[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

SU993007A2 - Film thickness standard - Google Patents

Film thickness standard Download PDF

Info

Publication number
SU993007A2
SU993007A2 SU813342508A SU3342508A SU993007A2 SU 993007 A2 SU993007 A2 SU 993007A2 SU 813342508 A SU813342508 A SU 813342508A SU 3342508 A SU3342508 A SU 3342508A SU 993007 A2 SU993007 A2 SU 993007A2
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
substrate
thickness
film
groove
measure
Prior art date
Application number
SU813342508A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Рейн Антсович Лаанеотс
Original Assignee
Таллинский Политехнический Институт
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Таллинский Политехнический Институт filed Critical Таллинский Политехнический Институт
Priority to SU813342508A priority Critical patent/SU993007A2/en
Application granted granted Critical
Publication of SU993007A2 publication Critical patent/SU993007A2/en

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)

Description

Изобретение относитс  к метрологии , а именно к образцовым мерам дл  поверки,и градуировки средств измерени  толщины покрытий.The invention relates to metrology, namely, exemplary measures for verification and calibration of means for measuring coating thickness.

По основному авт. св. № 813129 известна мера толщины пленок (покрытий ) , содержаща  подложку с участком дл  настройки толщиномеров на ноль и пленку, нанесенную на подложку, на верхней поверхности подложки выполнен паз, аттестованный по глубине , пленка внесена в упом нутый паз, ,.а верхн   поверхность пленки сов падает с верхней поверхностью подложки fl.According to the main author. St. No. 813129 is a known measure of the thickness of films (coatings) comprising a substrate with a section for adjusting the thickness gauges to zero and a film deposited on the substrate, a depth-certified groove is made on the upper surface of the substrate, the film is inserted into the said groove,. Owl falls from the upper surface of the substrate fl.

Однако известна  мера не обеспечивает возможности поверки и градуировки толщиномеров пленок , покрытий ) на детал х, выполненных из разных материалов, например дл  замера толщины покрыти  никел  на стали, латуни на гшюминиевом.сплаве и т.д. Дл  поверки и градуировки толщиномеров необходимо иметь столько мер, сколько примен етс  разновидностей материалов дл  изготовлени  деталей (,изделий ) с нанесенными на них покры ти ми, поэтому комплект мер становит с  громоздким и дорогосто щим.However, the known measure does not provide the possibility of calibration and graduation of film thickness gauges, coatings) on parts made of different materials, for example, to measure the thickness of nickel coating on steel, brass on gshyumium alloy, etc. In order to check and calibrate thickness gauges, it is necessary to have as many measures as the types of materials used to make parts (products) coated with them, so the set of measures becomes cumbersome and expensive.

Наиболее целесообразно иметь одну унифицированную меру дл  измерени  толщины пленки .покрыти ), нанесенной на различные материалы, которые могут быть использованы дл  из готов лени  деталей.It is most advisable to have one unified measure for measuring the film thickness of the coating) applied to various materials that can be used to make parts.

Цель изобретени  - унификаци  меры толщины пленок.The purpose of the invention is to unify the measure of film thickness.

Поставленна  цель достигаетс  The goal is achieved

10 тем, что мера толщины пленок, содержаща  подложку с участком дл  настройки толщиномеров на ноль и пленку, нанесенную на подложку, на верхней поверхности подложки выполнен паз, 10 in that a measure of the thickness of the films, comprising a substrate with a region for adjusting the thickness gauges to zero and a film deposited on the substrate, is grooved on the upper surface of the substrate,

15 аттестованный по глубине, пленка внесена в упом нутый паз, а верх- н   поверхность пленки совпадает с верхней поверхностью подложки, снабжена основанием с пазом, а подложка 15 is certified in depth, the film is inserted into the said groove, and the upper surface of the film coincides with the upper surface of the substrate, is provided with a base with a groove, and the substrate

20 выполнена из элементов разных материалов , которые запрессованы в паз основани .20 is made of elements of different materials that are pressed into the groove of the base.

На фиг. 1 изображена мера толщины пленок, вид спереди; на фиг. 2 25 то же, вид сверху.FIG. 1 shows a measure of the thickness of the films, front view; in fig. 2 25 the same, top view.

Мера толщины пленок содержит подложку 1, на верхней поверхности которой имеютс  участки 2 дл  настройки на ноль толщиномеров (не показаны The measure of film thickness contains a substrate 1, on the upper surface of which there are areas 2 for adjusting to zero thickness gauges (not shown

Claims (1)

30 и . пленку 3, нанесенную на подложку 1. На верхней поверхности подложки 1 выполнен паз, дно 4 которого удалено от верхней поверхности подложки 1 на неличину }i , равную требуемой . толщине пленки ( покрыти  3.. Пленка 3 заполн ет паз так, что верхн   поверхность совпадает с верхней поверхностью подложки 1. Мера толщины пленок снабжена осно 1занием 5 с пазом 6, в который запрес сована подложка 1, выполненна  из элементов ( не обозначены разных материалов . Прочие размеры меры определ ютс  исход  из размеров измерительных головок толщиномеров, а также от разновидностей примен емых материалов дл  изготовлени  деталей (изделий/, подлежащих контролю толщиномером. При изготовлении мер элементы из разных материалов, составл ющие подложку 1, запрессовывают с нат гом в паз б основани  5, затем, верхнюю поверхность подложки 1 и дно 4 основного паза довод т до высокого класса шероховатости, что позвол ет с высокой точностью аттестовать глубину основного паза, например, интерференционным способом. После нанесени  пленки (покрыти  3 в основной паз провер ют плоскостность верхней поверхности подложки 1, что обеспечивает совпадение верхних поверхностей пленки 3 и подложки 1. Поверку и градуировку толщиномеро выполн ют с помощью комплекта мер с различной толщиной пленок 3. Нулевую точку икалы толщиномера повер ют, устанавлива  датчик толщиномера на участок 2 подложки 1, который соответствует материалу измер емой детали, т.е. материгшу, из которого изготовлена деталь (изделие . Толщиномер настраивают на нуль по поверхности подложки 1 на участке 2, где пленочное покрытие отсутствует , а подложка 1 выполнена из элементов разных материалов, которые могут быть пр.именены дл  изготовлени  измер емой детали (издели . Затем датчик толщиномерс1 перемещают на участок с пленкой (покрытием 3. Показани  толщиномера сравнивают с аттестованной толщиной пленки (покрыти . Далее провод т аналогичную поверку или градуировку толщиномера по другому элементу подложки. Комплект мер, состо щий из 2 или 3 мер, позвол ет проверить характеристику толщиномера в различных точках шкалы. Унификаци  меры толщины пленок заключаетс  в том, что при поверке и градуировке толщиномеров покрытий, измер кндих толщину одного вида покрыти  на детал х, изготовленных из разных материсшов, используетс  одна мера, что сокращает врем  поверки толщиномеров, а также исключает случайные ошибки, возник.ающие при обмене мер. При этом повьпиаетс  точность поверки, так как погрешность изготовлени  данной меры  вл етс  одинаковой дл  всех элементов подложки. Формула изобретени  Мера толщины пленок по авт. св. № 813129, отличающа с  тем, что, с целью унификации, она снабжена основанием с пазом, а подложка выполнена из элементов разных материалов, которые запреЪсованы в паз основани . Источники информации, прин тые во внимание при эо спертизе 1. Авторское свидетельство СССР № 813129, кл. G 01 В 7/06, 1981.30 and. film 3, deposited on the substrate 1. On the upper surface of the substrate 1, a groove is made, the bottom 4 of which is removed from the upper surface of the substrate 1 by a non-sized} i equal to the desired one. film thickness (coating 3 .. Film 3 fills the groove so that the upper surface coincides with the upper surface of the substrate 1. The film thickness measure is provided with a base 5 with groove 6, into which the substrate 1 is pressed, made of elements (no different materials are marked Other dimensions of the measure are determined based on the dimensions of the measuring heads of the thickness gauges, as well as on the varieties of materials used for the manufacture of parts (products / subject to thickness gauge control. In the manufacture of measures the elements of different materials are The substrate 1 is pressed into the groove of the base 5, and then the upper surface of the substrate 1 and the bottom 4 of the main groove is brought to a high roughness class, which allows the depth of the main groove to be certified with high accuracy, for example, by an interference method. films (coatings 3 in the main groove check the flatness of the upper surface of the substrate 1, which ensures the coincidence of the upper surfaces of the film 3 and the substrate 1. The verification and calibration of the thickness gauge is performed using a set of measures with different thickness 3. The zero point Yenok kcal gauge power metal dissolved by mounting the gauge on the sensor portion 2 of the substrate 1 which corresponds to the material of the measured items, i.e. the material from which the part is made (product. The thickness gauge adjusts to zero on the surface of the substrate 1 in section 2 where the film coating is absent and the substrate 1 is made of elements of different materials that can be named to make the measured part (product. Then The thickness gauge sensor is moved to the area with the film (coating 3. The thickness gauge readings are compared with the certified film thickness (coating. Next, a similar calibration or calibration of the thickness gauge is performed using a different substrate element. Set of consisting of 2 or 3 measures, allows you to check the characteristics of the thickness gauge at various points on the scale. The unification of the film thickness measure is that when calibrating and calibrating coating thickness gauges, measuring the thickness of one type of coating on parts made from different materials, a single measure is used, which shortens the calibration time of the thickness gauges, and also eliminates the random errors that occurred during the exchange of measures, and the accuracy of the calibration is twisted, since the error of manufacture of this measure is the same for all ENTOV substrate. Claims of Invention Measure of film thickness according to ed. St. No. 813129, characterized in that, for the purpose of unification, it is provided with a base with a groove, and the substrate is made of elements of different materials that are pressed into the groove of the base. Sources of information taken into account during eo-spertiz 1. USSR Author's Certificate No. 813129, cl. G 01 B 7/06, 1981. ,В .6,AT 6
SU813342508A 1981-09-28 1981-09-28 Film thickness standard SU993007A2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU813342508A SU993007A2 (en) 1981-09-28 1981-09-28 Film thickness standard

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU813342508A SU993007A2 (en) 1981-09-28 1981-09-28 Film thickness standard

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU813129 Addition

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU993007A2 true SU993007A2 (en) 1983-01-30

Family

ID=20978429

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU813342508A SU993007A2 (en) 1981-09-28 1981-09-28 Film thickness standard

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU993007A2 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SU993007A2 (en) Film thickness standard
US6243661B1 (en) Coating thickness gauge
US4089054A (en) Device for measuring the thickness of layers with a radionuclide irradiating the layer
US6289713B1 (en) Method of calibrating gages used in measuring intensity of shot blasting
US9927233B2 (en) Coating thickness measuring instrument and methods
JP2002022401A (en) Instrument for measuring bend/warp size of long part
US5780714A (en) Calibration apparatus and method for shot blasting intensity measurement
US4738131A (en) Guarded ring tensioned thickness standard
SU813129A1 (en) Device for measuring film thickness
US5020356A (en) Method and apparatus for measuring characteristics of a multilayer product
SU1097891A2 (en) Film thickness standards
JPS5851604B2 (en) How to adjust a load cell type load cell
SU1004748A2 (en) Film thickness standard
JPS60147616A (en) Load cell
US2814122A (en) Dry film thickness gage
US5463818A (en) Wide-width micrometer and method of using the same
SU1430732A2 (en) Film thickness standard
JP2671096B2 (en) Micro indentation tester
JP3171945B2 (en) Calibration method for crack length measurement
DE102018118503A1 (en) Measuring device for thermal expansion coefficient and measurement method for thermal expansion coefficient
JPS62297701A (en) Gear tooth thickness measurement tool
SU690282A1 (en) Simulator for adjusting coating thickness meters
SU1710996A1 (en) Coating thickness standard for calibrating and verifying electromagnetic and eddy-current thickness meters
Desai A new technique for measuring thickness of thin solid films
JPS62237311A (en) Automatic reflectivity correction type displacement gauge