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KR920008463A - Ic 시험장치 - Google Patents

Ic 시험장치 Download PDF

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Publication number
KR920008463A
KR920008463A KR1019910016791A KR910016791A KR920008463A KR 920008463 A KR920008463 A KR 920008463A KR 1019910016791 A KR1019910016791 A KR 1019910016791A KR 910016791 A KR910016791 A KR 910016791A KR 920008463 A KR920008463 A KR 920008463A
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KR
South Korea
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KR1019910016791A
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Inventor
요시히도 고바야시
Original Assignee
오오우라 히로시
가부시끼가이샤 아드반테스트
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 오오우라 히로시, 가부시끼가이샤 아드반테스트 filed Critical 오오우라 히로시
Publication of KR920008463A publication Critical patent/KR920008463A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR960006090B1 publication Critical patent/KR960006090B1/ko

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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
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    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
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    • B07C5/34—Sorting according to other particular properties
    • B07C5/344—Sorting according to other particular properties according to electric or electromagnetic properties
    • G—PHYSICS
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Abstract

내용 없음

Description

IC 시험장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제9도는 본 발명의 일실시예를 도시한 측면도,
제10도는 본 발명에 사용한 매거진 반전장치(200)의 구조를 설명하기 위한 평면도,
제11도는 제10도에 있어서의 실린더로드(200)와 추동샤프트(204)의 결합을 도시하기 위한 부분도,
제12도는 제10도에 있어서의 작동기축(203A)에 대한 회전 실랙트장치(208)의 관계를 도시하기 위한 부분도,
제13도는 본발명에 사용한 IC 전환장치(300)의 구조를 설명하기 위한 측면도,
제14도는 이동된 IC 전환장치(300)에 대한 IC자세 변환기(114)의 동작을 설명하기 위한 정면도.

Claims (6)

  1. 각각의 복수의 피시험 IC를 수용하는 다수의 매거진을 격납하는 공급측 매거진 스토커와 이 공급측 매거진 스토커에서 순차 꺼낸 상기 매거진을 지지하는 공급측 매거진 지지부와, 테스트부로 시험이 종료한 IC를 거둬들이기 위한 매거진을 지지하는 수취측 매거진 지지부를 구비한 IC 시험장치에 있어서, 상기 공급측 매거진 스토커와 상기 공급측 매거진 지지부와의 사이에 각 상기 매거진을 회전시키는 매거진 반전수단을 설치함과 동시에, 상기 수취측 매거진 지지부와 상기 테스트부와의 사이에 IC의 자세를 전환하는 IC 전환수단을 설치하고, 상기 매거진 반전수단과 상기 IC 전환수단에 의해 상기 공급 측매거진 지지부로 지지한 매거진에는 배면활주의 자세로 IC를 수납하고 수취측 매거진 지지부에 지지한 매거진에는 복면 또는측면활주의 자세로 IC를 수납하도록 구성한 것을 특징으로 하는 IC시험장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 매거진 반전수단은 상기 공급측 매거진 스토커에서 순차 공급되는 각 상기 매거진의 양단을 길이방향으로 누르는 유지수단과, 상기 유지수단을 0°와 180°의 각도 위치의 범위로 회전하는 로우터리작동기수단과,상기 유지수단의 회전을 90°의 회전각도로 선택적으로 정지시키기는 실랙트수단을 포함한 것을 특징으로 하는 IC 시험장치.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 IC 전환수단은 상기 테스트부에서 낙하하는 상기 IC를 수직방향의 상태로 받아서 그의 IC의 진행방향을 축으로 하여 90°또는 180°회전하는 IC 회전수단과, 회전된 수직방향의 상기 IC의 진행방향의 전후가 반전하도록 자세를 변환하는 IC자세 변환수단을 포함한 것을 특징으로 IC 시험장치.
  4. 제3항에 있어서, 상기 IC 전환수단은 상기 테스트부에서의 상기 IC를 복수 받아서 유지하는 가이드레일과 상기 가이드레일을 수직방향으로 유지하고 수직방향의 축을 중심으로 회전가능한 통상체와, 상기 통상체를 소망의 회전각 만큼 회전시키는 회전구동수단을 포함한 것을 특징으로 하는 IC 시험장치.
  5. 제4항에 있어서, 상기 가이드레일과 상기 통상체의 조는 복수설치되고, 각각의 상기 가이드레일이 동일 수직평면상에 있어서 서로 평행으로 배열되고, 상기 회전구동수단은 각각의 상기 통사체의 외주면에 설치된 기어와 상기 통상체의 각각의 기어와 동시에 걸어맞춤하고 수평방향으로 직선이동함으로서 각각의 상기 기어를 동시에 회전시키는 랙을 포함한 것을 특징으로 하는 IC 시험장치.
  6. 제3항에 있어서, 상기 IC자세 변환수단은 일단이 입출력 포트로된 타단에 설치된 축을 중심으로 회동가능한 레일을 포함하고, 상기 가이드레일에서 상기 입출력포트를 통하여 상기 IC가 장전되면 회동하여 상기 IC를 상기 입출력포트에서 상기 수취측 매거진 지지부에 지지된 매거진에 공급하는 것을 특징으로 하는 IC 시험장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019910016791A 1990-10-01 1991-09-26 Ic 시험장치 KR960006090B1 (ko)

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KR960006090B1 KR960006090B1 (ko) 1996-05-08

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