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TWM493038U - 尺寸測試裝置 - Google Patents

尺寸測試裝置 Download PDF

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Publication number
TWM493038U
TWM493038U TW102206331U TW102206331U TWM493038U TW M493038 U TWM493038 U TW M493038U TW 102206331 U TW102206331 U TW 102206331U TW 102206331 U TW102206331 U TW 102206331U TW M493038 U TWM493038 U TW M493038U
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
test
component
sensor
testing
controller
Prior art date
Application number
TW102206331U
Other languages
English (en)
Inventor
wei-zhong Dai
Qun-Fan Xu
Original Assignee
Hon Hai Prec Ind Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hon Hai Prec Ind Co Ltd filed Critical Hon Hai Prec Ind Co Ltd
Publication of TWM493038U publication Critical patent/TWM493038U/zh

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B5/00Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B5/02Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring length, width or thickness
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B5/00Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B5/0002Arrangements for supporting, fixing or guiding the measuring instrument or the object to be measured

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)

Description

尺寸測試裝置
本新型涉及一種測試裝置,尤其涉及一種測試工件尺寸之尺寸測試裝置。
一般對工件尺寸進行測試時,需要對工件之長度、寬度、厚度及不同高度之表面之間之段差進行測試,然後根據測試結果與預設範圍進行對比,判斷工件為良品或不良品。一般採用尺寸測試裝置測試工件之長度及寬度,尺寸測試裝置包括測試台、長邊測試機構、短邊測試機構及與該長邊測試機構和該短邊測試機構電性連接之控制器。長邊測試機構、短邊測試機構及厚度測試機構分別活動地安裝於測試台上,並與工件相接觸,以得出長邊測試機構和短邊測試機構之位移。控制器根據長邊測試機構及短邊測試機構之位移與預設範圍進行對比,判斷工件之長度及寬度為良品或不良品。由於一些工件之底面邊緣上形成凹槽或凸起而形成有高度不同之第一表面及第二表面,需測試第一表面及第二表面之段差。然,現有之尺寸測試裝置僅能測試長度及寬度,無法同時測試出工件之厚度及第一表面及第二表面之間之段差。目前,業界只能利用千分錶人工測試工件之厚度及第一表面及第二表面之間之段差,使得測試花費時間長,且測試效率較低。
鑒於以上內容,有必要提供一種提高測試效率之尺寸測試裝置。
一種尺寸測試裝置,用以自動測試工件之尺寸,該工件包括不同高度之第一表面及第二表面,該尺寸測試裝置包括測試台、長邊測試機構、短邊測試機構及與該長邊測試機構和該短邊測試機構電性連接之控制器,該長邊測試機構及該短邊測試機構分別安裝於該測試台上,該尺寸測試裝置還包括與該控制器電性連接之段差測試機構,該測試台包括固定板及安裝於該固定板上之支撐架,該長邊測試機構及該短邊測試機構分別安裝於該固定板上,該段差測試機構包括第一測試組件及第二測試組件,該第一測試組件及該第二測試組件均包括固定於該支撐架之感測器、可移動裝設於該感測器上之測試件及與該測試件相連接之驅動件,該第一測試組件之感測器及該第二測試組件之感測器均與該控制器電性連接,該驅動件驅動對應之測試件分別接觸該第一表面與第二表面,該第一測試組件之感測器與該第二測試組件之感測器分別測得對應之測試件之伸縮量,該控制器根據測得之伸縮量差與預設範圍進行對比,以判斷該工件之段差是否合格。
上述尺寸測試裝置採用之長邊測試機構、短邊測試機構及段差測試機構相對工件運動,並分別與工件之頂面、底面、側壁及不同高度之第一表面與第二表面相接觸,以得出長邊測試機構、短邊測試機構及段差測試機構之伸縮量,並將伸縮量傳送至控制器,控制器將長邊測試機構、短邊測試機構及段差測試機構之位移與預設範圍進行對比,以判斷出工件之尺寸是否符合要求,因此,可一次性測試工件之長度、寬度及不同高度之第一表面與第二表面之段差是否符合要求,從而節省測試時間,進而提高了測試效率。
100‧‧‧尺寸測試裝置
200‧‧‧工件
201‧‧‧底面
203‧‧‧頂面
205‧‧‧第一側壁
207‧‧‧第二側壁
208‧‧‧台階面
2081‧‧‧第一表面
2083‧‧‧第二表面
10‧‧‧測試台
11‧‧‧安裝板
112‧‧‧定位槽
1121‧‧‧測試孔
113‧‧‧第一側面
115‧‧‧第二側面
116‧‧‧測試槽
12‧‧‧固定板
13‧‧‧支撐架
131‧‧‧導軌
30‧‧‧長邊測試機構
31、51、712、731、813、831‧‧‧感測器
33、53、713、733、815、835‧‧‧測試件
50‧‧‧短邊測試機構
60‧‧‧移動機構
61‧‧‧支撐座
612‧‧‧支撐部
613‧‧‧連接部
63‧‧‧第一驅動件
70‧‧‧厚度測試機構
71‧‧‧上部測試組件
73‧‧‧下部測試組件
80‧‧‧段差測試機構
81‧‧‧第一測試組件
83‧‧‧第二測試組件
圖1係本新型實施方式之尺寸測試裝置之立體示意圖。
圖2係圖1所示尺寸測試裝置之另一視角之立體示意圖。
圖3係圖1所示尺寸測試裝置之分解示意圖。
圖4係圖1所示尺寸測試裝置之沿IV-IV線之剖視圖。
圖5係圖1所示尺寸測試裝置之部分使用狀態圖。
圖6係圖5所示尺寸測試裝置之VI處局部放大示意圖。
請參閱圖1,本新型實施方式之尺寸測試裝置100,用以自動測試工件200之尺寸。本實施方式中,尺寸測試裝置100用於測試工件200之長度、寬度、厚度及不同高度之表面之間之段差是否滿足預定之尺寸範圍。工件200大致呈矩形板狀,其包括相對之底面201與頂面203(請參閱圖4)以及由底面201邊緣朝向遠離頂面203之方向彎折延伸形成之二第一側壁205及二第二側壁207(請參閱圖5)。二第一側壁205相對平行設置,並分別與二第二側壁207相垂直連接。底面201上靠近二第一側壁205及二第二側壁207之位置處由於形成凹槽或凸起而形成有高度不同之第一表面2081及第二表面2083(請參閱圖6),第一表面2081與第二表面2083相互平行,第一表面2081位於第二表面2083之下方。於本實施方式中,工件200上設有複數測試點,該測試點分為長度、寬度、厚度及第一表面2081及第二表面2083之間之段差。工件200之長度為二第二側壁207之間之距離,寬度為二第一側壁205之間之距離,厚度為底面201與頂面203之間之距離。尺寸測試裝置100包括測試台10、四長邊測試機構30、四短邊測試機構50、移動機構60、二厚度測試機構70、複數段差測試機構80及控制器(圖未示)。
請一併參閱圖3,測試台10大致呈矩形板狀,其包括安裝板11、固定板12及支撐架13。安裝板11及支撐架13分別固定安裝於固定板12上。安裝板11上凹設有與工件200相匹配之定位槽112,工件200收容於定位槽112內。定位槽112底面上貫通固定板12開設有二測試孔1121。安裝板11大致呈矩形板狀,其包括垂直相連之二第一側面113及二第二側面115。二第一側面113相對平行設置,並分別與二第二側面115垂直連接。每一第一側面113及每一第二側面115均間隔開設有二測試槽116,每一測試槽116與定位槽112相連通。支撐架13裝設於固定板12上,並靠近安裝板11設置。支撐架13靠近安裝板11之一側上豎直地間隔凸設有二導軌131,二導軌131相互平行設置。
控制器裝設於鄰近測試台10之位置處。本實施方式中,控制器中預設有各測試點之預設尺寸範圍,預設尺寸範圍為符合要求之工件200之尺寸範圍。控制器分別與四長邊測試機構30、四短邊測試機構50、厚度測試機構70及段差測試機構80電性連接。
本實施方式中,長邊測試機構30及短邊測試機構50分別安裝於固定板12上,且其之結構相同,為節省篇幅,重點表述長邊測試機構30之結構。
請一併參閱圖1及圖3,四長邊測試機構30相對安裝於二第二側面115上。每一長邊測試機構30均包括感測器31、測試件33及驅動件(圖未示)。感測器31固定裝設於安裝板11之第二側面115上,並部分收容於測試槽116內,且與控制器電性連接。測試件33活動地收容於感測器31內,且測試件33之一端收容於測試槽116內,另一端與驅動件相連接。測試件33於驅動件之驅動下相對感測器31運動,以與工件200之第二側壁207相接觸。感測器31能夠讀取測試件33位移,並將該位移傳送至控制器。控制器根據長邊測試機構30之測試件33位移,並與預設長度範圍進行對比,以判斷工件200之長度是否符合要求。
四短邊測試機構50相對安裝於測試台10上,並靠近安裝板11之第一側面113設置。短邊測試機構50包括感測器51、測試件53及驅動件(圖未示)。短邊測試機構50之感測器51固定安裝於安裝板11之第一側面113上,並與該控制器電性連接。測試件53活動地安裝於感測器51,並收容於測試槽116內,且與短邊測試機構50之驅動件相連接。測試件53於驅動件之驅動下相對感測器51運動,以與工件200之第一側壁205相接觸,感測器51能夠讀取測試件53之位移,並將該位移傳送至控制器。控制器根據短邊測試機構50之測試件53位移,並與預設寬度範圍進行對比,以判斷工件200之寬度是否符合要求。
請一併參閱圖1,移動機構60安裝於測試台10之支撐架13上,並位於安裝板11之上方。移動機構60包括支撐座61及第一驅動件63。支撐座61活動地安裝於測試台10之支撐架13之二導軌131上,其包括支撐部612及與支撐部612垂直連接之連接部613。連接部613活動地安裝於安裝板11之導軌131上。第一驅動件63安裝於支撐架13上,並與支撐座61之連接部613相連接,以驅動支撐座61沿著導軌131豎直運動。
請一併參閱圖2至圖4,二厚度測試機構70包括上部測試組件71及下部測試組件73。本實施方式中,上部測試組件71及下部測試組件73之結構與長邊測試機構30之結構大致相同,上部測試組件71包括感測器712、可移動裝設於上部測試組件71之感測器712上之測試件713及與上部測試組件71之測試件713相連接之驅動件(圖未示),下部測試組件73包括感測器731、測試件733及驅動件(圖未示)。上部測試組件71之感測器712間隔固定安裝於支撐部612之中部上,並與控制器電性連接。測試件713於上部測試組件71之驅動件之驅動下相對感測器712運動,以與工件200之底面201相接觸,感測器712能夠讀取測試件713位移,並將位移傳送至控制器。下部測試組件73之感測器731固定安裝於固定板12背離安裝板11之一側上,與控制器電性連接。下部測試組件73之測試件733活動地收容於感測器731內,且測試件733之一端活動地穿設於測試孔1121,且與下部測試組件73之驅動件相連接。測試件733於下部測試組件73之驅動件之驅動下相對感測器731運動,以與工件200之頂面203相接觸,感測器731能夠讀取測試件733位移,並將位移傳送至控制器。控制器根據上部測試組件71之測試件733及下部測試組件73之測試件733位移得出工件200之厚度測試值,並與預設厚度範圍進行對比,以判斷工件200之厚度是否符合要求。
請一併參閱圖5及圖6,二段差測試機構80安裝於支撐部612之邊緣處上,且安裝板11位於二段差測試機構80之下方。二段差測試機構80均包括第一測試組件81及第二測試組件83。本實施方式中,第一測試組件81及第二測試組件83之結構與長邊測試機構30之結構大致相同。第一測試組件81包括感測器813、測試件815及驅動件(圖未示),第二測試組件83包括感測器833、測試件835及驅動件(圖未示)。厚度測試機構70之感測器712、第一測試組件81之感測器813及第二測試組件83之感測器833間隔平行安裝於移動機構60之支撐座61上。於第一驅動件63之驅動下,支撐座61之連接部613相對支撐架13滑動,使得上部測試組件71、第一測試組件81及第二測試組件83之測試件移動至工件200之頂面203之位置處。第一測試組件81之感測器813與第二測試組件83之感測器833安裝於支撐部612之邊緣處,並與控制器相連接。於第一測試組件81之驅動件之驅動下,測試件815相對感測器813運動,以與工件200之第一表面2081相接觸。感測器813能夠讀取測試件815位移,並將位移傳送至控制器。於第二測試組件83之驅動件之驅動下,測試件835相對感測器833運動,以與工件200之第二表面2083相接觸。感測器833能夠讀取測試件835位移,並將位移傳送至控制器。控制器根據第一測試組件81之測試件815及第二測試組件83之測試件835之位移得出工件200之第一表面2081與第二表面2083之間之段差,並與預設之段差進行對比,以判斷工件200之第一表面2081與第二表面2083之間之段差是否符合要求。
使用時,首先將工件200收容於定位槽112內,且工件200之底面201朝向定位槽112放置;然後,長邊測試機構30之測試件33及短邊測試機構50之測試件53被對應之驅動件驅動,以使長邊測試機構30之測試件33與工件200之第二側壁207相接觸,短邊測試機構50之測試件53與工件200之第一側壁205相接觸;接著,長邊測試機構30之感測器31及短邊測試機構50之感測器51分別將位移發送至控制器上;同時,測試件713於第一驅動件63之驅動下移動至靠近工件200之頂面203之位置處。接著上部測試組件71之驅動件之驅動下測試件713與工件200之底面201相接觸,感測器712讀取測試件713位移,並將位移傳送至控制器,測試件733於下部測試組件73之驅動件之驅動下相對感測器731運動,以與工件200之頂面203相接觸,感測器731讀取測試件733位移,並將位移傳送至控制器;於第一測試組件81之驅動件之驅動下,測試件815相對感測器813運動,以與工件200之第一表面2081相接觸。感測器813讀取測試件815位移,並將位移傳送至控制器;於第二測試組件83之驅動件之驅動下,測試件835相對感測器833運動,以與工件200之第二表面2083相接觸,感測器833讀取測試件835位移,並將位移傳送至控制器;最後,控制器根據長邊測試機構30之測試件33、短邊測試機構50之測試件53、上部測試組件71之測試件733、下部測試組件73之測試件733、第一測試組件81之測試件815、第二測試組件83之測試件835位移得出工件200之尺寸,並得出工件200之尺寸與預設尺寸範圍進行對比,以判斷工件200之尺寸是否符合要求。
尺寸測試裝置100採用之長邊測試機構30、短邊測試機構50、厚度測試機構70及段差測試機構80相對工件200運動,並對應地與工件200之頂面203、底面201、第一側壁205、第二側壁207、第一表面2081及第二表面2083相接觸,以得出長邊測試機構30之測試件33、短邊測試機構50之測試件53、上部測試組件71之測試件733、下部測試組件73之測試件733、第一測試組件81之測試件815、第二測試組件83之測試件835之位移,並將位移傳送至控制器,控制器將長邊測試機構30之測試件33、短邊測試機構50之測試件53、上部測試組件71之測試件733、下部測試組件73之測試件733、第一測試組件81之測試件815、第二測試組件83之測試件835位移與預設範圍進行對比,以判斷出工件200之尺寸是否符合要求,因此,可一次性測試工件200之長度、寬度、厚度及不同高度之第一表面2081與第二表面2083之段差是否符合要求,從而節省測試時間,進而提高了測試效率。
可理解,導軌131、長邊測試機構30、短邊測試機構50、上部測試組件71及下部測試組件73之數量不限於本實施方式中之數量,也可是一或一以上。可理解,第一驅動件63及支撐座61可省略,將上部測試組件71直接安裝於支撐架13上即可。可理解,下部測試組件73可省略,對應之藉由上部測試組件71之位移得出工件200之厚度即可。可理解,移動機構60可省略,對應之支撐架13上設置與安裝板11平行設置之連接部,且將段差測試機構80之第一測試組件81、第二測試組件83及厚度測試機構70之上部測試組件71間隔安裝於支撐架13之連接部上,對應之段差測試機構80之第一測試組件81及第二測試組件83均包括固定於支撐架13之感測器813、833、可移動裝設於感測器813、833上之測試件815、835及與測試件815、835相連接之驅動件,第一測試組件81之感測器813及第二測試組件83之感測器833均與控制器電性連接,驅動件驅動對應之測試件815、833分別接觸第一表面2081與第二表面2083,第一測試組件81之感測器813與第二測試組件83之感測器833分別測得對應之測試件815、835之伸縮量,控制器根據第一測試組件81之感測器813與第二測試組件83之感測器833測得之伸縮量差與預設範圍進行對比,以判斷工件200之段差是否合格,且厚度測試機構70安裝於支撐架13上,且與段差測試機構80間隔平行設置,並控制器電性連接。
可理解,安裝板11可省略,將工件200直接安裝於固定板12上,對應之將長邊測試機構30及短邊測試機構50分別與安裝於固定板12上,使得長邊測試機構30與工件200之第二側壁207相接觸,短邊測試機構50與工件200之第一側壁205相接觸設置即可。
綜上所述,本新型符合新型專利要件,爰依法提出專利申請。惟,以上所述者僅為本新型之較佳實施例,舉凡熟悉本案技藝之人士,在爰依本新型精神所作之等效修飾或變化,皆應涵蓋於以下之如申請專利範圍內。
205‧‧‧第一側壁
207‧‧‧第二側壁
2081‧‧‧第一表面
2083‧‧‧第二表面
813、831‧‧‧感測器
815、835‧‧‧測試件
61‧‧‧支撐座

Claims (7)

  1. 一種尺寸測試裝置,用以自動測試工件之尺寸,該工件包括不同高度之第一表面及第二表面,該第一表面與該第二表面相互平行,且該第一表面位於該第二表面之下方,該尺寸測試裝置包括測試台、長邊測試機構、短邊測試機構及與該長邊測試機構和該短邊測試機構電性連接之控制器,該長邊測試機構及該短邊測試機構分別安裝於該測試台上,其改良在於:該尺寸測試裝置還包括與該控制器電性連接之段差測試機構,該測試台包括固定板及安裝於該固定板上之支撐架,該長邊測試機構及該短邊測試機構分別安裝於該固定板上,該段差測試機構包括第一測試組件及第二測試組件,該第一測試組件及該第二測試組件均包括固定於該支撐架之感測器、可移動裝設於該感測器上之測試件及與該測試件相連接之驅動件,該第一測試組件之感測器及該第二測試組件之感測器均與該控制器電性連接,該驅動件驅動對應之測試件分別接觸該第一表面與第二表面,該第一測試組件之感測器與該第二測試組件之感測器分別測得對應之測試件之伸縮量,該控制器根據該第一測試組件之感測器與該第二測試組件之感測器測得之伸縮量差與預設範圍進行對比,以判斷該工件之段差是否合格。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之尺寸測試裝置,其中,該測試台還包括安裝板,該安裝板固定安裝於該固定板上,並位於該段差測試機構之下方,該安裝板包括垂直相連之第一側面及第二側面,該第一側面及該第二側面上開設有測試槽,該短邊測試機構及該長邊測試機構均包括感測器、測試件及驅動件,該長邊測試機構之感測器固定裝設於該安裝板之第二側面上,並部分收容於該測試槽內,且與該控制器電性連接,該長邊測試機構之測試件活動地收容於該長邊測試機構之感測器內,該長邊測試機構之測試件收容於該測試槽內,且與該長邊測試機構之驅動件相連接;該短邊測試機構之感測器固定安裝於該安裝板之第一側面上,並與該控制器電性連接,該短邊測試機構之測試件活動地安裝於該短邊測試機構之感測器內,並收容於該測試槽內,且與該短邊測試機構之驅動件相連接。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之尺寸測試裝置,其中,該尺寸測試裝置還包括厚度測試機構,該厚度測試機構安裝於支撐架上,且與該段差測試機構間隔平行設置,並該控制器電性連接。
  4. 如申請專利範圍第3項所述之尺寸測試裝置,其中,該尺寸測試裝置還包括移動機構,該移動機構安裝於該支撐架上,並位於該安裝板上方,該厚度測試機構、該第一測試組件及該第二測試組件間隔平行安裝於該移動機構上。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之尺寸測試裝置,其中,該移動機構包括支撐座及第一驅動件,該支撐座活動地安裝於該測試台之支撐架上,該第一驅動件安裝於支撐架上,並與該支撐座相連接;該厚度測試機構包括上部測試組件,該上部測試組件包括感測器、可移動裝設於該上部測試組件之感測器上之測試件及與該上部測試組件之測試件相連接之驅動件,該上部測試組件之感測器與該第一測試組件及該第二測試組件之感測器間隔安裝於該支撐座上,並與該控制器電性連接,於該第一驅動件之驅動下,該支撐座相對該支撐架滑動,使得該上部測試組件、該第一測試組件及該第二測試組件之測試件移動至該工件處。
  6. 如申請專利範圍第5項所述之尺寸測試裝置,其中,該支撐架靠近該安裝板之一側上凸設有導軌,該支撐座包括支撐部及與該支撐部垂直設置之連接部,該連接部活動地安裝於該安裝板之導軌上,該第一驅動件與該連接部相連接,該上部測試組件、該第一測試組件及該第二測試組件之感測器間隔平行安裝於該支撐部上。
  7. 如申請專利範圍第5項所述之尺寸測試裝置,其中,該安裝板上貫通該固定板開設有測試孔,該厚度測試機構還包括下部測試組件,該下部測試組件包括感測器、測試件及驅動件,該下部測試組件之感測器固定安裝於該測試台背離該安裝板之一側上,該下部測試組件之測試件活動地收容於該下部測試組件之感測器內,並該下部測試組件之測試件活動地穿設於該測試孔,且與該下部測試組件之驅動件相連接,該下部測試組件之感測器與該控制器電性連接。
TW102206331U 2013-03-26 2013-04-09 尺寸測試裝置 TWM493038U (zh)

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