SE533452C2 - Spectrometry procedure for examining samples containing at least two elements - Google Patents
Spectrometry procedure for examining samples containing at least two elementsInfo
- Publication number
- SE533452C2 SE533452C2 SE0900051A SE0900051A SE533452C2 SE 533452 C2 SE533452 C2 SE 533452C2 SE 0900051 A SE0900051 A SE 0900051A SE 0900051 A SE0900051 A SE 0900051A SE 533452 C2 SE533452 C2 SE 533452C2
- Authority
- SE
- Sweden
- Prior art keywords
- sample
- intensity
- elements
- concentrations
- measured
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 18
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 title claims description 4
- 239000000470 constituent Substances 0.000 claims description 11
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 6
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000010200 validation analysis Methods 0.000 description 3
- 238000000441 X-ray spectroscopy Methods 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 239000012925 reference material Substances 0.000 description 2
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001315 Tool steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- -1 for example Substances 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
- 238000004876 x-ray fluorescence Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
- G01N23/223—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/07—Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission
- G01N2223/076—X-ray fluorescence
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
25 30 35 533 452 standards and a proposed calibration procedure”, J. Malm- qvist; X-RAY SPECTROMETRY; X-Ray Spectrom 200l;30:83~92, har ett förfarande beskrivits hur en kalibrering för ett element kan genomföras med hjälp av en glasstandard innehållande en ”högren” kemikalie. I det nämnda fallet krävs således en standard för varje element, som skall kalibreras. Denna arti- kel intages härmed som en del av föreliggande ansökan. 25 30 35 533 452 standards and a proposed calibration procedure ”, J. Malm- qvist; X-RAY SPECTROMETRY; X-Ray Spectrom 200l; 30: 83 ~ 92, a method has been described how a calibration for an element can be performed using a glass standard containing a "high purity" chemical. In the case mentioned, a standard is thus required for each element to be calibrated. This article is hereby admitted as part of the present application.
Ovan nämnda patent avser ett förfarande vid spektrometri för undersökning av prover, där provet innehåller åtminstone två grundämnen. Uppfinningen enligt patentet kännetecknas av, att i ett första steg ett prov med kända koncentrationer av kända grundämnen placeras i en spektrometer och provets intensitet Il, I2m, In för de olika ingående grundämnena mäts, av att i ett andra steg kända koncentrationer Cl, C2m, Cn för ingående grundämnen relateras till de mätta intensiteterna Il, I2m, In så att en fiktiv intensitet för ett 100%-igt rent grundämne för vart och ett av grundämnena beräknas, av att i ett tredje steg kalibreringskonstanter Kl, K2m, Kn för vart och ett av grundämnena beräknas, som förhållandet mellan uppmätt inten- sitet Il, I2m, In och beräknad intensitet för respektive 100%-igt rent grundämne, av att i ett fjärde steg ett prov med okända koncentrationer av nämnda grundämnen placeras i spektrometern och de olika grundämnenas intensitet avläses och av att i ett femte steg koncentrationen av respektive grundämne i sistnämnda prov beräknas som uppmätt intensitet multiplicerad med respektive kalibreringskonstant för i pro- vet ingående grundämnen.The above-mentioned patent relates to a method of spectrometry for examining samples, wherein the sample contains at least two elements. The invention according to the patent is characterized in that in a first step a sample with known concentrations of known elements is placed in a spectrometer and the intensity of the sample I1, I2m, In for the various constituent elements is measured, in that in a second step known concentrations C1, C2m, Cn for constituent elements is related to the measured intensities I1, I2m, In so that a fictitious intensity for a 100% pure element for each of the elements is calculated, by in a third step calibration constants K1, K2m, Kn for each one of the elements is calculated, as the ratio between the measured intensity I1, I2m, In and the calculated intensity for each 100% pure element, by placing in a fourth step a sample with unknown concentrations of said elements in the spectrometer and the different elements intensity is read and that in a fifth step the concentration of each element in the latter sample is calculated as measured intensity multiplied by the respective calibration art nt for elements included in the sample.
En nackdel med det i patentet beskrivna förfarandet är att man måste starta med ett prov med kända koncentrationer av ingående element. Detta betyder att man måste framställa ett prov för att starta med detta, vilken framställan kan vara både tidsödande och kostsamt.A disadvantage of the process described in the patent is that one must start with a sample with known concentrations of constituent elements. This means that you have to produce a sample to start with, which can be both time consuming and costly.
Föreliggande uppfinning löser detta problem. 10 15 20 25 35 533 452 Föreliggande uppfinning hänför sig således till ett förfaran- de vid spektrometri för undersökning av prover, där provet innehåller åtminstone två grundämnen och utmärkes av, kombi- nationen av ett antal steg, nämligen att i ett första steg antingen ett prov med okända koncentrationer av grundämnen placeras i en spektrometer och provets intensitet Il, I2m, In för de olika ingående grundämnena mäts samt provets koncent- rationer åsätts eller alternativt att ett prov med kända kon- centrationer av ämnen Cl,C2.., Cn placeras i spektrometern och provets intensiteter åsätts, av att i ett andra steg med hjälp av åsatta koncentrationer och med mätta intensiteter Il, I2m, In, alternativt åsatta intensiteter och kända kon- centrationer Cl,C2.., Cn, beräkna de fiktiva teoretiska in- tensitetsvärden, Iwoavärden, för de ingående grundämnena, av att i ett tredje steg beräkna nya Iwgavärden för motsvarande nämnda grundelement med hjälp av standarder med kända halter, vilka standarders intensiteter mäts, av att i ett fjärde steg justera de fiktiva teoretiska Iwoavärdena, i fallet ansatt halt, med hjälp av det kalkylerade fiktiva Imoavärdet multi- plicerad med kvoten för ansatt halt till standardens halt och multiplicerad med kvoten för standardens kända intensitet till mätta intensitet och, i fallet ansatt intensitet, det kalkylerade fiktiva Imgkvärdet multiplicerad med kvoten för känd halt till standardens halt och multiplicerad med kvoten för standardens intensitet till ansatt intensitet och av att i ett femte steg ett prov med okända koncentratíoner av nämn- da grundämnen placeras i spektrometern och de olika grundäm- nenas intensitet avläses.The present invention solves this problem. The present invention thus relates to a method of spectrometry for examining samples, wherein the sample contains at least two elements and is characterized by, the combination of a number of steps, namely that in a first step either a samples with unknown concentrations of elements are placed in a spectrometer and the sample intensity I1, I2m, In for the various constituent elements are measured and the sample concentrations are applied or alternatively a sample with known concentrations of substances C1, C2 .., Cn is placed in the spectrometer and the intensities of the sample, by calculating in a second step by means of applied concentrations and with measured intensities I1, I2m, In, alternatively applied intensities and known concentrations C1, C2 .., Cn, density values, Iwo values, for the constituent elements, by calculating in a third step new Iwga values for the corresponding said element elements by means of standards with known contents, which state The intensities of ndards are measured, by adjusting the fictitious theoretical Iowa values, in the case employed content, in a fourth step, using the calculated fictitious Imoa value multiplied by the ratio of employed content to the standard content and multiplied by the ratio of the standard known intensity to measured intensity and, in the case of applied intensity, the calculated fictitious Img value multiplied by the ratio of known content to the standard content and multiplied by the ratio of the standard intensity to applied intensity and by placing in a fifth step a sample with unknown concentrations of said elements in the spectrometer and the intensity of the various elements is read.
Det unika med förfarandet enligt ovan nämnda patent är att endast ett prov innehållande de element, som skall kalibreras krävs för genomförande av en kalibrering för två eller flera element.The unique thing about the method according to the above-mentioned patent is that only a sample containing the elements to be calibrated is required for carrying out a calibration for two or more elements.
Förfarandet bygger, förutom på de ingående elementens kända halter i det enstaka tillverkade provet, på att även bakgrun- den samtidigt kan beräknas utifrån endast en singulär mätning 10 15 20 25 30 35 533 452 av detta prov, d.v.s. endast en mätning per element, d.v.s. en punkt.The method is based, in addition to the known contents of the constituent elements in the single manufactured sample, on the fact that the background can also be calculated at the same time on the basis of only a singular measurement of this sample, i.e. only one measurement per element, i.e. a dot.
Det unika med föreliggande uppfinning är att i det första steget antingen ett prov med okända koncentrationer av grund- ämnen placeras i en spektrometer och provets intensitet Il, I2m, In för de olika ingående grundämnena mäts samt provets koncentrationer âsätts, eller alternativt att ett prov med kända koncentrationer av ämnen Cl,C2.., Cn placeras i spekt- rometern och provets intensiteter åsätts. Intensiteter och koncentrationer kan àsättas genom att inmata dessa i en dator som används för att göra beräkningar enligt kravet 1 och se- dan att i ett senare steg ämnenas intensitetsvärden I1w-vär- den justeras genom att jämföras mot standarder med kända hal- ter, såsom CRM-standarder (Certified Reference Material).The unique thing about the present invention is that in the first step either a sample with unknown concentrations of elements is placed in a spectrometer and the intensity of the sample I1, I2m, In for the various constituents is measured and the sample concentrations are set, or alternatively a sample with known concentrations of substances C1, C2 .., Cn are placed in the spectrometer and the intensities of the sample are applied. Intensities and concentrations can be set by entering these into a computer used to make calculations according to claim 1 and then in a later step the intensity values of the substances I1w values are adjusted by comparing against standards with known levels, such as Certified Reference Material (CRM) standards.
Härigenom behöver man inte framställa ett prov för att starta med detta.This means that you do not need to produce a sample to start with.
För åtminstone vissa materialsorter, såsom exempelvis rost- fritt stål, verktygsstål etc. och även icke stålmaterial, va- rierar intensiteten på ett likartat sätt inom materialsorten vid olika koncentrationer av ingående ämnen. I dylika fall kan en datafil upprättas över intensiteter för en viss mate- rialsort. En sådan datafil kan användas för att àsätta inten- siteter enligt vad som ovan sagts.For at least certain types of material, such as, for example, stainless steel, tool steel, etc. and also non-steel materials, the intensity varies in a similar way within the type of material at different concentrations of constituent substances. In such cases, a data file can be created over intensities for a certain type of material. Such a data file can be used to set intensities as stated above.
I ett dataprogram, det s.k. Multiscat programmet, som används och som bygger pà den nämnde J.E. Fernández algoritmer har ett förfarande utvecklats för att beräkna kalibreringskon- stanten för de aktuella elementen i provet. de framräknade halterna och de mätta, Detta utförs med alternativt àsatta, in- tensiteterna eller koncentrationerna för provet, varefter nya kalibreringskonstanter beräknas. Med användning av dessa be- räknas därefter halterna för de tvá 100%-iga proverna.In a computer program, the so-called The multiscat program, which is used and which is based on the aforementioned J.E. Fernández algorithms have developed a method for calculating the calibration constant for the relevant elements in the sample. the calculated levels and the measured ones. This is performed with alternatively set, the intensities or concentrations of the sample, after which new calibration constants are calculated. Using these, the levels of the two 100% samples are then calculated.
Enligt en föredragen utföringsform sker beräkningen enligt ovan nämnda andra steg genom att utnyttja ett samband mellan 10 15 20 25 35 533 452 koncentrationen av ett grundämne och den intensitet nämnda koncentration ger upphov till i den använda spektrometern.According to a preferred embodiment, the calculation according to the above-mentioned second step takes place by using a relationship between the concentration of an element and the intensity said concentration gives rise to in the spectrometer used.
Enligt ett föredraget utförande av nyssnämnda föredragna ut- föringsform sker beräkningen i nämnda andra steg, där nämnda kända koncentrationer Cl, C2m, Cn för ingående grundämnen re- lateras till de mätta intensiteterna Il, I2m, In så att en fiktiv intensitet för ett 100%-igt rent grundämne för vart och ett av grundämnena beräknas, med algoritmer beskrivna i artikeln ”Application of J. E. Fernandez algorithms in the evaluation of X~ray intensities measured on fused glass discs for a set of international standards and a proposed calibra- tion procedure”, J. Malmqvist; X-RAY SPECTROMETRY; X-Ray Spectrom 200l;30:83-92.According to a preferred embodiment of the aforementioned preferred embodiment, the calculation takes place in said second step, where said known concentrations C1, C2m, Cn for constituent elements are related to the measured intensities I1, I2m, In such that a fictitious intensity for a 100% pure element for each of the elements is calculated, using algorithms described in the article "Application of JE Fernandez algorithms in the evaluation of X-ray intensities measured on fused glass discs for a set of international standards and a proposed calibration procedure" , J. Malmqvist; X-RAY SPECTROMETRY; X-Ray Spectrom 200l; 30: 83-92.
I ovan nämnda första steg placeras ett prov med okända kon- centrationer av kända grundämnen i en spektrometer av lämplig känd typ och provets intensitet Il, I2m, gående grundämnena mäts.In the first step mentioned above, a sample with unknown concentrations of known elements is placed in a spectrometer of a suitable known type and the intensity of the sample I1, I2m, the walking elements are measured.
In för de olika in- Alternativt placeras ett prov med kända koncentrationer av kända grundämnen i en spektrometer av lämplig känd typ och provets intensitet Il, IZ nena åsätts.Alternatively, a sample with known concentrations of known elements is placed in a spectrometer of suitable type and the intensity of the sample II, IZ is applied.
I, In för de olika ingående grundäm- I ovan nämnda andra steg med hjälp av åsatta koncentrationer och med mätta intensiteter Il, I2m, In, alternativt åsatta intensiteter och kända koncentrationer Cl,C2.., Cn, beräkna de fiktiva teoretiska intensitetsvärden, ingående grundämnena.I, In for the various constituent elements. the elements.
Imoavärden, för de Generellt bestäms halten i ett prov genom sambandet Ci = ki ' ïi ' M, (1) 10 15 20 25 35 533 452 där Ci = koncentrationen av grundämnet i, konstanten, ki = kalibrerings- Ii = mätt intensitet och M är den matematiska korrektion, som används enligt föreliggande uppfinning.Imo values, for the Generally the content of a sample is determined by the relationship Ci = ki 'ïi' M, (1) 10 15 20 25 35 533 452 where Ci = the concentration of the element i, the constant, ki = calibration- Ii = measured intensity and M is the mathematical correction used in the present invention.
Vid användningen av de matematiska algoritmerna definieras kalibreringskonstanten som kí = 1/Ilwg, där Ilmß = ett ele- ments intensitetsvärde vid halten 100%. Två fall beskrivs i föreliggande patentansökan. I det första fallet där ett prov, vars intensitet mäts och dess halt ansätts och i det andra fallet där ett prov, vars intensitet ansätts och i vilket provets halt är känd. Med användning av ekvationen (1) kan fall A tecknas som, Cm = l/ïiooæA ° Iixand ' M, (2) där Gm = ansatt halt, Iium1= mätt intensitet och INmu_= dess I1w%-värde vid ansatt haltvärde. På motsvarande sätt kan fall B tecknas som, Cikana = l/hooæs, ° Iis ' M, (3) där Cikänd = känd hâlt, Iiß = anSatt intensitet OCh Ilgggg = dêSS Ilwe-värde vid ansatt intensitet.When using the mathematical algorithms, the calibration constant is defined as kí = 1 / Ilwg, where Ilmß = the intensity value of an element at the content 100%. Two cases are described in the present patent application. In the first case where a sample, the intensity of which is measured and its content is applied, and in the second case where a sample, the intensity of which is applied and in which the content of the sample is known. Using equation (1), case A can be plotted as, Cm = l / ïiooæA ° Iixand 'M, (2) where Gm = estimated content, Iium1 = measured intensity and INmu_ = its I1w% value at estimated content value. Correspondingly, case B can be plotted as, Cikana = l / hooæs, ° Iis' M, (3) where Cikänd = known hold, Iiß = set intensity OCh Ilgggg = dêSS Ilwe value at set intensity.
För att därefter justera de beräknade Ilmg-värdena i ekvatio- nerna (2) och (3) krävs ett prov med kända halter och med mätta intensiteter t.ex. en CRM-standard (Certified Reference Material). Med användning av samma ekvation (1) bandet för standarden som tecknas sam- Cicnn = l/Imowust ' Iicnn ' M, (4) där Ciqm = CRM-standard med kända halter, Iium = CRM-standard med kända mätta intensiteter och Ilwgmßt = dess justerade I1w%-värde vid ansatt intensitet.To then adjust the calculated Ilmg values in equations (2) and (3), a sample with known levels and with measured intensities is required, e.g. a CRM (Certified Reference Material) standard. Using the same equation (1) the band for the standard drawn co- Cicnn = l / Imowust 'Iicnn' M, (4) where Ciqm = CRM standard with known contents, Iium = CRM standard with known measured intensities and Ilwgmßt = its adjusted I1w% value at applied intensity.
De justerade I1W%-värdena kan därefter härledas för de båda fallen ur ekvationerna (2) och (4) respektive (3) och (4) och beräknas som, 10 15 20 25 30 35 533 452 Fall A ïioozJustA= (CiA/ Cicm ' ïicnn / ïikana) ' ïlooæA (5) Fall B Iiooæausca: (Cixana / CicRM ' Iicnm / ïiß) ' Iiooæs (6) Det förväntade teoretiska intensitetsvärdet vid halten 100% för elementet El betecknasIh@mTw,. Det kan betraktas som den registrerade delmängden fotoner för elementet av alla de pro- ducerade fotonerna med det använda röntgenröret i spektrome- tern. I steg 1 utförs en justering, kalibrering, på så sätt att I1mßTflm-värdet för elementen Fe och Si justerats så att provens halter blir 100%.The adjusted I1W% values can then be derived for the two cases from equations (2) and (4) and (3) and (4), respectively, and calculated as, 10 15 20 25 30 35 533 452 Case A ïioozJustA = (CiA / Cicm 'ïicnn / ïikana)' ïlooæA (5) Case B Iiooæausca: (Cixana / CicRM 'Iicnm / ïiß)' Iiooæs (6) The expected theoretical intensity value at the content of 100% for the element El is denotedIh @ mTw ,. It can be considered as the registered subset of photons for the element of all the photons produced with the X-ray tube used in the spectrometer. In step 1, an adjustment, calibration, is performed in such a way that the I1mßT fl m value of the elements Fe and Si is adjusted so that the contents of the samples become 100%.
I ovan nämnda tredje steg justeras nämnda Ilwg-värde genom att jämföras mot standarder med kända halter av grundämnen, vilka standarders intensitet mäts.In the above-mentioned third step, said Ilwg value is adjusted by comparing it with standards with known levels of elements, which intensity is measured.
I ovan nämnda fjärde steg justeras de fiktiva teoretiska Imoa värdena, i fallet ansatt halt, med hjälp av det kalkylerade fiktiva Imgnvärdet multiplicerad med kvoten för ansatt halt till standardens halt och multiplicerad med kvoten för stan- dardens kända intensitet till mätta intensitet och, i fallet ansatt intensitet, det kalkylerade fiktiva I1mm-värdet multi- plicerad med kvoten för känd halt till standardens halt och multiplicerad med kvoten för standardens intensitet till an- satt intensitet.In the above-mentioned fourth step, the fictitious theoretical Imoa values, in the case of applied content, are adjusted by means of the calculated fictitious Imgn value multiplied by the ratio of employed content to the standard content and multiplied by the ratio of the standard known intensity to measured intensity and, in the case set intensity, the calculated fictitious I1mm value multiplied by the ratio of known content to the standard content and multiplied by the ratio of the standard intensity to the set intensity.
I ovan nämnda femte steg placeras ett prov med okända kon- centrationer av nämnda grundämnen i spektrometern och de oli- ka grundämnenas intensitet avläses.In the above-mentioned fifth step, a sample with unknown concentrations of said elements is placed in the spectrometer and the intensity of the various elements is read.
Enligt ett föredraget utförande, för det fall ytterligare prov skall undersökas innehållande samma grundämnen, som ett undersökt prov, nämnda femte steg upprepas utan att nämnda första, tredje och fjärde steg upprepas. andra, Vid praktisk användning knyts således det virtuella fallet med de givna intensiteterna eller de åsatta intensiteterna 10 15 20 25 30 35 533 452 till det verkliga fallet genom att justera de framtagna Ilwæ- värdena mot standarder med kända koncentrationer för att upp- nå en slutlig kalibrering.According to a preferred embodiment, in case additional samples are to be examined containing the same elements as an examined sample, said fifth step is repeated without repeating said first, third and fourth steps. Thus, in practical use, the virtual case with the given intensities or the applied intensities 10 15 20 25 30 35 533 452 is linked to the real case by adjusting the produced Ilwæ values against standards with known concentrations to achieve a final calibration.
Det ovan angivna illustrerar hur man med hjälp av endast ett prov kan utföra en kalibrering för flera element. Detta är av särskild betydelse vid multielementanalys, som vid röntgen- fluorescensanalys ofta är exempel på och där det kan handla om att kalibrera kanske 10-50 element för en analysmetod.The above illustrates how to perform a calibration for several elements using only one sample. This is of particular importance in multi-element analysis, which in X-ray fluorescence analysis is often an example of and where it may be a matter of calibrating perhaps 10-50 elements for an analysis method.
Lätt inses att det föreliggande förfarandet är kostnads- och tidsbesparande jämfört med förfarandet enligt ovan nämnda pa- tent och att en av anledningarna till detta ligger i förfa- randets förmåga att beräkna en bakgrund med användning av endast en mätning, element. d.v.s. en bestämning av endast en punkt/ Föreliggande förfarande kan även användas vid en validering av en analysmetod. Med hjälp av förfarandet kan även enstaka speciellt tillverkade prov, som används för kalibreringen, även knytas till en utförd validering av en analysmetod, vil- ket i sig är värdefullt som en uppdatering av en validering kan läggas pà detta enstaka prov. Detta är särskilt betydel- sefullt vid de tillfällen då problem uppstår med instrumen- tets hårdvara, som vid röntgenrörsbyten, fel på detektorer, en scanner eller andra allvarligare fel.It is easily understood that the present method is cost and time saving compared to the method according to the above-mentioned patent and that one of the reasons for this lies in the ability of the method to calculate a background using only one measurement, element. i.e. a determination of only one point / The present method can also be used in a validation of an analysis method. With the aid of the method, even single specially made samples, which are used for the calibration, can also be linked to a performed validation of an analysis method, which in itself is valuable as an update of a validation can be applied to this single sample. This is especially significant in cases where problems arise with the instrument's hardware, such as X - ray tube replacements, detector faults, a scanner or other more serious faults.
Ovan har ett antal utföringsformer beskrivits. Det är dock uppenbart att föreliggande förfarande inte är strikt bundet till de angivna algoritmerna, utan att andra modifierade al- goritmer skulle kunna användas utan att uppfinningen såsom beskriven i patentkraven frångâs.A number of embodiments have been described above. However, it is obvious that the present method is not strictly bound to the stated algorithms, but that other modified algorithms could be used without departing from the invention as described in the claims.
Föreliggande uppfinning skall därför inte anses begränsad till de ovan angivna utföringsformerna, utan kan varieras inom dess av bifogade patentkrav angivna ram.The present invention is, therefore, not to be construed as limited to the embodiments set forth above, but may be varied within the scope of the appended claims.
Claims (2)
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SE0900051A SE533452C2 (en) | 2009-01-19 | 2009-01-19 | Spectrometry procedure for examining samples containing at least two elements |
| CN2010800046984A CN102282459A (en) | 2009-01-19 | 2010-01-14 | Method for spectrometry for investigation of samples containing at least two elements |
| US13/144,104 US20120045031A1 (en) | 2009-01-19 | 2010-01-14 | Method for spectrometry for investigating samples containing at least two elements |
| EP10731442.9A EP2380010A4 (en) | 2009-01-19 | 2010-01-14 | Method for spectrometry for investigation of samples containing at least two elements. |
| PCT/SE2010/050036 WO2010082897A1 (en) | 2009-01-19 | 2010-01-14 | Method for spectrometry for investigation of samples containing at least two elements. |
| JP2011546232A JP2012515344A (en) | 2009-01-19 | 2010-01-14 | Spectroscopic method for investigating samples containing at least two elements |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SE0900051A SE533452C2 (en) | 2009-01-19 | 2009-01-19 | Spectrometry procedure for examining samples containing at least two elements |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SE0900051A1 SE0900051A1 (en) | 2010-07-20 |
| SE533452C2 true SE533452C2 (en) | 2010-10-05 |
Family
ID=42340002
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SE0900051A SE533452C2 (en) | 2009-01-19 | 2009-01-19 | Spectrometry procedure for examining samples containing at least two elements |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US20120045031A1 (en) |
| EP (1) | EP2380010A4 (en) |
| JP (1) | JP2012515344A (en) |
| CN (1) | CN102282459A (en) |
| SE (1) | SE533452C2 (en) |
| WO (1) | WO2010082897A1 (en) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SE539014C2 (en) * | 2015-07-28 | 2017-03-21 | Multiscat Ab | Method for calibrating and X-ray fluorescence spectrometer |
| CN109975342A (en) * | 2019-04-03 | 2019-07-05 | 成都理工大学 | A kind of spectrum stability bearing calibration of X-ray tube and device |
| CN111323445B (en) * | 2020-04-02 | 2023-07-07 | 平湖旗滨玻璃有限公司 | Method for detecting tin penetration amount of glass |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3703726A (en) * | 1970-12-31 | 1972-11-21 | Corning Glass Works | Quantitative chemical analysis by x-ray emission spectroscopy |
| JP2853261B2 (en) * | 1989-05-16 | 1999-02-03 | 三菱マテリアル株式会社 | Metal analysis method and analyzer |
| JP4247559B2 (en) * | 2005-06-07 | 2009-04-02 | 株式会社リガク | X-ray fluorescence analyzer and program used therefor |
| SE0600946L (en) * | 2006-04-28 | 2007-06-12 | Xrf Analytical Ab | Procedure in spectrometry for examination of samples, in which the sample contains at least two elements |
-
2009
- 2009-01-19 SE SE0900051A patent/SE533452C2/en not_active IP Right Cessation
-
2010
- 2010-01-14 JP JP2011546232A patent/JP2012515344A/en not_active Abandoned
- 2010-01-14 CN CN2010800046984A patent/CN102282459A/en active Pending
- 2010-01-14 US US13/144,104 patent/US20120045031A1/en not_active Abandoned
- 2010-01-14 EP EP10731442.9A patent/EP2380010A4/en not_active Withdrawn
- 2010-01-14 WO PCT/SE2010/050036 patent/WO2010082897A1/en active Application Filing
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO2010082897A1 (en) | 2010-07-22 |
| JP2012515344A (en) | 2012-07-05 |
| EP2380010A1 (en) | 2011-10-26 |
| US20120045031A1 (en) | 2012-02-23 |
| EP2380010A4 (en) | 2013-07-03 |
| SE0900051A1 (en) | 2010-07-20 |
| CN102282459A (en) | 2011-12-14 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP3598116B1 (en) | X-ray fluorescence analysis method, x-ray fluorescence analysis program, and x-ray fluorescence spectrometer | |
| Ishak et al. | Comparison of digestion methods for the determination of trace elements and heavy metals in human hair and nails | |
| WO2012093622A1 (en) | Mass analyzer, analytical method, and calibration sample | |
| van Rossum et al. | A method for optimization and validation of moving average as continuous analytical quality control instrument demonstrated for creatinine | |
| DE102010046829A1 (en) | Method for determining gas concentrations in a gas mixture based on thermal conductivity measurements with measured value correction | |
| JP2010223908A (en) | Fluorescent x-ray analysis method | |
| JP4315975B2 (en) | Noise component removal method | |
| SE533452C2 (en) | Spectrometry procedure for examining samples containing at least two elements | |
| KR101305993B1 (en) | Method for mesuring biochemical oxygen demand | |
| SE529264C2 (en) | Method involves spectrometry for investigation of samples which contain at least two basic bodies | |
| KR101456227B1 (en) | Analysis system for complexed element inclusions | |
| CN108613997A (en) | A kind of method of calcium stearate levels in measurement rubber | |
| Woelfl et al. | Cold plasma ashing improves the trace element detection of single Daphnia specimens by total reflection X-ray fluorescence spectrometry | |
| Fraga et al. | ROC-curve approach for determining the detection limit of a field chemical sensor | |
| KR101221878B1 (en) | apparatus which estimates pollution ingredient pattern of pollutant | |
| JPWO2021053713A5 (en) | ||
| Zou et al. | Quantitative analysis of carbon in carbon steel using SEM/EDS followed by error correction approach | |
| Wybenga et al. | Determination of Certain Noble Metals in Solution by Means of X-ray Fluorescence Spectroscopy. 2. Determination of Palladium, Rhodium, and Ruthenium | |
| JP2014007995A5 (en) | ||
| CN112834541B (en) | Method for testing sodium content and sodium distribution | |
| JP2012063224A (en) | Fluorescent x-ray analyzer | |
| Theodorsson | Limit of detection, limit of quantification and limit of blank | |
| CN108344720B (en) | Quantitative result correction method of liquid phase chip decoding analysis system | |
| JPH0943151A (en) | Particle size distribution measuring method for metal inclusion | |
| Masson et al. | Comparison of wavelength‐dispersive X‐ray fluorescence spectrometry and inductively coupled plasma optical emission spectrometry for the elementary determination in plants through the accuracy profile method |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| NUG | Patent has lapsed |