TW202415962A - 多射頻元件群測系統及其方法 - Google Patents
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Abstract
本發明為一種多射頻元件群測系統及其方法，此系統將複數個待測射頻元件的其中一個所輸出的第一射頻訊號加入識別特徵，以產生識別射頻訊號，此系統還將複數個待測射頻元件剩餘的每一個輸出第二射頻訊號與識別射頻訊號分別合成，以產生個別的合成訊號，再根據識別特徵從個別的合成訊號分離成識別射頻訊號與各自的第二射頻訊號，以及還原出第一射頻訊號，進而產出第一射頻訊號及第二射頻訊號的訊號特徵參數。
Description
本發明有關於射頻元件測試系統及方法，尤指可以同時量測多個射頻元件的測試系統及方法。
請參閱圖1，傳統的多射頻元件平行測試系統，包括一個向量訊號產生器1(Vector Signal Generator，簡稱：VSG)、一個測試平台2及多個向量訊號分析儀3(Vector Signal Analyzer，簡稱：VSA)，其中測試平台2可以放置多個待測射頻元件20，而向量訊號分析儀3的數量等於測試平台2可以放置的待測射頻元件20的數量，而且每一個向量訊號分析儀3只接收其中一個待測射頻元件20所輸出的射頻訊號，如此，向量訊號產生器1輸入功率訊號到測試平台2的每一個待測射頻元件20，再由每一個待測射頻元件20分別輸出射頻訊號並傳送到向量訊號分析儀3，以由每一個向量訊號分析儀3分別分析出每一個射頻訊號的至少一個訊號特徵參數，例如反射損失(Return Loss)或隔離度(isolation)。
由上述可知，傳統的多射頻元件平行測試系統將可以在同一時間內，同時進行多個待測射頻元件的量測，並且由各個向量訊號分析儀分別分析出每一個射頻訊號的訊號特徵參數，以快速地批量完成待測射頻元件的量測。
由於，傳統的多射頻元件平行測試系統的向量訊號分析儀數量需要與待測射頻元件的數量相當，當多射頻元件平行測試系統可以量測的待測射
頻元件越多，需求的向量訊號分析儀隨之增加。而向量訊號分析儀是相當昂貴的器材，這樣將會造成射頻元件量測廠商需要大筆的經費花費在採購向量訊號分析儀。此外，倘若測試平台上可以同時量測四個待測射頻元件，但是每次進行量測時可能同時只量測三個以下的待測射頻元件，這樣就會有若干個向量訊號分析儀是被閒置，就無法發揮最大的量測效益。故對於傳統的多射頻元件平行測試系統，實有必要針對向量訊號分析儀的使用數量及使用方式進行改善。
有鑑於先前技術的問題，本發明的目的在於在射頻元件群測系統中，將多個待測射頻元件的射頻訊號合成為合成訊號，並且可以使用單一個向量訊號分析儀進行分離及計算，以產生出各待測射頻元件的訊號特徵參數。
根據本發明之目的，提供一種多射頻元件群測系統，包括訊號產生器、測試平台及訊號分析單元。測試平台連接在訊號產生器與訊號分析單元之間。測試平台設置複數個待測射頻元件，訊號產生器產生功率訊號，並經由測試平台傳送到各待測射頻元件，複數個待測射頻元件的其中一個輸出第一射頻訊號，第一射頻訊號被加入一識別特徵，以產生識別射頻訊號，複數個待測射頻元件其餘每一個輸出第二射頻訊號，且在測試平台將識別射頻訊號與每一個第二射頻訊號分別合成產生個別的合成訊號，訊號分析單元接收合成訊號，訊號分析單元根據識別特徵將每一個合成訊號分離成識別射頻訊號與各自的第二射頻訊號，再從識別射頻訊號還原出第一射頻訊號，並計算出第一射頻訊號及每一個第二射頻訊號的至少一個訊號特徵參數。
其中，多個待測射頻元件為一第一待測射頻元件及一第二待測射頻元件，測試平台包括功率分配器、第一測試子區及第二測試子區、相位偏移器及功率合成器，功率分配器連接訊號產生器、第一測試子區及第二測試子區，相位偏移器連接第一測試子區，功率合成器連接相位偏移器及第二測試子區，其中功率分配器將功率訊號分配到第一測試子區及第二測試子區，以讓第一測試子區所設置的第一待測射頻元件根據功率訊號輸出第一射頻訊號，以及讓第二測試子區所設置的第二待測射頻元件根據功率訊號輸出第二射頻訊號，相位偏移器接收第一射頻訊號，並且調整第一射頻訊號的相位角度而產生識別射頻訊號，其中第一射頻訊號被調整的相位角度即為識別特徵，功率合成器接收識別射頻訊號及第二射頻訊號以合成產生合成訊號，訊號分析單元為一訊號分析器，訊號分析器連接該功率合成器。
其中，多個待測射頻元件分群為複數個待測群，每一待測群包括一第一待測射頻元件及一第二待測射頻元件，測試平台包括功率分配器、複數個測試分區，每一個測試分區分別設置該複數個待測群的其中一個，即每一個測試分區相當於前述的第一測試子區及第二測試子區、相位偏移器及功率合成器之組合，而訊號分析單元為複數個訊號分析器，每一個訊號分析器連接功率合成器的其中一個。
其中，多個待測射頻元件為一個第一待測射頻元件及複數個第二待測射頻元件，測試平台包括功率分配器、第一測試子區及複數個第二測試子區、相位偏移器、功率合成器及訊號切換器，功率分配器連接訊號產生器、第一測試子區及複數個第二測試子區，相位偏移器連接第一測試子區，複數個第二測試子區連接訊號切換器，功率合成器連接相位偏移器及訊號切換器，其中
功率分配器將功率訊號分配到第一測試子區及複數個第二測試子區，第一測試子區設置第一待測射頻元件，以讓第一待測射頻元件根據功率訊號輸出第一射頻訊號，以及每一該第二測試子區分別設置該多個第二待測射頻元件的其中一個，每一第二待測射頻元件根據功率訊號分別輸出各自的第二射頻訊號，相位偏移器接收第一射頻訊號，並且調整第一射頻訊號的相位角度而產生識別射頻訊號，再傳送到功率合成器，其中第一射頻訊號被調整的相位角度即為識別特徵，而訊號切換器逐個切換每一個第二測試子區分別連接到功率合成器，並輸出每次連接到訊號切換器的第二測試子區的第二射頻訊號到功率合成器，功率合成器則將識別射頻訊號分別與每一第二射頻訊號各自合成產生個別的合成訊號，訊號分析單元為訊號分析器，訊號分析器連接功率合成器。
其中，多個待測射頻元件分群為複數個待測群，每一待測群包括一個第一待測射頻元件及一個第二待測射頻元件，測試平台包括功率分配器、複數個測試分區，每一個測試分區分別設置該複數個待測群的其中一個，即相當於前述的第一測試子區及複數個第二測試子區、相位偏移器、功率合成器及訊號切換器之組合，而訊號分析單元為複數個訊號分析器，每一個訊號分析器連接功率合成器的其中一個。
其中，第一測試子區及複數個第二測試子區為插槽(socket)，而測試射頻元件可為封裝模組。
其中，訊號產生器可為向量訊號產生器，訊號分析器為向量訊號分析儀。
根據本發明之目的，提供一種多射頻元件群測方法，應用在一多射頻元件群測系統，多射頻元件群測系統包括訊號產生器、測試平台及訊號分
析單元，此方法包括下列步驟，由訊號產生器產生功率訊號，測試平台接收功率訊號，並將功率訊號傳送到測試平台所設置的複數個待測射頻元件，藉由該複數個待測射頻元件的其中一個根據該功率訊號而輸出第一射頻訊號，第一射頻訊號被加入識別特徵而產生識別射頻訊號，複數個待測射頻元件的其餘的每一個根據功率訊號而輸出第二射頻訊號，測試平台將識別射頻訊號與每一個第二射頻訊號分別合成產生個別的合成訊號，並傳送給訊號分析單元，訊號分析單元根據識別特徵將每一合成訊號分離成識別射頻訊號與各自的第二射頻訊號，再從識別射頻訊號根據識別特徵還原出第一射頻訊號，並計算出第一射頻訊號及第二射頻訊號的訊號特徵參數。
其中，測試平台包括功率分配器、第一測試子區及第二測試子區、相位偏移器及功率合成器，多個待測射頻元件為一第一待測射頻元件及一第二待測射頻元件，測試平台接收功率訊號到合成產生合成訊號的步驟更包括，功率分配器接收訊號產生器產生的功率訊號，功率分配器將功率訊號分配到第一測試子區及第二測試子區，第一測試子區所設置的第一待測射頻元件根據功率訊號輸出第一射頻訊號，第二測試子區所設置的第二待測射頻元件根據功率訊號輸出第二射頻訊號，相位偏移器接收第一射頻訊號，並且調整第一射頻訊號的相位角度而產生識別射頻訊號，其中第一射頻訊號被調整的相位角度即為識別特徵，功率合成器接收識別射頻訊號及第二射頻訊號以合成產生合成訊號。
其中，多個待測射頻元件為一第一待測射頻元件及複數個第二待測射頻元件，測試平台包括功率分配器、第一測試子區及複數個第二測試子區、相位偏移器、功率合成器及訊號切換器，第一測試子區設置第一待測射頻元件，每一個第二測試子區分別設置複數個第二待測射頻元件的其中一個，測試平台
接收功率訊號到合成產生合成訊號的步驟更包括，功率分配器接收功率訊號，並將功率訊號分配到第一測試子區及複數個第二測試子區，第一待測射頻元件根據功率訊號產生第一射頻訊號，每一第二待測射頻元件根據功率訊號分別產生各自的第二射頻訊號，相位偏移器接收第一射頻訊號，並且調整第一射頻訊號的相位角度而產生識別射頻訊號，再傳送到功率合成器，其中第一射頻訊號被調整的相位角度即為識別特徵，而訊號切換器逐個切換將每一個第二測試子區分別連接到功率合成器，以分別將第二待測射頻元件輸出的第二射頻訊號傳送到功率合成器，功率合成器則將識別射頻訊號分別與每一第二射頻訊號合成為個別的合成訊號。
據上所述，本發明可以同時對多個待測射頻元件進行量測，並且在量測的過程中，訊號分析器的數量比待測射頻元件的數量少，而且在多個第二待測射頻元件的情況下，只要利用訊號切換器切換地將每一個第二測試子區分別連接到功率合成器，即可讓識別射頻訊號分別與不同的第二射頻訊號合成產生不同的合成訊號，而且不同合成訊號都可以分離出同一個第一射頻訊號及不同的第二射頻訊號，用以準確地計算出第二射頻訊號的訊號特徵參數。
1:向量訊號產生器
2、5:測試平台
3:向量訊號分析儀
4:訊號產生器
50:待測射頻元件
51:測試分區
52:識別特徵
54:第一測試子區
540:第一待測射頻元件
56:第二測試子區
560:第二待測射頻元件
58:相位偏移器
59:訊號切換器
6:訊號分析單元
60:訊號分析器
7:功率分配器
8:功率合成器
9:待測群
S101~S109,S201~S203,S301~S304:步驟
圖1為傳統的多射頻元件平行測試系統的架構示意圖；
圖2為本發明的多射頻元件群測系統的架構示意圖；
圖3為本發明的多射頻元件群測系統的第一實施例的架構示意圖；
圖4為本發明的多射頻元件群測系統的第二實施例的架構示意圖；
圖5為本發明的多射頻元件群測系統的第三實施例的架構示意圖；
圖6為本發明的多射頻元件群測系統的第四實施例的架構示意圖；
圖7為本發明的多射頻元件群測方法的流程圖；
圖8為本發明的多射頻元件群測方法的第一實施例的流程圖；
圖9為本發明的多射頻元件群測方法的第二實施例的流程圖；
本發明之實施例將藉由下文配合相關圖式進一步加以解說。盡可能的，於圖式與說明書中，相同標號係代表相同或相似構件。於圖式中，基於簡化與方便標示，形狀與厚度可能經過誇大表示。可以理解的是，未特別顯示於圖式中或描述於說明書中之元件，為所屬技術領域中具有通常技術者所知之形態。本領域之通常技術者可依據本發明之內容而進行多種之改變與修改。
請參考圖2，本發明為一種多射頻元件群測系統，包括訊號產生器4、測試平台5及訊號分析單元6。測試平台5設置複數個待測射頻元件50，且測試平台5連接在訊號產生器4與訊號分析單元6之間。訊號產生器4產生功率訊號，並經由測試平台5傳送到各待測射頻元件50，複數個個待測射頻元件50的其中一個輸出的第一射頻訊號，且第一射頻訊號被加入一識別特徵52而產生識別射頻訊號，複數個待測射頻元件50的其餘每一個分別輸出第二射頻訊號，且在測試平台5將識別射頻訊號分別與每一個第二射頻訊號合成產生個別的合成訊號。訊號分析單元6接收每一個合成訊號，訊號分析單元6根據識別特徵52將每一個合成訊號分離成識別射頻訊號與各自的第二射頻訊號，再根據識別特徵52從識別射頻訊號還原出第一射頻訊號，並計算出第一射頻訊號及每一第二射頻訊號的至少
一個訊號特徵參數，而訊號特徵參數可為反射損失(Returm Loss)或隔離度(isolation)，頻率或振幅等。
本發明的多射頻元件群測系統的第一實施例：
請參閱圖3，在多射頻元件群測系統的第一實施例中，多個待測射頻元件50為一第一待測射頻元件540及一第二待測射頻元件560，測試平台5包括功率分配器7、第一測試子區54及第二測試子區56、相位偏移器58及功率合成器8，功率分配器7連接訊號產生器4、第一測試子區54及第二測試子區56，相位偏移器58連接第一測試子區54，功率合成器8連接相位偏移器58及第二測試子區56，其中功率分配器7將功率訊號分配到第一測試子區54及第二測試子區56，以讓第一測試子區54所設置的第一待測射頻元件540根據功率訊號輸出第一射頻訊號，以及讓第二測試子區56所設置的第二待測射頻元件560根據功率訊號輸出第二射頻訊號，相位偏移器58接收第一射頻訊號，並且調整第一射頻訊號的相位角度而產生識別射頻訊號，其中第一射頻訊號被調整的相位角度即為識別特徵52，功率合成器8接收識別射頻訊號及第二射頻訊號以合成產生合成訊號，訊號分析單元6為訊號分析器60，訊號分析器60連接功率合成器8。
本發明的多射頻元件群測系統的第二實施例：
請參閱圖4，在多射頻元件群測系統的第二實施例中，第二實施例與第一實施例的差異在於，多個待測射頻元件50分群為複數個待測群9，每一該待測群9包括一第一待測射頻元件540及一第二待測射頻元件560，測試平台5包括功率分配器7及複數個測試分區51，訊號分析單元6為複數個訊號分析器60，每一個該測試分區51分別設置該複數個待測群9的其中一個，每一個測試分區51即相當於第一實施例的第一測試子區54及第二測試子區56、相位偏移器58及功率合
成器8之組合，每一個測試分區51的功率合成器8分別連接複數個訊號分析器60的其中一個，如此，每一個訊號分析器60可以接收所連接的功率合成器8的合成訊號，進一步而言，每一個訊號分析器60各自計算所連接的測試分區51的第一射頻訊號及第二射頻訊號的至少一個訊號特徵參數，每一個訊號分析器60連接複數個功率合成器8的其中一個。
在本發明的多射頻元件群測系統的第三實施例：
請參閱圖5，在多射頻元件群測系統的第三實施例中，第三實施例與第一實施例的差異在於，多個待測射頻元件50為一個第一待測射頻元件540及複數個第二待測射頻元件560，測試平台5包括功率分配器7、第一測試子區54及複數個第二測試子區56、相位偏移器58、功率合成器8及訊號切換器59，功率分配器7連接訊號產生器4、第一測試子區54及複數個第二測試子區56，相位偏移器58連接第一測試子區54，複數個第二測試子區56連接訊號切換器59，功率合成器8連接相位偏移器58及訊號切換器59，其中功率分配器7將功率訊號分配到第一測試子區54及複數個第二測試子區56，以讓第一測試子區54設置的第一待測射頻元件540根據功率訊號產生第一射頻訊號，以及讓第二測試子區56所設置的每一個第二待測射頻元件560各自根據功率訊號，以分別產生第二射頻訊號，相位偏移器58接收第一射頻訊號，並且調整第一射頻訊號的相位角度而產生識別射頻訊號，再傳送到功率合成器8，其中第一射頻訊號被調整的相位角度即為識別特徵52，而訊號切換器59逐個切換將每一個第二測試子區56分別連接到功率合成器8，並輸出每次連接到該訊號切換器59的該第二測試子區56的該第二射頻訊號到功率合成器8，換言之，訊號切換器59配置為在複數個第二測試子區56中進行逐個切換以訊號連接一個第二測試子區56，並輸出每次連接到該訊號切換器59的
第二測試子區56的第二射頻訊號，功率合成器8則將識別射頻訊號分別與每一第二射頻訊號合成為個別的合成訊號，訊號分析單元6為一訊號分析器60，訊號分析器60連接該功率合成器8。故在第三實施例中，訊號分析器60各自計算所連接的測試分區51的第一射頻訊號及複數個第二射頻訊號的至少一個訊號特徵參數。
在本發明的多射頻元件群測系統的第四實施例：
請參閱圖6，在多射頻元件群測系統的第四實施例中，第四實施例與第三實施例的差異在於，多個待測射頻元件50分群為複數個待測群9，每一該待測群9包括一個第一待測射頻元件540及複數個第二待測射頻元件560，測試平台5包括功率分配器7及複數個測試分區51，訊號分析單元6為複數個訊號分析器60，每一個測試分區51即相當於第三實施利的第一測試子區54及第二測試子區56、相位偏移器58、訊號切換器59及功率合成器8之組合，每一個測試分區51的功率合成器8分別連接複數個訊號分析器60的其中一個，如此，每一個訊號分析器60可以接收所連接的功率合成器8的個別的合成訊號，進一步而言，每一個訊號分析器60各自計算所連接的測試分區51的第一射頻訊號及複數個第二射頻訊號的至少一個訊號特徵參數。
由上述可知，相對於傳統的多射頻元件平行測試系統，每一個向量訊號分析儀只能連接一個待測射頻元件50，並且只計算一個待測射頻元件50的至少一個訊號特徵參數。本發明的多射頻元件群測系統中，每一個訊號分析器60至少可以計算出一個第一射頻訊號及一個第二射頻訊號，進一步可以計算出一個第一射頻訊號及複數個個第二射頻訊號，將可以節省許多的設備成本，而且測試的時間也與傳統的射頻元件平行測試系統相接近。
請參閱圖7，本發明為一種多射頻元件群測方法，應用在一多射頻元件群測系統，多射頻元件群測系統包括訊號產生器4、測試平台5及訊號分析單元6，此方法包括下列步驟
(S101)藉由訊號產生器4產生功率訊號；
(S102)藉由測試平台5接收功率訊號，並將功率訊號傳送到測試平台5所設置
的複數個待測射頻元件50；
(S103)藉由複數個待測射頻元件的其中一個根據該功率訊號而輸出第一射頻訊號；
(S104)藉由第一射頻訊號被加入一識別特徵52，而產生識別射頻訊號；
(S105)藉由該複數個待測射頻元件的其餘每一個根據該功率訊號而輸出各自的輸出第二射頻訊號；
(S106)藉由測試平台5將識別射頻訊號與每一個第二射頻訊號分別合成為個別的合成訊號，並傳送給訊號分析單元6；
(S107)藉由訊號分析單元6根據識別特徵52將每一合成訊號分離成識別射頻訊號與各自的第二射頻訊號；
(S108)訊號分析單元6根據識別特徵52從識別射頻訊號根據識別特徵52還原出第一射頻訊號；
(S109)訊號分析單元6計算出第一射頻訊號及第二射頻訊號的至少一個訊號特徵參數。
在本發明的多射頻元件群測方法的第一實施例：
請參閱圖8，多個待測射頻元件50為一第一待測射頻元件540及一第二待測射頻元件560，測試平台5包括功率分配器7、第一測試子區54及第二測
試子區56、相位偏移器58及功率合成器8，第一測試子區54設置第一待測射頻元件540，第二測試子區設置第二待測射頻元件560，測試平台5接收功率訊號到合成產生合成訊號的步驟更包括：
(S201)功率分配器7接收訊號產生器4產生的功率訊號，功率分配器7將功率訊號分配到第一測試子區54及第二測試子區56，第一測試子區54所設置的第一待測射頻元件540根據功率訊號輸出第一射頻訊號，第二測試子區56所設置的第二待測射頻元件560根據功率訊號輸出第二射頻訊號；
(S202)相位偏移器58接收第一射頻訊號，並且調整第一射頻訊號的相位角度以產生識別射頻訊號，其中第一射頻訊號被調整的相位角度即為識別特徵52；
(S203)功率合成器8接收識別射頻訊號及第二射頻訊號以合成產生合成訊號。
在本發明的多射頻元件群測方法的第二實施例，請參閱圖9：
請參閱圖9，多個待測射頻元件50為一第一待測射頻元件540及複數個第二待測射頻元件560，測試平台5包括功率分配器7、第一測試子區54及複數個第二測試子區56、相位偏移器58、功率合成器8及訊號切換器59，第一測試子區54設置第一待測射頻元件540，每一個第二測試子區56分別設置複數個第二待測射頻元件560的其中一個，測試平台5接收功率訊號到合成產生合成訊號的步驟更包括：
(S301)功率分配器7接收功率訊號，並將功率訊號分配到第一測試子區54及複數個第二測試子區56，第一測試子區54所設置的第一待測射頻元件540根
據功率訊號輸出第一射頻訊號，複數個第二測試子區56所設置的第二待測射頻元件560根據功率訊號分別輸出各自的第二射頻訊號；
(S302)相位偏移器58接收第一射頻訊號，並且調整第一射頻訊號的相位角度而產生識別射頻訊號，再傳送到功率合成器8，其中第一射頻訊號被調整的相位角度即為識別特徵52；
(S303)訊號切換器59逐個切換將每一個第二測試子區56分別連接到功率合成器8，以分別將第二待測射頻元件560輸出的第二射頻訊號傳送到功率合成器8；
(S304)功率合成器8則將識別射頻訊號分別與每一第二射頻訊號合成為個別的合成訊號。
其中，第一測試子區54及複數個第二測試子區56為插槽(socket)，而測試射頻元件可為封裝天線模組。
其中，訊號產生器4可為向量訊號產生器4，訊號分析器60為向量訊號分析儀。
以下介紹訊號分析器60如何分離合成訊號。假設訊號產生器4產生一個激發訊號I(t)，此激發訊號I(t)經由功率分配器7提供給n條射頻路徑，即功率分配器7到待測射頻元件之間的路徑，第n個射頻路徑之射頻訊號表示為In(t)，因
此
，其中t為時間，N為待測射頻元件之總數。在第n個路徑上之控制
積體電路與待測射頻元件50產生之訊號反應為Qn(t)=Sn(t)Rn(t)，其中Sn(t)表示第n個相位偏移器所產生的訊號反應，Rn(t)表示第n個待測射頻元件50所產生的訊號反應。本發明沒有控制積體電路，則Sn(t)=1，或只有傳輸線產生訊號變化。在第
n個射頻路徑上，經由In(t)饋入待測射頻元件所輸出之訊號為In(t)Qn(t)。此訊號經由功率合成器8所產生之訊號總和為Vtot(t)，故能得到公式(1)：
公式(1)表示當射頻訊號經由待測射頻元件50反應後輸出時，射頻訊號經由射頻電路與功率合成器8後產生，可以經由射頻網路與頻譜分析儀量出待測射頻元件50的特性判別與校正需要In(t)Qn(t)之訊息，尤其是Qn(t)，因為In(t)是未知的。根據公式(1)可解出In(t)Qn(t)。假使Sn(t)是相位偏移器58所調整的相位等，則可以找到In(t)Rn(t)。因此，根據公式(1)，得到公式(2)。
公式(2)有N個未知的函數，需要N個訊號以解出N個[I n (t)R n (t)]。因此，聚焦在產生Sn(t)與使用硬體以實現Sn(t)之技術。
(1)假設Sn(t)=δ(t-tn)，δ()表示一脈衝函數，tn表示第n個時間點，得到公式(3)。
V tot (t n-1<t<t n )=I n (t)R n (t) (3)
(2)假設Sn(t)產生正交訊號，則可以利用訊號函數之內積來求解，如公式(4)所示。
[In(t)Rn(t)](Sn(t),Sn(t))=(Vtot(t),Sn(t)) (4)
(3)假設Sn(t)之訊號並非正交，則公式(4)產生一組線性方程式，解出此線性方程式以找出[In(t)Rn(t)]。
(4)假使待測射頻元件50中的內部射頻裝置可以被存取，則Rn(t)=1，但Sn(t)=R’n(t)S’n(t)，其中R’n(t)表示待測射頻元件50中可控裝置之反應。
據上所述，本發明可以同時對多個待測射頻元件進行量測，並且訊號分析器的數量比待測射頻元件的數量少，而且在多個第二待測射頻元件的情況下，只要利用訊號切換器59切換地將每一個第二測試子區分別連接到功率合成器，即可讓識別射頻訊號分別與不同的第二射頻訊號合成產生不同的合成訊號，又不同合成訊號都可以分離出同一個第一射頻訊號及不同的第二射頻訊號，用以準確地計算出第二射頻訊號的訊號特徵參數。
以上所述，僅為舉例說明本發明的較佳實施方式，並非以此限定實施的範圍，凡是依本發明申請專利範圍及專利說明書內容所作的簡單置換及等效變化，皆屬本發明的專利申請範疇。
4:訊號產生器
5:測試平台
50:待測射頻元件
52:識別特徵
6:訊號分析單元
Claims (8)
- 一種多射頻元件群測系統，包括；一訊號產生器，該訊號產生器產生一功率訊號；一測試單元，包括：一測試平台，該測試平台連接該訊號產生器，且該測試平台設置複數個待測射頻元件，該測試平台傳送該功率訊號到各該待測射頻元件，該複數個待測射頻元件的其中一個輸出一第一射頻訊號，且該第一射頻訊號被加入一識別特徵而產生一識別射頻訊號，該複數個待測射頻元件的其餘每一個分別輸出第二射頻訊號，且該測試平台將該識別射頻訊號分別與每一該第二射頻訊號合成產生個別的一合成訊號；以及一訊號分析單元，該訊號分析單元連接該測試平台，該訊號分析單元根據該識別特徵將每一該合成訊號分離成該識別射頻訊號與各自的該第二射頻訊號，並根據該識別特徵從該識別射頻訊號還原出該第一射頻訊號，並計算出該第一射頻訊號及每一該第二射頻訊號的至少一個訊號特徵參數。
- 如請求項1所述的多射頻元件群測系統，其中該多個待測射頻元件為一第一待測射頻元件及一第二待測射頻元件，該測試平台包括：一功率分配器，連接該訊號產生器，並接收該功率訊號；一第一測試子區，連接該功率分配器，該第一測試子區設置該第一待測射頻元件，該第一待測射頻元件根據該功率訊號輸出該第一射頻訊號；一第二測試子區，連接該功率分配器，該第二測試子區設置該第二待測射頻元件，該第二待測射頻元件根據該功率訊號輸出該第二射頻訊號；一相位偏移器，連接該第一測試子區，並接收該第一射頻訊號，且調整該第一射頻訊號的相位角度而產生該識別射頻訊號，其中該第一射頻訊號被調整的相位角度即為該識別特徵；以及一功率合成器，該功率合成器連接該第二測試子區及該相位偏移器，以接收該識別射頻訊號及該第二射頻訊號，並據以合成產生該合成訊號；該訊號分析單元為一訊號分析器，該訊號分析器連接該功率合成器。
- 如請求項1所述的多射頻元件群測系統，其中該多個待測射頻元件分群為複數個待測群，每一該待測群包括一第一待測射頻元件及一第二待測射頻元件，該測試平台包括功率分配器及複數個測試分區，其中每一個該測試分區分別設置該複數個待測群的其中一個，而該功率分配器連接該訊號產生器，並接收該功率訊號，且每一該測試分區分別包括：一第一測試子區，連接該功率分配器，該第一測試子區設置該第一待測射頻元件，該第一待測射頻元件根據該功率訊號輸出該第一射頻訊號；一第二測試子區，連接該功率分配器，該第二測試子區設置該第二待測射頻元件，該第二待測射頻元件根據該功率訊號輸出該第二射頻訊號；一相位偏移器，連接該第一測試子區，並接收該第一射頻訊號，且調整該第一射頻訊號的相位角度而產生該識別射頻訊號，其中該第一射頻訊號被調整的相位角度即為該識別特徵；以及一功率合成器，該功率合成器連接該第二測試子區及該相位偏移器，以接收該識別射頻訊號及該第二射頻訊號，並據以合成產生個別的該合成訊號；該訊號分析單元包括複數個訊號分析器，每一該訊號分析器連接該功率合成器的其中一個。
- 如請求項1所述的多射頻元件群測系統，其中該多個待測射頻元件為一個第一待測射頻元件及複數個第二待測射頻元件，該測試平台包括；一功率分配器，該功率分配器連接該訊號產生器，並接收該功率訊號；一第一測試子區，連接該功率分配器，該第一測試子區設置該第一待測射頻元件，該第一待測射頻元件根據該功率訊號輸出該第一射頻訊號；複數個第二測試子區，連接該功率分配器，每一該第二測試子區分別設置該多個第二待測射頻元件的其中一個，每一該第二待測射頻元件各自根據該功率訊號分別輸出各自的該第二射頻訊號一相位偏移器，連接該第一測試子區，並接收該第一射頻訊號，且調整該第一射頻訊號的相位角度而產生該識別射頻訊號，其中該第一射頻訊號被調整的相位角度即為該識別特徵；一訊號切換器，配置為在該複數個第二測試子區中進行逐個切換以訊號連接一個該第二測試子區，並輸出每次連接到該訊號切換器的該第二測試子區的該第二射頻訊號；以及一功率合成器，連接該相位偏移器與該訊號切換器，並將該識別射頻訊號分別與每一該第二射頻訊號各自合成為個別的該合成訊號；該訊號分析單元為一訊號分析器，該訊號分析器連接該功率合成器。
- 如請求項1所述的多射頻元件群測系統，其中該多個待測射頻元件分群為複數個待測群，每一該待測群包括一個第一待測射頻元件及一個第二待測射頻元件，該測試平台包括功率分配器及複數個測試分區，其中每一個該測試分區分別設置該複數個待測群的其中一個，而該功率分配器連接該訊號產生器，並接收該功率訊號，且每一該測試分區分別包括；一功率分配器，該功率分配器連接該訊號產生器，並接收該功率訊號；一第一測試子區，連接該功率分配器，該第一測試子區設置該第一待測射頻元件，該第一待測射頻元件根據該功率訊號輸出該第一射頻訊號；複數個第二測試子區，連接該功率分配器，每一該第二測試子區分別設置該複數個第二待測射頻元件的其中一個，該複數個第二待測射頻元件根據該功率訊號分別產生各自的該第二射頻訊號；一相位偏移器，連接該第一測試子區，並接收該第一射頻訊號，且調整該第一射頻訊號的相位角度而產生該識別射頻訊號，其中該第一射頻訊號被調整的相位角度即為該識別特徵；一訊號切換器，配置為在該複數個第二測試子區中進行逐個切換以訊號連接一個該第二測試子區，並輸出每次連接到該訊號切換器的該第二測試子區的該第二射頻訊號；以及一功率合成器，連接該相位偏移器與該訊號切換器，並將該識別射頻訊號分別與每一該第二射頻訊號分別合成為個別的該合成訊號；該訊號分析單元包含複數個訊號分析器，每一該訊號分析器連接該功率合成器的其中一個。
- 一種多射頻元件群測方法，應用在一多射頻元件群測系統，該多射頻元件群測系統包括一訊號產生器、一測試平台及一訊號分析單元，該方法包括下列步驟：藉由該訊號產生器產生一功率訊號；藉由該測試平台接收該功率訊號，並將該功率訊號傳送到該測試平台所設置的複數個待測射頻元件；藉由該複數個待測射頻元件的其中一個根據該功率訊號而輸出一第一射頻訊號；藉由該第一射頻訊號被加入一識別特徵，而產生一識別射頻訊號；藉由該複數個待測射頻元件的其餘每一個根據該功率訊號而輸出各自的一第二射頻訊號；藉由該測試平台將該識別射頻訊號與每一個該第二射頻訊號分別合成為個別的一合成訊號，並傳送給該訊號分析器；以及藉由該訊號分析單元根據該識別特徵將每一該合成訊號分離成該識別射頻訊號與各自的該第二射頻訊號；從該識別射頻訊號根據該識別特徵還原出該第一射頻訊號；計算該第一射頻訊號及該第二射頻訊號的至少一個訊號特徵參數。
- 如請求項6所述的多射頻元件群測方法，其中該測試平台包括一功率分配器、一第一測試子區、一第二測試子區、一相位偏移器及一功率合成器，該多個待測射頻元件為一第一待測射頻元件及一第二待測射頻元件，該第一測試子區設置該第一待測射頻元件，該第二測試子區設置該第二待測射頻元件，該測試平台接收該功率訊號到合成產生該合成訊號的步驟更包括：該功率分配器接收該訊號產生器產生的該功率訊號；該功率分配器將該功率訊號分配到該第一測試子區及該第二測試子區，該第一待測射頻元件根據該功率訊號輸出該第一射頻訊號，該第二待測射頻元件根據該功率訊號輸出該第二射頻訊號；該相位偏移器接收該第一射頻訊號，並且調整該第一射頻訊號的相位角度而產生該識別射頻訊號，其中該第一射頻訊號被調整的該相位角度即為該識別特徵；以及該功率合成器接收該識別射頻訊號及該第二射頻訊號以合成產生該合成訊號。
- 如請求項6所述的多射頻元件群測方法，其中該多個待測射頻元件為一第一待測射頻元件及複數個第二待測射頻元件，該測試平台包括一功率分配器、一第一測試子區及複數個第二測試子區、一相位偏移器、一功率合成器及一訊號切換器，該第一測試子區設置該第一待測射頻元件，每一該個第二測試子區分別設置該複數個第二待測射頻元件的其中一個，該測試平台接收該功率訊號到合成產生各自的該合成訊號的步驟更包括：該功率分配器接收該功率訊號，並將該功率訊號分配到該第一測試子區及該複數個第二測試子區，該第一待測射頻元件根據該功率訊號輸出該第一射頻訊號，該複數個第二待測射頻元件根據該功率訊號分別輸出各自的該第二射頻訊號；該相位偏移器接收該第一射頻訊號，並且調整該第一射頻訊號的相位角度而產生該識別射頻訊號，再傳送到該功率合成器，其中該第一射頻訊號被調整的該相位角度即為該識別特徵；以及該訊號切換器逐個切換將每一該第二測試子區分別連接到該功率合成器，以分別將每一該第二待測射頻元件輸出的該第二射頻訊號傳送到該功率合成器；該功率合成器則將該識別射頻訊號分別與每一該第二射頻訊號分別合成為個別的該合成訊號。
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