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WO2024202829A1 - 光走査装置、画像描画システム、及びミラー装置の駆動方法 - Google Patents

光走査装置、画像描画システム、及びミラー装置の駆動方法 Download PDF

Info

Publication number
WO2024202829A1
WO2024202829A1 PCT/JP2024/007098 JP2024007098W WO2024202829A1 WO 2024202829 A1 WO2024202829 A1 WO 2024202829A1 JP 2024007098 W JP2024007098 W JP 2024007098W WO 2024202829 A1 WO2024202829 A1 WO 2024202829A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
drive
axis
frequency
drive frequency
actuators
Prior art date
Application number
PCT/JP2024/007098
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
慎一郎 園田
宏俊 吉澤
伸也 田中
Original Assignee
富士フイルム株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 富士フイルム株式会社 filed Critical 富士フイルム株式会社
Publication of WO2024202829A1 publication Critical patent/WO2024202829A1/ja

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B81MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
    • B81BMICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
    • B81B3/00Devices comprising flexible or deformable elements, e.g. comprising elastic tongues or membranes
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B26/00Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
    • G02B26/08Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B26/00Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
    • G02B26/08Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
    • G02B26/10Scanning systems
    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02NELECTRIC MACHINES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H02N2/00Electric machines in general using piezoelectric effect, electrostriction or magnetostriction
    • H02N2/10Electric machines in general using piezoelectric effect, electrostriction or magnetostriction producing rotary motion, e.g. rotary motors
    • H02N2/14Drive circuits; Control arrangements or methods

Definitions

  • This disclosure relates to an optical scanning device, an image drawing system, and a method for driving a mirror device.
  • the micromirror device also known as a microscanner
  • MEMS Micro Electro Mechanical Systems
  • Si silicon microfabrication technology.
  • Optical scanning devices equipped with this micromirror device are small and consume low power, and are therefore expected to be applied to image drawing systems such as laser displays and laser projectors.
  • the mirror portion is formed so that it can oscillate around a first axis and a second axis that are perpendicular to each other, and the light reflected by the mirror portion is scanned two-dimensionally as the mirror portion oscillates around each axis.
  • a micromirror device is known that enables Lissajous scanning of light by resonating the mirror portion around each axis.
  • JP 2016-184018 A discloses a technology for selecting a drive frequency and frame rate based on the amplitude and phase of a mirror portion in a micromirror device that oscillates the mirror portion around a first axis and a second axis.
  • the frequency of the first drive signal (hereinafter referred to as the "first drive frequency”) for oscillating the mirror section around the first axis is close to the resonant frequency of the mirror section around the first axis (hereinafter referred to as the "first resonant frequency”).
  • the frequency of the second drive signal (hereinafter referred to as the “second drive frequency”) for oscillating the mirror section around the second axis is close to the resonant frequency of the mirror section around the second axis (hereinafter referred to as the "second resonant frequency”).
  • the first resonant frequency and the second resonant frequency fluctuate due to temperature changes, etc. For this reason, it is preferable to change the first drive frequency and the second drive frequency in accordance with the fluctuations in the first resonant frequency and the second resonant frequency, respectively.
  • the first resonant frequency and the second resonant frequency fluctuate independently, it is difficult to change the first drive frequency and the second drive frequency in response to fluctuations in the first resonant frequency and the second resonant frequency, respectively, while maintaining a constant frequency ratio. If the deviation of the first drive frequency from the first resonant frequency increases, the maximum deflection angle of the mirror section about the first axis decreases. Similarly, if the deviation of the second drive frequency from the second resonant frequency increases, the maximum deflection angle of the mirror section about the second axis decreases. Therefore, there is a demand for technology that makes it possible to suppress the decrease in the maximum deflection angle while maintaining a constant frequency ratio when performing Lissajous scanning.
  • the disclosed technology aims to provide an optical scanning device, an image drawing system, and a method for driving a mirror device that can suppress a decrease in the maximum deflection angle while maintaining a constant frequency ratio.
  • the optical scanning device disclosed herein is an optical scanning device including a mirror section that reflects incident light, a pair of first actuators that oscillate the mirror section around a first axis, a pair of second actuators that oscillate the mirror section around a second axis that intersects the first axis, a first angle detection sensor that outputs a first sensor signal according to the deflection angle of the mirror section around the first axis, a second angle detection sensor that outputs a second sensor signal according to the deflection angle of the mirror section around the second axis, and a processor that applies a first drive signal having a first drive frequency to the pair of first actuators and applies a second drive signal having a second drive frequency to the pair of second actuators, and the processor changes the second drive frequency to a value that brings the delay phase difference of the second sensor signal relative to the second drive signal closer to a reference value while maintaining a constant frequency ratio, which is the ratio between the first drive frequency and the second drive frequency.
  • the processor determines a value of the second drive frequency that brings the delay phase difference closer to a reference value, determines a value of the first drive frequency based on the determined value of the second drive frequency and the frequency ratio, and changes the first drive frequency and the second drive frequency to the determined values.
  • the second drive frequency is preferably lower than the first drive frequency.
  • the frequency bandwidth for the second drive frequency of the swing angle about the second axis is narrower than the frequency bandwidth for the first drive frequency of the swing angle about the first axis.
  • the reference value is preferably 90°.
  • the device further includes a temperature sensor that detects the ambient temperature and outputs a detection value, and the processor corrects the amplitude voltage of the first drive signal and the amplitude voltage of the second drive signal based on the detection value.
  • the image drawing system disclosed herein includes any one of the optical scanning devices described above and a light source that irradiates a light beam onto the mirror portion.
  • the method of driving a mirror device disclosed herein includes a mirror section that reflects incident light, a pair of first actuators that oscillate the mirror section around a first axis, a pair of second actuators that oscillate the mirror section around a second axis that intersects the first axis, a first angle detection sensor that outputs a first sensor signal corresponding to the deflection angle of the mirror section around the first axis, and a second angle detection sensor that outputs a second sensor signal corresponding to the deflection angle of the mirror section around the second axis, and the processor applies a first drive signal having a first drive frequency to the pair of first actuators and a second drive signal having a second drive frequency to the pair of second actuators, and changes the second drive frequency to a value that brings the delay phase difference of the second sensor signal relative to the second drive signal closer to a reference value while maintaining a constant frequency ratio that is the ratio between the first drive frequency and the second drive frequency.
  • the technology disclosed herein makes it possible to suppress the decrease in maximum deflection angle while maintaining a constant frequency ratio.
  • FIG. 1 is a schematic diagram of an image drawing system according to a first embodiment.
  • FIG. 1 is a perspective view of the appearance of a micromirror device.
  • 4 is a graph showing an example of a first drive signal and a second drive signal.
  • 3 is a block diagram showing an example of a functional configuration of a drive control unit according to the first embodiment.
  • FIG. 5 is a diagram illustrating an example of a first sensor signal output from a first angle detection sensor.
  • FIG. FIG. 4 is a diagram illustrating an example of a second sensor signal output from a second angle detection sensor.
  • FIG. 11 is a diagram illustrating an example of a first signal processing.
  • FIG. 11 is a diagram illustrating an example of a second signal processing.
  • FIGS. 11A to 11C are diagrams illustrating a generation process of a first zero cross pulse.
  • 11A and 11B are diagrams illustrating a generation process of a second zero cross pulse.
  • 5 is a diagram showing an example of frequency characteristics of a mirror portion around a first axis.
  • FIG. 13 is a diagram showing an example of frequency characteristics of the mirror portion around a second axis.
  • FIG. 13 is a diagram conceptually showing delay phase difference control when the environmental temperature drops;
  • FIG. FIG. 13 is a diagram illustrating an example of a flow of delay phase difference control.
  • FIG. 1 shows the results of Experiment 1.
  • FIG. 13 shows the results of Experiment 2.
  • FIG. 13 shows the results of Experiment 3.
  • FIG. 11 is a schematic diagram of an image rendering system according to a second embodiment.
  • FIG. 11 is a schematic diagram of an image rendering system according to a second embodiment.
  • FIG. 11 is a block diagram showing an example of a functional configuration of a drive control unit according to a second embodiment.
  • FIG. 13 shows the results of Experiment 4.
  • FIG. 13 shows the results of Experiment 5.
  • FIG. 13 shows the results of Experiment 6.
  • FIG. 13 is a plan view of a micromirror device according to a modified example.
  • the image drawing system 10 includes an optical scanning device 2 and a light source 3.
  • the optical scanning device 2 includes a micro mirror device (hereinafter referred to as "MMD (Micro Mirror Device)") 4 and a drive control unit 5.
  • the drive control unit 5 is an example of a "processor” according to the technology of the present disclosure.
  • the MMD 4 is an example of a "mirror device” according to the technology of the present disclosure.
  • the image drawing system 10 draws an image by reflecting the light beam L emitted from the light source 3 by the MMD 4 and optically scanning the scanned surface 6 according to the control of the drive control unit 5.
  • the scanned surface 6 is, for example, a screen for projecting an image or the retina of a human eye.
  • the image rendering system 10 is applied, for example, to a Lissajous scanning type laser display. Specifically, the image rendering system 10 is applicable to a laser scan display such as AR (Augmented Reality) glasses or VR (Virtual Reality) glasses.
  • AR Augmented Reality
  • VR Virtual Reality
  • the MMD4 is a piezoelectric two-axis drive type micromirror device that can oscillate the mirror unit 20 (see FIG. 2) around a first axis a1 and a second axis a2 perpendicular to the first axis a1 .
  • the direction parallel to the second axis a2 is referred to as the X direction
  • the direction parallel to the first axis a1 is referred to as the Y direction
  • the direction perpendicular to the first axis a1 and the second axis a2 is referred to as the Z direction.
  • first axis a1 and the second axis a2 are perpendicular to each other (i.e., intersect perpendicularly) is shown, but the first axis a1 and the second axis a2 may intersect at an angle other than 90°.
  • the intersect refers to intersecting within a certain angle range including an allowable error with 90° as the center.
  • the light source 3 is a laser device that emits, for example, laser light as the light beam L.
  • the light source 3 outputs, for example, three colors of laser light, R (Red), G (Green), and B (Blue).
  • R (Red) the light source 3 preferably irradiates the light beam L perpendicularly to the reflecting surface 20A (see FIG. 2) of the mirror section 20.
  • the light source 3 may become an obstacle when the light beam L is scanned and drawn on the scanned surface 6.
  • the light beam L emitted from the light source 3 by an optical system such as a beam splitter and irradiate it perpendicularly to the reflecting surface 20A.
  • the optical system may include a lens or may not include a lens.
  • the angle at which the light beam L emitted from the light source 3 is irradiated to the reflecting surface 20A is not limited to perpendicular, and the light beam L may be irradiated obliquely to the reflecting surface 20A.
  • the drive control unit 5 outputs drive signals to the light source 3 and the MMD 4 based on the optical scanning information.
  • the light source 3 generates a light beam L based on the input drive signal and irradiates the MMD 4 with the light beam L.
  • the MMD 4 swings the mirror unit 20 around the first axis a1 and the second axis a2 based on the input drive signal.
  • the drive control unit 5 causes the mirror unit 20 to resonate around the first axis a1 and the second axis a2 , so that the light beam L reflected by the mirror unit 20 scans the scanned surface 6 so as to draw a Lissajous waveform.
  • This optical scanning method is called a Lissajous scanning method.
  • the MMD 4 has a mirror section 20, a first support section 21, a first movable frame 22, a second support section 23, a second movable frame 24, a connection section 25, and a fixed frame 26.
  • the MMD 4 is a so-called MEMS scanner.
  • the mirror section 20 has a reflective surface 20A that reflects incident light.
  • the reflective surface 20A is provided on one surface of the mirror section 20 and is formed of a metal thin film such as gold (Au), aluminum (Al), silver (Ag), or a silver alloy.
  • the shape of the reflective surface 20A is, for example, a circular shape centered on the intersection of the first axis a1 and the second axis a2 .
  • the first axis a1 and the second axis a2 exist in a plane including the reflecting surface 20A when the mirror unit 20 is stationary.
  • the planar shape of the MMD 4 is rectangular and is line-symmetric with respect to the first axis a1 and line-symmetric with respect to the second axis a2 .
  • the first support parts 21 are disposed on the outer sides of the mirror part 20 at positions facing each other across the second axis a2 .
  • the first support parts 21 are connected to the mirror part 20 on the first axis a1 and support the mirror part 20 so that it can swing around the first axis a1 .
  • the first support parts 21 are torsion bars extending along the first axis a1 .
  • the first movable frame 22 is a rectangular frame surrounding the mirror section 20, and is connected to the mirror section 20 via the first support section 21 on the first axis a1 .
  • Piezoelectric elements 30 are formed on the first movable frame 22 at positions facing each other across the first axis a1 . In this manner, by forming the two piezoelectric elements 30 on the first movable frame 22, a pair of first actuators 31 are configured.
  • the pair of first actuators 31 are disposed at positions facing each other across the first axis a1 .
  • the pair of first actuators 31 apply a rotational torque about the first axis a1 to the mirror section 20, thereby causing the mirror section 20 to swing about the first axis a1 .
  • the second support parts 23 are disposed on the outer side of the first movable frame 22 at positions facing each other across the first axis a1 .
  • the second support parts 23 are connected to the first movable frame 22 on the second axis a2 , and support the first movable frame 22 and the mirror part 20 so that they can swing around the second axis a2 .
  • the second support parts 23 are torsion bars extending along the second axis a2 .
  • the second movable frame 24 is a rectangular frame surrounding the first movable frame 22, and is connected to the first movable frame 22 via the second support portion 23 on the second axis a2 .
  • Piezoelectric elements 30 are formed on the second movable frame 24 at positions facing each other across the second axis a2 . In this manner, by forming the two piezoelectric elements 30 on the second movable frame 24, a pair of second actuators 32 are configured.
  • the pair of second actuators 32 are disposed at positions facing each other across the second axis a2 .
  • the pair of second actuators 32 apply a rotational torque about the second axis a2 to the mirror section 20 and the first movable frame 22 , thereby causing the mirror section 20 to oscillate about the second axis a2 .
  • connection portions 25 are disposed on the outer side of the second movable frame 24 at positions opposing each other across the first axis a1 .
  • the connection portions 25 are connected to the second movable frame 24 on the second axis a2 .
  • the fixed frame 26 is a rectangular frame body that surrounds the second movable frame 24, and is connected to the second movable frame 24 via a connection portion 25 on the second axis a2 .
  • the first movable frame 22 is provided with first angle detection sensors 11A and 11B in positions facing each other across the first axis a1 near the first support portion 21.
  • the first angle detection sensors 11A and 11B are each composed of a piezoelectric element.
  • the first angle detection sensors 11A and 11B each convert a force applied by deformation of the first support portion 21 accompanying rotation of the mirror portion 20 about the first axis a1 into a voltage and output a signal. That is, the first angle detection sensors 11A and 11B output a signal (hereinafter referred to as a "first sensor signal”) corresponding to the deflection angle of the mirror portion 20 about the first axis a1 .
  • the second movable frame 24 is provided with second angle detection sensors 12A and 12B in positions facing each other across the second axis a2 near the second support portion 23.
  • the second angle detection sensors 12A and 12B are each composed of a piezoelectric element.
  • the second angle detection sensors 12A and 12B each convert a force applied by deformation of the second support portion 23 accompanying rotation of the mirror portion 20 about the second axis a2 into a voltage and output a signal. That is, the second angle detection sensors 12A and 12B output a signal corresponding to the deflection angle of the mirror portion 20 about the second axis a2 (hereinafter referred to as a "second sensor signal").
  • the wiring and electrode pads for supplying drive signals to the pair of first actuators 31 and the pair of second actuators 32 are not shown. Also, in FIG. 2, the wiring and electrode pads for outputting signals from the first angle detection sensors 11A, 11B and the second angle detection sensors 12A, 12B are not shown. A plurality of electrode pads are provided on the fixed frame 26.
  • the deflection angle ⁇ 1 of the mirror section 20 around the first axis a1 (hereinafter referred to as the "first deflection angle") is controlled by a drive signal (hereinafter referred to as the "first drive signal") that the drive control section 5 provides to the pair of first actuators 31.
  • the first drive signal is, for example, a sinusoidal AC voltage.
  • the first drive signal includes a drive voltage waveform V 1A (t) applied to one of the pair of first actuators 31 and a drive voltage waveform V 1B (t) applied to the other.
  • the drive voltage waveform V 1A (t) and the drive voltage waveform V 1B (t) are in opposite phase to each other (i.e., a phase difference of 180°).
  • the first deflection angle ⁇ 1 is an angle at which the normal to the reflecting surface 20A is inclined with respect to the Z direction on the XZ plane.
  • the deflection angle ⁇ 2 of the mirror section 20 around the second axis a2 (hereinafter referred to as the "second deflection angle") is controlled by a drive signal (hereinafter referred to as the "second drive signal") that the drive control section 5 provides to the pair of second actuators 32.
  • the second drive signal is, for example, a sinusoidal AC voltage.
  • the second drive signal includes a drive voltage waveform V2A (t) applied to one of the pair of second actuators 32 and a drive voltage waveform V2B (t) applied to the other.
  • the drive voltage waveform V2A (t) and the drive voltage waveform V2B (t) are in opposite phase to each other (i.e., a phase difference of 180°).
  • the second deflection angle ⁇ 2 is an angle at which the normal to the reflecting surface 20A is inclined with respect to the Z direction in the YZ plane.
  • FIG. 3A shows drive voltage waveforms V1A (t) and V1B (t) included in the first drive signal.
  • Fig. 3B shows drive voltage waveforms V2A (t) and V2B (t) included in the second drive signal.
  • V 1A (t) and V 1B (t) are respectively expressed as follows.
  • V 1A (t) V off1 +A 1 sin(2 ⁇ f d1 t)
  • V 1B (t) V off1 +A 1 sin(2 ⁇ f d1 t+ ⁇ )
  • A1 is the amplitude voltage.
  • Voff1 is the bias voltage.
  • Voff1 may be zero.
  • fd1 is the drive frequency (hereinafter, referred to as the "first drive frequency").
  • t is time.
  • the mirror section 20 oscillates around the first axis a 1 at a first drive frequency f d1 .
  • V 2A (t) and V 2B (t) are respectively expressed as follows.
  • V 2A (t) V off2 +A 2 sin(2 ⁇ f d2 t+ ⁇ )
  • V 2B (t) V off2 +A 2 sin(2 ⁇ f d2 t+ ⁇ + ⁇ )
  • A2 is the amplitude voltage.
  • Voff2 is the bias voltage.
  • Voff2 may be zero.
  • fd2 is the drive frequency (hereinafter referred to as the "second drive frequency").
  • t is time.
  • is the phase difference between the drive voltage waveforms V1A (t) and V1B (t) and the drive voltage waveforms V2A (t) and V2B (t).
  • the mirror section 20 oscillates around the second axis a2 at a second drive frequency fd2 .
  • first resonant frequency the resonant frequency of the mirror section 20 around the first axis a1
  • second resonant frequency the resonant frequency of the mirror section 20 around the second axis a2
  • fd1 > fd2 . That is, the oscillation frequency of the mirror section 20 around the first axis a1 is higher than the oscillation frequency around the second axis a2 .
  • the Lissajous waveform of the light beam L scanned on the scanned surface 6 by the oscillation of the mirror section 20 is determined by the ratio H of the first drive frequency fd1 to the second drive frequency fd2 (hereinafter referred to as the frequency ratio) and the phase difference ⁇ .
  • the mirror unit 20 When the first drive frequency fd1 is set to the first resonant frequency, the mirror unit 20 has the largest maximum value of the first deflection angle ⁇ 1 (hereinafter referred to as the “first maximum deflection angle ⁇ 1max "), and when the second drive frequency fd2 is set, the mirror unit 20 has the largest maximum value of the second deflection angle ⁇ 2 (hereinafter referred to as the “second maximum deflection angle ⁇ 2max ").
  • the first maximum deflection angle ⁇ 1max and the second maximum deflection angle ⁇ 2max are defined as full angles.
  • the first driving frequency fd1 and the second driving frequency fd2 are set to values close to the first resonance frequency and the second resonance frequency, respectively.
  • the first driving frequency fd1 and the second driving frequency fd2 are frequencies within a frequency range near the first resonance frequency and the second resonance frequency, respectively (for example, a half-width range of a frequency distribution having a peak value at the resonance frequency). This frequency range is, for example, within a so-called Q value range.
  • the drive control unit 5 has a first drive signal generation unit 50A, a second drive signal generation unit 50B, a first signal processing unit 51A, a second signal processing unit 51B, a first phase shift unit 52A, a second phase shift unit 52B, a first zero-cross pulse output unit 53A, a second zero-cross pulse output unit 53B, a delay phase difference control unit 54, a light source drive unit 55, and a memory 56.
  • the first drive signal generating section 50A, the first signal processing section 51A, and the first phase shifting section 52A may perform feedback control so that the oscillation of the mirror section 20 about the first axis a1 is maintained in an oscillation state with a constant frequency.
  • the second drive signal generating section 50B, the second signal processing section 51B, and the second phase shifting section 52B may perform feedback control so that the oscillation of the mirror section 20 about the second axis a2 is maintained in an oscillation state with a constant frequency.
  • the first drive signal generating section 50A generates a first drive signal including the above-mentioned drive voltage waveforms V 1A (t) and V 1B (t) based on the reference waveform, and applies the generated first drive signal to the pair of first actuators 31 via the first phase shifting section 52A. This causes the mirror section 20 to oscillate around the first axis a1 .
  • the second drive signal generating section 50B generates a second drive signal including the above-mentioned drive voltage waveforms V 2A (t) and V 2B (t) based on the reference waveform, and applies the generated second drive signal to the pair of second actuators 32 via the second phase shifting section 52B. This causes the mirror section 20 to oscillate around the second axis a2 .
  • the first drive signal generated by the first drive signal generating unit 50A and the second drive signal generated by the second drive signal generating unit 50B are phase-synchronized to have the above-mentioned phase difference ⁇ .
  • Fig. 5 shows an example of the first sensor signals output from the first angle detection sensors 11A and 11B.
  • S1a1 and S1a2 represent the first sensor signals output from the first angle detection sensors 11A and 11B when the mirror unit 20 is swung only around the first axis a1 without swung around the second axis a2 .
  • the signals S1a1 and S1a2 are waveform signals that are similar to a sine wave having a first drive frequency fd1 and have opposite phases to each other.
  • vibration noise RN1 caused by the swinging of the mirror section 20 around the second axis a2 is superimposed on the first sensor signal.
  • S1b1 represents a signal in which the vibration noise RN1 is superimposed on the signal S1a1 .
  • S1b2 represents a signal in which the vibration noise RN1 is superimposed on the signal S1a2 . Note that in FIG. 5, the vibration noise RN1 is emphasized for the purpose of explaining this embodiment.
  • Fig. 6 shows an example of the second sensor signals output from the second angle detection sensors 12A and 12B.
  • S2a1 and S2a2 represent signals output from the second angle detection sensors 12A and 12B when the mirror unit 20 is not swung around the first axis a1 but is swung only around the second axis a2 .
  • the signals S2a1 and S2a2 are waveform signals that are similar to a sine wave having a second drive frequency fd2 and have opposite phases to each other.
  • vibration noise RN2 caused by the swinging of the mirror section 20 around the first axis a1 is superimposed on the second sensor signal.
  • S2b1 represents a signal in which the vibration noise RN2 is superimposed on the signal S2a1 .
  • S2b2 represents a signal in which the vibration noise RN2 is superimposed on the signal S2a2 . Note that in FIG. 6, the vibration noise RN2 is emphasized for the purpose of explaining this embodiment.
  • the first signal processing unit 51A generates a signal from which vibration noise has been removed (hereinafter referred to as the "first angle detection signal") based on the first sensor signals output from the first angle detection sensors 11A and 11B. For example, the first signal processing unit 51A generates the first angle detection signal by subtracting the signal output from the first angle detection sensor 11B from the signal output from the first angle detection sensor 11A.
  • the second signal processing unit 51B generates a signal from which vibration noise has been removed (hereinafter referred to as the "second angle detection signal") based on the second sensor signals output from the second angle detection sensors 12A and 12B. For example, the second signal processing unit 51B generates the second angle detection signal by subtracting the signal output from the second angle detection sensor 12B from the signal output from the second angle detection sensor 12A.
  • the first angle detection signal S1c corresponds to a signal obtained by removing the vibration noise RN1 from the signal S1b1 and doubling its amplitude.
  • the first angle detection signal S1c output from the first signal processing unit 51A is delayed with respect to the drive voltage waveform V1A (t) contained in the first drive signal, and the phase difference ⁇ 1 between them is 90°.
  • the phase difference ⁇ 1 is the delayed phase difference of the first sensor signal with respect to the first drive signal.
  • the phase difference ⁇ 1 will be referred to as the "first delayed phase difference ⁇ 1 .”
  • the second angle detection signal S2c corresponds to a signal obtained by removing the vibration noise RN2 from the signal S2b1 and doubling its amplitude.
  • the second angle detection signal S2c output from the second signal processing unit 51B is delayed with respect to the drive voltage waveform V2A (t) included in the second drive signal, and the phase difference ⁇ 2 between them is 90°.
  • the phase difference ⁇ 2 is the delayed phase difference of the second sensor signal with respect to the second drive signal.
  • the phase difference ⁇ 2 will be referred to as the "second delayed phase difference ⁇ 2 ".
  • the first angle detection signal S1c generated by the first signal processing unit 51A is fed back to the first drive signal generating unit 50A.
  • the first phase shift unit 52A shifts the phase of the drive voltage waveform output from the first drive signal generating unit 50A.
  • the first phase shift unit 52A shifts the phase by, for example, 90°.
  • the first angle detection signal S1c generated by the first signal processing unit 51A is input to the first zero-cross pulse output unit 53A.
  • the second angle detection signal S2c generated by the second signal processing unit 51B is fed back to the second drive signal generating unit 50B.
  • the second phase shift unit 52B shifts the phase of the drive voltage waveform output from the second drive signal generating unit 50B.
  • the second phase shift unit 52B shifts the phase by, for example, 90°.
  • the second angle detection signal S2c generated by the second signal processing unit 51B is input to the second zero cross pulse output unit 53B.
  • the first zero-cross pulse output unit 53A generates a first zero-cross pulse ZC1 based on the first angle detection signal S1c input from the first signal processing unit 51A.
  • the first zero-cross pulse output unit 53A is composed of a zero-cross detection circuit.
  • the first zero-cross pulse output unit 53A generates a first zero-cross pulse ZC1 at the timing when the first angle detection signal S1c, which is an AC signal, crosses zero volts.
  • the first zero-cross pulse output unit 53A inputs the generated first zero-cross pulse ZC1 to the light source drive unit 55.
  • the second zero-cross pulse output unit 53B generates a second zero-cross pulse ZC2 based on the second angle detection signal S2c input from the second signal processing unit 51B.
  • the second zero-cross pulse output unit 53B is configured with a zero-cross detection circuit.
  • the second zero-cross pulse output unit 53B generates a second zero-cross pulse ZC2 at the timing when the second angle detection signal S2c, which is an AC signal, crosses zero volts.
  • the second zero-cross pulse output unit 53B inputs the generated second zero-cross pulse ZC2 to the light source drive unit 55.
  • the light source driving unit 55 drives the light source 3 based on drawing data, for example, supplied from outside the image drawing system 10 and stored in the memory 56.
  • the light source driving unit 55 also controls the irradiation timing so that the irradiation timing of the laser light from the light source 3 is synchronized with the first zero cross pulse ZC1 and the second zero cross pulse ZC2.
  • memory 56 also stores scanning information input from the outside.
  • the scanning information includes the frequency ratio H and phase difference ⁇ described above.
  • the delay phase difference control unit 54 includes a setting change unit 54A and a delay phase difference measurement unit 54B.
  • the setting change unit 54A sets the first drive frequency fd1 and the second drive frequency fd2 that satisfy the frequency ratio H included in the scanning information stored in the memory 56 to the first drive signal generation unit 50A and the second drive signal generation unit 50B, respectively.
  • the setting change unit 54A also sets the phase difference ⁇ included in the scanning information stored in the memory 56 to the first drive signal generation unit 50A and the second drive signal generation unit 50B, respectively.
  • the first drive signal generating unit 50A and the second drive signal generating unit 50B generate and output the first drive signal and the second drive signal that satisfy the set first drive frequency fd1 , second drive frequency fd2 , and phase difference ⁇ .
  • the light beam L reflected by the mirror unit 20 scans the scanned surface 6 so as to trace a Lissajous waveform that satisfies the frequency ratio H and phase difference ⁇ included in the scanning information.
  • the first drive frequency fd1 and the second drive frequency fd2 are set to values close to the first resonant frequency and the second resonant frequency, respectively, but the first resonant frequency and the second resonant frequency fluctuate due to temperature changes, etc.
  • the first resonant frequency and the second resonant frequency fluctuate due to a change in the spring constant of the first support portion 21 and the second support portion 23 caused by a temperature change, etc.
  • Fig. 11 shows an example of the frequency characteristics around the first axis a1 of the mirror section 20.
  • Fig. 11 shows the changes in the first maximum deflection angle ⁇ 1max and the first delay phase difference ⁇ 1 with respect to the first drive frequency fd1.
  • the first drive frequency fd1 at which the first maximum deflection angle ⁇ 1max is maximized is the first resonance frequency, and at this time, the first delay phase difference ⁇ 1 is 90°.
  • Fig. 11 also shows the changes in the frequency characteristics when the environmental temperature T around the MMD 4 is changed to T0, T1, and T2.
  • the first resonant frequency changes, and the first delay phase difference ⁇ 1 changes. Specifically, when the environmental temperature drops while the first drive frequency fd1 remains constant, the first resonant frequency increases, and the first delay phase difference ⁇ 1 changes from 90° to an increasing direction. On the other hand, when the environmental temperature rises while the first drive frequency fd1 remains constant, the first resonant frequency decreases, and the first delay phase difference ⁇ 1 changes from 90° to a decreasing direction.
  • Fig. 12 shows an example of the frequency characteristics around the second axis a2 of the mirror section 20.
  • Fig. 12 shows the changes in the second maximum deflection angle ⁇ 2max and the second delay phase difference ⁇ 2 with respect to the second drive frequency fd2.
  • the second drive frequency fd2 at which the second maximum deflection angle ⁇ 2max is maximized is the second resonance frequency, and at this time, the second delay phase difference ⁇ 2 is 90°.
  • Fig. 12 also shows the changes in the frequency characteristics when the environmental temperature T around the MMD 4 is changed to T0, T1, and T2.
  • the second resonant frequency changes, and the second delay phase difference ⁇ 2 changes. Specifically, when the environmental temperature decreases while the second drive frequency fd2 remains constant, the second resonant frequency increases, and the second delay phase difference ⁇ 2 changes from 90° to an increasing direction. On the other hand, when the environmental temperature increases while the second drive frequency fd2 remains constant, the second resonant frequency decreases, and the second delay phase difference ⁇ 2 changes from 90° to a decreasing direction.
  • W1 indicates the frequency bandwidth of the swing angle around the first axis a1 for the first drive frequency fd1 .
  • W2 indicates the frequency bandwidth of the swing angle around the second axis a2 for the second drive frequency fd2 .
  • the frequency bandwidth is defined as the width of two drive frequencies at which the maximum swing angle is 80% of the maximum value.
  • the frequency bandwidth may be defined as the width of two drive frequencies at which the maximum swing angle is 1/ ⁇ 2 times or 1/2 times the maximum value.
  • the swing angle around the second axis a2 which has a lower drive frequency, has a narrower frequency bandwidth than the swing angle around the first axis a1 , which has a higher drive frequency. That is, in this embodiment, W1>W2.
  • the delay phase difference measurement unit 54B measures the second delay phase difference ⁇ 2 based on the second drive signal applied to the pair of second actuators 32 and the second angle detection signal output from the second signal processing unit 51B. That is, in this embodiment, the delay phase difference control unit 54 measures the delay phase difference around the axis having the narrower frequency bandwidth between the first axis a1 and the second axis a2 .
  • the delay phase difference measurement unit 54B may measure the second delay phase difference ⁇ 2 based on the second drive signal applied to the pair of second actuators 32 and the second sensor signal output from the second angle detection sensors 12A and 12B.
  • the delay phase difference measurement unit 54B may also measure the second delay phase difference ⁇ 2 based on the second drive signal applied to the pair of second actuators 32 and the second zero cross pulse ZC2 output from the second zero cross pulse output unit 53B.
  • the setting change unit 54A determines the value of the second drive frequency fd2 for bringing the second delay phase difference ⁇ 2 closer to the reference value of 90° based on the second delay phase difference ⁇ 2 measured by the delay phase difference measurement unit 54B .
  • the setting change unit 54A also determines the value of the first drive frequency fd1 based on the determined value of the second drive frequency fd2 under the condition that the frequency ratio H is constant.
  • the setting change unit 54A then controls the first drive signal generation unit 50A and the second drive signal generation unit 50B to change the first drive frequency fd1 and the second drive frequency fd2 to the determined values.
  • FIG. 13 conceptually illustrates the delay phase difference control when the environmental temperature drops.
  • the second delay phase difference ⁇ 2 becomes larger than the reference value, so the second drive frequency f d2 is changed to a direction to lower the second delay phase difference ⁇ 2 , that is, to a direction to increase the second drive frequency f d2.
  • the amount of change in the second drive frequency f d2 is not limited to an amount corresponding to the difference between the measured value and the reference value of the second delay phase difference ⁇ 2 , and may be smaller than the amount corresponding to the difference between the measured value and the reference value.
  • the amount of change may be a constant value that does not depend on the difference between the measured value and the reference value.
  • the reference value is not limited to 90°.
  • the setting change unit 54A may derive the greatest common divisor between the current first drive frequency fd1 and the second drive frequency fd2 , and change the first drive frequency fd1 in units of a value obtained by dividing the first drive frequency fd1 by the greatest common divisor, and change the second drive frequency fd2 in units of a value obtained by dividing the second drive frequency fd2 by the greatest common divisor.
  • FIG. 14 shows an example of the flow of the delay phase difference control.
  • the delay phase difference control is performed during the operation of the MMD 4.
  • the delay phase difference measurement unit 54B measures the second delay phase difference ⁇ 2.
  • the setting change unit 54A determines the value of the second drive frequency f d2 that brings the second delay phase difference ⁇ 2 closer to the reference value based on the measured value of the second delay phase difference ⁇ 2.
  • the setting change unit 54A determines the value of the first drive frequency f d1 based on the determined value of the second drive frequency f d2 and the frequency ratio H.
  • the setting change unit 54A changes the first drive frequency f d1 and the second drive frequency f d2 to the determined values. Steps S10 to S13 are repeatedly executed at a constant cycle.
  • the delay phase difference control unit 54 changes the second drive frequency fd2 so that the measured value of the second delay phase difference ⁇ 2 approaches the reference value while maintaining the frequency ratio H constant, so that the second drive frequency fd2 is maintained in the vicinity of the second resonance frequency, thereby suppressing a decrease in the second maximum deflection angle ⁇ 2max .
  • the first drive frequency fd1 is changed depending on the second drive frequency fd2 and the frequency ratio H.
  • delay phase difference control is performed on the second axis a2, which has a low drive frequency and a narrow frequency bandwidth, so that in addition to the decrease in the second maximum deflection angle ⁇ 2max , the decrease in the first maximum deflection angle ⁇ 1max is suppressed.
  • Experimental Example In order to confirm the effect of the first embodiment, the applicant performed Experiments 1 to 3 using an MMD 4 having the same configuration. In Experiment 1, delay phase difference control was performed for the second axis a2 having a narrow frequency bandwidth. In Experiment 2, delay phase difference control was performed for the first axis a1 having a wide frequency bandwidth. In Experiment 3, delay phase difference control was not performed for any axis. In Experiments 1 to 3, the first maximum deflection angle ⁇ 1max and the second maximum deflection angle ⁇ 2max were measured while changing the environmental temperature T over time in the range of 25°C to 35°C.
  • the image drawing system 10A includes a temperature sensor 7 in addition to the configuration of the image drawing system 10 according to the first embodiment.
  • the temperature sensor 7 is disposed in the vicinity of the MMD 4.
  • the temperature sensor 7 detects the environmental temperature around the MMD 4, and outputs a detected value Ts of the environmental temperature to the drive control unit 5.
  • the drive control unit 5 has an amplitude voltage correction unit 60 in addition to the configuration of the drive control unit 5 according to the first embodiment.
  • the amplitude voltage correction unit 60 receives an input of the detected value Ts of the environmental temperature from the temperature sensor 7.
  • the amplitude voltage correction unit 60 corrects the amplitude voltage A1 of the first drive signal generated by the first drive signal generation unit 50A and the amplitude voltage A2 of the second drive signal generated by the second drive signal generation unit 50B based on the detection value Ts. Specifically, the amplitude voltage correction unit 60 corrects the amplitude voltage A1 based on the following formula (1), and corrects the amplitude voltage A2 based on the following formula (2).
  • a 1 A 10 +C 1 ⁇ (Ts-T 0 )...(1)
  • a 2 A 20 +C 2 ⁇ (Ts-T 0 )...(2)
  • T0 is the reference temperature
  • A10 is the reference amplitude voltage of the first drive signal
  • C1 is the correction coefficient
  • A20 is the reference amplitude voltage of the second drive signal
  • C2 is These are correction coefficients.
  • T 0 28°C
  • C 1 0.1 V/°C
  • C 2 -0.01 V/°C.
  • the operation of the image drawing system 10A is similar to that of the image drawing system 10 according to the first embodiment, except that the amplitude voltage correction unit 60 corrects the amplitude voltages A 1 and A 2 based on the detected value Ts of the environmental temperature.
  • the delay phase difference control is performed for the second axis a2 having a narrow frequency bandwidth, but the delay phase difference control may be performed for the first axis a1 having a wide frequency bandwidth. That is, the delay phase difference measurement unit 54B may measure the first delay phase difference ⁇ 1 . In this case, the setting change unit 54A determines the value of the first drive frequency fd1 for bringing the first delay phase difference ⁇ 1 closer to the reference value, and determines the value of the second delay phase difference ⁇ 2 based on the determined value of the first drive frequency fd1 and the frequency ratio H.
  • the first angle detection sensors 11A and 11B are arranged at positions facing each other across the first axis a1 , but the present invention is not limited to this.
  • the first angle detection sensors 11A and 11B may be arranged at positions facing each other across the second axis a2 .
  • the first angle detection sensors 11A and 11B are arranged near the first support portion 21 on the first movable frame 22.
  • the first angle detection sensor 11A is arranged near the first support portion 21 connected to one side of the mirror portion 20.
  • the first angle detection sensor 11B is arranged near the first support portion 21 connected to the other side of the mirror portion 20.
  • the first angle detection sensors 11A and 11B are arranged at positions facing each other across the second axis a2 and across the mirror portion 20. Moreover, the first angle detection sensors 11A and 11B are disposed at positions shifted in the same direction (the -X direction in the example of FIG. 23) from the first axis a1 .
  • the vibration noise can be eliminated by subtracting one of the output signals from the other.
  • the vibration noise can be eliminated by adding up the output signals of the two.
  • the second angle detection sensors 12A and 12B are disposed at positions facing each other across the second axis a2 , but the present invention is not limited to this.
  • the second angle detection sensors 12A and 12B may be disposed at positions facing each other across the first axis a1 .
  • the second angle detection sensors 12A and 12B are disposed near the second support portion 23 on the second movable frame 24.
  • the second angle detection sensor 12A is disposed near the second support portion 23 connected to one side of the first movable frame 22.
  • the second angle detection sensor 12B is disposed near the second support portion 23 connected to the other side of the first movable frame 22.
  • the second angle detection sensors 12A and 12B are disposed at positions facing each other across the first axis a1 and across the mirror portion 20 and the first movable frame 22. Further, the second angle detection sensors 12A and 12B are disposed at positions shifted in the same direction (+Y direction in the example of FIG. 23) from the second axis a2 .
  • the vibration noise can be eliminated by subtracting one of the output signals from the other.
  • the vibration noise can be eliminated by adding up the output signals of the two.
  • the first angle detection sensors 11A, 11B and the second angle detection sensors 12A, 12B are provided in the MMD 4, but one each of the first angle detection sensor and the second angle detection sensor may be provided in the MMD 4.
  • the delay phase difference measurement unit 54B measures the second delay phase difference ⁇ 2 based on the second drive signal and the second sensor signal output from the second angle detection sensor.
  • the delay phase difference measurement unit 54B may measure the first delay phase difference ⁇ 1 based on the first drive signal and the first sensor signal output from the first angle detection sensor.
  • the configuration of the MMD 4 shown in each of the above embodiments is merely an example. Various modifications are possible to the configuration of the MMD 4.
  • a pair of first actuators 31 that swing the mirror section 20 around the first axis a1 may be disposed on the second movable frame 24, and a pair of second actuators 32 that swing the mirror section 20 around the second axis a2 may be disposed on the first movable frame 22.
  • the axis passing through the first support portion 21 is defined as the first axis a1
  • the axis passing through the second support portion 23 is defined as the second axis a2
  • the axis passing through the first support portion 21 may be defined as the second axis a2
  • the axis passing through the second support portion 23 may be defined as the first axis a1 .
  • the drive control unit 5 can be configured using at least one of an analog arithmetic circuit and a digital arithmetic circuit.
  • the drive control unit 5 may be configured using one processor, or may be configured using a combination of two or more processors of the same or different types.
  • Processors include CPUs (Central Processing Units), programmable logic devices (PLDs), and dedicated electrical circuits.
  • a CPU is a general-purpose processor that executes software (programs) stored in memory and functions as various processing units.
  • a PLD is a processor such as an FPGA (Field Programmable Gate Array) whose circuit configuration can be changed after manufacture.
  • a dedicated electrical circuit is a processor having a circuit configuration designed specifically to execute a specific process, such as an ASIC (Application Specific Integrated Circuit).
  • An optical scanning device comprising: the processor changes the second drive frequency to a value that brings a delay phase difference of the second sensor signal relative to the second drive signal closer to a reference value while maintaining a frequency ratio between the first drive frequency and the second drive frequency constant.
  • Optical scanning device [Additional Note 2] The processor, determining a value of the second drive frequency that brings the delay phase difference closer to the reference value; determining a value of the first driving frequency based on the determined value of the second driving frequency and the frequency ratio; changing the first drive frequency and the second drive frequency to respective determined values; Item 2.
  • the second drive frequency is lower than the first drive frequency.
  • a frequency bandwidth of the swing angle around the second axis for the second drive frequency is narrower than a frequency bandwidth of the swing angle around the first axis for the first drive frequency. 4.
  • the optical scanning device according to claim 1 , [Additional Note 5]
  • the reference value is 90°.
  • a temperature sensor is further provided to detect an environmental temperature and output a detected value.
  • the processor corrects an amplitude voltage of the first drive signal and an amplitude voltage of the second drive signal based on the detection value.
  • An image drawing system comprising:

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Abstract

本発明の光走査装置は、入射光を反射するミラー部と、第1軸の周りに前記ミラー部を揺動させる一対の第1アクチュエータ(31)と、第2軸の周りに前記ミラー部を揺動させる一対の第2アクチュエータ(32)と、前記ミラー部の前記第2軸周りの振れ角に応じた第2センサ信号を出力する第2角度検出センサ(12A,12B)と、駆動制御部(5)と、を有する。駆動制御部(5)は、第1駆動周波数を有する第1駆動信号を一対の第1アクチュエータ(31)に付与し、第2駆動周波数を有する第2駆動信号を一対の第2アクチュエータ(32)に付与し、第1駆動周波数と第2駆動周波数との比である周波数比を一定に維持しながら、第2駆動信号に対する第2センサ信号の遅延位相差を基準値に近づける値に第2駆動周波数を変更する。

Description

光走査装置、画像描画システム、及びミラー装置の駆動方法
 本開示は、光走査装置、画像描画システム、及びミラー装置の駆動方法に関する。
 シリコン(Si)の微細加工技術を用いて作製される微小電気機械システム(Micro Electro Mechanical Systems:MEMS)デバイスの1つとしてマイクロミラーデバイス(マイクロスキャナともいう)が知られている。このマイクロミラーデバイスを備える光走査装置は、小型かつ低消費電力であることから、レーザーディスプレイ又はレーザープロジェクタ等の画像描画システムへの応用が期待されている。
 マイクロミラーデバイスは、ミラー部が、互いに直交する第1軸及び第2軸の周りに揺動可能に形成されており、ミラー部が各軸の周りに揺動することで、ミラー部が反射した光を二次元的に走査する。また、ミラー部を各軸の周りに共振させることにより、光をリサージュ走査することを可能とするマイクロミラーデバイスが知られている。
 特開2016-184018号公報には、第1軸及び第2軸の周りにミラー部を揺動させるマイクロミラーデバイスにおいて、ミラー部の振幅及び位相に基づいて、駆動周波数及びフレームレートを選択する技術が開示されている。
 マイクロミラーデバイスの駆動電力を小さくするには、ミラー部を第1軸周りに揺動させるための第1駆動信号の周波数(以下、「第1駆動周波数」という。)は、ミラー部の第1軸周りの共振周波数(以下、「第1共振周波数」という。)に近い値であることが好ましい。同様に、ミラー部を第2軸周りに揺動させるための第2駆動信号の周波数(以下、「第2駆動周波数」という。)は、ミラー部の第2軸周りの共振周波数(以下、「第2共振周波数」という。)に近い値であることが好ましい。第1共振周波数及び第2共振周波数は、温度変化等によって変動する。このため、第1駆動周波数及び第2駆動周波数を、それぞれ第1共振周波数及び第2共振周波数の変動に応じて変更することが好ましい。
 一方、ミラー部に所望の走査密度(すなわち描画解像度)のリサージュ走査を行わせるためには、第1駆動周波数と第2駆動周波数との比(以下、「周波数比」という。)を一定に維持する必要がある。しかしながら、特開2016-184018号公報には、位相から予想される共振周波数に基づいて駆動周波数及びフレームレートを選択することが記載されているものの、周波数比を一定に維持することは記載されていない。
 第1共振周波数及び第2共振周波数はそれぞれ個別に変動するので、周波数比を一定に維持したまま第1駆動周波数及び第2駆動周波数をそれぞれ第1共振周波数及び第2共振周波数の変動に応じて変更することは難しい。第1駆動周波数の第1共振周波数からのずれ量が大きくなると、ミラー部の第1軸周りの最大振れ角が低下してしまう。同様に、第2駆動周波数の第2共振周波数からのずれ量が大きくなると、ミラー部の第2軸周りの最大振れ角が低下してしまう。したがって、リサージュ走査を行う場合に、周波数比を一定に維持したまま最大振れ角の低下を抑制することを可能とする技術が求められている。
 本開示の技術は、周波数比を一定に維持したまま最大振れ角の低下を抑制することを可能とする光走査装置、画像描画システム、及びミラー装置の駆動方法を提供することを目的とする。
 上記目的を達成するために、本開示の光走査装置は、入射光を反射するミラー部と、ミラー部を第1軸の周りにミラー部を揺動させる一対の第1アクチュエータと、ミラー部を第1軸に交差する第2軸の周りにミラー部を揺動させる一対の第2アクチュエータと、ミラー部の第1軸周りの振れ角に応じた第1センサ信号を出力する第1角度検出センサと、ミラー部の第2軸周りの振れ角に応じた第2センサ信号を出力する第2角度検出センサと、第1駆動周波数を有する第1駆動信号を一対の第1アクチュエータに付与し、かつ第2駆動周波数を有する第2駆動信号を一対の第2アクチュエータに付与するプロセッサと、を備える光走査装置であって、プロセッサは、第1駆動周波数と第2駆動周波数との比である周波数比を一定に維持しながら、第2駆動信号に対する第2センサ信号の遅延位相差を基準値に近づける値に第2駆動周波数を変更する。
 プロセッサは、遅延位相差を基準値に近づける第2駆動周波数の値を決定し、決定した第2駆動周波数の値と周波数比とに基づいて第1駆動周波数の値を決定し、第1駆動周波数及び第2駆動周波数をそれぞれ決定した値に変更することが好ましい。
 第2駆動周波数は、第1駆動周波数よりも低いことが好ましい。
 第2軸周りの振れ角の第2駆動周波数に対する周波数帯域幅は、第1軸周りの振れ角の第1駆動周波数に対する周波数帯域幅よりも狭いことが好ましい。
 基準値は90°であることが好ましい。
 環境温度を検出して検出値を出力する温度センサをさらに備え、プロセッサは、検出値に基づいて、第1駆動信号の振幅電圧と第2駆動信号の振幅電圧とを補正することが好ましい。
 本開示の画像描画システムは、上記いずれかの光走査装置と、ミラー部に光ビームを照射する光源と、を備える。
 本開示のミラー装置の駆動方法は、入射光を反射するミラー部と、ミラー部を第1軸の周りにミラー部を揺動させる一対の第1アクチュエータと、ミラー部を第1軸に交差する第2軸の周りにミラー部を揺動させる一対の第2アクチュエータと、ミラー部の第1軸周りの振れ角に応じた第1センサ信号を出力する第1角度検出センサと、ミラー部の第2軸周りの振れ角に応じた第2センサ信号を出力する第2角度検出センサと、を備えるミラー装置の駆動方法であって、プロセッサが、第1駆動周波数を有する第1駆動信号を一対の第1アクチュエータに付与し、第2駆動周波数を有する第2駆動信号を一対の第2アクチュエータに付与し、第1駆動周波数と第2駆動周波数との比である周波数比を一定に維持しながら、第2駆動信号に対する第2センサ信号の遅延位相差を基準値に近づける値に第2駆動周波数を変更する。
 本開示の技術によれば、周波数比を一定に維持したまま最大振れ角の低下を抑制することができる。
第1実施形態に係る画像描画システムの概略図である。 マイクロミラーデバイスの外観斜視図である。 第1駆動信号及び第2駆動信号の一例を示すグラフである。 第1実施形態に係る駆動制御部の機能的な構成の一例を示すブロック図である。 第1角度検出センサから出力される第1センサ信号の一例を示す図である。 第2角度検出センサから出力される第2センサ信号の一例を示す図である。 第1信号処理の一例を示す図である。 第2信号処理の一例を示す図である。 第1ゼロクロスパルスの生成処理を説明する図である。 第2ゼロクロスパルスの生成処理を説明する図である。 ミラー部の第1軸周りの周波数特性の一例を示す図である。 ミラー部の第2軸周りの周波数特性の一例を示す図である。 環境温度が低下した場合における遅延位相差制御を概念的に示す図である。 遅延位相差制御の流れの一例を示す図である。 実験1の結果を示す図である。 実験2の結果を示す図である。 実験3の結果を示す図である。 第2実施形態に係る画像描画システムの概略図である。 第2実施形態に係る駆動制御部の機能的な構成の一例を示すブロック図である。 実験4の結果を示す図である。 実験5の結果を示す図である。 実験6の結果を示す図である。 変形例に係るマイクロミラーデバイスの平面図である。
 以下、図面を参照して、本開示の技術を実施するための形態例を詳細に説明する。
 [第1実施形態]
 まず、図1を参照して、第1実施形態に係る画像描画システム10の構成を説明する。図1に示すように、画像描画システム10は、光走査装置2及び光源3を備える。光走査装置2は、マイクロミラーデバイス(以下、「MMD(Micro Mirror Device)」という。)4、及び駆動制御部5を備える。駆動制御部5は、本開示の技術に係る「プロセッサ」の一例である。MMD4は、本開示の技術に係る「ミラー装置」の一例である。
 画像描画システム10は、駆動制御部5の制御に従って、光源3から照射された光ビームLをMMD4により反射して被走査面6を光走査することにより、画像を描画する。被走査面6は、例えば、画像を投影するためのスクリーン又は人の目の網膜等である。
 画像描画システム10は、例えば、リサージュ走査方式のレーザーディスプレイに適用される。具体的には、画像描画システム10は、AR(Augmented Reality)グラス又はVR(Virtual Reality)グラス等のレーザースキャンディスプレイに適用可能である。
 MMD4は、第1軸aと、第1軸aに直交する第2軸aとの周りに、ミラー部20(図2参照)を揺動させることを可能とする圧電型2軸駆動方式のマイクロミラーデバイスである。以下、第2軸aと平行な方向をX方向、第1軸aと平行な方向をY方向、第1軸a及び第2軸aに直交する方向をZ方向という。本実施形態では、第1軸aと第2軸aとが直交する(すなわち、垂直に交差する)例を示しているが、第1軸aと第2軸aとは90°以外の角度で交差してもよい。ここで、交差とは、90°を中心として、許容誤差を含む一定の角度範囲内で交わることをいう。
 光源3は、光ビームLとして、例えばレーザ光を発するレーザ装置である。光源3は、例えば、R(Red)、G(Green)、及びB(Blue)の3色のレーザ光を出力する。光源3は、MMD4のミラー部20が静止した状態において、ミラー部20が備える反射面20A(図2参照)に垂直に光ビームLを照射することが好ましい。なお、光源3から反射面20Aに垂直に光ビームLを照射する場合、光ビームLを被走査面6に走査して描画する際に、光源3が障害物となる可能性がある。このため、光源3から発せられた光ビームLを、ビームスプリッタ等の光学系で制御して、反射面20Aに垂直に照射することが好ましい。光学系は、レンズを含むものであってもよいし、レンズを含まないものであってもよい。また、光源3から発せられた光ビームLを反射面20Aに照射する角度は垂直に限られず、光ビームLを反射面20Aに対して斜めに照射してもよい。
 駆動制御部5は、光走査情報に基づいて光源3及びMMD4に駆動信号を出力する。光源3は、入力された駆動信号に基づいて光ビームLを発生してMMD4に照射する。MMD4は、入力された駆動信号に基づいて、ミラー部20を第1軸a及び第2軸aの周りに揺動させる。
 駆動制御部5がミラー部20を第1軸a及び第2軸aの周りにそれぞれ共振させることにより、ミラー部20で反射される光ビームLが被走査面6上においてリサージュ波形を描くように走査される。この光走査方式は、リサージュ走査方式と呼ばれる。
 次に、図2を参照して、本実施形態に係るMMD4の構成を説明する。図2に示すように、MMD4は、ミラー部20、第1支持部21、第1可動枠22、第2支持部23、第2可動枠24、接続部25、及び固定枠26を有する。MMD4は、いわゆるMEMSスキャナである。
 ミラー部20は、入射光を反射する反射面20Aを有する。反射面20Aは、ミラー部20の一面に設けられ、例えば、金(Au)、アルミニウム(Al)、銀(Ag)、又は銀の合金等の金属薄膜で形成される。反射面20Aの形状は、例えば、第1軸aと第2軸aとの交点を中心とした円形状である。
 第1軸a及び第2軸aは、ミラー部20が静止した静止時において反射面20Aを含む平面内に存在する。MMD4の平面形状は、矩形状であって、第1軸aに関して線対称であり、かつ第2軸aに関して線対称である。
 第1支持部21は、ミラー部20の外側に、第2軸aを挟んで対向する位置にそれぞれ配置されている。第1支持部21は、第1軸a上でミラー部20と接続されており、ミラー部20を第1軸a周りに揺動可能に支持している。本実施形態では、第1支持部21は、第1軸aに沿って延伸したトーションバーである。
 第1可動枠22は、ミラー部20を取り囲む矩形状の枠体であって、第1軸a上で第1支持部21を介してミラー部20と接続されている。第1可動枠22の上には、第1軸aを挟んで対向する位置にそれぞれ圧電素子30が形成されている。このように、第1可動枠22上に2つの圧電素子30が形成されることにより、一対の第1アクチュエータ31が構成される。
 一対の第1アクチュエータ31は、第1軸aを挟んで対向する位置に配置されている。一対の第1アクチュエータ31は、ミラー部20に、第1軸a周りの回転トルクを作用させることにより、ミラー部20を第1軸a周りに揺動させる。
 第2支持部23は、第1可動枠22の外側に、第1軸aを挟んで対向する位置にそれぞれ配置されている。第2支持部23は、第2軸a上で第1可動枠22と接続されており、第1可動枠22及びミラー部20を、第2軸a周りに揺動可能に支持している。本実施形態では、第2支持部23は、第2軸aに沿って延伸したトーションバーである。
 第2可動枠24は、第1可動枠22を取り囲む矩形状の枠体であって、第2軸a上で第2支持部23を介して第1可動枠22と接続されている。第2可動枠24の上には、第2軸aを挟んで対向する位置にそれぞれ圧電素子30が形成されている。このように、第2可動枠24上に2つの圧電素子30が形成されることにより、一対の第2アクチュエータ32が構成される。
 一対の第2アクチュエータ32は、第2軸aを挟んで対向する位置に配置されている。一対の第2アクチュエータ32は、ミラー部20及び第1可動枠22に、第2軸aの周りの回転トルクを作用させることにより、第2軸aの周りにミラー部20を揺動させる。
 接続部25は、第2可動枠24の外側に、第1軸aを挟んで対向する位置にそれぞれ配置されている。接続部25は、第2軸a上で第2可動枠24と接続されている。
 固定枠26は、第2可動枠24を取り囲む矩形状の枠体であって、第2軸a上で接続部25を介して第2可動枠24と接続されている。
 また、第1可動枠22には、第1支持部21の近傍に、第1軸aを挟んで対向する位置に第1角度検出センサ11A、11Bが設けられている。第1角度検出センサ11A、11Bは、それぞれ圧電素子により構成されている。第1角度検出センサ11A、11Bは、それぞれ、ミラー部20の第1軸a周りの回動に伴う第1支持部21の変形により加わる力を電圧に変換して信号を出力する。すなわち、第1角度検出センサ11A、11Bは、ミラー部20の第1軸a周りの振れ角に応じた信号(以下、「第1センサ信号」という。)を出力する。
 また、第2可動枠24には、第2支持部23の近傍に、第2軸aを挟んで対向する位置に第2角度検出センサ12A、12Bが設けられている。第2角度検出センサ12A、12Bは、それぞれ圧電素子により構成されている。第2角度検出センサ12A、12Bは、それぞれ、ミラー部20の第2軸a周りの回動に伴う第2支持部23の変形により加わる力を電圧に変換して信号を出力する。すなわち、第2角度検出センサ12A、12Bは、ミラー部20の第2軸a周りの振れ角に応じた信号(以下、「第2センサ信号」という。)を出力する。
 図2では、一対の第1アクチュエータ31及び一対の第2アクチュエータ32に駆動信号を与えるための配線及び電極パッドについては図示を省略している。また、図2では、第1角度検出センサ11A、11B及び第2角度検出センサ12A、12Bから信号を出力するための配線及び電極パッドについても図示を省略している。電極パッドは、固定枠26上に複数設けられる。
 ミラー部20の第1軸a周りの振れ角(以下、「第1振れ角」という。)θは、駆動制御部5が一対の第1アクチュエータ31に与える駆動信号(以下、「第1駆動信号」という。)により制御される。第1駆動信号は、例えば正弦波の交流電圧である。第1駆動信号は、一対の第1アクチュエータ31の一方に印加される駆動電圧波形V1A(t)と、他方に印加される駆動電圧波形V1B(t)とを含む。駆動電圧波形V1A(t)と駆動電圧波形V1B(t)とは、互いに逆位相(すなわち位相差180°)である。
 なお、第1振れ角θは、反射面20Aの法線が、XZ平面においてZ方向に対して傾斜する角度である。
 ミラー部20の第2軸a周りの振れ角(以下、「第2振れ角」という。)θは、駆動制御部5が一対の第2アクチュエータ32に与える駆動信号(以下、「第2駆動信号」という。)により制御される。第2駆動信号は、例えば正弦波の交流電圧である。第2駆動信号は、一対の第2アクチュエータ32の一方に印加される駆動電圧波形V2A(t)と、他方に印加される駆動電圧波形V2B(t)とを含む。駆動電圧波形V2A(t)と駆動電圧波形V2B(t)とは、互いに逆位相(すなわち位相差180°)である。
 なお、第2振れ角θは、反射面20Aの法線が、YZ平面においてZ方向に対して傾斜する角度である。
 図3に、第1駆動信号及び第2駆動信号の一例を示す。図3の(A)は、第1駆動信号に含まれる駆動電圧波形V1A(t)及びV1B(t)を示す。図3の(B)は、第2駆動信号に含まれる駆動電圧波形V2A(t)及びV2B(t)を示す。
 駆動電圧波形V1A(t)及びV1B(t)は、それぞれ次のように表される。
 V1A(t)=Voff1+Asin(2πfd1t)
 V1B(t)=Voff1+Asin(2πfd1t+α)
 ここで、Aは振幅電圧である。Voff1はバイアス電圧である。Voff1はゼロでもよい。fd1は駆動周波数(以下、「第1駆動周波数」という。)である。tは時間である。αは、駆動電圧波形V1A(t)及びV1B(t)の位相差である。本実施形態では、例えば、α=180°とする。
 駆動電圧波形V1A(t)及びV1B(t)が一対の第1アクチュエータ31に印加されることにより、ミラー部20は、第1駆動周波数fd1で第1軸a周りに揺動する。
 駆動電圧波形V2A(t)及びV2B(t)は、それぞれ次のように表される。
 V2A(t)=Voff2+Asin(2πfd2t+φ)
 V2B(t)=Voff2+Asin(2πfd2t+β+φ)
 ここで、Aは振幅電圧である。Voff2はバイアス電圧である。Voff2はゼロでもよい。fd2は駆動周波数(以下、「第2駆動周波数」という。)である。tは時間である。βは、駆動電圧波形V2A(t)及びV2B(t)の位相差である。本実施形態では、例えば、β=180°とする。また、φは、駆動電圧波形V1A(t)及びV1B(t)と、駆動電圧波形V2A(t)及びV2B(t)との位相差である。
 駆動電圧波形V2A(t)及びV2B(t)が一対の第2アクチュエータ32に印加されることにより、ミラー部20は、第2駆動周波数fd2で第2軸a周りに揺動する。以下において、ミラー部20の第1軸a周りの共振周波数を「第1共振周波数」といい、ミラー部20の第2軸a周りの共振周波数を「第2共振周波数」という。
 本実施形態では、fd1>fd2とする。すなわち、ミラー部20は、第1軸a周りの揺動周波数が、第2軸a周りの揺動周波数よりも高い。ミラー部20の揺動により被走査面6に走査される光ビームLのリサージュ波形は、第1駆動周波数fd1と第2駆動周波数fd2との比(以下、周波数比という。)Hと位相差φとにより決定される。周波数比Hは、例えば、H=fd1/fd2であり、所望とする光ビームLの走査密度に基づいて設定される値である。
 ミラー部20は、第1駆動周波数fd1が第1共振周波数に設定された場合に、第1振れ角θの最大値(以下、「第1最大振れ角θ1max」という。)が最も大きくなり、第2駆動周波数fd2が設定された場合に、第2振れ角θの最大値(以下、「第2最大振れ角θ2max」という。)が最も大きくなる。ここで、第1最大振れ角θ1max及び第2最大振れ角θ2maxは、全角として定義される。
 第1最大振れ角θ1max及び第2最大振れ角θ2maxの低下を抑制するためには、第1駆動周波数fd1及び第2駆動周波数fd2がそれぞれ第1共振周波数及び第2共振周波数に近い値に設定されることが好ましい。例えば、第1駆動周波数fd1及び第2駆動周波数fd2は、それぞれ第1共振周波数及び第2共振周波数の近傍の周波数範囲(例えば、共振周波数をピーク値とする周波数分布の半値幅の範囲)内の周波数であることが好ましい。この周波数範囲は、例えば、いわゆるQ値の範囲内である。
 次に、図4を参照して、駆動制御部5の機能的な構成を説明する。図4に示すように、駆動制御部5は、第1駆動信号生成部50A、第2駆動信号生成部50B、第1信号処理部51A、第2信号処理部51B、第1位相シフト部52A、第2位相シフト部52B、第1ゼロクロスパルス出力部53A、第2ゼロクロスパルス出力部53B、遅延位相差制御部54、光源駆動部55、及びメモリ56を有する。
 第1駆動信号生成部50A、第1信号処理部51A、及び第1位相シフト部52Aは、ミラー部20の第1軸a周りの揺動が一定の周波数の揺動状態を維持するようにフィードバック制御を行ってもよい。第2駆動信号生成部50B、第2信号処理部51B、及び第2位相シフト部52Bは、ミラー部20の第2軸a周りの揺動が一定の周波数の揺動状態を維持するようにフィードバック制御を行ってもよい。
 第1駆動信号生成部50Aは、基準波形に基づいて、上述の駆動電圧波形V1A(t)及びV1B(t)を含む第1駆動信号を生成し、生成した第1駆動信号を、第1位相シフト部52Aを介して一対の第1アクチュエータ31に付与する。これにより、ミラー部20は、第1軸a周りに揺動する。
 第2駆動信号生成部50Bは、基準波形に基づいて、上述の駆動電圧波形V2A(t)及びV2B(t)を含む第2駆動信号を生成し、生成した第2駆動信号を、第2位相シフト部52Bを介して一対の第2アクチュエータ32に付与する。これにより、ミラー部20は、第2軸a周りに揺動する。
 第1駆動信号生成部50Aが生成する第1駆動信号と、第2駆動信号生成部50Bが生成する第2駆動信号とは、上述の位相差φを有するように位相同期されている。
 図5は、第1角度検出センサ11A、11Bから出力される第1センサ信号の一例を示す。図5において、S1a及びS1aは、ミラー部20を第2軸a周りには揺動させずに、第1軸a周りにのみ揺動させた場合に第1角度検出センサ11A、11Bから出力される第1センサ信号を表している。信号S1a、S1aは、第1駆動周波数fd1を有する正弦波に近似した波形信号であり、互いに逆位相となる。
 ミラー部20を第1軸a及び第2軸aの周りに同時に揺動させた場合には、第1センサ信号には、ミラー部20の第2軸a周りの揺動に起因する振動ノイズRN1が重畳される。S1bは、信号S1aに振動ノイズRN1が重畳された信号を表している。S1bは、信号S1aに振動ノイズRN1が重畳された信号を表している。なお、図5では、本実施形態の説明のために、振動ノイズRN1を強調して示している。
 図6は、第2角度検出センサ12A、12Bから出力される第2センサ信号の一例を示す。図6において、S2a及びS2aは、ミラー部20を第1軸a周りには揺動させずに、第2軸a周りにのみ揺動させた場合に第2角度検出センサ12A、12Bから出力される信号を表している。信号S2a、S2aは、第2駆動周波数fd2を有する正弦波に近似した波形信号であり、互いに逆位相となる。
 ミラー部20を第1軸a及び第2軸aの周りに同時に揺動させた場合には、第2センサ信号には、ミラー部20の第1軸a周りの揺動に起因する振動ノイズRN2が重畳される。S2bは、信号S2aに振動ノイズRN2が重畳された信号を表している。S2bは、信号S2aに振動ノイズRN2が重畳された信号を表している。なお、図6では、本実施形態の説明のために、振動ノイズRN2を強調して示している。
 第1信号処理部51Aは、第1角度検出センサ11A、11Bから出力された第1センサ信号に基づいて、振動ノイズが除去された信号(以下、「第1角度検出信号」という。)を生成する。例えば、第1信号処理部51Aは、第1角度検出センサ11Aから出力された信号から第1角度検出センサ11Bから出力された信号を減算することにより第1角度検出信号を生成する。
 第2信号処理部51Bは、第2角度検出センサ12A、12Bから出力された第2センサ信号に基づいて、振動ノイズが除去された信号(以下、「第2角度検出信号」という。)を生成する。例えば、第2信号処理部51Bは、第2角度検出センサ12Aから出力された信号から第2角度検出センサ12Bから出力された信号を減算することにより第2角度検出信号を生成する。
 図7は、第1角度検出センサ11A、11Bから出力された第1センサ信号S1b、S1bに基づいて、第1角度検出信号S1cが生成される様子を示している。第1角度検出信号S1cは、信号S1bから振動ノイズRN1が除去された信号の振幅を2倍とした信号に対応する。
 ミラー部20の第1軸a周りの揺動が共振状態を維持している場合には、図7に示すように、第1信号処理部51Aから出力される第1角度検出信号S1cは、第1駆動信号に含まれる駆動電圧波形V1A(t)に対して遅延し、両者の位相差ηが90°となる。位相差ηは、第1駆動信号に対する第1センサ信号の遅延位相差である。以下、位相差ηを「第1遅延位相差η」という。
 図8は、第2角度検出センサ12A、12Bから出力された第2センサ信号S2b、S2bに基づいて、第2角度検出信号S2cが生成される様子を示している。第2角度検出信号S2cは、信号S2bから振動ノイズRN2が除去された信号の振幅を2倍とした信号に対応する。
 ミラー部20の第2軸a周りの揺動が共振状態を維持している場合には、図8に示すように、第2信号処理部51Bから出力される第2角度検出信号S2cは、第2駆動信号に含まれる駆動電圧波形V2A(t)に対して遅延し、両者の位相差ηが90°となる。位相差ηは、第2駆動信号に対する第2センサ信号の遅延位相差である。以下、位相差ηを「第2遅延位相差η」という。
 第1信号処理部51Aにより生成された第1角度検出信号S1cは、第1駆動信号生成部50Aにフィードバックされる。第1位相シフト部52Aは、第1駆動信号生成部50Aから出力された駆動電圧波形の位相をシフトする。第1位相シフト部52Aは、例えば、位相を90°シフトさせる。また、第1信号処理部51Aにより生成された第1角度検出信号S1cは、第1ゼロクロスパルス出力部53Aに入力される。
 第2信号処理部51Bにより生成された第2角度検出信号S2cは、第2駆動信号生成部50Bにフィードバックされる。第2位相シフト部52Bは、第2駆動信号生成部50Bから出力された駆動電圧波形の位相をシフトする。第2位相シフト部52Bは、例えば、位相を90°シフトさせる。また、第2信号処理部51Bにより生成された第2角度検出信号S2cは、第2ゼロクロスパルス出力部53Bに入力される。
 第1ゼロクロスパルス出力部53Aは、第1信号処理部51Aから入力される第1角度検出信号S1cに基づき、第1ゼロクロスパルスZC1を生成する。第1ゼロクロスパルス出力部53Aは、ゼロクロス検出回路により構成されている。
 図9に示すように、第1ゼロクロスパルス出力部53Aは、交流信号である第1角度検出信号S1cがゼロボルトを横切るタイミングで第1ゼロクロスパルスZC1を生成する。第1ゼロクロスパルス出力部53Aは、生成した第1ゼロクロスパルスZC1を光源駆動部55に入力する。
 第2ゼロクロスパルス出力部53Bは、第2信号処理部51Bから入力される第2角度検出信号S2cに基づき、第2ゼロクロスパルスZC2を生成する。第2ゼロクロスパルス出力部53Bは、ゼロクロス検出回路により構成されている。
 図10に示すように、第2ゼロクロスパルス出力部53Bは、交流信号である第2角度検出信号S2cがゼロボルトを横切るタイミングで第2ゼロクロスパルスZC2を生成する。第2ゼロクロスパルス出力部53Bは、生成した第2ゼロクロスパルスZC2を光源駆動部55に入力する。
 光源駆動部55は、例えば、画像描画システム10の外部から供給されてメモリ56に記憶された描画データに基づいて、光源3を駆動する。また、光源駆動部55は、光源3によるレーザ光の照射タイミングが、第1ゼロクロスパルスZC1及び第2ゼロクロスパルスZC2と同期するように照射タイミングを制御する。
 メモリ56には、描画データの他に、外部から入力された走査情報を記憶している。走査情報は、上述の周波数比H及び位相差φを含む。
 遅延位相差制御部54は、設定変更部54Aと、遅延位相差計測部54Bと、を含んで構成されている。設定変更部54Aは、メモリ56に記憶された走査情報に含まれる周波数比Hを満たす第1駆動周波数fd1及び第2駆動周波数fd2を、第1駆動信号生成部50A及び第2駆動信号生成部50Bにそれぞれ設定する。また、設定変更部54Aは、メモリ56に記憶された走査情報に含まれる位相差φを、第1駆動信号生成部50A及び第2駆動信号生成部50Bにそれぞれ設定する。
 第1駆動信号生成部50A及び第2駆動信号生成部50Bは、設定された第1駆動周波数fd1、第2駆動周波数fd2、及び位相差φを満たす第1駆動信号及び第2駆動信号を生成して出力する。これにより、ミラー部20で反射される光ビームLが被走査面6上において、走査情報に含まれる周波数比H及び位相差φを満たすリサージュ波形を描くように走査される。
 上述のように、ミラー部20の最大振れ角の低下を抑制するためには、第1駆動周波数fd1及び第2駆動周波数fd2がそれぞれ第1共振周波数及び第2共振周波数に近い値に設定されることが好ましいが、第1共振周波数及び第2共振周波数は、温度変化等によって変動する。例えば、温度変化等によって第1支持部21及び第2支持部23のバネ定数が変化することにより、第1共振周波数及び第2共振周波数が変動する。
 図11に、ミラー部20の第1軸a周りの周波数特性の一例を示す。図11は、第1駆動周波数fd1に対する第1最大振れ角θ1max及び第1遅延位相差ηの変化を示す。第1最大振れ角θ1maxが最大となる第1駆動周波数fd1が第1共振周波数であり、このとき第1遅延位相差ηは90°となる。また、図11は、MMD4の周囲の環境温度TをT0,T1,T2と変化させた場合における周波数特性の変化を示している。ここで、T1<T0<T2としている。
 第1駆動周波数fd1が一定のまま環境温度が変化すると、第1共振周波数が変化することにより、第1遅延位相差ηが変化する。具体的には、第1駆動周波数fd1が一定のまま環境温度が低下すると、第1共振周波数が上昇して、第1遅延位相差ηが90°から増加する方向に変化する。一方、第1駆動周波数fd1が一定のまま環境温度が上昇すると、第1共振周波数が低下して、第1遅延位相差ηが90°から減少する方向に変化する。
 図12に、ミラー部20の第2軸a周りの周波数特性の一例を示す。図12は、第2駆動周波数fd2に対する第2最大振れ角θ2max及び第2遅延位相差ηの変化を示す。第2最大振れ角θ2maxが最大となる第2駆動周波数fd2が第2共振周波数であり、このとき第2遅延位相差ηは90°となる。また、図12は、MMD4の周囲の環境温度TをT0,T1,T2と変化させた場合における周波数特性の変化を示している。ここで、T1<T0<T2としている。
 第2駆動周波数fd2が一定のまま環境温度が変化すると、第2共振周波数が変化することにより、第2遅延位相差ηが変化する。具体的には、第2駆動周波数fd2が一定のまま環境温度が低下すると、第2共振周波数が上昇して、第2遅延位相差ηが90°から増加する方向に変化する。一方、第2駆動周波数fd2が一定のまま環境温度が上昇すると、第2共振周波数が低下して、第2遅延位相差ηが90°から減少する方向に変化する。
 図11において、W1は、第1軸a周りの振れ角の第1駆動周波数fd1に対する周波数帯域幅を示している。図12において、W2は、第2軸a周りの振れ角の、第2駆動周波数fd2に対する周波数帯域幅を示している。本実施形態では、周波数帯域幅を、最大振れ角が最大値の80%となる2つの駆動周波数の幅と定義している。これに限られず、周波数帯域幅を、最大振れ角が最大値の1/√2倍又は1/2倍となる2つの駆動周波数の幅と定義してもよい。本実施形態のMMD4の構成では、駆動周波数が低い第2軸a周りの振れ角のほうが、駆動周波数が高い第1軸a周りの振れ角よりも、周波数帯域幅が狭い。すなわち、本実施形態では、W1>W2である。
 本実施形態では、遅延位相差計測部54Bは、一対の第2アクチュエータ32に付与される第2駆動信号と、第2信号処理部51Bから出力される第2角度検出信号とに基づき、第2遅延位相差ηを計測する。すなわち、本実施形態では、遅延位相差制御部54は、第1軸aと第2軸aとのうち、周波数帯域幅が狭い方の軸周り遅延位相差を計測する。なお、遅延位相差計測部54Bは、一対の第2アクチュエータ32に付与される第2駆動信号と、第2角度検出センサ12A、12Bから出力される第2センサ信号とに基づいて、第2遅延位相差ηを計測してもよい。また、遅延位相差計測部54Bは、一対の第2アクチュエータ32に付与される第2駆動信号と、第2ゼロクロスパルス出力部53Bが出力する第2ゼロクロスパルスZC2とに基づいて、第2遅延位相差ηを計測してもよい。
 設定変更部54Aは、遅延位相差計測部54Bにより計測された第2遅延位相差ηに基づいて、第2遅延位相差ηを基準値である90°に近づけるための第2駆動周波数fd2の値を決定する。また、設定変更部54Aは、決定した第2駆動周波数fd2の値に基づき、周波数比Hを一定とする条件で第1駆動周波数fd1の値を決定する。そして、設定変更部54Aは、第1駆動信号生成部50A及び第2駆動信号生成部50Bを制御することにより、第1駆動周波数fd1及び第2駆動周波数fd2をそれぞれ決定した値に変更する。
 図13に、環境温度が低下した場合における遅延位相差制御を概念的に示す。図13に示すように、環境温度が低下した場合には、第2遅延位相差ηが基準値よりも大きくなるので、第2遅延位相差ηを下げる方向、すなわち第2駆動周波数fd2を上げる方向に変更する。なお、第2駆動周波数fd2の変更量は、第2遅延位相差ηの計測値と基準値との差に対応する量に限られず、計測値と基準値との差に対応する量よりも小さくてもよい。また、変更量は、計測値と基準値との差に依存しない一定値であってもよい。なお、基準値は90°に限定されない。
 また、設定変更部54Aは、第1駆動周波数fd1及び第2駆動周波数fd2を変更する際に、現在の第1駆動周波数fd1と第2駆動周波数fd2との最大公約数を導出し、第1駆動周波数fd1を当該最大公約数で割った値を単位として第1駆動周波数fd1を変更し、第2駆動周波数fd2を当該最大公約数で割った値を単位として第2駆動周波数fd2を変更してもよい。
 図14に、遅延位相差制御の流れの一例を示す。遅延位相差制御は、MMD4の動作中に行われる。まず、ステップS10で、遅延位相差計測部54Bは、第2遅延位相差ηを計測する。次に、ステップS11で、設定変更部54Aは、第2遅延位相差ηの計測値に基づいて第2遅延位相差ηを基準値に近づける第2駆動周波数fd2の値を決定する。次に、ステップS12で、設定変更部54Aは、決定した第2駆動周波数fd2の値と周波数比Hとに基づいて第1駆動周波数fd1の値を決定する。次に、ステップS13で、設定変更部54Aは、第1駆動周波数fd1及び第2駆動周波数fd2をそれぞれ決定した値に変更する。ステップS10~S13は、一定の周期で繰り返し実行される。
 以上のように、本実施形態では、遅延位相差制御部54は、周波数比Hを一定に維持しながら、第2遅延位相差ηの計測値を基準値に近づくように第2駆動周波数fd2を変更するので、第2駆動周波数fd2が第2共振周波数の近傍に維持される。これにより第2最大振れ角θ2maxの低下が抑制される。
 第1駆動周波数fd1は、第2駆動周波数fd2及び周波数比Hに依存して変更されるが、本実施形態では、駆動周波数が低く周波数帯域幅が狭い第2軸aについて遅延位相差制御を行っているので、第2最大振れ角θ2maxの低下に加えて、第1最大振れ角θ1maxの低下が抑制される。
 [実験例]
 本出願人は、第1実施形態の効果を確認するために、同一の構成のMMD4を用いて、実験1~3を行った。実験1では、周波数帯域幅が狭い第2軸aについて遅延位相差制御を行った。実験2では、周波数帯域幅が広い第1軸aについて遅延位相差制御を行った。実験3では、いずれの軸についても遅延位相差制御を行わなかった。実験1~3では、時間ととともに環境温度Tを25℃~35℃の範囲で変化させながら、第1最大振れ角θ1max及び第2最大振れ角θ2maxを計測した。
 図15~図17は、それぞれ実験1~3の結果を示す。図15~図17によれば、遅延位相差制御を行うことにより第1最大振れ角θ1max及び第2最大振れ角θ2maxの低下が抑制されることがわかる。
 また、図16に示すように、周波数帯域幅が広い第1軸aについて遅延位相差制御を行った場合には、第1最大振れ角θ1maxの低下が抑制されるが、第2最大振れ角θ2maxの低下の抑制は十分でない。これに対して、図15に示すように、周波数帯域幅が狭い第2軸aについて遅延位相差制御を行った場合には、第2最大振れ角θ2maxの低下に加えて、第1最大振れ角θ1maxの低下が抑制されることがわかる。
 [第2実施形態]
 まず、図18を参照して、第2実施形態に係る画像描画システム10Aの構成を説明する。図18に示すように、画像描画システム10Aは、第1実施形態に係る画像描画システム10の構成に加えて、温度センサ7を備えている。温度センサ7は、MMD4の近傍に配置されている。温度センサ7は、MMD4の周囲の環境温度を検出し、環境温度の検出値Tsを駆動制御部5に出力する。
 図19を参照して、第2実施形態に係る駆動制御部5の機能的な構成を説明する。図19に示すように、本実施形態では、駆動制御部5は、第1実施形態に係る駆動制御部5の構成に加えて、振幅電圧補正部60を有する。振幅電圧補正部60には、温度センサ7から環境温度の検出値Tsが入力される。
 振幅電圧補正部60は、検出値Tsに基づいて、第1駆動信号生成部50Aが生成する第1駆動信号の振幅電圧Aと第2駆動信号生成部50Bが生成する第2駆動信号の振幅電圧Aとを補正する。具体的には、振幅電圧補正部60は、下式(1)に基づいて振幅電圧Aを補正し、下式(2)に基づいて振幅電圧Aを補正する。
 A=A10+C×(Ts-T)   ・・・(1)
 A=A20+C×(Ts-T)   ・・・(2)
 ここで、Tは基準温度である。A10は第1駆動信号の基準振幅電圧である。Cは補正係数である。A20は第2駆動信号の基準振幅電圧である。Cは補正係数である。例えば、T=28℃、C=0.1V/℃、C=-0.01V/℃とする。
 画像描画システム10Aの動作は、振幅電圧補正部60が環境温度の検出値Tsに基づいて振幅電圧A,Aを補正すること以外は、第1実施形態に係る画像描画システム10の動作と同様である。
 環境温度の検出値Tsに基づいて振幅電圧A,Aを補正することにより、環境温度が大きく変化した場合でも、第1最大振れ角θ1max及び第2最大振れ角θ2maxの低下を抑制することができる。
 [実験例]
 本出願人は、第2実施形態の効果を確認するために、同一の構成のMMD4を用いて、実験4~6を行った。実験4では、周波数帯域幅が狭い第2軸aについての遅延位相差制御に加えて、環境温度の検出値Tsに基づいて振幅電圧A,Aを補正した。実験5では、周波数帯域幅が狭い第2軸aについての遅延位相差制御のみを行った。実験6では、遅延位相差制御及び振幅電圧A,Aの補正を行わなかった。実験4~6では、時間ととともに環境温度Tを15℃~35℃の範囲で変化させながら、第1最大振れ角θ1max及び第2最大振れ角θ2maxを計測した。また、T=28℃、C=0.1V/℃、C=-0.01V/℃とした。
 図20~図22は、それぞれ実験4~6の結果を示す。図20~図22によれば、周波数帯域幅が狭い第2軸aについて遅延位相差制御を行うことにより第1最大振れ角θ1max及び第2最大振れ角θ2maxの低下が抑制されることがわかる。さらに、周波数帯域幅が狭い第2軸aについての遅延位相差制御に加えて、環境温度の検出値Tsに基づいて振幅電圧A,Aを補正することにより、第1最大振れ角θ1max及び第2最大振れ角θ2maxの低下がさらに抑制されることがわかる。
 [変形例]
 以下に、第1及び第2実施形態の各種変形例について説明する。
 上記各実施形態では、周波数帯域幅が狭い第2軸aについて遅延位相差制御を行っているが、周波数帯域幅が広い第1軸aについて遅延位相差制御を行ってもよい。すなわち、遅延位相差計測部54Bは、第1遅延位相差ηを計測してもよい。この場合、設定変更部54Aは、第1遅延位相差ηを基準値に近づけるための第1駆動周波数fd1の値を決定し、決定した第1駆動周波数fd1の値と周波数比Hとに基づいて、第2遅延位相差ηの値を決定する。
 また、上記各実施形態では、第1角度検出センサ11A、11Bが、第1軸aを挟んで対向する位置に配置されている場合について説明したが、これに限定されない。例えば、図23に示すように、第1角度検出センサ11A、11Bは、第2軸aを挟んで対向する位置に配置されてもよい。図23の例では、第1角度検出センサ11A、11Bは、第1可動枠22上において、それぞれ第1支持部21の近傍に配置されている。第1角度検出センサ11Aは、ミラー部20の一方に接続された第1支持部21の近傍に配置されている。第1角度検出センサ11Bは、ミラー部20の他方に接続された第1支持部21の近傍に配置されている。したがって、第1角度検出センサ11A、11Bは、第2軸aを挟んで対向し、かつミラー部20を挟んで対向する位置に配置されている。また、第1角度検出センサ11A、11Bは、第1軸aから同じ方向(図23の例では-X方向)にずれた位置に配置されている。
 上記各実施形態のように第1角度検出センサ11A、11Bが第1軸aを挟んで対向する位置に配置されている場合には、両者の出力信号のうち、一方から他方を減算することにより、振動ノイズを除去することができる。これに対し、この形態例のように、第1角度検出センサ11A、11Bが第2軸aを挟んで対向する位置に配置されている場合には、両者の出力信号を加算することにより、振動ノイズを除去することができる。
 また、上記各実施形態では、第2角度検出センサ12A、12Bが、第2軸aを挟んで対向する位置に配置されている場合について説明したが、これに限定されない。例えば、図23に示すように、第2角度検出センサ12A、12Bは、第1軸aを挟んで対向する位置に配置されてもよい。図23の例では、第2角度検出センサ12A、12Bは、第2可動枠24上において、それぞれ第2支持部23の近傍に配置されている。第2角度検出センサ12Aは、第1可動枠22の一方に接続された第2支持部23の近傍に配置されている。第2角度検出センサ12Bは、第1可動枠22の他方に接続された第2支持部23の近傍に配置されている。したがって、第2角度検出センサ12A、12Bは、第1軸aを挟んで対向し、かつミラー部20及び第1可動枠22を挟んで対向する位置に配置されている。また、第2角度検出センサ12A、12Bは、第2軸aから同じ方向(図23の例では+Y方向)にずれた位置に配置されている。
 上記各実施形態のように第2角度検出センサ12A、12Bが第2軸aを挟んで対向する位置に配置されている場合には、両者の出力信号のうち、一方から他方を減算することにより、振動ノイズを除去することができる。これに対し、この形態例のように、第2角度検出センサ12A、12Bが第1軸aを挟んで対向する位置に配置されている場合には、両者の出力信号を加算することにより、振動ノイズを除去することができる。
 また、上記各実施形態では、第1角度検出センサ11A、11B及び第2角度検出センサ12A、12BをMMD4に設けているが、第1角度検出センサと第2角度検出センサとをそれぞれ1つずつMMD4に設けてもよい。この場合、遅延位相差計測部54Bは、第2駆動信号と、第2角度検出センサから出力される第2センサ信号とに基づいて、第2遅延位相差ηを計測する。なお、遅延位相差計測部54Bは、第1駆動信号と、第1角度検出センサから出力される第1センサ信号とに基づいて、第1遅延位相差ηを計測してもよい。
 また、上記各実施形態で示したMMD4の構成は一例である。MMD4の構成は、種々の変形が可能である。例えば、ミラー部20を第1軸a周りの揺動させる一対の第1アクチュエータ31を第2可動枠24に配置し、ミラー部20を第2軸a周りの揺動させる一対の第2アクチュエータ32を第1可動枠22に配置してもよい。
 また、上記各実施形態では、第1支持部21を通る軸を第1軸aと定義し、第2支持部23を通る軸を第2軸aと定義しているが、これに代えて、第1支持部21を通る軸を第2軸aと定義し、第2支持部23を通る軸を第1軸aと定義してもよい。
 また、駆動制御部5のハードウェア構成は種々の変形が可能である。駆動制御部5は、アナログ演算回路及びデジタル演算回路のうちの少なくとも一方を用いて構成することが可能である。駆動制御部5は、1つのプロセッサで構成されてもよいし、同種又は異種の2つ以上のプロセッサの組み合わせで構成されてもよい。プロセッサには、CPU(Central Processing Unit)、プログラマブルロジックデバイス(Programmable Logic Device:PLD)、及び専用電気回路等が含まれる。CPUは、周知のとおりメモリに記憶されたソフトウエア(プログラム)を実行して各種の処理部として機能する汎用的なプロセッサである。PLDは、FPGA(Field Programmable Gate Array)等の、製造後に回路構成を変更可能なプロセッサである。専用電気回路は、ASIC(Application Specific Integrated Circuit)等の特定の処理を実行させるために専用に設計された回路構成を有するプロセッサである。
 上記説明によって以下の技術を把握することができる。
 [付記項1]
 入射光を反射するミラー部と、
 前記ミラー部を第1軸の周りに前記ミラー部を揺動させる一対の第1アクチュエータと、
 前記ミラー部を前記第1軸に交差する第2軸の周りに前記ミラー部を揺動させる一対の第2アクチュエータと、
 前記ミラー部の前記第1軸周りの振れ角に応じた第1センサ信号を出力する第1角度検出センサと、
 前記ミラー部の前記第2軸周りの振れ角に応じた第2センサ信号を出力する第2角度検出センサと、
 第1駆動周波数を有する第1駆動信号を一対の前記第1アクチュエータに付与し、かつ第2駆動周波数を有する第2駆動信号を一対の前記第2アクチュエータに付与するプロセッサと、
 を備える光走査装置であって、
 前記プロセッサは、前記第1駆動周波数と前記第2駆動周波数との比である周波数比を一定に維持しながら、前記第2駆動信号に対する前記第2センサ信号の遅延位相差を基準値に近づける値に前記第2駆動周波数を変更する、
 光走査装置。
 [付記項2]
 前記プロセッサは、
 前記遅延位相差を前記基準値に近づける前記第2駆動周波数の値を決定し、
 決定した前記第2駆動周波数の値と前記周波数比とに基づいて前記第1駆動周波数の値を決定し、
 前記第1駆動周波数及び前記第2駆動周波数をそれぞれ決定した値に変更する、
 付記項1に記載の光走査装置。
 [付記項3]
 前記第2駆動周波数は、前記第1駆動周波数よりも低い、
 付記項1又は付記項2に記載の光走査装置。
 [付記項4]
 前記第2軸周りの振れ角の前記第2駆動周波数に対する周波数帯域幅は、前記第1軸周りの振れ角の前記第1駆動周波数に対する周波数帯域幅よりも狭い、
 付記項1から付記項3のうちいずれか1項に記載の光走査装置。
 [付記項5]
 前記基準値は90°である、
 付記項1から付記項4のうちいずれか1項に記載の光走査装置。
 [付記項6]
 環境温度を検出して検出値を出力する温度センサをさらに備え、
 前記プロセッサは、前記検出値に基づいて、前記第1駆動信号の振幅電圧と前記第2駆動信号の振幅電圧とを補正する、
 付記項1から付記項5のうちいずれか1項に記載の光走査装置。
 [付記項7]
 付記項1から付記項6のうちいずれか1項に記載の光走査装置と、
 前記ミラー部に光ビームを照射する光源と、
 を備える画像描画システム。

Claims (8)

  1.  入射光を反射するミラー部と、
     前記ミラー部を第1軸の周りに前記ミラー部を揺動させる一対の第1アクチュエータと、
     前記ミラー部を前記第1軸に交差する第2軸の周りに前記ミラー部を揺動させる一対の第2アクチュエータと、
     前記ミラー部の前記第1軸周りの振れ角に応じた第1センサ信号を出力する第1角度検出センサと、
     前記ミラー部の前記第2軸周りの振れ角に応じた第2センサ信号を出力する第2角度検出センサと、
     第1駆動周波数を有する第1駆動信号を一対の前記第1アクチュエータに付与し、かつ第2駆動周波数を有する第2駆動信号を一対の前記第2アクチュエータに付与するプロセッサと、
     を備える光走査装置であって、
     前記プロセッサは、前記第1駆動周波数と前記第2駆動周波数との比である周波数比を一定に維持しながら、前記第2駆動信号に対する前記第2センサ信号の遅延位相差を基準値に近づける値に前記第2駆動周波数を変更する、
     光走査装置。
  2.  前記プロセッサは、
     前記遅延位相差を前記基準値に近づける前記第2駆動周波数の値を決定し、
     決定した前記第2駆動周波数の値と前記周波数比とに基づいて前記第1駆動周波数の値を決定し、
     前記第1駆動周波数及び前記第2駆動周波数をそれぞれ決定した値に変更する、
     請求項1に記載の光走査装置。
  3.  前記第2駆動周波数は、前記第1駆動周波数よりも低い、
     請求項1に記載の光走査装置。
  4.  前記第2軸周りの振れ角の前記第2駆動周波数に対する周波数帯域幅は、前記第1軸周りの振れ角の前記第1駆動周波数に対する周波数帯域幅よりも狭い、
     請求項3に記載の光走査装置。
  5.  前記基準値は90°である、
     請求項1に記載の光走査装置。
  6.  環境温度を検出して検出値を出力する温度センサをさらに備え、
     前記プロセッサは、前記検出値に基づいて、前記第1駆動信号の振幅電圧と前記第2駆動信号の振幅電圧とを補正する、
     請求項1に記載の光走査装置。
  7.  請求項1から請求項6のうちいずれか1項に記載の光走査装置と、
     前記ミラー部に光ビームを照射する光源と、
     を備える画像描画システム。
  8.  入射光を反射するミラー部と、
     前記ミラー部を第1軸の周りに前記ミラー部を揺動させる一対の第1アクチュエータと、
     前記ミラー部を前記第1軸に交差する第2軸の周りに前記ミラー部を揺動させる一対の第2アクチュエータと、
     前記ミラー部の前記第1軸周りの振れ角に応じた第1センサ信号を出力する第1角度検出センサと、
     前記ミラー部の前記第2軸周りの振れ角に応じた第2センサ信号を出力する第2角度検出センサと、
     を備えるミラー装置の駆動方法であって、
     プロセッサが、
     第1駆動周波数を有する第1駆動信号を一対の前記第1アクチュエータに付与し、
     第2駆動周波数を有する第2駆動信号を一対の前記第2アクチュエータに付与し、
     前記第1駆動周波数と前記第2駆動周波数との比である周波数比を一定に維持しながら、前記第2駆動信号に対する前記第2センサ信号の遅延位相差を基準値に近づける値に前記第2駆動周波数を変更する、
     ミラー装置の駆動方法。
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