[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

SU1596289A1 - Logic tester - Google Patents

Logic tester Download PDF

Info

Publication number
SU1596289A1
SU1596289A1 SU884427370A SU4427370A SU1596289A1 SU 1596289 A1 SU1596289 A1 SU 1596289A1 SU 884427370 A SU884427370 A SU 884427370A SU 4427370 A SU4427370 A SU 4427370A SU 1596289 A1 SU1596289 A1 SU 1596289A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
output
pulses
input
generator
exclusive
Prior art date
Application number
SU884427370A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Леонид Дмитриевич Минутин
Original Assignee
Опытно-конструкторское бюро специальных радиотехнических систем Новгородского политехнического института
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Опытно-конструкторское бюро специальных радиотехнических систем Новгородского политехнического института filed Critical Опытно-конструкторское бюро специальных радиотехнических систем Новгородского политехнического института
Priority to SU884427370A priority Critical patent/SU1596289A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1596289A1 publication Critical patent/SU1596289A1/en

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при контроле и поиске неисправностей цифровых устройств. Цель изобретени  - повышение точности за счет снижени  вли ни  на объект контрол . Устройство содержит генератор 1, элемент 2 задержки, элементы ИСКЛЮЧАЮЩЕЕ ИЛИ 3 и 4, формирователи 5 и 6 импульсов, группу 7 элементов НЕ, повторитель 8 и индикатор 9. Генератор 1 формирует последовательность импульсов. Щуп 10 подключаетс  к исследуемой цепи, и в зависимости от уровн  сигнала тестером обеспечиваетс  свечение символов "0" или "1". Если исследуема  цепь находитс  в высокоимпедансном состо нии, на входе элемента ИСКЛЮЧАЮЩЕЕ ИЛИ 3 наводитс  сигнал, аналогичный поступающему на его другой вход. При этом на индикаторе 9 индицируетс  символ "Р". 1 ил.The invention relates to instrumentation technology and can be used in monitoring and troubleshooting digital devices. The purpose of the invention is to improve accuracy by reducing the effect on the object of control. The device contains a generator 1, a delay element 2, elements EXCLUSIVE OR 3 and 4, shapers 5 and 6 pulses, a group of 7 elements NOT, a repeater 8 and an indicator 9. The generator 1 generates a sequence of pulses. The probe 10 is connected to the circuit under study, and depending on the signal level, the tester glows the symbols "0" or "1". If the circuit under investigation is in a high-impedance state, a signal similar to that arriving at its other input is induced at the input of the EXCLUSIVE OR 3 element. In this case, the symbol "P" is displayed on the indicator 9. 1 il.

Description

елate

с to with to

0000

со дикатор 9. Генератор 1 формирует пос ледовательностьикщульсов. Щуп 10 подключаетс  к исследуемой цепи, и в зависимости от уровн  сигнал(атестером обеспечиваетс  свечение символов О или 0 или 1 Если исследуема  1 9 цепь находитс  в высокоимпедансном состо нии, входе элемента ИСКЛЮЧАЮЩЕЕ ИЛИ 3 наводитс  сигнал, ана- логичный поступающему на его другой вход. При этом на индикаторе 9 индицируетс  символ Р. 1 ил.co-speaker 9. Generator 1 forms the sequence of pulses. The probe 10 is connected to the circuit under study, and depending on the level of the signal (the tester ensures that the symbols O or 0 or 1 are illuminated. If the circuit under study is 1 9 in a high impedance state, an input signal EXCLUSIVE OR 3 is induced by a signal similar to its other input At the same time on the indicator 9 the symbol P. is indicated. 1 Il.

Claims (1)

Изобретение относитс  к контрольно-измерительной технике и может использоватьсй при контроле и поиске не исправностей цифровых устройств. Цель изобретени  - повышение точ-ности за счет снижени  вли ни  тестера на объект контрол . На чертеже представлена функциональна  схема логического тестера, Логический тестер содержит генератор 1, элемент 2 задержки, первый 3и второй 4 элементы ИСКЛЮЧАЩЕЕ ИЛИ, первый 5 и второй 6 формирователи импульсов , (N-2) 7 элементов НЕ, повторитель 8, ивдикатор 9 с N .входами, щуп 10, Выход генератора 1 соединен с вхо . дом элемента 2 задержки, с первым входом первого элемента 3 ИСКЛЮЧАЮЩЕЕ ИЛИ и с входом запуска первого формировател  5 импульсов, Выход формировател  5 соединен с разрешающим входом второго формировател  6 импульсов, выход которого соединен с первым входом ин дикатора 9, второй вход которого соединен с выходом повторител  8, Вход повторител  8 соединен с выходом второго элемента 4 ИСКЛЮЧАНЩЕЕ ИЛИ, с входом запуска второго формировател  6 им пульсов и с соответствующими входами ( N-2) 7 элементов НЕ, соответствующие ) выходы которых соединены с группой входов индикатора 9. Первый вход второго элемента 4 ИСКЛИНАКМЦЕЕ ИЛИ doey динен с выходом элемента 2 задержки, второй вход соединен с выходом первого элемента3 ИСКЛЮЧАХЙЦЕЕ ИЛИ, второй в)сод которого соединен со щупом 10, Элементы 3 иЧ ИСКЛ10ЧА1Ю1ЕЕ ИЖ и лог. Г  вл ют состо ни  лог. а также разрыв (3-е состо ние) исследуемого электрического проводника . С помощью формирователей 5 и 6 тес тер вы вл ет наличие импульсов в ис следуемом сигнале. Индикатор 9 преобразует результаты проверки в форму, удобную дп  вое при ти  оператором: логический нуль и единица отображаютс  символами О и 1, третье состо ние (разрыв) - символом Р, При -наличии импульЬов зажигаетс  сегмент зап та  и символ Р, причем  ркость символов Он 1, составл ющих символ Р, пр мо пропорциональна длительности нулевого и единичного уровней исследуемой синхросерии . Это позвол ет судить о скваж-. ности импульсов. Устройство работает следующим .образом . Предположим, что исследуема  цепь находитс  в высокоимпедансном состо нии относительно логических уровнейi т,е. в состо нии разрыв. Импульсы с выхода генератора 1 поступают.на первый вход элемента 3 ИСКЛЮЧАЮЩЕЕ ИЛИ, На втором входе элемента 3 за счет внутренних паразитных емкостей и обратных токов наводитс  аналогичный , несколько сглаженный, снгнал. Этот вход соединен со щупом 10, Под воздействием этих сигналов на выходе элемента 3 будут сравнительно короткие положительные импульсы (их длительность определ етс  величинами токов утечки и паразитных емкостей). Эти импульсы вместе с импульсами с генератора 1, задержаннь1ми в элементе 2 задержки, поступают на входа элемента 4 ИСКЛЮЧАЮЩЕЕ ИЛИ, Элемент 2 задержки необходим из-за того, что импульсы с выхода элемента 3 поступают на элемент 4 с задержкой. Задержка обоих входных сигналов дл  элемента 4 на одинаковую величину обеспечивает отсутствие в его выходной последовательности врезок и дребезга фронтов . На выходе элемента 4 формируетс  симметрична  импульсна  последовательность (меандр). Длительности нулевого и единичного состо ний бу- . дут равны независимо от частоты гене-, ратора 1 и от свойств элемента 3 (величин обратных токов и паразитных емкостей ), В результате на индикаторе 9 будут попеременно запр гатьс  символы О и 1 и визуально будет получено изображение символа Р (разрыв) с равномерной  ркостью по сегментам. При этом существенно, что передний фронт синхросерии на выходе элемента 4 несколько задержан.отнситепьно импульсов с выхода генератора 1, первый формирователь 5 по переднему фронту импульсов с выхода генератора 1 формирует на своем выходе короткий инверсный импульс и передний фронт синхросерии на и.1ходе элемента 4 приходитс  на нулевой уровень сигнала с выхода формировател  5, По этому формирователь 6 не формирует импульсов, на его выходе лог, О на его выходе лог, Сегмент зап та  индикатора 9 не горит, что означает отсутствие импульсов в исследуемой цепи. Рассмотрим случай, когда в исследуемой цепи присутствуют импульсы, например, короткие положительные, Они поступают на щуп 10. В результате на выходе элемента 3 ИСКЛЮЧАЮIlllEE ИЛИ по вл етс  довольно сложна  импульсна  последовательность. Однако в результате ее и импульсои с генератора 1 на выходе элемента 4 ИСКЛЮЧАЮЩЕЕ ИЛИ формирует сигнал, в точности повтор ющий входной (в рассматриваемом случае короткие положительные импульсы). Наличие логических уровней 0. и I в этом сигнале приведет к зажиганию сегментов индикатора , составл ющих изображение О и 1, При этом  ркость свечени  сим волов О и 1 пропорциональна присутст ВИЮ соответствующего уровн  в исследуемой последовательности и опер атор получает возможность судить о скважности импульсов. Кроме того, наличие импульсов на выходе элемента 4 ИСКЛЮ- дд ЧАЮЩЕЕ ИЛИ приводит к запуску формировател  6, так как это событие происходит несинхронно с работой генератора 1 и веро тность того, что фронт импульса с выхода элемента 4 ИСКЛЮЧА- 50 ВДЕЕ ИЛИ придетс  на нулевой уровень сигнала с выхода формировател  5 (на логический уровень, запрещающий запуск формировател  6) низка, т,с, подак цее больщинство импульсов с выхода элемента 4 ИСКЛЮЧАЮЩЕЕ ИЛИ запуст т формирователь 6, так как длительность запрещающего уровн  (лог. О) составл ет очень малый 1 ее 9 процент от периода генератора 1 (так , как формирователь 5 формирует очень короткие инверсные импульсы; в течение лог. 1 работа формировател  6 разрешена). Сигнал с выхода формировател  6 зажигает один из сегментов индикатора 9 (зап тую). Это означает наличие импульсов в исследуемом сигнале. Длительность импульсов с выхода формировател  6 сравнительно велика (10-100 мс), поэтому зан та  горит  рко даже при малой частоте импульсов в исследуемом сигнале. Свет ща с  зап та  позвол ет различить случаи разрыва исследуемой цепи и наличи  в ней импульсов типа меандр, так как в обоих случа х символ Р светитс  одинаково. Кроме того, зап та  изолирована от остальных символов (в смысле положени ), несет простую и конкретную информационную нагрузку (обозначает наличие импульсов и поэтому легко интерпретируетс  оператором, Зап та  зажигаетс  формирователем. При этом в момент касани  Щупом 10 исследуемой цепи всегда происходит дребезг независимо от ее состо ни  (причина дребезга - механическа ), Этот дребезг легко может быть прин т за импульсный сигнал, что и происходит: в момент касани  на мгновение вспыхивают все ннформационные сегменты индикатора 9} оператор эти сигналы не воспринимает из-за их быстротечности, затем - с окончанием дребезга механического прикосновени  щупа 10 - тестер формирует достоверное мнемоническое изображение, которое не зависит от дребезга, таким образом дребезг не запоминаетс  и не вли ет на последующую работу тестера, это происходит благодар  использованию форьнровател  6. Достоверное мне коническое изображение может восприниматьс  оператором в течение времени , необходимого дл  прин ти  решени  (не менее 1-2 с, обычно на практике 5-8 с). Формула изобретени  Логический тестер, содержащий щуп, генератор и индикатор с N входа , отличающий с  тем, что, с целью повышени  точности за счет сни жеии  вли ни  тестера на объект кон ,трол , в него введены элемент задержки , первый и второй элементы ИСКЛЮЧА 7 15962898The invention relates to instrumentation and can be used in the control and search for non-operability of digital devices. The purpose of the invention is to improve the accuracy by reducing the influence of the tester on the object of control. The drawing shows a functional diagram of a logic tester, a logic tester contains a generator 1, delay element 2, first 3 and second 4 elements EXCLUSIVE OR, first 5 and second 6 pulse shapers, (N-2) 7 elements NOT, repeater 8, and indicator 9 with N Inputs, probe 10, The output of the generator 1 is connected to the input. the house of the delay element 2, with the first input of the first element 3 EXCLUSIVE OR, and with the start input of the first driver 5 pulses; The output of the driver 5 is connected to the enable input of the second driver 6 pulses, the output of which is connected to the first input of the indicator 9, the second input of which is connected to the output repeater 8, the input of the repeater 8 is connected to the output of the second element 4 EXCLUSIVE OR, to the start input of the second driver 6 with pulses and with the corresponding inputs (N-2) 7 elements NOT, the corresponding) outputs of which are connected to g uppoy input display 9. The first input of the second OR element 4 ISKLINAKMTSEE doey yield union of two delay element, a second input coupled to an output of the first OR elementa3 ISKLYUCHAHYTSEE, the second) Sod is connected with the probe 10, elements 3 IL and Ich ISKL10CHA1YU1EE log. G are log states. and also a rupture (3rd state) of the studied electrical conductor. Using shaper 5 and 6 tester, the presence of pulses in the signal under investigation is detected. Indicator 9 converts the test results into a form convenient for both with an operator: logical zero and one are displayed with the symbols O and 1, the third state (break) with the symbol P, With the presence of pulses, the segment of the comma and the symbol P are lit, and the brightness of the symbols It 1, constituting the symbol P, is directly proportional to the duration of the zero and unit levels of the sync serial studied. This makes it possible to judge the well. impulses. The device works as follows. Suppose that the circuit under study is in a high-impedance state with respect to logical levels, i, e. in a state of rupture. The pulses from the output of the generator 1 arrive at the first input of the element 3 EXCLUSIVE OR, at the second entrance of the element 3 due to the internal parasitic capacitances and reverse currents a similar, somewhat smoothed, induction is induced. This input is connected to the probe 10. Under the influence of these signals, the output of element 3 will be relatively short positive pulses (their duration is determined by the values of leakage currents and parasitic capacitances). These pulses, together with the pulses from the generator 1 delayed in delay element 2, arrive at the input of element 4 EXCLUSIVE OR, delay element 2 is necessary because the pulses from the output of element 3 arrive at element 4 with a delay. The delay of both input signals for the element 4 by the same amount ensures the absence in the output sequence of the sidebars and the chatter of the fronts. At the output of element 4, a symmetrical pulse sequence (square wave) is formed. The duration of the zero and one states of bu-. are equal regardless of the frequency of the generator, rator 1 and on the properties of element 3 (values of reverse currents and parasitic capacitances). As a result, on the indicator 9, the symbols O and 1 will alternately block and the image of the symbol P (gap) with uniform brightness will be obtained by segment. It is significant that the front edge of the sync series at the output of element 4 is somewhat delayed. Pulses from the output of the generator 1, the first driver 5 on the leading edge of the pulses from the output of generator 1 forms at its output a short inverse pulse and the leading front of the sync series on element 1 of element 4 comes to the zero level of the signal from the output of the imaging unit 5, Therefore, the imaging unit 6 does not generate pulses, at its output a log, O at its output log, the segment of the indicator 9 does not light up, which means no pulses in and traced chain. Consider the case when there are pulses in the circuit under study, for example, short positive ones. They arrive at the probe 10. As a result, at the output of element 3 EXCLUDING IlllEE OR a rather complex pulse sequence appears. However, as a result of it and the impulse from the generator 1 at the output of element 4, the EXCLUSIVE OR generates a signal that exactly repeats the input signal (in this case, short positive pulses). The presence of logical levels 0. and I in this signal will lead to the ignition of the indicator segments that make up the image O and 1. At the same time, the luminance of the symbols O and 1 is proportional to the presence of VIS of the corresponding level in the sequence under study and the operator gets the opportunity to judge the pulse ratio. In addition, the presence of pulses at the output of element 4 EXCLUSIVE DIVIDER OR leads to the start of imaging unit 6, since this event occurs asynchronously with the operation of generator 1 and the likelihood that the pulse front from the output of element 4 EXCLUSIVE 50 WEDNE or will go to zero the signal level from the output of the imaging unit 5 (to the logic level prohibiting the launching of the imaging unit 6) is low, t, s, and most of the pulses from the output of element 4 are EXCLUSIVE OR the imaging unit 6 is started, since the duration of the inhibitory level (log. O) is very ma 1 st 9 percent of its period generator 1 (as generator 5 generates pulses of very short inverted;. for job log 1 shaper 6 is allowed). The signal from the output of the imaging unit 6 lights one of the segments of the indicator 9 (comma). This means the presence of pulses in the signal under study. The duration of the pulses from the output of the imager 6 is relatively long (10-100 ms), therefore, it is bright even at a low frequency of the pulses in the signal under study. The light of the zap allows to distinguish between cases of breaking of the circuit under study and the presence of meander pulses in it, since in both cases the symbol P illuminates in the same way. In addition, the commander is isolated from other symbols (in the sense of position), carries a simple and specific information load (denotes the presence of pulses and is therefore easily interpreted by the operator. The latter is ignited by the driver. At the time of contact, the Probe 10 of the circuit under investigation always bounces regardless of its states (the cause of the chatter is mechanical), this chatter can easily be taken as a pulse signal, which is what happens: at the moment of touching, all information segments of the indicator 9} flash up for a moment The torus does not perceive these signals due to their transience, then - with the end of the mechanical twitching touch of the probe 10 - the tester forms a reliable mnemonic image that does not depend on the chatter, thus the bounce does not remember and does not affect the subsequent operation of the tester, this is due to using a forwarder 6. A reliable conic image can be perceived by me by the operator for the time required to make a decision (at least 1-2 s, usually in practice 5-8 s). The invention is a logical tester containing a probe, a generator and an indicator from an N input, characterized in that, in order to improve accuracy by reducing the tester's influence on the object con, trol, a delay element is inserted into it, the first and second elements are EX 7 15962898 kxilEE или, первый и второй формирова-которого соединен с выходом второгоkxilEE or, the first and second formors, which is connected to the output of the second тели импульсов, N-2 элементов НЕ иэлемента ИСКЛЮЧАЩЕЕ ИЛИ, i входомpulse pulses, N-2 elements are NOT iElements EXCLUSIVE OR, i input повторитель, причем выход генератора запуска второго формировател  импульсоединен с входом элемента задержки,j сов и с соответствующими N-2 входамиa repeater, with the output of the second shaper generator started to be pulsed with the input of the delay element, j ow and with the corresponding N-2 inputs с первым входом первого элемента ИС-элементов НЕ, выходы которых соответКЛЮЧАЮЩЕЕ ИЛИ и.с входом эапуска пер-ственно соединены с N-2 входами индивого формировател  импульсов, Ьыходкатора, первый вход второго элементаwith the first input of the first element of the IC elements are NOT, the outputs of which correspond to the SWITCH OR OR. которого соединен с раэрешаи1цим вхо-ИСКЛЮЧАЮЩЕЕ ИЛИ соединен с выходомwhich is connected to raereshayitsim inlet EXCLUSIVE OR is connected to the output дом второго форьировател  импульсов,10 элемента эадержки, второй вход соедивыход которого соединен с первым вхо-ней с выходом первого элемента ИСКЛЮдом индикатора, второй вход которогоЧАЩЕЕ ИЛИ, второй которого соёсоединен с выходом повторител , входдинен со щупом.The house of the second pulseformer, 10 power elements, the second input is connected to the first input with the output of the first element SPARE indicator, the second input is ORIGINAL OR, the second input is connected to the output of the repeater, it is connected to the probe.
SU884427370A 1988-04-18 1988-04-18 Logic tester SU1596289A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU884427370A SU1596289A1 (en) 1988-04-18 1988-04-18 Logic tester

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU884427370A SU1596289A1 (en) 1988-04-18 1988-04-18 Logic tester

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1596289A1 true SU1596289A1 (en) 1990-09-30

Family

ID=21375855

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU884427370A SU1596289A1 (en) 1988-04-18 1988-04-18 Logic tester

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1596289A1 (en)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Бирюков С.А.Радиолюбительские цифровые устройства. М.: Радио и св зь, 1982, с. 66.Авторское свидетельство СССР № 892366, кл.. G01 R 31/28, 1980. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR20080070689A (en) Testing apparatus, fixture board and pin electronics card
SU1596289A1 (en) Logic tester
KR940006230A (en) Semiconductor integrated circuit device and its functional test method
US5629947A (en) Method and apparatus for detecting positive and negative runt pulses simultaneously
US7443253B2 (en) Detection device for detecting oscillator
US4423337A (en) Gate circuit for a universal counter
SU1709318A1 (en) Device for checking digital units
SU892364A1 (en) Device for checking logic circuits
KR0178694B1 (en) Testing devcie of operating status of display led
SU834616A1 (en) Device for testing realy switching electric apparatus
SU1140066A1 (en) Logic circuit checking device
SU1352421A1 (en) Logic tester
SU1108373A1 (en) Probe for checking logic devices in emitter-coupled integrated circuits
SU1032428A1 (en) Digital signal checking device
SU1429326A1 (en) Device for detecting noise-like signals
SU1059576A1 (en) Device for checking digital units
RU2007874C1 (en) Device for test of insulation breaks in cable line
SU1398022A1 (en) Device for monitoring secondary power supply system
SU1638679A1 (en) Device for measuring distance from failure in feeder cable
SU1471159A1 (en) Device for testing and adjusting of digital units
SU1732296A1 (en) Phase indicator
SU1677676A1 (en) Device for locating faults in optic cable
SU864191A1 (en) Device for indicating time delay of switching elements
SU1358089A1 (en) Coincidence device
SU418898A1 (en)