[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

SU1020789A1 - Transistor thermal resistance measuring device - Google Patents

Transistor thermal resistance measuring device Download PDF

Info

Publication number
SU1020789A1
SU1020789A1 SU813385212A SU3385212A SU1020789A1 SU 1020789 A1 SU1020789 A1 SU 1020789A1 SU 813385212 A SU813385212 A SU 813385212A SU 3385212 A SU3385212 A SU 3385212A SU 1020789 A1 SU1020789 A1 SU 1020789A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
terminal
comparison circuit
collector
analog
emitter
Prior art date
Application number
SU813385212A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Вячеслав Андреевич Сергеев
Original Assignee
Ульяновский политехнический институт
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ульяновский политехнический институт filed Critical Ульяновский политехнический институт
Priority to SU813385212A priority Critical patent/SU1020789A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1020789A1 publication Critical patent/SU1020789A1/en

Links

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТЕПЛОВОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ ТРАНЗИСТОРОВ содержащее генератор линейно ющего коллекторного напр жени  и стабилизатор эмиттерного тока, запус кающие входы которых соединены с клеммой запуска,-а выходы соответственно с клелв ами дл  подключени  кол лектора и эмиттера испытуемого.транзистора , клемма дл  подключени  базы котсфого присоединена к общей шине, а также блок индикации, о т л и ч аJO щ е е с   тем, что, с целью повышени  точности и-обеспечени  возможности непосредственного ци й ового отсчета параметра, в него введены источник двух опорных напр жений, схема сравнени , аналого-цифровой преобразователь и реверсивный счетчик, причем один из входов схекш сравнени  соединен с клеммой дл  подключени  коллектора испытуемого транзистора, а два ДРУГИ1Х - с выхсда в1 источника опорных напр жений, первый синхронизиру:кш й выход схемы сравнени  подключен к шине синхронизации аналого-циф-g, рового преобразовател , а второй и третий синхронизирую цие выходы - к управл ж цим входгил реверсивного счетчика , выходы которого присоединены к входам блока индикации, а счетный вход - к выходу аналого-цифрового s преобразовател , вход которого соедииен с клекмрй дл  подключени  эмиттвjE a испытуемого транзистора. ,A DEVICE FOR MEASURING THE HEAT RESISTANCE OF TRANSISTORS, containing a linear collector voltage generator and an emitter current stabilizer, the starting inputs of which are connected to the start terminal, and outputs, respectively, of the terminal for connecting the collector and emitter of the test person. The transducer terminal is connected to the base. to the common bus, as well as the display unit, that is, so that, in order to increase the accuracy and to ensure the possibility of a direct reading of a new parameter of the parameter, A source of two reference voltages, a comparison circuit, an analog-to-digital converter and a reversible counter are entered, with one of the inputs of the comparison terminal being connected to the terminal for connecting the collector of the test transistor, and two FRIENDS1 from the output voltage of the reference voltage source, the first synchronizing: cr The output of the comparison circuit is connected to the synchronous bus of the analog-to-digital, gry converter, and the second and third synchronized outputs are connected to the control of the input counter of the reversible counter, the outputs of which are connected to the inputs of the block and the display, and the counting input to the output of the analog-to-digital s converter, whose input is connected to the terminals for connecting the emitter to the test transistor. ,

Description

Изобретение относитс  к технике измерени  тепловых параметров полупроводниковых приборов и может быть использовано дл  контрол  качества изготовлени  транзисторов. Известно устройство дл  измерени теплового сопротивлени  переход корпус транзисторов, которое содерж источник, посто нного коллекторного напр жени , генератор иМпульсов ток и импульсный вольтметр 1. . В этом устройстве в качестве тем пературозависимого параметра исполь зуетс  входное сопротивление транзи тора. Недостатком устройства  вл етс  сложность предварительной калибровк и большое врем  измерени . Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности  вл етс  устройство, содержа11цее генератор линейно нарастающего коллекторного напр жени  и стабилизатор эмиттерного тока,, запускающие входы которо го соединены с клеммой запуска, а выходы соответственно с клеммами дл  подключени  коллектора и эмитте ра испытуемого транзистора, клемма дл  подключени  базы которого присо единена к об.щей шине, а также блок индикации С2. Недостатками этого устройства  в л готс  невысока  точность измерени  параметра и невозможность непосредственного его отсчета, которые предопределены использованием осциллографического индикатора (запоминак цего осциллографа) . . Цель изобретени  - повышение точ ности измерени  и обеспечение возМОЖНОСТ .И непосредственного цифровог отсчета параметра. Поставленна  цель достигаетс  те что в устройство, содержащее генера . тор линейно нарастающего коллекторного напр жени  и стабилизатор эмит терного тока, запускающие входы Которах соединены с клеммой запуска, а выходы соответственно с клеммами дл  подключени  коллектора и эмиттера испытуемого транзистора, клемм дл  подключени  базы которого присо единена к.общей шине, а также блок индикации, введены источник двух опорных напр жений, схема сравнени  аналого-цифровой преобразователь и реверсивный счетчик, причем один из входов схемы сравнени  соединен с клеммой дл  подключени  коллектора испытуемого транзистора, а два других - с выходами источника опорных напр жений, первый синхронизирующий выход схемы управлени  подклю чен к шине синхронизации аналогоЦИ4ФОВОГО преобразовател , а второй и третий синхронизирующие выходы к управл ющим входам реверсивного счетчика, выходы которого присоединены к входам блока индикации, а счетньй вход - к выходу аналого-цифрового преобразовател , вход которо- го соединен с клеммой дл  подключени  эмиттера испытуемого транзистора. .На фиг. 1 представлена функциональна  схема устройства, на фиг. 2 - эпюры , по сн ющие принцип его работы. Устройство содержит генератор 1 линейно нарастающего коллекторного напр жени , стабилизатор 2 эмитерного тока, клемму 3 Запуск и клемму 4дл  подключени  коллектора, клемма 5базы и клемма б эмиттера испытываемого транзистора, схему 7 сравнени  и источник 8 опорных напр жений, аналого-цифровой преобразователь (АЦП) 9, реверсивный счетчик 10, блок 11 индийации . Устройство работает следующим образом (фиг. 2). При по влении соответствующего управл ющего сигнала на клемме 3 Запуск, генератор 1 линейно нарастающего коллекторного напр жени  вырабатывает импульс линейно нарастающего напр жени  Ui, длительности t, которое через клемму 4 поступает на коллектор испытуемого транзистора и на вход схемы 7 сравнени , а стабилизатор 2 тока при этом вырабатывает импульс посто нного тона 1э (такой же длительности), который через клемму 6 поступает в эмиттер испытуемого транзистора. В качестве температурочувствительного параметра в предлагаемом устройстве используетс  падение напр жени  на эмиттерном переходе . Это напр жение с клемм б поступает на измерительный (аналоговый) вход АЦП 9, на запускающий вход которого с первого выхода схемы 7 сравнени  поступают дэа коротких запускающих импульса , вырабатываемые схемой 7 сравнени  в моменты t и t2 сравнени  напр жени  на коллекторе U.c опорными напр жени ми UQP, и и оответственно. АЦП 9 быстро, то есть за врем  преобразует напр жение UggCt) .и UjgXtj) в последовательности импульсов , которые поступают на счетный вход реверсивного счетчика 10, который в момент времени t, сигналом с второго выхода схемы 7 сравнени  устанавливаетс  в режим пр мого счета, а в момент времени t2 сигналом с третьего выхода схемы 7 сравнени  в режим вычитани , так что по окончании импульса линейно нарастающей мощности в счетчике остаетс  число пропорциональное AUg5 U3(t) - . которое и высвечиваетс  блоком индикации . Величина uUjgсв зана с тепловым сопротивлением простым соотношением к;.The invention relates to a technique for measuring the thermal parameters of semiconductor devices and can be used to control the quality of the manufacturing of transistors. A device for measuring the thermal resistance of a junction of a transistor housing, which contains a source, a constant collector voltage, a generator, and pulses of current and a pulse voltmeter, is known. In this device, the input resistance of the transistor is used as a temperature-dependent parameter. The drawback of the device is the complexity of the pre-calibration and the large measurement time. The closest to the proposed technical entity is a device containing a linearly increasing collector voltage generator and an emitter current stabilizer, the triggering inputs of which are connected to the start terminal, and the outputs respectively to the terminals for connecting the collector and emitter of the tested transistor, the terminal for connecting the base of which is connected to the common tire, as well as the display unit C2. The disadvantages of this device in LLGS are the low accuracy of the parameter measurement and the impossibility of its direct reading, which are predetermined by the use of an oscillographic indicator (a memory oscilloscope). . The purpose of the invention is to improve the accuracy of measurement and ensure the possibility of direct digital readout of the parameter. The goal is achieved by those in the device containing the generator. the linearly rising collector voltage torus and the emitter current stabilizer, the triggering inputs to the Kotors are connected to the start terminal, and the outputs respectively to the terminals for connecting the collector and emitter of the test transistor, the terminals for connecting the base of which are connected to the common bus, as well as the display unit, a source of two reference voltages is introduced, a comparison circuit of an analog-digital converter and a reversible counter, with one of the inputs of the comparison circuit being connected to a terminal for connecting the collector of the test subject the two resistors, with the outputs of the reference voltage source, the first synchronization output of the control circuit is connected to the synchronization bus of the analog CALIFUAL converter, and the second and third synchronization outputs of the control inputs of the reversible counter, the outputs of which are connected to the inputs of the display unit, and the counter input - to the output of an analog-to-digital converter, the input of which is connected to a terminal for connecting the emitter of the test transistor. .In FIG. 1 is a functional diagram of the device; FIG. 2 - diagrams, explaining the principle of its work. The device contains a linearly increasing collector voltage generator 1, an emitter current regulator 2, terminal 3 Start and terminal 4dl connect a collector, terminal 5base and emitter terminal b of the transistor under test, comparison circuit 7 and reference voltage source 8, analog-to-digital converter (ADC) 9, reversible counter 10, block 11 indatiation. The device works as follows (Fig. 2). When a corresponding control signal appears at terminal 3 Run, the linearly increasing collector voltage generator 1 generates a linearly rising voltage pulse Ui, of duration t, which through terminal 4 goes to the collector of the tested transistor and to the input of the comparison circuit 7, and the stabilizer 2 current at the same time, it produces a constant-tone pulse 1e (of the same duration), which through terminal 6 enters the emitter of the tested transistor. As a temperature-sensitive parameter in the proposed device, the voltage drop across the emitter junction is used. This voltage from the terminals b goes to the measuring (analog) input of the ADC 9, to the triggering input of which from the first output of the comparison circuit 7 receives dea short triggering pulses produced by the comparison circuit 7 at times t and t2 comparing the voltage on the collector Uc reference voltages mi uqp, and and accordingly. A / D converter 9 quickly, i.e., over time, converts the voltage UggCt). And UjgXtj) into pulse sequences that arrive at the counting input of the reversible counter 10, which at time t, is set to direct counting from the second output of the comparison circuit 7, and at time t2, the signal from the third output of the comparison circuit 7 to the subtraction mode, so that at the end of the pulse of linearly increasing power, a number proportional to AUg5 U3 (t) - remains in the counter. which is displayed by the display unit. The value of uUjgsv zana with thermal resistance by a simple ratio to ;.

где йР s; Дэ JK) v.()l - d ( ) - разность мгновенных мощностей, рассеиваемых транзисторов в моменты времени t и температурный крэффициент падени  напр жени  на эмиттерном переходе (при заданном посто нном токе эмиттеpia ).where rp s; Teh JK) v. () L - d () is the difference of the instantaneous power dissipated by the transistors at times t and the temperature coefficient of voltage drop at the emitter junction (for a given constant emitter voltage).

Простым выбором масштаба преобразовани  Изб и величины оп опо IJdh-i (РИ э const) нетрудно реализовать непосредственный отсчет измер емой величины в выбранной системе единиц.,A simple choice of the scale of the conversion of fs and the value of the op opp IJdh-i (RI e const) makes it easy to implement a direct reading of the measured value in the chosen system of units.,

В предлагаемом устройстве измерение теплового согфотивлени  производис  за врем  действи  одного импульса линейно нарастаюшей мощности ( Т )In the proposed device, the measurement of thermal stimulation produced during the action of a single pulse of linearly increasing power (T)

Точность.измерени  Ятп-к определ етс , точностью преобразовани  и точностью задани  ЛР (п{ж известной величине К,, ), которые мох-ут быть сделаны достаточно 8ыcoки af.The accuracy of the measurement is determined by the accuracy of the conversion and the accuracy of the LR (n {the known value of K ,,), which can be made sufficiently sufficiently high.

Claims (5)

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТЕПЛОВОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ ТРАНЗИСТОРОВ, содержащее генератор линейно нарастающего коллекторного напряжения и стабилизатор эмиттерного тока, запускающие входы которых соединены с клеммой запуска,-а выходы соответственно с клеммами для подключения коллектора и эмиттера испытуемого.тран- зистора, клемма для подключения базы которого присоединена к общей шине, а также блок индикации, о т л и ч аю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности и- обеспечения возможности непосредственного цифрового отсчета параметра, в него введены источник двух опорных напряжений, схема сравнения, аналого-цифровой преобразователь и реверсивный счетчик, причем один из входов схема сравнения соединен с клеммой для подключения коллектора испытуемого транзистора, а два других - с выходами источника опорных напряжений, первый синхронизирующий выход схемы сравнения подключей к шине синхронизации аналого-цифрового преобразователя, а второй и третий синхронизирующие выходы - к управляющим входам реверсивного счет чика, выходы которого при соединены к входам блока индикации, а счетный вход - к выходу аналого-цифрового _ преобразователя, вход которого соеди-Г' йен с клеммой для подключения эмитте-р ра испытуемого транзистора. , И ϋοοιDEVICE FOR MEASURING THERMAL RESISTANCE OF TRANSISTORS, containing a linearly increasing collector voltage generator and an emitter current stabilizer, the triggering inputs of which are connected to the trigger terminal, the outputs respectively with the terminals for connecting the collector and emitter of the test transistor, the terminal for connecting the base of which is connected to a common bus, as well as an indication unit, which is important in that, in order to increase accuracy and to enable direct digital reading of the parameter, it introduced a source of two reference voltages, a comparison circuit, an analog-to-digital converter and a reversible counter, with one of the inputs of the comparison circuit connected to a terminal for connecting the collector of the tested transistor, and the other two to the outputs of the reference voltage source, the first synchronizing output of the comparison circuit connect to the synchronization bus of the analog-to-digital converter, and the second and third synchronizing outputs - to the control inputs of the reversing counter, whose outputs are connected to the inputs of the display unit And counter input - output to an analog-to-digital converter _ having an input Comm-D 'yen to the terminal for connection emitte Dr. Dr. test transistor. , And ϋοοι 2 нены к входам блока индикации, а счетный вход - к выходу аналого-цифрового преобразователя, вход которого соединен с клеммой для подключения эмиттера испытуемого транзистора.2 are connected to the inputs of the display unit, and the counting input is to the output of the analog-to-digital converter, the input of which is connected to the terminal for connecting the emitter of the tested transistor. На фиг. 1 представлена функциональная схема устройства, на фиг. 2 - эпюры, поясняющие принцип его работы.In FIG. 1 shows a functional diagram of the device, FIG. 2 - diagrams explaining the principle of its work. Устройство содержит генератор 1 линейно нарастающего коллекторного напряжения, стабилизатор 2 эмитерного тока, клеммуThe device comprises a generator 1 of a linearly increasing collector voltage, a stabilizer 2 emitter current, a terminal 3 Запуск и клемму3 Start and terminal 3 0чЗапусн3 0h 7 :7: Уот. '6 .Wat. '6. 4 для подключения коллектора, клемма4 for connecting the collector terminal 5 базы и клемма б- эмиттера испытываемого транзистора, схему 7 сравнения и источник 8 опорных напряжений, аналого-цифровой преобразователь (АЦП) 9, реверсивный счетчик 10, блок 11 индикации.5 bases and the terminal of the b-emitter of the tested transistor, a comparison circuit 7 and a reference voltage source 8, an analog-to-digital converter (ADC) 9, a reversible counter 10, an indication block 11. Устройство работает следующим образом (фиг. 2).The device operates as follows (Fig. 2). При появлении соответствующего управляющего сигнала на клемме 3 Запуск, генератор 1 линейно нарастающего коллекторного напряжения вырабатывает импульс линейно нарастающего напряжения Uk длительности^, . которое через клемму 4 поступает на коллектор испытуемого транзистора и на вход схемы 7 сравнения, а стабилизатор 2 тока при этом вырабатывает импульс постоянного тона 1э (такой же длительности), который через клемму б поступает в эмиттер испытуемого транзистора.When the corresponding control signal appears on the Start terminal 3, the linearly increasing collector voltage generator 1 generates a linearly increasing voltage pulse U k of duration ^,. which through terminal 4 enters the collector of the tested transistor and to the input of the comparison circuit 7, and the current stabilizer 2 generates a constant tone pulse 1e (of the same duration), which through terminal b enters the emitter of the tested transistor. В качестве температурочувствительного параметра в предлагаемом устройстве используется падение напряжения на эмиттерном переходе иэ5. Это напряжение с клемм 6 поступает на измерительный (аналоговый) вход АЦП 9, на запускающий вход которого с первого выхода схемы 7 сравнения поступают два коротких запускающих импульса, вырабатываемые схемой 7 сравнения в моменты Ц и t2 сравнения напряжения на коллекторе UK с опорными ' напряжениями 110П1 и Несоответственно. АЦП 9 быстро, то есть за время ц преобразует напряжение U3g(t) Ujg Ctg) в последовательности импульсов , которые поступают на счетный вход реверсивного счетчика 10, который в момент времени Ц сигналом с второго выхода схемы 7 сравнения устанавливается в режим прямого счета, а в момент времени t2 сигналом с третьего выхода схемы 7 сравнения в режим вычитания, так что по окончании импульса линейно нарастающей мощности в счётчике остается число пропорциональное AUэ5= ' рующий выход схемы управления подклю-60 которое и высвечивается блоком индичен к шине синхронизаций аналогоцифрового преобразователя, а второй и третий синхронизирующие выходы к управляющим входам реверсивного счетчика, выхода которого присоедиклемма базы которого присошине, а также блок этого устройства явAs a temperature- sensitive parameter in the proposed device uses a voltage drop at the emitter junction and e5 . This voltage from terminals 6 is supplied to the measuring (analog) input of the ADC 9, to the triggering input of which from the first output of the comparison circuit 7 there are two short triggering pulses generated by the comparison circuit 7 at the moments C and t 2 of comparing the voltage on the collector U K with reference voltages 11 0P1 and Inconsistent. The ADC 9 is fast, that is, in the course of time, c converts the voltage U 3 g (t) Ujg Ctg) into a sequence of pulses that are fed to the counting input of the reversing counter 10, which at time moment C is set to the direct counting mode by the signal from the second output of the comparison circuit 7 , and at time t 2, the signal from the third output of the comparison circuit 7 into the subtraction mode, so that at the end of the ramp pulse, the counter remains a number proportional to AUe5 = 'the output of the control circuit 60, which is displayed by the unit and is displayed on the bus analog-to-digital converter
SU813385212A 1981-10-02 1981-10-02 Transistor thermal resistance measuring device SU1020789A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU813385212A SU1020789A1 (en) 1981-10-02 1981-10-02 Transistor thermal resistance measuring device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU813385212A SU1020789A1 (en) 1981-10-02 1981-10-02 Transistor thermal resistance measuring device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1020789A1 true SU1020789A1 (en) 1983-05-30

Family

ID=20993532

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU813385212A SU1020789A1 (en) 1981-10-02 1981-10-02 Transistor thermal resistance measuring device

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1020789A1 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2572794C1 (en) * 2014-11-05 2016-01-20 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ульяновский государственный технический университет" Method to measure thermal junction-to-case resistance of high-capacity mis transistors
RU2639989C2 (en) * 2016-04-19 2017-12-25 федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Ульяновский государственный технический университет" Method of measuring transient thermal characteristics of semiconductor products

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1. Горюнова Н. Н, Конструкции корпусов и тепловые свойства полупро водниковых приборов. М., Энерги , 1972, с. 55-59. 2. Квурт ;А. Я. и др. Диагностический неразрушшощий контроль мощных микросхем и эл ;ктронна техника. Сери 2. Полупроводниковые прибор 1980, -4, с. 74-79 (прототип). *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2572794C1 (en) * 2014-11-05 2016-01-20 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ульяновский государственный технический университет" Method to measure thermal junction-to-case resistance of high-capacity mis transistors
RU2639989C2 (en) * 2016-04-19 2017-12-25 федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Ульяновский государственный технический университет" Method of measuring transient thermal characteristics of semiconductor products

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3875503A (en) Dual slope type resistance deviation measuring apparatus
US3702076A (en) Electronic thermometer
US3875501A (en) Pulse width modulation type resistance deviation measuring apparatus
US3978471A (en) Digital thermometer using a dual slope a/d converter without a high precision voltage source
US3983481A (en) Digital intervalometer
US3581196A (en) Digital capacitance meter by measuring capacitor discharge time
SU1020789A1 (en) Transistor thermal resistance measuring device
JPS63191970A (en) Continuous period-voltage converter
US3913096A (en) Measuring device for use with an electrical transducer having parabolic resistance response
US3644751A (en) Digital capacitance meter
SU1018235A1 (en) Multichannel analog/digital converter
SU473114A1 (en) Digital Integrating Voltmeter
SU1649584A1 (en) Multichennal meter
SU1016696A1 (en) Device for measuring temperature having frequency output
SU1503022A1 (en) Method and apparatus for determining instant values of electric signal frequency
SU1698826A1 (en) Resistance deviation-to-digit converter
SU629510A1 (en) Quick-action registering device
SU1700390A1 (en) Temperature measuring device
SU1089436A1 (en) Device for measuring quantity of heat
SU1229594A1 (en) Digital thermometer
SU966621A1 (en) Device for determining phase fluctuation standard deviation
SU1051459A1 (en) Device for measuring electric capacitance
SU752174A1 (en) Voltage comparator
SU556325A1 (en) Device for measuring continuous physical quantities
SU615433A1 (en) Device for measuring instability of semiconductor device electrical parameters