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WO2001082212A1 - Interface de connexion entre des lecteurs de cartes à puce et système de connexion entre des lecteurs comprenant une telle interface - Google Patents

Interface de connexion entre des lecteurs de cartes à puce et système de connexion entre des lecteurs comprenant une telle interface Download PDF

Info

Publication number
WO2001082212A1
WO2001082212A1 PCT/FR2001/001113 FR0101113W WO0182212A1 WO 2001082212 A1 WO2001082212 A1 WO 2001082212A1 FR 0101113 W FR0101113 W FR 0101113W WO 0182212 A1 WO0182212 A1 WO 0182212A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
interface
readers
card
smart card
connection
Prior art date
Application number
PCT/FR2001/001113
Other languages
English (en)
Inventor
Michaël LEPLATOIS
Hervé CUNIN
Original Assignee
Gemplus
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Gemplus filed Critical Gemplus
Publication of WO2001082212A1 publication Critical patent/WO2001082212A1/fr

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06K—GRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
    • G06K7/00—Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns
    • G06K7/0013—Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns by galvanic contacts, e.g. card connectors for ISO-7816 compliant smart cards or memory cards, e.g. SD card readers
    • G06K7/0021—Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns by galvanic contacts, e.g. card connectors for ISO-7816 compliant smart cards or memory cards, e.g. SD card readers for reading/sensing record carriers having surface contacts

Definitions

  • the invention relates to a connection interface between at least two smart card readers.
  • connection system comprising such an interface and at least two readers.
  • the field of the invention is that of systems allowing a smart card to be connected to several smart card readers with contact.
  • the invention applies in particular to reader test systems, that is to say to the testing of terminals communicating with a smart card.
  • terminals communicating with a smart card.
  • ATMs or payment terminals in particular those that merchants present to us today when paying by bank card.
  • These tests commonly comprise around 300 steps constituting a battery of tests.
  • FIG. 1 a simulator shown in Figure 1 comprising an Sde probe connected to a device D itself connected to a PC computer. Once the Sde probe has been partially inserted into the terminal A to be tested, this simulator makes it possible to execute the battery of tests residing in the PC at once. But this system is expensive, not portable and cannot be used for testing terminals in which the chip card is fully inserted, such as ATMs.
  • test card it is a smart card CP personalized by a reader B connected to a computer PC in which the test battery resides.
  • a smart card comprises a microcircuit essentially comprising an input-output interface, a microprocessor, an operating program memory, for example ROM (“Read Only Memory” in English designating a read only memory). ), a memory of application programs (s), for example EEPROM (“Electrically Erasable Programmable Read Only Memory” in English, designating a read-only memory programmable by the user and erasable electrically), a working memory for example RAM (“ Random Access Memory "in English, designating a volatile random access memory).
  • ROM Read Only Memory
  • EEPROM Electrically Erasable Programmable Read Only Memory
  • RAM Random Access Memory
  • the input-output interface is in the case of smart cards with contacts produced by an asynchronous reception or transmission unit and a connector generally comprising eight contact pads C1, ..., C8 flush with the card.
  • Each of these contacts is assigned to a specific signal: C1 to the supply voltage signal denoted Vcc, C2 to the reset signal denoted RST, C3 to the clock signal denoted CLK, C5 to the electrical ground denoted GND, C6 at the voltage of programming noted Vpp, C7 at the serial data inputs and outputs, C4 and C8 being reserved for future needs.
  • the CP card is inserted in the reader B.
  • the connection to the reader B is established by the contacts and the data transfer takes place through the input-output contact (C7).
  • the CP card is manually inserted into terminal A so as to subject terminal A to the test.
  • the connection is established as described for reader B.
  • the CP card does not contain the entire test battery, in particular due to the insufficient size of its memory. It could however contain for example ten tests but in this case, if the terminal rejects the card on the first of these ten tests, it is not known if the following tests are good. This is why in practice, we prefer to separate the tests. It is therefore necessary to carry out numerous manipulations around 300, each manipulation consisting in personalizing the CP card with one of the tests of the test battery and then manually inserting the CP card in the terminal A in order to test it. This solution is economical, allows you to take advantage of the portability of the CP test card but requires many manipulations.
  • the object of the invention is to propose an economical solution which does not require all these manipulations.
  • the subject of the invention is a connection interface between at least two contact smart card readers, mainly characterized in that it comprises means for connection to a smart card micromodule, means for connection to said readers and a switch capable of alternately establishing a connection between said micromodule of the chip card and one of the readers then between said micromodule of the card and another reader.
  • the means of connection to the readers each comprise a connector provided with flush contact areas arranged on the interface so as to allow the partial insertion of the interface into the reading slot for smart cards. readers.
  • the functional elements of one of the readers are integrated into the interface.
  • the smart card micromodule can also be integrated into the interface. It can itself be in a smart card.
  • the smart card can be fixed in the interface, or the interface comprising a slot for inserting a smart card, inserted in said slot.
  • one of the readers is able to control the switch.
  • connection means consisting of contacts each assigned to a signal specific
  • the switch is controlled by one of these specific signals.
  • This specific signal can be a supply voltage signal or a reset signal.
  • the invention also relates to a connection system comprising an interface as described above and at least two readers, characterized in that one of the readers comprises an application program comprising subroutines capable of being transferred to the chip card micromodule as they run on the other reader.
  • the application is a test application for the other reader.
  • the switch is controlled by the application.
  • FIG. 1 represents a simulator for testing smart card readers according to the state of the art
  • FIG. 2 describes the use of a test card to carry out tests on readers according to another state of the art
  • FIG. 3 shows the principle of the interface according to the invention
  • FIG. 4 a represents the connections between the switch and the means of connection to the terminal, to the reader and to the smart card,
  • the interface I according to the invention shown in FIG. 3 is connected to a reader B and to a terminal A; it allows on the one hand to connect the smart card CP to which it is also connected, to a reader B used to personalize the CP card into a test card.
  • This reader B is indeed connected to a PC computer in which the test battery resides. Different readers could be successively used to personalize the CP card.
  • the interface I also makes it possible to connect the test card CP to the terminal A to be tested.
  • a device which makes it possible to avoid short-circuits: in fact, the signals usually used by smart cards (the supply voltage signal Vcc, ground GND, reset signal RST, clock signal CLK, programming voltage Vpp and I / O 10 in series of cannot be activated by reader B while terminal A transmits them.
  • the signals usually used by smart cards the supply voltage signal Vcc, ground GND, reset signal RST, clock signal CLK, programming voltage Vpp and I / O 10 in series of cannot be activated by reader B while terminal A transmits them.
  • the interface I comprises a switch C, means of connection CxB to the reader B, CxA to the terminal A and a location E intended to receive the smart card CP, this location E being provided with connection means CxCP to the CP smart card.
  • connection means CxA, CxB, CxCP can take the form of the connector comprising eight contact pads as described above.
  • These connection means are interconnected via the switch C as described in Figure 4 a).
  • the interface I is connected to the smart card CP, to the reader B and to the terminal A but only two states are authorized by the switch C.
  • the switch C is in the state 1 represented in FIG. 4 b), that is to say the state establishing the connection between the CP card and the reader
  • Reader B can then personalize the CP card with a test of the test battery.
  • the switch C then switches to state 2, that is to say the state establishing the connection between the card CP and the terminal A; the CP card and reader B are no longer connected.
  • the personalized CP card can then carry out the corresponding test of terminal A.
  • the switch switches to state 1 to personalize the CP card with the next test step and so on until the whole battery of tests has been carried out. Switching the switch from one state to another can be done in several ways.
  • the switching from one state to another can be activated by one of the signals mentioned above and in particular the signal Vcc: in fact, this signal goes to 5 V at the start of the transaction and goes back down to 0 V at the end of the transaction.
  • transaction is meant the personalization of the PC card or the test of terminal A.
  • the switch can thus be controlled by this signal according to the diagram shown in FIG. 5.
  • the level of the signal Vcc of the reader B goes from 5 to 0 V
  • the toggle switch from state 1 of personalization of the CP card to test state 2 of terminal A.
  • the switch toggles from state 2 test of terminal A to state 1 of personalization of the CP card.
  • the switch C systematically switches to state 1 as soon as the signal RST is activated.
  • the switchover can also be activated by other signals than the signals mentioned above. Indeed, since the contacts C4 and C8 are not generally used by smart cards, we can envisage new signals assigned to these contacts C4 and C8 and use one to control the switching of the switch from one state to another.
  • Each personalization step of the CP card will include an end-of-personalization instruction consisting in switching the switch from the personalization state 1 of the CP card to the test state 2 of terminal A.
  • each test step will include a end of test instruction consisting in switching the switch from state 2 of test of terminal A to state 1 of personalization of the CP card.
  • the interface I is independent of the terminal A, the reader B and the chip card CP.
  • the interface I in which the CP card is partially or totally inserted is partly inserted in the reader B and partly inserted in the terminal A.
  • the test battery can then start and run as previously described.
  • the functional elements of the reader B are integrated into the interface I.
  • reader B denote all of the hardware and software elements that allow it to operate, that is to say the reader stripped of its case.
  • the interface I into which the CP card is partially or totally inserted.
  • the terminal A to be tested operates with a total insertion of the chip card CP such as for example cash dispensers
  • the interface I cannot be used but its configuration allows the chip card CP to be used alone according to the procedure of figure 2 requiring manual manipulations.
  • the smart card CP is integrated into the interface I as well as the reader B.
  • the smart card CP can be replaced by its micromodule or by a card the size of the micromodule , the contact pads of said micromodule being in contact with the CxCP connections of the interface I.
  • the interface I comprises means of connection CxCP to a micromodule, whether the latter is alone or integrated in a support card.
  • the card can be fixed in the interface I as we have seen or removable as in a conventional reader.

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Artificial Intelligence (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Credit Cards Or The Like (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)

Abstract

L'invention concerne une interface (I) de connexion entre au moins deux lecteurs de cartes à puce à contact, caractérisée en ce qu'elle comprend des moyens de connexion (CxCP) à un micromodule de carte à puce (CP), des moyens de connexion (CxA, CxB) auxdits lecteurs et un commutateur (C) apte à établir alternativement une connexion entre ledit micromodule de la carte à puce (CP) et un des lecteurs puis entre ledit micromodule de la carte (CP) et un autre lecteur.

Description

INTERFACE DE CONNEXION ENTRE DES LECTEURS DE CARTES A PUCE ET SYSTEME DE CONNEXION ENTRE DES LECTEURS COMPRENANT UNE
TELLE INTERFACE
L'invention concerne une interface de connexion entre au moins deux lecteurs de cartes à puce.
Elle concerne également un système de connexion comprenant une telle interface et au moins deux lecteurs. Le domaine de 1 ' invention est celui des systèmes permettant à une carte à puce d'être reliée à plusieurs lecteurs de carte à puce à contact.
L'invention s'applique en particulier aux systèmes de test de lecteurs c'est-à-dire au test de terminaux communiquant avec une carte à puce . On peut citer comme exemple de tels terminaux, les distributeurs de billets ou encore les terminaux de paiement notamment ceux que nous présentent actuellement les commerçants lors d'un paiement par carte bancaire. Ces tests comprennent couramment environ 300 étapes constituant une batterie de tests.
Parmi ces systèmes de test on connaît un simulateur représenté figure 1 comprenant une sonde Sde reliée à un dispositif D lui-même relié à un ordinateur PC. Une fois la sonde Sde insérée en partie dans le terminal A à tester, ce simulateur permet d'exécuter en une fois la batterie de tests résidant dans le PC. Mais ce système est coûteux, non portable et ne peut être utilisé pour tester des terminaux dans lesquels la carte à puce est totalement insérée tel que les distributeurs de billets.
Une autre solution représentée figure 2 consiste à utiliser une carte de test : il s'agit d'une carte à puce CP personnalisée par un lecteur B relié à un ordinateur PC dans lequel réside la batterie de tests.
On rappelle qu'une carte à puce (s) comporte un microcircuit comprenant essentiellement une interface d'entrée-sortie, un microprocesseur, une mémoire de programme de fonctionnement par exemple ROM (« Read Only Memory » en anglais désignant une mémoire à lecture seule), une mémoire de programmes d'application (s) par exemple EEPROM («Electrically Erasable Programmable Read Only Memory" en anglais, désignant une mémoire morte programmable par l'utilisateur et effaçable électriquement ) , une mémoire de travail par exemple RAM (« Random Accès Memory » en anglais, désignant une mémoire vive volatile) .
L'interface d'entrée-sortie est dans le cas des cartes à puces à contacts réalisée par une unité asynchrone de réception ou de transmission et un connecteur comprenant en général huit plages de contacts Cl, ..., C8 affleurant sur la carte. Chacun de ces contacts est affecté à un signal spécifique : Cl au signal de tension d'alimentation notée Vcc, C2 au signal de remise à zéro noté RST, C3 au signal d'horloge noté CLK, C5 à la masse électrique notée GND, C6 à la tension de programmation notée Vpp, C7 aux entrées-sorties série des données, C4 et C8 étant réservés aux besoins futurs .
Afin de pouvoir transférer du lecteur B à la carte à puce CP une étape de la batterie de test, la carte CP est insérée dans le lecteur B. La connexion au lecteur B s'établit par les contacts et le transfert des données s'effectue à travers le contact entrée-sortie (C7) .
Une fois personnalisée, la carte CP est insérée manuellement dans le terminal A de façon à soumettre le terminal A au test. La connexion s'établit comme décrit pour le lecteur B.
Mais la carte CP ne contient pas l'ensemble de la batterie de tests en raison en particulier de la taille insuffisante de sa mémoire. Elle pourrait cependant contenir par exemple une dizaine de tests mais dans ce cas, si le terminal rejette la carte sur le premier de ces dix tests, on ne sait pas si les tests suivants sont bons. C'est pourquoi dans la pratique, on préfère séparer les tests. Il est donc nécessaire de procéder à de nombreuses manipulations environ 300, chaque manipulation consistant à personnaliser la carte CP avec un des tests de la batterie de test puis à insérer manuellement la carte CP dans le terminal A en vue de le tester. Cette solution est économique, permet de profiter de la portabilité de la carte de test CP mais nécessite de nombreuses manipulations .
Le but de l'invention est de proposer une solution économique ne nécessitant pas toutes ces manipulations. L'invention a pour objet une interface de connexion entre au moins deux lecteurs de cartes à puce à contact, principalement caractérisée en ce qu'elle comprend des moyens de connexion à un micromodule de carte à puce, des moyens de connexion auxdits lecteurs et un commutateur apte à établir alternativement une connexion entre ledit micromodule de la carte à puce et un des lecteurs puis entre ledit micromodule de carte et un autre lecteur.
Selon une caractéristique de l'invention, les moyens de connexion aux lecteurs comportent chacun un connecteur muni de plages de contacts affleurants disposés sur l'interface de manière à permettre l'insertion partielle de l'interface dans la fente de lecture pour cartes à puce des lecteurs. Selon un mode de réalisation de l'invention, les éléments fonctionnels d'un des lecteurs sont intégrés à 1 ' interface.
Le micromodule de carte à puce peut aussi être intégré à l'interface. Il peut lui-même être dans une carte à puce .
La carte à puce peut être fixée dans l'interface, ou l'interface comportant une fente d'insertion d'une carte à puce, insérée dans ladite fente.
Selon une autre caractéristique de l'invention, un des lecteurs est apte à commander le commutateur.
Plus particulièrement, les moyens de connexion consistant en des contacts affectés chacun à un signal spécifique, la commande du commutateur est réalisée par un de ces signaux spécifiques.
Ce signal spécifique peut être un signal de tension d'alimentation ou encore un signal de remise à zéro. L'invention a également pour objet un système de connexion comprenant une interface telle que décrite précédemment et au moins deux lecteurs, caractérisé en ce qu'un des lecteurs comporte un programme d'application comprenant des sous-programmes susceptibles d'être transférés sur le micromodule de carte à puce au fur et à mesure de leur exécution sur l'autre lecteur.
Selon une caractéristique de l'invention, l'application est une application de test de l'autre lecteur. Selon une autre caractéristique, la commande du commutateur est réalisée par l'application.
D'autres particularités et avantages de l'invention apparaîtront clairement à la lecture de la description faite à titre d'exemple non limitatif et en regard des dessins annexés sur lesquels :
- la figure 1 représente un simulateur de tests de lecteurs de cartes à puce selon l'état de la technique,
- la figure 2 décrit l'utilisation d'une carte de test pour effectuer des tests sur des lecteurs selon un autre état de la technique,
- la figure 3 présente le principe de 1 ' interface selon 1 ' invention, - la figure 4 a) représente les connexions entre le commutateur et les moyens de connexion au terminal , au lecteur et à la carte à puce,
- la figure 4 b) met en évidence les deux états de connexion de l'interface,
- la figure 5 schématise le basculement d'un état à 1 ' autre,
- les figures 6 a), 6 b) et 6c) représentent trois exemples de réalisation de l'invention.
L'interface I selon l'invention représentée figure 3 est connectée à un lecteur B et à un terminal A ; elle permet d'une part de relier la carte à puce CP à laquelle elle est également connectée, à un lecteur B utilisé pour personnaliser la carte CP en une carte de test. Ce lecteur B est en effet relié à un ordinateur PC dans lequel réside la batterie de test. Différents lecteurs pourraient être successivement utilisés pour personnaliser la carte CP.
L'interface I permet d'autre part de relier la carte de test CP au terminal A à tester.
Comme la carte de test CP est en relation avec les deux lecteurs, il est prévu un dispositif permettant d'éviter les court-circuits : en effet, les signaux habituellement utilisés par les cartes à puce (le signal de tension d'alimentation Vcc, la masse GND, le signal de remise à zéro RST, le signal d'horloge CLK, la tension de programmation Vpp et les entrée-sorties 10 en série des données) ne peuvent être activés par le lecteur B alors que le terminal A les transmet .
A cet effet, l'interface I comprend un commutateur C, des moyens de connexion CxB au lecteur B, CxA au terminal A et un emplacement E destiné à recevoir la carte à puce CP, cet emplacement E étant pourvu de moyens de connexion CxCP à la carte à puce CP. Ces moyens de connexion CxA, CxB, CxCP peuvent prendre la forme du connecteur comportant huit plages de contact tel que décrit précédemment. Ces moyens de connexion sont reliés entre eux par l'intermédiaire du commutateur C comme décrit figure 4 a) .
En mode fonctionnement, l'interface I est reliée à la carte à puce CP, au lecteur B et au terminal A mais seulement deux états sont autorisés par le commutateur C.
Dans un premier temps, le commutateur C est dans l'état 1 représenté figure 4 b) , c'est-à-dire l'état établissant la connexion entre la carte CP et le lecteur
B ; la carte CP et le terminal A ne sont alors plus connectés. Le lecteur B peut alors personnaliser la carte CP avec un test de la batterie de tests.
La personnalisation achevée, le commutateur C bascule alors dans l'état 2 c'est-à-dire l'état établissant la connexion entre la carte CP et le terminal A ; la carte CP et le lecteur B ne sont alors plus connectés. La carte CP personnalisée peut alors procéder au test correspondant du terminal A. Ce test achevé, le commutateur bascule dans l'état 1 pour personnaliser la carte CP avec l'étape de test suivante et ainsi de suite jusqu'à ce que toute la batterie de tests soit effectuée. Le basculement du commutateur d'un état à l'autre peut s'effectuer selon plusieurs méthodes.
Le basculement d'un état à un autre peut être activé par un des signaux cités précédemment et notamment le signal Vcc : en effet, ce signal passe à 5 V en début de transaction et redescend à 0 V en fin de transaction. On entend par transaction la personnalisation de la carte PC ou le test du terminal A. Le commutateur peut ainsi être commandé par ce signal selon le schéma représenté figure 5. Lorsque le niveau du signal Vcc du lecteur B passe de 5 à 0 V, le commutateur bascule de l'état 1 de personnalisation de la carte CP vers l'état 2 de test du terminal A. De même lorsque le niveau du signal Vcc du terminal A passe de 5 à 0 V, le commutateur bascule de l'état 2 de test du terminal A vers l'état 1 de personnalisation de la carte CP.
On peut également prévoir que le commutateur C bascule systématiquement dans l'état 1 dès que le signal RST est activé. Le basculement peut aussi être activé par d'autres signaux que les signaux cités précédemment. En effet, les contacts C4 et C8 n'étant généralement pas utilisés par les cartes à puce, on peut envisager de nouveaux signaux affectés à ces contacts C4 et C8 et en utiliser un pour commander le basculement du commutateur d'un état vers 1 ' autre .
Le basculement peut également être prévu par le logiciel de test. Chaque étape de personnalisation de la carte CP inclura une instruction de fin de personnalisation consistant à basculer le commutateur de l'état 1 de personnalisation de la carte CP vers l'état 2 de test du terminal A. De même chaque étape de test inclura une instruction de fin de test consistant à basculer le commutateur de l'état 2 de test du terminal A vers l'état 1 de personnalisation de la carte CP.
D'autres méthodes sont envisageables.
On va à présent décrire trois modes de réalisation de l'invention.
Selon le premier mode de réalisation représenté figure 6 a), 1 ' interface I est indépendante du terminal A, du lecteur B et de la carte à puce CP. Avant de démarrer la batterie de tests, l'interface I dans laquelle est insérée partiellement ou totalement la carte CP, est en partie insérée dans le lecteur B et en partie insérée dans le terminal A. La batterie de tests peut alors débuter et se dérouler comme décrit précédemment .
Dans un deuxième mode de réalisation, les éléments fonctionnels du lecteur B sont intégrés à l'interface I.
On désigne par éléments fonctionnels du lecteur B, l'ensemble des éléments matériels et logiciels lui permettant de fonctionner, c'est-à-dire le lecteur débarrassé de son boîtier. Avant de démarrer la batterie de tests, il suffit d'insérer en partie dans le terminal A 1 ' interface I dans laquelle est insérée partiellement ou totalement la carte CP . Dans le cas où le terminal A à tester fonctionne avec une insertion totale de la carte à puce CP comme par exemple les distributeurs de billets, l'interface I ne peut être utilisée mais sa configuration permet d'utiliser la carte à puce CP seule selon la procédure de la figure 2 nécessitant les manipulations manuelles. Ces deux premiers modes de réalisation présentent une grande adaptabilité aux diverses situations de terminaux à tester.
Selon le troisième mode de réalisation présenté figure 6 c) , la carte à puce CP est intégrée dans l'interface I ainsi que le lecteur B. La carte à puce CP peut être remplacée par son micromodule ou par une carte de la taille du micromodule, les plages de contact dudit micromodule étant en contact avec les connexions CxCP de l'interface I. Avant de démarrer la batterie de tests, il suffit d'insérer en partie l'interface I dans le terminal A. Cette solution est la plus compacte des trois.
Dans tous les cas de figure, l'interface I comprend des moyens de connexion CxCP à un micromodule, que ce dernier soit seul ou intégré dans une carte support . La carte peut être fixée dans l'interface I comme on l'a vu ou amovible comme dans un lecteur classique.

Claims

REVENDICATIONS
1. Interface (I) de connexion entre au moins deux lecteurs de cartes à puce à contact, caractérisée en ce qu'elle comprend des moyens de connexion (CxCP) à un micromodule de carte à puce (CP) , des moyens de connexion (CxA, CxB) auxdits lecteurs et un commutateur (C) apte à établir alternativement une connexion entre ledit micromodule de carte à puce (CP) et un des lecteurs puis entre ledit micromodule de carte (CP) et un autre lecteur.
2. Interface (I) selon la revendication précédente, caractérisée en ce que les moyens de connexion (CxA, CxB) aux lecteurs comportent chacun un connecteur muni de plages de contacts affleurants disposés sur l'interface
(I) de manière à permettre l'insertion partielle de l'interface (I) dans la fente de lecture pour cartes à puce des lecteurs .
3. Interface (I) selon l'une des revendications précédentes, caractérisée en ce que les éléments fonctionnels d'un des lecteurs sont intégrés à l'interface (D •
4. Interface (I) selon l'une des revendications précédentes, caractérisée en ce que le micromodule de carte à puce (CP) est intégré à l'interface (I) .
5. Interface (I) selon l'une des revendications 1 à 3, caractérisée en ce que le micromodule de carte à puce (CP) est dans une carte à puce.
6. Interface (I) selon la revendication précédente, caractérisée en ce que la carte à puce est fixée dans 1' interface (I) .
7. Interface (I) selon la revendication 5, caractérisée en ce que l'interface (I) comporte une fente d'insertion d'une carte à puce et en ce que la carte à puce est susceptible d'être insérée dans ladite fente.
8. Interface (I) selon l'une des revendications précédentes, caractérisée en ce qu'un des lecteurs est apte à commander le commutateur (C) .
9. Interface (I) selon l'une des revendications précédentes, les moyens de connexion consistant en des contacts affectés chacun à un signal spécifique, caractérisée en ce que la commande du commutateur (C) est réalisée par un de ces signaux spécifiques.
10. Interface (I) selon la revendication précédente, caractérisée en que le signal spécifique est un signal de tension d'alimentation.
11. Interface (I) selon la revendication 9, caractérisée en ce que le signal spécifique est un signal de remise à zéro.
12. Système de connexion comprenant une interface (I) selon l'une des revendications précédentes et au moins deux lecteurs, caractérisé en ce qu'un des lecteurs comporte un programme d'application comprenant des sous- programmes susceptibles d'être transférés sur le micromodule de carte à puce (CP) au fur et à mesure de leur exécution sur l'autre lecteur.
13. Système de connexion selon la revendication précédente caractérisé en ce que l'application est une application de test de l'autre lecteur.
14. Système selon l'une des revendications 12 ou 13, caractérisé en ce que la commande du commutateur (C) est réalisée par l'application.
PCT/FR2001/001113 2000-04-25 2001-04-11 Interface de connexion entre des lecteurs de cartes à puce et système de connexion entre des lecteurs comprenant une telle interface WO2001082212A1 (fr)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR0005251A FR2808100B1 (fr) 2000-04-25 2000-04-25 Interface de connexion entre des lecteurs de cartes a puce et systeme de connexion entre des lecteurs comprenant une telle interface
FR00/05251 2000-04-25

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2001082212A1 true WO2001082212A1 (fr) 2001-11-01

Family

ID=8849562

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/FR2001/001113 WO2001082212A1 (fr) 2000-04-25 2001-04-11 Interface de connexion entre des lecteurs de cartes à puce et système de connexion entre des lecteurs comprenant une telle interface

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