KR20220129046A - 에어로졸 제공 디바이스, 에어로졸 생성 물품 및 에어로졸 제공 시스템 - Google Patents
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Abstract
에어로졸 제공 디바이스는, 에어로졸 가능 매체를 포함하는 물품(410)을 수용하도록 구성된 리셉터클(receptacle)(412), 전자기 복사를 리셉터클 내로 방출하도록 구성된 방출기(emitter)(422), 및 리셉터클 내의 물품과의 상호작용 후에 전자기 복사를 수신하도록 구성된 복수의 이미지 센서(426a-c)를 포함하는 수신기(receiver)(426)를 포함한다. 디바이스는, 수신기에 의해 수신된 전자기 복사의 공간적 특징에 기초하여 물품의 적어도 하나의 특성을 결정하도록 구성되는 제어 전자 기기(control electronics)를 더 포함한다. 공간적 특징은 전자기 복사의 편광 상태 또는 전자기 복사가 수신기에 의해 수신되는 각도일 수 있다. 제어 전자 기기는 물품의 결정된 특성에 기초하여 디바이스의 가열 조립체를 작동하도록 구성된다. 정렬 피처는 물품이 미리 결정된 방향으로 리셉터클 내에 수용되는 것을 보장한다.
Description
본 발명은 에어로졸 제공 디바이스(aerosol provision device), 에어로졸 제공 디바이스에 사용하기 위한 물품, 및 에어로졸 제공 시스템에 관한 것이다.
시가렛들(cigarettes), 시가들(cigars) 등과 같은 흡연 물품들(smoking articles)은 사용 동안에 담배를 태워서 담배 연기를 생성한다. 태우지 않고 화합물들을 방출하는 제품들을 만들어 담배를 태우는 이들 물품들에 대한 대안들을 제공하려는 시도들이 있었다. 그러한 제품들의 예들에는 재료를 태우지 않고 가열함으로써 화합물들을 방출하는 가열 디바이스들(tobacco heating devices)이 있다. 이 재료는 예컨대, 담배 또는 다른 비담배 제품들(non-tobacco products)일 수 있으며, 이는 니코틴을 보유하거나 보유하지 않을 수 있다.
본 개시내용의 제1 양태에 따르면, 에어로졸 가능 매체를 포함하는 물품을 수용하도록 구성된 리셉터클(receptacle), 전자기 복사를 리셉터클 내로 방출하도록 구성된 방출기(emitter), 및 리셉터클 내의 물품과의 상호작용 후에 전자기 복사를 수신하도록 구성된 수신기(receiver)를 포함하는 에어로졸 제공 디바이스가 제공된다. 디바이스는, 수신기에 의해 수신된 전자기 복사의 공간적 특징에 기초하여 물품의 적어도 하나의 특성을 결정하도록 구성되는 제어 전자 기기(control electronics)를 더 포함한다.
본 개시내용의 제2 양태에 따르면, 물품이 제공되고, 물품은 에어로졸 가능 매체 및 물품의 외부 표면에 배열된 구성요소를 포함하며, 구성요소는 전자기 복사와 상호작용하여 전자기 복사의 공간적 특징을 변경시키도록 구성된다.
본 개시내용의 제3 양태에 따르면, 제1 양태에 따른 에어로졸 제공 디바이스 및 제2 양태에 따른 물품을 포함하는 시스템이 제공된다.
본 발명의 추가의 특징들 및 이점들은, 첨부된 도면들을 참조하여 이루어지고 단지 예로서 주어진 본 발명의 바람직한 실시예들에 대한 하기의 설명으로부터 명백해질 것이다.
도 1은 에어로졸 제공 디바이스의 일 예의 사시도를 도시한다.
도 2는 도 1의 예시적인 에어로졸 제공 디바이스의 평면도를 도시한다.
도 3은 도 1의 예시적인 에어로졸 제공 디바이스의 단면도의 개략적인 표현을 도시한다.
도 4는 전자기 복사의 반사 각도에 기초하여 물품의 적어도 하나의 특성을 결정하기 위한 제1 예시적인 배열의 개략적인 표현을 도시한다.
도 5는 전자기 복사의 반사 각도에 기초하여 물품의 적어도 하나의 특성을 결정하기 위한 제2 예시적인 배열의 개략적인 표현을 도시한다.
도 6은 전자기 복사의 반사 각도에 기초하여 물품의 적어도 하나의 특성을 결정하기 위한 제3 예시적인 배열의 개략적인 표현을 도시한다.
도 7은 도 6의 일부분의 확대의 개략적인 표현을 도시한다.
도 8은 전자기 복사의 강도 분포에 기초하여 물품의 적어도 하나의 특성을 결정하기 위한 제4 예시적인 배열의 개략적인 표현을 도시한다.
도 9는 회절을 겪는 전자기 복사의 개략적인 표현을 도시한다.
도 10은 전자기 복사의 강도 분포에 기초하여 물품의 적어도 하나의 특성을 결정하기 위한 제5 예시적인 배열의 개략적인 표현을 도시한다.
도 11은 전자기 복사의 편광 상태에 기초하여 물품의 적어도 하나의 특성을 결정하기 위한 제6 예시적인 배열의 개략적인 표현을 도시한다.
도 12는 정렬 피처들(alignment features)을 포함하는 제7 예시적인 배열의 개략적인 표현을 도시한다.
도 13은 정렬 피처들을 포함하는 제8 예시적인 배열의 개략적인 표현을 도시한다.
도 2는 도 1의 예시적인 에어로졸 제공 디바이스의 평면도를 도시한다.
도 3은 도 1의 예시적인 에어로졸 제공 디바이스의 단면도의 개략적인 표현을 도시한다.
도 4는 전자기 복사의 반사 각도에 기초하여 물품의 적어도 하나의 특성을 결정하기 위한 제1 예시적인 배열의 개략적인 표현을 도시한다.
도 5는 전자기 복사의 반사 각도에 기초하여 물품의 적어도 하나의 특성을 결정하기 위한 제2 예시적인 배열의 개략적인 표현을 도시한다.
도 6은 전자기 복사의 반사 각도에 기초하여 물품의 적어도 하나의 특성을 결정하기 위한 제3 예시적인 배열의 개략적인 표현을 도시한다.
도 7은 도 6의 일부분의 확대의 개략적인 표현을 도시한다.
도 8은 전자기 복사의 강도 분포에 기초하여 물품의 적어도 하나의 특성을 결정하기 위한 제4 예시적인 배열의 개략적인 표현을 도시한다.
도 9는 회절을 겪는 전자기 복사의 개략적인 표현을 도시한다.
도 10은 전자기 복사의 강도 분포에 기초하여 물품의 적어도 하나의 특성을 결정하기 위한 제5 예시적인 배열의 개략적인 표현을 도시한다.
도 11은 전자기 복사의 편광 상태에 기초하여 물품의 적어도 하나의 특성을 결정하기 위한 제6 예시적인 배열의 개략적인 표현을 도시한다.
도 12는 정렬 피처들(alignment features)을 포함하는 제7 예시적인 배열의 개략적인 표현을 도시한다.
도 13은 정렬 피처들을 포함하는 제8 예시적인 배열의 개략적인 표현을 도시한다.
본 개시내용의 제1 양상은 가열을 위해 에어로졸 가능 매체, 이를 테면, 담배를 포함하는 물품을 수용할 수 있는 리셉터클을 포함하는 에어로졸 제공 디바이스를 규정한다. 사용자는, 에어로졸을 발생시키기 위해 물품이 가열되기 전에 물품을 에어로졸 제공 디바이스에 삽입할 수 있으며, 후속하여 사용자는 에어로졸을 흡입한다. 물품은, 예컨대, 물품을 수용하도록 크기가 정해진 리셉터클 내에 배치되도록 구성되는 미리 정해진 또는 특정 크기일 수 있다. 일 예에서, 물품은 본질적으로 튜브형이고, "담배 스틱(tobacco stick)"으로서 알려져 있을 수 있는데, 예컨대, 에어로졸 가능 매체는 특정 형상으로 형성된 담배를 포함할 수 있으며, 그런 다음, 이 담배는 하나 이상의 다른 재료들, 이를 테면, 종이 또는 포일로 코팅되거나 또는 래핑된다. 다른 예에서, 물품은 평탄한 기재일 수 있다. 에어로졸 가능 매체는 또한, 흡연가능 재료 또는 에어로졸 가능 재료로서 알려져 있을 수 있다. 에어로졸 제공 디바이스는 또한 에어로졸 생성 장치로서 알려져 있을 수 있다.
디바이스가 물품의 적어도 하나의 특성을 결정함으로써 디바이스에 도입된 특정 물품을 식별하거나 인식할 수 있는 것이 바람직할 수 있다. 예컨대, 디바이스는 특정 유형의 물품(예컨대, 크기, 형상, 특정 에어로졸 가능 재료 등 중 하나 이상)에 대해 최적화될 수 있다. 디바이스가 상이한 특징들을 갖는 물품과 함께 사용되는 것은 바람직하지 않을 수 있다. 디바이스가 디바이스에 도입된 특정 물품 또는 적어도 일반적인 유형의 물품을 식별하거나 인식할 수 있다면, 이는 디바이스와 함께 사용되는 위조품(counterfeit) 또는 다른 비순정 물품들(non-genuine articles)을 제거하거나 또는 적어도 감소시키는 것을 도울 수 있다. 게다가, 디바이스가 특정 물품에 적합한 방식으로 동작될 수 있도록 특정 물품을 식별하는 것이 바람직할 수 있다. 예컨대, 특정 가열 온도, 가열 프로파일 또는 가열 길이가 리셉터클 내로 도입되는 특정 물품에 응답하여 선택될 수 있다. 위조 물품들은 디바이스를 손상시키고, 그리고/또는 사용자 만족을 감소시킬 수 있는 열등한 에어로졸 가능 재료들을 포함할 수 있다; 리셉터클 내로 도입되는 물품이 공지되지 않았거나, 디바이스가 예를 들어, 디바이스 내의 가열기를 불능이되게 함(disabling)으로써 가열되는 것이 방지될 수 있는 경우.
본원에 설명된 예시적인 물품들은 위조 물품들을 제조하는 것을 더 어렵게 만들 수 있는데, 이는 예시적인 물품들이 물품을 식별하기 위해 측정될 수 있는 전자기 복사의 공간적 특징을 변경시키기 위해 전자기 복사와 상호작용하는 구성요소를 포함하기 때문이다. 일단 공간적 특징이 구성요소와의 상호작용에 의해 변화되면, 디바이스의 방출기는 물품 상으로 전자기 복사를 방출하고, 수신기는 물품으로부터 전자기 복사를 수신한다. 구성요소의 특정한 치수들 및 피처들은 전문화된 장비의 사용 없이 추정하고 복제하기 어려울 수 있어, 보안을 개선시키고 그리고 위조를 더 어렵게 만든다.
본원에 설명된 예시적인 에어로졸 제공 디바이스는, 에어로졸 가능 매체를 포함하는 물품을 수용하도록 구성된 리셉터클, 전자기 복사를 리셉터클 내로 방출하도록 구성된 방출기, 리셉터클 내의 물품과의 상호작용 후에 전자기 복사를 수신하도록 구성된 수신기, 및 수신기에 의해 수신된 전자기 복사의 공간적 특징에 기초하여 물품의 적어도 하나의 특성을 결정하도록 구성되는 제어 전자 기기를 포함한다.
수신된 전자기 복사의 공간적 특징을 결정하는 제어 전자 기기를 제공함으로써, 물품의 특성이 추정될 수 있다. 예를 들어, 물품의 유형 또는 에어로졸 가능 재료의 유형은 측정된 복사의 공간적 특징에 기초하여 결정될 수 있다. 일 예에서, 공간적 특징이 결정되면, 룩업 테이블이 물품의 적어도 하나의 특성을 결정하는데 사용된다.
공간적 특징은 전자기 복사가 수신기에 의해 수신되는 각도일 수 있다. 예를 들어, 수신기 및/또는 제어 전자 기기는 전자기 복사가 수신기에 의해 수신되는 각도를 결정하는 데 사용될 수 있다. 따라서, 각각의 물품은 전자기 복사가 특정 양만큼 편향되어 복사가 특정 각도로 수신되게 하도록 구성될 수 있다. 상이한 유형의 물품은, 상이한 양만큼 전자기 복사를 편향시킬 수 있다. 이에 따라, 전자기 복사가 수신되는 각도는 물품을 식별하기 위한 시그니처(signature)로서 사용될 수 있다.
수신기는 이미지 센서를 포함할 수 있으며, 제어 전자 기기는 이미지 센서에서 수신된 전자기 복사에 기초하여, 전자기 복사가 수신되는 각도를 결정하도록 구성된다. 따라서, 단일의 이미지 센서는 수신된 전자기 복사의 하나 이상의 상이한 각도들을 검출할 수 있다. 단일 센서를 사용함으로써, 디바이스는 제조하기에 보다 콤팩트하고, 가벼우며 그리고/또는 보다 저렴할 수 있다.
본원에 설명되는 이미지 센서들은 가시광, 적외선 또는 자외선과 같은 임의의 파장의 전자기 복사를 검출할 수 있다. 이미지 센서는, 예를 들어, CCD 또는 CMOS 센서일 수 있다.
수신기는 복수의 이미지 센서들을 포함할 수 있고, 제어 전자 기기는 복수의 이미지 센서들 중 어느 것이 전자기 복사를 수신하는지에 기초하여, 전자기 복사가 수신되는 각도를 결정하도록 구성된다. 이는, 특정 이미지 센서들이 입사 복사의 각도(angle of the incident radiation)에 따라 조명되기 때문이다. 이러한 방법은, 복수의 이미지 센서들 중 어느 것이 가장 높은 강도를 경험하는지를 검사함으로써, 각도를 결정하기 위한 간단한 방식을 제공할 수 있다. 따라서, 다수의 이미지 센서들은 수신된 전자기 복사의 각도를 결정하는 데 사용될 수 있다. 예시적인 이미지 센서는 포토다이오드(photodiode)이다. 2차원 어레이와 같은 복수의 포토다이오드들은 CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor) 이미지 센서 또는 CCD(Charge Coupled Device) 이미지 센서의 일부를 형성할 수 있다.
일 예에서, 복수의 센서들은 디바이스 내의 상이한 포지션들에 배열되고, 물품은 물품이 어떻게 구성 및 배열되는지에 따라 전자기 복사가 센서들 중 하나를 향해 편향되게 한다. 예를 들어, 제1 물품은 제1 센서에 의해 복사가 수신되게 하는 제1 각도로 배향되는 반사 표면을 포함할 수 있다. 제2 물품은 제2 센서에 의해 복사가 수신되게 하는 상이한 제2 각도로 배향되는 반사 표면을 포함할 수 있다. 따라서, 전자기 복사가 수신되는 각도는, 복수의 이미지 센서들 중 어느 것이 전자기 복사를 수신하는지에 기초하여 결정될 수 있다.
다른 예에서, 복수의 이미지 센서들의 각각의 이미지 센서는 임계 입사각(threshold angle of incidence)을 갖는 전자기 복사를 통과시키도록 구성되는 필터를 포함한다. 예를 들어, 전자기 복사는 센서에 수직인 축으로부터 특정 각도(입사각으로 알려짐)로 복수의 이미지 센서들에 입사될 수 있다. 제1 필터(입사각의 제1 임계치 또는 범위를 가짐)는 제1 이미지 센서 위에 포지셔닝되고 그리고 제1 이미지 센서가 미리 정해진 입사각 또는 입사각들의 범위, 예를 들어, 제1 미리 정해진 입사각의 약 ±5°, ±10°, ±15° 또는 ±20°의 전자기 복사만을 검출하도록 전자기 복사를 필터링한다. (입사각의 상이한 제2 임계치 또는 범위를 갖는) 제2 필터는 제2 이미지 센서 위에 포지셔닝되고 그리고 제2 이미지 센서가 미리 정해진 입사각 또는 입사각들의 범위, 예를 들어, 제2 미리 정해진 입사각의 약 ±5°, ±10°, ±15° 또는 ±20°의 전자기 복사만을 검출하도록 전자기 복사를 필터링한다. 따라서, 이미지 센서가 전자기 복사를 검출하는 것에 기초하여, 전자기 복사가 수신되는 각도가 결정될 수 있다. 임계치는 일부 예들에서 각도들의 범위일 수 있다.
공간적 특징은 전자기 복사의 강도 분포일 수 있다. 예를 들어, 수신기 및/또는 제어 전자 기기는 수신된 복사의 강도 분포를 결정하는 데 사용될 수 있다. 따라서, 각각의 물품은 특정 강도 분포를 발생시키기 위해 전자기 복사가 산란/회절되게 하도록 구성될 수 있다. 상이한 유형의 물품은 상이한 강도 분포를 발생시킬 수 있다. 이에 따라, 강도 분포는 물품을 식별하기 위한 시그니처로서 사용될 수 있다. 강도 분포는, 예를 들어, 회절 패턴일 수 있다.
수신기는 이미지 센서를 포함할 수 있으며, 제어 전자 기기는 이미지 센서에서 수신된 전자기 복사에 기초하여, 강도 분포를 결정하도록 구성된다. 따라서, 단일의 이미지 센서가 강도 분포를 검출할 수 있다. 단일 센서를 사용함으로써, 디바이스는 제조하기에 보다 콤팩트하고, 가벼우며 그리고/또는 보다 저렴할 수 있다.
일 예에서, 이미지 센서는 복수의 포토다이오드들을 포함하고, 제어 전자 기기는 복수의 포토다이오드들에 의해 기록되는 강도 측정들에 기초하여, 강도 분포를 결정하도록 구성된다. 예를 들어, 이미지 센서는 포토다이오드들의 어레이(array)를 포함할 수 있으며, 그리고 특정 포토다이오드들은 다른 포토다이오드들보다 더 큰 강도의 전자기 복사를 수신한다. 이러한 강도 측정들에 기초하여, 강도 분포가 결정될 수 있다. 예를 들어, 고강도 측정들 사이의 간격이 물품을 식별하기 위한 시그니처로서 사용될 수 있다. 다른 예에서, 고강도 최대값들(high intensity maxima)의 수 또는 카운트가 물품을 식별하는 데 사용될 수 있다. 추가의 예에서, 고강도 최대값들의 개별적인 최대값들 사이의 강도들의 비율이 물품을 식별하는 데 사용될 수 있다.
일 예에서, 수신기는 복수의 이미지 센서들을 포함하고, 제어 전자 기기는 복수의 이미지 센서들 각각에 의해 수신된 전자기 복사의 강도에 기초하여 강도 분포를 결정하도록 구성된다. 따라서, 다수의 이미지 센서들이 강도 분포를 결정하는 데 사용될 수 있다. 일부 이미지 센서들은 다른 이미지 센서들과 비교할 때 더 큰 강도의 전자기 복사를 검출할 수 있다. 이러한 강도 측정들에 기초하여, 강도 분포가 결정될 수 있다.
공간적 특징은 전자기 복사의 편광 상태(polarization state)일 수 있다. 예를 들어, 수신기 및/또는 제어 전자 기기는 수신기에 의해 수신된 전자기 복사의 편광 상태를 결정하는 데 사용될 수 있다. 따라서, 물품은 전자기 복사의 편광 상태를 제1 편광 상태로부터 제2 편광 상태로 변경시키도록 구성될 수 있다. 상이한 유형의 물품은 제1 편광 상태를 제3 편광 상태로 변경시킬 수 있다. 이에 따라, 편광 상태는 물품을 식별하기 위한 시그니처로서 사용될 수 있다.
방출기는 예를 들어, 초기 편광 상태, 이를테면 원형 편광, 선형 편광, 타원형 편광을 갖거나 또는 편광을 갖지 않는 전자기 복사를 방출할 수 있다. 편광 상태는 규정된 방향, 이를테면 좌측/우측 원형 편광, 수직/대각선/수평 선형 편광 등을 더 가질 수 있다. 편광이 없는 전자기 복사는 전자기 복사가 양호하게 규정된 편광(well-defined polarisation)을 갖지 않는다는 것을 의미한다.
수신기는 센서를 포함할 수 있으며, 제어 전자 기기는 수신된 전자기 복사에 기초하여 편광 상태를 결정하도록 구성된다. 따라서, 단일 센서는 상이한 편광들을 구별할 수 있다.
센서는, 예를 들어, 이미지 센서일 수 있다. 일 예에서, 이미지 센서는 연관된 편광 필터를 각각 가지는 복수의 포토다이오드들을 포함한다. 제어 전자 기기는, 복수의 포토다이오드들 중 어느 것이 전자기 복사를 수신하는지에 기초하여, 편광 상태를 결정하도록 구성된다. 따라서, 특정 포토다이오드들은, 연관된 편광 필터가 특정 편광 상태가 통과할 수 있게 하는 경우에만, 전자기 복사를 검출할 수 있다. 예를 들어, 전자기 복사는 제1 편광 상태로 복수의 포토다이오드들에 입사될 수 있다. 제1 편광 필터는 제1 포토다이오드가 전자기 복사를 검출하도록 전자기 복사가 통과하는 것을 허용할 수 있으며, 그리고 제2 편광 필터는 제2 포토다이오드가 전자기 복사를 검출하지 않도록 전자기 복사를 차단, 반사 및/또는 흡수할 수 있다. 따라서, 포토다이오드가 전자기 복사를 검출하는 것에 기초하여, 편광 상태가 결정될 수 있다.
수신기는 특정 편광 상태의 전자기 복사를 수신하도록 각각 구성되는 복수의 센서들을 포함할 수 있고, 제어 전자 기기는 복수의 센서들 각각에 의해 수신된 전자기 복사의 강도에 기초하여, 편광 상태를 결정하도록 구성된다. 예를 들어, 각각의 센서는, 센서가 단일 센서의 포토다이오드들에 대해 전술된 것과 동일한 방식으로 특정 편광의 복사를 수신하는 것을 허용하도록 편광 필터를 포함할 수 있다. 다수의 센서들을 사용하는 것은, 개별적인 포토다이오드 편광 필터들과 비교할 때 제조하기에 더 저렴할 수 있다. 그러나, 단일 센서를 사용함으로써, 디바이스는 더 콤팩트하고 그리고/또는 더 가벼워질 수 있다.
에어로졸 제공 디바이스는 가열 조립체를 더 포함할 수 있고, 제어 전자 기기는 물품의 결정된 적어도 하나의 특성에 기초하여 가열 조립체를 작동시키도록 구성된다. 이에 따라, 특정 가열 프로파일, 가열 온도 및/또는 가열 지속 기간은 검출된 물품의 유형에 따라 제공될 수 있다.
에어로졸 제공 디바이스는, 물품이 방출기에 대해 미리 정해진 배향으로 리셉터클 내에 수용되는 것을 보장하기 위해 정렬 피처(alignment feature)를 더 포함할 수 있다. 이에 따라, 정렬 피처는 사용자가 물품을 정확하게 삽입하는 것을 보장해서, 방출기가 정확한 포지션의 물품 상으로 복사를 방출할 수 있다. 물품이 부정확하게 배향된다면, 수신기는 어떠한 전자기 복사도 수신하지 않을 수 있거나, 제어 전자 기기는 물품의 적어도 하나의 특성을 부정확하게 결정할 수 있다. 예를 들어, 오정렬된 물품은, 전자기 복사가 의도된 것과 상이한 각도로 수신기에 의해 수신되게 할 수 있다.
상기에서 간단히 언급된 바와 같이, 예시적인 에어로졸 생성 물품은 에어로졸 가능 매체 및 물품의 외부 표면에 배열된 구성요소를 포함하며, 구성요소는 전자기 복사와 상호작용하여 전자기 복사의 공간적 특징을 변경시키도록 구성된다. 따라서, 구성요소는, 전자기 복사가 디바이스의 수신기에 의해 검출될 수 있는 특정 공간적 특징을 가지는 것을 유발시킬 수 있다. 공간적 특징은 물품을 식별하기 위한 시그니처로서 사용될 수 있다.
구성요소는 미리 정해진 각도로 배향된 반사 표면을 포함할 수 있으며, 공간적 특징은 전자기 복사가 반사 표면에 의해 편향되는 각도일 수 있다. 따라서, 물품은 전자기 복사가 수신기에 의해 특정 각도로 수신되게 하는 반사 표면을 포함한다. 공간적 특징을 변경시킴으로써, 반사 표면은 복사가 반사되게 함으로써 방출기에 의해 방출되는 전자기 복사의 궤적을 바꾸도록 구성된다.
반사 표면은 실질적으로 평탄할(즉, 2차원) 수 있다. 반사 표면은 입사 전자기 복사를 적어도 부분적으로 포커싱하기 위해 적어도 부분적으로 오목할 수 있다. 일부 예들에서, 반사 표면의 일부는 전자기 복사를 반사한다. 반사 표면은 (디바이스의 대응하는 정렬 피처와 협동하기 위해) 정렬 피처를 형성하여, 물품이 특정 배향에서 리셉터클 내로 삽입되는 것을 보장할 수 있다.
반사 표면은, 물품의 외부 표면의 적어도 일부를 형성할 수 있다. 예를 들어, 물품의 외부 표면의 적어도 일부에는 반사 재료 또는 코팅이 제공될 수 있다.
구성요소는 전자기 복사가 통과할 수 있는 투과 표면(transparent surface)을 더 포함할 수 있으며, 투과 표면은 물품의 외부 표면의 적어도 일부를 형성한다. 반사 표면은 투과 표면의 내측방에 포지셔닝된다. 따라서, 반사 표면은 투과 표면보다 물품의 중심에 더 근접하게 배열될 수 있다. 입사 전자기 복사는 투과 표면을 통과하고, 반사 표면으로부터 반사하고, 그리고 수신기에 의해 수신되기 전에 투과 표면을 통해 다시 통과(또는 다른 투과 표면을 통과)할 수 있다.
투과 표면은 평탄하거나 만곡될 수 있거나, 물품의 코너 주위로 연장될 수 있다. 투과 표면은 정렬 피처를 형성할 수 있다.
공간적 특징은 전자기 복사의 강도 분포일 수 있으며, 그리고 구성요소는 전자기 복사의 강도 분포를 변경시키도록 구성되는 격자 표면(grating surface)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 방출기에 의해 방출된 전자기 복사는 제1 강도 분포를 가질 수 있으며, 그리고 격자 표면은 복사와 상호작용하여 강도 분포를 제2 강도 분포로 변경시키도록 구성된다. 전자기파의 강도는 단위 면적당 전력으로서 규정될 수 있다.
제1 강도 분포는, 예를 들어, 점형(point-like) 강도 분포일 수 있다. 제2 강도 분포는, 예를 들어, 회절 패턴일 수 있으며, 여기서 패턴은 고강도 및 저강도 구역들을 포함한다. 따라서, 격자는 회절 격자일 수 있다. 회절 격자는 반사성 또는 투과성일 수 있다. 격자 표면은 미리 정해진 각도로 배향될 수 있다.
구성요소는 또한 전자기 복사가 통과할 수 있는 투과 표면을 포함할 수 있으며, 투과 표면은 물품의 외부 표면의 적어도 일부를 형성하며, 그리고 격자 표면은 투과 표면의 내측방에 포지셔닝된다.
격자 표면은, 특정 형태의 강도 분포를 생성하기 위해, 상이한 방향들로 이동하는 복수의 빔들로 전자기 복사를 분할시키고 회절시키기 위해 하나 이상의 슬릿들(slits) 또는 홈들(grooves)을 포함할 수 있다. 대안적으로, 격자 표면은 전자기 복사를 산란시키고 회절시키기 위해 하나 이상의 융기된 돌출부들(raised protrusions)을 포함할 수 있다. 격자 표면의 피처들, 및 특히 이들 피처들 사이의 정확한 간격은 강도 분포가 미리 정해진 패턴을 가지는 것을 유발한다. 간격들은 본질적으로 작으며, 이는 잠재적인 위조범들이 복제하는 것을 어렵게 할 수 있다.
특정 예에서, 구성요소는 물품의 외부 표면의 적어도 일부를 형성하며, 구성요소는 격자 표면을 형성하기 위해 미리 정해진 표면 거칠기(surface roughness)를 갖는다. 예를 들어, 물품의 외부 표면은 종이와 같은 래핑 재료(wrapping material)에 의해 제공될 수 있고, 래핑 재료의 적어도 일부는 격자 표면을 형성할 수 있다. 이들 재료들은 제조하기에 비교적 저렴할 수 있다.
공간적 특징은 전자기 복사의 편광 상태일 수 있으며, 그리고 구성요소는 전자기 복사의 편광 상태를 변경시키도록 구성되는 편광 요소를 포함할 수 있다.
방출기는 원형 편광, 선형 편광, 타원형 편광을 갖거나 편광을 갖지 않는 제1 편광 상태를 갖는 전자기 복사를 방출할 수 있으며, 그리고 편광 요소는 편광 상태를 제2 편광 상태로 변경시키도록 구성된다.
일 예에서, 편광 요소는 렌즈 또는 필터이다. 일 예에서, 편광 요소는, 미리 정해진 선형 편광을 갖는 복사만이 통과하는 것을 허용하는 선형 필터일 수 있다. 복사가 처음에 비편광(unpolarised)이었다면, 복사는 선형 필터를 통과한 후에 선형 편광이 될 것이다. 다른 예에서, 편광 요소는, 미리 정해진 원형 편광을 갖는 복사만이 통과하는 것을 허용하는 원형 필터(circular filter)일 수 있다. 복사가 처음에 비편광이었거나 선형 편광이었다면, 복사는 원형 필터를 통과한 후에 원형 편광이 될 것이다.
물품의 외부 표면은, 물품이 에어로졸 제공 디바이스 내에 미리 정해진 배향으로 포지셔닝되는 것을 보장하기 위해 정렬 피처를 포함할 수 있다. 물품의 정렬 피처는 디바이스의 대응하는 정렬 피처와 상호작용할 수 있다.
일 예에서, 정렬 피처는 삽입을 제한하는 물리적인 피처가 아니라, 물품을 삽입하는 방법을 사용자에게 알리기 위한 시각적 마커(visual marker)이다. 다른 예에서, 물품은 사용자가 물품을 정확하게 삽입하는 것을 보장하기 위해 특정 프로파일을 가질 수 있다. 일 예에서, 물품은 비대칭 외부 프로파일을 갖는다.
전자기 복사는 단색(monochromatic) 또는 다색(polychromatic)일 수 있다. 따라서, 방출기 및/또는 수신기는 단색 또는 다색 복사를 방출하고 수신하도록 구성될 수 있다.
수신기는 제어 전자 기기, 또는 제어 전자 기기의 일부 구성요소들을 포함할 수 있다. 대안적으로, 제어 전자 기기는 수신기로부터 분리될 수 있다. 제어 전자 기기는, 예를 들어, 프로세서와 같은 제어기일 수 있다.
도 1은 에어로졸 가능 매체로부터 에어로졸을 생성시키기 위한 예시적인 디바이스(100)를 도시한다. 디바이스(100)는 에어로졸 제공 디바이스로서 알려져 있을 수 있다. 대략적으로, 디바이스(100)는 에어로졸 가능 매체를 포함하는 교체 가능 물품(110)을 가열하여 디바이스(100)의 사용자에 의해 흡입되는 에어로졸 또는 다른 흡입 가능 매체를 생성하기 위해 사용될 수 있다. 도 2는 디바이스(100)의 평면도를 도시한다.
디바이스(100)는 디바이스(100)의 다양한 구성요소들을 수용하는 하우징(housing)(102)을 포함한다. 하우징(102)은 일 단부에 개구(104)를 가지며, 이 개구를 통해 물품(110)은 리셉터클, 공동 또는 챔버 내로 삽입될 수 있다. 사용 시에, 물품(110)은 리셉터클 내로 완전히 또는 부분적으로 삽입될 수 있다. 리셉터클은 가열 조립체(도 3에 도시됨)에 의해 가열될 수 있다. 디바이스(100)는 또한, 물품이 제자리에 있지 않을 때 개구(104)를 덮기 위한 덮개 또는 캡(106)을 포함할 수 있다. 도 1 및 도 2에서, 캡(106)은 개방 구성으로 도시되어 있지만, 캡(106)은, 예컨대 슬라이딩에 의해 폐쇄 구성으로 이동할 수 있다.
디바이스(100)는 가압될 때 디바이스(100)를 작동시키는 버튼 또는 스위치와 같은 사용자 작동 가능 제어 요소(108)를 포함할 수 있다. 사용 시에, 디바이스(100)가 버튼(108)을 사용하여 스위치 온될 때, 전원(예컨대, 디바이스(100) 내의 배터리)으로부터의 전력이 가열 조립체와 같은 디바이스의 다양한 구성요소들에 공급되어서, 물품(110)이 가열되고 에어로졸의 유동이 생성된다.
도 3은 도 1에 도시된 디바이스(100)의 단면도의 개략적인 표현을 도시한다. 디바이스(100)는 가열될 물품(110)을 수용하도록 구성된 리셉터클 또는 챔버(112)를 갖는다. 일 예에서, 리셉터클(112)은 일반적으로, 중공 원통형 튜브의 형태이고, 이 중공 원통형 튜브에는, 에어로졸 가능 매체를 포함하는 물품(110)이 사용시 가열을 위해 삽입된다. 그러나, 리셉터클(112)에 대한 상이한 배열들이 가능하다. 도 3의 예에서, 에어로졸 가능 매체를 포함하는 물품(110)이 리셉터클(112) 내에 삽입되어 있다. 이 예에서 물품(110)은 세장형의 원통형 로드이지만, 물품(110)은 임의의 적절한 형상을 취할 수 있다. 이 예에서, 물품(110)의 일 단부는, 사용자가 사용시 물품(110)을 통해 에어로졸을 흡입할 수 있도록 하우징(102)의 개구(104)를 통해 디바이스(100) 밖으로 돌출된다. 디바이스(100)로부터 돌출된 물품의 단부는 필터 재료를 포함할 수 있다. 다른 예들에서, 물품(110)은, 디바이스(100) 밖으로 돌출되지 않도록 리셉터클(112) 내에 완전히 수용된다. 그러한 경우에, 사용자는 개구(104)로부터 직접적으로, 또는 개구(104) 주위의 하우징(102)에 연결될 수 있는 마우스피스를 통해 에어로졸을 흡입할 수 있다.
디바이스(100)는 하나 이상의 에어로졸 생성 요소들을 포함한다. 일 예에서, 에어로졸 생성 요소들은 리셉터클(112) 내에 위치된 물품(110)을 가열하도록 배열된 가열기 조립체(120)의 형태이다. 일 예에서, 가열기 조립체(120)는, 그들에 전류가 인가될 때 가열되는 저항성 가열 요소들을 포함한다. 다른 예들에서, 가열기 조립체(120)는 유도 가열을 통해 가열되는 서셉터 재료를 포함할 수 있다. 서셉터 재료를 포함하는 가열기 조립체(120)의 예에서, 디바이스(100)는 또한, 가열기 조립체(120)를 관통하는 변화하는 자기장을 생성하는 하나 이상의 유도 요소들을 포함한다. 가열기 조립체(120)는 리셉터클(112) 또는 물품(110)의 내부에 또는 외부에 위치될 수 있다. 일 예에서, 가열기 조립체(120)는 리셉터클(112)의 외부 표면 주위에 래핑된 박막 가열기를 포함할 수 있다. 예컨대, 가열기 조립체(120)는 단일 가열기로서 형성될 수 있거나, 또는 리셉터클(112)의 길이 방향 축을 따라 정렬된 복수의 가열기들로 형성될 수 있다. 리셉터클(112)은 그 리셉터클(112)의 원주 주위에서 환형 또는 관형일 수 있거나, 또는 적어도 부분적으로 환형일 수 있거나 또는 부분적으로 관형일 수 있다. 일 특정 예에서, 리셉터클(112)은 스테인리스 강 지지 튜브에 의해 규정된다. 리셉터클(112)은, 사용시, 물품(110) 내의 실질적으로 에어로졸 가능 매체 전체가 리셉터클(112) 내에 위치되도록 치수가 설정되고, 그에 따라, 실질적으로 에어로졸 가능 매체 전체가 가열될 수 있다. 리셉터클(112)은, 필요에 따라, 에어로졸 가능 매체의 선택된 존들이 독립적으로, 예컨대 차례로(시간이 지남에 따라) 또는 함께(동시에) 가열될 수 있도록 배열될 수 있다.
일부 예들에서, 디바이스(100)는 제어기와 같은 제어 전자 기기(116) 및 배터리와 같은 전원(118)을 포함하는 전자 기기(114)를 포함한다. 제어 전자 기기(116)는, 특히, 리셉터클(112) 내로 도입되는 물품(110)을 식별하도록 구성되는 프로세서 배열체(processor arrangement)를 포함할 수 있으며, 이는 아래에서 더 상세히 설명될 것이다.
전원(118)은, 예컨대, 배터리, 이를테면 충전식 배터리 또는 비-충전식 배터리일 수 있다. 적합한 배터리들의 예들은, 예를 들어, 리튬-이온 배터리, 니켈 배터리(예를 들면, 니켈-카드뮴 배터리), 알칼리 배터리 및/또는 이와 유사한 것을 포함한다. 배터리는, 하나 이상의 가열기들에 전기적으로 커플링되어, 필요할 때 전력을 공급하고 그리고 제어 전자 기기(116)의 제어 하에, 에어로졸 가능 매체를 연소시키지 않으면서 에어로졸 가능 매체를 가열한다. 가열기 조립체(120)에 대해 인접하게 전원(118)을 위치시키는 것은, 디바이스(100) 전체를 과도하게 길게 하지 않으면서 물리적으로 큰 전원(118)이 사용될 수 있다는 것을 의미한다. 이해되는 바와 같이, 일반적으로, 물리적으로 큰 전원(118)은 더 큰 용량(즉, 공급될 수 있는 총 전기 에너지, 종종 Amp-시간, Watt-시간 등으로 측정됨)을 가지며, 따라서, 디바이스(100)에 대한 배터리 수명이 더 길어질 것이다.
위에서 언급된 바와 같이, 디바이스(100)가 디바이스(100) 내로 도입된 특정 물품(110)을 식별 또는 인식할 수 있는 것이 때때로 바람직하다. 예컨대, 특히 제어 전자 기기(116)에 의해 제공되는 가열 제어부를 포함하는 디바이스(100)는 종종 물품(110)의 특정 배열을 위해 최적화될 것이다.
이에 따라, 디바이스(100)는 방출기(122) 및 방출기(122)로부터 이격된 수신기(126)를 포함한다. 방출기(122)는 전자기 복사(128)를 리셉터클(112) 내로 방출하도록 구성되고, 수신기는 리셉터클(112) 내의 물품(110)과의 상호작용 후에 전자기 복사(128)를 수신하도록 구성된다.
물품(110)은, 전자기 복사(128)와 상호작용하여 전자기 복사(128)의 공간적 특징을 변경시키도록 구성된 구성요소(124)를 포함한다. 구성요소(124)가 공간적 특징을 변경시키는 방법은 물품(110)에 존재하는 특정 구성요소(124)에 의존할 것이다.
수신기(126)는, 제어 전자 기기와 함께, 수신된 전자기 복사를 검출 및 분석하여 공간적 특징을 결정하도록 구성되며, 이 공간적 특징은 물품(110)의 적어도 하나의 특성을 결정하기 위한 시그니처로서 사용된다. 따라서, 물품(110)의 특성들은 결정된 공간적 특징에 기초하여 결정될 수 있다. 이러한 방식으로, 디바이스(100)는, 물품(110)이 순정인지를 확인하기 위해 물품(110)을 식별할 수 있고, 그리고/또는 물품(110)에 맞춰진 특정 가열 프로파일(110)을 제공할 수 있다.
공간적 특징은, 전자기 복사가 수신기에 의해 수신되는 각도(또는 전자기 복사가 구성요소(124)에 의해 편향되는 각도), 전자기 복사의 강도 분포, 또는 전자기 복사의 편광 상태를 포함할 수 있다. 따라서, 구성요소(124)는 수신된 전자기 복사와 상호작용하고 전자기 복사의 공간적 특징을 바꾼다.
제어 전자 기기(116)는 수신기(126)로부터 신호를 수신하도록 구성된다. 제어 전자 기기(116)는 또한 버튼(108)으로부터 신호를 수신할 수 있고, 수신기(126)로부터 수신된 신호에 응답하여 가열기 조립체(120)를 활성화시킬 수 있다. 제어 전자 기기(116)는 또한, 방출기(122)로 하여금 전자기 복사(128)를 리셉터클(112) 내로 방출하게 하도록 방출기(122)로 신호를 전송하도록 구성될 수 있다. 다른 예들에서, 방출기(122)는 제어 전자 기기(116)로부터의 명령 없이 전자기 복사(128)를 방출할 수 있다. 디바이스(100) 내의 전자 요소들은 파선들로서 묘사된 것으로 도시된, 하나 이상의 연결 요소들(132)을 통해 전기적으로 연결될 수 있다.
도 4는 전자기 복사의 공간적 특징에 기초하여 물품(410)의 적어도 하나의 특성을 결정하기 위한 제1 예시적인 배열을 묘사한다. 도 4는 디바이스(100) 내로 삽입된 물품(410)의 하향식 도면을 도시한다.
디바이스(100)는 방출기(422), 수신기(426) 및 리셉터클(412)을 포함한다. 수신기(426)는 제1 이미지 센서(426a), 제2 이미지 센서(426b) 및 제3 이미지 센서(426c)를 포함하는 복수의 이미지 센서들을 포함한다. 본 예에서, 3개의 이미지 센서들이 있지만, 수신기(426)가 2개 이상의 이미지 센서들을 포함할 수 있다는 것이 이해될 것이다. 본 예에서, 복수의 이미지 센서들은 리셉터클(412) 주위에 원주 방향으로 배열되지만, 다른 예들에서, 복수의 이미지 센서들은 리셉터클(412)의 종축을 따라 수직으로 배열될 수 있다. 수신기(426)는 (도 3에 도시된) 디바이스(100)의 제어 전자 기기(116)에 통신 가능하게 커플링될 수 있다.
물품(410)은 물품의 외부 표면(410a)을 따라 배열된 구성요소(424)를 포함한다. 본 예에서, 구성요소(424)는 미리 정해진 각도(430)로 배향되는 실질적으로 평탄한 반사 표면(424)이다. 복수의 이미지 센서들이 리셉터클(412) 주위에 원주 방향으로 배열되기 때문에, 각도(430)는 방위각(azimuth angle)이다. 복수의 이미지 센서들이 수직으로 배열되는 예들에서, 반사 표면(424)은 리셉터클(412)의 종축에 대해 배향될 수 있다.
반사 표면(424)은, 입사 전자기 복사가 수신기(426)에 대해 특정 각도로 수신기(426)에 의해 수신되도록 미리 정해진 각도로 입사 전자기 복사를 반사하도록 배열된다. 본 예에서, 반사 표면(424)은 특정 각도(430)만큼 배향되며, 이는 전자기 복사가 제3 이미지 센서(426c)를 향해 편향되는 것을 유발시킨다. 따라서, 구성요소(424)는 전자기 복사의 궤적을 변경시키기 위해 전자기 복사와 상호작용한다. 따라서, 수신기(426)는 특정 방향으로부터 전자기 복사를 수신한다.
반사 표면(424)이 상이한 각도로 배향되었다면, 제3 이미지 센서(426c)는 전자기 복사를 수신하지 않았을 수 있다(또는 보다 낮은 강도의 전자기 복사를 수신할 수 있음). 도 5는 다른 물품(510)이 도 4의 동일한 디바이스 내로 삽입되는 예를 도시한다. 물품(510)은, 각도(430)보다 더 작은 상이한 각도(530)로 배향되는 반사 표면(524)을 포함한다. 이에 따라, 반사 표면(524)은, 부적절한 전자기 복사가 도 4의 반사 표면(424)과 비교할 때 상이한 양만큼 편향되는 것을 유발시키며, 그에 따라 전자기 복사가 제1 이미지 센서(426a)에 의해 수신된다. 따라서, 전자기 복사가 수신/편향되는 각도는, 복수의 이미지 센서들 중 어느 것이 반사된 전자기 복사의 가장 높은 강도(highest intensity)를 수신하는지에 기초하여 결정될 수 있다.
특정 예에서, 수신기(426)는 복수의 이미지 센서들 각각에 의해 수신된 전자기 복사의 강도를 측정하고 센서 데이터를 디바이스(100)의 제어 전자 기기(116)로 전송한다. 센서 데이터로부터, 제어 전자 기기는 전자기 복사가 수신기에 의해 수신되는 각도를 결정하거나 추론할 수 있고, 따라서 반사 표면(424, 524)이 배향되는 각도(430, 530)를 유추할 수 있다. 따라서, 제어 전자 기기는 전자기 복사의 공간적 특징에 기초하여 리셉터클(412) 내의 물품(410, 510)을 식별할 수 있다.
유사한 예(묘사되지 않음)에서, 복수의 이미지 센서들 중 각각의 이미지 센서는, 특정 임계 입사각을 갖는 경우, 전자기 복사가 통과하는 것을 허용하는 필터를 포함할 수 있다. 예를 들어, 제1 이미지 센서(426a)는, 제1 임계 각도와 실질적으로 동일한 (또는 보다 작은) 입사각을 갖는 경우, 전자기 복사가 통과하는 것을 허용하는 제1 필터를 포함할 수 있다. 제2 이미지 센서(426b)는, 전자기 복사가 제2 임계 각도와 실질적으로 동일한 (또는 보다 작은) 입사각을 갖는 경우, 전자기 복사가 통과하는 것을 허용하는 상이한 제2 필터를 포함할 수 있다. 제3 이미지 센서(426c)는, 전자기 복사가 제3 임계 각도와 실질적으로 동일한 (또는 보다 작은) 입사각을 갖는 경우, 전자기 복사가 통과하는 것을 허용하는 상이한 제3 필터를 포함할 수 있다.
이러한 배열에서, 방출기는 반사된 전자기 복사가 제1, 제2 및 제3 필터들에 입사하도록 전자기 복사의 넓은 빔을 방출하도록 구성될 수 있다. 반사 표면이 배향되는 각도에 따라, 전자기 복사는 제1, 제2 및 제3 필터들 상에 특정 입사각을 가질 것이다. 그러나, 모든 필터들이, 복사가 대응하는 이미지 센서를 통과하고 그리고 대응하는 이미지 센서에 의해 수신되는 것을 허용하는 임계 각도를 가질 수 없을 것이다. 따라서, 필터들 중 일부는, 대응하는 이미지 센서들이 전자기 복사를 전혀 검출하지 않거나 전자기 복사를 거의 검출하지 않도록 전자기 복사를 필터링할 수 있다. 이에 따라, 전자기 복사가 수신/편향되는 각도는, 복수의 이미지 센서들 중 어느 것이 반사된 전자기 복사의 가장 높은 강도를 수신하는지에 기초하여 결정될 수 있다.
도 6은, 전자기 복사의 공간적 특징에 기초하여 물품(610)의 적어도 하나의 특성을 결정하기 위한 제2 예시적인 배열을 묘사한다. 도 6은 디바이스(100) 내로 삽입된 물품(610)의 하향식 도면을 도시한다. 본 예에서, 물품(610)은 실질적으로 정사각형 형상의 단면을 갖는다. 도 7은 도 6의 일부분의 확대를 도시한다.
디바이스(100)는 방출기(622), 수신기(626) 및 리셉터클(612)을 포함한다. 수신기(626)는 복수의 포토다이오드들(632)을 포함하는 단일 이미지 센서를 포함한다. 본 예에서, 방출기(622) 및 수신기(626)는 리셉터클(612)의 종축 주위에 배열되지만, 다른 예들에서, 이들은 리셉터클(612)의 종축을 따라 수직으로 배열될 수 있다. 수신기(626)는 (도 3에 도시된) 디바이스(100)의 제어 전자 기기(116)에 통신 가능하게 커플링될 수 있다.
물품(610)은 물품(610)의 외부 표면(610a)에 배열된 구성요소(624)를 포함한다. 본 예에서, 구성요소(624)는 물품(610)의 코너 주위에 2 차원으로 연장되는 투과 표면(624a)을 포함한다. 투과 표면(624a)은 전자기 복사가 통과할 수 있는 플라스틱과 같은 재료로 제조된다. 투과 표면(624a)은 물품(610)의 외부 표면(610a)의 일부를 형성한다. 구성요소(624)는 투과 표면(624a)의 내측방에 포지셔닝되는 반사 표면(624b)을 더 포함한다. 전자기 복사는 투과 표면(624a)을 통과하고, 반사 표면(624b)으로부터 반사하고, 그리고 투과 표면(624a)을 통해 다시 통과할 수 있다.
반사 표면(624b)은, 입사 전자기 복사가 수신기(626)에 대해 특정 각도로 수신기(626)에 의해 수신되도록 미리 정해진 양으로 입사 전자기 복사를 반사하도록 배열된다. 반사 표면(624b)은 특정 각도(630)만큼 배향되며, 이는 전자기 복사가 특정 포토다이오드(632)를 향해 편향되는 것을 유발시킨다. 반사 표면(624b)으로부터의 전자기 복사의 반사는 실선 화살표들로서 묘사되는 것으로 도시된다.
반사 표면이 상이한 각도로 배향되었다면, 상이한 포토다이오드는 전자기 복사를 수신할 수 있다(또는 보다 높은 강도의 전자기 복사를 수신할 수 있음). 도 6 및 도 7은, 반사 표면(624b)이 상이한, 더 작은 각도로 배열되었다면, 전자기 복사의 궤적이 어떻게 상이한지를 도시한다. 파선들은, 상이하게 배향된 반사 표면 및 전자기 복사의 결과적인 궤적을 묘사한다.
이러한 대안적인 배열에서 각도가 상이하기 때문에, 보다 높은 강도의 전자기 복사가 상이한 포토다이오드에 의해 수신된다. 따라서, 도 7은 반사 표면(624b)이 제1 배향(실선들로 도시됨)으로 배열될 때 가장 높은 강도의 전자기 복사를 수신하는 제1 포토다이오드(632a), 및 반사 표면(624b)이 제2 배향(파선들로서 도시됨)으로 배열될 때 가장 높은 강도의 전자기 복사를 수신하는 제2 포토다이오드(632b)를 도시한다. 따라서, 전자기 복사가 수신/편향되는 각도는, 복수의 포토다이오드들 중 어느 것이 반사된 전자기 복사의 가장 높은 강도를 수신하는지에 기초하여 결정될 수 있다.
특정 예에서, 수신기(626)는 복수의 포토다이오드들 각각에 의해 수신된 전자기 복사의 강도를 측정하고 센서 데이터를 디바이스(100)의 제어 전자 기기(116)로 전송한다. 센서 데이터로부터, 제어 전자 기기는 전자기 복사가 수신기에 의해 수신되는 각도를 결정하거나 추론할 수 있고, 따라서 반사 표면(624b)이 배향되는 각도(630)를 유추할 수 있다. 따라서, 제어 전자 기기는 전자기 복사의 공간적 특징에 기초하여 리셉터클(612) 내의 물품(610)을 식별할 수 있다.
도 8은 전자기 복사의 공간적 특징에 기초하여 물품(810)의 적어도 하나의 특성을 결정하기 위한 제3 예시적인 배열을 묘사한다. 도 8은 디바이스(100) 내로 삽입된 물품(810)의 하향식 도면을 도시한다. 리셉터클(812)이 원형 단면을 갖지만, 리셉터클(812)은 임의의 형상 단면을 가질 수 있다는 것이 이해될 것이다.
디바이스(100)는 방출기(822), 수신기(826) 및 리셉터클(812)을 포함한다. 수신기(826)는 복수의 포토다이오드들(832)을 포함하는 단일 이미지 센서를 포함한다. 본 예에서, 방출기(822) 및 수신기(826)는 리셉터클(812)의 종축 주위에 배열되지만, 다른 예들에서, 이들은 리셉터클(812)의 종축을 따라 수직으로 배열될 수 있다. 수신기(826)는 (도 3에 도시된) 디바이스(100)의 제어 전자 기기(116)에 통신 가능하게 커플링될 수 있다.
물품(810)은 물품의 외부 표면(810a)을 따라 배열된 구성요소(824)를 포함한다. 본 예에서, 구성요소(824)는 전자기 복사의 강도 분포를 변경시키도록 구성되는 격자 표면(824)이다. 예를 들어, 방출기(822)는 격자 표면(824) 상에 점형(point-like) 강도 분포와 같은 제1 강도 분포를 가지는 전자기 복사를 방출한다. 격자 표면(824)은 전자기 복사로 하여금 상이한 제2 강도 분포를 갖는 것을 유발하도록 전자기 복사와 상호작용한다.
격자 표면(824)은, 예를 들어, 거친 표면, 또는 회절 격자일 수 있다. 거친 표면은 물품의 외부 표면(810a)을 완전히 또는 부분적으로 커버하는 재료에 의해 제공될 수 있다. 본 예에서, 격자 표면(824)은 반사형 회절 격자이다.
격자 표면(824)은, 입사 전자기 복사(900)를 산란 및 회절시키는 특정 거리(904)만큼 분리되는 융기 돌출부들(raised protrusions)(도 9에서 가장 명백하게 도시됨)을 포함한다. 회절하는 전자기 복사 파들은, 결과적인 전자기 복사(902)가 보다 높은 강도 및 보다 낮은 강도의 구역들을 포함하는 강도 분포를 갖도록 보강(constructive) 및 상쇄(destructive) 간섭을 겪는다. 이러한 강도 분포는 회절 패턴으로서 알려져 있을 수 있다. 따라서, 격자 표면(824)은 강도 분포를 회절된 전자기 복사(902)의 강도 분포로 변경시키기 위해 입사 전자기 복사(900)와 상호작용한다.
강도 분포는 돌출부들 사이의 간격(904), 입사 전자기 복사(900)의 입사각(906), 및 입사 전자기 복사(900)의 파장에 의존하는 형태를 갖는다. 특정한 유형의 물품들(810)은 특정한 격자 표면(824)을 포함할 수 있다. 이에 따라, 강도 분포는 물품(810)을 식별하기 위한 시그니처로서 사용될 수 있다. 간격(904) 및/또는 입사각(906)을 변경시킴으로써(입사 전자기 복사(900)에 대한 격자 표면(824)의 배향을 변경시킴으로써), 상이한 강도 분포들이 생성될 수 있다.
강도 분포에서의 최대값과 최소값 사이의 간격은 강도 분포를 분류하는 데 사용될 수 있다. 이에 따라, 이들은 측정될 수 있고, 공지된 강도 분포들의 최대값과 최소값 사이의 간격들과 비교될 수 있다. 측정된 강도 분포가 공지된 강도 분포와 일치한다면, 물품이 식별될 수 있다.
특정 예에서, 특정 포토다이오드들(832a, 832b, 832c, 832d)은 이웃하는 포토다이오드들과 비교할 때 강도 분포에서 고강도 구역들을 검출한다. 상이한 격자 표면(824) 및/또는 상이한 입사각(906)은 이웃하는 최대값 사이의 위치들 및/또는 간격을 바꿀 것이다. 이에 따라, 측정된 강도 분포는 리셉터클(812)에 존재하는 물품(810)의 유형을 결정하기 위해 알려진 강도 분포들과 비교될 수 있다.
도 10은, 전자기 복사의 공간적 특징에 기초하여 물품(1010)의 적어도 하나의 특성을 결정하기 위한 제4 예시적인 배열을 묘사한다. 도 10은 디바이스(100) 내로 삽입된 물품(1010)의 하향식 도면을 도시한다. 물품(1010)이 정사각형 단면을 갖지만, 물품(1010)은 임의의 형상 단면을 가질 수 있다는 것이 이해될 것이다.
디바이스(100)는 방출기(1022), 수신기(1026) 및 리셉터클(1012)을 포함한다. 수신기(1026)는 복수의 포토다이오드들(도시되지 않음)을 포함하는 단일 이미지 센서를 포함한다. 본 예에서, 방출기(1022) 및 수신기(1026)는 리셉터클(1012)의 종축 주위에 배열되지만, 다른 예들에서, 이들은 리셉터클(1012)의 종축을 따라 수직으로 배열될 수 있다. 수신기(1026)는 (도 3에 도시된) 디바이스(100)의 제어 전자 기기(116)에 통신 가능하게 커플링될 수 있다.
물품(1010)은, 물품의 외부 표면(1010a)에 배열된 구성요소(1024)를 포함한다. 본 예에서, 구성요소(1024)는 물품(1010)의 코너 주위에 2 차원으로 연장되는 투과 표면(1024a)을 포함한다. 투과 표면(1024a)은 물품(1010)의 외부 표면(1010a)의 일부를 형성한다. 구성요소(1024)는 전자기 복사의 강도 분포를 변경시키도록 구성되는 격자 표면(1024)을 더 포함한다. 본 예에서, 격자 표면(1024)은 투과형 회절 격자이다.
격자 표면(1024)은 특정 거리만큼 분리된 2개 이상의 슬릿들을 포함하며, 이 슬릿들은 입사 전자기 복사가 회절되게 하고 보다 높은 및 보다 낮은 강도의 구역들을 포함하는 강도 분포를 발생시키게 한다.
강도 분포는 슬릿들 사이의 간격, 입사 전자기 복사의 입사각, 및 입사 전자기 복사의 파장에 의존하는 형태를 갖는다. 도 8 및 도 9와 관련하여 설명된 바와 동일한 방식으로, 강도 분포는 물품(1010)을 식별하는 데 사용될 수 있다.
일부 예들에서, 도 8 및 도 9의 수신기들은 복수의 이미지 센서들을 포함할 수 있다. 강도 분포는, 복수의 이미지 센서들 각각에 의해 수신된 전자기 복사의 강도를 (복수의 포토다이오드들에 대해 전술된 바와 유사한 방식으로) 분석함으로써 결정될 수 있다. 예를 들어, 특정 이미지 센서들은 고강도 최대값을 검출하도록 포지셔닝될 수 있고, 다른 이미지 센서들은 저강도 최소값을 검출하도록 포지셔닝될 수 있다.
도 11은 전자기 복사의 공간적 특징에 기초하여 물품(1110)의 적어도 하나의 특성을 결정하기 위한 제5 예시적인 배열을 묘사한다. 도 11은 디바이스(100) 내로 삽입된 물품(1110)의 하향식 도면을 도시한다.
디바이스(100)는 방출기(1122), 수신기(1126) 및 리셉터클(1112)을 포함한다. 방출기(1122)는, 예를 들어 초기 편광 상태, 이를테면 원형 편광, 선형 편광, 타원형 편광을 갖거나 또는 편광을 갖지 않는 전자기 복사를 방출한다. 편광 상태는 규정된 방향, 이를테면 좌측/우측 원형 편광, 수직/대각선/수평 선형 편광 등을 더 가질 수 있다.
수신기(1126)는, 제1 이미지 센서(1126a), 제2 이미지 센서(1126b) 및 제3 이미지 센서(1126c)를 포함하는 복수의 이미지 센서들을 포함한다. 본 예에서, 3개의 이미지 센서들이 있지만, 수신기(1126)가 2개 이상의 이미지 센서들을 포함할 수 있다는 것이 이해될 것이다. 본 예에서, 복수의 이미지 센서들은 리셉터클(1112) 주위에 원주 방향으로 배열되지만, 다른 예들에서, 복수의 이미지 센서들은 리셉터클(1112)의 종축을 따라 수직으로 배열될 수 있다. 수신기(1126)는 (도 3에 도시된) 디바이스(100)의 제어 전자 기기(116)에 통신 가능하게 커플링될 수 있다.
본 예에서, 복수의 이미지 센서들 중 각각의 이미지 센서는, 특정 편광 상태를 가지는 경우, 전자기 복사가 통과하는 것을 허용하는 필터를 포함한다. 예를 들어, 제1 이미지 센서(1126a)는, 제1 편광 상태를 갖는 경우, 전자기 복사가 통과하는 것을 허용하는 제1 필터를 포함할 수 있다. 제2 이미지 센서(1126b)는, 제2 편광 상태를 갖는 경우, 전자기 복사가 통과하는 것을 허용하는 상이한 제2 필터를 포함할 수 있다. 제3 이미지 센서(1126c)는, 제3 편광 상태를 갖는 경우, 전자기 복사가 통과하는 것을 허용하는 상이한 제3 필터를 포함할 수 있다. 그러한 배열에서, 방출기(1122)는 전자기 복사가 물품(1110) 상의 구성요소(1124)와의 상호작용 후에 제1, 제2 및 제3 필터들에 입사하도록 전자기 복사의 넓은 빔을 방출하도록 구성될 수 있다.
물품(1110)은 물품의 외부 표면(1110a)을 따라 배열된 구성요소(1124)를 포함한다. 본 예에서, 구성요소(1124)는 입사 전자기 복사의 편광 상태를 변경시키도록 구성된 편광 요소, 이를테면 렌즈 또는 필터이다.
편광 요소(1124)는 초기 편광 상태를 가지는 입사 전자기 복사를 수신하고, 그 다음, 복사와 상호작용하여 편광 상태를 수신기(1126)에 의해 수신되는 상이한 제2 편광 상태로 변경시키도록 배열된다. 따라서, 수신기(1126)는 편광 요소(1124)의 특정 특성들에 의존하는 제2 편광 상태를 갖는 전자기 복사를 수신한다. 편광 요소(1124)가 상이했다면, 수신기(1126)는 상이한 편광 상태를 갖는 전자기 복사를 수신했을 수 있다. 이에 따라, 수신된 전자기 복사의 편광 상태는 물품(1110)을 식별하기 위한 시그니처로서 사용될 수 있다.
언급된 바와 같이, 전자기 복사는 제1, 제2 및 제3 이미지 센서들(1126a, 1126b, 1126c)의 제1, 제2 및 제3 필터들 상에 입사한다. 특정 예에서, 편광 요소(1124)로부터 도달하는 전자기 복사는 제1 편광 상태를 가지며, 제1 필터는 제1 편광 상태에 대응하는 편광 상태를 갖는 전자기 복사가 통과하는 것을 허용한다. 따라서, 제1 이미지 센서(1126a)는 전자기 복사를 수신 및 검출할 수 있다. 이에 반해, 제2 및 제3 필터들은, 제2 및 제3 편광 상태에 각각 대응하는 편광 상태를 갖는 전자기 복사가 통과하는 것을 허용한다. 따라서, 제2 및 제3 이미지 센서들(1126b, 1126c)은 전자기 복사를 수신 및 검출하지 않는다. 이에 따라, 제어 전자 기기는 복수의 센서들 각각에 의해 수신되는 전자기 복사의 강도에 기초하여, 편광 상태를 결정할 수 있다. 예를 들어, 가장 높은 강도를 기록하는 이미지 센서는 전자기 파의 것과 일치하는 편광 필터를 가지는 것으로 가정될 수 있다.
특정 예에서, 수신기(1126)는 복수의 이미지 센서들 각각에 의해 수신된 전자기 복사의 강도를 측정하고 센서 데이터를 디바이스(100)의 제어 전자 기기(116)로 전송한다. 센서 데이터로부터, 제어 전자 기기는 수신기에 의해 수신된 전자기 복사의 편광 상태를 결정하거나 추정할 수 있고, 따라서 물품(1110)의 특정 구성요소(1124)를 식별할 수 있다. 따라서, 제어 전자 기기는 전자기 복사의 공간적 특징에 기초하여 리셉터클(1112) 내의 물품(1110)을 식별할 수 있다.
유사한 예(묘사되지 않음)에서, 수신기는 예를 들어, 이미지 센서와 같은 단일 센서를 포함한다. 이미지 센서는, 연관된 편광 필터를 각각 가지는 복수의 포토다이오드들을 포함한다. 제어 전자 기기는, 복수의 포토다이오드들 중 어느 것이 전자기 복사를 수신하는지에 기초하여, 편광 상태를 결정하도록 구성된다. 따라서, 특정 포토다이오드들은, 연관된 편광 필터가 특정 편광 상태가 통과할 수 있게 하는 경우에만 전자기 복사를 검출할 수 있다. 예를 들어, 전자기 복사는 제1 편광 상태로 복수의 포토다이오드들에 입사될 수 있다. 제1 편광 필터는 제1 포토다이오드가 전자기 복사를 검출하도록 전자기 복사가 통과하는 것을 허용할 수 있으며, 그리고 제2 필터는 제2 포토다이오드가 전자기 복사를 검출하지 않도록 전자기 복사를 필터링할 수 있다. 따라서, 포토다이오드가 전자기 복사를 검출하는 것에 기초하여, 편광 상태가 결정될 수 있다.
일부 예들(묘사되지 않음)에서, 편광 요소는 전자기 복사가 렌즈를 통과하는 것을 허용하는 렌즈이다. 구성요소는 렌즈의 내측방에 배열되는 반사 표면을 더 포함한다. 이에 따라, 수신기에 의해 수신되기 전에, 복사는 편광 상태를 변경시키기 위해 렌즈를 통과할 수 있고, 반사 표면으로부터 반사되어, 렌즈를 통해 (또는 다른 투과 요소를 통해) 다시 반사될 수 있다.
도 12는 정렬 피처(1260)를 포함하는 물품(1210) 및 대응하는 정렬 피처를 포함하는 리셉터클(1212)을 갖는 예시적인 배열을 묘사한다. 도 12는 디바이스(100) 내로 삽입된 물품(1210)의 하향식 도면을 도시한다. 물품(1210)이 1개의 회전 대칭도를 갖는 특정한 단면을 갖는 것으로 묘사되지만, 물품(1210)은 임의의 형상 단면, 이를테면 1개의 회전 대칭도 또는 2개, 3개, 4개 이상의 회전 대칭도를 갖는 다른 형상들을 가질 수 있다는 것이 이해될 것이다.
디바이스(100)는 방출기(1222), 수신기(1226) 및 리셉터클(1212)을 포함한다. 물품(1210)은, 방출기(1222) 및 수신기(1226)에 대해 정확히 배향되어야 하는 물품의 외부 표면(1210a)을 따라 배열된 구성요소(1224)를 포함한다. 이를 달성하기 위해, 디바이스의 리셉터클(1212)은 물품(1210)의 대응하는 정렬 피처(1260)와 상호작용하도록 정렬 피처(1262)를 포함한다. 이것은, 물품(1210)이 방출기/수신기에 대해 미리 정해진 배향으로 리셉터클(1212) 내에 수신되는 것을 보장한다. 물품이 2개 이상의 회전 대칭도를 갖는 경우, 대응하는 수의 구성요소들은, 물품이 배향되는 대신에 구성요소가 방출기(1222) 및 수신기(1226)에 대해 정확한 배향이도록 포지셔닝된 채 제공될 수 있다.
물품(1210)의 정렬 피처(1260)는 물품의 외부 표면(1210a)에 의해 규정되고, 임의의 형태를 취할 수 있다. 본 예에서, 물품(1260)은 비대칭 단면을 갖는다. 유사하게는, 리셉터클(1212)의 정렬 피처(1262)는 리셉터클(1210)의 내부 표면에 의해 규정된다.
일부 예들에서, 리셉터클 및/또는 물품은, 물품이 2개 이상의 미리 정해진 배향들로 삽입되는 것을 허용하는 2개 이상의 정렬 피처들을 포함한다. 따라서, 그러한 일 예에서, 물품은 물품의 외부 표면에 배열된 2개 이상의 구성요소들을 포함할 수 있으며, 여기서 구성요소는 전자기 복사와 상호작용하여 전자기 복사의 공간적 특징을 변경시키도록 구성된다. 이것은 사용자가 물품을 삽입하기에 보다 많은 자유도를 가지며, 그리고 구성요소들 중 적어도 하나가 방출기 및 수신기와 여전히 정확하게 정렬될 것임을 의미한다.
도 13은 정렬 피처(1360)를 포함하는 물품(1310) 및 대응하는 정렬 피처를 포함하는 리셉터클(1312)을 갖는 다른 예시적인 배열을 묘사한다. 도 13은 디바이스(100) 내로 삽입된 물품(1310)의 하향식 도면을 도시한다. 물품(1310)은 원형 단면을 갖지만, 물품(1310)은 임의의 형상 단면을 가질 수 있다는 것이 이해될 것이다.
디바이스(100)는 방출기(1322), 수신기(1326) 및 리셉터클(1312)을 포함한다. 물품(1310)은, 방출기(1322) 및 수신기(1326)에 대해 정확히 배향되어야 하는 물품의 외부 표면(1310a)을 따라 배열된 구성요소(1324)를 포함한다. 구성요소는, 예를 들어, 반사 표면, 편광 요소, 투과 표면, 또는 격자 표면일 수 있다. 정확한 배향 및 정렬을 달성하기 위해, 디바이스의 리셉터클(1312)은 물품(1310)의 대응하는 정렬 피처(1360)와 상호작용하기 위해 정렬 피처(1362)를 포함한다. 이것은, 물품(1310)이 방출기/수신기에 대해 미리 정해진 배향으로 리셉터클(1312) 내에 수신되는 것을 보장한다. 본 예에서, 반사 표면, 편광 요소, 투과 표면, 또는 격자 표면은 (리셉터클(1312)의 대응하는 정렬 피처(1360)와 협동하기 위해) 정렬 피처를 형성한다.
일 예(도 11에 예시됨)에서, 정렬 피처들은 삽입을 제한하는 물리적인 피처가 아니라, 물품(1110)을 삽입하는 방법을 사용자에게 알리기 위한 시각적 마커들(visual markers)이다. 도 11은 물품(1110) 상에 존재하는 제1 마커(1160), 및 디바이스 상에 존재하는 제2 마커(1162)를 도시한다. 사용자는 이들 2개의 마커들을 정렬해야 하며, 그렇지 않으면 수신기(1126)는 어떠한 전자기 복사 신호도 검출하지 않을 수 있다. 임의의 신호의 부재 시에, 디바이스는 작동을 중단할 수 있고, 사용자에게는 마커들이 정확히 정렬되는 것을 확인하도록 통지될 수 있다.
일부 예들에서, 전술한 식별 방법들은 다른 식별 방법들과 조합하여 사용될 수 있다. 예를 들어, 물품 상의 코팅 또는 구성요소는 물품을 식별하는 데 사용될 수 있는 특정 방식으로 반사된 전자기 복사의 파장을 변경시키도록 구성된다. 예를 들어, 코팅 또는 구성요소는 입사 전자기 복사의 특정 파장들을 흡수할 수 있고, 반사의 파장들을 측정함으로써 소모품의 정체성(identity)이 결정될 수 있다. 대안적으로, 코팅 또는 구성요소는 입사 전자기 복사를 바꿔서 입사 복사에 존재하지 않는 파장들을 (즉, 형광을 통해) 도입할 수 있다. 형광 기술들이 사용될 때, 형광의 감쇄가 또한 측정될 수 있고, 물품의 식별의 일부를 형성하는 데 사용될 수 있다.
상기 실시예들은 본 발명의 예시적인 예들로서 이해되어야 한다. 본 발명의 다른 실시예들이 구상된다. 임의의 하나의 실시예와 관련하여 설명된 임의의 특징은 단독으로, 또는 설명된 다른 특징들과 조합하여 사용될 수 있고, 또한 임의의 다른 실시예들의 하나 이상의 특징들 또는 임의의 다른 실시예들의 임의의 조합과 조합하여 사용될 수 있다는 것이 이해되어야 한다. 더욱이, 첨부된 청구범위에서 규정된 본 발명의 범위로부터 벗어나지 않고 상기에서 설명되지 않은 균등물들 및 변형예들도 또한 이용될 수 있다.
Claims (21)
- 에어로졸 제공 디바이스로서,
에어로졸 가능 매체를 포함하는 물품을 수용하도록 구성된 리셉터클(receptacle);
전자기 복사를 상기 리셉터클 내로 방출하도록 구성되는 방출기(emitter);
상기 리셉터클 내의 물품과의 상호작용 후에 전자기 복사를 수신하도록 구성되는 수신기(receiver); 및
상기 수신기에 의해 수신된 전자기 복사의 공간적 특징에 기초하여 상기 물품의 적어도 하나의 특성을 결정하도록 구성되는 제어 전자 기기(control electronics)를 포함하는,
에어로졸 제공 디바이스. - 제1 항에 있어서,
상기 공간적 특징은 상기 전자기 복사가 상기 수신기에 의해 수신되는 각도인,
에어로졸 제공 디바이스. - 제2 항에 있어서,
상기 수신기는 이미지 센서를 포함하고,
상기 제어 전자 기기는 상기 이미지 센서에서 수신된 전자기 복사에 기초하여, 상기 전자기 복사가 수신되는 각도를 결정하도록 구성되는,
에어로졸 제공 디바이스. - 제2 항에 있어서,
상기 수신기는 복수의 이미지 센서들을 포함하고,
상기 제어 전자 기기는 상기 복수의 이미지 센서들 중 어느 것이 상기 전자기 복사를 수신하는지에 기초하여, 상기 전자기 복사가 수신되는 각도를 결정하도록 구성되는,
에어로졸 제공 디바이스. - 제1 항에 있어서,
상기 공간적 특징은 상기 전자기 복사의 강도 분포인,
에어로졸 제공 디바이스. - 제5 항에 있어서,
상기 수신기는 이미지 센서를 포함하고,
상기 제어 전자 기기는 상기 이미지 센서에서 수신된 전자기 복사에 기초하여, 상기 강도 분포를 결정하도록 구성되는,
에어로졸 제공 디바이스. - 제5 항에 있어서,
상기 수신기는 복수의 이미지 센서들을 포함하고,
상기 제어 전자 기기는 상기 복수의 이미지 센서들 각각에 의해 수신된 상기 전자기 복사의 강도에 기초하여, 상기 강도 분포를 결정하도록 구성되는,
에어로졸 제공 디바이스. - 제1 항에 있어서,
상기 공간적 특징은 상기 전자기 복사의 편광 상태(polarization state)인,
에어로졸 제공 디바이스. - 제8 항에 있어서,
상기 수신기는 센서를 포함하고,
상기 제어 전자 기기는 수신된 전자기 복사에 기초하여, 상기 편광 상태를 결정하도록 구성되는,
에어로졸 제공 디바이스. - 제8 항에 있어서,
상기 수신기는 특정 편광 상태의 전자기 복사를 수신하도록 각각 구성된 복수의 센서들을 포함하고,
상기 제어 전자 기기는 상기 복수의 센서들 각각에 의해 수신된 전자기 복사의 강도에 기초하여, 상기 편광 상태를 결정하도록 구성되는,
에어로졸 제공 디바이스. - 제1 항 내지 제10 항 중 어느 한 항에 있어서,
가열 조립체를 더 포함하며,
상기 제어 전자 기기는 상기 물품의 결정된 적어도 하나의 특성에 기초하여, 상기 가열 조립체를 작동시키도록 구성되는,
에어로졸 제공 디바이스. - 제1 항 내지 제11 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 물품이 상기 방출기에 대해 미리 정해진 배향으로 상기 리셉터클 내에 수용되는 것을 보장하는 정렬 피처(alignment feature)를 더 포함하는,
에어로졸 제공 디바이스. - 물품으로서,
에어로졸 가능 매체; 및
상기 물품의 외부 표면에 배열된 구성요소를 포함하고,
상기 구성요소는 전자기 복사와 상호작용하여 전자기 복사의 공간적 특징을 변경시키도록 구성되는,
물품. - 제13 항에 있어서,
상기 구성요소는 미리 정해진 각도로 배향되는 반사 표면을 포함하고, 상기 공간적 특징은 상기 전자기 복사가 상기 반사 표면에 의해 편향되는 각도인,
물품. - 제14 항에 있어서,
상기 반사 표면은 상기 물품의 외부 표면의 적어도 일부를 형성하는,
물품. - 제14 항에 있어서,
상기 구성요소는 상기 전자기 복사가 통과할 수 있는 투과 표면(transparent surface)을 더 포함하며,
상기 투과 표면은 상기 물품의 외부 표면의 적어도 일부를 형성하고, 상기 반사 표면은 상기 투과 표면의 내측방에 포지셔닝되는,
물품. - 제13 항에 있어서,
상기 공간적 특징은 상기 전자기 복사의 강도 분포이며,
상기 구성요소는 상기 전자기 복사의 강도 분포를 변경시키도록 구성되는 격자 표면(grating surface)을 포함하는,
물품. - 제17 항에 있어서,
상기 구성요소는 상기 물품의 외부 표면의 적어도 일부를 형성하며, 그리고 상기 구성요소는 상기 격자 표면을 형성하기 위해 미리 정해진 표면 거칠기를 갖는,
물품. - 제13 항에 있어서,
상기 공간적 특징은 상기 전자기 복사의 편광 상태이며,
상기 구성요소는 상기 전자기 복사의 편광 상태를 변경시키도록 구성되는 편광 요소를 포함하는,
물품. - 제13 항 내지 제19 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 물품의 외부 표면은, 상기 물품이 에어로졸 제공 디바이스 내에 미리 정해진 배향으로 포지셔닝되는 것을 보장하기 위한 정렬 피처를 포함하는,
물품. - 시스템으로서,
제1 항 내지 제12 항 중 어느 한 항에 따른 에어로졸 제공 디바이스; 및
제13 항 내지 제20 항 중 어느 한 항에 따른 물품을 포함하는,
시스템.
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