[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

SU1659919A1 - Short-circuit detector - Google Patents

Short-circuit detector Download PDF

Info

Publication number
SU1659919A1
SU1659919A1 SU884465784A SU4465784A SU1659919A1 SU 1659919 A1 SU1659919 A1 SU 1659919A1 SU 884465784 A SU884465784 A SU 884465784A SU 4465784 A SU4465784 A SU 4465784A SU 1659919 A1 SU1659919 A1 SU 1659919A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
circuits
comparators
terminals
output
resistor
Prior art date
Application number
SU884465784A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Владимир Ильич Турченков
Original Assignee
В.И.Турченков
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by В.И.Турченков filed Critical В.И.Турченков
Priority to SU884465784A priority Critical patent/SU1659919A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1659919A1 publication Critical patent/SU1659919A1/en

Links

Landscapes

  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к контрольно- измерительной технике и может быть использовано дл  контрол  на наличие коротких замыканий между одной из цепей и остальными цеп ми провер емого издели  (например, жгута или печатной платы). Цель изобретени  - ускорение процесса контрол  и расширение функциональных возможностей - достигаетс  за счет того, что устройство за один прием вы вл ет в провер емом изделии наличие коротких замыканий и полупроводниковых р-п-перехо- дов, дл  чего в устройство введены резистор 3.N+1, источник 4 испытательного сигнала и элемент неравнозначности. Кроме того, устройство содержит клеммы 1.1, 1.2 1.N дл  подключени  контролируемых цепей, компараторы 2.1.2.22.N и резисторы 3.1, 3.23.N. 1 ил.The invention relates to a test and measurement technique and can be used to monitor for the presence of short circuits between one of the circuits and the rest of the circuits of the product under test (for example, a harness or printed circuit board). The purpose of the invention is to speed up the monitoring process and expand the functionality, which is achieved due to the fact that the device detects the presence of short circuits and semiconductor pn-n junctions in a tested product, for which a resistor 3.N is inserted into the device. +1, 4 test signal source and inequality element. In addition, the device contains terminals 1.1, 1.2 1.N for connecting monitored circuits, comparators 2.1.2.22.N and resistors 3.1, 3.23.N. 1 il.

Description

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при контроле на наличие короткого замыкания между одной из цепей и остальными цепями проверяемого изделия (например, жгута или печатной платы).The invention relates to instrumentation and can be used to monitor for the presence of a short circuit between one of the circuits and the rest of the circuits of the product under test (for example, a bundle or a printed circuit board).

Целью изобретения является ускорение процесса контроля и расширение функциональных возможностей.The aim of the invention is to accelerate the control process and expand the functionality.

На чертеже приведена структурная схема предлагаемого устройства.The drawing shows a structural diagram of the proposed device.

I Устройство обнаружения замыканий Содержит клеммы 1.1, 1.2.......1.N для подключения контролируемых цепей, где N количество контролируемых цепей изделия, компараторы 2.1, 2.2, 2.N, резисторыI Short circuit detection device Contains terminals 1.1, 1.2 ....... 1.N for connecting controlled circuits, where N is the number of controlled circuits of the product, comparators 2.1, 2.2, 2.N, resistors

3.1,3.2,.... 3.N, 3.N+1, источник испытательного сигнала (не показан), элемент 4 неравнозначности, входы которого соединены Соответственно с выходами компараторов 2.1, 2.2, .... 2.N. Клеммы 1.1, 1.2.....1.N для подключения контролируемых цепей соответственно соединены с первыми выводами резисторов 3.1, 3.2, ..., 3.N. Неинвертирующие входы компараторов 2.2, 2.3..... 2.N соединены соответственное первыми выводами резисторов 3.2,3.3.....3.N, инвертирующие входы компараторов 2.2, 2.3, .... 2.N соединены с вторым выводом резистора 3.1 и первым выводом резистора 3.N+1. второй вывод которого соединен с выходом компаратора 2.1. инвертирующий вход которого соединен с клеммой 1.1 и первым выводом источника испытательного сигнала, второй вывод которого соединен с неинвертирующим входом компаратора 2.1 и вторыми выводами резисторов 3.2, 3.3, ..., 3.N.3.1,3.2, .... 3.N, 3.N + 1, the source of the test signal (not shown), the element of unevenness 4, the inputs of which are connected Accordingly with the outputs of the comparators 2.1, 2.2, .... 2.N. Terminals 1.1, 1.2 ..... 1.N for connecting controlled circuits are respectively connected to the first terminals of resistors 3.1, 3.2, ..., 3.N. Non-inverting inputs of comparators 2.2, 2.3 ..... 2.N are connected respectively by the first terminals of resistors 3.2,3.3 ..... 3.N, inverting inputs of comparators 2.2, 2.3, .... 2.N are connected with the second terminal of resistor 3.1 and the first output of the resistor 3.N + 1. the second output of which is connected to the output of the comparator 2.1. whose inverting input is connected to terminal 1.1 and the first output of the test signal source, the second output of which is connected to the non-inverting input of the comparator 2.1 and the second outputs of the resistors 3.2, 3.3, ..., 3.N.

Устройство работает следующим образом.The device operates as follows.

При подключении проверяемого изделия к клеммам 1.1, 1.2, .... 1.N на выходе ‘ компаратора 2.1 устанавливается напряжение, по знаку противоположное тому, которое подается на клемму 1.1 от источника испытательного сигнала. Это напряжение через резистор 3.N+ 1 создает на резисторе 3.1 падение напряжения, большее максимального падения напряжения на прямосмещенном полупроводниковом рn-переходе, который, возможно, включен между клеммой 1.1 и другими клеммами благодаря подключению проверяемого изделия. В этом случае при отсутствии коротких замыканий и прямосмещенных рn-переходов между клеммой 1.1 и клеммами !2, 1.3, ..., 1.N на выходах всех компараторов имеется напряжение, близкое по величине к величине источника питания компараторов (не показан) и по знаку противоположное напряжению источника испытательного сигнала. Элемент неравнозначности выдает при этом сигнал логического нуля, что свидетельствует об исправности подключенного к клеммам 1.1, 1.2..... 1.N изделия. При наличии хотя бы одного короткого замыкания или прямосмещенного р-пперехода между клеммой 1.1 и клеммами 1.2, 1.3, 1.N в проверяемом изделии на выходе соответствующего компаратора имеется напряжение, по знаку совпадающее с напряжением источника испытательного сигнала. В этом случае элемент 4 неравнозначности выдает сигнал логической единицы, что свидетельствует о наличии короткого замыкания или прямосмещенного р-п-перехода между клеммой 1.1 и клеммами 1.2, 1.3.....1.N.When connecting the product under test to terminals 1.1, 1.2, .... 1.N, the voltage по is set at the output ‘of comparator 2.1, the opposite sign to that applied to terminal 1.1 from the test signal source. This voltage through resistor 3.N + 1 creates a voltage drop across resistor 3.1, which is greater than the maximum voltage drop at the forward biased semiconductor pn junction, which is possibly connected between terminal 1.1 and other terminals due to the connection of the tested product. In this case, in the absence of short circuits and directly biased PN junctions between terminal 1.1 and terminals! 2, 1.3, ..., 1.N, the outputs of all comparators have a voltage close to the magnitude of the comparators power supply (not shown) and sign opposite to the voltage of the test signal source. The element of ambiguity produces a logical zero signal, which indicates the serviceability of the product connected to terminals 1.1, 1.2 ..... 1.N. If there is at least one short circuit or a direct biased junction between terminal 1.1 and terminals 1.2, 1.3, 1.N, there is a voltage at the output of the corresponding comparator in the product under test that matches the sign of the voltage of the test signal source. In this case, the element 4 of the ambiguity generates a signal of a logical unit, which indicates the presence of a short circuit or a direct biased pn junction between terminal 1.1 and terminals 1.2, 1.3 ..... 1.N.

При подаче на клемму 1.1 разнополярных импульсов напряжения от источника испытательного сигнала устройство сигнализирует об отсутствии (или наличии) в проверяемом изделии коротких замыканий и диодных переходов при любой полярности их подключения.When a voltage pulse of opposite polarity is applied to terminal 1.1 from the source of the test signal, the device signals the absence (or presence) of short circuits and diode junctions in the product under test for any polarity of their connection.

Если номиналы резисторов 3.1 и 3.N+1 подобрать такими, что падение напряжения на резисторе 3.1 составит величину меньшую, чем максимальное падение напряжения на прямосмещенном р-п-переходе, то устройство будет выдавать сигнал логической единицы только в случае наличия короткого замыкания.If the values of the resistors 3.1 and 3.N + 1 are selected such that the voltage drop across the resistor 3.1 is less than the maximum voltage drop at the forward biased pn junction, the device will only output a logical unit signal if there is a short circuit.

Claims (3)

Ф о р м у л а и з о б р е т е н и яClaim Устройство обнаружения замыканий, содержащее N компараторов, где N - количество контролируемых цепей, N клемм для подключения контролируемых цепей, N резисторов, первые выводы которых соответственно соединены с клеммами для подключения контролируемых цепей и первыми входами компараторов, вторые входыA fault detection device containing N comparators, where N is the number of monitored circuits, N terminals for connecting monitored circuits, N resistors, the first terminals of which are respectively connected to terminals for connecting monitored circuits and the first inputs of comparators, second inputs 2, 3, .... N компараторов соединены между собой, при этом первый вход первого компаратора является инвертирующим, вторые выводы 2, 3..... N резисторов соединены между собой, отличающееся тем, что, с целью ускорения процесса контроля и расширения функциональных возможностей, в устройство введены (Ν+1)-ή резистор, источник испытательного сигнала и элемент неравнозначности, входы которого соединены соответственно с выходами компараторов, первые входы 2, 3.....N компаратора являются неинвертирующими, вторые выводы 2,2, 3, .... N comparators are interconnected, while the first input of the first comparator is inverting, the second conclusions 2, 3 ..... N are resistors interconnected, characterized in that, in order to accelerate the control process and expansion of functionality, a (Ν + 1) -ή resistor, a test signal source and an unequal element are introduced into the device, the inputs of which are connected respectively to the outputs of the comparators, the first inputs 2, 3 ..... N of the comparator are non-inverting, the second conclusions 2, 3, .... N резисторов соединены с общей шиной, первым выводом источника испытательного сигнала, вторым входом первого компаратора, выход которого соединен с первым выводом (N+1)-ro резистора, второй вывод которого соединен с вторыми входа53, .... N resistors are connected to the common bus, the first output of the test signal source, the second input of the first comparator, the output of which is connected to the first output of the (N + 1) -ro resistor, the second output of which is connected to the second inputs 1659919 ' ми 2, 3,.... N компараторов и вторым выводом первого резистора, первый вывод кото рого соединен с вторым выводом источника испытательного сигнала.1659919 'mi 2, 3, .... N comparators and a second terminal of the first resistor, the first terminal of which is connected to the second terminal of the test signal source.
SU884465784A 1988-07-25 1988-07-25 Short-circuit detector SU1659919A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU884465784A SU1659919A1 (en) 1988-07-25 1988-07-25 Short-circuit detector

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU884465784A SU1659919A1 (en) 1988-07-25 1988-07-25 Short-circuit detector

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1659919A1 true SU1659919A1 (en) 1991-06-30

Family

ID=21392023

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU884465784A SU1659919A1 (en) 1988-07-25 1988-07-25 Short-circuit detector

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1659919A1 (en)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Патент US № 4005362, кл. G 01 R31/02, 1977. Авторское свидетельство СССР № 1348754, кл. G 01 R 31/02, 1986. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4922184A (en) Apparatus and process for the simultaneous continuity sensing of multiple circuits
SU1659919A1 (en) Short-circuit detector
GB1278631A (en) Improvements relating to measuring and testing electrical circuits
US4091292A (en) Fail-safe monitor of d.c. voltage
US3735261A (en) Pulse analyzer
US3587078A (en) Limit sensor device
KR960701373A (en) Device for testing connections provided with pulling resistors
US4015136A (en) Electrical systems for road vehicles
EP0214691A2 (en) Monitor system for traffic-lights
SU1164636A1 (en) Device for grading and rejecting semiconductor diodes
JPS6476303A (en) Stopping circuit for heater energization of temperature controller
SU1281926A1 (en) Device for checking condition of thermoelectric temperature transducers
SU1444682A1 (en) Device for checking electric units
SU892362A1 (en) Device for checking semiconductor device
US4612438A (en) Light intensity sensor providing a variable output current
SU761949A1 (en) Apparatus for locating short circuits of electric wiring
SU1242907A1 (en) Device for checking leakage current of complementary metal-oxide semiconductor integrated circuits in dynamic mode
SU1705778A1 (en) Probe to check logic device circuits
SU1406539A1 (en) Device for checking quality of contacts of integrated circuits
SU1113756A1 (en) Device for checking logic state of digital circuits
JPS60253882A (en) Short-circuited point detector
SU1434375A1 (en) Device for monitoring contact-making
SU1019625A1 (en) Voltage/time interval converter
SU972477A1 (en) Device for voltage tolerance checking
SU1647453A1 (en) Device for insulation resistance testing