KR20240066022A - 웨어러블 전자 장치 및 이를 이용한 기능 제어 방법 - Google Patents

Abstract

본 개시의 다양한 실시예들에 따르면, 웨어러블 전자 장치는, 제1 면, 상기 제1 면과 반대 방향인 제2 면, 및 상기 제1 면 및 상기 제2 면을 둘러싸는 측면을 포함하는 하우징을 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 웨어러블 전자 장치는, 상기 하우징의 상기 제2 면에 배치되는 제1 전극 및 제2 전극을 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 웨어러블 전자 장치는, 상기 하우징의 상기 측면에 배치되는 제3 전극 및 제4 전극을 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 웨어러블 전자 장치는, 상기 제1 전극, 상기 제2 전극, 상기 제3 전극, 및 상기 제4 전극과 작동적으로(operatively) 연결되는 프로세서를 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 상기 프로세서는, 지정된 시점에 반복적으로, 상기 제1 전극, 상기 제2 전극, 상기 제3 전극, 및 제4 전극 중 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값을 확인할 수 있다. 일 실시예에서, 상기 프로세서는, 상기 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값이 지정된 제1 값을 초과하면, 상기 제3 전극 및 상기 제4 전극 중 적어도 하나의 전극의 저항 값을 확인할 수 있다. 일 실시예에서, 상기 프로세서는, 상기 제3 전극 및 상기 제4 전극 중 적어도 하나의 저항 값이 지정된 제2 값 이하이면, 상기 제3 전극 및 상기 제4 전극 중 적어도 하나의 전극의 단락(short) 여부를 확인할 수 있다. 일 실시예에서, 상기 프로세서는, 상기 제3 전극 및 상기 제4 전극 중 적어도 하나의 전극에서 전도체에 의해 상기 단락(short)이 발생하면, 상기 웨어러블 전자 장치)의 일부 기능을 비활성화할 수 있다.
본 문서에 개시된 다양한 실시예들 이외의 다른 다양한 실시예들이 가능할 수 있다.

Description

웨어러블 전자 장치 및 이를 이용한 기능 제어 방법 {WEARABLE ELECTRONIC DEVICE AND METHOD FOR CONTROLLING FUNCTION USING THE SAME}

본 개시의 일 실시예는 웨어러블 전자 장치 및 이를 이용한 기능 제어 방법에 관한 것이다.

디지털 기술의 발달과 함께 이동 통신 단말기, PDA(personal digital assistant), 전자 수첩, 스마트 폰, 태블릿 PC(personal computer), 웨어러블 전자 장치(wearable electronic device)와 같은 다양한 유형의 전자 장치가 널리 사용되고 있다. 이러한 전자 장치는 기능 지지 및 증대를 위해, 전자 장치의 하드웨어적인 부분 및/또는 소프트웨어적인 부분이 지속적으로 개량되고 있다.

일례로, 웨어러블 전자 장치는 생체 신호를 측정하기 위한 전극을 포함하고, 전극을 이용하여 심전도(electrocardiogram, ECG), 뇌파(electroencephalogram, EEG), 및/또는 근전도(electromyography, EMG)와 같은 생체 신호를 획득할 수 있다. 생체 신호는 온도, 습도, 물과 같은 주변 환경에 의해 영향을 받아 부정확한 생체 신호가 측정되기 때문에, 사용자는 예를 들어, 물에 잠기는 활동(예: 수영)을 하는 경우, 터치 기능을 비활성화할 수 있다.

상술한 정보는 본 개시에 대한 이해를 돕기 위한 목적으로 하는 배경 기술(related art)로 제공될 수 있다. 상술한 내용 중 어느 것도 본 개시와 관련된 종래 기술(prior art)로서 적용될 수 있는지에 대하여 어떠한 주장이나 결정이 제기되지 않는다.

하지만, 웨어러블 전자 장치가 물에 닿거나 또는 잠기는 상황에서 사용자에 의해 터치 기능의 비활성화가 설정되지 않은 경우, 물에 의한 불필요한 터치로 인하여 급격한 배터리 방전이 이뤄질 수 있으며, 생체 신호를 측정하기 위한 전극에서 부식이 발생할 수 있다.

본 개시의 일 실시예에 따른 웨어러블 전자 장치는, 웨어러블 전자 장치의 후면 및 측면에 배치된 복수의 전극들 중 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값, 적어도 하나의 전극의 저항 값, 및 적어도 하나의 전극의 접촉 임피던스 값에 기반하여, 웨어러블 전자 장치가 물에 닿거나 또는 물에 잠긴 상태를 확인하고, 터치 기능을 비활성화할 수 있다.

본 개시의 일 실시예에 따른 웨어러블 전자 장치는, 제1 면, 상기 제1 면과 반대 방향인 제2 면, 및 상기 제1 면 및 상기 제2 면을 둘러싸는 측면을 포함하는 하우징을 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 웨어러블 전자 장치는, 상기 하우징의 상기 제2 면에 배치되는 제1 전극 및 제2 전극을 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 웨어러블 전자 장치는, 상기 하우징의 상기 측면에 배치되는 제3 전극 및 제4 전극을 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 웨어러블 전자 장치는, 상기 제1 전극, 상기 제2 전극, 상기 제3 전극, 및 상기 제4 전극과 작동적으로(operatively) 연결되는 프로세서를 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 상기 프로세서는, 지정된 시점에 반복적으로, 상기 제1 전극, 상기 제2 전극, 상기 제3 전극, 및 제4 전극 중 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값을 확인할 수 있다. 일 실시예에서, 상기 프로세서는, 상기 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값이 지정된 제1 값을 초과하면, 상기 제3 전극 및 상기 제4 전극 중 적어도 하나의 전극의 저항 값을 확인할 수 있다. 일 실시예에서, 상기 프로세서는, 상기 제3 전극 및 상기 제4 전극 중 적어도 하나의 저항 값이 지정된 제2 값 이하이면, 상기 제3 전극 및 상기 제4 전극 중 적어도 하나의 전극의 단락(short) 여부를 확인할 수 있다. 일 실시예에서, 상기 프로세서는, 상기 제3 전극 및 상기 제4 전극 중 적어도 하나의 전극에서 전도체에 의해 상기 단락(short)이 발생하면, 상기 웨어러블 전자 장치의 일부 기능을 비활성화할 수 있다.

본 개시의 일 실시예에 따른 웨어러블 전자 장치의 기능 제어 방법은, 지정된 시점에 반복적으로, 제1 전극, 제2 전극, 제3 전극, 및 제4 전극 중 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값을 확인하는 동작을 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 웨어러블 전자 장치의 기능 제어 방법은, 상기 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값이 지정된 제1 값을 초과하면, 상기 제3 전극 및 상기 제4 전극 중 적어도 하나의 전극의 저항 값을 확인하는 동작을 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 웨어러블 전자 장치의 기능 제어 방법은, 상기 제3 전극 및 상기 제4 전극 중 적어도 하나의 저항 값이 지정된 제2 값 이하이면, 상기 제3 전극 및 상기 제4 전극 중 적어도 하나의 전극의 단락(short) 여부를 확인하는 동작을 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 웨어러블 전자 장치의 기능 제어 방법은, 상기 제3 전극 및 상기 제4 전극 중 적어도 하나의 전극에서 전도체에 의해 상기 단락(short)이 발생하면, 상기 웨어러블 전자 장치의 일부 기능을 비활성화하는 동작을 포함할 수 있다.

본 개시의 일 실시예에 따르면, 하나 이상의 프로그램을 저장하는 비일시적인 컴퓨터 판독가능 저장 매체(또는, 컴퓨터 프로그램 제품(product))가 기술될 수 있다. 일 실시예에 따른 하나 이상의 프로그램들은, 전자 장치의 프로세서에 의해 실행될 시, 지정된 시점에 반복적으로, 제1 전극, 제2 전극, 제3 전극, 및 제4 전극 중 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값을 확인하는 명령어를 포함할 수 있다. 하나 이상의 프로그램들은, 전자 장치의 프로세서에 의해 실행될 시, 상기 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값이 지정된 제1 값을 초과하면, 상기 제3 전극 및 상기 제4 전극 중 적어도 하나의 전극의 저항 값을 확인하는 명령어를 포함할 수 있다. 하나 이상의 프로그램들은, 전자 장치의 프로세서에 의해 실행될 시, 상기 제3 전극 및 상기 제4 전극 중 적어도 하나의 저항 값이 지정된 제2 값 이하이면, 상기 제3 전극 및 상기 제4 전극 중 적어도 하나의 전극의 단락(short) 여부를 확인하는 명령어를 포함할 수 있다. 하나 이상의 프로그램들은, 전자 장치의 프로세서에 의해 실행될 시, 상기 제3 전극 및 상기 제4 전극 중 적어도 하나의 전극에서 전도체에 의해 상기 단락(short)이 발생하면, 상기 웨어러블 전자 장치의 일부 기능을 비활성화하는 명령어를 포함할 수 있다.

본 개시의 일 실시예에 따른 웨어러블 전자 장치는, 웨어러블 전자 장치의 후면 및 측면에 배치된 복수의 전극들 중 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값, 저항 값, 및 접촉 임피던스 값에 기반하여, 웨어러블 전자 장치가 물에 닿거나 또는 물에 잠긴 상태로 확인되는 경우 터치 기능을 비활성화함으로써, 생체 신호를 측정하기 위한 전극에서 발생할 수 있는 부식을 방지할 수 있다. 또한, 웨어러블 전자 장치는, 터치 기능을 비활성화함으로써, 물에 의한 불필요한 터치로 인하여 발생할 수 있는 배터리 방전을 방지할 수 있다.

도 1은, 본 개시의 일 실시예에 따른, 네트워크 환경 내의 전자 장치의 블록도이다.
도 2는, 본 개시의 일 실시예에 따른, 웨어러블 전자 장치의 전면의 사시도이다.
도 3은, 본 개시의 일 실시예에 따른, 도 2의 웨어러블 전자 장치의 후면의 사시도이다.
도 4는, 본 개시의 일 실시예 따른, 도 2의 웨어러블 전자 장치의 전개 사시도이다.
도 5는, 본 개시의 일 실시예에 따른, 웨어러블 전자 장치를 도시한 블록도이다.
도 6은, 본 개시의 일 실시예에 따른, 웨어러블 전자 장치의 기능을 제어하는 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
도 7은, 본 개시의 일 실시예에 따른, 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값을 확인하는 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 8은, 본 개시의 일 실시예에 따른, 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값에 기반하여 웨어러블 전자 장치의 수분을 검출하는 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 9는, 본 개시의 일 실시예에 따른, 적어도 하나의 전극의 저항 값에 기반하여 웨어러블 전자 장치의 수분을 검출하는 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 10a는, 본 개시의 일 실시예에 따른, 웨어러블 전자 장치가 착용된 상태에서 생체 정보를 획득하는 경우 복수의 전극들의 전기적 연결을 도시한 도면이다.
도 10b는, 본 개시의 일 실시예에 따른, 웨어러블 전자 장치가 착용된 상태에서 생체 정보를 획득하지 않는 경우 복수의 전극들의 전기적 연결을 도시한 도면이다.
도 10c는, 본 개시의 일 실시예에 따른, 저항을 이용하여 적어도 하나의 전극의 임피던스를 모니터링하는 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 10d는, 본 개시의 일 실시예에 따른, 전류를 이용하여 적어도 하나의 전극의 임피던스를 모니터링하는 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 11은, 본 개시의 일 실시예에 따른, 웨어러블 전자 장치의 수분 검출 회로를 도시한 도면이다.
도 12는, 본 개시의 일 실시예에 따른, 도 6의 동작을 구체화한 흐름도이다.
도 13은, 본 개시의 일 실시예에 따른, 웨어러블 전자 장치의 수분 제거 알림을 출력하는 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
도 14는, 본 개시의 일 실시예에 따른, 웨어러블 전자 장치의 기능을 제어하는 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.

이하에서는 도면을 참조하여 본 개시의 실시예에 대하여 본 개시가 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 개시는 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며, 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 도면의 설명과 관련하여, 동일하거나 유사한 구성요소에 대해서는 동일하거나 유사한 참조 부호가 사용될 수 있다. 또한, 도면 및 관련된 설명에서는, 잘 알려진 기능 및 구성에 대한 설명이 명확성과 간결성을 위해 생략될 수 있다.

도 1은, 다양한 실시예들에 따른, 네트워크 환경(100) 내의 전자 장치(101)의 블록도이다.

도 1을 참조하면, 네트워크 환경(100)에서 전자 장치(101)는 제1 네트워크(198)(예: 근거리 무선 통신 네트워크)를 통하여 전자 장치(102)와 통신하거나, 또는 제2 네트워크(199)(예: 원거리 무선 통신 네트워크)를 통하여 전자 장치(104) 또는 서버(108) 중 적어도 하나와 통신할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 전자 장치(101)는 서버(108)를 통하여 전자 장치(104)와 통신할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 전자 장치(101)는 프로세서(120), 메모리(130), 입력 모듈(150), 음향 출력 모듈(155), 디스플레이 모듈(160), 오디오 모듈(170), 센서 모듈(176), 인터페이스(177), 연결 단자(178), 햅틱 모듈(179), 카메라 모듈(180), 전력 관리 모듈(188), 배터리(189), 통신 모듈(190), 가입자 식별 모듈(196), 또는 안테나 모듈(197)을 포함할 수 있다. 어떤 실시예에서는, 전자 장치(101)에는, 이 구성요소들 중 적어도 하나(예: 연결 단자(178))가 생략되거나, 하나 이상의 다른 구성요소가 추가될 수 있다. 어떤 실시예에서는, 이 구성요소들 중 일부들(예: 센서 모듈(176), 카메라 모듈(180), 또는 안테나 모듈(197))은 하나의 구성요소(예: 디스플레이 모듈(160))로 통합될 수 있다.

프로세서(120)는, 예를 들면, 소프트웨어(예: 프로그램(140))를 실행하여 프로세서(120)에 연결된 전자 장치(101)의 적어도 하나의 다른 구성요소(예: 하드웨어 또는 소프트웨어 구성요소)를 제어할 수 있고, 다양한 데이터 처리 또는 연산을 수행할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 데이터 처리 또는 연산의 적어도 일부로서, 프로세서(120)는 다른 구성요소(예: 센서 모듈(176) 또는 통신 모듈(190))로부터 수신된 명령 또는 데이터를 휘발성 메모리(132)에 저장하고, 휘발성 메모리(132)에 저장된 명령 또는 데이터를 처리하고, 결과 데이터를 비휘발성 메모리(134)에 저장할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(120)는 메인 프로세서(121)(예: 중앙 처리 장치 또는 어플리케이션 프로세서) 또는 이와는 독립적으로 또는 함께 운영 가능한 보조 프로세서(123)(예: 그래픽 처리 장치, 신경망 처리 장치(NPU: neural processing unit), 이미지 시그널 프로세서, 센서 허브 프로세서, 또는 커뮤니케이션 프로세서)를 포함할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(101)가 메인 프로세서(121) 및 보조 프로세서(123)를 포함하는 경우, 보조 프로세서(123)는 메인 프로세서(121)보다 저전력을 사용하거나, 지정된 기능에 특화되도록 설정될 수 있다. 보조 프로세서(123)는 메인 프로세서(121)와 별개로, 또는 그 일부로서 구현될 수 있다.

보조 프로세서(123)는, 예를 들면, 메인 프로세서(121)가 인액티브(예: 슬립) 상태에 있는 동안 메인 프로세서(121)를 대신하여, 또는 메인 프로세서(121)가 액티브(예: 어플리케이션 실행) 상태에 있는 동안 메인 프로세서(121)와 함께, 전자 장치(101)의 구성요소들 중 적어도 하나의 구성요소(예: 디스플레이 모듈(160), 센서 모듈(176), 또는 통신 모듈(190))와 관련된 기능 또는 상태들의 적어도 일부를 제어할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 보조 프로세서(123)(예: 이미지 시그널 프로세서 또는 커뮤니케이션 프로세서)는 기능적으로 관련 있는 다른 구성요소(예: 카메라 모듈(180) 또는 통신 모듈(190))의 일부로서 구현될 수 있다. 일 실시예에 따르면, 보조 프로세서(123)(예: 신경망 처리 장치)는 인공지능 모델의 처리에 특화된 하드웨어 구조를 포함할 수 있다. 인공지능 모델은 기계 학습을 통해 생성될 수 있다. 이러한 학습은, 예를 들어, 인공지능 모델이 수행되는 전자 장치(101) 자체에서 수행될 수 있고, 별도의 서버(예: 서버(108))를 통해 수행될 수도 있다. 학습 알고리즘은, 예를 들어, 지도형 학습(supervised learning), 비지도형 학습(unsupervised learning), 준지도형 학습(semi-supervised learning) 또는 강화 학습(reinforcement learning)을 포함할 수 있으나, 전술한 예에 한정되지 않는다. 인공지능 모델은, 복수의 인공 신경망 레이어들을 포함할 수 있다. 인공 신경망은 심층 신경망(DNN: deep neural network), CNN(convolutional neural network), RNN(recurrent neural network), RBM(restricted boltzmann machine), DBN(deep belief network), BRDNN(bidirectional recurrent deep neural network), 심층 Q-네트워크(deep Q-networks) 또는 상기 중 둘 이상의 조합 중 하나일 수 있으나, 전술한 예에 한정되지 않는다. 인공지능 모델은 하드웨어 구조 이외에, 추가적으로 또는 대체적으로, 소프트웨어 구조를 포함할 수 있다.

메모리(130)는, 전자 장치(101)의 적어도 하나의 구성요소(예: 프로세서(120) 또는 센서 모듈(176))에 의해 사용되는 다양한 데이터를 저장할 수 있다. 데이터는, 예를 들어, 소프트웨어(예: 프로그램(140)) 및, 이와 관련된 명령에 대한 입력 데이터 또는 출력 데이터를 포함할 수 있다. 메모리(130)는, 휘발성 메모리(132) 또는 비휘발성 메모리(134)를 포함할 수 있다.

프로그램(140)은 메모리(130)에 소프트웨어로서 저장될 수 있으며, 예를 들면, 운영 체제(142), 미들 웨어(144) 또는 어플리케이션(146)을 포함할 수 있다.

입력 모듈(150)은, 전자 장치(101)의 구성요소(예: 프로세서(120))에 사용될 명령 또는 데이터를 전자 장치(101)의 외부(예: 사용자)로부터 수신할 수 있다. 입력 모듈(150)은, 예를 들면, 마이크, 마우스, 키보드, 키(예: 버튼), 또는 디지털 펜(예: 스타일러스 펜)을 포함할 수 있다.

음향 출력 모듈(155)은 음향 신호를 전자 장치(101)의 외부로 출력할 수 있다. 음향 출력 모듈(155)은, 예를 들면, 스피커 또는 리시버를 포함할 수 있다. 스피커는 멀티미디어 재생 또는 녹음 재생과 같이 일반적인 용도로 사용될 수 있다. 리시버는 착신 전화를 수신하기 위해 사용될 수 있다. 일 실시예에 따르면, 리시버는 스피커와 별개로, 또는 그 일부로서 구현될 수 있다.

디스플레이 모듈(160)은 전자 장치(101)의 외부(예: 사용자)로 정보를 시각적으로 제공할 수 있다. 디스플레이 모듈(160)은, 예를 들면, 디스플레이, 홀로그램 장치, 또는 프로젝터 및 해당 장치를 제어하기 위한 제어 회로를 포함할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 디스플레이 모듈(160)은 터치를 감지하도록 설정된 터치 센서, 또는 상기 터치에 의해 발생되는 힘의 세기를 측정하도록 설정된 압력 센서를 포함할 수 있다.

오디오 모듈(170)은 소리를 전기 신호로 변환시키거나, 반대로 전기 신호를 소리로 변환시킬 수 있다. 일 실시예에 따르면, 오디오 모듈(170)은, 입력 모듈(150)을 통해 소리를 획득하거나, 음향 출력 모듈(155), 또는 전자 장치(101)와 직접 또는 무선으로 연결된 외부 전자 장치(예: 전자 장치(102))(예: 스피커 또는 헤드폰)를 통해 소리를 출력할 수 있다.

센서 모듈(176)은 전자 장치(101)의 작동 상태(예: 전력 또는 온도), 또는 외부의 환경 상태(예: 사용자 상태)를 감지하고, 감지된 상태에 대응하는 전기 신호 또는 데이터 값을 생성할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 센서 모듈(176)은, 예를 들면, 제스처 센서, 자이로 센서, 기압 센서, 마그네틱 센서, 가속도 센서, 그립 센서, 근접 센서, 컬러 센서, IR(infrared) 센서, 생체 센서, 온도 센서, 습도 센서, 또는 조도 센서를 포함할 수 있다.

인터페이스(177)는 전자 장치(101)가 외부 전자 장치(예: 전자 장치(102))와 직접 또는 무선으로 연결되기 위해 사용될 수 있는 하나 이상의 지정된 프로토콜들을 지원할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 인터페이스(177)는, 예를 들면, HDMI(high definition multimedia interface), USB(universal serial bus) 인터페이스, SD카드 인터페이스, 또는 오디오 인터페이스를 포함할 수 있다.

연결 단자(178)는, 그를 통해서 전자 장치(101)가 외부 전자 장치(예: 전자 장치(102))와 물리적으로 연결될 수 있는 커넥터를 포함할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 연결 단자(178)는, 예를 들면, HDMI 커넥터, USB 커넥터, SD 카드 커넥터, 또는 오디오 커넥터(예: 헤드폰 커넥터)를 포함할 수 있다.

햅틱 모듈(179)은 전기적 신호를 사용자가 촉각 또는 운동 감각을 통해서 인지할 수 있는 기계적인 자극(예: 진동 또는 움직임) 또는 전기적인 자극으로 변환할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 햅틱 모듈(179)은, 예를 들면, 모터, 압전 소자, 또는 전기 자극 장치를 포함할 수 있다.

카메라 모듈(180)은 정지 영상 및 동영상을 촬영할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 카메라 모듈(180)은 하나 이상의 렌즈들, 이미지 센서들, 이미지 시그널 프로세서들, 또는 플래시들을 포함할 수 있다.

전력 관리 모듈(188)은 전자 장치(101)에 공급되는 전력을 관리할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 전력 관리 모듈(188)은, 예를 들면, PMIC(power management integrated circuit)의 적어도 일부로서 구현될 수 있다.

배터리(189)는 전자 장치(101)의 적어도 하나의 구성요소에 전력을 공급할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 배터리(189)는, 예를 들면, 재충전 불가능한 1차 전지, 재충전 가능한 2차 전지 또는 연료 전지를 포함할 수 있다.

통신 모듈(190)은 전자 장치(101)와 외부 전자 장치(예: 전자 장치(102), 전자 장치(104), 또는 서버(108)) 간의 직접(예: 유선) 통신 채널 또는 무선 통신 채널의 수립, 및 수립된 통신 채널을 통한 통신 수행을 지원할 수 있다. 통신 모듈(190)은 프로세서(120)(예: 어플리케이션 프로세서)와 독립적으로 운영되고, 직접(예: 유선) 통신 또는 무선 통신을 지원하는 하나 이상의 커뮤니케이션 프로세서를 포함할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 통신 모듈(190)은 무선 통신 모듈(192)(예: 셀룰러 통신 모듈, 근거리 무선 통신 모듈, 또는 GNSS(global navigation satellite system) 통신 모듈) 또는 유선 통신 모듈(194)(예: LAN(local area network) 통신 모듈, 또는 전력선 통신 모듈)을 포함할 수 있다. 이들 통신 모듈 중 해당하는 통신 모듈은 제1 네트워크(198)(예: 블루투스, WiFi(wireless fidelity) direct 또는 IrDA(infrared data association)와 같은 근거리 통신 네트워크) 또는 제2 네트워크(199)(예: 레거시 셀룰러 네트워크, 5G 네트워크, 차세대 통신 네트워크, 인터넷, 또는 컴퓨터 네트워크(예: LAN 또는 WAN)와 같은 원거리 통신 네트워크)를 통하여 외부의 전자 장치(104)와 통신할 수 있다. 이런 여러 종류의 통신 모듈들은 하나의 구성요소(예: 단일 칩)로 통합되거나, 또는 서로 별도의 복수의 구성요소들(예: 복수 칩들)로 구현될 수 있다. 무선 통신 모듈(192)은 가입자 식별 모듈(196)에 저장된 가입자 정보(예: 국제 모바일 가입자 식별자(IMSI))를 이용하여 제1 네트워크(198) 또는 제2 네트워크(199)와 같은 통신 네트워크 내에서 전자 장치(101)를 확인 또는 인증할 수 있다.

무선 통신 모듈(192)은 4G 네트워크 이후의 5G 네트워크 및 차세대 통신 기술, 예를 들어, NR 접속 기술(new radio access technology)을 지원할 수 있다. NR 접속 기술은 고용량 데이터의 고속 전송(eMBB(enhanced mobile broadband)), 단말 전력 최소화와 다수 단말의 접속(mMTC(massive machine type communications)), 또는 고신뢰도와 저지연(URLLC(ultra-reliable and low-latency communications))을 지원할 수 있다. 무선 통신 모듈(192)은, 예를 들어, 높은 데이터 전송률 달성을 위해, 고주파 대역(예: mmWave 대역)을 지원할 수 있다. 무선 통신 모듈(192)은 고주파 대역에서의 성능 확보를 위한 다양한 기술들, 예를 들어, 빔포밍(beamforming), 거대 배열 다중 입출력(massive MIMO(multiple-input and multiple-output)), 전차원 다중입출력(FD-MIMO: full dimensional MIMO), 어레이 안테나(array antenna), 아날로그 빔형성(analog beam-forming), 또는 대규모 안테나(large scale antenna)와 같은 기술들을 지원할 수 있다. 무선 통신 모듈(192)은 전자 장치(101), 외부 전자 장치(예: 전자 장치(104)) 또는 네트워크 시스템(예: 제2 네트워크(199))에 규정되는 다양한 요구사항을 지원할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 무선 통신 모듈(192)은 eMBB 실현을 위한 Peak data rate(예: 20Gbps 이상), mMTC 실현을 위한 손실 Coverage(예: 164dB 이하), 또는 URLLC 실현을 위한 U-plane latency(예: 다운링크(DL) 및 업링크(UL) 각각 0.5ms 이하, 또는 라운드 트립 1ms 이하)를 지원할 수 있다.

안테나 모듈(197)은 신호 또는 전력을 외부(예: 외부의 전자 장치)로 송신하거나 외부로부터 수신할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 안테나 모듈(197)은 서브스트레이트(예: PCB(printed circuit board)) 위에 형성된 도전체 또는 도전성 패턴으로 이루어진 방사체를 포함하는 안테나를 포함할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 안테나 모듈(197)은 복수의 안테나들(예: 어레이 안테나)을 포함할 수 있다. 이런 경우, 제1 네트워크(198) 또는 제2 네트워크(199)와 같은 통신 네트워크에서 사용되는 통신 방식에 적합한 적어도 하나의 안테나가, 예를 들면, 통신 모듈(190)에 의하여 상기 복수의 안테나들로부터 선택될 수 있다. 신호 또는 전력은 상기 선택된 적어도 하나의 안테나를 통하여 통신 모듈(190)과 외부의 전자 장치 간에 송신되거나 수신될 수 있다. 어떤 실시예에 따르면, 방사체 이외에 다른 부품(예: RFIC(radio frequency integrated circuit))이 추가로 안테나 모듈(197)의 일부로 형성될 수 있다.

다양한 실시예에 따르면, 안테나 모듈(197)은 mmWave 안테나 모듈을 형성할 수 있다. 일 실시예에 따르면, mmWave 안테나 모듈은 인쇄 회로 기판, 상기 인쇄 회로 기판의 제1 면(예: 아래 면)에 또는 그에 인접하여 배치되고 지정된 고주파 대역(예: mmWave 대역)을 지원할 수 있는 RFIC, 및 상기 인쇄 회로 기판의 제2 면(예: 윗 면 또는 측 면)에 또는 그에 인접하여 배치되고 상기 지정된 고주파 대역의 신호를 송신 또는 수신할 수 있는 복수의 안테나들(예: 어레이 안테나)을 포함할 수 있다.

상기 구성요소들 중 적어도 일부는 주변 기기들간 통신 방식(예: 버스, GPIO(general purpose input and output), SPI(serial peripheral interface), 또는 MIPI(mobile industry processor interface))을 통해 서로 연결되고 신호(예: 명령 또는 데이터)를 상호간에 교환할 수 있다.

일 실시예에 따르면, 명령 또는 데이터는 제2 네트워크(199)에 연결된 서버(108)를 통해서 전자 장치(101)와 외부의 전자 장치(104) 간에 송신 또는 수신될 수 있다. 외부의 전자 장치(102, 또는 104) 각각은 전자 장치(101)와 동일한 또는 다른 종류의 장치일 수 있다. 일 실시예에 따르면, 전자 장치(101)에서 실행되는 동작들의 전부 또는 일부는 외부의 전자 장치들(102, 104, 또는 108) 중 하나 이상의 외부의 전자 장치들에서 실행될 수 있다. 예를 들면, 전자 장치(101)가 어떤 기능이나 서비스를 자동으로, 또는 사용자 또는 다른 장치로부터의 요청에 반응하여 수행해야 할 경우에, 전자 장치(101)는 기능 또는 서비스를 자체적으로 실행시키는 대신에 또는 추가적으로, 하나 이상의 외부의 전자 장치들에게 그 기능 또는 그 서비스의 적어도 일부를 수행하라고 요청할 수 있다. 상기 요청을 수신한 하나 이상의 외부의 전자 장치들은 요청된 기능 또는 서비스의 적어도 일부, 또는 상기 요청과 관련된 추가 기능 또는 서비스를 실행하고, 그 실행의 결과를 전자 장치(101)로 전달할 수 있다. 전자 장치(101)는 상기 결과를, 그대로 또는 추가적으로 처리하여, 상기 요청에 대한 응답의 적어도 일부로서 제공할 수 있다. 이를 위하여, 예를 들면, 클라우드 컴퓨팅, 분산 컴퓨팅, 모바일 에지 컴퓨팅(MEC: mobile edge computing), 또는 클라이언트-서버 컴퓨팅 기술이 이용될 수 있다. 전자 장치(101)는, 예를 들어, 분산 컴퓨팅 또는 모바일 에지 컴퓨팅을 이용하여 초저지연 서비스를 제공할 수 있다. 다른 실시예에 있어서, 외부의 전자 장치(104)는 IoT(internet of things) 기기를 포함할 수 있다. 서버(108)는 기계 학습 및/또는 신경망을 이용한 지능형 서버일 수 있다. 일 실시예에 따르면, 외부의 전자 장치(104) 또는 서버(108)는 제2 네트워크(199) 내에 포함될 수 있다. 전자 장치(101)는 5G 통신 기술 및 IoT 관련 기술을 기반으로 지능형 서비스(예: 스마트 홈, 스마트 시티, 스마트 카, 또는 헬스 케어)에 적용될 수 있다.

도 2는, 본 개시의 일 실시예에 따른, 웨어러블 전자 장치(200)의 전면의 사시도이다. 도 3은, 본 개시의 일 실시예에 따른, 도 2의 웨어러블 전자 장치(200)의 후면의 사시도이다.

도 2 및 도 3을 참조하면, 일 실시예에 따른 웨어러블 전자 장치(200)(예: 도 1의 전자 장치(101))는, 제1 면(또는 전면)(210A), 제2 면(또는 후면)(210B), 및 제1 면(210A) 및 제2 면(210B) 사이의 공간을 둘러싸는 측면(210C)을 포함하는 하우징(210)과, 상기 하우징(210)의 적어도 일부에 연결되고 상기 웨어러블 전자 장치(200)를 사용자의 신체 일부(예: 손목, 발목)에 탈착 가능하게 결착하도록 구성된 결착 부재(250, 260)를 포함할 수 있다. 다른 실시예(미도시)에서, 하우징(210)은, 도 2의 제1 면(210A), 제2 면(210B), 및 측면(210C)들 중 일부를 형성하는 구조를 지칭할 수도 있다. 일 실시예에 따르면, 제1 면(210A)은 적어도 일부분이 실질적으로 투명한 전면 플레이트(201)(예: 다양한 코팅 레이어들을 포함하는 글라스 플레이트, 또는 폴리머 플레이트)에 의하여 형성될 수 있다. 제2 면(210B)은 실질적으로 불투명한 후면 플레이트(207)에 의하여 형성될 수 있다. 상기 후면 플레이트(207)는, 예를 들어, 코팅 또는 착색된 유리, 세라믹, 폴리머, 금속(예: 알루미늄, 스테인레스 스틸(STS), 또는 마그네슘), 또는 상기 물질들 중 적어도 둘의 조합에 의하여 형성될 수 있다. 상기 측면(210C)은, 전면 플레이트(201) 및 후면 플레이트(207)와 결합하며, 금속 및/또는 폴리머를 포함하는 측면 베젤 구조(또는 “측면 부재”)(206)에 의하여 형성될 수 있다. 어떤 실시예에서, 후면 플레이트(207) 및 측면 베젤 구조(206)는 일체로 형성되고 동일한 물질(예: 알루미늄과 같은 금속 물질)을 포함할 수 있다. 상기 결착 부재(250, 260)는 다양한 재질 및 형태로 형성될 수 있다. 직조물, 가죽, 러버, 우레탄, 금속, 세라믹, 또는 상기 물질들 중 적어도 둘의 조합에 의하여 일체형 및 복수의 단위 링크가 서로 유동 가능하도록 형성될 수 있다.

일 실시예에 따르면, 웨어러블 전자 장치(200)는, 디스플레이(220, 도 4 참조), 오디오 모듈(205, 208), 센서 모듈(211), 키 입력 장치(202), 및 커넥터 홀(209) 중 적어도 하나 이상을 포함할 수 있다. 어떤 실시예에서, 웨어러블 전자 장치(200)는, 구성요소들 중 적어도 하나(예: 키 입력 장치(202), 커넥터 홀(209), 또는 센서 모듈(211))를 생략하거나 다른 구성요소를 추가적으로 포함할 수 있다.

디스플레이(220)는, 예를 들어, 전면 플레이트(201)의 상당 부분을 통하여 시각적으로 노출될 수 있다. 디스플레이(220)의 형태는, 상기 전면 플레이트(201)의 형태에 대응하는 형태일 수 있으며, 원형, 타원형, 또는 다각형과 같이 다양한 형태일 수 있다. 디스플레이(220)는, 터치 감지 회로, 터치의 세기(압력)를 측정할 수 있는 압력 센서, 및/또는 지문 센서와 결합되거나 인접하여 배치될 수 있다.

오디오 모듈(205, 208)은, 마이크 홀(205) 및 스피커 홀(208)을 포함할 수 있다. 마이크 홀(205)은 외부의 소리를 획득하기 위한 마이크가 내부에 배치될 수 있고, 어떤 실시예에서는 소리의 방향을 감지할 수 있도록 복수개의 마이크가 배치될 수 있다. 스피커 홀(208)은, 외부 스피커 및 통화용 리시버로 사용할 수 있다. 어떤 실시예에서는, 스피커 홀(208)과 마이크 홀(205)이 하나의 홀로 구현되거나, 스피커 홀(208) 없이 스피커가 포함될 수 있다(예: 피에조 스피커).

센서 모듈(211)은, 웨어러블 전자 장치(200)의 내부의 작동 상태, 또는 외부의 환경 상태에 대응하는 전기 신호 또는 데이터 값을 생성할 수 있다.

일 실시예에서, 센서 모듈(211)은 생체 신호를 측정하기 위한 복수의 전극들을 포함할 수 있다. 예를 들어, 복수의 전극들은 제1 전극(271), 제2 전극(272), 제3 전극(273), 및/또는 제4 전극(274)을 포함할 수 있다.

일 실시예에서, 복수의 전극들은 사용자의 신체와 접촉될 수 있도록 배치될 수 있다. 예를 들어, 제1 전극(271) 및 제2 전극(272)은 웨어러블 전자 장치(200)의 제2 면(또는 후면)(210B)에 배치될 수 있다. 제1 전극(271) 및 제2 전극(272)은 웨어러블 전자 장치(200)의 제2 면(또는 후면)(210B)에 배치됨에 따라, 웨어러블 전자 장치(200)가 사용자의 신체 일부(예: 손목)에 착용(또는 고정)되는 경우, 사용자의 신체 일부(예: 손목)에 접촉될 수 있다. 일 실시예에서, 제3 전극(273) 및 제4 전극(274)은 웨어러블 전자 장치(200)의 측면(210C)에 배치될 수 있다. 제3 전극(273) 및 제4 전극(274)은 웨어러블 전자 장치(200)의 측면(210C)에 배치됨에 따라, 사용자의 손가락(예: 웨어러블 전자 장치(200)를 착용하지 않은 손의 손가락)에 접촉될 수 있다. 일 실시예에서, 각 전극이 웨어러블 전자 장치(200)의 후면(210B) 및 측면(210C)에 배치되는 것으로 설명하였으나, 이에 한정하는 것은 아니다.

일 실시예에서, 복수의 전극들은 서로 전기적으로 분리(isolation)될 수 있다.

일 실시예에서, 센서 모듈(211)은, 웨어러블 전자 장치(200)의 제1 전극(271), 제2 전극(272), 제3 전극(273), 및/또는 제4 전극(274)을 이용하여 사용자의 신체 일부로부터 전기 신호를 획득하고, 획득된 전기 신호에 기반하여 사용자의 생체 정보를 획득할 수 있다.

일 실시예에서, 센서 모듈(211)은, 복수의 전극들을 이용하여 사용자의 다양한 생체 정보들(예: 광 혈류(photoplethysmography; PPG), 심전도(electrocardiogram, ECG), 전기 피부 반응(galvanic skin response, GSR), 뇌파(electroencephalogram, EEG), 및/또는 생체전기저항 측정법(bioelectrical impedance analysis, BIA))을 검출할 수 있다.

일 실시예에서, 웨어러블 전자 장치(200)는, 도시되지 않은 센서 모듈, 예를 들어, 제스처 센서, 자이로 센서, 기압 센서, 마그네틱 센서, 가속도 센서, 그립 센서, 컬러 센서, IR(infrared) 센서, 온도 센서, 습도 센서, 또는 조도 센서 중 적어도 하나를 더 포함할 수 있다.

키 입력 장치(202)는, 하우징(210)의 제1 면(210A)에 배치되고 적어도 하나의 방향으로 회전 가능한 휠 키(202)를 포함할 수 있다. 휠 키(202)는 전면 플레이트(201)의 형태에 대응하는 형태일 수 있다. 다른 실시예에서, 키 입력 장치(202)는 디스플레이(220) 상에 소프트 키와 같은 다른 형태로 구현될 수도 있다.

커넥터 홀(209)은, 외부 전자 장치와 전력 및/또는 데이터를 송수신하기 위한 커넥터(예를 들어, USB 커넥터)를 수용할 수 있고 외부 전자 장치와 오디오 신호를 송수신하기 위한 커넥터를 수용할 수 있는 다른 커넥터 홀(미도시))을 포함할 수 있다. 웨어러블 전자 장치(200)는, 예를 들면, 커넥터 홀(209)의 적어도 일부를 덮고, 커넥터 홀에 대한 외부 이물질의 유입을 차단하는 커넥터 커버(미도시)를 더 포함할 수 있다.

결착 부재(250, 260)는 락킹 부재(251, 261)를 이용하여 하우징(210)의 적어도 일부 영역에 탈착 가능하도록 결착될 수 있다. 결착 부재(250, 260)는 고정 부재(252), 고정 부재 체결 홀(253), 밴드 가이드 부재(254), 및 밴드 고정 고리(255) 중 하나 또는 그 이상을 포함할 수 있다.

고정 부재(252)는 하우징(210)과 결착 부재(250, 260)를 사용자의 신체 일부(예: 손목, 발목)에 고정시키도록 구성될 수 있다. 고정 부재 체결 홀(253)은 고정 부재(252)에 대응하여 하우징(210)과 결착 부재(250, 260)를 사용자의 신체 일부에 고정시킬 수 있다. 밴드 가이드 부재(254)는 고정 부재(252)가 고정 부재 체결 홀(253)과 체결 시 고정 부재(252)의 움직임 범위를 제한하도록 구성됨으로써, 결착 부재(250, 260)가 사용자의 신체 일부에 밀착하여 결착되도록 할 수 있다. 밴드 고정 고리(255)는 고정 부재(252)와 고정 부재 체결 홀(253)이 체결된 상태에서, 결착 부재(250,260)의 움직임 범위를 제한할 수 있다.

도 4는, 본 개시의 일 실시예에 따른, 도 2의 웨어러블 전자 장치(200)의 전개 사시도이다.

도 4를 참조하면, 웨어러블 전자 장치(200)는, 하우징(410)(예: 도 2의 하우징(210)), 휠 키(420)(예: 도 2의 휠 키(202)), 전면 플레이트(201), 디스플레이(220), 제1 안테나(450), 제2 안테나(455), 지지 부재(460)(예: 브라켓), 배터리(470), 인쇄 회로 기판(printed circuit board, PCB)(480), 실링 부재(490), 후면 플레이트(493), 및/또는 결착 부재(495, 497)(예: 도 2 및 도 3의 결착 부재(250, 260))를 포함할 수 있다. 웨어러블 전자 장치(200)의 구성요소들 중 적어도 하나는, 도 2 또는 도 3의 웨어러블 전자 장치(200)의 구성요소들 중 적어도 하나와 동일, 또는 유사할 수 있으며, 중복되는 설명은 이하 생략하도록 한다.

지지 부재(460)는, 웨어러블 전자 장치(200) 내부에 배치되어 하우징(410)과 연결될 수 있거나, 상기 하우징(410)과 일체로 형성될 수 있다. 지지 부재(460)는, 예를 들어, 금속 재질 및/또는 비금속(예: 폴리머) 재질로 형성될 수 있다. 지지 부재(460)는, 일면에 디스플레이(220)가 결합되고 타면에 인쇄 회로 기판(480)이 결합될 수 있다. 인쇄 회로 기판(480)에는, 프로세서(예: 도 1의 프로세서(120)), 메모리(예: 도 1의 메모리(130)), 및/또는 인터페이스(예: 도 1의 인터페이스(177))가 장착될 수 있다.

배터리(470)(예: 도 1의 배터리(189))는, 웨어러블 전자 장치(200)의 적어도 하나의 구성요소에 전력을 공급하기 위한 장치로서, 예를 들면, 재충전 불가능한 1차 전지, 또는 재충전 가능한 2차 전지, 또는 연료 전지를 포함할 수 있다. 배터리(470)의 적어도 일부는, 예를 들어, 인쇄 회로 기판(480)과 실질적으로 동일 평면 상에 배치될 수 있다. 배터리(470)는 웨어러블 전자 장치(200) 내부에 일체로 배치될 수 있고, 웨어러블 전자 장치(200)와 탈부착 가능하게 배치될 수도 있다.

제1 안테나(450)는 디스플레이(220)와 지지 부재(460) 사이에 배치될 수 있다. 제1 안테나(450)는, 예를 들어, NFC(near field communication) 안테나, 무선 충전 안테나, 및/또는 MST(magnetic secure transmission) 안테나를 포함할 수 있다. 제1 안테나(450)는, 예를 들어, 외부 장치와 근거리 통신을 하거나, 충전에 필요한 전력을 무선으로 송수신 할 수 있고, 근거리 통신 신호 또는 결제 데이터를 포함하는 자기(magnetic)-기반 신호를 송출할 수 있다. 다른 실시예에서는, 하우징(410) 및/또는 상기 지지 부재(460)의 일부 또는 그 조합에 의하여 안테나 구조가 형성될 수 있다.

제2 안테나(455)는 인쇄 회로 기판(480)과 후면 플레이트(493) 사이에 배치될 수 있다. 제2 안테나(455)는, 예를 들어, NFC(near field communication) 안테나, 무선 충전 안테나, 및/또는 MST(magnetic secure transmission) 안테나를 포함할 수 있다. 제2 안테나(455)는, 예를 들어, 외부 장치와 근거리 통신을 하거나, 충전에 필요한 전력을 무선으로 송수신 할 수 있고, 근거리 통신 신호 또는 결제 데이터를 포함하는 자기(magnetic)-기반 신호를 송출할 수 있다. 다른 실시예에서, 하우징(410) 및/또는 상기 후면 플레이트(493)의 일부 또는 그 조합에 의하여 안테나 구조가 형성될 수 있다.

실링 부재(490)는 하우징(410)과 후면 플레이트(493) 사이에 위치할 수 있다. 실링 부재(490)는, 외부로부터 측면 베젤 구조(410)와 후면 플레이트(493)에 의해 둘러싸인 공간으로 유입되는 습기와 이물을 차단하도록 구성될 수 있다.

도 5는, 본 개시의 일 실시예에 따른, 웨어러블 전자 장치(501)를 도시한 블록도(500)이다.

도 5를 참조하면, 웨어러블 전자 장치(501)(예: 도 1의 전자 장치(101), 도 2 내지 도 4의 웨어러블 전자 장치(200))는 무선 통신 회로(510)(예: 도 1의 통신 모듈(190)), 메모리(520)(예: 도 1의 메모리(130)), 디스플레이(530)(예: 도 1의 디스플레이 모듈(160), 도 4의 디스플레이(220)), 생체 센서 회로(540)(예: 도 1의 센서 모듈(176), 도 2의 센서 모듈(211)), 및/또는 프로세서(550)(예: 도 1의 프로세서(120))를 포함할 수 있다.

다양한 실시예들에 따르면, 무선 통신 회로(510)(예: 도 1의 통신 모듈(190))는 외부 전자 장치(예: 도 1의 전자 장치(102))와 통신 채널을 설립하고, 외부 전자 장치와 다양한 데이터 송수신하도록 지원할 수 있다.

다양한 실시예들에 따르면, 메모리(520)(예: 도 1의 메모리(130))는 프로세서(550)의 처리 및 제어를 위한 프로그램(예: 도 1의 프로그램(140)), 운영체제(operating system, OS)(예: 도 1의 운영체제(142)), 다양한 어플리케이션, 및/또는 입/출력 데이터를 저장하는 기능을 수행하며, 웨어러블 전자 장치(501)의 전반적인 동작을 제어하는 프로그램을 저장할 수 있다. 메모리(520)는 프로세서(550)에 의해 수행될 수 있는 다양한 인스트럭션들(instructions)을 저장할 수 있다.

일 실시예에서, 메모리(520)는 프로세서(550)의 제어 하에, 지정된 시점에 반복적으로, 제1 전극(541), 제2 전극(543), 제3 전극(545), 및 제4 전극(547) 중 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값을 확인하기 위한 인스트럭션들을 저장할 수 있다. 메모리(520)는 프로세서(550)의 제어 하에, 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값, 적어도 하나의 전극의 저항 값, 적어도 하나의 전극의 단락(short)을 확인하여, 웨어러블 전자 장치(501)에 수분이 검출되는지 여부를 확인하는 인스트럭션들을 저장할 수 있다. 메모리(520)는 프로세서(550)의 제어 하에, 웨어러블 전자 장치(501)에서 수분이 검출되는 것으로 확인되면, 웨어러블 전자 장치(501)의 일부 기능을 비활성화하기 위한 인스트럭션들을 저장할 수 있다. 메모리(520)는 프로세서(550)의 제어 하에, 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값에 기반하여, 적어도 하나의 전극에서 수분이 검출되는지 여부를 확인하는 인스트럭션들을 저장할 수 있다. 메모리(520)는 프로세서(550)의 제어 하에, 적어도 하나의 전극에서 수분이 검출되는 것으로 확인되면, 수분 제거를 알리는 알림을 출력하기 위한 인스트럭션들을 저장할 수 있다.

다양한 실시예들에서 따르면, 디스플레이(530)(예: 도 1의 디스플레이 모듈(160), 도 4의 디스플레이(220))는 액정 디스플레이(liquid crystal display(LCD)), 발광 다이오드(light-emitting diode(LED)) 디스플레이, 마이크로 LED(micro LED) 디스플레이, QD(quantum dot) 디스플레이, 또는 유기 발광 다이오드(organic light-emitting diode(OLED)) 디스플레이 중 어느 하나로 구현될 수 있으며, 하지만 이에 한정하는 것은 아니다. 일 실시예에서, 디스플레이(530)는 사용자의 신체 일부(예: 손가락) 또는 입력 장치(예: 스타일러스 펜)를 이용한 터치 및/또는 근접 터치(또는 호버링) 입력을 감지하는 터치스크린으로 형성될 수 있다.

일 실시예에서, 디스플레이(530)는 프로세서(550)의 제어 하에, 생체 신호의 측정과 관련된 사용자 인터페이스를 표시할 수 있다. 디스플레이(530)는 프로세서(550)의 제어 하에, 생체 센서 회로(540)를 통해 측정된 생체 정보와 관련된 사용자 인터페이스를 표시할 수 있다. 디스플레이(530)는 프로세서(550)의 제어 하에, 웨어러블 전자 장치(501)에 수분이 검출된 경우, 수분 제거에 대한 알림을 포함하는 사용자 인터페이스를 표시할 수 있다.

다양한 실시예들에 따르면, 생체 센서 회로(540)(예: 도 1의 센서 모듈(176), 도 2의 센서 모듈(211))은 적어도 하나의 생체 신호를 센싱할 수 있다.

일 실시예에서, 생체 센서 회로(540)는 제1 전극(541)(예: 도 3의 제1 전극(271)), 제2 전극(543)(예: 도 3의 제2 전극(272)), 제3 전극(545)(예: 도 2의 제3 전극(273)), 및/또는 제4 전극(547)(예: 도 2의 제4 전극(274))을 포함할 수 있다.

일 실시예에서, 생체 센서 회로(540)가 4개의 전극을 포함하는 것으로 설명하였으나, 이에 한정하는 것은 아니다. 예를 들어, 생체 센서 회로(540)는 4개를 초과하는 개수의 전극을 포함할 수도 있다.

일 실시예에서, 각 전극과 사용자의 신체가 접촉 시에 접촉 임피던스가 발생할 수 있으며, 생체 센서 회로(540)는 각 전극에서 발생한 접촉 임피던스를 측정할 수 있다. 일 실시예에서, 생체 센서 회로(540)는 사용자의 신체로 출력한 광이 반사되어 나오는 반사광을 적어도 일부 수신하여 신체 임피던스를 측정할 수도 있다.

일 실시예에서, 생체 센서 회로(540)의 각 전극은 서로 다른 신체 부위와 접촉할 수 있다. 예를 들어, 제1 전극(541) 및 제2 전극(543)은, 웨어러블 전자 장치(200)가 사용자의 신체 일부(예: 손목)에 착용(또는 고정)되는 경우, 사용자의 신체 일부(예: 손목)에 접촉될 수 있도록, 웨어러블 전자 장치(501)의 제2 면(또는 후면)(예: 도 3의 제2 면(210B))에 배치될 수 있다. 제3 전극(545) 및 제4 전극(547)은, 사용자의 손가락(예: 웨어러블 전자 장치(501)를 착용하지 않은 손의 손가락)에 접촉될 수 있도록, 웨어러블 전자 장치(501)의 측면(예: 도 3의 측면(210C))에 배치될 수 있다.

일 실시예에서, 생체 센서 회로(540)는 제1 전극(541)이 손목과 접촉하여 발생한 제1 기생 임피던스 값, 제2 전극(543)이 손목과 접촉하여 발생한 제2 기생 임피던스 값, 제3 전극(545)이 손가락과 접촉하여 발생한 제3 기생 임피던스 값, 및/또는 제4 전극(547)이 손가락과 접촉하여 발생한 제4 기생 임피던스 값을 측정하고, 이를 프로세서(550)에 전달할 수 있다.

일 실시예에서, 생체 센서 회로(540)는 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 저항 값을 측정하고, 이를 프로세서(550)에 전달할 수 있다.

다양한 실시예들에 따르면, 프로세서(550)는 예를 들어, 마이크로 컨트롤러 유닛(micro controller unit, MCU)을 포함할 수 있고, 운영체제(OS) 또는 임베디드 소프트웨어 프로그램을 구동하여 프로세서(550)에 연결된 다수의 하드웨어 구성요소들을 제어할 수 있다. 프로세서(550)는, 예를 들어, 메모리(520)에 저장된 인스트럭션들(예: 도 1의 프로그램(140))에 따라 다수의 하드웨어 구성요소들을 제어할 수 있다.

일 실시예에서, 프로세서(550)는 지정된 시점에 반복적으로, 제1 전극(541), 제2 전극(543), 제3 전극(545), 및 제4 전극(547) 중 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값을 확인할 수 있다. 프로세서(550)는 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값이 지정된 제1 값을 초과하면, 웨어러블 전자 장치(501)에 수분이 검출된 것으로 확인하고, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 저항 값을 확인할 수 있다. 프로세서(550)는 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 저항 값이 지정된 제2 값 이하이면, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 단락(short) 여부를 확인할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(550)는 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 저항 값이 지정된 제2 값 이하이면, 웨어러블 전자 장치(501)에 수분이 검출된 것으로 확인할 수 있다. 프로세서(550)는 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)에서 전도체에 의해 단락(short)이 발생하면, 웨어러블 전자 장치(501)의 일부 기능을 비활성화할 수 있다. 예를 들어, 제3 전극(545) 및 제4 전극(547)에 전도체의 접촉으로 단락(short)이 발생하는 경우, 프로세서(550)는 웨어러블 전자 장치(501)의 일부 기능을 비활성화할 수 있다. 예를 들어, 웨어러블 전자 장치(501)의 일부 기능은, 터치 기능을 포함할 수 있다. 하지만 이에 한정하는 것은 아니다.

예를 들어, 프로세서(550)는 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값이 지정된 제1 값을 초과하고, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 저항 값이 지정된 제2 값 이하이고, 및 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)에서 전도체에 의해 단락(short)이 발생하면, 웨어러블 전자 장치(501)에서 수분이 검출되는 상태로 결정하고, 웨어러블 전자 장치(501)의 일부 기능(예: 터치 기능)을 비활성화할 수 있다.

일 실시예에서, 프로세서(550)는 웨어러블 전자 장치(501)의 일부 기능(예: 터치 기능)을 비활성화한 상태에서, 지정된 시점에 반복적으로, 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값을 확인할 수 있다. 프로세서(550)는 기생 임피던스 값이 지정된 제1 값 이하이면, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 저항 값을 확인할 수 있다. 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 저항 값이 지정된 제2 값을 초과하면, 프로세서(550)는 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 단락(short) 여부를 확인할 수 있다. 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)에서 전도체에 의해 단락(short)이 발생하지 않으면, 프로세서(550)는 비활성화한 웨어러블 전자 장치(501)의 일부 기능을 활성화할 수 있다. 예를 들어, 제3 전극(545) 및 제4 전극(547)에 전도체가 접촉되지 않음에 따라 단락(short)이 발생하지 않으면, 프로세서(550)는 비활성화한 웨어러블 전자 장치(501)의 일부 기능(예: 터치 기능)을 활성화할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(550)는 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값이 지정된 제1 값 이하이고, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 저항 값이 지정된 제2 값을 초과하고, 및 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)에서 전도체에 의해 단락(short)이 발생하지 않으면, 웨어러블 전자 장치(501)에서 수분이 검출되지 않는 상태로 결정하고, 비활성화한 웨어러블 전자 장치(501)의 일부 기능(예: 터치 기능)을 활성화할 수 있다.

일 실시예에서, 프로세서(550)는 웨어러블 전자 장치(501)의 착용 해제가 검출되면, 제1 전극(541) 및/또는 제2 전극(543)의 기생 임피던스 값을 확인하여, 지정된 제3 값을 초과하는지 여부를 확인할 수 있다. 제1 전극(541) 및/또는 제2 전극(543)의 기생 임피던스 값이 지정된 제3 값을 초과하면, 프로세서(550)는 제1 전극(541) 및/또는 제2 전극(543)의 수분 제거에 대한 알림을 출력할 수 있다. 예를 들어, 수분 제거에 대한 알림은, 디스플레이(530)), 오디오 모듈(예: 도 1의 오디오 모듈(170)), 및/또는 햅틱 모듈(예: 도 1의 햅틱 모듈(179))을 통해 출력될 수 있다.

일 실시예에서, 웨어러블 전자 장치(501)의 착용 해제가 검출되지 않으면, 프로세서(550)는 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)을 통해 생체 신호를 측정하기 위한 입력을 검출할 수 있다. 프로세서(550)는 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 기생 임피던스 값을 확인하고, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 기생 임피던스 값이 지정된 제4 값을 초과하는지 여부를 확인할 수 있다. 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 기생 임피던스 값이 지정된 제4 값을 초과하면, 프로세서(550)는 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 수분 제거에 대한 알림을 출력할 수 있다. 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 기생 임피던스 값이 지정된 값을 초과하지 않으면, 프로세서(550)는 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)을 이용하여 사용자의 생체 신호를 측정할 수 있다.

다양한 실시예들에 따른 전자 장치(101, 200, 501)는, 제1 면(210A), 제1 면(210A)과 반대 방향인 제2 면(210B), 및 제1 면(210A) 및 제2 면(210B)을 둘러싸는 측면(210C)을 포함하는 하우징(210)을 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 전자 장치(101, 200, 501)는, 하우징(210)의 제2 면(210B)에 배치되는 제1 전극(271, 541) 및 제2 전극(272, 543)을 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 전자 장치(101, 200, 501)는, 하우징(210)의 측면(210C)에 배치되는 제3 전극(273, 545) 및 제4 전극(274, 547)을 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 전자 장치(101, 200, 501)는, 제1 전극(271, 541), 제2 전극(272, 543), 제3 전극(273, 545), 및 제4 전극(274, 547)과 작동적으로(operatively) 연결되는 프로세서(550)를 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 프로세서(550)는, 지정된 시점에 반복적으로, 제1 전극(271, 541), 제2 전극(272, 543), 제3 전극(273, 545), 및 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값을 확인할 수 있다. 일 실시예에서, 프로세서(550)는, 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값이 지정된 제1 값을 초과하면, 제3 전극(273, 545) 및 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극의 저항 값을 확인할 수 있다. 일 실시예에서, 프로세서(550)는, 제3 전극(273, 545) 및 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 저항 값이 지정된 제2 값 이하이면, 제3 전극(273, 545) 및 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극의 단락(short) 여부를 확인할 수 있다. 일 실시예에서, 프로세서(550)는, 제3 전극(273, 545) 및 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극에서 전도체에 의해 단락(short)이 발생하면, 웨어러블 전자 장치(101, 200, 501)의 일부 기능을 비활성화할 수 있다.

일 실시예에서, 프로세서(550)는, 제3 전극(273, 545) 및 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극에서 전도체에 의해 단락(short)이 발생하면, 웨어러블 전자 장치(101, 200, 501)에서 수분이 검출된 상태로 결정할 수 있다.

일 실시예에서, 제1 전극(541)과 제3 전극(545)은 교류 전류원(current source)에 연결될 수 있다. 일 실시예에서, 제2 전극(543)과 제4 전극(547)은 전압 감지기(voltage detector)에 연결될 수 있다.

일 실시예에서, 프로세서(550)는, 교류 전류원에서 발생한 교류 전류와, 전압 감지기의 전압 신호를 연산하여, 적어도 하나의 전극에서 생성된 기생 성분에 따른 기생 임피던스 값을 확인할 수 있다.

일 실시예에서, 프로세서(550)는, 제3 전극(273, 545) 및 제4 전극(274, 547) 간의 임피던스를 모니터링하여, 제3 전극(273, 545) 및 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극에 전도체의 접촉 여부를 확인할 수 있다.

일 실시예에서, 프로세서(550)는, 제3 전극(273, 545) 및 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극의 저항 또는 전류를 이용하여, 제3 전극(273, 545) 및 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극에 전도체의 접촉 여부를 확인할 수 있다.

일 실시예에서, 프로세서(550)는, 제3 전극(273, 545) 및 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극에 저항을 걸거나 또는 전류를 흘려보내는 상태에서, 제3 전극(273, 545) 및 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극에 전도체가 접촉됨에 따라 전도체에 의해 단락(short)이 발생하면, 웨어러블 전자 장치(101, 200, 501)의 일부 기능을 비활성화할 수 있다.

일 실시예에서, 프로세서(550)는, 웨어러블 전자 장치(101, 200, 501)의 착용 해제를 검출하였는지 여부를 확인할 수 있다. 일 실시예에서, 프로세서(550)는, 웨어러블 전자 장치(101, 200, 501)의 착용 해제를 검출한 경우, 제1 전극(271, 541) 및 제2 전극(272, 543) 중 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값을 확인할 수 있다. 일 실시예에서, 프로세서(550)는, 제1 전극(271, 541) 및 제2 전극(272, 543) 중 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값이 지정된 제3 값을 초과하면, 제1 전극(271, 541) 및 제2 전극(272, 543) 중 적어도 하나의 전극의 수분 제거에 대한 알림을 출력할 수 있다.

일 실시예에서, 프로세서(550)는, 웨어러블 전자 장치(101, 200, 501)의 착용 해제를 검출하지 않은 경우, 제3 전극(273, 545) 및 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극을 통해 생체 신호를 측정하기 위한 입력이 검출되는지 여부를 확인할 수 있다. 일 실시예에서, 프로세서(550)는, 제3 전극(273, 545) 및 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극을 통해 생체 신호를 측정하기 위한 입력이 검출되면, 제3 전극(273, 545) 및 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값을 확인할 수 있다. 일 실시예에서, 프로세서(550)는, 제3 전극(273, 545) 및 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값이 지정된 제4 값을 초과하면, 제3 전극(273, 545) 및 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극의 수분 제거에 대한 알림을 출력할 수 있다.

일 실시예에 따른 웨어러블 전자 장치(101, 200, 501)는, 디스플레이(530)를 포함할 수 있다. 일 실시예에 따른 웨어러블 전자 장치(101, 200, 501)는, 오디오 출력 회로(170)를 포함할 수 있다. 일 실시예에 따른 웨어러블 전자 장치(101, 200, 501)는, 햅틱 모듈(179)을 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 프로세서(550)는, 디스플레이(530), 오디오 출력 회로(170), 및 햅틱 모듈(179) 중 적어도 하나를 통해 적어도 하나의 전극의 수분 제거에 대한 알림을 출력할 수 있다.

도 6은, 본 개시의 일 실시예에 따른, 웨어러블 전자 장치(501)의 기능을 제어하는 방법을 설명하기 위한 흐름도(600)이다.

이하 실시예에서 각 동작들은 순차적으로 수행될 수도 있으나, 반드시 순차적으로 수행되는 것은 아니다. 예를 들어, 각 동작들의 순서가 변경될 수도 있으며, 적어도 두 동작들이 병렬적으로 수행될 수도 있다.

일 실시예에 따르면, 610동작 내지 640동작은 웨어러블 전자 장치(예: 도 5의 웨어러블 전자 장치(501))의 프로세서(예: 도 5의 프로세서(550))에서 수행되는 것으로 이해될 수 있다.

도 6을 참조하면, 웨어러블 전자 장치(501)의 프로세서(550)는 610동작에서, 지정된 시점에 반복적으로, 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값을 확인할 수 있다.

일 실시예에서, 생체 센서 회로(예: 도 5의 생체 센서 회로(540))는 BIA(bioelectrical impedance analysis) 센서를 포함할 수 있다. 일 실시예에서, BIA 센서는 복수의 전극들을 포함할 수 있다. 예를 들어, 복수의 전극들은, 제1 전극(예: 도 5의 제1 전극(541)), 제2 전극(예: 도 5의 제2 전극(543)), 제3 전극(예: 도 5의 제3 전극(545)), 및/또는 제4 전극(예: 도 5의 제4 전극(547))을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제1 전극(541) 및 제2 전극(543)은, 웨어러블 전자 장치(501)를 착용 시에, 사용자의 손목과 접촉될 수 있도록 웨어러블 전자 장치(501)의 후면(예: 도 3의 후면(210B))에 배치될 수 있다. 제3 전극(545) 및 제4 전극(547)은, 사용자의 손가락(예: 웨어러블 전자 장치(501)를 착용하지 않은 손의 손가락)과 접촉될 수 있도록 웨어러블 전자 장치(501)의 측면(예: 도 3의 측면(210C))에 배치될 수 있다.

일 실시예에서 프로세서(550)는 복수의 전극들을 이용하여, 지정된 시점에 반복적으로, 사용자의 신체의 임피던스 값을 측정할 수 있다. 예를 들어, 지정된 시점의 주기는 약 30초일 수 있다. 하지만 이에 한정하는 것은 아니다.

일 실시예에서, 복수의 전극들이 신체와 접촉되면, 복수의 전극들과 사용자의 신체는 하나의 폐회로를 구성할 수 있다. 예를 들어, 웨어러블 전자 장치(501)를 착용한 손의 손목(예: 왼쪽 손목(또는 오른쪽 손목))에 접촉되는 제1 전극(541)은 교류 전류원(current source)에 연결되고, 제2 전극(543)은 전압 감지기(voltage detector)에 연결될 수 있다. 또한, 웨어러블 전자 장치(501)를 착용하지 않은 손의 손가락(예: 오른쪽 손가락(또는 왼쪽 손가락))에 접촉되는 제3 전극(545)은 교류 전류원에 연결되고, 제4 전극(547)은 전압 감지기가 연결될 수 있다.

일 실시예에서, 기생 임피던스 값은 교류 전류원에서 발생한 교류 전류와, 양쪽 전극(예: 제 2 전극(543) 및 제4 전극(547))에 연결된 전압 감지기의 전압 신호를 연산하여 획득될 수 있다. 일 실시예에서, 기생 임피던스 값은 각 전극에 생성된 기생 성분(parasitic component)을 통해 교류 전류가 기생 성분으로 빠져나가는 전류를 연산함으로써 획득될 수 있다.

일 실시예에서, 프로세서(550)는 사용자의 신체에 교류 전류를 흘려, 하기 <수학식 1>에 기반하여, 전극의 임피던스 값(Z)을 산출할 수 있다. 예를 들어, 생체 센서 회로(540)는 2개의 전극(예: 교류 전류원에 연결된 제1 전극(541)과 제3 전극(545))에 연결된 신체에 지정된 교류 전류 값(예: 약 5~250kHz)의 전류를 흘려줄 수 있다. 생체 센서 회로(540)는 다른 2개의 전극(예: 전압 감지기에 연결된 제2 전극(543)과 제4 전극(547)) 간 전압을 측정하여 전극이 접촉된 부위 간에 형성된 전류 루프 사이에 있는 신체의 임피던스 값을 측정할 수 있다.

위 <수학식 1>은 단지 이해를 돕기 위한 예시일 뿐, 이에 제한되지 않으며, 다양한 방식으로 변형, 응용, 또는 확장될 수 있다.

일 실시예에서, 프로세서(550)는 620동작에서, 기생 임피던스 값이 지정된 제1 값을 초과하면, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 저항 값을 확인할 수 있다.

일 실시예에서, 기생 임피던스 값이 저장된 제1 값을 초과하는지 여부를 확인하는 동작은, 웨어러블 전자 장치(501)에 수분이 검출되는 상태인지 여부를 확인하는 동작일 수 있다.

일 실시예에서, 제1 전극(541) 및 제2 전극(543)은 전류가 흐르기 쉽지 않은 손목에 접촉될 수 있고, 제3 전극(545) 및 제4 전극(547)은 사용자의 손가락이 접촉되지 않는 상태에서 공기에 노출됨에 따라 전류가 흐르지 않을 수 있다. 이 경우, 각 전극의 기생 임피던스 값은 약 100pF 이하일 수 있다. 하지만 이에 한정하는 것은 아니다.

일 실시예에서, 웨어러블 전자 장치(501)가 물에 들어감에 따라 수분이 검출되는 경우는 전기가 상대적으로 쉽게 흐를 수 있는 상태로, 물에 닿은 전극의 기생 임피던스 값은 약 1000배 정도 증가될 수 있다.

일 실시예에서, 물에 닿은 전극의 기생 임피던스 값이 약 1000배 정도 증가됨에 따라 지정된 제1 값을 초과하는 것으로 확인되는 경우, 프로세서(550)는 웨어러블 전자 장치(501)에서 수분이 검출되는 상태로 확인하고, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 저항 값을 확인할 수 있다.

일 실시예에서, 사용자의 손목에 접촉되는 제1 전극(541) 및 제2 전극(543)은 접촉 저항이 낮을 수 있지만, 제3 전극(545) 및 제4 전극(547)은 사용자의 손가락이 접촉되지 않는 상태에서 공기에 노출됨에 따라 전류가 흐르지 않을 수 있다. 이 경우, 제3 전극(545) 및 제4 전극(547)의 접촉 저항은 물에 닿았을 때보다 약 50배 정도 증가할 수 있다.

일 실시예에서, 프로세서(550)는 630동작에서, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 저항 값이 지정된 제2 값 이하이면, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 단락(short) 여부를 확인할 수 있다.

전술한 바와 같이, 제3 전극(545) 및 제4 전극(547)의 접촉 저항이 약 50배 정도 증가하지 않음에 따라, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 저항 값이 지정된 제2 값 이하로 확인되는 경우, 프로세서(550)는 웨어러블 전자 장치(501)에서 수분이 검출되는 상태로 확인하고, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 단락(short) 여부를 수행할 수 있다.

일 실시예에서, 프로세서(550)는 전극 간의 임피던스를 모니터링하여 각 전극에 전도체의 접촉 여부를 확인(예: 리드 오프(lead-off))할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(550)는 제3 전극(545) 및 제4 전극(547)의 저항 또는 전류를 이용하여 제3 전극(545) 및 제4 전극(547)의 임피던스를 모니터링하여 제3 전극(545) 및 제4 전극(547)에 전도체의 접촉 여부를 확인할 수 있다.

일 실시예에서, 프로세서(550)는 640동작에서, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)에서 전도체에 의해 단락(short)이 발생하면, 웨어러블 전자 장치(501)의 일부 기능을 비활성화할 수 있다. 예를 들어, 제3 전극(545) 및 제4 전극(547)에 전도체의 접촉으로 단락(short)이 발생하는 경우, 프로세서(550)는 웨어러블 전자 장치(501)의 일부 기능을 비활성화할 수 있다. 예를 들어, 웨어러블 전자 장치(501)의 일부 기능은, 터치 기능을 포함할 수 있다. 하지만 이에 한정하는 것은 아니다.

다양한 실시예들에 따른 도 6에서, 프로세서(550)는 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값이 지정된 제1 값을 초과하고, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 저항 값이 지정된 제2 값 이하이고, 및 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)에서 전도체에 의해 단락(short)이 발생하면, 웨어러블 전자 장치(501)에서 수분이 검출되는 상태로 결정하고, 웨어러블 전자 장치(501)의 일부 기능(예: 터치 기능)을 비활성화할 수 있다. 프로세서(550)는 웨어러블 전자 장치(501)에서 수분이 검출되는 상태로 결정되면, 터치 기능을 비활성화함으로써, 수분에 의한 불필요한 터치로 인하여 발생할 수 있는 배터리 방전을 방지할 수 있을 뿐만 아니라, 수분에 의해 전극에서 발생할 수 있는 부식을 방지할 수 있다.

다양한 실시예들에 따른 도 6에서, 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값이 지정된 제1 값을 초과하고, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 저항 값이 지정된 제2 값 이하이고, 및 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)에서 전도체에 의해 단락(short)이 발생하면, 웨어러블 전자 장치(501)에서 수분이 검출되는 상태로 결정하는 것으로 설명하였으나 이에 한정하는 것은 아니다. 예를 들어, 프로세서(550)는 적어도 두 개의 조건(예: 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값이 지정된 제1 값을 초과하고, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)에서 전도체에 의해 단락(short)이 발생하는 조건 및/또는 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 저항 값이 지정된 제2 값 이하이고, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)에서 전도체에 의해 단락(short)이 발생하는 조건)에 기반하여, 웨어러블 전자 장치(501)에서 수분이 검출되는 상태로 결정할 수 있다.

도 7은, 본 개시의 일 실시예에 따른, 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값을 확인하는 방법을 설명하기 위한 도면(700)이다.

도 7을 참조하면, 웨어러블 전자 장치(501)는 생체 센서 회로(540), 전류-전압 측정 회로(710), 전류-전압 경로 구성 회로(750), 및/또는 프로세서(550)를 포함할 수 있다.

일 실시예에서, 생체 센서 회로(540)는 4개의 전극들(541, 543, 545, 547), 4개의 포트들(721, 722, 723, 724), 및/또는 4개의 회로 소자들(731, 732, 733, 734)을 포함할 수 있다. 전극들(541, 543, 545, 547)은 사용자의 생체에 접촉 가능하게 웨어러블 전자 장치(501)의 표면(예: 도 3의 후면(210B) 또는 측면(201C))에 배치됨으로써, 생체를 통해 서로 전기적으로 연결될 수 있다. 제1 전극(541)은 제1 회로 소자(731)를 통해 제1 포트(721)에 전기적으로 연결될 수 있다. 제2 전극(543)은 제2 회로 소자(732)를 통해 제2 포트(722)에 전기적으로 연결될 수 있다. 제3 전극(545)은 제3 회로 소자(733)를 통해 제3 포트(723)에 전기적으로 연결될 수 있다. 제4 전극(547)은 제4 회로 소자(734)를 통해 제4 포트(724)에 전기적으로 연결될 수 있다. 회로 소자들(731, 732, 733, 734)은 각각, 해당 포트에서 해당 전극으로(또는, 그 반대로) 흐르는 전기 신호에서 직류 성분을 제거하기 위한 전자 부품(예: 캐패시터 및 저항)을 포함할 수 있다. 회로 소자들(731, 732, 733, 734)은 회로 설계 시 주어진 임피던스 성분으로서 각각, Z_S1, Z_S2, Z_S3, 및 Z_S4를 가질 수 있고, 이러한 임피던스 성분을 특성 임피던스로 명명할 수 있다. 생체와 전극들(541, 543, 545, 547) 사이에 각각, 임피던스 성분 Z_C1, Z_C2, Z_C3, 및 Z_C4이 발생될 수 있고, 이를 접촉 임피던스로 명명할 수 있다. 접촉 임피던스들은 생체의 표면 상태(피부 상태)에 따라 변화할 수 있다. 접촉 임피던스는 또한, 인가된 전기 신호의 주파수에 따라 변화할 수도 있다. 접촉 임피던스들 사이에 존재하는 임피던스 성분 Z_B가 획득하고자 하는 성분이며, Z_B는 생체 임피던스로 명명될 수 있다. 전극들(541, 543, 545, 547)과 접지(예: 웨어러블 전자 장치(501)의 그라운드) 사이에 각각, 회로 설계 시 의도하지 않은 임피던스 성분 Z_P1, Z_P2, Z_P3, 및 Z_P4이 기생할 수 있고, 이를 기생 임피던스로 명명할 수 있다.

다양한 실시예들에서, 전류-전압 측정 회로(710)는, 급전 포트(745), 전류 측정 포트(746), 제1 전압 측정 포트(747), 제2 전압 측정 포트(748), 교류 신호 발생기(741), 전류계(742), 및/또는 전압계(743)를 포함할 수 있다. 급전 포트(745) 및 전류 측정 포트(746)는 전류-전압 경로 구성 회로(750)를 통해 생체 센서회로(210)와 전기적으로 연결될 수 있다. 교류 신호 발생기(741)는 전기 신호를 발생할 수 있고, 전기 신호를 급전 포트(745)를 통해 생체 센서 회로(540)로 인가할 수 있다. 전류계(742)는 전류 측정 포트(746)를 통해 생체 센서 회로(540)로부터 전기 신호를 수신할 수 있고, 수신된 전기 신호의 전류를 측정할 수 있고, 전류 측정 값을 프로세서(550)로 전달할 수 있다. 제1 전압 측정 포트(747) 및 제2 전압 측정 포트(748)는 전류-전압 경로 구성 회로(750)을 통해 생체 센서 회로(540)와 전기적으로 연결될 수 있다. 전압계(743)는 제1 전압 측정 포트(747)와 제2 전압 측정 포트(748) 사이의 전압을 측정할 수 있고, 전압 측정 값을 프로세서(550)로 전달할 수 있다.

다양한 실시예들에서, 전류-전압 경로 구성 회로(750)는, 프로세서(550)의 제어에 기반하여, 생체 센서 회로(540)의 포트들(721, 722, 723, 724)을 전류-전압 측정 회로(710)에 전기적으로 연결할 수 있다.

다양한 실시예들에서, 프로세서(550)는, 전극들(541, 543, 545, 547) 중 어느 하나에서 다른 하나로의 전류 경로를 구성하도록 전류-전압 경로 구성 회로(750)를 제어할 수 있다. 프로세서(550)는, 전극들(541, 543, 545, 547) 중 어느 하나에서 다른 하나로의 전압 경로를 구성하도록 전류-전압 경로 구성 모듈(750)를 제어할 수 있다. 프로세서(550)는, 전압 경로의 두 전극 중 하나가 전류 경로의 두 전극 중 하나와 일치되게 하고 전압 경로의 두 전극 중 다른 하나가 전류 경로의 두 전극 중 다른 하나와 다르게 하고 전압 경로 상에 생체 임피던스 Z_B가 포함되지 않게 전압 경로를 구성하도록 전류-전압 경로 구성 회로(750)를 제어할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(550)는, 제1 전극(541)이 전류 경로와 전압 경로에 포함되고 Z_B가 전압 경로에 포함되지 않도록 생체 센서 회로(540)에 전류-전압 경로를 구성할 수 있다. 프로세서(550)는, 생체 센서 회로(540)가 상기 전류-전압 경로로 구성된 상태에서 측정된 전류/전압 값을 전류계(742)와 전압계(743)로부터 수신할 수 있다. 프로세서(550)는, 수신된 전류/전압 값을 이용하여, 전류/전압 경로 상에서 제1 전극(541)의 기생 임피던스(예: 제1 전극(541)과 접지 사이의 기생 임피던스 Z_P1)를 측정할 수 있다. 프로세서(550)는, 나머지 전극들(543, 545, 547)에 대해서도 상기와 동일한 방식으로 기생 임피던스(Z_P2, Z_P3, Z_P4)를 측정할 수 있다.

도 8은, 본 개시의 일 실시예에 따른, 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값에 기반하여 웨어러블 전자 장치(501)의 수분을 검출하는 방법을 설명하기 위한 도면(800)이다.

다양한 실시예들에 따른 도 8은, 전술한 도 6의 610동작을 설명하기 위한 도면일 수 있다.

도 8을 참조하면, x축은 웨어러블 전자 장치(예: 도 5의 웨어러블 전자 장치(501))의 상태(801)를 나타낼 수 있고, y축은 웨어러블 전자 장치(501)의 상태에 따른 전극의 기생 임피던스 값(pF)(803)을 나타낼 수 있다.

일 실시예에서, 제1 그래프(810)는, 웨어러블 전자 장치(501)에 수분이 검출되지 않은 상태(830)와 수분이 검출된 상태(840)에서 제3 전극(예: 도 5의 제3 전극(545)) 및 제4 전극(예: 도 5의 제4 전극(547))의 기생 임피던스 값(예: 도 7의 Z_P3, Z_P4)을 나타낸 것이다. 제1 그래프(810)를 참조하면, 웨어러블 전자 장치(501)에 수분이 검출되지 않은 상태(830)에서 제3 전극(545) 및 제4 전극(547)의 기생 임피던스 값은 약 70pF이고, 웨어러블 전자 장치(501)에 수분이 검출된 상태(840)에서 제3 전극(545) 및 제4 전극(547)의 기생 임피던스 값은 약 90000pF일 수 있다.

일 실시예에서, 제2 그래프(820)는, 웨어러블 전자 장치(501)에 수분이 검출되지 않은 상태(830)와 수분이 검출된 상태(840)에서 제1 전극(예: 도 5의 제1 전극(541)) 및 제2 전극(예: 도 5의 제2 전극(543))의 기생 임피던스(예: 도 7의 Z_P1, Z_P2)값을 나타낸 것이다. 제2 그래프(820)를 참조하면, 웨어러블 전자 장치(501)에 수분이 검출되지 않은 상태(830)에서 제1 전극(541) 및 제2 전극(543)의 기생 임피던스 값은 약 40pF이고, 웨어러블 전자 장치(501)에 수분이 검출된 상태(840)에서 제1 전극(541) 및 제2 전극(543)의 기생 임피던스 값은 약 50000pF일 수 있다.

다양한 실시예들에 따른 제1 그래프(810) 및 제2 그래프(820)에서 살펴본 바와 같이, 웨어러블 전자 장치(501)에 수분이 검출되지 않은 상태(830)에서의 각 전극의 기생 임피던스 값과 수분이 검출된 상태(840)에서의 각 전극의 기생 임피던스 값은 상이할 수 있다.

일 실시예에서, 웨어러블 전자 장치(501)는 적어도 하나의 전극(예: 제1 전극(541), 제2 전극(543), 제3 전극(545), 및/또는 제4 전극(547))의 기생 임피던스 값을 확인하여, 적어도 하나의 전극(예: 제1 전극(541), 제2 전극(543), 제3 전극(545), 및/또는 제4 전극(547))의 기생 임피던스 값이 지정된 값(850)(예: 약 10000pF)을 초과하는 경우, 웨어러블 전자 장치(501)에 수분이 검출된 상태로 결정할 수 있다.

다양한 실시예들에 따른 제1 그래프(810) 및 제2 그래프(820)에 따른 각 전극의 기생 임피던스 값은, 발명을 용이하게 설명하기 위한 것으로, 측정된 수치에 한정하는 것은 아니다.

도 9는, 본 개시의 일 실시예에 따른, 적어도 하나의 전극의 저항 값에 기반하여 웨어러블 전자 장치(501)의 수분을 검출하는 방법을 설명하기 위한 도면(900)이다.

다양한 실시예들에 따른 도 9는, 전술한 도 6의 620동작을 설명하기 위한 도면일 수 있다.

도 9를 참조하면, x축은 웨어러블 전자 장치(예: 도 5의 웨어러블 전자 장치(501))의 상태(901)를 나타낼 수 있고, y축은 웨어러블 전자 장치(501)의 상태에 따른 적어도 하나의 전극의 저항 값(ohm)(903)을 나타낼 수 있다.

일 실시예에서, 제3 그래프(910)는, 웨어러블 전자 장치(501)에 수분이 검출되지 않은 상태(930)와 수분이 검출된 상태(940)에서 제3 전극(예: 도 5의 제3 전극(545)) 및 제4 전극(예: 도 5의 제4 전극(547))의 저항 값을 나타낸 것이다. 제3 그래프(910)를 참조하면, 웨어러블 전자 장치(501)에 수분이 검출되지 않은 상태(930)에서 제3 전극(545) 및 제4 전극(547)의 저항 값은 약 50000ohm이고, 웨어러블 전자 장치(501)에 수분이 검출된 상태(940)에서 제3 전극(545) 및 제4 전극(547)의 저항 값은 약 1000ohm일 수 있다.

일 실시예에서, 제4 그래프(920)는, 웨어러블 전자 장치(501)에 수분이 검출되지 않은 상태(930)와 수분이 검출된 상태(940)에서 제1 전극(예: 도 5의 제1 전극(541)) 및 제2 전극(예: 도 5의 제2 전극(543))의 저항 값을 나타낸 것이다. 제4 그래프(920)를 참조하면, 웨어러블 전자 장치(501)에 수분이 검출되지 않은 상태(930)에서 제1 전극(541) 및 제2 전극(543)의 저항 값은 약 5000ohm이고, 웨어러블 전자 장치(501)에 수분이 검출된 상태(940)에서 제1 전극(541) 및 제2 전극(543)의 저항 값은 약 1000ohm일 수 있다.

다양한 실시예에 따른 제3 그래프(910) 및 제4 그래프(920)에서 살펴본 바와 같이, 웨어러블 전자 장치(501)에 수분이 검출되지 않은 상태(930)에서의 각 전극의 저항 값과 수분이 검출된 상태(940)에서의 각 전극의 저항 값은 상이할 수 있다. 특히, 웨어러블 전자 장치(501)에 수분이 검출되지 않은 상태(930)에서 제1 전극(541) 및 제2 전극(543)의 저항 값과 수분이 검출된 상태(940)에서 제1 전극(541) 및 제2 전극(543)의 저항 값의 차이는 미미할 수 있다. 웨어러블 전자 장치(501)에 수분이 검출되지 않은 상태(930)에서 제3 전극(545) 및 제4 전극(547)의 저항 값과 수분이 검출된 상태(940)에서 제3 전극(545) 및 제4 전극(547)의 저항 값의 차이는, 제1 전극(541) 및 제2 전극(543)의 저항 값의 차이보다 클 수 있다.

일 실시예에서, 웨어러블 전자 장치(501)에 수분이 검출되지 않은 상태(930)에서 제3 전극(545) 및 제4 전극(547)의 저항 값과 수분이 검출된 상태(940)에서 제3 전극(545) 및 제4 전극(547)의 저항 값의 차이가, 제1 전극(541) 및 제2 전극(543)의 저항 값의 차이보다 큰 점을 이용하여, 웨어러블 전자 장치(501)는 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547) 중 적어도 하나의 전극의 저항 값을 확인하여, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547) 중 적어도 하나의 전극의 저항 값이 지정된 값(950)(예: 약 10000ohm) 이하인 경우, 웨어러블 전자 장치(501)에 수분이 검출된 상태로 결정할 수 있다.

다양한 실시예들에서, 웨어러블 전자 장치(501)는 전술한 도 8의 실시예에 따라, 적어도 하나의 전극(예: 제1 전극(541), 제2 전극(543), 제3 전극(545), 및/또는 제4 전극(547))의 기생 임피던스 값이 지정된 값(850)(예: 약 10000pF)을 초과하는 경우, 웨어러블 전자 장치(501)에 수분이 검출된 상태로 결정한 후, 추가적으로 전술한 도 9의 실시예를 수행함으로써, 웨어러블 전자 장치(501)에 수분이 검출된 상태를 보다 정확하게 결정할 수 있다.

다양한 실시예들에 따른 제1 그래프(910) 및 제2 그래프(920)에 따른 각 전극의 저항 값은, 발명을 용이하게 설명하기 위한 것으로, 측정된 수치에 한정하는 것은 아니다.

도 10a는, 본 개시의 일 실시예에 따른, 웨어러블 전자 장치(501)가 착용된 상태에서 생체 정보를 획득하는 경우 복수의 전극들의 전기적 연결을 도시한 도면(1000)이다.

도 10b는, 본 개시의 일 실시예에 따른, 웨어러블 전자 장치(501)가 착용된 상태에서 생체 정보를 획득하지 않는 경우 복수의 전극들의 전기적 연결을 도시한 도면(1050)이다.

다양한 실시예들에 따른 도 10b는, 전술한 도 6의 630동작을 설명하기 위한 도면일 수 있다.

도 10a를 참조하면, 웨어러블 전자 장치(예: 도 5의 웨어러블 전자 장치(501)의 생체 센서 회로(예: 도 5의 생체 센서 회로(540))는 ECG(electrocardiogram) 센서를 포함할 수 있다. 일 실시예에서, ECG 센서는 복수의 전극들(예: 도 5의 제1 전극(541), 제2 전극(543), 제3 전극(545), 및/또는 제4 전극(547))을 이용하여 심장의 전기적 활동 예를 들어, 심전도를 측정할 수 있다.

예를 들어, 제1 전극(541)과 제2 전극(543)는 웨어러블 전자 장치(501)의 후면(예: 도 3의 후면(210B))에 배치될 수 있고, 제3 전극(545)과 제4 전극(547)은 웨어러블 전자 장치(501)의 측면(예: 도 3의 측면(210C))에 배치될 수 있다.

일 실시예에서, 웨어러블 전자 장치(501)의 프로세서(예: 도 5의 프로세서(550))는 복수의 전극들 중 적어도 3개의 전극들을 이용하여 심전도를 측정할 수 있다. 예를 들어, 웨어러블 전자 장치(501)의 후면(210B)에 배치된 제1 전극(541), 제2 전극(543), 및 웨어러블 전자 장치(501)의 측면(210C)에 배치된 제3 전극(545)을 이용하여 심전도를 측정할 수 있다.

예를 들어, 프로세서(550)는 스위칭 회로(1005)를 제어하여 제1 전극(541)이 제1 경로(1041)를 통해 제1 증폭기(1010)(예: INA; instrumentation amplifier)와 전기적으로 연결(1025)되도록 할 수 있다. 프로세서(550)는 스위칭 회로(1005)를 제어하여 제3 전극(545)이 제2 경로(1043)를 통해 제1 증폭기(1010)(예: INA)와 전기적으로 연결(1030)되도록 할 수 있다. 프로세서(550)는 스위칭 회로(1005)를 제어하여 제2 전극(543)이 제3 경로(1045)를 통해 제2 증폭기(1015)(예: RLD(right-leg drive) amplifier)와 전기적으로 연결(1035)되도록 할 수 있다. 제1 증폭기(1010)는 컨버터(1020)(예: ADC(analog-to-digital converter))에 전기적으로 연결될 수 있다.

일 실시예에서, 미도시 되었으나, 컨버터(1020)(예: ADC(analog-to-digital converter))는 프로세서(550)와 전기적으로 연결될 수 있다.

일 실시예에서 제1 전극(541) 및 제3 전극(545)과 전기적으로 연결된 제1 증폭기(1010)는 제1 전극(541) 및 제3 전극(545)으로부터 입력된 신호를 증폭하여 노이즈 성분을 감소(또는 제거)함으로써 생체 신호를 생성할 수 있다. 일 실시예에서, 제2 전극(543)과 전기적으로 연결된 제2 증폭기(1015)는 제1 전극(541) 및 제3 전극(545)으로부터 입력되는 신호를 병렬로 수신하여 제2 전극(543)으로 피드백(feedback)(또는 출력)할 수 있다. 피드백 신호는 제2 전극(543)을 통해 사용자의 신체로 인가될 수 있다. 제2 증폭기(1015)는 노이즈 성분(예: 전원 노이즈 성분(예: 약 50~60Hz))을 사용자의 신체로 피드백하여 노이즈 성분을 감소(또는 제거)하기 위한 것일 수 있다.

전술한 바와 같이, 프로세서(550)는 제1 전극(541) 및 제3 전극(545)을 이용하여 심전도를 측정하고, 제2 전극(543)을 통해 피드백 신호를 사용자의 신체로 피드백하여 노이즈 성분을 감소(또는 제거)시킴으로써 심전도 측정 성능을 높일 수 있다.

다양한 실시예들에 따른 도 10a에서, 제1 전극(541), 제2 전극(543), 및 제3 전극(545)을 이용하여 심전도를 측정하는 것으로 설명하였으나, 이에 한정하는 것은 아니다.

일 실시예에서, 프로세서(550)는 복수의 전극들을 이용하여 생체 정보를 측정하는 상태가 아닌 경우, 전극 간의 임피던스를 모니터링하여 각 전극에 전도체의 접촉 여부를 확인(예: 리드 오프(lead-off))할 수 있다.

예를 들어, 도 10b를 참조하면, 프로세서(550)는 스위칭 회로(1005)를 제어하여 제1 전극(541)과 제1 증폭기(1010)의 전기적 연결을 해제할 수 있다. 프로세서(550)는 스위칭 회로(1005)를 제어하여 제2 전극(543)과 제2 증폭기(1015)의 전기적 연결을 해제할 수 있다. 프로세서(550)는 스위칭 회로(1005)를 제어하여 제3 전극(545)이 제2 경로(1043)를 통해 제1 증폭기(1010)를 전기적으로 연결(1030)하는 대신, 제3 전극(545)이 제1 경로(1041)를 통해 제1 증폭기(1010)에 전기적으로 연결(1055)되도록 할 수 있다. 프로세서(550)는 스위칭 회로(1005)를 제어하여 제4 전극(547)이 제2 경로(1043)를 통해 제1 증폭기(1010)에 전기적으로 연결(1060)되도록 할 수 있다.

일 실시예에서, 제3 전극(545) 및 제4 전극(547)이 제1 증폭기(1010)에 전기적으로 연결(1055, 1060)된 상태에서, 프로세서(550)는 제3 전극(545) 및 제4 전극(547)의 임피던스를 모니터링하여 제3 전극(545) 및 제4 전극(547)에 전도체의 접촉 여부를 확인할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(550)는 제3 전극(545) 및 제4 전극(547)의 저항 또는 전류를 이용하여 제3 전극(545) 및 제4 전극(547)의 임피던스를 모니터링하여 제3 전극(545) 및 제4 전극(547)에 전도체의 접촉 여부를 확인할 수 있다. 이와 관련하여, 후술하는 도 10c 및 도 10d에서 설명될 것이다.

도 10c는, 본 개시의 일 실시예에 따른, 저항을 이용하여 적어도 하나의 전극의 임피던스를 모니터링하는 방법을 설명하기 위한 도면(1070)이다.

도 10c를 참조하면, 저항을 이용하여 제3 전극(545) 및 제4 전극(547)의 임피던스를 모니터링하는 경우, 프로세서(550)는 제3 전극(545)에 연결된 저항(1071)에 풀업(pull up) 저항을 걸어주고, 제4 전극(547)에 연결된 저항(1073)에 풀다운(pull down) 저항을 걸어줄 수 있다. 상기와 같은 상태에서, 제3 전극(545) 및 제4 전극(547)에 전도체가 닿게 되는 경우(예: 접촉되는 경우), 제3 전극(545) 및 제4 전극(547)에서 단락(short)이 발생할 수 있다. 프로세서(550)는 제3 전극(545) 및 제4 전극(547)에서 단락(short)이 발생한 것에 기반하여, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)에 전도체의 접촉 상태를 확인할 수 있다. 이에 한정하는 것은 아니며, 제3 전극(545)에 연결된 저항(1071)에 풀업(pull up) 저항을 걸어주고, 제4 전극(547)에 연결된 저항(1073)에 풀다운(pull down) 저항을 걸어준 상태에서, 전도체의 임피던스에 따라 제3 전극(545) 및 제4 전극(547)의 전압 값이 변할 수 있다. 프로세서(550)는 제3 전극(545) 및 제4 전극(547)의 변화된 전압 값에 기반하여, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)에 전도체의 접촉 상태를 확인할 수 있다.

도 10d는, 본 개시의 일 실시예에 따른, 전류를 이용하여 적어도 하나의 전극의 임피던스를 모니터링하는 방법을 설명하기 위한 도면(1090)이다.

일 실시예에서, 전류를 이용하여 제3 전극(545) 및 제4 전극(547)의 임피던스를 모니터링하는 경우, 프로세서(550)는 제3 전극(545)에 연결된 전류계(1091)와 제4 전극(547)에 연결된 전류계(1093)에 전류를 흘릴 수 있다. 상기와 같은 상태에서, 제3 전극(545) 및 제4 전극(547)에 전도체가 접촉되는 경우, 제3 전극(545) 및 제4 전극(547)에서 단락(short)이 발생할 수 있다. 프로세서(550)는 제3 전극(545) 및 제4 전극(547)에서 단락(short)이 발생한 것에 기반하여, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)에 전도체의 접촉 상태를 확인할 수 있다. 이에 한정하는 것은 아니며, 제3 전극(545)에 연결된 전류계(1091)와 제4 전극(547)에 연결된 전류계(1093)에 흐르는 전류로 인해 전도체의 임피던스 값이 변화될 수 있다. 프로세서(550)는 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 변화된 임피던스 값에 기반하여, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)이 전도체의 접촉 상태를 확인할 수 있다.

다양한 실시예들에서, 웨어러블 전자 장치(501)는 전술한 도 8 및 도 9의 실시예에 따라, 적어도 하나의 전극(예: 제1 전극(541), 제2 전극(543), 제3 전극(545), 및/또는 제4 전극(547))의 기생 임피던스 값이 도 8의 지정된 값(850)(예: 약 10000pF)을 초과하고, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 저항 값이 도 9의 지정된 값(950)(예: 10000ohm) 이하로 확인되는 경우, 웨어러블 전자 장치(501)에 수분이 검출된 상태로 결정한 후, 추가적으로 전술한 도 10b 내지 도 10d의 실시예를 수행함으로써, 웨어러블 전자 장치(501)에 수분이 검출된 상태를 보다 정확하게 결정할 수 있다.

도 11은, 본 개시의 일 실시예에 따른, 웨어러블 전자 장치(501)의 수분 검출 회로(1110)를 도시한 도면(1100)이다.

도 11을 참조하면, 웨어러블 전자 장치(예: 도 5의 웨어러블 전자 장치(501)는 수분 검출 회로(1110)를 포함할 수 있다. 예를 들어, 수분 검출 회로(1110)는 웨어러블 전자 장치(501)의 측면(예: 도 3의 측면(210C))에 배치된 제3 전극(예: 도 5의 제3 전극(545))과 제4 전극(예: 도 5의 제4 전극(547)) 사이에 배치될 수 있다. 이에 한정하는 것은 아니며, 수분 검출 회로(1110)는 제3 전극(545)과 제4 전극(547)과 하우징(예: 도 2의 하우징(210)) 사이에 배치될 수도 있다.

일 실시예에서, 웨어러블 전자 장치(501)의 프로세서(예: 도 5의 프로세서(550))는 수분 검출 회로(1110)를 통해 수분을 검출할 수 있다. 수분 검출 회로(1110)를 통해 수분이 검출되면, 프로세서(550)는 생체 센서 회로(예: 도 5의 생체 센서 회로(540))를 활성화할 수 있다. 예를 들어, 생체 센서 회로(540)는 제3 전극(545)과 제4 전극(547) 각각에 연결된 VCC 단자(1120, 1125)와 GND 단자(1130, 1135)를 통해 전원을 공급받아 활성화될 수 있다. 이후, 프로세서(550)는 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값을 확인할 수 있다.

다양한 실시예들에서 전술한 도 6의 610동작에서 지정된 시점에 반복적으로, 제1 전극(541), 제2 전극(543), 제3 전극(545), 및/또는 제4 전극(547) 중 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값을 확인하는 대신, 도 11의 실시예에서는, 수분 검출 회로(1110)를 통해 수분이 검출되는 경우에 생체 센서 회로(540)를 활성화하여 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값을 확인할 수 있다. 이후, 프로세서(550)는 도 6의 620동작 내지 640동작을 수행할 수 있다.

다양한 실시예들에 따른 도 11에서 수분 검출 회로(1110)를 통해 수분이 검출되는 경우, 생체 센서 회로(540)를 활성화하여 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값을 확인함으로써, 지정된 시점에 반복적으로 생체 센서 회로(540)를 활성화하여 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값을 확인하는 경우와 비교하여 소모되는 전류를 감소시킬 수 있다.

도 12는, 본 개시의 일 실시예에 따른, 도 6의 동작을 구체화한 흐름도(1200)이다.

이하 실시예에서 각 동작들은 순차적으로 수행될 수도 있으나, 반드시 순차적으로 수행되는 것은 아니다. 예를 들어, 각 동작들의 순서가 변경될 수도 있으며, 적어도 두 동작들이 병렬적으로 수행될 수도 있다.

일 실시예에 따르면, 1205동작 내지 1230동작은 웨어러블 전자 장치(예: 도 5의 웨어러블 전자 장치(501))의 프로세서(예: 도 5의 프로세서(550))에서 수행되는 것으로 이해될 수 있다.

도 12를 참조하면, 웨어러블 전자 장치(501)의 프로세서(550)는 1205동작에서, 지정된 시점에 반복적으로, 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값을 확인할 수 있다.

일 실시예에서, 웨어러블 전자 장치(501)는 생체 센서 회로(예: 도 5의 생체 센서 회로(540))를 포함할 수 있다. 생체 센서 회로(540)는 사용자의 생체 정보를 획득하기 위한 복수의 전극들을 포함할 수 있다. 복수의 전극들은 제1 전극(예: 도 5의 제1 전극(541)), 제2 전극(예: 도 5의 제2 전극(543)), 제3 전극(예: 도 5의 제3 전극(545)), 및 제4 전극(예: 도 5의 제4 전극(547))을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제1 전극(541) 및 제2 전극(543)은 사용자의 손목과 접촉될 수 있도록 웨어러블 전자 장치(501)의 후면(예: 도 3의 후면(210B))에 배치될 수 있다. 제3 전극(545) 및 제4 전극(547)은 사용자의 손가락과 접촉될 수 있도록 웨어러블 전자 장치(501)의 측면(예: 도 3의 측면(210C))에 배치될 수 있다.

일 실시예에서, 프로세서(550)는 복수의 전극들 중 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값을 확인할 수 있다. 일 실시예에서, 프로세서(550)는 1210동작에서, 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값이 지정된 제1 값(예: 도 8의 지정된 값(850)(예: 약 10000pF))을 초과하는지 여부를 확인할 수 있다.

일 실시예에서, 기생 임피던스 값이 지정된 제1 값(예: 도 8의 지정된 값(850)(예: 약 10000pF))을 초과하면(예: 1210동작의 YES), 프로세서(550)는 1215동작에서, 측면(예: 도 3의 측면(210C))에 배치된 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 저항 값을 확인할 수 있다. 프로세서(550)는 1220동작에서, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 저항 값이 지정된 제2 값(예: 도 9의 지정된 값(950)(예: 약 10000ohm))을 초과하는지 여부를 확인할 수 있다.

일 실시예에서, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 저항 값이 지정된 제2 값(예: 도 9의 지정된 값(950)(예: 약 10000ohm))을 초과하지 않으면(예: 1220동작의 NO), 프로세서(550)는 1225동작에서, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)에서 전도체에 의해 단락(short)이 발생하였는지 확인할 수 있다. 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)에서 전도체에 의해 단락(short)이 발생한 것으로 확인되면(예: 1225동작의 YES), 프로세서(550)는 1230동작에서, 웨어러블 전자 장치(501)의 일부 기능을 비활성화할 수 있다.

일 실시예에서, 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값이 지정된 제1 값(예: 도 8의 지정된 값(850)(예: 약 10000pF))을 초과하지 않거나(예: 1205동작의 NO), 또는 제3 전극(545) 및 제4 전극(547)의 저항 값이 지정된 제2 값(예: 도 9의 지정된 값(950)(예: 약 10000ohm))을 초과하거나(예: 1220동작의 YES), 또는 제3 전극(545) 및 제4 전극(547)에서 전도체에 의해 단락(short)이 발생하지 않으면(예: 1225동작의 N0), 프로세서(550)는 웨어러블 전자 장치(501)에서 수분이 검출되지 않은 상황으로 확인하고, 1205동작을 수행할 수 있다.

다양한 실시예들에 따른 도 12에서, 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값이 지정된 제1 값(예: 도 8의 지정된 값(850)(예: 약 10000pF))을 초과하고, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 저항 값이 지정된 제2 값(예: 도 9의 지정된 값(950)(예: 약 10000ohm)) 이하이고, 및 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)에서 전도체에 의해 단락(short)이 발생한 것으로 확인되는 경우에 프로세서(550)는 웨어러블 전자 장치(501)에서 수분이 검출된 상황임을 보다 정확하게 결정할 수 있다. 전술한 조건에 따라 프로세서(550)는 웨어러블 전자 장치(501)에서 수분이 검출된 상황을 보다 정확하게 결정하고, 웨어러블 전자 장치(501)의 일부 기능을 비활성화함에 따라, 수분에 의해 수행될 수 있는 불필요한 기능으로 인한 배터리 방전을 방지할 뿐만 아니라, 웨어러블 전자 장치(501)에 수분으로 인한 전극의 부식을 방지할 수 있다.

도 13은, 본 개시의 일 실시예에 따른, 웨어러블 전자 장치(501)의 수분 제거 알림을 출력하는 방법을 설명하기 위한 흐름도(1300)이다.

이하 실시예에서 각 동작들은 순차적으로 수행될 수도 있으나, 반드시 순차적으로 수행되는 것은 아니다. 예를 들어, 각 동작들의 순서가 변경될 수도 있으며, 적어도 두 동작들이 병렬적으로 수행될 수도 있다.

일 실시예에 따르면, 1305동작 내지 1345동작은 웨어러블 전자 장치(예: 도 5의 웨어러블 전자 장치(501))의 프로세서(예: 도 5의 프로세서(550))에서 수행되는 것으로 이해될 수 있다.

도 13을 참조하면, 웨어러블 전자 장치(501)의 프로세서(550)는 1305동작에서, 웨어러블 전자 장치(501)의 착용 해제를 검출하였는지 여부를 확인할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(550)는 적어도 하나의 센서 예를 들어, 가속도 센서, 지자계 센서, 자이로 센서, 및/또는 IR 센서를 통해 웨어러블 전자 장치(501)의 착용 상태를 검출할 수 있다.

일 실시예에서, 웨어러블 전자 장치(501)의 착용 해제를 검출한 경우(예: 1305동작의 YES), 프로세서(550)는 1310동작에서, 제1 전극(예: 도 5의 제1 전극(541)) 및/또는 제2 전극(예: 도 5의 제2 전극(543))의 기생 임피던스 값(예: 도 7의 Z_P1 및/또는 Z_P2)을 확인할 수 있다.

일 실시예에서, 프로세서(550)는 1315동작에서, 제1 전극(541) 및/또는 제2 전극(543)의 기생 임피던스 값이 지정된 제3 값을 초과하는지 여부를 확인할 수 있다. 제1 전극(541) 및/또는 제2 전극(543)의 기생 임피던스 값이 지정된 제3 값(예: 약 200pF)을 초과하면(예: 1315동작의 YES), 프로세서(550)는 1320동작에서, 제1 전극(541) 및/또는 제2 전극(543)의 수분 제거에 대한 알림을 출력할 수 있다.

예를 들어, 하기 <표 1>을 참조하면, 웨어러블 전자 장치(501)가 신체에 착용되지 않은 상태에서 수분이 검출된 경우의 제1 전극(541) 및/또는 제2 전극(543)의 기생 임피던스 값은 약 250pF일 수 있고, 웨어러블 전자 장치(501)가 신체에 착용되지 않은 상태에서 수분이 검출되지 않는 경우의 제1 전극(541) 및/또는 제2 전극(543)의 기생 임피던스 값은 약 27pF일 수 있다. 다양한 실시예들에 따른 하기 <표 1>에 기재된 제1 전극(541) 및/또는 제2 전극(543)의 기생 임피던스 값은, 발명을 용이하게 설명하기 위한 것으로, 기재된 수치에 한정하는 것은 아니다.

웨어러블 전자 장치(501)가 신체에 착용되지 않은 상태에서 수분 검출 상태	제1 전극(541)의 기생 임피던스 값	제2 전극(543)의 기생 임피던스 값
웨어러블 전자 장치(501)가 신체에 착용되지 않은 상태에서 수분이 검출된 경우	약 250pF	약 250pF
웨어러블 전자 장치(501)가 신체에 착용되지 않은 상태에서 수분이 검출되지 않는 경우	약 27pF	약 27pF

일 실시예에서, 프로세서(550)는 제1 전극(541) 및/또는 제2 전극(543)의 기생 임피던스 값이 지정된 제3 값(예: 약 200pF)을 초과하면, 제1 전극(541) 및/또는 제2 전극(543)에 수분이 검출되는 것으로 확인하고, 수분 제거에 대한 알림을 출력할 수 있다. 예를 들어, 수분 제거에 대한 알림은, 디스플레이(예: 도 5의 디스플레이(530)), 오디오 모듈(예: 도 1의 오디오 모듈(170), 및/또는 햅틱 모듈(예: 도 1의 햅틱 모듈(179))을 통해 출력될 수 있다.

일 실시예에서, 웨어러블 전자 장치(501)의 착용 해제를 검출하지 않은 경우(예: 1305동작의 NO), 프로세서(550)는 1325동작에서, 제3 전극(예: 도 5의 제3 전극(545)) 및/또는 제4 전극(예: 도 5의 제4 전극(547))을 통해 생체 신호를 측정하기 위한 입력을 검출할 수 있다. 예를 들어, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)을 통해 생체 신호를 측정하기 위한 입력은, 생체 신호를 측정하기 위해 사용자의 손가락(예: 웨어러블 전자 장치(501)를 착용하지 않은 손의 손가락)을 접촉하는 입력일 수 있다.

일 실시예에서, 프로세서(550)는 1330동작에서, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 기생 임피던스 값(예: 도 7의 Z_P3 및/또는 Z_P4)을 확인하고, 1335동작에서, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 기생 임피던스 값이 지정된 제4 값(예: 약 200pF)을 초과하는지 여부를 확인할 수 있다.

예를 들어, 하기 <표 2>를 참조하면, 웨어러블 전자 장치(501)가 신체에 착용된 상태에서 수분이 검출되지 않는 경우에 제3 전극(545)의 기생 임피던스 값은 약 43pF이고, 제4 전극(547)의 기생 임피던스 값은 약 45pF일 수 있다. 웨어러블 전자 장치(501)가 신체에 착용된 상태에서 수분이 검출된 경우에 제3 전극(545)의 기생 임피던스 값은 약 249pF이고, 제4 전극(547)의 기생 임피던스 값은 약 247pF일 수 있다. 다양한 실시예들에 따른 하기 <표 2>에 기재된 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 기생 임피던스 값은, 발명을 용이하게 설명하기 위한 것으로, 기재된 수치에 한정하는 것은 아니다.

웨어러블 전자 장치(501)가 신체에 착용된 상태에서 수분 검출 상태	제3 전극(545)의 기생 임피던스 값	제4 전극(547)의 기생 임피던스 값
웨어러블 전자 장치(501)가 신체에 착용된 상태에서 수분이 검출되지 않는 경우	약 43pF	약 45pF
웨어러블 전자 장치(501)가 신체에 착용된 상태에서 수분이 검출된 경우	약 249pF	약 247pF

일 실시예에서, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 기생 임피던스 값이 지정된 제4 값(예: 약 200pF)을 초과하면(예: 1335동작의 YES), 프로세서(550)는 1340동작에서, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 수분 제거에 대한 알림을 출력할 수 있다. 예를 들어, 수분 제거에 대한 알림은, 디스플레이(예: 도 5의 디스플레이(530)), 오디오 모듈(예: 도 1의 오디오 모듈(170), 및/또는 햅틱 모듈(예: 도 1의 햅틱 모듈(179))을 통해 출력될 수 있다.

일 실시예에서, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 기생 임피던스 값이 지정된 값을 초과하지 않으면(예: 1335동작의 NO), 프로세서(550)는 1345동작에서, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)을 이용하여 생체 신호를 측정할 수 있다.

일 실시예에서, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)을 통해 생체 신호를 측정하기 위한 입력이 검출되는 경우, 전술한 1330동작 및 1335동작을 수행하여 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)에서 수분이 검출되는 경우 수분 제거에 대한 알림을 제공함으로써, 사용자는 전극에서 검출되는 수분을 제거한 후 생체 측정을 시도할 수 있다. 이에 따라, 수분이 검출되는 상태에서 생체 측정을 시도하는 경우, 수분에 의한 전극이 부식되는 것을 방지할 수 있다.

다양한 실시예들에 따른 도 13에서, 웨어러블 전자 장치(501)의 착용 해제를 검출하였는지 여부를 확인하는 1305동작은 생략될 수도 있다.

예를 들어, 웨어러블 전자 장치(501)의 착용 여부와 관계 없이, 제1 전극(541), 제2 전극(543), 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 기생 임피던스 값에 기반하여, 제1 전극(541), 제2 전극(543), 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)에서 수분이 검출되는지 여부를 확인할 수 있다.

예를 들어, 프로세서(550)는 웨어러블 전자 장치(501)의 착용 해제가 검출되지 않은 경우에도 제1 전극(541) 및/또는 제2 전극(543)의 기생 임피던스 값에 기반하여, 제1 전극(541) 및/또는 제2 전극(543)에서 수분이 검출되는지 여부를 확인할 수 있다.

일 실시예에서, 하기 <표 3>을 참조하면, 웨어러블 전자 장치(501)가 신체에 착용된 상태에서 수분이 검출된 경우의 제1 전극(541) 및/또는 제2 전극(543)의 기생 임피던스 값은 약 250pF일 수 있고, 웨어러블 전자 장치(501)가 신체에 착용된 상태에서 수분이 검출되지 않는 경우의 제1 전극(541) 및/또는 제2 전극(543)의 기생 임피던스 값은 약 72pF일 수 있다. 다양한 실시예들에 따른 하기 <표 3>에 기재된 제1 전극(541) 및/또는 제2 전극(543)의 기생 임피던스 값은, 발명을 용이하게 설명하기 위한 것으로, 기재된 수치에 한정하는 것은 아니다.

웨어러블 전자 장치(501)가 신체에 착용된 상태에서 수분 검출 상태	제1 전극(541)의 기생 임피던스 값	제2 전극(543)의 기생 임피던스 값
웨어러블 전자 장치(501)가 신체에 착용된 상태에서 수분이 검출된 경우	약 250pF	약 250pF
웨어러블 전자 장치(501)가 신체에 착용된 상태에서 수분이 검출되지 않는 경우	약 27pF	약 27pF

일 실시예에서, 프로세서(550)는 웨어러블 전자 장치(501)가 신체에 착용된 상태에서 제1 전극(541) 및/또는 제2 전극(543)의 기생 임피던스 값이 지정된 제3 값(예: 약 200pF)을 초과하면, 제1 전극(541) 및/또는 제2 전극(543)에 수분이 검출되는 것으로 확인하고, 수분 제거에 대한 알림을 출력할 수 있다.

다른 예를 들어, 프로세서(550)는 웨어러블 전자 장치(501)의 착용 해제가 검출된 경우에도 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 기생 임피던스 값에 기반하여, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)에서 수분이 검출되는지 여부를 확인할 수 있다.

일 실시예에서, 하기 <표 4>를 참조하면, 웨어러블 전자 장치(501)가 신체에 착용되지 않은 상태에서 수분이 검출되지 않는 경우에 제3 전극(545)의 기생 임피던스 값은 약 43pF이고, 제4 전극(547)의 기생 임피던스 값은 약 45pF일 수 있다. 웨어러블 전자 장치(501)가 신체에 착용되지 않은 상태에서 수분이 검출된 경우의 제3 전극(545)의 기생 임피던스 값은 약 249pF이고, 제4 전극(547)의 기생 임피던스 값은 약 247pF일 수 있다. 다양한 실시예들에 따른 하기 <표 4>에 기재된 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 기생 임피던스 값은, 발명을 용이하게 설명하기 위한 것으로, 기재된 수치에 한정하는 것은 아니다.

웨어러블 전자 장치(501)가 신체에 착용되지 않은 상태에서 수분 검출 상태	제3 전극(545)의 기생 임피던스 값	제4 전극(547)의 기생 임피던스 값
웨어러블 전자 장치(501)가 신체에 착용되지 않은 상태에서 수분이 검출되지 않는 경우	약 43pF	약 45pF
웨어러블 전자 장치(501)가 신체에 착용되지 않은 상태에서 수분이 검출된 경우	약 249pF	약 247pF

일 실시예에서, 프로세서(550)는 웨어러블 전자 장치(501)가 신체에 착용된 상태에서 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 기생 임피던스 값이 지정된 제4 값(예: 약 200pF)을 초과하면, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)에 수분이 검출되는 것으로 확인하고, 수분 제거에 대한 알림을 출력할 수 있다.

도 14는, 본 개시의 일 실시예에 따른, 웨어러블 전자 장치의 기능을 제어하는 방법을 설명하기 위한 흐름도(1400)이다.

이하 실시예에서 각 동작들은 순차적으로 수행될 수도 있으나, 반드시 순차적으로 수행되는 것은 아니다. 예를 들어, 각 동작들의 순서가 변경될 수도 있으며, 적어도 두 동작들이 병렬적으로 수행될 수도 있다.

일 실시예에 따르면, 1410동작 내지 1440동작은 웨어러블 전자 장치(예: 도 5의 웨어러블 전자 장치(501))의 프로세서(예: 도 5의 프로세서(550))에서 수행되는 것으로 이해될 수 있다.

다양한 실시예들에 따른 도 14는, 전술한 도 6 또는 도 12의 추가적인 동작일 수 있다.

도 14를 참조하면, 웨어러블 전자 장치(501)의 프로세서(550)는 1410동작에서, 웨어러블 전자 장치(501)의 일부 기능을 비활성화한 상태에서, 지정된 시점에 반복적으로, 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값을 확인할 수 있다.

일 실시예에서, 전술한 도 6 또는 도 12의 실시예에 따라, 웨어러블 전자 장치(501)에서 수분이 검출된 상태로 결정되는 것에 기반하여, 웨어러블 전자 장치(501)의 일부 기능(예: 터치 기능)을 비활성화한 상태일 수 있다.

일 실시예에서, 생체 센서 회로(예: 도 5의 생체 센서 회로(540))는 BIA 센서를 포함할 수 있다. 일 실시예에서, BIA 센서는 복수의 전극들 예를 들어, 복수의 전극들은, 제1 전극(예: 도 5의 제1 전극(541)), 제2 전극(예: 도 5의 제2 전극(543)), 제3 전극(예: 도 5의 제3 전극(545)), 및 제4 전극(예: 도 5의 제4 전극(547))을 포함할 수 있다.

일 실시예에서, 제1 전극(541) 및 제2 전극(543)은, 웨어러블 전자 장치(501)를 착용 시에, 사용자의 손목(예: 웨어러블 전자 장치(501)를 착용한 손의 손목)과 접촉될 수 있도록 웨어러블 전자 장치(501)의 후면(예: 도 3의 후면(210B))에 배치될 수 있다. 제3 전극(545) 및 제4 전극(547)은, 사용자의 손가락(예: 웨어러블 전자 장치(501)를 착용하지 않은 손의 손가락)과 접촉될 수 있도록 웨어러블 전자 장치(501)의 측면(예: 도 3의 측면(210C))에 배치될 수 있다.

일 실시예에서, 프로세서(550)는 1420동작에서, 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값이 지정된 제1 값(예: 도 8의 지정된 값(850)(예: 약 10000pF)) 이하이면, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 저항 값을 확인할 수 있다. 예를 들어, 전류가 흐르기 쉽지 않는 상태(예: 수분이 검출되지 않는 상태 및/또는 공기에 노출되는 상태)에서, 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값은 약 100pF 이하일 수 있다. 하지만 이에 한정하는 것은 아니다.

일 실시예에서, 기생 임피던스 값이 저장된 제1 값 이하인지 여부를 확인하는 동작은, 웨어러블 전자 장치(501)에 수분이 검출되지 않는 상태인지 여부를 확인하는 동작일 수 있다.

일 실시예에서, 프로세서(550)는 1430동작에서, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 저항 값이 지정된 제2 값(예: 도 9의 지정된 값(950)(예: 약 10000ohm))을 초과하면, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 단락(short) 여부를 확인할 수 있다.

일 실시예에서, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 저항 값이 지정된 제2 값(예: 도 9의 지정된 값(950)(예: 약 10000ohm))을 초과하는지 여부를 확인하는 동작은, 웨어러블 전자 장치(501)에 수분이 검출되지 않는 상태인지 여부를 확인하는 동작일 수 있다.

일 실시예에서, 프로세서(550)는 1440동작에서, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)에서 전도체에 의해 단락(short)이 발생하지 않으면, 비활성화한 웨어러블 전자 장치(501)의 일부 기능을 활성화할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(550)는 전술한 도 10c 및 도 10d의 실시예에 따라, 제3 전극(545) 및 제4 전극(547)의 저항 또는 전류를 통해 제3 전극(545) 및 제4 전극(547)의 임피던스를 모니터링하여, 제3 전극(545) 및 제4 전극(547)에 전도체의 접촉 여부를 확인할 수 있다. 일 실시예에서, 제3 전극(545) 및 제4 전극(547)에 전도체가 접촉되지 않음에 따라 단락(short)이 발생하지 않으면, 프로세서(550)는 비활성화한 웨어러블 전자 장치(501)의 일부 기능을 활성화할 수 있다. 예를 들어, 웨어러블 전자 장치(501)의 일부 기능은, 터치 기능을 포함할 수 있다. 하지만 이에 한정하는 것은 아니다.

다양한 실시예에 따른 1410동작에서, 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값을 지정된 시점에 반복적으로 확인하는 것으로 설명하였으나, 이에 한정하는 것은 아니다. 예를 들어, 전술한 도 11의 실시예에 따라, 웨어러블 전자 장치(501)는 수분 검출 회로(1110)를 포함할 수 있다. 프로세서(550)는 수분 검출 회로(1110)를 통해 수분이 검출되는 경우, 생체 센서 회로(540)를 활성화하여 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값을 확인할 수 있다.

다양한 실시예들에 따른 도 14에서, 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값이 지정된 제1 값(예: 도 8의 지정된 값(850)(예: 약 10000pF)) 이하이고, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 저항 값이 지정된 제2 값(예: 도 9의 지정된 값(950)(예: 약 10000ohm))을 초과하고, 및 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)에서 전도체에 의해 단락(short)이 발생하지 않은 것으로 확인되는 경우에, 프로세서(550)는 웨어러블 전자 장치(501)에서 수분이 검출되지 않은 상황임을 정확하게 결정할 수 있다.

다양한 실시예들에 따른 도 14에서, 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값이 지정된 제1 값 이하이고, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 저항 값이 지정된 제2 값을 초과하고, 및 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)에서 전도체에 의해 단락(short)이 발생하지 않으면, 웨어러블 전자 장치(501)에서 수분이 검출되지 않은 상태로 결정하는 것으로 설명하였으나 이에 한정하는 것은 아니다. 예를 들어, 프로세서(550)는 적어도 두 개의 조건(예: 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값이 지정된 제1 값 이하이고, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)에서 전도체에 의해 단락(short)이 발생하지 않는 조건 또는 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)의 저항 값이 지정된 제2 값을 초과하고, 제3 전극(545) 및/또는 제4 전극(547)에서 전도체에 의해 단락(short)이 발생하지 않는 조건)에 기반하여, 웨어러블 전자 장치(501)에서 수분이 검출되지 않는 상태로 결정할 수 있다.

다양한 실시예들에 따른 웨어러블 전자 장치(101, 200, 501)의 기능 제어 방법은, 지정된 시점에 반복적으로, 제1 전극(271, 541), 제2 전극(272, 543), 제3 전극(273, 545), 및 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값을 확인하는 동작을 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 웨어러블 전자 장치(101, 200, 501)의 기능 제어 방법은, 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값이 지정된 제1 값을 초과하면, 제3 전극(273, 545) 및 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극의 저항 값을 확인하는 동작을 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 웨어러블 전자 장치(101, 200, 501)의 기능 제어 방법은, 제3 전극(273, 545) 및 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 저항 값이 지정된 제2 값 이하이면, 제3 전극(273, 545) 및 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극의 단락(short) 여부를 확인하는 동작을 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 웨어러블 전자 장치(101, 200, 501)의 기능 제어 방법은, 제3 전극(273, 545) 및 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극에서 전도체에 의해 단락(short)이 발생하면, 웨어러블 전자 장치(101, 200, 501)의 일부 기능을 비활성화하는 동작을 포함할 수 있다.

일 실시예에서, 웨어러블 전자 장치(101, 200, 501)의 기능 제어 방법은, 제3 전극(273, 545) 및 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극에서 전도체에 의해 단락(short)이 발생하면, 웨어러블 전자 장치(101, 200, 501)에서 수분이 검출된 상태로 결정하는 동작을 더 포함할 수 있다.

일 실시예에서, 웨어러블 전자 장치(101, 200, 501)의 기능 제어 방법은, 제1 전극(541)과 제3 전극(545)을 교류 전류원(current source)에 연결하는 동작을 더 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 웨어러블 전자 장치(101, 200, 501)의 기능 제어 방법은, 제2 전극(543)과 제4 전극(547)을 전압 감지기(voltage detector)에 연결하는 동작을 더 포함할 수 있다.

일 실시예에서, 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값을 확인하는 동작은, 교류 전류원에서 발생한 교류 전류와, 전압 감지기의 전압 신호를 연산하여, 적어도 하나의 전극에서 생성된 기생 성분에 따른 기생 임피던스 값을 확인하는 동작을 포함할 수 있다.

일 실시예에서, 제3 전극(273, 545) 및 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극의 단락(short) 여부를 확인하는 동작은, 제3 전극(273, 545) 및 제4 전극(274, 547) 간의 임피던스를 모니터링하여, 제3 전극(273, 545) 및 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극에 전도체의 접촉 여부를 확인하는 동작을 포함할 수 있다.

일 실시예에서, 제3 전극(273, 545) 및 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극에 전도체의 접촉 여부를 확인하는 동작은, 제3 전극(273, 545) 및 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극의 저항 또는 전류를 이용하여, 제3 전극(273, 545) 및 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극에 전도체의 접촉 여부를 확인하는 동작을 포함할 수 있다.

일 실시예에서, 웨어러블 전자 장치(101, 200, 501)의 일부 기능을 비활성화하는 동작은, 제3 전극(273, 545) 및 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극에 저항을 걸거나 또는 전류를 흘려보내는 상태에서, 제3 전극(273, 545) 및 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극에 전도체가 접촉됨에 따라 전도체에 의해 단락(short)이 발생하면, 웨어러블 전자 장치(101, 200, 501)의 일부 기능을 비활성화하는 동작을 포함할 수 있다.

일 실시예에서, 웨어러블 전자 장치(101, 200, 501)의 기능 제어 방법은, 웨어러블 전자 장치(101, 200, 501)의 착용 해제를 검출하였는지 여부를 확인하는 동작을 더 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 웨어러블 전자 장치(101, 200, 501)의 기능 제어 방법은, 웨어러블 전자 장치(101, 200, 501)의 착용 해제를 검출한 경우, 제1 전극(271, 541) 및 제2 전극(272, 543) 중 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값을 확인하는 동작을 더 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 웨어러블 전자 장치(101, 200, 501)의 기능 제어 방법은, 제1 전극(271, 541) 및 제2 전극(272, 543) 중 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값이 지정된 제3 값을 초과하면, 제1 전극(271, 541) 및 제2 전극(272, 543) 중 적어도 하나의 전극의 수분 제거에 대한 알림을 출력하는 동작을 더 포함할 수 있다.

일 실시예에서, 웨어러블 전자 장치(101, 200, 501)의 기능 제어 방법은, 웨어러블 전자 장치(101, 200, 501)의 착용 해제를 검출하지 않은 경우, 제3 전극(273, 545) 및 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극을 통해 생체 신호를 측정하기 위한 입력이 검출되는지 여부를 확인하는 동작을 더 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 웨어러블 전자 장치(101, 200, 501)의 기능 제어 방법은, 제3 전극(273, 545) 및 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극을 통해 생체 신호를 측정하기 위한 입력이 검출되면, 제3 전극(273, 545) 및 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값을 확인하는 동작을 더 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 웨어러블 전자 장치(101, 200, 501)의 기능 제어 방법은, 제3 전극(273, 545) 및 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값이 지정된 제4 값을 초과하면, 제3 전극(273, 545) 및 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극의 수분 제거에 대한 알림을 출력하는 동작을 더 포함할 수 있다.

일 실시예에서, 적어도 하나의 전극의 수분 제거에 대한 알림을 출력하는 동작은, 디스플레이(530), 오디오 출력 회로(170), 및 햅틱 모듈(179) 중 적어도 하나를 통해 적어도 하나의 전극의 수분 제거에 대한 알림을 출력하는 동작을 포함할 수 있다.

본 문서에 개시된 다양한 실시예들에 따른 전자 장치는 다양한 형태의 장치가 될 수 있다. 전자 장치는, 예를 들면, 휴대용 통신 장치(예: 스마트폰), 컴퓨터 장치, 휴대용 멀티미디어 장치, 휴대용 의료 기기, 카메라, 웨어러블 장치, 또는 가전 장치를 포함할 수 있다. 본 문서의 실시예에 따른 전자 장치는 전술한 기기들에 한정되지 않는다.

본 문서의 다양한 실시예들 및 이에 사용된 용어들은 본 문서에 기재된 기술적 특징들을 특정한 실시예들로 한정하려는 것이 아니며, 해당 실시예의 다양한 변경, 균등물, 또는 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 도면의 설명과 관련하여, 유사한 또는 관련된 구성요소에 대해서는 유사한 참조 부호가 사용될 수 있다. 아이템에 대응하는 명사의 단수 형은 관련된 문맥상 명백하게 다르게 지시하지 않는 한, 상기 아이템 한 개 또는 복수 개를 포함할 수 있다. 본 문서에서, "A 또는 B", "A 및 B 중 적어도 하나", "A 또는 B 중 적어도 하나", "A, B 또는 C", "A, B 및 C 중 적어도 하나", 및 "A, B, 또는 C 중 적어도 하나"와 같은 문구들 각각은 그 문구들 중 해당하는 문구에 함께 나열된 항목들 중 어느 하나, 또는 그들의 모든 가능한 조합을 포함할 수 있다. "제1", "제2", 또는 "첫째" 또는 "둘째"와 같은 용어들은 단순히 해당 구성요소를 다른 해당 구성요소와 구분하기 위해 사용될 수 있으며, 해당 구성요소들을 다른 측면(예: 중요성 또는 순서)에서 한정하지 않는다. 어떤(예: 제1) 구성요소가 다른(예: 제2) 구성요소에, "기능적으로" 또는 "통신적으로"라는 용어와 함께 또는 이런 용어 없이, "커플드" 또는 "커넥티드"라고 언급된 경우, 그것은 상기 어떤 구성요소가 상기 다른 구성요소에 직접적으로(예: 유선으로), 무선으로, 또는 제3 구성요소를 통하여 연결될 수 있다는 것을 의미한다.

본 문서의 다양한 실시예들에서 사용된 용어 "모듈"은 하드웨어, 소프트웨어 또는 펌웨어로 구현된 유닛을 포함할 수 있으며, 예를 들면, 로직, 논리 블록, 부품, 또는 회로와 같은 용어와 상호 호환적으로 사용될 수 있다. 모듈은, 일체로 구성된 부품 또는 하나 또는 그 이상의 기능을 수행하는, 상기 부품의 최소 단위 또는 그 일부가 될 수 있다. 예를 들면, 일 실시예에 따르면, 모듈은 ASIC(application-specific integrated circuit)의 형태로 구현될 수 있다.

본 문서의 다양한 실시예들은 기기(machine)(예: 전자 장치(101)) 의해 읽을 수 있는 저장 매체(storage medium)(예: 내장 메모리(136) 또는 외장 메모리(138))에 저장된 하나 이상의 명령어들을 포함하는 소프트웨어(예: 프로그램(140))로서 구현될 수 있다. 예를 들면, 기기(예: 전자 장치(101))의 프로세서(예: 프로세서(120))는, 저장 매체로부터 저장된 하나 이상의 명령어들 중 적어도 하나의 명령을 호출하고, 그것을 실행할 수 있다. 이것은 기기가 상기 호출된 적어도 하나의 명령어에 따라 적어도 하나의 기능을 수행하도록 운영되는 것을 가능하게 한다. 상기 하나 이상의 명령어들은 컴파일러에 의해 생성된 코드 또는 인터프리터에 의해 실행될 수 있는 코드를 포함할 수 있다. 기기로 읽을 수 있는 저장 매체는, 비일시적(non-transitory) 저장 매체의 형태로 제공될 수 있다. 여기서, ‘비일시적’은 저장 매체가 실재(tangible)하는 장치이고, 신호(signal)(예: 전자기파)를 포함하지 않는다는 것을 의미할 뿐이며, 이 용어는 데이터가 저장 매체에 반영구적으로 저장되는 경우와 임시적으로 저장되는 경우를 구분하지 않는다.

일 실시예에 따르면, 본 문서에 개시된 다양한 실시예들에 따른 방법은 컴퓨터 프로그램 제품(computer program product)에 포함되어 제공될 수 있다. 컴퓨터 프로그램 제품은 상품으로서 판매자 및 구매자 간에 거래될 수 있다. 컴퓨터 프로그램 제품은 기기로 읽을 수 있는 저장 매체(예: compact disc read only memory(CD-ROM))의 형태로 배포되거나, 또는 어플리케이션 스토어(예: 플레이 스토어^TM)를 통해 또는 두 개의 사용자 장치들(예: 스마트 폰들) 간에 직접, 온라인으로 배포(예: 다운로드 또는 업로드)될 수 있다. 온라인 배포의 경우에, 컴퓨터 프로그램 제품의 적어도 일부는 제조사의 서버, 어플리케이션 스토어의 서버, 또는 중계 서버의 메모리와 같은 기기로 읽을 수 있는 저장 매체에 적어도 일시 저장되거나, 임시적으로 생성될 수 있다.

다양한 실시예들에 따르면, 상기 기술한 구성요소들의 각각의 구성요소(예: 모듈 또는 프로그램)는 단수 또는 복수의 개체를 포함할 수 있으며, 복수의 개체 중 일부는 다른 구성요소에 분리 배치될 수도 있다. 다양한 실시예들에 따르면, 전술한 해당 구성요소들 중 하나 이상의 구성요소들 또는 동작들이 생략되거나, 또는 하나 이상의 다른 구성요소들 또는 동작들이 추가될 수 있다. 대체적으로 또는 추가적으로, 복수의 구성요소들(예: 모듈 또는 프로그램)은 하나의 구성요소로 통합될 수 있다. 이런 경우, 통합된 구성요소는 상기 복수의 구성요소들 각각의 구성요소의 하나 이상의 기능들을 상기 통합 이전에 상기 복수의 구성요소들 중 해당 구성요소에 의해 수행되는 것과 동일 또는 유사하게 수행할 수 있다. 다양한 실시예들에 따르면, 모듈, 프로그램 또는 다른 구성요소에 의해 수행되는 동작들은 순차적으로, 병렬적으로, 반복적으로, 또는 휴리스틱하게 실행되거나, 상기 동작들 중 하나 이상이 다른 순서로 실행되거나, 생략되거나, 또는 하나 이상의 다른 동작들이 추가될 수 있다.

본 명세서와 도면에 개시된 다양한 실시예들은 본 개시의 기술 내용을 쉽게 설명하고 본 개시의 이해를 돕기 위해 특정 예를 제시한 것일 뿐이며, 본 개시의 범위를 한정하고자 하는 것은 아니다. 따라서 본 개시의 범위는 여기에 개시된 실시예들 이외에도 본 개시의 기술적 사상을 바탕으로 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 개시의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.

101, 200, 501: 웨어러블 전자 장치 210: 하우징
510: 무선 통신 회로 520: 메모리
530: 디스플레이 540: 생체 센서 회로
271, 541: 제1 전극 272, 543: 제2 전극
273, 545: 제3 전극 274, 547: 제4 전극
550: 프로세서

Claims (20)

1. 웨어러블 전자 장치(101, 200, 501)에 있어서,
   제1 면(210A), 상기 제1 면(210A)과 반대 방향인 제2 면(210B), 및 상기 제1 면(210A) 및 상기 제2 면(210B)을 둘러싸는 측면(210C)을 포함하는 하우징(210);
   상기 제2 면(210B)에 배치되는 제1 전극(271, 541) 및 제2 전극(272, 543);
   상기 측면(210C)에 배치되는 제3 전극(273, 545) 및 제4 전극(274, 547); 및
   상기 제1 전극(271, 541), 상기 제2 전극(272, 543), 상기 제3 전극(273, 545), 및 상기 제4 전극(274, 547)과 작동적으로(operatively) 연결되는 프로세서(550)를 포함하고,
   상기 프로세서(550)는,
   지정된 시점에 반복적으로, 상기 제1 전극(271, 541), 상기 제2 전극(272, 543), 상기 제3 전극(273, 545), 및 상기 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값을 확인하고,
   상기 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값이 지정된 제1 값을 초과하면, 상기 제3 전극(273, 545) 및 상기 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극의 저항 값을 확인하고,
   상기 제3 전극(273, 545) 및 상기 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 저항 값이 지정된 제2 값 이하이면, 상기 제3 전극(273, 545) 및 상기 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극의 단락(short) 여부를 확인하고, 및
   상기 제3 전극(273, 545) 및 상기 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극에서 전도체에 의해 상기 단락(short)이 발생하면, 상기 웨어러블 전자 장치(101, 200, 501)의 일부 기능을 비활성화하도록 설정된 웨어러블 전자 장치.
2. 제 1 항에 있어서,
   상기 프로세서(550)는,
   상기 제3 전극(273, 545) 및 상기 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극에서 전도체에 의해 상기 단락(short)이 발생하면, 상기 웨어러블 전자 장치(101, 200, 501)에서 수분이 검출된 상태로 결정하도록 설정된 웨어러블 전자 장치.
3. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
   상기 제1 전극(541)과 상기 제3 전극(545)은 교류 전류원(current source)에 연결되고, 및
   상기 제2 전극(543)과 상기 제4 전극(547)은 전압 감지기(voltage detector)에 연결되도록 설정된 웨어러블 전자 장치.
4. 제 3 항에 있어서,
   상기 프로세서(550)는,
   상기 교류 전류원에서 발생한 교류 전류와, 상기 전압 감지기의 전압 신호를 연산하여, 상기 적어도 하나의 전극에서 생성된 기생 성분에 따른 상기 기생 임피던스 값을 확인하도록 설정된 웨어러블 전자 장치.
5. 제 1 항 내지 제 4 항 중 적어도 어느 한 항에 있어서,
   상기 프로세서(550)는
   상기 제3 전극(273, 545) 및 상기 제4 전극(274, 547) 간의 임피던스를 모니터링하여, 상기 제3 전극(273, 545) 및 상기 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극에 전도체의 접촉 여부를 확인하도록 설정된 웨어러블 전자 장치.
6. 제 5 항에 있어서,
   상기 프로세서(550)는
   상기 제3 전극(273, 545) 및 상기 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극의 저항 또는 전류를 이용하여, 상기 제3 전극(273, 545) 및 상기 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극에 상기 전도체의 접촉 여부를 확인하도록 설정된 웨어러블 전자 장치.
7. 제 5 항 또는 제 6 항에 있어서,
   상기 프로세서(550)는
   상기 제3 전극(273, 545) 및 상기 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극에 상기 저항을 걸거나 또는 상기 전류를 흘려보내는 상태에서, 상기 제3 전극(273, 545) 및 상기 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극에 상기 전도체가 접촉됨에 따라 상기 전도체에 의해 상기 단락(short)이 발생하면, 상기 웨어러블 전자 장치(101, 200, 501)의 일부 기능을 비활성화하도록 설정된 웨어러블 전자 장치.
8. 제 1 항에 있어서,
   상기 프로세서(550)는,
   상기 웨어러블 전자 장치(101, 200, 501)의 착용 해제를 검출하였는지 여부를 확인하고,
   상기 웨어러블 전자 장치(101, 200, 501)의 착용 해제를 검출한 경우, 상기 제1 전극(271, 541) 및 상기 제2 전극(272, 543) 중 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값을 확인하고, 및
   상기 제1 전극(271, 541) 및 상기 제2 전극(272, 543) 중 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값이 지정된 제3 값을 초과하면, 상기 제1 전극(271, 541) 및 상기 제2 전극(272, 543) 중 적어도 하나의 전극의 수분 제거에 대한 알림을 출력하도록 설정된 웨어러블 전자 장치.
9. 제 8 항에 있어서,
   상기 프로세서(550)는,
   상기 웨어러블 전자 장치(101, 200, 501)의 착용 해제를 검출하지 않은 경우, 상기 제3 전극(273, 545) 및 상기 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극을 통해 생체 신호를 측정하기 위한 입력이 검출되는지 여부를 확인하고,
   상기 제3 전극(273, 545) 및 상기 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극을 통해 생체 신호를 측정하기 위한 입력이 검출되면, 상기 제3 전극(273, 545) 및 상기 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값을 확인하고, 및
   상기 제3 전극(273, 545) 및 상기 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값이 지정된 제4 값을 초과하면, 상기 제3 전극(273, 545) 및 상기 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극의 수분 제거에 대한 알림을 출력하도록 설정된 웨어러블 전자 장치.
10. 제 8 항 또는 제 9 항에 있어서,
    디스플레이(530);
    오디오 출력 회로(170); 및
    햅틱 모듈(179)을 더 포함하고,
    상기 프로세서(550)는,
    상기 디스플레이(530), 상기 오디오 출력 회로(170), 및 상기 햅틱 모듈(179) 중 적어도 하나를 통해 상기 적어도 하나의 전극의 상기 수분 제거에 대한 알림을 출력하도록 설정된 웨어러블 전자 장치.
11. 웨어러블 전자 장치(101, 200, 501)의 기능 제어 방법에 있어서,
    지정된 시점에 반복적으로, 제1 전극(271, 541), 제2 전극(272, 543), 제3 전극(273, 545), 및 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값을 확인하는 동작;
    상기 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값이 지정된 제1 값을 초과하면, 상기 제3 전극(273, 545) 및 상기 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극의 저항 값을 확인하는 동작;
    상기 제3 전극(273, 545) 및 상기 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 저항 값이 지정된 제2 값 이하이면, 상기 제3 전극(273, 545) 및 상기 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극의 단락(short) 여부를 확인하는 동작; 및
    상기 제3 전극(273, 545) 및 상기 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극에서 전도체에 의해 상기 단락(short)이 발생하면, 상기 웨어러블 전자 장치(101, 200, 501)의 일부 기능을 비활성화하는 동작을 포함하는 방법.
12. 제 11 항에 있어서,
    상기 제3 전극(273, 545) 및 상기 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극에서 전도체에 의해 상기 단락(short)이 발생하면, 상기 웨어러블 전자 장치(101, 200, 501)에서 수분이 검출된 상태로 결정하는 동작을 더 포함하는 방법.
13. 제 11 항 또는 제 12 항에 있어서,
    상기 제1 전극(541)과 상기 제3 전극(545)을 교류 전류원(current source)에 연결하는 동작; 및
    상기 제2 전극(543)과 상기 제4 전극(547)을 전압 감지기(voltage detector)에 연결하는 동작을 더 포함하는 방법.
14. 제 13 항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값을 확인하는 동작은,
    상기 교류 전류원에서 발생한 교류 전류와, 상기 전압 감지기의 전압 신호를 연산하여, 상기 적어도 하나의 전극에서 생성된 기생 성분에 따른 상기 기생 임피던스 값을 확인하는 동작을 포함하는 방법.
15. 제 11 항 내지 제 14 항 중 적어도 어느 한 항에 있어서,
    상기 제3 전극(273, 545) 및 상기 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극의 단락(short) 여부를 확인하는 동작은,
    상기 제3 전극(273, 545) 및 상기 제4 전극(274, 547) 간의 임피던스를 모니터링하여, 상기 제3 전극(273, 545) 및 상기 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극에 전도체의 접촉 여부를 확인하는 동작을 포함하는 방법.
16. 제 15 항에 있어서,
    상기 제3 전극(273, 545) 및 상기 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극에 전도체의 접촉 여부를 확인하는 동작은,
    상기 제3 전극(273, 545) 및 상기 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극의 저항 또는 전류를 이용하여, 상기 제3 전극(273, 545) 및 상기 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극에 상기 전도체의 접촉 여부를 확인하는 동작을 포함하는 방법.
17. 제 15 항 또는 제 16 항에 있어서,
    상기 웨어러블 전자 장치(101, 200, 501)의 일부 기능을 비활성화하는 동작은,
    상기 제3 전극(273, 545) 및 상기 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극에 상기 저항을 걸거나 또는 상기 전류를 흘려보내는 상태에서, 상기 제3 전극(273, 545) 및 상기 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극에 상기 전도체가 접촉됨에 따라 상기 전도체에 의해 상기 단락(short)이 발생하면, 상기 웨어러블 전자 장치(101, 200, 501)의 일부 기능을 비활성화하는 동작을 포함하는 방법.
18. 제 11 항에 있어서,
    상기 웨어러블 전자 장치(101, 200, 501)의 착용 해제를 검출하였는지 여부를 확인하는 동작;
    상기 웨어러블 전자 장치(101, 200, 501)의 착용 해제를 검출한 경우, 상기 제1 전극(271, 541) 및 상기 제2 전극(272, 543) 중 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값을 확인하는 동작; 및
    상기 제1 전극(271, 541) 및 상기 제2 전극(272, 543) 중 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값이 지정된 제3 값을 초과하면, 상기 제1 전극(271, 541) 및 상기 제2 전극(272, 543) 중 적어도 하나의 전극의 수분 제거에 대한 알림을 출력하는 동작을 더 포함하는 방법.
19. 제 18 항에 있어서,
    상기 웨어러블 전자 장치(101, 200, 501)의 착용 해제를 검출하지 않은 경우, 상기 제3 전극(273, 545) 및 상기 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극을 통해 생체 신호를 측정하기 위한 입력이 검출되는지 여부를 확인하는 동작;
    상기 제3 전극(273, 545) 및 상기 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극을 통해 생체 신호를 측정하기 위한 입력이 검출되면, 상기 제3 전극(273, 545) 및 상기 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값을 확인하는 동작; 및
    상기 제3 전극(273, 545) 및 상기 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극의 기생 임피던스 값이 지정된 제4 값을 초과하면, 상기 제3 전극(273, 545) 및 상기 제4 전극(274, 547) 중 적어도 하나의 전극의 수분 제거에 대한 알림을 출력하는 동작을 더 포함하는 방법.
20. 제 18 항 또는 제 19 항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 전극의 수분 제거에 대한 알림을 출력하는 동작은,
    디스플레이(530), 오디오 출력 회로(170), 및 햅틱 모듈(179) 중 적어도 하나를 통해 상기 적어도 하나의 전극의 상기 수분 제거에 대한 알림을 출력하는 동작을 포함하는 방법.

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