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WO2009096292A1 - 感光性樹脂積層体 - Google Patents

感光性樹脂積層体 Download PDF

Info

Publication number
WO2009096292A1
WO2009096292A1 PCT/JP2009/050882 JP2009050882W WO2009096292A1 WO 2009096292 A1 WO2009096292 A1 WO 2009096292A1 JP 2009050882 W JP2009050882 W JP 2009050882W WO 2009096292 A1 WO2009096292 A1 WO 2009096292A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
layer
photosensitive resin
integer
mass
group
Prior art date
Application number
PCT/JP2009/050882
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Tsutomu Igarashi
Original Assignee
Asahi Kasei E-Materials Corporation
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Asahi Kasei E-Materials Corporation filed Critical Asahi Kasei E-Materials Corporation
Priority to CN200980102705.1A priority Critical patent/CN101925861B/zh
Priority to JP2009551479A priority patent/JP4778588B2/ja
Publication of WO2009096292A1 publication Critical patent/WO2009096292A1/ja

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    • G—PHYSICS
    • G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004—Photosensitive materials
    • G03F7/09—Photosensitive materials characterised by structural details, e.g. supports, auxiliary layers
    • G03F7/11—Photosensitive materials characterised by structural details, e.g. supports, auxiliary layers having cover layers or intermediate layers, e.g. subbing layers
    • G—PHYSICS
    • G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004—Photosensitive materials
    • G03F7/027—Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds
    • G—PHYSICS
    • G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/16—Coating processes; Apparatus therefor
    • G03F7/161—Coating processes; Apparatus therefor using a previously coated surface, e.g. by stamping or by transfer lamination

Definitions

  • the present invention relates to a photosensitive resin laminate and its use. More specifically, the present invention relates to a printed wiring board, a flexible substrate, a lead frame substrate, a COF (chip on film) substrate, a semiconductor package substrate, a liquid crystal transparent electrode, and a liquid crystal substrate.
  • the present invention relates to a photosensitive resin laminate suitable for manufacturing conductor patterns such as TFT wiring and PDP (plasma display panel) electrodes, and a resist pattern forming method using the same.
  • a photosensitive resin laminate formed by laminating a photosensitive resin layer on a support film and further laminating a protective layer on the photosensitive resin layer, a so-called dry resin.
  • a film resist (hereinafter abbreviated as DF) is used.
  • DF film resist
  • an alkali developing type using a weak alkaline aqueous solution as a developing solution is generally used.
  • a protective layer To produce a printed wiring board using DF, if there is a protective layer, first peel off the protective layer and then use a laminator or the like on a permanent circuit production board such as a copper-clad laminate or a flexible board. Laminate DF and expose through a wiring pattern mask film. Next, if necessary, the support film is peeled off, and the unexposed photosensitive resin layer is dissolved or dispersed and removed with a developer to form a cured resist pattern on the substrate.
  • the process for forming a circuit is roughly divided into two methods.
  • the first method is a method (etching method) in which after removing a copper surface such as a copper clad laminate not covered with a resist pattern by etching, the resist pattern portion is removed with an alkaline aqueous solution stronger than the developer.
  • the second method is a method in which the copper surface of the above is subjected to plating treatment of copper, solder, nickel, tin, etc., and then the resist pattern portion is similarly removed, and the copper surface such as a copper-clad laminate appearing is etched ( Plating method).
  • etching cupric chloride, ferric chloride, a copper ammonia complex solution, or the like is used.
  • a polyester film is generally used as a support film of DF, a very small part is shielded during exposure by a trace component such as a lubricant contained in the polyester film, and as a result, a side wall (side wall) of the cured resist pattern is obtained. ) And a surface (surface) facing the substrate in the cured resist pattern may be rattled or recessed. In particular, this influence cannot be ignored for forming fine wiring of 10 ⁇ m or less.
  • the photosensitive layer is 10 ⁇ m or less, the photosensitive layer does not sufficiently follow the minute irregularities and scratches of the base material when laminating, so that a laminate air void is generated, and the conductor is disconnected due to the penetration of the etching solution into that portion.
  • Patent Document 2 discloses a technique in which the intermediate layer is made of an oxypropylene group-containing polyvinyl alcohol resin, and the photosensitive resin layer contains a (meth) acrylic acid partial ester of a polyhydric alcohol. Discloses a technique using polyvinyl alcohol obtained by copolymerizing an olefin in an intermediate layer, polyethylene oxide having a polymerization degree of 4,000 or more, etc., but even in these methods, high resolution and high adhesion, soot after development, The followability was unsolved.
  • Patent Document 4 below describes a photosensitive transfer material in which a thermoplastic resin layer, a separation layer, and a photosensitive resin layer are provided in this order on a temporary support.
  • thermoplastic resin layer has been difficult to peeling between the thermoplastic resin layer and the separation layer.
  • Photosensitive resin composition having a characteristic that the resist shape after development does not cause wobbling or dents on the side wall, is excellent, and has a very small width after development, and a photosensitive resin laminate Has been demanded.
  • JP 2001-159817 A Japanese Patent Laid-Open No. 04-371957 Japanese Patent Laid-Open No. 06-242611 Japanese Patent Laid-Open No. 05-072724
  • the present invention has good followability at the time of laminating, expresses high resolution and high adhesion, is free from side wall rattling and surface dents in the cured resist pattern after development, and after development It is an object of the present invention to provide a photosensitive resin laminate having characteristics of extremely small sushi, and to provide a method for forming a resist pattern using the laminate and a method for producing a conductor pattern.
  • this invention is invention of the following photosensitive resin laminated bodies, the resist pattern formation method, and the manufacturing method of a conductor pattern.
  • a photosensitive resin obtained by sequentially laminating a first layer having a layer thickness of 10 ⁇ m to 100 ⁇ m, a second layer having a layer thickness of 0.1 ⁇ m to 10 ⁇ m, and a photosensitive resin layer on a support film.
  • the first layer contains a thermoplastic resin
  • the second layer contains polyvinyl alcohol: 75 to 99% by mass
  • R 1 and R 2 are H or CH 3 , which may be the same or different, and n 1 is an integer from 3 to 25.
  • n 1 is an integer from 3 to 25.
  • thermoplastic resin has the following general formula (I): R 1 —O— (CH 2 CH 2 O) n 1 —R 2 (I) ⁇ Wherein R 1 and R 2 are H or CH 3 , which may be the same or different, and n 1 is an integer from 3 to 25. ⁇
  • R 1 and R 2 are H or CH 3 , which may be the same or different, and n 1 is an integer from 3 to 25.
  • n 1 is an integer from 3 to 25.
  • the photosensitive resin layer comprises: (a) a binder resin having a carboxyl group content of 100 to 600 in terms of acid equivalent and a weight average molecular weight of 5,000 to 500,000: 20 to 90 mass %, (B) at least one photopolymerizable unsaturated compound: 3 to 70% by mass, and (c) a photopolymerization initiator: 0.1 to 20% by mass, a layer comprising a photosensitive resin composition
  • a binder resin having a carboxyl group content of 100 to 600 in terms of acid equivalent and a weight average molecular weight of 5,000 to 500,000: 20 to 90 mass %
  • B at least one photopolymerizable unsaturated compound: 3 to 70% by mass
  • a photopolymerization initiator 0.1 to 20% by mass
  • R 6 and R 7 are H or CH 3 , which may be the same or different, A is C 2 H 4 , and B is CH 2 CH (CH 3 N 6 + n 7 is an integer of 2 to 40, n 8 + n 9 is an integer of 0 to 40, and n 6 and n 7 are each independently an integer of 1 to 39. , N 8 and n 9 are each independently an integer of 0 to 40, and the arrangement of repeating units of — (A—O) — and — (B—O) — is a block even if random. In the case of a block, the order of — (A—O) — and — (B—O) — may be either on the bisphenyl group side. ⁇ ;
  • R 8 and R 9 are H or CH 3 , which may be the same or different, D is C 2 H 4 , and E is CH 2 CH (CH 3 M 1 + m 2 is an integer of 2 to 40, m 3 + m 4 is an integer of 0 to 40, and m 1 and m 2 are each independently an integer of 1 to 39. , M 3 and m 4 are each independently an integer of 0 to 40, and the arrangement of repeating units of — (DO) — and — (EO) — is a block even if it is random. In the case of a block, any of — (D—O) — and — (E—O) — may be on the cyclohexyl group side.
  • R 10 is a diisocyanate residue having 4 to 12 carbon atoms
  • R 11 and R 12 are H or CH 3 , which may be the same or different
  • m 5 and m 6 are integers of 1 to 15.
  • R 13 is H or CH 3 , which may be the same or different
  • R 14 is an alkyl group having 4 to 14 carbon atoms
  • a ′ is C 2 H 4
  • B ′ is CH 2 CH (CH 3 )
  • m 7 is 1 to 12
  • m 8 is 0 to 12
  • m 9 is an integer of 0 to 3
  • the arrangement of repeating units of (A′-O) — and — (B′—O) — may be random or block. In the case of a block, — (A′—O) — and — ( Any order of B′—O) — may be on the phenyl group side. ⁇ .
  • the photosensitive resin laminate according to any one of (1) to (5) above is laminated on the surface of a metal plate or a metal-coated insulating plate, the first layer is peeled off together with the support film, and active light is exposed. And then removing the unexposed portions by development.
  • a method for producing a conductor pattern comprising etching or plating a substrate on which a resist pattern is formed by the method described in (6).
  • the followability at the time of lamination is good, high resolution and high adhesion are developed after development, and the cured resist pattern after development has sidewalls.
  • a first layer having a layer thickness of 10 ⁇ m to 100 ⁇ m, a second layer having a layer thickness of 0.1 ⁇ m to 10 ⁇ m, and a photosensitive resin layer are sequentially formed on the support film.
  • a laminated photosensitive resin laminate, The first layer contains a thermoplastic resin;
  • the second layer comprises polyvinyl alcohol: 75 to 99% by mass, and the following general formula (I): R 1 —O— (CH 2 CH 2 O) n 1 —R 2 (I) ⁇ Wherein R 1 and R 2 are H or CH 3 , which may be the same or different, and n 1 is an integer from 3 to 25.
  • the first layer needs to be peeled off from the second layer after lamination together with the support film before exposure.
  • the first layer can be peeled off together with the support film.
  • a thermoplastic resin used for a 1st layer the compound which has the glass transition temperature below the roll temperature at the time of lamination is preferable, and the thermoplastic resin which specifically has a glass transition temperature of 120 degrees C or less is preferable.
  • the glass transition temperature is equal to or lower than the roll temperature at the time of laminating, and when the photosensitive layer is transferred onto an uneven substrate with heat and pressure (when laminating), the unevenness on the substrate surface is completely absorbed and bubbles are generated. This is because laminating can be performed in a state where there is no remaining.
  • the glass transition temperature of the thermoplastic resin used in the first layer is preferably 10 ° C. or higher from the viewpoint of preventing the thermoplastic resin from protruding from the roll end face when stored in the form of a roll as the photosensitive resin laminate. More preferably, it is 20 ° C. or higher, and further preferably 30 ° C. or higher.
  • thermoplastic resins having a glass transition temperature of 120 ° C. or lower examples include polyolefins such as polyethylene and polypropylene, ethylene copolymers such as ethylene and vinyl acetate or saponified products thereof, ethylene and acrylate esters or saponified products thereof, and polyvinyl chloride.
  • Vinyl chloride copolymer such as vinyl chloride and vinyl acetate or saponified product thereof, polyvinylidene chloride, vinylidene chloride copolymer, polystyrene, styrene copolymer such as styrene and (meth) acrylic acid ester or saponified product thereof , Polyvinyltoluene, vinyltoluene copolymer such as vinyltoluene and (meth) acrylic acid ester or saponified product thereof, poly (meth) acrylic acid ester, (meth) acrylic acid such as butyl (meth) acrylate and vinyl acetate Ester copolymer, vinyl acetate copolymer, Nai It is preferable to select at least one thermoplastic resin such as polyamide resin such as nylon, copolymer nylon, N-alkoxymethylated nylon, and N-dimethylaminated nylon.
  • Thermoplastic resins having a glass transition temperature of 120 ° C. or lower and 10 ° C. or higher as described in the Federation, edited by the All Japan Plastics Molding Industry Association, published by the Industrial Research Council, published on October 25, 1968) can be used.
  • the content of the thermoplastic resin is preferably 50 to 100% by mass, particularly 65 to 100% by mass in the first layer.
  • various plasticizers compatible with the thermoplastic resin can be added to lower the substantial glass transition temperature.
  • additives such as various polymers and supercooled substances, adhesion within a range where the substantial glass transition temperature does not exceed 120 ° C. It is possible to add an improving agent, a surfactant or a release agent in the range of 5 to 50% by mass. More preferably, it is 35 mass% or less.
  • plasticizer examples include phthalic acid esters such as diethyl phthalate, o-toluenesulfonic acid amide, p-toluenesulfonic acid amide, tributyl citrate, triethyl citrate, acetyl triethyl citrate, and tri-n-acetyl citrate.
  • phthalic acid esters such as diethyl phthalate, o-toluenesulfonic acid amide, p-toluenesulfonic acid amide, tributyl citrate, triethyl citrate, acetyl triethyl citrate, and tri-n-acetyl citrate.
  • phthalic acid esters such as diethyl phthalate, o-toluenesulfonic acid amide, p-toluenesulfonic acid amide, tributyl citrate, triethyl citrate, acety
  • polyalkylene glycols such as polyethylene glycol and polypropylene glycol and polyalkylene glycol methyl ethers can be added.
  • polyalkylene glycols such as polyethylene glycol and polypropylene glycol and polyalkylene glycol methyl ethers
  • R 1 and R 2 are H or CH 3 , which may be the same or different, and n 1 is an integer from 3 to 25.
  • ⁇ Is preferably added from the viewpoint of improving followability.
  • the thickness of the thermoplastic resin layer is preferably 10 ⁇ m or more. This is because, if the thickness of the thermoplastic resin layer is less than 10 ⁇ m, it is impossible to completely absorb the irregularities on the substrate surface of 1 ⁇ m or more.
  • the upper limit is not particularly limited in terms of performance, but is about 100 ⁇ m or less, preferably about 50 ⁇ m or less, more preferably 30 ⁇ m or less, from the viewpoint of production suitability.
  • the second layer is polyvinyl alcohol: 75 to 99% by mass, and the following general formula (I): R 1 —O— (CH 2 CH 2 O) n 1 —R 2 (I) ⁇ Wherein R 1 and R 2 are H or CH 3 , which may be the same or different, and n 1 is an integer from 3 to 25. ⁇ And the following general formula (II): ⁇ Wherein R 3 is H or an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, and n 2 is an integer of 9 to 10,000. ⁇ , At least one compound selected from the group consisting of compounds represented by: 1 to 25% by mass.
  • the interlayer adhesion between the first layer and the second layer can be made lower than the interlayer adhesion between the support film and the first layer and the interlayer adhesion between the second layer and the photosensitive resin layer. It becomes.
  • the blending ratio of polyvinyl alcohol in the second layer is preferably 75% by mass or more and 99% by mass or less from the viewpoint of developability and cost. More preferably, it is 85 mass% or more and 95 mass% or less.
  • polyvinyl alcohol is produced by saponifying polyvinyl acetate with alkali.
  • the weight average molecular weight of the polyvinyl alcohol used in the present invention is preferably 1,000 to 100,000. From the viewpoint of oxygen barrier properties and developability, a more preferred weight average molecular weight is 5,000 to 50,000.
  • the saponification degree is preferably 50 mol% or more, preferably 70 mol% or more, more preferably 80 mol% or more from the viewpoint of developability.
  • the weight average molecular weight of polyvinyl alcohol is determined by gel permeation chromatography (GPC) manufactured by JASCO Corporation (pump: Gulliver, PU-1580 type, column: Shodex (trademark) (HFIP-805, manufactured by Showa Denko KK). HFIP-803) 2 in series, moving bed solvent: hexafluoroisopropanol, polystyrene standard sample (use of calibration curve by Shodex STANDARD SM-105 manufactured by Showa Denko KK) is obtained as a weight average molecular weight (polystyrene conversion).
  • GPC gel permeation chromatography
  • n1 is preferably 3 or more from the viewpoint of odor, and n1 is preferably 25 or less from the viewpoint of compatibility with polyvinyl alcohol and developability. n1 is more preferably 5 or more and 20 or less, and still more preferably 7 or more and 15 or less.
  • Specific examples of the compound represented by the general formula (I) include polyethylene glycol having an average molecular weight of 200 (PEG 200 manufactured by NOF Corporation), polyethylene glycol having an average molecular weight of 300 (PEG 300 manufactured by NOF Corporation, average) Polyethylene glycol having a molecular weight of 400 (PEG 400 manufactured by NOF Corporation), polyethylene glycol having an average molecular weight of 600 (PEG 600 manufactured by NOF Corporation), polyethylene glycol having an average molecular weight of 1000 (PEG 1000 manufactured by NOF Corporation), Polyethylene glycol monomethyl ether having an average molecular weight of 400 (Uniox M-400, manufactured by NOF Corporation), polyethylene glycol monomethyl ether having an average molecular weight of 550 (UNIOX M, manufactured by NOF Corporation) 550), polyethylene glycol monomethyl ether is the average molecular weight of 1000 (manufactured by NOF CORPORATION Uniox M-1000) and the like.
  • n 2 in terms of peeling of the first layer and the second layer is preferably 9 or more, n 2 from the viewpoint of developability is preferably 10,000 or less. n 2 is more preferably 20 or more and 2,000 or less, and still more preferably 30 or more and 1,500 or less.
  • Specific examples of the compound represented by the general formula (II) include polyvinyl pyrrolidone. Specific examples include K-15 with a weight average molecular weight of 40,000 manufactured by Nippon Shokubai Co., Ltd., K-30 with a weight average molecular weight of 100,000, K-85 with a weight average molecular weight of 900,000, and K with a weight average molecular weight of 1,000,000. -90 mag.
  • the content in the second layer of at least one compound selected from the group consisting of the compound represented by the general formula (I) and the compound represented by the general formula (II) is as follows. From the viewpoint of peelability from the layer, it is 1% by mass or more, preferably 3% by mass or more, and more preferably 5% by mass or more. Further, from the viewpoint of sensitivity, it is 25% by mass or less, more preferably 20% by mass or less, and further preferably 15% by mass or less.
  • the second layer includes other known water-soluble polymers such as polyvinyl ether-maleic anhydride water-soluble salts, carboxyalkyl starch water-soluble salts, polyacrylamide, polyamide, polyacrylic acid water-soluble salts, gelatin. Polypropylene glycol and the like can be contained.
  • the layer thickness of the second layer is preferably 10 ⁇ m or less, more preferably 5 ⁇ m or less, and further preferably 3 ⁇ m or less from the viewpoints of resolution, adhesion, and developability. Further, from the viewpoint of oxygen barrier properties, it is 0.1 ⁇ m or more, preferably 0.5 ⁇ m or more, more preferably 1 ⁇ m or more.
  • the support film since the support film is peeled off before the ultraviolet exposure, it is not necessary to use a transparent film that transmits ultraviolet light.
  • the support film in the present invention include synthetic resin films such as polyethylene, polypropylene, polycarbonate, and polyethylene terephthalate having a thickness of about 10 ⁇ m to 100 ⁇ m. Usually, polyethylene terephthalate having appropriate flexibility and strength is preferably used. In order to make it difficult to generate wrinkles during lamination and to prevent the support film from being damaged, the film thickness is preferably 10 ⁇ m or more.
  • the photosensitive resin laminate of the present invention there is no problem in the peelability from the first layer by taking the above-described configuration in the second layer, that is, the first layer is peeled off together with the support film before the exposure step. In this case, it is possible to obtain an adhesive having a lower interlayer adhesive force between the first layer and the second layer than an interlayer adhesive force between the support film, the first layer, and the second layer and the photosensitive layer.
  • the protective layer As a characteristic of the protective layer, it is important that the interlayer adhesive force between the photosensitive resin layer and the protective layer is lower than the interlayer adhesive force between the first layer and the second layer.
  • the protective layer can be easily peeled off.
  • the protective layer there are synthetic resin films such as polyethylene, polypropylene, polycarbonate and polyethylene terephthalate having a thickness of about 10 to 100 ⁇ m, and a polyethylene film or a polypropylene film is preferably used.
  • the film thickness of the photosensitive resin layer of the present invention varies depending on the use, the upper limit of the thickness is preferably 100 ⁇ m or less, more preferably 50 ⁇ m or less, further preferably 30 ⁇ m or less, and most preferably 10 ⁇ m or less.
  • the lower limit is preferably 0.5 ⁇ m or more, and more preferably 1 ⁇ m or more.
  • the photosensitive resin layer in the photosensitive resin laminate of the present invention comprises: (a) a binder resin having a carboxyl group content of 100 to 600 in terms of acid equivalent and a weight average molecular weight of 5,000 to 500,000: 20 From a photosensitive resin composition containing ⁇ 90% by mass, (b) at least one photopolymerizable unsaturated compound: 3 to 70% by mass, and (c) photopolymerization initiator: 0.1 to 20% by mass. It is preferable that it is a layer.
  • the photosensitive resin composition used for the photosensitive resin laminate of the present invention will be described in detail below.
  • the amount of the carboxyl group contained in the binder resin is preferably 100 to 600, more preferably 250 to 450 in terms of acid equivalent.
  • An acid equivalent means the mass of resin for binders which has 1 equivalent of a carboxyl group in it.
  • the carboxyl group in the binder resin is necessary to give the photosensitive resin layer developability and releasability with respect to an aqueous alkali solution.
  • the acid equivalent is preferably 100 or more from the viewpoint of development resistance, resolution, and adhesion, and is preferably 600 or less from the viewpoint of developability and peelability.
  • the weight average molecular weight of the binder resin is preferably 5,000 to 500,000.
  • the weight average molecular weight of the binder resin is preferably 500,000 or less from the viewpoint of resolution, and is preferably 5,000 or more from the viewpoint of edge fuse. In order to exhibit the effects of the present invention better, the weight average molecular weight of the binder resin is more preferably 5,000 to 200,000, and still more preferably 5,000 to 100,000.
  • the degree of dispersion is about 1 to 6, and preferably 1 to 4.
  • the acid equivalent is measured by a potentiometric titration method using a Hiranuma automatic titration apparatus (COM-555) manufactured by Hiranuma Sangyo Co., Ltd. and using a 0.1 mol / liter sodium hydroxide aqueous solution.
  • COM-555 Hiranuma automatic titration apparatus
  • the molecular weight is gel permeation chromatography (GPC) manufactured by JASCO Corporation (pump: Gulliver, PU-1580 type, column: Shodex (registered trademark) manufactured by Showa Denko KK (KF-807, KF-806M, KF -806M, KF-802.5) 4 in series, moving bed solvent: tetrahydrofuran, using polystyrene standard sample (use calibration curve by Shodex STANDARD SM-105 manufactured by Showa Denko KK) as the weight average molecular weight (polystyrene conversion) It is done.
  • GPC gel permeation chromatography
  • the binder resin is obtained by copolymerizing one or more monomers from the following two types of monomers.
  • the first monomer is a carboxylic acid or acid anhydride having one polymerizable unsaturated group in the molecule. Examples include (meth) acrylic acid, fumaric acid, cinnamic acid, crotonic acid, itaconic acid, maleic anhydride, maleic acid half ester, and the like.
  • the second monomer is a non-acidic compound having one polymerizable unsaturated group in the molecule. The compound is selected so as to maintain various properties such as developability of the photosensitive resin layer, resistance in etching and plating processes, and flexibility of the cured film.
  • Examples of the compound include alkyl (meth) acrylates such as methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, butyl (meth) acrylate, 2-ethylhexyl (meth) acrylate, 2-hydroxyethyl (meth) acrylate, 2 -Hydroxypropyl (meth) acrylate, (meth) acrylonitrile, benzyl (meth) acrylate, methoxybenzyl (meth) acrylate, chlorobenzyl (meth) acrylate, furfuryl (meth) acrylate, tetrahydrofurfuryl (meth) acrylate, phenoxyethyl ( Aryl (meth) acrylates such as meth) acrylate, phenyl (meth) acrylate, cresyl (meth) acrylate, naphthyl (meth) acrylate, and vinyl compounds having a phenyl group
  • the binder resin is prepared by diluting a mixture of the first monomer and the second monomer with a solvent such as acetone, methyl ethyl ketone, or isopropanol, and adding benzoyl peroxide, azoisobutyro
  • the synthesis is preferably carried out by adding an appropriate amount of a radical polymerization initiator such as nitrile and stirring with heating. In some cases, the synthesis is performed while a part of the mixture is dropped into the reaction solution. After completion of the reaction, a solvent may be further added to adjust to a desired concentration.
  • synthesis means bulk polymerization, suspension polymerization, or emulsion polymerization may be used in addition to solution polymerization.
  • the ratio of the binder resin to the entire photosensitive resin composition is preferably in the range of 20 to 90% by mass, more preferably 30 to 70% by mass. 20 mass% or more and 90 mass% or less are preferable from a viewpoint that the cured resist pattern formed by exposure and image development has characteristics as a resist, for example, sufficient resistance in tenting, etching, and various plating processes.
  • the at least one photopolymerizable unsaturated compound includes at least one light selected from the group consisting of compounds represented by the following general formulas (III) to (VII) from the viewpoint of high resolution.
  • the use of a polymerizable unsaturated compound in the photosensitive resin composition is a preferred embodiment: ⁇ Wherein R 4 and R 5 are H or CH 3 , which may be the same or different, and n 3 , n 4 and n 5 are each independently an integer of 3 to 20 It is. ⁇ ;
  • R 6 and R 7 are H or CH 3 , which may be the same or different, A is C 2 H 4 , and B is CH 2 CH (CH 3 N 6 + n 7 is an integer of 2 to 40, n 8 + n 9 is an integer of 0 to 40, and n 6 and n 7 are each independently an integer of 1 to 39. , N 8 and n 9 are each independently an integer of 0 to 40, and the arrangement of repeating units of — (A—O) — and — (B—O) — is a block even if random. In the case of a block, the order of — (A—O) — and — (B—O) — may be either on the bisphenyl group side. ⁇
  • R 8 and R 9 are H or CH 3 , which may be the same or different, D is C 2 H 4 , and E is CH 2 CH (CH 3 M 1 + m 2 is an integer of 2 to 40, m 3 + m 4 is an integer of 0 to 40, and m 1 and m 2 are each independently an integer of 1 to 39. , M 3 and m 4 are each independently an integer of 0 to 40, and the arrangement of repeating units of — (DO) — and — (EO) — is a block even if it is random. In the case of a block, any of — (D—O) — and — (E—O) — may be on the cyclohexyl group side. ⁇ ;
  • R 10 is a diisocyanate residue having 4 to 12 carbon atoms, and R 11 and R 12 are H or CH 3 , which may be the same or different, m 5 and m 6 are integers of 1 to 15. ⁇ ;
  • R 13 is H or CH 3 , which may be the same or different
  • R 14 is an alkyl group having 4 to 14 carbon atoms
  • a ′ is C 2 H 4
  • B ′ is CH 2 CH (CH 3 )
  • m 7 is an integer from 1 to 12
  • m 8 is an integer from 0 to 12
  • m 9 is from 0 to 3.
  • the arrangement of repeating units of-(A'-O)-and-(B'-O)- may be random or block, and in the case of a block,-(A'-O ) — And — (B′—O) — may be in any order on the phenyl group side.
  • n 3 , n 4 and n 5 are preferably 3 or more from the viewpoints of boiling point and odor. From the viewpoint of sensitivity due to the concentration of the photoactive site per unit mass, n 3 , n 4 and n 5 are preferably 20 or less.
  • Specific examples of the compound represented by the above general formula (III) used in the present invention include, for example, a glyco-glycol in which ethylene oxide is further added to both ends at an average of 3 mol on polypropylene glycol to which an average of 12 mol of propylene oxide is added.
  • the preferred dimethacrylate is bismuth dimethacrylate.
  • n 6 + n 7 and n 8 + n 9 need to be 40 or less, and exceeding 40 is not preferable from the viewpoint of sensitivity. Preferably it is 30 or less.
  • Specific examples of the compound represented by the above general formula (IV) used in the present invention include polyalkylene glycol dimethacrylate in which an average of 2 mol of propylene oxide and an average of 6 mol of ethylene oxide are added to both ends of bisphenol A, respectively.
  • m 1 + m 2 and m 3 + m 4 need to be 40 or less, and exceeding 40 is not preferable from the viewpoint of sensitivity. Preferably it is 30 or less.
  • Specific examples of the compound represented by the general formula (V) include polyethylene glycol dimethacrylate in which an average of 5 mol of ethylene oxide is added to both ends of hydrogenated bisphenol A. In the compound represented by the general formula (VI), when m 5 and m 6 exceed 15, sufficient sensitivity cannot be obtained.
  • the compound represented by the general formula (VI) include, for example, a diisocyanate compound such as hexamethylene diisocyanate, tolylene diisocyanate, or 2,2,4-trimethylhexamethylene diisocyanate, and one molecule.
  • urethane compounds of compounds having a hydroxyl group and a (meth) acryl group such as 2-hydroxypropyl acrylate and oligopropylene glycol monomethacrylate.
  • hexamethylene diisocyanate and oligopropylene glycol monomethacrylate Nippon Yushi Co., Ltd., Blenmer PP1000.
  • the compound represented by the general formula (VII) when m 7 and m 8 exceed 12, sufficient sensitivity cannot be obtained. m 9 is not sufficient sensitivity can be obtained even beyond 3.
  • Specific examples of the compound represented by the general formula (VII) include, for example, an acrylate of a compound obtained by adding polypropylene glycol added with an average of 2 mol of propylene oxide and polyethylene glycol added with an average of 7 mol of ethylene oxide to nonylphenol. 4-normalnonylphenoxyheptaethylene glycol dipropylene glycol acrylate.
  • 4-normal nonyl phenoxy octaethylene glycol acrylate (manufactured by Toagosei Co., Ltd., M-114), which is an acrylate of a compound obtained by adding polyethylene glycol with an average of 8 moles of ethylene oxide added to nonylphenol.
  • the ratio of the entire at least one photopolymerizable unsaturated compound to the entire photosensitive resin composition is preferably 3% by mass or more from the viewpoint of sensitivity, and preferably 70% by mass or less from the viewpoint of edge fuse. More preferably, it is 10 to 60% by mass, and further preferably 15 to 55% by mass.
  • the ratio of at least one photopolymerizable unsaturated compound selected from the group consisting of the compounds represented by the general formulas (III) to (VII) to the entire photosensitive resin composition is 3 to 70% by mass. Range. From the viewpoint of resolution, it is 3% by mass or more, and from the viewpoint of flexibility of the resist pattern, it is 70% by mass or less. More preferably, it is 3 to 30% by mass or less.
  • the photopolymerization initiator may be any compound that is activated by various actinic rays, such as ultraviolet rays, and initiates polymerization, and is represented by the following general formula (VIII): ⁇ Wherein X, Y, and Z each independently represent hydrogen, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, an alkoxy group, or a halogen group; and p, q, and r each independently represent 1 is an integer of 1 to 5. ⁇ And the following general formula (IX):
  • X, Y, and Z each independently represent hydrogen, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, an alkoxy group, or a halogen group; and p, q, and r each independently represent 1 is an integer of 1 to 5.
  • ⁇ At least one 2,4,5-triarylimidazole dimer selected from the group consisting of compounds represented by the formula: is a preferred embodiment from the viewpoint of high resolution.
  • Examples of the 2,4,5-triarylimidazole dimer include 2- (o-chlorophenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer, 2- (o-chlorophenyl) -4,5-bis- ( m-methoxyphenyl) imidazole dimer, 2- (p-methoxyphenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer, etc., and in particular, 2- (o-chlorophenyl) -4,5-diphenylimidazole Dimers are preferred.
  • the photopolymerization initiator (c) used in the present invention is at least one 2,4 selected from the group consisting of the compound represented by the general formula (VIII) and the compound represented by the general formula (IX).
  • 5-triallylimidazole dimer and p-aminophenyl ketones are preferred.
  • p-aminophenyl ketones include p-aminobenzophenone, p-butylaminoacetophenone, p-dimethylaminoacetophenone, p-dimethylaminobenzophenone, p, p′-bis (ethylamino) benzophenone, p, p ′.
  • photopolymerization initiators other than the above-described compounds include, for example, quinones such as 2-ethylanthraquinone and 2-tert-butylanthraquinone, aromatic ketones such as benzophenone, benzoin, benzoin methyl ether, and benzoin ethyl ether.
  • Benzoin ethers, acridine compounds such as 9-phenylacridine, benzyldimethyl ketal, benzyldiethyl ketal, pyrazolines such as 1-phenyl-3- (4-tert-butyl-styryl) -5- (4-tert- Butyl-phenyl) -pyrazoline.
  • thioxanthones such as thioxanthone, 2,4-diethylthioxanthone, 2-chlorothioxanthone, and tertiary amine compounds such as dimethylaminobenzoic acid alkyl ester compounds.
  • the photosensitive resin composition in the photosensitive resin laminate of the present invention preferably contains (c) a photopolymerization initiator in an amount of 0.1 to 20% by mass based on the entire photosensitive resin composition. From the viewpoint of obtaining sufficient sensitivity, it is preferably 0.1% by mass or more and 20% by mass or less from the viewpoint of preventing halation of light passing through a photomask during exposure.
  • a basic dye can be used for the photosensitive resin composition.
  • Specific examples of basic dyes include fuchsin, phthalocyanine green, auramine base, chalcoxide green S, paramadienta, crystal violet, methyl orange, nile blue 2B, malachite green (Eizen (registered trademark) MALACHITE GREEN manufactured by Hodogaya Chemical Co., Ltd.) ), Basic Blue 20, Diamond Green (Eizen (registered trademark) DIAMOND GREEN GH manufactured by Hodogaya Chemical Co., Ltd.), Victoria Blue (Eisen (registered trademark) VICTORIA PURE BLUE manufactured by Hodogaya Chemical Co., Ltd.), and the like.
  • the photosensitive resin composition may contain a coloring dye that develops color when irradiated with light.
  • Examples of the coloring dye used include a combination of a leuco dye or a fluorane dye and a halogen compound.
  • Examples of the leuco dye include tris (4-dimethylamino-2-methylphenyl) methane [leucocrystal violet], tris (4-dimethylamino-2-methylphenyl) methane [leucomalachite green], and the like.
  • Halogen compounds include amyl bromide, isoamyl bromide, isobutylene bromide, ethylene bromide, diphenylmethyl bromide, benzal bromide, methylene bromide, tribromomethylphenyl sulfone, carbon tetrabromide, tris (2,3 -Dibromopropyl) phosphate, trichloroacetamide, amyl iodide, isobutyl iodide, 1,1,1-trichloro-2,2-bis (p-chlorophenyl) ethane, hexachloroethane, halogenated triazine compounds and the like.
  • halogenated triazine compound examples include 2,4,6-tris (trichloromethyl) -s-triazine and 2- (4-methoxyphenyl) -4,6-bis (trichloromethyl) -s-triazine.
  • the photosensitive resin composition contains a radical polymerization inhibitor.
  • radical polymerization inhibitors examples include p-methoxyphenol, hydroquinone, pyrogallol, naphthylamine, tert-butylcatechol, cuprous chloride, 2,6-di-tert-butyl-p-cresol, 2,2 Examples include '-methylenebis (4-ethyl-6-tert-butylphenol), 2,2'-methylenebis (4-methyl-6-tert-butylphenol), diphenylnitrosamine and the like.
  • the photosensitive resin composition may contain a plasticizer as necessary.
  • plasticizers include, for example, phthalates such as diethyl phthalate, o-toluenesulfonic acid amide, p-toluenesulfonic acid amide, tributyl citrate, triethyl citrate, acetyl triethyl citrate, acetyl citrate tri -N-propyl, tri-n-butyl acetylcitrate, polypropylene glycol, polyethylene glycol, polyethylene glycol alkyl ether, polypropylene glycol alkyl ether, phthalates.
  • Phthalate esters include dibutyl phthalate.
  • thermoplastic resin for example, a methyl ethyl ketone solution of polymethyl methacrylate obtained by solution polymerization (weight average molecular weight 60,000, solid content concentration 40% by mass, glass transition temperature 105 ° C.) is coated on a support film with a bar coater or roll. Apply using a coater and dry. Thereby, a 1st layer can be laminated
  • the viscosity of the methyl ethyl ketone solution of polymethyl methacrylate is preferably adjusted to 10 to 2000 mPa ⁇ s.
  • polyvinyl alcohol for example, polyvinyl alcohol PVA-205 resin manufactured by Kuraray Co., Ltd.
  • one or more compounds selected from the group of compounds represented by the above general formula (I) or (II), for example, polyethylene Glycol, polyoxyethylene monomethyl ether and polyvinyl pyrrolidone are gradually added to water heated to 85 ° C. so that the solid content ratio is about 10% by mass and stirred for about 1 hour to uniformly dissolve.
  • the aqueous solution containing polyvinyl alcohol is applied onto the first layer obtained by laminating the first layer on the support film, as described above, and dried using a bar coater or a roll coater.
  • the viscosity of the aqueous solution containing polyvinyl alcohol is preferably adjusted to 10 to 500 mPa ⁇ s.
  • a photosensitive resin layer composed of a photosensitive resin composition is applied to a bar coater or a roll coater in the same manner as the application of the second layer. Apply and dry.
  • a photosensitive resin laminate can be produced by laminating a protective layer on the photosensitive resin layer.
  • a printed wiring board is manufactured through the following steps.
  • Step A of dissolving or dispersing and removing the unexposed portions of the second layer and the photosensitive resin layer using an alkali developer to form a cured resist pattern on the substrate.
  • Examples of the active light source used in the (2) exposure step include a high pressure mercury lamp, an ultrahigh pressure mercury lamp, an ultraviolet fluorescent lamp, a carbon arc lamp, and a xenon lamp. In order to obtain a finer resist pattern, it is more preferable to use a parallel light source. When it is desired to reduce the influence of dust or foreign matter as much as possible, exposure (proximity exposure) may be performed with the photomask floating above the second layer by several tens to several hundreds of ⁇ m.
  • Examples of the alkali developer used in the above (3) development step include aqueous solutions of sodium carbonate and potassium carbonate. These alkaline aqueous solutions are selected in accordance with the characteristics of the photosensitive resin layer, but generally an aqueous sodium carbonate solution of 0.5% by mass to 3% by mass is used.
  • Said (4) etching process is performed by the method suitable for DF to be used, such as acidic etching and alkali etching.
  • the alkali stripping solution used in the above (5) stripping step an alkaline aqueous solution that is generally stronger than the alkaline aqueous solution used in the development, for example, 1% by weight to 5% by weight of sodium hydroxide, potassium hydroxide An aqueous solution may be mentioned.
  • a plating process such as a semi-additive method is provided, the copper surface that appears under the resist pattern may be etched after the resist pattern is removed.
  • Examples 1 to 15, Comparative Examples 1 to 4 The photosensitive resin laminates in Examples and Comparative Examples were produced as follows. ⁇ Preparation of photosensitive resin laminate> The methyl ethyl ketone solution of the first layer shown in Table 1 was uniformly applied to the surface of a 16 ⁇ m thick polyethylene terephthalate film (Toray 16QS48 level 3) using a bar coater, and dried for 2 minutes in a 95 ° C. drier. A uniform first layer was formed on the film. The thickness of the first layer was 20 ⁇ m.
  • the aqueous solution of the composition of the second layer shown in Table 1 is thoroughly stirred and mixed, and uniformly applied to the surface of the first layer of the support film on which the first layer has been laminated, using a bar coater, 100 ° C. In the dryer for 3 minutes to form a uniform second layer on the first layer.
  • the thickness of the second layer was 2 ⁇ m.
  • the photosensitive resin composition shown in Table 1 was uniformly applied on the second layer laminated on the support film using a bar coater, and dried for 3 minutes in a dryer at 95 ° C. to obtain uniform photosensitivity.
  • a resin layer was formed.
  • the thickness of the photosensitive resin layer was 2 ⁇ m.
  • a 25 ⁇ m thick polyethylene film was laminated as a protective layer on the surface of the photosensitive resin layer to obtain a photosensitive resin laminate.
  • ⁇ Laminate> While peeling off the protective layer of the photosensitive resin laminate of the present invention, the laminate was laminated at a roll temperature of 105 ° C. with a hot roll laminator (Asahi Kasei Engineering Co., Ltd., AL-70). The air pressure was 0.35 MPa, and the laminating speed was 1.0 m / min. In the lamination air void evaluation (followability evaluation), the air pressure was 0.2 MPa, and the lamination speed was 2.0 m / min.
  • Evaluation method (1) After laminating under the above conditions, exposure was performed at 100 mJ, a range of 10 cm ⁇ 10 cm was observed with an optical microscope, the number of laminate air voids was counted, and the following ranking was performed: A: No occurrence of laminated air voids; ⁇ : About several laminate air voids are observed; ⁇ : Occurrence of several tens of laminate air voids is observed; X: Generation
  • Adhesion evaluation The substrate which had passed 15 minutes after lamination was exposed and developed as described above using a line pattern mask of the exposed portion alone as a mask film at the time of exposure.
  • the minimum mask width over which the cured resist pattern was normally formed was taken as the adhesion value, and the adhesion was ranked as follows: A: Adhesion value is 5 ⁇ m or less; ⁇ : Adhesion value exceeds 5 ⁇ m and 10 ⁇ m or less; (Triangle
  • P-1 Methyl ethyl ketone solution of binary copolymer of benzyl methacrylate 80 mass% and methacrylic acid 20 mass% (solid content concentration 50 mass%, weight average molecular weight 25,000, acid equivalent 430, dispersity 2.7)
  • P-2 Methyl ethyl ketone solution of a terpolymer of methyl methacrylate 50% by mass, methacrylic acid 25% by mass and styrene 25% by mass (solid content concentration 35% by mass, weight average molecular weight 50,000, acid equivalent 344, dispersity 3.1)
  • M-1 Polymethacrylate glycol dimethacrylate obtained by adding an average of 3 moles of ethylene oxide to both ends of polypropylene glycol with an average of 12 moles of propylene oxide added
  • M-2 Propylene oxide of an average of 2 moles on both ends of bisphenol A
  • M-3 Polyethylene glycol dimethacrylate with an average of 2 moles of ethylene oxide added to both ends of bisphenol A (Shin Nakamura Chemical Co., Ltd., NK SL BPE-200)
  • M-4 dimethacrylate of polyethylene glycol in which 5 mol of ethylene oxide is added to both ends of bisphenol A on the both ends (NK SL BPE-500, manufactured by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd.)
  • M-5 2,2-bis ⁇ 4- (methacryloxypentaethoxy) cyclohexyl ⁇ propane
  • M-6 Reaction product of hexamethylene diisocyanate and oligopropylene glycol monomethacrylate (Nippon Yushi Co., Ltd., Blenmer PP1000)
  • a certain urethane polypropylene glycol dimethacrylate A certain urethane polypropylene glycol dimethacrylate
  • M-7 Trimethylolpropane trimethacrylate
  • M-8 Trioxyethyltrimethylolpropane triacrylate (NK ester A-TMPT-3EO manufactured by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd.)
  • M-9 Nonaethylene glycol diacrylate
  • G-1 4,4′-bis (diethylamino) benzophenone
  • G-2 2- (o-chlorophenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer
  • J-1 Diamond green (Eizen (registered trademark) DIAMOND GREEN GH manufactured by Hodogaya Chemical Co., Ltd.)
  • J-2 Leuco Crystal Violet
  • L-1 1: 1 mixture of 1- (2-di-n-butylaminomethyl) -5-carboxylbenzotriazole and 1- (2-di-n-butylaminomethyl) -6-carboxylbenzotriazole
  • L- 2 3,5-di-t-butyl-4-hydroxyphenylpropionic acid tetraester of pentaerythritol (IRGANOX 245 manufactured by Ciba Specialty Chemicals)
  • Q-1 polyoxyethylene monomethyl ether (Yuox M-550 manufactured by NOF Corporation, weight average molecular weight 550)
  • Q-2 Methyl ethyl ketone solution of polymethyl methacrylate (solid concentration 40% by mass, weight average molecular weight 60,000)
  • Q-3 Methyl ethyl ketone solution of binary copolymer of 80% by mass of methyl methacrylate and 20% by mass of methyl acrylate (solid content concentration 40% by mass, weight average molecular weight 60,000)
  • Q-4 Methyl ethyl ketone solution of binary copolymer of 80% by mass of methyl methacrylate and 20% by mass of styrene (solid content concentration 40% by mass, weight average molecular weight 50,000)
  • Q-5 Dibutyl phthalate
  • Q-6 Polyvinyl alcohol (PVA-205, manufactured by Kuraray Co., Ltd.)
  • Q-7 Polyethylene glycol (weight average molecular weight 400)
  • Q-8 Polyvinylpyrrolidone (weight average molecular weight 40,000) (manufactured by Nippon Shokubai Co., Ltd., K-15 (product number))
  • a printed wiring board a flexible wiring board, a COF (chip on film) substrate, a lead frame, a semiconductor package substrate, a liquid crystal transparent electrode, a liquid crystal TFT wiring, and a PDP (plasma display panel) electrode
  • a conductor pattern such as, it is suitable as an etching resist or a plating resist.

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Abstract

　支持フィルムの剥離性に問題がなく、ラミネート時の追従性が良好であり、現像後の硬化レジストパターンにサイドウオールのガタツキや表面の凹みがなく良好で、現像後のスソが極めて小である感光性樹脂積層体を提供すること。支持フィルム上に、層厚が１０μｍ以上１００μｍ以下の第一層と層厚が０．１μｍ以上１０μｍ以下の第二層と、感光性樹脂層とを順次積層してなる感光性樹脂積層体であって、該第二層が、ポリビニルアルコールと特定の化合物の群から選ばれる１種以上の化合物とを混合して含有してなることを特徴とする感光性樹脂積層体。

Description

感光性樹脂積層体
　本発明は感光性樹脂積層体、及びその用途に関し、より詳しくは、プリント配線板、フレキシブル基板、リードフレーム基板、ＣＯＦ（チップオンフィルム）用基板、半導体パッケージ用基板、液晶用透明電極、液晶用ＴＦＴ用配線、ＰＤＰ（プラズマディスプレイパネル）用電極等の導体パターンの製造に適した感光性樹脂積層体、及びそれを用いたレジストパターンの形成方法に関する。
　パソコンや携帯電話等の電子機器には、部品や半導体を実装するための基板としてプリント配線板が用いられる。プリント配線板を製造するためのレジストとしては、従来より、支持フィルム上に感光性樹脂層を積層し、さらに該感光性樹脂層上に保護層を積層して成る感光性樹脂積層体、いわゆるドライフィルムレジスト（以下ＤＦと略称）が用いられている。
　ここで用いられる感光性樹脂層としては、現在、現像液として弱アルカリ水溶液を用いるアルカリ現像型のものが一般的である。
　ＤＦを用いてプリント配線板等を作製するには、保護層が有る場合には、まず保護層を剥離した後、銅張積層板やフレキシブル基板等の永久回路作製用基板上にラミネーター等を用いＤＦをラミネートし、配線パターンマスクフィルム等を通し露光を行う。次に必要に応じて支持フィルムを剥離し、現像液により未露光部分の感光性樹脂層を溶解、もしくは分散除去し、基板上に硬化レジストパターンを形成させる。
　レジストパターン形成後、回路を形成させるプロセスは大きく２つの方法に分かれる。
　第一の方法は、レジストパターンによって覆われていない銅張積層板等の銅面をエッチング除去した後、レジストパターン部分を現像液よりも強いアルカリ水溶液で除去する方法（エッチング法）である。第二の方法は同上の銅面に銅、半田、ニッケルおよび錫等のめっき処理を行った後、同様にレジストパターン部分の除去、さらに現れた銅張積層板等の銅面をエッチングする方法（めっき法）である。エッチングには塩化第二銅、塩化第二鉄、銅アンモニア錯体溶液等が用いられる。
　また、近年のパソコン等に搭載されるプリント配線板の微細化に対応し、レジストの高解像性及び密着性が求められている（以下、特許文献１参照）。高解像度とするには一般的には感光性樹脂組成物の架橋密度を向上させることにより達成されるが、架橋密度を向上させると露光後の硬化レジストパターンが硬く、もろくなり、搬送工程でレジストパターンの欠けという問題点が発生することがある。また、特に感光層が１０μｍ程度以下の薄膜では、露光時に透過光が基材表面でハレーションを起こすため、未露光であるべき感光性樹脂層までも感光してしまい、これが硬化レジストパターンに反映されるため、ショートの原因ともなる。また、ハレーションにより、硬化膜の底面はスソと呼ばれる現像残渣が発生することがある。スソが発生するとその大きさにもよるがエッチング工程で銅回路にガタツキが発生するという不具合が生じることがある。
　また、ＤＦの支持フィルムは一般的にはポリエステルフィルムを使用するが、ポリエステルフィルム中に含まれる滑剤等の微量成分によって露光時に極微小の一部分が遮光され結果として、硬化レジストパターンのサイドウオール（側壁）や硬化レジストパターンにおける基板と対向する面（表面）にガタツキや凹みを生じることがある。特に１０μｍ以下の微細配線形成用にはこの影響を無視することはできない。
　また、感光層が１０μｍ以下の薄膜では基材の微小な凹凸やキズにラミネート時に感光層が充分に追従しないことにより、ラミネートエアーボイドを生じ、その部分にエッチング液の染み込みにより導体が断線するという問題点が発生することがある。
　ラミネートエアーボイドなく高追従性とするには感光層の粘度を低くする方法があるが、ロール端面からの感光層のしみだし、いわゆるエッジフューズが発生という問題がある。
　また、感光層が１０μｍ以下と薄くなると感光層の絶対量が不足し、基材の凹凸やキズに対して感光層の粘度を下げても、追従性が充分ではないことがある。
　支持フィルム、特にポリエステルフィルム中の滑剤による影響を受けることなく高解像度で硬化レジストパターン形状も良好にするには支持フィルムを剥がして露光する方法があるが、その場合、酸素阻害の影響でレジスト表面の硬化があまくなり感光層の膜減りや、硬化パターンがおわん状の形状となる等の問題が発生する。
　高解像度とするには、支持フィルムと感光性樹脂層の間にポリビニルアルコールからなる中間層を設けて露光工程前に支持フィルムを剥離して中間層上から露光することにより高解像度とし、且つ支持フィルムの滑剤等によるレジスト形状に対する影響を排除する、という手法があるが、追従性を同時に解決する手法ではない。
　以下の特許文献２には、中間層がオキシプロピレン基含有ポリビニルアルコール系樹脂からなり、感光性樹脂層に多価アルコールの（メタ）アクリル酸部分エステルを含有する技術が、そして以下の特許文献３には、中間層にオレフィンを共重合したポリビニルアルコール、重合度４，０００以上のポリエチレンオキシドなどを用いる技術が開示されているが、これらの方法でも高解像度や高密着性、現像後のスソ、追従性に関しては、未解決であった。
　以下の特許文献４には、仮支持体上に、熱可塑性樹脂層、分離層、感光性樹脂層をこの順に設けた感光性転写材料についての記載がある。しかしながら、熱可塑性樹脂層と分離層間の剥離には難があった。
　プリント配線板の微細化や薄膜で高解像性が必要なＣＯＦ用基板作製、半導体パッケージ用基板作製等にはラミネート時の追従性が良好であり、高解像、高密着性を発現し、現像後のレジスト形状において、サイドウオールにガタツキや表面に凹みを生じることがなく、良好であり、かつ現像後のスソが極めて小である特性を有する感光性樹脂組成物、及び感光性樹脂積層体が求められてきた。
特開２００１－１５９８１７号公報 特開平０４－３７１９５７号公報 特開平０６－２４２６１１号公報 特開平０５－０７２７２４号公報
　本発明は、ラミネート時の追従性が良好であり、高解像性及び高密着性を発現し、現像後の硬化レジストパターンにサイドウオールのガタツキや表面の凹みがなく良好で、且つ現像後のスソが極めて小である特性を有する感光性樹脂積層体を提供すること、並びに該積層体を用いたレジストパターンの形成方法、及び導体パターンの製造方法を提供することを目的とする。
　上記課題を解決するため検討した結果、特定の感光性樹脂積層体を用いることにより、支持フィルムの剥離性に問題がなく、ラミネート時の追従性が良好であり、現像後の硬化レジストパターンにサイドウオールのガタツキや表面の凹みがなく良好で、現像後のスソが極めて小である感光性樹脂積層体を提供することが可能なことを見出し、本発明に至った。
　即ち、本発明は、以下の感光性樹脂積層体、レジストパターン形成方法、導体パターンの製造方法の発明である。
　（１）支持フィルム上に、層厚が１０μｍ以上１００μｍ以下の第一層と、層厚が０．１μｍ以上１０μｍ以下の第二層と、感光性樹脂層とを順次積層してなる感光性樹脂積層体であって、該第一層が、熱可塑性樹脂を含有し、そして該第二層が、ポリビニルアルコール：７５～９９質量％と、下記一般式（Ｉ）：
　Ｒ１－Ｏ－（ＣＨ２ＣＨ２Ｏ）ｎ１－Ｒ２　　　（Ｉ）
｛式中、Ｒ１及びＲ２は、Ｈ又はＣＨ３であり、これらは同一であっても相違してもよく、そしてｎ１は、３～２５の整数である。｝で表される化合物、及び下記一般式（ＩＩ）：
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000007
 ｛式中、Ｒ３は、Ｈ又は炭素数１～６のアルキル基であり、そしてｎ２は、９～１０，０００の整数である。｝で表される化合物からなる群より選ばれる少なくとも１種の化合物：１～２５質量％、とを含有してなることを特徴とする感光性樹脂積層体。
　（２）前記熱可塑性樹脂が、下記一般式（Ｉ）：
　Ｒ１－Ｏ－（ＣＨ２ＣＨ２Ｏ）ｎ１－Ｒ２　　　（Ｉ）
｛式中、Ｒ１及びＲ２は、Ｈ又はＣＨ３であり、これらは同一であっても相違してもよく、そしてｎ１は、３～２５の整数である。｝で表される化合物を含有する、前記（１）に記載の感光性樹脂積層体。
　（３）前記感光性樹脂層上に保護層を更に積層してなる、前記（１）又は（２）に記載の感光性樹脂積層体。
　（４）前記感光性樹脂層が、（ａ）カルボキシル基含有量が酸当量で１００～６００であり、かつ、重量平均分子量が５，０００～５００，０００であるバインダー用樹脂：２０～９０質量％、（ｂ）少なくとも一種の光重合可能な不飽和化合物：３～７０質量％、及び（ｃ）光重合開始剤：０．１～２０質量％、を含有する感光性樹脂組成物からなる層である、前記（１）～（３）のいずれかに記載の感光性樹脂積層体。
　（５）前記（ｂ）少なくとも一種の光重合可能な不飽和化合物が、下記一般式（ＩＩＩ）～（ＶＩＩ）で表される化合物からなる群から選ばれる少なくとも一種の光重合可能な不飽和化合物である、前記（４）に記載の感光性樹脂積層体：
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000008
 ｛式中、Ｒ４及びＲ５は、Ｈ又はＣＨ３であり、これらは同一であっても相違してもよく、ｎ３、ｎ４及びｎ５は、それぞれ独立に、３～２０の整数である。｝；
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000009
 ｛式中、Ｒ６及びＲ７は、Ｈ又はＣＨ３であり、これらは同一であっても相違してもよく、Ａは、Ｃ２Ｈ４であり、Ｂは、ＣＨ２ＣＨ（ＣＨ３）であり、ｎ６＋ｎ７は、２～４０の整数であり、ｎ８＋ｎ９は、０～４０の整数であり、ｎ６及びｎ７は、それぞれ独立に、１～３９の整数であり、ｎ８及びｎ９は、それぞれ独立に、０～４０の整数であり、－（Ａ－Ｏ）－及び－（Ｂ－Ｏ）－の繰り返し単位の配列は、ランダムであってもブロックであってもよく、ブロックの場合、－（Ａ－Ｏ）－及び－（Ｂ－Ｏ）－の順序は、何れがビスフェニル基側であってもよい。｝；
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000010
 ｛式中、Ｒ８及びＲ９は、Ｈ又はＣＨ３であり、これらは同一であっても相違してもよく、Ｄは、Ｃ２Ｈ４であり、Ｅは、ＣＨ２ＣＨ（ＣＨ３）であり、ｍ１＋ｍ２は、２～４０の整数であり、ｍ３＋ｍ４は、０～４０の整数であり、ｍ１及びｍ２は、それぞれ独立に、１～３９の整数であり、ｍ３及びｍ４は、それぞれ独立に、０～４０の整数であり、－（Ｄ－Ｏ）－及び－（Ｅ－Ｏ）－の繰り返し単位の配列は、ランダムであってもブロックであってもよく、ブロックの場合、－（Ｄ－Ｏ）－及び－（Ｅ－Ｏ）－の順序は、何れがシクロヘキシル基側であってもよい。｝；
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000011
 ｛式中、Ｒ１０は、炭素数４～１２のジイソシアナート残基であり、Ｒ１１及びＲ１２は、Ｈ又はＣＨ３であり、これらは同一であっても相違してもよく、ｍ５及びｍ６は、１～１５の整数である。｝；
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000012
 ｛式中、Ｒ１３は、Ｈ又はＣＨ３であり、これらは同一であっても相違してもよく、Ｒ１４は、炭素数４～１４のアルキル基であり、Ａ’は、Ｃ２Ｈ４であり、Ｂ’は、ＣＨ２ＣＨ（ＣＨ３）であり、ｍ７は、１～１２であり、ｍ８は、０～１２であり、ｍ９は０～３の整数であり、－（Ａ’－Ｏ）－及び－（Ｂ’－Ｏ）－の繰り返し単位の配列は、ランダムであってもブロックであってもよく、ブロックの場合、－（Ａ’－Ｏ）－及び－（Ｂ’－Ｏ）－の順序は、何れがフェニル基側であってもよい。｝。
　（６）前記（１）～（５）のいずれかに記載の感光性樹脂積層体を金属板又は金属被覆絶縁板の表面にラミネートし、支持フィルムとともに第一層を剥離し、活性光を露光した後、現像により未露光部を除去することを特徴とするレジストパターンの形成方法。
　（７）前記（６）に記載の方法によって、レジストパターンを形成した基板をエッチング又はめっきすることを特徴とする導体パターンの製造方法。
　本発明によると、支持フィルムの剥離性に問題がなく、ラミネート時の追従性が良好であり、現像後、高解像性及び高密着性を発現し、現像後の硬化レジストパターンにサイドウォールのガタツキや表面の凹みがなく良好で、現像後のスソが極めて小である感光性樹脂積層体を提供すること、並びに該積層体を用いたレジストパターンの形成方法、及び導体パターンの製造方法を提供することができる。
　以下、本発明について具体的に説明する。
　本発明の感光性樹脂積層体は、支持フィルム上に、層厚が１０μｍ以上１００μｍ以下の第一層と、層厚が０．１μｍ以上１０μｍ以下の第二層と、感光性樹脂層とを順次積層してなる感光性樹脂積層体であって、
　該第一層が、熱可塑性樹脂を含有し、
　該第二層が、ポリビニルアルコール：７５～９９質量％と、下記一般式（Ｉ）：
　Ｒ１－Ｏ－（ＣＨ２ＣＨ２Ｏ）ｎ１－Ｒ２　　　（Ｉ）
｛式中、Ｒ１及びＲ２は、Ｈ又はＣＨ３であり、これらは同一であっても相違してもよく、そしてｎ１は、３～２５の整数である。｝で表される化合物、及び下記一般式（ＩＩ）：
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000013
 ｛式中、Ｒ３は、Ｈ又は炭素数１～６のアルキル基であり、そしてｎ２は、９～１０，０００の整数である。｝で表される化合物からなる群より選ばれる少なくとも１種の化合物：１～２５質量％、とを含有してなることを特徴とする。
　第一層はラミネート後、露光前に支持フィルムとともに第二層から剥がす必要がある。本願の構成、特に第二層の構成により、支持フィルムとともに第一層を剥離することができる。また、第一層に用いられる熱可塑性樹脂としては、ラミネート時のロール温度以下のガラス転移温度を有する化合物が好ましく、具体的には１２０℃以下のガラス転移温度を有する熱可塑性樹脂が好ましい。ガラス転移温度が１００℃以下、特に好ましくは約８０℃以下の熱可塑性樹脂が好ましい。この理由はラミネート時のロール温度以下のガラス転移温度であることにより感光層を凹凸のある基板上に熱と圧で転写する際（ラミネートする際）に基板表面の凹凸を完全に吸収し、気泡残りが全く無い状態でラミネートすることが可能となるためである。ガラス転移温度が高い樹脂を用いた場合は、高い温度でラミネートする必要が有り、実作業上不利である。
　また、第一層に用いられる熱可塑性樹脂のガラス転移温度は、感光性樹脂積層体としてロール状で保管したときに、ロール端面から熱可塑性樹脂がはみ出すことを防ぐ観点から、１０℃以上が好ましく、より好ましくは２０℃以上、更に好ましくは、３０℃以上である。
　ガラス転移温度が１２０℃以下の熱可塑性樹脂としては、ポリエチレン、ポリプロピレンなどのポリオレフィン、エチレンと酢酸ビニル又はそのケン化物の様なエチレン共重合体、エチレンとアクリル酸エステル又はそのケン化物、ポリ塩化ビニル、塩化ビニルと酢酸ビニル又はそのケン化物の様な塩化ビニル共重合体、ポリ塩化ビニリデン、塩化ビニリデン共重合体、ポリスチレン、スチレンと（メタ）アクリル酸エステル又はそのケン化物の様なスチレン共重合体、ポリビニルトルエン、ビニルトルエンと（メタ）アクリル酸エステル又はそのケン化物のようなビニルトルエン共重合体、ポリ（メタ）アクリル酸エステル、（メタ）アクリル酸ブチルと酢酸ビニル等の（メタ）アクリル酸エステル共重合体、酢酸ビニル共重合体、ナイロン、共重合ナイロン、Ｎ－アルコキシメチル化ナイロン、Ｎ－ジメチルアミノ化ナイロンの様なポリアミド樹脂等の熱可塑性樹脂から少なくとも１つ選ばれるのが好ましいが、さらに「プラスチック性能便覧」（日本プラスチック工業連盟、全日本プラスチック成形工業連合会編著、工業調査会発行、１９６８年１０月２５日発行）に記載のガラス転移温度が１２０℃以下１０℃以上の熱可塑性樹脂を使用することができる。
　熱可塑性樹脂の含有量は、第一層中に、５０～１００質量％、特に６５～１００質量％含有することが好ましい。
　第一層には、上述の熱可塑性樹脂に加えて、該熱可塑性樹脂と相溶性のある各種の可塑剤を添加して、実質的なガラス転移温度を下げることも可能である。また、これらの第一層中に第二層との接着力を調節するために、実質的なガラス転移温度が１２０℃を超えない範囲で添加剤、例えば、各種のポリマーや過冷却物質、密着改良剤あるいは界面活性剤や離型剤を、５～５０質量％の範囲で加えることが可能である。より好ましくは、３５質量％以下である。
　可塑剤としては、例えば、ジエチルフタレート等のフタル酸エステル類、ｏ－トルエンスルホン酸アミド、ｐ－トルエンスルホン酸アミド、クエン酸トリブチル、クエン酸トリエチル、アセチルクエン酸トリエチル、アセチルクエン酸トリ－ｎ－プロピル、アセチルクエン酸トリ－ｎ－ブチル、ポリプロピレングリコール、ポリエチレングリコール、ポリエチレングリコールアルキルエーテル、ポリプロピレングリコールアルキルエーテル、フタル酸エステル類が挙げられる。フタル酸エステル類としてはフタル酸ジブチル等がある。
　他に、ポリエチレングリコールやポリプロピレングリコールなどのポリアルキレングリコールやポリアルキレングリコールメチルエーテルを加えることも可能である。中でも下記一般式（Ｉ）：
　Ｒ１－Ｏ－（ＣＨ２ＣＨ２Ｏ）ｎ１－Ｒ２　　　（Ｉ）
｛式中、Ｒ１及びＲ２は、Ｈ又はＣＨ３であり、これらは同一であっても相違してもよく、そしてｎ１は、３～２５の整数である。｝で表される化合物を加えることが、追従性が向上する観点から好ましい。
　熱可塑性樹脂層の厚みは１０μｍ以上が好ましい。この理由としては、熱可塑性樹脂層の厚みが１０μｍ未満であると１μｍ以上の基板表面の凹凸を完全に吸収することが不可能となるためである。また、上限については、性能的には特に限界は無いが、製造適性から約１００μｍ以下、好ましくは約５０μｍ以下であり、より好ましくは３０μｍ以下である。
　また、第二層が、ポリビニルアルコール：７５～９９質量％と、下記一般式（Ｉ）：
　Ｒ１－Ｏ－（ＣＨ２ＣＨ２Ｏ）ｎ１－Ｒ２　　　（Ｉ）
｛式中、Ｒ１及びＲ２は、Ｈ又はＣＨ３であり、これらは同一であっても相違してもよく、そしてｎ１は、３～２５の整数である。｝で表される化合物、及び下記一般式（ＩＩ）：
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000014
 ｛式中、Ｒ３はＨ又は炭素数１～６のアルキル基であり、そしてｎ２は、９～１０，０００の整数である。｝で表される化合物からなる群より選ばれる少なくとも１種の化合物：１～２５質量％、とを含有する必要がある。この構成により、第一層と第二層と層間接着力を、支持フィルムと第一層との層間接着力、及び第二層と感光性樹脂層との層間接着力よりも低くすることが可能となる。
　第二層におけるポリビニルアルコール配合比率としては、現像性及びコストの観点から７５質量％以上９９質量％以下であることが好ましい。より好ましくは８５質量％以上９５質量％以下である。
　ポリビニルアルコールの製法は、ポリ酢酸ビニルをアルカリけん化して製造するのが一般的である。本発明に用いられるポリビニルアルコールの重量平均分子量は１，０００～１００，０００が好ましい。酸素遮断性、現像性の観点から、より好ましい重量平均分子量は、５，０００～５０，０００である。また、けん化度は現像性の観点から５０モル％以上が好ましく、好ましくは７０モル％以上、より好ましくは８０モル％以上である。
　ポリビニルアルコールの重量平均分子量は、日本分光（株）製ゲルパーミエーションクロマトグラフィー（ＧＰＣ）（ポンプ：Ｇｕｌｌｉｖｅｒ、ＰＵ－１５８０型、カラム：昭和電工（株）製Ｓｈｏｄｅｘ（登録商標）（ＨＦＩＰ－８０５、ＨＦＩＰ－８０３）２本直列、移動層溶媒：ヘキサフルオロイソプロパノール、ポリスチレン標準サンプル（昭和電工（株）製Ｓｈｏｄｅｘ　ＳＴＡＮＤＡＲＤ　ＳＭ－１０５）による検量線使用）により重量平均分子量（ポリスチレン換算）として求められる。
　上記一般式（Ｉ）で表される化合物は、臭気の点からｎ１は３以上が好ましく、ポリビニルアルコールとの相溶性、及び現像性の観点からｎ１は２５以下が好ましい。ｎ１は、より好ましくは５以上２０以下、更に好ましくは７以上１５以下である。上記一般式（Ｉ）で表される化合物の具体例として、平均分子量が２００であるポリエチレングリコール（日本油脂株式会社製ＰＥＧ２００）、平均分子量が３００であるポリエチレングリコール（日本油脂株式会社製ＰＥＧ３００、平均分子量が４００であるポリエチレングリコール（日本油脂株式会社製ＰＥＧ４００）、平均分子量が６００であるポリエチレングリコール（日本油脂株式会社製ＰＥＧ６００）、平均分子量が１０００であるポリエチレングリコール（日本油脂株式会社製ＰＥＧ１０００）や平均分子量４００であるポリエチレングリコールモノメチルエーテル（日本油脂株式会社製のユニオックスＭ－４００）、平均分子量５５０であるポリエチレングリコールモノメチルエーテル（日本油脂株式会社製ユニオックスＭ－５５０）、平均分子量１０００であるポリエチレングリコールモノメチルエーテル（日本油脂株式会社製ユニオックスＭ－１０００）等がある。
　上記一般式（ＩＩ）で表される化合物は、第一層と第二層との剥離性の点からｎ２は９以上が好ましく、現像性の観点からｎ２は１０，０００以下が好ましい。ｎ２は、より好ましくは２０以上２，０００以下、更に好ましくは３０以上１，５００以下である。上記一般式（ＩＩ）で表される化合物の具体例としては、ポリビニルピロリドンがある。具体例としては株式会社日本触媒製の重量平均分子量が４万であるＫ－１５、重量平均分子量が１０万のＫ－３０、重量平均分子量９０万のＫ－８５、重量平均分子量１００万のＫ－９０等がある。
　上記一般式（Ｉ）で表される化合物及び上記一般式（ＩＩ）で表される化合物からなる群より選ばれる少なくとも１種の化合物の、第二層における含有量は、第二層と第一層との剥離性の観点から、１質量％以上であり、好ましくは３質量％以上であり、更に好ましくは５質量％以上である。また、感度の観点から、２５質量％以下であり、より好ましくは２０質量％以下であり、更に好ましくは１５質量％以下である。
　また、第二層には、上記以外に、公知の水溶性ポリマー、例えば、ポリビニルエーテル－無水マレイン酸水溶性塩類、カルボキシアルキル澱粉水溶性塩類、ポリアクリルアミド、ポリアミド、ポリアクリル酸水溶性塩類、ゼラチン、ポリプロピレングリコール等を含有させることが可能である。
　第二層の層厚は、解像度、密着性、現像性の観点から１０μｍ以下が好ましく、より好ましくは、５μｍ以下、さらに好ましくは３μｍ以下である。また、酸素遮断性の観点から、０．１μｍ以上、好ましくは０．５μｍ以上、より好ましくは１μｍ以上である。
　本発明においては、紫外線露光前に支持フィルムを剥離するため、支持フィルムは紫外線を透過させる透明なものを用いる必要は無い。本発明における支持フィルムとしては、厚み１０μｍ以上１００μｍ以下程度のポリエチレン、ポリプロピレン、ポリカーボネート、ポリエチレンテレフタレートなどの合成樹脂フィルムがあるが、通常適度な可とう性と強度を有するポリエチレンテレフタレートが好ましく用いられる。ラミネート時にシワを発生させにくくするため、また支持フィルムの破損を防ぐために、膜厚は１０μｍ以上であることが好ましい。
　本発明の感光性樹脂積層体においては、第二層に上記の構成をとることによって、第一層との剥離性に問題がない、すなわち、露光工程前に支持フィルムとともに第一層を剥離するに際して、第一層と第二層との層間接着力が、支持フィルムと第一層及び第二層と感光層との層間接着力よりも低いものを得ることができる。
　また、本発明の感光性樹脂積層体としては、支持フィルム上に、第一層、第二層及び感光性樹脂層とを順次積層した上に、さらに保護層を積層してもよい。
　保護層の特性としては、感光性樹脂層と保護層との間の層間接着力が、第一層と第二層との間の層間接着力よりも低いことが重要であり、これによりラミネート時に保護層を容易に剥離することができる。
　保護層としては１０～１００μｍ厚程度のポリエチレン、ポリプロピレン、ポリカーボネート、ポリエチレンテレフタレートなどの合成樹脂フィルムがあるが、ポリエチレンフィルム又はポリプロピレンフィルムが好ましく用いられる。
　本発明の感光性樹脂層の膜厚は用途によって異なるが、厚みの上限は、１００μｍ以下が好ましく、５０μｍ以下がより好ましく、３０μｍ以下がさらに好ましく、１０μｍ以下が最も好ましい。また、下限は、０．５μｍ以上が好ましく、更に１μｍ以上が好ましい。
　本発明の感光性樹脂積層体における感光性樹脂層は、（ａ）カルボキシル基含有量が酸当量で１００～６００であり、重量平均分子量が５，０００～５００，０００であるバインダー用樹脂：２０～９０質量％、（ｂ）少なくとも一種の光重合可能な不飽和化合物：３～７０質量％、（ｃ）光重合開始剤：０．１～２０質量％、を含有する感光性樹脂組成物からなる層であることが好ましい。本発明の感光性樹脂積層体に用いられる感光性樹脂組成物を以下、詳細に説明する。
（ａ）バインダー用樹脂に含まれるカルボキシル基の量は、酸当量で１００～６００が好ましく、より好ましくは２５０～４５０である。酸当量とは、その中に１当量のカルボキシル基を有するバインダー用樹脂の質量をいう。
　バインダー用樹脂中のカルボキシル基は、感光性樹脂層にアルカリ水溶液に対する現像性や剥離性を与えるために必要である。酸当量は、現像耐性、解像性および密着性の観点から１００以上が好ましく、現像性および剥離性の観点から６００以下が好ましい。
（ａ）バインダー用樹脂の重量平均分子量は、５，０００～５００，０００であることが好ましい。バインダー用樹脂の重量平均分子量は、解像性の観点から５００，０００以下が好ましく、エッジフューズの観点から５，０００以上が好ましい。本発明の効果をさらに良く発揮するためには、バインダー用樹脂の重量平均分子量は、５，０００～２００，０００であることがより好ましく、さらに好ましくは５，０００～１００，０００である。分散度（分子量分布ということもある）は、下記式の重量平均分子量と数平均分子量の比で表される：
　　　　（分散度）＝（重量平均分子量）／（数平均分子量）
　分散度は１～６程度のものが用いられ好ましくは１～４である。なお、酸当量の測定は、平沼産業（株）製平沼自動滴定装置（ＣＯＭ－５５５）を使用し、０．１ｍｏｌ／リットルの水酸化ナトリウム水溶液を用いて電位差滴定法により行われる。
　分子量は、日本分光（株）製ゲルパーミエーションクロマトグラフィー（ＧＰＣ）（ポンプ：Ｇｕｌｌｉｖｅｒ、ＰＵ－１５８０型、カラム：昭和電工（株）製Ｓｈｏｄｅｘ（登録商標）（ＫＦ－８０７、ＫＦ－８０６Ｍ、ＫＦ－８０６Ｍ、ＫＦ－８０２．５）４本直列、移動層溶媒：テトラヒドロフラン、ポリスチレン標準サンプル（昭和電工（株）製Ｓｈｏｄｅｘ　ＳＴＡＮＤＡＲＤ　ＳＭ－１０５）による検量線使用）により重量平均分子量（ポリスチレン換算）として求められる。
（ａ）バインダー用樹脂は、下記の２種類の単量体の中より、各々一種又はそれ以上の単量体を共重合させることにより得られる。
　第一の単量体は、分子中に重合性不飽和基を一個有するカルボン酸又は酸無水物である。例えば、（メタ）アクリル酸、フマル酸、ケイ皮酸、クロトン酸、イタコン酸、マレイン酸無水物、マレイン酸半エステル等が挙げられる。
　第二の単量体は、非酸性で、分子中に重合性不飽和基を一個有する化合物である。該化合物は、感光性樹脂層の現像性、エッチング及びめっき工程での耐性、硬化膜の可とう性等の種々の特性を保持するように選ばれる。該化合物としては、例えば、メチル（メタ）アクリレート、エチル（メタ）アクリレート、ブチル（メタ）アクリレート、２－エチルヘキシル（メタ）アクリレート等のアルキル（メタ）アクリレート、２－ヒドロキシエチル（メタ）アクリレート、２－ヒドロキシプロピル（メタ）アクリレート、（メタ）アクリロニトリル、ベンジル（メタ）アクリレート、メトキシベンジル（メタ）アクリレート、クロロベンジル（メタ）アクリレート、フルフリル（メタ）アクリレート、テトラヒドロフルフリル（メタ）アクリレート、フェノキシエチル（メタ）アクリレート、フェニル（メタ）アクリレート、クレジル（メタ）アクリレート、ナフチル（メタ）アクリレートなどのアリール（メタ）アクリレート、フェニル基を有するビニル化合物（例えば、スチレン）等を用いることができる。特に、解像性、現像液凝集性の観点から、ベンジル（メタ）アクリレートが好ましい。
（ａ）バインダー用樹脂は、上記第一の単量体と第二の単量体との混合物を、アセトン、メチルエチルケトン、又はイソプロパノール等の溶剤で希釈した溶液に、過酸化ベンゾイル、アゾイソブチロニトリル等のラジカル重合開始剤を適量添加し、過熱攪拌することにより合成を行うことが好ましい。混合物の一部を反応液に滴下しながら合成を行う場合もある。反応終了後、さらに溶剤を加えて、所望の濃度に調整する場合もある。合成手段としては、溶液重合以外に、塊状重合、懸濁重合、又は乳化重合を用いてもよい。
（ａ）バインダー用樹脂の感光性樹脂組成物全体に対する割合は、２０～９０質量％の範囲が好ましく、より好ましくは３０～７０質量％である。露光、現像によって形成される硬化レジストパターンが、レジストとしての特性、例えば、テンティング、エッチング及び各種めっき工程において十分な耐性等を有するという観点から２０質量％以上９０質量％以下が好ましい。
（ｂ）少なくとも一種の光重合可能な不飽和化合物としては、高解像性の観点から、下記一般式（ＩＩＩ）～（ＶＩＩ）で表される化合物からなる群から選ばれた少なくとも一種の光重合可能な不飽和化合物を感光性樹脂組成物に用いることは、好ましい態様である：
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000015
 ｛式中、Ｒ４及びＲ５は、Ｈ又はＣＨ３であり、これらは同一であっても相違してもよく、ｎ３、ｎ４及びｎ５は、それぞれ独立に、３～２０の整数である。｝；
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000016
 ｛式中、Ｒ６及びＲ７は、Ｈ又はＣＨ３であり、これらは同一であっても相違してもよく、Ａは、Ｃ２Ｈ４であり、Ｂは、ＣＨ２ＣＨ（ＣＨ３）であり、ｎ６＋ｎ７は、２～４０の整数であり、ｎ８＋ｎ９は、０～４０の整数であり、ｎ６及びｎ７は、それぞれ独立に、１～３９の整数であり、ｎ８及びｎ９は、それぞれ独立に、０～４０の整数であり、－（Ａ－Ｏ）－及び－（Ｂ－Ｏ）－の繰り返し単位の配列は、ランダムであってもブロックであってもよく、ブロックの場合、－（Ａ－Ｏ）－及び－（Ｂ－Ｏ）－の順序は、何れがビスフェニル基側であってもよい。｝
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000017
 ｛式中、Ｒ８及びＲ９は、Ｈ又はＣＨ３であり、これらは同一であっても相違してもよく、Ｄは、Ｃ２Ｈ４であり、Ｅは、ＣＨ２ＣＨ（ＣＨ３）であり、ｍ１＋ｍ２は、２～４０の整数であり、ｍ３＋ｍ４は、０～４０の整数であり、ｍ１及びｍ２は、それぞれ独立に、１～３９の整数であり、ｍ３及びｍ４は、それぞれ独立に、０～４０の整数であり、－（Ｄ－Ｏ）－及び－（Ｅ－Ｏ）－の繰り返し単位の配列は、ランダムであってもブロックであってもよく、ブロックの場合、－（Ｄ－Ｏ）－及び－（Ｅ－Ｏ）－の順序は、何れがシクロヘキシル基側であってもよい。｝；
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000018
 ｛式中、Ｒ１０は、炭素数４～１２のジイソシアナート残基であり、Ｒ１１及びＲ１２は、Ｈ又はＣＨ３であり、これらは同一であっても相違してもよく、ｍ５及びｍ６は、１～１５の整数である。｝；
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000019
 ｛式中、Ｒ１３は、Ｈ又はＣＨ３であり、これらは同一であっても相違してもよく、Ｒ１４は、炭素数４～１４のアルキル基であり、Ａ’は、Ｃ２Ｈ４であり、Ｂ’は、ＣＨ２ＣＨ（ＣＨ３）であり、ｍ７は、１～１２の整数であり、ｍ８は、０～１２の整数であり、ｍ９は、０～３の整数であり、－（Ａ’－Ｏ）－及び－（Ｂ’－Ｏ）－の繰り返し単位の配列は、ランダムであってもブロックであってもよく、ブロックの場合、－（Ａ’－Ｏ）－及び－（Ｂ’－Ｏ）－の順序は、何れがフェニル基側であってもよい。｝。
　上記一般式（ＩＩＩ）で表される化合物は、沸点、臭気の観点から、ｎ３、ｎ４及びｎ５が、３以上であることが好ましい。単位質量あたりの光活性部位の濃度に起因する感度の観点から、ｎ３、ｎ４及びｎ５が、２０以下であることが好ましい。本発明に用いられる上記一般式（ＩＩＩ）で表される化合物の具体例としては、例えば、平均１２モルのプロピレンオキサイドを付加したポリプロピレングリコールにエチレンオキサイドをさらに両端にそれぞれ平均３モル付加したグリコ－ルのジメタクリレートが好ましいものとして挙げられる。
　上記一般式（ＩＶ）で表される化合物において、ｎ６＋ｎ７及びｎ８＋ｎ９は、４０以下である必要があり、４０を超えると感度の観点から好ましくない。好ましくは３０以下である。
　本発明に用いられる上記一般式（ＩＶ）で表される化合物の具体例としては、ビスフェノールＡの両端にそれぞれ平均２モルのプロピレンオキサイドと平均６モルのエチレンオキサイドを付加したポリアルキレングリコールのジメタクリレートや、ビスフェノールＡの両端にそれぞれ平均２モルのプロピレンオキサイドと平均１５モルのエチレンオキサイドを付加したポリアルキレングリコールのジメタクリレートビスフェノールＡの両端にそれぞれ平均５モルのエチレンオキサイドを付加したポリエチレングリコールのジメタクリレート（新中村化学工業（株）製ＮＫエステルＢＰＥ－５００）、ビスフェノールＡの両端にそれぞれ平均２モルのエチレンオキサイドを付加したポリエチレングリコールのジメタクリレート（新中村化学工業（株）製ＮＫエステルＢＰＥ－２００）がある。
　上記一般式（Ｖ）で表される化合物において、ｍ１＋ｍ２及びｍ３＋ｍ４は、４０以下である必要があり、４０を超えると感度の観点から好ましくない。好ましくは３０以下である。上記一般式（Ｖ）で表される化合物の具体例としては水素添加されたビスフェノールＡの両端にそれぞれ平均５モルのエチレンオキサイドを付加したポリエチレングリコールのジメタクリレートがある。
　上記一般式（ＶＩ）で表される化合物は、ｍ５及びｍ６が、１５を超えると充分な感度が得られない。上記一般式（ＶＩ）で表される化合物の具体例としては、例えば、ヘキサメチレンジイソシアネート、トリレンジイソシアネート、又は２，２，４－トリメチルヘキサメチレンジイソシアネート等のジイソシアネ－ト化合物と、一分子中にヒドロキシル基と（メタ）アクリル基を有する化合物（２－ヒドロキシプロピルアクリレート、オリゴプロピレングリコールモノメタクリレート等）とのウレタン化合物等が挙げられる。具体的には、ヘキサメチレンジイソシアネートとオリゴプロピレングリコールモノメタクリレート（日本油脂（株）製、ブレンマーＰＰ１０００）との反応物がある。
　上記一般式（ＶＩＩ）で表される化合物は、ｍ７及びｍ８が、１２を超えると充分な感度が得られない。ｍ９が、３を越えても充分な感度が得られない。
　上記一般式（ＶＩＩ）で表される化合物の具体例としては、例えば、平均２モルのプロピレンオキサイドを付加したポリプロピレングリコールと平均７モルのエチレンオキサイドを付加したポリエチレングリコールをノニルフェノールに付加した化合物のアクリレートである４－ノルマルノニルフェノキシヘプタエチレングリコールジプロピレングリコールアクリレートが挙げられる。平均８モルのエチレンオキサイドを付加したポリエチレングリコールをノニルフェノールに付加した化合物のアクリレートである４－ノルマルノニルフェノキシオクタエチレングリコールアクリレート（東亞合成（株）製、Ｍ－１１４）が挙げられる。
　（ｂ）少なくとも一種の光重合可能な不飽和化合物の、上記一般式（ＩＩＩ）、（ＩＶ）、（Ｖ）、（ＶＩ）及び（ＶＩＩ）で表される化合物群以外の化合物としては、下記に示される光重合可能な不飽和化合物がある。例えば、１，６－ヘキサンジオールジ（メタ）アクリレート、１，４－シクロヘキサンジオールジ（メタ）アクリレート、ポリプロピレングリコールジ（メタ）アクリレート、ポリエチレングリコールジ（メタ）アクリレート、２－ジ（ｐ－ヒドロキシフェニル）プロパンジ（メタ）アクリレート、グリセロールトリ（メタ）アクリレート、トリメチロールプロパントリ（メタ）アクリレート、ポリオキシプロピルトリメチロールプロパントリ（メタ）アクリレート、ポリオキシエチルトリメチロールプロパントリアクリレート、ペンタエリスリトールテトラ（メタ）アクリレート、ジペンタエリスリトールペンタ（メタ）アクリレート、トリメチロールプロパントリグリシジルエーテルトリ（メタ）アクリレート、ビスフェノールＡジグリシジルエーテルジ（メタ）アクリレート、β－ヒドロキシプロピル－β’－（アクリロイルキシ）プロピルフタレート、フェノキシポリエチレングリコール（メタ）アクリレート、ポリプロピレングリコールモノ（メタ）アクリレート等が挙げられる。
　（ｂ）少なくとも一種の光重合可能な不飽和化合物全体の感光性樹脂組成物全体に対する割合は、感度の観点から３質量％以上が好ましく、エッジフューズの観点から７０質量％以下が好ましい。より好ましくは１０～６０質量％、さらに好ましくは１５～５５質量％である。
　また、上記一般式（ＩＩＩ）～（ＶＩＩ）で表される化合物からなる群から選ばれた少なくとも一種の光重合可能な不飽和化合物の感光性樹脂組成物全体に対する割合は、３～７０質量％の範囲である。解像度の観点から３質量％以上であり、レジストパターンの可とう性の観点から７０質量％以下である。より好ましくは３～３０質量％以下である。
　（ｃ）光重合開始剤としては、各種の活性光線、例えば紫外線等により活性化され、重合を開始する化合物であればよく、下記一般式（ＶＩＩＩ）：
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000020
 ｛式中、Ｘ、Ｙ、及びＺは、それぞれ独立に、水素、炭素数１から５のアルキル基、アルコキシ基又はハロゲン基のいずれかを表し、そしてｐ、ｑ、及びｒは、それぞれ独立に、１～５の整数である。｝で表される化合物、及び下記一般式（ＩＸ）：
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000021
 ｛式中、Ｘ、Ｙ、及びＺは、それぞれ独立に、水素、炭素数１から５のアルキル基、アルコキシ基又はハロゲン基のいずれかを表し、そしてｐ、ｑ、及びｒは、それぞれ独立に、１～５の整数である。｝で表される化合物からなる群より選ばれる少なくとも一種の２，４，５－トリアリールイミダゾール二量体を含むことは、高解像度の観点から好ましい実施態様である。
　２，４，５－トリアリールイミダゾール二量体には、例えば、２－（ｏ－クロロフェニル）－４，５－ジフェニルイミダゾール二量体、２－（ｏ－クロロフェニル）－４，５－ビス－（ｍ－メトキシフェニル）イミダゾール二量体、２－（ｐ－メトシキフェニル）－４，５－ジフェニルイミダゾール二量体等があるが、特に、２－（ｏ－クロロフェニル）－４，５－ジフェニルイミダゾール二量体が好ましい。
　本発明に用いられる（ｃ）光重合開始剤としては、上記一般式（ＶＩＩＩ）で表される化合物及び上記一般式（ＩＸ）で表される化合物からなる群より選ばれる少なくとも一種の２，４，５－トリアリ－ルイミダゾール二量体とｐ－アミノフェニルケトン類を併用する系が好ましい。ｐ－アミノフェニルケトン類としては、例えば、ｐ－アミノベンゾフェノン、ｐ－ブチルアミノアセトフェノン、ｐ－ジメチルアミノアセトフェノン、ｐ－ジメチルアミノベンゾフェノン、ｐ，ｐ’－ビス（エチルアミノ）ベンゾフェノン、ｐ，ｐ’－ビス（ジメチルアミノ）ベンゾフェノン［ミヒラーズケトン］、ｐ，ｐ’－ビス（ジエチルアミノ）ベンゾフェノン、ｐ，ｐ’－ビス（ジブチルアミノ）ベンゾフェノンが挙げられる。
　また、前記した化合物以外の光重合開始剤としては、例えば、２－エチルアントラキノン、２－ｔｅｒｔ－ブチルアントラキノン等のキノン類、ベンゾフェノン等の芳香族ケトン類、ベンゾイン、ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインエチルエーテル等のベンゾインエーテル類、９－フェニルアクリジン等のアクリジン化合物、ベンジルジメチルケタール、ベンジルジエチルケタール、ピラゾリン類、例えば、１－フェニル－３－（４－ｔｅｒｔ－ブチル－スチリル）－５－（４－ｔｅｒｔ－ブチル－フェニル）－ピラゾリンがある。また、例えば、チオキサントン、２，４－ジエチルチオキサントン、２－クロロチオキサントン等のチオキサントン類と、ジメチルアミノ安息香酸アルキルエステル化合物等の三級アミン化合物との組み合わせもある。
　また、１－フェニル－１、２－プロパンジオン－２－Ｏ－ベンゾイルオキシム、１－フェニル－１、２－プロパンジオン－２－（Ｏ－エトキシカルボニル）オキシム等のオキシムエステル類等がある。また、Ｎ－アリール－α－アミノ酸化合物も用いることも可能であり、これらの中では、Ｎ－フェニルグリシンが特に好ましい。
　本発明の感光性樹脂積層体における感光性樹脂組成物は、（ｃ）光重合開始剤を、感光性樹脂組成物全体に対して０．１～２０質量％含有することが好ましい。十分な感度を得る観点から、０．１質量％以上、露光時にフォトマスクを通した光のハレーション防止の観点から２０質量％以下が好ましい。
　感光性樹脂組成物には、塩基性染料を用いることができる。塩基性染料の具体例としては、フクシン、フタロシアニングリーン、オーラミン塩基、カルコキシドグリーンＳ、パラマジエンタ、クリスタルバイオレット、メチルオレンジ、ナイルブルー２Ｂ、マラカイトグリーン（保土ヶ谷化学（株）製　アイゼン（登録商標）　ＭＡＬＡＣＨＩＴＥ　ＧＲＥＥＮ）、ベイシックブルー２０、ダイアモンドグリーン（保土ヶ谷化学（株）製　アイゼン（登録商標）　ＤＩＡＭＯＮＤ　ＧＲＥＥＮ　ＧＨ）、ビクトリアブルー（保土ヶ谷化学（株）製　アイゼン（登録商標）　ＶＩＣＴＯＲＩＡ　ＰＵＲＥ　ＢＬＵＥ）等が挙げられる。
　感光性樹脂組成物には、光照射により発色する発色系染料を含有させることもできる。
　用いられる発色系染料としては、例えば、ロイコ染料又はフルオラン染料と、ハロゲン化合物との組み合わせがある。ロイコ染料としては、例えば、トリス（４－ジメチルアミノ－２－メチルフェニル）メタン［ロイコクリスタルバイオレット］、トリス（４－ジメチルアミノ－２－メチルフェニル）メタン［ロイコマラカイトグリーン］等が挙げられる。
　ハロゲン化合物としては、臭化アミル、臭化イソアミル、臭化イソブチレン、臭化エチレン、臭化ジフェニルメチル、臭化ベンザル、臭化メチレン、トリブロモメチルフェニルスルフォン、四臭化炭素、トリス（２，３－ジブロモプロピル）ホスフェート、トリクロロアセトアミド、ヨウ化アミル、ヨウ化イソブチル、１，１，１－トリクロロ－２，２－ビス（ｐ－クロロフェニル）エタン、ヘキサクロロエタン、ハロゲン化トリアジン化合物等が挙げられる。該ハロゲン化トリアジン化合物としては、２，４，６－トリス（トリクロロメチル）－ｓ－トリアジン、２－（４－メトキシフェニル）－４，６－ビス（トリクロロメチル）－ｓ－トリアジンが挙げられる。
　このような発色系染料の中でも、トリブロモメチルフェニルスルフォンとロイコ染料との組み合わせや、ハロゲン化トリアジン化合物とロイコ染料との組み合わせが有用である。
　本発明における感光性樹脂組成物の熱安定性、保存安定性を向上させるために、感光性樹脂組成物にラジカル重合禁止剤を含有させることは好ましいことである。このようなラジカル重合禁止剤としては、例えば、ｐ－メトキシフェノール、ハイドロキノン、ピロガロール、ナフチルアミン、ｔｅｒｔ－ブチルカテコール、塩化第一銅、２，６－ジ－ｔｅｒｔ－ブチル－ｐ－クレゾール、２，２’－メチレンビス（４－エチル－６－ｔｅｒｔ－ブチルフェノール）、２，２’－メチレンビス（４－メチル－６－ｔｅｒｔ－ブチルフェノール）、ジフェニルニトロソアミン等が挙げられる。
　さらに感光性樹脂組成物には、必要に応じて可塑剤を含有させてもよい。このような可塑剤としては、例えば、ジエチルフタレート等のフタル酸エステル類、ｏ－トルエンスルホン酸アミド、ｐ－トルエンスルホン酸アミド、クエン酸トリブチル、クエン酸トリエチル、アセチルクエン酸トリエチル、アセチルクエン酸トリ－ｎ－プロピル、アセチルクエン酸トリ－ｎ－ブチル、ポリプロピレングリコール、ポリエチレングリコール、ポリエチレングリコールアルキルエーテル、ポリプロピレングリコールアルキルエーテル、フタル酸エステル類が挙げられる。フタル酸エステル類としてはフタル酸ジブチル等がある。
　支持フィルム、第一層、第二層、感光性樹脂層、及び保護層を順次積層して感光性樹脂積層体を作製する方法について下記に述べる。
　まず、熱可塑性樹脂、例えば、溶液重合で得られたポリメタクリル酸メチルのメチルエチルケトン溶液（重量平均分子量６万、固形分濃度４０質量％、ガラス転移温度１０５℃）を支持フィルム上にバーコーターやロールコーターを用いて塗布して乾燥する。これにより、支持フィルム上に第一層を積層することができる。ポリメタクリル酸メチルのメチルエチルケトン溶液の粘度は、１０～２０００ｍＰａ・ｓに調整するのが好ましい。
　次に、ポリビニルアルコール、例えば、株式会社クラレ製のポリビニルアルコールＰＶＡ－２０５樹脂、及び上記一般式（Ｉ）又は（ＩＩ）で表される化合物の群から選ばれる１種以上の化合物、例えば、ポリエチレングリコールやポリオキシエチレンモノメチルエーテルやポリビニルピロリドンを、固形分比率が１０質量％程度となる量となるように、８５℃に加温した水に徐々に加えて１時間程度撹拌して均一に溶解させる。次いでポリビニルアルコ－ルを含む前記の水溶液を、前記したように、支持フィルム上に第一層を積層した第一層上に、バーコーターやロールコーターを用いて塗布して乾燥する。ポリビニルアルコ－ルを含む前記の水溶液の粘度は、１０～５００ｍＰａ・ｓに調整するのが好ましい。得られた第一層及び第二層を積層した支持フィルムの第二層上に、感光性樹脂組成物からなる感光性樹脂層を、第二層の塗布と同様に、バーコーターやロールコーターを用いて塗布して乾燥する。次に感光性樹脂層上に保護層をラミネートすることにより感光性樹脂積層体を作製することができる。
　次に、本発明の感光性樹脂積層体を用いてプリント配線板を製造する方法の一例を説明する。
　プリント配線板は、以下の各工程を経て製造される。
（１）ラミネート工程
　感光性樹脂積層体に保護層がある場合には、保護層を剥がしながら該感光性樹脂積層体を銅張積層板やフレキシブル基板等の基板上にホットロールラミネーターを用いて密着させる工程。
（２）露光工程
　感光性樹脂積層体から、第一層と第二層との間で剥離しながら第一層が支持フィルムとともに接着したままで剥離し、所望の配線パターンを有するマスクフィルムを第二層上に密着させ活性光線源を用いて露光を施す工程。
（３）現像工程
　アルカリ現像液を用いて第二層及び感光性樹脂層の未露光部分を溶解又は分散除去し、硬化レジストパタ－ンを基板上に形成する工程。
（４）エッチング工程又はめっき工程
　形成されたレジストパターン上からエッチング液を吹き付けレジストパターンによって覆われていない銅面をエッチングする工程、又はレジストパターンによって覆われていない銅面に銅、半田、ニッケル、錫等のめっき処理を行う工程。
（５）剥離工程
　アルカリ剥離液を用いて基板からレジストパターンを除去する工程。
　上記（２）露光工程において用いられる活性光線源としては、高圧水銀灯、超高圧水銀灯、紫外線蛍光灯、カーボンアーク灯、キセノンランプなどが挙げられる。また、より微細なレジストパターンを得るためには平行光光源を用いるのがより好ましい。ゴミや異物の影響を極力少なくしたい場合には、フォトマスクを第二層上から数十μｍ以上数百μｍ以下浮かせた状態で露光（プロキシミティー露光）する場合もある。
　また、上記（３）現像工程で用いられるアルカリ現像液としては、炭酸ナトリウム、炭酸カリウム等の水溶液が挙げられる。これらのアルカリ水溶液は感光性樹脂層の特性に合わせて選択されるが、一般的に０．５質量％以上３質量％以下の炭酸ナトリウム水溶液が用いられる。
　上記（４）エッチング工程は、酸性エッチング、アルカリエッチングなど、使用するＤＦに適した方法で行われる。
　上記（５）剥離工程で用いられるアルカリ剥離液としては、一般的に現像で用いたアルカリ水溶液よりも更に強いアルカリ性の水溶液、例えば１質量％以上５質量％以下の水酸化ナトリウム、水酸化カリウムの水溶液が挙げられる。
　また、セミアディティブ工法等めっき工程を設けた場合には、レジストパターンを剥離後に、レジストパターンの下に現れた銅面をエッチングする場合もある。
　以下、実施例により本発明の実施形態の例をさらに詳しく説明する。
　以下に、実施例及び比較例の評価用サンプルの作製方法並びに得られたサンプルについての評価方法及び評価結果を説明する。
〔実施例１～１５、比較例１～４〕
１．評価用サンプルの作製
　実施例及び比較例における感光性樹脂積層体は次の様にして作製した。
＜感光性樹脂積層体の作製＞
　表１に示す第一層のメチルエチルケトン溶液を１６μｍ厚のポリエチレンテレフタレートフィルム（東レ製１６ＱＳ４８水準３）の表面にバーコーターを用いて均一に塗布し、９５℃の乾燥機中で２分間乾燥して支持フィルム上に均一な第一層を形成した。第一層の厚みは２０μｍであった。次に表１に示す第二層の組成物の水溶液をよく撹拌、混合し、前記第一層を積層された支持フィルムの第一層の表面にバーコーターを用いて均一に塗布し、１００℃の乾燥機中で３分間乾燥して第一層上に均一な第二層を形成した。第二層の厚みは２μｍであった。さらに、支持フィルムに積層された第二層上に、表１に示す感光性樹脂組成物をバーコーターを用いて均一に塗布し、９５℃の乾燥機中で３分間乾燥して均一な感光性樹脂層を形成した。感光性樹脂層の厚みは２μｍであった。
　次いで、感光性樹脂層上の表面上に、保護層として２５μｍ厚のポリエチレンフィルムを張り合わせて感光性樹脂積層体を得た。
＜基板＞
　解像度、密着性、現像後のスソ、硬化レジストパターンのサイドウオールのガタツキ及び表面状態は、絶縁樹脂に８μｍ銅箔を積層した住友金属（株）製エスパーフレックスを用いて評価した。また、ラミネート後のラミネートエアーボイドの評価に関してはＲａ＝０．２程度のフレキシブル基材を用いて評価した。
＜ラミネート＞
　本発明の感光性樹脂積層体の保護層を剥がしながらホットロールラミネーター（旭化成エンジニアリング（株）社製、ＡＬ－７０）により、ロ－ル温度１０５℃でラミネートした。エアー圧力は０．３５ＭＰａとし、ラミネート速度は１．０ｍ／ｍｉｎとした。ラミネートエアーボイド評価（追従性評価）においてはエアー圧力は０．２ＭＰａ、ラミネート速度は２．０ｍ／ｍｉｎとした。
＜露光＞
　ポリエチレンテレフタレートフィルムに第一層が積層された支持フィルムを剥離した後、感光性樹脂層の評価に必要なマスクフィルムを第二層上に置き、超高圧水銀ランプ（オーク製作所製、ＨＭＷ－８０１）により１４０ｍＪ／ｃｍ２の露光量で露光した。
＜現像＞
　３０℃の０．５質量％Ｎａ２ＣＯ３水溶液を所定時間スプレーし、感光性樹脂層の未露光部分を溶解除去した。この際、未露光部分の感光性樹脂層が完全に溶解するのに要する最も少ない時間を最小現像時間とした。実際の現像時間は最小現像時間の２倍で現像し、硬化レジストパターンを得た。
２．評価方法
（１）追従性評価
　前記条件でラミネート後、１００ｍＪで露光し、光学顕微鏡で１０ｃｍ×１０ｃｍの範囲を観察し、ラミネートエアーボイドの数をカウントし、下記ランク付けをした：
　◎：全くラミネートエアーボイドの発生無し；
　○：数個程度ラミネートエアーボイドの発生が認められる；
　△：数十個程度のラミネートエアーボイドの発生が認められる；
　×：無数のラミネートエアーボイドの発生が認められる。
（２）フィルム剥離性評価
　露光前にポリエチレンテレフタレートフィルムに第一層が積層された支持フィルムを剥離する時、剥離性について下記ランク付けをした：
　○：第一層と第二層間で問題なく剥離された；
　×：第一層と第二層間で剥離されず、支持フィルムであるポリエチレンテレフタレートと第一層間または第二層と感光性樹脂層間で剥離された。
（３）感度評価
　ラミネート後１５分経過した感度、解像度評価用基板を、透明から黒色に２１段階に明度が変化しているストーファー製２１段ステップタブレットを用いて露光した。露光後、最小現像時間の２倍の現像時間で現像し、レジスト膜が完全に残存しているステップタブレット段数が４である露光量により、次の様にランク分けした：
　○：露光量が１４０ｍＪ／ｃｍ２以下；
　△：露光量が１４０ｍＪ／ｃｍ２を超え、１５０ｍＪ／ｃｍ２以下；
　×：露光量が１５０ｍＪ／ｃｍ２を超える。
（４）解像性評価
　ラミネート後１５分経過した基板を、露光時のマスクフィルムとして、露光部と未露光部の幅が１：１の比率のラインパターンマスクを用いて、上記のように、露光し、現像した。硬化レジストパターンが正常に形成されている最小マスク幅を解像度の値とし、解像性を下記のようにランク分けした：
　◎：解像度の値が５μｍ以下；
　○：解像度の値が５μｍを超え、１０μｍ以下；
　△：解像度の値が１０μｍを超え、１５μｍ以下；
　×：解像度の値が１５μｍを超える。
（５）密着性評価
　ラミネート後１５分経過した基板を、露光時のマスクフィルムとして、露光部単独のラインパターンマスクを用いて、上記のように、露光し、現像した。硬化レジストパターンが正常に形成されている最小マスク幅を密着性の値とし、密着性を下記のようにランク分けした：
　◎：密着性の値が５μｍ以下；
　○：密着性の値が５μｍを超え、１０μｍ以下；
　△：密着性の値が１０μｍを超え、１５μｍ以下；
　×：密着性の値が１５μｍを超える。
（６）現像後スソ評価
　露光時のマスクフィルムとしてクロムガラスフォトマスクを用いて、上記のように、露光し、現像した。得られた硬化パターンの１０μｍラインの形状を下記によりランク付けした：
　◎：硬化レジストのフット部の切れは良好でスソ引きが無い；
　○：硬化レジストのフット部の切れは良好でスソ引きが極小である；
　△：硬化レジストのフット部に３μｍ以下のスソ引きが認められる；
　×：硬化レジストのフット部に３μｍを超えるスソ引きが認められる。
（７）現像後のレジストサイドウオールのガタツキ評価
　基板にラミネートされた積層体に、クロムガラスフォトマスクを用いて、上記のように、露光し、現像した。得られた硬化パターンの１０μｍラインのレジストサイドウォール形状を下記によりランク付けした：
　○：形成されたレジストサイドウォールにガタツキはほとんど無い；
　△：形成されたレジストサイドウォールにごく僅かにガタツキが存在する；
　×：形成されたレジストサイドウォールのところどころにガタツキが存在する。
（８）現像後の硬化レジスト表面状態評価
　基板にラミネートされた積層体に、クロムガラスフォトマスクを用いて、上記のように、露光し、現像した。得られた硬化パターンの１０μｍラインのレジスト表面状態を下記によりランク付けした：
　○：形成されたレジスト表面には凹みがほとんど無い；
　△：形成されたレジスト表面にごく僅かに凹みが存在する；
　×：形成されたレジスト表面にところどころに凹みが存在する。
３．評価結果
　実施例及び比較例の評価結果を、以下の表１に示す。表１におけるＰ－１～Ｐ－２、Ｑ－２～Ｑ－４の質量部は、メチルエチルケトン溶液としての量である。表１中、比較例１は第一層が無く、比較例２は第二層が無く、比較例３は第二層において上記一般式（Ｉ）又は一般式（ＩＩ）で表される化合物を欠いている。比較例４は、上記一般式（Ｉ）又はい一般式（ＩＩ）で表される化合物の含有量が本願構成を欠いている。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000022
＜記号説明＞
　Ｐ－１：ベンジルメタクリレート８０質量％、メタクリル酸２０質量％の２元共重合体のメチルエチルケトン溶液（固形分濃度５０質量％、重量平均分子量２．５万、酸当量４３０、分散度２．７）
　Ｐ－２：メタクリル酸メチル５０質量％、メタクリル酸２５質量％、スチレン２５質量％の三元共重合体のメチルエチルケトン溶液（固形分濃度３５質量％、重量平均分子量５万、酸当量３４４、分散度３．１）
　Ｍ－１：平均１２モルのプロピレンオキサイドを付加したポリプロピレングリコールにエチレンオキサイドをさらに両端にそれぞれ平均３モル付加したポリアルキレングリコールのジメタクリレート
　Ｍ－２：ビスフェノールＡの両端にそれぞれ平均２モルのプロピレンオキサイドと平均６モルのエチレンオキサイドを付加したポリアルキレングリコールのジメタクリレート
　Ｍ－３：ビスフェノールＡの両端にそれぞれ平均２モルのエチレンオキサイドを付加したポリエチレングリコールのジメタクリレート（新中村化学工業（株）製ＮＫエスエルＢＰＥ－２００）
　Ｍ－４：ビスフェノールＡの両端にそれぞれ平均５モルのエチレンオキサイドを付加したポリエチレングリコールのジメタクリレート（新中村化学工業（株）製ＮＫエスエルＢＰＥ－５００
　Ｍ－５：２，２－ビス｛４－（メタクリロキシペンタエトキシ）シクロヘキシル｝プロパン
　Ｍ－６：ヘキサメチレンジイソシアネートとオリゴプロピレングリコールモノメタクリレート（日本油脂（株）製、ブレンマーＰＰ１０００）との反応物であるウレタンポリプロピレングリコールジメタクリレート
　Ｍ－７：トリメチロールプロパントリメタクリレート
　Ｍ－８：トリオキシエチルトリメチロールプロパントリアクリレート（新中村化学工業（株）製　ＮＫエステルＡ－ＴＭＰＴ－３ＥＯ）
　Ｍ－９：ノナエチレングリコールジアクリレート
　Ｇ－１：４，４’－ビス（ジエチルアミノ）ベンゾフェノン
　Ｇ－２：２－（ｏ－クロロフェニル）－４、５－ジフェニルイミダゾール二量体
　Ｊ－１：ダイアモンドグリーン（保土ヶ谷化学（株）製　アイゼン（登録商標）　ＤＩＡＭＯＮＤ　ＧＲＥＥＮ　ＧＨ）
　Ｊ－２：ロイコクリスタルバイオレット
　Ｌ－１：１－（２－ジ－ｎ－ブチルアミノメチル）－５－カルボキシルベンゾトリアゾールと１－（２－ジ－ｎ－ブチルアミノメチル）－６－カルボキシルベンゾトリアゾールの１：１混合物
　Ｌ－２：ペンタエリスリトールの３，５－ジ－ｔ－ブチル－４－ヒドロキシフェニルプロピオン酸テトラエステル（チバスペシャリティケミカルズ（株）製ＩＲＧＡＮＯＸ２４５）
　Ｑ－１：ポリオキシエチレンモノメチルエーテル（日本油脂（株）製ユオックスＭ－５５０、重量平均分子量５５０）
　Ｑ－２：ポリメタクリル酸メチルのメチルエチルケトン溶液（固形分濃度４０質量％、重量平均分子量６万）
　Ｑ－３：メタクリル酸メチル８０質量％、アクリル酸メチル２０質量％の２元共重合体のメチルエチルケトン溶液（固形分濃度４０質量％、重量平均分子量６万）
　Ｑ－４：メタクリル酸メチル８０質量％、スチレン２０質量％の２元共重合体のメチルエチルケトン溶液（固形分濃度４０質量％、重量平均分子量５万）
　Ｑ－５：フタル酸ジブチル
　Ｑ－６：ポリビニルアルコール（（株）クラレ製　ＰＶＡ－２０５）
　Ｑ－７：ポリエチレングリコール（重量平均分子量４００）
　Ｑ－８：ポリビニルピロリドン（重量平均分子量４万）（（株）日本触媒製、Ｋ－１５（品番））
　本発明によれば、プリント配線板、フレキシブル配線板、ＣＯＦ（チップオンフィルム）用基板、リードフレーム、半導体パッケージ用基板、液晶用透明電極、液晶用ＴＦＴ用配線、ＰＤＰ（プラズマディスプレイパネル）用電極等の導体パタ－ンの製造の分野において、エッチングレジスト又はめっきレジストとして好適である。

Claims (7)

  1. 　支持フィルム上に、層厚が１０μｍ以上１００μｍ以下の第一層と、層厚が０．１μｍ以上１０μｍ以下の第二層と、感光性樹脂層とを順次積層してなる感光性樹脂積層体であって、該第一層が、熱可塑性樹脂を含有し、そして該第二層が、ポリビニルアルコール：７５～９９質量％と、下記一般式（Ｉ）：
    　Ｒ１－Ｏ－（ＣＨ２ＣＨ２Ｏ）ｎ１－Ｒ２　　　（Ｉ）
    ｛式中、Ｒ１及びＲ２は、Ｈ又はＣＨ３であり、これらは同一であっても相違してもよく、そしてｎ１は、３～２５の整数である。｝で表される化合物、及び下記一般式（ＩＩ）：
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000001
     ｛式中、Ｒ３は、Ｈ又は炭素数１～６のアルキル基であり、そしてｎ２は、９～１０，０００の整数である。｝で表される化合物からなる群より選ばれる少なくとも１種の化合物：１～２５質量％、とを含有してなることを特徴とする感光性樹脂積層体。
  2. 　前記熱可塑性樹脂が、下記一般式（Ｉ）：
    　Ｒ１－Ｏ－（ＣＨ２ＣＨ２Ｏ）ｎ１－Ｒ２　　　（Ｉ）
    ｛式中、Ｒ１及びＲ２は、Ｈ又はＣＨ３であり、これらは同一であっても相違してもよく、そしてｎ１は、３～２５の整数である。｝で表される化合物を含有する、請求項１に記載の感光性樹脂積層体。
  3. 　前記感光性樹脂層上に保護層を更に積層してなる、請求項１又は２に記載の感光性樹脂積層体。
  4. 　前記感光性樹脂層が、（ａ）カルボキシル基含有量が酸当量で１００～６００であり、かつ、重量平均分子量が５，０００～５００，０００であるバインダー用樹脂：２０～９０質量％、（ｂ）少なくとも一種の光重合可能な不飽和化合物：３～７０質量％、及び（ｃ）光重合開始剤：０．１～２０質量％、を含有する感光性樹脂組成物からなる層である、請求項１又は２に記載の感光性樹脂積層体。
  5. 　前記（ｂ）少なくとも一種の光重合可能な不飽和化合物が、下記一般式（ＩＩＩ）～（ＶＩＩ）で表される化合物からなる群から選ばれる少なくとも一種の光重合可能な不飽和化合物である、請求項４に記載の感光性樹脂積層体：
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000002
     ｛式中、Ｒ４及びＲ５は、Ｈ又はＣＨ３であり、これらは同一であっても相違してもよく、ｎ３、ｎ４及びｎ５は、それぞれ独立に、３～２０の整数である。｝；
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000003
     ｛式中、Ｒ６及びＲ７は、Ｈ又はＣＨ３であり、これらは同一であっても相違してもよく、Ａは、Ｃ２Ｈ４であり、Ｂは、ＣＨ２ＣＨ（ＣＨ３）であり、ｎ６＋ｎ７は、２～４０の整数であり、ｎ８＋ｎ９は、０～４０の整数であり、ｎ６及びｎ７は、それぞれ独立に、１～３９の整数であり、ｎ８及びｎ９は、それぞれ独立に、０～４０の整数であり、－（Ａ－Ｏ）－及び－（Ｂ－Ｏ）－の繰り返し単位の配列は、ランダムであってもブロックであってもよく、ブロックの場合、－（Ａ－Ｏ）－及び－（Ｂ－Ｏ）－の順序は、何れがビスフェニル基側であってもよい。｝；
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000004
     ｛式中、Ｒ８及びＲ９は、Ｈ又はＣＨ３であり、これらは同一であっても相違してもよく、Ｄは、Ｃ２Ｈ４であり、Ｅは、ＣＨ２ＣＨ（ＣＨ３）であり、ｍ１＋ｍ２は、２～４０の整数であり、ｍ３＋ｍ４は、０～４０の整数であり、ｍ１及びｍ２は、それぞれ独立に、１～３９の整数であり、ｍ３及びｍ４は、それぞれ独立に、０～４０の整数であり、－（Ｄ－Ｏ）－及び－（Ｅ－Ｏ）－の繰り返し単位の配列は、ランダムであってもブロックであってもよく、ブロックの場合、－（Ｄ－Ｏ）－及び－（Ｅ－Ｏ）－の順序は、何れがシクロヘキシル基側であってもよい。｝；
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000005
     ｛式中、Ｒ１０は、炭素数４～１２のジイソシアナート残基であり、Ｒ１１及びＲ１２は、Ｈ又はＣＨ３であり、これらは同一であっても相違してもよく、ｍ５及びｍ６は、１～１５の整数である。｝；
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000006
     ｛式中、Ｒ１３は、Ｈ又はＣＨ３であり、これらは同一であっても相違してもよく、Ｒ１４は、炭素数４～１４のアルキル基であり、Ａ’は、Ｃ２Ｈ４であり、Ｂ’は、ＣＨ２ＣＨ（ＣＨ３）であり、ｍ７は、１～１２であり、ｍ８は、０～１２であり、ｍ９は０～３の整数であり、－（Ａ’－Ｏ）－及び－（Ｂ’－Ｏ）－の繰り返し単位の配列は、ランダムであってもブロックであってもよく、ブロックの場合、－（Ａ’－Ｏ）－及び－（Ｂ’－Ｏ）－の順序は、何れがフェニル基側であってもよい。｝。
  6. 　請求項１又は２に記載の感光性樹脂積層体を金属板又は金属被覆絶縁板の表面にラミネートし、支持フィルムとともに第一層を剥離し、活性光を露光した後、現像により未露光部を除去することを特徴とするレジストパターンの形成方法。
  7. 　請求項６に記載の方法によって、レジストパターンを形成した基板をエッチング又はめっきすることを特徴とする導体パターンの製造方法。
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