KR980011310A

KR980011310A - Maintenance method in a maintenance cylinder

Info

Publication number: KR980011310A
Application number: KR1019960031563A
Authority: KR
Inventors: 윤성중
Original assignee: 김광호; 삼성전자 주식회사
Priority date: 1996-07-30
Filing date: 1996-07-30
Publication date: 1998-04-30

Abstract

가. 청구범위에 기재된 발명이 속한 기술분야end. TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION

하드 디스크 드라이브에 있어서의 메인터넌스실린더내 디펙 처리방법.In a maintenance cylinder in a hard disk drive.

나. 발명이 해결하려고 하는 기술적 과제I. Technical Problems to be Solved by the Invention

메인터넌스실린더 자체에 있는 디펙에 의한 불량율을 낮추기 위한 디펙 처리방법을 제공한다.And a defective processing method for reducing the defective rate due to defects in the maintenance cylinder itself.

다. 그 발명의 해결방법의 요지All. The point of the solution of the invention

기능테스트시 상기 메인터넌스 실린더 내 디펙이 검출되면 해당 디펙섹터를 데이타영역의 스페어 섹터로 대체한다.If a deficiency in the maintenance cylinder is detected during a functional test, the defective sector is replaced with a spare sector in the data area.

라. 발명의 중요한 용도la. Important Uses of the Invention

메인터넌스실린더 디펙 처리Maintenance Cylinder Deep Processing

대표도：제2도Representative figure: The second figure

Description

Maintenance method in a maintenance cylinder

본 발명은 하드 디스크 드라이브(Hard Disk Drive)에 관한 것으로, 특히 메인터넌스 실린더(maintenance cylinder)내 발생한 디펙(defect)을 처리하는 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a hard disk drive, and more particularly, to a method for processing a defect occurring in a maintenance cylinder.

하드 디스크 드라이브는 제조될 때 통상 서보라이트 → 기능테스트 → 번-인 테스트 등의 공정을 거치게 된다. 서보라이트 공정에서는 디스크에 위치정보를 기록하게 된다. 기능테스트 공정에서는 메인터넌스 실린더의 디펙 여부와 데이타영역의 리드/라이트 가능여부를 판단한다. 그리고 번-인 테스트 공정에서는 데이타 영역의 디펙여부를 판단한다. 상기 번-인 테스트 공정을 더욱 상세히 설명하면, 번-인 테스트 공정은 드라이브 전체 데이타실린더들을 검색한 후 디펙을 찾고, 그 디펙의 리스트(통상 디펙리스트라 함)를 작성한다. 그후 디스크의 메인터넌스 실린더에 작성한 디펙리스트의 각종정보를 저장한다. 상기 메인터넌스 실린더는 사용자들이 접근할 수 없는 구간이다.When a hard disk drive is manufactured, it usually goes through processes such as servo write, functional test, and burn-in test. In the servo write process, the position information is recorded on the disk. In the functional test process, it is determined whether or not the maintenance cylinder is defective and whether the data area can be read or written. In the burn-in test process, it is determined whether or not the data area is defective. The burn-in test process will be described in more detail. The burn-in test process searches the drive data cylinders, finds the defects, and creates a list of defects (commonly referred to as defects). Then, various information of the defective list created in the maintenance cylinder of the disk is stored. The maintenance cylinder is a section that the user can not access.

한편, 상기 기능 테스트에서 메인터넌스 실린더 자체에 디펙이 있으면 그 드라이브는 불량fail) 처리가 된다. 일예로, 메인터넌스 실린더 자체에 디펙이 하나 또는 두개 정도만 있어도 그 드라이브를 불량 처리시킨다. 그러므로 메인터넌스 실린더 자체에 있는 디펙에 의한 불량율은 데이타영역에 있는 디펙에 의한 불량율보다 상대적으로 높아지게 된다.On the other hand, if there is a deficiency in the maintenance cylinder itself in the above function test, the drive is subjected to a failure fail process. For example, even if only one or two defects exist in the maintenance cylinder itself, the drive is defective. Therefore, the defective rate due to defects in the maintenance cylinder itself becomes relatively higher than the defective rate due to defects in the data area.

이에 따라 메인터넌스 실린더 자체에 있는 디펙에 의한 불량율을 낮추는 기술이 요망되어 진다.Accordingly, there is a demand for a technique for lowering the defect rate by the defects in the maintenance cylinder itself.

따라서 본 발명의 목적은 메인터넌스 실린더 자체에 있는 디펙에 의한 불량율을 낮추기 위한 디펙 처리방법을 제공하는데 있다.SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, it is an object of the present invention to provide a defective processing method for reducing a defective rate caused by defects in a maintenance cylinder itself.

제1도는 본 발명의 이해를 돕기 위한 하드 디스크 드라이브 블럭 구성도 .FIG. 1 is a block diagram of a hard disk drive block for facilitating understanding of the present invention. FIG.

제2도는 본 발명의 실시예에 따라 메인터넌스실린더내 디펙을 처리하는 방법을 보여주는 흐름도.FIG. 2 is a flow chart illustrating a method of processing a maintenance in-cylinder de-peak in accordance with an embodiment of the present invention. FIG.

상기한 목적에 따라, 본 발명은, 메인터넌스 실린더내 발생한 디펙을 처리하는 방법에 있어서, 기능테스트시 상기 메인터넌스 실린더 내 디펙이 검출되면 해당 디펙섹터를 데이타영역의 스페어섹터로 대체함을 특징으로 한다.According to another aspect of the present invention, there is provided a method of processing a defect occurring in a maintenance cylinder, the defect sector being replaced with a spare sector of a data area when a defect is detected in the maintenance cylinder during a functional test.

이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명한다. 후술될 본 발명의 실시예에서는 구체적인 디스크 및 헤드의 갯수, 구체적인 처리 흐름등과 같은 많은 특정 상세들이 본 발명의 보다 전반적인 이해를 제공하기 위해 나타나 있다. 이들 특정 상세들 없이도 본 발명이 실시될 수 있다는 것은 이 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 자명할 것이다. 그리고 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있는 공지 기능 및 구성에 대한 상세한 설명은 생략한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the following detailed description, numerous specific details are set forth in order to provide a thorough understanding of the present invention, such as the specific number of disks and heads, the specific processing flow, and the like. It will be apparent to those skilled in the art that the present invention may be practiced without these specific details. Further, the detailed description of known functions and configurations that may unnecessarily obscure the gist of the present invention will be omitted.

제1도는 본 발명을 이해하는데 유용하게 적용되는 하드 디스크 드라이브의 블럭 구성을 보여주는 도면이다. 제1도를 참조하면, 디스크들(10)은 스핀들(spindle)모터(34)에 의해 회전한다. 헤드들(12) 각각은 디스크들(10)중 대응하는 하나의 디스크면상에 위치하며, 환상 보이스 코일(rotary voice coil) 액츄에이터(30)와 결합된 E-블럭 어셈블리(14)로부터 디스크들(10)쪽으로 신장된 서포트 암들에 각각 대응되게 설치된다. 전치증폭기(16)는 리드시에는 헤드들(12)중 하나에 의해 픽업된 신호를 전치증폭하여 아나로그 리드신호를 리드/라이트 채널(read/write channel)회로(18)로 인가하며, 라이트시에는 리드/라이트 채널회로(18)로부터 인가되는 부호화된 라이트데이타를 헤드들(12)중 대응하는 하나의 헤드를 통해 디스크 상에 라이트되도록 한다. 리드/라이트 채널회로(18)는 전치증폭기(16)로부터 인가되는 리드신호로부터 데이타 펄스를 검출하고 디코딩하여 DDC(Disk Data Controller)(20)에 인가하며, DDC(20)로부터 인가되는 라이트데이타를 디코딩하여 전치증폭기(16)에 인가한다. DDC(20)는 호스트 컴퓨터로부터 수신되는 데이타를 리드/라이트 채널회로(18)와 전치증폭기(16)를 통해 디스크상에 라이트 하거나 디스크상으로부터 데이타를 리드하여 호스트 컴퓨터로 송신한다. 또한 DDC(20)는 호스트 컴퓨터와 마이크로 콘트롤러(24)간의 통신을 인터페이스한다. 버퍼 램(22)은 호스트 컴퓨터와 마이크로 콘트롤러(24)와 리드/라이트 채널회로(18) 사이에 전송되는 데이타를 일시 저장한다. 마이크로 콘트롤러(24)는 호스트 컴퓨터로부터 수신되는 리드 또는 라이트 명령에 응답하여 트랙 탐색 및 트랙 추종을 제어한다. 메모리(26)는 마이크로 콘트롤러(24)의 수행 프로그램 및 각종 설정값들을 저장한다. 서보구동부(28)는 마이크로 콘트롤러(24)에서 제공하는 헤드들(12)의 위치 제어를 위한 신호에 응답하여 액츄에이터(30)를 구동하기 위한 구동전류를 발생하여 액츄에이터(30)의 보이스 코일에 인가한다. 액츄에이터(30)는 서보구동부(28)로부터 인가되는 구동전류의 방향 및 레벨에 대응하여 헤드들(12)을 디스크들(10)상에서 이동시킨다. 스핀들 모터 구동부(32)는 마이크로 콘트롤러(24)로부터 발생되는 디스크들(10)의 회전 제어를 위한 제어값에 따라 스핀들 모터(34)를 구동하여 디스크들(10)을 회전시킨다.FIG. 1 is a block diagram illustrating a hard disk drive according to an embodiment of the present invention. Referring to FIG. 1, the disks 10 are rotated by a spindle motor 34. Each of the heads 12 is located on a corresponding one of the disks 10 and is moved from the E-block assembly 14 coupled with the rotary voice coil actuator 30 to the disks 10 Respectively, of the support arms. The preamplifier 16 pre-amplifies the signal picked up by one of the heads 12 at the time of reading and applies the analog read signal to the read / write channel circuit 18, Write channel data supplied from the read / write channel circuit 18 to be written on the disk via a corresponding head of the heads 12. [ The read / write channel circuit 18 detects and decodes the data pulse from the read signal applied from the preamplifier 16, applies it to the DDC (Disk Data Controller) 20, and outputs the write data supplied from the DDC 20 Decode it and apply it to the preamplifier 16. The DDC 20 writes the data received from the host computer on the disk via the read / write channel circuit 18 and the preamplifier 16 or reads data from the disk and transmits it to the host computer. In addition, the DDC 20 interfaces communication between the host computer and the microcontroller 24. The buffer RAM 22 temporarily stores data to be transferred between the host computer and the microcontroller 24 and the read / write channel circuit 18. The microcontroller 24 controls track seeking and track following in response to a read or write command received from the host computer. The memory 26 stores programs to be executed by the microcontroller 24 and various setting values. The servo drive unit 28 generates a drive current for driving the actuator 30 in response to a signal for controlling the position of the heads 12 provided by the microcontroller 24 and supplies the drive current to the voice coil of the actuator 30 do. The actuator 30 moves the heads 12 on the disks 10 in accordance with the direction and the level of the drive current applied from the servo driver 28. The spindle motor driving unit 32 drives the spindle motor 34 to rotate the discs 10 according to a control value for controlling the rotation of the discs 10 generated from the microcontroller 24.

본 발명에 따른 하드 디스크 드라이브의 메인터넌스실린더내 디펙 처리는 제1도 도시된 마이크로 콘트롤러(24)를 사용할 수도 있고, 외부의 테스트장비를 사용할 수 있다. 본 발명의 실시예예서는 도1에 도시된 마이크로 콘트롤러(24)에서 메인터넌스실린더내 디펙 처리하는 것을 일예로 설명할 것이다. 이때 마이크로 콘트롤러(24)는 메인터넌스실린더내 디펙 처리를 위한 프로그램 및 그에 따른 각종 정보를 메모리(26)에 저장하고 있다.In the in-cylinder maintenance processing of the hard disk drive according to the present invention, the microcontroller 24 shown in FIG. 1 may be used, or an external test equipment may be used. In the embodiment of the present invention, the microcontroller 24 shown in Fig. 1 performs deprotal processing in the maintenance cylinder. At this time, the microcontroller 24 stores a program for depacketizing in the maintenance cylinder and various kinds of information in the memory 26 in the maintenance cylinder.

제2도는 본 발명의 실시예에 따라 메인터넌스실린더내 디펙을 처리하는 방법을 보여주는 흐름도이다.FIG. 2 is a flow chart illustrating a method for processing a maintenance in-cylinder defocus according to an embodiment of the present invention.

도1 및 도2를 참조하여 본 발명의 실시예를 설명하면, 서보라이트가 끝난 후 도2의 50단계와 같은 기능테스트공정시 마이크로 콘트롤러(24)는 52단계로 진행한다. 52단계에서 메인터넌스 실린더에 디펙이 있는가를 기능테스트시의 리드/라이트 신호에 의해서 판단한다. 만약 메인너넌스 실린더에 디펙이 없으면 54단계의 번-인 테스트 공정으로 바로 진행된다. 그러나 만약 메인너넌스 실린더에 디펙이 있으면 56단계로 진행하여 메모리(26)에 있는 디펙리스트에 이를 기록한다. 그후 58단계로 진행하여 번-인 테스트를 수행하고 60단계에서 메인터넌스 실린더내 있었던 디펙섹터를 데이타영역의 스페어섹터(spare sector)로 대체한다.Referring to FIGS. 1 and 2, a description will be made of an embodiment of the present invention. After the servo write is completed, the microcontroller 24 proceeds to step 52 in the functional test process as shown in step 50 of FIG. In step 52, it is determined whether there is a deficiency in the maintenance cylinder based on the read / write signal at the time of the functional test. If there is no defec- tive in the main- nance cylinder, the burn-in test process in step 54 proceeds directly to the burn-in test process. However, if there is a deficiency in the main- nance cylinder, go to step 56 and record it in the defector in memory 26. Then, in step 58, a burn-in test is performed. In step 60, a defective sector in the maintenance cylinder is replaced with a spare sector in the data area.

한편 본 발명의 상세한 설명에서는 구체적인 실시예에 관해 설명하였으나, 본 발명의 범위에서 벗어나지 않는 한도내에서 여러가지 변형이 가능함은 물론이다. 그러므로 본 발명의 범위는 설명된 실시예에 국한되어 정해져서는 않되며 후술하는 특허청구의 범위뿐 만 아니라 이 특허청구의 범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.While the present invention has been described in connection with what is presently considered to be practical exemplary embodiments, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed embodiments. Therefore, the scope of the present invention should not be limited by the described embodiments, but should be determined by the scope of the appended claims and equivalents thereof.

상술한 바와 같이 본 발명은 메인터넌스 실린더내 디펙이 있으면 기능테스트시 상기 메인터넌스 실린더 내 디펙이 검출되면 해당 디펙섹터를 데이타영역의 스페어섹터로 대체하므로 메인터넌스 실린더 디펙에 의한 드라이브의 불량율 판정을 낮추게 한다.As described above, according to the present invention, if there is a deficiency in the maintenance cylinder, the defective sector in the maintenance cylinder is replaced with the spare sector in the data area.

Claims

A method for processing a defect occurring in a maintenance cylinder, the method comprising: replacing a defective sector of the maintenance cylinder with a spare sector of the data area when a deficiency in the maintenance cylinder is detected during a functional test.

The method according to claim 1, further comprising the step of recording, when the defective area is detected, a defective area on a defective area on the internal memory.

The method of claim 1, wherein the replacement of the spare sector is performed after a burn-in test.

※ Note: It is disclosed by the contents of the first application.