KR20220059728A - Shelf unit and mask storing device having the same - Google Patents
Shelf unit and mask storing device having the same Download PDFInfo
- Publication number
- KR20220059728A KR20220059728A KR1020200145257A KR20200145257A KR20220059728A KR 20220059728 A KR20220059728 A KR 20220059728A KR 1020200145257 A KR1020200145257 A KR 1020200145257A KR 20200145257 A KR20200145257 A KR 20200145257A KR 20220059728 A KR20220059728 A KR 20220059728A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- shelf
- unit
- mask
- masks
- chamber
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70691—Handling of masks or workpieces
- G03F7/70733—Handling masks and workpieces, e.g. exchange of workpiece or mask, transport of workpiece or mask
- G03F7/70741—Handling masks outside exposure position, e.g. reticle libraries
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70691—Handling of masks or workpieces
- G03F7/70733—Handling masks and workpieces, e.g. exchange of workpiece or mask, transport of workpiece or mask
- G03F7/7075—Handling workpieces outside exposure position, e.g. SMIF box
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/708—Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
- G03F7/70908—Hygiene, e.g. preventing apparatus pollution, mitigating effect of pollution or removing pollutants from apparatus
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67739—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
- H01L21/67742—Mechanical parts of transfer devices
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67763—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading
- H01L21/67766—Mechanical parts of transfer devices
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
- G01N2021/8887—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges based on image processing techniques
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
- G01N2021/95676—Masks, reticles, shadow masks
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Robotics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Epidemiology (AREA)
- Public Health (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Atmospheric Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Library & Information Science (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
Description
본 발명은 선반 유닛 및 이를 갖는 마스크 보관 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는, 노광 공정에 사용되는 마스크들을 적재하기 위한 선반 유닛 및 이를 갖는 마스크 보관 장치에 관한 것이다. The present invention relates to a shelf unit and a mask storage apparatus having the same, and more particularly, to a shelf unit for loading masks used in an exposure process and a mask storage apparatus having the same.
반도체 장치 제조 공정 중 노광 공정에 사용되는 마스크들은 선반들에 보관될 수 있다.Masks used in an exposure process during a semiconductor device manufacturing process may be stored on shelves.
종래 기술에 따르면 상기 마스크들이 적재된 용기를 상기 선반들로 이송하는 작업 및 상기 마스크들을 상기 선반들에 이적재하는 작업이 작업자의 수작업에 의해 이루어진다. According to the prior art, the operation of transferring the container in which the masks are loaded to the shelves and the operation of transferring the masks to the shelves are performed by a worker's manual operation.
상기 용기를 수작업으로 이송하는 경우 상기 마스크에 진동이 전달될 수 있으므로, 상기 마스크가 손상될 수 있다. 또한, 상기 마스크를 상기 선반들에 수작업으로 이적재하는 경우, 상기 마스크가 이물질에 의해 오염될 수 있다. 그러므로, 상기 마스크의 품질이 저하될 수 있다. When the container is manually transported, vibration may be transmitted to the mask, and thus the mask may be damaged. In addition, when the mask is manually transferred to the shelves, the mask may be contaminated by foreign substances. Therefore, the quality of the mask may be deteriorated.
상기 마스크를 상기 선반들에 수작업으로 이적재하므로, 상기 마스크의 이적재에 많은 시간이 소요된다. 따라서, 상기 마스크 이적재 공정의 생산성이 저하될 수 있다. Since the mask is manually loaded onto the shelves, it takes a lot of time to transport and load the mask. Accordingly, productivity of the mask transfer and loading process may be reduced.
또한, 종래 기술에 따르면, 상기 선반들은 원통 형태로 구비되어 상기 마스크들이 상기 선반들에 세로 방향으로 적재된다. Further, according to the prior art, the shelves are provided in a cylindrical shape so that the masks are vertically loaded on the shelves.
상기 선반들의 상방에 팬 필터 유닛이 구비되어 하강 기류를 형성한다. 상기 하강 기류에 의해 상기 선반들 중 상단에 위치하는 선반들의 이물질은 쉽게 제거된다. 그러나, 상기 하강 기류가 하단에 위치하는 선반들로 갈수록 약해지므로, 상기 하단에 위치하는 선반들의 이물질은 제거하기 어렵다. A fan filter unit is provided above the shelves to form a downdraft. Foreign substances on the shelves positioned at the upper end of the shelves are easily removed by the downdraft. However, since the downdraft becomes weaker toward the lower shelves, it is difficult to remove foreign substances from the lower shelves.
그리고, 상기 선반들이 원통 형태의 조립체로 이루어져 상기 선반들을 개별적으로 분리하기 어렵다. 따라서, 상기 선반들을 유지 보수하기가 어렵다. In addition, since the shelves are formed in a cylindrical assembly, it is difficult to separate the shelves individually. Therefore, it is difficult to maintain the shelves.
본 발명은 이물질의 제거가 용이하고, 유지 보수가 편리한 선반 유닛을 제공한다. The present invention provides a shelf unit in which foreign substances are easily removed and maintenance is convenient.
본 발명은 상기 선반 유닛을 갖는 마스크 보관 장치를 제공한다. The present invention provides a mask storage device having the above shelf unit.
본 발명에 따른 선반 유닛은, 수평 방향 및 상하 방향을 따라 구비되며, 다수의 영역으로 구획되는 선반 프레임 및 상기 선반 프레임의 각 영역에 착탈 가능하도록 구비되며, 마스크들을 적재하기 위한 선반 모듈들을 포함할 수 있다. The shelf unit according to the present invention includes a shelf frame divided into a plurality of regions and detachably provided in each region of the shelf frame, which is provided in a horizontal direction and a vertical direction, and includes shelf modules for loading masks. can
본 발명의 일 실시예들에 따르면, 상기 각 선반 모듈들은 개별 분리가 가능하도록 다수의 선반들이 상하로 적층되어 이루어질 수 있다. According to embodiments of the present invention, each of the shelf modules may be formed by stacking a plurality of shelves vertically to enable individual separation.
본 발명의 일 실시예들에 따르면, 상기 선반 유닛은, 상기 각 선반 모듈들의 후면에 각각 배치되며, 상기 각 선반 모듈들의 전면을 향해 상기 수평 방향으로 기류를 형성하여 상기 선반 모듈들에 적재된 상기 마스크들에 부착된 이물질을 제거하는 제1 팬 필터 유닛들을 더 포함할 수 있다. According to embodiments of the present invention, the shelf unit is disposed on the rear surface of each shelf module, and forms an airflow in the horizontal direction toward the front surface of each shelf module to form an airflow that is loaded on the shelf modules It may further include first fan filter units for removing foreign substances adhering to the masks.
본 발명의 일 실시예들에 따르면, 상기 선반 유닛은, 상기 제1 팬 필터 유닛들과 각각 연결되며, 상기 마스크 및 상기 이물질의 정전기를 제거하기 위해 상기 제1 팬 필터 유닛으로 이온화된 공기를 제공하는 공기 공급 유닛들을 더 포함할 수 있다. According to embodiments of the present invention, the shelf unit is connected to the first fan filter units, respectively, and provides ionized air to the first fan filter unit to remove static electricity from the mask and the foreign material. It may further include air supply units that do.
본 발명에 따른 마스크 보관 장치는, 챔버와, 상기 챔버의 외측에 구비되며, 마스크들이 적재된 용기가 안착되는 포트 유닛과, 상기 챔버의 내부에 구비되며, 상기 마스크의 상태 및 상기 마스크의 투입 방향을 확인하기 위해 비전 검사를 수행하는 비전 유닛과, 상기 챔버의 내부에 구비되며, 상기 마스크들을 적재하기 위한 선반 유닛 및 상기 챔버의 내부에 구비되며, 상기 포트 유닛, 상기 비전 유닛 및 상기 선반 유닛 사이에서 상기 마스크들을 이송하는 로봇 유닛을 포함하고, 상기 선반 유닛은, 수평 방향 및 상하 방향을 따라 구비되며, 다수의 영역으로 구획되는 선반 프레임 및 상기 선반 프레임의 각 영역에 착탈 가능하도록 구비되며, 마스크들을 적재하기 위한 선반 모듈들을 포함할 수 있다. The mask storage apparatus according to the present invention includes a chamber, a port unit provided on the outside of the chamber, in which a container on which masks are loaded, and a port unit provided inside the chamber, the state of the mask and the input direction of the mask a vision unit for performing a vision inspection to confirm and a robot unit for transporting the masks from the , wherein the shelf unit is provided in a horizontal direction and an up-down direction, and is detachably provided in each area of a shelf frame divided into a plurality of areas and the shelf frame, It may include shelf modules for loading items.
본 발명의 일 실시예들에 따르면, 상기 마스크 보관 장치는, 상기 각 선반 모듈들의 후면에 각각 배치되며, 상기 각 선반 모듈들의 전면을 향해 상기 수평 방향으로 기류를 형성하여 상기 선반 모듈들에 적재된 상기 마스크들에 부착된 이물질을 제거하는 제1 팬 필터 유닛들을 더 포함할 수 있다.According to embodiments of the present invention, the mask storage device is disposed on the rear surface of each shelf module, and forms an airflow in the horizontal direction toward the front surface of each shelf module to be loaded on the shelf modules. It may further include first fan filter units for removing foreign substances adhering to the masks.
본 발명의 일 실시예들에 따르면, 상기 마스크 보관 장치는, 상기 챔버의 상면에 구비되며, 상기 챔버의 내부에 하강 기류를 형성하여 상기 제1 팬 필터 유닛들에 의해 제거된 상기 이물질이 상기 마스크들을 재오염시키는 것을 억제하는 제2 팬 필터 유닛을 더 포함할 수 있다. According to one embodiment of the present invention, the mask storage device is provided on the upper surface of the chamber, and the foreign material removed by the first fan filter units by forming a downdraft inside the chamber is removed from the mask. It may further include a second fan filter unit to suppress the recontamination of the air.
본 발명에 따른 상기 선반 유닛은 상기 선반들이 상기 선반 프레임에 착탈 가능하도록 구비된다. 상기 선반들을 상기 선반 프레임으로부터 분리할 수 있으므로, 상기 선반 유닛의 유지 보수가 용이하다. The shelf unit according to the present invention is provided so that the shelves are detachably attached to the shelf frame. Since the shelves can be separated from the shelf frame, maintenance of the shelf unit is easy.
상기 제1 팬 필터 유닛이 상기 각 선반들의 상기 전면을 향해 상기 수평 기류를 형성하므로, 상기 선반들에 적재된 상기 마스크들에 부착된 이물질을 제거할 수 있다. 또한, 상기 제2 팬 필터 유닛이 상기 하강 기류를 형성하므로, 상기 제1 팬 필터 유닛에 의해 제거된 상기 이물질이 상기 마스크들을 재오염시키는 것을 억제할 수 있다. Since the first fan filter unit forms the horizontal airflow toward the front surface of each shelf, foreign substances adhering to the masks loaded on the shelves can be removed. In addition, since the second fan filter unit forms the downdraft, it is possible to suppress recontamination of the masks by the foreign material removed by the first fan filter unit.
그리고, 상기 공기 공급부가 상기 이온화된 공기를 제공하므로, 상기 마스크 및 상기 이물질의 정전기를 제거할 수 있다. 따라서, 상기 마스크에 상기 이물질에 부착되는 것을 억제할 수 있고, 상기 마스크에 부착된 상기 이물질을 쉽게 제거할 수 있다. Also, since the air supply unit provides the ionized air, static electricity from the mask and the foreign material may be removed. Therefore, it is possible to suppress adhering to the foreign material to the mask, and the foreign material adhering to the mask can be easily removed.
본 발명에 따른 상기 마스크 보관 장치는 상기 로봇 유닛으로 상기 마스크를 상기 선반 유닛에 이적재할 수 있으므로, 상기 마스크의 이적재에 소요되는 시간을 줄일 수 있다. 따라서, 상기 마스크를 상기 선반 유닛에 이적재하는 공정의 생산성을 향상시킬 수 있다. Since the mask storage apparatus according to the present invention can transfer the mask to the shelf unit using the robot unit, it is possible to reduce the time required for the transfer and loading of the mask. Accordingly, productivity of the process of transferring and loading the mask to the shelf unit may be improved.
상기 로봇 유닛으로 상기 마스크를 이송하므로, 상기 마스크에 진동이 전달되는 것을 감소시켜 상기 진동으로 인한 상기 마스크의 손상을 줄일 수 있다. 또한, 상기 로봇 유닛으로 상기 마스크를 이송하므로, 상기 마스크가 이물질에 의해 오염되는 것을 감소시킬 수 있다. 그러므로, 상기 마스크의 품질을 향상시킬 수 있다. Since the mask is transferred to the robot unit, it is possible to reduce the transmission of vibration to the mask, thereby reducing damage to the mask due to the vibration. In addition, since the mask is transferred to the robot unit, it is possible to reduce contamination of the mask by foreign substances. Therefore, the quality of the mask can be improved.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 마스크 보관 장치를 설명하기 위한 개략적인 측면 단면도이다.
도 2는 도 1에 도시된 마스크 보관 장치를 설명하기 위한 개략적인 평면 단면도이다.
도 3은 도 1에 도시된 비전 유닛을 설명하기 위한 개략적인 단면도이다.
도 4는 마스크를 설명하기 위한 평면도이다.
도 5는 도 1에 도시된 반전 유닛을 설명하기 위한 개략적인 측면도이다.
도 6은 도 1에 도시된 반전 유닛의 다른 예를 설명하기 위한 개략적인 측면도이다.
도 7은 도 1에 도시된 선반 유닛을 설명하기 위한 정면도이다.
도 8은 도 1에 도시된 선반 유닛, 제1 팬 필터 유닛 및 제2 팬 필터 유닛을 설명하기 위한 측면 단면도이다. 1 is a schematic side cross-sectional view for explaining a mask storage device according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a schematic plan cross-sectional view for explaining the mask storage device shown in FIG. 1 .
FIG. 3 is a schematic cross-sectional view for explaining the vision unit shown in FIG. 1 .
4 is a plan view for explaining a mask.
5 is a schematic side view for explaining the inversion unit shown in FIG.
6 is a schematic side view for explaining another example of the inversion unit shown in FIG.
FIG. 7 is a front view illustrating the shelf unit shown in FIG. 1 .
FIG. 8 is a side cross-sectional view illustrating the shelf unit, the first fan filter unit, and the second fan filter unit shown in FIG. 1 .
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명에 대해 상세히 설명한다. 본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있는 바, 특정 실시 예들을 도면에 예시하고 본문에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 개시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 각 도면을 설명하면서 유사한 참조부호를 유사한 구성요소에 대해 사용하였다. 첨부된 도면에 있어서, 구조물들의 치수는 본 발명의 명확성을 기하기 위하여 실제보다 확대하여 도시한 것이다. Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. Since the present invention can have various changes and can have various forms, specific embodiments are illustrated in the drawings and described in detail in the text. However, this is not intended to limit the present invention to the specific disclosed form, it should be understood to include all modifications, equivalents and substitutes included in the spirit and scope of the present invention. In describing each figure, like reference numerals have been used for like elements. In the accompanying drawings, the dimensions of the structures are enlarged than the actual size for clarity of the present invention.
제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다. Terms such as first, second, etc. may be used to describe various elements, but the elements should not be limited by the terms. The above terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another. For example, without departing from the scope of the present invention, a first component may be referred to as a second component, and similarly, a second component may also be referred to as a first component.
본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시 예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.The terms used in the present application are only used to describe specific embodiments, and are not intended to limit the present invention. The singular expression includes the plural expression unless the context clearly dictates otherwise. In the present application, terms such as "comprise" or "have" are intended to designate that a feature, number, step, operation, component, part, or a combination thereof described in the specification exists, but one or more other features It is to be understood that it does not preclude the possibility of the presence or addition of numbers, steps, operations, components, parts, or combinations thereof.
다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥 상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다. Unless defined otherwise, all terms used herein, including technical or scientific terms, have the same meaning as commonly understood by one of ordinary skill in the art to which this invention belongs. Terms such as those defined in commonly used dictionaries should be interpreted as having a meaning consistent with the meaning in the context of the related art, and should not be interpreted in an ideal or excessively formal meaning unless explicitly defined in the present application. does not
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 마스크 보관 장치를 설명하기 위한 개략적인 측면 단면도이고, 도 2는 도 1에 도시된 마스크 보관 장치를 설명하기 위한 개략적인 평면 단면도이고, 도 3은 도 1에 도시된 비전 유닛을 설명하기 위한 개략적인 단면도이고, 도 4는 마스크를 설명하기 위한 평면도이고, 도 5는 도 1에 도시된 반전 유닛을 설명하기 위한 개략적인 측면도이고, 도 6은 도 1에 도시된 반전 유닛의 다른 예를 설명하기 위한 개략적인 측면도이고, 도 7은 도 1에 도시된 선반 유닛을 설명하기 위한 정면도이고, 도 8은 도 1에 도시된 선반 유닛, 제1 팬 필터 유닛 및 제2 팬 필터 유닛을 설명하기 위한 측면 단면도이다. Figure 1 is a schematic side cross-sectional view for explaining a mask storage device according to an embodiment of the present invention, Figure 2 is a schematic plan cross-sectional view for explaining the mask storage device shown in Figure 1, Figure 3 is Figure 1 It is a schematic cross-sectional view for explaining the vision unit shown in Fig. 4 is a plan view for explaining the mask, Fig. 5 is a schematic side view for explaining the inversion unit shown in Fig. 1, Fig. 6 is in Fig. It is a schematic side view for explaining another example of the shown inversion unit, FIG. 7 is a front view for explaining the shelf unit shown in FIG. 1, and FIG. 8 is the shelf unit shown in FIG. 1, the first fan filter unit and It is a side cross-sectional view for explaining a 2nd fan filter unit.
도 1 내지 도 7을 참조하면, 상기 마스크 보관 장치(100)는 챔버(110), 포트 유닛(120), 비전 유닛(130), 반전 유닛(150), 선반 유닛(160), 제1 팬 필터 유닛(170), 공기 공급 유닛(175), 로봇 유닛(180), 제2 팬 필터 유닛(190)을 포함할 수 있다. 1 to 7 , the
상기 챔버(110)는 마스크(10)를 수용하기 위한 공간을 제공한다. 상기 챔버(110)는 대략 육면체 형상일 수 있다.The
상기 포트 유닛(120)은 상기 챔버(110)의 외측에 구비되며, 상기 마스크(10)들이 적재된 용기(20)가 안착될 수 있다. The
상기 포트 유닛(120)은 로드 포트(121) 및 도어 개폐부(123)를 포함할 수 있다.The
상기 로드 포트(121)는 상기 용기(20)를 지지한다. 상기 용기(20)가 상기 로드 포트(121)로 로딩되거나 상기 로드 포트(131)로부터 언로딩될 수 있다. 이때, 상기 용기(20)는 천장 반송 장치의 비히클(미도시)에 의해 로딩 및 언로딩되거나, 작업자에 의해 수작업으로 로딩 및 언로딩될 수 있다. The
상기 로드 포트(121)는 비히클용 로드 포트와 수작업용 로드 포트로 구분될 수 있다. 이때, 상기 비히클용 로드 포트와 상기 수작업용 로드 포트는 서로 다른 높이에 위치할 수 있다. The
또한, 상기 각 로드 포트(121)에서 상기 용기(20)의 로딩 및 언로딩이 교대로 이루어질 수 있다. 이와 달리, 상기 로드 포트(121)는 상기 용기(20)를 로딩하기 위한 로딩용 로드 포트와 상기 용기(20)를 언로딩하기 위한 언로딩용 로드 포트로 구분될 수 있다. In addition, loading and unloading of the
상기 도어 개폐부(123)는 상기 각 로드 포트(121)의 일측인 상기 챔버(110)의 내부에 구비되며, 상기 로드 포트(121)에 안착된 상기 용기(20)의 도어(미도시)를 개폐한다. The door opening and closing
상기 포트 유닛(120)은 매핑 센서(미도시)를 더 포함할 수 있다. 상기 매핑 센서는 상기 도어가 개방된 용기(20)에서 상기 마스크(10)들의 유무 및 위치를 확인할 수 있다. The
상기 비전 유닛(130)은 상기 챔버(110)의 내부에 구비되며, 상기 마스크(10)의 상태 및 상기 마스크(10)의 투입 방향을 확인하기 위해 비전 검사를 수행한다. The
상기 비전 유닛(130)은 비전 스테이지(131), 카메라(132), 제1 조명부(133), 제2 조명부(137) 및 이미지 처리부(142)를 포함할 수 있다. The
상기 비전 스테이지(131)는 상기 비전 검사를 수행하기 위해 상기 마스크(10)를 지지한다. The
상기 로봇 유닛(170)이 상기 마스크(10)의 양측면을 파지하여 이송하므로, 상기 비전 스테이지(131)의 크기가 상기 마스크(10)의 크기보다 크면 상기 로봇 유닛(170)이 상기 마스크(10)를 로딩 및 언로딩할 때 상기 비전 스테이지(131)와 충돌할 수 있다. Since the
상기 로봇 유닛(170)이 상기 비전 스테이지(131)와 충돌없이 상기 마스크(10)를 로딩 및 언로딩하도록 상기 비전 스테이지(131)의 크기가 상기 마스크(10)의 크기와 같거나 작을 수 있다. The size of the
상기 비전 스테이지(131)는 상기 마스크(10)를 임시로 저장하기 위한 버퍼 스테이지로 사용될 수도 있다. The
상기 카메라(132)는 상기 비전 스테이지(131)의 상방에 구비되며, 상기 비전 스테이지(131)에 지지된 상기 마스크(10)를 촬영한다. The
상기 제1 조명부(133)는 상기 카메라(132)의 중심축과 동축으로 조사되는 명시야 조명광을 갖는다. The
구체적으로, 상기 제1 조명부(133)는 제1 광원(134), 하프 미러(135) 및 집광 렌즈(136)를 포함할 수 있다. Specifically, the
상기 제1 광원(134)은 수평 방향으로 광을 조사한다. The first
상기 하프 미러(135)는 상기 제1 광원(134)으로부터 조사된 상기 광을 상기 카메라(132)의 중심축과 동축 방향으로 반사시켜 상기 명시야 조명광을 형성한다. The
상기 집광 렌즈(136)는 상기 하프 미러(135)에 의해 반사된 상기 광을 집중시킨다. The condensing
상기 이미지 처리부(142)는 상기 카메라(142)에서 촬영된 이미지를 이용하여 상기 마스크(10)의 상태를 판독한다. 상기 제1 조명부(133)가 상기 명시야 조명광을 형성하므로, 상기 카메라(132)에서 촬영된 상기 마스크(10)의 이미지가 밝다. 따라서, 상기 이미지 처리부(142)가 상기 마스크(10)의 이미지에서 상기 마스크(10)의 상태를 확인하기 쉽다. 즉, 상기 이미지 처리부(142)가 상기 마스크(10)의 이미지에서 상기 마스크(10)의 이물질, 크랙, 스크래치를 용이하게 판독할 수 있다. The
상기 제2 조명부(137)는 상기 카메라(132)의 상기 중심축과 일정 각도로 조사되는 암시야 조명광 및 상기 카메라(132)의 상기 중심축과 수직하여 조사되는 측면 조명광을 갖는다. The
구체적으로, 상기 제2 조명부(137)는 조명 구조물(138), 제2 광원(139)들, 제3 광원(140)들 및 승강 구동부(141)를 포함할 수 있다. Specifically, the
상기 조명 구조물(138)은 상기 비전 스테이지(131)의 측면을 둘러싸는 링 형상을 갖는다. The
상기 제2 광원(139)들은 상기 조명 구조물(138)의 내측면 둘레를 따라 구비된다. 상기 제2 광원(139)들은 상기 비전 스테이지(131)에 지지된 상기 마스크(10)보다 약간 높게 위치할 수 있다. 일 예로, 상기 제2 광원(139)들은 서로 동일한 높이에 위치할 수 있다. 이와 달리, 상기 제2 광원(139)들은 서로 다른 높이에 위치할 수 있다. The second
상기 제2 광원(139)들은 상기 카메라(132)의 상기 중심축과 일정 각도로 광을 조사하여 상기 암시야 조명광을 형성한다. The second
상기 제3 광원(140)들은 상기 조명 구조물(138)의 내측면 둘레를 따라 구비된다. 상기 제3 광원(140)들은 상기 비전 스테이지(131)에 지지된 상기 마스크(10)와 동일한 높이에 위치할 수 있다. The third
상기 제3 광원(140)들은 상기 카메라(132)의 상기 중심축과 수직하도록 광을 조사하여 상기 측면 조명광을 형성한다. The third
상기 승강 구동부(141)는 상기 조명 구조물(138)을 상하 방향으로 승강시킬 수 있다. The elevating
구체적으로, 상기 승강 구동부(141)는 상기 조명 구조물(138)이 상기 비전 스테이지(131)의 상기 측면을 둘러싸는 제1 위치와 상기 조명 구조물(138)이 상기 비전 스테이지(131)의 상기 측면을 노출하는 제2 위치 사이에서 상기 조명 구조물(138)을 상하 방향으로 승강시킬 수 있다. Specifically, in the
상기 제2 위치는 상기 조명 구조물(138)이 상기 제1 위치로부터 하강한 위치일 수 있다. 상기 조명 구조물(138)이 상기 제2 위치에 위치할 때, 상기 로봇 유닛(170)이 상기 조명 구조물(138)의 간섭없이 상기 마스크(10)를 상기 비전 스테이지(131)에 로딩 및 언로딩할 수 있다. The second position may be a position at which the
상기 승강 구동부(141)는 모터 및 타이밍 벨트와 풀리들을 포함하는 동력 전달 장치를 이용하여 각각 구성되거나, 리니어 모터, 볼 스크류, 실린더 등으로 구성될 수 있다. The
상기 이미지 처리부(142)는 상기 카메라(142)에서 촬영된 이미지를 이용하여 상기 마스크(10)의 투입 방향 및 반전 여부를 판독한다. The
상기 제2 조명부(137)가 상기 암시야 조명광 및 상기 측면 조명광을 형성하고, 상기 암시야 조명광 및 상기 측면 조명광이 상기 마스크(10)에 반사되어 상기 카메라(132)로 제공되므로, 상기 카메라(132)에서 촬영된 상기 마스크(10)의 이미지는 어두우나 입체 부분에 대한 시인성은 좋다. 특히 상기 암시야 조명광 및 상기 측면 조명광은 상기 마스크(10)의 상면 모서리들 중 일부에 구비된 노치(11)들에 반사되고, 상기 반사된 광이 산란되어 상기 카메라(132)로 제공될 수 있다. The
일 예로, 상기 노치(11)들은 상기 마스크(10)의 상면 네 모서리들 중 세 모서리에 구비될 수 있다. 이와 달리, 상기 노치(11)들은 상기 마스크(10)의 상면 네 모서리들 중 한 모서리에 구비될 수 있다.For example, the
따라서, 상기 이미지 처리부(142)는 상기 마스크(10)의 이미지에서 상기 노치(11)들을 판독하고, 상기 노치(11)들의 위치를 이용하여 상기 마스크(10)의 투입 방향을 쉽게 확인할 수 있다. Accordingly, the
또한, 상기 이미지 처리부(142)는 상기 마스크(10)의 이미지에서 상기 마스크(10)의 상기 노치(11)들을 판독 여부를 이용하여 상기 마스크(10)의 반전 여부를 확인할 수 있다. 즉, 상기 마스크(10)의 이미지에서 상기 마스크(10)의 상기 노치(11)들을 판독되면, 상기 마스크(10)는 정상 상태이고, 상기 마스크(10)의 이미지에서 상기 마스크(10)의 상기 노치(11)들을 판독되지 않으면, 상기 마스크(10)가 반전된 상태이다. Also, the
상기 이미지 처리부(142)는 상기 챔버(110)의 내부에 구비되고, 상기 카메라(132)와 직접 연결될 수 있다. 이와 달리 상기 이미지 처리부(142)는 상기 챔버(110)의 외부에 구비되고, 상기 카메라(132)와 유선 통신 또는 무선 통신을 통해 연결될 수 있다. The
또한, 상기 이미지 처리부(142)는 상기 판독 결과를 상기 각 마스크(10) 별로 저장할 수 있다. Also, the
한편, 상기 제1 조명부(133)의 상기 명시야 조명광과 상기 제2 조명부(137)의 상기 암시야 조명광 및 상기 측면 조명광이 모두 조사되면서 상기 카메라(132)가 상기 마스크(10)를 촬영할 수 있다. 따라서, 상기 이미지 처리부(142)가 상기 마스크(10)의 이미지에서 상기 마스크(10)의 상태, 상기 마스크(10)의 투입 방향 및 상기 마스크(10)의 반전 여부를 동시에 확인할 수 있다. 그러므로, 상기 마스크(10)의 상태, 상기 마스크(10)의 투입 방향 및 상기 마스크(10)의 반전 여부를 확인하는데 소요되는 시간을 단축할 수 있다. Meanwhile, the
상기 반전 유닛(150)은 상기 챔버(110)의 내부에 구비되며, 상기 마스크(10)의 양면에 대해 상기 비전 검사가 이루어지도록 상기 마스크(10)를 반전시킬 수 있다.The
상기 반전 유닛(150)은 반전 스테이지(151), 그리퍼(153) 및 구동부(155)를 포함할 수 있다. The
상기 반전 스테이지(151)는 상기 마스크(10)를 지지한다. 상기 비전 스테이지(131)와 동일한 이유로, 상기 반전 스테이지(151)의 크기가 상기 마스크(10)의 크기와 같거나 작을 수 있다. The
또한, 상기 반전 스테이지(151)는 상기 마스크(10)를 임시로 저장하기 위한 버퍼 스테이지로 사용될 수도 있다. Also, the
상기 그리퍼(153)는 상기 반전 스테이지(151)의 일측에 배치되며, 상기 마스크(10)의 양측면을 파지한다. The
상기 구동부(155)는 상기 그리퍼(153)가 상기 마스크(10)를 파지하도록 상기 그리퍼(153)를 작동시키는 제1 구동부, 상기 마스크(10)를 반전시키는 위해 상기 그리퍼(153)를 회전시키는 제2 구동부 및 상기 그리퍼(153)를 상기 수평 방향 및 상하 방향으로 이동시키는 제3 구동부를 포함할 수 있다. 일 예로, 상기 제1 내지 제3 구동부들은 모터 및 타이밍 벨트와 풀리들을 포함하는 동력 전달 장치를 이용하여 각각 구성되거나, 리니어 모터, 볼 스크류, 실린더 등으로 구성될 수 있다. The driving
한편, 도 6에 도시된 바와 같이 상기 반전 유닛(150a)은 상기 비전 스테이지(131)의 일측에 구비되며, 상기 마스크(10)의 양면에 대해 상기 비전 검사가 이루어지도록 상기 비전 스테이지(131)에 안착된 상기 마스크(10)를 반전한다.Meanwhile, as shown in FIG. 6 , the
상기 반전 유닛(150a)은 상기 반전 스테이지(151)없이 상기 그리퍼(153) 및 상기 구동부(155)를 포함할 수 있다. The
상기 그리퍼(153) 및 상기 구동부(155)에 대한 구체적인 설명은 상기 비전 스테이지(131)에 안착된 상기 마스크(10)를 반전한다는 점을 제외하면 상기 반전유닛(150)의 상기 그리퍼(153) 및 상기 구동부(155)에 대한 설명과 실질적으로 동일하다. A detailed description of the
상기 선반 유닛(160)은 상기 챔버(110)의 내부에 구비되며, 상기 마스크(10)들을 적재한다. The
상기 선반 유닛(160)은 선반 프레임(161) 및 선반 모듈(163)들을 포함한다. The
상기 선반 프레임(161)은 상기 수평 방향 중 좌우 방향과 상기 상하 방향을 따라 구비되며, 다수의 영역으로 구획될 수 있다.The
일 예로, 도시된 바와 같이 상기 선반 프레임(161)은 2열로 서로 마주보며 평행하도록 배치될 수 있다. 다른 예로, 도시되지는 않았지만, 상기 선반 프레임(161)은 1열로 배치될 수도 있다. For example, as shown, the shelf frames 161 may be arranged in two rows to face each other and parallel to each other. As another example, although not shown, the shelf frames 161 may be arranged in one row.
상기 선반 모듈(163)들은 상기 선반 프레임(161)의 각 영역에 착탈 가능하도록 구비된다. 예를 들면, 상기 선반 모듈(163)들은 상기 선반 프레임(161)의 후방에서 상기 각 영역으로 삽입 및 배출될 수 있다.The
상기 각 선반 모듈(163)들은 다수의 선반(165)들이 상하로 적재되어 형성될 수 있다. 이때, 각 선반 모듈(163)들은 상기 선반(165)들을 개별적으로 분리할 수 있다. 따라서, 상기 선반 모듈(163)의 유지 보수가 편리하다. Each of the
상기 마스크(10)들은 상기 각 선반(165)들에 수평 상태로 지지될 수 있다. 상기 각 선반(165)들의 상부면에는 상기 마스크(10)들을 지지하기 위한 지지돌기(167)들이 구비될 수 있다. The
상기 제1 팬 필터 유닛(170)들은 상기 각 선반 모듈(163)들의 후면에 장착될 수 있다. 이때 상기 각 선반 모듈(163)들의 상기 후면은 상기 각 선반 모듈(163)들에서 상기 마스크(10)들이 투입 및 배출되는 전면과 반대되는 면일 수 있다. The first
상기 제1 팬 필터 유닛(170)들은 상기 각 선반 모듈(163)들의 상기 전면을 향해 상기 수평 방향으로 기류를 형성한다. 상기 수평 방향 기류에 의해 상기 선반(165)들의 이물질 및 상기 선반(165)들에 적재된 상기 마스크(10)들에 부착된 이물질을 제거할 수 있다. The first
상기 공기 공급 유닛(175)들은 상기 제1 팬 필터 유닛(170)들과 각각 연결되며, 상기 제1 팬 필터 유닛(170)들로 이온화된 공기를 제공한다. The
상기 이온화된 공기는 상기 선반(165)들에 적재된 상기 마스크(10)들의 정전기를 제거할 수 있다. 상기 마스크(10)들을 상기 정전기가 제거된 상태를 유지하므로, 상기 정전기에 의해 상기 이물질이 상기 마스크(10)들에 부착되는 것을 억제할 수 있다.The ionized air may remove static electricity from the
또한, 상기 이온화된 공기는 상기 마스크(10)들에 부착된 상기 이물질의 정전기를 제거할 수 있다. 상기 이물질의 상기 정전기가 제거되므로, 상기 수평 방향 기류에 의해 상기 이물질이 상기 마스크(10)들로부터 쉽게 제거될 수 있다. In addition, the ionized air may remove static electricity from the foreign material attached to the
상기 제1 팬 필터 유닛(170)들과 상기 공기 공급 유닛(175)들이 상기 선반 모듈(163)에 장착되므로, 상기 선반 모듈(163)들을 상기 선반 프레임(161)에 착탈할 때 상기 제1 팬 필터 유닛(170)들과 상기 공기 공급 유닛(175)들도 상기 선반 모듈(163)들과 같이 착탈될 수 있다. Since the first
상기 제2 팬 필터 유닛(190)은 상기 챔버(110)의 상면에 구비되며, 상기 챔버(110)의 내부에 하강 기류를 형성한다. 상기 제1 팬 필터 유닛(170)에 의해 제거된 상기 이물질이 상기 하강 기류에 의해 상기 챔버(110)의 바닥으로 하강할 수 있다. 또한, 상기 하강 기류에 의해 상기 이물질이 다른 상기 선반 모듈(163)들로 제공되는 것을 억제할 수 있으므로, 상기 이물질이 상기 마스크(10)들을 재오염시키는 것을 억제할 수 있다. The second
상기 로봇 유닛(180)은 상기 챔버(110)의 내부에 구비되며, 상기 포트 유닛(120), 상기 비전 유닛(130), 상기 반전 유닛(150) 및 상기 선반 유닛(160) 사이에서 상기 마스크(10)들을 이송한다. The
상기 로봇 유닛(180)은 이송 로봇(181) 및 로봇암(183)을 포함할 수 있다. The
상기 이송 로봇(181)은 상기 마스크(10)들의 이송을 위해 상기 회전 이동 및 상기 상하 방향으로 이동이 가능하도록 구비될 수 있다. The
상세히 도시되지는 않았지만, 상기 이송 로봇(181)은 상기 이송 로봇(181)을 상기 상하 방향으로 이동시키기 위한 제4 구동부 및 상기 이송 로봇(181)을 회전시키기 위한 제5 구동부를 구비할 수 있다. 이와 달리 상기 제5 구동부는 상기 로봇암(183)을 회전시킬 수도 있다. Although not shown in detail, the
일 예로, 상기 로봇 유닛(180)은 상기 챔버(110)의 내부에 상기 상하 방향을 따라 구비되는 가이드 레일(185)을 구비하고, 상기 이송 로봇(181)은 상기 제4 구동부의 구동에 의해 상기 가이드 레일(185)을 따라 상기 상하 방향으로 이동할 수 있다. For example, the
상기 이송 로봇(181)은 상기 마스크(10)들을 신속하게 이송하기 위해 복수로 구비될 수도 있다. A plurality of the
또한, 상기 로봇암(183)은 상기 마스크(10)들의 이송을 위한 것으로, 상기 로봇암(183)은 상기 로드 포트(120), 상기 비전 유닛(130), 상기 반전 유닛(150) 및 상기 선반 유닛(160)을 향해 이동 가능하게 구성될 수 있다. 상기 로봇암(183)은 상기 마스크(10)의 양측면을 파지할 수 있다. 일 예로서, 상기 로봇암(183)은 신장과 수축이 가능한 다관절 로봇암일 수 있다. 상기 로봇암(183)은 상기 로봇암(183)이 상기 마스크(10)를 파지하고 이동시키기 위한 제6 구동부를 구비할 수 있다.In addition, the
상기 제4 내지 제6 구동부들은 모터 및 타이밍 벨트와 풀리들을 포함하는 동력 전달 장치를 이용하여 각각 구성되거나, 리니어 모터, 볼 스크류, 실린더 등으로 구성될 수 있다. The fourth to sixth driving units may be configured using a motor and a power transmission device including a timing belt and pulleys, respectively, or may be configured as a linear motor, a ball screw, a cylinder, or the like.
상기 이송 로봇(181)이 상기 회전 이동 가능하고, 상기 로봇암(183)이 신장과 수축이 가능하므로, 상기 로봇암(183)은 상기 좌우 방향과 전후 방향을 포함하는 상기 수평 방향으로 상기 마스크(10)들을 이송할 수 있다.Since the
또한, 상기 이송 로봇(181)이 상기 상하 방향으로만 이동할 뿐 상기 수평 방향으로는 이동하지 않을 수 있다. 상기 이송 로봇(181)의 이동에 따른 이물질의 발생을 줄일 수 있다. In addition, the
상기 이송 로봇(181)이 상기 회전 이동 및 상기 상하 방향으로 이동이 가능하고, 상기 로봇암(183)이 신장과 수축이 가능하므로, 상기 로봇 유닛(180)은 상기 로드 포트(120), 상기 비전 유닛(130), 상기 반전 유닛(150) 및 상기 선반 유닛(160) 사이에서 상기 마스크(10)들을 안정적으로 이송할 수 있다. Since the
상술한 바와 같이, 상기 마스크 보관 장치는 상기 로봇 유닛으로 상기 마스크를 상기 선반 유닛에 이적재할 수 있으므로, 상기 마스크의 이적재에 소요되는 시간을 줄일 수 있다. 따라서, 상기 마스크를 상기 선반 유닛에 이적재하는 공정의 생산성을 향상시킬 수 있다. As described above, since the mask storage device can load the mask onto the shelf unit with the robot unit, the time required for loading and unloading the mask can be reduced. Accordingly, productivity of the process of transferring and loading the mask to the shelf unit may be improved.
상기 로봇 유닛으로 상기 마스크를 이송하므로, 상기 마스크에 진동이 전달되는 것을 감소시켜 상기 진동으로 인한 상기 마스크의 손상을 줄일 수 있다. 또한, 상기 로봇 유닛으로 상기 마스크를 이송하므로, 상기 마스크가 이물질에 의해 오염되는 것을 감소시킬 수 있다. 그러므로, 상기 마스크의 품질을 향상시킬 수 있다. Since the mask is transferred to the robot unit, it is possible to reduce the transmission of vibration to the mask, thereby reducing damage to the mask due to the vibration. In addition, since the mask is transferred to the robot unit, it is possible to reduce contamination of the mask by foreign substances. Therefore, the quality of the mask can be improved.
상기 비전 유닛은 상기 명시야 조명광, 상기 암시야 조명광 및 상기 측면 조명광을 동시에 조사하여 상기 마스크에 대한 비전 검사를 수행한다. 상기 명시야 조명광의 영향으로 상기 마스크의 이물질, 크랙, 스크래치를 정확하게 판독할 수 있다. 따라서, 상기 마스크의 상태를 정확하게 확인할 수 있다.The vision unit performs a vision inspection on the mask by simultaneously irradiating the brightfield illumination light, the darkfield illumination light, and the side illumination light. Foreign substances, cracks, and scratches on the mask can be accurately read under the influence of the brightfield illumination light. Accordingly, it is possible to accurately check the state of the mask.
또한, 상기 암시야 조명광 및 상기 측면 조명광이 상기 마스크의 상기 노치에서 산란되므로, 상기 마스크의 상기 노치를 정확하게 판독할 수 있다. 따라서, 상기 마스크의 투입 방향을 정확하게 확인할 수 있다. Also, since the dark field illumination light and the side illumination light are scattered at the notch of the mask, it is possible to accurately read the notch of the mask. Accordingly, the input direction of the mask can be accurately confirmed.
상기 마스크의 투입 방향을 확인하면, 상기 마스크들이 서로 동일한 방향을 갖도록 상기 마스크들을 상기 선반 유닛에 적재할 수 있다. 따라서, 상기 마스크들의 방향을 재조정하는 것을 방지할 수 있다. If the input direction of the mask is confirmed, the masks may be loaded onto the shelf unit so that the masks have the same direction. Accordingly, it is possible to prevent reorientation of the masks.
상기 선반 유닛은 상기 선반들이 상기 선반 프레임에 착탈 가능하도록 구비된다. 상기 선반들을 상기 선반 프레임으로부터 분리할 수 있으므로, 상기 선반 유닛의 유지 보수가 용이하다. The shelf unit is provided such that the shelves are detachably attached to the shelf frame. Since the shelves can be separated from the shelf frame, maintenance of the shelf unit is easy.
상기 제1 팬 필터 유닛이 상기 각 선반들의 상기 전면을 향해 상기 수평 기류를 형성하므로, 상기 선반들에 적재된 상기 마스크들에 부착된 이물질을 제거할 수 있다. 또한, 상기 제2 팬 필터 유닛이 상기 하강 기류를 형성하므로, 상기 제1 팬 필터 유닛에 의해 제거된 상기 이물질이 상기 마스크들을 재오염시키는 것을 억제할 수 있다. Since the first fan filter unit forms the horizontal airflow toward the front surface of each shelf, foreign substances adhering to the masks loaded on the shelves can be removed. In addition, since the second fan filter unit forms the downdraft, it is possible to suppress re-contamination of the masks by the foreign material removed by the first fan filter unit.
그리고, 상기 공기 공급부가 상기 이온화된 공기를 제공하므로, 상기 마스크 및 상기 이물질의 정전기를 제거할 수 있다. 따라서, 상기 마스크에 상기 이물질에 부착되는 것을 억제할 수 있고, 상기 마스크에 부착된 상기 이물질을 쉽게 제거할 수 있다. Also, since the air supply unit provides the ionized air, static electricity from the mask and the foreign material may be removed. Therefore, it is possible to suppress adhering to the foreign material to the mask, and the foreign material adhering to the mask can be easily removed.
상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.Although the above has been described with reference to the preferred embodiment of the present invention, those skilled in the art can variously modify and change the present invention without departing from the spirit and scope of the present invention as set forth in the following claims. You will understand that you can.
100 : 마스크 보관 장치
110 : 챔버
120 : 포트 유닛
121 : 로드 포트
123 : 도어 개폐부
130 : 비전 유닛
131 : 비전 스테이지
132 : 카메라
133 : 제1 조명부
134 : 제1 광원
135 : 하프 미러
136 : 집광 렌즈
137 : 제2 조명부
138 : 조명 구조물
139 : 제2 광원
140 : 제3 광원
141 : 승강 구동부
142 : 이미지 처리부
150, 150a : 반전 유닛
151 : 반전 스테이지
153 : 그리퍼
155 : 구동부
160 : 선반 유닛
161 : 선반 프레임
163 : 선반 모듈
165 : 선반
167 : 지지돌기
170 : 제1 팬 필터 유닛
175 : 공기 공급 유닛
180 : 로봇 유닛
181 : 이송 로봇
183 : 로봇암
185 : 가이드 레일
190 : 제2 팬 필터 유닛
10 : 마스크
20 : 용기100: mask storage device 110: chamber
120: port unit 121: load port
123: door opening and closing unit 130: vision unit
131: vision stage 132: camera
133: first lighting unit 134: first light source
135: half mirror 136: condensing lens
137: second lighting unit 138: lighting structure
139: second light source 140: third light source
141: elevating driving unit 142: image processing unit
150, 150a: reversal unit 151: reversal stage
153: gripper 155: driving unit
160: shelf unit 161: shelf frame
163: shelf module 165: shelf
167: support protrusion 170: first fan filter unit
175: air supply unit 180: robot unit
181: transfer robot 183: robot arm
185: guide rail 190: second fan filter unit
10: mask 20: container
Claims (7)
상기 선반 프레임의 각 영역에 착탈 가능하도록 구비되며, 마스크들을 적재하기 위한 선반 모듈들을 포함하는 것을 특징으로 하는 선반 유닛. a shelf frame provided along a horizontal direction and a vertical direction and divided into a plurality of areas; and
The shelf unit is provided detachably in each region of the shelf frame and includes shelf modules for loading masks.
상기 챔버의 외측에 구비되며, 마스크들이 적재된 용기가 안착되는 포트 유닛;
상기 챔버의 내부에 구비되며, 상기 마스크의 상태 및 상기 마스크의 투입 방향을 확인하기 위해 비전 검사를 수행하는 비전 유닛;
상기 챔버의 내부에 구비되며, 상기 마스크들을 적재하기 위한 선반 유닛; 및
상기 챔버의 내부에 구비되며, 상기 포트 유닛, 상기 비전 유닛 및 상기 선반 유닛 사이에서 상기 마스크들을 이송하는 로봇 유닛을 포함하고,
상기 선반 유닛은,
수평 방향 및 상하 방향을 따라 구비되며, 다수의 영역으로 구획되는 선반 프레임; 및
상기 선반 프레임의 각 영역에 착탈 가능하도록 구비되며, 마스크들을 적재하기 위한 선반 모듈들을 포함하는 것을 특징으로 하는 마스크 보관 장치.chamber;
a port unit provided on the outside of the chamber and on which a container on which masks are loaded;
a vision unit provided inside the chamber and configured to perform a vision inspection to check a state of the mask and an input direction of the mask;
a shelf unit provided in the chamber and configured to load the masks; and
a robot unit provided inside the chamber and transferring the masks between the port unit, the vision unit, and the shelf unit;
The shelf unit is
a shelf frame provided along a horizontal direction and a vertical direction and divided into a plurality of areas; and
The mask storage device is provided detachably in each region of the shelf frame and comprises shelf modules for loading masks.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020200145257A KR20220059728A (en) | 2020-11-03 | 2020-11-03 | Shelf unit and mask storing device having the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020200145257A KR20220059728A (en) | 2020-11-03 | 2020-11-03 | Shelf unit and mask storing device having the same |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20220059728A true KR20220059728A (en) | 2022-05-10 |
Family
ID=81592250
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020200145257A KR20220059728A (en) | 2020-11-03 | 2020-11-03 | Shelf unit and mask storing device having the same |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR20220059728A (en) |
-
2020
- 2020-11-03 KR KR1020200145257A patent/KR20220059728A/en unknown
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR102142687B1 (en) | Apparatus for inspecting exterior of semiconductor device | |
US20090255362A1 (en) | Clean transfer robot | |
JP7349240B2 (en) | Board warehouse and board inspection method | |
KR102703447B1 (en) | Handler for inspecting camera module and apparatus for inspecting camera module comprising the same | |
CN114813762B (en) | Chip appearance detection device and method | |
CN107210258B (en) | Substrate processing apparatus and method for manufacturing semiconductor device | |
KR101377988B1 (en) | Lens assembly, high-speed inspection equipment | |
JP2015083921A (en) | Optical component inspection device | |
JP2012171628A (en) | Taping device and taping method | |
KR20220059728A (en) | Shelf unit and mask storing device having the same | |
KR20220060076A (en) | Mask storing device | |
KR20220059727A (en) | Vision unit and mask storing device having the same | |
KR101601614B1 (en) | Apparatus for External Appearance Inspection of Semiconductor Device | |
KR100928478B1 (en) | Pod storage device in semiconductor manufacturing line | |
CN116727260A (en) | Multistation AI defect visual inspection system | |
CN212844296U (en) | Defect detection system of optical filter | |
TW202249158A (en) | Chip tray, chip holding device, and visual inspection device | |
TW202235857A (en) | Method and system for inspection of an inner pod or an outer pod of an euv pod | |
KR100663385B1 (en) | Vision inspection system of semiconductor device | |
CN220497003U (en) | Automatic detection equipment and production system | |
TWI840092B (en) | Transportation mechanism of electronic component and processing machine | |
TWI830259B (en) | Processing device and method of manufacturing processed product | |
US12007334B2 (en) | Compact apparatus for batch vial inspection | |
KR20240105124A (en) | Apparatus for treating substrate | |
KR20240107736A (en) | Apparatus for treating substrate |