[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

BR112017022247A2 - método de inspeção de formato, aparelho de inspeção de formato, e programa - Google Patents

método de inspeção de formato, aparelho de inspeção de formato, e programa

Info

Publication number
BR112017022247A2
BR112017022247A2 BR112017022247-7A BR112017022247A BR112017022247A2 BR 112017022247 A2 BR112017022247 A2 BR 112017022247A2 BR 112017022247 A BR112017022247 A BR 112017022247A BR 112017022247 A2 BR112017022247 A2 BR 112017022247A2
Authority
BR
Brazil
Prior art keywords
light section
indicator value
image
brightness
thickness
Prior art date
Application number
BR112017022247-7A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
BR112017022247B1 (pt
Inventor
Hibi Atsuhiro
Konno Yusuke
Furuya Nobuhiro
Kuroiwa Tomohiro
Original Assignee
Nippon Steel & Sumitomo Metal Corporation
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Steel & Sumitomo Metal Corporation filed Critical Nippon Steel & Sumitomo Metal Corporation
Publication of BR112017022247A2 publication Critical patent/BR112017022247A2/pt
Publication of BR112017022247B1 publication Critical patent/BR112017022247B1/pt

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
    • G01B11/2518—Projection by scanning of the object
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/30—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
    • G01B11/306—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces for measuring evenness
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02—Details
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T11/00—2D [Two Dimensional] image generation
    • G06T11/003—Reconstruction from projections, e.g. tomography
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00—Image analysis
    • G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00—Image analysis
    • G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G06T7/0004—Industrial image inspection
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/10—Image acquisition modality
    • G06T2207/10016—Video; Image sequence
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/10—Image acquisition modality
    • G06T2207/10141—Special mode during image acquisition
    • G06T2207/10152—Varying illumination
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
    • G06T2207/30108—Industrial image inspection
    • G06T2207/30164—Workpiece; Machine component

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

[objetivo] fornecer um método de inspeção de formato, dispositivo de inspeção de formato, e programa por meio qual o brilho e a espessura de uma linha de seção de luz em uma imagem de seção de luz podem ser ajustados de forma mais conveniente e objetiva. [solução] um método de inspeção de formato de acordo com a presente invenção inclui: uma etapa de geração de imagem de seção de luz em que luz laser linear é aplicada a uma superfície de objeto a partir de uma fonte de luz laser e uma imagem da linha de seção de luz com base na luz laser sobre a superfície de objeto é gerada por um aparelho de geração de imagens e, dessa forma uma imagem de seção de luz que é uma imagem capturada usada para um método de seção de luz é gerada; uma etapa de cálculo de valor indicador em que um valor indicador de espessura que indica uma espessura da linha de seção de luz e um valor indicador de brilho que indica um brilho da linha de seção de luz na imagem de seção de luz são calculados; uma etapa de mudança de configuração em que a configuração de pelo menos um dentre a fonte de luz laser e o aparelho de geração de imagens é alterada de modo que cada valor indicador de espessura calculado e o valor indicador de brilho está dentro de uma faixa prescrita exclusivamente previamente definida; e uma etapa de inspeção de formato em que o processamento de imagens é realizado na imagem de seção de luz após cada um dentre o valor indicador de espessura e o valor indicador de brilho ser abrangido dentro da faixa prescrita e, assim um formato da superfície de objeto é inspecionado.
BR112017022247-7A 2015-05-13 2016-05-13 Método de inspeção de formato e aparelho de inspeção de formato BR112017022247B1 (pt)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015098031 2015-05-13
JP2015-098031 2015-05-13
PCT/JP2016/064266 WO2016182055A1 (ja) 2015-05-13 2016-05-13 形状検査方法、形状検査装置及びプログラム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
BR112017022247A2 true BR112017022247A2 (pt) 2018-07-10
BR112017022247B1 BR112017022247B1 (pt) 2022-12-06

Family

ID=57249161

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
BR112017022247-7A BR112017022247B1 (pt) 2015-05-13 2016-05-13 Método de inspeção de formato e aparelho de inspeção de formato

Country Status (10)

Country Link
US (1) US10274314B2 (pt)
EP (1) EP3270102B1 (pt)
JP (1) JP6451839B2 (pt)
KR (1) KR101966580B1 (pt)
CN (1) CN107532887B (pt)
BR (1) BR112017022247B1 (pt)
CA (1) CA2983577C (pt)
ES (1) ES2750856T3 (pt)
PL (1) PL3270102T3 (pt)
WO (1) WO2016182055A1 (pt)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6968568B2 (ja) * 2017-04-20 2021-11-17 株式会社日立製作所 形状計測システム、及び、形状計測方法
CN109990979B (zh) * 2019-04-11 2021-12-03 业成科技（成都）有限公司 检测治具及检测系统
US11555694B2 (en) * 2020-07-17 2023-01-17 Systemes Pavemetrics Inc. Method and system for controlling a laser profiler
CN113281341A (zh) * 2021-04-19 2021-08-20 唐山学院 热镀锌带钢的双传感器表面质量检测系统的检测优化方法
CN114485483B (zh) * 2022-04-15 2022-06-24 中国空气动力研究与发展中心低速空气动力研究所 一种基于多相机组合成像的冰形在线测量方法及装置

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4234701A (en) 1977-10-06 1980-11-18 General Electric Company Compositions comprising copolymers of a vinyl aromatic compound and an unsaturated cyclic anhydride and impact improvers
JPH0797020B2 (ja) * 1987-09-19 1995-10-18 株式会社豊田中央研究所 座標測定装置
US4961155A (en) 1987-09-19 1990-10-02 Kabushiki Kaisha Toyota Chuo Kenkyusho XYZ coordinates measuring system
JP3243385B2 (ja) 1994-11-28 2002-01-07 株式会社豊田中央研究所 物体の形状検査装置
US5671056A (en) * 1995-05-11 1997-09-23 Technology Research Association Of Medical & Welfare Apparatus Three-dimensional form measuring apparatus and method
JPH08327338A (ja) * 1995-06-02 1996-12-13 Technol Res Assoc Of Medical & Welfare Apparatus ３次元形状測定装置
JPH11125508A (ja) * 1997-10-21 1999-05-11 Toyota Central Res & Dev Lab Inc 断面形状測定方法
US7207251B2 (en) * 1999-02-05 2007-04-24 Hitachi Koki Co., Ltd. Cutter with laser generator that irradiates cutting position on workpiece to facilitate alignment of blade with cutting position
US7321394B1 (en) * 2000-09-29 2008-01-22 Lucid, Inc. Automatic gain control for a confocal imaging system
JP4388318B2 (ja) * 2003-06-27 2009-12-24 オリンパス株式会社 画像処理装置
US7652275B2 (en) * 2006-07-28 2010-01-26 Mitutoyo Corporation Non-contact probe control interface
JP5488953B2 (ja) 2008-09-17 2014-05-14 新日鐵住金株式会社 凹凸疵検査方法及び装置
JP5648692B2 (ja) * 2010-10-27 2015-01-07 株式会社ニコン 形状測定装置、形状測定方法、構造物の製造方法およびプログラム
JP2013213733A (ja) * 2012-04-02 2013-10-17 Suzuki Motor Corp 検査対象物の検査装置およびその検査方法

Also Published As

Publication number Publication date
EP3270102A1 (en) 2018-01-17
JP6451839B2 (ja) 2019-01-16
CN107532887B (zh) 2020-01-14
PL3270102T3 (pl) 2020-01-31
EP3270102A4 (en) 2018-08-22
EP3270102B1 (en) 2019-08-21
JPWO2016182055A1 (ja) 2018-02-01
CN107532887A (zh) 2018-01-02
KR20170132872A (ko) 2017-12-04
BR112017022247B1 (pt) 2022-12-06
KR101966580B1 (ko) 2019-04-05
CA2983577A1 (en) 2016-11-17
US20180143009A1 (en) 2018-05-24
US10274314B2 (en) 2019-04-30
WO2016182055A1 (ja) 2016-11-17
CA2983577C (en) 2019-09-24
ES2750856T3 (es) 2020-03-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
BR112017022247A2 (pt) método de inspeção de formato, aparelho de inspeção de formato, e programa
BR112016010975A2 (pt) método e aparelho para identificar um dispositivo de iot físico
BR112017024164A2 (pt) aparelho, sistema e método de determinação de um ou mais parâmetros óticos de uma lente
BR112018072627A2 (pt) realização de medições óticas em uma amostra
NZ742532A (en) Light field display metrology
BR112017012637A2 (pt) método para exibir características termográficas em uma difusão, e, sistema para exibir características termográficas e efeitos em uma difusão
BR112016007106A2 (pt) dispositivo e método de teste de gravidez melhorado
BR112014018895A8 (pt) Dispositivo para detecção da geometria tridimensional de objetos e processo para operação do mesmo
BR112015025407A2 (pt) método e dispositivo para testar um transformador
BR112016021242A2 (pt) Método e dispositivo para controlar luminescência
BR112017015937A2 (pt) método e dispositivo para o mapeamento de uma imagem hdr para uma imagem sdr e correspondentes método e dispositivo de mapeamento de sdr para hdr
BR112018071652A2 (pt) regras de geração e seleção de confirmação de bloco
BR112018014825A2 (pt) aparelho, sistema e método para determinar um ou mais parâmetros ópticos de uma lente
CL2018003612A1 (es) Automatización de validación de imagen
BR112012025983A2 (pt) método para detecção de defeitos em artigos de vidro e instalação para implantação do dito método
BR112016016374A2 (pt) Sistema, aparelho e método para medir características corporais
BR112017020995A2 (pt) novo sistema de gradação óptica baseado em cor com vistas de multi-refletância e multi-ângulo
BR112016025317A2 (pt) conjunto, dispositivo e método para a análise imunocromatográfica
MY168232A (en) Method and system for determining quality of tubes
BR112014010436A2 (pt) método para medição de formato de porção de extremidade de tubulação ou tubo com rosca
BR112017001753A2 (pt) método para determinar comprimento de lacuna de medição e dispositivo de rede
BR112016019638B8 (pt) Método de inspeção de superfície de tubo de aço, dispositivo de inspeção de superfície de tubo de aço, sistema de fabricação de tubo de aço, método de identificação de uma área formada de defeito em um tubo de aço e método de fabricação de tubo de aço
BR112018016971A2 (pt) aparelho, sistema e método de inspeção de formato de eixo de manivela
WO2014186476A3 (en) Integrated multi-pass inspection
BR112015004558A2 (pt) Método de previsão de crescimento de fissura e dispositivo de processamento de informação do mesmo

Legal Events

Date Code Title Description
B25D Requested change of name of applicant approved

Owner name: NIPPON STEEL CORPORATION (JP)

B06U Preliminary requirement: requests with searches performed by other patent offices: procedure suspended [chapter 6.21 patent gazette]
B06A Patent application procedure suspended [chapter 6.1 patent gazette]
B09A Decision: intention to grant [chapter 9.1 patent gazette]
B16A Patent or certificate of addition of invention granted [chapter 16.1 patent gazette]

Free format text: PRAZO DE VALIDADE: 20 (VINTE) ANOS CONTADOS A PARTIR DE 13/05/2016, OBSERVADAS AS CONDICOES LEGAIS