TWI501021B - 互動式投影系統及其光標的座標校正方法 - Google Patents

Description

互動式投影系統及其光標的座標校正方法

本發明是有關於一種互動式投影系統及其光標的座標校正方法，且特別是有關於一種可感測不可見光的光點之互動式投影系統及其光標座標的自動校正方法(automatic calibration method)。

現有的投影系統已發展出一種互動式投影系統，而這種投影系統通常包括投影裝置、影像感測器以及指向器(pointer)，其中指向器具有紅外光發光源，並能發出肉眼看不見的紅外光，而影像感測器例如是互補式金屬氧化物半導體影像感測器(CMOS Image Sensor，CIS)，並能感測指向器所發出的紅外光。

當投影裝置根據電腦輸出的影像資料而在屏幕上投影影像時，使用者可使用指向器來對屏幕發出紅外光，以在屏幕上形成不可見的光標(invisible light point)。此時，影像感測器會感測並追蹤此光標，以使投影裝置所投影的影像能顯示對應此光標的位置及軌跡。藉此，使用者可將光標當成游標(cursor)來操作電腦。

當使用指向器來操作投影機或電腦時，為避免影像感測器被投影裝置所投影的影像干擾，影像感測器通常具有濾光片，而此濾光片能將可見光過濾掉，並僅讓紅外光通過。因此，上述影像感測器通常只能感測到紅外光，而不會感測到可見光。如此，在操作互動式投影系統的過程中，影像感測器不會被投影裝置的影像所干擾，從而減少發生投影裝置或電腦誤動作的情形。

在使用互動式投影系統以前，通常須要進行光標的座標校正，以使屏幕能正確地顯示對應此光標的位置及軌跡。由於影像感測器不會感測到可見光，因此一些常見的互動式投影系統需要使用不可見的光標來進行座標校正。所以，目前光標的座標校正通常需要透過使用者操作指向器來進行，即上述座標校正大多是採用手動方式來進行。

本發明的目的在於提供一種互動式投影系統，其影像擷取裝置能擷取由可見光所形成的校正圖像。

本發明的另一目的在於提供一種光標的座標校正方法，其適用於互動式投影系統，並能自動校正光標的座標。

本發明提出一種互動式投影系統，包括一投影裝置以及一影像擷取裝置。投影裝置具有一投影鏡頭，而投影鏡頭用於個別地投影多個由可見光所形成的校正圖像在一屏幕上，其中這些校正圖像的面積不彼此相同。影像擷取裝置包括一電性連接投影裝置的影像感測器以及一濾光元件。濾光元件固定於影像感測器上，而影像感測器具有一通過濾光元件的光軸，並用於經由濾光元件來擷取這些校正圖像的影像，其中面積大的校正圖像與光軸之間的距離大於面積小的校正圖像與光軸之間的距離。

本發明另提出一種光標的座標校正方法，適用於一互動式投影系統，其中互動式投影系統包括一影像擷取裝置，而影像擷取裝置包括一影像感測器以及一濾光元件。濾光元件固定於影像感測器，而影像感測器具有一通過濾光元件的光軸。座標校正方法包括以下步驟。首先，個別地投影多個由可見光所形成的校正圖像在一屏幕上，其中 這些校正圖像的面積不彼此相同，而面積大的校正圖像與光軸之間的距離大於面積小的校正圖像與光軸之間的距離。接著，調整影像感測器的一曝光時間，以使影像感測器經由濾光元件來擷取這些校正圖像的影像。根據這些校正圖像的影像，取得多個座標位置。之後，根據一標準座標，調整這些座標位置。

綜上所述，本發明的互動式投影系統利用含有濾光元件的影像擷取裝置來擷取由可見光所形成的校正影像。如此，本發明的互動式投影系統可採用自動方式來進行光標的座標校正。

為使能更進一步瞭解本發明之特徵及技術內容，請參閱以下有關本發明之詳細說明與附圖，但是此等說明與所附圖式僅係用來說明本發明，而非對本發明的權利範圍作任何的限制。

圖1A是本發明一實施例之互動式投影系統的立體示意圖。請參閱圖1A，互動式投影系統100包括投影裝置110、影像擷取裝置120以及至少一個指示裝置130。投影裝置110具有投影鏡頭112，並且能與主機裝置140之間建立信號連結(signal link)，其中主機裝置140可以是電腦，例如筆記型電腦(如圖1A所示)、平板電腦(tablet)或桌上型電腦(desktop computer)。

投影裝置110可以接收主機裝置140所輸出的信號，以使投影鏡頭112投影對應此信號的影像在屏幕10上，其中此信號可以是電信號或無線信號。因此，投影裝置110與主機裝置140之間的信號連結方式可以是有線的電性連 接或無線連接(wireless link)。

舉例來說，當投影裝置110與主機裝置140之間的信號連結方式為有線的電性連接時，投影裝置110具有影像傳輸線(未繪示)，而主機裝置140具有對應此影像傳輸線的連接埠(port，未繪示)，其中連接埠例如是VGA連接埠或HDMI連接埠。透過上述影像傳輸線與連接埠之間的插接，主機裝置140能電性連接投影裝置110，從而能傳遞電信號至投影裝置110。

當投影裝置110與主機裝置140之間的信號連結方式為無線連接時，投影裝置110與主機裝置140之間可以透過藍芽(bluetooth)或無線網路而建立無線連接。如此，投影裝置110能接收來自主機裝置140的無線信號而投影對應此無線信號的影像在屏幕10上。

指示裝置130具有發光源134，而發光源134能發出不可見光I1，以在屏幕10上形成指示光標P1，其中不可見光I1的波長可介於800奈米(nm)至1000奈米之間。因此，不可見光I1可以是一種紅外光，而發光源134例如是紅外光發光二極體(Infrared LED)。此外，指示裝置130的形狀可以設計成桿狀(如圖1A所示)，而發光源134可利用按鈕來開關發射不可見光I1。或者，發光源134可具有觸壓開關，以使發光源134在觸碰到屏幕10的時候會發出不可見光I1。

指示裝置130還可具有無線發射模組(未繪示)，而主機裝置140可具有無線接收模組(未繪示)。指示裝置130的無線發射模組能發出無線訊號至主機裝置140的無線接收模組，以控制主機裝置140。如此，使用者可利用指示裝 置130來操作主機裝置140。此外，上述無線接收模組可為熱插拔元件(hot pluggable device)，其例如是通用序列匯流排鑰(Universal Serial Bus Dongle，USB Dongle)。或者，無線接收模組也可為內建於主機裝置140內的無線模組。

值得一提的是，在圖1A所示的互動式投影系統100中，指示裝置130的數量僅只有一個，但是在其他實施例中，互動式投影系統100所包括的指示裝置130的數量可以是二個或二個以上。所以，圖1A所示的指示裝置130的數量僅供舉例說明，並不限定本發明

圖1B是圖1A中互動式投影系統的俯視示意圖。請參閱圖1A與圖1B，影像擷取裝置120電性連接投影裝置110，並能感測到不可見光I1，因而可以從屏幕10擷取指示光標P1的影像。所以，根據指示光標P1在屏幕10上的所在位置及軌跡，影像擷取裝置120能控制投影裝置110投影出對應指示光標P1位置及軌跡的影像。此外，指示裝置130的無線發射模組還可配合指示光標P1的位置及軌跡來控制主機裝置140。如此，使用者可以使用指示裝置130，將指示光標P1當成游標來操作主機裝置140。

影像擷取裝置120具有光軸A1，而光軸A1會通過屏幕10。影像擷取裝置120具有視角V1，而投影鏡頭112具有視角V2，其中視角V1大於視角V2。因此，影像擷取裝置120所能感測到的屏幕10範圍會大於投影鏡頭112投影在屏幕10上的畫面範圍，並可完全涵蓋此畫面範圍。如此，當投影鏡頭112投影畫面在屏幕10上時，影像擷取裝置120能擷取顯示在此畫面任何位置的指示光標P1的影像，以使指示光標P1可作為操作主機裝置140的游標。

圖1C是圖1A中投影裝置投影在屏幕上的校正圖像的示意圖。請參閱圖1B與圖1C，投影鏡頭112能個別地投影多個由可見光所形成的校正圖像在屏幕10上，其中這些校正圖像的面積不彼此相同，而一般人可以明顯看出其中二個校正圖像的面積並不相等。

以圖1C為例，投影鏡頭112在屏幕10上能投影九個校正圖像，而這九個校正圖像分別是第1校正圖像C1、第2校正圖像C2、第3校正圖像C3、第4校正圖像C4、第5校正圖像C5、第6校正圖像C6、第7校正圖像C7、第8校正圖像C8以及第9校正圖像C9。從圖1C來看，顯然第1校正圖像C1至第9校正圖像C9的面積不彼此相同，而且在屏幕10上的所在位置也彼此不同。

這些校正圖像(例如第1校正圖像C1至第9校正圖像C9)的個別面積以及光軸A1與這些校正圖像之間的距離有關聯，其中面積大的校正圖像與光軸A1之間的距離會大於面積小的校正圖像與光軸A1之間的距離。因此，在屏幕10上，校正圖像與光軸A1之間的距離越近，則校正圖像的面積越大；反之，校正圖像與光軸A1之間的距離越遠，則校正圖像的面積越小。此外，面積較大的校正圖像會對應影像擷取裝置120的較大視角，而面積較小的校正圖像會對應影像擷取裝置120的較小視角。

以圖1C為例，第1校正圖像C1的面積大於第9校正圖像C9的面積，所以第1校正圖像C1與光軸A1之間的距離D1會大於第9校正圖像C9與光軸A1之間的距離D9。此外，須說明的是，以上所述的校正圖像與光軸A1之間的距離乃是指校正圖像的中心與光軸A1在屏幕10上 的距離，如圖1C所示。

圖2A是圖1A中影像擷取裝置的俯視示意圖。請參閱圖1A與圖2A，影像擷取裝置120包括影像感測器122與能過濾光線的濾光元件124，其中影像感測器122電性連接投影裝置110，而濾光元件124固定在影像感測器122上。例如，濾光元件124可透過膠黏或鎖固的方式而固定在影像感測器122上，且在互動式投影系統100正常運作的期間，濾光元件124不會相對於影像感測器122而移動。

另外，濾光元件124可包括透明板124a以及形成在透明板124a上的光學膜124b，其中光學膜124b可為單層膜或多層膜，而透明板124a例如是玻璃板或壓克力板，並可透過膠黏或鎖固的方式而固定在影像感測器122上。此外，在其他實施例中，濾光元件124也可不包括透明板124a，並可以是直接形成在感測面122s上的光學膜124b。

影像感測器122具有光軸A1與感測面122s。光軸A1通過濾光元件124，而感測面122s用於接收光線，即影像感測器122是從感測面122s來感測指示光標P1。此外，影像感測器122可為互補式金屬氧化物半導體影像感測器(CIS)或電荷耦合元件(Charge Coupled Device，CCD)。

圖2B是圖2A中濾光元件的穿透率隨波長變化的示意圖。請參閱圖2A與圖2B，濾光元件124能讓具有預定波長範圍R1的光線穿透，其中預定波長範圍R1涵蓋可見光與不可見光。因此，濾光元件124能讓不可見光I1與可見光L1通過，其中上述校正圖像(例如第1校正圖像C1至第9校正圖像C9)可由可見光L1所形成。所以，不可見光I1與可見光L1皆能穿透濾光元件124而入射至影像感 測器122的感測面122s，以使影像感測器122能經由濾光元件124來擷取上述校正圖像與指示光標P1的影像。

在圖1B中，預定波長範圍R1可介於550奈米至1000奈米之間，而濾光元件124能讓預定波長範圍R1的光線穿透。然而，預定波長範圍R1內的所有光線對濾光元件124的穿透率並不一致，其中濾光元件124對波長在550奈米至600奈米之間的光線的穿透率介於5%至20%之間，而濾光元件124對波長在800奈米至1000奈米之間的光線的穿透率介於80%至100%之間。

因此，當可見光L1的波長介於550奈米至600奈米之間，而不可見光I1的波長介於800奈米至1000奈米之間時，各個校正圖像對濾光元件124的穿透率會小於指示光標P1對濾光元件124的穿透率。所以，影像擷取裝置120容易感測到指示光標P1，而不易感測到校正圖像。

圖3A是圖1A中互動式投影系統的光標的座標校正方法的流程示意圖。請參閱圖1A與圖3A，本實施例的光標的座標校正方法可應用於互動式投影系統100，以達到自動校正光標座標的功能，而本實施例的光標的座標校正方法包括以下步驟。

首先，進行步驟S102與步驟S104，即個別地投影多個校正圖像在屏幕10上，並且擷取這些校正圖像的影像。這些校正圖像可為圖1C中的第1校正圖像C1至第9校正圖像C9，而在步驟S102中，投影裝置110會個別地投影這些校正圖像在屏幕10上，且投影裝置110每次只投影單一個校正圖像在屏幕10上。換句話說，在步驟S102中，這些校正圖像不會同時出現在屏幕10，而屏幕10只會顯 示單一個校正圖像，不會有二個或二個以上的校正圖像同時顯示在屏幕10上。

因此，在步驟S104中，影像感測器122(如圖2A所示)必須要在各個校正圖像顯示於屏幕10時進行影像擷取。在影像感測器122擷取到其中一個校正圖像之後，投影裝置110才會投影下一個校正圖像在屏幕10上，以供影像感測器122進行下一次的影像擷取。

由於影像擷取裝置120不易感測到由可見光形成的校正圖像，因此在擷取校正圖像的影像過程中，會調整影像感測器122的曝光時間，使得影像感測器122能經由濾光元件124來擷取這些校正圖像的影像。此外，除了曝光時間之外，還可以調整影像感測器122的增益，讓校正圖像的影像更容易地被影像擷取裝置120所擷取。

為了具體說明步驟S102與步驟S104，以下將以圖1C為例，並配合圖3B至圖3D詳細說明圖3A中的步驟S102與步驟S104。請參閱圖3B，在本實施例的座標校正方法中，首先，投影裝置110投影第1校正圖像C1在屏幕10上，其中投影裝置110僅投影第1校正圖像C1，而未投影其他校正圖像。因此，除了第1校正圖像C1，其他屏幕10的區域並不顯現來自投影裝置110的影像或光線。另外，第1校正圖像C1可位於屏幕10的角落，如圖3B所示。

在第1校正圖像C1投影在屏幕10上的期間，令影像感測器122經由濾光元件124來擷取第1校正圖像C1的影像。由於校正圖像對濾光元件124的穿透率偏低(穿透率約在20%以內)，因此在擷取第1校正圖像C1的影像的過程中，會增加影像感測器122的曝光時間，以確保影像感 測器122能擷取到第1校正圖像C1的影像。此外，影像感測器122的曝光時間可由投影裝置110的處理器(processor)來控制，而上述處理器例如是微處理器(micro processor)或中央處理器(Central Processing Unit，CPU)。

如果增加影像感測器122的曝光時間，而影像擷取裝置120仍未擷取到第1校正圖像C1的影像的話，則繼續增加影像感測器122的曝光時間。此時，影像感測器122會經由濾光元件124重新擷取第1校正圖像C1的影像。詳細而言，在擷取第1校正圖像C1的影像的期間，影像感測器122會採用不同的曝光時間來擷取第1校正圖像C1的影像，其中這些曝光時間會隨著進行第1校正圖像C1的影像擷取次數增加而增加。

舉例來說，在第一次擷取第1校正圖像C1的影像過程中，投影裝置110的處理器已增加影像感測器122的曝光時間，讓影像感測器122以0.05秒的曝光時間對第1校正圖像C1進行第一次影像擷取。在曝光時間為0.05秒的條件下，若影像擷取裝置120仍未擷取到第1校正圖像C1的話，則增加影像感測器122的曝光時間為0.1秒，並使影像擷取裝置120以0.1秒的曝光時間對第1校正圖像C1進行第二次影像擷取。

在曝光時間為0.1秒的條件下，若影像擷取裝置120還是沒有擷取到第1校正圖像C1的話，則再增加影像感測器122的曝光時間為0.15秒，並使影像擷取裝置120以0.15秒的曝光時間對第1校正圖像C1進行第三次影像擷取。若曝光時間為0.15秒的影像擷取裝置120還是沒有擷取到第1校正圖像C1的話，則繼續增加影像感測器122的曝光時 間至0.2秒，並重新擷取第1校正圖像C1的影像。

依此類推，倘若影像感測器122仍未擷取到第1校正圖像C1的影像，則繼續增加曝光時間，並在每次曝光時間增加之後，重新擷取第1校正圖像C1的影像，直到影像感測器122在最後一次增加曝光時間之後擷取到第1校正圖像C1的影像。當擷取到第1校正圖像C1的影像時，投影裝置110的處理器會紀錄這時候的曝光時間，而此被紀錄的曝光時間在此定義為固定曝光時間。

此外，在擷取第1校正圖像C1的影像的過程中，投影裝置110的處理器也可以調整影像感測器122的增益，以幫助影像感測器122擷取第1校正圖像C1的影像。當擷取到第1校正圖像的影像時，紀錄此增益，而被紀錄的增益在此定義為固定增益。

在紀錄曝光時間與增益後，投影裝置110依序並個別地投影第2至第9校正圖像C2~C9在屏幕10上(請參閱圖1C)，而影像感測器122會在設定曝光時間為固定曝光時間，及設定增益為固定增益的條件下，經由濾光元件124來依序並個別地擷取第2至第9校正圖像C2~C9的影像。

請參閱圖3C，在擷取到第1校正圖像C1的影像之後，投影裝置110投影第2校正圖像C2在屏幕10上。此時，影像感測器122可採用上述固定曝光時間與固定增益，並經由濾光元件124，來擷取第2校正圖像C2的影像。

請參閱圖3B與圖3C，第1校正圖像C1與光軸A1之間的距離D1大於第2校正圖像C2與光軸A1之間的距離D2，導致第1校正圖像C1的亮度大於第2校正圖像C2的亮度。因此，第2校正圖像C2會比第1校正圖像C1容易 被影像感測器122擷取到影像。

然而，若影像感測器122利用以上固定曝光時間與固定增益而能擷取到第1校正圖像C1的影像的話，則在採用此固定曝光時間與固定增益的條件下，影像感測器122也理應能擷取到第2校正圖像C2的影像。因此，利用固定曝光時間與固定增益，影像感測器122不僅能擷取到第1校正圖像C1的影像，且也能擷取到第2校正圖像C2的影像。

為了幫助影像感測器122擷取亮度偏低的校正圖像，以及避免曝光過度的問題，第1校正圖像C1的面積會大於第2校正圖像C2的面積。此外，第1校正圖像C1與光軸A1之間的距離D1可為這些校正圖像與光軸A1之間的最大距離，以至於第1校正圖像C1的亮度可為這些校正圖像中的最低亮度。因此，第1校正圖像C1的面積可設計為所有校正圖像中的最大面積，以幫助影像感測器122擷取第1校正圖像C1的影像。

請參閱圖3D，在擷取到第2校正圖像C2的影像之後，投影裝置110投影第3校正圖像C3在屏幕10上。此時，影像感測器122仍可採用以上固定曝光時間與固定增益，並經由濾光元件124，來擷取第3校正圖像C3的影像。

請參閱圖3C與圖3D，第3校正圖像C3與光軸A1之間的距離D3大於第2校正圖像C2與光軸A1之間的距離D2，所以第2校正圖像C2的亮度大於第3校正圖像C3的亮度。因此，第2校正圖像C2會比第3校正圖像C3容易被影像感測器122擷取到影像。

此外，第3校正圖像C3的與光軸A1之間的距離D3可等於或小於距離D1(請參考圖3B)，而第3校正圖像 C3的面積也可等於或小於第1校正圖像C1的面積，即第3校正圖像C3的面積可等於或小於所有校正圖像中的最大面積，因此在採用上述固定曝光時間與固定增益的條件下，影像感測器122也能擷取到第3校正圖像C3的影像。

請參閱圖1B，在影像感測器122擷取到第3校正圖像C3的影像之後，投影裝置110依序並個別地投影第4至第9校正圖像C4~C9在屏幕10上，而影像感測器122則在設定曝光時間為固定曝光時間，以及增益為固定增益的條件下，經由濾光元件124來依序並個別地擷取第4至第9校正圖像C4~C9的影像。

請參閱圖3A，在擷取這些校正圖像(例如第1校正圖像C1至第9校正圖像C9)之後，進行步驟S106，即根據這些校正圖像，取得多個對應這些校正圖像的座標位置。之後，進行步驟S108，即根據標準座標，調整這些座標位置。在步驟S108中，可利用演算法來取得與標準座標及這些座標位置相關聯的資料表。透過此資料表，可調整這些座標位置，其中此演算法可為雙線性內插法或弧形校正法。

步驟S106與步驟S108二者可以由投影裝置110的處理器或主機裝置140來執行，其中此標準座標可預先儲存在投影裝置110內的記憶體或是主機裝置140內。因此，圖3A所示的步驟S102至步驟S108可由儲存在主機裝置140內的軟體(software)或燒錄在投影裝置110內的韌體(firmware)來執行。

值得一提的是，以上是以圖1B所示的九個校正圖像為例來介紹本發明之光標的座標校正方法。然而，在其他舉例說明中，校正圖像的數量可為N個，且N為正整數，其 中除了N可以等於九之外，N也可大於或等於四。因此，關於本發明的校正圖像的數量，在此不加以限制。

綜上所述，本發明的互動式投影系統利用含有濾光元件的影像擷取裝置來擷取由可見光所形成的校正影像以及不可見的指示光標。如此，不僅影像擷取裝置能擷取指示裝置的指示光標，以使指示裝置能控制投影裝置及/或主機裝置，而且影像擷取裝置還能擷取投影裝置的校正影像來進行光標的座標校正。

由此可知，透過上述濾光元件以及校正圖像，本發明的互動式投影系統可採用自動方式來進行光標的座標校正，即本發明的校正方法可讓使用者在不啟動指示裝置的情況下，直接進行光標的座標校正。因此，相較於習知技術而言，本發明的座標校正具有操作簡單以及節省指示裝置電力等優點。

以上所述僅為本發明的實施例，其並非用以限定本發明的專利保護範圍。任何熟習相像技藝者，在不脫離本發明的精神與範圍內，所作的更動及潤飾的等效替換，仍為本發明的專利保護範圍內。

10‧‧‧屏幕

100‧‧‧互動式投影系統

110‧‧‧投影裝置

112‧‧‧投影鏡頭

120‧‧‧影像擷取裝置

122‧‧‧影像感測器

122s‧‧‧感測面

124‧‧‧濾光元件

124a‧‧‧透明板

124b‧‧‧光學膜

130‧‧‧指示裝置

134‧‧‧發光源

140‧‧‧主機裝置

A1‧‧‧光軸

C1‧‧‧第1校正圖像

C2‧‧‧第2校正圖像

C3‧‧‧第3校正圖像

C4‧‧‧第4校正圖像

C5‧‧‧第5校正圖像

C6‧‧‧第6校正圖像

C7‧‧‧第7校正圖像

C8‧‧‧第8校正圖像

C9‧‧‧第9校正圖像

D1、D2、D3、D9‧‧‧距離

I1‧‧‧不可見光

L1‧‧‧可見光

P1‧‧‧指示光標

R1‧‧‧預定波長範圍

S102、S104、S106、S108‧‧‧步驟

V1、V2‧‧‧視角

圖1A是本發明一實施例之互動式投影系統的立體示意圖。

圖1B是圖1A中互動式投影系統的俯視示意圖。

圖1C是圖1A中投影裝置投影在屏幕上的校正圖像的示意圖。

圖2A是圖1A中影像擷取裝置的俯視示意圖。

圖2B是圖2A中濾光元件的穿透率隨波長變化的示意圖。

圖3A是圖1A中互動式投影系統的光標的座標校正方法的 流程示意圖。

圖3B至圖3D是圖1B中投影及擷取第1至第3校正圖像的示意圖。

S102、S104、S106、S108‧‧‧步驟

Claims (10)

1. 一種互動式投影系統，包括：一投影裝置，具有一投影鏡頭，而該投影鏡頭用於個別地投影多個由可見光所形成的校正圖像在一屏幕上，其中該些校正圖像的面積不彼此相同；一影像擷取裝置，包括一電性連接該投影裝置的影像感測器以及一濾光元件，該濾光元件固定於該影像感測器上，而該影像感測器具有一通過該濾光元件的光軸，並用於經由該濾光元件來擷取該些校正圖像的影像，其中面積大的校正圖像與該光軸之間的距離大於面積小的校正圖像與該光軸之間的距離；其中，該濾光元件對波長在550奈米至600奈米之間的光線的穿透率介於5%至20%之間，而該濾光元件對波長在800奈米至1000奈米之間的光線的穿透率介於80%至100%之間。
2. 如申請專利範圍第1項所述之互動式投影系統，更包括至少一指示裝置，該指示裝置具有一發光源，而該發光源用於發出一不可見光，以在該屏幕上形成一指示光標，其中該影像感測器經由該濾光元件來擷取該指示光標的影像，而各該校正圖像對該濾光元件的穿透率小於該指示光標對該濾光元件的穿透率。
3. 如申請專利範圍第2項所述之互動式投影系統，其中該不可見光的波長介於800奈米至1000奈米之間。
4. 如申請專利範圍第1項所述之互動式投影系統，其中該濾光元件用於過濾光線，以讓具有一預定波長範圍的光線穿透，其中該預定波長範圍介於550奈米至1000奈米之間。
5. 一種光標的座標校正方法，適用於一互動式投影系統，其中該互動式投影系統包括一影像擷取裝置，而該影像擷取裝置包括一影像感測器以及一濾光元件，該濾光元件固定於該影像感測器，而該影像感測器具有一通過該濾光元件的光軸，該座標校正方法包括以下步驟：個別地投影多個由可見光所形成的校正圖像在一屏幕上，其中該些校正圖像的面積不彼此相同，而面積大的校正圖像與該光軸之間的距離大於面積小的校正圖像與該光軸之間的距離；調整該影像感測器的一曝光時間，以使該影像感測器經由該濾光元件來擷取該些校正圖像的影像，其中該濾光元件對波長在550奈米至600奈米之間的光線的穿透率介於5%至20%之間，而該濾光元件對波長在800奈米至1000奈米之間的光線的穿透率介於80%至100%之間；根據該些校正圖像的影像，取得多個座標位置；以及根據一標準座標，調整該些座標位置。
6. 如申請專利範圍第5項所述之光標的座標校正方法，其中該些校正圖像的數量為N個，而該些校正圖像為一第1至一第N校正圖像，N為正整數，該第1至該第N校正圖像依序並個別地投影在該屏幕上，其中該第1校正圖像的面積為該些校正圖像中的最大面積，而該第1校正圖像與該光軸之間的距離為該些校正圖像與該光軸之間的最大距離。
7. 如申請專利範圍第6項所述之光標的座標校正方法，其中上述擷取該些校正圖像的影像的步驟包括： 在該第1校正圖像投影在該屏幕上的期間，令該影像感測器經由該濾光元件來擷取該第1校正圖像的影像；當擷取到該第1校正圖像的影像時，紀錄該曝光時間，其中被紀錄的該曝光時間定義為一固定曝光時間；在紀錄該曝光時間之後，依序並個別地投影一第2至該第N校正圖像在該屏幕上；以及在設定該曝光時間為該固定曝光時間的條件下，令該影像感測器經由該濾光元件來依序並個別地擷取該第2至該第N校正圖像的影像。
8. 如申請專利範圍第7項所述之光標的座標校正方法，其中當該影像擷取裝置未擷取到該第1校正圖像的影像時，增加該曝光時間，並令該影像感測器經由該濾光元件來重新擷取該第1校正圖像的影像。
9. 如申請專利範圍第7項所述之光標的座標校正方法，其中更包括以下步驟：在擷取該第1校正圖像的影像的過程中，調整該影像擷取裝置的一增益；當擷取到該第1校正圖像的影像時，紀錄該增益，其中被紀錄的該增益定義為一固定增益；在紀錄該曝光時間與該增益之後，依序並個別地投影一第2至該第N校正圖像在該屏幕上；以及在設定該曝光時間為該固定曝光時間，以及設定該增益為該固定增益的條件下，令該影像感測器經由該濾光元件來依序並個別地擷取該第2至該第N校正圖像的影像。
10. 如申請專利範圍第5項所述之光標的座標校正方法，其中調整該些座標位置的步驟包括： 利用一演算法，取得與該標準座標及該些座標位置相關聯的一資料表，其中該演算法為雙線性內插法或弧形校正法。