TWI398653B - A test device and test machine for preventing electromagnetic interference - Google Patents

Description

一種防止電磁干擾之測試裝置及測試機台

本發明係關於一種防止電磁干擾之測試裝置及測試機台，尤其是一種可屏蔽待測電子元件於測試時所產生的電子雜訊，以避免影響至外部空間之測試裝置及具有該測試裝置之測試機台。

從手機、無線網路卡、藍芽耳機設備等，只要是需要發射、接收訊號的裝置，幾乎都用得到射頻積體電路晶片(RF IC)，相對的現階段對於射頻積體電路晶片之測試需求逐步增溫。目前傳統用來測試IC之自動化測試機台，大致可分為由測試座提供模擬訊號，擷取各輸出腳位輸出訊號之模擬測試；以及提供實際功能性電路板與周邊，空出待測IC位置，將待測IC置入實際使用環境中運作之實境測試。

以目前業界多採行的是符合使用環境之實境測試，也就是單獨留下待測IC之空缺，讓受測IC填補受測位置，並以實際機台依照使用狀態進行測試，可輕易獲得該待測IC在實際使用環境下之反應狀態，並得知該待測IC是否可供實際裝機，亦可稱之為系統級測試。舉例來說，若所欲量測之IC為應用於手機，上述實境測試之測試電路板即為手機電路板，若所測IC為網路卡用之IC，即可以網路卡作為測試電路板，無論何種卡，多為市面上常見或已為廠商所具備者，因此實境測試之環境營造毫無困難。

一般簡易的射頻IC測試裝置，係利用人工置換待測電子元件的方式，測試速度緩慢，且在封閉空間中對待測電子元件進行測試作業，不但耗費人力，且測試效率以及測試結果均有人為因素參雜，較難如實反應實際的測試結果。另外，以封測作業而言，一些特殊之電子元件(如射頻IC、麥克風IC等)，如在開放的環境中進行測試作業時，由於容易受到外界極複雜之雜訊(如射頻電磁波)干擾，而影響其測試之準確性，因此該類之電子元件於進行測試作業時，必須將外界之雜訊加以隔離，才能有效提升其測試之準確性。

因此，若能提供一種自動化測試機台，並與測試埠搭配一種防電子干擾測試裝置，即可提升測試精度與效率，使多測試埠之測試流程一體化的進行。

本發明之目的即在於提供一種防止電磁干擾之測試裝置及測試機台，使待測電子元件置於該輸送裝置上時，可藉由一測試裝置，能限制測試所產生的電子雜訊至外部空間。

本發明之其一目的即在於提供一種防止電磁干擾之測試裝置及測試機台，提供一種自動化測試機台，使該待測電子元件進行測試時，具有防雜訊干擾之功能，即可提升測試精度與效率，使多測試埠之測試流程一體化的進行。

可達成上述發明目的之一種防止電磁干擾之測試裝置及測試機台，該測試機台係包括有複數個測試區、複數個輸送裝置、複數個輸送軌道、進料區、出料區及一組拾取臂，其中該進料區係用以提供擺放具有複數待測電子元件之載盤，而該出料區係用以提供擺放具有複數完測待測電子元件之載盤，且該組拾取臂係用以搬移待測電子元件於進料區載盤、出料區載盤及測試區之間；而該測試區係包含有一上罩體、一驅動裝置、一下壓機構及一移動裝置，其中於該測試區上形成有一個測試空間之上罩體，該上罩體之一側具有一可供該待測電子元件進出的開口，相對於該開口設有一個在該待測電子元件移動時之開啟位置、至測試該待測電子元件時之閉合位置兩者間動作的移動裝置；另外該輸送裝置係設有一個供待測電子元件插置之測試座，並在測試空間內部以及測試空間外部來回運行，並於輸送裝置在測試空間內部以及測試空間外部來回運行的路徑上設置一輸送軌道。

更具體的說，該測試區內設有一下壓機構，該下壓機構係由一驅動裝置帶動，而該下壓機構對準待測電子元件位置設有一下壓治具，該下壓治具由下壓機構帶動作升降位移，因此當待測電子元件位於測試空間內、移動裝置動作至閉合位置時，該下壓機構係對待測電子元件壓抵，以執行測試作業，更具體的說，該移動裝置係由一電子訊號控制一壓缸驅動升降位移，因此該移動裝置動作至開啟位置時，該待測電子元件由輸送裝置在測試空間內部以及測試空間外部來回運行，在移動裝置動作至閉合位置時，該待測電子元件位於測試空間內，測試區呈現密合狀態。

更具體的說，所述上罩體及移動裝置係為金屬材料製作而成。

更具體的說，所述上罩體及移動裝置之阻隔射頻電磁波係以塗佈導電鍍層方式塗覆。

有關於本發明之前述及其他技術內容、特點與功效，在以下配合參考圖式之較佳實施例的詳細說明中，將可清楚的呈現。

請參閱圖一A及圖一B為本發明一種防止電磁干擾之測試裝置及測試機台之測試裝置示意圖及測試機台簡易規劃示意圖，由圖中可知，該防止電磁干擾之測試裝置主要包括：一測試區1，係包含有一上罩體11、一驅動裝置12、一下壓機構13及一移動裝置15，其中於該測試區1上形成有一個測試空間之上罩體11，該上罩體11之一側具有一可供該待測電子元件5進出的開口14，相對於該開口14設有一個在該待測電子元件5移動時之開啟位置141、至測試該待測電子元件5時之閉合位置142兩者間動作的移動裝置15；另外該測試區1內設有一下壓機構13，係用以在該待測電子元件5位於測試空間16內、移動裝置動作至閉合位置142時，對該待測電子元件5壓抵(請參考圖一A、圖二B及圖二C)；一輸送裝置2，設有一個供待測電子元件5插置之測試座21，並在測試空間16內部以及測試空間16外部來回運行，並於輸送裝置2在測試空間16內部以及測試空間16外部來回運行的路徑上設置一輸送軌道3；另外該測試機台係包括有複數個測試區1、複數個輸送裝置2、複數個輸送軌道3、進料區41、出料區421,422,423及一組拾取臂43，其中該進料區41係用以提供擺放具有複數待測電子元件之載盤，而該出料區421,422,423係用以提供擺放具有複數完測待測電子元件之載盤，且該組拾取臂43係用以搬移待測電子元件於進料區41之載盤、出料區42之載盤及測試區1之間。

值得一提的是，在移動裝置15動作至開啟位置141時，該待測電子元件5由輸送裝置2在測試空間16內部以及測試空間16外部來回運行，在移動裝置15動作至閉合位置142時，該待測電子元件5位於測試空間16內，該測試區1呈現密合狀態(請參考圖二B及圖二C)。

值得一提的是，該下壓機構13係由一驅動裝置12帶動，而該下壓機構13對準待測電子元件5位置設有一下壓治具131，該下壓治具131由下壓機構12帶動作升降位移，用以壓抵待測電子元件5執行測試作業。

不過，若待測電子元件5為一種小型的積體電路IC時，則測試空間16內部即將考慮不包括驅動裝置12、下壓機構13以及下壓治具131。舉例來說，就是當拾取臂43在測試空間16外部將待測電子元件5放置在測試座21上，此時已完成預備動作，只需將輸送裝置2移入測試空間16、移動裝置15動作至閉合位置142時，即進行測試作業。

值得一提的是，該移動裝置15係由一電子訊號控制一壓缸151驅動升降位移，在開口14之開啟位置141以及閉合位置142兩者間動作。

值得一提的是，該測試座21之測試即是利用一塊測試公板，該測試公板是以該待測電子元件(俗稱半導體構裝元件，IC)所認之同步發表的公板作為測試，以實際的公板直接對每一個待測電子元件進行公板測試。該測試板及測試座體係電性連接於一控制處理單元(圖未示)，並進行資料的運算傳輸處理，當壓持待測電子元件5使其確實地與測試座21電連接以進行測試，將於測試完畢後進行測試分類。

值得一提的是，該上罩體11及移動裝置15係為防止待測電子元件5進行測試時，所產生的射頻電磁波滲透至外部空間，故必須採用可阻隔射頻射頻電磁波的方式製作，譬如：金屬材質、或以塗佈導電鍍層方式塗覆於上罩體11等製作。

請參閱圖二A至圖二G為本發明一種防止電磁干擾之測試裝置及測試機台之實施例圖，由圖中可知，該測試裝置之測試方法之其中一實施運作方式為(該實施方式係為有設置下壓機構13之情況)：

1.　該拾取臂43係會將待測電子元件5放置於輸送裝置2之測試座21上(請參考圖二A)；

2.　當拾取臂43上升時，該移動裝置15動作至開啟位置141，而承載該待測電子元件5之輸送裝置2係會藉由一輸送軌道3，移載進入測試區1之上罩體11中(請參考圖二B)；

3.　而承載該待測電子元件5之輸送裝置2進入測試空間16後，該移動裝置15動作至閉合位置142時，而該下壓機構13係會下降壓抵待測電子元件5於測試座21上，並開始執行測試作業(請參考圖二C)；

4.　當測試完畢時，該移動裝置15動作至開啟位置141，該下壓機構13自動上升(請參考圖二D)，並藉由輸送軌道3將該承載完測電子元件6之輸送裝置2移載出來(請參考圖二E)；

5.　再藉由拾取臂43下降取出輸送裝置2上之完測電子元件6(請參考圖二F及圖二G)，並依各完測電子元件6之測試結果，而移載收置於出料區421,422,423中，並完成分類完測電子元件之作業(請參考圖一B)。

值得一提的是，當上罩體內部未設置該下壓機構時，該輸送裝置一旦移載至上罩體內時，該移動裝置係會動作至閉合位置，同時開始執行測試作業，並於測試完畢時，該移動裝置係會動作至開啟位置(圖未示)。

本發明所提供之一種防止電磁干擾之測試裝置及測試機台，與其他習用技術相互比較時，更具備下列優點：

1.　本發明之一種防止電磁干擾之測試裝置及測試機台，係藉由一封閉式測試機構，使該測試座所承載之待測電子元件進行測試時，能限制所產生的電子雜訊干擾至外部空間。

2.　本發明之一種防止電磁干擾之測試裝置及測試機台，其中該測試座移載至封閉式測試機構內時，該封閉式測試機構可自動封閉開口，使測試流程一氣呵成。

3.　本發明之一種防止電磁干擾之測試裝置及測試機台，以自動化流程將待測電子元件於進料區、出料區以及預定位置之間搬移輸送，能提升測試效率。

4.本發明之一種防止電磁干擾之測試裝置及測試機台，係透過多測試埠(Multi-Test-site)的封閉式測試機構，有效提升自動化測試速度，且防止測試所產生的電子雜訊干擾至外部空間，維持各測試埠的測試水準。

藉由以上較佳具體實施例之詳述，係希望能更加清楚描述本發明之特徵與精神，而並非以上述所揭露的較佳具體實施例來對本發明之範疇加以限制。相反地，其目的是希望能涵蓋各種改變及具相等性的安排於本發明所欲申請之專利範圍的範疇內。

1．．．測試區

11．．．上罩體

12．．．驅動裝置

13．．．下壓機構

131‧‧‧下壓治具

14‧‧‧開口

141‧‧‧開啟位置

142‧‧‧閉合位置

15‧‧‧移動裝置

151‧‧‧壓缸

16‧‧‧測試空間

2‧‧‧輸送裝置

21‧‧‧測試座

3‧‧‧輸送軌道

41‧‧‧進料區

421‧‧‧出料區

422‧‧‧出料區

423‧‧‧出料區

43‧‧‧拾取臂

5‧‧‧待測電子元件

6‧‧‧完測電子元件

圖一A為本發明一種防止電磁干擾之測試裝置及測試機台之測試裝置示意圖；

圖一B為本發明一種防止電磁干擾之測試裝置及測試機台之測試機台簡易規劃示意圖；

圖二A為本發明一種防止電磁干擾之測試裝置及測試機台之實施例圖；

圖二B為本發明一種防止電磁干擾之測試裝置及測試機台之實施例圖；

圖二C為本發明一種防止電磁干擾之測試裝置及測試機台之實施例圖；

圖二D為本發明一種防止電磁干擾之測試裝置及測試機台之實施例圖；

圖二E為本發明一種防止電磁干擾之測試裝置及測試機台之實施例圖；

圖二F為本發明一種防止電磁干擾之測試裝置及測試機台之實施例圖；以及

圖二G為本發明一種防止電磁干擾之測試裝置及測試機台之實施例圖。

1．．．測試區

11．．．上罩體

12．．．驅動裝置

13．．．下壓機構

131．．．下壓治具

14．．．開口

15．．．移動裝置

151．．．壓缸

16．．．測試空間

2．．．輸送裝置

21．．．測試座

3．．．輸送軌道

43．．．拾取臂

5．．．待測電子元件

Claims (14)

1. 一種防止電磁干擾之測試裝置，其包含：一測試區，於該測試區上形成有一個測試空間之上罩體，該上罩體之一側具有一可供該待測電子元件進出的開口，相對於該開口設有一個在該待測電子元件移動時之開啟位置、至測試該待測電子元件時之閉合位置兩者間動作的移動裝置；一輸送裝置，設有一個供待測電子元件插置之測試座，並在測試空間內部以及測試空間外部來回運行；藉此，在移動裝置動作至開啟位置時，該待測電子元件由輸送裝置在測試空間內部以及測試空間外部來回運行，在移動裝置動作至閉合位置時，該待測電子元件位於測試空間內，測試區呈現密合狀態。
2. 如申請專利範圍第1項所述之一種防止電磁干擾之測試裝置，其中該測試區內設有一下壓機構，係用以在該待測電子元件位於測試空間內、移動裝置動作至閉合位置時，對該待測電子元件壓抵。
3. 如申請專利範圍第2項所述之一種防止電磁干擾之測試裝置，其中該下壓機構係由一驅動裝置帶動，而該下壓機構對準待測電子元件位置設有一下壓治具，該下壓治具由下壓機構帶動作升降位移，用以壓抵待測電子元件執行測試作業。
4. 如申請專利範圍第1項所述之一種防止電磁干擾之測試裝置，其中，於輸送裝置在測試空間內部以及測試空間外部來回運行的路徑上設置一輸送軌道。
5. 如申請專利範圍第1項所述之一種防止電磁干擾之測試裝置，其中該移動裝置受一壓缸驅動升降位移，在開口之開啟位置以及閉合位置兩者間動作。
6. 如申請專利範圍第1項所述之一種防止電磁干擾之測試裝置，其中該移動裝置受一電子訊號控制，在開口之開啟位置以及閉合位置兩者間動作。
7. 如申請專利範圍第1項所述之一種防止電磁干擾之測試裝置，其中該上罩體及移動裝置係為一金屬材料所製成。
8. 一種防止電磁干擾之測試機台，其包含：一進料區，係用以提供擺放具有複數待測電子元件之載盤；一出料區，係用以提供擺放具有複數完測待測電子元件之載盤；一組拾取臂，係用以搬移待測電子元件於進料區之載盤、出料區之載盤及測試區間；複數個測試區，各測試區上形成有一個測試空間之上罩體，該上罩體之一側具有一可供該待測電子元件進出的開口，相對於該開口設有一個在該待測電子元件移動時之開啟位置、至測試該待測電子元件時之閉合位置兩者間動作的移動裝置；複數個輸送裝置，各輸送裝置係設有一個供待測電子元件插置之測試座，並在測試空間內部以及測試空間外部來回運行；藉此，拾取臂搬移待測電子元件由進料區之載盤至測試區時，由具有測試座之輸送裝置承接，當移動裝置動作至開啟位置時，該待測電子元件由輸送裝置送至測試空間內部，在移動裝置動作至閉合位置時，該待測電子元件位於測試空間進行測試，且該完測電子元件由輸送裝置送至測試空間外部，拾取臂搬移完測電子元件並分類於出料區之載盤。
9. 如申請專利範圍第8項所述之一種防止電磁干擾之測試機台，其中該測試區內設有一下壓機構，係用以在該待測電子元件位於測試空間內、移動裝置動作至閉合位置時，對該待測電子元件壓抵。
10. 如申請專利範圍第9項所述之一種防止電磁干擾之測試機台，其中該下壓機構係由一驅動裝置帶動，而該下壓機構對準待測電子元件位置設有一下壓治具，該下壓治具由下壓機構帶動作升降位移，用以壓抵待測電子元件執行測試作業。
11. 如申請專利範圍第8項所述之一種防止電磁干擾之測試機台，其中，於輸送裝置在測試空間內部以及測試空間外部來回運行的路徑上設置一輸送軌道。
12. 如申請專利範圍第8項所述之一種防止電磁干擾之測試機台，其中該移動裝置受一壓缸驅動升降位移，在開口之開啟位置以及閉合位置兩者間動作。
13. 如申請專利範圍第8項所述之一種防止電磁干擾之測試機台，其中該移動裝置受一電子訊號控制，在開口之開啟位置以及閉合位置兩者間動作。
14. 如申請專利範圍第8項所述之一種防止電磁干擾之測試機台，其中該上罩體及移動裝置係為一金屬材料所製成。