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TWI515442B - Electrical testing machine - Google Patents

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TWI515442B
TWI515442B TW102146115A TW102146115A TWI515442B TW I515442 B TWI515442 B TW I515442B TW 102146115 A TW102146115 A TW 102146115A TW 102146115 A TW102146115 A TW 102146115A TW I515442 B TWI515442 B TW I515442B
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Wei Cheng Ku
Shao Wei Lu
Hung Chih Sung
Chun Nan Chen
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Mpi Corp
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Description

電性檢測機台
本發明係與電性檢測有關；特別是指一種電性檢測機台。
按，隨著電子產品發展日漸蓬勃，為確保電子產品出廠時的品質，製造、組裝及出廠前，通常都會透過檢測系統檢測電子產品之各精密電子元件間的電性連接是否確實。
但習用之檢測系統一次僅能對單一量測規格之產品進行檢測，而無法適用於多種量測規格之檢測上。另外，習用檢測設備欲檢測不同規格之產品時，則必須重新以人工方式拆卸替換對應規格之探針組，不僅耗時且費力。
有鑑於此，本發明之目的用於提供一種電性檢測機台，可適用於不同規格之待測部位的電性檢測。
緣以達成上述目的，本發明所提供電性檢測機台用以對一待測物進行電性檢測，包含一機台、一承台、一探針架、一支架、一檢測臂、一安置座以及複數探針組。其中，該機台具有相平行之二第一導軌；該承台設於該機台上，且用以供該待測物置放者；該探針架設於該機台上不同該承台設置處的位置上，且具有複數個設置區；該支架設於該二第一導軌上，且可沿該二第一導軌相對該機台與該承台 移動，並具有一第二導軌；該檢測臂設於該第二導軌，且位於該承台上方，並可被該支架帶動而與該支架同步移動，且可沿該第二導軌相對該支架移動；該安置座設於該檢測臂上，且可相對該檢測臂轉動或移動；該等探針組中，其中一探針組以可拆裝之方式設於該安置座上，而其他探針組則分別已可拆裝之方式設於該探針架之設置區上；另外，該設於該安置座上之探針組可被該安置座帶動而與該安置座同步移動，且用以供與置放於該承台上之該待測物上之待測部位接抵以進行電性檢測。
藉此，透過上述之設計，便可使該電性檢測機台適用於不同規格之檢測。
11‧‧‧機台
111‧‧‧第一導軌
112‧‧‧第三導軌
12‧‧‧承台
13‧‧‧支架
131‧‧‧第二導軌
14‧‧‧檢測臂
15‧‧‧安置座
16‧‧‧探針架
161‧‧‧架體
162‧‧‧定位柱
163‧‧‧定位驅動器
164‧‧‧第一穿孔
165‧‧‧插孔
20‧‧‧探針組
21‧‧‧嵌架
211‧‧‧第二穿孔
212‧‧‧插銷
22‧‧‧外殼
23‧‧‧接地針
24‧‧‧訊號針
圖1係本發明較佳實施例之電性檢測機台的立體圖。
圖2係本發明較佳實施例於檢測臂處的立體圖。
圖3係本發明較佳實施例於探針架處的立體圖。
圖4係本發明較佳實施例之探針組的立體圖。
為能更清楚地說明本發明，茲舉較佳實施例並配合圖示詳細說明如後。請參圖1所示，本發明一較佳實施例之電性檢測機台用以對一待測物進行電性檢測，且該待測物上具有複數個不同量測間距之待測部位(圖未示)。該電性檢測裝置包含一機台11、一承台12、一支架13、一檢測臂14、一安置座15以及複數個探針組20。其中：該機台11上具有相平行之二第一導軌111，且 該機台11不同於該二第一導軌111的位置上具有相平行之二第三導軌112，且該等第三導軌112提供之移動軌跡平行於該等第一導軌111提供之移動軌跡。
該承台12用以供該待測物置放於其上，且設於該機台11上，並位於該二第一導軌111之間。
該支架13略呈ㄇ字型，且其底端分別設於該二第一導軌111上，使該支架13可被驅動而沿該二第一導軌111相對該機台11與該承台12移動。另外，該支架13的頂端具有一第二導軌131，且該第二導軌131提供之移動軌跡垂直於該二第一導軌111提供之移動軌跡。
請參閱圖2，該檢測臂14設於該第二導軌131上，而位於該承台12上方。另外，該檢測臂14可同時被該支架13帶動而與該支架13同步移動，且可沿該第二導軌111相對該支架13移動。
該安置座15係設置於該檢測臂14上，且可被該檢測臂14帶動而與該檢測臂14同步轉動，且各該安置座18可被驅動而相對該檢測臂14轉動或移動。
該探針架16設於該機台11上不同該承台12設置處的位置上，且請參閱圖3，該探針架16具有一架體161、複數個定位柱162以及一定位驅動器163。其中，該架體161設置於該二第三導軌112上，並可沿該第三導軌112移動。該架體161具有複數個設置區，且該架體161上對應該等設置區處分別具有一第一穿孔164以及一插孔165。該定位驅動器163連接該架體161與該等定位柱162，且可驅動該架體161移動而使該等定位柱162分別穿設於該等第一穿孔164中、或是與該等第一穿孔164分離。
其中一探針組20以可拆裝之方式設於該安置座15上，而其他探針組20則分別已可拆裝之方式設於該探 針架16之設置區上。請參閱圖4，於本實施例中，各該探針組分別具有一嵌架21、一外殼22、以及三根探針23、24。該嵌架21係呈ㄈ字型，具有一第二穿孔211，且其底部具有一插銷212，當該探針組20設於該探針架16上時，該嵌架21將與該架體161接抵，且該插銷212穿設於該插孔165中，而該第二穿孔211正對該第一穿孔164，使得該定位柱162可凸伸至該第二穿孔211中。該外殼22則鎖設於該嵌架21上，而該等探針23、24設於該外殼22中，且該等探針23、24的針尖伸出至該外殼22外。另外，該等探針23、24依據測試時的訊號走向分別被區分成為二接地針23以及一訊號針24，且該訊號針24位於該二接地針23之間。值得一提的是，各該探針組20之該訊號針24與各該接地針23間之間距不同於其他該探針組20之訊號針24與各該接地針23間之間距，而使得該電性檢測機台10具有較大之適用量測範圍。再者，當該探針組20設於該安置座15上時，則可被該安置座15帶動而與該安置座15同步移動與轉動。
藉此，當該探針組20設置於該探針架16上後，操控該定位驅動器163控制該架體移動，而使得該等定位柱162凸伸至該等第一穿孔164與該等第二穿孔211中，進而使該探針組20可穩固地置放於該探針架16上。而後，當檢測人員欲進行電性檢測時，則可依據該待測物上之待測部位的位置與量測間距，控制該電性檢測裝置10的支架13、檢測臂14以及安置座15移動或轉動，並操控該定位驅動器163控制該架體161移動，而使得該等定位柱162自該等第一穿孔164與該等第二穿孔211分離，使對應量測間距之其中一該探針組20可與該安置座18結合，而後，再帶動該該探針組20位於進行檢測之待測部位上方，並操控安置座15帶動其上之探針組20下移，而使該探針組20之接地 針21以及訊號針22接抵該待測物之待測部位上，以進行後續電性檢測。
另外，當檢測人員欲進行電性檢測另一不同量測間距之待測部位時，控制該電性檢測裝置10的支架13、檢測臂14以及安置座15移動或轉動，使該探針組20之該插銷212重新穿設於該插孔165中，而後，再操控該定位驅動器163控制該架體161移動，而使得該等定位柱162凸伸至該等第一穿孔164與該等第二穿孔211中，以提供二個相垂直之阻力，使該探針組20可輕易地與該安置座18分離。而後，再依據前述之結合過程選擇對應另一量測間距之該探針組20可與該安置座18結合，以進行後續之檢測。
如此一來，透過上述多探針組20之設計，便可使得該電性檢測機台具有較大的適用範圍，且透過可移動或轉動支架13、檢測臂14、或安置座15之結構設計，更可使得各探針組20可移動至不同角度的位置上，而可適用於任何設置角度的待測部位量測。
另外，以上所述僅為本發明較佳可行實施例而已，舉凡應用本發明說明書及申請專利範圍所為之等效變化，理應包含在本發明之專利範圍內。
11‧‧‧機台
111‧‧‧第一導軌
112‧‧‧第三導軌
12‧‧‧承台
13‧‧‧支架
131‧‧‧第二導軌
14‧‧‧檢測臂
15‧‧‧安置座
16‧‧‧探針架
20‧‧‧探針組

Claims (7)

  1. 一種電性檢測機台，用以對一待測物進行電性檢測，且包括：一機台，具有相平行之二第一導軌；一承台，設於該機台上，且用以供該待測物置放者；一探針架，設於該機台上不同該承台設置處的位置上，且具有複數個設置區；一支架，設於該二第一導軌上，且可沿該二第一導軌相對該機台與該承台移動，並具有一第二導軌；一檢測臂，設於該第二導軌，且位於該承台上方，並可被該支架帶動而與該支架同步移動，且可沿該第二導軌相對該支架移動；一安置座，設於該檢測臂上，並可被該檢測臂帶動而與該檢測臂同步移動，且可相對該檢測臂轉動或移動；以及複數個探針組，其中一探針組以可拆裝之方式設於該安置座上，而其他探針組則分別以可拆裝之方式設於該探針架之設置區上；另外，該設於該安置座上之探針組可被該安置座帶動而與該安置座同步移動，且用以供與置放於該承台上之該待測物上之待測部位接抵以進行電性檢測；其中各該探針組具有至少二探針，且該二探針間之間距不同於其他該探針組之二探針間之間距。
  2. 一種電性檢測機台，用以對一待測物進行電性檢測，且包括：一機台，具有相平行之二第一導軌；一承台，設於該機台上，且用以供該待測物置放者；一探針架，設於該機台上不同該承台設置處的位置上，且具有複數個設置區；一支架，設於該二第一導軌上，且可沿該二第一導軌相對該機台與該承台移動，並具有一第二導軌；一檢測臂，設於該第二導軌，且位於該承台上方，並可被該支架帶動而與該支架同步移動，且可沿該第二導軌相對該支架移動；一安置座，設於該檢測臂上，並可被該檢測臂帶動而與該檢測臂同步移動，且可相對該檢測臂轉動或移動；以及複數個探針組，其中一探針組以可拆裝之方式設於該安置座上，而其他探針組則分別以可拆裝之方式設於該探針架之設置區上；另外，該設於該安置座上之探針組可被該安置座帶動而與該安置座同步移動，且用以供與置放於該承台上之該待測物上之待測部位接抵以進行電性檢測；其中該探針架更具有一架體以及複數個定位柱，該架體具有該等設置區，且該架體上對應該等設置區處分別具有一第一穿孔；各該探針組分別具有一嵌架，且該嵌架上具有一第二穿孔；該等探針組設於該探針架上時，該嵌架與該架體接抵，且該第二穿孔正對該第一穿孔，而該等定 位柱各別穿設於對應的第一穿孔以及該第二穿孔中，且該等定位柱則可相對該架體移動，而各別穿設於對應的第一穿孔以及該第二穿孔中、或是與該第一穿孔以及該第二穿孔分離；其中該探針架更具有一定位驅動器連接該架體，用以驅動該架體移動，而使該等定位柱同步地相對該架體移動。
  3. 如請求項2所述電性檢測機台，其中該機台上更具有一第三導軌；該架體係設於該第三導軌上，而可受該定位驅動器驅動沿該第三導軌移動。
  4. 如請求項2所述電性檢測機台，其中該等第一導軌提供之移動軌跡係垂直於該第二導軌提供之移動軌跡。
  5. 如請求項3所述電性檢測機台，其中該等第一導軌提供之移動軌跡係平行於該第三導軌提供之移動軌跡。
  6. 一種電性檢測機台，用以對一待測物進行電性檢測，且包括：一機台，具有相平行之二第一導軌；一承台，設於該機台上，且用以供該待測物置放者；一探針架，設於該機台上不同該承台設置處的位置上，且具有複數個設置區；一支架，設於該二第一導軌上，且可沿該二第一導軌相對該機台與該承台移動，並具有一第二導軌；一檢測臂，設於該第二導軌，且位於該承台上方，並可被該支架帶動而與該支架同步移動，且可沿該第二導軌相對該支架移動； 一安置座，設於該檢測臂上，並可被該檢測臂帶動而與該檢測臂同步移動，且可相對該檢測臂轉動或移動；以及複數個探針組，其中一探針組以可拆裝之方式設於該安置座上，而其他探針組則分別以可拆裝之方式設於該探針架之設置區上；另外，該設於該安置座上之探針組可被該安置座帶動而與該安置座同步移動，且用以供與置放於該承台上之該待測物上之待測部位接抵以進行電性檢測；其中該探針架上具有複數個插孔，且該等探針組各別具有一插銷；該等探針組設於該探針架上時，該等插銷分別與該等插孔結合。
  7. 如請求項6所述電性檢測機台，其中該等第一導軌提供之移動軌跡係平行於該第三導軌提供之移動軌跡。
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