KR950009726A - 반도체기억장치 - Google Patents
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Abstract
SRAM반도체기억장치에 있어서의 액세스의 고속화와 저소비전력화이다. 동작시에 TTL레벨의 칩이네이블신호 CE1/의 "L"가 입력초단회로(10)에 입력된다. 입력초단회로(10)중의 트랜지스터(11∼14)의 디멘젼은, 입력초단회로(20∼60)SDLM 트랜지스터보다 크므로, 입력초단회로(10)은 TTL레벨을 CMOS레벨의 고속으로 변환한다. 이 변환된 신호를 받아서 내부회로(100)과 입력초단회로(30∼60)은 활성화된다. 이 동작시에는 TTL레벨의 칩이네이블신호의 "L"이며, 입력초단회로에 있어서의 소비전류가 작다. 비선택시에 있어서, 입력초단회로(10)은 CMOS레벨이 입력되어, 소비전류가 작은 상태로 되든가 혹은 입력초단회로(20)에 의해 비활성화의 상태로 된다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제 1도는 본 발명의 실시예의 반도체기억장치를 표시하는 구성블록도.
Claims (2)
- 데이터를 기억하는 메모리셀 어레이를 가지는 내부회로와, 외부로부터의 상기 내부회로에 대한 신호중, TTL컴패터블한 레벨의 부론리한 칩이네이블 신호를 CMOS레벨로 변환하는 제2의 입력초단회로와, 상기 내부회로에 대한 신호중, 상기 부론리한 칩이네이블신호 이외의 복수의 TTL컴패터블한 레벨의 입력신호를 CMOS레벨로 변환하고, 그 내부회로에 입력하는 복수의 제1의 입력초단회로과를 구비하고, CMOS로 구성된 반도체기억장치에 있어서, 상기 제1 및 제2의 입력초단회로는, 각각 CMOS회로로 구성하고, 또한 그 제2의 입력초단회로를 구성하는 트랜지스터의 디멘션을, 제1의 입력초단회로를 구성하는 트랜지스터보다도 크게 설정하는 것을 특징으로 하는 반도체 기억장치.
- 제1항에 있어서, 상기 제2의 입력초단회로를 구성하는 트랜지스터는, 상기 제1의 입력초단회로를 구성하는 트랜지스터에 대해서 게이트 폭을 크게, 또한 게이트 길이를 가늘게 설정한 트랜지스터에 흐르는 전류를 크게한 것을 특징으로 하는 반도체기억장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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