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KR20200045015A - Circuit connection material, circuit connection structure, adhesive film, and wound body - Google Patents

Circuit connection material, circuit connection structure, adhesive film, and wound body Download PDF

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KR20200045015A
KR20200045015A KR1020207011815A KR20207011815A KR20200045015A KR 20200045015 A KR20200045015 A KR 20200045015A KR 1020207011815 A KR1020207011815 A KR 1020207011815A KR 20207011815 A KR20207011815 A KR 20207011815A KR 20200045015 A KR20200045015 A KR 20200045015A
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KR
South Korea
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group
circuit
film
adhesive
mass
Prior art date
Application number
KR1020207011815A
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Korean (ko)
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KR102329065B1 (en
Inventor
스나오 구도우
가즈야 마츠다
도루 후지나와
Original Assignee
히타치가세이가부시끼가이샤
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Publication date
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Abstract

본 발명은 서로 대향하는 2개의 회로 부재를 전기적으로 접속하기 위한 회로 접속 재료로서, 열가소성 수지, 라디칼 중합성 화합물, 라디칼 중합 개시제 및 무기 미립자를 함유하고, 라디칼 중합성 화합물의 함유량이 회로 접속 재료의 전량 기준으로 40질량% 이상이고, 라디칼 중합성 화합물 중 분자량 1000 이하의 화합물의 함유량이 회로 접속 재료의 전량 기준으로 15질량% 이하이고, 무기 미립자의 함유량이 회로 접속 재료의 전량 기준으로 5 내지 30질량%이고, 적어도 하기 화학식 1로 표시되는 화합물을 함유하는, 회로 접속 재료에 관한 것이다.
<화학식 1>

Figure pat00013
The present invention is a circuit connecting material for electrically connecting two circuit members facing each other, which contains a thermoplastic resin, a radically polymerizable compound, a radical polymerization initiator, and inorganic fine particles, and the content of a radically polymerizable compound is a circuit connecting material. The total content is 40% by mass or more, and the content of the compound having a molecular weight of 1000 or less in the radically polymerizable compound is 15% by mass or less based on the total amount of the circuit connection material, and the content of inorganic fine particles is 5 to 30 based on the total amount of the circuit connection material. It is a circuit connection material which is mass% and contains the compound represented by the following general formula (1).
<Formula 1>
Figure pat00013

Description

회로 접속 재료, 회로 접속 구조체, 접착 필름 및 권중체{CIRCUIT CONNECTION MATERIAL, CIRCUIT CONNECTION STRUCTURE, ADHESIVE FILM, AND WOUND BODY}Circuit connecting material, circuit connecting structure, adhesive film and winding body {CIRCUIT CONNECTION MATERIAL, CIRCUIT CONNECTION STRUCTURE, ADHESIVE FILM, AND WOUND BODY}

본 발명은 서로 대향하는 2개의 회로 부재를 전기적으로 접속하기 위한 회로 접속 재료, 및 그것을 사용한 회로 접속 구조체, 접착 필름 및 권중체에 관한 것이다.The present invention relates to a circuit connecting material for electrically connecting two circuit members facing each other, and a circuit connecting structure using the same, an adhesive film and a winding body.

반도체 소자 및 액정 표시 소자에 있어서, 소자 중의 다양한 부재를 결합시키는 목적에서 종래부터 다양한 회로 접속 재료가 사용되고 있다. 회로 접속 재료에 요구되는 특성은, 접착성을 비롯하여, 내열성, 고온고습 상태에서의 신뢰성 등, 다방면에 걸친다.In semiconductor elements and liquid crystal display elements, various circuit connection materials have been conventionally used for the purpose of joining various members in the elements. The characteristics required for the circuit connection material extend over many aspects, such as adhesiveness, heat resistance, and reliability in high temperature and high humidity conditions.

또한, 회로 접속 재료로 접착하는 피착체로서는, 예를 들어, 프린트 배선판, 폴리이미드, 폴리에틸렌테레프탈레이트 및 폴리카르보네이트 등의 유기 기재, 구리 및 알루미늄 등의 금속 기재, 및 ITO, IZO, SiN 및 SiO2 등의 무기 기재를 들 수 있고, 다종다양한 표면 상태를 갖는 기재가 사용된다. 그로 인해, 회로 접속 재료는, 각 피착체에 맞춘 분자 설계가 필요하다(예를 들어 특허문헌 1 내지 2).Moreover, as an adherend adhered with a circuit connection material, for example, printed wiring boards, polyimides, organic substrates such as polyethylene terephthalate and polycarbonate, metal substrates such as copper and aluminum, and ITO, IZO, SiN, and And inorganic substrates such as SiO 2 , and substrates having various surface states are used. For this reason, the circuit connection material needs a molecular design tailored to each adherend (for example, Patent Documents 1 to 2).

종래부터, 반도체 소자용 또는 액정 표시 소자용의 회로 접속 재료로서는, 고접착성 및 고신뢰성을 나타내는 에폭시 수지를 사용한 열경화성 수지 조성물이 사용되고 있다(예를 들어, 특허문헌 1 참조). 이러한 열경화성 수지 조성물의 구성 성분으로서는, 에폭시 수지, 에폭시 수지와 반응성을 갖는 페놀 수지 등의 경화제, 및 에폭시 수지와 경화제의 반응을 촉진하는 열잠재성 촉매가 일반적으로 사용되고 있다.Conventionally, as a circuit connection material for a semiconductor element or a liquid crystal display element, a thermosetting resin composition using an epoxy resin exhibiting high adhesion and high reliability has been used (for example, see Patent Document 1). As a constituent component of such a thermosetting resin composition, a curing agent such as an epoxy resin, a phenol resin having reactivity with an epoxy resin, and a thermal latent catalyst that accelerates the reaction between the epoxy resin and the curing agent are generally used.

상술한 회로 접속 재료는, 실제의 공정에서는, 170 내지 250℃의 온도에서 1 내지 3시간 경화함으로써 원하는 접착을 얻고 있었다. 그러나, 최근의 반도체 소자의 고집적화 및 액정 소자의 고정밀화에 수반하여, 소자 간 및 배선 간 피치가 협소화하여, 경화 시의 가열에 의해 주변 부재에 악영향을 미칠 우려가 나오고 있다.In the actual process, the above-described circuit connection material was cured at a temperature of 170 to 250 ° C for 1 to 3 hours to obtain desired adhesion. However, with the recent high integration of semiconductor elements and high precision of liquid crystal elements, the pitch between elements and wirings is narrowed, and there is a fear that adverse effects may be exerted on the peripheral members by heating during curing.

또한, 저비용화를 위해서는, 스루풋을 향상시킬 필요성이 있어, 보다 저온 또한 단시간의 경화, 바꾸어 말하면 저온속경화에서의 접착이 요구되고 있다. 이 저온속경화를 달성하기 위해서는, 활성화 에너지가 낮은 열잠재성 촉매를 사용할 필요가 있어, 실온 부근에서의 저장 안정성을 겸비하는 것이 매우 어렵다.In addition, in order to lower the cost, there is a need to improve the throughput, and a lower temperature and a shorter time curing, in other words, adhesion at a lower temperature and faster curing is required. In order to achieve this low-temperature rapid curing, it is necessary to use a thermal latent catalyst having a low activation energy, and it is very difficult to combine storage stability at room temperature.

최근 들어, 아크릴레이트 유도체 및/또는 메타크릴레이트 유도체(이후, (메트)아크릴레이트 유도체라고 부름)와 라디칼 중합 개시제인 과산화물을 병용한, 라디칼 경화형 접착제가 주목받고 있다. 라디칼 경화형 접착제는, 반응 활성종인 라디칼이 반응성이 많기 때문에, 단시간 경화가 가능하다(예를 들어, 특허문헌 2 참조).In recent years, radical-curable adhesives, in which acrylate derivatives and / or methacrylate derivatives (hereinafter referred to as (meth) acrylate derivatives) and a radical polymerization initiator peroxide are used in combination, have attracted attention. In the radical-curable adhesive, since radicals, which are reactive active species, are highly reactive, curing in a short time is possible (for example, see Patent Document 2).

일본 특허 공개 평1-113480호 공보Japanese Patent Publication No. Hei1-113480 국제 공개98/44067호 팸플릿International Publication 98/44067 pamphlet

그러나, 라디칼 경화형 접착제는, (메트)아크릴레이트의 경화 수축이 에폭시 수지의 경화 수축과 비교하여 크기 때문에, 접속 구조체를 예를 들어 85℃ 85% RH와 같은 고온고습 환경 하에 방치한 경우, 회로 부재와 회로 접속 재료의 계면에 박리 기포가 발생해버리는 경우가 많다. 이것을 해결하기 위해서 (메트)아크릴레이트의 배합량을 적게 한 경우, 회로 부재와 회로 접속 재료의 계면에서의 박리는 억제할 수 있더라도, 접착 강도가 낮아지거나, 상대하는 전극 간의 전기적 접속을 유지할 수 없게 되거나 하게 된다.However, the radical curable adhesive is a circuit member when the connection structure is left under a high temperature and high humidity environment such as 85 ° C 85% RH, because the curing shrinkage of the (meth) acrylate is larger than that of the epoxy resin. In many cases, peeling bubbles are generated at the interface between the and circuit connection material. In order to solve this, when the blending amount of (meth) acrylate is reduced, the peeling at the interface between the circuit member and the circuit connecting material can be suppressed, but the adhesive strength becomes low, or the electrical connection between the counter electrodes cannot be maintained. Is done.

본 발명은 상기 종래 기술이 갖는 과제를 감안하여 이루어진 것으로서, 라디칼 중합형이면서, 회로 부재를 접속 후에 고온고습 환경 하에 방치한 경우에도, 회로 부재와의 계면에서의 박리 기포의 발생을 충분히 억제할 수 있고 또한 충분한 접속 신뢰성을 유지할 수 있는 회로 접속 재료와, 상기 회로 접속 재료를 사용하여 제작된 회로 접속 구조체와, 상기 회로 접속 재료를 포함하는 접속 재료층을 구비하는 접착 필름과, 상기 접착 필름의 권중체를 제공하는 것을 목적으로 한다.The present invention has been made in view of the problems of the prior art, and is capable of sufficiently suppressing the generation of peeling bubbles at the interface with the circuit member even when the circuit member is left under a high temperature and high humidity environment after being connected while being radically polymerized. An adhesive film comprising a circuit connection material that is capable of maintaining sufficient connection reliability, a circuit connection structure produced using the circuit connection material, and a connection material layer containing the circuit connection material, and a roll of the adhesive film The purpose is to provide a sieve.

본 발명은 서로 대향하는 2개의 회로 부재를 전기적으로 접속하기 위한 회로 접속 재료로서, 열가소성 수지, 라디칼 중합성 화합물, 라디칼 중합 개시제 및 무기 미립자를 함유하고, 상기 라디칼 중합성 화합물의 함유량이 상기 회로 접속 재료의 전량 기준으로 40질량% 이상이고, 상기 라디칼 중합성 화합물 중 분자량 1000 이하의 화합물의 함유량이 상기 회로 접속 재료의 전량 기준으로 15질량% 이하이고, 상기 무기 미립자의 함유량이 상기 회로 접속 재료의 전량 기준으로 5 내지 30질량%이고, 적어도 하기 화학식 1로 표시되는 화합물을 함유하는, 회로 접속 재료를 제공한다.The present invention is a circuit connecting material for electrically connecting two circuit members facing each other, containing a thermoplastic resin, a radical polymerizable compound, a radical polymerization initiator, and inorganic fine particles, and the content of the radical polymerizable compound is the circuit connection 40 mass% or more based on the total amount of the material, the content of the compound having a molecular weight of 1000 or less in the radically polymerizable compound is 15 mass% or less based on the total amount of the circuit connecting material, and the content of the inorganic fine particles is the A circuit connecting material is provided, which is 5 to 30% by mass based on the total amount and contains at least a compound represented by the following formula (1).

Figure pat00001
Figure pat00001

[식 중, R1, R2 및 R3은 각각 독립적으로 수소 원자, 탄소수 1 내지 5의 알킬기, 탄소수 1 내지 5의 알콕시기, 탄소수 1 내지 5의 알콕시카르보닐기 또는 아릴기를 나타내며, R1, R2 및 R3 중 적어도 하나는 탄소수 1 내지 5의 알콕시기이고, R4는 (메트)아크릴로일기, 비닐기, 이소시아네이트기, 이미다졸기, 머캅토기, 아미노기, 메틸아미노기, 디메틸아미노기, 벤질아미노기, 페닐아미노기, 시클로헥실아미노기, 모르폴리노기, 피페라지노기, 우레이도기 또는 글리시딜기를 나타내며, n은 1 내지 10의 정수를 나타냄][Wherein, R 1 , R 2 and R 3 each independently represent a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 5 carbon atoms, an alkoxycarbonyl group having 1 to 5 carbon atoms, or an aryl group, and R 1 and R At least one of 2 and R 3 is an alkoxy group having 1 to 5 carbon atoms, and R 4 is (meth) acryloyl group, vinyl group, isocyanate group, imidazole group, mercapto group, amino group, methylamino group, dimethylamino group, benzylamino group , Represents a phenylamino group, cyclohexylamino group, morpholino group, piperazino group, ureido group or glycidyl group, n represents an integer of 1 to 10]

본 발명의 회로 접속 재료는 라디칼 경화형이기 때문에, 저온 또한 단시간에 회로 부재끼리를 접착할 수 있다. 또한, 본 발명의 회로 접속 재료에 의하면, 회로 부재를 접속 후에 고온고습 환경 하에 방치한 경우에도, 회로 부재와의 계면에서의 박리 기포의 발생이 충분히 억제되고, 또한 충분한 접속 신뢰성이 유지된다.Since the circuit connection material of the present invention is a radical curing type, it is possible to bond circuit members to each other at low temperature and in a short time. Further, according to the circuit connection material of the present invention, even when the circuit member is left in a high-temperature and high-humidity environment after connection, generation of peeling bubbles at the interface with the circuit member is sufficiently suppressed, and sufficient connection reliability is maintained.

본 발명의 회로 접속 재료에 있어서는, 상기 열가소성 수지가, 유리 전이 온도가 25℃ 이상인 수지를 적어도 1종 포함하고 있을 수도 있다.In the circuit connection material of the present invention, the thermoplastic resin may contain at least one resin having a glass transition temperature of 25 ° C or higher.

본 발명의 회로 접속 재료에 있어서, 상기 무기 미립자의 평균 입자 직경이 1㎛ 미만 있을 수도 있다.In the circuit connection material of the present invention, the average particle diameter of the inorganic fine particles may be less than 1 µm.

본 발명의 회로 접속 재료는, 도전성 입자가 분산되어 있을 수도 있다. 도전성 입자를 분산시킴으로써, 회로 접속 재료에 도전성 또는 이방 도전성을 부여할 수 있고, 이러한 회로 접속 재료는, 회로 전극을 갖는 회로 부재끼리를 접속하기 위한 용도 등에 보다 적합하게 사용할 수 있다. 또한, 이러한 회로 접속 재료로 접속함으로써, 접속된 회로 전극 간의 접속 저항을 충분히 저감할 수 있다.In the circuit connecting material of the present invention, conductive particles may be dispersed. By dispersing the conductive particles, it is possible to impart conductivity or anisotropy to the circuit connection material, and such a circuit connection material can be more suitably used for applications such as connecting circuit members having circuit electrodes. Further, by connecting with such a circuit connection material, the connection resistance between the connected circuit electrodes can be sufficiently reduced.

즉, 본 발명은 상기 회로 접속 재료와 상기 회로 접속 재료 중에 분산된 도전성 입자를 함유하는 이방 도전성 접착제여도 된다. 또한, 본 명세서 중 「회로 접속 재료의 전량」에는 도전성 입자는 포함되지 않는다.That is, the present invention may be an anisotropic conductive adhesive containing the circuit connecting material and conductive particles dispersed in the circuit connecting material. In addition, in this specification, "a total amount of circuit connection material" does not contain electroconductive particle.

본 발명의 회로 접속 재료의 형상은, 필름상으로 할 수 있다. 이러한 회로 접속 재료는 취급성이 우수하다.The circuit connection material of the present invention can be formed into a film. Such a circuit connection material is excellent in handling.

본 발명에 있어서, 상기 2개의 회로 부재 중 적어도 한쪽은 유리 기판일 수 있다. 또한, 상기 2개의 회로 부재 중 적어도 한쪽은, 플렉시블 기판일 수 있다. 본 발명의 회로 접속 재료는 이러한 회로 부재의 접속에 적절하게 사용할 수 있다.In the present invention, at least one of the two circuit members may be a glass substrate. In addition, at least one of the two circuit members may be a flexible substrate. The circuit connecting material of the present invention can be suitably used for connecting such circuit members.

본 발명은 또한, 대향 배치된 한 쌍의 회로 부재와, 상기 회로 접속 재료의 경화물을 포함하며, 상기 한 쌍의 회로 부재의 사이에 개재하여 각각의 회로 부재가 갖는 회로 전극끼리가 전기적으로 접속되도록 당해 회로 부재끼리를 접속하는 접속 부재를 구비하는, 회로 접속 구조체를 제공한다.The present invention also includes a pair of circuit members disposed opposite to each other, and a cured product of the circuit connection material, and the circuit electrodes of each circuit member are electrically connected between the pair of circuit members. Provided is a circuit connection structure provided with a connection member that connects the circuit members as much as possible.

본 발명의 회로 접속 구조체는, 상기 회로 접속 재료의 경화물을 포함하는 접속 부재에 의해 회로 부재끼리가 접착되어 있기 때문에, 고온고습 조건 하에 방치한 경우에도, 회로 부재와 접속 부재의 계면에서의 박리 기포의 발생이 충분히 억제되고, 또한 충분한 접속 신뢰성이 유지된다.Since the circuit members of the present invention are bonded to each other by connecting members comprising a cured product of the circuit connecting material, peeling at the interface between the circuit member and the connecting member even when left under high temperature and high humidity conditions The generation of bubbles is sufficiently suppressed, and sufficient connection reliability is maintained.

본 발명은 또한, 필름 기재와, 상기 필름 기재의 한쪽면 상에 설치된 상기 회로 접속 재료를 포함하는 필름상 접착제를 구비하는 접착 필름을 제공한다. 이러한 접착 필름은, 상기 회로 접속 재료를 포함하는 필름상 접착제를 구비하기 때문에, 회로 부재끼리의 접속에 적절하게 이용할 수 있다. 또한, 본 발명의 접착 필름은, 릴상으로 권중하여 보관할 수 있다.The present invention also provides an adhesive film comprising a film substrate and a film-like adhesive comprising the circuit connecting material provided on one side of the film substrate. Since such an adhesive film is provided with the film adhesive containing the said circuit connection material, it can be used suitably for connection between circuit members. Moreover, the adhesive film of this invention can be wound up and stored in reel shape.

종래의 회로 접속 재료를 필름 기재의 한쪽면 상에 도포하여 릴상으로 하여 권중한 경우, 필름 기재의 다른쪽 면 상에 필름상 접착제가 전사하여, 유효하게 사용할 수 없게 되는 경우가 있다. 이에 비해 본 발명의 접착 필름에서는, 필름상 접착제가 상기 회로 접속 재료를 포함하는 것이기 때문에, 릴상으로 권중한 경우에도 필름 기재의 다른쪽면 상에의 필름상 접착제의 전사가 충분히 억제된다.When a conventional circuit connection material is coated on one side of a film base material and wound into a reel, a film-like adhesive may be transferred onto the other side of the film base material, making it impossible to use effectively. On the other hand, in the adhesive film of this invention, since a film adhesive contains the said circuit connection material, transfer of the film adhesive on the other side of a film base material is fully suppressed even when it is wound in reel shape.

본 발명은 또한, 상기 접착 필름을 릴상으로 권중하여 이루어지는 권중체를 제공한다. 본 발명의 권중체는, 회로 부재끼리의 접속에 적절하게 이용할 수 있다. 또한, 본 발명의 권중체에서는, 필름 기재의 다른쪽면 상으로의 필름상 접착제의 전사가 충분히 억제된다.The present invention also provides a wound body formed by winding the adhesive film in a reel. The winding body of the present invention can be suitably used for connection between circuit members. Further, in the rolled body of the present invention, the transfer of the film-like adhesive onto the other side of the film base is sufficiently suppressed.

또한, 본 발명은 열가소성 수지, 라디칼 중합성 화합물, 라디칼 중합 개시제 및 무기 미립자를 함유하는 조성물의, 서로 대향하는 2개의 회로 부재를 전기적으로 접속하기 위한 회로 접속 재료로서의 용도라고 할 수도 있다. 여기서, 상기 라디칼 중합성 화합물의 함유량은, 상기 조성물의 전량 기준으로 40질량% 이상이고, 상기 라디칼 중합성 화합물 중 분자량 1000 이하의 화합물의 함유량은, 상기 조성물의 전량 기준으로 15질량% 이하이고, 상기 무기 미립자의 함유량은, 상기 조성물의 전량 기준으로 5 내지 30질량%이고, 상기 조성물은, 적어도 상기 화학식 1로 표시되는 화합물을 함유한다.In addition, the present invention can also be said to be a use of a composition containing a thermoplastic resin, a radically polymerizable compound, a radical polymerization initiator, and inorganic fine particles as a circuit connecting material for electrically connecting two circuit members facing each other. Here, the content of the radically polymerizable compound is 40% by mass or more based on the total amount of the composition, and the content of the compound having a molecular weight of 1000 or less in the radically polymerizable compound is 15% by mass or less based on the total amount of the composition, The content of the inorganic fine particles is 5 to 30% by mass based on the total amount of the composition, and the composition contains at least a compound represented by the formula (1).

또한, 본 발명은 열가소성 수지, 라디칼 중합성 화합물, 라디칼 중합 개시제 및 무기 미립자를 함유하는 조성물의, 서로 대향하는 2개의 회로 부재를 전기적으로 접속하기 위한 회로 접속 재료의 제조를 위한 용도라고 할 수도 있다. 여기서, 상기 라디칼 중합성 화합물의 함유량은, 상기 조성물의 전량 기준으로 40질량% 이상이고, 상기 라디칼 중합성 화합물 중 분자량 1000 이하의 화합물의 함유량은, 상기 조성물의 전량 기준으로 15질량% 이하이고, 상기 무기 미립자의 함유량은, 상기 조성물의 전량 기준으로 5 내지 30질량%이고, 상기 조성물은, 적어도 상기 화학식 1로 표시되는 화합물을 함유한다.Further, the present invention can also be said to be a use for the production of a circuit connecting material for electrically connecting two circuit members facing each other of a composition containing a thermoplastic resin, a radical polymerizable compound, a radical polymerization initiator, and inorganic fine particles. . Here, the content of the radically polymerizable compound is 40% by mass or more based on the total amount of the composition, and the content of the compound having a molecular weight of 1000 or less in the radically polymerizable compound is 15% by mass or less based on the total amount of the composition, The content of the inorganic fine particles is 5 to 30% by mass based on the total amount of the composition, and the composition contains at least a compound represented by the formula (1).

이 용도에 의하면, 라디칼 중합형이면서, 회로 부재를 접속 후에 고온고습 환경 하에 방치한 경우에도, 회로 부재와의 계면에서의 박리 기포의 발생을 충분히 억제할 수 있고 또한 충분한 접속 신뢰성을 유지할 수 있는 회로 접속 재료를 얻을 수 있다.According to this use, even if the circuit member is a radical polymerization type and the circuit member is left in a high temperature and high humidity environment after being connected, a circuit capable of sufficiently suppressing the occurrence of peeling bubbles at the interface with the circuit member and maintaining sufficient connection reliability Connection material can be obtained.

본 발명에 따르면, 라디칼 중합형이면서, 회로 부재를 접속 후에 고온고습 환경 하에 방치한 경우에도, 회로 부재와의 계면에서의 박리 기포의 발생을 충분히 억제할 수 있고 또한 충분한 접속 신뢰성을 유지할 수 있는 회로 접속 재료와, 상기 회로 접속 재료를 사용하여 제작된 회로 접속 구조체와, 상기 회로 접속 재료를 포함하는 접속 재료층을 구비하는 접착 필름과, 상기 접착 필름의 권중체가 제공된다.According to the present invention, a circuit capable of sufficiently suppressing the occurrence of peeling bubbles at the interface with the circuit member and maintaining sufficient connection reliability even when the circuit member is left in a high-temperature and high-humidity environment after connection, according to the present invention. An adhesive film comprising a connecting material, a circuit connecting structure produced using the circuit connecting material, a connecting material layer containing the circuit connecting material, and a wound body of the adhesive film are provided.

도 1은 본 발명의 회로 접속 재료의 일 실시 형태를 도시하는 모식 단면도이다.
도 2는 본 발명의 접속 구조체의 일 실시 형태를 도시하는 모식 단면도이다.
도 3의 (a) 내지 (c)는 회로 부재를 접속하는 일련의 공정을 도시하는 공정도이다.
1 is a schematic cross-sectional view showing an embodiment of a circuit connecting material of the present invention.
2 is a schematic cross-sectional view showing an embodiment of the connection structure of the present invention.
3 (a) to 3 (c) are process diagrams showing a series of processes for connecting circuit members.

이하, 경우에 따라 도면을 참조하면서, 본 발명의 적합한 실시 형태에 대하여 상세하게 설명한다. 또한, 도면 중, 동일하거나 또는 상당히 부분에는 동일 부호를 붙이고, 중복하는 설명은 생략한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings in some cases. In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the same or considerably part in a figure, and the overlapping description is abbreviate | omitted.

또한, 본 명세서에 있어서, (메트)아크릴산이란 아크릴산 또는 거기에 대응하는 메타크릴산을 나타내고, (메트)아크릴레이트란 아크릴레이트 또는 거기에 대응하는 메타크릴레이트를 의미하고, (메트)아크릴로일기란 아크릴로일기 또는 메타크릴로일기를 의미한다.In addition, in this specification, (meth) acrylic acid means acrylic acid or methacrylic acid corresponding thereto, (meth) acrylate means acrylate or methacrylate corresponding thereto, and (meth) acryloyl group The term "acryloyl group" or "methacryloyl group" means.

본 실시 형태의 회로 접속 재료는, 서로 대향하는 2개의 회로 부재를 전기적으로 접속하기 위하여 적절하게 사용할 수 있고, 열가소성 수지(이하, 경우에 따라 「(a) 성분」이라고 칭함)와, 라디칼 중합성 화합물(이하, 경우에 따라 「(b) 성분」이라고 칭함)과, 라디칼 중합 개시제(이하, 경우에 따라 「(c) 성분」이라고 칭함)와, 무기 미립자(이하, 경우에 따라 「(d) 성분」이라고 칭함)를 함유한다.The circuit connection material of the present embodiment can be suitably used to electrically connect two circuit members facing each other, a thermoplastic resin (hereinafter referred to as "(a) component" in some cases), and radical polymerizability. Compound (hereinafter, sometimes referred to as "component (b)"), radical polymerization initiator (hereinafter, referred to as "(c) component" in some cases), and inorganic fine particles (hereinafter, referred to as "(d)" Ingredients).

본 실시 형태에 있어서, (b) 성분의 함유량은, 회로 접속 재료의 전량 기준으로 40질량% 이상이고, (b) 성분 중 분자량 1000 이하의 화합물의 함유량은, 회로 접속 재료의 전량 기준으로 15질량% 이하이고, (d) 성분의 함유량은, 5 내지 30질량%이다.In the present embodiment, the content of the component (b) is 40% by mass or more based on the total amount of the circuit connection material, and the content of the compound having a molecular weight of 1000 or less in the component (b) is 15% by mass based on the total amount of the circuit connection material. % Or less, and the content of the component (d) is 5 to 30 mass%.

또한, 본 실시 형태의 회로 접속 재료는, 하기 화학식 1로 표시되는 화합물(이하, 경우에 따라 「실란 커플링제」라고 칭함)을 함유한다.In addition, the circuit connection material of this embodiment contains the compound represented by the following general formula (1) (hereinafter, sometimes referred to as a "silane coupling agent").

<화학식 1><Formula 1>

Figure pat00002
Figure pat00002

화학식 1 중, R1, R2 및 R3은 각각 독립적으로 수소 원자, 탄소수 1 내지 5의 알킬기, 탄소수 1 내지 5의 알콕시기, 탄소수 1 내지 5의 알콕시카르보닐기 또는 아릴기를 나타내며, R1, R2 및 R3 중 적어도 하나는 탄소수 1 내지 5의 알콕시기이고, R4는 (메트)아크릴로일기, 비닐기, 이소시아네이트기, 이미다졸기, 머캅토기, 아미노기, 메틸아미노기, 디메틸아미노기, 벤질아미노기, 페닐아미노기, 시클로헥실아미노기, 모르폴리노기, 피페라지노기, 우레이도기 또는 글리시딜기를 나타내며, n은 1 내지 10의 정수를 나타낸다.In Formula 1, R 1 , R 2 and R 3 each independently represent a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 5 carbon atoms, an alkoxycarbonyl group having 1 to 5 carbon atoms, or an aryl group, and R 1 and R At least one of 2 and R 3 is an alkoxy group having 1 to 5 carbon atoms, and R 4 is (meth) acryloyl group, vinyl group, isocyanate group, imidazole group, mercapto group, amino group, methylamino group, dimethylamino group, benzylamino group , Phenylamino group, cyclohexylamino group, morpholino group, piperazino group, ureido group or glycidyl group, n represents an integer of 1 to 10.

실란 커플링제는, (b) 성분의 라디칼 중합성 화합물의 일부로서 회로 접속 재료에 배합되어 있어도 되고, (a) 내지 (d) 성분 이외의 성분으로서 회로 접속 재료에 배합되어 있을 수도 있다. 예를 들어, 화학식 1의 R4가 (메트)아크릴로일기 또는 비닐기일 때, 실란 커플링제는 (b) 성분에 포함된다.The silane coupling agent may be blended in the circuit connecting material as part of the radical polymerizable compound of the component (b), or may be blended in the circuit connecting material as components other than the components (a) to (d). For example, when R 4 of Formula 1 is a (meth) acryloyl group or a vinyl group, a silane coupling agent is included in the component (b).

본 실시 형태의 회로 접속 부재는, 라디칼 경화형이기 때문에, 저온 또한 단시간에 회로 부재끼리를 접착할 수 있다. 또한, 본 실시 형태의 회로 접속 재료에 의하면, 회로 부재를 접속 후에 고온고습 환경 하에 방치한 경우에도, 회로 부재와의 계면에서의 박리 기포의 발생이 충분히 억제되고, 또한 충분한 접속 신뢰성이 유지된다.Since the circuit connecting member of this embodiment is a radical curing type, it is possible to bond the circuit members to each other at a low temperature and for a short time. Further, according to the circuit connection material of the present embodiment, even when the circuit member is left in a high temperature and high humidity environment after connection, generation of peeling bubbles at the interface with the circuit member is sufficiently suppressed, and sufficient connection reliability is maintained.

(a) 성분으로서는, 공지된 열가소성 수지를 특별히 제한없이 사용할 수 있고, 공지된 열가소성 수지를 복수종 혼합하여 사용할 수도 있다.As the component (a), a known thermoplastic resin can be used without particular limitation, and a plurality of known thermoplastic resins can be mixed and used.

(a) 성분은, 필름 형성성이 한층 향상되는 관점에서, 유리 전이 온도가 25℃ 이상인 수지를 적어도 1종 포함하는 것이 바람직하다. 이러한 수지로서는, 폴리이미드 수지, 폴리아미드 수지, 페녹시 수지, 폴리(메트)아크릴레이트 수지, 폴리에스테르 수지, 폴리우레탄 수지, 폴리비닐부티랄 수지 등을 들 수 있다. 또한, (a) 성분은, 유리 전이 온도가 25℃ 미만인 수지를 함유하고 있을 수도 있다. 또한, 열가소성 수지의 유리 전이 온도는 일반적으로 DSC법이나 DVE법에 의해 구할 수 있고, 본 명세서에 있어서 유리 전이 온도는 DSC법을 사용하여 구한 값을 나타낸다.It is preferable that (a) component contains at least 1 sort (s) or more of resin whose glass transition temperature is 25 degreeC or more from a viewpoint that film formability improves further. Examples of the resin include polyimide resin, polyamide resin, phenoxy resin, poly (meth) acrylate resin, polyester resin, polyurethane resin, and polyvinyl butyral resin. Moreover, (a) component may contain the resin whose glass transition temperature is less than 25 degreeC. In addition, the glass transition temperature of a thermoplastic resin can generally be calculated | required by DSC method or DVE method, and the glass transition temperature in this specification shows the value calculated | required using DSC method.

(a) 성분의 열가소성 수지 중에는, 실록산 결합 또는 불소 치환기(예를 들어, 불소 원자, 불화알킬기 또는 불화아릴기)가 포함되어 있을 수도 있다.In the thermoplastic resin of the component (a), a siloxane bond or a fluorine substituent (for example, a fluorine atom, an alkyl fluoride group, or an aryl fluoride group) may be included.

(a) 성분으로서 2종 이상의 열가소성 수지를 혼합하여 사용하는 경우, 혼합하는 열가소성 수지끼리가 완전히 상용하거나, 마이크로 상분리가 발생하여 백탁 상태로 되는 것이 바람직하다.(a) When two or more types of thermoplastic resins are mixed and used as a component, it is preferable that the thermoplastic resins to be mixed are completely compatible, or micro phase separation occurs to become a cloudy state.

회로 접속 재료는, (a) 성분으로서, 유리 전이 온도가 25℃ 이상인 수지를 적어도 1종 함유하는 것이 바람직하고, 그 수지의 중량 평균 분자량은 5.0×103 내지 2.0×105인 것이 바람직하고, 1.0×104 내지 1.5×105인 것이 보다 바람직하다.It is preferable that the circuit connection material contains at least one resin having a glass transition temperature of 25 ° C or higher as the component (a), and the weight average molecular weight of the resin is preferably 5.0 × 10 3 to 2.0 × 10 5 , It is more preferable that it is 1.0 × 10 4 to 1.5 × 10 5 .

(a) 성분 중, 유리 전이 온도가 25℃ 이상인 수지는, 중량 평균 분자량이 5.0×103 미만인 경우, 회로 접속 재료의 접착력이 떨어지는 경향이나, 필름 형성성이 충분히 얻어지지 않는 경향이 있고, 중량 평균 분자량이 2.0×105를 초과하는 경우, 회로 접속 재료의 다른 성분과의 상용성이 떨어져서, 회로 접속 재료의 유동성을 저하시키는 경우가 있다. 이에 비해, 중량 평균 분자량이 상기 범위인 수지에 의하면, 회로 접속 재료의 접착력의 저하 및 유동성의 저하를 충분히 억제할 수 있어, 접속 신뢰성을 한층 향상시킬 수 있다.(a) Among the components, resins having a glass transition temperature of 25 ° C. or higher tend to have poor adhesion to circuit connection materials or insufficient film formability when the weight average molecular weight is less than 5.0 × 10 3 , and the weight is When the average molecular weight exceeds 2.0 × 10 5 , compatibility with other components of the circuit connecting material is poor, and the fluidity of the circuit connecting material may be lowered. On the other hand, according to the resin whose weight average molecular weight is the said range, the fall of the adhesive force of a circuit connection material and the fall of fluidity can fully be suppressed and connection reliability can be improved further.

또한, 본 명세서에 있어서, 중량 평균 분자량은, GPC법으로 측정되는 폴리스티렌 환산의 중량 평균 분자량을 나타낸다.In addition, in this specification, the weight average molecular weight shows the weight average molecular weight of polystyrene conversion measured by GPC method.

회로 접속 재료는, (a) 성분으로서, 공지된 고무 성분을 함유하고 있을 수도 있다. 고무 성분의 첨가에 의해, 응력 완화 및 접착성의 향상을 기대할 수 있다. 고무 성분의 구체예로서는, 아크릴 고무, 폴리이소프렌, 폴리부타디엔, 카르복실기 말단 폴리부타디엔, 수산기 말단 폴리부타디엔, 1,2-폴리부타디엔, 카르복실기 말단 1,2-폴리부타디엔, 수산기 말단 1,2-폴리부타디엔, 스티렌-부타디엔 고무, 수산기 말단 스티렌-부타디엔 고무, 카르복실기, 수산기, 카르보키실화니트릴 고무, 수산기 말단 폴리(옥시프로필렌), 알콕시실릴기 말단 폴리(옥시프로필렌), 폴리(옥시 테트라메틸렌)글리콜, 폴리올레핀글리콜 및 폴리-ε-카프로락톤 등을 들 수 있다.The circuit connection material may contain a well-known rubber component as (a) component. By adding a rubber component, stress relaxation and improvement of adhesiveness can be expected. Specific examples of the rubber component include acrylic rubber, polyisoprene, polybutadiene, carboxyl group-terminated polybutadiene, hydroxyl group-terminated polybutadiene, 1,2-polybutadiene, carboxyl group-terminated 1,2-polybutadiene, hydroxyl group 1,2-polybutadiene, Styrene-butadiene rubber, hydroxyl group Styrene-butadiene rubber, carboxyl group, hydroxyl group, carbocylation nitrile rubber, hydroxyl group poly (oxypropylene), alkoxysilyl group terminal poly (oxypropylene), poly (oxy tetramethylene) glycol, polyolefin glycol And poly-ε-caprolactone.

고무 성분의 중량 평균 분자량은, 2.0×105 내지 1.0×106인 것이 바람직하다. 고무 성분의 중량 평균 분자량이 2.0×105 미만이면 충분한 응력 완화 효과를 얻지 못하게 되는 경우가 있고, 1.0×106을 초과하면 회로 접속 재료의 유동성이 저하하는 경우가 있다. 즉, 중량 평균 분자량이 상기 범위에 있는 고무 성분에 의하면, 회로 접속 재료의 유동성 저하를 충분히 억제하면서, 한층 우수한 응력 완화 효과를 얻을 수 있다.The weight average molecular weight of the rubber component is preferably 2.0 × 10 5 to 1.0 × 10 6 . When the weight average molecular weight of the rubber component is less than 2.0 × 10 5, a sufficient stress relaxation effect may not be obtained, and if it exceeds 1.0 × 10 6 , the fluidity of the circuit connection material may decrease. That is, according to the rubber component whose weight average molecular weight is in the above range, an excellent stress relaxation effect can be obtained while sufficiently suppressing the decrease in fluidity of the circuit connecting material.

고무 성분으로서는, 접착성 향상의 관점에서, 고극성기인 시아노기 또는 카르복실기를 측쇄 또는 말단에 갖는 고무 성분이 바람직하다. 또한, 고무 성분은 1종을 단독으로 또는 2종 이상을 혼합하여 사용할 수 있다.As the rubber component, from the viewpoint of improving adhesion, a rubber component having a cyano group or a carboxyl group, which is a high polar group, on the side chain or terminal is preferable. In addition, a rubber component can be used individually by 1 type or in mixture of 2 or more types.

(a) 성분 중 유리 전이 온도가 25℃ 이상인 열가소성 수지의 함유량은, 회로 접속 재료의 전량 기준으로 10 내지 50질량%인 것이 바람직하고, 20 내지 40질량%인 것이 보다 바람직하다.The content of the thermoplastic resin having a glass transition temperature of 25 ° C or higher in the component (a) is preferably 10 to 50% by mass, more preferably 20 to 40% by mass, based on the total amount of the circuit connection material.

(a) 성분 중 유리 전이 온도가 25℃ 이상인 열가소성 수지의 함유량이 10질량% 미만이면 필름 형성성이 떨어지는 경우가 있고, 50질량%를 초과하면, 회로 접속 재료의 유동성이 저하하는 경우가 있다. 이에 비해, 상기 범위이면, 회로 접속 재료의 접착력의 저하 및 유동성의 저하를 충분히 억제하면서, 한층 우수한 필름 형성성 및 접속 신뢰성을 얻을 수 있다.When the content of the thermoplastic resin having a glass transition temperature of 25 ° C or higher in the component (a) is less than 10% by mass, the film formability may be poor, and when it exceeds 50% by mass, the fluidity of the circuit connection material may decrease. On the other hand, if it is the said range, the film formability and connection reliability which were excellent still more can be obtained, fully suppressing the fall of the adhesive force of a circuit connection material and the fall of fluidity.

(b) 성분으로서는, 공지된 라디칼 중합성 화합물을 사용할 수 있다. 또한 (b) 성분은, 1종을 단독으로 또는 2종 이상을 혼합하여 사용할 수 있다.As the component (b), a known radically polymerizable compound can be used. Moreover, (b) component can be used individually by 1 type or in mixture of 2 or more types.

본 실시 형태에 있어서, (b) 성분의 함유량은, 회로 접속 재료의 전량 기준으로 40질량% 이상이고, 바람직하게는 40 내지 70질량%이고, 보다 바람직하게는 45 내지 65질량%이다.In the present embodiment, the content of the component (b) is 40% by mass or more, preferably 40 to 70% by mass, and more preferably 45 to 65% by mass, based on the total amount of the circuit connection material.

또한, 본 실시 형태에 있어서, (b) 성분으로서는, 분자량이 1000을 초과하는 화합물(이하, 경우에 따라 「(b-1) 성분」이라고 칭함)을 주로 사용하고, 분자량 1000 이하의 화합물(이하, 경우에 따라 「(b-2) 성분」이라고 칭함)의 함유량은, 회로 접속 재료의 전량 기준으로 15질량% 이하로 한다. (b-1) 성분의 함유량을 15질량% 이하로 함으로써, 상술한 본 발명의 효과를 현저하게 얻을 수 있다.In the present embodiment, as the component (b), a compound having a molecular weight of more than 1000 (hereinafter referred to as "(b-1) component" in some cases) is mainly used, and a compound having a molecular weight of 1000 or less (hereinafter, In some cases, the content of "(b-2) component") is 15% by mass or less based on the total amount of the circuit connection material. When the content of the component (b-1) is 15% by mass or less, the effects of the present invention described above can be remarkably obtained.

(b-2) 성분의 함유량은, 15질량% 이하인 것이 바람직하고, 12.5질량% 이하인 것이 보다 바람직하다. 또한, (b-2) 성분의 함유량은, 2.5질량% 이상일 수 있고, 5질량% 이상일 수 있다.(b-2) It is preferable that content of a component is 15 mass% or less, and it is more preferable that it is 12.5 mass% or less. Moreover, content of (b-2) component may be 2.5 mass% or more, and may be 5 mass% or more.

(b-1) 성분의 함유량은, 회로 접속 재료의 전량 기준으로 25질량% 이상이고, 바람직하게는 30질량% 이상이고, 보다 바람직하게는 35질량% 이상이다. 또한, (b-1) 성분의 함유량은, 55질량% 이하일 수 있고, 50질량% 이하일 수도 있다.The content of the component (b-1) is 25% by mass or more, preferably 30% by mass or more, and more preferably 35% by mass or more, based on the total amount of the circuit connection material. Moreover, content of (b-1) component may be 55 mass% or less, and may be 50 mass% or less.

(b-1) 성분의 분자량은, 바람직하게는 20000 이하이고, 보다 바람직하게는 15000 이하이다. 또한, (b-1) 성분이 분자량 분포를 갖는 경우에는, (b-1) 성분의 중량 평균 분자량을, (b-1)의 분자량으로 간주할 수 있다.(b-1) The molecular weight of the component is preferably 20000 or less, and more preferably 15000 or less. In addition, when the component (b-1) has a molecular weight distribution, the weight average molecular weight of the component (b-1) can be regarded as the molecular weight of (b-1).

본 실시 형태에 있어서, (b-1) 성분의 함유량 C1에 대한 (b-2) 성분의 함유량 C2의 비(질량비) C2/C1은, 바람직하게는 0 내지 0.6이고, 보다 바람직하게는 0.05 내지 0.4이고, 더욱 바람직하게는 0.075 내지 0.35이다.In the present embodiment, the ratio (mass ratio) C 2 / C 1 of the content C 2 of the component (b-2) to the content C 1 of the component (b-1) is preferably 0 to 0.6, and more preferably Preferably it is 0.05 to 0.4, More preferably, it is 0.075 to 0.35.

(b-1) 성분으로서는, 예를 들어, 에폭시(메트)아크릴레이트올리고머, 우레탄(메트)아크릴레이트올리고머, 폴리에테르(메트)아크릴레이트올리고머, 폴리에스테르(메트)아크릴레이트올리고머 등의 올리고머; 트리메틸올프로판트리(메트)아크릴레이트, 폴리에틸렌글리콜디(메트)아크릴레이트, 폴리알킬렌글리콜디(메트)아크릴레이트, 디시클로펜테닐(메트)아크릴레이트, 디시클로펜테닐옥시에틸(메트)아크릴레이트, 네오펜틸글리콜디(메트)아크릴레이트, 디펜타에리트리톨헥사(메트)아크릴레이트, 이소시아누르산 변성 2관능(메트)아크릴레이트, 이소시아누르산 변성 3관능(메트)아크릴레이트, 비스페놀플루오렌디글리시딜에테르의 글리시딜기에 (메트)아크릴산을 부가시킨 에폭시(메트)아크릴레이트, 비스페놀플루오렌디글리시딜에테르의 글리시딜기에에틸렌글리콜 및/또는 프로필렌글리콜을 부가시킨 화합물에 (메트)아크릴로일옥시기를 도입한 화합물 등의 다관능 (메트)아크릴레이트를 들 수 있다. 이들 화합물은, 1종을 단독으로 또는 2종 이상을 혼합하여 사용할 수 있다.Examples of the component (b-1) include oligomers such as epoxy (meth) acrylate oligomer, urethane (meth) acrylate oligomer, polyether (meth) acrylate oligomer, and polyester (meth) acrylate oligomer; Trimethylolpropane tri (meth) acrylate, polyethylene glycol di (meth) acrylate, polyalkylene glycol di (meth) acrylate, dicyclopentenyl (meth) acrylate, dicyclopentenyloxyethyl (meth) acrylic Rate, neopentyl glycol di (meth) acrylate, dipentaerythritol hexa (meth) acrylate, isocyanuric acid modified bifunctional (meth) acrylate, isocyanuric acid modified trifunctional (meth) acrylate, bisphenol Epoxy (meth) acrylate in which (meth) acrylic acid is added to the glycidyl group of fluorenediglycidyl ether, and compound in which ethylene glycol and / or propylene glycol is added to the glycidyl group of bisphenol fluorenediglycidyl ether Polyfunctional (meth) acrylates, such as the compound which introduce | transduced the (meth) acryloyloxy group, are mentioned. These compounds can be used individually by 1 type or in mixture of 2 or more types.

또한, (b-2) 성분으로서는, 펜타에리트리톨(메트)아크릴레이트, 2-시아노에틸(메트)아크릴레이트, 시클로헥실(메트)아크릴레이트, 디시클로펜테닐(메트)아크릴레이트, 디시클로펜테닐옥시에틸(메트)아크릴레이트, 2-(2-에톡시에톡시)에틸(메트)아크릴레이트, 2-에톡시에틸(메트)아크릴레이트, 2-에틸헥실(메트)아크릴레이트, n-헥실(메트)아크릴레이트, 2-히드록시에틸(메트)아크릴레이트, 히드록시프로필(메트)아크릴레이트, 이소보르닐(메트)아크릴레이트, 이소데실(메트)아크릴레이트, 이소옥틸(메트)아크릴레이트, n-라우릴(메트)아크릴레이트, 2-메톡시에틸(메트)아크릴레이트, 2-페녹시에틸(메트)아크릴레이트, 테트라히드로푸르푸릴(메트)아크릴레이트, 2-(메트)아크릴로일옥시에틸포스페이트, N,N-디메틸아미노에틸(메트)아크릴레이트, N,N-디메틸아미노프로필(메트)아크릴레이트, (메트)아크릴로일모르폴린 등을 들 수 있다. 이들 화합물은, 1종을 단독으로 또는 2종 이상을 혼합하여 사용할 수 있다.Moreover, as a component (b-2), pentaerythritol (meth) acrylate, 2-cyanoethyl (meth) acrylate, cyclohexyl (meth) acrylate, dicyclopentenyl (meth) acrylate, dicyclo Pentenyloxyethyl (meth) acrylate, 2- (2-ethoxyethoxy) ethyl (meth) acrylate, 2-ethoxyethyl (meth) acrylate, 2-ethylhexyl (meth) acrylate, n- Hexyl (meth) acrylate, 2-hydroxyethyl (meth) acrylate, hydroxypropyl (meth) acrylate, isobornyl (meth) acrylate, isodecyl (meth) acrylate, isooctyl (meth) acrylic Rate, n-lauryl (meth) acrylate, 2-methoxyethyl (meth) acrylate, 2-phenoxyethyl (meth) acrylate, tetrahydrofurfuryl (meth) acrylate, 2- (meth) acrylic Loyloxyethyl phosphate, N, N-dimethylaminoethyl (meth) acrylate, N, N-dimethylami A (meth) acrylate, (meth) acrylate and the like can be given one morpholine. These compounds can be used individually by 1 type or in mixture of 2 or more types.

회로 접속 재료는, (b) 성분으로서, 분자 내에 2개 이상의 (메트)아크릴로일기를 갖는 화합물을 적어도 1종 함유하는 것이 바람직하고, (b-1) 성분으로서, 분자 내에 2개 이상의 (메트)아크릴로일기를 갖는 화합물을 적어도 1종 함유하는 것이 보다 바람직하다.It is preferable that the circuit connection material contains at least one compound having two or more (meth) acryloyl groups in the molecule as the component (b), and as the component (b-1), two or more (meth) It is more preferable to contain at least 1 type of compound which has an acryloyl group.

(b) 성분으로서는, (메트)아크릴로일기를 갖는 화합물이 바람직한데, (b) 성분으로서 알릴기, 말레이미드기 및 비닐기 등의 활성 라디칼에 의해 중합하는 관능기를 갖는 화합물을 사용할 수도 있다. 이러한 (b) 성분의 구체예로서는, N-비닐이미다졸, N-비닐피리딘, N-비닐피롤리돈, N-비닐포름아미드, N-비닐카프로락탐, 4,4'-비닐리덴 비스(N,N-디메틸아닐린), N-비닐아세트아미드, N,N-디메틸아크릴아미드, N-이소프로필아크릴아미드, N,N-디에틸아크릴아미드, 메틸올아크릴아미드, 4,4'-디페닐메탄비스말레이미드, 3,3'-디메틸-5,5'-4,4'-디페닐메탄비스말레이미드, 1,6-비스 말레이미드-(2,2,4-트리메틸)헥산 등을 들 수 있다.As the component (b), a compound having a (meth) acryloyl group is preferable, and as the component (b), a compound having a functional group polymerized by active radicals such as an allyl group, a maleimide group, and a vinyl group can also be used. Specific examples of the component (b) include N-vinylimidazole, N-vinylpyridine, N-vinylpyrrolidone, N-vinyl formamide, N-vinyl caprolactam, 4,4'-vinylidene bis (N , N-dimethylaniline), N-vinyl acetamide, N, N-dimethylacrylamide, N-isopropylacrylamide, N, N-diethylacrylamide, methylolacrylamide, 4,4'-diphenylmethane Bismaleimide, 3,3'-dimethyl-5,5'-4,4'-diphenylmethanebismaleimide, 1,6-bismaleimide- (2,2,4-trimethyl) hexane, and the like. have.

또한, 회로 접속 재료는, (b) 성분으로서, 인산에스테르 구조를 갖는 라디칼 중합성 화합물을 함유하고 있을 수도 있다. 인산에스테르 구조를 갖는 라디칼 중합성 화합물로서는, 예를 들어, 하기 화학식 2 내지 4로 표시되는 인산에스테르 구조를 갖는 라디칼 중합성 화합물을 들 수 있다. 이러한 화합물을 배합함으로써, 금속 등의 무기물 표면에 대한 접착 강도가 한층 향상하여, 회로 전극끼리의 접착에 한층 유효한 회로 접속 재료가 얻어진다.Moreover, the circuit connection material may contain the radically polymerizable compound which has a phosphate ester structure as (b) component. As a radically polymerizable compound which has a phosphate ester structure, the radically polymerizable compound which has a phosphate ester structure represented by following formula (2-4) is mentioned, for example. By blending these compounds, the adhesion strength to the surface of inorganic materials such as metals is further improved, and a circuit connection material that is more effective for adhesion between circuit electrodes is obtained.

Figure pat00003
Figure pat00003

화학식 2 중, R5는 (메트)아크릴로일옥시기를 나타내고, R6은 수소 원자 또는 메틸기를 나타내고, w 및 x는 각각 독립적으로 1 내지 8의 정수를 나타낸다. 식 중, R5끼리, R6끼리, w끼리 및 x끼리는 각각 동일하거나 상이할 수도 있다.In the formula (2), R 5 represents a (meth) acryloyloxy group, R 6 represents a hydrogen atom or a methyl group, and w and x each independently represent an integer of 1 to 8. In the formula, R 5 , R 6 , w and x may be the same or different.

Figure pat00004
Figure pat00004

화학식 3 중, R7은 (메트)아크릴로일옥시기를 나타내고, y 및 z는 각각 독립적으로 1 내지 8의 정수를 나타낸다. 식 중, R7끼리, y끼리 및 z끼리는 각각 동일하거나 상이할 수도 있다.In Formula 3, R 7 represents a (meth) acryloyloxy group, and y and z each independently represent an integer of 1 to 8. In the formula, R 7 , y and z may be the same or different.

Figure pat00005
Figure pat00005

화학식 4 중, R8은 (메트)아크릴로일옥시기를 나타내고, R9는 수소 원자 또는 메틸기를 나타내고, a 및 b는 각각 독립적으로 1 내지 8의 정수를 나타낸다.In the formula (4), R 8 represents a (meth) acryloyloxy group, R 9 represents a hydrogen atom or a methyl group, and a and b each independently represent an integer of 1 to 8.

인산에스테르 구조를 갖는 라디칼 중합성 화합물의 구체예로서는, 애시드포스포옥시에틸메타크릴레이트, 애시드포스포옥시에틸아크릴레이트, 애시드포스포옥시프로필메타크릴레이트, 애시드포스포옥시폴리옥시에틸렌글리콜모노메타크릴레이트, 애시드포스포옥시폴리옥시프로필렌글리콜모노메타크릴레이트, 2,2'-디(메트)아크릴로일옥시디에틸포스페이트, EO 변성 인산 디메타크릴레이트, 인산 변성 에폭시아크릴레이트 및 인산 비닐 등을 들 수 있다.Specific examples of the radically polymerizable compound having a phosphate ester structure include acid phosphooxyethyl methacrylate, acid phosphooxyethyl acrylate, acid phosphooxypropyl methacrylate, acid phosphooxypolyoxyethylene glycol monomethacryl Rate, acid phosphooxypolyoxypropylene glycol monomethacrylate, 2,2'-di (meth) acryloyloxydiethyl phosphate, EO-modified phosphate dimethacrylate, phosphate-modified epoxy acrylate, and vinyl phosphate. You can.

인산에스테르 구조를 갖는 라디칼 중합성 화합물의 함유량은, 회로 접속 재료의 전량 기준으로 0.01 내지 10질량%인 것이 바람직하고, 0.5 내지 5질량%인 것이 보다 바람직하다.The content of the radically polymerizable compound having a phosphate ester structure is preferably 0.01 to 10% by mass, more preferably 0.5 to 5% by mass, based on the total amount of the circuit connection material.

또한, 인산에스테르 구조를 갖는 라디칼 중합성 화합물로서, 무수 인산과 2-히드록시에틸(메트)아크릴레이트를 반응시킨 화합물을 사용할 수도 있다. 이러한 인산에스테르 구조를 갖는 라디칼 중합성 화합물로서는, 모노(2-메타크릴로일옥시에틸)애시드포스페이트, 디(2-메타크릴로일옥시에틸)애시드포스페이트 등이 있다. 또한, 인산에스테르 구조를 갖는 화합물은, 1종을 단독으로 사용하거나 2종 이상을 혼합하여 사용해도 된다.Further, as a radically polymerizable compound having a phosphate ester structure, a compound obtained by reacting anhydrous phosphoric acid with 2-hydroxyethyl (meth) acrylate may be used. Examples of the radically polymerizable compound having such a phosphate ester structure include mono (2-methacryloyloxyethyl) acid phosphate and di (2-methacryloyloxyethyl) acid phosphate. Moreover, the compound which has a phosphate ester structure may be used individually by 1 type or in mixture of 2 or more types.

인산에스테르 구조를 갖는 라디칼 중합성 화합물은, (b-1) 성분이거나 (b-2) 성분일 수도 있고, (b-2) 성분인 것이 바람직하다.The radically polymerizable compound having a phosphate ester structure may be a component (b-1) or a component (b-2) or a component (b-2).

회로 접속 재료는 또한, 상술한 바와 같이, 화학식 1로 표시되는 실란 커플링제 중 라디칼 중합성을 갖는 것을 (b) 성분으로서 함유하고 있을 수도 있다.As described above, the circuit connecting material may also contain, as the component (b), those having a radical polymerizability among the silane coupling agents represented by the formula (1).

(c) 성분의 라디칼 중합 개시제로서는, 예를 들어, 가열에 의해 분해되어 유리 라디칼을 발생하는 화합물을 들 수 있고, 과산화물 및 아조 화합물 등의 공지된 화합물을 사용할 수 있다.Examples of the radical polymerization initiator of the component (c) include compounds that decompose by heating to generate free radicals, and known compounds such as peroxides and azo compounds can be used.

(c) 성분은, 안정성, 반응성 및 상용성을 겸비하는 관점에서, 1분간 반감기 온도가 90 내지 175℃이고, 또한 분자량이 180 내지 1000인 과산화물을 적절하게 사용할 수 있다. 여기서 「1분간 반감기 온도」란, 반감기가 1분이 되는 온도를 말하며, 「반감기」란, 화합물의 농도가 초기값의 절반으로 감소할 때까지의 시간을 말한다.(c) As a component, from the viewpoint of combining stability, reactivity and compatibility, peroxide having a half-life temperature of 90 to 175 ° C for 1 minute and a molecular weight of 180 to 1000 can be suitably used. Here, the "half-life temperature for 1 minute" refers to the temperature at which the half-life becomes 1 minute, and the "half-life" refers to the time until the concentration of the compound decreases to half of the initial value.

(c) 성분의 구체예로서는, 1,1,3,3-테트라메틸부틸퍼옥시네오데카노에이트, 디(4-t-부틸시클로헥실)퍼옥시디카르보네이트, 디(2-에틸헥실)퍼옥시디카르보네이트, 쿠밀퍼옥시네오데카노에이트, 1,1,3,3-테트라메틸부틸퍼옥시네오데카노에이트, 디라우로일퍼옥시드, 1-시클로헥실-1-메틸에틸퍼옥시네오데카노에이트, t-헥실퍼옥시네오데카노에이트, t-부틸퍼옥시네오데카노에이트, t-부틸퍼옥시피발레이트, 1,1,3,3-테트라메틸부틸퍼옥시-2-에틸헥사노에이트, 2,5-디메틸-2,5-디(2-에틸헥사노일퍼옥시)헥산, t-헥실퍼옥시-2-에틸헥사노에이트, t-부틸퍼옥시-2-에틸헥사노에이트, t-부틸퍼옥시네오헵타노에이트, t-아밀퍼옥시-2-에틸헥사노에이트, 디-t-부틸퍼옥시헥사히드로테레프탈레이트, t-아밀퍼옥시-3,5,5-트리메틸헥사노에이트, 3-히드록시-1,1-디메틸부틸퍼옥시네오데카노에이트, 1,1,3,3-테트라메틸부틸퍼옥시-2-에틸헥사노에이트, t-아밀퍼옥시네오데카노에이트, t-아밀퍼옥시-2-에틸헥사노에이트, 3-메틸벤조일퍼옥시드, 4-메틸벤조일퍼옥시드, 디(3-메틸벤조일)퍼옥시드, 디벤조일퍼옥시드, 디(4-메틸벤조일)퍼옥시드, 2,2'-아조비스-2,4-디메틸발레로니트릴, 1,1'-아조비스(1-아세톡시-1-페닐에탄), 2,2'-아조비스이소부티로니트릴, 2,2'-아조비스(2-메틸부티로니트릴), 디메틸-2,2'-아조비스이소부티로니트릴, 4,4'-아조비스(4-시아노발레르산), 1,1'-아조비스(1-시클로헥산카르보니트릴), t-헥실퍼옥시이소프로필모노카르보네이트, t-부틸퍼옥시말레산, t-부틸퍼옥시-3,5,5-트리메틸헥사노에이트, t-부틸퍼옥시라우레이트, 2,5-디메틸-2,5-디(3-메틸벤조일퍼옥시)헥산, t-부틸퍼옥시-2-에틸헥실 모노카르보네이트, t-헥실퍼옥시벤조에이트, 2,5-디메틸-2,5-디(벤조일퍼옥시)헥산, t-부틸퍼옥시벤조에이트, 디부틸퍼옥시트리메틸아디페이트, t-아밀퍼옥시노르말옥토에이트, t-아밀퍼옥시이소노나노에이트, t-아밀퍼옥시벤조에이트 등을 들 수 있다. 또한, (c) 성분은, 1종을 단독으로 사용해도 되고, 2종 이상의 화합물을 혼합하여 사용해도 된다.(c) As a specific example of a component, 1,1,3,3-tetramethylbutylperoxyneodecanoate, di (4-t-butylcyclohexyl) peroxydicarbonate, di (2-ethylhexyl) per Oxydicarbonate, cumylperoxyneodecanoate, 1,1,3,3-tetramethylbutylperoxyneodecanoate, dilauroyl peroxide, 1-cyclohexyl-1-methylethylperoxyneo Decanoate, t-hexylperoxyneodecanoate, t-butylperoxyneodecanoate, t-butylperoxypivalate, 1,1,3,3-tetramethylbutylperoxy-2-ethylhexa Noate, 2,5-dimethyl-2,5-di (2-ethylhexanoylperoxy) hexane, t-hexylperoxy-2-ethylhexanoate, t-butylperoxy-2-ethylhexanoate , t-butylperoxyneopeptanoate, t-amylperoxy-2-ethylhexanoate, di-t-butylperoxyhexahydroterephthalate, t-amylperoxy-3,5,5-trimethylhexa Noate, 3-hydroxy-1,1-dimethylbutylperoxy Odecanoate, 1,1,3,3-tetramethylbutylperoxy-2-ethylhexanoate, t-amylperoxyneodecanoate, t-amylperoxy-2-ethylhexanoate, 3- Methylbenzoylperoxide, 4-methylbenzoylperoxide, di (3-methylbenzoyl) peroxide, dibenzoylperoxide, di (4-methylbenzoyl) peroxide, 2,2'-azobis-2,4-dimethyl Valeronitrile, 1,1'-azobis (1-acetoxy-1-phenylethane), 2,2'-azobisisobutyronitrile, 2,2'-azobis (2-methylbutyronitrile) , Dimethyl-2,2'-azobisisobutyronitrile, 4,4'-azobis (4-cyanovaleric acid), 1,1'-azobis (1-cyclohexanecarbonitrile), t-hex Silperoxyisopropyl monocarbonate, t-butylperoxymaleic acid, t-butylperoxy-3,5,5-trimethylhexanoate, t-butylperoxylaurate, 2,5-dimethyl-2, 5-di (3-methylbenzoylperoxy) hexane, t-butylperoxy-2-ethylhexyl monocarbonate, t-hexylperoxybenzo Ytite, 2,5-dimethyl-2,5-di (benzoylperoxy) hexane, t-butylperoxybenzoate, dibutylperoxytrimethyl adipate, t-amylperoxy normal octoate, t-amylperoxyyi And Sononanoate, t-amylperoxybenzoate, and the like. In addition, as the component (c), one type may be used alone, or two or more types of compounds may be mixed and used.

(c) 성분으로서는, 광조사(예를 들어, 파장 150nm 내지 750nm의 광조사)에 의해 라디칼을 발생하는 화합물을 사용할 수도 있다.As the component (c), a compound that generates radicals by light irradiation (for example, light irradiation with a wavelength of 150 nm to 750 nm) can also be used.

이러한 화합물로서는, 예를 들어, Photoinitiation, Photopolymerization, and Photocuring, J.-P. Fouassier, Hanser Publishers(1995년), p17 내지 p35에 기재되어 있는 α-아세토아미노페논 유도체 및 포스핀옥시드 유도체가, 광조사에 대한 감도가 높기 때문에 보다 바람직하다. 이들 화합물은, 1종을 단독으로 사용해도 되고, 상기 과산화물 또는 아조 화합물과 혼합하여 사용해도 된다. As such a compound, for example, Photoinitiation, Photopolymerization, and Photocuring, J.-P. The α-acetoaminophenone derivatives and phosphine oxide derivatives described in Fouassier, Hanser Publishers (1995), p17 to p35 are more preferable because of their high sensitivity to light irradiation. These compounds may be used alone or in combination with the above peroxide or azo compounds.

회로 부재의 회로 전극의 부식을 억제하기 위해서, (c) 성분에 함유되는 염소 이온 및 유기산의 양은, 각각 10000질량ppm 이하인 것이 바람직하고, 5000질량ppm 이하인 것이 보다 바람직하다. 또한, 이 상한값 이하이면 회로 전극의 부식이 충분히 억제되는 점에서, (c) 성분에 함유되는 염소 이온 및 유기산의 양은, 500질량ppm 이상일 수 있다.In order to suppress corrosion of the circuit electrode of the circuit member, the amount of chlorine ions and organic acids contained in the component (c) is preferably 10000 ppm by mass or less, and more preferably 5000 ppm by mass or less, respectively. Moreover, since the corrosion of a circuit electrode is fully suppressed when it is below this upper limit, the amount of chlorine ions and organic acids contained in component (c) may be 500 ppm by mass or more.

또한, (c) 성분은, 실온(25℃), 상압 하에서의 24시간의 개방 방치 후의 질량 유지율이 20질량% 이상인 것이 바람직하다. 이러한 질량 유지율을 갖는 (c) 성분에 의하면, 회로 접속 재료의 보존 안정성이 한층 향상된다. 또한, 질량 유지율은, 방치 전후의 중량을 측정함으로써 측정할 수 있다.Moreover, it is preferable that (c) component has a mass retention rate of 20 mass% or more after leaving it open for 24 hours under normal pressure at room temperature (25 ° C). According to the component (c) having such a mass retention ratio, the storage stability of the circuit connection material is further improved. In addition, the mass retention rate can be measured by measuring the weight before and after standing.

(c) 성분의 함유량은, 회로 접속 재료의 전량 기준으로 0.1 내지 30질량%인 것이 바람직하고, 1 내지 20질량%인 것이 보다 바람직하다. (c) 성분의 함유량이 상기 범위이면, 충분한 접착력을 얻기 위한 반응률과 긴 가용 시간을 보다 높은 레벨에서 양립할 수 있다.The content of the component (c) is preferably 0.1 to 30% by mass, more preferably 1 to 20% by mass based on the total amount of the circuit connection material. When the content of the component (c) is within the above range, the reaction rate and long pot life for obtaining sufficient adhesion can be achieved at a higher level.

(d) 성분의 무기 미립자로서는, 공지된 무기 미립자를 특별히 제한없이 사용할 수 있다. (d) 성분으로서는, 예를 들어, 실리카 미립자, 알루미나 미립자, 실리카-알루미나 미립자, 티타니아 미립자, 지르코니아 미립자 등의 금속 산화물 미립자를 들 수 있다. 또한, (d) 성분은, 1종을 단독으로 또는 2종 이상을 혼합하여 사용할 수 있다.As the inorganic fine particles of the component (d), known inorganic fine particles can be used without particular limitation. Examples of the component (d) include metal oxide fine particles such as silica fine particles, alumina fine particles, silica-alumina fine particles, titania fine particles, and zirconia fine particles. In addition, (d) component can be used individually by 1 type or in mixture of 2 or more types.

(d) 성분의 평균 입자 직경은, 1㎛ 미만인 것이 바람직하고, 0.1 내지 0.5㎛인 것이 보다 바람직하다. 또한, 여기에서 말하는 평균 입자 직경이란, 회로 접속 재료 중에 존재할 때의 장축 방향 모드 직경이다. (d) 성분의 평균 1차 입자 직경은, 100nm 이하인 것이 바람직하고, 10 내지 30nm인 것이 보다 바람직하다. 또한, 본 명세서에 있어서, 평균 입자 직경은, 화상 해석에 의해 측정되는 값을 나타낸다.(d) It is preferable that the average particle diameter of a component is less than 1 micrometer, and it is more preferable that it is 0.1-0.5 micrometer. In addition, the average particle diameter referred to herein is the long-axis mode diameter when present in the circuit connecting material. The average primary particle diameter of the component (d) is preferably 100 nm or less, and more preferably 10 to 30 nm. In addition, in this specification, an average particle diameter shows the value measured by image analysis.

(d) 성분으로서는, 분산성이 우수한 점에서, 표면을 유기기로 수식한 미립자를 적절하게 사용할 수 있다. 유기기로서는, 예를 들어, 디메틸실록산기, 디페닐실록산기 등을 들 수 있다.As the component (d), fine particles having a surface modified with an organic group can be suitably used from the viewpoint of excellent dispersibility. As an organic group, a dimethylsiloxane group, diphenylsiloxane group, etc. are mentioned, for example.

(d) 성분의 함유량은, 회로 접속 재료의 전량 기준으로 5 내지 30질량%인 것이 바람직하고, 10 내지 20질량%인 것이 보다 바람직하다. (d) 성분의 함유량이 상기 범위이면, 접속하는 회로 전극 간의 접속 저항을 한층 저감할 수 있고, 또한 본 발명의 효과가 한층 현저하게 발휘된다.The content of the component (d) is preferably 5 to 30% by mass, more preferably 10 to 20% by mass, based on the total amount of the circuit connection material. When the content of the component (d) is within the above range, the connection resistance between circuit electrodes to be connected can be further reduced, and the effect of the present invention is further remarkably exhibited.

화학식 1로 표시되는 실란 커플링제는, 상술한 바와 같이 (b) 성분의 일부로서 회로 접속 재료에 배합되어 있어도 되고, (a) 내지 (d) 성분 이외의 성분으로서 회로 접속 재료에 배합되어 있을 수도 있다.As described above, the silane coupling agent represented by the formula (1) may be blended into the circuit connecting material as part of the component (b), or may be blended into the circuit connecting material as components other than the components (a) to (d). have.

<화학식 1><Formula 1>

Figure pat00006
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화학식 1 중, R1, R2 및 R3은 각각 독립적으로 수소 원자, 탄소수 1 내지 5의 알킬기, 탄소수 1 내지 5의 알콕시기, 탄소수 1 내지 5의 알콕시카르보닐기 또는 아릴기를 나타내며, R1, R2 및 R3 중 적어도 하나는 탄소수 1 내지 5의 알콕시기이고, R4는 (메트)아크릴로일기, 비닐기, 이소시아네이트기, 이미다졸기, 머캅토기, 아미노기, 메틸아미노기, 디메틸아미노기, 벤질아미노기, 페닐아미노기, 시클로헥실아미노기, 모르폴리노기, 피페라지노기, 우레이도기 또는 글리시딜기를 나타내며, n은 1 내지 10의 정수를 나타낸다.In Formula 1, R 1 , R 2 and R 3 each independently represent a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 5 carbon atoms, an alkoxycarbonyl group having 1 to 5 carbon atoms, or an aryl group, and R 1 and R At least one of 2 and R 3 is an alkoxy group having 1 to 5 carbon atoms, and R 4 is (meth) acryloyl group, vinyl group, isocyanate group, imidazole group, mercapto group, amino group, methylamino group, dimethylamino group, benzylamino group , Phenylamino group, cyclohexylamino group, morpholino group, piperazino group, ureido group or glycidyl group, n represents an integer of 1 to 10.

화학식 1의 R4가 (메트)아크릴로일기 또는 비닐기일 때, 실란 커플링제는 (b) 성분에 포함된다.When R 4 in Formula 1 is a (meth) acryloyl group or a vinyl group, a silane coupling agent is included in the component (b).

R1, R2 및 R3은, 메틸기, 에틸기, 메톡시기 또는 에톡시기인 것이 바람직하고, 메톡시기 또는 에톡시기인 것이 보다 바람직하다.R 1 , R 2 and R 3 are preferably a methyl group, an ethyl group, a methoxy group or an ethoxy group, and more preferably a methoxy group or an ethoxy group.

R4는, (메트)아크릴로일기, 글리시딜기, 머캅토기 또는 비닐기인 것이 바람직하고, (메트)아크릴로일기 또는 글리시딜기인 것이 보다 바람직하다.R 4 is preferably a (meth) acryloyl group, a glycidyl group, a mercapto group, or a vinyl group, and more preferably a (meth) acryloyl group or a glycidyl group.

실란 커플링제의 함유량은, 회로 접속 재료의 전량 기준으로 0.1 내지 10질량%인 것이 바람직하고, 0.25 내지 5질량%인 것이 보다 바람직하다. 실란 커플링제의 함유량이 상기 범위이면, 회로 부재와 접속 부재의 계면에서의 박리 기포의 발생을 한층 현저하게 억제할 수 있음과 함께, 보다 장기간의 가용 시간을 확보할 수 있다.The content of the silane coupling agent is preferably 0.1 to 10% by mass, more preferably 0.25 to 5% by mass based on the total amount of the circuit connection material. When the content of the silane coupling agent is within the above range, generation of peeling bubbles at the interface between the circuit member and the connection member can be significantly suppressed, and a longer life time can be secured.

본 실시 형태의 회로 접속 재료는, 상기 이외의 성분을 함유하고 있을 수도 있다. 예를 들어, 회로 접속 재료에는, 경화 속도의 제어, 저장 안정성의 부여 등의 이유로, 안정화제를 첨가해도 된다. 안정화제로서는, 벤조퀴논, 히드로퀴논 등의 퀴논 유도체; 4-메톡시페놀, 4-t-부틸카테콜 등의 페놀 유도체; 2,2,6,6-테트라메틸피페리딘-1-옥실, 4-히드록시-2,2,6,6-테트라메틸피페리딘-1-옥실 등의 아미녹실 유도체; 테트라메틸피페리딜메타크릴레이트 등의 힌더드 아민 유도체 등을 적절하게 사용할 수 있다.The circuit connection material of this embodiment may contain components other than the above. For example, a stabilizer may be added to the circuit connecting material for reasons such as control of the curing rate and imparting storage stability. Examples of the stabilizer include quinone derivatives such as benzoquinone and hydroquinone; Phenol derivatives such as 4-methoxyphenol and 4-t-butyl catechol; Aminooxyl derivatives such as 2,2,6,6-tetramethylpiperidine-1-oxyl and 4-hydroxy-2,2,6,6-tetramethylpiperidine-1-oxyl; Hindered amine derivatives, such as tetramethyl piperidyl methacrylate, etc. can be used suitably.

회로 접속 재료가 안정화제를 함유할 때, 상기 안정화제의 함유량은, 회로 접속 재료의 전량 기준으로 0.01 내지 15질량%로 하는 것이 바람직하고, 0.05 내지 10질량%로 하는 것이 보다 바람직하다. 안정화제의 함유량이 0.01질량% 미만이면 첨가 효과가 충분히 얻어지지 않는 경우가 있고, 15질량%를 초과하면 중합 반응이 저해되어, 저온속경화성이 떨어지는 경우가 있다.When the circuit connection material contains a stabilizer, the content of the stabilizer is preferably 0.01 to 15% by mass based on the total amount of the circuit connection material, and more preferably 0.05 to 10% by mass. When the content of the stabilizer is less than 0.01% by mass, the addition effect may not be sufficiently obtained, and if it exceeds 15% by mass, the polymerization reaction is inhibited, and the low-temperature rapid-curing property may be poor.

또한, 본 실시 형태의 회로 접속 재료에는, 응력 완화 및 내열성의 향상을 목적으로 하여, 유기 미립자를 첨가해도 된다. 유기 미립자로서는, 공지된 유기 미립자를 특별히 제한없이 사용할 수 있다.In addition, organic fine particles may be added to the circuit connection material of this embodiment for the purpose of stress relaxation and improvement of heat resistance. As the organic fine particles, known organic fine particles can be used without particular limitation.

유기 미립자로서는, 예를 들어, 실리콘 미립자, 메타크릴레이트-부타디엔-스티렌 미립자, 아크릴-실리콘 미립자, 폴리아미드 미립자, 폴리이미드 미립자 등을 들 수 있다. 이 유기 미립자는, 균일한 구조이거나 코어-쉘형 구조로 되어 있을 수도 있다.Examples of the organic fine particles include silicon fine particles, methacrylate-butadiene-styrene fine particles, acrylic-silicone fine particles, polyamide fine particles, and polyimide fine particles. The organic fine particles may have a uniform structure or a core-shell structure.

회로 접속 재료가 유기 미립자를 함유할 때, 상기 유기 미립자의 함유량은, 회로 접속 재료의 전량 기준으로 1.5 내지 20질량%로 하는 것이 바람직하고, 2 내지 15질량%로 하는 것이 보다 바람직하다.When the circuit connection material contains organic fine particles, the content of the organic fine particles is preferably 1.5 to 20% by mass, more preferably 2 to 15% by mass, based on the total amount of the circuit connection material.

본 실시 형태의 회로 접속 재료에는, 도전성 입자가 분산되어 있을 수도 있다. 이에 의해, 회로 접속 재료에 도전성 또는 이방 도전성을 부여할 수 있고, 이러한 회로 접속 재료는, 회로 전극을 갖는 회로 부재끼리의 접속 용도 등에 보다 적합하게 사용할 수 있다. 또한, 이러한 회로 접속 재료로 접속함으로써, 접속된 회로 전극 간의 접속 저항을 충분히 저감할 수 있다.Conductive particles may be dispersed in the circuit connecting material of the present embodiment. Thereby, it is possible to impart conductivity or anisotropy to the circuit connection material, and such a circuit connection material can be more suitably used for connection purposes between circuit members having circuit electrodes and the like. Further, by connecting with such a circuit connection material, the connection resistance between the connected circuit electrodes can be sufficiently reduced.

즉, 본 발명은 회로 접속 재료와 상기 회로 접속 재료 중에 분산된 도전성 입자를 함유하는 이방 도전성 접착제여도 된다. 또한, 본 명세서 중 「회로 접속 재료의 전량」에는 도전성 입자는 포함되지 않는다.That is, the present invention may be an anisotropic conductive adhesive containing a circuit connecting material and conductive particles dispersed in the circuit connecting material. In addition, in this specification, "a total amount of circuit connection material" does not contain electroconductive particle.

도전성 입자로서는, Au, Ag, Pd, Ni, Cu, 땜납 등이 금속을 포함하는 금속 입자, 카본 입자 등을 들 수 있다. 또한, 도전성 입자는, 유리, 세라믹, 플라스틱 등의 비도전성 재료를 포함하는 입자를 핵체로 하고, 이 핵체에 상기 금속, 금속 입자, 카본 등의 도전성 재료를 피복한 것일 수도 있다.Examples of the conductive particles include metal particles containing a metal such as Au, Ag, Pd, Ni, Cu, solder, carbon particles, and the like. Further, the conductive particles may be particles containing non-conductive materials such as glass, ceramics, plastics, etc., and the nucleus may be coated with conductive materials such as metal, metal particles, and carbon.

또한, 도전성 입자로서는, 열용융 금속 입자가 바람직하다. 이러한 도전성 입자는, 가열 가압에 의한 변형성을 가지므로, 회로 부재끼리를 접속할 때에 도전성 입자와 전극의 접촉 면적이 증가하여 회로 부재 간의 접속 신뢰성이 향상되는 경향이 있다.Moreover, as electroconductive particle, a heat-melting metal particle is preferable. Since such conductive particles have deformability due to heat and pressure, when connecting circuit members, the contact area between the conductive particles and the electrode increases, and the connection reliability between the circuit members tends to be improved.

도전성 입자의 배합량은, 이방 도전 접착제의 총 부피에 대하여 0.1 내지 30부피%로 하는 것이 바람직하고, 0.1 내지 10부피%로 하는 것이 보다 바람직하다. 도전성 입자의 배합량이 0.1부피% 미만이면 도전성이 떨어지는 경향이 있고, 30부피%를 초과하면 회로 전극 간의 단락이 발생하기 쉬워지는 경향이 있다. 또한, 도전성 입자의 배합량은, 경화 전의 회로 접속 재료의 각 성분에 23℃에서의 부피를 바탕으로 결정된다. 각 성분의 부피는, 비중을 이용하여 질량을 부피로 환산함으로써 구할 수 있다. 또한, 부피를 측정하려고 하는 성분을 용해하거나 팽윤시키거나 하지 않고, 그 성분을 잘 침윤시킬 수 있는 적당한 용매(물, 알코올 등)를 메스실린더 등에 넣고, 거기에 측정 대상의 성분을 투입하여 증가한 부피를 그 성분의 부피로서 구할 수도 있다.The blending amount of the conductive particles is preferably 0.1 to 30% by volume relative to the total volume of the anisotropic conductive adhesive, and more preferably 0.1 to 10% by volume. When the compounding amount of the conductive particles is less than 0.1% by volume, the conductivity tends to be inferior, and when it exceeds 30% by volume, a short circuit between the circuit electrodes tends to occur. Moreover, the compounding quantity of electroconductive particle is determined based on the volume at 23 degreeC of each component of the circuit connection material before hardening. The volume of each component can be determined by converting the mass into volume using specific gravity. In addition, without dissolving or swelling the component to be measured for volume, an appropriate solvent (water, alcohol, etc.) that can infiltrate the component well is placed in a measuring cylinder, etc., and the volume of the component to be measured is increased. Can also be determined as the volume of the component.

본 실시 형태의 회로 접속 재료는, 상술한 각 성분을 용제를 사용하지 않고 혼합하여 제조할 수 있다. 또한, 상술한 각 성분을, 상기 각 성분을 용해 또는 분산할 수 있는 용제와 함께 혼합하여 제조할 수도 있다.The circuit connection material of this embodiment can be manufactured by mixing each of the components described above without using a solvent. Moreover, each component mentioned above can also be manufactured by mixing together with the solvent which can melt | dissolve or disperse the said each component.

본 실시 형태의 회로 접속 재료는, 필름상으로 하여 사용할 수 있다. 필름의 형상으로 함으로써, 회로 접속 재료의 취급성이 매우 양호해진다.The circuit connection material of this embodiment can be used in the form of a film. By setting it as a film shape, handling property of a circuit connection material becomes very favorable.

구체적으로는, 예를 들어, 회로 접속 재료에 필요에 따라서 용제 등을 첨가하여 제조한 용액을 불소 수지 필름, 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름, 박리지 등의 박리성 기재 상에 도포한 후, 용제를 제거함으로써, 필름상의 회로 접속 재료(이하, 경우에 따라 「필름상 접착제」라고 칭함)를 얻을 수 있다. 또한, 회로 접속 재료에 필요에 따라서 용제 등을 첨가하여 제조한 용액을 부직포 등의 기재에 함침시켜서 박리성 기재 상에 재치하고, 용제를 제거하는 것에 의해서도 필름상 접착제를 얻을 수 있다. 또한, 혼합 시에 도전성 입자를 배합함으로써, 필름상 접착제에 도전성 입자를 분산시킬 수 있다.Specifically, for example, by applying a solution prepared by adding a solvent or the like to the circuit connection material as necessary, on a peelable substrate such as a fluorine resin film, polyethylene terephthalate film, or release paper, and then removing the solvent , A film-like circuit connection material (hereinafter referred to as "film-like adhesive" in some cases) can be obtained. In addition, a film-like adhesive can also be obtained by impregnating a base material such as a nonwoven fabric with a solution prepared by adding a solvent or the like to the circuit connection material, and placing it on a peelable base material and removing the solvent. In addition, by mixing the conductive particles during mixing, the conductive particles can be dispersed in the film adhesive.

용제로서는, 예를 들어, 메틸에틸케톤, 톨루엔을 적절하게 사용할 수 있다.As a solvent, methyl ethyl ketone and toluene can be used suitably, for example.

도 1은, 본 발명의 회로 접속 재료의 일 실시 형태를 도시하는 모식 단면도이다. 도 1에 도시하는 필름상 접착제(1)는, 상기 회로 접속 재료를 필름상으로 성형하여 이루어지는 것이다. 필름상 접착제(1)는, 취급이 용이해서, 피착체 상에 용이하게 설치할 수 있다. 그로 인해, 필름상 접착제(1)에 의하면, 접속 작업을 용이하게 행할 수 있다.1 is a schematic cross-sectional view showing an embodiment of a circuit connecting material of the present invention. The film adhesive 1 shown in FIG. 1 is formed by molding the circuit connection material into a film. The film adhesive 1 is easy to handle and can be easily installed on an adherend. Therefore, according to the film adhesive 1, a connection operation can be performed easily.

필름상 접착제(1)는, 2종 이상의 층을 포함하는 다층 구조(도시하지 않음)를 가져도 된다. 또한, 필름상 접착제(1)에는, 도전성 입자(도시하지 않음)가 분산되어 있을 수도 있다. 도전성 입자가 분산된 필름상 접착제는, 이방 도전성 필름상 접착제로서 적절하게 이용할 수 있다. 즉, 본 발명은 상기 회로 접속 재료와 도전성 입자를 함유하는, 이방 도전성 필름상 접착제여도 된다.The film-like adhesive 1 may have a multi-layer structure (not shown) including two or more layers. Further, conductive particles (not shown) may be dispersed in the film-like adhesive 1. The film adhesive in which the conductive particles are dispersed can be suitably used as an anisotropic conductive film adhesive. That is, the present invention may be an anisotropic conductive film-like adhesive containing the circuit connecting material and conductive particles.

본 실시 형태의 회로 접속 재료(예를 들어, 필름상 접착제(1))를 사용한 피착체의 접속 방법으로서는, 예를 들어, 가열 및 가압을 병용한 접속 방법을 들 수 있다. 이 방법에 있어서, 가열 온도는 100 내지 250℃인 것이 바람직하다. 또한, 압력은, 피착체에 손상을 끼치지 않는 범위라면 특별히 제한되지 않지만, 일반적으로는 0.1 내지 10MPa인 것이 바람직하다. 이 가열 및 가압은, 0.5초 내지 120초의 범위에서 행하는 것이 바람직하다. 또한, 상기 회로 접속 재료에 의하면, 예를 들어, 가열 온도 150 내지 200℃ 및 압력 3MPa의 조건에서 10초간의 가열 및 가압을 행함으로써, 피착체끼리를 충분히 접착시킬 수 있다.As a connection method of an adherend using the circuit connection material of this embodiment (for example, the film adhesive 1), the connection method which used heating and pressurization together is mentioned, for example. In this method, the heating temperature is preferably 100 to 250 ° C. The pressure is not particularly limited so long as it does not damage the adherend, but is generally preferably 0.1 to 10 MPa. It is preferable to perform this heating and pressurization in the range of 0.5 second to 120 seconds. Moreover, according to the said circuit connection material, the to-be-adhered body can fully be adhered by heating and pressurizing for 10 seconds on conditions of 150-200 degreeC of heating temperature and 3 MPa of pressure, for example.

본 실시 형태의 회로 접속 재료는, 열팽창 계수가 상이한 이종의 피착체 접착제로서 적절하게 사용할 수 있다. 구체적으로는, 예를 들어, 이방 도전 접착제, 은 페이스트, 은 필름 등으로 대표되는 회로 접속 재료로서, 또는, CSP용 엘라스토머, CSP용 언더필재, LOC 테이프 등으로 대표되는 반도체 소자 접착 재료로서 적절하게 사용할 수 있다.The circuit connection material of the present embodiment can be suitably used as a heterogeneous adherend adhesive having a different thermal expansion coefficient. Specifically, for example, as an anisotropic conductive adhesive, a silver paste, a circuit connecting material represented by a silver film, or the like, or a semiconductor device adhesive material represented by a CSP elastomer, a CSP underfill material, a LOC tape, or the like, Can be used.

본 실시 형태의 회로 접속 재료는, 필름 기재의 한쪽면 상에서 필름상으로 형성되어 있을 수도 있다.The circuit connection material of this embodiment may be formed in a film form on one surface of a film base material.

즉, 본 발명은 필름 기재와 상기 필름 기재의 한쪽면 상에 설치되고, 상기 회로 접속 재료를 포함하는 필름상 접착제를 구비하는 접착 필름일 수도 있다. 이러한 접착 필름은, 필름 기재를 박리함으로써 상술한 필름상 접착제로서 적절하게 사용할 수 있다.That is, the present invention may be an adhesive film provided on a film substrate and one side of the film substrate and provided with a film-like adhesive comprising the circuit connection material. Such an adhesive film can be used suitably as the above-mentioned film adhesive by peeling a film base material.

접착 필름에서는, 필름상 접착제가 상술한 특정한 구성을 갖는 회로 접속 재료를 포함하기 때문에, 필름 기재의 다른쪽면과 필름상 접착제가 접하도록 릴상으로 권중한 경우에도, 필름 기재의 다른쪽면 상으로의 필름상 접착제의 전사가 충분히 억제된다.In the adhesive film, since the film-like adhesive contains a circuit connecting material having the above-described specific configuration, even when the film-like adhesive is wound in a reel so that the film-like adhesive comes into contact, the film on the other side of the film-based Transfer of the phase adhesive is sufficiently suppressed.

종래의 회로 접속 재료로 동일한 권중체를 제작한 경우, 필름 기재 사이로부터 회로 접속 재료가 스며나오는 경우가 있는데, 이 접착 필름에서는, 필름상 접착제가 상술한 특정한 구성을 갖는 회로 접속 재료를 포함하기 때문에, 릴상으로 권중한 경우에도, 필름상 기재 사이로부터의 필름상 접착제의 스며나옴이 충분히 억제된다. 그로 인해, 접착 필름은, 릴상으로 권중한 권중체로서 적절하게 보관할 수 있어, 취급성이 한층 우수하다.When the same winding body is made of a conventional circuit connection material, the circuit connection material may sometimes seep from between the film substrates, since in this adhesive film, the film-like adhesive contains a circuit connection material having the specific configuration described above. , Even in the case of winding in a reel form, exudation of the film-like adhesive from between the film-like substrates is sufficiently suppressed. Therefore, the adhesive film can be appropriately stored as a reel-wound rolled body, and the handleability is further excellent.

필름 기재로서는, 예를 들어, 폴리에틸렌테레프탈레이트, 폴리카르보네이트, 폴리프로필렌을 들 수 있다.As a film base material, polyethylene terephthalate, polycarbonate, polypropylene is mentioned, for example.

접착 필름은, 예를 들어, 폭 5mm 이하(바람직하게는 0.5 내지 5.0mm), 길이 1m 이상(바람직하게는 10 내지 500m)으로 할 수 있다. 이러한 사이즈의 접착 필름은, 릴상으로 권중하여 보관하는 것이 바람직하기 때문에, 상술한 효과가 특히 유효해진다.The adhesive film can be, for example, 5 mm or less in width (preferably 0.5 to 5.0 mm) and 1 m or more in length (preferably 10 to 500 m). Since the adhesive film of such a size is preferably wound and stored in a reel, the above-described effect becomes particularly effective.

접착 필름은, 필름상 접착제 상에 설치된 보호 필름을 더 구비하고 있을 수도 있다. 보호 필름은, 피착체의 접속 전에 박리할 필요가 있기 때문에, 박리성이 우수한 것이 바람직하다.The adhesive film may further include a protective film provided on the film adhesive. Since the protective film needs to be peeled before connecting the adherend, it is preferable to have excellent peelability.

이하, 본 실시 형태의 회로 접속 재료를 사용하여, 회로 기판의 주면 상에 회로 전극이 형성된 회로 부재끼리를 접속하는 경우의 일례에 대해서 설명한다. 또한, 이하의 설명에서는, 회로 접속 재료에 도전성 입자를 분산시켜서 이방 도전성 접착제로 한 경우를 예시했지만, 회로 접속 재료에 도전성 입자를 분산시키지 않는 경우에도 동일한 방법에 의해 회로 부재끼리의 접속을 행할 수 있다.Hereinafter, an example in the case of connecting circuit members having circuit electrodes on the main surface of the circuit board using the circuit connection material of the present embodiment will be described. In the following description, the case where the conductive particles are dispersed in the circuit connection material to give an anisotropic conductive adhesive is illustrated, but even when the conductive particles are not dispersed in the circuit connection material, the circuit members can be connected by the same method. have.

이방 도전성 접착제를, 회로 기판 상의 서로 대향하는 회로 전극 사이에 배치하고, 가열 가압함으로써, 대향하는 회로 전극 간의 전기적 접속과 회로 기판 간의 접착을 행하여, 회로 부재끼리를 접속할 수 있다.The anisotropically conductive adhesive is disposed between circuit electrodes facing each other on the circuit board, and heated and pressed, so that electrical connection between the opposite circuit electrodes and adhesion between the circuit boards can be performed to connect the circuit members.

회로 기판으로서는, 예를 들어, 유리 기판; 폴리이미드, 폴리에틸렌테레프탈레이트, 폴리카르보네이트 등이 유기물을 포함하는 플렉시블 기판을 들 수 있다. 여기서, 회로 기판으로서는, 한쪽이 유리 기판이고, 다른쪽이 플렉시블 기판인 경우에 특히 본 발명의 효과가 크다. 또한, 회로 기판으로서는, 유리/에폭시 등의 무기물과 유기물을 조합한 기판을 사용할 수도 있다.As a circuit board, For example, a glass board; And flexible substrates containing organic materials such as polyimide, polyethylene terephthalate, and polycarbonate. Here, as the circuit board, the effect of the present invention is particularly great when one is a glass substrate and the other is a flexible substrate. Moreover, as a circuit board, the board | substrate which combined inorganic and organic materials, such as glass / epoxy, can also be used.

도 2는, 본 발명의 회로 접속 구조체의 일 실시 형태를 도시하는 모식 단면도이다. 도 2에 도시하는 회로 접속 구조체는, 서로 대향하는 제1 회로 부재(20) 및 제2 회로 부재(30)를 구비하고 있고, 제1 회로 부재(20)와 제2 회로 부재(30)의 사이에는, 이들을 접속하는 접속 부재(10)가 설치되어 있다.2 is a schematic cross-sectional view showing an embodiment of the circuit connection structure of the present invention. The circuit connection structure shown in FIG. 2 includes a first circuit member 20 and a second circuit member 30 that face each other, and is between the first circuit member 20 and the second circuit member 30. In, the connecting member 10 which connects these is provided.

제1 회로 부재(20)는 회로 기판(제1 회로 기판)(21)과, 회로 기판(21)의 주면(21a) 상에 형성되는 회로 전극(제1 회로 전극)(22)을 구비하고 있다. 또한, 회로 기판(21)의 주면(21a) 상에는, 경우에 따라 절연층(도시하지 않음)이 형성되어 있을 수도 있다.The first circuit member 20 includes a circuit board (first circuit board) 21 and a circuit electrode (first circuit electrode) 22 formed on the main surface 21a of the circuit board 21. . In addition, an insulating layer (not shown) may be formed on the main surface 21a of the circuit board 21 in some cases.

한편, 제2 회로 부재(30)는 회로 기판(제2 회로 기판)(31)과, 회로 기판(31)의 주면(31a) 상에 형성되는 회로 전극(제2 회로 전극)(32)을 구비하고 있다. 또한, 회로 기판(31)의 주면(31a) 상에도, 경우에 따라 절연층(도시하지 않음)이 형성되어 있을 수도 있다.Meanwhile, the second circuit member 30 includes a circuit board (second circuit board) 31 and a circuit electrode (second circuit electrode) 32 formed on the main surface 31a of the circuit board 31. Doing. In addition, an insulating layer (not shown) may be formed on the main surface 31a of the circuit board 31 in some cases.

제1 및 제2 회로 부재(20, 30)로서는, 전기적 접속을 필요로 하는 전극이 형성되어 있는 것이라면 특별히 제한은 없다. 구체적으로는, 액정 디스플레이에 사용되고 있는 ITO, IZO 등으로 전극이 형성되어 있는 유리 또는 플라스틱 기판, 프린트 배선판, 세라믹 배선판, 플렉시블 배선판, 반도체 실리콘 칩 등을 들 수 있고, 이것들은 필요에 따라서 조합하여 사용된다. 이와 같이, 본 실시 형태에서는, 프린트 배선판이나 폴리이미드 등이 유기물을 포함하는 재질을 비롯하여, 구리, 알루미늄 등의 금속이나 ITO(indium tin oxide), 질화규소(SiNx), 이산화규소(SiO2) 등의 무기재질과 같이 다종다양한 표면 상태를 갖는 회로 부재를 사용할 수 있다.The first and second circuit members 20 and 30 are not particularly limited as long as electrodes requiring electrical connection are formed. Specifically, glass or plastic substrates with electrodes formed of ITO, IZO, etc. used in liquid crystal displays, printed wiring boards, ceramic wiring boards, flexible wiring boards, semiconductor silicon chips, and the like are used. do. As described above, in the present embodiment, a printed wiring board, a material such as polyimide, or the like containing an organic material, a metal such as copper, aluminum, indium tin oxide (ITO), silicon nitride (SiN x ), silicon dioxide (SiO 2 ), etc. Circuit members having various surface states, such as inorganic materials, may be used.

접속 부재(10)는 절연성 물질(11) 및 도전성 입자(7)를 함유하고 있다. 도전성 입자(7)는 대향하는 회로 전극(22)과 회로 전극(32) 사이뿐만 아니라, 주면(21a, 31a)끼리 사이에도 배치되어 있다. 이 회로 접속 구조체에 있어서는, 회로 전극(22, 32)이 도전성 입자(7)를 통하여 전기적으로 접속되어 있다. 즉, 도전성 입자(7)가 회로 전극(22, 32)의 양쪽에 직접 접촉하고 있다.The connecting member 10 contains an insulating material 11 and conductive particles 7. The electroconductive particle 7 is arrange | positioned not only between the opposing circuit electrode 22 and the circuit electrode 32, but also between the main surfaces 21a, 31a. In this circuit connection structure, the circuit electrodes 22 and 32 are electrically connected through the conductive particles 7. That is, the conductive particles 7 are in direct contact with both of the circuit electrodes 22 and 32.

여기서, 도전성 입자(7)는 먼저 설명한 도전성 입자이고, 절연성 물질(11)은 상기 회로 접속 재료의 경화물이다.Here, the conductive particles 7 are the conductive particles described above, and the insulating material 11 is a cured product of the circuit connection material.

이 회로 접속 구조체에 있어서는, 상술한 바와 같이, 대향하는 회로 전극(22)과 회로 전극(32)이 도전성 입자(7)를 통하여 전기적으로 접속되어 있다. 이로 인해, 회로 전극(22, 32) 간의 접속 저항이 충분히 저감된다. 따라서, 회로 전극(22, 32) 간의 전류 흐름을 원활하게 할 수 있어, 회로가 갖는 기능을 충분히 발휘할 수 있다. 또한, 접속 부재(10)가 도전성 입자(7)를 함유하고 있지 않은 경우에는, 회로 전극(22)과 회로 전극(32)이 직접 접촉함으로써, 전기적으로 접속된다.In the circuit connection structure, as described above, the opposite circuit electrodes 22 and circuit electrodes 32 are electrically connected through the conductive particles 7. For this reason, the connection resistance between the circuit electrodes 22 and 32 is sufficiently reduced. Therefore, the current flow between the circuit electrodes 22 and 32 can be smoothed, and the function of the circuit can be sufficiently exhibited. In addition, when the connecting member 10 does not contain the electroconductive particle 7, the circuit electrode 22 and the circuit electrode 32 are directly contacted and electrically connected.

접속 부재(10)는 상기 회로 접속 재료의 경화물과 도전성 입자로 구성되어 있는 것 때문에, 회로 부재(20 또는 30)에 대한 접속 부재(10)의 접착 강도가 충분히 높아져서, 신뢰성 시험(고온고습 시험) 후에서도 안정된 성능(양호한 접착 강도 및 접속 저항)을 유지할 수 있다.Since the connecting member 10 is composed of a cured product of the circuit connecting material and conductive particles, the bonding strength of the connecting member 10 to the circuit member 20 or 30 is sufficiently high, and thus a reliability test (high temperature and high humidity test) Even after), stable performance (good adhesion strength and connection resistance) can be maintained.

이어서, 도 3을 참조하면서, 상술한 회로 접속 구조체의 제조 방법 일례에 대하여 설명한다. 먼저, 상술한 제1 회로 부재(20)와, 필름상 접착제(40)를 준비한다(도 3의 (a) 참조). 필름상 접착제(40)는 도전성 입자가 분산된 회로 접속 재료를 필름상으로 성형하여 이루어지는 것이고, 회로 접속 재료(5)와 도전성 입자(7)를 포함한다. 또한, 필름상 접착제(40)에 도전성 입자(7)가 분산되어 있지 않은 경우(즉, 필름상 접착제(40)가 회로 접속 재료(5)를 포함하는 경우)에도, 그 필름상 접착제는 절연성 접착제로서 이방 도전성 접착에 사용할 수 있고, 이때 회로 접속 재료는 NCP(Non-Conductive Paste)라고 불리는 경우도 있다. 또한, 회로 접속 재료(5)에 도전성 입자(7)가 분산되어 있는 경우, 그 재료는 ACP(Anisotropic Conductive Paste)라고 불리는 경우도 있다.Next, an example of a method for manufacturing the above-described circuit connection structure will be described with reference to FIG. 3. First, the above-described first circuit member 20 and the film-like adhesive 40 are prepared (see FIG. 3 (a)). The film adhesive 40 is formed by molding a circuit connecting material in which conductive particles are dispersed into a film, and includes a circuit connecting material 5 and conductive particles 7. Further, even when the conductive particles 7 are not dispersed in the film-like adhesive 40 (that is, when the film-like adhesive 40 includes the circuit connecting material 5), the film-like adhesive is an insulating adhesive As it can be used for anisotropic conductive bonding, the circuit connection material is sometimes referred to as NCP (Non-Conductive Paste). In addition, when the conductive particles 7 are dispersed in the circuit connecting material 5, the material may be referred to as ACP (Anisotropic Conductive Paste).

필름상 접착제(40)의 두께는 6 내지 50㎛인 것이 바람직하다. 필름상 접착제(40)의 두께가 6㎛ 미만이면 회로 전극(22, 32) 사이에 회로 접속 재료(5)가 충전 부족이 되는 경향이 있다. 한편, 50㎛을 초과하면, 회로 전극(22, 32) 사이의 회로 접속 재료(5)를 충분히 전부 배제할 수 없게 되어, 회로 전극(22, 32) 사이의 도통 확보가 곤란해지는 경향이 있다.The thickness of the film adhesive 40 is preferably 6 to 50 μm. When the thickness of the film-like adhesive 40 is less than 6 μm, the circuit connection material 5 tends to be insufficient in filling between the circuit electrodes 22 and 32. On the other hand, when it exceeds 50 µm, the circuit connecting materials 5 between the circuit electrodes 22 and 32 cannot be sufficiently removed, and there is a tendency that it is difficult to secure conduction between the circuit electrodes 22 and 32.

이어서, 필름상 접착제(40)를 제1 회로 부재(20)의 회로 전극(22)이 형성되어 있는 면 상에 얹는다. 또한, 필름상 접착제(40)가 지지체(도시하지 않음) 상에 부착되어 있는 경우에는, 필름상 접착제(40)측을 제1 회로 부재(20)를 향하도록 하고, 제1 회로 부재(20) 상에 얹는다. 이때, 필름상 접착제(40)는 필름상이고, 취급이 용이하다. 이로 인해, 제1 회로 부재(20)와 제2 회로 부재(30) 사이에 필름상 접착제(40)를 용이하게 개재시킬 수 있고, 제1 회로 부재(20)와 제2 회로 부재(30)의 접속 작업을 용이하게 행할 수 있다.Subsequently, the film-like adhesive 40 is placed on the surface where the circuit electrode 22 of the first circuit member 20 is formed. In addition, when the film-like adhesive 40 is attached on a support (not shown), the film-like adhesive 40 is directed toward the first circuit member 20, and the first circuit member 20 Put on the table. At this time, the film-like adhesive 40 is in the form of a film and is easy to handle. For this reason, the film adhesive 40 can be easily interposed between the 1st circuit member 20 and the 2nd circuit member 30, and the 1st circuit member 20 and the 2nd circuit member 30 can be interposed. Connection work can be performed easily.

그리고, 필름상 접착제(40)를 도 3의 (a)의 화살표 A 및 B 방향으로 가압하여, 필름상 접착제(40)를 제1 회로 부재(20)에 임시 접속한다(도 3의 (b) 참조). 이때, 가열하면서 가압해도 된다. 단, 가열 온도는 필름상 접착제(40)(필름상 접착제(40)를 구성하는 회로 접속 재료(5))가 경화하지 않는 온도보다도 낮은 온도로 한다.Then, the film-like adhesive 40 is pressed in the direction of arrows A and B in Fig. 3A to temporarily connect the film-like adhesive 40 to the first circuit member 20 (Fig. 3B) Reference). At this time, you may pressurize while heating. However, the heating temperature is set to a temperature lower than the temperature at which the film adhesive 40 (the circuit connection material 5 constituting the film adhesive 40) does not cure.

계속해서, 도 3의 (c)에 도시한 바와 같이, 제2 회로 부재(30)를 제2 회로 전극(32)을 제1 회로 부재(20)를 향하도록 하여 필름상 접착제(40) 상에 얹는다. 또한, 필름상 접착제(40)가 지지체(예를 들어 상술한 필름상 기재(도시하지 않음)) 상에 부착되어 있는 경우에는, 지지체를 박리하고 나서 제2 회로 부재(30)를 필름상 접착제(40) 상에 얹는다. 이때 제1 및 제2 회로 전극(22, 23)이 서로 대향하도록 위치 정렬을 하고 나서, 제2 회로 부재(30) 위로부터 가열, 가압함으로써 제2 회로 부재(30)를 임시 고정할 수 있다. 이렇게 함으로써 계속되는 본 접속 시의 전극의 위치 어긋남을 억제할 수 있다. 임시 고정 시의 가열 온도는 필름상 접착제(40) 중의 회로 접속 재료(5)가 경화하지 않는 온도보다도 낮은 온도로 하고, 스루풋 단축을 위해 위치 정렬부터 임시 고정 완료까지의 시간은 5초 이하인 것이 바람직하다.Subsequently, as shown in FIG. 3C, the second circuit member 30 is placed on the film-like adhesive 40 with the second circuit electrode 32 facing the first circuit member 20. Put on. In addition, when the film adhesive 40 is attached on a support (for example, the above-described film-like substrate (not shown)), the second circuit member 30 is removed from the film adhesive after the support is peeled off. 40) Put it on. At this time, after the first and second circuit electrodes 22 and 23 are aligned to face each other, the second circuit member 30 can be temporarily fixed by heating and pressing from the second circuit member 30. By doing so, it is possible to suppress the positional displacement of the electrode during the subsequent main connection. The heating temperature at the time of temporary fixing is set to a temperature lower than the temperature at which the circuit connecting material 5 in the film-like adhesive 40 does not cure, and the time from alignment of the position to completion of the temporary fixing is preferably 5 seconds or less to shorten the throughput. Do.

그리고, 필름상 접착제(40)를 가열하면서, 도 3의 (c)의 화살표 A 및 B 방향으로 제1 및 제2 회로 부재(20, 30)를 통하여 가압한다. 이때의 가열 온도는, 중합 반응이 개시 가능한 온도로 한다. 이렇게 해서, 필름상 접착제(40)가 경화 처리되어서 본 접속이 행하여져, 도 2에 도시한 바와 같은 회로 접속 구조체가 얻어진다.And while heating the film adhesive 40, it presses through the 1st and 2nd circuit members 20 and 30 in the arrow A and B direction of FIG. 3 (c). The heating temperature at this time is the temperature at which the polymerization reaction can be started. In this way, the film-like adhesive 40 is cured and the main connection is performed, whereby a circuit connection structure as shown in Fig. 2 is obtained.

여기서, 접속 조건은 상술한 바와 같이, 가열 온도 100 내지 250℃, 압력 0.1 내지 10MPa, 접속 시간 0.5초 내지 120초간인 것이 바람직하다. 이러한 조건은, 사용하는 용도, 회로 접속 재료, 회로 부재에 따라 적절히 선택되고, 필요에 따라, 후경화를 행해도 된다.Here, as described above, the connection conditions are preferably 100 to 250 ° C. for heating temperature, 0.1 to 10 MPa for pressure, and 0.5 to 120 seconds for connection time. These conditions are appropriately selected according to the application to be used, the circuit connection material, and the circuit member, and may be post-cured if necessary.

상기와 같이 하여 회로 접속 구조체를 제조함으로써, 얻어지는 회로 접속 구조체에 있어서, 도전성 입자(7)를 대향하는 회로 전극(22, 32)의 양쪽에 접촉시키는 것이 가능하게 되어, 회로 전극(22, 32) 사이의 접속 저항을 충분히 저감할 수 있다.By manufacturing the circuit connection structure as described above, in the circuit connection structure obtained, it is possible to make the conductive particles 7 contact both of the opposing circuit electrodes 22, 32, thereby making the circuit electrodes 22, 32 The connection resistance between can be sufficiently reduced.

또한, 필름상 접착제(40)의 가열에 의해, 회로 전극(22)과 회로 전극(32) 사이의 거리를 충분히 작게 한 상태에서 회로 접속 재료(5)가 경화하여 절연성 물질(11)이 되고, 제1 회로 부재(20)와 제2 회로 부재(30)가 접속 부재(10)를 통하여 견고하게 접속된다. 즉, 얻어지는 회로 접속 구조체에 있어서는, 접속 부재(10)가 상술한 회로 접속 재료를 포함하는 절연성 물질(11)을 구비하는 것으로부터, 회로 부재(20 또는 30)에 대한 접속 부재(10)의 접착 강도가 충분히 높아짐과 함께, 전기적으로 접속한 회로 전극 간의 접속 저항을 충분히 저감할 수 있다. 또한, 고온고습 환경 하에 장기간 두어진 경우에도, 회로 부재(20, 30)와 접속 부재(10)의 계면에서의 박리 기포의 발생을 충분히 억제할 수 있음과 함께, 접착 강도의 저하 및 접속 저항의 증대를 충분히 억제할 수 있다.Further, by heating the film-like adhesive 40, the circuit connection material 5 is cured to become an insulating material 11 in a state where the distance between the circuit electrode 22 and the circuit electrode 32 is sufficiently reduced. The first circuit member 20 and the second circuit member 30 are firmly connected through the connection member 10. That is, in the obtained circuit connection structure, since the connection member 10 is provided with the insulating material 11 containing the above-described circuit connection material, the connection member 10 is adhered to the circuit member 20 or 30. While the strength is sufficiently high, it is possible to sufficiently reduce the connection resistance between the electrically connected circuit electrodes. In addition, even when placed in a high-temperature and high-humidity environment for a long period of time, the occurrence of peeling bubbles at the interface between the circuit members 20 and 30 and the connection member 10 can be sufficiently suppressed. The increase can be sufficiently suppressed.

이상, 본 발명의 적합한 실시 형태에 대하여 설명했지만, 본 발명은 상기 실시 형태에 한정되는 것은 아니다.The preferred embodiments of the present invention have been described above, but the present invention is not limited to the above embodiments.

예를 들어, 본 발명은 상기 열가소성 수지, 상기 라디칼 중합성 화합물, 상기 라디칼 중합 개시제 및 상기 무기 미립자를 함유하는 조성물의, 서로 대향하는 2개의 회로 부재를 전기적으로 접속하기 위한 회로 접속 재료로서의 용도라고 할 수도 있다. 또한, 본 발명은 상기 열가소성 수지, 상기 라디칼 중합성 화합물, 상기 라디칼 중합 개시제 및 상기 무기 미립자를 함유하는 조성물의, 서로 대향하는 2개의 회로 부재를 전기적으로 접속하기 위한 회로 접속 재료의 제조를 위한 용도라고 할 수도 있다.For example, the present invention is a use of a composition containing the thermoplastic resin, the radically polymerizable compound, the radical polymerization initiator, and the inorganic fine particles as a circuit connecting material for electrically connecting two circuit members facing each other. You may. In addition, the present invention is used for the production of a circuit connecting material for electrically connecting two circuit members facing each other of the composition containing the thermoplastic resin, the radically polymerizable compound, the radical polymerization initiator, and the inorganic fine particles. You can also say

이 용도 시에, 상기 라디칼 중합성 화합물의 함유량은, 상기 조성물의 전량 기준으로 40질량% 이상이고, 상기 라디칼 중합성 화합물 중 분자량 1000 이하의 화합물의 함유량은, 상기 조성물의 전량 기준으로 15질량% 이하이고, 상기 무기 미립자의 함유량은, 상기 조성물의 전량 기준으로 5 내지 30질량%이고, 상기 조성물은, 적어도 상기 화학식 1로 표시되는 화합물을 함유한다.In this use, the content of the radically polymerizable compound is 40% by mass or more based on the total amount of the composition, and the content of the compound having a molecular weight of 1000 or less in the radically polymerizable compound is 15% by mass based on the total amount of the composition. Below, the content of the inorganic fine particles is 5 to 30% by mass based on the total amount of the composition, and the composition contains at least the compound represented by the formula (1).

이 용도에 의하면, 라디칼 중합형이면서, 회로 부재를 접속 후에 고온고습 환경 하에 방치한 경우에도, 회로 부재와의 계면에서의 박리 기포의 발생을 충분히 억제할 수 있고 또한 충분한 접속 신뢰성을 유지할 수 있는, 상술한 회로 접속 재료를 얻을 수 있다.According to this application, even when the circuit member is left in a high-temperature and high-humidity environment after being connected to the radical polymerization type, the generation of peeling bubbles at the interface with the circuit member can be sufficiently suppressed and sufficient connection reliability can be maintained. The above-mentioned circuit connection material can be obtained.

실시예Example

이하, 실시예에 의해 본 발명을 보다 구체적으로 설명하는데, 본 발명은 실시예에 한정되는 것은 아니다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail by examples, but the present invention is not limited to the examples.

(제조예 1: 열가소성 수지의 합성)(Production Example 1: Synthesis of thermoplastic resin)

환류 냉각기, 온도계 및 교반기를 구비한 세퍼러블 플라스크에, 에테르 결합을 갖는 디올로서 폴리프로필렌글리콜(Mn=2000) 1000질량부 및 용매로서 메틸에틸케톤 4000질량부를 첨가하고, 40℃에서 30분간 교반하였다. 이 용액을 70℃까지 승온한 후, 촉매로서 디메틸주석라우레이트 1질량부를 첨가하고, 계속해서, 이 용액에 대하여 디이소시아네이트 화합물로서 4,4-디페닐메탄-디이소시아네이트 125질량부를 메틸에틸케톤 125질량부에 용해시킨 용액을 1시간에 걸쳐 적하하였다.To a separable flask equipped with a reflux cooler, thermometer, and stirrer, 1000 parts by mass of polypropylene glycol (Mn = 2000) as a diol having an ether bond and 4000 parts by mass of methyl ethyl ketone as a solvent were added and stirred at 40 ° C for 30 minutes. . After the solution was heated up to 70 ° C, 1 part by mass of dimethyltin laurate was added as a catalyst, and then 125 parts by mass of 4,4-diphenylmethane-diisocyanate as a diisocyanate compound with respect to this solution was methyl ethyl ketone 125 The solution dissolved in the mass part was added dropwise over 1 hour.

그 후, 적외선 분광 광도계로 NCO(이소시아네이트기)의 흡수 피크를 볼 수 없게 될 때까지 70℃에서 교반을 계속하여, 폴리우레탄 수지의 메틸에틸케톤 용액을 얻었다. 이 용액을 고형분 농도가 30질량%로 되도록 조정하고, 실시예 및 비교예에서 사용하였다.Thereafter, stirring was continued at 70 ° C until the absorption peak of NCO (isocyanate group) could not be seen with an infrared spectrophotometer, thereby obtaining a methyl ethyl ketone solution of the polyurethane resin. This solution was adjusted to a solid content concentration of 30% by mass, and used in Examples and Comparative Examples.

얻어진 폴리우레탄 수지의 폴리스티렌 환산의 중량 평균 분자량은, GPC에 의한 측정의 결과, 320000이었다. GPC의 분석 조건을 하기 표 1에 나타내었다.The weight average molecular weight of the obtained polyurethane resin in terms of polystyrene was 320000 as a result of measurement by GPC. GPC analysis conditions are shown in Table 1 below.

Figure pat00007
Figure pat00007

(제조예 2: 라디칼 중합성 화합물의 합성)(Production Example 2: Synthesis of radically polymerizable compounds)

온도계, 교반기, 불활성 가스 도입구 및 환류 냉각기를 구비한 2리터의 4구 플라스크에, 폴리카르보네이트디올(알드리치사제, 수 평균 분자량 2000) 4000질량부, 2-히드록시에틸아크릴레이트 238질량부, 히드로퀴논모노메틸에테르 0.49질량부 및 주석계 촉매 4.9질량부를 투입하여 70℃로 가열하고, IPDI(이소포론디이소시아네이트) 666질량부를 3시간에 걸쳐 균일하게 적하하고, 반응시켰다. 적하 완료 후 15시간 반응을 계속하고, NCO%(우레탄기에 대한 이소시아네이트기의 양)가 0.2% 이하로 된 시점을 반응 종료로 하여, 우레탄 아크릴레이트를 얻었다. GPC에 의한 분석의 결과, 얻어진 우레탄 아크릴레이트의 중량 평균 분자량은 8500이었다. 또한, GPC 분석은 표 1의 조건에서 행하였다.In a 2-liter four-necked flask equipped with a thermometer, stirrer, inert gas inlet and reflux cooler, 4000 parts by mass of polycarbonate diol (manufactured by Aldrich, number average molecular weight 2000), 238 parts by mass of 2-hydroxyethyl acrylate , 0.49 parts by mass of hydroquinone monomethyl ether and 4.9 parts by mass of tin-based catalyst were added, heated to 70 ° C, and 666 parts by mass of IPDI (isophorone diisocyanate) was added dropwise over 3 hours to react. After completion of the dropwise addition, the reaction was continued for 15 hours, and when the NCO% (the amount of the isocyanate group relative to the urethane group) became 0.2% or less, the reaction was terminated to obtain a urethane acrylate. As a result of analysis by GPC, the obtained urethane acrylate had a weight average molecular weight of 8500. In addition, GPC analysis was performed on the conditions of Table 1.

(제조예 3: 도전성 입자의 제작)(Production Example 3: Preparation of conductive particles)

폴리스티렌 입자의 표면 상에, 두께 0.2㎛의 니켈을 포함하는 층을 설치하고, 이어서 이 니켈을 포함하는 층의 표면 상에, 두께 0.04㎛로 되도록 금을 포함하는 층을 형성하였다. 이렇게 하여 평균 입자 직경 5㎛의 도전성 입자를 제작하였다.On the surface of the polystyrene particles, a layer containing nickel with a thickness of 0.2 µm was formed, and then a layer containing gold was formed on the surface of the layer containing nickel to have a thickness of 0.04 µm. Thus, conductive particles having an average particle diameter of 5 µm were produced.

(실시예 1 내지 6 및 비교예 1 내지 4)(Examples 1 to 6 and Comparative Examples 1 to 4)

(a) 성분의 열가소성 수지로서는, 페녹시 수지(PKHC, 유니온 카바이트사제 상품명, 중량 평균 분자량(45000, 표 중 「PKHC」라고 나타냄) 40g을 메틸에틸케톤 60g에 용해한 고형분 농도 40질량%의 용액, 및 제조예 1에서 얻어진 폴리우레탄 수지(표 중 「PU」라고 나타냄)의 고형분 농도 30질량%의 용액을 사용하였다.(a) As the thermoplastic resin of the component, a solution having a solid content concentration of 40% by mass, in which 40 g of phenoxy resin (PKHC, trade name of Union Carbide, weight average molecular weight (45000, indicated as "PKHC" in the table)) was dissolved in 60 g of methyl ethyl ketone, And a solution having a solid content concentration of 30% by mass of the polyurethane resin (referred to as "PU" in the table) obtained in Production Example 1.

또한, (b) 성분의 라디칼 중합성 화합물로서는, 제조예 2에서 얻어진 우레탄 아크릴레이트(표 중 「UA」라고 나타냄), 시클로헥실아크릴레이트(도아 고세 가부시끼가이샤 제조, 표 중 「CHA」라고 나타냄), 2-(메트)아크릴로일옥시에틸포스페이트(라이트에스테르 P-2M, 교에샤 가부시끼가이샤 제조 상품명, 표 중 「P-2M」라고 나타냄), 및 3-메타크릴옥시프로필트리메톡시실란(KBM503, 신에쯔 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 제조 상품명, 실란 커플링제, 표 중 「KBM」라고 나타냄)을 사용하였다.Moreover, as a radically polymerizable compound of (b) component, the urethane acrylate obtained by manufacture example 2 (represented as "UA" in a table), cyclohexyl acrylate (manufactured by Toa Kose Co., Ltd., shown as "CHA" in a table) ), 2- (meth) acryloyloxyethyl phosphate (light ester P-2M, manufactured by Kyoeisha Co., Ltd., indicated as "P-2M" in the table), and 3-methacryloxypropyl trimethoxy Silane (KBM503, Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. trade name, silane coupling agent, "KBM" in the table) was used.

또한, (c) 성분의 라디칼 중합 개시제로서는, t-헥실퍼옥시―2-에틸헥사노에이트(퍼헥실 O, 유시 세힝 가부시끼가이샤 제조 상품명, 표 중 「과산화물」이라고 나타냄)를 사용하였다.In addition, as the radical polymerization initiator of the component (c), t-hexylperoxy-2-ethylhexanoate (perhexyl O, manufactured by Yushi Seching Co., Ltd., indicated as "peroxide" in the table) was used.

또한, (d) 성분의 무기 미립자로서는 R711(닛본 에어로실 가부시끼가이샤 제조 상품명, 표 중 「R711」라고 나타냄) 10g을, 톨루엔 45g 및 아세트산에틸 45g의 혼합 용매에 분산시켜서, 10질량%의 용액으로서 사용하였다.Further, as the inorganic fine particles of the component (d), 10 g of R711 (brand name manufactured by Nippon Aerosil Co., Ltd., indicated as "R711" in the table) was dispersed in a mixed solvent of 45 g of toluene and 45 g of ethyl acetate, and a solution of 10% by mass It was used as.

상기 각 성분을 표 2에 기재된 고형분 중량비가 되도록 배합하고, 계속하여 제조예 3에서 얻어진 도전성 입자를, 접착제 성분의 총 부피에 대하여 1.5부피% 배합하여 분산시키고, 도공액을 얻었다. 얻어진 도공액을, 두께 50㎛의 폴리에틸렌테레프탈레이트(PET) 필름에 도포 시공 장치를 사용하여 도포하고, 70℃, 10분의 열풍 건조를 행하여, 두께 16㎛의 필름상 접착제를 얻었다.Each of the above components was blended so as to have a solid content weight ratio shown in Table 2, and then, the conductive particles obtained in Production Example 3 were blended and dispersed in a volume of 1.5% by volume relative to the total volume of the adhesive component to obtain a coating solution. The obtained coating solution was applied to a polyethylene terephthalate (PET) film having a thickness of 50 µm using a coating apparatus, followed by hot air drying at 70 ° C. for 10 minutes to obtain a film adhesive having a thickness of 16 µm.

각 실시예 및 비교예의 필름상 접착제에서의 라디칼 중합성 화합물의 함유량, 분자량이 1000을 초과하는 라디칼 중합성 화합물((b-1) 성분)의 함유량, 분자량 1000 이하의 라디칼 중합성 화합물((b-2) 성분)의 함유량 및 무기 미립자의 함유량은, 각각의 배합량으로부터 계산하여 표 3에 기재된 대로였다(모두 회로 접속 재료(필름상 접착제의 도전성 입자 이외의 성분)의 전량 기준의 질량%). 또한, 실란 커플링제의 3-메타크릴옥시프로필트리메톡시실란은 (b-2) 성분에 포함된다.Content of the radically polymerizable compound in the film adhesive of each Example and Comparative Example, content of the radically polymerizable compound ((b-1) component) whose molecular weight exceeds 1000, and the radically polymerizable compound having a molecular weight of 1000 or less ((b The content of the -2) component and the content of the inorganic fine particles were calculated from the respective blending amounts and were as described in Table 3 (all of the circuit-connected materials (components other than the conductive particles of the film-like adhesive), the mass percentage based on the total amount). Moreover, 3-methacryloxypropyl trimethoxysilane of a silane coupling agent is contained in (b-2) component.

Figure pat00008
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Figure pat00009
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(실시예 6 내지 10 및 비교예 6 내지 10)(Examples 6 to 10 and Comparative Examples 6 to 10)

실시예 1 내지 5 및 비교예 1 내지 5의 각 필름상 접착제를 사용하여, 실시예 6 내지 10 및 비교예 6 내지 10의 접속 구조체를 제작하였다.Using the film-like adhesives of Examples 1 to 5 and Comparative Examples 1 to 5, the connecting structures of Examples 6 to 10 and Comparative Examples 6 to 10 were produced.

구체적으로는, 상기 필름상 접착제를, 70℃의 온도에서 1MPa, 2초간의 조건에서 두께 0.2㎛의 산화인듐(ITO)의 박막이 형성된 유리 기판(두께 1.1mm)에 전사로 하였다. 이어서, 이 유리 기판과, 라인 폭 75㎛, 피치 150㎛ 및 두께 18㎛의 구리 회로 500개가 에폭시 수지계 접착제로 폴리이미드 상에 배선된 플렉시블 회로판(FPC 기판)을 필름상 접착제를 통하여 대향하도록 배치하고, 열 압착 장치(가열 방식: 콘스탄트히트형, 도레이 엔지니어링 가부시끼가이샤 제조)를 사용해서 160℃의 온도에서 3MPa에서 10초간의 가열 가압을 행하였다. 이에 의해, 폭 2mm에 걸쳐 FPC 기판과 유리 기판(ITO 기판)이 필름상 접착제의 경화물(접속 부재)에 의해 접속된 접속체(회로 접속 구조체)를 얻었다.Specifically, the film-like adhesive was transferred to a glass substrate (thickness of 1.1 mm) on which a thin film of indium oxide (ITO) having a thickness of 0.2 µm was formed at a temperature of 70 ° C. for 1 MPa and 2 seconds. Subsequently, this glass substrate and 500 flexible copper circuits having a line width of 75 µm, a pitch of 150 µm, and a thickness of 18 µm were placed on a polyimide with an epoxy resin adhesive so as to face each other through a film-like adhesive. , Heat pressurization was performed for 10 seconds at 3 MPa at a temperature of 160 ° C using a thermocompression device (heating method: constant heat type, manufactured by Toray Engineering Co., Ltd.). Thus, a connection body (circuit connection structure) was obtained in which the FPC substrate and the glass substrate (ITO substrate) were connected by a cured product (connection member) of a film-like adhesive over a width of 2 mm.

(회로 접속 구조체의 평가 1: 초기 접속 저항의 평가)(Evaluation of circuit connection structure 1: Evaluation of initial connection resistance)

실시예 및 비교예에서 얻어진 회로 접속 구조체에 대해서, 각각 인접 회로 간의 저항값(접속 저항)을 멀티미터로 측정하였다. 인접 회로 간의 저항 37점의 평균을 초기 접속 저항의 평가 결과로 하였다. 평가 결과를 표 4에 나타내었다.For the circuit connection structures obtained in Examples and Comparative Examples, the resistance values (connection resistance) between adjacent circuits were respectively measured with a multimeter. The average of 37 points of resistance between adjacent circuits was used as the evaluation result of the initial connection resistance. Table 4 shows the evaluation results.

(회로 접속 구조체의 평가 2: 초기 접착력의 평가)(Evaluation of circuit connection structure 2: Evaluation of initial adhesion)

실시예 및 비교예에서 얻어진 회로 접속 구조체에 대해서, 각각 접속 부재와 FPC 기판 사이의 접착력을 JIS-Z0237에 준한 90도 박리법으로 측정하고, 측정된 값을 초기 접착력의 평가 결과로 하였다. 또한, 접착력의 측정 장치는 도요 볼드윈 가부시끼가이샤 제조 텐실론 UTM-4(박리 속도 50mm/min, 25℃)를 사용하였다. 평가 결과를 표 4를 나타낸다.For the circuit connection structures obtained in Examples and Comparative Examples, the adhesive force between the connecting member and the FPC board was measured by a 90-degree peeling method according to JIS-Z0237, and the measured values were used as evaluation results of the initial adhesive force. In addition, as a measuring device for the adhesive force, Tensilon UTM-4 manufactured by Toyo Baldwin Co., Ltd. (peel rate 50 mm / min, 25 ° C.) was used. Table 4 shows the evaluation results.

(회로 접속 구조체의 평가 3: 고온고습 시험 후의 특성 평가)(Evaluation of circuit connection structure 3: Characteristic evaluation after high temperature and high humidity test)

실시예 및 비교예에서 얻어진 회로 접속 구조체를, 85℃, 85% RH의 조건 하에 250시간 유지하고, 측정 샘플을 얻었다. 얻어진 샘플에 대해서, 상기 평가 1 및 2과 동일한 방법에 의해, 접속 저항 및 접착력의 평가를 행하였다. 평가 결과를 표 4에 나타내었다.The circuit connection structures obtained in Examples and Comparative Examples were held at 85 ° C and 85% RH for 250 hours to obtain measurement samples. About the obtained sample, connection resistance and adhesive force were evaluated by the method similar to the said evaluation 1 and 2 above. Table 4 shows the evaluation results.

또한, 얻어진 샘플에 대해서, 현미경(상품명: ECLIPSE L200, 가부시끼가이샤 니콘제)을 사용하여, 접속 부재와 FPC 기판의 계면, 및 접속 부재와 유리 기판의 계면에서의 박리의 유무를 조사하였다. 계면 박리가 없었던 것을 「A」, 계면 박리가 조금 있었던 것을 「B」, 실용상 문제가 있을 정도로 계면 박리가 발생하고 있었던 것을 「C」로서 평가하였다. 평가 결과를 표 4에 나타내었다.In addition, the obtained sample was examined for the presence or absence of peeling at the interface between the connecting member and the FPC substrate and the interface between the connecting member and the glass substrate using a microscope (trade name: ECLIPSE L200, manufactured by Nikon Corporation). It was evaluated as "A" that there was no interfacial peeling, "B" that there was little interfacial peeling, and "C" that interfacial peeling occurred to such an extent that there was a practical problem. Table 4 shows the evaluation results.

Figure pat00010
Figure pat00010

표 4에 나타낸 결과로부터 명백해진 바와 같이, 실시예 6 내지 10에서 얻어진 회로 접속 구조체는, 초기 및 고온고습 시험 후의 어느 경우에도 3Ω 이하의 저항값을 나타내고, 접속 부재와 회로 부재의 계면에 박리 기포 등은 발생하지 않았다.As apparent from the results shown in Table 4, the circuit connection structures obtained in Examples 6 to 10 exhibited resistance values of 3 Ω or less in both cases after the initial and high temperature and high humidity tests, and peeled bubbles at the interface between the connection member and the circuit member The back did not occur.

한편, 무기 미립자를 포함하지 않는 비교예 1의 필름상 접착제를 사용하여 얻어진 비교예 6의 회로 접속 구조체와, 무기 미립자의 함유량이 5질량% 미만인 비교예 2의 필름상 접착제를 사용하여 얻어진 비교예 7의 회로 접속 구조체에서는, 고온고습 시험 후에, 접속 저항이 현저하게 상승하고, 접착력이 저하되어, 접속 부재와 회로 부재의 계면에 박리가 보였다. 또한, (b-2) 성분의 함유량이 15질량%를 초과하는 비교예 3의 필름상 접착제를 사용하여 얻어진 비교예 8의 회로 접속 구조체와, 실란 커플링제를 함유하지 않는 비교예 5의 필름상 접착제를 사용하여 얻어진 비교예 10의 회로 접속 구조체에서는, 고온고습 시험 후에 접속 부재와 회로 부재의 계면에 현저하게 박리가 발생하였다. 또한, 무기 미립자를 포함하지 않고, (b-2) 성분의 함유량이 15질량%를 초과하는 비교예 4의 필름상 접착제를 사용하여 얻어진 비교예 9의 회로 접속 구조체에서는, 접속 저항이 상승하고, 접착력이 저하되어, 접속 부재와 회로 부재의 계면에 현저하게 박리가 발생하였다.On the other hand, the circuit connecting structure of Comparative Example 6 obtained using the film-like adhesive of Comparative Example 1 that does not contain inorganic fine particles, and the Comparative Example obtained using the film-like adhesive of Comparative Example 2 having an inorganic fine particle content of less than 5% by mass. In the circuit connection structure of 7, after the high-temperature and high-humidity test, the connection resistance was remarkably increased, the adhesive strength was decreased, and peeling was seen at the interface between the connection member and the circuit member. In addition, the circuit-like structure of Comparative Example 8 obtained using the film-like adhesive of Comparative Example 3 in which the content of the component (b-2) exceeds 15% by mass, and the film shape of Comparative Example 5 not containing a silane coupling agent. In the circuit connection structure of Comparative Example 10 obtained using an adhesive, peeling occurred remarkably at the interface between the connection member and the circuit member after the high temperature and high humidity test. In addition, in the circuit connecting structure of Comparative Example 9 obtained by using the film-like adhesive of Comparative Example 4 that does not contain inorganic fine particles and the content of the component (b-2) exceeds 15% by mass, the connection resistance increases, The adhesive strength was lowered, and peeling occurred remarkably at the interface between the connecting member and the circuit member.

(실시예 11 내지 15 및 비교예 11 내지 15))(Examples 11 to 15 and Comparative Examples 11 to 15))

실시예 1 내지 5 및 비교예 1 내지 5의 필름상 접착제의 제조에 사용한 도공액을 각각, 두께 50㎛의 폴리에틸렌테레프탈레이트(PET) 필름 상에 10m 도포 시공하고, 70℃, 10분의 열풍 건조를 행하고, PET 필름 상에 두께 16㎛의 필름상 접착제를 형성하여, PET 필름과 필름상 접착제를 구비하는 접착 필름을 얻었다.The coating liquids used for the production of the film-like adhesives of Examples 1 to 5 and Comparative Examples 1 to 5 were respectively coated on a polyethylene terephthalate (PET) film having a thickness of 50 µm for 10 m, and dried at 70 ° C. for 10 minutes with hot air. Was performed, and a film-like adhesive having a thickness of 16 μm was formed on the PET film, thereby obtaining an adhesive film comprising the PET film and the film-like adhesive.

얻어진 접착 필름을, 폭 2mm로 재단하고, 내경 66mm의 릴상으로 권중하여, 접착 필름의 권중체를 얻었다.The obtained adhesive film was cut to a width of 2 mm, and wound into a reel shape having an inner diameter of 66 mm to obtain a wound body of the adhesive film.

(접착 필름의 권중체의 평가)(Evaluation of the winding body of the adhesive film)

얻어진 접착 필름의 권중체 선단부에, 75g의 하중을 고정해서 30℃ 분위기 하에서 6시간 하중을 축 늘어뜨린 채 방치하였다. 방치 후의 권중체를 관찰하고, PET 필름 사이로부터의 필름상 접착제의 스며나옴 유무를 확인하였다. 또한, 방치 후의 권중체로부터 접착 필름을 인출하고, 필름상 접착제의 PET 필름 이면에의 전사의 유무를 확인하였다. 스며나옴 및 전사 모두 보이지 않았던 경우를 「A」, 전사는 보이지 않았지만 스며나옴이 보였던 경우를 「B」, 스며나옴 및 전사가 모두 보였던 경우를 「C」로서 평가하였다. 평가 결과를 표 5에 나타내었다.A load of 75 g was fixed to the distal end of the wound body of the obtained adhesive film, and the load was allowed to stand under a load of 6 hours under a 30 ° C atmosphere. The wound body after standing was observed, and the presence or absence of exudation of the film-like adhesive from between the PET films was confirmed. Moreover, the adhesive film was taken out from the wound body after standing, and the presence or absence of transfer of the film adhesive to the back side of PET film was confirmed. The case where both the seepage and the warrior were not seen was evaluated as "A", the case where the warrior was not seen but the seepage was visible was evaluated as "B", and the case where both the seepage and the warrior were seen were evaluated as "C". Table 5 shows the evaluation results.

Figure pat00011
Figure pat00011

표 5에 나타낸 결과로 명백해진 바와 같이, 실시예 11 내지 15에서 얻어진 접착 필름에서는 30℃ 75g의 하중 하 6시간 방치 후에서도 필름상 접착제의 스며나옴은 보이지 않고, PET 필름 이면에의 전사도 보이지 않았다. 한편, 비교예 11 내지 13에서는, 권중체에 있어서 PET 필름 사이로부터의 필름상 기재의 스며나옴이 보였다. 또한, 비교예 11, 14에서는, 스며나옴 뿐만 아니라, PET 필름 이면에의 필름상 접착제의 전사가 보였다.As apparent from the results shown in Table 5, in the adhesive films obtained in Examples 11 to 15, no seepage of the film adhesive was observed even after leaving for 6 hours under a load of 75 g at 30 ° C, and transfer to the back side of the PET film was also seen. Did. On the other hand, in Comparative Examples 11 to 13, seepage of the film-like substrate from between the PET films was observed in the winding body. In addition, in Comparative Examples 11 and 14, as well as seeping, transfer of the film-like adhesive to the back side of the PET film was seen.

1: 필름상 접착제
5: 회로 접속 재료
7: 도전성 입자
10: 접속 부재
11: 절연성 물질
20: 제1 회로 부재
21: 회로 기판(제1 회로 기판)
21a: 주면
22: 회로 전극(제1 회로 전극)
30: 제2 회로 부재
31: 회로 기판(제2 회로 기판)
31a: 주면
32: 회로 전극(제2 회로 전극)
40: 필름상 접착제
1: Film adhesive
5: circuit connection material
7: conductive particles
10: connecting member
11: insulating material
20: first circuit member
21: circuit board (first circuit board)
21a: Main surface
22: circuit electrode (first circuit electrode)
30: second circuit member
31: circuit board (second circuit board)
31a: Main surface
32: circuit electrode (second circuit electrode)
40: film-like adhesive

Claims (1)

열 가소성 수지, 라디칼 중합성 화합물, 라디칼 중합 개시제 및 무기 미립자를 함유하는 조성물의, 서로 대향하는 2개의 회로 부재를 전기적으로 접속하기 위한 회로 접속 재료로서의 용도로서,
상기 라디칼 중합성 화합물의 함유량이 상기 조성물의 전량 기준으로 40질량% 이상이고,
상기 라디칼 중합성 화합물 중 분자량 1000 이하의 화합물의 함유량이 상기 조성물의 전량 기준으로 15질량% 이하이고,
상기 무기 미립자의 함유량이 상기 조성물의 전량 기준으로 5 내지 30질량%이고,
상기 조성물이 적어도 하기 화학식 1로 표시되는 화합물을 함유하는, 용도.
<화학식 1>
Figure pat00012

[식 중, R1, R2 및 R3은 각각 독립적으로 수소 원자, 탄소수 1 내지 5의 알킬기, 탄소수 1 내지 5의 알콕시기, 탄소수 1 내지 5의 알콕시카르보닐기 또는 아릴기를 나타내며, R1, R2 및 R3 중 적어도 하나는 탄소수 1 내지 5의 알콕시기이고, R4는 (메트)아크릴로일기, 비닐기, 이소시아네이트기, 이미다졸기, 머캅토기, 아미노기, 메틸아미노기, 디메틸아미노기, 벤질아미노기, 페닐아미노기, 시클로헥실아미노기, 모르폴리노기, 피페라지노기, 우레이도기 또는 글리시딜기를 나타내고, n은 1 내지 10의 정수를 나타냄]
As a circuit connecting material for electrically connecting two circuit members facing each other of a composition containing a thermoplastic resin, a radical polymerizable compound, a radical polymerization initiator, and inorganic fine particles,
The content of the radically polymerizable compound is 40% by mass or more based on the total amount of the composition,
The content of the compound having a molecular weight of 1000 or less in the radically polymerizable compound is 15% by mass or less based on the total amount of the composition,
The content of the inorganic fine particles is 5 to 30% by mass based on the total amount of the composition,
Use in which the composition contains at least a compound represented by the following formula (1).
<Formula 1>
Figure pat00012

[Wherein, R 1 , R 2 and R 3 each independently represent a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 5 carbon atoms, an alkoxycarbonyl group having 1 to 5 carbon atoms, or an aryl group, and R 1 and R At least one of 2 and R 3 is an alkoxy group having 1 to 5 carbon atoms, and R 4 is (meth) acryloyl group, vinyl group, isocyanate group, imidazole group, mercapto group, amino group, methylamino group, dimethylamino group, benzylamino group , Represents a phenylamino group, cyclohexylamino group, morpholino group, piperazino group, ureido group or glycidyl group, n represents an integer of 1 to 10]
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