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WO2015156172A1 - タイヤモールドの刻印検査方法および装置 - Google Patents

タイヤモールドの刻印検査方法および装置 Download PDF

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WO2015156172A1
WO2015156172A1 PCT/JP2015/060140 JP2015060140W WO2015156172A1 WO 2015156172 A1 WO2015156172 A1 WO 2015156172A1 JP 2015060140 W JP2015060140 W JP 2015060140W WO 2015156172 A1 WO2015156172 A1 WO 2015156172A1
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data
image
side plate
marking
radial
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辰憲 田中
拡太郎 多田
本宮　祥之亮
Original Assignee
横浜ゴム株式会社
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    • G06T2207/30116—Casting

Definitions

  • the present invention relates to a tire mold marking inspection method and apparatus, and more particularly, to determine the suitability of a marking formed on the surface of an annular side plate constituting a tire mold with high accuracy while reducing the inspection time.
  • the present invention relates to a method and apparatus for inspecting a tire mold.
  • ⁇ Various information such as tire size, brand name, and design is displayed on the side of the pneumatic tire.
  • a stamp corresponding to these information is formed on the surface of the annular side plate constituting the tire mold.
  • the side plate is manufactured, it is inspected whether the marking formed on the surface matches the preset information, whether the marking position is appropriate, whether the marking is crushed, and the like.
  • Some of the stamps are as small as several millimeters, and it takes a lot of labor and time to visually check the stamp.
  • Patent Document 1 an inspection method for determining the quality of an uneven character string formed on the side surface of a manufactured pneumatic tire has been proposed (see Patent Document 1).
  • an uneven character string formed on the side surface of a tire is photographed, and an image pattern of this character string is generated. Then, the degree of coincidence between the generated image pattern and a preset model pattern is calculated, and the quality of the character string is determined based on the result.
  • An object of the present invention is to provide a tire mold marking inspection method and apparatus capable of determining with high accuracy the suitability of the marking formed on the surface of the annular side plate constituting the tire mold while reducing the inspection time. There is to do.
  • the tire mold stamping inspection method of the present invention is set as a reference in the tire mold stamping inspection method for judging the suitability of the stamp formed on the surface of the annular side plate constituting the tire mold.
  • the two-dimensional image master of the imprint in plan view corrected based on the radial trajectory length of the surface of the side plate using the basic data and correcting the radial component and the radial position of the imprint formed on the surface.
  • Data is created in advance and input to a data processor, the manufactured side plate is measured to obtain the three-dimensional data of the inscription, and the radial component and radial position of the three-dimensional data are Created two-dimensional image measurement data corrected based on the measured radial trajectory length of the side plate surface, the data processor Whether the image shape and the image position of the image actual measurement data are within an allowable range with respect to the image shape and the image position of the image master data by collating the image contours between the image master data and the image actual measurement data. It is characterized by determining whether or not.
  • the tire mold marking inspection apparatus of the present invention uses basic data set as a reference in the tire mold marking inspection apparatus that determines the suitability of the marking formed on the surface of the annular side plate constituting the tire mold.
  • Two-dimensional image measurement data corrected based on the radial trajectory length is created by the data processor, and the data processing is performed.
  • the image shape and the image position of the image actual measurement data are within an allowable range with respect to the image shape and the image position of the image master data by performing a matching process between the image contours of the image master data and the image actual measurement data. It is characterized in that it is configured to determine whether it is within.
  • the plane in which the radial component and the radial position of the marking formed on the surface are corrected Two-dimensional image master data for visual marking is created in advance.
  • the manufactured side plate is actually measured to obtain the three-dimensional data of the engraving, and the radial component and the radial position of this three-dimensional data are based on the measured radial trajectory length of the surface of the side plate.
  • this collation process is a collation between two-dimensional data
  • the image shape and the image position of the actual image data are within an allowable range with respect to the image shape and the image position of the image master data while reducing the inspection time. It can be determined whether or not it is within. Thereby, it is possible to determine whether or not the stamp to be inspected is appropriate with respect to the master data serving as the appropriate determination criterion.
  • FIG. 1 is an explanatory view illustrating the manufactured side plate in plan view.
  • FIG. 2 is an explanatory view illustrating an AA cross section of FIG.
  • FIG. 3 is an explanatory diagram illustrating image master data.
  • FIG. 4 is an explanatory view exemplifying rectangular image master data.
  • FIG. 5 is a flowchart illustrating the procedure of the inspection method of the present invention.
  • FIG. 6 is an explanatory view illustrating the outline of the inspection apparatus of the present invention.
  • FIG. 7 is an explanatory diagram illustrating the corrected image actual measurement data.
  • FIG. 8 is an explanatory view exemplifying a process of collating image contours between the image master data of FIG. 4 and the image measurement data of FIG.
  • the marking 8 (8a, 8b) formed on the surface 7a of the annular side plate 7 constituting the tire mold illustrated in FIG. 1 is set in advance. It is determined whether or not it is within an allowable range with respect to a reference (image master data 9 described later).
  • stamps 8a and 8b such as a tire size and a brand name are formed on the surface 7a of the manufactured side plate 7.
  • the stamp 8 is composed of letters, numbers, patterns, etc., and is uneven with respect to the surface 7a.
  • the innermost peripheral position of the stamp 8a is at a radial distance r from the annular center point CP of the side plate 7 and has a radial length t.
  • the innermost peripheral position of the other stamp 8b is also at a radial distance r, and has a radial length t1 (t> t1).
  • the position and size of the stamp 8 are individually set.
  • These inscriptions 8 are arranged at one place on the surface 7 a of the side plate 7 or at a plurality of places at appropriate intervals in the circumferential direction L of the side plate 7.
  • the surface 7a of the side plate 7 is a curved surface in which the dimension in the thickness direction H changes according to the radial distance as illustrated in FIG. Therefore, the radial distance r in the plan view becomes the radial distance R when the distance is along the curved surface of the surface 7a in the sectional view of FIG. That is, if the radial distance r is corrected based on the radial locus length of the surface 7a of the side plate 7, the radial distance R is obtained.
  • the radial length t of the inscription 8 in plan view is the radial length T when corrected based on the radial trajectory length of the surface 7a.
  • the radial components t and t1 (radial direction) of the marking 8 formed on the surface 7a.
  • Two-dimensional image master data 9 of the imprint 8 in plan view illustrated in FIG. 3 with the corrected lengths t, t1) and the radial position r is created.
  • the inscribed mark 8 has a radially inner position R as a radial position R, and has radial lengths T and T1.
  • design data and manufacturing data of the side plate 7, data acquired from a completed normal product, and the like are used as basic data set as a reference.
  • the two-dimensional image master data 9 is rectangularized as shown in FIG. 4, for example, by performing data processing.
  • the X direction is the circumferential direction L of the side plate 7
  • the Y direction is the radial direction of the side plate 7.
  • the inspection method of the present invention is performed based on the flowchart illustrated in FIG. First, as described above, two-dimensional image master data 9 of the stamp 8 in plan view is created (step 1).
  • the manufactured side plate 7 is measured to obtain the three-dimensional data of the stamp 8 (step 2).
  • the tire mold marking inspection apparatus 1 hereinafter referred to as the inspection apparatus 1 of the present invention illustrated in FIG. 6 is used.
  • An inspection apparatus 1 illustrated in FIG. 6 includes a data processing machine 2 such as a computer, and a measurement unit that actually measures the manufactured side plate 7 and obtains three-dimensional data of the stamp 8 formed on the surface 7a of the side plate 7. 3 is provided.
  • the image master data 9 described above is input to the data processor 2.
  • the measurement unit 3 includes an irradiator 4 that irradiates the surface 7 a of the side plate 7 with laser light, and a camera device 5.
  • the camera device 5 captures the marking 8 irradiated with the laser light, and acquires three-dimensional data of the marking 8.
  • the inspection device 1 is provided with a rotation mechanism 6 that relatively moves the side plate 7 and the camera device 5 around the annular center point CP of the manufactured side plate 7.
  • the rotation mechanism 6 includes, for example, a rotation plate 6a on which the side plate 7 is placed and a drive unit 6b that rotationally drives the rotation plate 6a.
  • the camera device 5 is fixed at a fixed position, and the side plate 7 is configured to rotate around the annular center point CP together with the rotating plate 6a.
  • the imprint 8 is photographed while rotating the side plate 7 in the circumferential direction L, and three-dimensional data of the imprint 8 for one round of the side plate 7 is acquired.
  • the side plate 7 may be fixed at a fixed position, and the camera device 5 may be configured to rotate about the annular center point CP.
  • the radial component (radial length) and thickness component of the acquired three-dimensional data of the stamp 8 are replaced with numerical values and converted into a grayscale image.
  • the image master data 9 is corrected as described above, the obtained three-dimensional data is similarly measured for the radial component (radial length) and radial position of the surface 7a of the side plate 7. Correction is made based on the radial locus length of the surface 7a of the side plate 7 thus prepared, and two-dimensional image measurement data 10 illustrated in FIG. 7 is created (step 3). By this correction, the image master data 9 and the image actual measurement data 10 can be collated.
  • the data processor 2 performs a matching process between the image contours of the image master data 9 and the image measurement data 10 (step 4).
  • this collation processing it is determined whether or not the image shape and the image position of the image measurement data 10 are within an allowable range with respect to the image shape and the image position of the image master data 9. That is, the image master data 9 (character “X” in FIG. 8) and the image measurement data 10 (character “X” in FIG. 8) are aligned and overlapped.
  • the degree of coincidence between the two image shapes and the allowable range of displacement are set in advance and input to the data processor 2.
  • the above-described collation process in the present invention is a collation between two-dimensional data. Therefore, it is possible to determine whether the image shape and the image position of the image measurement data 10 are within the allowable range with respect to the image shape and the image position of the image master data 9 with high accuracy while reducing the inspection time. . Even if it is a small inscription 8 of about several mm (for example, 1 mm to 2 mm) that is difficult to judge visually, suitability can be judged with high accuracy while reducing the inspection time.
  • the data of the stamp 8 (for example, the stamp 8 a) that serves as the extraction reference for the collation process can be input to the data processor 2 as the extraction reference stamp data.
  • extracted reference marking equivalent data (stamp 8a) corresponding to the extracted reference marking data (stamp 8a) in the measured image data 10 is used.
  • the image master data 9 and the actual image data 10 are obtained by performing phase alignment (X-direction alignment) processing of the extracted reference marking data (the marking 8a) and the extraction reference marking equivalent data (the marking 8a). Preliminary phasing of the image can also be performed.
  • the extraction reference marking data for example, an appropriate marking 8 such as the marking 8 having the largest size among the markings 8 can be adopted.
  • the data of the stamp 8 of the side plate 7 determined to be appropriate can be stored in the data processor 2 and used when determining the appropriateness next time.
  • the image measurement data 10 of the inscription 8 of the side plate 7 acquired and created at the time of the next suitability determination is collated with the previous image measurement data 10 stored in the data processor 2, so that Change can be grasped. By this grasping, it becomes possible to determine an appropriate service life of the side plate 7 and the like.

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Abstract

　環状のサイドプレートの表面に形成された刻印の適否を、検査時間を短縮しながら高精度で判断できるタイヤモールドの刻印検査方法および装置を提供する。基準として設定された基礎データを用いてサイドプレート７の表面７ａの半径方向の軌跡長さに基づいて、表面７ａに形成される刻印８の半径方向成分ｔおよび半径方向位置ｒを補正した平面視の刻印８の二次元の画像マスターデータ９を予めデータ処理機２に入力しておき、実測して取得した刻印８の三次元データの半径方向成分および半径方向位置をその実測したサイドプレート７の表面７ａの半径方向軌跡長さに基づいて補正した二次元の画像実測データを作成し、データ処理機２によって画像マスターデータ９と画像実測データ１０との画像輪郭どうしを照合して、画像実測データ１０の画像形状および画像位置が許容範囲内であるか否かを判断する。

Description

タイヤモールドの刻印検査方法および装置
　本発明は、タイヤモールドの刻印検査方法および装置に関し、さらに詳しくは、タイヤモールドを構成する環状のサイドプレートの表面に形成された刻印の適否を、検査時間を短縮しながら高精度で判断することができるタイヤモールドの刻印検査方法および装置に関するものである。
　空気入りタイヤの側面には、タイヤサイズ、ブランド名、デザインなど様々な情報が表示されている。これら情報をタイヤ側面に表示するために、タイヤモールドを構成する環状のサイドプレートの表面には、これら情報に対応する刻印が形成されている。サイドプレートを製造した際には、その表面に形成された刻印が、予め設定した情報と合致しているか、刻印位置は適正であるか、刻印が潰れていなか等を検査する。刻印には数ｍｍ程度の小さいものもあり、目視にて刻印の適否を検査するには、多大な労力と時間を要する。
　例えば、製造された空気入りタイヤの側面に形成された凹凸状の文字列の良否を判定する検査方法が提案されている（特許文献１参照）。この文献の検査方法では、タイヤ側面に形成された凹凸状の文字列を撮影して、この文字列の画像パターンを生成する。そして、生成した画像パターンと予め設定されているモデルパータンとの一致度を算出して、その結果によって文字列の良否を判定する。
　このような検査方法では、凹凸状の文字列の三次元データを基準（モデルパターン）として、検査対象となる凹凸の文字列とを比較すると、三次元データどうしを比較して両者の一致度を算出することになる。それ故、一致度を算出するデータ処理に長時間を要し、処理速度の速い高性能のデータ処理機も必要になるという問題がある。
日本国特開２００５－２４６９３１号公報
　本発明の目的は、タイヤモールドを構成する環状のサイドプレートの表面に形成された刻印の適否を、検査時間を短縮しながら高精度で判断することができるタイヤモールドの刻印検査方法および装置を提供することにある。
　上記目的を達成するため本発明のタイヤモールドの刻印検査方法は、タイヤモールドを構成する環状のサイドプレートの表面に形成された刻印の適否を判断するタイヤモールドの刻印検査方法において、基準として設定された基礎データを用いてサイドプレートの表面の半径方向の軌跡長さに基づいて、この表面に形成される刻印の半径方向成分および半径方向位置を補正した平面視の前記刻印の二次元の画像マスターデータを予め作成してデータ処理機に入力しておき、製造された前記サイドプレートを実測して前記刻印の三次元データを取得して、この三次元データの半径方向成分および半径方向位置をその実測したサイドプレートの表面の半径方向軌跡長さに基づいて補正した二次元の画像実測データを作成し、前記データ処理機による前記画像マスターデータと前記画像実測データとの画像輪郭どうしの照合処理により、前記画像実測データの画像形状および画像位置が前記画像マスターデータの画像形状および画像位置に対して許容範囲内であるか否かを判断することを特徴とする。
　本発明のタイヤモールドの刻印検査装置は、タイヤモールドを構成する環状のサイドプレートの表面に形成された刻印の適否を判断するタイヤモールドの刻印検査装置において、基準として設定された基礎データを用いてサイドプレートの表面の半径方向の軌跡長さに基づいて、この表面に形成される刻印の半径方向成分および半径方向位置を補正した平面視の前記刻印の二次元の画像マスターデータが入力されるデータ処理機と、製造された前記サイドプレートを実測して前記刻印の三次元データを取得する測定ユニットとを備え、前記三次元データの半径方向成分および半径方向位置をその実測したサイドプレートの表面の半径方向軌跡長さに基づいて補正した二次元の画像実測データを前記データ処理機により作成し、前記データ処理機によって前記画像マスターデータと前記画像実測データとの画像輪郭どうしの照合処理を行なうことにより、前記画像実測データの画像形状および画像位置が前記画像マスターデータの画像形状および画像位置に対して許容範囲内であるか否かを判断する構成にしたことを特徴とする。
　本発明によれば、基準として設定された基礎データを用いてサイドプレートの表面の半径方向の軌跡長さに基づいて、この表面に形成される刻印の半径方向成分および半径方向位置を補正した平面視の刻印の二次元の画像マスターデータを予め作成する。一方で、製造されたサイドプレートを実測して刻印の三次元データを取得して、この三次元データの半径方向成分および半径方向位置をその実測したサイドプレートの表面の半径方向軌跡長さに基づいて補正した二次元の画像実測データを作成することで、この画像実測データと画像マスターデータとの画像輪郭どうしを照合することが可能になる。そして、この照合処理は二次元データどうしの照合になるので、検査時間を短縮しながら高精度で、画像実測データの画像形状および画像位置が画像マスターデータの画像形状および画像位置に対して許容範囲内であるか否かを判断することができる。これにより、適正判断基準となるマスターデータに対して、検査対象となる刻印が適正か否かを判断できる。
図１は製造されたサイドプレートを平面視で例示する説明図である。 図２は図１のＡ－Ａ断面を例示する説明図である。 図３は画像マスターデータを例示する説明図である。 図４は矩形化した画像マスターデータを例示する説明図である。 図５は本発明の検査方法の手順を例示するフロー図である。 図６は本発明の検査装置の概要を例示する説明図である。 図７は補正した画像実測データを例示する説明図である。 図８は図４の画像マスターデータと図７の画像実測データとの画像輪郭どうしを照合処理する工程を例示する説明図である。
　以下、本発明のタイヤモールドの刻印検査方法および装置を図に示した実施形態に基づいて説明する。
　本発明のタイヤモールドの刻印検査方法および検査装置は、図１に例示するタイヤモールドを構成する環状のサイドプレート７の表面７ａに形成された刻印８（８ａ、８ｂ）が、予め設定されている基準（後述する画像マスターデータ９）に対して許容範囲内にあって適正であるか否かを判断する。
　製造されたサイドプレート７の表面７ａには、タイヤサイズやブランド名など様々な刻印８ａ、８ｂが形成されている。刻印８は、文字や数字、模様等によって構成されていて、表面７ａに対して凹凸になっている。平面視で刻印８ａの最内周位置はサイドプレート７の環状中心点ＣＰから半径方向距離ｒの位置にあり、半径方向長さｔの大きさを有している。別の刻印８ｂの最内周位置も半径方向距離ｒの位置にあり、半径方向長さｔ１（ｔ＞ｔ１）の大きさを有している。刻印８の位置や大きさはそれぞれ個別に設定されている。これら刻印８はサイドプレート７の表面７ａに一箇所またはサイドプレート７の周方向Ｌに適宜の間隔をあけて複数箇所に配置される。
　一般的にサイドプレート７の表面７ａは、図２に例示するように半径方向距離に応じて厚み方向Ｈの寸法が変化した曲面になっている。したがって、平面視での半径方向距離ｒは、図２の断面視において表面７ａの曲面に沿った距離にすると半径方向距離Ｒになる。即ち、半径方向距離ｒをサイドプレート７の表面７ａの半径方向の軌跡長さに基づいて補正すると半径方向距離Ｒとなる。同様に、平面視での刻印８の半径方向長さｔは、表面７ａの半径方向の軌跡長さに基づいて補正すると、半径方向長さＴになる。
　そこで本発明では、基準として設定された基礎データを用いてサイドプレート７の表面７ａの半径方向の軌跡長さに基づいて、表面７ａに形成される刻印８の半径方向成分ｔ、ｔ１（半径方向長さｔ、ｔ１）および半径方向位置ｒを補正した図３に例示する平面視の刻印８の二次元の画像マスターデータ９を作成する。この画像マスターデータ９では、刻印８は最内周位置が半径方向位置Ｒになり、半径方向長さＴ、Ｔ１の大きさになる。尚、画像マスターデータ９には、このサイドプレート７の設計データや製造データ、完成した正常品から取得したデータなどを、基準として設定した基礎データとして用いる。
　この二次元の画像マスターデータ９は、データ処理を行なうことで、例えば図４に示すように矩形化する。図４ではＸ方向がサイドプレート７の周方向Ｌになり、Ｙ方向がサイドプレート７の半径方向になる。
　本発明の検査方法は、図５に例示するフロー図に基づいて行われる。まず、上述したとおり、平面視の刻印８の二次元の画像マスターデータ９を作成する（ステップ１）。
　次いで、製造されたサイドプレート７を実測して刻印８の三次元データを取得する（ステップ２）。この実測の際には、図６に例示する本発明のタイヤモールドの刻印検査装置１（以下、検査装置１という）を用いる。
　図６に例示する検査装置１は、コンピュータ等のデータ処理機２と、製造されたサイドプレート７を実測してサイドプレート７の表面７ａに形成された刻印８の三次元データを取得する測定ユニット３とを備えている。データ処理機２には、上述した画像マスターデータ９が入力されている。
　この実施形態では、測定ユニット３は、サイドプレート７の表面７ａにレーザ光を照射する照射機４と、カメラ装置５とを有している。カメラ装置５は、レーザ光により照射された刻印８を撮影し、この刻印８の三次元データを取得する。
　さらに検査装置１には、製造されたサイドプレート７の環状中心点ＣＰを中心にして、このサイドプレート７とカメラ装置５とを相対的に回転移動させる回転機構６が設けられている。回転機構６は、例えばサイドプレート７が載置される回転板６ａと、回転板６ａを回転駆動する駆動部６ｂとで構成される。この実施形態では、カメラ装置５は一定位置に固定され、サイドプレート７が回転板６ａとともに環状中心点ＣＰを中心にして回転移動する構成になっている。サイドプレート７を周方向Ｌに回転させつつ刻印８の撮影をしてサイドプレート７の１周分の刻印８の三次元データを取得する。サイドプレート７を一定位置に固定して、カメラ装置５を環状中心点ＣＰを中心にして回転移動させる構成にすることもできる。
　データ処理機２では、例えば、取得した刻印８の三次元データの半径方向成分（半径方向長さ）および厚さ成分を数値に置き換えてグレースケールの画像に変換する。ここで、画像マスターデータ９は上述のとおり補正しているので、取得した三次元データについても同様に、サイドプレート７の表面７ａの半径方向成分（半径方向長さ）および半径方向位置をその実測したサイドプレート７の表面７ａの半径方向軌跡長さに基づいて補正して、図７に例示する二次元の画像実測データ１０を作成する（ステップ３）。この補正により、画像マスターデータ９と画像実測データ１０とが照合可能になる。
　次いで、データ処理機２によって、図８に例示するように画像マスターデータ９と画像実測データ１０との画像輪郭どうしの照合処理を行なう（ステップ４）。この照合処理では、画像実測データ１０の画像形状および画像位置が画像マスターデータ９の画像形状および画像位置に対して許容範囲内であるか否かを判断する。即ち、画像マスターデータ９（図８では文字「Ｘ」）と画像測定データ１０（図８では文字「Ｘ」）とを位置合わせして重ねるようにする。両者の画像形状の一致程度および位置ずれの許容範囲は、予め設定されていてデータ処理機２に入力されている。
　両者を照合した結果、画像実測データ１０の画像形状および画像位置が、画像マスターデータ９の画像形状および画像位置に対して許容範囲内であれば、両者が一致しているとして、このサイドプレート７の表面７ａに形成されている刻印８は適正であると判断される。一方、許容範囲内でなければ、その刻印８は不適であると判断される。
　本発明での上述した照合処理は二次元データどうしの照合になる。そのため、検査時間を短縮しながら高精度で、画像実測データ１０の画像形状および画像位置が画像マスターデータ９の画像形状および画像位置に対して許容範囲内であるか否かを判断することができる。目視では適否を判断し難い数ｍｍ（例えば１ｍｍ～２ｍｍ）程度の小さな刻印８であっても、検査時間を短縮しながら高精度で適否を判断することが可能になる。
　例えば、画像マスターデータ９において、照合処理する際の抽出基準となる刻印８（例えば、刻印８ａ）のデータを抽出基準刻印データとしてデータ処理機２に入力しておくこともできる。画像マスターデータ９と画像実測データ１０との画像輪郭どうしを照合処理する際には、画像実測データ１０の内で抽出基準刻印データ（刻印８ａ）に相当する抽出基準刻印相当データ（刻印８ａ）をデータ処理機２によって自動抽出する。そして、この抽出基準刻印データ（刻印８ａ）と抽出基準刻印相当データ（刻印８ａ）との画像の位相合わせ（Ｘ方向位置合わせ）処理を行なうことによって、画像マスターデータ９と画像実測データ１０との画像の予備的な位相合わせを行なうこともできる。大まかなである予備的な位相合わせを、抽出基準刻印データを指標にして自動的に行なうことで作業工数を大幅に低減させることができる。抽出基準刻印データとしては、例えば、刻印８の中で最もサイズが大きい刻印８など、適宜の刻印８を採用できる。
　上述のように画像マスターデータ９と画像実測データ１０との画像の予備的な位相合わせをした後は、それぞれの刻印８ａ、８ｂの画像どうしの詳細な最終位置合わせ（Ｙ方向位置合わせや微小のＸ方向位置合わせ）処理を行なう。
　適正と判断されたサイドプレート７の刻印８のデータは、データ処理機２に記憶しておき、次回適否を判断する際に利用することもできる。例えば、次回の適否判断の際に取得、作成したそのサイドプレート７の刻印８の画像実測データ１０と、データ処理機２に記憶している前回の画像実測データ１０とを照合することで、経時変化を把握することができる。この把握により、サイドプレート７の適切な耐用期間等を決定することも可能になる。
１　検査装置
２　データ処理機
３　測定ユニット
４　照射機
５　カメラ装置
６　回転機構
６ａ　回転板
６ｂ　駆動部
７　サイドプレート
７ａ　表面
８、８ａ、８ｂ　刻印
９　画像マスターデータ
１０　画像実測データ
ＣＬ　環状中心点

Claims (6)

  1. 　タイヤモールドを構成する環状のサイドプレートの表面に形成された刻印の適否を判断するタイヤモールドの刻印検査方法において、
    　基準として設定された基礎データを用いてサイドプレートの表面の半径方向の軌跡長さに基づいて、この表面に形成される刻印の半径方向成分および半径方向位置を補正した平面視の前記刻印の二次元の画像マスターデータを予め作成してデータ処理機に入力しておき、製造された前記サイドプレートを実測して前記刻印の三次元データを取得して、この三次元データの半径方向成分および半径方向位置をその実測したサイドプレートの表面の半径方向軌跡長さに基づいて補正した二次元の画像実測データを作成し、前記データ処理機による前記画像マスターデータと前記画像実測データとの画像輪郭どうしの照合処理により、前記画像実測データの画像形状および画像位置が前記画像マスターデータの画像形状および画像位置に対して許容範囲内であるか否かを判断することを特徴とするタイヤモールドの刻印検査方法。
  2. 　前記画像マスターデータにおいて基準となる刻印のデータを基準刻印データとして前記データ処理機に入力しておき、前記画像マスターデータと前記画像実測データとの画像輪郭どうしを照合処理する際に、前記画像実測データの内で前記基準刻印データに相当する基準刻印相当データを前記データ処理機によって自動抽出し、この基準刻印データと基準刻印相当データとの画像の位相合わせ処理を行なって、前記画像マスターデータと前記画像実測データとの画像の予備的な位相合わせを行なう請求項１に記載のタイヤモールドの刻印検査方法。
  3. 　前記画像マスターデータと前記画像実測データとの画像の予備的な位相合わせの後、それぞれの刻印の画像どうしの最終位置合わせ処理を行なう請求項２に記載のタイヤモールドの刻印検査方法。
  4. 　タイヤモールドを構成する環状のサイドプレートの表面に形成された刻印の適否を判断するタイヤモールドの刻印検査装置において、
    　基準として設定された基礎データを用いてサイドプレートの表面の半径方向の軌跡長さに基づいて、この表面に形成される刻印の半径方向成分および半径方向位置を補正した平面視の前記刻印の二次元の画像マスターデータが入力されるデータ処理機と、製造された前記サイドプレートを実測して前記刻印の三次元データを取得する測定ユニットとを備え、前記三次元データの半径方向成分および半径方向位置をその実測したサイドプレートの表面の半径方向軌跡長さに基づいて補正した二次元の画像実測データを前記データ処理機により作成し、前記データ処理機によって前記画像マスターデータと前記画像実測データとの画像輪郭どうしの照合処理を行なうことにより、前記画像実測データの画像形状および画像位置が前記画像マスターデータの画像形状および画像位置に対して許容範囲内であるか否かを判断する構成にしたことを特徴とするタイヤモールドの刻印検査装置。
  5. 　前記測定ユニットが、製造された前記サイドプレートの表面にレーザ光を照射する照射機と、このレーザ光により照射された前記刻印を撮影して前記三次元データを取得するカメラ装置とを備える請求項４に記載のタイヤモールドの刻印検査装置。
  6. 　製造された前記サイドプレートの環状中心点を中心にして、このサイドプレートと前記カメラ装置とを相対的に回転移動させる回転機構を設けた請求項５に記載のタイヤモールドの刻印検査装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019194549A (ja) * 2018-05-02 2019-11-07 Ｔｏｙｏ Ｔｉｒｅ株式会社 タイヤ金型サイドプレートの検査方法
CN113686248A (zh) * 2021-08-23 2021-11-23 北京京东乾石科技有限公司 偏移测量设备、方法、电子设备及可读存储介质

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10063837B2 (en) * 2013-07-25 2018-08-28 TIREAUDIT.COM, Inc. System and method for analysis of surface features
WO2016103103A1 (en) * 2014-12-22 2016-06-30 Pirelli Tyre S.P.A. Method and apparatus for checking tyres in a production line
US10697762B2 (en) 2014-12-22 2020-06-30 Pirelli Tyre S.P.A. Apparatus for controlling tyres in a production line
US10789773B2 (en) 2016-03-04 2020-09-29 TIREAUDIT.COM, Inc. Mesh registration system and method for diagnosing tread wear
US11472234B2 (en) 2016-03-04 2022-10-18 TIREAUDIT.COM, Inc. Mesh registration system and method for diagnosing tread wear
CN110375645B (zh) * 2019-07-04 2021-09-28 成都绝影智能科技有限公司 一种字符尺寸检测的方法和装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005331274A (ja) * 2004-05-18 2005-12-02 Bridgestone Corp タイヤ凹凸図形の検査方法、および、タイヤ凹凸図形検査装置
JP2007011462A (ja) * 2005-06-28 2007-01-18 Bridgestone Corp 凹凸図形検査のためのマスターデータの作成方法
JP2007333457A (ja) * 2006-06-13 2007-12-27 Yokohama Rubber Co Ltd:The タイヤ金型サイドプレートの検査方法および検査装置、タイヤ金型サイドプレート種類の判定方法および判定装置、タイヤ金型加工工程の検査方法および検査装置
JP2011509398A (ja) * 2007-12-19 2011-03-24 ソシエテ ド テクノロジー ミシュラン タイヤ表面を検査するために使用できるようにするようタイヤ表面の３次元画像を処理する方法

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003240521A (ja) * 2002-02-21 2003-08-27 Bridgestone Corp 被検体の外観・形状検査方法とその装置、及び、被検体の外観・形状検出装置
JP2004082692A (ja) * 2002-06-28 2004-03-18 Ngk Insulators Ltd フラップベントピース設置組立体、フラップベントピースの設置構造及び設置方法、並びにタイヤ成形用金型
JP2005246931A (ja) 2004-03-08 2005-09-15 Sumitomo Rubber Ind Ltd タイヤ設計支援システム
US20070185610A1 (en) * 2005-11-10 2007-08-09 Hugo Salamanca Robot system and method for the application of dislodging material and pin positioning in casting wheels
US7177740B1 (en) * 2005-11-10 2007-02-13 Beijing University Of Aeronautics And Astronautics Method and apparatus for dynamic measuring three-dimensional parameters of tire with laser vision
JP4977415B2 (ja) * 2006-07-21 2012-07-18 株式会社ブリヂストン タイヤ検査用基準形状データの作成装置および作成方法
JP4512578B2 (ja) * 2006-10-27 2010-07-28 株式会社ブリヂストン 分離フィルタ決定装置及びタイヤ検査装置
PL2020594T3 (pl) * 2007-07-30 2014-08-29 Snap On Equip Srl Unico Socio Sposób i urządzenie do określania wymiarów geometrycznych koła pojazdu
EP2172737B1 (en) * 2007-08-06 2013-04-24 Kabushiki Kaisha Kobe Seiko Sho Tire shape measuring system
CN102084213B (zh) * 2008-06-04 2013-09-25 株式会社神户制钢所 轮胎形状检查方法、轮胎形状检查装置
JP5371848B2 (ja) * 2009-12-07 2013-12-18 株式会社神戸製鋼所 タイヤ形状検査方法、及びタイヤ形状検査装置
FR2966956B1 (fr) * 2010-10-27 2012-12-14 Michelin Soc Tech Methode de pre-traitement d'une image tri dimensionnelle de la surface d'un pneumatique a l'aide de deformations b-spline successives
JP5882730B2 (ja) * 2011-12-28 2016-03-09 株式会社ブリヂストン 外観検査装置及び外観検査方法
JP6126450B2 (ja) * 2013-04-25 2017-05-10 株式会社ブリヂストン 検査装置
JP5775132B2 (ja) * 2013-11-01 2015-09-09 株式会社ブリヂストン タイヤの検査装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005331274A (ja) * 2004-05-18 2005-12-02 Bridgestone Corp タイヤ凹凸図形の検査方法、および、タイヤ凹凸図形検査装置
JP2007011462A (ja) * 2005-06-28 2007-01-18 Bridgestone Corp 凹凸図形検査のためのマスターデータの作成方法
JP2007333457A (ja) * 2006-06-13 2007-12-27 Yokohama Rubber Co Ltd:The タイヤ金型サイドプレートの検査方法および検査装置、タイヤ金型サイドプレート種類の判定方法および判定装置、タイヤ金型加工工程の検査方法および検査装置
JP2011509398A (ja) * 2007-12-19 2011-03-24 ソシエテ ド テクノロジー ミシュラン タイヤ表面を検査するために使用できるようにするようタイヤ表面の３次元画像を処理する方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See also references of EP3130886A4 *

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019194549A (ja) * 2018-05-02 2019-11-07 Ｔｏｙｏ Ｔｉｒｅ株式会社 タイヤ金型サイドプレートの検査方法
JP7058170B2 (ja) 2018-05-02 2022-04-21 Ｔｏｙｏ Ｔｉｒｅ株式会社 タイヤ金型サイドプレートの検査方法
CN113686248A (zh) * 2021-08-23 2021-11-23 北京京东乾石科技有限公司 偏移测量设备、方法、电子设备及可读存储介质

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