SU822290A1 - Semiconductor storage - Google Patents
Semiconductor storage Download PDFInfo
- Publication number
- SU822290A1 SU822290A1 SU792794162A SU2794162A SU822290A1 SU 822290 A1 SU822290 A1 SU 822290A1 SU 792794162 A SU792794162 A SU 792794162A SU 2794162 A SU2794162 A SU 2794162A SU 822290 A1 SU822290 A1 SU 822290A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- inputs
- information
- outputs
- buses
- address
- Prior art date
Links
Landscapes
- Memory System (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
- Dram (AREA)
Description
ойства. В таком устройстве увеличиаетс скорость передачи кода адреа из процессора, однако скорость ередачи информации .возрасти не моет , так как из различных строк марицы информаци поступает по общим инам, и скорость ее обработки опреел етс быстродействием блоков па ти . Врем проверки запоминающего стройства зависит от его ёмкости и от скорости обработки информации запоминающим устройством. Так, дл проверки устройства с временем цикла 1 МКС, емкостью 4096 бит по -теоту скачущие единицы и нули необходимо затратить врем , определ емое по формулеoystva In such a device, the speed of transferring the address code from the processor increases, but the speed of information transfer does not increase, since information from the various marina lines is received through the general information, and its processing speed is determined by the speed of the blocks of the bits. The time of checking a memory device depends on its capacity and on the speed of information processing by the memory device. So, to test a device with a cycle time of 1 MKS, with a capacity of 4096 bits, the jump units and zeros need to be spent on the time determined by the formula
t 8 4096 1 10 2,24 мин где N - емкость провер емого устройства , 1ц - врем цикла провер емого t 8 4096 1 10 2.24 min where N is the capacity of the device under test, 1 c is the cycle time of the test device
устройства.devices.
Дл проверки устройства емкостью 16384 бит с тем же быстродействием потребуетс уже 35,84 мин. Резкое увеличение времени проверки необходимо учитывать при разработке полупроводниковых запоминающих устройств с высокой информационной емкостью, так как при этом снижаетс производительность контрольного оборудовани , увеличиваетс стоимость контрол и себестоимость устройства.To test a device with a capacity of 16384 bits with the same speed, it will take 35.84 minutes. The dramatic increase in verification time must be taken into account when developing semiconductor storage devices with high information capacity, since this reduces the performance of the control equipment, increases the cost of control and the cost of the device.
Целью изобретени вл етс повь. шение информационной емкости устройства .The aim of the invention is pov. information capacity of the device.
Поставленна цель достигаетс тем, что в полупроводниковое запоминающее устройство, содержащее матричный накопитель, выходы которого подключены к одним из входов селектора и выходным шинам устройства, одни из входов матричного накопител через формирователи выборки соединены d выходами дешифратора адреса, входы которого подключены к одним из выходов регистра адреса, другие выходы которого через адресные формирователи подключены к адресным входам матричного накопител , информационные шины и шины записи-считывани , в него введены дополнительный дешифратор адреса, элементы ИЛИ и ИЛИ-НЕ, причем один из входов дополнительного дешифратора адреса подключен к первой шине записи-считывани , другие входы - к другим входам селектора и соответствующим выходам регистра адреса, выходы дополнительного дешифратора адреса подключ;ены к первым входам элементов ИЛИ, вторые входы которых подключены -к второй шине записи-считывани , а выходы элементов ШШ подключены к другим входам матричного накопител , информационные входы которого подключены к выходам соответствующих элементов ИЛИ-НЕ, входы которых подключены к входным информационным шинам.The goal is achieved by the fact that in a semiconductor memory device containing a matrix drive, the outputs of which are connected to one of the selector inputs and output buses of the device, one of the inputs of the matrix accumulator is connected via the sampling drivers to the d outputs of the address decoder, the inputs of which are connected to one of the register outputs addresses whose other outputs through the address drivers are connected to the address inputs of the matrix storage device, information buses and read / write buses are entered into it An additional address decoder, OR elements and OR-NOT, with one of the inputs of the additional address decoder connected to the first write-read bus, other inputs to the other selector inputs and the corresponding outputs of the address register, the outputs of the additional address decoder connected to the first inputs of the elements OR, the second inputs of which are connected to the second write-read bus, and the outputs of the SHS elements are connected to other inputs of the matrix storage device, the information inputs of which are connected to the outputs of the corresponding elements Comrade NOR inputs are connected to the input data lines.
На чертеже представлена функциональна схема полупроводникового запоминающего устройства.The drawing shows a functional diagram of a semiconductor storage device.
Устройство содержит блоки пам ти, объединенные в матричный накопитель 5 1, выходцые шины 2, регистр 3 инфорг мации, селектор 4, выходные шины 5 устройства, входы 6 и 7 матричного накопител , формирователи 8 выборки, дешифратор 9 адреса, регистр 10 адреса , адресные формирователи 11, адресный вход 12 матричного накопител , дополнительный дешифратор 13 адреса, элементы 14 ИЛИ, элементы 15 , шины 16 и 17 записи-считывани , информационные входы 18 матричного 5 накопител , входные информационные шины 19 и 20..The device contains memory blocks integrated into a matrix storage device 5 1, output buses 2, information register 3, selector 4, device output buses 5, inputs 6 and 7 of the matrix storage device, sampling units 8, address decoder 9, address register 10, address drivers 11, address input 12 of matrix storage, additional address decoder 13, elements 14 OR, elements 15, write-read buses 16 and 17, information inputs 18 of matrix 5 storage, input information buses 19 and 20 ..
Устройство имеет два режима работы: режим работы в составе видеотер . минального комплекса и режим контрол . The device has two modes of operation: the mode of operation as part of the videoter. minal complex and control mode.
Во врем работы в составе, видеотерминального комплекса запись информации осуществл етс , как в одноразр дное ЗУ. Код адреса с выходов 5 регистра 10 адреса поступает на входы формирователей 11, входы дешифратора 9 и дешифратора 13. Входна информаци поступает по шине 20, код операции записи - по шине 16. Формирователи 8 выборки выбирают необходимую строку блоков пам ти матричного накопител 1, дешифратор 13 выбирает необходимый блок в выбранной строке, который по коду операции, поступающему по шине 16, переключаетс в режим записи, а ос альные блоки данной строки остаютс в режиме чтени . Информаци , поступивша по шине 20, записываетс в выбранный блок пам ти . В режиме чтени информаци считываетс одновременно со всех блоков пам ти выбранной строки и записываетс в регистр 3. информации, который работает в режиме сдвига информации и преобразует параллельный код инDuring operation in a video terminal complex, information is recorded as in a one-bit memory. The address code from the outputs 5 of the register 10 of the address is fed to the inputs of the drivers 11, the inputs of the decoder 9 and the decoder 13. Input information is fed through bus 20, the write operation code via bus 16. Sample drivers 8 select the necessary row of memory blocks of the matrix drive 1, the decoder 13 selects the required block in the selected line, which, by the operation code received via bus 16, switches to the write mode, and the remaining blocks of this line remain in the read mode. The information received via bus 20 is recorded in the selected memory block. In the read mode, the information is read simultaneously from all the memory blocks of the selected row and is written to the information register 3., which operates in the information shift mode and converts the parallel code into
5 формации в последовательный, что5 formations in sequential that
увеличивает скорость передачи информации . Предусмотрена также возможность , передачи на выходные шины одного разр да информации через. селектор 4.increases the speed of information transfer. There is also the possibility of transmitting one bit of information to the output buses through. selector 4.
В режиме контрол код записи поступает по шине 17, а информаци по шинам 19. Выбор блоков пам ти осуществл етс дешифратором 9 строк. Запись информации осуществл етс . одновременно во все блоки пгил ти выбранной строки. При чтении в режиме контрол считанна информаци поступает на выходные шины 5 через регистр 3 информации параллельным кодом.In the control mode, the write code enters the bus 17, and the information on the buses 19. The selection of the memory blocks is carried out by the decoder of 9 lines. Information is recorded. simultaneously to all blocks of the selected line. When reading in the control mode, the read information enters the output buses 5 through the information register 3 with a parallel code.
0 В предлагаемом устройстве используютс дл дешифрации входы записьочитывание блоков пам ти, что позво , л ет увеличить емкость уст эойства не за счет увеличени числа блоков0 In the proposed device, inputs are used to decipher the recording of memory blocks, which makes it possible to increase the capacity of the device not by increasing the number of blocks.
Claims (2)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU792794162A SU822290A1 (en) | 1979-07-09 | 1979-07-09 | Semiconductor storage |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU792794162A SU822290A1 (en) | 1979-07-09 | 1979-07-09 | Semiconductor storage |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU822290A1 true SU822290A1 (en) | 1981-04-15 |
Family
ID=20839749
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU792794162A SU822290A1 (en) | 1979-07-09 | 1979-07-09 | Semiconductor storage |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU822290A1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5528551A (en) * | 1987-05-21 | 1996-06-18 | Texas Instruments Inc | Read/write memory with plural memory cell write capability at a selected row address |
-
1979
- 1979-07-09 SU SU792794162A patent/SU822290A1/en active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5528551A (en) * | 1987-05-21 | 1996-06-18 | Texas Instruments Inc | Read/write memory with plural memory cell write capability at a selected row address |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100203392B1 (en) | Programmable memory timing | |
US4633440A (en) | Multi-port memory chip in a hierarchical memory | |
EP0016827B1 (en) | High density memory system | |
EP0249548A2 (en) | Dual-port semiconductor memory device | |
US4669064A (en) | Semiconductor memory device with improved data write function | |
JPS6476600A (en) | Semiconductor memory device | |
EP0139094B1 (en) | Raster scan digital display system with a multiple memory device comparator facility | |
SU822290A1 (en) | Semiconductor storage | |
US5708839A (en) | Method and apparatus for providing bus protocol simulation | |
EP0057096A2 (en) | Information processing unit | |
KR950008440B1 (en) | Semiconductor memory circuit having bit clear and register initialize fonction | |
US4453227A (en) | Method and apparatus for transferring a bit pattern field into a memory | |
KR950009076B1 (en) | Dual port memory and control method | |
EP0075666B1 (en) | Control arrangement for magnetic bubble memories | |
JPH05210981A (en) | Semiconductor memory | |
SU1531103A1 (en) | Device for interfacing between computer, permanent storage and external storage | |
SU491952A1 (en) | Device for exchanging information between RAM and processor | |
SU1425689A1 (en) | Device for controlling memory units | |
KR950009237B1 (en) | Method of data processing of synchronous semiconductor memory device | |
SU1034069A1 (en) | Buffer memory | |
SU733016A1 (en) | Device for writing and reading data in programmable read only memory units | |
JPS58117068A (en) | Processing circuit of picture data | |
SU1026163A1 (en) | Information writing/readout control device | |
KR0166911B1 (en) | Multi-input/-output controlling device with cd-rom drive | |
JPH01112592A (en) | Semiconductor storage device |