S4 (na figura 11) (ou seja, a posição da etapa de medição 211) é a posição onde a temperatura da lâmina de vidro 204 é igual ou menor do que o ponto de deformação do vidro. Geralmente, a etapa de medição 211 está disposta na posição a jusante da direção de transporte em relação à saída da lâmina de vidro do forno lehr 210. Além disso, é preferível que a etapa de medição 211 esteja disposta na posição onde a temperatura da lâmina de vidro 204 é igual ou me

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26/27 nor do que 200°C. Além disso, a etapa de medição 211 pode ser fornecida imediatamente a montante da etapa de corte. No entanto, em um caso onde os dados obtidos na etapa de medição devem ser refletidos na etapa de corte, é preferível que a etapa de medição 211 esteja disposta na posição distante da posição de corte em 30 cm ou mais, em particular, em 1 m ou mais, dependendo da velocidade de movimento da lâmina de vidro 204.

[0086] Na etapa de controle (S5 na figura 11), um meio de controle (não mostrado) é utilizado o qual, com base na forma da superfície da lâmina de vidro 204 obtida na etapa de medição, calcula as condições do resfriamento lento usado no forno lehr 210. Em resposta às instruções das condições de resfriamento lento, trocadas com o forno lehr 210, o meio de controle muda as condições do gás de combustão, do aquecedor elétrico, e similar fornecidos no forno lehr 210. Sendo assim, a energia fornecida parcialmente para a lâmina de vidro 204 ou a taxa da energia fornecida é mudada de tal modo que um controle possa ser realizado para suprimir uma deformação tal como a curvatura.

[0087] As modalidades da presente invenção foram descritas acima, em detalhes e com referência aos desenhos. No entanto, a configuração detalhada não está limitada a essas modalidades, e a mesma pode adotar um modelo e similar em um escopo que não fuja do espírito da presente invenção.

[0088] O presente pedido de patente foi descrito em detalhes com referência a modalidades particulares. No entanto, torna-se evidente para uma pessoa versada na técnica que várias mudanças e modificações podem ser feitas sem que se fuja do espírito e escopo da presente invenção. O presente pedido de patente está baseado no pedido de patente japonesa (Pedido de Patente Japonesa N° 2010-136510) depositado em 15 de Junho de 2010, cujo conteúdo está incorporado aqui por referência.

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LISTAGEM DE REFERÊNCIA

... câmera

... placa plana transparente

... membro-padrão X... padrão

X ...padrão

M1... primeira superfície da placa plana transparente 3

M2... segunda superfície da placa plana transparente 3

A. .. grupo com local de reflexo do padrão X gerado pela primeira superfície M1 da placa plana transparente 3

a. .. imagem de reflexo gerada por grupo com local de reflexo A dentro de imagem

B. .. grupo com local de reflexo do padrão X gerado pela segunda superfície M2 da placa plana transparente 3

b. .. imagem de reflexo gerada por grupo com local de reflexo B dentro de imagem

R... área de captura de imagem da câmera 2

M... plano de referência

S1, S2... plano de reflexo

... computador

... seção de captura de imagem

... seção de estimativa de grupo do local de reflexo da primeira superfície

... seção de cálculo do ângulo de inclinação

... seção de determinação da forma da superfície

... seção de armazenamento

Claims

REIVINDICAÇÕES

1. Aparelho de medição de formato que compreende:

uma seção de captura de imagem (2,11) que está disposta de modo que um eixo geométrico óptico da seção de captura de imagem (2,11) é perpendicular a uma direção de extensão de um padrão linear (X) disposto acima de uma placa plana transparente (3) que serve como um objeto de medição, sendo que a seção de captura de imagem (2,11) é configurado para capturar uma imagem de dois grupos de pontos de reflexão (A,B) do padrão (X) gerado por uma primeira superfície (M1) e uma segunda superfície (M2) da placa plana transparente (3) e gerar uma imagem (G,G',G) que contém duas imagens de reflexão (a,b) separado em uma direção perpendicular à direção de extensão;

caracterizado pelo fato de que ainda compreende:

uma primeira seção de estimação de grupo de pontos de reflexão de superfície (13) configurado para estimar, a partir da imagem (G,G',G), um primeiro grupo de pontos de reflexão de superfície (A) do padrão (X) na primeira superfície (M1) da placa plana transparente (3) com o uso de uma relação posicional da placa plana transparente (3), sendo que o padrão (X) e a seção de captura de imagem (2,11);

uma seção de cálculo de ângulo de inclinação (14) configurada para calcular um ângulo de inclinação da primeira superfície (M1) da placa plana transparente (3) em uma posição do primeiro grupo de pontos de reflexão de superfície estimado (A) com o uso da relação posicional da placa plana transparente (3), o padrão (X) e a seção de captura de imagem (2,11); e uma seção de determinação de formato de superfície (15) configurada para determine um formato da primeira superfície (M1) da placa plana transparente (3), em cortes transversais correspondentes

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2/5 a uma direção perpendicular à direção na qual as duas imagens de reflexão (a,b) são separadas, com base no ângulo de inclinação calculado.

2. Aparelho de medição de formato, de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que a seção de cálculo de ângulo de inclinação (14) calcula o ângulo de inclinação com base em uma condição que um ângulo incidente de luz incidente que percorrem do padrão (X) em direção ao primeiro grupo de pontos de reflexão de superfície (A) é igual a um ângulo de reflexão de luz refletida de uma posição do primeiro grupo de pontos de reflexão de superfície (A) em direção à seção de captura de imagem (2,11).
3. Aparelho de medição de formato de acordo com a reivindicação 1 ou 2, caracterizado pelo fato de que o padrão (X) é um padrão construído de modo que uma pluralidade de pontos está disposta linearmente na direção de extensão.
4. Aparelho de medição de formato, de acordo com qualquer uma das reivindicações 1 a 3, caracterizado pelo fato de que a placa plana transparente (3) é transportada em uma direção perpendicular à direção de extensão.
5. Aparelho de medição de formato, de acordo com a reivindicação 3, caracterizado pelo fato de que um comprimento de cada ponto em uma direção perpendicular à direção de extensão do padrão linear (X) é P, e em que o comprimento P é definido dentro de uma faixa que satisfaz a seguinte condição: P < 2t cosφ1 ·1αηφ2 , em que t é uma espessura da placa transparente, φ1 é um ângulo incidente no qual uma linha de visão da seção de captura de imagem é refletida na primeira superfície, e φ2 é um ângulo de refração no qual a linha de visão é refratada na placa plana transparente.
6. Método de medição de formatocaracterizado pelo fato de que compreende as etapas de:

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3/5 com o uso de uma seção de captura de imagem (2,11) disposto de modo que um eixo geométrico óptico da seção de captura de imagem (2,11) é perpendicular a uma direção de extensão de um padrão linear (X) disposto acima de uma placa plana transparente (3) que serve como um objeto de medição, capturar uma imagem de dois grupos de pontos de reflexão (A,B) do padrão (X) gerado por uma primeira superfície (M1) e uma segunda superfície (M2) da placa plana transparente (3) e, desse modo, gera uma imagem (G,G',G) que contém duas imagens de reflexão (a,b) separados em uma direção perpendicular à direção de extensão;

estimar da imagem (G,G',G) um primeiro grupo de pontos de reflexão de superfície (A) do padrão (X) na primeira superfície (M1) da placa plana transparente (3) com o uso de uma relação posicionado da placa plana transparente (3), o padrão (X) e a seção de captura de imagem (2,11);

calcular um ângulo de inclinação da primeira superfície (M1) da placa plana transparente (3) em uma posição do primeiro grupo de pontos de reflexão de superfície estimado (A) com o uso da relação posicional da placa plana transparente (3), do padrão (X) e da seção de captura de imagem (2,11); e determinar um formato da primeira superfície (M1) da placa plana transparente (3), em cortes transversais correspondente a uma direção perpendicular à direção na qual as duas imagens de reflexão são separadas, com base no ângulo de inclinação calculado.
7. Método de medição de formato, de acordo com a reivindicação 6, caracterizado pelo fato de que a etapa de cálculo de ângulo de inclinação calcula o ângulo de inclinação com base em uma condição em que um ângulo incidente de luz incidente que percorre da padrão (X) em direção ao primeiro grupo de pontos de reflexão de superfície (A) é igual a um ângulo de

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4/5 reflexão de luz refletida de uma posição do primeiro grupo de pontos de reflexão de superfície (A) em direção à seção de captura de imagem (2,11).
8. Método de medição de formato de acordo com a reivindicação 6 ou 7, caracterizado pelo fato de que o padrão (X) é um padrão construído de modo que uma pluralidade de pontos está disposta linearmente na direção de extensão.
9. Método de medição de formato, de acordo com qualquer uma das reivindicações 6 a 8, caracterizado pelo fato de que a placa plana transparente (3) é transportada em uma direção perpendicular à direção de extensão.
10. Método de medição de formato, de acordo com a reivindicação 8, caracterizado pelo fato de que um comprimento de cada ponto em uma direção perpendicular à direção de extensão do padrão linear (X) é P, e em que o comprimento P é definido dentro de uma faixa que satisfaz a seguinte condição: P < 2t cosφ1 Ταηφ2 , em que t é uma espessura da placa transparente, φ1 é um ângulo incidente na qual uma linha de visão da seção de captura de imagem é refletida na primeira superfície, e φ2 é um ângulo de refração na qual a linha de visão é refratada na placa plana transparente.
11. Método de fabricação para placas de vídeo, caracterizado pelo fato de que compreende:

uma etapa de fusão (S1) da matéria-prima de fusão de modo a obter o vidro fundido;

uma etapa de formação (S2) de formar o vidro fundido em uma fita de vidro em formato de placa contínuo;

uma etapa de resfriamento frio (S3) de resfriar gradualmente a fita de vidro no curso de transporte de modo a remover estresse;

uma etapa de medição (S4) de medir o formato de superfície da fita de vidro;

Petição 870190116261, de 11/11/2019, pág. 35/43

5/5 uma etapa de corte (S6) de cortar a fita de vidro; e uma etapa de controle de etapa (S5) de controlar as condições de resfriamento lento na etapa de resfriamento frio com base em um resultado de medição da etapa de medição, em que a etapa de medição é uma etapa na qual a medição é realizada na fita de vidro com o uso do método de medição de formato de acordo com qualquer uma das reivindicações 6 a 10.