意味 | 例文 (15件) |
sog-4とは 意味・読み方・使い方
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遺伝子名称シソーラスでの「sog-4」の意味 |
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sog-4
worm | 遺伝子名 | sog-4 |
同義語(エイリアス) | ||
SWISS-PROTのID | --- | |
EntrezGeneのID | --- | |
その他のDBのID | WormBase:WBGene00004937 |
本文中に表示されているデータベースの説明
「sog-4」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 15件
After metal wirings 6 are buried in a modified SOG film 4 using a damascene method, a modified SOG film 8 is formed on the film 4 and moreover, contact holes are formed in the film 8.例文帳に追加
そして、改質SOG膜4にダマシン法を用いて金属配線6を埋め込んだ後、その上に改質SOG膜8を形成し、更に、コンタクトホール9a,9bを形成する。 - 特許庁
An organic SOG film 4, contact plugs 3b buried in the organic SOG film 4, and a side-wall insulating film 2a formed on the side of each contact plug 3b, are provided.例文帳に追加
有機SOG膜4と、有機SOG膜4に埋め込まれたコンタクトプラグ3bと、コンタクトプラグ3bの側面に形成されたサイドウォール絶縁膜2aとを備えている。 - 特許庁
The lower wiring 4 and the conductive plug 6 are buried by an organic SOG film 7, after that, the surface of the conductive plug 6 is exposed, and second wiring 8 is formed on the organic SOG film 7.例文帳に追加
下層配線4及び導電プラグ6を有機SOG膜7で埋め込み、その後、導電プラグ6表面を露出させ、有機SOG膜7上に第2配線8を形成する。 - 特許庁
An SOG film 5 is formed on the surface of the first P-TEOS film 4 except directly above the titanic oxide film 3, and a second P-TEOS film 6 is formed on the titanic oxide film 3 and the SOG film 5.例文帳に追加
チタン酸化膜3の直上を除く第1のP−TEOS膜4の表面にSOG膜5を形成し、チタン酸化膜3上とSOG膜5上に第2のP−TEOS膜6を形成する。 - 特許庁
In a configuration wherein a trench 4 is formed on a silicon substrate 1 and is filled with a SOG film 6, the SOG film 6 is lowered away to become deeper than a high-concentration impurity region 1b after ions are implanted to form the high-concentration impurity region 1b for formation of the LDD structure.例文帳に追加
シリコン基板1にトレンチ4を形成してSOG膜6を埋め込む構成で、LDD構造形成のための高濃度不純物領域1bを形成するためのイオン注入をしてから、SOG膜6をそれよりも深くなるように落とし込む。 - 特許庁
A manufacturing method of a semiconductor device comprises the steps of: depositing an SiO_2 film 3 on a substrate 1 on which a wiring pattern 2 is formed; applying an SOG film 4 on the SiO_2 film 3; and by a chemical mechanical polishing method, polishing the SOG film 4 by using cerium oxide and slurry containing at least one or more kinds of cationic surfactants.例文帳に追加
配線パターン2が形成された基板1上にSiO_2膜3を堆積する堆積工程と,SiO_2膜3上にSOG膜4を塗布する塗布工程と,SOG膜4を酸化セリウムおよび少なくとも一種類以上のカチオン性界面活性剤を含むスラリーを用いて化学的機械的研磨法により研磨する研磨工程と,を有する半導体装置の製造方法である。 - 特許庁
A groove pattern 4 is formed in the second insulating layer 3 consisting of a multi-layer film accumulated in sequence from a lower layer with an organic SOG film 3a and a TEOS oxide film 3b, and a barrier layer 6 is formed through the TEOS oxide film 5 formed on a wall of the groove pattern 4 to prevent the organic SOG film 3a from touching the barrier layer directly.例文帳に追加
有機SOG膜3aおよびTEOS酸化膜3bが下層から順に堆積された積層膜によって構成される第2絶縁層3に溝パターン4が形成されており、この溝パターン4の側壁に設けられたTEOS酸化膜5を介してバリア層6を形成することで、有機SOG膜3aとバリア層6とが直接接するのを防ぐ。 - 特許庁
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「sog-4」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 15件
Of an TEOS/SOG/TEOS film 3 underlying the thin film resistor 4, a step 3c is formed between the surface of a region 3a underlying the resistor 4 and the surface of the surrounding region 3b of the region 3a.例文帳に追加
薄膜抵抗4の下のTEOS/SOG/TEOS膜3のうち、薄膜抵抗4の下側に位置する領域3aの表面と、その周りの領域3bの表面との間に段差3cを形成する。 - 特許庁
A first insulating film 2 on a substrate 1 is etched using a multilayer resist including a resist 3 for i-beam, an SOG film 4 and a resist 5 for KrF/ArF.例文帳に追加
基板1上の第1の絶縁膜2を、i線用レジスト3、SOG膜4、KrF/ArF用レジスト5を含む多層レジストを用いてエッチングする。 - 特許庁
The elastic wave element includes a substrate 4, electrodes 2 containing interdigital electrodes 2a formed on the substrate 4, and dielectric layers 5 formed on the electrodes 2, wherein a SiO2 film 6 is provided at least between interdigital electrodes 2a and the SiO2 film 6 between the electrodes is formed with SOG (Spin on Glass).例文帳に追加
基板4と、基板4上に形成された櫛歯電極2aを含む電極2と、電極2上に形成された誘電体層5とを備えた弾性波素子であって、少なくとも櫛歯電極2a間にSiO2膜6を備え、電極間のSiO2膜6は、SOG(Spin on Glass)で形成されている。 - 特許庁
An SOG film is formed as a sacrifice layer so that an upper surface is positioned above an upper surface of a polycrystalline silicon layer 4 and below an upper surface of gate electrodes MG, SGS, SGD between gate electrodes MG-MG, MG-SGS, and MG-SGD.例文帳に追加
ゲート電極MG−MG間、MG−SGS間、MG−SGD間に多結晶シリコン層4の上面よりも上方で且つゲート電極MG、SGS、SGDの上面よりも下方に上面が位置するように犠牲層としてSOG膜を形成する。 - 特許庁
In this case, the resist 5 for KrF/ArF is first patterned, the SOG film 4 and the resist 3 for i-beam are dry-etched using the resist 5 for KrF/ArF as a mask, and the first insulating film 2 is dry-etched using the resist 3 as a mask.例文帳に追加
その際は、まずKrF/ArF用レジスト5をパターニングし、それをマスクにしてSOG膜4、i線用レジスト3をドライエッチングし、そのi線用レジスト3をマスクにして第1の絶縁膜2をウェットエッチングする。 - 特許庁
Sections among the fine wiring 2 are filled selectively with the material of a liquid by a slip coating method utilizing a capillary phenomenon by forming a water-repellent film 7 to the wiring and the surface of a substrate before the formation of the inter-wiring insulating films 4 (SOG films) formed by the coating of the material of the liquid.例文帳に追加
液体の材料の塗布によって形成される配線間絶縁膜4(SOG膜)形成前に、撥水膜7を配線と基板表面に形成することにより、その後、毛細管現象を利用したスリットコート法を行えば、液体の材料が選択的に微細な配線2間にのみ充填される。 - 特許庁
The semiconductor device comprises a ground insulating film 4 including on the surface first and second parts 16, 17 each having different height; lower layer wirings 11, 12 formed on the ground insulating film 4; and a first insulating film 6, an organic SOG film 7, and a second insulating film 8 formed sequentially on the lower layer wirings 11, 12, and the ground insulating film 4.例文帳に追加
表面に高さが異なる第1および第2の部分16,17を有する下地絶縁膜4と、下地絶縁膜4に形成された下層配線11,12と、下層配線11,12および下地絶縁膜4上に順次形成された第1絶縁膜6、有機SOG膜7および第2絶縁膜8とを備える。 - 特許庁
A first-layer wiring metal film 3 and an interlayer oxide film 4 are formed on a field oxide film 2, an organic material such as SOG, etc., is applied and then is etched back to flatten the surface of first inter-layer oxide film 4, and a second interlayer oxide film 5 is formed on the first-layer wiring metal film 3 and the first interlayer oxide film 4.例文帳に追加
フィールド酸化膜2上に第1層目の配線用金属膜3と第1層間酸化膜4を形成し、SOG等の有機物を塗布し、エッチバックして、第1層間酸化膜4上を平坦化し、第1層目の配線用金属膜3上と第1層間酸化膜4上に第2層間酸化膜5を形成する。 - 特許庁
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