KR920009017B1 - Surface error detecting circuit of linear material - Google Patents
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Abstract
Description
제1도는 본 발명에 의한 블록 회로도.1 is a block circuit diagram according to the present invention.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for the main parts of the drawings
10 : 포토 커플러 11 : 하이 스피드 프리 엠프10: photo coupler 11: high speed free amplifier
12 : DC 블록킹과 필터부 13 : 메인 증폭기12 DC blocking and
14 : 비교기 15 : 결함크기 선택부14: Comparator 15: Defect size selection unit
16 : 레코더 17, 19 : 카운터16: recorder 17, 19: counter
18, 20 : 디스플레이부 21 : 선속 세팅부18, 20: display unit 21: flux setting unit
22 : EP-ROM 23 : OR 게이트22: EP-ROM 23: OR gate
VR1-VR3 : 가변저항 R1-R3 : 저항VR1-VR3: Variable resistor R1-R3: Resistance
C1-C3 : 콘덴서 PT1 : 포토 트랜지스터C1-C3: Capacitor PT1: Phototransistor
본 발명은 에나멜 선이나 광파이버 등과 같은 선재의 생산공정중에서 발생되는 표면 결함을 검출하기 위한 회로에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a circuit for detecting surface defects generated during the production process of wire rods such as enameled wire or optical fiber.
이것은 선재를 권취함에 있어 인장력이나 기타 요건등에 발생되는 선재 구경의 불균일성 또는 피칭 로울러등의 접촉 마찰에 따른 크랙등을 검출하여 품질 향상에 기하기 위함이다.This is to improve the quality by detecting the unevenness of wire diameter caused by tensile force or other requirements or cracks due to contact friction such as pitching roller.
이에 대해 종래에는 선재의 표면 결함을 발견하기 위한 수단이 별도로 구비되어 있지 않고, 단지 숙련자의 시각적 관찰 또는 손에 의한 감각 수단에 의해 선재의 표면 결함을 체크하였던 것이다.On the other hand, conventionally, the means for detecting the surface defect of the wire rod is not provided separately, and the surface defect of the wire rod was checked only by visual observation of the skilled person or by the sensory means by the hand.
이는 선재 처리속도를 빠르게 하여 작업을 하게 될 경우 작업자의 피해가 예상되며, 시각적 관찰이 불가피하게 된다.This is expected to damage workers when working with a faster wire processing speed, and visual observation is inevitable.
따라서 본 발명은 접촉 방식의 결함을 해소하기 위해 생산공정중 선재의 표면 결함을 비접촉식으로 검출하는 수단으로 회로를 구성한 것인바, 그 목적은 선속이 빠른 선재의 표면 결함이 가능하고, 결함 검출에 대한 신뢰성이 크며, 선속에 따른 단위길이당 결함의 갯수와, 선재 전체 결함의 갯수가 동시에 디스플레이 되도록 안출한 것으로, 이를 위해 본 발명에서는 비접촉 방식을 구현하기 위해 발광 다이오드를 적용시켰다.Therefore, the present invention is to configure the circuit as a means for non-contact detection of the surface defects of the wire rod during the production process in order to eliminate the defect of the contact method, the object of the present invention is that the surface defects of the wire rods with a high speed of flux is possible, The reliability is high, and the number of defects per unit length according to the flux and the total number of defects of the wire rod are designed to be displayed at the same time. To this end, the present invention applies a light emitting diode to implement a non-contact method.
이 특징은 비접촉 방식이므로 접촉 수단으로 하는 센서에서 일어나는 또 다른 표면 결함을 방지할 수 있고, 표면 결함에서 얻어지는 단위길이당의 데이타를 디지탈 방식으로 처리할 수 있다는 장점이 있기 때문이다.This is because the feature is a non-contact method, which can prevent further surface defects occurring in the sensor used as the contact means, and has the advantage that the data per unit length obtained from the surface defects can be processed in a digital manner.
이하 첨부된 도면과 관련하여 그 구성을 상세히 설명하면 보다 명백해질 것이다.Hereinafter, the configuration thereof will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
제1도에 도시한 바와 같이 선재 표면의 결함을 검출하기 위한 센서구조는 발광 다이오드(LED) 구동부를 통해 발광된 광이 광차단부(SCREEN)에 의해 선재의 결함이 없을때 빛이 차단되고 결함이 있을때는 빛이 광차단부의 외부로 산재(SCATTERING)되어 포토 트랜지스터(PT1)에 의해 교류신호로 감지되고, 이는 하이 스피드 프리앰프(11)의 입력단에 연결되며, 이의 출력단은 선재 표면에 결함이 있을때 발생되는 교류신호 성분검출을 위해 DC 성분을 제거(Blocking)시키고 동시에 잡음성분을 제거하기 위한 필터부(12)를 통해 메인 증폭기(13)에 연결되고, 이는 비교기(14)의 반전단자(―)에 연결되며, 상기 비교기(14)의 비반전 단자(+)에는 결함크기 기준을 설정하는 결함크기 선택부(15)가 연결되어 검출하고자 하는 결함에 대한 신호레벨을 선택할 수 있으며 상기 비교기(14)의 출력단은 레코더(16)의 입력단과, 선재표면 총결함수 카운터(17)를 통한 총결함수 디스플레이부(18) 및, 선재 단위길이당 결함수 카운터(19)를 통한 단위길이당 결함수 디스플레이부(20)에 공통적으로 연결되고, 선재의 선속을 세팅하는 선속 세팅부(21)는 EP-ROM(22)을 통해 OR 게이트(23)의 일측 입력단에 연결되며, 이의 다른 입력측에는 단위길이당 리셋트 신호를 수용토록 하되, 상기 선재 표면 총결함수 카운터(17)의 리셋트 단자에도 연결하고, 상기 OR 게이트(23)의 출력측은 단위길이당 결함수 카운터(19)의 리셋트 단자에 연결시켜 구성한 것으로, 미설명 부호(VR1-VR3)과 콘덴서(C1-C3) 및 저항(R1-R3)은 결함크기 선택부(15)의 기준 설정 값을 조정하는 단자이다.As shown in FIG. 1, the sensor structure for detecting a defect on the surface of the wire rod is light cut off when there is no defect of the wire rod by the light blocking unit SCREEN. In this case, light is scattered to the outside of the light blocking unit and detected as an AC signal by the photo transistor PT1, which is connected to the input terminal of the
상기와 같이 구성된 본 발명의 작용 및 효과를 이 역시 첨부한 도면에 준한 실시예로서 설명하면 다음과 같다.Referring to the operation and effect of the present invention configured as described above as an embodiment according to the accompanying drawings as follows.
먼저 선재 표면에 결함이 없을 경우에는 발광 다이오드(LED)에서 산재(Scattering)되는 빛의 양은 스크린에 의해 전부 차단되고, 결함이 있을 경우에는 스크린 영역밖으로 산재(Scattering)되는 미약한 빛을 포토 트랜지스터(PT1)에 의해 검출하여 하이 스피드 프리앰프(11)에 의해 1차 증폭시킨다.First, if there is no defect on the surface of the wire rod, the amount of light scattered from the light emitting diode (LED) is completely blocked by the screen, and if there is a defect, the weak light scattered out of the screen area is emitted. PT1) detects and amplifies first by the
증폭된 검출 신호는 다음 신호 처리를 위해서 신호의 교류성분만이 필요한 DC 블로킹을 시키고, 이 신호에 포함되어 있는 노이즈를 DC 블로킹과 필터부(12)에 의해 필터링시킨다.The amplified detection signal causes DC blocking, which requires only the AC component of the signal for the next signal processing, and filters the noise contained in the signal by the DC blocking and
이후 그 신호는 처리하기에 아직 미약한 신호이므로 메인 증폭기(13)에 의해 한번 더 증폭시킨 다음 증폭된 신호를 다음단의 비교기(14)의 반전단자(-)에 입력시킨다.Since the signal is still weak to process, it is amplified once more by the
이때 비교기(14)의 기준값을 결함크기 선택부(15)에 의해 대,중,소 결함 검출이 가능하도록 선택하여 결함 검출을 원하는 정도에 따라 결함크기를 선택하게 된다. 따라서 비교기(14)의 비교값에 따라 출력되는 신호는 디지탈 파트의 선재 표면 총결함수 카운터(17)와, 단위길이당 결함수 카운터(19)에 입력됨과 동시에 선재 표면 결함을 검출한 카운팅 신호를 디지탈화 하여 각각의 디스플레이부(18,20)를 통해 디스플레이시킨다.At this time, the reference value of the
이때 선재의 선속을 세팅시켜 단위길이당 리셋트 신호가 발생하도록 하는 단자를 두어 선재 표면의 결함을 크리어시킬 수 있도록 하되, 측정하고자 할 때 사용되며, 결함수 단위길이당 카운터(19)를 통한 단위길이당 결함수 디스플레이부(20)에는 측정하고자 하는 단위길이당 선재 표면 결함 갯수가 디스플레이되며, 또한 이의 디스플레이된 단위길이당 선재 표면 결함 갯수가 상기 총결함수 디스플레이부(18)에 누적 디스플레이 되면서 측정하고자 하는 선재의 전체 결함 갯수가 디스플레이 된다.At this time, by setting the wire speed of the wire rod, there is a terminal for generating a reset signal per unit length so that the defect on the surface of the wire rod can be cleared, and it is used to measure the number of defects. The number of defects on the wire rod surface per unit length to be measured is displayed on the number of defects per
또한 장기적으로 선재 표면 결함을 측정하기 위해 비교기(14)의 출력을 레코더(16)로 입력시켜 결함의 정도와 빈도를 알 수 있도록 함과 아울러 레코더(16)의 선속도를 조정하게 하여 결함 형태의 체크를 용이롭게 한다.In addition, in order to measure the wire surface defects in the long term, the output of the
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명의 선재 표면 결함 검출회로에 의하면, 비접촉식의 발광 다이오드를 이용하므로서 선속이 빠른 선재의 결함 갯수 측정이 가능하고, 결함 검출에 대한 제품의 불량 또는 양품 선정을 용이하게 할 수 있게 하므로서 제품의 신뢰성을 확보할 수 있으며, 단위길이당 결함 갯수 검출도 디스플레이 되도록 하므로서 선재의 품질을 우수하게 향상시킬 수 있는 특징이 있다.As described above, according to the wire defect detection circuit of the present invention, it is possible to measure the number of defects of wire rods having a high speed by using a non-contact light emitting diode, and to facilitate the selection of defective products or good products for defect detection. It is possible to ensure the reliability of the product and to display the detection of the number of defects per unit length, thereby improving the quality of the wire.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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KR1019890020701A KR920009017B1 (en) | 1989-12-31 | 1989-12-31 | Surface error detecting circuit of linear material |
Applications Claiming Priority (1)
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KR1019890020701A KR920009017B1 (en) | 1989-12-31 | 1989-12-31 | Surface error detecting circuit of linear material |
Publications (2)
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KR910012671A KR910012671A (en) | 1991-08-08 |
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Family Applications (1)
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KR1019890020701A KR920009017B1 (en) | 1989-12-31 | 1989-12-31 | Surface error detecting circuit of linear material |
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KR (1) | KR920009017B1 (en) |
-
1989
- 1989-12-31 KR KR1019890020701A patent/KR920009017B1/en not_active IP Right Cessation
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Publication number | Publication date |
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KR910012671A (en) | 1991-08-08 |
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