SU1599877A1 - Device for modeling operation of solid-state device - Google Patents
Device for modeling operation of solid-state device Download PDFInfo
- Publication number
- SU1599877A1 SU1599877A1 SU884620433A SU4620433A SU1599877A1 SU 1599877 A1 SU1599877 A1 SU 1599877A1 SU 884620433 A SU884620433 A SU 884620433A SU 4620433 A SU4620433 A SU 4620433A SU 1599877 A1 SU1599877 A1 SU 1599877A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- variable resistor
- terminal
- amplifying transistor
- amplifying
- simulating
- Prior art date
Links
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к аналоговой вычислительной технике, а именно к исследовани м радиоэлектронной аппаратуры, в состав которой вход т стабилитроны. Цель изобретени - расширение класса решаемых задач за счет моделировани работы полупроводникового прибора в услови х повышенной температуры и технологического разброса напр жени стабилизации. Достигают возможность моделировани работы стабилитрона при воздействии температуры и технологическом разбросе параметров за счет того, что два усилительных транзистора имеют различную проводимость. В устройство ввод т второй переменный резистор, образующий с первым переменным резистором делитель, включенный в базовую цепь первого усилительного транзистора, эмиттер которого, второй вывод первого переменного резистора, коллектор второго усилительного транзистора и катод запирающего диода объединены, второй вывод второго переменного резистора, эмиттер второго усилительного транзистора и анод запирающего диода также объединены, коллектор первого усилительного транзистора подключен к базе второго усилительного транзистора. 2 ил.The invention relates to analog computing, in particular to studies of electronic equipment, which includes zener diodes. The purpose of the invention is to expand the class of tasks to be solved by simulating the operation of a semiconductor device under conditions of elevated temperature and technological variation in the voltage of stabilization. Achieve the ability to simulate the work of the Zener diode when exposed to temperature and technological variation of parameters due to the fact that two amplifying transistors have different conductivity. A second variable resistor is inserted into the device, forming with the first variable resistor a divider included in the base circuit of the first amplifying transistor, whose emitter, the second terminal of the first variable resistor, the collector of the second amplifying transistor and the cathode of the blocking diode, the second terminal of the second variable resistor the amplifier transistor and the anode of the blocking diode are also combined; the collector of the first amplifier transistor is connected to the base of the second amplifier transistor. 2 Il.
Description
Изобретение относитс к аналоговой вычислительной технике, а именно к области исследовани радиоэлектронной аппаратуры (РЭА), в состав которой вход т стабилитроны .The invention relates to analog computing, namely to the field of research of electronic equipment (REA), which includes zener diodes.
Цель изобретени - расширение класса решаемых задач за счет моделировани работы полупроводникового прибора в услови х повышенной температуры и технологического разброса напр жени с та били з ации.The purpose of the invention is to expand the class of tasks to be solved by simulating the operation of a semiconductor device under conditions of high temperature and technological variation of voltage from a test.
На фиг. 1 представлена схема устройства; на фиг. 2 - вольт-амперные характеристики (ВАХ) стабилизатораFIG. 1 shows a diagram of the device; in fig. 2 - current-voltage characteristics (VAC) of the stabilizer
и устройства, имитирующего воздействи температуры.and a temperature simulator.
Устройство дл моделировани работы полупроводникового прибора содержит первый 1 и второй 2 усилительные - транзисторы, первый 3 и второй 4 переменные резисторы, образуюп ие делитель напр жени , запираюР1Ий диод 5.A device for simulating the operation of a semiconductor device contains the first 1 and second 2 amplifying - transistors, the first 3 and second 4 variable resistors, forming a voltage divider, locking the P1 diode 5.
Устройство работает следующим ббразом.The device works as follows.
Регулировка напр жени стабилизации осуществл етс переменным резистором 3, а величина напр жени стабилизации определ етс соотношениемThe stabilization voltage is controlled by a variable resistor 3, and the magnitude of the stabilization voltage is determined by the ratio
СПSP
со with
0000
315998774315998774
ноюоталов резисторов 3 и 4. При умень- ности) по параметрам UNoyotals of resistors 3 and 4. When decreasing) by parameters U
шении величины сопротивлени резистора А увеличиваемс ток через транзистор 1, который, в свою очередь, вл етс базовым током транзистора 2, при этом выходное сопротивление транзистора 2 также уменьшаетс , что соответствует меньшему значению напр жени стабилизации устройства, ВАХ модели стабилитрона в пр мом направлении определ етс диодом 5,By increasing the resistance value of resistor A, the current through transistor 1 increases, which in turn is the base current of transistor 2, while the output resistance of transistor 2 also decreases, which corresponds to a lower value of the device stabilization voltage, the current-voltage characteristic of the Zener diode in the forward direction is determined diode 5,
С помощью модели стабилитрона можно устанавливать напр жение стабилизации от 0,7 до 15 В.Using the Zener diode model, the stabilization voltage can be set from 0.7 to 15 V.
Измерение ВАХ устройства осуществл етс с помощью прибору Л2-56. Регулировка устройства дл моделировани работы полупроводникового при- .бора под определенный тип стабилитрона осуществл етс прибором Л2-56 по. виду ВАХ. Напр жение стабилизации выставл етс путем изменени сопротив лени резистора 4 и получени необходимого соотношени номиналов сопротивлений резисторов 3 и 4, Динамическое сопротивление г устройства определ етс по крутизне (наклону) ВАХ.Measurement of the IVC of the device is carried out with the help of the device L2-56. The adjustment of the device for simulating the operation of a semiconductor device for a certain type of zener diode is performed by an L2-56 device. mind CVC. The stabilization voltage is set by varying the resistance of the resistor 4 and obtaining the necessary ratio of the resistance values of the resistors 3 and 4. The dynamic resistance g of the device is determined by the slope of the IV.
.После этого т:„ уточн етс по схеме. After this t: is specified according to the scheme
измерени снимаетс measurement is taken
Го на переменном токе иGo on alternating current and
зависимость гdependency g
f(l f (l
сг sg
устройства , котора должна соответствовать типовой зависимости. Одновременно осуществл етс контроль II ст ПО мощью цифрового вольтметра В7-27, Устройство дл , моделировани работы полупроводникового прибора, -например, дл моделировани стабилитронаdevice that must comply with a typical dependence. At the same time, the second-order software is monitored by a digital voltmeter B7-27, a device for simulating the operation of a semiconductor device, for example, for simulating a zener diode
5five
Устройство дл моделировани работы полупроводникового прибора, содержащее первый и второй усилительные транзисторы и первый переменный резистор, первый и второй выводы которого подключены соответ ственно к эмиттеру и базе первого усилительного транзистора, о т л и ч а ю 1ц е е с тем, что, с целью расширени класса решаемых задач за счет моделировани работы полуп водникового прибора в услови х пов шенной температуры и технологическ го разброса напр жени стабилизаци в него введены второй переменный р зистор и запирающий диод, причем первый вывод первого переменного резистора подключен к коллектору второго усилительного транзистора и к катоду запирающего диода и вл етс катодным выводом устройства второй вывод первого переменного рA device for simulating the operation of a semiconductor device, containing the first and second amplifying transistors and the first variable resistor, the first and second terminals of which are connected respectively to the emitter and base of the first amplifying transistor, so that The goal of expanding the class of tasks by simulating the operation of a semi-water device under conditions of increased temperature and technological variation of voltage is to stabilize a second variable resistor and a blocking diode, and he first terminal of the first variable resistor connected to the collector of the second amplifying transistor and to the cathode of blocking diode and is the cathode terminal device, the second terminal of the first variable p
2С133А позвол ет измен ть U Y (в Р ° зистора соединен с первым выводом2С133А allows to change U Y (in Р ° of the resistor it is connected to the first output
делах температурных уходов или технологических разбросов) при неизменном Га и измен ть г при неизвестном Ug . Данное свойства позвол ет использовать устройство дл определени коэффициентов чувствительности стабилитрона на выходные параметра РЭА (при -оценке их параметрической надежности ) по параметрам Ucases of temperature departures or technological variations) with unchanged hectares and change of g with unknown Ug. This property allows the device to be used to determine the sensitivity coefficients of the Zener diode on the output parameter of the electronic device (with an evaluation of their parametric reliability) using the parameters U
етem
иand
г независимо друг от друга.r independently of each other.
Устройство дл моделировани работы полупроводникового прибора может быть использовано при исследовании параметрической надежности РЭА дл A device for simulating the operation of a semiconductor device can be used to study the parametric reliability of REA for
00
5five
00
5 five
00
5five
имитации и иimitations and and
гд серийных стабилитронов с напр жением стабилизации от 0,6 до 15 В, а также дл исследовани работы стабистора. При использовании устройства дл имитации работы стабистора диод .5 необходимо исключить из схемы (U устанавливаетс от 0,7 до 2 в).dG serial zener diodes with a stabilization voltage of 0.6 to 15 V, as well as for the study of the operation of the stabistor. When using a device to simulate the operation of a stabilizer, a diode .5 must be excluded from the circuit (U is set from 0.7 to 2 volts).
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU884620433A SU1599877A1 (en) | 1988-12-14 | 1988-12-14 | Device for modeling operation of solid-state device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU884620433A SU1599877A1 (en) | 1988-12-14 | 1988-12-14 | Device for modeling operation of solid-state device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1599877A1 true SU1599877A1 (en) | 1990-10-15 |
Family
ID=21415224
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU884620433A SU1599877A1 (en) | 1988-12-14 | 1988-12-14 | Device for modeling operation of solid-state device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1599877A1 (en) |
-
1988
- 1988-12-14 SU SU884620433A patent/SU1599877A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР N 982030, кл. G 06 О 7/48, 1982. Авторское свидетельство СССР 1251123, кл. Г, 06 С 7/48, 1985. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0321226B1 (en) | Intermediate potential generation circuit for generating a potential intermediate between a power source potential and ground potential | |
EP1599776B1 (en) | A bandgap voltage reference circuit and a method for producing a temperature curvature corrected voltage reference | |
US8680839B2 (en) | Offset calibration technique to improve performance of band-gap voltage reference | |
EP0055573A1 (en) | Comparator circuit | |
DE10133736A1 (en) | Arrangement for measuring the temperature of an electronic circuit | |
SU1599877A1 (en) | Device for modeling operation of solid-state device | |
US20020014883A1 (en) | Current source with low supply voltage and with low voltage sensitivity | |
CN1236319C (en) | Voltage detecting circuit | |
DE112020000779T5 (en) | THRESHOLD DETECTOR OF A SWITCH-ON-RESET SWITCH WITH IMPROVED ACCURACY FOR SWITCHING LEVELS OVER TEMPERATURE FLUCTUATIONS | |
US3378765A (en) | Device for the direct measurement of capacitance | |
SU1288612A1 (en) | Device for reading voltage-current characteristics of sources of electric power | |
JP3343920B2 (en) | Voltage detection circuit | |
JPH06324105A (en) | Semiconductor testing device | |
JPH087462Y2 (en) | Reference power circuit | |
SU1146646A1 (en) | Low-voltage reference element | |
SU571877A1 (en) | Square-pulse generator | |
RU2119212C1 (en) | Source od reference voltage | |
RU2028010C1 (en) | Device for modelling parameters of transistors | |
Stocker et al. | The gate current noise of junction field effect transistors | |
SU958985A1 (en) | Method of determination of diode resistance to mechanic effects | |
RU2103810C1 (en) | Pulsed radiated power stabilizer of diode laser | |
SU347669A1 (en) | DEVICE FOR MEASURING CURRENT | |
JPS62277887A (en) | Cathode cut-off voltage measuring method | |
JPH0695115B2 (en) | Voltage detection circuit | |
SU1211660A1 (en) | Current-to-pulse frequency converter |