TW202400981A - Testing device and testing method - Google Patents
Testing device and testing method Download PDFInfo
- Publication number
- TW202400981A TW202400981A TW112110216A TW112110216A TW202400981A TW 202400981 A TW202400981 A TW 202400981A TW 112110216 A TW112110216 A TW 112110216A TW 112110216 A TW112110216 A TW 112110216A TW 202400981 A TW202400981 A TW 202400981A
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- circuit board
- printed circuit
- sensor
- electronic component
- jig
- Prior art date
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 73
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 14
- 230000006378 damage Effects 0.000 claims description 40
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 29
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 11
- 230000008030 elimination Effects 0.000 claims description 7
- 238000003379 elimination reaction Methods 0.000 claims description 7
- 238000010998 test method Methods 0.000 claims description 7
- 238000005452 bending Methods 0.000 abstract description 21
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 abstract 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 25
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 18
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 14
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 13
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 8
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 6
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 6
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 2
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 230000033228 biological regulation Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000000994 depressogenic effect Effects 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 239000004744 fabric Substances 0.000 description 1
- 230000001815 facial effect Effects 0.000 description 1
- 239000006260 foam Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000004519 grease Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 235000019271 petrolatum Nutrition 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N3/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N3/20—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress by applying steady bending forces
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
Abstract
Description
本開示係關於一種測試裝置以及測試方法。This disclosure relates to a testing device and a testing method.
於非專利文獻1中,其關於耐印刷電路板彎曲性測試,定義一種在測試用印刷電路板,搭載電子零件後之狀態下之測試方法。在此測試方法中,其依據在以規定尺寸彎曲印刷電路板後之電子零件之性能與外觀異常以判定之。Non-patent
於此方法中,當成為不合格後,不瞭解電子零件之破壞產生後之彎曲尺寸(以下,稱做「極限值」)。為了知道極限值,並非必須知道一定尺寸地彎曲印刷電路板者,而必須知道使印刷電路板彎曲至電子零件達到龜裂等破壞為止時之彎曲尺寸。In this method, when the electronic component becomes defective, the bending size after damage occurs (hereinafter referred to as the "limit value") is not known. In order to know the limit value, it is not necessary to know how to bend the printed circuit board to a certain size, but it is necessary to know the bending size when the printed circuit board is bent until the electronic component is damaged such as cracks.
例如在專利文獻1中,開示有於量測在電子零件等之量測對象物單體中之抗折強度之裝置中,在構成載置有量測對象物之桌台之支撐部內,設有聲音發射感測器(以下,稱做「AE感測器」),藉AE感測器,檢測量測對象物之破壞所致之震動。
[先行技術文獻]
[專利文獻]
For example,
[專利文獻1]日本發明專利特開2010-237197號公報 [非專利文獻] [Patent Document 1] Japanese Patent Publication No. 2010-237197 [Non-patent literature]
[非專利文獻1]JIS C 5101-22[Non-patent document 1] JIS C 5101-22
[發明所欲解決的問題][Problem to be solved by the invention]
但是,在專利文獻1所述之技術中,其並未假設彎曲搭載有量測對象物之印刷電路板,其並未成為用於在桌台,載置印刷電路板而彎曲之構造。However, the technology described in
又,於專利文獻1所述之技術中,即使作為可載置印刷電路板之構造時,印刷電路板的下表面全體也與桌子相接觸,量測對象物之破壞所致之震動係藉桌子而衰減,所以,有AE感測器之檢測感度降低之問題。Furthermore, in the technology described in
在此,本開示之目的,其在於提供一種於搭載有電子零件之印刷電路板之彎曲性測試中,可高精度地檢測電子零件之破壞所致之震動之技術。 [用以解決問題的手段] Here, the purpose of this disclosure is to provide a technology that can detect vibrations caused by damage to electronic components with high accuracy during a bending test of a printed circuit board equipped with electronic components. [Means used to solve problems]
本開示之測試裝置係包括:支撐座,支撐搭載有電子零件之印刷電路板的搭載面中之兩端部;推件治具,被配置於該印刷電路板中之該搭載面之相反側之面側,而且,對於該電子零件,透過該印刷電路板以施加負載;感測器,被配置於該印刷電路板的該搭載面中之該電子零件之周邊,而且,檢測該電子零件之破壞所致之震動,輸出對應於該震動之電壓訊號;固定治具,固定該感測器到該印刷電路板;壓抵構件,壓抵該感測器到該印刷電路板;以及量測部,用於量測自該感測器輸出之該電壓訊號之波形。 [發明功效] The test device of this disclosure includes: a support base that supports both ends of a mounting surface of a printed circuit board on which electronic components are mounted; and a pusher jig that is disposed on the opposite side of the mounting surface of the printed circuit board. On the surface side, a load is applied to the electronic component through the printed circuit board; the sensor is arranged around the electronic component in the mounting surface of the printed circuit board, and detects damage to the electronic component. The resulting vibration outputs a voltage signal corresponding to the vibration; the fixing fixture secures the sensor to the printed circuit board; the pressing member presses the sensor to the printed circuit board; and the measuring part, Used to measure the waveform of the voltage signal output from the sensor. [Invention effect]
當依據本開示時,支撐座係支撐印刷電路板的搭載面中之兩端部,所以,推件治具對於電子零件,透過印刷電路板以施加負載,藉此,可彎曲搭載電子零件後之印刷電路板。而且,感測器,其藉固定治具而被固定於印刷電路板,藉壓抵構件而被壓抵於印刷電路板,所以,成為可以穩定安裝感測器到印刷電路板。When based on this disclosure, the support base supports both ends of the mounting surface of the printed circuit board. Therefore, the pusher jig applies a load to the electronic component through the printed circuit board, thereby bending the electronic component after it is mounted. Printed circuit board. Furthermore, the sensor is fixed to the printed circuit board by the fixing jig, and is pressed against the printed circuit board by the pressing member. Therefore, the sensor can be stably mounted on the printed circuit board.
藉此,於搭載電子零件後之印刷電路板之彎曲性測試中,可高精度地檢測由電子零件之破壞所致之震動。In this way, during the bending test of the printed circuit board after mounting the electronic components, the vibration caused by the damage of the electronic components can be detected with high accuracy.
此開示之目的、特徵、事態及優點,其藉以下之詳細說明與附圖,可以更加明瞭。The purpose, characteristics, matters and advantages of this disclosure can be made clearer by the following detailed description and accompanying drawings.
[用以實施發明的形態][Form used to implement the invention]
<實施形態1>
<測試裝置之構造>
針對實施形態1,使用圖面以說明於下。圖1為實施形態1之測試裝置之示意圖。圖2為自-Y方向觀看實施形態1之測試裝置所包括之感測器6之安裝處所之示意圖。圖3為自X方向觀看實施形態1之測試裝置所包括之感測器6之安裝處所之示意圖。
<
於圖1中,X方向、Y方向及Z方向係彼此直交。以下之圖所示之X方向、Y方向及Z方向也彼此直交。以下,將包含X方向、及做為該X方向之相反方向之-X方向之方向,也稱做「X軸方向」。又,以下,將包含Y方向、及做為該Y方向之相反方向之-Y方向之方向,也稱做「Y軸方向」。又,以下,將包含Z方向、及做為該Z方向之相反方向之-Z方向之方向,也稱做「Z軸方向」。In Figure 1, the X direction, Y direction and Z direction are orthogonal to each other. The X direction, Y direction and Z direction shown in the figure below are also orthogonal to each other. Hereinafter, the X direction and the -X direction, which is the opposite direction to the X direction, will be included, and are also referred to as the "X-axis direction". In addition, below, the direction including the Y direction and the -Y direction which is the opposite direction of the Y direction will also be called the "Y-axis direction". In the following, the direction including the Z direction and the -Z direction which is the opposite direction of the Z direction will also be called the "Z-axis direction".
如圖1所示,測試裝置係包括一對之支撐座3、負載施加部1、感測器6、固定治具8、作為壓抵構件之彈性構件7、放大器9、及量測部10。As shown in Figure 1, the test device includes a pair of
一對之支撐座3,其由在Y軸方向上延伸之圓柱狀構件所構成,使得可支撐與XY平面平行配置之印刷電路板4的搭載面中之兩端部(X軸方向之端部)。於印刷電路板4的搭載面之中央部,搭載有做為量測對象物之電子零件5。A pair of
負載施加部1係被配置於印刷電路板4中之搭載面之相反側之面側,亦即,被配置於印刷電路板4之上方(Z方向)。於負載施加部1設有往下方(-Z方向)突出之推件治具2。推件治具2係藉與負載施加部1一同下降,而對於電子零件5,透過印刷電路板4以施加負載。The
感測器6係被配置於印刷電路板4的搭載面中之電子零件5之周邊。感測器6,其為檢測電子零件5之破壞所致之震動,輸出對應於震動之電壓訊號之AE感測器。The
如圖1~圖3所示,彈性構件7,其為板狀彈簧、螺旋彈簧、橡膠、或泡棉等之具有彈性之構件,為了壓抵感測器6到印刷電路板4,而被安裝於感測器6之下端(-Z方向之端)。固定治具8係用於固定感測器6到印刷電路板4之治具。固定治具8,其被形成為自X方向觀之,呈矩形框架狀,使得可以透過彈性構件7,以壓抵感測器6到印刷電路板4。As shown in Figures 1 to 3, the
放大器9係放大自感測器6輸出之電壓訊號,往量測部10輸出。量測部10係用於量測被放大後之電壓訊號之波形之電壓波形量測裝置。而且,放大器9並非必須之構造,所以可省略,但是,測試裝置最好包括放大器9。The
<測試方法>
接著,說明使用測試裝置之測試方法。首先,於印刷電路板4的搭載面,藉軟焊而搭載有做為量測對象物之電子零件5,於印刷電路板4的搭載面中之電子零件5之周邊,感測器6係被固定治具8與彈性構件7所固定。而且,當進行符合JIS C 5101-22之耐印刷電路板彎曲性要求之測試時,作為印刷電路板4,其使用厚度1.6mm±0.2mm或0.8mm±0.1mm之玻璃布基材環氧樹脂印刷電路板用覆銅積層板。又,有一對之支撐座3之曲率半徑為5mm、一對之支撐座3之間隔為90mm之規定。
<Test method>
Next, the test method using the test device is explained. First, the
而且,彈性構件7之安裝位置也可以為感測器6之下側(-Z方向),只要為感測器6被印刷電路板4所壓抵之安裝位置即可。例如彈性構件7之安裝位置,其也可以於印刷電路板4的搭載面之相反側的面中,在固定治具8與印刷電路板4之間。Moreover, the installation position of the
接著,載置印刷電路板4到一對之支撐座3上,使得電子零件5位於下側(-Z方向)。此時,電子零件5係成為不與推件治具2直接接觸之方向。Next, the printed
使負載施加部1與推件治具2一同下降,以接觸推件治具2到印刷電路板4中之搭載面之相反側的面。在此,將推件治具2接觸到印刷電路板4後之推件治具2之位置,作為基準位置。使負載施加部1與推件治具2一同更加下降,以自基準位置更加施加負載。The
藉負載而印刷電路板4彎曲,當更加施加負載時,電子零件5係被破壞,由破壞所致之震動係由電子零件5產生。此震動係透過印刷電路板4,以傳播到感測器6。由電子零件5之破壞所致之震動,其由感測器6所檢測,被轉換為對應於震動之電壓訊號而被輸出。The printed
此電壓訊號被放大器9放大後,被輸入到量測部10。於被輸入到量測部10之訊號中,在電子零件5之破壞所致之訊號之外,也包含來自負載施加部1與周邊設備之雜訊、及藉產生於周邊之震動,而自感測器6輸出之雜訊。為了進行考慮雜訊後之電壓訊號之量測,對於雜訊之電壓幅度,與對應於由電子零件5之破壞所致之震動之電壓訊號之電壓幅度間之電壓值,設定門檻值。This voltage signal is amplified by the
接著,說明決定門檻值之方法。在搭載電子零件5到印刷電路板後之狀態下,進行耐印刷電路板彎曲性測試,藉感測器6檢測由電子零件5之破壞所致之震動,藉量測部10量測電壓訊號之幅度。而且,在未搭載電子零件5到印刷電路板4之狀態下,進行耐印刷電路板彎曲性測試,藉量測部10量測電壓訊號之幅度。在未搭載電子零件5到印刷電路板4之狀態下,測得之電壓訊號係雜訊。Next, the method of determining the threshold value is explained. After the
對於由電子零件5之破壞所致之電壓訊號之電壓幅度,與雜訊之電壓幅度間之電壓值,決定門檻值。而且,當測試裝置包括放大器9時,考慮其放大部分以決定門檻值。The threshold value is determined by the voltage value between the voltage amplitude of the voltage signal caused by the damage of the
回到測試裝置之動作之說明。使如此決定之門檻值設定到量測部10,一邊透過推件治具2,以藉負載施加部1而施加負載往印刷電路板4,一邊藉量測部10,量測自感測器6輸出之電壓訊號。Return to the description of the operation of the test device. The threshold value determined in this way is set to the measuring
當持續施加負載到印刷電路板4時,電子零件5係被破壞。藉感測器6檢測電子零件5破壞後之震動,當被量測部10所測得之電壓訊號之波形超過門檻值後,將自基準位置算起之推件治具2之押入尺寸,當作電子零件5之極限值。When a load is continuously applied to the printed
而且,針對自基準位置算起之推件治具2之押入尺寸,也可以在藉觸發訊號,而停止負載施加部1之動作後之狀態下量測,也可以將負載施加部1之下降速度作為一定,依據自基準位置中之時間,至觸發訊號之檢測時間為止所需之時間以算出之。而且,也可以使用雷射位移計等,量測自基準位置算起之推件治具2之押入尺寸。Furthermore, the pushing dimension of the
又,感測器6也可以被固定於印刷電路板4的搭載面,或者,其相反側的面之任一面,但是,期望被固定於與印刷電路板4中之電子零件5相同之面側。其理由為由電子零件5之破壞所致之震動,其包含很多傳播在印刷電路板4的搭載面之能量,所以,自感測器6輸出之電壓訊號之幅度變大,由電子零件5之破壞所致之震動之檢測感度係提高。In addition, the
如此一來,藉感測器6被固定於印刷電路板4的搭載面中之電子零件5之周邊,由電子零件5之破壞所致之震動之檢測感度係提高。當檢測感度提高時,對應於由電子零件5之破壞所致之震動之電壓訊號,變得大於雜訊,對應於電子零件5之破壞之電壓訊號之幅度電壓值與雜訊之幅度電壓值之差係變大。結果,可使設定於量測部10之門檻值,設定為比雜訊之幅度電壓值大很多,由電子零件5之破壞所致之震動之誤檢測率係降低。In this way, since the
又,為了更加提高感測器6之檢測感度,期望於感測器6與印刷電路板4之接觸面,塗佈凡士林或潤滑脂等之接觸媒質11。In addition, in order to further improve the detection sensitivity of the
又,當固定感測器6到印刷電路板4時,期望固定為壓抵力在一定之壓力以上。圖4為表示在實施形態1之測試裝置所包括之印刷電路板4上,固定震動器13與感測器6後之狀態之示意圖。圖5為表示對於印刷電路板4之感測器6之壓抵力與感測器6之輸出電壓之關係之圖。Furthermore, when fixing the
如圖4所示,在進行耐印刷電路板彎曲性測試之前,於未搭載電子零件5之狀態下,固定震動器13於印刷電路板4的搭載面中之感測器6之周邊。於震動器13連接有訊號產生器14。自震動器13施加一定幅度之震動到印刷電路板4。圖5為表示當改變感測器6之對於印刷電路板4之壓抵力後,自感測器6輸出之電壓訊號。As shown in FIG. 4 , before conducting the printed circuit board bending resistance test, the
當降低壓抵力時,自0.4kg/cm
2附近,由感測器6輸出之電壓訊號之幅度係變小。所以,使感測器6對於印刷電路板4之壓抵力為一定之壓力以上,具體來說,成為0.4kg/cm
2以上,藉此,自感測器6輸出之電壓訊號係變大,與雜訊之幅度差係變大。當幅度差變大時,可使被設定於量測部10之門檻值,設定為比雜訊之幅度電壓值高很多,由電子零件5之破壞所致之震動之誤檢測率係降低。藉此,可期待由電子零件5之破壞所致之震動之量測精度提高之效果。
When the pressing force is reduced, the amplitude of the voltage signal output by the
圖6為表示感測器6與震動器13間之距離之示意圖。如圖6所示,自感測器6至震動器13為止之距離,其期望為一定之距離以下。FIG. 6 is a schematic diagram showing the distance between the
如圖4所示,於印刷電路板4的搭載面中之搭載有電子零件5之位置,接著固定有震動器13。接著,藉固定治具8與彈性構件7,感測器6係被固定。自訊號產生器14輸入成為一定之震動幅之訊號到震動器13,藉此,印刷電路板4係產生震動。As shown in FIG. 4 , the
圖7為表示於震動器13中,施加一定震動到印刷電路板4後之震動器13與感測器6間之距離,與感測器6之輸出電壓之關係之圖。如圖7所示,可知當感測器6與震動器13間之距離變長時,自感測器6輸出之電壓值係降低。FIG. 7 is a diagram showing the relationship between the distance between the
所以,使感測器6與電子零件5間之距離為一定之距離以下,具體來說,固定感測器6,使得成為5mm以下,藉此,對應於電子零件5之破壞所致之震動之感測器6之輸出電壓係較大地輸出,而感度變高。藉此,可使被設定於量測部10之門檻值,設定為比雜訊之幅度電壓高很多,由電子零件5之破壞所致之震動之誤檢測率係降低,可期待量測精度提高之效果。Therefore, the distance between the
<效果>
如上所述,實施形態1之測試裝置係包括:支撐座3,支撐搭載有電子零件5之印刷電路板4的搭載面中之兩端部;推件治具2,被配置於印刷電路板4中之搭載面之相反側之面側,而且,對於電子零件5,透過印刷電路板4以施加負載;感測器6,被配置於印刷電路板4的搭載面中之電子零件5之周邊,而且,檢測由電子零件5之破壞所致之震動,輸出對應於震動之電壓訊號;固定治具8,固定感測器6於印刷電路板4;壓抵構件,壓抵感測器6到印刷電路板4;以及量測部10,用於量測自感測器6輸出之電壓訊號之波形。又,測試裝置還包括放大自感測器6輸出之電壓訊號之放大器9則更佳。在此情形下,量測部10係量測被放大器9所放大之電壓訊號之波形。
<Effect>
As described above, the test device of
支撐座3係支撐印刷電路板4的搭載面中之兩端部,所以,推件治具2係對於電子零件5,透過印刷電路板4以施加負載,藉此,可彎曲搭載電子零件5後之印刷電路板4。而且,感測器6係藉固定治具8而被固定於印刷電路板4,藉壓抵構件而被壓抵到印刷電路板4,所以,成為可以穩定安裝感測器6到印刷電路板4。The
藉此,於搭載電子零件5後之印刷電路板4之彎曲性測試中,可高精度地檢測由電子零件5之破壞所致之震動。Thereby, during the bending test of the printed
藉此,成為可確保包括搭載有電子零件5之印刷電路板4之製品之安全性。Thereby, the safety of the product including the printed
又,與接著感測器6到印刷電路板4之方法相比較下,其可縮短感測器6之安裝及卸下所費之作業時間。In addition, compared with the method of attaching the
又,壓抵構件係包含彈性構件7,所以,藉採用彈性係數為已知之彈性構件7,關於感測器6之安裝之再現性係變高。藉改變彈性構件7之彈性係數,可簡單地獲得往感測器6之適切之壓抵力。結果,可再現性良好地穩定安裝感測器6。In addition, the pressing member includes the
又,壓抵感測器6到印刷電路板4之壓抵力,其為0.4kg/cm
2以上,所以,可感度良好地檢測耐印刷電路板彎曲性測試中之電子零件5之極限值。
In addition, the pressing force between the
又,自感測器6至電子零件5為止之距離係5mm以下,所以,可感度良好地檢測耐印刷電路板彎曲性測試中之電子零件5之極限值。In addition, the distance from the
<實施形態2>
接著,說明實施形態2之測試裝置。圖8為實施形態2之測試裝置之示意圖。圖9為自X方向觀看實施形態2之測試裝置所包括之感測器6之安裝處所之示意圖。而且,於實施形態2中,針對與在實施形態1說明過者相同之構造元件,其賦予相同編號,說明則省略之。
<
如圖8與圖9所示,於實施形態2中,螺絲12係作為壓抵構件。具體來說,為了固定感測器6到印刷電路板4,而設有固定治具8與螺絲12。As shown in FIGS. 8 and 9 , in
在此例中,雖然自印刷電路板4之搭載面側,藉螺絲12而壓抵感測器6到印刷電路板4,但是,也可以自印刷電路板4的搭載面之相反側,透過固定治具8以藉螺絲12壓抵印刷電路板4。又,也可以取代螺絲12,而使用螺栓。In this example, the
如上所述,在實施形態2之測試裝置中,壓抵構件係包含螺栓或螺絲12,所以,可以不使用彈性構件7地,以穩定之壓抵力固定感測器6。As described above, in the test device of
又,藉改變固定螺絲12時之轉速,可較容易調整感測器6之對於印刷電路板4之必要壓抵力,所以,成為可較容易獲得往感測器6之適切之壓抵力。結果,成為可感度良好地檢測由電子零件5之破壞所致之震動,而獲得誤檢測率變低之效果。In addition, by changing the rotation speed of the fixing
又,當為了固定感測器6而使用彈性構件7時,為了確保期望之壓抵力,雖然需要彈性構件7之彈性率為已知,但是,有時彈性率會老化,所以,感測器6之面壓係隨著時間的推移而改變。因此,為了獲得穩定之壓抵力,必須總是管理彈性構件7之彈性率,但是,當使用螺絲12後,也可期待無須管理彈性構件7之彈性率之效果。而且,與接著感測器6到印刷電路板4之方法相比較下,其可縮短安裝及卸下感測器6所費之作業時間。In addition, when the
<實施形態3>
接著,說明實施形態3之測試裝置。圖10為實施形態3之測試裝置之示意圖。而且,於實施形態3中,針對與在實施形態1,2說明過者相同之構造元件,其賦予相同編號,而說明則省略之。
<
如圖10所示,於實施形態3中,在實施形態1之構造之外,再於感測器6與量測部10之間,設有衰減特定頻段之電壓訊號之頻段消除過濾器15。而且,在實施形態2之構造之外,也可以再設有頻段消除過濾器15。As shown in FIG. 10 , in
如上所述,於感測器6之輸出訊號中,其在由電子零件5之破壞所致之訊號之外,也包含來自負載施加部1與周邊設備之雜訊、及藉在周邊產生之震動,自感測器6輸出之雜訊。本來係必須檢測由電子零件5之破壞之震動所致之訊號,但是,當被雜訊誤導,以作為由電子零件5之破壞所致之震動而誤檢測後,產生耐印刷電路板彎曲性測試中之電子零件5之極限值,誤判定為與本來之極限值不同之值之情形。所以,藉配置頻段消除過濾器15於感測器6與量測部10之間,可抑制將雜訊作為由電子零件5之破壞所致之震動以誤檢測之情事。As mentioned above, the output signal of the
例如當電子零件5為陶瓷製積層電容器時,藉感測器6檢測破壞時之震動後,於較大之頻率範圍中,訊號係被檢測。即使藉頻段消除過濾器15,而特定頻段之電壓訊號衰減,此外之頻段之電壓訊號係幾乎不衰減地,通過頻段消除過濾器15。例如當雜訊之頻率為400kHz時,選擇衰減400kHz附近之頻段消除過濾器15。當由電子零件5之破壞所致之震動之頻率係100kHz以上600kHz以下時,與400kHz之雜訊一同地,電子零件5破壞後之震動所致之400kHz之電壓訊號也衰減。For example, when the
但是,此外之頻段之訊號,其幾乎不衰減地,通過頻段消除過濾器15。結果,頻段消除過濾器15係被配置於感測器6與量測部10之間,藉此,做為電子零件5之陶瓷製積層電容器之震動所致之由感測器6檢測之電壓訊號與雜訊之電壓差係變大。However, signals in other frequency bands pass through the frequency
作為參考,圖11為表示針對陶瓷製積層電容器達到極限值後之破壞所致之震動,被感測器6所測得之輸出訊號波形。又,圖12為表示包含於陶瓷製積層電容器達到極限值後之破壞所致之震動之各頻率之直方圖。For reference, FIG. 11 shows the output signal waveform measured by the
如上所述,實施形態3之測試裝置,其還包括被配置於感測器6與量測部10間之頻段消除過濾器15。所以,可藉頻段消除過濾器15,衰減雜訊至被設定於量測部10之門檻值以下為止。藉此,主要由雜訊所致之電子零件5之極限值之誤檢測率係降低,可期待檢測精度提高之效果。As mentioned above, the test device of
<實施形態4>
接著,說明實施形態4之測試裝置。圖13為自-Y方向觀看實施形態4之測試裝置所包括之感測器6之安裝處所之示意圖。圖14(a),(b)為表示實施形態4之測試裝置所包括之固定治具8的外周面之中,與推件治具2相向之部分8a之放大圖。而且,於實施形態4中,針對與在實施形態1~3說明過者相同之構造元件,其賦予相同編號,而省略其說明。
<
如圖13所示,在實施形態4中,相對於實施形態1之構造而言,固定治具8的外周面之形狀係不同。以下,說明固定治具8。與實施形態1之情形同樣地,固定治具8,其自X方向觀之,被形成為包圍印刷電路板4與作為壓抵構件之彈性構件7之矩形框架狀。在此,於實施形態4以後,說明壓抵構件包含彈性構件7之情形,但是,其也可以為壓抵構件包含螺絲12或螺栓之情形。固定治具8的內周面,其接觸到印刷電路板4中之搭載面之相反側的面、及彈性構件7中之印刷電路板4之相反側的部分。如圖14(a)所示,於實施形態4中,固定治具8的外周面之中,與推件治具2相向之部分8a,其被形成為圓弧狀。As shown in FIG. 13 , in the fourth embodiment, the shape of the outer peripheral surface of the fixing
為了提高震動之檢測感度,必須固定感測器6到電子零件5之周邊,當接近固定治具8到電子零件5時,固定治具8係接觸到推件治具2。當兩者接觸時,於彎曲測試時,推件治具2與固定治具8係摩擦而產生震動。因為此震動而產生雜訊,所以,誤檢測率係提高。推件治具2的尖端,其於JIS之耐印刷電路板彎曲測試中,被規定為R=5,於縮短感測器6與電子零件5之距離有其極限。在此,固定治具8的外周面之中,使與推件治具2相向之部分8a為圓弧狀,藉此,兩者係變得較難接觸,成為可使感測器6更接近電子零件5。結果,由電子零件5之破壞所致之震動之檢測感度係提高。In order to improve the vibration detection sensitivity, the
在圖14(a)之例中,固定治具8的外周面之中,與推件治具2相向之部分8a被形成為圓弧狀,但是,並不侷限於此,其只要為避開與推件治具2之接觸之形狀即可。例如如圖14(b)所示,固定治具8的外周面之中,與推件治具2相向之部分8a,其也可以被形成為傾斜狀。In the example of FIG. 14(a) , the
如上所述,於實施形態5之測試裝置中,固定治具8係被形成為包圍印刷電路板4與壓抵構件之框架狀,固定治具8的內周面,其接觸到印刷電路板4中之搭載面之相反側的面、及壓抵構件中之印刷電路板4之相反側的部分,固定治具8的外周面之中,與推件治具2相向之部分8a,其被形成為圓弧狀或傾斜狀。As described above, in the test device of
因此,比實施形態1之情形,可使感測器6更加接近電子零件5配置。結果,可更加感度良好地檢測由電子零件5之破壞所致之震動,獲得更加降低誤檢測率之效果。Therefore, the
<實施形態5>
接著,說明實施形態5之測試裝置。圖15為自X方向觀看實施形態5之測試裝置所包括之感測器6之安裝處所之示意圖。圖16(a),(b)為表示實施形態5之測試裝置所包括之固定治具8的內周面之中,與印刷電路板4接觸之部分8b之放大圖。圖16(c),(d)為表示實施形態5之測試裝置所包括之固定治具8的內周面之中,與印刷電路板4接觸之部分8b、及固定治具8的外周面之中,與推件治具2相向之部分8a之放大圖。而且,於實施形態5中,針對與實施形態1~4說明過者相同之構造元件,其賦予相同編號,說明係省略之。
<
如圖15與圖16(a)所示,在實施形態5中,相對於實施形態4而言,固定治具8的內周面之形狀係不同,固定治具8的內周面之中,與印刷電路板4接觸之部分8b係形成為圓弧狀。As shown in FIGS. 15 and 16(a) , in
當藉推件治具2而持續施加負載到印刷電路板4時,印刷電路板4係變形為圓弧狀(參照圖13),拉伸應力施加於電子零件5。在印刷電路板4之變形變大之同時,往電子零件5之應力也變大,最後達到極限值,而電子零件5係被破壞。所以,電子零件5之極限值影響到印刷電路板4變形之形狀。理想來說,印刷電路板4,其期望變形為與未安裝有固定治具8時之形狀相同之形狀。固定治具8中之與印刷電路板4接觸之部分8b之面積愈小,則對於印刷電路板4之變形形狀之影響愈小。結果,在印刷電路板4安裝有固定治具8之情形與未安裝之情形之間,作用於電子零件5之拉伸應力之大小沒有差值,成為可以較高精度地測試。When the load is continuously applied to the printed
在圖16(a)之例中,固定治具8的內周面之中,與印刷電路板4接觸之部分8b,其被形成為圓弧狀,但是,並不侷限於此,只要固定治具8中之與印刷電路板4接觸之部分8b之面積為較小之形狀即可。例如如圖16(b)所示,也可以固定治具8的內周面之中,與印刷電路板4接觸之部分8b被形成為傾斜狀。又,如圖16(c),(d)所示,也可以組合實施形態5之固定治具8之內周面形狀與實施形態4之固定治具8之外周面形狀。In the example of FIG. 16(a) , the
如上所述,在實施形態5之測試裝置中,固定治具8係被形成為包圍印刷電路板4與壓抵構件之框架狀,固定治具8的內周面係接觸到印刷電路板4中之搭載面之相反側的面、及壓抵構件中之印刷電路板4之相反側的部分,固定治具8的內周面之中,與印刷電路板4接觸之部分8b,其被形成為圓弧狀或傾斜狀。As described above, in the test device of
因此,在印刷電路板4安裝有固定治具8之情形與未安裝之情形之間,作用於電子零件5之拉伸應力之大小無差值,而獲得可較高精度地測試之效果。Therefore, there is no difference in the magnitude of the tensile stress acting on the
<實施形態6>
接著,說明實施形態6之定位治具16。圖17為自Z方向觀看實施形態6之定位治具16之示意圖。圖18為自-Y方向觀看實施形態6之定位治具16之示意圖。圖19為自Z方向觀看使用實施形態6之定位治具16,以安裝感測器6後之狀態之示意圖。圖20為自-Y方向觀看使用實施形態6之定位治具16,以安裝感測器6後之狀態之示意圖。而且,於實施形態6中,針對與在實施形態1~5說明過者相同之構造元件,其賦予相同編號,而省略其說明。
<
如圖17~圖20所示,在實施形態6中,使用定位治具16以進行感測器6之定位。As shown in FIGS. 17 to 20 , in
首先,說明定位治具16之構造。如圖17與圖18所示,定位治具16係包括板狀之基座16a、兩個之導引銷17、兩個之固定用柱塞18、感測器定位板19、及測微頭20。First, the structure of the
基座16a係自Z方向觀之,被形成為矩形狀。在基座16a中之比X軸方向中央部還要靠近-X方向處,當設置固定治具8到定位治具16後,其設有用於使固定治具8與定位治具16不接觸之往-Z方向凹陷之凹部21。The
兩個之導引銷17,其分別夾持基座16a中之凹部21,以被設於X軸方向兩側,進行印刷電路板4之Y軸方向之定位。兩個之固定用柱塞18,其分別被設於與基座16a中之兩個之導引銷17相向之位置,推抵印刷電路板4到兩個之導引銷17。Two guide pins 17 respectively clamp the
感測器定位板19,其被設於基座16a中之凹部21之X方向之周緣部,為了進行感測器6之定位,具有配合感測器6之剖面尺寸之半圓狀之缺口19a。測微頭20,其被設於本體部6a的X方向端部,進行印刷電路板4之X軸方向之定位。The
接著,使用圖19與圖20,說明使用定位治具16之感測器6之定位方法。首先,配置固定治具8於定位治具16的凹部21。之後,使組裝有電子零件5之印刷電路板4,通過被形成於定位治具16上的固定治具8之內周側之開口以配置。此時,凹部21係成為不接觸到印刷電路板4與固定治具8地,相對於定位治具16的基座16a而言,可水平(與XY平面平行)配置之構造。Next, the positioning method of the
沿著定位治具16的導引銷17與固定用柱塞18,決定印刷電路板4之Y軸方向之位置。X軸方向之位置調整之進行,其為印刷電路板4移動至碰觸到測微頭20為止。而且,定位治具16中之測微頭20之位置,其事前調整到電子零件5與感測器6之距離成為期望距離之位置。在此狀態下,推抵感測器6到感測器定位板19之半圓狀之缺口19a,以定位感測器6之位置,以彈性構件固定7感測器6。之後,使印刷電路板4在-X方向上移動,自定位治具16卸下印刷電路板4,藉此,感測器6之定位與固定係結束。The position of the printed
如圖7所示,當感測器6與震動器13間之距離變長時,自感測器6輸出之電壓值係降低。所以,固定感測器6,使得感測器6與電子零件5間之距離為5mm以下。但是,如果接近感測器6到電子零件5時,在彎曲測試時,固定治具8係接觸到推件治具2。As shown in FIG. 7 , when the distance between the
但是,如圖13與圖14(a),(b)所示,固定治具8的外周面之中,使與推件治具2相向之部分8a為圓弧狀或傾斜狀,藉此,可更加接近固定治具8到推件治具2。但是,如上所述,必須精度良好地定位感測器6。However, as shown in Figures 13 and 14 (a) and (b), the
如上所述,於實施形態6之測試方法中,在搭載電子零件5到印刷電路板4的搭載面,藉固定治具8與壓抵構件,固定感測器6到印刷電路板4的搭載面中之電子零件5之周邊之工序中,其使用定位治具16,以定位感測器6到印刷電路板4。As described above, in the test method of
因此,成為可精度良好地固定感測器6到電子零件5之周邊,對應於由電子零件5之破壞所致之震動之感測器6之輸出電壓係較大地輸出,所以,震動之檢測感度係提高。Therefore, the
此開示雖然被詳細地說明過,但是,上述之說明係於全部之事態中,其為例示,並非用於侷限者。其可被瞭解為未例示之無數變形例為可被假設者。Although this teaching has been explained in detail, the above explanation is based on the overall situation and is an illustration and not a limitation. It can be understood that numerous modifications not illustrated can be assumed.
而且,可以自由組合各實施形態,可適宜、變形、省略各實施形態。Furthermore, each embodiment can be freely combined, and each embodiment can be appropriately modified or omitted.
2:推件治具 3:支撐座 4:印刷電路板 5:電子零件 6:感測器 7:彈性構件 8:固定治具 9:放大器 10:量測部 12:螺絲 15:頻段消除過濾器 16:定位治具 2: Push piece fixture 3: Support base 4: Printed circuit board 5: Electronic parts 6: Sensor 7: Elastic component 8: Fixed fixture 9: Amplifier 10:Measurement Department 12:Screws 15: Band elimination filter 16: Positioning fixture
圖1為實施形態1之測試裝置之示意圖。
圖2為自-Y方向觀看實施形態1之測試裝置所包括之感測器之安裝處所之示意圖。
圖3為自X方向觀看實施形態1之測試裝置所包括之感測器之安裝處所之示意圖。
圖4為表示在實施形態1之測試裝置所包括之印刷電路板上,固定震動器感測器後之狀態之示意圖。
圖5為表示對於印刷電路板之感測器之壓抵力與感測器之輸出電壓之關係之圖。
圖6為表示感測器與震動器間之距離之示意圖。
圖7為表示於震動器中,施加一定震動到印刷電路板後之震動器與感測器間之距離,與感測器之輸出電壓之關係之圖。
圖8為實施形態2之測試裝置之示意圖。
圖9為自X方向觀看實施形態2之測試裝置所包括之感測器之安裝處所之示意圖。
圖10為實施形態3之測試裝置之示意圖。
圖11為表示針對陶瓷製積層電容器到達極限值後之造成破壞之震動,由感測器所檢測之輸出訊號波形之圖。
圖12為表示陶瓷製積層電容器到達極限值後之造成破壞之震動所包含之各頻率之直方圖。
圖13為自-Y方向觀看實施形態4之測試裝置所包括之感測器之安裝處所之示意圖。
圖14為表示實施形態4之測試裝置所包括之固定治具的外周面之中,與推件治具相向之部分之放大圖。
圖15為自X方向觀看實施形態5之測試裝置所包括之感測器之安裝處所之示意圖。
圖16為表示實施形態5之測試裝置所包括之固定治具的內周面之中,與印刷電路板接觸之部分、及固定治具的外周面之中,與推件治具相向之部分之放大圖。
圖17為自Z方向觀看實施形態6之定位治具之示意圖。
圖18為自-Y方向觀看實施形態6之定位治具之示意圖。
圖19為自Z方向觀看使用實施形態6之定位治具,安裝感測器後之狀態之示意圖。
圖20為自-Y方向觀看使用實施形態6之定位治具,安裝感測器後之狀態之示意圖。
FIG. 1 is a schematic diagram of the test device of
1:負載施加部 1:Load application part
2:推件治具 2: Push piece fixture
3:支撐座 3: Support base
4:印刷電路板 4: Printed circuit board
5:電子零件 5: Electronic parts
6:感測器 6: Sensor
7:彈性構件 7: Elastic component
8:固定治具 8: Fixed fixture
9:放大器 9: Amplifier
10:量測部 10:Measurement Department
11:接觸媒質 11: Contact with media
Claims (11)
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2022-047731 | 2022-03-24 | ||
JP2022047731 | 2022-03-24 | ||
WOPCT/JP2023/007017 | 2023-02-27 | ||
PCT/JP2023/007017 WO2023181791A1 (en) | 2022-03-24 | 2023-02-27 | Testing device and testing method |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW202400981A true TW202400981A (en) | 2024-01-01 |
Family
ID=88100548
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW112110216A TW202400981A (en) | 2022-03-24 | 2023-03-20 | Testing device and testing method |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPWO2023181791A1 (en) |
TW (1) | TW202400981A (en) |
WO (1) | WO2023181791A1 (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN117782848B (en) * | 2024-02-23 | 2024-05-14 | 梨树全创科技有限公司 | Circuit board bending performance testing device and testing method thereof |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03146843A (en) * | 1989-10-31 | 1991-06-21 | Murata Mfg Co Ltd | Impact fracture test method for electronic parts |
JPH11230878A (en) * | 1998-02-10 | 1999-08-27 | Sumitomo Electric Ind Ltd | Method and device for testing resistance of substrate to bending of surface-mount component |
JP7134566B2 (en) * | 2018-09-10 | 2022-09-12 | 株式会社ディスコ | Chip breaking unit, chip strength comparison method |
JP2021025786A (en) * | 2019-07-31 | 2021-02-22 | 株式会社村田製作所 | Method for testing anti-printed board bendability of surface-mount component and device for testing anti-printed board bendability of surface-mount component |
-
2023
- 2023-02-27 WO PCT/JP2023/007017 patent/WO2023181791A1/en unknown
- 2023-02-27 JP JP2024509876A patent/JPWO2023181791A1/ja active Pending
- 2023-03-20 TW TW112110216A patent/TW202400981A/en unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2023181791A1 (en) | 2023-09-28 |
JPWO2023181791A1 (en) | 2023-09-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR20150053232A (en) | Inspection jig | |
TW202400981A (en) | Testing device and testing method | |
TWI422821B (en) | Determination of breaking strength and determination of breaking strength | |
CA2625190C (en) | Apparatus and method for measuring deflection of a printed circuit board | |
KR100915247B1 (en) | The position controlling apparatus for calibrating acoustic emission sensors | |
US7874213B2 (en) | Ultrasonic test apparatus | |
JP2007057439A (en) | Probe device and adjustment method for contact pressure between object to be inspected and probe | |
JP7479522B2 (en) | Measuring device and measuring method | |
JP7313218B2 (en) | Multilayer Ceramic Capacitor Crack Detection Method and Multilayer Ceramic Capacitor Crack Detection Device | |
JPWO2023181791A5 (en) | ||
JP3042035B2 (en) | Circuit board inspection equipment | |
JPH03245600A (en) | Test method and device of printed board | |
JP4188298B2 (en) | Printed solder inspection equipment | |
JP2012088115A (en) | Method of measuring electrical characteristics of electronic part and device for measuring electrical characteristics of electronic part used therefor | |
TWI797579B (en) | Testing system, crack noise monitoring device and method for monitoring crack noise | |
RU2759639C1 (en) | Device for mounting contact pins on printed circuit boards | |
KR102205277B1 (en) | Detection sensor installation structure of acoustic resonance nondestructive testing device | |
Tarula | An acoustic screening system for multilayer ceramic capacitors-a prototype | |
US9448207B2 (en) | Quality evaluation apparatus, quality evaluation method, and evaluation substrate | |
JP3255122B2 (en) | LSI test equipment | |
JP2006220590A (en) | Electrical inspection device for flexible printed board | |
CN115077679A (en) | Test system, crack sound monitoring device and crack sound monitoring method | |
US5925828A (en) | Low cost clearance gauge and method of using same | |
TW202238767A (en) | Testing apparatus and its element pickup module | |
JPWO2022163532A5 (en) |